基于白光共焦原理的自由曲面光学元件面形误差在机检测装置及其检测方法
Номер патента: CN110181334B
Опубликовано: 09-06-2020
Автор(ы): 吴小桥, 潘永成, 王生, 赵清亮, 郭兵
Принадлежит: Harbin Institute of Technology
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 09-06-2020
Автор(ы): 吴小桥, 潘永成, 王生, 赵清亮, 郭兵
Принадлежит: Harbin Institute of Technology
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Device and method for measuring shape of 3D free-form surface
Номер патента: KR102081085B1. Автор: 이근우,이형석. Владелец: 주식회사 나노시스템. Дата публикации: 2020-02-25.