Device for secondary ion mass spectrometry using a field limitation method
Номер патента: FR2675945A1
Опубликовано: 30-10-1992
Автор(ы): Furuki Akemi, Ikebe Yoshinori, Sumiya Hiroyuki, Tamura Hifumi
Принадлежит: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd, HITACHI LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 30-10-1992
Автор(ы): Furuki Akemi, Ikebe Yoshinori, Sumiya Hiroyuki, Tamura Hifumi
Принадлежит: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd, HITACHI LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Extraction system for secondary charged particles, intended for use in a mass spectrometer or other device for charged particles
Номер патента: RU2738186C2. Автор: Дэвид ДАУСЕТТ. Владелец: Люксембург Инститьют Оф Сайенс Энд Текнолоджи (Лист). Дата публикации: 2020-12-09.