Measuring system for a 3D object
Номер патента: US9420235B2
Опубликовано: 16-08-2016
Автор(ы): Don Lin, Kuang-Pu Wen, Liang-Pin Yu
Принадлежит: Test Research Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 16-08-2016
Автор(ы): Don Lin, Kuang-Pu Wen, Liang-Pin Yu
Принадлежит: Test Research Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Shape measurement system
Номер патента: EP4246086A1. Автор: Yoshitaka Miyatani,Tatsuji Ashitani,Ryuta Okamoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-09-20.