Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Spiral orbit type charged particle accelerator and acceleration method thereof

Spiral orbit type charged particle accelerator and acceleration method thereof

Номер патента: JP4104008B2
Опубликовано: 18-06-2008
Автор(ы): 高志 藤澤
Принадлежит: NATIONAL INSTITUTE OF RADIOLOGICAL SCIENCES
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Charged particle accelerator and charged particle acceleration method

Номер патента: CA2797395C. Автор: Yuji Kokubo,Masatoshi Ueno,Masumi Mukai,Masahiko Matsunaga. Владелец: Quan Japan Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-05.

Extraction system and particle accelerator having a foil holder

Номер патента: US20160050742A1. Автор: Tomas Eriksson,Jonas Ove Norling,Oskar Svedberg,Peter Askebro. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-02-18.

Extraction system and particle accelerator having a foil holder

Номер патента: US9723706B2. Автор: Tomas Eriksson,Jonas Ove Norling,Oskar Svedberg,Peter Askebro. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-08-01.

Particle accelerators having extraction foils

Номер патента: US20150077022A1. Автор: Tomas Eriksson,Jonas Ove Norling,Oskar Svedberg,Peter Askebro. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2015-03-19.

Extraction system and particle accelerator having a foil holder

Номер патента: US09723706B2. Автор: Tomas Eriksson,Jonas Ove Norling,Oskar Svedberg,Peter Askebro. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-08-01.

Improved particle accelerator and magnetic core for particle accelerator

Номер патента: RU2538164C2. Автор: Уолтер Фредерик Джон КРЮСАН,Марк Х. КАЛТЕНБОРН. Владелец: СкандиНова Системс АБ. Дата публикации: 2015-01-10.

Piezoelectric particle accelerator

Номер патента: US09750124B2. Автор: Matthew Franzi,Mark A. Kemp,Erik N. Jongewaard,Andrew A. Haase. Владелец: Leland Stanford Junior University. Дата публикации: 2017-08-29.

Multiple energy level particle accelerator with frequency multiplication and method of accelerating particles (versions)

Номер патента: RU2375850C1. Автор: Хуапин ТАН,Яохон ЛИУ,Чуансиан ТАН,Хайфен ХУ,Чжициан Чен,Юанцин ЛИ,Хуаиби ЧЕН,Цзиньчен ЛИУ,Цзянцзюнь ГАО. Владелец: Нуктэч Компани Лимитед. Дата публикации: 2009-12-10.

Method and setup to manipulate electrically charged particles

Номер патента: US09497848B2. Автор: Gábor ALMÁSI,József András FÜLÖP,János HEBLING,László PÁLFALVI,Mátyás MECHLER. Владелец: PECS, University of. Дата публикации: 2016-11-15.

Formation Of Multiple Proton Beams Using Particle Accelerator And Stripper Elements

Номер патента: US20150305135A1. Автор: Sergey Korenev. Владелец: Siemens Medical Solutions USA Inc. Дата публикации: 2015-10-22.

Particle accelerator having wide energy control range

Номер патента: US20050205772A1. Автор: Gary Bowser,Alexandre Zavadtsev. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-09-22.

Charged particle accelerator and radiation source

Номер патента: WO2008032050A1. Автор: Simon Martin Hooker,Anthony Joseph Gonsalves,Dino Anthony Jaroszynski,Wim Pieter David Leemans. Владелец: Lawrence Berkeley National Laboratory. Дата публикации: 2008-03-20.

Particle accelerator system

Номер патента: US11690163B2. Автор: Nobuaki Takahashi. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-06-27.

Particle accelerator system

Номер патента: US20210007211A1. Автор: Nobuaki Takahashi. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Particle accelerator

Номер патента: CA3039139C. Автор: Hiroshi Tsutsui,Yukio Kumata. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Apparatus and method for isotope production based on a charged particle accelerator

Номер патента: US20190075645A1. Автор: Yong Jiang,Jay L. Hirshfield. Владелец: Omega-P R&d Inc. Дата публикации: 2019-03-07.

Beam focusing and accelerating system

Номер патента: GB2522215A. Автор: Satyabrata Kar. Владелец: Queens University of Belfast. Дата публикации: 2015-07-22.

Method and Setup to Manipulate Electrically Charged Particles

Номер патента: US20150145404A1. Автор: Gábor ALMÁSI,József András FÜLÖP,János HEBLING,László PÁLFALVI,Mátyás MECHLER. Владелец: PECS, University of. Дата публикации: 2015-05-28.

Method and setup to manipulate electrically charged particles

Номер патента: WO2013175248A1. Автор: Gábor ALMÁSI,József András FÜLÖP,János HEBLING,László PÁLFALVI,Mátyás MECHLER. Владелец: PÉCSI TUDOMÁNYEGYETEM. Дата публикации: 2013-11-28.

Method and apparatus for confining, neutralizing, compressing and accelerating an ion field

Номер патента: WO2008008191B1. Автор: Mark Morehouse. Владелец: Mark Morehouse. Дата публикации: 2008-07-10.

Method and apparatus for confining, neutralizing, compressing and accelerating an ion field

Номер патента: WO2008008191A3. Автор: Mark Morehouse. Владелец: Mark Morehouse. Дата публикации: 2008-04-24.

Circular accelerator and particle beam treatment system

Номер патента: US20240198138A1. Автор: Kenji Miyata,Futaro EBINA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-06-20.

Circular accelerator and particle beam treatment system

Номер патента: EP4383955A1. Автор: Kenji Miyata,Futaro EBINA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-06-12.

Method for sweeping charged particles out of an isochronous cyclotron, and device therefor

Номер патента: CA2227228C. Автор: Yves Jongen. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2006-09-19.

Particle acceleration devices and methods thereof

Номер патента: CA2676965C. Автор: Martin Poitzsch,Tancredi Botto. Владелец: Schlumberger Canada Ltd. Дата публикации: 2015-08-11.

Device And Method For Fast Beam Current Modulation In A Particle Accelerator

Номер патента: US20100295485A1. Автор: Michel Abs. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2010-11-25.

Method of slow removal of a beam of charged particles from a ring accelerator

Номер патента: RU2659572C1. Автор: Геннадий Варламович Долбилов. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований (Оияи). Дата публикации: 2018-07-03.

Device and method for fast beam current modulation in a particle accelerator

Номер патента: EP2213147A1. Автор: Michel Abs. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2010-08-04.

Particle accelerator for radiotherapy by means of ion beams

Номер патента: CA2570399A1. Автор: Bernhard Franczak,Klaus Blasche. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-29.

Circular accelerator, particle therapy system with circular accelerator, and method of operating circular accelerator

Номер патента: US11849533B2. Автор: Kazuo Hiramoto,Takayoshi Seki,Kazuyoshi Saitou,Fumiaki Noda,Takamichi AOKI,Takamitsu Hae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-12-19.

Method and system for stable dynamics and constant beam delivery for acceleration of charged particle beams in a non-scaling fixed field alternating gradient magnetic field accelerator

Номер патента: EP2701468A3. Автор: Carol Johnstone. Владелец: PARTICLE ACCELERATOR CORP. Дата публикации: 2014-10-29.

Particle accelerator system with fractal magnetic field geometry

Номер патента: EP4346338A1. Автор: Malek Haj Tahar. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-03.

Induction accelerating device and acceleration method of charged particle beam

Номер патента: US20110156617A1. Автор: Kota Torikai,Ken Takayama,Yoshio Arakida,Yoshito Shimosaki. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2011-06-30.

Charged particle acceleration device and method for adjusting charged particle acceleration device

Номер патента: US11937362B2. Автор: Takeshi Takeuchi,Yoshiharu Kanai,Kunihiko Kinugasa,Hiromasa Itou. Владелец: Toshiba Plant Systems and Services Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Electromagnet and charged particle accelerator

Номер патента: US20240008165A1. Автор: Yujiro Tajima,Ryuki YOKOTA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Charged Particle Trajectory Control Apparatus, Charged Particle Accelerator, Charged Particle Storage Ring, and Deflection Electromagnet

Номер патента: US20130270452A1. Автор: Shigemi Sasaki,Atsushi Miyamoto. Владелец: Hiroshima University NUC. Дата публикации: 2013-10-17.

Charged particle trajectory control apparatus, charged particle accelerator, charged particle storage ring, and deflection electromagnet

Номер патента: US8704464B2. Автор: Shigemi Sasaki,Atsushi Miyamoto. Владелец: Hiroshima University NUC. Дата публикации: 2014-04-22.

Improvements in and relating to apparatus for imparting high energy to charged particles

Номер патента: GB654373A. Автор: . Владелец: British Thomson Houston Co Ltd. Дата публикации: 1951-06-13.

Charged particle beam extraction method using pulse voltage

Номер патента: US20120200237A1. Автор: Satoru Yamada,Kota Torikai. Владелец: Gunma University NUC. Дата публикации: 2012-08-09.

Method and system of beam injection to charged particle storage ring

Номер патента: US09655226B2. Автор: Hironari Yamada. Владелец: PHOTON PRODUCTION LABORATORY Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Synchrotron type accelerator and medical treatment system employing the same

Номер патента: US6087670A. Автор: Koji Matsuda,Kazuo Hiramoto,Masumi Umezawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2000-07-11.

Charged particle beam extraction method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8384053B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Vladimir Balakin. Дата публикации: 2013-02-26.

Multi-field charged particle cancer therapy method and apparatus

Номер патента: CA2754345C. Автор: Vladimir Yegorovich Balakin. Владелец: Zakrytoe Aktsionernoe Obshchestvo Protom. Дата публикации: 2015-06-23.

Charged particle accelerator systems including beam dose and energy compensation and methods therefor

Номер патента: US09854661B2. Автор: Gongyin Chen,Kenneth Todd ROMRIELL,David Alan HOWELL. Владелец: Varex Imaging Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Method of multi-turn injection of charged particles into cyclic accelerator

Номер патента: RU2647497C1. Автор: Геннадий Варламович Долбилов. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2018-03-16.

Induction-type multichannel linear charge- particle accelerator

Номер патента: RU2198485C1. Автор: Виктор Васильевич Кулиш,Александра Клавдия Мельник. Владелец: Сумский Государственный Университет. Дата публикации: 2003-02-10.

Dielectric loaded particle accelerator

Номер патента: US09671520B2. Автор: Tancredi Botto,Chunguang Jing,Sergey Antipov,Alexei Kanareykin,Benjamin Levitt. Владелец: Euclid Techlabs LLC. Дата публикации: 2017-06-06.

Accelerator and method of its control

Номер патента: RU2550819C2. Автор: Оливер ХАЙД. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2015-05-20.

Particle accelerator and particle beam therapy apparatus

Номер патента: US12101869B2. Автор: Toshiyuki Shirai,Kota Mizushima. Владелец: NATIONAL INSTITUTES FOR QUANTUM SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-09-24.

Techniques for controlling a charged particle beam

Номер патента: WO2009036267A2. Автор: Anthony Renau,Joseph C. Olson,Russell J. Low,Piotr R. Lubicki. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2009-03-19.

Techniques for controlling a charged particle beam

Номер патента: WO2009036267A3. Автор: Anthony Renau,Joseph C Olson,Russell J Low,Piotr R Lubicki. Владелец: Piotr R Lubicki. Дата публикации: 2009-06-11.

Direct-current high-voltage source and particle accelerator

Номер патента: RU2551364C2. Автор: Оливер ХАЙД,Тимоти ХЬЮЗ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2015-05-20.

High-frequency cavity resonator and accelerator

Номер патента: RU2589739C2. Автор: Оливер ХАЙД. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2016-07-10.

Method of synchronous accelerating charged particles in constant magnetic field

Номер патента: RU2618626C2. Автор: Геннадий Варламович Долбилов. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2017-05-05.

Linear accelerators of charged particles

Номер патента: CA1093692A. Автор: Duc T. Tran. Владелец: CGR MEV SA. Дата публикации: 1981-01-13.

Electric field-guided particle accelerator, method, and applications

Номер патента: WO2010065702A3. Автор: Yue Shi,Amit Lal. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2010-08-26.

Accelerating cavity and accelerator

Номер патента: US20190014653A1. Автор: Sadao Miura,Mitsuhiro Yoshida,Daisuke Satoh,Nobuyuki Shigeoka. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2019-01-10.

Method of changing direction of beam of accelerated charged particles, device for realising said method, electromagnetic radiation source, linear and cyclic charged particle accelerators, collider and means of producing magnetic field generated by current of accelerated charged particles

Номер патента: RU2462009C1. Автор: Мурадин Абубекирович Кумахов. Владелец: Мурадин Абубекирович Кумахов. Дата публикации: 2012-09-20.

Charged particle acceleration apparatus and method

Номер патента: WO2007133225A3. Автор: Jonathan Gorrell,Mark Davidson,Michael E Maines,Paul K Hart. Владелец: Virgin Islands Microsystems. Дата публикации: 2009-04-16.

Voltage Division Resistor for Acceleration Tubes, Acceleration Tube, and Accelerator

Номер патента: US20090039804A1. Автор: Ryoichi Ono,Shigehiro Nishino. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2009-02-12.

Standing wave linear accelerator and slotted input coupler

Номер патента: CA1087310A. Автор: Victor A. Vaguine,Albert H. Mceuen. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1980-10-07.

D.C. Charged Particle Accelerator and A Method of Accelerating Charged Particles

Номер патента: US20120146555A1. Автор: Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Steven Richards,Paul Eide,Malcolm Barnett. Владелец: Twin Creeks Technologies Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

Multi-section particle accelerator with controlled beam current

Номер патента: WO2004030425A3. Автор: Alexandre A Zavadtsev,Gary F Bowser. Владелец: Gary F Bowser. Дата публикации: 2004-07-08.

Charged particle acceleration device

Номер патента: US20160035449A1. Автор: Seth J. Putterman,Jonathan Hird,Brian Naranjo. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2016-02-04.

Apparatus generating a magnetic field for a particle accelerator

Номер патента: US4710722A. Автор: Andreas Jahnke. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1987-12-01.

Charged-particle accelerating device for metric-wave operation

Номер патента: CA1165440A. Автор: Hubert Leboutet. Владелец: CGR MEV SA. Дата публикации: 1984-04-10.

Particle accelerators having electromechanical motors and methods of operating and manufacturing the same

Номер патента: CA2762707C. Автор: Tomas Eriksson,Bert Holmgren. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-08-28.

Generation and acceleration of charged particles using compact devices and systems

Номер патента: US09867272B2. Автор: Yue Shi,Amit Lal,Serhan Ardanuc,June-Ho HWANG,Farhan RANA. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-01-09.

Accelerating structure for a linear charged particle accelerator

Номер патента: US4150322A. Автор: Duc Tien Tran,Dominique Tronc. Владелец: Cgr-Mev. Дата публикации: 1979-04-17.

A d.c. charged particle accelerator, a method of accelerating charged particles using d.c. voltages and a high voltage power supply apparatus for use therewith

Номер патента: EP2649863A2. Автор: Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,William H. Park,Ronald Horner. Владелец: GTAT Corp. Дата публикации: 2013-10-16.

A D.C. Charged Particle Accelerator, A Method of Accelerating Charged Particles Using D.C. Voltages and a High Voltage Power Supply Apparatus for use Therewith

Номер патента: US20120146554A1. Автор: Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,William H. Park,Ronald Horner. Владелец: Twin Creeks Technologies Inc. Дата публикации: 2012-06-14.

A d.c. charged particle accelerator, a method of accelerating charged particles using d.c. voltages and a high voltage power supply apparatus for use therewith

Номер патента: WO2012078421A2. Автор: Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,William H. Park,Ronald Horner. Владелец: TWIN CREEKS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2012-06-14.

Techniques for controlling a charged particle beam

Номер патента: US20090085504A1. Автор: Frank Sinclair,Russell J. Low,Piotr R. Lubicki,Stephen E. Krause. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2009-04-02.

Blocker rotary-switching device, control method thereof, and accelerator

Номер патента: US20240215146A1. Автор: Yu He,Liang Zhang,Yaohong Liu,Hao Zha. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Linear particle accelerator

Номер патента: US4020384A. Автор: John A. Richards. Владелец: Lee Raymond Organization Inc. Дата публикации: 1977-04-26.

Improvements in or relating to apparatus providing a stable orbit for charged particles including an injection device therefor

Номер патента: GB849897A. Автор: Peter Clive Thonemann. Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1960-09-28.

High voltage rf opto-electric multiplier for charged particle accelerators

Номер патента: WO2013109424A2. Автор: Antonios Zografos,Vladimir Andreevich JOSHKIN. Владелец: Compact Particle Acceleration Corporation. Дата публикации: 2013-07-25.

Accelerator and particle therapy system

Номер патента: US20230058735A1. Автор: Takamichi AOKI,Yuto NAKASHIMA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-02-23.

Ray generating device and control method thereof

Номер патента: US20240334585A1. Автор: Liang Zhang,Kejun Kang,Yuanjing Li,Chuanxiang Tang,Huaibi Chen,Yaohong Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Linear particle accelerator with coast through shield

Номер патента: US3761828A. Автор: J Pollard. Владелец: Individual. Дата публикации: 1973-09-25.

Charged particle accelerating apparatus

Номер патента: US4751470A. Автор: Shiro Nakamura,Tadatoshi Yamada,Shunji Yamamoto,Tokio Fukunaga,Kazunori Ikegami,Tetsuya Matsuda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1988-06-14.

Beam position monitor for charged particles passing through a chamber

Номер патента: US11410831B2. Автор: Rémi Nicolas. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2022-08-09.

Radiant tube and particle accelerator having radiant tube

Номер патента: RU2544838C2. Автор: Оливер ХАЙД. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2015-03-20.

Apparatus for controlling the duration of pulses in a beam of charged particles

Номер патента: GB1097989A. Автор: . Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1968-01-03.

Device for containing and accelerating plasma within a mixer/compressor system by way of magnetic forces and the coanda effect

Номер патента: US20220386441A1. Автор: Brant von Goble. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-12-01.

Rf resonator cavity and accelerator

Номер патента: CA2790805C. Автор: Oliver Heid. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-06-05.

Magnetic mirror for beams of charged particles accelerated in an accelerator

Номер патента: CA1121524A. Автор: Dominique Tronc,Hubert Leboutet. Владелец: CGR MEV SA. Дата публикации: 1982-04-06.

Generation and acceleration of charged particles using compact devices and systems

Номер патента: US20180343734A1. Автор: Yue Shi,Amit Lal,Serhan Ardanuc,June-Ho HWANG,Farhan RANA. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-11-29.

Device for radiation exploration and reliability test of aerospace electronics to impact of neutrons using charged particle accelerator

Номер патента: RU2668997C1. Автор: Александр Сергеевич Воробьев,Евгений Михайлович Иванов,Гелий Федорович Михеев,Олег Алексеевич Щербаков,Василий Сергеевич Анашин,Александр Евгеньевич Козюков,Линарис Раушатович Бакиров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова Национального исследовательского центра "Курчатовский институт" (НИЦ "Курчатовский институт" - ПИЯФ). Дата публикации: 2018-10-05.

Electrically charged particles collection device and method

Номер патента: RU2608577C1. Автор: Оливер ХАЙД,Тимоти ХЬЮЗ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2017-01-23.

Method and apparatus for producing high velocity charged particles

Номер патента: GB1000812A. Автор: Robert Jemison Van De Graaff. Владелец: High Voltage Engineering Corp. Дата публикации: 1965-08-11.

Particle beam treatment system and beam position correcting method thereof

Номер патента: US20140235922A1. Автор: Masahiro Ikeda,Hisashi Harada,Toshihiro Otani,Kengo Sugahara,Shuhei ODAWARA,Kazushi Hanakawa,Taizo Honda,Katsuhisa Yoshida. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Beam position monitor for charged particles passing through a chamber

Номер патента: US20210183613A1. Автор: Rémi Nicolas. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-06-17.

Rf quadrupole particle accelerator

Номер патента: WO2022164525A1. Автор: Frank Sinclair,William Davis Lee,Costel Biloiu,Wai-Ming Tam. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2022-08-04.

High gradient permanent magnet elements for charged particle beamlines

Номер патента: US09870891B1. Автор: Dan Wang,Roman Kostin,Sergey Antipov,Yingje Li,Chunuang Jing,Jiaqu Qiu,Paul Schoessow. Владелец: Euclid Techlabs LLC. Дата публикации: 2018-01-16.

RF particle accelerator structure with fundamental power couplers for ampere class beam current

Номер патента: US09485849B1. Автор: Arthur M. Vetter. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2016-11-01.

Method of manufacturing radio frequency accelerator, radio frequency accelerator, and circular accelerator system

Номер патента: US09402298B2. Автор: Kazuo Yamamoto,Kengo Sugahara,Yasuto KISHII,Kazushi Hanakawa. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-07-26.

Charged particle generator and accelerator

Номер патента: US7550753B2. Автор: Nishino Shigehiro,Ono Ryoichi. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2009-06-23.

Ray generating device and control method thereof

Номер патента: EP4369869A1. Автор: Liang Zhang,Kejun Kang,Yuanjing Li,Chuanxiang Tang,Huaibi Chen,Yaohong Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Feed system for a particle accelerator and a radio-therapy apparatus using this system

Номер патента: CA1063243A. Автор: Claude Perraudin,Claude Levaillant,Jean L. Pourre. Владелец: CGR MEV SA. Дата публикации: 1979-09-25.

Method and apparatus of confining high energy charged particles in magnetic cusp configuration

Номер патента: EP3117438A2. Автор: Jaeyoung Park,Nicholas Anthony KRALL,Paul Earl SIECK. Владелец: Energy Matter Conversion Corp Inc. Дата публикации: 2017-01-18.

Compact Motor-Driven Insulated Electrostatic Particle Accelerator

Номер патента: US20240268014A1. Автор: William H. Park, JR.,Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Ronald Horner. Владелец: Neutron Therapeutics LLC. Дата публикации: 2024-08-08.

Customizable radio frequency (RF) for use in particle accelerator applications

Номер патента: US09750123B1. Автор: David B. Olsen,Michael K. Strahan,Bryant G. Heath,Henry F. Moeller, Jr.,Dominic J. Kobbeman. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-08-29.

Hf resonator and accelerator with such hf resonator

Номер патента: RU2559031C2. Автор: Оливер ХАЙД,Тимоти ХЬЮЗ,Арнд БАУРИХТЕР. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2015-08-10.

Accelerator for charged particles

Номер патента: RU2603352C2. Автор: Оливер ХАЙД. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2016-11-27.

Rotation, acceleration, and gravity sensors using quantum-mechanical matter-wave interferometry with neutral atoms and molecules

Номер патента: US4874942A. Автор: John F. Clauser. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-10-17.

Improvements in and relating to electrical particle accelerators

Номер патента: GB654906A. Автор: Robert Br Robertson-Shersby-Ha. Владелец: National Research Development Corp UK. Дата публикации: 1951-07-04.

Means for the focusing and acceleration of parallel beams of charged particles

Номер патента: US4350927A. Автор: Alfred W. Maschke. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1982-09-21.

Charged particle beam extraction method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: EP2283705A2. Автор: Vladimir Yegorovich Balakin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-02-16.

Rotating capacitor, circular accelerator, and particle therapy system

Номер патента: US20230074582A1. Автор: Masahiro Ikeda,Takamitsu Hae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Charged particle beam source, surface processing apparatus and surface processing method

Номер патента: US12125664B2. Автор: David Pearson,Joao Ferreira,Sebastien POCHON. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2024-10-22.

Compact particle accelerator

Номер патента: US09750122B1. Автор: Juan M. Elizondo-Decanini. Владелец: National Technology and Engineering Solutions of Sandia LLC. Дата публикации: 2017-08-29.

Charged particle beam extraction system and method

Номер патента: EP1732369A3. Автор: Takahide Nakayama,Takayoshi Hitachi Ltd. IPO 12F Natori,Masaki Hitachi Ltd. IPO 12F Yanagisawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2010-01-20.

Generation, acceleration, focusing and collection of a high-brightness, space-charge-dominated circular charged-particle beam

Номер патента: WO2008061173A3. Автор: Jing Zhou,Chiping Chen,Thomas M Bemis,Ronak J Bhatt. Владелец: Ronak J Bhatt. Дата публикации: 2008-08-21.

Generation, acceleration, focusing and collection of a high-brightness, space-charge-dominated circular charged-particle beam

Номер патента: WO2008061173A2. Автор: Jing Zhou,Chiping Chen,Thomas M. Bemis,Ronak J. Bhatt. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2008-05-22.

Charged particle beam generator, charged particle irradiation system, method for operating charged particle beam generator and method for operating charged particle irradiation system

Номер патента: US09596746B2. Автор: Takashi Iga,Kazunori Tsubuku,Masumi Umezawa,Kouji TOBINAGA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-03-14.

Plasma production and acceleration process and plasma accelerator with closed-circuit electron drift implementing it

Номер патента: RU2156555C1. Автор: М.А. Власов,А.Н. Ермилов,А.В. Жаринов,Ю.А. Коваленко,Д.Н. Новичков. Владелец: Государственное унитарное предприятие "Всероссийский электротехнический институт им. В.И. Ленина". Дата публикации: 2000-09-20.

