• Главная
  • Beam blanker and method for blanking a charged particle beam

Beam blanker and method for blanking a charged particle beam

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Chicane blanker assemblies for charged particle beam systems and methods of using the same

Номер патента: US09767984B2. Автор: N. William Parker,Charles Otis,Kevin Kagarice. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-09-19.

Apparatus for multiple charged-particle beams

Номер патента: US12080515B2. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Zong-Wei Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-03.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20090302233A1. Автор: TAKASHI Ogawa. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2009-12-10.

Charged Particle Beam Apparatus and Control Method for Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20230290607A1. Автор: Takeo Sasaki,Kazuki Yagi,Kanako Noguchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Charged particle beam apparatus and control method for charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4246551A1. Автор: Takeo Sasaki,Kazuki Yagi,Kanako Noguchi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Method for preparing and analyzing an object as well as particle beam device for performing the method

Номер патента: EP2899744A1. Автор: Giuseppe Pavia. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2015-07-29.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20230317399A1. Автор: Shunsuke Mizutani,Toshimasa Kameda,Tomoyo Sasaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Spatial phase manipulation of charged particle beam

Номер патента: US20200258712A1. Автор: Johan VERBEECK,Armand Béché. Владелец: UNIVERSITEIT ANTWERPEN. Дата публикации: 2020-08-13.

Spatial phase manipulation of charged particle beam

Номер патента: EP3698394A1. Автор: Johan VERBEECK,Armand Béché. Владелец: UNIVERSITEIT ANTWERPEN. Дата публикации: 2020-08-26.

Charged particle beam system and control method therefor

Номер патента: EP4167267A1. Автор: Takeshi Kaneko,Isamu Ishikawa,Eiji Okunishi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-04-19.

Apparatus and method for calculating drawing speeds of a charged particle beam

Номер патента: US9589766B2. Автор: Hideyuki Tsurumaki. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Particle-beam exposure apparatus with overall-modulation of a patterned beam

Номер патента: WO2007112465A1. Автор: Elmar Platzgummer. Владелец: IMS Nanofabrication AG. Дата публикации: 2007-10-11.

Charged particle-optical device, charged particle apparatus and method

Номер патента: US20240234081A9. Автор: Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-11.

Charged particle device, charged particle irradiation method, and analysis device

Номер патента: US20180174795A1. Автор: Teruo Kohashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-06-21.

Method and device for spatial charged particle bunching

Номер патента: US12068130B2. Автор: Michael John Zani,Jeffrey Winfield Scott,Mark Joseph Bennahmias. Владелец: NexGenSemi Holdings Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Charged particle-optical device, charged particle apparatus and method

Номер патента: US20240136147A1. Автор: Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-25.

Multi-beam charged particle source with alighment means

Номер патента: US20240096585A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Multi-beam charged particle source with alignment means

Номер патента: EP4049300A1. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Method for examining a sample by using a charged particle beam

Номер патента: US20120273678A1. Автор: Wei Fang,YAN Zhao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-11-01.

Method for examining a sample by using a charged particle beam

Номер патента: US8937281B2. Автор: Wei Fang,YAN Zhao,Jack Jau. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2015-01-20.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09620333B2. Автор: Makoto Sato,Satoshi Tomimatsu,Tatsuya Asahata,Yo Yamamoto,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

System and method for removing organic residue from a charged particle beam system

Номер патента: US20120080056A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-04-05.

System and method for removing organic residue from a charged particle beam system

Номер патента: US8092641B1. Автор: HONG Xiao. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2012-01-10.

METHOD FOR IMAGING A SAMPLE IN A CHARGED PARTICLE APPARATUS

Номер патента: US20140361165A1. Автор: Hlavenka Petr,Tuma Lubomir,Sytar Petr,"Seda Bohuslav". Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2014-12-11.

METHOD FOR GENERATING A COMPOSITE IMAGE OF AN OBJECT AND PARTICLE BEAM DEVICE FOR CARRYING OUT THE METHOD

Номер патента: US20170309443A1. Автор: Han Luyang. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20070246651A1. Автор: Masahiro Inoue,Akira Higuchi,Masahiro Yamamoto,Hirotami Koike,Shinichi Okada,Sumio Sasaki. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2007-10-25.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: EP4352773A1. Автор: Erwin Paul SMAKMAN,Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Tom Van Zutphen,Jurgen VAN SOEST,Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-17.

Systems and methods for chromatic aberration mitigation

Номер патента: WO2021122862A1. Автор: Yan Ren. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-06-24.

Charged particle beam apparatus, charged particle beam irradiation method, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20040211925A1. Автор: Hideaki Abe. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-10-28.

System and method for fast discharging of an inspected object

Номер патента: US20130026362A1. Автор: Efim Kerner,Tuvia Biber. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2013-01-31.

System and method for scanning an object

Номер патента: US09490101B2. Автор: Yuval Gronau,Ishai Schwarzband,Benzion Sender,Dror Shemesh,Ofir Greenberg,Ran Schleyen. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: US20240242921A1. Автор: Mans Johan Bertil OSTERBERG,Koen SCHUURBIERS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-18.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: EP4409617A1. Автор: Mans Johan Bertil OSTERBERG,Koen SCHUURBIERS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-07.

Method for inspecting a specimen and charged particle multi-beam device

Номер патента: US09922796B1. Автор: Jürgen Frosien,Pieter Kruit. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Techniques for narrowing zero loss peaks in monochromated charged particles sources

Номер патента: US20240249905A1. Автор: Alexander Henstra,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-07-25.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: EP3942590A1. Автор: Jacob Pieter Hoogenboom,Sander DEN HOEDT. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-01-26.

Charged Particle Beam System and Method of Aberration Correction

Номер патента: US20170365442A1. Автор: Shigeyuki Morishita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-12-21.

Charged particle beam system and method of aberration correction

Номер патента: US09892886B2. Автор: Shigeyuki Morishita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Electron beam microscope with improved imaging gas and method of use

Номер патента: US09633816B2. Автор: John Scott,Milos Toth,Toby Shanley. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-04-25.

Charged particle beam system

Номер патента: US20200411274A1. Автор: Ingo Mueller,Dirk Zeidler,Stefan Schubert,Christof Riedesel,Joerg Jacobi,Antonio Casares,Mario Muetzel. Владелец: Carl Zeiss Multisem Gmbh. Дата публикации: 2020-12-31.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09941095B2. Автор: Akira Ikegami,Yuko Sasaki,Ryota Watanabe. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Charged particle beam device and detection method using said device

Номер патента: US09799483B2. Автор: Hajime Kawano,Yasunari Sohda,Tomoyasu Shojo. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Charged particle beam apparatus and image acquiring method

Номер патента: EP4099359A1. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-12-07.

Charged particle device, detector, and methods

Номер патента: US20230005706A1. Автор: Albertus Victor Gerardus MANGNUS,Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-05.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US11749497B2. Автор: Makoto Suzuki,Shunsuke Mizutani,Shahedul Hoque,Uki Ikeda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Charged particle beam device

Номер патента: US09997326B2. Автор: Akira Ikegami,Hideyuki Kazumi,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Charged particle-beam device

Номер патента: US09653256B2. Автор: Akira Ikegami,Akio Takaoka,Yoichi Ose,Naomasa Suzuki,Hideyuki Kazumi,Ryuji Nishi,Momoyo Enyama,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Charged particle beam device

Номер патента: US09627171B2. Автор: Hiroshi Makino,Minoru Yamazaki,Hideyuki Kazumi,Yuzuru MIZUHARA,Miki Isawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Charged particle beam apparatus and image acquiring method

Номер патента: US12148594B2. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20200035450A1. Автор: Makoto Suzuki,Minoru Yamazaki,Shunsuke Mizutani,Yuuji Kasai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2020-01-30.

Charged Particle Detector and Charged Particle Beam Device Using the Same

Номер патента: US20180261425A1. Автор: Makoto Sakakibara,Yasuhiro Shirasaki,Momoyo Enyama,Kaori Shirahata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-09-13.

Sample Base, Charged Particle Beam Device and Sample Observation Method

Номер патента: US20150318143A1. Автор: Yusuke Ominami,Takashi Ohshima,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-11-05.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20190362931A1. Автор: Makoto Suzuki,Minoru Yamazaki,Yuko Sasaki,Wataru Mori,Ryota Watanabe,Kazunari Asao. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Charged-particle beam microscopy

Номер патента: US09997331B1. Автор: Christopher Su-Yan OWN,Matthew Francis Murfitt. Владелец: Mochii Inc. Дата публикации: 2018-06-12.

Sample base, charged particle beam device and sample observation method

Номер патента: US09508527B2. Автор: Yusuke Ominami,Takashi Ohshima,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Apparatus and method for directing charged particle beam towards a sample

Номер патента: US20230326706A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-10-12.

Charged-particle beam apparatus with large field-of-view and methods thereof

Номер патента: WO2023198397A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-10-19.

Charged particle beam source and charged particle beam system

Номер патента: EP4254465A1. Автор: Keiichi Yamamoto,Yasuyuki Okano,Norikazu Arima,Tomohisa Fukuda,Kyouichi KAMINO. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Charged Particle Beam Source and Charged Particle Beam System

Номер патента: US20230317400A1. Автор: Keiichi Yamamoto,Yasuyuki Okano,Norikazu Arima,Tomohisa Fukuda,Kyouichi KAMINO. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Charged particle beam device

Номер патента: US09697987B2. Автор: Hiroyuki Takahashi,Hajime Kawano,Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Kumiko Shimizu,Shahedul Hoque,Chahn Lee. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Charged particle microscope device and image capturing method

Номер патента: US09460889B2. Автор: Kenji Nakahira,Atsushi Miyamoto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Charged-particle microscope with astigmatism compensation and energy-selection

Номер патента: US09741525B1. Автор: Alexander Henstra,Lubomír Tuma,Bohuslav Sed'a. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-08-22.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: EP4156227A1. Автор: Mans Johan Bertil OSTERBERG,Koen SCHUURBIERS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-03-29.

Charged particle system and method for measuring deflection fields in a sample

Номер патента: US10332720B2. Автор: Kazuya Yamazaki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-06-25.

Charged particle beam device

Номер патента: US12142457B2. Автор: Makoto Suzuki,Yuji Takagi,Takuma Yamamoto,Takahiro Nishihata,Mayuka Osaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-11-12.

Scanning apparatus, drawing apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US8829461B2. Автор: Hirohito Ito,Yusuke Sugiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-09.

Method for repairing lithography masks using a charged particle beam system

Номер патента: EP1261752B1. Автор: David C. Ferranti,Sharon M. Szelag,James David Casey, Jr.. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2007-05-30.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20240321543A1. Автор: Hajime Kawano,Toshiyuki Yokosuka,Hideyuki Kotsuji. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Method for STEM sample inspection in a charged particle beam instrument

Номер патента: US7834315B2. Автор: Thomas M. Moore,Gonzalo Amador,Lyudmila Zaykova-Feldman,Matthew Hammer. Владелец: Omniprobe Inc. Дата публикации: 2010-11-16.

Method for stem sample inspection in a charged particle beam instrument

Номер патента: USRE46350E1. Автор: Thomas M. Moore,Gonzalo Amador,Lyudmila Zaykova-Feldman,Matthew Hammer. Владелец: Omniprobe Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Method for charging and imaging an object

Номер патента: US09666412B1. Автор: Yoram Uziel,Alon Litman,Benzion Sender. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

System and method for high throughput defect inspection in a charged particle system

Номер патента: EP4118675A1. Автор: Long Ma,Zhonghua Dong,Te-Yu Chen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-01-18.

Charged particle beam device and sample observation method

Номер патента: US09418818B2. Автор: Yusuke Ominami,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Charged particle assessment system and method

Номер патента: US20240331971A1. Автор: Jurgen VAN SOEST,Vincent Sylvester KUIPER,Yinglong LI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-03.

Charged-particle-beam device and method for correcting aberration

Номер патента: US9484182B2. Автор: Takaho Yoshida,Hisanao Akima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Method of operation of a charged particle beam device

Номер патента: WO2022028633A1. Автор: FILIP Vojtech. Владелец: Tescan Brno. Дата публикации: 2022-02-10.

Improvements in and relating to charged particle beam devices

Номер патента: GB201017342D0. Автор: . Владелец: Carl Zeiss Microscopy Ltd. Дата публикации: 2010-11-24.

Method for scanning a sample by a charged particle beam system

Номер патента: US20200211820A1. Автор: Thomas I. Wallow,Adam Lyons. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-07-02.

Method for acquiring simultaneous and overlapping optical and charged particle beam images

Номер патента: EP2601477A2. Автор: Thomas Moore,Cheryl Hartfield,Gregory Magel. Владелец: Omniprobe Inc. Дата публикации: 2013-06-12.

Method for correcting drift of charged particle beam, and charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US09536705B2. Автор: Osamu Iizuka. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Charged particle beam apparatus and sample observation method

Номер патента: US11393658B2. Автор: Kenji Aoki,Kunji Shigeto,Yuki Tani. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-07-19.

