• Главная
  • Methods of producing high-K dielectric films using cerium-based precursors

Methods of producing high-K dielectric films using cerium-based precursors

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Chemical vapor deposition method for depositing a high k dielectric film

Номер патента: US6884475B2. Автор: Cem Basceri. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-04-26.

Chemical vapor deposition method for depositing a high k dielectric film

Номер патента: US20040228968A1. Автор: Cem Basceri. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2004-11-18.

High-k dielectric films and methods of producing using titanium-based -diketonate precursors

Номер патента: EP2281073A1. Автор: Peter Nicholas Heys,Paul Raymond Chalker. Владелец: Sigma Aldrich Co LLC. Дата публикации: 2011-02-09.

High-k dielectric films and methods of producing using titanium-based precursors

Номер патента: IL209379A0. Автор: . Владелец: Sigma Aldrich Co. Дата публикации: 2011-01-31.

Atomic layer deposition of high k dielectric films

Номер патента: WO2004008827A3. Автор: Sang-In Lee,Yoshihide Senzaki. Владелец: Aviza Tech Inc. Дата публикации: 2004-06-03.

Devices comprising high-k dielectric layer and methods of forming same

Номер патента: US20160284540A1. Автор: Yiqun Liu,Jin Ping Liu,Sandeep Gaan,Shishir Ray,Fabio D'ADDAMIO. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-09-29.

Devices comprising high-K dielectric layer and methods of forming same

Номер патента: US9673039B2. Автор: Yiqun Liu,Jin Ping Liu,Sandeep Gaan,Shishir Ray,Fabio D'ADDAMIO. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Methods for depositing high-k dielectrics

Номер патента: US20100330772A1. Автор: Imran Hashim,Sandra Malhotra,Sunil Shanker,Edward Haywood,Xiangxin Rui. Владелец: Intermolecular Inc. Дата публикации: 2010-12-30.

Methods For Depositing High-K Dielectrics

Номер патента: US20130056852A1. Автор: Sandra G. Malhotra,Imran Hashim,Sunil Shanker,Xiangxin Rui,Edward L. Haywood. Владелец: Intermolecular Inc. Дата публикации: 2013-03-07.

Methods for depositing high-K dielectrics

Номер патента: US8574985B2. Автор: Imran Hashim,Sandra Malhotra,Sunil Shanker,Edward Haywood,Xiangxin Rui. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2013-11-05.

Method and system for forming a high-k dielectric layer

Номер патента: US20060228898A1. Автор: Gerrit Leusink,Masanobu Igeta,Cory Wajda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

Method and structure for a large-grain high-K dielectric

Номер патента: US09590063B2. Автор: Rama I. Hegde. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2017-03-07.

Multi-function equipment implementing fabrication of high-k dielectric layer

Номер патента: US20210134587A1. Автор: Miin-Jang Chen,Chen-Yang CHUNG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-05-06.

High-K dielectric gate material uniquely formed

Номер патента: US20040089887A1. Автор: Vladimir Zubkov,Sheldon Aronowitz,Grace Sun. Владелец: LSI Logic Corp. Дата публикации: 2004-05-13.

High k dielectric material and method of making a high k dielectric material

Номер патента: US20030224218A1. Автор: Martin Green,Lalita Manchanda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Bi-axial texturing of high-K dielectric films to reduce leakage currents

Номер патента: US7619272B2. Автор: Wilbur Catabay,Wai Lo,Sey-Shing Sun. Владелец: LSI Corp. Дата публикации: 2009-11-17.

Integrated circuit capacitor and method of manufacturing same

Номер патента: WO2006091512A3. Автор: Robert W Grant. Владелец: Robert W Grant. Дата публикации: 2007-12-06.

Nitridation of high-k dielectric films

Номер патента: TW200525648A. Автор: Yoshihide Senzaki. Владелец: Aviza Tech Inc. Дата публикации: 2005-08-01.

Devices comprising high-k dielectric layer and methods of forming same

Номер патента: US20160284540A1. Автор: Yiqun Liu,Jin Ping Liu,Sandeep Gaan,Shishir Ray,Fabio D'ADDAMIO. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-09-29.

Method of fabricating high-k dielectric layer having reduced impurity

Номер патента: KR20050101626A. Автор: 이종호,정형석,김윤석,임하진,박재언,양종호. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2005-10-25.

method of fabricating high-k dielectric layer having reduced impurity

Номер патента: KR100568448B1. Автор: 이종호,정형석,김윤석,임하진,박재언,양종호. Владелец: 삼성전자주식회사. Дата публикации: 2006-04-07.

HIGH-K DIELECTRIC LAYER, FABRICATING METHOD THEREOF AND MULTI-FUNCTION EQUIPMENT IMPLEMENTING SUCH FABRICATING METHOD

Номер патента: US20190088467A1. Автор: Chen Miin-Jang,CHUNG Chen-Yang. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

Formation of a silicon oxynitride layer on a high-k dielectric material

Номер патента: US20050260347A1. Автор: Pravin Narwankar,Gregg Higashi. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2005-11-24.

Formation of a silicon oxynitride layer on a high-k dielectric material

Номер патента: US8119210B2. Автор: Gregg Higashi,Pravin K. Narwankar. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2012-02-21.

Formation of a silicon oxynitride layer on a high-k dielectric material

Номер патента: WO2005117087A1. Автор: Gregg Higashi,Pravin K. Narwankar. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2005-12-08.

Charge injection transistor using high-k dielectric barrier layer

Номер патента: US6303940B1. Автор: Isik C. Kizilyalli,Marco Mastrapasqua. Владелец: Agere Systems Guardian Corp. Дата публикации: 2001-10-16.

Tantalum silicon oxynitride high-k dielectrics and metal gates

Номер патента: US20100301428A1. Автор: Leonard Forbes,Kie Y. Ahn,Arup Bhattacharyya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-12-02.

Tantalum aluminum oxynitride high-k dielectric

Номер патента: US20100283537A1. Автор: Leonard Forbes,Kie Y. Ahn,Arup Bhattacharyya. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-11-11.

Method for Producing MIM Capacitors with High K Dielectric Materials and Non-Noble Electrodes

Номер патента: US20130285205A1. Автор: Pragati Kumar,Hanhong Chen. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2013-10-31.

Mechanisms for monitoring impurity in high-K dielectric film

Номер патента: US09553160B2. Автор: Wei Zhang,Yen-Yu Chen,Chang-Sheng Lee,Wei-Jen Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Model for optical dispersion of high-K dielectrics including defects

Номер патента: US09405290B1. Автор: Leonid Poslavsky,Natalia Malkova. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Optical systems and methods of characterizing high-k dielectrics

Номер патента: US20220003678A1. Автор: Harry A. Atwater,Philippe C. ADELL. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2022-01-06.

Optical systems and methods of characterizing high-k dielectrics

Номер патента: EP3344972A1. Автор: Philippe C. ADELL,Harry A. ATWATERE. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2018-07-11.

Optical systems and methods of characterizing high-k dielectrics

Номер патента: US11808706B2. Автор: Harry A. Atwater,Philippe C. ADELL. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2023-11-07.

Etching high k dielectric films with reduced likelihood of delamination

Номер патента: US20130065023A1. Автор: ABBAS Ali,Hansley Regan Rampersad. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2013-03-14.

Method of fabricating a flash memory comprising a high-K dielectric and a metal gate

Номер патента: US8822286B2. Автор: WEI Xia,Xiangdong Chen,Frank Hui. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2014-09-02.

High K dielectric de-coupling capacitor embedded in backend interconnect

Номер патента: US20020036336A1. Автор: Qi Xiang,WEI Long. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-03-28.

Method for modifying high-k dielectric thin film and semiconductor device

Номер патента: US20090302433A1. Автор: Koji Akiyama,Shintaro Aoyama,Kazuyoshi Yamazaki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-12-10.

METAL GATE AND HIGH-K DIELECTRIC DEVICES WITH PFET CHANNEL SiGe

Номер патента: US20110068369A1. Автор: Kangguo Cheng,Bruce B. Doris,Keith Kwong Hon Wong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2011-03-24.

METAL GATE AND HIGH-K DIELECTRIC DEVICES WITH PFET CHANNEL SiGe

Номер патента: US20120267685A1. Автор: Kangguo Cheng,Bruce B. Doris,Keith Kwong Hon Wong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2012-10-25.

Metal gate and high-K dielectric devices with PFET channel SiGe

Номер патента: US8796773B2. Автор: Kangguo Cheng,Bruce B. Doris,Keith Kwong Hon Wong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-08-05.

Crystallization of High-K Dielectric Layer

Номер патента: US20240097039A1. Автор: Chien-Chang Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Methods for removing photoresist from semiconductor structures having high-k dielectric material layers

Номер патента: US20080176388A1. Автор: Richard J. Carter. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-24.

Method for integration of dual metal gates and dual high-k dielectrics in cmos devices

Номер патента: US20120094447A1. Автор: Qiuxia Xu,Gaobo Xu. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-04-19.

Semiconductor device including multilayer stack including seed layer and high-k dielectric layer

Номер патента: US11664413B2. Автор: Se Ho LEE,Dong Ik SUH. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-05-30.

Reliability caps for high-k dielectric anneals

Номер патента: US20190019682A1. Автор: Shariq Siddiqui,Rohit Galatage,Chung-Ju Yang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2019-01-17.