Propelling device by means of matter particles acceleration and applications thereof

Номер патента: CA2640037C. Автор: Claude Poher. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-08-11.

Hollow cathode ion source and method of extracting and accelerating ions

Номер патента: EP3390688A1. Автор: Peter Maschwitz,John Chambers. Владелец: AGC Flat Glass North America Inc. Дата публикации: 2018-10-24.

Circular accelerator, method of injection of charged particles thereof, and apparatus for injection of charged particles thereof

Номер патента: US5600213A. Автор: Kenji Miyata,Junichi Hirota,Masatsugu Nishi,Kazuo Hiramoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1997-02-04.

Collective particle accelerator

Номер патента: US4215291A. Автор: Moshe Friedman. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 1980-07-29.

Compact Motor-Driven Insulated Electrostatic Particle Accelerator

Номер патента: US20210120660A1. Автор: William H. Park, JR.,Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Ronald Horner. Владелец: Neutron Therapeutics Inc. Дата публикации: 2021-04-22.

Compact motor-driven insulated electrostatic particle accelerator

Номер патента: US11968774B2. Автор: William H. Park, JR.,Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Ronald Horner. Владелец: Neutron Therapeutics LLC. Дата публикации: 2024-04-23.

Compact motor-driven insulated electrostatic particle accelerator

Номер патента: CA3098834A1. Автор: William H. Park, JR.,Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Ronald Horner. Владелец: Neutron Therapeutics Inc. Дата публикации: 2019-11-07.

Compact motor-driven insulated electrostatic particle accelerator

Номер патента: AU2019262797A1. Автор: Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Ronald Horner,William H. Park Jr.. Владелец: Neutron Therapeutics Inc. Дата публикации: 2020-11-05.

Compact motor-driven insulated electrostatic particle accelerator

Номер патента: EP3788848A1. Автор: William H. Park, JR.,Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Ronald Horner. Владелец: Neutron Therapeutics Inc. Дата публикации: 2021-03-10.

Compact motor-driven insulated electrostatic particle accelerator

Номер патента: AU2023204631A1. Автор: Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Ronald Horner,William H. Park Jr.. Владелец: Neutron Therapeutics Inc. Дата публикации: 2023-08-03.

Compact motor-driven insulated electrostatic particle accelerator

Номер патента: AU2019262797B2. Автор: Theodore H. Smick,Geoffrey Ryding,Ronald Horner,William H. Park Jr.. Владелец: Neutron Therapeutics LLC. Дата публикации: 2023-04-13.

Magazine for handling stripping foils in a particle accelerator

Номер патента: US3867704A. Автор: Jr Andrew J Gorka. Владелец: US Atomic Energy Commission (AEC). Дата публикации: 1975-02-18.

Driver for a particle accelerator

Номер патента: US20240244738A1. Автор: Roman WALCZAK,Oscar JAKOBSSON,Simon HOOKER. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Diaphragm flange and method for lowering particle beam impedance at connected beam tubes of a particle accelerator

Номер патента: US09699881B2. Автор: George Herman Biallas. Владелец: Jefferson Science Associates LLC. Дата публикации: 2017-07-04.

Charged particle beam acceleration and extraction method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US8089054B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Dr Vladmir Balakin. Дата публикации: 2012-01-03.

Method and device for packing beam of charged particles

Номер патента: RU2624450C2. Автор: Оливер ХАЙД,Питер Саймон АПТАКЕР,Пол БИСЛИ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2017-07-04.

System and method for generating and accelerating magnetized plasma

Номер патента: CA3136365C. Автор: Stephen James Howard,Douglas Harvey Richardson,Michel Georges Laberge,Merritt Wayne REYNOLDS,Aaron Matthew FROESE,Kelly Bernard EPP,Martin Clifford Wight,Yakov Gofman. Владелец: General Fusion Inc. Дата публикации: 2022-10-11.

Linear particle accelerator

Номер патента: GB1142707A. Автор: . Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1969-02-12.

Method and device for changing the direction of movement of a beam of accelerated charged particles

Номер патента: US09779905B2. Автор: Muradin Abubekirovich Kumakhov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

System of correcting flow trajectors of charged particles

Номер патента: RU2643507C1. Автор: Борис Глебович Птицын,Юрий Михайлович Шибитов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом"). Дата публикации: 2018-02-02.

Method of obtaining cloud of charged particles

Номер патента: RU2727958C1. Автор: Александр Сергеевич Соколов,Леонид Викторович Колик,Евгений Михайлович Кончеков,Владимир Дмитриевич Степахин,Дмитрий Валерьевич Малахов,Нина Николаевна Скворцова,Екатерина Александровна Образцова,Андрей Адольфович Сорокин,Николай Константинович Харчев,Олег Николаевич Шишилов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Федеральный исследовательский центр "Институт общей физики им. А.М. Прохорова Российской академии наук". Дата публикации: 2020-07-28.

Hf cavity resonator and accelerator

Номер патента: RU2583048C2. Автор: Оливер ХАЙД. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2016-05-10.

Charged particle beam source, surface processing apparatus and surface processing method

Номер патента: US20220216027A1. Автор: David Pearson,Joao Ferreira,Sebastien POCHON. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2022-07-07.

RF quadrupole particle accelerator

Номер патента: US11818830B2. Автор: Frank Sinclair,William Davis Lee,Costel Biloiu,Wai-Ming Tam. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Charged particle beam generator, charged particle irradiation system, method for operating charged particle beam generator and method for operating charged particle irradiation system

Номер патента: US20160150630A1. Автор: Takashi Iga,Kazunori Tsubuku,Masumi Umezawa,Kouji TOBINAGA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-05-26.

Dielectric wall accelerator and applications and methods of use

Номер патента: EP3072369A1. Автор: Martin A. Stuart. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-09-28.

Charged particle beam extraction method and apparatus used in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: WO2009142550A3. Автор: Vladimir Yegorovich Balakin. Владелец: Vladimir Yegorovich Balakin. Дата публикации: 2010-01-07.

Charged particle transport system and installation method therefor

Номер патента: US20210180746A1. Автор: Yujiro Tajima,Tomoyuki Nonaka,Kunihiko Kinugasa,Hiromasa Itoh. Владелец: Toshiba Plant Systems and Services Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Method and apparatus for controlling charged particles

Номер патента: WO2008039505A3. Автор: Robert W Bussard. Владелец: Robert W Bussard. Дата публикации: 2008-08-28.

System, apparatus and method for producing gallium radioisotopes on particle accelerators using solid targets and ga-68 composition produced by same

Номер патента: EP3662728A1. Автор: Stefan Zeisler,Joel Oscar Olsson Kumlin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-06-10.

System, apparatus and method for producing gallium radioisotopes on particle accelerators using solid targets and ga-68 composition produced by same

Номер патента: WO2019023787A1. Автор: Stefan Zeisler,Joel Oscar Olsson Kumlin. Владелец: Stefan Zeisler. Дата публикации: 2019-02-07.

Charged particle generator

Номер патента: EP2517539A1. Автор: Susan Smith,Christopher Prior,Shinji Machida,Neil Bliss,Bruno Muratori,Robert Cywinski. Владелец: Science and Technology Facilities Council. Дата публикации: 2012-10-31.

Dielectric loaded particle accelerator

Номер патента: US20150230326A1. Автор: Tancredi Botto,Chunguang Jing,Sergey Antipov,Alexei Kanareykin,Benjamin Levitt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-08-13.

Diagnostic device for particle accelerator, diagnostic method for particle accelerator, and diagnostic program for particle accelerator

Номер патента: US20230003772A1. Автор: Takuji Furukawa,Kota Mizushima,Munemichi MATSUMOTO,Katsushi Hanawa. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-01-05.

Spiral orbital shear apparatus

Номер патента: US4548111A. Автор: Robert R. Tarbuck. Владелец: Sperry Corp. Дата публикации: 1985-10-22.

Rotatable targeting magnet apparatus and method of use thereof in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US09757594B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-12.

Charged particle irradiation device, system, method, and program

Номер патента: EP4075924A1. Автор: Shinichi Yamaguchi,Ryuichi Takeuchi,Katsuyuki Takahashi,Chyon Hae KIM,Isao Hiyoshi,Yuki KANETA,Katsuya Kubo,Hidemi Nagata,Koichi Takaki. Владелец: Iwate University NUC. Дата публикации: 2022-10-19.

Metalized plastic articles and methods thereof

Номер патента: US09770887B2. Автор: Liang Zhou,Qing Gong,Xiong Zhang,Weifeng Miao. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Charged particle irradiating device, system, method, and program

Номер патента: US20220301820A1. Автор: Shinichi Yamaguchi,Ryuichi Takeuchi,Katsuyuki Takahashi,Chyon Hae KIM,Isao Hiyoshi,Yuki KANETA,Katsuya Kubo,Hidemi Nagata,Koichi Takaki. Владелец: Iwate University NUC. Дата публикации: 2022-09-22.

Electronic cigarette case with magnetic attraction type charging function and electronic cigarette therewith

Номер патента: US10561173B2. Автор: XIANG Liu. Владелец: Shenzhen Buddy Technology Development Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-18.

Integrated target structure for generating charged particle and driving method of medical appliance using the same

Номер патента: US09782606B2. Автор: Moon Youn Jung,Hyung Ju Park,Ji Su Lee,Won Bae CHO. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-10-10.

Particle charging apparatus and method of charging particles

Номер патента: US5973904A. Автор: David Y. H. Pui,Da-Ren Chen. Владелец: University of Minnesota. Дата публикации: 1999-10-26.

Charged particle beam treatment apparatus and method of adjusting path length of charged particle beam

Номер патента: US20150270098A1. Автор: Shinji Iwanaga. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2015-09-24.

Charged particle induction from ionosphere to ground

Номер патента: US20160029467A1. Автор: Glenn E. Lane. Владелец: GLENN LANE FAMILY Ltd LIABILITY LP. Дата публикации: 2016-01-28.

Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20240177963A1. Автор: Masaru Matsushima,Go Miya,Masaki Mizuochi,Yuki UCHIOKE,Katsumi Kambe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Charged-particle beam apparatus with large field-of-view and methods thereof

Номер патента: WO2023198397A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-10-19.

Charged particle beam drawing apparatus and electrical charging effect correction method thereof

Номер патента: US20130032707A1. Автор: Hitoshi Higurashi,Noriaki Nakayamada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-02-07.

Structure for Particle Acceleration And Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20240242918A1. Автор: Kenji Tanimoto,Shuhei Ishikawa,Ryo Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Electron gun, charged particle gun, and charged particle beam apparatus using electron gun and charged particle gun

Номер патента: US09570268B2. Автор: Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Yuta Imai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US20160141162A1. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-19.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US20170117127A1. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-27.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: WO2015133558A1. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2015-09-11.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US09570276B2. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US09679756B2. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Tandem charged particle accelerator including carbon ion beam injector and carbon stripping foil

Номер патента: US09543106B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-10.

Scanning type charged particle beam microscope

Номер патента: US20020017606A1. Автор: Masayuki Maruo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-02-14.

Device for forming a quasi-neutral beam of oppositely charged particles

Номер патента: US09776742B2. Автор: Dmytro Rafalskyi,Ane Aanesland. Владелец: ECOLE POLYTECHNIQUE. Дата публикации: 2017-10-03.

Charged particle counting device, manufacturing method thereof, and charged particle counting system

Номер патента: US20190171924A1. Автор: Changcheng JU. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Charged particle counting device, manufacturing method thereof, and charged particle counting system

Номер патента: US10872288B2. Автор: Changcheng JU. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-22.

Data compression and acceleration for air to ground communications

Номер патента: US09577742B1. Автор: Ken Bantoft. Владелец: Satcom Direct Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Charged-particle beam apparatus for voltage-contrast inspection and methods thereof

Номер патента: EP4437577A1. Автор: Chia Wen Lin,Xuedong Liu,Weiming Ren,Xiaoyu JI,Datong ZHANG. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-02.

Scanning type charged particle beam microscope

Номер патента: US6683307B2. Автор: Masayuki Maruo. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2004-01-27.

Charged particle beam device enabling facilitated EBSD detector analysis of desired position and control method thereof

Номер патента: US09741531B2. Автор: Tsutomu Saito,Kazuyuki Takeda,Tohru Ando. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Charged particle beam device and axis adjustment method thereof

Номер патента: US12027342B2. Автор: Yuta Imai,Masahiro Sasajima,Yoshihiro Takahoko. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Charged particle beam apparatus and control method thereof

Номер патента: US20180350554A1. Автор: Takeshi Sunaoshi,Haruhiko Hatano,Yoshihisa Orai,Takashi MIZUO. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-12-06.

Charged particle beam device and axis adjustment method thereof

Номер патента: US11764028B2. Автор: Yuta Imai,Masahiro Sasajima,Yoshihiro Takahoko. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Image processing device, charged particle beam device, charged particle beam device adjustment sample, and manufacturing method thereof

Номер патента: US09702695B2. Автор: Osamu Inoue,Takashi Takahama,Naoshi Itabashi,Miyako Matsui,Takahiro Kawasaki,Hiroki Kawada,Osamu Komuro,Katsumi Setoguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Processor System Capable of Communicating with Multicharged Particle Beam Device and Method Thereof

Номер патента: US20240212973A1. Автор: Hajime Kawano,Kaoru Sakai,Mayuka Osaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Composite sensor for detecting angular velocity and acceleration

Номер патента: US09453851B2. Автор: Hideo Ohkoshi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Stopper-type charging device and driving method thereof

Номер патента: US20230177957A1. Автор: Jong Soo Park. Владелец: Durusco Ev Inc. Дата публикации: 2023-06-08.

Charged-particle beam apparatus with fast focus correction and methods thereof

Номер патента: WO2023237277A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI,Wei-Yu Chang. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-12-14.

Semiconductor charged particle detector and methods thereof

Номер патента: WO2024028076A1. Автор: Sven Jansen,Padmakumar RAMACHANDRA RAO. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-02-08.

Stopper-type charging device and driving method thereof

Номер патента: US11763671B2. Автор: Jong Soo Park. Владелец: Durusco Ev Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: US20240128043A1. Автор: Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Tom Van Zutphen,Jurgen VAN SOEST,Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-18.

Charged particle beam emitting device and method for operating a charged particle beam emitting device

Номер патента: EP1801838A1. Автор: FANG Zhou. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2007-06-27.

System for imaging a secondary charged particle beam with adaptive secondary charged particle optics

Номер патента: US09953805B2. Автор: Dieter Winkler,Stefan Lanio,Matthias FIRNKES. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2018-04-24.

System of charged particles with device-manipulator for manipulating one or more beams of charged particles

Номер патента: RU2589276C2. Автор: Марко Ян-Яко ВИЛАНД,Стейн Виллем Херман Карел СТЕНБРИНК,ВЕН Александер Хендрик Винсент ВАН,ДЕН БРОМ Альрик ВАН. Владелец: МЭППЕР ЛИТОГРАФИ АйПи Б.В.. Дата публикации: 2016-07-10.

Charged-particle beam apparatus with beam-tilt and methods thereof

Номер патента: US20240021404A1. Автор: Hermanus Adrianus Dillen,Xuedong Liu,Weiming Ren,Xiaoyu JI,Shahedul Hoque. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-01-18.

Light emitting device and manufacturing method thereof and display panel

Номер патента: US11758747B2. Автор: Shu Jing,Xiaobo Du. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Detecting charged particle events at high dose rates

Номер патента: EP4390462A1. Автор: Bart Janssen,Auke van der Heide,Jaap Mulder. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-26.

Detecting charged particle events at high dose rates

Номер патента: US20240212974A1. Автор: Bart Janssen,Auke van der Heide,Jaap Mulder. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-27.

Charged-particle beam device for diffraction analysis

Номер патента: WO2023017107A1. Автор: Harald Niebel,Günther STEINFELD,Tomi Tuohimaa,Christiaan Van Den Berg,Alexander Van Veen. Владелец: Eldico Scientific AG. Дата публикации: 2023-02-16.

Charged particle device, charged particle irradiation method, and analysis device

Номер патента: US20180174795A1. Автор: Teruo Kohashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-06-21.

Charged particle beam device

Номер патента: US8212224B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Akiko Fujisawa,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-07-03.

Charged Particle Beam Device and Method for Controlling Same

Номер патента: US20240242928A1. Автор: Koichi Kuroda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Charged particle beam device and aberration correction method for charged particle beam device

Номер патента: US20190214222A1. Автор: Hideyuki Kazumi,Takeyoshi Ohashi,Zhaohui Cheng,Kotoko Urano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: US20240242921A1. Автор: Mans Johan Bertil OSTERBERG,Koen SCHUURBIERS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-18.

Charged particle apparatus

Номер патента: WO2024068252A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Vincent Sylvester KUIPER. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-04-04.

Charged particle beam device

Номер патента: US11817289B2. Автор: Ryuji Yoshida,Tsunenori Nomaguchi,Shunichi Motomura,Takeharu Kato,Tadahiro KAWASAKI. Владелец: Japan Fine Ceramics Center. Дата публикации: 2023-11-14.

Method of determining a brightness of a charged particle beam, method of determining a size of a source of the charged particle beam, and charged particle beam imaging device

Номер патента: US20240126057A1. Автор: Matthias FIRNKES,John Breuer,Dominik Ehberger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2024-04-18.

Serial type charging and discharging device, and charging and discharging method using same

Номер патента: EP4398449A1. Автор: Chan Hee Lee,Han Jin Lee,Chang Sin Yeo,Yeon Woo JEONG,Min Young Jang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Defective pixel management in charged particle microscopy

Номер патента: US11742175B2. Автор: Bart Jozef Janssen,Erik Michiel Franken. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-08-29.

Charged particle radiation apparatus

Номер патента: US9153418B2. Автор: Yoshihiro Kimura,Akihiro Miura,Fumihiro Sasajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-10-06.

Charged particle radiation apparatus

Номер патента: US20150076349A1. Автор: Yoshihiro Kimura,Akihiro Miura,Fumihiro Sasajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-03-19.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: EP4154291A1. Автор: Dieter Winkler,Bernd Wöllert,Birgit Schabinger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-03-29.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: WO2021233584A1. Автор: Dieter Winkler,Bernd Wöllert,Birgit Schabinger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH. Дата публикации: 2021-11-25.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210118641A1. Автор: Ryuji Yoshida,Tsunenori Nomaguchi,Shunichi Motomura,Takeharu Kato,Tadahiro KAWASAKI. Владелец: Japan Fine Ceramics Center. Дата публикации: 2021-04-22.

Scanning charged particle microscope

Номер патента: US20110254944A1. Автор: Tohru Ishitani,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-10-20.

Charged particle beam application device

Номер патента: US20150364290A1. Автор: Akira Ikegami,Naomasa Suzuki,Hideyuki Kazumi,Momoyo Enyama,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: EP4409617A1. Автор: Mans Johan Bertil OSTERBERG,Koen SCHUURBIERS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-07.

Charged particle beam system

Номер патента: US20200411274A1. Автор: Ingo Mueller,Dirk Zeidler,Stefan Schubert,Christof Riedesel,Joerg Jacobi,Antonio Casares,Mario Muetzel. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2020-12-31.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20090302233A1. Автор: TAKASHI Ogawa. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2009-12-10.

Charged particle optics, charged particle beam apparatus, and method for scanning a charged particle beam

Номер патента: US20240290571A1. Автор: Pieter Kruit,Benjamin Cook. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2024-08-29.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: SE545450C2. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2023-09-12.

Charged particle beam apparatus, charged particle beam irradiation method, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20040211925A1. Автор: Hideaki Abe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-10-28.

Scanning charged-particle-beam microscopy with energy-dispersive x-ray spectroscopy

Номер патента: US12094684B1. Автор: Christopher Su-Yan OWN,Matthew Francis Murfitt. Владелец: Mochii Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Charged particle device, charged particle assessment apparatus, measuring method, and monitoring method

Номер патента: US20240339292A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Yan Ren. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-10.

Charged-particle beam device for diffraction analysis

Номер патента: US20240355577A1. Автор: Harald Niebel,Günther STEINFELD,Tomi Tuohimaa,Christiaan Van Den Berg,Alexander Van Veen. Владелец: Eldico Scientific AG. Дата публикации: 2024-10-24.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09941095B2. Автор: Akira Ikegami,Yuko Sasaki,Ryota Watanabe. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Charged-particle beam microscope with an evaporator

Номер патента: US09899186B1. Автор: Christopher Su-Yan OWN,Matthew Francis Murfitt. Владелец: Mochii Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Charged particle beam device, image generation method, observation system

Номер патента: US09824854B2. Автор: Yusuke Ominami,Shinsuke Kawanishi,Sukehiro Ito,Junichi Katane. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Composite charged particle detector, charged particle beam device, and charged particle detector

Номер патента: US09761409B2. Автор: Toshihide Agemura,Tsunenori Nomaguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Charged particle beam application device

Номер патента: US09704687B2. Автор: Akira Ikegami,Naomasa Suzuki,Hideyuki Kazumi,Momoyo Enyama,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Charged particle beam device, system for a charged particle beam device, and method for operating a charged particle beam device

Номер патента: US09666406B1. Автор: Stefan Lanio,Matthias FIRNKES,Benjamin John Cook. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-05-30.

Charged particle source arrangement for a charged particle beam device, charged particle beam device for sample inspection, and method for providing a primary charged particle beam for sample inspection in a charged particle beam

Номер патента: US09666404B2. Автор: Jürgen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-05-30.

Method for detecting signal charged particles in a charged particle beam device, and charged particle beam device

Номер патента: US09589763B1. Автор: Jürgen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-03-07.

Charged-particle apparatus, multi-device apparatus, method of using charged-particle apparatus and control method

Номер патента: US20240331968A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Yan Ren. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-03.

Charged particle inspection method and charged particle system

Номер патента: US09324537B2. Автор: Rainer Knippelmeyer,Stefan Schubert,Thomas Kemen. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-04-26.

Integrated bus interface fall and rise time accelerator method

Номер патента: WO2022187175A1. Автор: HUANG Huanzhang,Michael John Shay,Jonathan Lee VALDEZ,Kyle Edward ADDINGTON,Padmakumar Menon NAMBIYATH. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2022-09-09.

Virtual intranet acceleration method and system, configuration method, storage medium, and computer apparatus

Номер патента: US20220109588A1. Автор: Hui Miao,Dongfang ZENG. Владелец: Guizhou Baishancloud Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Charged particle beam system, corrector for aberration correction of a charged particle beam, and method thereof

Номер патента: US20240170249A1. Автор: Pieter Kruit,John Breuer. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2024-05-23.

Particle detector for detecting charged particles

Номер патента: EP4118425A1. Автор: Alexander Laue,Michel Aliman. Владелец: Leybold GmbH. Дата публикации: 2023-01-18.

Particle detector for detecting charged particles

Номер патента: WO2021180653A1. Автор: Alexander Laue,Michel Aliman. Владелец: Leybold GmbH. Дата публикации: 2021-09-16.

Method for calibrating deflectors of a charged particle beam device, and charged particle beam device

Номер патента: WO2023232257A1. Автор: Bernhard G. Mueller,Robert TRAUNER,Ludwig Ledl,Axel Wenzel. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-12-07.

Sample delivery, data acquisition, and analysis, and automation thereof, in charged-particle-beam microscopy

Номер патента: EP4356414A1. Автор: Chistopher Su-Yan OWN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-24.

Charged particle device and charged particle apparatus

Номер патента: EP4391009A1. Автор: Erwin Paul SMAKMAN,Yan Ren,Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-26.

Divergent charged particle implantation for improved transistor symmetry

Номер патента: US20080206971A1. Автор: James D. Bernstein,Lance S. Robertson,Jiejie Xu,Said Ghneim,Jeffrey Loewecke. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-08-28.

Charged particle beam apparatus and image acquiring method

Номер патента: EP4099359A1. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-12-07.

Charged Particle Beam Device and Control Method of Optical System of Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20200343072A1. Автор: Yuko Shimizu,Kazuya Yamazaki,Hirofumi Iijima,Tomohiro NAKAMICHI,Naoki Hosogi,Takuma FUKUMURA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-10-29.

Multiple charged particle beam inspection apparatus and multiple charged particle beam inspection method

Номер патента: US20190360951A1. Автор: Riki Ogawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

Charged particle beam targets

Номер патента: WO2014091195A1. Автор: Ivan KONOPLEV. Владелец: ISIS INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2014-06-19.

Charged Particle Beam Apparatus and Image Acquisition Method

Номер патента: US20190362934A1. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

A computer-aided defect correction method of a charged particle beam device, defect correction device of a charged particle beam device and a computer program

Номер патента: WO2024146664A1. Автор: Stanislav Petras,Jan SOPOUSEK. Владелец: Tescan Group, A.S.. Дата публикации: 2024-07-11.

Charged particle beam apparatus and sample observation method

Номер патента: US11393658B2. Автор: Kenji Aoki,Kunji Shigeto,Yuki Tani. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-07-19.