Charged Particle Beam Apparatus and Image Forming Method

Номер патента: US20150221471A1. Автор: Zhigang Wang,Yusuke Abe,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09741535B2. Автор: Makoto Sato,Tatsuya Asahata,Shota Torikawa,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09336987B2. Автор: Makoto Sato,Tatsuya Asahata,Shota Torikawa,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-05-10.

Multiple charged-particle beam apparatus with low crosstalk

Номер патента: EP3977499A1. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Qingpo Xi. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-04-06.

Multiple charged-particle beam apparatus with low crosstalk

Номер патента: US12033830B2. Автор: Xuedong Liu,Weiming Ren,Xuerang Hu,Qingpo Xi. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-09.

Apparatus and Method for Fabrication of Shield Plate

Номер патента: US20240208762A1. Автор: Tsutomu Negishi,Munehiro Kozuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Apparatus and method for fabrication of shield plate

Номер патента: EP4394839A1. Автор: Tsutomu Negishi,Munehiro Kozuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-07-03.

Charged practicles beam apparatus and charged particles beam apparatus design method

Номер патента: US20140097352A1. Автор: Mamoru Nakasuji. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-04-10.

Charged-particle beam exposure apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US20120126136A1. Автор: Hirohito Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-24.

Charged particle beam device

Номер патента: US8212224B2. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Akiko Fujisawa,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2012-07-03.

Charged particle beam device

Номер патента: US11817289B2. Автор: Ryuji Yoshida,Tsunenori Nomaguchi,Shunichi Motomura,Takeharu Kato,Tadahiro KAWASAKI. Владелец: Japan Fine Ceramics Center. Дата публикации: 2023-11-14.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210118641A1. Автор: Ryuji Yoshida,Tsunenori Nomaguchi,Shunichi Motomura,Takeharu Kato,Tadahiro KAWASAKI. Владелец: Japan Fine Ceramics Center. Дата публикации: 2021-04-22.

Charged particle beam application device

Номер патента: US20150364290A1. Автор: Akira Ikegami,Naomasa Suzuki,Hideyuki Kazumi,Momoyo Enyama,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Charged particle beam application device

Номер патента: US09704687B2. Автор: Akira Ikegami,Naomasa Suzuki,Hideyuki Kazumi,Momoyo Enyama,Hideto Dohi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Charged particle device and charged particle apparatus

Номер патента: EP4391009A1. Автор: Erwin Paul SMAKMAN,Yan Ren,Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-26.

Charged particle beam device

Номер патента: EP4365926A1. Автор: Hajime Kawano,Toshiyuki Yokosuka,Hideyuki Kotsuji. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-08.

Charged particle device and charged particle apparatus

Номер патента: WO2024132486A1. Автор: Erwin Paul SMAKMAN,Yan Ren,Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Charged particle beam reflector device and electron microscope

Номер патента: EP2048690A3. Автор: Hirotami Koike,Shinichi Okada. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2010-12-15.

Techniques for controlling a charged particle beam

Номер патента: WO2009036267A3. Автор: Anthony Renau,Joseph C Olson,Russell J Low,Piotr R Lubicki. Владелец: Piotr R Lubicki. Дата публикации: 2009-06-11.

Beam manipulator in charged particle-beam apparatus

Номер патента: US20240355575A1. Автор: Vincent Claude BEUGIN,German AKSENOV,Pieter Lucas Brandt. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-24.

A beam manipulator in charged particle-beam apparatus

Номер патента: EP4457851A1. Автор: Vincent Claude BEUGIN,German AKSENOV,Pieter Lucas Brandt. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-11-06.

Semiconductor charged particle detector and methods thereof

Номер патента: WO2024028076A1. Автор: Sven Jansen,Padmakumar RAMACHANDRA RAO. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-02-08.

Particle beam system and method for operating the same

Номер патента: US20140217303A1. Автор: Volker Wieczorek,Josef Biberger,Ralph Pulwey. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2014-08-07.

Charged particle beam writing apparatus, and charged particle beam writing method

Номер патента: US09484185B2. Автор: Yasuo Kato,Noriaki Nakayamada,Mizuna Suganuma. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Charged particle beam inspection apparatus and method

Номер патента: WO2024132808A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI,Xuechen ZHU,Datong ZHANG. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-27.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210391143A1. Автор: Shuhei Yabu,Kazuki ISHIZAWA,Michio Hatano,Anoru SUGA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-12-16.

Charged particle detection system and multi-beamlet inspection system

Номер патента: EP2556527A1. Автор: Rainer Knippelmeyer. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2013-02-13.

Charged particle detection system and multi-beamlet inspection system

Номер патента: US09336981B2. Автор: Rainer Knippelmeyer. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-05-10.

Charged particle beam device

Номер патента: US20090218507A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Akiko Fujisawa,Eiko Nakazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2009-09-03.

Apparatus for contamination reduction in charged particle beam systems

Номер патента: WO2024160448A1. Автор: Shao-Wei Fu,Yinglong LI. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-08.

Apparatus for contamination reduction in charged particle beam systems

Номер патента: EP4439623A1. Автор: Shao-Wei Fu,Yinglong LI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-02.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: US20190096630A1. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2019-03-28.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: WO2016076718A2. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2016-05-19.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20230290606A1. Автор: Yusuke Nakamura,Shunsuke Mizutani,Muneyuki Fukuda,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Charged-particle beam apparatus with fast focus correction and methods thereof

Номер патента: WO2023237277A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI,Wei-Yu Chang. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-12-14.

Device and method for generating charged particle beam pulses

Номер патента: EP3218920A2. Автор: Pieter Kruit,Izaak Gerrit Cornelis WEPPELMAN. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2017-09-20.

Systems and methods for accurate layer detection and analysis in charged particle microscopes

Номер патента: US20240295473A1. Автор: Zoltan Oremus,Petra Binknerova,Hana Sandova. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: US12123841B2. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Charged Particle Beam Device and Method for Controlling Same

Номер патента: US20240242928A1. Автор: Koichi Kuroda. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: WO2021144468A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic Ip B.V.. Дата публикации: 2021-07-22.

Apparatus and method for projecting an array of multiple charged particle beamlets on a sample

Номер патента: EP4090955A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-11-23.

Charged-particle beam apparatus for voltage-contrast inspection and methods thereof

Номер патента: EP4437577A1. Автор: Chia Wen Lin,Xuedong Liu,Weiming Ren,Xiaoyu JI,Datong ZHANG. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-02.

Charged particle beam column and method of operating same

Номер патента: US8558190B2. Автор: Dirk Preikszas. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2013-10-15.

Magnetic Lens, Method for Focusing Charged Particles and Charged Particle Energy Analyzer

Номер патента: US20110012018A1. Автор: Bryan Barnard,Christopher Glenister. Владелец: VG Systems Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Aligning charged particle beams

Номер патента: WO2010039339A3. Автор: Raymond Hill. Владелец: Carl Zeiss Smt Inc.. Дата публикации: 2010-06-10.

Magnetic lens, method for focusing charged particles and charged particle energy analyzer

Номер патента: US8164066B2. Автор: Bryan Barnard,Christopher Glenister. Владелец: VG Systems Ltd. Дата публикации: 2012-04-24.

Charged particle beam column and method of operating same

Номер патента: US20100327179A1. Автор: Dirk Preikszas. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2010-12-30.

Generation and acceleration of charged particles using compact devices and systems

Номер патента: US09867272B2. Автор: Yue Shi,Amit Lal,Serhan Ardanuc,June-Ho HWANG,Farhan RANA. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-01-09.

Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20220238296A1. Автор: Tsunenori Nomaguchi,Shunichi Motomura. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-07-28.

Systems and methods for particle pulse modulation

Номер патента: US09842721B2. Автор: Nuh Gedik,Steven Glenn Johnson,Byron Freelon,Liang Jie Wong,Timm Rohwer. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2017-12-12.

Systems and methods for particle pulse modulation

Номер патента: US09536698B2. Автор: Nuh Gedik,Steven Glenn Johnson,Byron Freelon,Liang Jie Wong,Timm Rohwer. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2017-01-03.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US09673018B2. Автор: Haruyuki NOMURA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Charged particle beam column and method of operating same

Номер патента: US20120025095A1. Автор: Dirk Preikszas. Владелец: Carl Zeiss NTS GmbH. Дата публикации: 2012-02-02.

Method for making partial full-wafer pattern for charged particle beam lithography

Номер патента: US6277530B1. Автор: Yasuhisa Yamada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2001-08-21.

Method for structuring an object with the aid of a particle beam apparatus.

Номер патента: NL2015530A. Автор: Stegmaier Simon. Владелец: Zeiss Carl Microscopy Gmbh. Дата публикации: 2016-08-25.

Method for structuring an object with the aid of a particle beam apparatus.

Номер патента: NL2015530B1. Автор: Stegmaier Simon. Владелец: Zeiss Carl Microscopy Gmbh. Дата публикации: 2018-05-24.

Method for structuring an object with the aid of a particle beam apparatus

Номер патента: US09905395B2. Автор: Simon Stegmaier. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2018-02-27.

METHOD FOR SCANNING A SAMPLE BY A CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM

Номер патента: US20220084784A1. Автор: Wallow Thomas I.,Lyons Adam. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-17.

METHOD FOR SCANNING A SAMPLE BY A CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM

Номер патента: US20200211820A1. Автор: Wallow Thomas I.,Lyons Adam. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-02.

Method for acquiring simultaneous and overlapping optical and charged particle beam images

Номер патента: EP2601477A4. Автор: Thomas Moore,Cheryl Hartfield,Gregory Magel. Владелец: Omniprobe Inc. Дата публикации: 2017-07-05.

Method for preparing and analyzing an object as well as particle beam device for performing the method

Номер патента: US20150214004A1. Автор: Giuseppe Pavia. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2015-07-30.

System and method for calibrating charge-regulating module

Номер патента: US09536697B2. Автор: Jian Zhang,YAN Zhao,yi-xiang Wang. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Charged particle inspection method and charged particle system

Номер патента: US09324537B2. Автор: Rainer Knippelmeyer,Stefan Schubert,Thomas Kemen. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2016-04-26.

Charged particle beam device provided with ion pump

Номер патента: US20180158648A1. Автор: Fujio Onishi,Masazumi Tone,Hiroshi Touda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-07.

Systems and methods of energy discrimination of backscattered charged-particles

Номер патента: WO2024115029A1. Автор: Weiming Ren,Xiaoyu JI. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-06-06.

Rotatable targeting magnet apparatus and method of use thereof in conjunction with a charged particle cancer therapy system

Номер патента: US09757594B2. Автор: Vladimir Balakin. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-12.

System and method for distributed image recording and storage for charged particle systems

Номер патента: US20240205347A1. Автор: Wen-Ting Tai,Myunghoon Yoon,Yunxiang CHAI. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-06-20.

Combined aperture holder, beam blanker and vacuum feed through for electron beam, ion beam charged particle devices

Номер патента: US20070069149A1. Автор: Earl Weltmer. Владелец: SCANSERVICE Corp. Дата публикации: 2007-03-29.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: EP4250331A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-27.

Scanning charged-particle-beam microscopy with energy-dispersive x-ray spectroscopy

Номер патента: US12094684B1. Автор: Christopher Su-Yan OWN,Matthew Francis Murfitt. Владелец: Mochii Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Beam optical component having a charged particle lens

Номер патента: WO2005071709A2. Автор: Juergen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH. Дата публикации: 2005-08-04.

A beam manipulator in charged particle-beam apparatus

Номер патента: CA3242123A1. Автор: Vincent Claude BEUGIN,German AKSENOV,Pieter Lucas Brandt. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-06.

Charged-particle-beam projection-exposure method exhibiting aberration reduction through multiple deflector use

Номер патента: US6027841A. Автор: Shohei Suzuki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2000-02-22.

Beam blanker driver system and method

Номер патента: US7265361B2. Автор: Curt Blanding,Scott C. Stovall. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2007-09-04.

Beam blanker driver system and method

Номер патента: WO2007038416A2. Автор: Curt Blanding,Scott C. Stovall. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2007-04-05.

Apparatus and method for detecting one or more scanning charged particle beams

Номер патента: EP3977502A1. Автор: Andries Pieter Johan EFFTING,Lenard Maarten VOORTMAN. Владелец: Delmic IP BV. Дата публикации: 2022-04-06.

Apparatus and method for inspecting a surface of a sample

Номер патента: US09449789B2. Автор: Pieter Kruit. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2016-09-20.

Charged particle microscope for examining a specimen, and method of determining an aberration of said charged particle microscope

Номер патента: US12080512B2. Автор: Lubomír Tuma. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-09-03.

Reduction of power consumption for a charged particle system

Номер патента: US20240120171A1. Автор: Maarten Bischoff,Casper Smit,Corné VAN ROOIJ,Jamie Mc Cormack,Marcel Veerhoek,Joost Dierkse. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-11.

Reduction of power comsumption for a charged particle system

Номер патента: EP4354484A1. Автор: Maarten Bischoff,Casper Smit,Jamie McCormack,Corné VAN ROOIJ,Marcel Veerhoek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-04-17.

