Measurement method and device

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Measurement Method of MEMS In-plane Vibration Characteristics Based on Polarization Imaging

Номер патента: AU2021104717A4. Автор: Jie Dong,Mei SANG,Minhui Yu. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-09-30.

The measurement method of planeness and device of fluorescent wheel in a kind of laser light source

Номер патента: CN105300325B. Автор: 赵飞,刘显荣. Владелец: Hisense Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Plasma measurement method and plasma processing apparatus

Номер патента: US20240274417A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Measuring method and semiconductor structure forming method

Номер патента: US11747131B2. Автор: Che-Hui Lee,Pradip Girdhar Chaudhari. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Temperature measurement and temperature calibration methods and temperature measurement system

Номер патента: US12007289B2. Автор: ShihChieh LIN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Measurement method, measurement device, and measurement program

Номер патента: US20150106045A1. Автор: Masahiro Morooka,Jusuke Shimura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US20150221482A1. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US09412565B2. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Substrate measurement method and substrate measurement control apparatus

Номер патента: US20240219297A1. Автор: Hark Ryong KIM,Dong Seop JUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Lidar measuring method and device with sub-pulses produced by birefringence in the laser resonator

Номер патента: US20240353541A1. Автор: Jens Ebbecke. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-10-24.

Shape measurement method, and system therefor

Номер патента: US09354049B2. Автор: Atsushi Miyamoto,Maki Tanaka,Manabu Yano,Akira Hamamatsu,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US7595896B2. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2009-09-29.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US7327476B2. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2008-02-05.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US20080204721A1. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-28.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20210262987A1. Автор: Tong Wu,Satoshi Nomura,Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-26.

Particulate contamination measurement method and apparatus

Номер патента: US09638643B2. Автор: Jacques Cor Johan Van der Donck,Antonius Martinus Cornelis Petrus De Jong. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-02.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240085355A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Method of manufacturing circuit pattern structure and measurement method

Номер патента: US20240170345A1. Автор: Chih-Cheng LEE,Yu-Kai Lin. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Measurement method, manufacturing method of device, and measurement system

Номер патента: US09972547B2. Автор: Koutarou Sho. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Physical properties measuring method and apparatus

Номер патента: US20110304724A1. Автор: Takashi Yamazaki,Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-12-15.

Physical properties measuring method and apparatus

Номер патента: US8780193B2. Автор: Takashi Yamazaki,Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-07-15.

Semiconductor device measurement method

Номер патента: US20220077004A1. Автор: Hongxiang Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-03-10.

Wafer measuring method and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220327682A1. Автор: Sheng-Tsung Tsao. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-13.

SiC WAFER DEFECT MEASURING METHOD, REFERENCE SAMPLE, AND METHOD OF MANUFACTURING SiC EPITAXIAL WAFER

Номер патента: US20190331603A1. Автор: Koji Kamei. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2019-10-31.

Measuring method

Номер патента: US20230243639A1. Автор: Yasukuni NOMURA. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Error measurement device of linear stage and error measurement method of linear stage

Номер патента: US20210335643A1. Автор: Chien-sheng Liu,Jie-Yu ZENG. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2021-10-28.

Secondary battery internal pressure measurement method

Номер патента: US20240347780A1. Автор: Sang Jun Park. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Secondary battery internal pressure measurement method

Номер патента: US12051784B2. Автор: Sang Jun Park. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Distance measurement method and distance measurement apparatus

Номер патента: US12146937B2. Автор: Genming Ding,Yanong HE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Communication device, voltage measurement method and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4403940A1. Автор: Han Li,Zheng Liu,Chao Lin,Dian Xu,Quan HU,Lingui XU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Measurement method using synchronization signal block, terminal device, and base station

Номер патента: US12069599B2. Автор: Lei Chen,Hong Wang,Bin Xu,Zonghui XIE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Transmission delay measurement method, positioning method, terminal, base station and storage medium

Номер патента: EP4354986A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Error measurement and compensation methods, and apparatus

Номер патента: EP4383862A1. Автор: REN Da,Zhenyu Zhang,Xiaotao Ren,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Positionining measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240288570A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Positioning measurement method and apparatus

Номер патента: US20230370995A1. Автор: Yinghao JIN,Jinping HAO,Yinghao GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Quality measurement method and quality measurement device for long sheet material

Номер патента: US20210223171A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-07-22.