Charged particle beam device

Номер патента: US12046446B2. Автор: Hiroyuki Chiba,Hirofumi Sato,Wei Chean TAN,Ryo KOMATSUZAKI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Charged particle optical system and charged particle apparatus

Номер патента: EP4333017A1. Автор: Motofusa Ishikawa,Tomoya Uchida,Yuta Komatsu,Baku Ogasawara,Takakuni Goto,Shunta KUSU. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Charged-Particle Beam Device

Номер патента: US20190393014A1. Автор: Akira Ikegami,Yasushi Ebizuka,Yuta Kawamoto,Naoma Ban. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Method for manufacturing a head for irradiating a target with a beam of charged particles

Номер патента: US20240221970A1. Автор: Wilfried Vervisch. Владелец: Aix Marseille Universite. Дата публикации: 2024-07-04.

Charged particle device and charged particle apparatus

Номер патента: WO2024132486A1. Автор: Erwin Paul SMAKMAN,Yan Ren,Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Charged particle optical device, objective lens assembly, detector, detector array, and methods

Номер патента: EP4341979A1. Автор: Albertus Victor Gerardus MANGNUS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-03-27.

Charged particle optical device, objective lens assembly, detector, detector array, and methods

Номер патента: US20240087844A1. Автор: Albertus Victor Gerardus MANGNUS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-03-14.

Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20220238296A1. Автор: Tsunenori Nomaguchi,Shunichi Motomura. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-07-28.

Transmission charged particle microscope with an electron energy loss spectroscopy detector

Номер патента: US20240258067A1. Автор: Peter Christiaan Tiemeijer. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-08-01.

Multi charged particle beam writing apparatus and adjusting method for multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US20180247788A1. Автор: Yukitaka Shimizu,Eita FUJISAKI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-08-30.

Divergent charged particle implantation for improved transistor symmetry

Номер патента: US7385202B2. Автор: James D. Bernstein,Lance S. Robertson,Jiejie Xu,Said Ghneim,Jeffrey Loewecke. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-06-10.

Charged particle beam lithography apparatus and charged particle beam pattern writing method

Номер патента: US20200266033A1. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-08-20.

Circuit pattern design method,exposure method, charged-particle beam exposure system

Номер патента: US20020010906A1. Автор: Ryoichi Inanami,Shunko Magoshi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-01-24.

Composite Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20150221468A1. Автор: Toshihide Agemura,Tsunenori Nomaguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Method of influencing a charged particle beam, multipole device, and charged particle beam apparatus

Номер патента: WO2022184387A3. Автор: Dieter Winkler,Benjamin John Cook,Bernd Wöllert. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH. Дата публикации: 2022-12-01.

Charged Particle Beam Device and Method for Setting Condition in Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20200126754A1. Автор: Shigeru Kawamata,Hirofumi Sato,Yuki Numata. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-04-23.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20200035450A1. Автор: Makoto Suzuki,Minoru Yamazaki,Shunsuke Mizutani,Yuuji Kasai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Charged Particle Detector and Charged Particle Beam Device Using the Same

Номер патента: US20180261425A1. Автор: Makoto Sakakibara,Yasuhiro Shirasaki,Momoyo Enyama,Kaori Shirahata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-09-13.

Charged particle analysers and methods of separating charged particles

Номер патента: EP2436023A1. Автор: Alexander Makarov,Anastassios Giannakopulos. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2012-04-04.

Apparatus and method for detecting one or more scanning charged particle beams

Номер патента: EP3977502A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Lenard Maarten VOORTMAN. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-04-06.

Charged particle beam apparatus and image acquisition method

Номер патента: US10763077B2. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-09-01.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US11749497B2. Автор: Makoto Suzuki,Shunsuke Mizutani,Shahedul Hoque,Uki Ikeda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Charged particle detector assembly

Номер патента: US20240272312A1. Автор: Albertus Victor Gerardus MANGNUS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-15.

Charged particle beam reflector device and electron microscope

Номер патента: EP2048690A3. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2010-12-15.

Charged particle beam device and power supply device

Номер патента: US20220068595A1. Автор: Wen Li,Makoto Suzuki,Hiroyuki Takahashi,Yuzuru MIZUHARA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Charged particle beam device provided with ion pump

Номер патента: US20180158648A1. Автор: Fujio Onishi,Masazumi Tone,Hiroshi Touda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-07.

Charged particle beam writing method, computer-readable recording medium, and charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US20140166869A1. Автор: Osamu Iizuka,Hideyuki Tsurumaki,Sumito NAKADA,Hikaru YAMAMURA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2014-06-19.

Charged particle optical system and charged particle apparatus

Номер патента: US20240212969A1. Автор: Motofusa Ishikawa,Tomoya Uchida,Yuta Komatsu,Baku Ogasawara,Takakuni Goto,Shunta KUSU. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Charged particle beam device with dark field detector

Номер патента: EP2560185A3. Автор: Kaname Takahashi,Mine Nakagawa,Atsushi Muto,Mitsugu Sato,Akinari Morikawa,Yuusuke Tanba,Shunya Watanabe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2013-09-04.

Charged particle beam device

Номер патента: US20040238752A1. Автор: Kaname Takahashi,Mine Nakagawa,Atsushi Muto,Mitsugu Sato,Akinari Morikawa,Yuusuke Tanba,Shunya Watanabe. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-12-02.

Charged particle beam device

Номер патента: US6963069B2. Автор: Kaname Takahashi,Mine Nakagawa,Atsushi Muto,Mitsugu Sato,Akinari Morikawa,Yuusuke Tanba,Shunya Watanabe. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2005-11-08.

High throughput multi-beam charged particle inspection system with dynamic control

Номер патента: EP4411782A2. Автор: Michael Behnke,Ingo Müller,Ulrich Bihr,Dirk Zeidler,Andreas Adolf,Nicolas Kaufmann. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-08-07.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20070246651A1. Автор: Masahiro Inoue,Akira Higuchi,Masahiro Yamamoto,Hirotami Koike,Shinichi Okada,Sumio Sasaki. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2007-10-25.

Charged particle beam column and method of operating same

Номер патента: US8558190B2. Автор: Dirk Preikszas. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2013-10-15.

Charged particle beam column and method of operating same

Номер патента: US20100327179A1. Автор: Dirk Preikszas. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-12-30.

Apparatus for multiple charged-particle beams

Номер патента: US12080515B2. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Zong-Wei Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-03.

Tilting parameters calculating device, sample stage, charged particle beam device, and program

Номер патента: US20200066481A1. Автор: Shunsuke Taniguchi,Naoki Maruyama,Akira Taniyama,Takafumi Amino,Takashige Mori,Chie Yokoyama. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Inclination angle amount calculation device, sample stand, charged particle beam device, and program

Номер патента: EP3633709A1. Автор: Shunsuke Taniguchi,Naoki Maruyama,Akira Taniyama,Takafumi Amino,Takashige Mori,Chie Yokoyama. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2020-04-08.

Charged particle microscope for examining a specimen, and method of determining an aberration of said charged particle microscope

Номер патента: US12080512B2. Автор: Lubomír Tuma. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-09-03.

Beam optical component having a charged particle lens

Номер патента: WO2005071709A2. Автор: Juergen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH. Дата публикации: 2005-08-04.

Techniques for narrowing zero loss peaks in monochromated charged particles sources

Номер патента: US20240249905A1. Автор: Alexander Henstra,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-07-25.

Reduction of power consumption for a charged particle system

Номер патента: US20240120171A1. Автор: Maarten Bischoff,Casper Smit,Corné VAN ROOIJ,Jamie Mc Cormack,Marcel Veerhoek,Joost Dierkse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-11.

Apparatus and method relating to charged particles

Номер патента: EP1090411A2. Автор: Derek Aitken. Владелец: Superion Ltd. Дата публикации: 2001-04-11.

Reduction of power comsumption for a charged particle system

Номер патента: EP4354484A1. Автор: Maarten Bischoff,Casper Smit,Jamie McCormack,Corné VAN ROOIJ,Marcel Veerhoek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-17.

Charged particle optical apparatus having a selectively positionable differential pressure module

Номер патента: US20150348742A1. Автор: Michael Albiez,Stefan Meyer,Stewart Bean,Daniel Kirsten. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2015-12-03.

Apparatus and method for trapping charged particles and performing controlled interactions between them

Номер патента: US8426809B2. Автор: Muir KUMPH. Владелец: UNIVERSITAET INNSBRUCK. Дата публикации: 2013-04-23.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: US12123841B2. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Method and device for spatial charged particle bunching

Номер патента: US12068130B2. Автор: Michael John Zani,Jeffrey Winfield Scott,Mark Joseph Bennahmias. Владелец: NexGenSemi Holdings Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Charged particle beam device

Номер патента: US12051563B2. Автор: Hiroyuki Chiba,Wei Chean TAN,Ryo KOMATSUZAKI,Hirofumi Satou. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

A ce(iv) metal complex, an organic electronic device comprising an anode layer, a cathode layer and a charge generation layer, wherein the charge generation layer comprises a p-type charge generation layer that comprises the ce(iv) metal complex and a n-type charge generation layer

Номер патента: EP4449838A1. Автор: Steffen Willmann,Vladimir Uvarov,Ulrich Heggemann,Piermaria PINTER. Владелец: NOVALED GMBH. Дата публикации: 2024-10-23.

Charged particle beam device

Номер патента: US09997326B2. Автор: Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Method for inspecting a specimen and charged particle multi-beam device

Номер патента: US09922796B1. Автор: Jürgen Frosien,Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Multi charged particle beam writing apparatus and multi charged particle beam writing method

Номер патента: US09852876B2. Автор: Yasuo Kato,Hiroshi Matsumoto,Hideo Inoue,Ryoh Kawana. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Charged particle beam writing apparatus, method of adjusting beam incident angle to target object surface, and charged particle beam writing method

Номер патента: US09824849B2. Автор: Takahito Nakayama,Takanao TOUYA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Charged particle beam device and detection method using said device

Номер патента: US09799483B2. Автор: Hajime Kawano,Yasunari Sohda,Tomoyasu Shojo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Charged particle beam apparatus and processing method

Номер патента: US09793092B2. Автор: Fumio Aramaki,Tomokazu Kozakai,Masashi Muramatsu. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Charged particle beam device

Номер патента: US09786468B2. Автор: Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Chahn Lee. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Charged-particle-beam device, specimen-image acquisition method, and program recording medium

Номер патента: US09741530B2. Автор: Kenji Nakahira,Maki Tanaka,Yusuke Ominami,Shinsuke Kawanishi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Charged particle optical apparatus having a selectively positionable differential pressure module

Номер патента: US09741528B2. Автор: Michael Albiez,Stefan Meyer,Erik Essers,Stewart Bean,Daniel Kirsten. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2017-08-22.

Charged particle beam apparatus and sample image acquiring method

Номер патента: US09741526B2. Автор: Hiroyuki Suzuki,Yusuke Ominami,Shinsuke Kawanishi,Masako Nishimura. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Conductive adhesive with spherical graphene and manufacturing method thereof

Номер патента: US09725625B2. Автор: JI Li,Xia Zhang,Yungjui LEE,Yahui Chen. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Charged particle lithography system and beam generator

Номер патента: US09653261B2. Автор: Alexander Hendrik Vincent van Veen,Willem Henk URBANUS. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2017-05-16.

Charged particle-beam device

Номер патента: US09653256B2. Автор: Akira Ikegami,Akio Takaoka,Yoichi Ose,Naomasa Suzuki,Hideyuki Kazumi,Ryuji Nishi,Momoyo Enyama,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Charged particle beam device

Номер патента: US09627171B2. Автор: Hiroshi Makino,Minoru Yamazaki,Hideyuki Kazumi,Yuzuru MIZUHARA,Miki Isawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: US09601303B2. Автор: Jürgen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-03-21.

High resolution charged particle beam device and method of operating the same

Номер патента: US09595417B2. Автор: Jürgen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-03-14.

Charged particle beam device

Номер патента: US09543111B2. Автор: Yusuke Ominami,Masami Katsuyama,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Charged particle beam apparatus and image generation method

Номер патента: US09478392B2. Автор: Wen Li,Makoto Suzuki,Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Ryo Kadoi,Kazuki Ikeda,Hisaaki Kanai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-25.

Beam separator device, charged particle beam device and methods of operating thereof

Номер патента: US09472373B1. Автор: Jürgen Frosien,Stefan Lanio,Matthias FIRNKES,John Breuer,Johannes Hopster. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2016-10-18.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US09472372B2. Автор: Taku Yamada,Kenji Ohtoshi,Kaoru TSURUTA,Yasuyuki Taneda. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

Rotation angle measuring method of multi-charged particle beam image, rotation angle adjustment method of multi-charged particle beam image, and multi-charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US09466461B2. Автор: Osamu Iizuka,Kenji Ohtoshi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Charged particle beam apparatus and image acquiring method

Номер патента: US12148594B2. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Monochromator and charged particle apparatus including the same

Номер патента: US09425022B2. Автор: TAKASHI Ogawa,Bok Lae CHO,Sang Jung Ahn,In Yong Park,Cheolsu Han. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2016-08-23.

Charged particle beam device and sample observation method

Номер патента: US09418818B2. Автор: Yusuke Ominami,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Method of determining an energy spectrum or energy width of a charged particle beam, and charged particle beam imaging device

Номер патента: US20240371600A1. Автор: John Breuer,Dominik Ehberger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2024-11-07.

Method for multi-step energy recovery of charged particles and device for its implementation

Номер патента: RU2700583C1. Автор: Иван Васильевич Трифанов. Владелец: Иван Васильевич Трифанов. Дата публикации: 2019-09-18.

Method of hardware acceleration and related device

Номер патента: RU2687711C1. Автор: Чжан Пэн,СЮЙ Ян,Цзюнь ПЭН. Владелец: Хуавэй Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-05-15.

Construction of microsystem with high radiation resistance to the single charged particles impact

Номер патента: RU2659623C1. Автор: Вадим Анатольевич Шахнов,Андрей Александрович Глушко,Елена Викентьевна Резчикова,Людмила Анатольевна Зинченко,Владимир Васильевич Макарчук,Владимир Владимирович Терехов,Сергей Сергеевич Михайличенко. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана" (национальный исследовательский университет)" (МГТУ им. Н.Э. Баумана). Дата публикации: 2018-07-03.

Extraction system for secondary charged particles, intended for use in a mass spectrometer or other device for charged particles

Номер патента: RU2738186C2. Автор: Дэвид ДАУСЕТТ. Владелец: Люксембург Инститьют Оф Сайенс Энд Текнолоджи (Лист). Дата публикации: 2020-12-09.

Charged particle beam writing apparatus and method thereof

Номер патента: US20110031387A1. Автор: Noriaki Nakayamada,Seiji WAKE. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2011-02-10.

Charged particle beam treatment apparatus

Номер патента: US20190027339A1. Автор: Nagaaki Kamiguchi. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2019-01-24.

Digital detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US20220108867A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-07.

Digital detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US11328898B2. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-05-10.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: EP2834832A2. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan M. SC LIV,Aernout Christian ZONNEVYLLE. Владелец: Delmic BV. Дата публикации: 2015-02-11.

Multi charged particle beam writing apparatus, and multi charged particle beam writing method

Номер патента: US20160284513A1. Автор: Hideo Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-09-29.

Innovative imaging technique in transmission charged particle microscopy

Номер патента: US20190228949A1. Автор: Bart Jozef Janssen,Erik Michiel Franken,Lingbo Yu. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2019-07-25.

Multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US20200343073A1. Автор: HIROFUMI Morita,Mitsuhiro Okazawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-10-29.

Method for examining a sample by using a charged particle beam

Номер патента: US8937281B2. Автор: Wei Fang,YAN Zhao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2015-01-20.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20150221473A1. Автор: Makoto Sato,Tatsuya Asahata,Shota Torikawa,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Systems and methods for providing a beam of charged particles

Номер патента: US20210265125A1. Автор: Evgeny Papeer,Assaf Shaham,Ynon Hefets,Indranuj Dey,Alexander Bespaly,Shai TSIPSHTEIN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-08-26.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20200365368A1. Автор: Keisuke Goto,Kiyoshi Nakaso. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-11-19.

Sample Base, Charged Particle Beam Device and Sample Observation Method

Номер патента: US20150318143A1. Автор: Yusuke Ominami,Takashi Ohshima,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-11-05.

Charged Particle Beam Apparatus and Image Forming Method

Номер патента: US20150221471A1. Автор: Zhigang Wang,Yusuke Abe,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Spatial phase manipulation of charged particle beam

Номер патента: US20200258712A1. Автор: Johan VERBEECK,Armand Béché. Владелец: UNIVERSITEIT ANTWERPEN. Дата публикации: 2020-08-13.

Charged particle beam lithography apparatus and charged particle beam lithography method

Номер патента: US20180197717A1. Автор: Seiji WAKE. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-07-12.

Charged particle beam writing apparatus, and method for detecting irregularities in dose of charged particle beam

Номер патента: US20150325407A1. Автор: Hideo Inoue,Hironori Mizoguchi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2015-11-12.

Multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US20240242922A1. Автор: HIROFUMI Morita,Haruyuki NOMURA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Non-invasive charged particle beam monitor

Номер патента: WO2015042051A1. Автор: Tomas Plettner,John Gerling. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-03-26.

Spatial phase manipulation of charged particle beam

Номер патента: EP3698394A1. Автор: Johan VERBEECK,Armand Béché. Владелец: UNIVERSITEIT ANTWERPEN. Дата публикации: 2020-08-26.

Charged particle beam device

Номер патента: EP4365926A1. Автор: Hajime Kawano,Toshiyuki Yokosuka,Hideyuki Kotsuji. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-08.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US20180061614A1. Автор: Yasuo Kato,Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-01.

Charged Particle Beam System and Method of Aberration Correction

Номер патента: US20170365442A1. Автор: Shigeyuki Morishita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-12-21.

Energy Filter, and Energy Analyzer and Charged Particle Beam Device Provided with Same

Номер патента: US20230298845A1. Автор: Hiroyuki Ito,Takashi Doi,Kazuhiro Honda,Soichiro Matsunaga. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Apparatus for and method of controlling an energy spread of a charged-particle beam

Номер патента: WO2020164951A1. Автор: Shakeeb Bin HASAN,Maikel Robert GOOSEN,Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Yan Ren. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2020-08-20.

Mass spectrometry by detecting positively and negatively charged particles

Номер патента: EP3201939A2. Автор: Michael Goodwin,Evgeny Krylov,Christopher D. Brown,Andrew J. BARTFAY-SZABO,Kerin GREGORY. Владелец: 908 Devices Inc. Дата публикации: 2017-08-09.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: EP4250331A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-27.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20190362938A1. Автор: Chikako ABE,Hitoshi SUGAHARA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20190362931A1. Автор: Makoto Suzuki,Minoru Yamazaki,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Ryota Watanabe,Kazunari Asao. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Aligning charged particle beams

Номер патента: WO2010039339A3. Автор: Raymond Hill. Владелец: Carl Zeiss Smt Inc.. Дата публикации: 2010-06-10.

Charged particle assessment system and method

Номер патента: US20240288389A1. Автор: Peter Paul HEMPENIUS,Niels Johannes Maria BOSCH,Marco Jan-Jaco Wieland,Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-29.

Charged Particle Beam Device, Sample Stage Unit, and Sample Observation Method

Номер патента: US20150311033A1. Автор: Hiroyuki Suzuki,Yusuke Ominami,Shinsuke Kawanishi,Mami Konomi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-10-29.

Charged particle beam device and charged particle beam device noise source determination method

Номер патента: US20190341225A1. Автор: Wen Li,Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Takuma NISHIMOTO,Wataru Mori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-07.

Charged particle beam system

Номер патента: US12068128B2. Автор: Yusuke Nakamura,Kenji Tanimoto,Takeyoshi Ohashi,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Apparatus and method relating to charged particles

Номер патента: WO1999066535A2. Автор: Derek Aitken. Владелец: Superion Limited. Дата публикации: 1999-12-23.

System and method for preparation and delivery of biological samples for charged particle analysis

Номер патента: US11749498B2. Автор: Kun Liu,Joseph Christian,Marcus Straw,Alexander Makarov,Tom Nichols,Dmitry GRINFELD,Jeff KOSMOSKI,Josh Gilbert,Aaron Torok,Alan Bahm. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-09-05.

Charged particle-optical element, charged particle-optical module, assessment apparatus, chip assembly, method of manufacturing

Номер патента: EP4418302A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,Yue Ma,Erwin Slot,Laura DEL TIN,Alrik VAN DEN BROM,André Luís Rodrigues Mansano. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-21.

Replaceable module for a charged particle apparatus

Номер патента: US20230107989A1. Автор: Yang-Shan Huang,Marc Smits,Stijn Wilem Herman Karel STEENBRINK,Xuedong Liu,Xuerang Hu,Christiaan OTTEN,Laura DEL TIN,Qingpo Xi,Peter-Paul CRANS,Christan TEUNISSEN,Xinan LUO. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-04-06.

Replaceable module for a charged particle apparatus

Номер патента: US20210391139A1. Автор: Yang-Shan Huang,Marc Smits,Xuedong Liu,Xuerang Hu,Christiaan OTTEN,Laura DEL TIN,Qingpo Xi,Peter-Paul CRANS,Christan TEUNISSEN,Xinan LUO,Herman Karel STEENBRINK Stijn Wilem. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-12-16.

System to inspect, modify or analyze a region of interest of a sample by charged particles, set of systems to inspect, modify or analyze a region of interest of a sample and method to inspect, modify or analyze a region of interest of a sample by charged particles

Номер патента: US20240288391A1. Автор: John A. Notte,Mark D. DiManna,Terry Griffin,Jeffrey Sauer. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-29.

Charged particle beam writing device and charged particle beam writing method

Номер патента: US20220301818A1. Автор: Junpei YASUDA,Naoto WAKUI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Charged-particle beam writing apparatus and charged-particle beam writing method

Номер патента: US20190355553A1. Автор: Takashi Kamikubo,Haruyuki NOMURA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-21.

Mass spectrometry by detecting positively and negatively charged particles

Номер патента: US20160099137A1. Автор: Michael Goodwin,Evgeny Krylov,Christopher D. Brown,Andrew J. BARTFAY-SZABO,Kerin GREGORY. Владелец: 908 Devices Inc. Дата публикации: 2016-04-07.

Multi charged particle beam writing apparatus, and multi charged particle beam writing method

Номер патента: US9679748B2. Автор: Hideo Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Charged-particle beam exposure apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US20120126136A1. Автор: Hirohito Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-24.

Charged Particle Instrument Equipped with Optical Microscope

Номер патента: US20080296499A1. Автор: Jacob Simon Faber. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2008-12-04.

A beam manipulator in charged particle-beam apparatus

Номер патента: CA3242123A1. Автор: Vincent Claude BEUGIN,German AKSENOV,Pieter Lucas Brandt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-06.

Bandpass charged particle energy filtering detector for charged particle tools

Номер патента: US11749495B2. Автор: Michael Steigerwald,Youfei JIANG. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Charged-particle optical device

Номер патента: US20240321547A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-26.

Charged particle-optical apparatus

Номер патента: EP4421843A1. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Duygu Akbulut,Marco Jan-Jaco Wieland,Vincent Sylvester KUIPER,Erwin Slot,Ezgi Sahin,Jorn Paul VAN ENGELEN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-28.

On-Axis Detector for Charged Particle Beam System

Номер патента: US20140001357A1. Автор: N. William Parker,Mark W. Utlaut,Anthony Graupera. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-01-02.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20240321543A1. Автор: Hajime Kawano,Toshiyuki Yokosuka,Hideyuki Kotsuji. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Beam manipulator in charged particle-beam apparatus

Номер патента: US20240355575A1. Автор: Vincent Claude BEUGIN,German AKSENOV,Pieter Lucas Brandt. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-24.

Charged particle detection for spectroscopic techniques

Номер патента: US12117406B2. Автор: Bryan Barnard,Pavel Stejskal. Владелец: VG Systems Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

A beam manipulator in charged particle-beam apparatus

Номер патента: EP4457851A1. Автор: Vincent Claude BEUGIN,German AKSENOV,Pieter Lucas Brandt. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-06.

Charged Particle Beam System

Номер патента: US20240371601A1. Автор: Yusuke Nakamura,Kenji Tanimoto,Takeyoshi Ohashi,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Charged-particle beam microscopy

Номер патента: US09997331B1. Автор: Christopher Su-Yan OWN,Matthew Francis Murfitt. Владелец: Mochii Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Multi-beam lens device, charged particle beam device, and method of operating a multi-beam lens device

Номер патента: US09984848B2. Автор: Jürgen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2018-05-29.

Charged-particle-beam device

Номер патента: US09960006B2. Автор: Hajime Kawano,Yuko Sasaki,Yasunari Sohda,Noritsugu Takahashi,Wataru Mori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Multi charged particle beam irradiation apparatus, multi charged particle beam irradiation method, and multi charged particle beam adjustment method

Номер патента: US09916962B2. Автор: HIROFUMI Morita,Shinsuke Nishimura,Munehiro Ogasawara,Takanao TOUYA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Mass spectrometry by detecting positively and negatively charged particles

Номер патента: US09905407B2. Автор: Michael Goodwin,Evgeny Krylov,Christopher D. Brown,Andrew J. BARTFAY-SZABO,Kerin GREGORY. Владелец: 908 Devices Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Semiconductor manufacturing apparatus and method thereof

Номер патента: US09892931B2. Автор: Chi-Ming Yang,Nai-Han Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Method for pattern measurement, method for setting device parameters of charged particle radiation device, and charged particle radiation device

Номер патента: US09831062B2. Автор: Makoto Suzuki,Satoru Yamaguchi,Satoshi Takada,Kazuhisa Hasumi,Miki Isawa,Kei Sakai,Masami Ikota. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Charged particle beam device and inspection device

Номер патента: US09824938B2. Автор: Osamu Inoue,Atsuko Yamaguchi,Hiroki Kawada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Device for manipulating charged particles

Номер патента: US09812308B2. Автор: Roger Giles,Alexander Berdnikov,Alina Andreyeva. Владелец: Shimadzu Research Laboratory Europe Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US09786763B2. Автор: Kohei SHINSHO. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2017-10-10.