System and method for simultaneous detection of secondary electrons and light in a charged particle beam system

Номер патента: US20140131573A1. Автор: N. William Parker,Mark W. Utlaut. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2014-05-15.

System and method for simultaneous detection of secondary electrons and light in a charged particle beam system

Номер патента: US09494516B2. Автор: N. William Parker,Mark W. Utlaut. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-11-15.

Method for evaluating a region of an object

Номер патента: WO2020033170A1. Автор: Ron Naftali,Ofer Shneyour,Ronnie PORAT. Владелец: Applied Materials Israel Ltd.. Дата публикации: 2020-02-13.

Method for creating a smooth diagonal surface using a focused ion beam and an innovative scanning strategy

Номер патента: US20240234085A9. Автор: Yehuda Zur. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method for creating a smooth diagonal surface using a focused ion beam and an innovative scanning strategy

Номер патента: WO2024091829A1. Автор: Yehuda Zur. Владелец: Applied Materials Israel Ltd.. Дата публикации: 2024-05-02.

Inspection method for blanking device for blanking multi charged particle beams

Номер патента: US09880215B2. Автор: Hiroshi Yamashita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Method for analyzing an object and charged particle beam device for carrying out the method

Номер патента: US09620331B1. Автор: Edward Hill,Sreenivas Bhattiprolu. Владелец: Carl Zeiss Microscopy Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Thermal-aided inspection by advanced charge controller module in a charged particle system

Номер патента: US11728131B2. Автор: Jian Zhang,Jun Jiang,Ning Ye,Yixiang Wang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-08-15.

System and method for defect inspection using voltage contrast in a charged particle system

Номер патента: WO2021123075A1. Автор: Wei Fang,Lingling Pu,Zhengwei Zhou. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-06-24.

Thermal-aided inspection by advanced charge controller module in a charged particle system

Номер патента: US12125669B2. Автор: Jian Zhang,Jun Jiang,Ning Ye,Yixiang Wang. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-22.

Charged Particle Beam Drawing Apparatus and Control Method for Charged Particle Beam Drawing Apparatus

Номер патента: US20230075825A1. Автор: Yukinori Aida. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-03-09.

Charged particle assessment system and method

Номер патента: US20240288389A1. Автор: Peter Paul HEMPENIUS,Niels Johannes Maria BOSCH,Marco Jan-Jaco Wieland,Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-29.

Preparation of sample for charged-particle microscopy

Номер патента: US09772265B2. Автор: Hervé-William Rémigy. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-09-26.

Auto-tuning stage settling time with feedback in charged particle microscopy

Номер патента: US20230238207A1. Автор: Erik Franken,Yuchen Deng,Holger Kohr,Bart van Knippenberg. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-07-27.

Charged particle radiation apparatus

Номер патента: US9153418B2. Автор: Yoshihiro Kimura,Akihiro Miura,Fumihiro Sasajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-10-06.

Charged particle radiation apparatus

Номер патента: US20150076349A1. Автор: Yoshihiro Kimura,Akihiro Miura,Fumihiro Sasajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-03-19.

Charged particle beam device

Номер патента: US09543111B2. Автор: Yusuke Ominami,Masami Katsuyama,Sukehiro Ito. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Sample delivery, data acquisition, and analysis, and automation thereof, in charged-particle-beam microscopy

Номер патента: EP4356414A1. Автор: Chistopher Su-Yan OWN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-04-24.

Transmission charged particle microscope with an electron energy loss spectroscopy detector

Номер патента: US20240258067A1. Автор: Peter Christiaan Tiemeijer. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-08-01.

Charged particle beam apparatus and processing method

Номер патента: US09793092B2. Автор: Fumio Aramaki,Tomokazu Kozakai,Masashi Muramatsu. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Charged particle beam device

Номер патента: US09786468B2. Автор: Hideyuki Kazumi,Toshiyuki Yokosuka,Chahn Lee. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US09472372B2. Автор: Taku Yamada,Kenji Ohtoshi,Kaoru TSURUTA,Yasuyuki Taneda. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

Charged Particle Beam Apparatus and Image Acquisition Method

Номер патента: US20190362934A1. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Charged-Particle Beam Device

Номер патента: US20190393014A1. Автор: Akira Ikegami,Yasushi Ebizuka,Yuta Kawamoto,Naoma Ban. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Charged particle beam apparatus and image acquisition method

Номер патента: US10763077B2. Автор: Takeshi Otsuka. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-09-01.

Charged Particle Instrument Equipped with Optical Microscope

Номер патента: US20080296499A1. Автор: Jacob Simon Faber. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2008-12-04.

Charged particle beam device

Номер патента: US12051563B2. Автор: Hiroyuki Chiba,Wei Chean TAN,Ryo KOMATSUZAKI,Hirofumi Satou. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Multi charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US20200343073A1. Автор: HIROFUMI Morita,Mitsuhiro Okazawa. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-10-29.

Charged particle beam lithography apparatus and charged particle beam lithography method

Номер патента: US20180197717A1. Автор: Seiji WAKE. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-07-12.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20190362938A1. Автор: Chikako ABE,Hitoshi SUGAHARA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-11-28.

Charged particle beam system

Номер патента: US12068128B2. Автор: Yusuke Nakamura,Kenji Tanimoto,Takeyoshi Ohashi,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Charged Particle Beam System

Номер патента: US20240371601A1. Автор: Yusuke Nakamura,Kenji Tanimoto,Takeyoshi Ohashi,Yusuke Abe. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US09502212B2. Автор: Hitoshi Tamura,Minoru Yamazaki,Hideyuki Kazumi,Yuzuru MIZUHARA,Miki Isawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-22.

Charged particle beam device

Номер патента: US12046446B2. Автор: Hiroyuki Chiba,Hirofumi Sato,Wei Chean TAN,Ryo KOMATSUZAKI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: EP2834832A2. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Nalan M. SC LIV,Aernout Christian ZONNEVYLLE. Владелец: Delmic BV. Дата публикации: 2015-02-11.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20150228450A1. Автор: Hidekazu Suzuki,Tatsuya Asahata,Yo Yamamoto,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Charged particle optics components and their fabrication

Номер патента: US20240047171A1. Автор: Alexander Henstra,Luigi Mele,Ali Mohammadi-Gheidari. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-02-08.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20220230840A1. Автор: Shuntaro Ito,Hiromi MISE. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Charged particle beam device and inspection method

Номер патента: US12057288B2. Автор: Makoto Sakakibara,Hajime Kawano,Momoyo Enyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Energy Filter for Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20160035533A1. Автор: Shuai Li,Joe Wang,Zhongwei Chen,Weiming Ren. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2016-02-04.

Charged particle assessment tool, inspection method

Номер патента: US20240249912A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-25.

Charged particle beam device, and sample observation method employing same

Номер патента: US20240242925A1. Автор: Takeshi Ohmori,Shunya TANAKA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-07-18.

Charged-particle-beam device

Номер патента: US09960006B2. Автор: Hajime Kawano,Yuko Sasaki,Yasunari Sohda,Noritsugu Takahashi,Wataru Mori. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Integrated optical and charged particle inspection apparatus

Номер патента: US09715992B2. Автор: Pieter Kruit,Jacob Pieter Hoogenboom,Aernout Christiaan Zonnevylle,Nalan Liv. Владелец: Delmic BV. Дата публикации: 2017-07-25.

Charged particle beam apparatus and method for controlling charged beam apparatus

Номер патента: US20180182596A1. Автор: Hidekazu Suzuki. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2018-06-28.

Diaphragm mounting member and charged particle beam device

Номер патента: US09633817B2. Автор: Hiroyuki Suzuki,Yusuke Ominami,Shinsuke Kawanishi,Masahiko Ajima. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-04-25.

Charged particle assessment system and method of aligning a sample in a charged particle assessment system

Номер патента: US20240128045A1. Автор: Erwin Slot. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-04-18.

Charged particle apparatus and method

Номер патента: US20240145208A1. Автор: Erwin Slot,Bertil OSTERBERG Mans Johan. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-05-02.

Charged particle beam device

Номер патента: WO2004086452A2. Автор: Juergen Frosien. Владелец: Ict, Integrated Circuit Testing Gesellschaft Für Halbleiterprüftechnik Mbh. Дата публикации: 2004-10-07.

Application management for charged particle microscope devices

Номер патента: EP4333020A1. Автор: Pavel Potocek,Remco Schoenmakers,Maurice PEEMEN. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-03-06.

Method and system for plasma assisted low vacuum charged particle microscopy

Номер патента: EP3882950A1. Автор: James Bishop,Milos Toth,Daniel Totonjian,Chris Elbadawi,Charlene Lobo. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2021-09-22.

Charged particle assessment tool, inspection method and image

Номер патента: US20230304949A1. Автор: Roy Ramon VEENSTRA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-09-28.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: EP4250330A1. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi,Nobuyuki Ikeo,Kazushiro Yokouchi,Konomi Ikita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-27.

Charged Particle Beam Apparatus

Номер патента: US20230307206A1. Автор: Tatsuya Uchida,Kenichi Tsutsumi,Nobuyuki Ikeo,Kazushiro Yokouchi,Konomi Ikita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Method of examining a sample using a charged particle microscope

Номер патента: US20200355633A1. Автор: Tomas Tuma,Jan Klusacek,Jiri Petrek. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2020-11-12.

Adjusting method of charged particle beam device and charged particle beam device system

Номер патента: US12001521B2. Автор: Muneyuki Fukuda,Natsuki Tsuno,Heita KIMIZUKA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20130105690A1. Автор: Satoshi Takada,Tatsuichi Katou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-05-02.

Method for structuring an object with the aid of a particle beam apparatus

Номер патента: US20160090645A1. Автор: Simon Stegmaier. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2016-03-31.

Method for structuring an object with the aid of a particle beam device

Номер патента: DE102014014572A1. Автор: Simon Stegmaier. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2016-03-31.

Charged-particle analyzer

Номер патента: US4135088A. Автор: Isao Ishikawa,Katsuhisa Usami,Michiyasu Itoh. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1979-01-16.

Method for Alignment Free Ion Column

Номер патента: US20240222067A1. Автор: Radek Smolka,Branislav Straka,Lukas Zabransky,Marek Melichar. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-07-04.

Charged particle beam device and inspection device

Номер патента: US20240297012A1. Автор: Makoto Suzuki,Hiroki Kawada,Atsuko SHINTANI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Apparatus and method

Номер патента: EP3033613A1. Автор: Saulius Juodkazis,Gediminas GERVINSKAS,Gediminas SENIUTINAS. Владелец: Swinburne University of Technology. Дата публикации: 2016-06-22.

Enclosure and method for handling electron gun or ion gun

Номер патента: US09496673B2. Автор: Yoshinori Terui,Toshiyuki Morishita,Shimpei Hirokawa. Владелец: Denka Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Detector assembly, charged particle device, apparatus, and methods

Номер патента: US20240264099A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-08.

Detector assembly, charged particle device, apparatus, and methods

Номер патента: EP4420148A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-28.

Detecting charged particle events at high dose rates

Номер патента: EP4390462A1. Автор: Bart Janssen,Auke van der Heide,Jaap Mulder. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-26.

Detecting charged particle events at high dose rates

Номер патента: US20240212974A1. Автор: Bart Janssen,Auke van der Heide,Jaap Mulder. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-27.

Defective pixel management in charged particle microscopy

Номер патента: US11742175B2. Автор: Bart Jozef Janssen,Erik Michiel Franken. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2023-08-29.

Charged particle apparatus

Номер патента: WO2024068252A1. Автор: Marijke SCOTUZZI,Vincent Sylvester KUIPER. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-04-04.

Charged-particle beam microscope with an evaporator

Номер патента: US09899186B1. Автор: Christopher Su-Yan OWN,Matthew Francis Murfitt. Владелец: Mochii Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Charged particle beam exposure apparatus and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09824860B2. Автор: Akio Yamada. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Charged particle beam device and power supply device

Номер патента: US20220068595A1. Автор: Wen Li,Makoto Suzuki,Hiroyuki Takahashi,Yuzuru MIZUHARA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-03-03.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20200365368A1. Автор: Keisuke Goto,Kiyoshi Nakaso. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-11-19.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20150221473A1. Автор: Makoto Sato,Tatsuya Asahata,Shota Torikawa,Atsushi Uemoto. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US20150228443A1. Автор: Makoto Sakakibara,Kenichi Morita,Kenji Obara,Muneyuki Fukuda,Naomasa Suzuki,Sayaka Tanimoto. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Emitter for emitting charged particles

Номер патента: EP4182960A1. Автор: Jurgen VAN SOEST. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-05-24.

Charged Particle Beam Writing Apparatus and Charged Particle Beam Writing Method

Номер патента: US20190027340A1. Автор: Satoru Hirose,Ryosuke Ueba,Rieko Nishimura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

Charged particle sensors including wide bandgap materials

Номер патента: EP4386811A1. Автор: Libor Novak,Jan Lásko,Radek Smolka,Petr Glajc,Branislav Straka,Vojtêch Mahel. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-06-19.