Radar measurement method and apparatus

Номер патента: US20220066018A1. Автор: Li Yan,Xiao Han,YAN Long,Jian Yu,Rui Du,Chenchen LIU,Meihong ZHANG,Cailian DENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Quality measuring method and quality measuring device for long sheet material

Номер патента: EP3805733A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-04-14.

Device, method and system for generating dynamic projection patterns in a camera

Номер патента: EP4372447A3. Автор: Michael Tewes. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-06-26.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240243017A1. Автор: Satoru Tomita,Noriyuki Hirata. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Positioning measurement method and apparatus therefor

Номер патента: US20240314729A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Wearable electronic apparatus, body temperature measurement method, and wearable electronic device

Номер патента: US20240315569A1. Автор: Yi Liu,Chenlong Li,Chao Yao,Lipeng QI. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Workpiece measurement method in machine tool and machine tool

Номер патента: US20240342806A1. Автор: Hideki Nagasue. Владелец: DMG Mori Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Pattern Measuring Method, Pattern Measuring Tool and Computer Readable Medium

Номер патента: US20190378679A1. Автор: Makoto Suzuki,Shunsuke Mizutani,Uki Ikeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Resolution measurement method, resolution measurement system, and program

Номер патента: US20240121380A1. Автор: Kouichi Toda. Владелец: Leader Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Mark position measuring method and apparatus

Номер патента: US20080030733A1. Автор: Yukihiro Yokota,Nozomu Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-02-07.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Measurement method, measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20170278233A1. Автор: Takuro Tsujikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Measurement method, conveyance method, article manufacturing method, conveyance apparatus, and lithography apparatus

Номер патента: US20240282642A1. Автор: Koichi Tamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Single-camera system for measuring a vehicle distance and measurement method thereof

Номер патента: US09964406B2. Автор: Songwei Lin,Gang LONG. Владелец: Protruly Vision Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Image based overlay mark and image based overlay measuring method using the same

Номер патента: US20240142884A1. Автор: Joon Seuk LEE. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Sea surface temperature measurement method

Номер патента: AU2021106031A4. Автор: Bin Tian,Wenbo BO,Hao CHA,Dongli DENG,Mengda CUI. Владелец: Pla Naval Engineering Univ. Дата публикации: 2021-10-28.

Measuring method, measuring apparatus and device manufacturing method

Номер патента: CN108431692B. Автор: A·J·登鲍埃夫,理查德·金塔尼利亚. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-06-18.

Capacitance value measurement method and device

Номер патента: US20190064240A1. Автор: Yongqian Li,Xuehuan Feng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Device for measuring the variation of a capacitance and associated measuring method

Номер патента: US09689907B2. Автор: Xavier Hourne. Владелец: Continental Automotive France SAS. Дата публикации: 2017-06-27.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Battery controller and battery level measurement method thereof

Номер патента: US11750005B2. Автор: Chin-Ming Chen,Mu-Min LIN,Cheng-Chien Huang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Measuring method and device for measuring deflections at stator end windings

Номер патента: AU2016201822A1. Автор: Peter Ullrich Arend. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2016-10-13.

Method and device for minimizing drive test logging measurement

Номер патента: US09973954B2. Автор: LEI Jin,Ying Huang,Hongzhuo Zhang,Dongmei Zhang,Johan Johansson. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Actuator ring characteristic measurement method

Номер патента: US09716833B2. Автор: Shoichiro Sengoku. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Power transmission line dip measurement method

Номер патента: EP2194623B1. Автор: Seon Ung O,Chul Won Seo,Baek Seob Sim. Владелец: KPS Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-22.