Method of performing spectroscopy in a transmission charged-particle microscope

Номер патента: US09778377B2. Автор: Gerard Nicolaas Anne Van Veen,Albertus Aemillius Seyno Sluijterman,Luigi Mele. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-10-03.

Multi charged particle beam writing apparatus, and multi charged particle beam writing method

Номер патента: US09679748B2. Автор: Hideo Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Charged particle beam device, method for adjusting charged particle beam device, and method for inspecting or observing sample

Номер патента: US09673020B2. Автор: Yusuke Ominami,Sukehiro Ito,Tomohisa Ohtaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Housing device for magnetic shielding, housing arrangement for magnetic shielding, charged particle beam device, and method of manufacturing a housing device

Номер патента: US09673017B1. Автор: Pavel Adamec. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-06-06.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09620333B2. Автор: Makoto Sato,Satoshi Tomimatsu,Tatsuya Asahata,Yo Yamamoto,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Method for analyzing an object and charged particle beam device for carrying out the method

Номер патента: US09620331B1. Автор: Edward Hill,Sreenivas Bhattiprolu. Владелец: Carl Zeiss Microscopy Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Charged particle multi-beam apparatus including a manipulator device for manipulation of one or more charged particle beams

Номер патента: US09607806B2. Автор: Pieter Kruit,Aernout Christiaan Zonnevylle. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2017-03-28.

Multiple charged particle beam lithography apparatus and multiple charged particle beam pattern writing method

Номер патента: US09601315B2. Автор: Yasuo Kato,Ryoh Kawana. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Charged particle beam writing apparatus, charged particle beam writing method, and shot correction method of charged particle beam writing method

Номер патента: US09583310B2. Автор: Tomoo Motosugi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Charged particle beam generating apparatus, charged particle beam apparatus, high voltage generating apparatus, and high potential apparatus

Номер патента: US09548182B2. Автор: Takashi Onishi,Shunichi Watanabe,Minoru Kaneda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-17.

Blanking device for multi charged particle beams, and multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US09543120B2. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Charged-particle beam device for irradiating a charged particle beam on a sample

Номер патента: US09543113B2. Автор: Masashi Fujita,Seiichiro Kanno,Naoya Ishigaki,Yasushi Ebizuka. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Device for manipulating charged particles via field with pseudopotential having one or more local maxima along length of channel

Номер патента: US09536721B2. Автор: Roger Giles,Alexander Berdnikov,Alina Andreyeva. Владелец: Shimadzu Research Laboratory Europe Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Method for correcting drift of charged particle beam, and charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US09536705B2. Автор: Osamu Iizuka. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Sample base, charged particle beam device and sample observation method

Номер патента: US09508527B2. Автор: Yusuke Ominami,Takashi Ohshima,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09502212B2. Автор: Hitoshi Tamura,Minoru Yamazaki,Hideyuki Kazumi,Yuzuru MIZUHARA,Miki Isawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-22.

Charged particle beam device, sample stage unit, and sample observation method

Номер патента: US09472375B2. Автор: Hiroyuki Suzuki,Yusuke Ominami,Shinsuke Kawanishi,Mami Konomi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Charged particle-beam device and specimen observation method

Номер патента: US09466460B2. Автор: Taku Sakazume,Yusuke Ominami,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Charged particle microscope device and image capturing method

Номер патента: US09460889B2. Автор: Kenji Nakahira,Atsushi Miyamoto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Charged particle beam device

Номер патента: US12142457B2. Автор: Makoto Suzuki,Yuji Takagi,Takuma Yamamoto,Takahiro Nishihata,Mayuka Osaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-11-12.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09336987B2. Автор: Makoto Sato,Tatsuya Asahata,Shota Torikawa,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-05-10.

Charged particle beam device

Номер патента: US5235188A. Автор: Petrus M. Mul. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1993-08-10.

Charged Particle Beam Device and Axis Adjustment Method Thereof

Номер патента: US20230377829A1. Автор: Yuta Imai,Masahiro Sasajima,Yoshihiro Takahoko. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Charged particle beam writing apparatus and method thereof

Номер патента: US20090008568A1. Автор: Takayuki Abe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-01-08.

Seismic pressure and acceleration measurement

Номер патента: US11871675B2. Автор: Stig Rune Lennart Tenghamn,David Thomas Booth. Владелец: PGS GEOPHYSICAL AS. Дата публикации: 2024-01-09.

Apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising plasma generator, and method thereof

Номер патента: US20220115204A1. Автор: Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Emitter for emitting charged particles

Номер патента: EP4182960A1. Автор: Jurgen VAN SOEST. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-05-24.

Charged particle-optical device, charged particle apparatus and method

Номер патента: US20240234081A9. Автор: Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-11.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: EP3942590A1. Автор: Jacob Pieter Hoogenboom,Sander DEN HOEDT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-01-26.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20150228450A1. Автор: Hidekazu Suzuki,Tatsuya Asahata,Yo Yamamoto,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20150228443A1. Автор: Makoto Sakakibara,Kenichi Morita,Kenji Obara,Muneyuki Fukuda,Naomasa Suzuki,Sayaka Tanimoto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Charged particle system, method of processing a sample using a multi-beam of charged particles

Номер патента: EP4260357A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-18.

Charged particle implantation for transistor symmetry

Номер патента: WO2006063046A3. Автор: Jiejie Xu,Said Ghneim,Jeffrey Loewecke,James D Bernstein,Lance S Robertson. Владелец: Lance S Robertson. Дата публикации: 2006-08-10.

Method for examining a sample by using a charged particle beam

Номер патента: US20120273678A1. Автор: Wei Fang,YAN Zhao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-11-01.

Multi-beam charged particle microscope design with detection system for fast charge compensation

Номер патента: WO2024125816A1. Автор: Thomas Schmid,Markus Koch,Dirk Zeidler,Thomas Dieterle,Bjoern Miksch,Felix MENKE. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-06-20.

Charged Particle Beam Writing Apparatus and Charged Particle Beam Writing Method

Номер патента: US20190027340A1. Автор: Satoru Hirose,Ryosuke Ueba,Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

Method of Measuring the Temperature of a Sample Carrier in a Charged Particle-Optical Apparatus

Номер патента: US20120128028A1. Автор: Uwe Luecken,Hendrik Nicolaas Slingerland,Pleun Dona,Laurens Franz Taemsz Kwakman,Hervé-William Rémigy,Stephanus Hubertus Leonardus van den Boom,Martin Verheijen,Gerbert Jeroen van der Water. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2012-05-24.

Workpiece holder, semiconductor fabricating apparatus, semiconductor inspecting apparatus, circuit pattern inspecting apparatus, charged particle beam application apparatus, calibrating substrate, workpiece holding method, circuit pattern inspecting method, and charged particle beam application method

Номер патента: US20030146382A1. Автор: Hiroyuki Suzuki,YASUTSUGU Usami,Hiroyuki Shinada,Shuji Sugiyama,Atsuko Takafuji. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-08-07.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210391143A1. Автор: Shuhei Yabu,Kazuki ISHIZAWA,Michio Hatano,Anoru SUGA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-12-16.

Methods and devices for measuring and adjusting illumination uniformity obtained from a charged-particle illumination-optical system

Номер патента: US20030096179A1. Автор: Takehisa Yahiro. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2003-05-22.

Method for fracturing a pattern for writing with a shaped charged particle beam writing system using dragged shots

Номер патента: WO2011049735A2. Автор: Michael Tucker,Akira Fujimura,Harold Robert Zable. Владелец: D2S, INC.. Дата публикации: 2011-04-28.

Charged particle beam device

Номер патента: WO2004086452A2. Автор: Juergen Frosien. Владелец: Ict, Integrated Circuit Testing Gesellschaft Für Halbleiterprüftechnik Mbh. Дата публикации: 2004-10-07.

Method and apparatus for charged particle beam inspection

Номер патента: US8497475B2. Автор: CHANG CHUN YEH,Shih-Tsuan CHANG. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2013-07-30.

Charged particle optics components and their fabrication

Номер патента: US20240047171A1. Автор: Alexander Henstra,Luigi Mele,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-02-08.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: WO2016076718A2. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2016-05-19.

Method for depositing a film using a charged particle beam, method for performing selective etching using the same, and charged particle beam equipment therefor

Номер патента: US20070252092A1. Автор: Hiroyasu Shichi,Muneyuki Fukuda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2007-11-01.

Method of controlling particle absorption on a wafer sample being inspected by a charged particle beam imaging system

Номер патента: US20120006984A1. Автор: You-Jin Wang,Chung-Shih Pan. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-01-12.

Non-invasive charged particle beam monitor

Номер патента: EP3047502A1. Автор: Tomas Plettner,John Gerling. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-07-27.

Multi-beam charged particle microscope design with anisotropic filtering for improved image contrast

Номер патента: WO2024078739A1. Автор: Thomas Schmid,Markus Koch,Dirk Zeidler,Stefan Schubert,Maksym Kompaniiets,Bjoern Miksch,Felix MENKE. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-04-18.

Magnetic Lens, Method for Focusing Charged Particles and Charged Particle Energy Analyzer

Номер патента: US20110012018A1. Автор: Bryan Barnard,Christopher Glenister. Владелец: VG Systems Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Application management for charged particle microscope devices

Номер патента: EP4333020A1. Автор: Pavel Potocek,Remco Schoenmakers,Maurice PEEMEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-03-06.

Isolation of charged particle optics from vacuum chamber deformations

Номер патента: EP3198626A1. Автор: Gershon Perelman. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2017-08-02.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US20190122857A1. Автор: Yasuo Kato,Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-04-25.

Charged particle sensors including wide bandgap materials

Номер патента: EP4386811A1. Автор: Libor Novak,Jan Lásko,Radek Smolka,Petr Glajc,Branislav Straka,Vojtêch Mahel. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-19.

Autoadjusting charged-particle probe-forming apparatus

Номер патента: EP1197986A3. Автор: Ondrej L. Krivanek,Niklas Dellby,Andrew R. Lupini. Владелец: Nion Co. Дата публикации: 2004-04-07.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20220230840A1. Автор: Shuntaro Ito,Hiromi MISE. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20230290606A1. Автор: Yusuke Nakamura,Shunsuke Mizutani,Muneyuki Fukuda,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Method and apparatus for user association based on fuzzy logic and accelerated reinforcement learning for dense cloud wireless network

Номер патента: US20230156556A1. Автор: Wooyeol Choi,Rehenumna Tasnim RODOSHI. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chosun National University. Дата публикации: 2023-05-18.

Charged particle beam source and charged particle beam system

Номер патента: EP4254465A1. Автор: Keiichi Yamamoto,Yasuyuki Okano,Norikazu Arima,Tomohisa Fukuda,Kyouichi KAMINO. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Charged Particle Beam Source and Charged Particle Beam System

Номер патента: US20230317400A1. Автор: Keiichi Yamamoto,Yasuyuki Okano,Norikazu Arima,Tomohisa Fukuda,Kyouichi KAMINO. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Charged Particle Beam Drawing Apparatus and Control Method for Charged Particle Beam Drawing Apparatus

Номер патента: US20230075825A1. Автор: Yukinori Aida. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Method for detecting substrate position of charged particle beam photolithography apparatus and charged particle beam photolithography apparatus

Номер патента: US8237139B2. Автор: Yoshiro Yamanaka,Michihiro Kawaguchi,Kazuhiro Shiba,Kota Fujiwara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2012-08-07.

Charged particle assessment tool, inspection method and image

Номер патента: US20230304949A1. Автор: Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-28.

Charged particle device, detector, and methods

Номер патента: US20230005706A1. Автор: Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-05.

Multiple charged particle beam writing apparatus and multiple charged particle beam writing method

Номер патента: US20220107569A1. Автор: Yasuo Kato,Ryoh Kawana. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-04-07.

Method and device for generating a focused strong-current charged-particle beam

Номер патента: US20150303019A1. Автор: Julien Fuchs,Bruno Albertazzi,Henri Pepin,Emmanuel D'HUMIERES. Владелец: Institut National de La Recherche Scientifique INRS. Дата публикации: 2015-10-22.

Systems and methods for providing a beam of charged particles

Номер патента: WO2020012247A3. Автор: Evgeny Papeer,Assaf Shaham,Ynon Hefets,Indranuj Dey,Alexander Bespaly,Shai TSIPSHTEIN. Владелец: Ynon Hefets. Дата публикации: 2020-07-23.

Charged practicles beam apparatus and charged particles beam apparatus design method

Номер патента: US20140097352A1. Автор: Mamoru Nakasuji. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-04-10.

Apparatus for contamination reduction in charged particle beam systems

Номер патента: WO2024160448A1. Автор: Shao-Wei Fu,Yinglong LI. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-08.

Charged particle beam device and inspection method

Номер патента: US12057288B2. Автор: Makoto Sakakibara,Hajime Kawano,Momoyo Enyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Transresistance amplifier for a charged particle detector

Номер патента: EP1510002A1. Автор: Andrew Philip The Maltings ARMIT. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2005-03-02.

Improvements in and relating to charged particle beam devices

Номер патента: GB201017342D0. Автор: . Владелец: Carl Zeiss Microscopy Ltd. Дата публикации: 2010-11-24.

Methods and devices for measuring and adjusting illumination uniformity obtained from a charged-particle illumination-optical system

Номер патента: US20010016294A1. Автор: Takehisa Yahiro. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2001-08-23.

Multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US20240242920A1. Автор: HIROFUMI Morita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Method and apparatus for charged particle beam inspection

Номер патента: US20120043462A1. Автор: CHANG CHUN YEH,Shih-Tsuan CHANG. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-02-23.

Charged-particle-beam projection-exposure method exhibiting aberration reduction through multiple deflector use

Номер патента: US6027841A. Автор: Shohei Suzuki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2000-02-22.

Detector assembly, charged particle device, apparatus, and methods

Номер патента: US20240264099A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-08.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210272768A1. Автор: Masaaki Komatsu,Shin Imamura,Shuhei Yabu,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Charged particle assessment tool, inspection method

Номер патента: US20240249912A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-25.

Magnetic lens, method for focusing charged particles and charged particle energy analyzer

Номер патента: US8164066B2. Автор: Bryan Barnard,Christopher Glenister. Владелец: VG Systems Ltd. Дата публикации: 2012-04-24.

Charged particle beam device and inspection device

Номер патента: US20240297012A1. Автор: Makoto Suzuki,Hiroki Kawada,Atsuko SHINTANI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Electronic method for controlling charged particles to obtain optimum electrokinetic behavior

Номер патента: WO1998036466A1. Автор: Floyd L. Williamson. Владелец: Williamson Floyd L. Дата публикации: 1998-08-20.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US11747292B2. Автор: Hiroyuki Chiba,Wei Chean TAN. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Dual speed acquisition for drift corrected, fast, low dose, adaptive compositional charged particle imaging

Номер патента: EP4064323A1. Автор: Pavel Potocek,Bert Freitag,Maurice PEEMEN,Remco Schoenmakes. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-09-28.

Charged particle detector

Номер патента: US20240280517A1. Автор: Albertus Victor Gerardus MANGNUS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-22.

Charged particle beam device, and sample observation method employing same

Номер патента: US20240242925A1. Автор: Takeshi Ohmori,Shunya TANAKA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

Light guide, detector having light guide, and charged particle beam device

Номер патента: US10593512B2. Автор: Yoshifumi Sekiguchi,Shin Imamura,Hajime Kawano,Shahedul Hoque. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2020-03-17.

Charged particle beam apparatus and method of controlling charged particle beam apparatus

Номер патента: US11756764B2. Автор: Kuniyasu Nakamura,Hirokazu Tamaki,Takashi Dobashi,Hiromi MISE. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Device and method for calibrating a charged-particle beam

Номер патента: EP4428896A1. Автор: Elmar Platzgummer. Владелец: IMS Nanofabrication GmbH. Дата публикации: 2024-09-11.

Detector assembly, charged particle device, apparatus, and methods

Номер патента: EP4420148A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-28.

Platform for charged particle apparatus and components within a charged particle apparatus

Номер патента: US20240312756A1. Автор: Hans Butler,Peter Paul HEMPENIUS,Niels Johannes Maria BOSCH,Willem Henk URBANUS,Jasper Hendrik GRASMAN,Joan SANS MERCADER,Patrick Peter Hubert Helena PHILIPS,Gerardus Wilhelmus SARS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-19.

Energy band-pass filtering for improved high landing energy backscattered charged particle image resolution

Номер патента: EP4416752A1. Автор: Weiming Ren,Xuechen ZHU,Farshid TAZESH,Datong ZHANG. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-21.

Charged particle-optical element, charged particle-optical module, assessment apparatus, chip assembly, method of manufacturing

Номер патента: WO2024170229A2. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,Yue Ma,Erwin Slot,Laura DEL TIN,Alrik VAN DEN BROM,André Luís Rodrigues Mansano. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-22.

Charged particle detection system and multi-beamlet inspection system

Номер патента: EP2556527A1. Автор: Rainer Knippelmeyer. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2013-02-13.

Apparatus for contamination reduction in charged particle beam systems

Номер патента: EP4439623A1. Автор: Shao-Wei Fu,Yinglong LI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-02.

Charged-particle optical apparatus and projection method

Номер патента: US20240339294A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Yan Ren,Jurgen VAN SOEST. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-10.

Dual speed acquisition for drift corrected, fast, low dose, adaptive compositional charged particle imaging

Номер патента: US12136532B2. Автор: Pavel Potocek,Remco Schoenmakers,Bert Henning Freitag,Maurice PEEMEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-11-05.

Apparatus and method for analysing a sample by means of electrically charged particles

Номер патента: AU2022402277A1. Автор: Johannes Hartgers,Steve Jackson DJEMPE. Владелец: INTEGRATED DYNAMICS ENGINEERING GMBH. Дата публикации: 2024-07-04.

Time-of-flight charged particle spectroscopy

Номер патента: US09984852B1. Автор: Otger Jan Luiten,Erik Rene Kieft,Petrus Henricus Antonius Mutsaers,Jasper Frans Mathijs van Rens,Wouter Verhoeven. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-05-29.

Multiple charged particle beam lithography apparatus and multiple charged particle beam lithography method

Номер патента: US09947509B2. Автор: Hironobu Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Charged particle beam system and method of aberration correction

Номер патента: US09892886B2. Автор: Shigeyuki Morishita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Charged particle beam device and charged particle beam device control method

Номер патента: US09881769B2. Автор: Tsutomu Saitou,Kenji Aoki,Mitsuhiro Nakamura,Kunji Shigeto,Kotaro Hosoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Charged particle beam apparatus and image forming method of charged particle beam apparatus

Номер патента: US09859094B2. Автор: Wen Li,Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Kazuki Ikeda,Takuma NISHIMOTO. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Method of improving quality of scanning charged particle microscope image, and scanning charged particle microscope apparatus

Номер патента: US09859093B2. Автор: Kenji Nakahira,Maki Tanaka. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Charged particle beam writing apparatus and method utilizing a sum of the weighted area density of each figure pattern

Номер патента: US09837247B2. Автор: Yasuo Kato,Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Charged particle beam exposure apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09824860B2. Автор: Akio Yamada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Sample holder with light emitting and transferring elements for a charged particle beam apparatus

Номер патента: US09812288B2. Автор: Hideo Morishita,Takashi Ohshima,Kunio Harada,Minami Shouji,Yuusuke Oominami. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Blanking device for multi-beam of charged particle writing apparatus using multi-beam of charged particle and defective beam blocking method for multi-beam of charged particle

Номер патента: US09805905B2. Автор: Hiroshi Yamashita,Hiroshi Matsumoto,Kazuhiro Chiba,Ryoichi Yoshikawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Charged particle image measuring device and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US09754772B2. Автор: Hiroyuki Hashimoto,Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09741535B2. Автор: Makoto Sato,Tatsuya Asahata,Shota Torikawa,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Charged-particle microscope with astigmatism compensation and energy-selection

Номер патента: US09741525B1. Автор: Alexander Henstra,Lubomír Tuma,Bohuslav Sed'a. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Multi-beam current quantity measuring method, multi-charged particle drawing control device, and multi-charged particle beam drawing device

Номер патента: US09734984B2. Автор: Hideyuki Iwata. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US09734981B2. Автор: Hitoshi Higurashi,Saori GOMI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: US09715992B2. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Aernout Christiaan Zonnevylle,Nalan Liv. Владелец: Delmic BV. Дата публикации: 2017-07-25.

Charged particle beam device

Номер патента: US09697987B2. Автор: Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Kumiko Shimizu,Shahedul Hoque,Chahn Lee. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US09673018B2. Автор: Haruyuki NOMURA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Adjustment method for charged particle beam drawing apparatus and charged particle beam drawing method

Номер патента: US09659746B2. Автор: Takashi Nakamura,Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Charged particle beam apparatus and inspection method using the same

Номер патента: US09659744B2. Автор: Yoshinobu Kimura,Naomasa Suzuki,Hideyuki Kazumi,Natsuki Tsuno,Shoji Hotta. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Charged particle beam apparatus, image forming method using a charged particle beam apparatus, and image processing apparatus

Номер патента: US09633818B2. Автор: Wen Li,Makoto Suzuki,Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Kazuki Ikeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Diaphragm mounting member and charged particle beam device

Номер патента: US09633817B2. Автор: Hiroyuki Suzuki,Yusuke Ominami,Shinsuke Kawanishi,Masahiko Ajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Electrostatic multipole device, electrostatic multipole arrangement, charged particle beam device, and method of operating an electrostatic multipole device

Номер патента: US09620328B1. Автор: Benjamin John Cook. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-04-11.

Charged particle beam system and method of operating a charged particle beam system

Номер патента: US09530611B2. Автор: Alexander Groholski,Raymond Hill,John A. Notte, IV,Mark D. DiManna,Robert Conners. Владелец: Carl Zeiss Microscopy LLC. Дата публикации: 2016-12-27.

Method and device for generating a focused strong-current charged-particle beam

Номер патента: US09514908B2. Автор: Julien Fuchs,Bruno Albertazzi,Henri Pepin,Emmanuel D'HUMIERES. Владелец: Institut National de La Recherche Scientifique INRS. Дата публикации: 2016-12-06.

Charged particle beam writing apparatus, and charged particle beam writing method

Номер патента: US09484185B2. Автор: Yasuo Kato,Noriaki Nakayamada,Mizuna Suganuma. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Charged particle beam apparatus and trajectory correction method in charged particle beam apparatus

Номер патента: US09484181B2. Автор: Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US09478391B2. Автор: Hironobu Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Isolation of charged particle optics from vacuum chamber deformations

Номер патента: US09449805B2. Автор: Gershon Perelman. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2016-09-20.

Charged particle beam writing apparatus, aperture unit, and charged particle beam writing method

Номер патента: US09449792B2. Автор: Tetsuro Nishiyama. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Method for fracturing and forming a pattern using shaped beam charged particle beam lithography

Номер патента: US09448473B2. Автор: Michael Tucker,Akira Fujimura. Владелец: D2S Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Method of operating a charged particle microscope and charged particle microscope operating according to such method

Номер патента: US09437394B1. Автор: Emanuel Heindl,Simon Diemer,Janina Schulz,David Roddom. Владелец: Carl Zeiss Microscopy Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Extraction system for secondary charged particles, intended for use in a mass spectrometer or other device for charged particles

Номер патента: RU2740141C2. Автор: Дэвид ДАУСЕТТ. Владелец: Люксембург Инститьют Оф Сайенс Энд Текнолоджи (Лист). Дата публикации: 2021-01-11.

Apparatus and process for making a superconducting magnet for particle accelerators

Номер патента: US5072516A. Автор: Andrew J. Jarabak,Wallace H. Sunderman,Edward G. Mendola. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1991-12-17.

Charged-particle analyzer

Номер патента: US4135088A. Автор: Isao Ishikawa,Katsuhisa Usami,Michiyasu Itoh. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1979-01-16.

Charged particle imaging system and use thereof

Номер патента: WO2022221948A1. Автор: Rodney HERRING. Владелец: HERRING Rodney. Дата публикации: 2022-10-27.

Method and system for the removal and/or avoidance of contamination in charged particle beam systems

Номер патента: US20240017301A1. Автор: Marc Smits,Johan Joost Koning,Chris Franciscus Jessica Lodewijk,Hindrik Willem Mook,Ludovic Lattard. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2024-01-18.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: EP4352773A1. Автор: Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Tom Van Zutphen,Jurgen VAN SOEST,Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-17.