Transresistance amplifier for a charged particle detector

Номер патента: EP1510002A1. Автор: Andrew Philip The Maltings ARMIT. Владелец: Leo Electron Microscopy Ltd. Дата публикации: 2005-03-02.

Transresistance amplifier for a charged particle detector

Номер патента: WO2003103138A1. Автор: Andrew Philip Armit. Владелец: Leo Electron Microscopy Limited. Дата публикации: 2003-12-11.

Charged Particle Beam Device

Номер патента: US20210272768A1. Автор: Masaaki Komatsu,Shin Imamura,Shuhei Yabu,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Charged-particle optical device

Номер патента: US20240321547A1. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-09-26.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US09734981B2. Автор: Hitoshi Higurashi,Saori GOMI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Sample holder and charged particle device

Номер патента: US09721752B2. Автор: Takeshi Sato,Hiroaki Matsumoto,Yasuhira Nagakubo,Isao Nagaoki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Charged particle beam irradiation apparatus

Номер патента: US09343265B2. Автор: Hisayuki Takasu,Asako Kaneko,Hirobumi Mutou. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-17.

Method for making specimen and apparatus thereof

Номер патента: US5656811A. Автор: Hiroshi Yamaguchi,Akira Shimase,Takashi Kamimura,Toshihiko Nakata,Fumikazu Itoh,Tohru Ishitani. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1997-08-12.

Method for processing samples held by a nanomanipulator

Номер патента: WO2013022917A2. Автор: Brian Miller,Thomas Moore,Cheryl Hartfield. Владелец: Omniprobe, Inc.. Дата публикации: 2013-02-14.

Method for changing the direction of a charged particle beam

Номер патента: EP2620951A4. Автор: Muradin Abubekirovich Kumakhov. Владелец: Muradin Abubekirovich Kumakhov. Дата публикации: 2015-04-01.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: EP1751784A2. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2007-02-14.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: WO2005119361A3. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Ltd. Дата публикации: 2006-03-23.

Apparatus for blanking a charged particle beam

Номер патента: WO2005119361A2. Автор: Tao Zhang. Владелец: Nanobeam Limited. Дата публикации: 2005-12-15.

Device and method for calibrating a charged-particle beam

Номер патента: EP4428896A1. Автор: Elmar Platzgummer. Владелец: IMS Nanofabrication GmbH. Дата публикации: 2024-09-11.

Device and Method for Calibrating a Charged-Particle Beam

Номер патента: US20240304407A1. Автор: Elmar Platzgummer. Владелец: IMS Nanofabrication GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Drawing apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09455124B2. Автор: Yoshihiro Hirata,Masato Muraki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Charged particle lithography system and beam generator

Номер патента: US09653261B2. Автор: Alexander Hendrik Vincent van Veen,Willem Henk URBANUS. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2017-05-16.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US9812289B2. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US9514915B2. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-06.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US20160141162A1. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-19.

Charged particle optical system and charged particle apparatus

Номер патента: EP4333017A1. Автор: Motofusa Ishikawa,Tomoya Uchida,Yuta Komatsu,Baku Ogasawara,Takakuni Goto,Shunta KUSU. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US20160365223A1. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-12-15.

Charged particle beam lithography apparatus and charged particle beam pattern writing method

Номер патента: US20200266033A1. Автор: Munehiro Ogasawara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2020-08-20.

Circuit pattern design method,exposure method, charged-particle beam exposure system

Номер патента: US20020010906A1. Автор: Ryoichi Inanami,Shunko Magoshi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2002-01-24.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US20170117127A1. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-27.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: WO2015133558A1. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2015-09-11.

Charged particle optical system and charged particle apparatus

Номер патента: US20240212969A1. Автор: Motofusa Ishikawa,Tomoya Uchida,Yuta Komatsu,Baku Ogasawara,Takakuni Goto,Shunta KUSU. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Method for evaluating charged particle beam drawing apparatus

Номер патента: US20160233052A1. Автор: Satoru Hirose,Takayuki Ohnishi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-08-11.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US09679756B2. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Projection-type charged particle optical system and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US09570276B2. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Charged particle detector assembly

Номер патента: US20240272312A1. Автор: Albertus Victor Gerardus MANGNUS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-15.

Charged particle beam writing device and charged particle beam writing method

Номер патента: US20220301818A1. Автор: Junpei YASUDA,Naoto WAKUI. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Apparatus and method for irradiating a surface of a sample using charged particle beams

Номер патента: NL2016853B1. Автор: KRUIT Pieter,Wouter Hagen Cornelis,Scotuzzi Marijke. Владелец: Univ Delft Tech. Дата публикации: 2017-12-11.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US20180061614A1. Автор: Yasuo Kato,Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-01.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US20190122857A1. Автор: Yasuo Kato,Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-04-25.

Charged particle detector

Номер патента: US20240280517A1. Автор: Albertus Victor Gerardus MANGNUS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-22.

Charged particle beam writing apparatus, aperture unit, and charged particle beam writing method

Номер патента: US09449792B2. Автор: Tetsuro Nishiyama. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Devices and methods for monitoring respective operating temperatures of components in a microlithography apparatus

Номер патента: US20020125447A1. Автор: Jin Udagawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2002-09-12.

Multi charged particle beam exposure method and multi charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US10134565B2. Автор: Hiroshi Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-11-20.

Charged particle beam drawing apparatus and charged particle beam drawing method

Номер патента: US09812284B2. Автор: Hideki Matsui. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Charged particle image measuring device and imaging mass spectrometry apparatus

Номер патента: US09754772B2. Автор: Hiroyuki Hashimoto,Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: SE545450C2. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2023-09-12.

Apparatus and method for trapping charged particles and performing controlled interactions between them

Номер патента: US8426809B2. Автор: Muir KUMPH. Владелец: UNIVERSITAET INNSBRUCK. Дата публикации: 2013-04-23.

Scan strategies to minimize charging effects and radiation damage of charged particle beam metrology system

Номер патента: EP3762779A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2021-01-13.

Scan strategies to minimize charging effects and radiation damage of charged particle beam metrology system

Номер патента: WO2019173252A1. Автор: HONG Xiao. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-12.

Method and apparatus for generation of a uniform-profile particle beam

Номер патента: US09953798B2. Автор: Brian Patrick Wilfley,Josh Star-Lack,Thomas A CASE. Владелец: Novaray Medical Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Apparatuses and methods for analysing charged species

Номер патента: WO2015011029A3. Автор: Michael Hopkins,David Gahan. Владелец: IMPEDANS LTD. Дата публикации: 2015-03-26.

Apparatuses and methods for analysing charged species

Номер патента: WO2015011029A2. Автор: Michael Hopkins,David Gahan. Владелец: IMPEDANS LTD. Дата публикации: 2015-01-29.

Charged particle acceleration apparatus and method

Номер патента: WO2007133225A3. Автор: Jonathan Gorrell,Mark Davidson,Michael E Maines,Paul K Hart. Владелец: Virgin Islands Microsystems. Дата публикации: 2009-04-16.

An illumination control device for a charged particle analyser

Номер патента: WO2022177487A1. Автор: Mikael OLOFSSON. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2022-08-25.

Charged particle beam targets

Номер патента: WO2014091195A1. Автор: Ivan KONOPLEV. Владелец: ISIS INNOVATION LIMITED. Дата публикации: 2014-06-19.

Particle detector for detecting charged particles

Номер патента: EP4118425A1. Автор: Alexander Laue,Michel Aliman. Владелец: Leybold GmbH. Дата публикации: 2023-01-18.

Particle detector for detecting charged particles

Номер патента: WO2021180653A1. Автор: Alexander Laue,Michel Aliman. Владелец: Leybold GmbH. Дата публикации: 2021-09-16.

Charged particle counting device, manufacturing method thereof, and charged particle counting system

Номер патента: US20190171924A1. Автор: Changcheng JU. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Charged particle counting device, manufacturing method thereof, and charged particle counting system

Номер патента: US10872288B2. Автор: Changcheng JU. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-22.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: WO2022203566A1. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2022-09-29.

Charged particle spectrometer and method for calibration

Номер патента: EP4314902A1. Автор: Takahiro Hashimoto,Tomas WIELL. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2024-02-07.

Charged-particle beam writing apparatus and charged-particle beam writing method

Номер патента: US20190355553A1. Автор: Takashi Kamikubo,Haruyuki NOMURA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2019-11-21.

An illumination control device for a charged particle analyser

Номер патента: US20240310309A1. Автор: Mikael OLOFSSON. Владелец: Scienta Omicron AB. Дата публикации: 2024-09-19.

Charged particle detection for spectroscopic techniques

Номер патента: US12117406B2. Автор: Bryan Barnard,Pavel Stejskal. Владелец: VG Systems Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Charged particle beam device and inspection device

Номер патента: US09824938B2. Автор: Osamu Inoue,Atsuko Yamaguchi,Hiroki Kawada. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Isolation of charged particle optics from vacuum chamber deformations

Номер патента: EP3198626A1. Автор: Gershon Perelman. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2017-08-02.

Charged particle beam apparatus

Номер патента: US11747292B2. Автор: Hiroyuki Chiba,Wei Chean TAN. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Charged particle beam writing apparatus and charged particle beam writing method

Номер патента: US09478391B2. Автор: Hironobu Matsumoto. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-10-25.

Isolation of charged particle optics from vacuum chamber deformations

Номер патента: US09449805B2. Автор: Gershon Perelman. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2016-09-20.

Charged particle beam treatment apparatus and method of adjusting path length of charged particle beam

Номер патента: US20150270098A1. Автор: Shinji Iwanaga. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2015-09-24.

Method and device for changing the direction of movement of a beam of accelerated charged particles

Номер патента: US09779905B2. Автор: Muradin Abubekirovich Kumakhov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-10-03.

Systems and methods for providing a beam of charged particles

Номер патента: US20210265125A1. Автор: Evgeny Papeer,Assaf Shaham,Ynon Hefets,Indranuj Dey,Alexander Bespaly,Shai TSIPSHTEIN. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-08-26.

System and method for identifying, selecting and purifying particles

Номер патента: US20240050895A1. Автор: Martin F. JARROLD,David E. Clemmer,Brooke A. BROWN. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2024-02-15.

System and method for identifying, selecting and purifying particles

Номер патента: EP4041434A1. Автор: Martin F. JARROLD,David E. Clemmer,Brooke A. BROWN. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2022-08-17.

Systems and methods for providing a beam of charged particles

Номер патента: WO2020012247A3. Автор: Evgeny Papeer,Assaf Shaham,Ynon Hefets,Indranuj Dey,Alexander Bespaly,Shai TSIPSHTEIN. Владелец: Ynon Hefets. Дата публикации: 2020-07-23.

Systems and methods for charge state assignment in mass spectrometry

Номер патента: EP4193379A1. Автор: Gordana Ivosev,Nic Bloomfield,Pavel Ryumin. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2023-06-14.

Systems and methods for charge state assignment in mass spectrometry

Номер патента: US20230298876A1. Автор: Gordana Ivosev,Nic Bloomfield,Pavel Ryumin. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2023-09-21.

System and method for identifying, selecting and purifying particles

Номер патента: CA3156821A1. Автор: Martin F. JARROLD,David E. Clemmer,Brooke A. BROWN. Владелец: Indiana University. Дата публикации: 2021-04-15.

Charged particle imaging system and use thereof

Номер патента: WO2022221948A1. Автор: Rodney HERRING. Владелец: HERRING Rodney. Дата публикации: 2022-10-27.

System and method for identifying, selecting and purifying particles

Номер патента: WO2021072186A1. Автор: Martin F. JARROLD,David E. Clemmer,Brooke A. BROWN. Владелец: The Trustees of Indiana University. Дата публикации: 2021-04-15.

Charged-particle detector and method of controlling the same

Номер патента: US09934952B2. Автор: Masahiro Hayashi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2018-04-03.

Particle beam transport apparatus

Номер патента: US09818573B2. Автор: Willem Kleeven,Michel Abs,Szymon Zaremba. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2017-11-14.

Charged particle beam writing apparatus and method therefor

Номер патента: US09552963B2. Автор: Shusuke Yoshitake. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-01-24.

Charged particle translation slide control apparatus and method of use thereof

Номер патента: US9737734B2. Автор: Susan L. Michaud,Stephen L. Spotts. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-22.

Charged particle translation slide control apparatus and method of use thereof

Номер патента: US9907981B2. Автор: Susan L. Michaud,Daniel J. Raymond,Stephen L. Spotts. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-03-06.

System and method for controlling battery cool-down

Номер патента: US20100013648A1. Автор: Roger Altman. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-01-21.

Systems and methods for deposition of molybdenum for source/drain contacts

Номер патента: US20230298902A1. Автор: Dong Li,Petri Raisanen,Eric James Shero,Jiyeon Kim. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2023-09-21.

System and method for positioning a vehicle at a charging station

Номер патента: US20220194244A1. Автор: Mikaela ÖHMAN,Victor SANDGREN,Jingxu Gu. Владелец: Volvo Truck Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Method for Forming Circular Patterns on a Surface

Номер патента: US20150082258A1. Автор: Michael Tucker,Akira Fujimura. Владелец: D2S Inc. Дата публикации: 2015-03-19.