Measurement method for solar cell module

Номер патента: EP4191867A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Measurement method for photovoltaic module

Номер патента: US20230299716A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Measurement Method And System

Номер патента: US20230161155A1. Автор: Eric Teller. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2023-05-25.

Measurement method and system

Номер патента: US09952427B2. Автор: Eric Teller. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2018-04-24.

Track deviation measuring method and track deviation measuring apparatus

Номер патента: US5822491A. Автор: Toyotaka Machida,Masamichi Sasaki,Osamu Samuta. Владелец: Victor Company of Japan Ltd. Дата публикации: 1998-10-13.

Distance measuring methods

Номер патента: US09605955B2. Автор: Richard Day,Auguste D'aligny,Yuri P. Gusev. Владелец: Trimble 3D Scanning. Дата публикации: 2017-03-28.

Electronic device controlling method and device and terminal

Номер патента: RU2669575C2. Автор: Цзыгуан ГАО,Сяо ЧЖАН,Юнли СУНЬ. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-10-12.

Method and device for analysis of social relations

Номер патента: RU2656694C1. Автор: Хайбинь ВЭН,Хучэн ХУАН,Хуэй ГЭН. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-06-06.

Plasma Measuring Method and Plasma Processing Apparatus

Номер патента: US20240290589A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Breakdown voltage measuring method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09799506B2. Автор: Mitsuhiko Sakai. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240099059A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Measurement method and apparatus, and devices

Номер патента: EP4117249A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-01-11.

Measurement method and device

Номер патента: EP3840457A1. Автор: Dajie Jiang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Quality of service measurement method and device, and user plane function

Номер патента: EP4050933A1. Автор: Peng Chen,SONG Zhao,Qi Bi. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Measurement method and device, user equipment, network side equipment, and storage medium

Номер патента: EP4451730A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Channel measurement method and device

Номер патента: US12021776B2. Автор: LI SHEN,FENG Qian,Jian Wang,Xiaocui Li,Yifan Xue. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Method and device in nodes used for wireless communication

Номер патента: US20240298342A1. Автор: QI JIANG,Xiaobo Zhang. Владелец: Shanghai Langbo Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Interference Measurement Method and Device

Номер патента: US20240333407A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-03.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: US20240292256A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Beam measurement method and apparatus, user equipment, network device and storage medium

Номер патента: EP4436070A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: AU2021283545B2. Автор: Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Measurement method and apparatus, device, and readable storage medium

Номер патента: EP4456599A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Multi-antenna noise power measuring method and apparatus

Номер патента: US09967041B1. Автор: Yan-Neng Chang. Владелец: Ambit Microsystems Shanghai Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Optical signal-to-noise ratio measurement method and apparatus, and computer storage medium

Номер патента: US20240235672A1. Автор: Hu Shi,Yinqiu JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Channel state information measurement method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240243826A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Channel measurement method and apparatus, and electronic device and computer readable storage medium

Номер патента: EP4050820A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-08-31.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20220060266A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Shujuan Zhang,Huahua Xiao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Channel measurement method and apparatus, electronic device and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220393912A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Power measurement method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4447344A1. Автор: Dong Zhou,Liyuan ZHONG,Jiangtao Chen,Longming Zhu,Dao TIAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Interference measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4451580A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4447530A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: US20240259118A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: CA3230606A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-09.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20230421273A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4287691A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4135385A1. Автор: Bo Dai,Li Niu,Xiubin Sha. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-02-15.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

Measurement method and apparatus, related device and storage medium

Номер патента: AU2023219456A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-08-08.