Capacitor comprising anti-ferroelectric layers and high-k dielectric layers

Номер патента: US20240313040A1. Автор: Se Hun Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Electrical Test Structure for Devices Employing High-K Dielectrics or Metal Gates

Номер патента: US20130140564A1. Автор: Robert C. Lutz. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2013-06-06.

Capacitor comprising anti-ferroelectric layers and high-k dielectric layers

Номер патента: US12034035B2. Автор: Se Hun Kang. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-09.

High K dielectric composition for thermoformable capacitive circuits

Номер патента: US09685270B2. Автор: Jay Robert Dorfman. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2017-06-20.

High k dielectric composition for thermoformable capacitive circuits

Номер патента: WO2016007268A1. Автор: Jay Robert Dorfman. Владелец: E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY. Дата публикации: 2016-01-14.

High k dielectric composition for thermoformable capacitive circuits

Номер патента: EP3167006A1. Автор: Jay Robert Dorfman. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2017-05-17.

High k dielectric compositions with fine grain size

Номер патента: WO1993015031A1. Автор: Ian Burn,Salvatore A. Bruno. Владелец: E.I. Du Pont De Nemours and Company. Дата публикации: 1993-08-05.

High k dielectric compound for ceramic capacitor with internal copper electrode

Номер патента: JPS63246810A. Автор: イアン・バーン. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 1988-10-13.

Method for etching high-K dielectric using pulsed bias power

Номер патента: US09570313B2. Автор: Akiteru Ko,Alok Ranjan. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

High-k dielectric materials with dipole layer

Номер патента: US20230386938A1. Автор: Huang-Lin Chao,I-Ming Chang,Huiching Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Inorganic polarizing plate and method of producing the same

Номер патента: US20180067246A1. Автор: Masahiro Oowada. Владелец: Dexerials Corp. Дата публикации: 2018-03-08.

Method for producing chinese hamster ovary cell strain, producer of sars-cov-2 virus recombinant rbd protein, chinese hamster ovary cell strain, producer of recombinant rbd protein of sars-cov-2 virus, method of producing recombinant rbd protein of sars-cov-2 virus, a test system for enzyme-linked immunosorbent assay of human blood serum or plasma and its use

Номер патента: RU2723008C9. Автор: Александр Леонидович Гинцбург,Денис Юрьевич Логунов,Амир Ильдарович Тухватулин,Ольга Вадимовна Зубкова,Алина Шахмировна Джаруллаева,Инна Вадимовна Должикова,Борис Савельевич Народицкий,Татьяна Андреевна Ожаровская,Дмитрий Викторович Щебляков,Наталья Михайловна Тухватулина,Ильяс Булатович Есмагамбетов,Ирина Алексеевна Фаворская,Артем Алексеевич Деркаев,Фатима Магометовна Ижаева,Павел Вячеславович Симакин. Владелец: федеральное государственное бюджетное учреждение «Национальный исследовательский центр эпидемиологии и микробиологии имени почетного академика Н.Ф. Гамалеи» Министерства здравоохранения Российской Федерации. Дата публикации: 2021-02-09.

Method of producing aqueous suspension of noble metal colloid

Номер патента: RU2491988C2. Автор: Петер Теодорус ВИТТЕ. Владелец: Басф Кэталистс Ллк. Дата публикации: 2013-09-10.

Methods of producing flavouring catalyst

Номер патента: RU2736760C1. Автор: Ан-Хсианг ВУ. Владелец: ШЕВРОН ФИЛЛИПС КЕМИКАЛ КОМПАНИ ЭлПи. Дата публикации: 2020-11-19.

Method of producing 3-trifluoromethyl chalcones

Номер патента: RU2502720C2. Автор: Гари Дэвид АННИС. Владелец: Е.И.Дюпон де Немур энд Компани. Дата публикации: 2013-12-27.

Method of producing cenicriviroc and related analogues

Номер патента: RU2725888C2. Автор: Николас МОРРА. Владелец: Тобира Терапьютикс, Инк.. Дата публикации: 2020-07-07.

Method of producing composite material

Номер патента: RU2587171C9. Автор: Тобиас БЬОРНХОВ,Якоб ЛЬЮНГ,Расмус ОЛССОН. Владелец: Р-Идеа Аб. Дата публикации: 2016-09-27.

Method of producing 2,2-dibromomalonamide

Номер патента: RU2565075C2. Автор: Чарльз Д. ГАРТНЕР,Дон КАРСТЕН. Владелец: ДАУ ГЛОБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ ЭлЭлСи.. Дата публикации: 2015-10-20.

Method of producing diamine/dicarboxylic acid salt

Номер патента: RU2730455C2. Автор: Руди Рулкенс,Эрик Гролман. Владелец: ДСМ АйПи АССЕТС Б.В.. Дата публикации: 2020-08-24.

Method of producing hydrocarbon by reducing carbon monoxide

Номер патента: RU2449002C2. Автор: Хироюки СЕКИ,Хирофуми КОННО. Владелец: Ниппон Ойл Корпорейшн. Дата публикации: 2012-04-27.

Recombinant plasmid dna coding fusion protein l-hep, escherichia coli strain producer of said protein and method of producing recombinant protein

Номер патента: RU2716975C1. Автор: Татьяна Владимировна Воробьева,Анатолий Иванович Мирошников,Дмитрий Александрович Долгих,Михаил Петрович Кирпичников,Ирина Владимировна Соколова,Дмитрий Александрович Макаров,Алексей Алексеевич Зинченко,Татьяна Дмитриевна Мелихова,Даниил Михайлович Павленко,Николай Михайлович Новожилов,Василий Николаевич Степаненко,Елена Васильевна Свешникова,Игорь Валентинович Мягких,Кристина Георгиевна Левандовская,Елена Адамовна Нокель,Марине Эдуардовна Гаспарян,Иван Романович Королев,Данил Сергеевич Калинин,Илья Александрович Пучков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки институт биоорганической химии им. академиков М.М. Шемякина и Ю.А. Овчинникова Российской академии наук (ИБХ РАН). Дата публикации: 2020-03-17.

Method of producing sodium hypochlorite solution

Номер патента: RU2586887C1. Автор: Ирина Германовна Климова. Владелец: Ирина Германовна Климова. Дата публикации: 2016-06-10.

Method of producing dispersions of particles of a certain size

Номер патента: RU2729489C2. Автор: Борис Юрьев. Владелец: Арколор Аг. Дата публикации: 2020-08-07.

Lubricant additives and method of producing lubricant additives

Номер патента: RU2410414C2. Автор: Скотт Д. ШВАБ. Владелец: Афтон Кемикал Корпорейшн. Дата публикации: 2011-01-27.

Combined method of producing methanol and methyl lanette

Номер патента: RU2686701C2. Автор: Тимоти Криспин БРИСТОУ. Владелец: Бп Кемикэлз Лимитед. Дата публикации: 2019-04-30.

Method of producing mineral melt

Номер патента: RU2712997C2. Автор: Ларс Эльмекилле Хансен. Владелец: РОКВУЛ ИНТЕРНЭШНЛ А/С. Дата публикации: 2020-02-03.

Methods of manufacturing semiconductor devices

Номер патента: US09728463B2. Автор: Ha-Jin Lim,Gi-gwan PARK,Sang-yub IE,Jong-Han Lee,Jeong-hyuk YIM,Hye-ri HONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-08.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240090216A1. Автор: Meng-Han LIN,Chih-Ren Hsieh,Ching-Wen CHAN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US11864381B2. Автор: Meng-Han LIN,Chih-Ren Hsieh,Ching-Wen CHAN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-01-02.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20200027890A1. Автор: Meng-Han LIN,Chih-Ren Hsieh,Chin Wen CHAN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20220123002A1. Автор: Meng-Han LIN,Chih-Ren Hsieh,Ching-Wen CHAN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-04-21.

Semiconductor devices and methods of manufacture

Номер патента: US12033853B2. Автор: Sai-Hooi Yeong,Chi On Chui,Chun-Yen Peng,Te-Yang Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Semiconductor devices and methods of manufacture

Номер патента: US20240332010A1. Автор: Sai-Hooi Yeong,Chi On Chui,Chun-Yen Peng,Te-Yang Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Complimentary metal-insulator-metal (MIM) capacitors and method of manufacture

Номер патента: US09424992B2. Автор: Anthony K. Stamper,Zhong-Xiang He,James S. Dunn. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Semiconductor devices and methods of manufacturing thereof

Номер патента: US20240304667A1. Автор: Huang-Lin Chao,Hsiang-Pi Chang,Shen-Yang LEE. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Semiconductor device and method of manufacture

Номер патента: US12125706B2. Автор: Sai-Hooi Yeong,Chi On Chui,Chun-Yen Peng,Te-Yang Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Method of lateral oxidation of NFET and PFET high-k gate stacks

Номер патента: US09941128B2. Автор: Takashi Ando,Martin M. Frank,Robert H. Dennard. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Method of lateral oxidation of NFET and PFET high-K gate stacks

Номер патента: US09466492B2. Автор: Takashi Ando,Martin M. Frank,Robert H. Dennard. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Semiconductor mos, cmos devices and capacitors and method of manufacturing the same

Номер патента: WO2004082005B1. Автор: Ronald A Weimer,Denise M Eppich. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2004-11-04.