Apparatus and method for manufacturing a light-emitting device using a neutral particle beam

Номер патента: EP2690651A4. Автор: Suk Jae Yoo,Seong Bong Kim. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2014-12-31.

Method for lowering the pressure in a charge-discharge lock and associated equipment

Номер патента: CN102282663A. Автор: J·布努阿尔,J-M·福雷. Владелец: Alcatel Lucent SAS. Дата публикации: 2011-12-14.

Textile-type electronic component package and method, method for mounting the same on textile

Номер патента: KR101199483B1. Автор: 김지은,손용기,김배선. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2012-11-09.

Apparatus and method for isotope production based on a charged particle accelerator

Номер патента: US20190075645A1. Автор: Yong Jiang,Jay L. Hirshfield. Владелец: Omega-P R&d Inc. Дата публикации: 2019-03-07.

Electronic device and methode for implementing logic functions and for guiding charged particles

Номер патента: US20130335118A1. Автор: Ron Naaman,Erez Halahmi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-12-19.

Electronic device and method for implementing logic functions and for guiding charged particles

Номер патента: WO2012101581A1. Автор: Ron Naaman,Erez Halahmi. Владелец: Novatrans Group SA. Дата публикации: 2012-08-02.

System and method for condition monitoring and controlling a charging level of at least one capacitor

Номер патента: US20180219388A1. Автор: Fredrik Gundersen Aarskog. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2018-08-02.

Systems and methods for estimating output current of a charge pump

Номер патента: US20240159801A1. Автор: Antony Christopher Routledge,Alok Kumar Mittal. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

System and method for condition monitoring and controlling a charging level of at least one capacitor

Номер патента: EP3146614A1. Автор: Fredrik Gundersen Aarskog. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-03-29.

Method for exposing a wafer

Номер патента: US09978562B2. Автор: Marco Jan-Jaco Wieland,Teunis Van De Peut. Владелец: Mapper Lithopraphy IP BV. Дата публикации: 2018-05-22.

Charging system and method for electronic device controlled by audio output

Номер патента: US20090108809A1. Автор: Wei SHIH,Tom Chen,Win-Harn Liu,Juen Liou,Tien-Yung SHIH. Владелец: Inventec Corp. Дата публикации: 2009-04-30.

Electromagnet and charged particle accelerator

Номер патента: US20240008165A1. Автор: Yujiro Tajima,Ryuki YOKOTA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

System and Method for Robotic Battery Exchange for Local Use Vehicles

Номер патента: US20240234926A9. Автор: Michael Walker,John Ward,Ethan Oliver. Владелец: Lion Power LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Liquid shaping with charged particle beams

Номер патента: US20220381654A1. Автор: Libor Novak,Tomás Kazda. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-12-01.

Liquid shaping with charged particle beams

Номер патента: EP4095940A1. Автор: Libor Novak,Tomás Kazda. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2022-11-30.

Apparatus, system and method for charging a battery

Номер патента: NZ766088A. Автор: AHUNAI Somphote,Gang Liu,Jian Hua Li,Wen Wu PAN,Xiao Meng DENG,Cao Kai ZHENG,Zhao Hui PENG. Владелец: Mine Mobility Res Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-26.

System and Method for Selectively Charging Batteries for Local Use Vehicles

Номер патента: US20240234923A9. Автор: Michael Walker,John Ward. Владелец: Lion Power LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Systems and methods for charging a cleaning solution used for cleaning integrated circuit substrates

Номер патента: EP1774578A1. Автор: Suraj Puri. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-04-18.

System and method for selectively charging batteries for local use vehicles

Номер патента: WO2024086423A4. Автор: Michael Walker,John Ward. Владелец: Lion Power, LLC. Дата публикации: 2024-06-13.

System and method for rapid charging lithium ion battery

Номер патента: US20200136173A1. Автор: Song-Yul Choe,Sungmin Hong,Minseok Song. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Method for opportunistically balancing charge between battery cells

Номер патента: US09450426B2. Автор: Brian D. Rutkowski,Brian C. Moorhead. Владелец: A123 Systems LLC. Дата публикации: 2016-09-20.

Device for measuring mean free path, vacuum gauge, and method for measuring mean free path

Номер патента: US20120235034A1. Автор: Yoshiro Shiokawa,Megumi Nakamura,Qiang Peng. Владелец: Canon Anelva Corp. Дата публикации: 2012-09-20.

Structure and method for determining a defect in integrated circuit manufacturing process

Номер патента: US9035674B2. Автор: HONG Xiao,Jack Y. Jau,CHANG CHUN YEH. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2015-05-19.

Electronic device and method for charging a battery

Номер патента: US11750012B2. Автор: Shan Zhu,Fei Wu,Ting GUAN. Владелец: Ningde Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Systems and methods for charging batteries

Номер патента: US20230246466A1. Автор: Joseph J. Viavattine. Владелец: MEDTRONIC INC. Дата публикации: 2023-08-03.

Electronic device and method for charging battery

Номер патента: US12095299B2. Автор: Shan Zhu,Fei Wu,Ting GUAN. Владелец: Ningde Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Device and method for controlling charging of battery pack

Номер патента: EP4447258A1. Автор: Jaewoo KAM. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Device and method for controlling charging of battery pack

Номер патента: US20240339853A1. Автор: Jaewoo KAM. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Device and method for achieving dynamic charging and balance of battery cells and rechargeable battery device

Номер патента: US20220329079A1. Автор: Chia-Chang Hsu. Владелец: Prolific Technology Inc. Дата публикации: 2022-10-13.

Systems and method of battery charging

Номер патента: US20210362619A1. Автор: Kent Snyder,Minghong Liu. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2021-11-25.

Chilled Compressed Air Electric Vehicle (EV) Fast-Charge System and Method

Номер патента: US20240075832A1. Автор: Altin Dabulla,Joseph Iamartino,Therese Stevens. Владелец: RSCC Wire and Cable LLC. Дата публикации: 2024-03-07.

Apparatus and method for estimating state of secondary battery

Номер патента: EP3674733A1. Автор: Jin-hyung Lim,Se-Wook Seo,Cheol-Soo Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-07-01.

System and method for charging battery

Номер патента: US20200182942A1. Автор: Jae Hoon Choi,Byung Jo Jeong,Yoon Jun Lee. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Device and method for contact-connecting an electric vehicle to a charging station, and charging station

Номер патента: US20240297509A1. Автор: Dirk Wolf,Oliver Blum. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-09-05.

Charging mode switching circuit and method

Номер патента: US09935476B2. Автор: Biao Chen,Jialiang Zhang,Kewei Wu,Huihuang ZHOU. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2018-04-03.

Device and method for charging control

Номер патента: US20170305404A1. Автор: Yuji Sasaki,Ryuko KOMATSU. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-26.

Battery charging apparatus and method for vehicle

Номер патента: US20220001770A1. Автор: Sangkyu Lee,Young Chan Byun. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2022-01-06.

Solid-state imaging device and method for manufacturing same, and electronic apparatus

Номер патента: EP3748956A1. Автор: Kyohei Mizuta. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2020-12-09.

Apparatus and method for in-line charging of a pipeline tool

Номер патента: EP2971933A1. Автор: Peter Taylor,Paul Laursen,Corry Comello,Daryl SPEERS. Владелец: INVODANE ENGINEERING LTD. Дата публикации: 2016-01-20.

Apparatus and method for in-line charging of a pipeline tool

Номер патента: CA2904228C. Автор: Peter Taylor,Paul Laursen,Corry Comello,Daryl SPEERS. Владелец: INVODANE ENGINEERING LTD. Дата публикации: 2020-11-17.

Apparatus and method for charging a load handling device

Номер патента: AU2024219456A1. Автор: Robert STADIE,Keith HABBEN. Владелец: Ocado Innovation Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Induction charge transfer system and method for neutralizing electrostatic charge generation

Номер патента: US09956932B2. Автор: Michael S. McBeth. Владелец: US Department of Navy. Дата публикации: 2018-05-01.

Device and method for charging control

Номер патента: US09950704B2. Автор: Yuji Sasaki,Ryuko KOMATSU. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Apparatus and method for in-line charging of a pipeline tool

Номер патента: US09728817B2. Автор: Peter Taylor,Paul Laursen,Corry Comello,Daryl SPEERS. Владелец: INVODANE ENGINEERING LTD. Дата публикации: 2017-08-08.

Charging device and method for preventing dew condensation of charging device

Номер патента: AU2023237011A1. Автор: Wei Sun,Stefano DE CESARIS. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2024-04-11.

System and method to assist in vehicle positioning

Номер патента: US09776520B2. Автор: Keyur M SHAH. Владелец: PROTERRA INC. Дата публикации: 2017-10-03.

Charging device and method for preventing dew condensation of charging device

Номер патента: US20240106251A1. Автор: Wei Sun,Stefano DE CESARIS. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2024-03-28.

Electronic device and method for implementing logic functions and for guiding charged particles

Номер патента: IL227400A0. Автор: . Владелец: Erez Halahmi. Дата публикации: 2013-09-30.

Electronic device and method for implementing logic functions and for guiding charged particles

Номер патента: IL227400A. Автор: Ron Naaman,Erez Halahmi. Владелец: Erez Halahmi. Дата публикации: 2015-01-29.

System and method for managing a cable of an electric vehicle charging station

Номер патента: CA3216787A1. Автор: Karl-Olivier THERRIEN. Владелец: Evera Technologies Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Apparatus and method for isotope production based on a charged particle accelerator

Номер патента: US20190075645A1. Автор: Yong Jiang,Jay L. Hirshfield. Владелец: Omega-P R&d Inc. Дата публикации: 2019-03-07.

System and method to assist in vehicle positioning

Номер патента: US20160280085A1. Автор: Keyur M SHAH. Владелец: PROTERRA INC. Дата публикации: 2016-09-29.

Method for heat dissipation control of charging base, and terminal device

Номер патента: US11812593B2. Автор: Jiangang Bi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-07.

Remotely accessible system for deriving component states via a charging socket

Номер патента: US20240067032A1. Автор: Jens Konczak. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-02-29.

Method for heat dissipation control of charging base, and terminal device

Номер патента: US20220312650A1. Автор: Jiangang Bi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Method for charging micromobility and charging stand therefor

Номер патента: US20240067006A1. Автор: Jae Dong Shin,Yong Kyu YOO,Ho Kwon NA. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

A charging device and a method for preventing condensation of the charging device

Номер патента: EP4344933A1. Автор: Wei Sun,Stefano DE CESARIS. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2024-04-03.

ELECTRONIC DEVICE AND METHODE FOR IMPLEMENTING LOGIC FUNCTIONS AND FOR GUIDING CHARGED PARTICLES

Номер патента: US20130335118A1. Автор: Naaman Ron,Halahmi Erez. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-19.

METHOD FOR CHARGING A BATTERY WITH A CHARGING TERMINAL

Номер патента: FR3087899A1. Автор: Thomas Dreumont,Thibaud Rolland,Marine Astorg. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-01.

System and method for determining a break in a charging wire

Номер патента: DE102005056069B4. Автор: Toru Aoyama. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2019-01-10.

System and method for determining a break in a charging wire

Номер патента: DE102005056069A1. Автор: Toru Kariya Aoyama. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2006-06-01.

Method for Determining the Position of a Charging Station for the Wireless Transfer of Electric Power to a Vehicle

Номер патента: US20190291597A1. Автор: KRAMMER Josef,KONSCHAK Thomas. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

Method for controlling an accumulator on a charging device

Номер патента: US20210066944A1. Автор: Mayer Stefan,HAUSER Klaus,KOSCHECK David. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-04.

Method for controlling the strength of a charging current

Номер патента: GB9511713D0. Автор: . Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 1995-08-02.

Systems and methods for providing targeted advertisements to a charging station for electric vehicles

Номер патента: CA2954525C. Автор: Scott Mercer,Michael MENENDEZ. Владелец: Volta Charging LLC. Дата публикации: 2024-03-19.

Systems and methods for providing targeted advertisements to a charging station for electric vehicles

Номер патента: CA3229217A1. Автор: Scott Mercer,Michael MENENDEZ. Владелец: Volta Charging LLC. Дата публикации: 2016-01-14.

System and method for extending the life of a charge receptor in a xerographic printer

Номер патента: US20050111868A1. Автор: Rachael McGrath,John Facci. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2005-05-26.

Method for producing a rotor of a charging apparatus

Номер патента: US09970309B2. Автор: Michal Klusácek. Владелец: Bosch Mahle Turbo Systems GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-05-15.

Method for detecting the failure of a charge air cooler

Номер патента: US09632008B2. Автор: Ludovic Martin,Clement Petit,Iwona Jedruch,Mathieu Mefflet. Владелец: RENAULT SAS. Дата публикации: 2017-04-25.

Method for authenticating a user to a charging station

Номер патента: WO2023163641A1. Автор: Nils-Arne Lindström. Владелец: Qt Systems Ab. Дата публикации: 2023-08-31.

Beam transport system and method for linear accelerators

Номер патента: EP2158796A1. Автор: Scott Nelson,George J. Caporaso,Yu-Jiuan Chen. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2010-03-03.