Backscattered electron detector, apparatus of charged-particle beam such as electron microscope comprising the same, and method thereof

Номер патента: US11854763B1. Автор: Wei Fang,Xiaoming Chen,Zhongwei Chen,Daniel Tang,Liang-Fu Fan. Владелец: Borries Pte Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Composite charged particle beam apparatus and control method thereof

Номер патента: US20200266029A1. Автор: Hiroshi Oba,Yasuhiko Sugiyama,Naoko Hirose. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-08-20.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: WO2021233583A1. Автор: Dieter Winkler,Bernd Wöllert,Birgit Schabinger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH. Дата публикации: 2021-11-25.

Processing task deployment in adapter devices and accelerators

Номер патента: US20210216484A1. Автор: Michael Lee Witkowski,Harish Bantwal Kamath. Владелец: HEWLETT PACKARD ENTERPRISE DEVELOPMENT LP. Дата публикации: 2021-07-15.

Charged particle beam device

Номер патента: US20090218507A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Akiko Fujisawa,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-09-03.

Charged-particle beam device for diffraction analysis

Номер патента: EP4385056A1. Автор: Harald Niebel,Günther STEINFELD,Tomi Tuohimaa,Christiaan Van Den Berg,Alexander Van Veen. Владелец: Eldico Scientific AG. Дата публикации: 2024-06-19.

Particle accelerator to generate random numbers for cryptographic applications

Номер патента: US12015704B2. Автор: Jonathan P Ingraham,Brian R. Collette. Владелец: BAE Systems Information and Electronic Systems Integration Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

Apparatus and method for shielding a wafer from charged particles during plasma etching

Номер патента: EP1568061A2. Автор: Bomy Chen,Hongwen Yan,Siddhartha Panda,Richard Wise,Brian Ji. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2005-08-31.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: US20190096630A1. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2019-03-28.

Charged Particle Beam Device, Charged Particle Beam System, and Adjustment Method

Номер патента: US20230386781A1. Автор: Ayumi Doi,Shuichiro Takahashi,Aoi YAMAUCHI,Zhao JINYU. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-30.

Method and system for plasma assisted low vacuum charged particle microscopy

Номер патента: EP3882950A1. Автор: James Bishop,Milos Toth,Daniel Totonjian,Chris Elbadawi,Charlene Lobo. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-09-22.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4250330A1. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi,Nobuyuki Ikeo,Kazushiro Yokouchi,Konomi Ikita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20230307206A1. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi,Nobuyuki Ikeo,Kazushiro Yokouchi,Konomi Ikita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Method of operation of a charged particle beam device

Номер патента: WO2022028633A1. Автор: FILIP Vojtech. Владелец: Tescan Brno. Дата публикации: 2022-02-10.

Electronic device and methode for implementing logic functions and for guiding charged particles

Номер патента: US20130335118A1. Автор: Ron Naaman,Erez Halahmi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-12-19.

Electronic device and method for implementing logic functions and for guiding charged particles

Номер патента: WO2012101581A1. Автор: Ron Naaman,Erez Halahmi. Владелец: Novatrans Group SA. Дата публикации: 2012-08-02.

Transresistance amplifier for a charged particle detector

Номер патента: WO2003103138A1. Автор: Andrew Philip Armit. Владелец: Leo Electron Microscopy Limited. Дата публикации: 2003-12-11.

Multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US20240242919A1. Автор: HIROFUMI Morita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Multi-beam charged particle microscope with a detection unit for fast compensation of charging effects

Номер патента: WO2024165235A1. Автор: Andreas Haas,Thomas Schmid,Markus Koch,Dirk Zeidler,Thomas Dieterle,Stefan Schubert,Bjoern Miksch,Felix MENKE,Heiko BANZHAF. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-08-15.

Method of examining a sample using a charged particle microscope

Номер патента: US20200355633A1. Автор: Tomas Tuma,Jan Klusacek,Jiri Petrek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-11-12.

Auto-tuning stage settling time with feedback in charged particle microscopy

Номер патента: US20230238207A1. Автор: Erik Franken,Yuchen Deng,Holger Kohr,Bart van Knippenberg. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-07-27.

Method for detecting substrate position of charged particle beam photolithography apparatus and charged particle beam photolithography apparatus

Номер патента: US20100290023A1. Автор: Yoshiro Yamanaka,Michihiro Kawaguchi,Kazuhiro Shiba,Kota Fujiwara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2010-11-18.

Multi charged particle beam exposure method and multi charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US10134565B2. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-11-20.

Dual speed acquisition for drift corrected, fast, low dose, adaptive compositional charged particle imaging

Номер патента: US20230035267A1. Автор: Pavel Potocek,Remco Schoenmakers,Bert Henning Freitag,Maurice PEEMEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-02-02.

Device and Method for Calibrating a Charged-Particle Beam

Номер патента: US20240304407A1. Автор: Elmar Platzgummer. Владелец: IMS Nanofabrication GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Multi-charged particle beam writing apparatus, and multi-charged particle beam writing method

Номер патента: US12087543B2. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Multiple charged particle beam system with a mirror mode of operation, method for operating a multi-beam charged particle microscope system with a mirror mode of operation and associated computer program product

Номер патента: US20240371596A1. Автор: Ingo Mueller,Yanko Sarov,Stefan Schubert,Claudia Lumpp. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-11-07.

Non-destructive detection method of charged particles without mass limitation

Номер патента: US09989464B2. Автор: Caroline Antoinette Madeleine Champenois,Laurent Hilico,Christophe Michel Rene Jouvet,Jofre Pedregosa Gutierrez,Martina Knoop,Claude Dedonder-Lardeux. Владелец: Aix Marseille Universite. Дата публикации: 2018-06-05.

Charged particle beam device, simulation method, and simulation device

Номер патента: US09966225B2. Автор: Makoto Sakakibara,Junichi Tanaka,Daisuke Bizen,Hiroya Ohta. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-05-08.

Charged particle beam drawing apparatus and charged particle beam drawing method

Номер патента: US09812284B2. Автор: Hideki Matsui. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Cable installment type charging control device and method of operating the same

Номер патента: US09751412B2. Автор: Chang Jun Im. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Sample holder and charged particle device

Номер патента: US09721752B2. Автор: Takeshi Sato,Hiroaki Matsumoto,Yasuhira Nagakubo,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Multi charged particle beam writing method, and multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US09691585B2. Автор: Hiroshi Matsumoto,Ryoichi Yoshikawa,Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Aberration correction apparatus, device having the same, and method for correcting aberration of charged particles

Номер патента: US09601304B2. Автор: Anjam Khursheed. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2017-03-21.

Multi charged particle beam writing method and multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US09570267B2. Автор: Hiroshi Matsumoto,Hideo Inoue,Tomohiro Iijima,Ryoichi Yoshikawa,Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Method of performing spectroscopy in a transmission charged-particle microscope

Номер патента: US09524851B2. Автор: Peter Christiaan Tiemeijer,Sorin Lazar,Erwin Fernand de Jong,Rudolf Geurink. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-12-20.

Charged particle beam irradiation apparatus

Номер патента: US09343265B2. Автор: Hisayuki Takasu,Asako Kaneko,Hirobumi Mutou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-17.

Charged particle detection system and multi-beamlet inspection system

Номер патента: US09336981B2. Автор: Rainer Knippelmeyer. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-05-10.

Charged particle apparatus, scanning electron microscope, and sample inspection method

Номер патента: US20120004879A1. Автор: Muneyuki Fukuda,Noritsugu Takahashi,Tomoyasu Shojo,Atsuko Fukada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-01-05.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: EP4156227A1. Автор: Mans Johan Bertil OSTERBERG,Koen SCHUURBIERS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-03-29.

Charged-particle-beam device and method for correcting aberration

Номер патента: US9484182B2. Автор: Takaho Yoshida,Hisanao Akima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Charged particle beam device and sample observation method

Номер патента: GB2519038A. Автор: Yusuke Ominami,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2015-04-08.

Charged particle beam exposure method and apparatus

Номер патента: US5099133A. Автор: Akio Yamada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1992-03-24.

Charged particle energy analyzers

Номер патента: US5185524A. Автор: Simon C. Page. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 1993-02-09.

Charged particle beam apparatus having particular electrostatic objective lens and vacuum pump systems

Номер патента: US5254856A. Автор: Kazue Takahashi,Tadashi Otaka,Kenji Odaka,Toshiaki Kobari,Mikio Ichihashi,Hironobu Matsui,Shinjiroo Ueda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1993-10-19.

Charged particle beam apparatus, composite charged particle beam apparatus, and control method for charged particle beam apparatus

Номер патента: US20210118645A1. Автор: Koji Nagahara,Yasuhiko Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-04-22.

Signal charged particle deflection device, signal charged particle detection system, charged particle beam device and method of detection of a signal charged particle beam

Номер патента: US9805908B2. Автор: Stefan Lanio,Matthias FIRNKES. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2017-10-31.

Detection apparatus for detecting charged particles, methods for detecting charged particles and mass spectrometer

Номер патента: CA2777809A1. Автор: Alexander Makarov,Anastassios Giannakopulos. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2011-04-28.

Method for inspecting a specimen and charged particle beam device

Номер патента: WO2021078352A1. Автор: Dieter Winkler,Jürgen Frosien,Pieter Kruit,Ralf Schmid,Benjamin John Cook,Ron Naftali,Roman BARDAY. Владелец: Applied Materials Israel Ltd.. Дата публикации: 2021-04-29.

Method of controlling a multi-pole device to reduce omission of exiting charged particles from downstream analysis

Номер патента: WO2024054960A1. Автор: Kevin Giles,Martin F. JARROLD,Peyton SAYASITH,David Bruton. Владелец: The Trustees of Indiana University. Дата публикации: 2024-03-14.

Charged particle beam device and image generation method

Номер патента: EP4148766A1. Автор: Kazuki Yagi,Ruth Shewmon Bloom,Hiroki HASHIGUCHI,Bryan W Reed. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-15.

Multi-beam charged particle microscope design with mirror for field curvature correction

Номер патента: NL2035277A. Автор: Singer Wolfgang,Schmid Thomas,Zeidler Dirk. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-01-23.

Magnetic multipole device, charged particle beam apparatus, and method of influencing a charged particle beam propagating along an optical axis

Номер патента: US20240087837A1. Автор: Benjamin Cook. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2024-03-14.

Charged particle-optical apparatus

Номер патента: WO2024013042A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-01-18.

Method of imaging a specimen using a transmission charged particle microscope

Номер патента: US11810751B2. Автор: Peter Tiemeijer,Abhay Kotecha,Jamie McCormack,Rudolf Geurink,Evgeniia PECHNIKOVA. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-11-07.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20230377837A1. Автор: Yuko Sasaki,Yasuhiro Shirasaki,Yohei Nakamura,Minami Shouji,Natsuki Tsuno,Shota MITSUGI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Charged particle-optical apparatus

Номер патента: EP4354485A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-17.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20190035600A1. Автор: Satoru Yamaguchi,Kumiko Shimizu,Kei Sakai,Hideki ITAI,Yasunori Takasugi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-01-31.

Charged particle beam system, opto-electro simultaneous detection system and method

Номер патента: EP3332417A1. Автор: Wei He,Shuai Li,PENG Wang. Владелец: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-13.

Charged particle beam system, opto-electro simultaneous detection system and method

Номер патента: WO2018068506A1. Автор: Wei He,Shuai Li,PENG Wang. Владелец: FOCUS-EBEAM TECHNOLOGY (BEIJING) CO., LTD.. Дата публикации: 2018-04-19.

Charged Particle Beam Device and Charged Particle Beam Measurement Method

Номер патента: US20160225583A1. Автор: Yoshinobu Kimura,Hajime Kawano,Hideyuki Kazumi,Natsuki Tsuno,Junichiro Tomizawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-08-04.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US7928414B2. Автор: Takayuki Abe. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2011-04-19.

Charged particle tool, calibration method, inspection method

Номер патента: US20230324318A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Erwin Paul SMAKMAN,Yan Ren,Erwin Slot,Gerardus MANGNUS Albertus Victor. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-12.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210175047A1. Автор: Ichiro Fujimura,Hiroki Kannami,Hironori Itabashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-06-10.

Charged particle optical apparatus for through-the-lens detection of particles

Номер патента: US20210050178A1. Автор: Michael Albiez,Stefan Meyer,Erik Essers,Stewart Bean,Daniel Kirsten. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2021-02-18.

Charged particle optical apparatus for through-the-lens detection of particles

Номер патента: US20200135425A1. Автор: Michael Albiez,Stefan Meyer,Erik Essers,Stewart Bean,Daniel Kirsten. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2020-04-30.

Charged particle beam writing apparatus, method of adjusting beam incident angle to target object surface, and charged particle beam writing method

Номер патента: US20180076002A1. Автор: Takahito Nakayama,Takanao TOUYA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-15.

Charged particle beam writing apparatus, method of adjusting beam incident angle to target object surface, and charged particle beam writing method

Номер патента: US20160071682A1. Автор: Takahito Nakayama,Takanao TOUYA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-03-10.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US11798776B2. Автор: Tsunenori Nomaguchi,Shunichi Motomura. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Apparatus and method for calculating drawing speeds of a charged particle beam

Номер патента: US9589766B2. Автор: Hideyuki Tsurumaki. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Multi-beam charged particle microscope design with mirror for field curvature correction

Номер патента: WO2024008329A1. Автор: Wolfgang Singer,Thomas Schmid,Dirk Zeidler. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-01-11.

Charged Particle Source and Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20230238205A1. Автор: Kazuhiro Honda,Masahiro Fukuta. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: WO2022203566A1. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2022-09-29.

Charged particle detector, charged particle beam device, and mass spectrometer

Номер патента: US20190027351A1. Автор: Makoto Suzuki,Shin Imamura,Hajime Kawano,Takashi Ohshima,Tomonobu Tsuchiya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-01-24.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: WO2021144468A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic Ip B.V.. Дата публикации: 2021-07-22.

Charged particle beam device

Номер патента: US20190108970A1. Автор: Hironori Ogawa,Motohiro Takahashi,Shuichi Nakagawa,Takanori Kato. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-04-11.

Charged particle beam apparatus and image generation method

Номер патента: US20160064182A1. Автор: Wen Li,Makoto Suzuki,Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Ryo Kadoi,Kazuki Ikeda,Hisaaki Kanai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-03-03.

Charged particle beam device for inspection of a specimen with a plurality of charged particle beamlets

Номер патента: US20240006149A1. Автор: Pieter Kruit,Erik Rene Kieft,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-01-04.

Charged particle beam device

Номер патента: US11823861B2. Автор: Junichi Katane,Yuta Imai. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-21.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: EP4314902A1. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2024-02-07.

Method and apparatus for realizing air charged particle wave with required frequency

Номер патента: CA3128266C. Автор: Yanbing Liu,Qijia LIU,Qirui Liu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-22.

Charged particle assessment system and method of aligning a sample in a charged particle assessment system

Номер патента: US20240128045A1. Автор: Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-18.

Series-type charging and discharging apparatus and method without current interruption

Номер патента: EP4274052A1. Автор: Jeong Moog Kim. Владелец: HBL Corp. Дата публикации: 2023-11-08.

Charged Particle Source and Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210296076A1. Автор: Kazuhiro Honda,Masahiro Fukuta. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-09-23.

Charged particle apparatus

Номер патента: EP4345861A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Vincent Sylvester KUIPER. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-03.

Charged particle beam writing method, charged particle beam writing apparatus, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11804361B2. Автор: Munehiro Ogasawara,Haruyuki NOMURA,Noriaki Nakayamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-31.

Charged particle tool, calibration method, inspection method

Номер патента: EP4256601A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Yan Ren,Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-11.

Charged particle beam lens apparatus, charged particle beam column, and charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US20170213689A1. Автор: Shinichi Kojima,Tomohiko Abe. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2017-07-27.

Multi-beam charged particle source with alighment means

Номер патента: US20240096585A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Charged particle beam device and image processing method in charged particle beam device

Номер патента: US20200066484A1. Автор: Yoshinobu Hoshino,Masashi Watanabe,Yuichi Sakurai,Shigeru Kawamata,Katsunori Hirano,Masato Kamio. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2020-02-27.

Charged particle beam device and image processing method in charged particle beam device

Номер патента: US10522325B2. Автор: Yoshinobu Hoshino,Masashi Watanabe,Yuichi Sakurai,Shigeru Kawamata,Katsunori Hirano,Masato Kamio. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-12-31.

Multiple charged-particle beam apparatus with low crosstalk

Номер патента: EP3977499A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Qingpo Xi. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-04-06.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: US20240145208A1. Автор: Erwin Slot,Bertil OSTERBERG Mans Johan. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-05-02.

Charged particle beam device for inspection of a specimen with a plurality of charged particle beamlets

Номер патента: US11961709B2. Автор: Pieter Kruit,Erik Rene Kieft,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-16.

Charged particle detector for microscopy

Номер патента: WO2024078821A1. Автор: Ilse VAN WEPEREN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-04-18.

Method and apparatus for inspecting a sample by means of multiple charged particle beamlets

Номер патента: WO2021141488A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Sander Vincent DEN HOEDT. Владелец: Delmic Ip B.V.. Дата публикации: 2021-07-15.

Apparatus and method for directing charged particle beam towards a sample

Номер патента: US20230326706A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-12.

Charged Particle Beam Device and Image Generation Method

Номер патента: US20230072991A1. Автор: Kazuki Yagi,Bryan W. Reed,Ruth Shewmon Bloom,Hiroki HASHIGUCHI. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Charged particle beam device and detection method using said device

Номер патента: US20170053777A1. Автор: Hajime Kawano,Yasunari Sohda,Tomoyasu Shojo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-23.

Series-type charging and discharging apparatus without current interruption

Номер патента: US20230396081A1. Автор: Jeong Moog Kim. Владелец: HBL Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Demagnification measurement method for charged particle beam exposure apparatus, stage phase measurement method for charged particle beam exposure apparatus, control method for charged particle beam exposure apparatus, and charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US20040183036A1. Автор: Shinsuke Nishimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-09-23.

Device for measuring and quantitative profiling of charged particle beams

Номер патента: AU2003274679A1. Автор: Vinod Chandra Sahni,Shripad Rajaram Halbe. Владелец: India Atomic Energy Department of. Дата публикации: 2005-02-15.

System of mobile charged particle detectors and methods of spent nuclear fuel imaging

Номер патента: US20200144023A1. Автор: Konstantin Borozdin. Владелец: Decision Sciences International Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Charged-particle apparatus

Номер патента: WO2023110316A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Yan Ren. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-06-22.

Charged particle source

Номер патента: US20130087716A1. Автор: XIONG Liu,Matthias Langer,Wolfram BÜHLER. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2013-04-11.

Charged particle beam device and analysis method

Номер патента: US11315753B2. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-04-26.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210027977A1. Автор: Ryuji Yoshida,Tsunenori Nomaguchi,Shunichi Motomura,Takeharu Kato,Tadahiro KAWASAKI. Владелец: Japan Fine Ceramics Center. Дата публикации: 2021-01-28.

Method for adjusting charged particle beam device and adjusting beam aperture based on a selected emission condition and charged particle beam device for same

Номер патента: US10176968B2. Автор: Tsutomu Saito,Mitsugu Sato,Kunji Shigeto,Tohru Ando,Yoshihiro Takahoko,Kohtaro Hosoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Systems and methods for duality modulation separation of charged particle wave packets

Номер патента: US20240029913A1. Автор: Stuart Mirell,Daniel Mirell. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-25.

Charged particle gun and charged particle beam device

Номер патента: GB2605035A. Автор: Sasaki Tomoyo. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-09-21.

Charged particle beam apparatus and control method for charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4246551A1. Автор: Takeo Sasaki,Kazuki Yagi,Kanako Noguchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Charged particle beam writing apparatus, charged particle beam writing method, and a non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US11961708B2. Автор: Haruyuki NOMURA,Noriaki Nakayamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-04-16.

Series-type charging and discharging apparatus without current interruption

Номер патента: US11996712B2. Автор: Jeong Moog Kim. Владелец: HBL Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Multi charged particle beam writing apparatus and multi charged particle beam writing method

Номер патента: US20170229280A1. Автор: Yasuo Kato,Hiroshi Matsumoto,Hideo Inoue,Ryoh Kawana. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-10.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20210020422A1. Автор: Tsutomu Saito,Mitsuhiro Nakamura,Yohei Nakamura,Natsuki Tsuno,Masahiro Sasajima,Hironori Itabashi,Hirofumi Satou. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

Charged particle optical device, assessment apparatus, method of assessing a sample

Номер патента: WO2024110489A1. Автор: Willem Henk URBANUS,Marco Jan-Jaco Wieland,Johan Joost Koning,Laura DEL TIN,Johannes Cornelis Jacobus DE LANGEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-05-30.

Charged particle optical device, assessment apparatus, method of assessing a sample

Номер патента: EP4376048A1. Автор: Willem Henk URBANUS,Marco Jan-Jaco Wieland,Johan Joost Koning,Laura DEL TIN,Johannes Cornelis Jacobus DE LANGEN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-05-29.

Charged Particle Beam Apparatus and Image Acquiring Method

Номер патента: US20220392738A1. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Charged particle beam device

Номер патента: US20230274907A1. Автор: Hideo Morishita,Junichi Katane,Tatsuro Ide,Teruo Kohashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Systems and methods of energy discrimination of backscattered charged-particles

Номер патента: WO2024115029A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-06.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20150083910A1. Автор: Toshihide Agemura,Tsunenori Nomaguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-03-26.

Charged particle microscope apparatus and image acquisition method of charged particle microscope apparatus

Номер патента: US20140319341A1. Автор: Maki Tanaka. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-10-30.

Charged particle beam device and method for inspecting and/or imaging a sample

Номер патента: EP4154290A1. Автор: Dieter Winkler,Bernd Wöllert,Birgit Schabinger. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-03-29.

Charged particle beam device and control method of optical system of charged particle beam device

Номер патента: EP3731256A1. Автор: Yuko Shimizu,Kazuya Yamazaki,Hirofumi Iijima,Tomohiro NAKAMICHI,Naoki Hosogi,Takuma FUKUMURA. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-10-28.

Charged particle source and charged particle beam device

Номер патента: US11990311B2. Автор: Kazuhiro Honda,Masahiro Fukuta. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-21.

Device for measuring and quantitative profiling of charged particle beams

Номер патента: WO2005013313A1. Автор: Vinod Chandra Sahni,Shripad Rajaram Halbe. Владелец: Secretary, Department of Atomic Energy. Дата публикации: 2005-02-10.

Adjusting method of charged particle beam device and charged particle beam device system

Номер патента: US12001521B2. Автор: Muneyuki Fukuda,Natsuki Tsuno,Heita KIMIZUKA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Charged particle beam apparatus, scanning electron microscope, and method of operating a charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4295385A1. Автор: Pavel Adamec. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2023-12-27.

System and method for resolution improvement of charged particles microscopy

Номер патента: US20240186102A1. Автор: Raphael Dahan,Ido KAMINER,Tal Fishman,Michael YANNAI. Владелец: Technion Research and Development Foundation Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Charged Particle Beam Apparatus and Control Method for Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20230290607A1. Автор: Takeo Sasaki,Kazuki Yagi,Kanako Noguchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Charged Particle Beam System

Номер патента: US20240186108A1. Автор: Hirokazu Tamaki,Hiromi MISE. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: EP4090955A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-11-23.

Method for recording and correlating light and charged particle microscopy images

Номер патента: EP4100985A1. Автор: Jacob Pieter Hoogenboom,Sander DEN HOEDT,Ryan Irwin LANE,Aditi SRINIVASA RAJA. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-12-14.

On-axis illumination and alignment for charge control during charged particle beam inspection

Номер патента: US20180364564A1. Автор: Stefan Lanio,Alex Goldenshtein. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2018-12-20.

Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20190355552A1. Автор: Makoto Suzuki,Shunsuke Mizutani,Shahedul Hoque,Uki Ikeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-21.

Charged particle beam device

Номер патента: US20210217580A1. Автор: Tsunenori Nomaguchi,Yuta Imai,Kazuo Ootsuga. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-07-15.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US20210305008A1. Автор: Taku Yamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2021-09-30.

Charged particle beam targets

Номер патента: US20150318138A1. Автор: Ivan KONOPLEV. Владелец: Oxford University Innovation Ltd. Дата публикации: 2015-11-05.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US9455119B2. Автор: Makoto Sato,Masahiro Kiyohara,Tatsuya Asahata,Ikuko Nakatani. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-09-27.

Charged particle beam system

Номер патента: US20230093287A1. Автор: Hirokazu Tamaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Charged particle blocking element, exposure apparatus comprising such an element, and method for using such an exposure apparatus

Номер патента: US20200194214A1. Автор: Alexander Hendrik Vincent van Veen,Derk Ferdinand WALVOORT. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-06-18.

Charged particle blocking element, exposure apparatus comprising such an element, and method for using such an exposure apparatus

Номер патента: EP3665716A1. Автор: Alexander Hendrik Vincent van Veen,Derk Ferdinand WALVOORT. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-06-17.

Charged particle blocking element, exposure apparatus comprising such an element, and method for using such an exposure apparatus

Номер патента: NL2021299A. Автор: Hendrik Vincent Van Veen Alexander,Ferdinand Walvoort Derk. Владелец: Mapper Lithography Ip Bv. Дата публикации: 2019-02-18.

