METHOD FOR DETERMINING INTERFACE TIMING OF INTEGRATED CIRCUIT AUTOMATICALLY AND RELATED MACHINE READABLE MEDIUM THEREOF
Номер патента: US20140223398A1
Опубликовано: 07-08-2014
Автор(ы): Kao Shu-Yi, LO Yu-Lan, WANG Ting-Hsiung, YU Mei-Li
Принадлежит: Realtek Semiconductor Corp.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 07-08-2014
Автор(ы): Kao Shu-Yi, LO Yu-Lan, WANG Ting-Hsiung, YU Mei-Li
Принадлежит: Realtek Semiconductor Corp.
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Methods for optical proximity correction in the design and fabrication of integrated circuits using extreme ultraviolet lithography
Номер патента: US09651855B2. Автор: Lei Sun,Wenhui Wang,Ryan Ryoung-Han Kim. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-05-16.