Charged particle beam extraction system and method

Номер патента: EP1732369A3. Автор: Takahide Nakayama,Takayoshi Hitachi Ltd. IPO 12F Natori,Masaki Hitachi Ltd. IPO 12F Yanagisawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2010-01-20.

Charged particle beam extraction method using pulse voltage

Номер патента: US20120200237A1. Автор: Satoru Yamada,Kota Torikai. Владелец: Gunma University NUC. Дата публикации: 2012-08-09.

Charged particle induction from ionosphere to ground

Номер патента: US20160029467A1. Автор: Glenn E. Lane. Владелец: GLENN LANE FAMILY Ltd LIABILITY LP. Дата публикации: 2016-01-28.

Particle beam therapy system

Номер патента: US09776019B2. Автор: Kazuyoshi Saito,Takuya Nomura,Hideaki Nishiuchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Charged particle induction from ionosphere to ground

Номер патента: US09554452B2. Автор: Glenn E. Lane. Владелец: GLENN LANE FAMILY Ltd LIABILITY LP. Дата публикации: 2017-01-24.

Charging system and method for electric vehicle

Номер патента: EP4124501A1. Автор: Sang Ho Kim,Kyung Soo Bae. Владелец: Daeyoung Chaevi Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-01.

Systems and Methods for Adaptive USB Charging

Номер патента: US20240291308A1. Автор: Andrea Carolina Hacker Davidson,Travers Kenton Buda. Владелец: Noco Co. Дата публикации: 2024-08-29.

Systems and methods for adaptive usb charging

Номер патента: WO2024177682A1. Автор: Andrea Carolina Hacker Davidson,Travers Kenton Buda. Владелец: THE NOCO COMPANY. Дата публикации: 2024-08-29.

Mobile robot and method for docking the mobile robot with charging station

Номер патента: US09874875B2. Автор: Byung Jo SUH. Владелец: Varram System Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Method and system of beam injection to charged particle storage ring

Номер патента: US09655226B2. Автор: Hironari Yamada. Владелец: PHOTON PRODUCTION LABORATORY Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Charging Device and Method for Commonly Charging Multiple Digital Electronic Devices

Номер патента: US20150349580A1. Автор: Chao-Hung Chang,Lien-Kai Chou,Chi-Fa HSU. Владелец: Aver Information Inc. Дата публикации: 2015-12-03.

Apparatus and method for controlling charge current in portable terminal

Номер патента: US09509165B2. Автор: Sang-Soon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

Systems and Methods for Alerting Users to Device Low Battery States

Номер патента: US20240233510A9. Автор: John P. Evans,Mariya Wright. Владелец: Zebra Technologies Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Battery powered system and method for charging

Номер патента: US20160190824A1. Автор: Robert H. Edwards,Paul W. Mcleod,Russell William King,Matthew S. Brackx. Владелец: Club Car LLC. Дата публикации: 2016-06-30.

Charging device and method for aligning charging device with vehicle for charging

Номер патента: US20210339643A1. Автор: Szu-Chi Peng,Liang-Kao Chang. Владелец: Triple Win Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Systems and methods for battery charging

Номер патента: US09893542B2. Автор: Sheba Devan,Ramesh C Bhardwaj,Tai Sup HWANG. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2018-02-13.

Automatically selecting a charging station for an electric vehicle

Номер патента: US20240210189A1. Автор: Forrest North,Armen PETROSIAN,Lucas MANFIELD,Nick WILD. Владелец: Recargo Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Charging circuit and method for electronic device, device and storage medium

Номер патента: EP3761476A1. Автор: Chen Tian. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2021-01-06.

Terminal and method for charging the same

Номер патента: WO2018129992A1. Автор: Qiang Zhang,Fuchun LIAO,Fanhong KONG. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP., LTD.. Дата публикации: 2018-07-19.

Charging systems and methods for telecommunications

Номер патента: US20140227994A1. Автор: Chris CHU,Björn RINGBERG,Peter LÖWENADLER. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2014-08-14.

System and method for externally controlling the charging of a battery powered device

Номер патента: EP2561594A1. Автор: Lawrence Forsythe. Владелец: Psion Inc. Дата публикации: 2013-02-27.

Charge pump steering systems and methods for loop filters of phase locked loops

Номер патента: EP1012982A1. Автор: W. Scott Gaines. Владелец: Ericsson Inc. Дата публикации: 2000-06-28.

Apparatus and method for controlling charging a high voltage power grid structure of a vehicle

Номер патента: US11208002B2. Автор: Jeong-Ha Noh. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2021-12-28.

Apparatus and method for controlling charge and discharge of secondary battery

Номер патента: US10236703B2. Автор: Tae-Shin CHO,Dae-Sik CHUNG. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2019-03-19.

Devices and methods for fine-tuning alignment of charging device with implanted medical device

Номер патента: US12088125B2. Автор: Rinda Sama,Faizal Abdeen. Владелец: Axonics Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Electronic device and method for determining charging conductivity

Номер патента: WO2024212169A1. Автор: Yi Zhang,Bin Cai. Владелец: HARMAN INTERNATIONAL INDUSTRIES, INCORPORATED. Дата публикации: 2024-10-17.

System and method for switched-capacitor based side-channel countermeasures

Номер патента: US20180314860A1. Автор: Selcuk Kose,Weize Yu. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA. Дата публикации: 2018-11-01.

System and method for electric vehicle charging and security

Номер патента: US20230311685A1. Автор: Robert Gregory Twiss,Joel Richard Goergen,Chad M. Jones. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-05.

System and method for mobile device charging station

Номер патента: EP4406092A1. Автор: Keone Trask. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-31.

Charger for an electric aircraft with failure monitoring and a method for its use

Номер патента: US12051923B2. Автор: Herman Wiegman. Владелец: Beta Air LLC. Дата публикации: 2024-07-30.

Wireless earphone and method for controlling a wireless earphone

Номер патента: US11245974B2. Автор: Tianliang ZHANG,Dean Guo. Владелец: Merry Technology Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-08.

Systems and methods for on-board ev charger and regenerative braking

Номер патента: WO2023055831A1. Автор: John Richard HOWLETT III,David Kessner. Владелец: Iontra Inc. Дата публикации: 2023-04-06.

Charger for an electric aircraft with failure monitoring and a method for its use

Номер патента: US20230208158A1. Автор: Herman Wiegman. Владелец: Beta Air LLC. Дата публикации: 2023-06-29.

Charged particle acceleration device

Номер патента: US20160035449A1. Автор: Seth J. Putterman,Jonathan Hird,Brian Naranjo. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2016-02-04.

Power distribution system and method for charging multiple electric vehicles

Номер патента: US20210155107A1. Автор: Chao Yan,Jui-Yuan Hsu,Shouzheng Wang. Владелец: Delta Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-27.

System and method for electric vehicle charging and security

Номер патента: US11745613B2. Автор: Robert Gregory Twiss,Joel Richard Goergen,Chad M. Jones. Владелец: Cisco Technology Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Systems and methods for on-board ev charger and regenerative braking

Номер патента: EP4409716A1. Автор: John Richard HOWLETT III,David Kessner. Владелец: Iontra Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

System and method for prolonging life of a battery

Номер патента: US20230078052A1. Автор: Clayton Hanks. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-16.

System and method for scheduling electric charging for vehicles

Номер патента: US12083920B2. Автор: Karthik Mannepalli. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Charging arrangement and method for charging an electrical vehicle

Номер патента: US12090870B2. Автор: Octavian CRACIUN,Ali Ugur. Владелец: ABB EMobility BV. Дата публикации: 2024-09-17.

Handheld electroporation devices, and related systems and methods

Номер патента: AU2023224287A1. Автор: Beat Stadelmann,Jay McCoy,Andrew Booth,Charu MATHUR. Владелец: Inovio Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Systems and methods for charging an electric vehicle at a charging station

Номер патента: US09764653B2. Автор: Michael Walker,Reuben Sarkar,Michael Alan Finnern. Владелец: PROTERRA INC. Дата публикации: 2017-09-19.

Systems and methods for protecting computing systems from peripheral devices

Номер патента: US09734341B1. Автор: Cui Cheng. Владелец: Symantec Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Apparatus and method for maintaining charge amount of secondary battery

Номер патента: US09716397B2. Автор: Young-Bo Cho,Tae-Shin CHO,Dae-Sik CHUNG,Seoung-Mun Baek. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2017-07-25.

Device and method for controlling charging path of mobile terminal

Номер патента: US09583965B2. Автор: Junghoon Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-28.

Systems and methods for an integrated vehicle and structure charger

Номер патента: US20240367544A1. Автор: Geoffrey David Gaither,Norman Ning Lu,Ronnie Nomoto. Владелец: Toyota Motor North America Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Mobile terminal, and device and method for charging same

Номер патента: US09450441B2. Автор: Zhengwei Han,Nirong Wang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Sensor and method for detecting an object

Номер патента: US09435837B2. Автор: Jochen Vater,Hardi Voelkel. Владелец: Pepperl and Fuchs SE. Дата публикации: 2016-09-06.

Particle beam couplingsystem and method

Номер патента: WO2012048166A3. Автор: Gary Guethlein. Владелец: Lawrence Livermore National Security, LLC. Дата публикации: 2012-07-05.

In-flight electrical charging system and method for a battery-powered aircraft

Номер патента: EP4395117A1. Автор: Carlos Casado Montero. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SL. Дата публикации: 2024-07-03.

Systems and methods for configurable battery charging

Номер патента: US12015289B2. Автор: Richard J. Rikoski. Владелец: Hadal Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

System and method for compensating for impedance loss associated with an external charging unit

Номер патента: US20110260678A1. Автор: Lawrence Forsythe. Владелец: Psion Inc. Дата публикации: 2011-10-27.

System and method for a charging assembly

Номер патента: US20240227598A1. Автор: Ikechi Olakunle Emelogu,Timothy Robert Schmidt,Karl Kobel. Владелец: Transportation IP Holdings LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

In flight electrical charging system and method for a battery powered aircraft

Номер патента: US20240217357A1. Автор: Carlos Casado Montero. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SL. Дата публикации: 2024-07-04.

Systems and methods for vehicle charging

Номер патента: US20230264573A1. Автор: HONG Yang,David Hein,Marc Daigneault. Владелец: Dana Heavy Vehicle Systems Group LLC. Дата публикации: 2023-08-24.

Apparatus and methods for multi-mode charge pumps

Номер патента: US20170310213A1. Автор: Jonathan Christian Crandall,Robert Michael Fisher,Curtis Lee Mayberry. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2017-10-26.

System and method for online charging telecommunication services in real time

Номер патента: US20210314746A1. Автор: Emanuil Donchev. Владелец: Effortel Technologies. Дата публикации: 2021-10-07.

System and method for online charging telecommunication services in real time

Номер патента: EP3847798A1. Автор: Emanuil Donchev. Владелец: Effortel Technologies. Дата публикации: 2021-07-14.

Hybrid vehicle and method for controlling the same

Номер патента: US20180354376A1. Автор: Gu Bae Kang,Sang Kyu Lee,Kil Young Youn,Jae Hwa Jeon,Seung Hyeon Bin. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2018-12-13.

Devices and methods for operating a charge pump

Номер патента: US20240275280A1. Автор: Bo Zhou,Guillaume Alexandre Blin. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Systems and methods for battery charging using a negotiable power supply

Номер патента: EP4420214A1. Автор: John Richard HOWLETT III,David Kessner. Владелец: Iontra Inc. Дата публикации: 2024-08-28.

Electrical Charge Control Apparatus and Method for Photovoltaic Energy Conversion Systems

Номер патента: CA2171900A1. Автор: Gino A. Petrillo. Владелец: Individual. Дата публикации: 1996-09-18.

Apparatus and method for controlling low-voltage DC-to-DC converter of vehicle

Номер патента: US11271391B2. Автор: Hyun Wook Seong,Sung Uk Park,Dong Gyun Woo,Hui Sung Jang. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2022-03-08.

System and method for restricting and enabling charging

Номер патента: EP3602728A1. Автор: Adam Champy. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2020-02-05.

Systems and methods for powering up a charge pump

Номер патента: US20240266954A1. Автор: Gregory Szczeszynski,Satish Vangara,Antony Christopher Routledge,Alok Kumar Mittal. Владелец: PSemi Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Systems and methods for powering up a charge pump

Номер патента: WO2024167844A1. Автор: Gregory Szczeszynski,Satish Vangara,Antony Christopher Routledge,Alok Kumar Mittal. Владелец: pSemi Corporation. Дата публикации: 2024-08-15.

Systems and methods for charging wireless audio devices

Номер патента: WO2020033251A1. Автор: Joji Ueda. Владелец: Bose Corporation. Дата публикации: 2020-02-13.

Systems and methods for charging wireless audio devices

Номер патента: US20200052526A1. Автор: Joji Ueda. Владелец: Bose Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Systems and methods for controlling a charging session

Номер патента: WO2024188465A1. Автор: Brecht BAETEN. Владелец: ABB E-mobility B.V.. Дата публикации: 2024-09-19.