Charged particle blocking element, exposure apparatus comprising such an element, and method for using such an exposure apparatus

Номер патента: US20230335366A1. Автор: Alexander Hendrik Vincent van Veen,Derk Ferdinand WALVOORT. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-19.

Charged particle blocking element, exposure apparatus comprising such an element, and method for using such an exposure apparatus

Номер патента: NL2021299B1. Автор: Hendrik Vincent Van Veen Alexander,Ferdinand Walvoort Derk. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2019-05-29.

Charged particle beam lens apparatus, charged particle beam column, and charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US10049854B2. Автор: Shinichi Kojima,Tomohiko Abe. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-08-14.

Multi-beam charged particle source with alignment means

Номер патента: EP4049300A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Charged Particle Beam Device and Method for Adjusting Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20160118218A1. Автор: Tsutomu Saito,Mitsugu Sato,Kunji Shigeto,Tohru Ando,Yoshihiro Takahoko,Kohtaro Hosoya. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-04-28.

Method and apparatus for inspecting a sample by means of multiple charged particle beamlets

Номер патента: EP4088105A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Sander Vincent DEN HOEDT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-11-16.

Beam blanker and method for blanking a charged particle beam

Номер патента: US20180151327A1. Автор: Christof Baur,Michael Budach. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2018-05-31.

Divergent Charged Particle Implantation for Improved Transistor Symmetry

Номер патента: US20080142724A1. Автор: James D. Bernstein,Lance S. Robertson,Jiejie Xu,Said Ghneim,Jeffrey Loewecke. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2008-06-19.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20220230845A1. Автор: Kohei Suzuki,Yuji Kasai,Shunsuke Mizutani. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Charged particle beam inspection apparatus and method

Номер патента: WO2024132808A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI,Xuechen ZHU,Datong ZHANG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Charged Particle Gun and Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20240212966A1. Автор: Masahiro Fukuta,Tomoya IGARI,Takshi DOI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Charged particle apparatus, method of projecting charged particles, method of assessing a sample

Номер патента: WO2024133468A1. Автор: Erwin Slot,André Luís Rodrigues Mansano,Richard Michel VAN LEEUWEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Charged particle apparatus, method of projecting charged particles, method of assessing a sample

Номер патента: EP4391006A1. Автор: Erwin Slot,André Luís Rodrigues Mansano,Richard Michel VAN LEEUWEN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-26.

Apparatus and method for irradiating a surface of a sample using charged particle beams

Номер патента: NL2016853B1. Автор: KRUIT Pieter,Wouter Hagen Cornelis,Scotuzzi Marijke. Владелец: Univ Delft Tech. Дата публикации: 2017-12-11.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20150270096A1. Автор: Makoto Sato,Masahiro Kiyohara,Tatsuya Asahata,Ikuko Nakatani. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-09-24.

Composite Charged Particle Beam Detector, Charged Particle Beam Device, and Charged Particle Beam Detector

Номер патента: US20170358421A1. Автор: Toshihide Agemura,Tsunenori Nomaguchi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-14.

Device for measuring and quantitative profiling of charged particle beams

Номер патента: EP1649487A1. Автор: Vinod Chandra Sahni,Shripad Rajaram Halbe. Владелец: India Atomic Energy Department of. Дата публикации: 2006-04-26.

Sample delivery, data acquisition, and analysis, and automation thereof, in charged-particle-beam microscopy

Номер патента: WO2022266269A9. Автор: Christopher Su-Yan OWN. Владелец: Own Christopher Su Yan. Дата публикации: 2023-02-23.

Charged particle beam device and analysis method

Номер патента: EP3792951A1. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-03-17.

Charged particle beam device and analysis method

Номер патента: US11710615B2. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-07-25.

Multiple charged-particle beam apparatus with low crosstalk

Номер патента: US12033830B2. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Qingpo Xi. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-09.

Charged particle processing for forming pattern boundaries at a uniform thickness

Номер патента: US20020177055A1. Автор: Ryoji Hagiwara,Tomokazu Kozakai. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-11-28.

Service acceleration method, system, apparatus, and server in nfv system

Номер патента: EP3913897A1. Автор: Yong Liu,Donglei LUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-24.

Method for alignment of a light beam to a charged particle beam

Номер патента: US20190013178A1. Автор: Steven Randolph,Jorge Filevich,Aurelien Philippe Jean Maclou Botman,Milos Toth,Dolf Timmerman,Cameron James Zachreson. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2019-01-10.

Stencil mask, charged particle irradiation apparatus and the method

Номер патента: EP1505438A3. Автор: Osada Tomoyuki,Takeshi Shibata,Tsutomu Nishihashi. Владелец: Ulvac Inc. Дата публикации: 2006-01-11.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US9812289B2. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US9514915B2. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-06.

3d mapping of samples in charged particle microscopy

Номер патента: EP4012745A1. Автор: Jaroslav Kamenec. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-06-15.

Charged-particle beam lithographic system

Номер патента: US9362085B2. Автор: Noriyuki Kobayashi,Yoshiaki Takizawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2016-06-07.

Methods and devices for determining times for maintenance activity performed on a charged-particle-beam microlithography apparatus, and microelectronic-device-manufacturing methods comprising same

Номер патента: US6545274B1. Автор: Kenji Morita. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2003-04-08.

Charged-particle microscope providing depth-resolved imagery

Номер патента: EP2648208A3. Автор: Pavel Potocek,Faysal Boughorbel,Xiaodong Zhuge,Eric Bosch,Ben Lich. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-03-23.

Scan strategies to minimize charging effects and radiation damage of charged particle beam metrology system

Номер патента: EP3762779A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2021-01-13.

Scan strategies to minimize charging effects and radiation damage of charged particle beam metrology system

Номер патента: WO2019173252A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-12.

Precision substrate material removal using miniature-column charged particle beam arrays

Номер патента: US9673114B1. Автор: Michael C. Smayling,Kevin M. Monahan,Theodore A. Prescop,David K. Lam. Владелец: Multibeam Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Charged particle microscope device and method for adjusting field-of-view thereof

Номер патента: US20220351935A1. Автор: Yoshinobu Hoshino,Atsushi Miyamoto,Mitsutoshi Kobayashi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-11-03.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US8000939B2. Автор: Atsushi Kobaru. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-08-16.

Charged particle beam device and capturing condition adjusting method in charged particle beam device

Номер патента: US10770266B2. Автор: Tomohito Nakano,Minoru Yamazaki,Yuko Sasaki,Toshiyuki Yokosuka,Yuzuru Mochizuki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-09-08.

Charged-particle beam system

Номер патента: US7329881B2. Автор: Osamu Wakimoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-02-12.

Multiple charged particle beam writing apparatus, multiple charged particle beam writing method, and computer readable recording media storing program

Номер патента: US20240242931A1. Автор: Haruyuki NOMURA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Apparatus for providing a protective layer for charged-particle-beam processing

Номер патента: EP1918981B1. Автор: Jeff Blackwood,Stacey Stone. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2011-02-16.

Multi-charged particle beam writing apparatus, and multi-charged particle beam writing method

Номер патента: US20240242932A1. Автор: Yasuo Kato,Ryoh Kawana,Masao HAYAMI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Charged particle lithography system with aperture array cooling

Номер патента: EP2638560A1. Автор: Alexander Hendrik Vincent van Veen,Marco Jan-Jaco Wieland,Hendrik Jan De Jong. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2013-09-18.

Charged Particle Device

Номер патента: US20150179394A1. Автор: Tsutomu Saito,Kenji Aoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-06-25.

Multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US20240242933A1. Автор: HIROFUMI Morita,Haruyuki NOMURA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Multi-beam charged particle imaging system with reduced charging effects

Номер патента: WO2024099587A1. Автор: Stefan Schubert. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2024-05-16.

Charged particle device

Номер патента: US20140197331A1. Автор: Wataru Suzuki,Shinya Kitayama,Hirohisa Enomoto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

Tunable ampere phase plate for charged particle imaging systems

Номер патента: EP3175473A1. Автор: Amir TAVABI,Giulio POZZI,Rafal Edward DUNIN-BORKOWSKI,Vadim MIGUNOV,Aleksei SAVENKO. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 2017-06-07.

Electrostatic deflection of charged particles

Номер патента: GB9025273D0. Автор: . Владелец: Linx Printing Technologies Ltd. Дата публикации: 1991-01-02.

Multi-charged-particle-beam writing method, multi-charged-particle-beam writing apparatus, and computer-readable recording medium

Номер патента: US12046447B2. Автор: Taku Yamada,Takahito Nakayama. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Device for detecting charged particles or radiation

Номер патента: US20230266485A1. Автор: Yoshifumi Sekiguchi,Shin Imamura,Laila Ambar Sari,Takumu IWANAKA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Pattern writing apparatus using charged particle beam, and program-recorded readable recording medium

Номер патента: US20080067431A1. Автор: Tomoyuki Horiuchi,Takeshi Kurohori. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2008-03-20.

Writing data generating method, multi charged particle beam writing apparatus, pattern inspecting apparatus, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11774860B2. Автор: Kenichi Yasui,Noriaki Nakayamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-03.

Writing data generating method, multi charged particle beam writing apparatus, pattern inspecting apparatus, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20200278612A1. Автор: Kenichi Yasui,Noriaki Nakayamada. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-09-03.

Data processing device and method, charged particle assessment system and method

Номер патента: EP4123579A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,Vincent Sylvester KUIPER,Marija TRAJANOSKA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-25.

Data processing device and method, charged particle assessment system and method

Номер патента: WO2023001655A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,Vincent Sylvester KUIPER,Marija TRAJANOSKA. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-01-26.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US7652249B2. Автор: Satoru Yamaguchi,Yasuhiko Ozawa,Atsushi Takane,Mitsuji Ikeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-01-26.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US20160365223A1. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-15.

Charged particle microscope scan masking for three-dimensional reconstruction

Номер патента: US11741730B2. Автор: Pavel Potocek,Bert Henning Freitag,Maurice PEEMEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-08-29.

Charged-particle microscope providing depth-resolved imagery

Номер патента: US20140312226A1. Автор: Eric Gerardus Theodoor Bosch,Pavel Potocek,Faysal Boughorbel,Xiaodong Zhuge,Berend Helmerus Lich. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-10-23.

Charged Particle Beam Apparatus and Image Adjustment Method

Номер патента: US20230100291A1. Автор: Tomohiro Mihira. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Multi charged particle beam writing apparatus, and multi charged particle beam writing method

Номер патента: US20150303029A1. Автор: Hironobu Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2015-10-22.

Multi charged particle beam writing apparatus, and multi charged particle beam writing method

Номер патента: US9190246B2. Автор: Hironobu Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2015-11-17.

Protective Layer For Charged Particle Beam Processing

Номер патента: US20120107521A1. Автор: Jeff Blackwood,Stacey Stone. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2012-05-03.

Stage device and charged particle beam device

Номер патента: US20190228947A1. Автор: Hironori Ogawa,Motohiro Takahashi,Shuichi Nakagawa,Takanori Kato,Masaki Mizuochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US7449692B2. Автор: Takashi Onishi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-11-11.

Electrostatic lens for controlling beam of charged particles

Номер патента: SE1900143A1. Автор: Mikael OLOFSSON. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2021-03-01.

Charged Particle Beam Device and Capturing Condition Adjusting Method in Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20200035449A1. Автор: Tomohito Nakano,Minoru Yamazaki,Yuko Sasaki,Toshiyuki Yokosuka,Yuzuru Mochizuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Charged-particle beam system

Номер патента: US20050211681A1. Автор: Osamu Wakimoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2005-09-29.

Method of investigating the wavefront of a charged-particle beam

Номер патента: US20150170876A1. Автор: Uwe Luecken,Ivan Lazic,Bart Jozef Janssen,Ross Savage,Gijs van Duinen,Stephanus H.L. van den Boom. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2015-06-18.

Charged-particle microscopy with enhanced electron detection

Номер патента: US20150155131A1. Автор: Albertus Aemillius Seyno Sluijterman,Eric Gerardus Theodoor Bosch. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2015-06-04.

Stage devices including linear motors that produce reduced beam-perturbing stray magnetic fields, and charged-particle-beam microlithography systems comprising same

Номер патента: US20030111614A1. Автор: Keiichi Tanaka. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2003-06-19.

Combined aperture holder, beam blanker and vacuum feed through for electron beam, ion beam charged particle devices

Номер патента: US20070069149A1. Автор: Earl Weltmer. Владелец: SCANSERVICE Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

Charged-particle microscopy imaging method

Номер патента: EP2557586A3. Автор: Cees Kooijman,Faysal Boughorbel,Eric Bosch,Frank De Jong,Ben Lich. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2013-04-10.

Cryogenic cell for mounting a specimen in a charged particle microscope

Номер патента: US20190131105A1. Автор: Gerbert Jeroen van de Water,Gijs van Duinen,Stephanus H.L. van den Boom,Roland W.P JONKERS,Fotios SAKELLARIOU. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2019-05-02.

Charged particle beam writing apparatus, and apparatus and method for correcting dimension error of pattern

Номер патента: US20090200488A1. Автор: Takayuki Abe,Jun Yashima. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2009-08-13.

Charged particle beam apparatus and aberration corrector

Номер патента: US20170162362A1. Автор: Takaho Yoshida. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-06-08.

An illumination control device for a charged particle analyser

Номер патента: WO2022177487A1. Автор: Mikael OLOFSSON. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2022-08-25.

Charged particle beam system

Номер патента: EP3901983A1. Автор: Naoki Fujimoto,Izuru Chiyo,Tomoyuki Naganuma. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2021-10-27.

System and method for handling samples for study in a charged particle apparatus, such as a transmission electron microscope

Номер патента: US20230298849A1. Автор: Ondrej Shanel,Jiri Benda,Jaroslav Hadzima,Martin Cechmánek,Vojtech Dole{hacek over (z)}al,Tomá{hacek over (s)} Trnkócy. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-09-21.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20100102224A1. Автор: Satoru Yamaguchi,Yasuhiko Ozawa,Atsushi Takane,Mitsuji Ikeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2010-04-29.

Charged particle beam writing apparatus, and charged particle beam writing method

Номер патента: US20150060690A1. Автор: Jun Yashima. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2015-03-05.

Magnetic circuit for creating a magnetic field in a main annular ionisation and acceleration channel of a hall-effect plasma thruster

Номер патента: US12055132B2. Автор: Youness RTIMI,Frédéric MESSINE. Владелец: Institut National Polytechnique de Toulouse INPT. Дата публикации: 2024-08-06.

Vehicle and acceleration limit control method thereof

Номер патента: US20230415740A1. Автор: Jae Young Park,Sung Il Jung,Jeong Eun Kim,Hui Un Son,Sung Bae Jeon,Gyu Ri LEE,Seong Wook Moon,Do Hwa KIM. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Apparatus for robot navigation control using emg and acceleration sensor and method thereof

Номер патента: KR101159475B1. Автор: 이기원,강희수,유경진,신현출. Владелец: 숭실대학교산학협력단. Дата публикации: 2012-06-25.

NEURAL NETWORK ACCELERATOR AND NEURAL NETWORK ACCELERATION METHOD BASED ON STRUCTURED PRUNING AND LOW-BIT QUANTIZATION

Номер патента: US20220012593A1. Автор: Huang Kejie,SHEN Haibin,Zhu Chaoyang. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-13.

Cement hardening accelerator and cement hardening accelerating method

Номер патента: JP3273934B2. Автор: 一男 歌書,裕司 山崎. Владелец: Nichiha Corp. Дата публикации: 2002-04-15.

Charged particle beam system

Номер патента: US09757590B2. Автор: Shinichi Shimizu,Kikuo Umegaki,Kazuo Hiramoto,Hiroki Shirato,Shinichiro Fujitaka,Masumi Umezawa. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2017-09-12.

Treatment device for delivering a treatment plan for flash deposition with an accelerator of charged particles by pencil beam scanning

Номер патента: US20230023312A1. Автор: Gabriel Krier,Rudi Labarbe,Yves Claereboudt,Lucian HOTOIU,Arnaud PIN. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2023-01-26.

Sample delivery module for particle acceleration apparatus

Номер патента: CA2257141C. Автор: Richard J. Heinzen,Dennis E. Mccabe. Владелец: Powderject Vaccines Inc. Дата публикации: 2006-11-28.

Active charged particle tomography

Номер патента: US09817150B2. Автор: Michael James Sossong. Владелец: Decision Sciences International Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Method for arming and accelerating the projectile and the installation of percussion action for its implementation

Номер патента: RU2762133C1. Автор: Виктор Георгиевич Зедгенизов,Дмитрий Владимирович Кокоуров,Татьяна Александровна Сенотрусова. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Иркутский национальный исследовательский технический университет" (ФГБОУ ВО "ИРНИТУ"). Дата публикации: 2021-12-16.

Adaptive cruise control system in vehicle and method thereof

Номер патента: US09771073B2. Автор: Min-Su KWON. Владелец: Mando Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Accelerator control system, accelerator control method and accelerator control program

Номер патента: US20240201986A1. Автор: Teruaki Ishizaki,Tomoya YOKONO,Yoshiro YAMABE. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Optical scanning device and control method thereof

Номер патента: EP4209823A1. Автор: Takayuki Naono. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-07-12.

Automobile accelerator and brake pedal device

Номер патента: EP1391799A4. Автор: Masuyuki Naruse. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-04-09.

Systems and methods for ultrasonic velocity and acceleration detection

Номер патента: US20150331102A1. Автор: Roderick A. Hyde,Muriel Y. Ishikawa,Nathan P. Myhrvold,Andrew Wilson,Clarence T. Tegreene,Lowell L. Wood, JR.,Victoria Y.H. Wood,Jordin T. Kare,Robert C. Petroski,Charles Whitmer,Jesse R. Cheatham, III,Craig J. Mundie,Desney S. Tan,Eric D. Rudder,Jeannette M. Wing. Владелец: ELWHA LLC. Дата публикации: 2015-11-19.

Hardware acceleration apparatus and acceleration method for neural network computing

Номер патента: US20240311625A1. Автор: Nangeng ZHANG,Zhaofei PU. Владелец: Canaan Bright Sight Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Method for unidirectional and accelerated hardening of large-size thick-walled centrifugal cast steel workpieces

Номер патента: RU2727369C1. Автор: Алексей Михайлович Володин,Владислав Алексеевич Сорокин,Александр Сергеевич Орлов,Генрих Сергеевич Мирзоян,Сергей Михайлович Хориков. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Тяжпрессмаш". Дата публикации: 2020-07-21.

Systems and methods for ultrasonic velocity and acceleration detection

Номер патента: US09739883B2. Автор: Roderick A. Hyde,Muriel Y. Ishikawa,Nathan P. Myhrvold,Andrew Wilson,Clarence T. Tegreene,Lowell L. Wood, JR.,Jordin T. Kare,Victoria Y. H. Wood,Robert C. Petroski,Charles Whitmer,Jesse R. Cheatham, III,Craig J. Mundie,Desney S. Tan,Eric D. Rudder,Jeannette M. Wing. Владелец: ELWHA LLC. Дата публикации: 2017-08-22.

Measuring cerenkov radiation produced by charged particles passing through a gas as indicative of the energy of the charged particles

Номер патента: US3718818A. Автор: Arx A Von,K Kuphal. Владелец: BBC Brown Boveri France SA. Дата публикации: 1973-02-27.

Apparatus for the calibration of beams of charged particles for external radiotherapy, in particular beams of protons, carbon ions, and other ion species, emitted by particle accelerators, and corresponding calibration method

Номер патента: WO2016185340A1. Автор: Mauro Zona,Giuseppe Pitta',Marco Lavagno,Vanessa LA ROSA. Владелец: De.Tec.Tor S.R.L.. Дата публикации: 2016-11-24.

Apparatus and method for measuring the velocity and acceleration of a vehicle using sad algorithm

Номер патента: US20100241391A1. Автор: Do-Hyun Kim,Jae-Jun YOO,Kyung-Bok SUNG,Kyeong-tae Kim,Byung-Tae Jang,Jeong-Dan Choi,Christopher Pelczar,Jung-Sook Kim,Jeong-Ah Jang,Jae-Han Lim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2010-09-23.

Efficient validation of coherency between processor cores and accelerators in computer systems

Номер патента: US09501408B2. Автор: Shakti Kapoor,Manoj Dusanapudi,Sairam Kamaraju. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-11-22.

Apparatus for the calibration of beams of charged particles for external radiotherapy, in particular beams of protons, carbon ions, and other ion species, emitted by particle accelerators, and corresponding calibration method

Номер патента: EP3295215A1. Автор: Mauro Zona,Giuseppe Pitta',Marco Lavagno,Vanessa LA ROSA. Владелец: DeTecTor Srl. Дата публикации: 2018-03-21.

Operation method of host processor and accelerator, and electronic device including the same

Номер патента: US12039360B2. Автор: Sanggyu SHIN,Yeongsik Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-16.

Sensor for parallel measurement of pressure and acceleration and use of the sensor in a vehicle battery

Номер патента: US20230102575A1. Автор: DIRK Meinhold,Daniel Kohler,Rainer Markus Schaller,Erhard Landgraf,Markus Eckinger,Florian Brandl,Vlad Buiculescu. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2023-03-30.

Washing machine and control method thereof

Номер патента: US09994987B2. Автор: Jinho Kim,Sooyoung OH,Myunghun Im,Changoh Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-06-12.

Smart shoe based on recognition of combined walking action and data processing method thereof

Номер патента: US20200390396A1. Автор: Hyun-Ju Park. Владелец: Infoworks Inc. Дата публикации: 2020-12-17.

Substrate, display panel and display apparatus having the same, and fabricating method thereof

Номер патента: WO2016188087A1. Автор: Junwei Wang,Weitao CHEN,Xiaopeng CUI,Zhixiao Yao,Jianguo XING. Владелец: BEIJING BOE DISPLAY TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2016-12-01.

Altitude and acceleration command altitude hold algorithm for rotorcraft with large center of gravity range

Номер патента: EP2142427A1. Автор: Igor Cherepinsky. Владелец: Sikorsky Aircraft Corp. Дата публикации: 2010-01-13.

A simple, efficient, and accelerated method for enzyme-catalyzed in vitro modification and synthesis of nucleic acid using microwave irradiation

Номер патента: AU2002345298A1. Автор: Pradip Nahar,Rakha Hari Das. Владелец: Council of Scientific and Industrial Research CSIR. Дата публикации: 2004-01-23.

Memory devices having embedded hardware acceleration and corresponding methods

Номер патента: US09965387B1. Автор: Dinesh Maheshwari. Владелец: Cypress Semiconductor Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Combined accelerator and brake assembly

Номер патента: US4060144A. Автор: John J. Teti. Владелец: PYOTT BOONE MACHINERY CORP. Дата публикации: 1977-11-29.

Circuit arrangement for acquisition of signals from an apparatus for measuring beams of charged particles for external radiotherapy

Номер патента: US20180164445A1. Автор: Giovanni Mazza,Federico Fausti,Roberto SACCHI. Владелец: DeTecTor Srl. Дата публикации: 2018-06-14.

Particle matter analysis device, analysis method and manufacturing method thereof

Номер патента: US11885729B2. Автор: Yong-Jun Kim,Hong-Beom KWON. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2024-01-30.

Accelerator control system, accelerator control method and accelerator control program

Номер патента: US20240202033A1. Автор: Teruaki Ishizaki,Tomoya YOKONO,Yoshiro YAMABE. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

System for determining the components of the displacement of the persistent scatterers and method thereof

Номер патента: EP4361678A1. Автор: Vincenzo MASSIMI,Sergio SAMARELLI,Raffaele BORRELLI. Владелец: Planetek Italia SRL. Дата публикации: 2024-05-01.

Substrate, display panel and display apparatus having the same, and fabricating method thereof

Номер патента: US10007140B2. Автор: Junwei Wang,Weitao CHEN,Xiaopeng CUI,Zhixiao Yao,Jianguo XING. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-26.

High-power-laser chip-fabrication apparatus and method thereof

Номер патента: US20070111479A1. Автор: Chih-Ming Hsu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-05-17.

Particle accelerator

Номер патента: RU2286655C2. Автор: Пьер МАНДРИЙОН,Пьер МАНДРИЙОН (FR). Владелец: Экселерейтерс Фор Индастриал Энд Медикал Апликейшнс. Инжиниринг Промоушен Сесайети. Айма. Епс. Дата публикации: 2006-10-27.

A power generating water turbine and accelerator assembly

Номер патента: CA2908126C. Автор: Vincent Mccormack. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-04-13.

Apparatus for directing ionising radiation in the form of or produced by beams from particle accelerators

Номер патента: GB957342A. Автор: . Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1964-05-06.

Adaptive cruise control system in vehicle and method thereof

Номер патента: US20160362105A1. Автор: Min-Su KWON. Владелец: Mando Corp. Дата публикации: 2016-12-15.