Semiconductor mos, cmos devices and capacitors and method of manufacturing the same

Номер патента: EP1604392A1. Автор: Denise M. Eppich,Ronald A. Weimer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2005-12-14.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20120309184A1. Автор: Hiroshi Sunamura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-12-06.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US8372709B2. Автор: Hiroshi Sunamura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2013-02-12.

Embedded memory and methods of forming the same

Номер патента: US09929168B2. Автор: Harry-Hak-Lay Chuang,Wei Cheng Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Method of fabricating a semiconductor device

Номер патента: US20110079852A1. Автор: Robert James Pascoe Lander. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2011-04-07.

Method of fabricating contact hole

Номер патента: US20190393080A1. Автор: Feng-Yi Chang,Yu-Ching Chen,Shih-Fang Tzou,Fu-Che Lee,Hsin-Yu Chiang. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2019-12-26.

Method of fabricating contact hole

Номер патента: US20190206724A1. Автор: Feng-Yi Chang,Yu-Ching Chen,Shih-Fang Tzou,Fu-Che Lee,Hsin-Yu Chiang. Владелец: Fujian Jinhua Integrated Circuit Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-04.

An electronic device and method of forming an electronic device

Номер патента: AU2022328264A1. Автор: Ji Zhang,Sean Suixiang LI,Junjie Shi,Jing-Kai HUANG. Владелец: NEWSOUTH INNOVATIONS PTY LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Method of fabricating an embedded nonvolatile memory device

Номер патента: US09954082B1. Автор: Tzyy-Ming Cheng,Sheng-Hao Lin,Hao-Ming Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Metal-insulator-metal capacitor and methods of fabrication

Номер патента: US09818689B1. Автор: Min-Hwa Chi,Hui Zang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: EP4398308A1. Автор: Sunyoung Lee,Hyunwoo Park,Hyun-Kwan Yu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-10.

Backside illuminated cmos image sensor and method of making the same

Номер патента: US20230091032A1. Автор: Feng Ji,Xiang Peng,Haoyu Chen. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Buffer layer and method of forming buffer layer

Номер патента: US20130032900A1. Автор: Kuang-Yuan Hsu,Wei-Yang Lee,Xiong-Fei Yu,Cheng-Hao Hou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-02-07.

Method of fabricating a fin field effect transistor

Номер патента: US20050142738A1. Автор: Byeong Lee. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Method of fabricating a fin field effect transistor

Номер патента: US7067360B2. Автор: Byeong Ryeol Lee. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2006-06-27.

Method of fabricating metal gate transistor

Номер патента: US12132095B2. Автор: Zhi-Cheng Lee,Wei-Jen Chen,Kai-Lin Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09331079B2. Автор: Qiuhua Han. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2016-05-03.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20240234543A1. Автор: Sunyoung Lee,Hyunwoo Park,Hyun-Kwan Yu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Method of manufacturing a semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20080284027A1. Автор: Hisaya Sakai,Kazuya Okubo,Kazuo Kawamura,Shinichi Akiyama,Hirofumi Watatani. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-11-20.

Gate Structure and Methods of Forming Metal Gate Isolation

Номер патента: US20190334003A1. Автор: Meng-Fang Hsu,Chun-Sheng Liang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-10-31.

Methods of annealing after deposition of gate layers

Номер патента: US09620386B2. Автор: Yu-Lien Huang,Chun Hsiung Tsai,Da-Wen Lin,Xiong-Fei Yu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Memory Arrays and Methods of Forming Memory Cells

Номер патента: US20130193403A1. Автор: Gurtej S. Sandhu,John Smythe. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2013-08-01.

Multi-gate device and method of fabrication thereof

Номер патента: US09660033B1. Автор: Yee-Chia Yeo,Cheng-Hsien Wu,Chih Chieh Yeh,I-Sheng Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20240250144A1. Автор: Jongho Park,Sangjin Hyun,Byounghoon Lee,Wandon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-25.

Method of using polysilicon as stop layer in a replacement metal gate process

Номер патента: US09847402B2. Автор: Chao-Hung Lin,Jyh-Shyang Jenq,Shih-Hung Tsai. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20110198709A1. Автор: Hiroshi Sunamura. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-08-18.

Integrated assemblies and methods of forming integrated assemblies

Номер патента: US12041779B2. Автор: Kunal Shrotri,Shyam Surthi,Matthew Thorum. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: EP4447120A1. Автор: Jinseok Lee,Yeonho Park,Sujin Lee,Hyungjin PARK,Deokhwan Kim,Junmo Park,Junsu KONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-16.

Power device and method of manufacturing the same

Номер патента: EP4250369A2. Автор: Injun Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-27.

Power device and method of manufacturing the same

Номер патента: EP4250369A3. Автор: Injun Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-31.

Power device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20230307534A1. Автор: Injun Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-28.

Semiconductor device structure and methods of forming the same

Номер патента: US20240147685A1. Автор: Chun-Sheng Liang,Wen-Li Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Memory cells and memory array structures and methods of their fabrication

Номер патента: US20240194264A1. Автор: Ramanathan GANDHI,Dmitry MIKULIK,Leo Lukose. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-06-13.

Backside gate contact, backside gate etch stop layer, and methods of forming same

Номер патента: US20240290864A1. Автор: Wei-De Ho,Szuya Liao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Method of manufacturing capacitors for semiconductor devices

Номер патента: US7163859B2. Автор: Dong-Woo Kim,Jae-hee Oh. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-01-16.

Semiconductor devices and methods of manufacture

Номер патента: US20230386827A1. Автор: Sai-Hooi Yeong,Chi On Chui,Chun-Yen Peng,Te-Yang Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

High k dielectric film and method for making

Номер патента: WO2003079413A3. Автор: Bich-Yen Nguyen,Xiao-Ping Wang,Hong-Wei Zhou. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2003-12-18.

High k dielectric film and method for making

Номер патента: EP1374311A1. Автор: Bich-Yen Nguyen,Srinivas V. Pietambaram,Vidya S. Kaushik,James Kenyon Schaeffer, Iii. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 2004-01-02.

Semiconductor devices and methods of manufacture

Номер патента: US11823894B2. Автор: Sai-Hooi Yeong,Chi On Chui,Chun-Yen Peng,Te-Yang Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-11-21.

Methods of forming a memory structure

Номер патента: US20190165263A1. Автор: James A. Cultra,Andrew J. Hansen. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-05-30.

Embedded sonos with a high-k metal gate and manufacturing methods of the same

Номер патента: EP3692576A1. Автор: Krishnaswamy Ramkumar. Владелец: Longitude Flash Memory Solutions Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Embedded sonos with a high-k metal gate and manufacturing methods of the same

Номер патента: WO2019070383A1. Автор: Krishnaswamy Ramkumar. Владелец: CYPRESS SEMICONDUCTOR CORPORATION. Дата публикации: 2019-04-11.

High k dielectric film and method for making

Номер патента: EP1485941A2. Автор: Bich-Yen Nguyen,Xiao-Ping Wang,Hong-Wei Zhou. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2004-12-15.

High k dielectric film and method for making

Номер патента: WO2003079413A2. Автор: Bich-Yen Nguyen,Xiao-Ping Wang,Hong-Wei Zhou. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2003-09-25.

Metal gate structure for midgap semiconductor device and method of making same

Номер патента: US09496143B2. Автор: Hoon Kim,Kisik Choi. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Method of lateral oxidation of nfet and pfet high-k gate stacks

Номер патента: US20160365252A1. Автор: Takashi Ando,Martin M. Frank,Robert H. Dennard. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-12-15.

Method of lateral oxidation of nfet and pfet high-k gate stacks

Номер патента: US20180174847A1. Автор: Takashi Ando,Martin M. Frank,Robert H. Dennard. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-06-21.

Method of lateral oxidation of nfet and pfet high-k gate stacks

Номер патента: US20190267243A1. Автор: Takashi Ando,Martin M. Frank,Robert H. Dennard. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Semiconductor device and method of manufacture

Номер патента: US20210057224A1. Автор: Sai-Hooi Yeong,Chi On Chui,Chun-Yen Peng,Te-Yang Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-02-25.

Semiconductor Device and Method of Manufacture

Номер патента: US20230317524A1. Автор: Sai-Hooi Yeong,Chi On Chui,Chun-Yen Peng,Te-Yang Lai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Embedded Memory and Methods of Forming the Same

Номер патента: US20160268284A1. Автор: Harry-Hak-Lay Chuang,Wei Cheng Wu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-09-15.

Method of fabricating a gate dielectric layer

Номер патента: US20150140765A1. Автор: Kuang-Yuan Hsu,Wei-Yang Lee,Xiong-Fei Yu,Da-Yuan Lee. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-05-21.

Method of forming a semiconductor device having a high-k dielectric

Номер патента: WO2006112948A1. Автор: Olubunmi O. Adetutu,David C. Gilmer,Hsing H. Tseng. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR. Дата публикации: 2006-10-26.

Method of manufacturing solar cell

Номер патента: US09887314B2. Автор: Hyungjin Kwon,Youngsung Yang,Junghoon Choi,Chungyi Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-02-06.

Method of adjusting metal gate work function of NMOS device

Номер патента: US8298927B2. Автор: Qiuxia Xu,Gaobo Xu. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-10-30.