Systems and methods for charging wireless audio devices

Номер патента: EP3834269A1. Автор: Joji Ueda. Владелец: Bose Corp. Дата публикации: 2021-06-16.

Charge pump circuit and method for operating a charge pump circuit

Номер патента: US09929643B2. Автор: Ivan Carlos Ribeiro do Nascimento. Владелец: NXP BV. Дата публикации: 2018-03-27.

Systems and methods for avoiding double accounting upon session failover

Номер патента: US09883052B2. Автор: Yigang Cai,Ranjan Sharma. Владелец: Alcatel Lucent USA Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

System and method for performing multi-enforcement point charging

Номер патента: US09686084B2. Автор: Michael O'sullivan,Bart Lehane,Alan McNamee,Max Bacik. Владелец: Openet Telecom Ltd. Дата публикации: 2017-06-20.

System and method for periodically charging sub-battery for an electric vehicle based on the SOC discharge rate

Номер патента: US09413182B2. Автор: Jun Yeon Park. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-08-09.

Efficient electronic cigarette charging device and method for using the same

Номер патента: US09350181B2. Автор: Zhiyong XIANG. Владелец: Kimree Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-24.

Circuit and method for programming charge storage memory cells

Номер патента: US20050162922A1. Автор: Tzu-Hsuan Hsu,Chao-I Wu. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-28.

Charge-Trapping Memory Device and Methods for its Manufacturing and Operation

Номер патента: US20080279004A1. Автор: Tholasampatti Subramanian Sudhindra Prasad. Владелец: Qimonda AG. Дата публикации: 2008-11-13.

Transistor-based particle detection systems and methods

Номер патента: US20130187200A1. Автор: Ankit Jain,Muhammad Ashraful Alam,Pradeep R. Nair. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-07-25.

Printing system, method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240319649A1. Автор: Hideyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Automated storage and retrieval system using an automated loader and methods of replacing power supplies

Номер патента: EP4234316A1. Автор: Trond Austrheim. Владелец: Autostore Technology AS. Дата публикации: 2023-08-30.

Apparatus and method for urging fluid into a pressurized system

Номер патента: CA2432393C. Автор: Jack Brass,Jim Resutek. Владелец: Brasscorp Ltd. Дата публикации: 2009-09-29.

Information processing apparatus and method performing printing to a printer with a charging function

Номер патента: US09727289B2. Автор: Osamu Iinuma,Asako Sugahara,Ritsuko Otake. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

CO-ROTATABLE TARGETING APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF IN CONJUNCTION WITH A CHARGED PARTICLE CANCER THERAPY SYSTEM

Номер патента: US20150273242A1. Автор: Balakin Vladimir. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

ROTATABLE TARGETING MAGNET APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF IN CONJUNCTION WITH A CHARGED PARTICLE CANCER THERAPY SYSTEM

Номер патента: US20150283405A1. Автор: Balakin Vladimir. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

Charge electrode array and combination for ink jet printing and method of manufacture

Номер патента: CA1089912A. Автор: Ernest Bassous,Lawrence Kuhn. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1980-11-18.

Method and system for reporting the blocking of a charging station

Номер патента: US20230137676A1. Автор: Franz Lankes,Jürgen Horvath. Владелец: Audi AG. Дата публикации: 2023-05-04.

Method and driver assistance system for predicting the availability of a charging station for a vehicle

Номер патента: US20220063437A1. Автор: Matthias Fischer,Robert Burger. Владелец: JOYNEXT GmbH. Дата публикации: 2022-03-03.

Method for seismic reconnaissance, method for fire fighting

Номер патента: RU2267738C2. Автор: Джеймс Майкл О`ДВАЕР. Владелец: Метал Сторм Лимитед. Дата публикации: 2006-01-10.

Device and method for inspecting relay, and charging pile

Номер патента: EP4060356A1. Автор: Lei Zhang,Xin Chen,Zengfu DING,Yuefeng Yang. Владелец: Sungrow Power Supply Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-21.

Photonic spectrometry device and method, method for calibrating the device, and use of the device

Номер патента: US09400336B2. Автор: Eric Berruyer. Владелец: AREVA NP SAS. Дата публикации: 2016-07-26.

METHOD FOR CASTING IRON OR STEEL, A CHARGE FOR USE IN THE METHOD, AND A METHOD FOR PRODUCING A CHARGE

Номер патента: US20170307294A1. Автор: Kemppainen Pekka. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-26.

SYSTEMS AND METHODS FOR PROVIDING TARGETED ADVERTISEMENTS TO A CHARGING STATION FOR ELECTRIC VEHICLES

Номер патента: US20160042401A1. Автор: Menendez Michael,Mercer Scott. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

METHOD FOR CONTROLLING THE OPERATION OF A CHARGE COMPENSATOR DEVICE AND CHARGE COMPENSATOR IMPLEMENTING SAID METHOD

Номер патента: FR2753188B1. Автор: Jean Leveugle. Владелец: Reel SA. Дата публикации: 1998-12-11.

Systems and methods for providing targeted advertisements to a charging station for electric vehicles

Номер патента: CA2954525A1. Автор: Scott Mercer,Michael MENENDEZ. Владелец: Volta Industries LLC. Дата публикации: 2016-01-14.

System And Method For Regulating Coolant Flow Through A Charge Air Cooler Of A Vehicle

Номер патента: US20180328265A1. Автор: Castorina Francesco,Tordin Serena,RAMOLIVO Fabrizio. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-15.

METHOD FOR DETECTING THE FAILURE OF A CHARGE AIR COOLER

Номер патента: US20140081597A1. Автор: Martin Ludovic,Petit Clément,Jedruch Iwona,Mefflet Mathieu. Владелец: RENAULT S.A.S.. Дата публикации: 2014-03-20.

METHOD FOR PRODUCING A ROTOR OF A CHARGING APPARATUS

Номер патента: US20160040545A1. Автор: Klusacek Michal. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-11.

METHOD FOR SPRAYING A FLUID ONTO A CHARGE AIR COOLER OF A MOTOR VEHICLE

Номер патента: US20170298808A1. Автор: Kunde Christian,Weiss Marc,Schoene Tilo. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-19.

Method for controlling and/or adjusting a charging pressure of an exhaust gas turbocharger as well as an internal combustion engine

Номер патента: CN101718220A. Автор: H·亨宁. Владелец: Audi AG. Дата публикации: 2010-06-02.

Method for determining the temperature of a charging interface of a vehicle

Номер патента: DE102017209450A1. Автор: Patrick Ahrens. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2018-12-06.

Method for removing liquid membrane using high-speed particle beam

Номер патента: US09476642B2. Автор: In Ho Kim,Jin Won Lee. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2016-10-25.

SYSTEMS AND METHODS METHOD FOR PROVIDING AN INTERACTIVE HELP FILE FOR HOST SOFTWARE USER INTERFACES

Номер патента: US20170235582A1. Автор: Ramirez Vincent. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-17.

PHOTONIC SPECTROMETRY DEVICE AND METHOD, METHOD FOR CALIBRATING THE DEVICE, AND USE OF THE DEVICE

Номер патента: US20140003579A1. Автор: Berruyer Eric. Владелец: AREVA NP. Дата публикации: 2014-01-02.

Photonic spectrometry device and method, method for calibrating the device, and use of the device

Номер патента: KR101894959B1. Автор: 에릭 베뤼예. Владелец: 아레바 엔피. Дата публикации: 2018-09-04.

Head unit assembling device and method, method for making other devices therewith

Номер патента: CN1274496C. Автор: 中村真一,山田善昭. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2006-09-13.

METHOD FOR GENERATING IMAGE DATA RELATING TO AN OBJECT AND PARTICLE BEAM DEVICE FOR CARRYING OUT THIS METHOD

Номер патента: US20160274040A1. Автор: Perez-Willard Fabian. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-22.

System and method for projection image tracking of tumors during radiotherapy

Номер патента: US09545526B1. Автор: Larry D. Partain. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-17.

Charged-particle beam irradiation device

Номер патента: US20140058186A1. Автор: Kenzo SASAI. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-02-27.

Active charged particle tomography

Номер патента: US09817150B2. Автор: Michael James Sossong. Владелец: Decision Sciences International Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Charged particle beam irradiation apparatus

Номер патента: US09566453B2. Автор: Masanori Tachibana. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Method for producing charge

Номер патента: RU2638195C1. Автор: Роман Владимирович Лавров. Владелец: Роман Владимирович Лавров. Дата публикации: 2017-12-12.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: WO2021205145A1. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Limited. Дата публикации: 2021-10-14.

A method for manipulating charged particles

Номер патента: US20230114436A1. Автор: Jochen Wolf,Chris BALLANCE,Tom HARTY. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Charged particle generator and functional fabric having a charged particle emission function

Номер патента: US20080319518A1. Автор: Masakazu Komuro. Владелец: Nac Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-25.

Follower for blank cartridges, unitary/integrated magazine with follower, and methods for manufacturing same

Номер патента: US09523546B1. Автор: Matthew A. Harding. Владелец: Safetacmag LLC. Дата публикации: 2016-12-20.

Particle beam irradiation apparatus and particle beam therapy system

Номер патента: US20120132826A1. Автор: Takaaki Iwata,Yuehu Pu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2012-05-31.

Integrated circuit and layout method for the same using blank area of macrocell

Номер патента: US6691292B2. Автор: Koujiro Hatanaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2004-02-10.

System and method for managing electric vehicles

Номер патента: EP2398667A1. Автор: Richard Lowenthal,James Solomon,Milton Tormey. Владелец: Coulomb Technologies Inc. Дата публикации: 2011-12-28.

Charged particle trap apparatus

Номер патента: GB2627794A. Автор: MALINOWSKI Maciej,Ballance Chris,Allcock David. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

System and method for presenting electric vehicle charging options based on a predicted charging speed

Номер патента: US12117498B2. Автор: David Wong Cun,Eri Izumi Maeda. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Charged particle trap apparatus

Номер патента: GB2627795A. Автор: MALINOWSKI Maciej,Ballance Chris,Allcock David. Владелец: Oxford Ionics Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Charged particle trap apparatus

Номер патента: WO2024180338A1. Автор: David Allcock,Maciej MALINOWSKI,Chris BALLANCE. Владелец: Oxford Ionics Limited. Дата публикации: 2024-09-06.

System and method for recommending charging station for electric vehicle

Номер патента: US09851213B2. Автор: Jae Cheol Oh,Kyoung Seok Paik. Владелец: I-ON COMMUNICATIONS Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Systems and methods for electric vehicle charging using autonomous charging robots

Номер патента: US20240067017A1. Автор: Ahmed Owiess. Владелец: Energy Company LLC. Дата публикации: 2024-02-29.

Integrated circruit and layout method for the same

Номер патента: US20020005572A1. Автор: Koujiro Hatanaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-01-17.

Particle beam irradiation apparatus and particle beam therapy system

Номер патента: US09770604B2. Автор: Takaaki Iwata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Apparatus and methods for inspecting extreme ultra violet reticles

Номер патента: US09679372B2. Автор: Stanley E. Stokowski,Mehdi Vaez-Iravani,Mehran Nasser-Ghodsi. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Charged particles

Номер патента: US09403987B2. Автор: Bernd Lamatsch,Pascal Hayoz,Philippe Bugnon,Laurent Michau,Urs Lehmann,Margherita Fontana,Stephan Burkhardt. Владелец: BASF SE. Дата публикации: 2016-08-02.

System and method for robotic charging aircraft

Номер патента: US12012229B2. Автор: Ian Andreas Villa,Luke Asher Wilhelm. Владелец: Joby Aviation Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

Systems and Methods for Charging Refrigerant Into a Climate Control System

Номер патента: US20210270506A1. Автор: Nathan Smith,Raymond Walter Rite,Drew Whitehurst. Владелец: Trane International Inc. Дата публикации: 2021-09-02.

Systems and methods for charging parked vehicles

Номер патента: US11772510B2. Автор: Christopher Alan. Владелец: Dasher Lawless Technologies LLC. Дата публикации: 2023-10-03.

Systems and methods for charging refrigerant into a climate control system

Номер патента: US20230074872A1. Автор: Nathan Smith,Raymond Walter Rite,Drew Whitehurst. Владелец: Trane International Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

System and method for pre-charging a hybrid vehicle for improving reverse driving performance

Номер патента: US20160152152A1. Автор: Geoffrey D. Gaither. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-06-02.

System and method for wireless charging of an electric vehicle

Номер патента: US12090867B2. Автор: Kostas Chatziioannou. Владелец: Volvo Car Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Particle beam irradiation system and particle beam irradiation facility

Номер патента: US12121754B2. Автор: Kenichi Takizawa,Hideaki Nishiuchi,Tadashi Katayose. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Going back and charging system for sweeping robot and method for controlling the same

Номер патента: US09989968B2. Автор: Qiang Shen,Luokun SHEN. Владелец: Jiangsu Midea Cleaning Appliances Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Battery charging apparatus and method for charging electric vehicle

Номер патента: US09815377B2. Автор: E-In Wu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Apparatus and method for identifying foreign bodies in an inductive charging system

Номер патента: US09778204B2. Автор: Joachim Goethel. Владелец: Bayerische Motoren Werke AG. Дата публикации: 2017-10-03.

