Systems and methods for automatic test pattern generation for integrated circuit technologies
Номер патента: US09726722B1
Опубликовано: 08-08-2017
Автор(ы): Yosef Solt
Принадлежит: Marvell Israel MISL Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 08-08-2017
Автор(ы): Yosef Solt
Принадлежит: Marvell Israel MISL Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Sequential test pattern generation using clock-control design for testability structures
Номер патента: US20030188245A1. Автор: Xiaoming Yu,Miron Abramovici. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-10-02.