Method of forming high-k dielectric material

Номер патента: US11837508B2. Автор: Jie Bai,Kang You. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-12-05.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US11855080B2. Автор: Meng-Han LIN,Te-An Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20200083220A1. Автор: Jaehyun Lee,Jonghan LEE,Hongbae PARK,Seonghwa Park,Dabok Jeong,Minseok Jo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-03-12.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20220367451A1. Автор: Meng-Han LIN,Te-An Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-11-17.

Method of forming semiconductor device using high stress cleave plane

Номер патента: US20230299060A1. Автор: Theodore E. FONG,Michael I. CURRENT. Владелец: Silicon Genesis Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Tunable poly resistors for hybrid replacement gate technology and methods of manufacturing

Номер патента: US20150228708A1. Автор: Peter Baars,Andrei Sidelnicov. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2015-08-13.

Transmission line design and method of forming the same

Номер патента: US20160380324A1. Автор: Chien-Hsun Lee,Jiun Yi Wu,Fu-Lung Hsueh,Chewn-Pu Jou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-12-29.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US20240030304A1. Автор: Wandon Kim,Munhyeon Kim,Myung Gil Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-25.

Method of fabricating metal gate transistor

Номер патента: US20230238450A1. Автор: Zhi-Cheng Lee,Wei-Jen Chen,Kai-Lin Lee. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Method of fabricating gate structure

Номер патента: US7709316B2. Автор: Kuo-Tai Huang,Shu-Yen Chan,Yun-Ren Wang,Ying-Wei Yen. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2010-05-04.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US11804530B2. Автор: Wandon Kim,Munhyeon Kim,Myung Gil Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-31.

Method of forming semiconductor fins

Номер патента: US20160043081A1. Автор: Mariappan Hariharaputhiran,Dae-Han Choi,Xiang Hu,Andy Chih-Hung Wei,Dae Geun Yang. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-02-11.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: EP3979329A3. Автор: Wandon Kim,Munhyeon Kim,Myung Gil Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-05-04.

Method of forming a semiconductor device having a high-k dielectric

Номер патента: TW200703459A. Автор: Olubunmi O Adetutu,David C Gilmer,Hsing H Tseng. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2007-01-16.

Vertical metal insulator metal capacitor having a high-k dielectric material

Номер патента: US09911732B2. Автор: Tien-I Bao,Chewn-Pu Jou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

Techniques providing high-k dielectric metal gate CMOS

Номер патента: US09431404B2. Автор: Wei-Yuan Lu,Chun-Fai Cheng,Kuan-Chung Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

HIGH-K DIELECTRIC FILM, METHOD OF MANUFACTURING THEREOF AND THIS SEMICONDUCTOR ELEMENT

Номер патента: DE60311016D1. Автор: Chan Lim,Kilho Lee. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2007-02-15.

Method of forming memory cell with high-k charge trapping layer

Номер патента: EP3262689A1. Автор: Peter Rabkin,Johann Alsmeier,Masaaki Higashitani,Jayavel Pachamuthu. Владелец: SanDisk Technologies LLC. Дата публикации: 2018-01-03.

Resonant lc tank package and method of manufacture

Номер патента: US20210104359A1. Автор: Andreas Wolter,Andreas Augustin,Saravana Maruthamuthu. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2021-04-08.

Resonant lc tank package and method of manufacture

Номер патента: US20190272950A1. Автор: Andreas Wolter,Andreas Augustin,Saravana Maruthamuthu. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

Memory using hole trapping in high-k dielectrics

Номер патента: WO2006138370A2. Автор: Leonard Forbes,Kie Y Ahn. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2006-12-28.

Method of forming high-K gate electrode structures after transistor fabrication

Номер патента: GB2468445A. Автор: Andy Wei,Andrew M Waite. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2010-09-08.

Semiconductor device and method of fabricating the same

Номер патента: US11948994B2. Автор: Jongho Park,Sangjin Hyun,Byounghoon Lee,Wandon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-04-02.

Integrating formation of a replacement gate transistor and a non-volatile memory cell using a high-k dielectric

Номер патента: US20130330893A1. Автор: Mehul D. Shroff,Mark D. Hall. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-12-12.

Multi-gate device and method of fabrication thereof

Номер патента: US11855151B2. Автор: Yee-Chia Yeo,Cheng-Hsien Wu,Chih Chieh Yeh,I-Sheng Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Densely stacked metal-insulator-metal capacitor and method of forming the same

Номер патента: US10103218B1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-10-16.

Multi-Gate Device And Method Of Fabrication Thereof

Номер патента: US20240105778A1. Автор: Yee-Chia Yeo,Cheng-Hsien Wu,Chih Chieh Yeh,I-Sheng Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Nitrogen Profile in High-K Dielectrics Using Ultrathin Disposable Capping Layers

Номер патента: US20090104743A1. Автор: Husam Alshareef,Manuel Quevedo Lopez. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-04-23.

Improved nitrogen profile in high-k dielectrics using ultrathin disposable capping layers

Номер патента: WO2009042490A3. Автор: Husam Alshareef,Manuel Quevedo Lopez. Владелец: Manuel Quevedo Lopez. Дата публикации: 2009-05-14.

ZrO-Based High K Dielectric Stack for Logic Decoupling Capacitor or Embedded DRAM

Номер патента: US20150179730A1. Автор: Imran Hashim,Xiangxin Rui. Владелец: Intermolecular Inc. Дата публикации: 2015-06-25.

A high-k dielectric material and methods of forming the high-k dielectric material

Номер патента: WO2012021318A2. Автор: Tsai-Yu Huang,Ching-Kai Lin. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-02-16.

Erasable non-volatile memory device using hole trapping in high-K dielectrics

Номер патента: US8294196B2. Автор: Leonard Forbes,Kie Y. Ahn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2012-10-23.

Forming high-K dielectric layers on smooth substrates

Номер патента: US20080087985A1. Автор: Gilbert Dewey,Mark Doczy,Justin Brask,Uday Shah,Suman Datta,Robert Chau,Jack Kavalieros,Matthew Metz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-04-17.

MECHANISMS FOR MONITORING IMPURITY IN HIGH-K DIELECTRIC FILM

Номер патента: US20150099315A1. Автор: ZHANG Wei,Chen Yen-Yu,Chen Wei-Jen,LEE Chang-Sheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd.. Дата публикации: 2015-04-09.

High k dielectric film

Номер патента: EP1714324A4. Автор: Ravindranath Droopad. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2010-08-11.

High k dielectric film

Номер патента: EP1714324A2. Автор: Ravindranath Droopad. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2006-10-25.

Semiconductor device and method of manufacturing gate stack

Номер патента: GB2484639A. Автор: Huicai Zhong,Qingqing Liang,Zhijiong Luo. Владелец: Institute of Microelectronics of CAS. Дата публикации: 2012-04-18.

Native pmos device with low threshold voltage and high drive current and method of fabricating the same

Номер патента: US20140197497A1. Автор: Akira Ito. Владелец: Broadcom Corp. Дата публикации: 2014-07-17.

High K dielectric film and method for making

Номер патента: TWI240332B. Автор: Bich-Yen Nguyen,Srinivas V Pietambaram,Vidya S Kaushik,James Kenyon Schaeffer Iii. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2005-09-21.

Method of making a split gate non-volatile memory (nvm) cell and a logic transistor

Номер патента: US20150348985A1. Автор: Brian A. Winstead,Konstantin V. Loiko. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-03.

Integrated Assemblies and Methods of Forming Integrated Assemblies

Номер патента: US20210343728A1. Автор: Kunal Shrotri,Shyam Surthi,Matthew Thorum. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-11-04.

Cmuts with a high-k dielectric

Номер патента: WO2009016606A3. Автор: Klaus Reimann,Aarnoud Laurens Roest,John Douglas Fraser,Beek Jozef Thomas Martinus Van,Marieke Klee. Владелец: Marieke Klee. Дата публикации: 2009-08-06.

Optical systems and methods of characterizing high-k dielectrics

Номер патента: US20170067830A1. Автор: Harry A. Atwater,Philippe C. ADELL. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2017-03-09.

High-k dielectric layer in three-dimensional memory device and method of forming the same

Номер патента: CN110088906B. Автор: 肖莉红. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-17.

Method of improved high K dielectric-polysilicon interface for CMOS devices

Номер патента: US7129128B2. Автор: Ronald A. Weimer. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2006-10-31.

High-K dielectric stack and method of fabricating same

Номер патента: US8722484B2. Автор: Yakov Roizin,Amos Fenigstein,Michael Lisiansky,Alexey Heiman. Владелец: Tower Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2014-05-13.

Manufacturing method of high-K dielectric layer

Номер патента: CN111710602A. Автор: 郁赛华,董雅娟. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-25.

Self-protective layer formed on high-K dielectric layer

Номер патента: US11923201B2. Автор: Ming-Hsi Yeh,Kuo-Bin Huang,Ying-Liang Chuang,Ju-Li Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Semiconductor arrangement and method of making

Номер патента: US20200135840A1. Автор: Wen-Shiang Liao,Huan-Neng CHEN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-04-30.

Optical systems and methods of characterizing high-k dielectrics

Номер патента: EP3344972A4. Автор: Philippe C. ADELL,Harry A. ATWATERE. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2019-03-27.

Semiconductor arrangement and method of making

Номер патента: US20210118979A1. Автор: Wen-Shiang Liao,Huan-Neng CHEN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-04-22.