Electric battery charging installation and method

Номер патента: US09676287B2. Автор: Eric Stempin. Владелец: Evtronic SAS. Дата публикации: 2017-06-13.

System and method for particle control near a reticle

Номер патента: WO2013138285A1. Автор: Gildardo DELGADO. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2013-09-19.

A system and method for payroll system and benefits administration

Номер патента: WO2007123743A2. Автор: Kirk Watkins. Владелец: E-Duction, Inc.. Дата публикации: 2007-11-01.

System and method for auto-threshold adjustment for phasing

Номер патента: EP1758740A1. Автор: Andrew Earl Fickling,Michael J. Rybicki. Владелец: Videojet Technologies Inc. Дата публикации: 2007-03-07.

System and method for auto-threshold adjustment for phasing

Номер патента: WO2005123391A1. Автор: Andrew Earl Fickling,Michael J. Rybicki. Владелец: VIDEOJET TECHNOLOGIES INC.. Дата публикации: 2005-12-29.

System and method for controlling opening and closing of charging door of vehicle

Номер патента: US20210222468A1. Автор: Xin Dong,Seoktae Son. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2021-07-22.

Charged particle track detector

Номер патента: US20190243010A1. Автор: Ryosuke Ota. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2019-08-08.

System for charged particle therapy verification

Номер патента: US12036427B2. Автор: Ilker Meric,Kristian Smeland Ytre-Hauge. Владелец: VESTLANDETS INNOVASJONSSELSKAP AS. Дата публикации: 2024-07-16.

A system and method for payroll system and benefits administration

Номер патента: WO2007123743A3. Автор: Kirk Watkins. Владелец: DUCTION Inc E. Дата публикации: 2007-12-27.

Charging voltage supply and method for supplying charging voltage

Номер патента: US20070172248A1. Автор: Yong-Baek Yoo,Jin-Cheol Kim,Joong-gwang Shin,Yoo-seok Yang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-07-26.

Plug-in electrical vehicle and method for charging a plug-inelectrical vehicle

Номер патента: SE1651176A1. Автор: SJÖDIN Robert,CLAESSON André. Владелец: SCANIA CV AB. Дата публикации: 2018-03-03.

Apparatus and methods for monitoring self-aligned contact arrays

Номер патента: WO2003003375A3. Автор: Sanjay Tandon,Kurt H Weiner,Peter D Nunan. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2003-08-21.

System and Method for Robotic Charging Aircraft

Номер патента: US20240308687A1. Автор: Ian Andreas Villa,Luke Asher Wilhelm. Владелец: Joby Aviation Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Charged particle trap apparatus

Номер патента: WO2024180337A1. Автор: David Allcock,Maciej MALINOWSKI,Chris BALLANCE. Владелец: Oxford Ionics Limited. Дата публикации: 2024-09-06.

Apparatus and methods for monitoring self-aligned contact arrays

Номер патента: WO2003003375A2. Автор: Kurt H. Weiner,Peter D. Nunan,Sanjay Tandon. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2003-01-09.

Arrangement and method for data management during charging event, and computer program product

Номер патента: US20240286522A1. Автор: Juhana Enqvist. Владелец: Kempower Oyj. Дата публикации: 2024-08-29.

Arrangement and method for data management during charging event, and computer program product

Номер патента: EP4409500A1. Автор: Juhana Enqvist. Владелец: Kempower Oyj. Дата публикации: 2024-08-07.

System and method for managing condensation in EGR systems

Номер патента: US09845772B2. Автор: Ashish Gupta,Leon A. LaPointe,Edward J. Lyford-Pike,Daniel J. Mohr. Владелец: Cummins Inc. Дата публикации: 2017-12-19.

Neutron imaging integrated circuit and method for detecting neutrons

Номер патента: US09835742B1. Автор: Vivek V. Nagarkar,Mitali J. More. Владелец: Radiation Monitoring Devices Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Rotating gantry and particle beam therapy system

Номер патента: US09504854B2. Автор: Tadashi Katayose. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Method for charging particles suspended in gases

Номер патента: US4574004A. Автор: Andreas Schmidt-Ott,Hans-Christoph Siegmann. Владелец: Siegmann Hans Christoph. Дата публикации: 1986-03-04.

Printing system, printing device, and method for producing printed matter

Номер патента: AU2018325818B2. Автор: Tomohiro Fujita,Tatsutoshi Higo,Takuto Nakamura. Владелец: Suntory Holdings Ltd. Дата публикации: 2024-06-27.

Devices and methods for flow control of single cells or particles

Номер патента: WO2023146999A1. Автор: Manish Giri,Rakesh Sethi,Vadim Piskun. Владелец: TDK U.S.A. Corporation. Дата публикации: 2023-08-03.

Systems and methods for active charge-balancing for high-frequency neural stimulation

Номер патента: US20200261729A1. Автор: Peng Cong,Ganesh Balachandran,You Zou. Владелец: Verily Life Sciences LLC. Дата публикации: 2020-08-20.

Positioning unit for a charging station, and method for making contact

Номер патента: US20240227595A9. Автор: Lothar Schneider,Timo STAUBACH,Holger LEIB. Владелец: Schunk Transit Systems Gmbh. Дата публикации: 2024-07-11.

Electrifier for holding charge particles, and image forming apparatus

Номер патента: US20020061207A1. Автор: Jun Hirabayashi,Harumi Ishiyama,Yasunori Chigono. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-23.

Proximity detection systems and methods for facilitating charging of electric aircraft

Номер патента: US12065050B2. Автор: Herman Wiegman. Владелец: Beta Air LLC. Дата публикации: 2024-08-20.

Systems and methods for controlling charging of electric vehicles for electric power grid services

Номер патента: WO2024188467A1. Автор: Brecht BAETEN. Владелец: ABB E-mobility B.V.. Дата публикации: 2024-09-19.

Systems and methods for climate control of an electric vehicle

Номер патента: EP4419369A1. Автор: Michael Clement,Jeffrey Kinsey,Ramsey Meyer. Владелец: Volta Charging LLC. Дата публикации: 2024-08-28.

Apparatus and method for controlling battery state of charge in hybrid electric vehicle

Номер патента: US09834199B2. Автор: Dong Pil Yoon. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Particle beam therapy system

Номер патента: US09687679B2. Автор: Masahiro Ikeda,Hisashi Harada,Takaaki Iwata,Yuehu Pu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-27.

Battery charging system and apparatus and method for electric vehicle

Номер патента: US09662995B2. Автор: E-In Wu. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Systems and methods for sub-pixel location determination

Номер патента: US09632186B2. Автор: Arie Shahar,Yaron Glazer,Avishai Ofan,Jeffrey Michael Levy. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-04-25.

Device and method for detecting chemical and physical phenomena

Номер патента: US09482641B2. Автор: Fumihiro Dasai,Kazuaki Sawada,Hirokazu Nakazawa. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2016-11-01.

SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING ANGULAR LUMINESCENCE IN A CHARGED PARTICLE MICROSCOPE

Номер патента: US20140027632A1. Автор: Stowe David,Galloway Simon Andrew,Parsons James. Владелец: GATAN, INC.. Дата публикации: 2014-01-30.

Method for adjusting offset of forming deflector and charged particle beam writer using the same

Номер патента: JPH10256110A. Автор: Chikasuke Nishimura,慎祐 西村. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1998-09-25.

SAMPLE HOLDER, METHOD FOR USE OF THE SAMPLE HOLDER, AND CHARGED PARTICLE DEVICE

Номер патента: US20120112064A1. Автор: Tanigaki Toshiaki,Nagakubo Yasuhira,Ito Katsuji. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-10.

Method for reducing squeak noise in a rotary irradiation type particle beam medical device

Номер патента: JP5225440B2. Автор: 高明 岩田. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-07-03.

SINGLE LAYER PHOTORECEPTOR AND METHODS OF USING THE SAME

Номер патента: US20120003578A1. Автор: HEUFT Matthew A.,Klenkler Richard A.,McGuire Gregory. Владелец: XEROX CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Charged particle beam apparatus and sample processing method

Номер патента: US20120001086A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

WATER TREATMENT SYSTEMS AND METHODS

Номер патента: US20120000851A1. Автор: . Владелец: DXV Water Technologies, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001097A1. Автор: . Владелец: NuFlare Technology, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001247A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001250A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING AN ENERGY STORAGE PACK

Номер патента: US20120001483A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Systems and Methods for Minimizing Static Leakage of an Integrated Circuit

Номер патента: US20120001684A1. Автор: Caplan Randy J.,Schwake Steven J.. Владелец: MOSAID TECHNOLOGIES INCORPORATED. Дата публикации: 2012-01-05.

Non-Volatile Memory And Method With Reduced Neighboring Field Errors

Номер патента: US20120002483A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

POROUS CLUSTERS OF SILVER POWDER COMPRISING ZIRCONIUM OXIDE FOR USE IN GAS DIFFUSION ELECTRODES, AND METHODS OF PRODUCTION THEREOF

Номер патента: US20120003549A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

REAGENT AND METHOD FOR PROVIDING COATINGS ON SURFACES

Номер патента: US20120004339A1. Автор: . Владелец: SURMODICS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SUPERHYDROPHILIC AND OLEOPHOBIC POROUS MATERIALS AND METHODS FOR MAKING AND USING THE SAME

Номер патента: US20120000853A1. Автор: Mabry Joseph M.,TUTEJA Anish,Kota Arun Kumar,Kwon Gibum. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ORGANIC EL DISPLAY PANEL AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120001186A1. Автор: ONO Shinya,KONDOH Tetsuro. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRONIC DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME

Номер патента: US20120001490A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUSES AND METHODS TO REDUCE POWER CONSUMPTION IN DIGITAL CIRCUITS

Номер патента: US20120001682A1. Автор: VENKATA HARISH N.. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

UZM-5, UZM-5P, AND UZM-6 CRYSTALLINE ALUMINOSILICATE ZEOLITES AND METHODS FOR PREPARING THE SAME

Номер патента: US20120004485A1. Автор: . Владелец: UOP LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

VEHICLE CONTROL DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING VEHICLE

Номер патента: US20120004801A1. Автор: Watanabe Takashi. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

Apparatus, system and method utilizing aperiodic nonrandom triggers for vehicular telematics data queries

Номер патента: US20120004804A1. Автор: Beams Darren,Cawse Neil. Владелец: GEOTAB INC. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUS AND METHODS FOR USE IN FLASH DETECTION

Номер патента: US20120001071A1. Автор: SNIDER Robin Terry,MCGEE Jeffrey Dykes,PERRY Michael Dale. Владелец: General Atomics. Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120002987A1. Автор: ODANI Makoto. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS FOR INDUCING AN IMMUNE RESPONSE

Номер патента: US20120003298A1. Автор: Maj Roberto,Pattarino Franco,Mura Emanuela,Barberis Alcide. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMAGE FORMING APPARATUS AND METHOD OF THE SAME

Номер патента: US20120001994A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD OF PROVIDING AN EMERGENCY CONTACT PARTY LINE

Номер патента: US20120002791A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MEANS AND METHODS FOR INVESTIGATING NUCLEIC ACID SEQUENCES

Номер патента: US20120003633A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Systems and Methods for a Charging Roller

Номер патента: US20120003011A1. Автор: . Владелец: STATIC CONTROL COMPONENTS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

COMPOSITIONS FOR SITE-SPECIFIC DELIVERY OF IMATINIB AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120003319A9. Автор: Liversidge Gary,Jenkins Scott. Владелец: ELAN PHARMA INTERNATIONAL LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

TRACED CHEMICALS AND METHOD TO VERIFY AND CONTROL FORMULATION COMPOSITION

Номер патента: US20120004776A1. Автор: Abad Carlos. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DETONATOR CARTRIDGE AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120000387A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

System and Method for Analyzing Biomechanics

Номер патента: US20120004578A1. Автор: Wu Chi-Kang,Huang Chih-Hung,Chen Yu-Wen,Tenn Hian-Kun. Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2012-01-05.

ION-SENSING CHARGE-ACCUMULATION CIRCUITS AND METHODS

Номер патента: US20120000274A1. Автор: Fife Keith. Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Circuitry to Recover Energy from Discharge Signals of a Charging Operation of a Battery/Cell

Номер патента: US20120001594A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

VOLTAGE LEVEL SHIFT CIRCUITS AND METHODS

Номер патента: US20120001683A1. Автор: . Владелец: PACIFICTECH MICROELECTRONICS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

BELTS FOR ELECTROSTATOGRAPHIC APPARATUS AND METHODS FOR MAKING THE SAME

Номер патента: US20120003415A1. Автор: FROMM Paul M.. Владелец: XEROX CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FORMING THE SAME

Номер патента: US20120003828A1. Автор: Chang Sung-Il,Choe Byeong-In,KANG Changseok. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMPLANTABLE HEART ASSIST SYSTEM AND METHOD OF APPLYING SAME

Номер патента: US20120004495A1. Автор: . Владелец: Thoratec Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.