On-board control device and acceleration sensor diagnosis method

Номер патента: US20240003937A1. Автор: Makoto Tokumaru,Satoru Matsuoka,Koji Shiratsuchi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Polymerised compositions containing accelerator and organoborane and amine complex as initiator

Номер патента: RU2364605C2. Автор: Гэри Л. ДЖАЛАНЕЛЛА,Дин А. ДЖОНСОН. Владелец: Дау Глобал Текнолоджиз Инк.. Дата публикации: 2009-08-20.

Semiconductor detector for recording charged-particle associated neutrons in static-vacuum neutron generator

Номер патента: RU2247411C1. Автор: А.В. Кузнецов,А.В. Евсенин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно- технический центр прикладной физики НТЦ ПФ". Дата публикации: 2005-02-27.

Building image by charged particles generated by space beams

Номер патента: RU2503953C2. Автор: Кристофер Л. МОРРИС,Ларри Джо ШУЛЬТЦ,Джесси Эндрю ГРИН,Майкл Джеймс СОССОНГ,Константин Н. БОРОЗДИН,Алексей В. КЛИМЕНКО,Гари БЛЭНПИД,Владимир ТУМАКОВ,Коло ВАМБА. Владелец: Дисижн Сайенсиз Интернэшнл Корпорейшн. Дата публикации: 2014-01-10.

Charged particles

Номер патента: RU2548071C2. Автор: Урс ЛЕМАНН,Филипп БУНЬОН,Паскаль ХАЙОЦ,Бернд ЛАМАЧ,Маргерита ФОНТАНА,Штефан БУРКХАРДТ,Лорен МИШО. Владелец: БАСФ СЕ. Дата публикации: 2015-04-10.

Statistical tomographic reconstruction based on charged particle measurements

Номер патента: RU2468390C2. Автор: Кристофер Л. МОРРИС,Ларри Джо ШУЛЬТЦ,Майкл Джеймс СОССОНГ,Константин Н. БОРОЗДИН,Алексей В. КЛИМЕНКО,Эндрю Маклеод ФРЕЙЗЕР,Джон Кристофер ОРУМ,Николас У. ХЕНГАРТНЕР. Владелец: ЛОС АЛАМОС НЭШНЛ СЕКЬЮРИТИ, ЭлЭлСи. Дата публикации: 2012-11-27.

Charged particle beam therapy and magnetic resonance imaging

Номер патента: RU2681075C2. Автор: Йоханнес Адрианус ОВЕРВЕГ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2019-03-01.

Method for alarming decrease in tire air-pressure using wheel speed, vehicle acceleration and wheel slip ratio

Номер патента: US8040229B2. Автор: Masashi Kitano. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2011-10-18.

Speed, acceleration, and trim control system for power boats

Номер патента: US5142473A. Автор: Dale R. Davis. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-08-25.

Display panel and driving method thereof and display device

Номер патента: US20200033688A1. Автор: BIN Li,HONG Liu,Le Zhang,Pengcheng TIAN,Xuchen YUAN. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-30.

Display panel and driving method thereof and display device

Номер патента: US11531246B2. Автор: BIN Li,HONG Liu,Le Zhang,Pengcheng TIAN,Xuchen YUAN. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-20.

Neural network accelerating method and device

Номер патента: US20230091385A1. Автор: Hongyan Sun. Владелец: Suzhou Wave Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-23.

Method of evaluating a sample using charged particle microscopy

Номер патента: EP4382897A1. Автор: Sebastian Unger,Harold Phelippeau,Laure KAIRAWICZ,Steven MILIAN,Daniel Nemecek,Thijs M. J. Bressers. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-12.

Method for launching and accelerating unmanned aerial vehicles with a turbojet engine and a device for its implementation

Номер патента: RU2770510C1. Автор: Глеб Владимирович Пономаренко. Владелец: Глеб Владимирович Пономаренко. Дата публикации: 2022-04-18.

Device to measure concentration of charged particles

Номер патента: RU2515207C2. Автор: Стивен Селвин Стал,Ян Флорис,Стефан Отто ЛЕНК. Владелец: Медимейт Холдинг Б.В.. Дата публикации: 2014-05-10.

Charged particle irradiation apparatus and operating method thereof

Номер патента: EP1152436A2. Автор: Hiroshi Hitachi Intell.Property Group Akiyama,Kazuo Hitachi Intell.Property Group Hiramoto,Koji Hitachi Intell.Property Group Matsuda,Tetsuro Hitachi Intell.Property Group Norimine. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-11-07.

Electrophoretic display apparatus and driving method thereof

Номер патента: EP1711858A1. Автор: Yojiro Matsuda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2006-10-18.

System and method for determining angular displacement, velocity and acceleration of a rotating member mounted to a platform

Номер патента: US20200182898A1. Автор: Venkata Nitin Mythreya Yadlapalli. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2020-06-11.

Charged-particle beam irradiation device

Номер патента: US20140058186A1. Автор: Kenzo SASAI. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Methods of converging charged particles, reacting substances and separating substances, and devices therefor

Номер патента: GB2626158A. Автор: Sideris Dimitrios. Владелец: Genetic Microdevices Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Method and device for separating charged particles in liquid sample and manufacturing method of the device

Номер патента: US9096828B2. Автор: Chen-Kuei Chung,Chia-Cheng Tu,Chia-Chern Chen,Hsien-Chang Chang,Cheng-Ting Li. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2015-08-04.

Charged particle generator and functional fabric having a charged particle emission function

Номер патента: US20080319518A1. Автор: Masakazu Komuro. Владелец: Nac Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-25.

Method of converging charged particles and device therefor

Номер патента: WO2024149979A1. Автор: Dimitrios Sideris. Владелец: GENETIC MICRODEVICES LIMITED. Дата публикации: 2024-07-18.

Sampler for sampling charged particles, and apparatus for measuring charge distribution of the charged particles

Номер патента: US20060283270A1. Автор: Hiroaki Masuda,Tadashi Iwamatsu,Shuji Matsusaka. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2006-12-21.

Data processing apparatus for pipeline execution acceleration and method thereof

Номер патента: US09804903B2. Автор: Kang-Ho Kim,Kwang-Won Koh,Seung-Hyub Jeon. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-10-31.

Device and method thereof for re-aeration of wetlands

Номер патента: US09713797B2. Автор: Wei Li,Xinsheng Zhao,Lijuan CUI,Manyin ZHANG,Yinru LEI. Владелец: Research Institute of Forestry New Technology of Chinese Academy of Forestry. Дата публикации: 2017-07-25.

Charged particle tomography with improved momentum estimation

Номер патента: US09588064B2. Автор: Thomas Taylor,Sean Simon,Priscilla KURNADI. Владелец: Decision Sciences International Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Charged particle beam irradiation apparatus

Номер патента: US09566453B2. Автор: Masanori Tachibana. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Metalized plastic articles and methods thereof

Номер патента: US09435035B2. Автор: Liang Zhou,Qing Gong,Xiong Zhang,Weifeng Miao. Владелец: BYD Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Sensor for measuring acceleration and sound pressure

Номер патента: AU5054398A. Автор: Kari Kirjavainen,Jukka Lekkala,Hannu Nykanen,Seppo Uosukainen. Владелец: VTT. Дата публикации: 1998-06-10.

Micromachined rate and acceleration sensor

Номер патента: US5331853A. Автор: II Rand H. Hulsing. Владелец: AlliedSignal Inc. Дата публикации: 1994-07-26.

Triaxial angular rate and acceleration sensor

Номер патента: CA2151232A1. Автор: Rand H. Ii Hulsing. Владелец: Rand H. Ii Hulsing. Дата публикации: 1994-06-23.

Brake and accelerator controls for handicapped

Номер патента: CA2053417C. Автор: John Virgil Masters,Norris Randolph Harod. Владелец: Team Manufacturing Inc. Дата публикации: 1995-10-17.

Display panel, control methods thereof, and display device

Номер патента: US11822203B2. Автор: XIANG Yuan,Shuo Li,Min Wang,Rui Xu,Zhe Wang,Fang Zhang,Chao TIAN,Qingqing Ma,Yinan GAO,Shaoru ZHANG,Wenyuan XI,Qidong SUN. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Triaxial angular rate and acceleration sensor

Номер патента: US20030005767A1. Автор: Rand Hulsing. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-09.

Charged particle beam irradiation apparatus

Номер патента: US20210299480A1. Автор: Kenzo SASAI. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Charged particle thrust engine

Номер патента: US20090288385A1. Автор: Walter Timmons Cardwell, Jr.,Tristram Walker Metcalfe, III. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-11-26.

Method and apparatus for determining the spatial profile of a flux generated by a charged particle beam

Номер патента: WO2016020769A2. Автор: Leonello SERVOLI,Paola TUCCERI. Владелец: ISTITUTO NAZIONALE DI FISICA NUCLEARE. Дата публикации: 2016-02-11.

System to inspect, modify or analyze a region of interest of a sample by charged particles, set of systems to inspect, modify or analyze a region of interest of a sample and method to inspect, modify or analyze a region of interest of a sample by charged particles

Номер патента: US12044638B2. Автор: John A. Notte,Mark D. DiManna,Terry Griffin,Jeff Sauer. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-07-23.

System for charged particle therapy verification

Номер патента: US12036427B2. Автор: Ilker Meric,Kristian Smeland Ytre-Hauge. Владелец: VESTLANDETS INNOVASJONSSELSKAP AS. Дата публикации: 2024-07-16.

Charged particle thrust engine

Номер патента: EP1797319A2. Автор: Walter Timmons Cardwell, Jr.,Tristram Walker Metcalfe, III. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-20.

Charged particle thrust engine

Номер патента: WO2007008234A2. Автор: Walter Timmons Cardwell, Jr.,Tristram Walker Metcalfe, III. Владелец: Cardwell Walter Timmons Jr. Дата публикации: 2007-01-18.

Method and apparatus for determining the spatial profile of a flux generated by a charged particle beam

Номер патента: WO2016020769A3. Автор: Leonello SERVOLI,Paola TUCCERI. Владелец: ISTITUTO NAZIONALE DI FISICA NUCLEARE. Дата публикации: 2016-04-07.

Charged particle trap apparatus

Номер патента: GB2627794A. Автор: MALINOWSKI Maciej,Ballance Chris,Allcock David. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Display panel, driving method thereof and display apparatus

Номер патента: US20240257772A1. Автор: Li Xiao,MINGHUA XUAN,Kai Guo,Zhiqiang Xu,Weixing Liu,Wanpeng TENG,Haoliang ZHENG,Hebin ZHAO,Xinxing Wang,Chunfang Zhang,Yuzhen GUO,Chenyang ZHANG,Jiao Zhao,Jintao PENG,Shulei LI,Xiaorong CUI,Meirong LU. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Oral composition for absorbing oil, blocking sugar, improving lipid metabolism at genetic level, and reducing body weight, and preparation method thereof

Номер патента: LU503324B1. Автор: DAN Cheng,Po Li,Kaikai Cai,Yingxia Zhang. Владелец: Lithy One Health Group. Дата публикации: 2023-07-10.

Irradiation planning apparatus and charged particle irradiation system

Номер патента: US09795807B2. Автор: Koji Noda,Toshiyuki Shirai,Takuji Furukawa,Taku Inaniwa,Nobuyuki Kanematsu. Владелец: NATIONAL INSTITUTES FOR QUANTUM AND RADIOLOGICAL SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2017-10-24.

Charged particles

Номер патента: US09403987B2. Автор: Bernd Lamatsch,Pascal Hayoz,Philippe Bugnon,Laurent Michau,Urs Lehmann,Margherita Fontana,Stephan Burkhardt. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2016-08-02.

Method of accelerating positively charged particles and ions and hollow inductive accelerator

Номер патента: RU2422924C2. Автор: Василий Васильевич Мантуров. Владелец: Василий Васильевич Мантуров. Дата публикации: 2011-06-27.

Method of protection against charged particles of cosmic radiation

Номер патента: RU2714411C1. Автор: Иван Васильевич Трифанов,Владимир Иванович Трифанов,Максим Геннадьевич Мелкозеров. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет науки и технологий имени академика М.Ф. Решетнева" (СибГУ им. М.Ф. Решетнева). Дата публикации: 2020-02-14.

Method of creation of electrostatic protection from meteorites and space radiation charged particles

Номер патента: RU2629461C2. Автор: Алексей Геннадьевич Ребеко. Владелец: Алексей Геннадьевич Ребеко. Дата публикации: 2017-08-29.

Method for removing charged particles from gas flow

Номер патента: RU2612292C1. Автор: Владимир Иванович Владимиров,Леонид Михайлович Василяк,Дмитрий Сергеевич Лапицкий,Владимир Яковлевич Печеркин,Владимир Сергеевич Филинов,Лидия Викторовна Депутатова,Роман Александрович Сыроватка. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Объединенный институт высоких температур (ОИВТ РАН). Дата публикации: 2017-03-06.

Method of accelerating and prolonging flowering in plants

Номер патента: CA2116325C. Автор: Derek D. Woolard,Warren E. Shafer,Candace L. Black-Schafer,Rolland D. Carlson. Владелец: ABBOTT LABORATORIES. Дата публикации: 1999-05-04.

System for Analyzing Starts and Acceleration Phases in Squat-Style Track and Field Events

Номер патента: US20220134184A1. Автор: Ching-Hua Li,Nian-Ze Hu,Li-Chun Yu,Su-Hwa Ho. Владелец: NATIONAL FORMOSA UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-05-05.

Method of measuring structure displacement based on fusion of asynchronous vision measurement data of natural target and acceleration data of structure, and system for the same

Номер патента: US20240202898A1. Автор: Ki Young Kim,Hoon Sohn,Zhanxiong MA,Jae Mook CHOI. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2024-06-20.

System and method for stabilizing and accelerating iterative numerical simulation

Номер патента: EP4354338A1. Автор: Dilshad Ahmad,Sounak Dey,Dighanchal Banerjee,Mithilesh Kumar MAURYA. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2024-04-17.

Water vehicle stabilizer and accelerator

Номер патента: WO2001032499A9. Автор: Lee Bishop. Владелец: Lee Bishop. Дата публикации: 2002-08-01.

System to determine distance, velocity and acceleration of moving objects

Номер патента: WO2008018107A1. Автор: Marco Balucani. Владелец: Ciam Servizi Spa. Дата публикации: 2008-02-14.

Washing machine with drawer-type charging device

Номер патента: EP3715524A1. Автор: Jin Lu,Shuai LIU,Shangwen Cai. Владелец: BSH HAUSGERAETE GMBH. Дата публикации: 2020-09-30.

Charged particle track detector

Номер патента: US20190243010A1. Автор: Ryosuke Ota. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-08.

Dopant-free copper-based perovskite-analogue inorganic thin-film scintillator for charged particle detection

Номер патента: EP4405432A1. Автор: Csaba JANÁKY,Gergely Ferenc SAMU,Mátyás HUNYADI,Attila CSÍK,Lóránt CSIGE,Csaba BUGA. Владелец: Hun Ren Atommagkutato Intezet. Дата публикации: 2024-07-31.

Apparatus for diverting, revectoring and accelerating a flowing gas mass

Номер патента: WO2002064950A1. Автор: Robert Seabrooke Hopkins,Gary Mark Mcgivney. Владелец: Gary Mark Mcgivney. Дата публикации: 2002-08-22.

Apparatus for diverting, revectoring and accelerating a flowing gas mass

Номер патента: NZ528236A. Автор: Robert Seabrooke Hopkins,Gary Mark Mcgivney. Владелец: Gary Mark Mcgivney. Дата публикации: 2005-04-29.

System for controlling a self-driving vehicle controllable on the basis of control values and acceleration values, self-driving vehicle provided with a system of this type and method for training a system of this type.

Номер патента: US20190196484A1. Автор: Stephan Johannes Smit,Johannes Wilhelmus Maria Van Bentum. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-27.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: WO2021205145A1. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Limited. Дата публикации: 2021-10-14.

Charged particle trap apparatus

Номер патента: GB2627795A. Автор: MALINOWSKI Maciej,Ballance Chris,Allcock David. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: US20230114436A1. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Charged particle trap apparatus

Номер патента: WO2024180338A1. Автор: David Allcock,Maciej MALINOWSKI,Chris BALLANCE. Владелец: Oxford Ionics Limited. Дата публикации: 2024-09-06.

Charged particle trap apparatus

Номер патента: WO2024180337A1. Автор: David Allcock,Maciej MALINOWSKI,Chris BALLANCE. Владелец: Oxford Ionics Limited. Дата публикации: 2024-09-06.

System for irradiating charged particles and method for irradiating charged particles

Номер патента: US09750957B2. Автор: Kikuo Umegaki,Toru Umekawa,Naoki Miyamoto,Yusuke Fujii,Hiroki Shirato,Taeko Matsuura,Masumi Umezawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-09-05.

Method for measuring angular velocity and acceleration parameters by micromechanical gyroscopes and accelerometers

Номер патента: RU2766833C1. Автор: Андрей Валерьевич Смирнов,Виктор Владимирович Сумароков,Андрей Анатольевич Антонов,Наталья Борисовна Гермонина,Николай Иринеевич Гордеев,Сергей Борисович Злочевский,Юрий Анатольевич Кривцов,Кирилл Викторович Песков,Егор Владимирович Полилов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Седава". Дата публикации: 2022-03-16.

Yo-yo ball capable of scraping motion and acceleration energy accumulation

Номер патента: RU2635779C2. Автор: Дунцин ЦАЙ. Владелец: Гуанчжоу Альфа Калчэ Коммъюникейшн Ко., Лтд.. Дата публикации: 2017-11-15.

Single pedal vehicle braking and acceleration control system

Номер патента: US5086891A. Автор: Herbert R. Rinder. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-02-11.

Vehicle shift and acceleration control system

Номер патента: US3768340A. Автор: H Heintz. Владелец: Massey Ferguson Inc. Дата публикации: 1973-10-30.

Breathing and acceleration protection apparatus for aircraft crew members

Номер патента: US4230097A. Автор: Raymond Beaussant,Jacques Claude. Владелец: Intertechnique SA. Дата публикации: 1980-10-28.

Computer implemented method for reducing the risk of interrupting an irradiation treatment session due to a deviation from a planned value of an operating parameter of a particle accelerating system

Номер патента: EP4275741A1. Автор: Rudi Labarbe,Lucian HOTOIU,Arnaud PIN. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2023-11-15.

Substrate, display panel and display apparatus having the same, and fabricating method thereof

Номер патента: US20170123265A1. Автор: Junwei Wang,Weitao CHEN,Xiaopeng CUI,Zhixiao Yao,Jianguo XING. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-04.

Charged-particle trajectory measurement apparatus and charged-particle trajectory measurement method

Номер патента: US11977192B2. Автор: Masataka Suga,Yuki Nakai,Naoto Kume,Tsukasa SUGITA,Takuro Fujimaki,Haruo Miyadera,Kohei NOBE. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Accelerator, method of operating an accelerator, and electronic device including an accelerator

Номер патента: US11741026B2. Автор: Seungwook Lee,Hyung-Dal Kwon,Jaehyeong SIM,Hanmin PARK,Jae-Eon JO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-29.

Quartz glass crucible, manufacturing method thereof, and manufacturing method of silicon single crystal

Номер патента: US20240254651A1. Автор: Hideki Fujiwara,Hiroshi Kishi,Eriko Kitahara,Masami Ohara. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Accelerator, method of operating an accelerator, and electronic device including an accelerator

Номер патента: US12130756B2. Автор: Seungwook Lee,Hyung-Dal Kwon,Jaehyeong SIM,Hanmin PARK,Jae-Eon JO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-29.

Position-identifiable tire pressure monitor, monitoring system and method thereof

Номер патента: US09581610B2. Автор: Hung-Chih Yu,Ping-Cheng Tsai. Владелец: Orange Electronic Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Speed and acceleration control unit with starting electronic control servo drive for elevators

Номер патента: RU2472693C2. Автор: Юрген КАРНЕР. Владелец: Виттур Холдинг ГМБХ. Дата публикации: 2013-01-20.

Termoplastic elastomeric composition and preparation method thereof

Номер патента: RU2406739C2. Автор: Юити ХАРА,Энди Хайшунг ТСОУ,Йосихиро СОЕДА,Мэттью Брайан МИСМЕР. Владелец: Эксонмобил Кемикал Пэйтенс, Инк.. Дата публикации: 2010-12-20.

Infrastructure for drive and accelerated takeoff of aerodynamic surfaces for troposphere eolian generator

Номер патента: RU2468250C2. Автор: Массимо ИППОЛИТО. Владелец: Массимо ИППОЛИТО. Дата публикации: 2012-11-27.

Battery exchanging-type charging station system for electric vehicle

Номер патента: EP2679456A1. Автор: Jun Seok Park,Jae-Hong Park,Won-Kyu Kim,Hee-Jeing Park,Hee Seok Moon,Woongchul Choi,Jayil Jeong,Chi Man Yu,Do Yang Jung,Yong-Hark Shin. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Kookmin University. Дата публикации: 2014-01-01.

Sodium channel blockers, preparation method thereof and use thereof

Номер патента: RU2645711C2. Автор: Хё Син КИМ,Ха Юнг Ким,Ин Ву КИМ,Сун Ах ЮН,Юн Су НА,Хюнг Гын ЛИ,Мин Джэ ЧО,Джун Хи ЛИ,Юн Су ЁО,Кюнг Ха ЧУНГ,Джи Дук КИМ. Владелец: Дэвунг Фармасьютикал Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-02-28.

Prolyl hydroxylase inhibitors and application methods thereof

Номер патента: RU2429226C2. Автор: Ричард Масару КАВАМОТО,Анжелик Сан БОЙЕР,Кеннет Дональд ГРЕЙЗ,Артем Г. ЕВДОКИМОВ,Шэндэ ВУ,Намал Читранга ВАРШАКУН. Владелец: Дзе Проктер Энд Гэмбл Компани. Дата публикации: 2011-09-20.

Novel phosphinic acids and sulphur-containing derivatives thereof, and synthesis methods thereof

Номер патента: RU2451021C2. Автор: Юэхой ЧЖОУ,Джеффри Чарльз Генри ДИК,Бобан ЯКОВЛЕВИЧ,Сирил Кристиан Анри БУРЖЕ,Аллан Джеймс РОБЕРТСОН,Донато НУЧЧАРОНЕ. Владелец: Сайтек Кэнада Инк.. Дата публикации: 2012-05-20.

Method for charging particles suspended in gases

Номер патента: US4574004A. Автор: Andreas Schmidt-Ott,Hans-Christoph Siegmann. Владелец: Siegmann Hans Christoph. Дата публикации: 1986-03-04.

Energy exchange between a laser beam and charged particles using inverse transition radiation and method for its use

Номер патента: US5737354A. Автор: Wayne D. Kimura,Richard D. Romea,Loren C. Steinhauer. Владелец: STI Optronics Inc. Дата публикации: 1998-04-07.

Charged-particle distribution measuring apparatus

Номер патента: US4992742A. Автор: Shigeo Sasaki,Kazuo Yoshida,Yoshio Yamane,Soichiro Okuda,Fumiharu Yabunaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1991-02-12.

Virtual Particle Based Monte Carlo Dose Calculation for Charged Particle Therapy Treatment Planning

Номер патента: US20230390579A1. Автор: WEI Liu,Jie Shan. Владелец: Mayo Foundation for Medical Education and Research. Дата публикации: 2023-12-07.

Methods for achieving color states of lesser-charged particles in electrophoretic medium including at least four types of particles

Номер патента: US11900892B2. Автор: Craig Lin,Feng-Shou Lin. Владелец: E Ink Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Charged-particle beam irradiation device, charged-particle beam irradiation method, and computer readable medium

Номер патента: US20120049091A1. Автор: Masanori Tachibana. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

System of mobile charged particle detectors and methods of spent nuclear fuel imaging

Номер патента: EP3942591A1. Автор: Konstanin BOROZDIN. Владелец: Decision Sciences International Corp. Дата публикации: 2022-01-26.

Charged-particle beam therapy apparatus and method for controlling charged-particle beam therapy apparatus

Номер патента: US20150265855A1. Автор: Masanori Tachibana,Toru Asaba,Toshiki Tachikawa. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2015-09-24.

Computer implemented method for reducing the risk of interrupting an irradiation treatment session due to a deviation from a planned value of an operating parameter of a particle accelerating system

Номер патента: US20230364446A1. Автор: Rudi Labarbe,Lucian HOTOIU,Arnaud PIN. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2023-11-16.

Method of evaluating a sample using charged particle microscopy

Номер патента: US20240183768A1. Автор: Sebastian Unger,Harold Phelippeau,Laure KAIRAWICZ,Steven MILIAN,Daniel Nemecek,Thijs M. J. Bressers. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-06.

System and methods of charged particle detectors for blast furnace imaging

Номер патента: AU2022289487A1. Автор: Sean Simon,Anthony Crego. Владелец: Decision Sciences International Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

System and methods of charged particle detectors for blast furnace imaging

Номер патента: EP4352435A1. Автор: Sean Simon,Anthony Crego. Владелец: Decision Sciences International Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

System and methods of charged particle detectors for blast furnace imaging

Номер патента: WO2022261335A1. Автор: Sean Simon,Anthony Crego. Владелец: Decision Sciences International Corporation. Дата публикации: 2022-12-15.