Signal resource measurement method and terminal

Номер патента: US12063557B2. Автор: Li Chen,Xueming PAN,Kai Wu,Xiaodong Shen,Dajie Jiang,Qianyao REN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Time slot-free measurement method and apparatus

Номер патента: EP4117337A1. Автор: Le Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Channel measurement method and communication device

Номер патента: EP4027531A1. Автор: Li Fan,Yong Liu,Xiaoyan Bi,Shibin GE,Huangping JIN,Zhimeng ZHONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Method and system for measuring interference signal in carrier signal

Номер патента: US09693245B2. Автор: Lei Cao,Ye Zhao,Xiaodong Chen,Shangkun Xiong,Henghua Lin. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Radio resource measurement method, radio resource selection method, and apparatus

Номер патента: US12003993B2. Автор: Qinghai Zeng,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Radio resource measurement method and apparatus

Номер патента: EP4401457A1. Автор: LI ZHANG,Weidong He,Pan Liu,Bo HAO,Yubo Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement method and apparatus, related device and storage medium

Номер патента: EP4456600A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-10-30.

Radio resource measurement method and apparatus

Номер патента: US20240244463A1. Автор: LI ZHANG,Weidong He,Pan Liu,Bo HAO,Yubo Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Radio resource management measurement method and apparatus

Номер патента: US20240356593A1. Автор: Yanhua Li,Rao SHI. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Gap-free measurement method and apparatus

Номер патента: US20230247460A1. Автор: Le Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Measuring method and apparatus in wireless communication system

Номер патента: US09781002B2. Автор: Hanbyul Seo,Hakseong Kim,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-10-03.

Method and measuring system for the measurement and testing of a mobile-telephone device

Номер патента: US09629001B2. Автор: Adrian Schumacher,Andreas Michl. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-18.

Measuring method and apparatus in wireless communication system

Номер патента: US20140313925A1. Автор: Hanbyul Seo,Hakseong Kim,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2014-10-23.

Interference measurement method, interference processing method, and apparatuses therefor

Номер патента: US20240259845A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Methods and apparatuses for measuring pilot

Номер патента: US09510221B2. Автор: Yunfeng Sun,Senbao Guo,Chenchen Zhang. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Method and apparatus for random interference measurement resource pattern determination

Номер патента: US09426684B2. Автор: Hyo Jin Lee,Youn Sun Kim,Ju Ho Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Timing measurement method and related device

Номер патента: US12015470B2. Автор: Yuzhou Wang,Fan Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Channel Measurement Method and User Equipment

Номер патента: US20190268795A1. Автор: YE Wu,Xiaobo Chen,Xiaoyan Bi,Huangping JIN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

Signal measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: EP4319244A1. Автор: Ziquan HU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Raman gain measuring method and apparatus

Номер патента: US20040207909A1. Автор: Yasuyuki Nagao,Takayuki Miyakawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-10-21.

Quality measurement method, user equipment, and network-side device

Номер патента: US09531486B2. Автор: Peng Zhang,Zongjie Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: US20220167370A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Method and system for extraction of noise parameters of nonlinear devices

Номер патента: US09929757B2. Автор: Michael Himmelfarb,Leo BELOSTOTSKI. Владелец: UTI LP. Дата публикации: 2018-03-27.

Directional measurement method and device

Номер патента: US20220337304A1. Автор: Liang Qiao,Weiwei Fan,Jiayin Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Directional measurement method and device

Номер патента: EP4075681A1. Автор: Liang Qiao,Weiwei Fan,Jiayin Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-19.

Measurement method for ue, terminal device and network device

Номер патента: US20230088518A1. Автор: Rongyi HU. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-03-23.

Interference measurement method, base station and user equipment

Номер патента: US09774432B2. Автор: Jingyuan Sun,Yongxing Zhou,Liang Xia,David Jean-Marie Mazzarese. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

RSSI Measurement Method, Network Device, and Terminal Device

Номер патента: US20190081714A1. Автор: Lei Huang,Jin Liu,Jun Luo,Zhengzheng XIANG,Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-14.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: EP4236429A1. Автор: Jiangsheng FAN. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-08-30.