Method of manufacturing capacitor of semiconductor device having tantalum oxide dielectric film

Номер патента: KR100331569B1. Автор: 박흥수,박영욱,박기연. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2002-04-06.

Forming high-k dielectric layers on smooth substrates

Номер патента: TWI325603B. Автор: Gilbert Dewey,Mark Doczy,Justin Brask,Uday Shah,Suman Datta,Robert Chau,Jack Kavalieros,Matthew Metz. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

High-k dielectric layer in three-dimensional memory devices and methods for forming the same

Номер патента: EP3891810B1. Автор: Lihong Xiao. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-04.

Process for patterning high-k dielectric material

Номер патента: SG118211A1. Автор: Tao Hun-Jan,PERNG Baw-Ching,CHIU Hsien-Kuang. Владелец: Taiwan Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2006-01-27.

Device and method for etching flash memory gate stacks comprising high-k dielectric

Номер патента: TWI374518B. Автор: WEI Liu,Xikun Wang,Shashank Deshmukh,Meihua Shen,Yan Du. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2012-10-11.

Method and Apparatus for Reducing Charge Trapping in High-K Dielectric Material

Номер патента: US20100054022A1. Автор: Michael Beck,Roland Thewes,Martin Kerber,Peter Lahnor. Владелец: Qimonda AG. Дата публикации: 2010-03-04.

Device and method for etching flash memory gate stacks comprising high-K dielectric

Номер патента: TW200802733A. Автор: WEI Liu,Xikun Wang,Shashank Deshmukh,Meihua Shen,Yan Du. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2008-01-01.

HIGH-K DIELECTRICS WITH GOLD NANO-PARTICLES

Номер патента: US20130153986A1. Автор: Forbes Leonard,Ahn Kie Y.. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2013-06-20.

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING CAPACITOR INCLUDING HIGH-K DIELECTRIC

Номер патента: US20130207171A1. Автор: Uno Tomohiro. Владелец: ELPIDA MEMORY, INC.. Дата публикации: 2013-08-15.

Method for Producing MIM Capacitors with High K Dielectric Materials and Non-Noble Electrodes

Номер патента: US20130285205A1. Автор: Chen Hanhong,Kumar Pragati. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-31.

Techniques Providing High-K Dielectric Metal Gate CMOS

Номер патента: US20140027843A1. Автор: Lu Wei-Yuan,Cheng Chun-Fai,Chen Kuan--Chung. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2014-01-30.

RELIABLE NANOFET BIOSENSOR PROCESS WITH HIGH-K DIELECTRIC

Номер патента: US20140054651A1. Автор: Bashir Rashid,Reddy Bobby,Dorvel Brian Ross. Владелец: The Board of Trustees of the University of Illinois. Дата публикации: 2014-02-27.

INTEGRATED CIRCUITS HAVING IMPROVED HIGH-K DIELECTRIC LAYERS AND METHODS FOR FABRICATION OF SAME

Номер патента: US20150001643A1. Автор: Kim Hoon,Choi Kisik. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

HIGH K DIELECTRIC COMPOSITION FOR THERMOFORMABLE CAPACITIVE CIRCUITS

Номер патента: US20160005542A1. Автор: Dorfman Jay Robert. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-07.

Method for etching high-k dielectric using pulsed bias power

Номер патента: US20160020108A1. Автор: Akiteru Ko,Alok Ranjan. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-01-21.

RELIABILITY CAPS FOR HIGH-K DIELECTRIC ANNEALS

Номер патента: US20190019682A1. Автор: Siddiqui Shariq,Galatage Rohit,Yang Chung-Ju. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-17.

Doped High-k Dielectrics and Methods for Forming the Same

Номер патента: US20150035085A1. Автор: AHMED Khaled,Greer Frank. Владелец: Intermolecular Inc.. Дата публикации: 2015-02-05.

Semiconductor devices employing high-k dielectric layers as a gate insulating layer

Номер патента: US20140124872A1. Автор: Weonhong Kim,Dae-Kwon Joo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-05-08.

Methods for Forming High-K Dielectric Materials with Tunable Properties

Номер патента: US20170084680A1. Автор: Gaurav SARAF,Howard Lin,Kiet Vuong. Владелец: Intermolecular Inc. Дата публикации: 2017-03-23.

TRANSITION METAL ALUMINATE AND HIGH K DIELECTRIC SEMICONDUCTOR STACK

Номер патента: US20140175618A1. Автор: Mujumdar Salil. Владелец: Intermolecular Inc.. Дата публикации: 2014-06-26.

Self-Protective Layer Formed on High-K Dielectric Layer

Номер патента: US20200090940A1. Автор: Yeh Ming-Hsi,Huang Kuo-Bin,Chuang Ying-Liang,Huang Ju-Li. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING METAL GATE AND HIGH-K DIELECTRIC LAYER AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20140183649A1. Автор: JI Yun-Hyuck,LEE Seung-Mi. Владелец: SK HYNIX INC.. Дата публикации: 2014-07-03.

3D IC ANTENNA ARRAY WITH LAMINATED HIGH-K DIELECTRIC

Номер патента: US20190103680A1. Автор: KUO Feng Wei,Liao Wen-Shiang. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-04.

Electrical test structure for devices employing high-k dielectrics or metal gates

Номер патента: US20140203280A1. Автор: Robert C. Lutz. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2014-07-24.

Self-Protective Layer Formed on High-K Dielectric Layers with Different Materials

Номер патента: US20190131185A1. Автор: Yeh Ming-Hsi,Huang Kuo-Bin,Chuang Ying-Liang,Huang Ju-Li. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-02.

APPROACH TO HIGH-K DIELECTRIC FEATURE UNIFORMITY

Номер патента: US20190131435A1. Автор: Yamashita Tenko,Zhang Chen,Yeung Chun Wing. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-02.

METHOD FOR ETCHING HIGH-K DIELECTRIC USING PULSED BIAS POWER

Номер патента: US20170154781A1. Автор: RANJAN ALOK,KO Akiteru. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-01.

Self-Protective Layer Formed on High-K Dielectric Layer

Номер патента: US20210193469A1. Автор: Yeh Ming-Hsi,Huang Kuo-Bin,Chuang Ying-Liang,Huang Ju-Li. Владелец: . Дата публикации: 2021-06-24.

METHOD FOR ETCHING HIGH-K DIELECTRIC USING PULSED BIAS POWER

Номер патента: US20140256149A1. Автор: RANJAN ALOK,KO Akiteru. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2014-09-11.

HIGH-K DIELECTRIC MATERIALS WITH DIPOLE LAYER

Номер патента: US20220310457A1. Автор: Chang I-Ming,Chao Huang-Lin,Chang Huiching. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-29.

ZrO-Based High K Dielectric Stack for Logic Decoupling Capacitor or Embedded DRAM

Номер патента: US20150179730A1. Автор: Rui Xiangxin,Hashim Imran. Владелец: INTERMOLECULAR, INC.. Дата публикации: 2015-06-25.

APPROACH TO HIGH-K DIELECTRIC FEATURE UNIFORMITY

Номер патента: US20200161452A1. Автор: Yamashita Tenko,Zhang Chen,Yeung Chun Wing. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-21.

High-K Dielectric Grid Structure for Semiconductor Device

Номер патента: US20140263956A1. Автор: Lin Yu-Ku,Lin Chun Che,Wu Chih-Nan,Jian Shiu-Ko Jang. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Doping of High-K Dielectric Oxide by Wet Chemical Treatment

Номер патента: US20160181108A1. Автор: Kelly Andrew Joseph,Oniki Yusuke. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-23.

METHOD AND STRUCTURE FOR A LARGE-GRAIN HIGH-K DIELECTRIC

Номер патента: US20160181158A1. Автор: HEGDE RAMA I.. Владелец: . Дата публикации: 2016-06-23.

SEMICONDUCTOR STRUCTURE HAVING INTERFACIAL LAYER AND HIGH-K DIELECTRIC LAYER

Номер патента: US20150187902A1. Автор: Wann Clement Hsingjen,Xu Jeff J.,Lee Chen-Yi,YAO Liang-Gi,CHENG Chun-Hu. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-02.

METHOD AND STRUCTURE FOR A LARGE-GRAIN HIGH-K DIELECTRIC

Номер патента: US20180204923A1. Автор: HEGDE RAMA I.. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-19.

High-k Dielectric Liners in Shallow Trench Isolations

Номер патента: US20160233256A1. Автор: Chen Szu-Ying,Yaung Dun-Nian,Liu Jen-Cheng,Wang Tzu-Jui. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-11.

HIGH-K DIELECTRIC MATERIALS UTILIZED IN DISPLAY DEVICES

Номер патента: US20170229554A1. Автор: CHOI Soo Young,Rui Xiangxin,CHEN Jrjyan Jerry,Yim Dong-Kil. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-10.

3d ic antenna array with laminated high-k dielectric

Номер патента: US20210257745A1. Автор: Wen-Shiang Liao,Feng Wei KUO. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2021-08-19.

HIGH-K DIELECTRICS WITH A LOW-K INTERFACE FOR SOLUTION PROCESSED DEVICES

Номер патента: US20150311307A1. Автор: Ng Tse Nga,Hsieh Bing R.,Whiting Gregory. Владелец: PALO ALTO RESEARCH CENTER INCORPORATED. Дата публикации: 2015-10-29.