An efficient wind accelerating and wind energy producing device

Номер патента: WO2006093488A1. Автор: Joseph W. Newman. Владелец: Wind Acceleration, Inc. Дата публикации: 2006-09-08.

Charged particle trap operation

Номер патента: WO2024009077A1. Автор: David Allcock,Maciej MALINOWSKI,Raghavendra Srinivas,Chris BALLANCE. Владелец: Oxford Ionics Limited. Дата публикации: 2024-01-11.

System and process for controlling the deceleration and acceleration rates of a sheet material in forming absorbent articles

Номер патента: EP1697245A1. Автор: Paul A. Weber,David Fugate. Владелец: Kimberly Clark Corp. Дата публикации: 2006-09-06.

Charged particle beam device

Номер патента: EP3779403A1. Автор: Toshie Yaguchi,Hiromi MISE. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-02-17.

System and method for determining angular displacement, velocity and acceleration of a rotating member mounted to a platform

Номер патента: US11067591B2. Автор: Venkata Nitin Mythreya Yadlapalli. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2021-07-20.

Controller maneuvering leaning vehicle and control method thereof

Номер патента: US20240217610A1. Автор: Lars Pfau. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-07-04.

Guide for a particle accelerator

Номер патента: GB2624662A. Автор: Bourne Duncan,Shinton Ian. Владелец: Elekta Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Detector based on scintillating optical fibers for charged particles tracking with application in the realization of a residual range detector employing a read-out channels reduction and compression method

Номер патента: EP2859382A2. Автор: Domenico LO PRESTI. Владелец: Instituto Nazionale di Fisica Nucleare INFN. Дата публикации: 2015-04-15.

Systems and methods for agentless and accelerated backup of a database

Номер патента: US20210263810A1. Автор: Chirag Dalal,Vaijayanti Bharadwaj. Владелец: Veritas Technologies LLC. Дата публикации: 2021-08-26.

Systems and methods for agentless and accelerated backup of a database

Номер патента: EP4111313A1. Автор: Chirag Dalal,Vaijayanti Bharadwaj. Владелец: Veritas Technologies LLC. Дата публикации: 2023-01-04.

Device for maintaining data consistency between hardware accelerator and host system and method thereof

Номер патента: US20170270043A1. Автор: Sang Woo Han,Eui Young CHUNG,Hyeok Jun SEO. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2017-09-21.

Detector based on scintillating optical fibers for charged particles tracking with application in the realization of a residual range detector employing a read-out channels reduction and compression method

Номер патента: WO2013186798A3. Автор: Domenico LO PRESTI. Владелец: Infn Istituto Nationale Di Fisica Nucleare. Дата публикации: 2014-05-08.

Bacterial culture having effects of suppressing dermatities development and accelerating skin wound healing, and product using the same

Номер патента: SG132618A1. Автор: Kazunori Takeda. Владелец: YONEZAWA BIRU SHISUTEMU SABISU. Дата публикации: 2007-06-28.

Lipoprotein analysis by differential charged-particle mobility

Номер патента: US20120315706A1. Автор: Earl Cornell,Richard E. Reitz,W. Henry Benner,Patricia J. Blanche,Michael P. Caulfield,Shuguang Li,Gloria Kwangja Lee,Ronald Krauss. Владелец: Quest Diagnostics Inc. Дата публикации: 2012-12-13.

Systems and methods for agentless and accelerated backup of a database

Номер патента: WO2021173620A1. Автор: Chirag Dalal,Vaijayanti Bharadwaj. Владелец: Veritas Technologies LLC. Дата публикации: 2021-09-02.

Dynamic tensioner locking device for a track system and method thereof

Номер патента: WO2016161528A1. Автор: Yves SAUVAGEAU,Andre Leger. Владелец: Soucy International Inc.. Дата публикации: 2016-10-13.

CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS AND ELECTRICAL CHARGING EFFECT CORRECTION METHOD THEREOF

Номер патента: US20130032707A1. Автор: NAKAYAMADA Noriaki,Higurashi Hitoshi. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

Charged particle accelerator

Номер патента: RU2306685C1. Автор: Дмитрий Михайлович Петров,Игорь Михайлович Олихов,Геннадий Петрович Щелкунов. Владелец: Закрытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Гамма" (ЗАО "НПП "Гамма"). Дата публикации: 2007-09-20.

Acceleration method and ion accelerator

Номер патента: RU2312473C2. Автор: Алексей Сергеевич Богомолов. Владелец: Алексей Сергеевич Богомолов. Дата публикации: 2007-12-10.

SYSTEM FOR CALCULATING FUEL AMOUNT OF TRAVELLING ROUTE AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20120004838A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Charged particle accelerating device

Номер патента: RU2236094C1. Автор: А.С. Богомолов. Владелец: Богомолов Алексей Сергеевич. Дата публикации: 2004-09-10.

Charged particle accelerator

Номер патента: RU2073966C1. Автор: В.П. Ковалев. Владелец: Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики. Дата публикации: 1997-02-20.

Isochronous cyclotron for accelerating several types of charged particles

Номер патента: RU2373673C1. Автор: Владимир Петрович Кухтин,Евгений Анатольевич Ламзин,Сергей Евгеньевич Сычевский,Михаил Феофанович Ворогушин,Петр Васильевич Богданов,Андрей Павлович Строкач. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт электрофизической аппаратуры им. Д.В. Ефремова". Дата публикации: 2009-11-20.

Charged particle accelerator

Номер патента: RU2531808C1. Автор: Игорь Николаевич Ефимов,Евгений Александрович Морозов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова. Дата публикации: 2014-10-27.

Method of generating accelerating voltage in charged particle resonance accelerator

Номер патента: RU2395936C1. Автор: Геннадий Варламович Долбилов. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2010-07-27.

Cyclic charged particle accelerator

Номер патента: RU2477936C2. Автор: Геннадий Варламович Долбилов. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2013-03-20.

Method of accumulation of energy of flow of charged particles

Номер патента: RU2559288C1. Автор: Игорь Николаевич Ефимов,Евгений Александрович Морозов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ". Дата публикации: 2015-08-10.

CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001097A1. Автор: . Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

OVER-ACCELERATION AND OVER-SPEED DETECTION AND PROCESSING SYSTEM

Номер патента: US20120000729A1. Автор: Marvin Daryl J.,Schienda Greg A.,Terry Harold,Draper James M.,Cooney Anthony,Carballo Jose M.. Владелец: OTIS ELEVATOR COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

ELEVATOR OVER-ACCELERATION AND OVER-SPEED PROTECTION SYSTEM

Номер патента: US20120000731A1. Автор: . Владелец: OTIS ELEVATOR COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of production of small-sized bremsstrahlung focus in cyclic charged-particle accelerator

Номер патента: RU2072643C1. Автор: В.Л. Чахлов,В.С. Пушин. Владелец: Научно-исследовательский институт интроскопии Томского политехнического университета. Дата публикации: 1997-01-27.

ELECTROPHORETIC DISPLAY AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001957A1. Автор: Sun Wei-Min,Hung Chi-Mao,Chiu Wen-Pin,Liu Chun-Ting,Tien Pei-Lin,Wu Yan-Liang,Tseng Hsu-Ping,Hsu Ying Hua. Владелец: SIPIX TECHNOLOGY INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of controlling gas turbine engine in acceleration and throttling

Номер патента: RU2403419C1. Автор: Константин Петрович Кучевасов,Алексей Николаевич Саженков,Юрий Иванович Тимкин,Юрий Абрамович Трубников,Игорь Георгиевич Лисовин. Владелец: Открытое акционерное общество "Авиадвигатель". Дата публикации: 2010-11-10.

Integrated acceleration-and-braking pedal for automobile with automatic gearbox

Номер патента: RU2443575C1. Автор: Данил Вячеславович Косилов. Владелец: Данил Вячеславович Косилов. Дата публикации: 2012-02-27.

CHIP-SIZED PACKAGE AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001328A1. Автор: Huang Chien-Ping,Ke Chun-Chi,Chang Chiang-Cheng. Владелец: SILICONWARE PRECISION INDUSTRIES CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Body acceleration method

Номер патента: RU2558509C1. Автор: Сергей Николаевич Доля. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2015-08-10.

Method of measuring linear accelerations, angular speeds and accelerations aboard the spacecraft in conditions close to zero gravity and device for its implementation

Номер патента: RU2593935C1. Автор: Виктор Михайлович Медов,Андрей Евгеньевич Борисов,Григорий Алексеевич Емельянов,Алексей Сергеевич Лысак,Алексей Сергеевич Лукичёв. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный научно-исследовательский институт машиностроения" (ФГУП ЦНИИмаш). Дата публикации: 2016-08-10.

High-speed solid particle accelerator

Номер патента: RU2371891C1. Автор: Игорь Владимирович Пияков,Николай Данилович Семкин,Алексей Владимирович Пияков,Антон Борисович Андрущенко,Михаил Владимирович Изюмов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева. Дата публикации: 2009-10-27.

Charged particle beam apparatus and sample processing method

Номер патента: US20120001086A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Electron-dynamic projectile, method for its formation, methods for its acceleration and gun for fire by electron-dynamic projectiles

Номер патента: RU2279624C2. Автор: Владимир Степанович Никитин. Владелец: Владимир Степанович Никитин. Дата публикации: 2006-07-10.

High-speed solid particle accelerator with adjustment of particle velocity vector

Номер патента: RU2593594C2. Автор: Николай Данилович Семкин,Алексей Владимирович Пияков,Алексей Михайлович Телегин,Александр Сергеевич Дорофеев. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2016-08-10.

Ionizing charge-particle beam current transducer

Номер патента: RU2012168C1. Автор: Г.И. Сергеев,В.А. Москалев. Владелец: Научно-исследовательский институт интроскопии Томского политехнического университета. Дата публикации: 1994-04-30.

Charged-particle beam extractor for pulse-fed betatrons

Номер патента: RU2069939C1. Автор: В.В. Романов,А.С. Сафронов,В.А. Касьянов,Д.С. Завестовский. Владелец: Научно-исследовательский институт интроскопии Томского политехнического университета. Дата публикации: 1996-11-27.

High-speed solid particle accelerator with automatic adjustment of particle distribution function on target radius

Номер патента: RU2451434C1. Автор: Николай Данилович Семкин,Алексей Владимирович Пияков,Алексей Михайлович Телегин,Михаил Павлович Калаев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2012-05-20.

Method of autonomous velocity and acceleration vector measurement

Номер патента: RU2331890C2. Автор: Юрий Владимирович Львов,Федор Антонович Шаповалов,Алексей Федорович Шаповалов,Федор Антонович Шаповалов (RU),Алексей Федорович Шаповалов (RU),Юрий Владимирович Львов (RU). Владелец: Алексей Федорович Шаповалов. Дата публикации: 2008-08-20.

Method of controlling beam of charged particles in cyclotron

Номер патента: RU2371793C1. Автор: Георгий Герасимович Гульбекян,Иван Анатольевич Иваненко. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2009-10-27.

Method of producing thin-layer, thermally and/or optically stimulated luminescence effect based nuclear radiation charged particle detector based on aluminium oxide

Номер патента: RU2507629C2. Автор: Александр Иванович Сюрдо,Сергей Юрьевич Соковнин,Владислав Генрихович Ильвес,Максим Игоревич Власов,Игорь Игоревич Мильман. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт промышленной экологии Уральского отделения Российской академии наук (ИПЭ УрО РАН). Дата публикации: 2014-02-20.

Apparatus for separating charged particles by mass

Номер патента: RU2142328C1. Автор: А.Н. Жданов,В.Т. Доронин. Владелец: Алтайский государственный технический университет им.И.И.Ползунова. Дата публикации: 1999-12-10.

High-speed solid-particle accelerator

Номер патента: RU2205525C2. Автор: Н.Д. Семкин,К.Е. Воронов,Р.А. Помельников,ков А.В. Пи,А.В. Пияков. Владелец: Самарский государственный аэрокосмический университет им. акад. С.П.Королева. Дата публикации: 2003-05-27.

High-speed solid particle accelerator

Номер патента: RU2534227C2. Автор: Николай Данилович Семкин,Алексей Владимирович Пияков,Кирилл Игоревич Сухачев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2014-11-27.

Device for mass separation of charged particles

Номер патента: RU2135270C1. Автор: А.Н. Жданов,В.Т. Доронин. Владелец: Алтайский государственный технический университет им.И.И.Ползунова. Дата публикации: 1999-08-27.

Method for separating charged particles according to their energies

Номер патента: RU2187170C2. Автор: В.Т. Доронин. Владелец: Алтайский государственный технический университет им. И.И.Ползунова. Дата публикации: 2002-08-10.

Device for separating charged particles according to their energy

Номер патента: RU2187171C2. Автор: В.Т. Доронин. Владелец: Алтайский государственный технический университет им. И.И.Ползунова. Дата публикации: 2002-08-10.

Method of analysing charged particles (ions) in hyperboloid mass spectrometers

Номер патента: RU2557010C2. Автор: Владимир Васильевич Петров,Владимир Васильевич Иванов,Эрнст Пантелеймонович Шеретов,Татьяна Борисовна Карнав,Андрей Эрнстович Шеретов. Владелец: Эрнст Пантелеймонович Шеретов. Дата публикации: 2015-07-20.

Method of inhibiting thrombus formation and acceleration of fibrinolysis with dna aptamers inhibiting activity of thrombin in experiment

Номер патента: RU2559545C1. Автор: Анатолий Борисович Добровольский,Алексей Владимирович Мазуров,Вера Алексеевна Спиридонова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Российский кардиологический научно-производственный комплекс" Министерства здравоохранения Российской Федерации (ФГБУ "РКНПК" Минздрава России). Дата публикации: 2015-08-10.

Method of space refuse withdrawal from payload orbit exploiting carrier rocket separated part and accelerating unit, and device to this end

Номер патента: RU2462399C2. Автор: Юрий Николаевич Макаров,Владимир Юрьевич Куденцов,Валерий Иванович Трушляков,Яков Тимофеевич Шатров. Владелец: Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Омский Государственный Технический Университет". Дата публикации: 2012-09-27.

Method for slow beam output of charged particles

Номер патента: RU2641658C2. Автор: Геннадий Варламович Долбилов. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2018-01-19.

Method for cyclic acceleration of charged particles

Номер патента: RU2451435C1. Автор: Геннадий Варламович Долбилов. Владелец: Объединенный Институт Ядерных Исследований. Дата публикации: 2012-05-20.

Resonant dust particle accelerator

Номер патента: RU2551652C1. Автор: Николай Данилович Семкин,Кирилл Игоревич Сухачев,Алексей Сергеевич Видманов,Александр Сергеевич Дорофеев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2015-05-27.

Brush-type charge made out of the ballistite solid rocket propellant with the igniter

Номер патента: RU2312094C2. Автор: Николай Николаевич Федченко,Леонид Борисович Макаров,Николай Сергеевич Божья-Воля,Вадим Сергеевич Арефьев,Галина Петровна Моисеева,Николай Евгеньевич Демешкин,Наталья Владимировна Саранина,Николай Николаевич Федченко (RU),Вадим Сергеевич Арефьев (RU),Леонид Борисович Макаров (RU),-Вол Николай Сергеевич Божь (RU),Галина Петровна Моисеева (RU),Николай Евгеньевич Демешкин (RU),Наталь Владимировна Саранина (RU). Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт полимерных материалов". Дата публикации: 2007-12-10.

Analyzer of energies of charged particles

Номер патента: RU2294579C1. Автор: Николай Алексеевич Холин,Кай Зигбан,Василий Дмитриевич Симуткин,Николай Алексеевич Холин (RU),Кай Зигбан (SE),Василий Дмитриевич Симуткин (RU). Владелец: Василий Дмитриевич Симуткин. Дата публикации: 2007-02-27.

Charged particle plasma emitter

Номер патента: RU2408948C1. Автор: Евгений Федорович Шевченко,Владимир Яковлевич Мартенс. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Северо-Кавказский государственный технический университет". Дата публикации: 2011-01-10.

Method of protection against space radiation charged particles

Номер патента: RU2406661C2. Автор: Алексей Геннадьевич Ребеко. Владелец: Алексей Геннадьевич Ребеко. Дата публикации: 2010-12-20.

Method of analysing charged particles based on mass and device for realising said method

Номер патента: RU2431214C1. Автор: Николай Валентинович Лебедев,Владимир Михайлович Бардаков,Николай Александрович Строкин,Николай Вениаминович Астраханцев,Геннадий Николаевич Кичигин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Иркутский государственный технический университет" (ГОУ ИрГТУ). Дата публикации: 2011-10-10.

POWER MONITORING DEVICE FOR IDENTIFYING STATE OF ELECTRIC APPLIANCE AND POWER MONITORING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120004871A1. Автор: . Владелец: NATIONAL CHIAO TUNG UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of interruption of period of natural dormancy of potato tubers and acceleration of their germination

Номер патента: RU2547547C1. Автор: Людмила Магомедовна Апашева,Павел Андреевич Сахаров,Наталья Анатольевна Рубцова,Елена Николаевна Овчаренко,Геннадий Германович Комиссаров,Андрей Иванович Сергеев,Мария Николаевна Полякова,Юрий Цатурович Мартиросян. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт химической физики им. Н.Н. Семенова Российской академии наук (ИХФ РАН). Дата публикации: 2015-04-10.

Charged particles recorder

Номер патента: RU2045078C1. Автор: Ф.Ф. Валиев,Г.А. Феофилов. Владелец: Санкт-Петербургский государственный университет. Дата публикации: 1995-09-27.

Device for separation of charged particles by masses

Номер патента: RU2174431C2. Автор: В.В. Евстигнеев,В.Т. Доронин. Владелец: Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова. Дата публикации: 2001-10-10.

Apparatus for turning achromatic beams of charged particles

Номер патента: RU2463749C1. Автор: Александр Альбертович Брязгин,Владислав Ефимович Нехаев,Вадим Митрофанович Радченко,Евгений Андреевич Штарклев. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт ядерной физики им. Г.И. Будкера Сибирского отделения РАН (ИЯФ СО РАН). Дата публикации: 2012-10-10.

Method for detecting and recording charged particles

Номер патента: RU2173469C2. Автор: Е.И. Горохова,Г.П. Тюрин,О.А. Христич. Владелец: Горохова Елена Ильинична. Дата публикации: 2001-09-10.

LUMINESCENT GLASS ELEMENT, PRODUCING METHOD THEREOF AND LUMINESCING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001091A1. Автор: . Владелец: OCEAN'S KING LIGHTING SCIENCE & TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LUMINESCENT GLASS ELEMENT, PRODUCING METHOD THEREOF AND LUMINESCING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001092A1. Автор: Zhou Mingjie,Ma Wenbo,LIU Yugang. Владелец: OCEAN'S KING LIGHTING SCIENCE & TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

LUMINESCENT GLASS ELEMENT, PRODUCING METHOD THEREOF AND LUMINESCING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001093A1. Автор: . Владелец: OCEAN'S KING LIGHTING SCIENCE & TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Organic Light Emitting Diode Display and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001185A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT-EMITTING DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001219A1. Автор: Park Kyungwook. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LUMINESCENT GLASS ELEMENT, PRODUCING METHOD THEREOF AND LUMINESCING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001535A1. Автор: . Владелец: OCEAN'S KING LIGHTING SCIENCE & TECHNOLOGY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Display device, pixel circuit and display drive method thereof

Номер патента: US20120001948A1. Автор: Uchino Katsuhide,Toyomura Naobumi. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Method for induction acceleration of charged particles

Номер патента: RU2359434C2. Автор: Геннадий Варламович Долбилов. Владелец: Геннадий Варламович Долбилов. Дата публикации: 2009-06-20.

Complex range, speed and acceleration meter for radio engineering systems of aircraft

Номер патента: RU2192022C2. Автор: В.И. Меркулов,В.В. Дрогалин,А.И. Канащенков,А.Б. Коршунов,О.Ф. Самарин,А.И. Артемьев,В.И. Кустов,М.С. Орлов. Владелец: Открытое акционерное общество "Корпорация "Фазотрон - научно-исследовательский институт радиостроения". Дата публикации: 2002-10-27.

Interferential meter of angular speed and acceleration

Номер патента: RU2564381C1. Автор: Владимир Олегович Гладышев,Дмитрий Игоревич Портнов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана" (МГТУ им. Н.Э. Баумана). Дата публикации: 2015-09-27.

Transport aircraft for space rockets carrying and acceleration in stratosphere

Номер патента: RU2548829C2. Автор: Александр Афанасьевич Нарижный,Георгий Александрович Нарижный,Татьяна Михайловна Нарижная,Евгений Александрович Нарижный. Владелец: Александр Афанасьевич Нарижный. Дата публикации: 2015-04-20.

Method and device for accelerating and focusing charged particles by constant field

Номер патента: RU2212121C2. Автор: Н.И. Тарантин. Владелец: Тарантин Николай Иванович. Дата публикации: 2003-09-10.

Method and device for separating charged particles by their specific charge

Номер патента: RU2293396C1. Автор: Игорь Владимирович Филиппов,Евгений Васильевич Мамонтов,тлов Роман Николаевич Д,Роман Николаевич Дятлов,Виктор Сергеевич Гуров. Владелец: Рязанская государственная радиотехническая академия. Дата публикации: 2007-02-10.

HUMIDITY SENSOR PACKAGE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120000284A1. Автор: Hasegawa Hideki,Yokoyama Shinya,Waga Satoshi,Tondokoro Atsushi,Sakashita Tadashi,Morita Sumihito,Kamimura Hideki,Yamatani Masaya. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING DIODE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001152A1. Автор: Kim Young Sun,KIM Ki Sung,KIM Gi Bum,KIM Tae Hun,SHIN Young Chul. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PHOTOELECTRIC CONVERSION ELEMENT, MANUFACTURING METHOD THEREOF, OPTICAL SENSOR, AND SOLAR CELL

Номер патента: US20120001163A1. Автор: Nakamura Shin,Nakahara Kentaro,Kobayashi Kenji,Suguro Masahiro. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

WAFER LEVEL PACKAGE HAVING A PRESSURE SENSOR AND FABRICATION METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001274A1. Автор: Chen Chien-An,Huang Chun-An,Chiu Shih-Kuang,Liao Hsin-Yi,Chang Hong-Da. Владелец: SILICONWARE PRECISION INDUSTRIES CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

STEREOSCOPIC IMAGE DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002123A1. Автор: KANG Dongwoo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

WAVELENGTH-TUNABLE SPECTROMETER AND WAVELENGTH TUNING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002198A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ANTI-REFLECTION DISPLAY WINDOW PANEL AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002289A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

FREQUENCY CALIBRATION CIRCUIT FOR AUTOMATICALLY CALIBRATING FREQUENCY AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002764A1. Автор: Hsiao Fu-Yuan,Pan Ke-Ning. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

COMMUNICATION APPARATUS HAVING HUMAN BODY CONTACT SENSING FUNCTION AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20120003929A1. Автор: . Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2012-01-05.

Device for separating charged particles according to their masses

Номер патента: RU2193444C1. Автор: В.Т. Доронин,А.Н. Коржавина. Владелец: Алтайский государственный технический университет им. И.И.Ползунова. Дата публикации: 2002-11-27.

Detector for finding charged particles

Номер патента: RU2287172C2. Автор: Анатолий Владимирович Коробкин,Эдуард Александрович Гарушев,Екатерина Анатольевна Коробкина. Владелец: Екатерина Анатольевна Коробкина. Дата публикации: 2006-11-10.

Apparatus for manipulating charged particles

Номер патента: RU2465679C1. Автор: Александр Сергеевич Бердников,Алина Данжеевна Андреева. Владелец: Александр Сергеевич Бердников. Дата публикации: 2012-10-27.

Device for separation of charged particles by masses

Номер патента: RU2190459C2. Автор: В.Т. Доронин. Владелец: Алтайский государственный технический университет им. И.И.Ползунова. Дата публикации: 2002-10-10.

Device for separation of charged particles by masses

Номер патента: RU2137532C1. Автор: А.Н. Жданов,В.Т. Доронин. Владелец: Алтайский государственный технический университет им.И.И.Ползунова. Дата публикации: 1999-09-20.

Copolymers based on derivatives of substituted cyclopentanone-bithiophene and synthesis method thereof

Номер патента: RU2423392C2. Автор: Сергей Анатольевич Пономаренко,Павел Анатольевич Трошин,Азиз Мансурович Музафаров,Диана Каримовна Сусарова,Владимир Федорович Разумов,Екатерина Николаевна Мышковская,Владислав Александрович Костяновский. Владелец: Учреждение Российской Академии наук Институт синтетических полимерных материалов им. Н.С. Ениколопова РАН. Дата публикации: 2011-07-10.

Method for linear acceleration of charged particles

Номер патента: RU2102842C1. Автор: Виктор Мечиславович Игнатенко. Владелец: Виктор Мечиславович Игнатенко. Дата публикации: 1998-01-20.

Device for measurement of speed and acceleration of thrown object

Номер патента: RU2285268C1. Автор: Максим Русланович КОЛИЕВ,Александр Петрович Иванов,Александр Петрович Иванов (RU),Максим Русланович Колиев (RU). Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Центральный институт авиационного моторостроения им. П.И. Баранова". Дата публикации: 2006-10-10.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.