Evm measurement method, transmitter and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240364444A1. Автор: Kun Niu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Measurement method and device

Номер патента: US11923912B2. Автор: Dajie Jiang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Measurement method and device

Номер патента: US20200322827A1. Автор: Jian Wang,Haibo Xu,Yiru KUANG,Chuting YAO,Delai ZHENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Beam measurement method and device, and storage medium

Номер патента: EP4239917A1. Автор: Wei Hong. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-06.

Quality of service measurement method and device, and user plane function entity

Номер патента: US12022314B2. Автор: Peng Chen,SONG Zhao,Qi Bi. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Beam measurement method, network-side device, terminal device, and storage medium

Номер патента: US12052190B2. Автор: Yu Yang,Xueming PAN,Peng Sun. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: US20230308924A1. Автор: Jiangsheng FAN. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-28.

Cell measurement method and apparatus, and device and storage medium

Номер патента: EP4054235A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-09-07.

Channel measurement method and device

Номер патента: EP3926845A1. Автор: LI SHEN,FENG Qian,Jian Wang,Xiaocui Li,Yifan Xue. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-22.

Measurement method and apparatus, and device

Номер патента: US12082005B2. Автор: Jianqin Liu,Xiaolei Tie,Zhanzhan ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Measurement method and device

Номер патента: US12069499B2. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Reference signal measurement method and terminal devices

Номер патента: EP3883275A1. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-22.

Measurement method, measurement configuration method, and related communication apparatus

Номер патента: EP4408070A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US20180184316A1. Автор: Lili Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Measurement method and apparatus, and communications node

Номер патента: US09980164B2. Автор: BO Lin,Jie Shi,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Sensing measurement method and related apparatus

Номер патента: EP4412296A1. Автор: Xun Yang,Chenchen LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and node for interference measurement via inter-cell cooperation

Номер патента: US09838189B2. Автор: Yong Zheng,Yu Ngok Li,Yunfeng Sun. Владелец: Xian Zhongxing New Software Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: CA3182422A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20230199892A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Information measurement method and apparatus

Номер патента: EP4436124A1. Автор: Xiangyang Zhu,Jinghai YU,Yufang HAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20240323741A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement method and apparatus, and terminal

Номер патента: US20240349213A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Method and apparatus for measuring sidelink

Номер патента: US12052738B2. Автор: XING Yang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US12028728B2. Автор: Rui Wang,Qinghai Zeng,Hongping Zhang,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement method and apparatus, terminal device and network device

Номер патента: US20230080009A1. Автор: Shukun Wang. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-03-16.

Mobility measurement method and apparatus

Номер патента: EP4187958A1. Автор: Tingting GENG,Yedan WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-31.

Network traffic marking and measurement methods and node

Номер патента: US11252266B2. Автор: Zhe Chen,Chuang WANG,Delei Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4391699A1. Автор: Ting Wang,Jianglei Ma,Yongxia Lyu,Dongdong WEI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

SSB measurement method and apparatus

Номер патента: US12120559B2. Автор: Jia Liu,Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Jingxin Wei. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Cell measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230300701A1. Автор: Quan Zhou,Yanchun Wang,Guojun Yue. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Intra-frequency intra-system measurement method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240323792A1. Автор: Xiaoxin HU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Reference signal measurement method and terminal device

Номер патента: US12035344B2. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Positioning measurement method, communication apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4383859A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Performance measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US12120008B2. Автор: Zheng Zhang,Min Xiao,Jun Guo,Quan XIONG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Method for managing radio resource in multi-cell wireless communication system and device therefor

Номер патента: US09775066B2. Автор: Hanbyul Seo,Seungmin Lee,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-09-26.