HIGH-K DIELECTRIC LAYER IN THREE-DIMENSIONAL MEMORY DEVICES AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20200303399A1. Автор: Xiao Li Hong. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-24.

Techniques Providing High-K Dielectric Metal Gate CMOS

Номер патента: US20150333076A1. Автор: Lu Wei-Yuan,Chen Kuan-Chung,Cheng Chun-Fai. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-19.

METHOD AND STRUCTURE FOR A LARGE-GRAIN HIGH-K DIELECTRIC

Номер патента: US20180315824A9. Автор: HEGDE RAMA I.. Владелец: . Дата публикации: 2018-11-01.

High-k Dielectric Liners in Shallow Trench Isolations

Номер патента: US20190348451A1. Автор: Szu-Ying Chen,Dun-Nian Yaung,Jen-Cheng Liu,Tzu-Jui WANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Vertical Metal Insulator Metal Capacitor Having a High-K Dielectric Material

Номер патента: US20170373056A1. Автор: JOU Chewn-PU,BAO Tien-I. Владелец: . Дата публикации: 2017-12-28.

METAL VERTICAL TRANSFER GATE WITH HIGH-K DIELECTRIC PASSIVATION LINING

Номер патента: US20200411585A1. Автор: Chen Gang,Sun Shiyu,HUANG Chiao-Ti. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-31.

INTEGRATED PATCH ANTENNA HAVING AN INSULATING SUBSTRATE WITH AN ANTENNA CAVITY AND A HIGH-K DIELECTRIC

Номер патента: US20220368012A1. Автор: Chen Ching-Hui,KUO Feng Wei,Liao Wen-Shiang. Владелец: . Дата публикации: 2022-11-17.

Ozone-enhanced oxidation for high-k dielectric semiconductor devices

Номер патента: US6573193B2. Автор: Mo-Chiun Yu,Yeou-Ming Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2003-06-03.

Method for high-K dielectric feature uniformity

Номер патента: CN111316422A. Автор: 杨振荣,张辰,山下典洪. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-06-19.

Method and system for etching high-k dielectric materials

Номер патента: JP4723503B2. Автор: 明輝 高,正明 萩原,チェン、リー,弘光 神原,信浩 岩間,宏政 持木. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-07-13.

Capacitor, method of making the same, filter using the same, and dielectric thin film used for the same

Номер патента: EP1691383A1. Автор: Masahiro Miyazaki,Makoto Shibata. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2006-08-16.

Flash Cell with Integrated High-K Dielectric and Metal-Based Control Gate

Номер патента: US20100163952A1. Автор: Walid M. Hafez,Chia-Hong Jan. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2010-07-01.

High-k dielectric for thermodynamically-stable substrate-type materials

Номер патента: WO2003096390A1. Автор: Chi On Chui,Krishna C. Saraswat,Baylor B. Triplett. Владелец: STANFORD UNIVERSITY. Дата публикации: 2003-11-20.

High-k dielectrics with gold nano-particles

Номер патента: US8367506B2. Автор: Leonard Forbes,Kie Y. Ahn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2013-02-05.

Flash cell with integrated high-k dielectric and metal-based control gate

Номер патента: WO2010078189A2. Автор: Walid M. Hafez,Chia-Hong Jan. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2010-07-08.

cmuts with a high-k dielectric

Номер патента: CN101772383A. Автор: M·克莱,J·D·弗雷泽,K·赖曼,A·L·鲁斯特,J·T·M·范贝克. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2010-07-07.

Method for plasma etching of high-K dielectric materials

Номер патента: US20040007561A1. Автор: AJAY Kumar,Padmapani Nallan,Guangxiang Jin. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2004-01-15.

Pixel and imager device having high-k dielectrics in isolation structures

Номер патента: US20070096176A1. Автор: Chandra Mouli. Владелец: Chandra Mouli. Дата публикации: 2007-05-03.

High-k dielectrics with a low-k interface for solution processed devices

Номер патента: US9219126B2. Автор: Bing R. Hsieh,Gregory Whiting,Tse Nga Ng. Владелец: Palo Alto Research Center Inc. Дата публикации: 2015-12-22.

Silicide process using high K-dielectrics

Номер патента: US6784506B2. Автор: Qi Xiang,Eric N. Paton,Paul R. Besser,Matthew S. Buynoski,Paul L. King,John Clayton Foster. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 2004-08-31.

Metal vertical transfer gate with high-k dielectric passivation lining

Номер патента: US11121169B2. Автор: Gang Chen,Shiyu Sun,Chiao-Ti HUANG. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2021-09-14.

Approach to high-k dielectric feature uniformity

Номер патента: US10600887B2. Автор: Chen Zhang,Tenko Yamashita,Chun Wing Yeung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2020-03-24.

Vertical metal insulator metal capacitor having a high-K dielectric material

Номер патента: US9793264B1. Автор: Tien-I Bao,Chewn-Pu Jou. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

A method and system to enhance the removal of high-k-dielectric materials

Номер патента: WO2004021409A3. Автор: Lee Chen,Gordon Bease. Владелец: Gordon Bease. Дата публикации: 2004-07-01.

Low temperature polysilicon oxide process for high-k dielectric/metal gate stack

Номер патента: US20090170346A1. Автор: James J. Chambers,Ajith Varghese. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

High k dielectric layer and forming method thereof, the capacitor arrangement using it

Номер патента: CN109346458A. Автор: 不公告发明人. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2019-02-15.

High-k dielectric liners in shallow trench isolations

Номер патента: US10510790B2. Автор: Szu-Ying Chen,Dun-Nian Yaung,Jen-Cheng Liu,Tzu-Jui WANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-12-17.

Method for fabricating transistor with high-K dielectric sidewall spacer

Номер патента: US8536041B2. Автор: Isaac Lauer,Jeffrey W. Sleight,Leland Chang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2013-09-17.

Process for the formation of RuSixOy-containing barrier layers for high-k dielectrics

Номер патента: US20020121697A1. Автор: Eugene Marsh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-05.

N+ polysilicon on high-k dielectric semiconductor devices

Номер патента: WO2006104893A2. Автор: Christoph Wasshuber,Ramesh Venugopal,David Barry Scott. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2006-10-05.

High-K dielectric structure for deep trench isolation

Номер патента: US9224740B1. Автор: Shahab Siddiqui,Sean M. Polvino. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2015-12-29.

Method for high-K dielectric feature uniformity

Номер патента: CN111316422B. Автор: 杨振荣,张辰,山下典洪. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2023-06-20.

Process for patterning high-k dielectric material

Номер патента: US20050181590A1. Автор: Hun-Jan Tao,Baw-Ching Perng,Hsien-Kuang Chiu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-18.

Techniques providing high-k dielectric metal gate CMOS

Номер патента: US8580641B2. Автор: Wei-Yuan Lu,Chun-Fai Cheng,Kuan-Chung Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2013-11-12.

Erasable non-volatile memory device using hole trapping in high-K dielectrics

Номер патента: US7602009B2. Автор: Leonard Forbes,Kie Y. Ahn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2009-10-13.

Noval chemistry and method for the selective removal of high-k dielectrics

Номер патента: US20030109106A1. Автор: James Chambers,Antonio Pacheco Rotondaro. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2003-06-12.

Self aligned metal gates on high-k dielectrics

Номер патента: US20070007635A1. Автор: Leonard Forbes,Kie Ahn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2007-01-11.

Self aligned metal gates on high-k dielectrics

Номер патента: US20070045676A1. Автор: Leonard Forbes,Kie Ahn. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2007-03-01.

Circuit structure with metal gate and high-k dielectric

Номер патента: WO2009019187A3. Автор: Vijay Narayanan,Bruce Doris,Vamsi Paruchuri,Eduard Albert Cartier,Barry Paul Linder. Владелец: Barry Paul Linder. Дата публикации: 2009-04-02.

Process for patterning high-k dielectric material

Номер патента: US7037849B2. Автор: Hun-Jan Tao,Baw-Ching Perng,Hsien-Kuang Chiu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2006-05-02.

High k dielectric materials integrated into multi-gate transistor structures

Номер патента: US20080315310A1. Автор: Uday Shah,Jack Kavalieros,Willy Rachmady. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2008-12-25.

Transistors with high-k dielectric spacer liner to mitigate lateral oxide encroachment

Номер патента: US20090079014A1. Автор: Willy Rachmady,Justin S. Sandford. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2009-03-26.

Flash cell with integrated high-k dielectric and metal-based control gate

Номер патента: CN102272929A. Автор: C-H·詹,W·M·哈弗兹. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2011-12-07.

Nitridation of high-k dielectrics

Номер патента: AU2003291319A1. Автор: Randall Higuchi,Craig Bercaw,Yoshihide Senzaki,Robert Hood Chatham Iii,Eugene S. Lopata. Владелец: Aviza Technology Inc. Дата публикации: 2004-06-03.

Interfacial layer for use with high k dielectric materials

Номер патента: WO2006023027A1. Автор: Papu D. Maniar,Shawn G. Thomas,Vida Ilderem. Владелец: Freescale Semiconductor, Inc.. Дата публикации: 2006-03-02.

Electrical test structure for devices employing high-k dielectrics or metal gates

Номер патента: US20140203280A1. Автор: Robert C. Lutz. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2014-07-24.

