Method for correcting measurement error and device for measuring characteristic of electronic component
Номер патента: WO2006030547A1
Опубликовано: 23-03-2006
Автор(ы): Gaku Kamitani, Taichi Mori
Принадлежит: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 23-03-2006
Автор(ы): Gaku Kamitani, Taichi Mori
Принадлежит: MURATA MANUFACTURING CO., LTD.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for measuring transient thermal characteristics of digital integrated circuits
Номер патента: RU2697028C2. Автор: Вячеслав Андреевич Сергеев,Виктор Васильевич Юдин,Ярослав Геннадьевич Тетенькин. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ульяновский государственный технический университет". Дата публикации: 2019-08-08.