Cell measurement method, cell measurement configuration method and apparatus, device, and medium

Номер патента: US20240292295A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Interference measurement method and apparatus for new carrier type

Номер патента: US09520974B2. Автор: Younsun KIM,Seunghoon Choi,Hyojin Lee,Hyoungyoul Yu. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-12-13.

Performance measurement method, device, and system

Номер патента: EP4221129A1. Автор: Yali Wang,Tianran ZHOU,Jingrong Xie. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Cell measurement method and apparatus, devices, and medium

Номер патента: US20240251269A1. Автор: Yi Xiong. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Method and apparatus for measuring depth of field

Номер патента: US20120114182A1. Автор: Yung-Hsin Liu. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2012-05-10.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: US12143839B2. Автор: FENG Ye,Fengwei Liu,Xiaoyong Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Congestion measurement method and network node

Номер патента: EP3975483A1. Автор: LIANG Cheng,Dongfeng Li,Hongliang Gao,Xiaogang LU,Juanna Dang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-30.

Channel measurement method and apparatus therefor

Номер патента: EP4436278A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Channel quality measurement method and apparatus

Номер патента: US12058729B2. Автор: Jun Li,Zhe Jin,Zhihu LUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Measurement gap parameter configuration method, reference signal measurement method, and device

Номер патента: EP3972328A1. Автор: Nathan Edward Tenny,Bingzhao Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Cell measurement method and apparatus

Номер патента: US12058550B2. Автор: Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Xingxing HU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Measurement configuration method, measurement method, network device and terminal

Номер патента: EP4231694A1. Автор: REN Da,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Method and device for measuring reference signal

Номер патента: EP3927004A1. Автор: Jian Wang,Haibo Xu,Chuting YAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-22.

Measuring method, network device, and terminal device

Номер патента: EP3726910A1. Автор: Cong Shi. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2020-10-21.

Measurement method, user equipment, base station, and wireless communications system

Номер патента: US09756521B2. Автор: Jing HAN,Dengkun Xiao,Anjian Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Packet measurement method, device, and system

Номер патента: US12021741B2. Автор: WEI Xue,JinMing Huang,Weidong SHAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Cell measurement method, radio communication apparatus and storage medium

Номер патента: EP4250816A1. Автор: Jun Liu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-27.

Cqi measurement method, apparatus, and wireless communications system

Номер патента: US20190097781A1. Автор: Hao Tang,Zhengwei Gong. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-28.

Measurement method, base station, and user equipment

Номер патента: US09900900B2. Автор: Juan Zheng,Sha Ma,Zhiyu Yan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Measurement method, terminal device, and network side device

Номер патента: EP4132071A1. Автор: Yumin Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Measurement method, terminal device, and network side device

Номер патента: US20230019838A1. Автор: Yumin Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Measurement method, user equipment, and network side device

Номер патента: US12101654B2. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Cell measurement method, user equipment and base station

Номер патента: US09648553B2. Автор: Yuhua Chen,Wei Quan,Lixia Xue,Pengyu JI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Measurement gap parameter configuration method, reference signal measurement method, and device

Номер патента: US11800470B2. Автор: Nathan Edward Tenny,Bingzhao Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Ssb measurement method and device

Номер патента: EP4002917A1. Автор: Jia Liu,Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Jingxin Wei. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-25.

Measurement method, device, and storage medium

Номер патента: EP4266735A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2023-10-25.

Measurement method, device and storage medium

Номер патента: US20240056860A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-02-15.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190175034A1. Автор: Asao Hirano. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Label-based measurement method, apparatus, and system

Номер патента: US09584396B2. Автор: Guoyi Chen,Lianshu Zheng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Channel measurement method and apparatus, lbt failure reporting method and apparatus, and device

Номер патента: EP4247098A1. Автор: Jinhua Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-20.

Reference Signal Measurement Method and Device

Номер патента: US20220191754A1. Автор: Jian Wang,Haibo Xu,Chuting YAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-16.

Channel measurement method, base station, and ue

Номер патента: EP3654717A1. Автор: Qiang Wu,Kunpeng Liu,Leiming Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-20.