Improved nitrogen profile in high-k dielectrics using ultrathin disposable capping layers

Номер патента: TW200939354A. Автор: Husam Alshareef,Manuel A Quevedo-Lopez. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2009-09-16.

Method to improve the quality of a high-k dielectric layer

Номер патента: EP3316289B1. Автор: YONG Li. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2021-09-08.

Liner to form composite high-k dielectric

Номер патента: US20230307491A1. Автор: Fredrick FISHBURN. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Nitridation of high-k dielectrics

Номер патента: TW200422427A. Автор: Randall Higuchi,Craig Bercaw,Yoshihide Senzaki,Eugene S Lopata,Iii Robert H Chatham. Владелец: Aviza Tech Inc. Дата публикации: 2004-11-01.

Nitridation of high-k dielectrics

Номер патента: AU2003291319A8. Автор: Randall Higuchi,Craig Bercaw,Yoshihide Senzaki,Robert Hood Chatham Iii,Eugene S Lopata. Владелец: Aviza Technology Inc. Дата публикации: 2004-06-03.

Method of producing an impregnated electrical capacttor

Номер патента: US3555642A. Автор: Horst Hagedorn. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 1971-01-19.

Method of nonstoichiometric cvd dielectric film surface passivation for film roughness control

Номер патента: WO2010056731A1. Автор: Kwanghoon Kim,Lance Kim. Владелец: MICROCHIP TECHNOLOGY INCORPORATED. Дата публикации: 2010-05-20.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US09917092B2. Автор: Wensheng Wang,Hideki Ito,Youichi Okita. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2018-03-13.

Method of aluminum foil rolling and aluminum foils produced by said method

Номер патента: RU2736992C2. Автор: Джованни БОРИНЕЛЛИ. Владелец: ГУАСТА Фабрицио. Дата публикации: 2020-11-23.

Method of producing popcorn product from corn

Номер патента: RU2673740C1. Автор: ЗАДЕХ Саеид ЙОУСЕФ. Владелец: Лина Ник Компани. Дата публикации: 2018-11-29.

Method of producing semiconductor optical device

Номер патента: US7955880B2. Автор: Toshio Nomaguchi,Tetsuya Hattori,Kazunori Fujimoto. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2011-06-07.

Method of producing semiconductor optical device

Номер патента: US20090317929A1. Автор: Toshio Nomaguchi,Tetsuya Hattori,Kazunori Fujimoto. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2009-12-24.

Method of fabricating capacitor for semiconductor device

Номер патента: US6190993B1. Автор: Byung Jae Choi,Soo Jin Seo. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 2001-02-20.

Method of producing baking for animals and baking for animals

Номер патента: RU2654785C1. Автор: Ханс-Юрген ДОЙЕРЕР. Владелец: Ханс-Юрген ДОЙЕРЕР. Дата публикации: 2018-05-22.

Method of producing products containing stabilised active substances and compositions containing same

Номер патента: RU2563685C2. Автор: Сай Ин КО. Владелец: Сай Ин КО. Дата публикации: 2015-09-20.

Methods of manufacturing semiconductor devices with Si and SiGe epitaxial layers

Номер патента: US20120003799A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003808A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003841A1. Автор: . Владелец: ULVAC, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

High-k dielectric films and methods ofproducing using cerium-based precursors

Номер патента: TW200949005A. Автор: Peter Nicholas Heys,Paul Raymond Chalker. Владелец: Sigma Aldrich Co. Дата публикации: 2009-12-01.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE & METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001249A1. Автор: Alsmeier Johann,Samachisa George. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001250A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ULTRAHIGH DENSITY VERTICAL NAND MEMORY DEVICE AND METHOD OF MAKING THEREOF

Номер патента: US20120001247A1. Автор: Alsmeier Johann. Владелец: SanDisk Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

GATE STRUCTURES AND METHOD OF FABRICATING SAME

Номер патента: US20120001266A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING AN INTEGRATED CIRCUIT DEVICE

Номер патента: US20120003806A1. Автор: . Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

ETCHANTS AND METHODS OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICES USING THE SAME

Номер патента: US20120001264A1. Автор: YANG Jun-Kyu,Kim Hong-Suk,Hwang Ki-Hyun,Ahn Jae-Young,Lim Hun-Hyeong,KIM Jin-Gyun. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003761A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF ETCHING SACRIFICIAL LAYER

Номер патента: US20120003835A1. Автор: Yeh Chiu-Hsien,Yang Chan-Lon,Wang Yeng-Peng. Владелец: UNITED MICROELECTRONICS CORP.. Дата публикации: 2012-01-05.

High k dielectric film

Номер патента: TWI362073B. Автор: Ravindranath Droopad. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2012-04-11.

HIGH-K DIELECTRIC MATERIAL AND METHODS OF FORMING THE HIGH-K DIELECTRIC MATERIAL

Номер патента: US20120040162A1. Автор: Huang Tsai-Yu,Lin Ching-Kai. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-02-16.

Yttrium and Titanium High-K Dielectric Films

Номер патента: US20120061799A1. Автор: Chen Hanhong,Malhotra Sandra,Chiang Tony,Hashim Imran,Shanker Sunil,Kumar Pragati,De Indranil,Haywood Edward,Fuchigami Nobi. Владелец: . Дата публикации: 2012-03-15.

ETCHING HIGH K DIELECTRIC FILMS WITH REDUCED LIKELIHOOD OF DELAMINATION

Номер патента: US20130065023A1. Автор: Ali Abbas,Rampersad Hansley Regan. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2013-03-14.

High K dielectric film

Номер патента: TW200527540A. Автор: Ravindranath Droopad. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2005-08-16.

Method of Removing High-K Dielectric Layer on Sidewalls of Gate Structure

Номер патента: US20120256278A1. Автор: ZHANG YING,Yan Hongwen,Yang Qingyun. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2012-10-11.

SEMICONDUCTOR DEVICES EMPLOYING HIGH-K DIELECTRIC LAYERS AS A GATE INSULATING LAYER AND METHODS OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120129330A1. Автор: Joo Dae-Kwon,KIM WeonHong. Владелец: . Дата публикации: 2012-05-24.

TANTALUM SILICON OXYNITRIDE HIGH-K DIELECTRICS AND METAL GATES

Номер патента: US20120205720A1. Автор: Forbes Leonard,Ahn Kie Y.,Bhattacharyya Arup. Владелец: . Дата публикации: 2012-08-16.

METHOD FOR PRODUCING MIM CAPACITORS WITH HIGH K DIELECTRIC MATERIALS AND NON-NOBLE ELECTRODES

Номер патента: US20120214288A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-08-23.

REDUCING EQUIVALENT THICKNESS OF HIGH-K DIELECTRICS IN FIELD EFFECT TRANSISTORS BY PERFORMING A LOW TEMPERATURE ANNEAL

Номер патента: US20120238086A1. Автор: . Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2012-09-20.

METHOD FOR FABRICATING HIGH-K DIELECTRIC LAYER

Номер патента: US20120282783A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-11-08.

FORTIFICATION OF CHARGE STORING MATERIAL IN HIGH K DIELECTRIC ENVIRONMENTS AND RESULTING APPARATUSES

Номер патента: US20130001673A1. Автор: . Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2013-01-03.

Techniques Providing High-K Dielectric Metal Gate CMOS

Номер патента: US20130026579A1. Автор: Lu Wei-Yuan,Chen Kuan-Chung,Cheng Chun-Fai. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.. Дата публикации: 2013-01-31.

Non-volatile Memory Cell Having A High K Dielectric And Metal Gate

Номер патента: US20130032872A1. Автор: KOTOV Alexander,Su Chien-Sheng. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

METHOD FOR ETCHING HIGH-K DIELECTRIC USING PULSED BIAS POWER

Номер патента: US20130052833A1. Автор: RANJAN ALOK,KO Akiteru. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2013-02-28.

Methods For Depositing High-K Dielectrics

Номер патента: US20130056852A1. Автор: Rui Xiangxin,Hashim Imran,Malhotra Sandra G.,Shanker Sunil,Haywood Edward L.. Владелец: INTERMOLECULAR, INC.. Дата публикации: 2013-03-07.

METHOD FOR PROCESSING HIGH-K DIELECTRIC LAYER

Номер патента: US20130072030A1. Автор: Wang Yu-Ren,Chen Chih-Chung,Wang Shao-Wei,Lu Tsuo-Wen,Lin Chien-Liang,Yen Ying-Wei,Teng Wen-Yi. Владелец: . Дата публикации: 2013-03-21.

Electrical Test Structure for Devices Employing High-K Dielectrics or Metal Gates

Номер патента: US20130140564A1. Автор: Lutz Robert C.. Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2013-06-06.

ELECTRICAL TEST STRUCTURE FOR DETERMINING LOSS OF HIGH-K DIELECTRIC MATERIAL AND/OR METAL GATE MATERIAL

Номер патента: US20130234138A1. Автор: Lutz Robert C.. Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2013-09-12.

HIGH-K DIELECTRIC LAYER BASED SEMICONDUCTOR STRUCTURES AND FABRICATION PROCESS THEREOF

Номер патента: US20130313658A1. Автор: LI AILEEN,NI JINGHUA. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-28.

INTEGRATING FORMATION OF A REPLACEMENT GATE TRANSISTOR AND A NON-VOLATILE MEMORY CELL USING A HIGH-K DIELECTRIC

Номер патента: US20130330893A1. Автор: Shroff Mehul D.,HALL MARK D.. Владелец: . Дата публикации: 2013-12-12.

Method for growing high k dielectric on graphene by adopting rhodamine as buffering layer

Номер патента: CN102709177B. Автор: 王鹏飞,张卫,孙清清,周鹏,沈于兰. Владелец: FUDAN UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-03-04.

Polishing method for high-K-dielectric silicon wafer

Номер патента: CN105990097A. Автор: 王坚,王晖,杨贵璞. Владелец: ACM (SHANGHAI) Inc. Дата публикации: 2016-10-05.

Method for preparing high-k dielectric layer

Номер патента: CN104701240A. Автор: 肖天金. Владелец: Shanghai Huali Microelectronics Corp. Дата публикации: 2015-06-10.

High K dielectric compositions with fine crystal particle size

Номер патента: CN1076302A. Автор: S·A·布鲁诺,I·伯恩. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 1993-09-15.

High k dielectric composition with fine crystal particle size

Номер патента: CN1230833C. Автор: S·A·布鲁诺,I·伯恩. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 2005-12-07.

Method and system for etching a high-k dielectric material

Номер патента: TW200426941A. Автор: Lee Chen,Hiromitsu Kambara,Masaaki Hagihara,Nobuhiro Iwama,Hiromasa Mochiki,Meiki Koh. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2004-12-01.

METHOD OF FORMING STRAINED EPITAXIAL CARBON-DOPED SILICON FILMS

Номер патента: US20120003825A1. Автор: Dip Anthony. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF PRODUCING ORGANIC LIGHT-EMITTING DEVICE

Номер патента: US20120003764A1. Автор: Koike Atsushi,Kameyama Makoto. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM USING THE SAME AND PATTERN FORMING METHOD

Номер патента: US20120003586A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SOLID-STATE IMAGE SENSOR

Номер патента: US20120001291A1. Автор: Kokumai Kazuo. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR STRUCTURE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120003815A1. Автор: Lee Sang-yun. Владелец: BESANG INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING A SOLAR CELL WITH A TUNNEL DIELECTRIC LAYER

Номер патента: US20120000528A1. Автор: Smith David,Dennis Tim,Harrington Scott,Manning Jane,Waldhauer Ann. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CANCER BIOMARKERS AND METHODS OF USE THEREOF

Номер патента: US20120003639A1. Автор: KERLIKOWSKE KARLA,TLSTY THEA D.,GAUTHIER MONA L.,BERMAN HAL K.,BREMER TROY,MOLINARO ANNETTE M.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF PRODUCING ALKYLBENZENE AND CATALYST USED THEREFOR

Номер патента: US20120000819A1. Автор: MATSUSHITA Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PRODUCE WEIGHING SCALE WITH A CAMERA AND METHODS OF OPERATING A PRODUCE WEIGHING SCALE HAVING A CAMERA

Номер патента: US20120000976A1. Автор: Rollyson Stephen,Ehrhardt Dale. Владелец: NCR Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of producing cleaning web, image-forming device and fixing device

Номер патента: US20120003020A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Nanostructured Mn-Al Permanent Magnets And Methods of Producing Same

Номер патента: US20120003114A1. Автор: Zeng Qi,Baker Ian. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IMMUNO-MOLECULES CONTAINING VIRAL PROTEINS, COMPOSITIONS THEREOF AND METHODS OF USING

Номер патента: US20120003249A1. Автор: Reiter Yoram,Lev Avital. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

VIRUS LIKE PARTICLE COMPOSITIONS AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120003266A1. Автор: . Владелец: The United States of America,as represented by The Secretary, National Institues of Health. Дата публикации: 2012-01-05.

Antistatic laminate, optical film, polarizing plate, image display device and production method of antistatic laminate

Номер патента: US20120003467A1. Автор: . Владелец: FUJI FILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

NUCLEOTIDE SEQUENCES ENCODING GSH1 POLYPEPTIDES AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120004114A1. Автор: . Владелец: E. I. DU PONT DE NEMOURS AND COMPANY AND PIONEER HI-BRED INTERNATIONAL. Дата публикации: 2012-01-05.

BIGLYCAN MUTANTS AND RELATED THERAPEUTICS AND METHODS OF USE

Номер патента: US20120004178A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

PICEATANNOL-CONTAINING COMPOSITION AND METHOD OF PRODUCING PICEATANNOL-CONTAINING COMPOSITION

Номер патента: US20120004322A1. Автор: . Владелец: MORINAGA & CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Antireflective Coatings for Via Fill and Photolithography Applications and Methods of Preparation Thereof

Номер патента: US20120001135A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL WAVEGUIDE

Номер патента: US20120003385A1. Автор: Naito Ryusuke. Владелец: NITTO DENKO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL WAVEGUIDE

Номер патента: US20120003393A1. Автор: . Владелец: NITTO DENKO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

HONEYCOMB STRUCTURE BODY AND METHOD OF PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20120003420A1. Автор: Betsushiyo Takahiro,Aoki Hiromasa,Sakamoto Kazuhisa. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

LIGNIN/POLYACRYLONITRILE-CONTAINING DOPES, FIBERS, AND METHODS OF MAKING SAME

Номер патента: US20120003471A1. Автор: . Владелец: WEYERHAEUSER NR COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

POROUS CLUSTERS OF SILVER POWDER COMPRISING ZIRCONIUM OXIDE FOR USE IN GAS DIFFUSION ELECTRODES, AND METHODS OF PRODUCTION THEREOF

Номер патента: US20120003549A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING WAX-CONTAINING POLYMER PARTICLES

Номер патента: US20120003581A1. Автор: Yang Xiqiang,Bennett James R.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS OF PRODUCING C4 DICARBOXYLIC ACIDS

Номер патента: US20120003708A1. Автор: . Владелец: ARCHER DANIELS MIDLAND COMPANY. Дата публикации: 2012-01-05.

LONG-ACTING VETERINARY POLYPEPTIDES AND METHODS OF PRODUCING AND ADMINISTERING SAME

Номер патента: US20120004286A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

VIOLET LASER EXCITABLE DYES AND THEIR METHOD OF USE

Номер патента: US20120004397A1. Автор: . Владелец: LIFE TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

Method Of Refining The Grain Structure Of Alloys

Номер патента: US20120000317A1. Автор: Flemings Merton C.,Ragone David V.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING CRYSTALLINE SILICON SOLAR CELLS USING EPITAXIAL DEPOSITION

Номер патента: US20120000511A1. Автор: . Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

PIEZORESISTIVE DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME AND PIEZORESISTIVE-TYPE TOUCH PANEL HAVING THE SAME

Номер патента: US20120001870A1. Автор: LEE Kang Won,Lee Seung Seob. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MULTI-LAYER PANEL AND METHOD OF MANUFACTURING SUCH A PANEL

Номер патента: US20120002288A1. Автор: Maass Uwe. Владелец: MUSION SYSTEMS LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

ANTI-COBRA TOXIN ANTIBODY FRAGMENTS AND METHOD OF PRODUCING A VHH LIBRARY

Номер патента: US20120003245A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Molded Expanded Pellet Product and Method of Making

Номер патента: US20120003365A1. Автор: Ramirez Fernando,GUZMAN Roberto,GARCIA Anamaria,PACHECO Antonio. Владелец: SABRITAS, S. DE R.L. DE C.V.. Дата публикации: 2012-01-05.

PREPARATION METHOD OF PIMARIC ACID TYPE RESIN ACID

Номер патента: US20120004390A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SPUTTERING TARGET ASSEMBLY AND METHOD OF MAKING SAME

Номер патента: US20120000594A1. Автор: Ivanov Eugene Y.,Theado Erich. Владелец: TOSOH SMD, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Methods Of Enhancing Antibody-Dependent Cellular Cytotoxicity

Номер патента: US20120003213A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

EDIBLE BREAD CUP AND METHOD OF PRODUCTION

Номер патента: US20120003363A1. Автор: Beloff Arthur L.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method of producing sugar kvass with forest oregano

Номер патента: RU2596674C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2016-09-10.

THIN FILM TRANSISTOR AND METHOD OF FABRICATING SAME

Номер патента: US20120001190A1. Автор: Yaneda Takeshi,Aita Tetsuya,Harumoto Yoshiyuki,Inoue Tsuyoshi,OKABE Tohru. Владелец: SHARP KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

DRIVING METHOD OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE

Номер патента: US20120001881A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Methods of Preparing Non-Alcohol Bioactive Esential Oil Mouth Rinses

Номер патента: US20120003162A1. Автор: Mordas Carolyn J.,Queiroz Daniel R.,Tsai Patrick B.. Владелец: McNeil-PPC, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of producing white okroshka kvass

Номер патента: RU2596419C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2016-09-10.

Method of producing of pluripotent stem cells

Номер патента: RU2565548C1. Автор: Дмитрий Андреевич Журавлёв. Владелец: Дмитрий Андреевич Журавлёв. Дата публикации: 2015-10-20.

Method of producing methyl formate

Номер патента: RU2377232C2. Автор: Олег Николаевич Новиков. Владелец: Олег Николаевич Новиков. Дата публикации: 2009-12-27.