Measuring method, terminal and network side device

Номер патента: AU2019247007B2. Автор: Qian Zheng,Xiaodong Yang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

Measurement method, measurement indication method, and device

Номер патента: EP4009690A1. Автор: Li Chen,Kai Wu,Yanliang SUN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-08.

Throughput measuring method, computer readable medium, and apparatus

Номер патента: US20160261479A1. Автор: Yuji Nomura,Sumiyo Okada,Naoyoshi OHKAWA,Fumiyuki lizuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-08.

Video streaming method and device

Номер патента: RU2492588C2. Автор: Срисакул ТАКОЛСРИ,Вольфганг КЕЛЛЕРЕР. Владелец: Нтт Докомо, Инк.. Дата публикации: 2013-09-10.

Measurement method and device

Номер патента: US20210345152A1. Автор: Xiaodong Yang,Boubacar KIMBA DIT ADAMOU. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Measurement method and device

Номер патента: EP3913956A1. Автор: Xiaodong Yang,Boubacar KIMBA DIT ADAMOU. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-24.

Measuring method and device in dc operation

Номер патента: EP3902318A1. Автор: Min Xu. Владелец: Spreadtrum Communications Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-27.

Method and device for capturing images

Номер патента: RU2658116C2. Автор: Илья САФОНОВ. Владелец: Нокиа Текнолоджиз Ой. Дата публикации: 2018-06-19.

Method and device for application settings upload

Номер патента: RU2346408C2. Автор: Йохан КАРЛБЕРГ. Владелец: Сони Эрикссон Мобайл Коммьюникейшнз Аб. Дата публикации: 2009-02-10.

Wireless communication method and device

Номер патента: RU2710207C1. Автор: Хай ТАН. Владелец: Гуандун Оппо Мобайл Телекоммьюникейшнз Корп., Лтд.. Дата публикации: 2019-12-25.

Measuring method, measuring apparatus and device manufacturing method

Номер патента: CN107430352B. Автор: R·奎因塔尼拉,S·达尼卢克. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-01-21.

Measurement method, patterning device and device manufacturing method

Номер патента: IL275045B1. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-11-01.

Measurement method, patterning device and device manufacturing method

Номер патента: IL275045B2. Автор: . Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-03-01.

A kind of part dimension measurement method in place and device

Номер патента: CN109506571A. Автор: 何江涛,惠宏超,魏东辰. Владелец: China Aerospace Times Electronics Corp. Дата публикации: 2019-03-22.

Measurement method and measurement unit for delta-sigma type data converter

Номер патента: US09705528B2. Автор: Mitsutoshi Sugawara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Measuring apparatus, measuring method, exposure apparatus and device manufacturing method

Номер патента: JP5111225B2. Автор: 彰律 大久保. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-09.

Surface position measuring method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20070017110A1. Автор: Satoru Oishi,Hideki Ina. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-25.

System frequency measurement method, synchrophasor measurement method and device thereof

Номер патента: US09658259B2. Автор: Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2017-05-23.

Measurement method and device, in particular for the high-frequency measurement of electric components

Номер патента: US20030173948A1. Автор: Georg Sillner. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-09-18.

Method and device of measuring breakdown status of equipment

Номер патента: US20170146432A1. Автор: Sen-Chia Chang,Tsung-Jung Hsieh,Yao-Chung HSU. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-05-25.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Charge amount measurement method and charge amount measurement system

Номер патента: US20240328984A1. Автор: Masaru Inoue,Noriaki Oyabu. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Impedance measurement method and impedance measurement device

Номер патента: US8253421B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-08-28.

Data measurement methods and systems

Номер патента: EP2321659A2. Автор: Gary R. Simpson. Владелец: Maury Microwave Inc. Дата публикации: 2011-05-18.

NMR measurement method and apparatus for same

Номер патента: US20060158186A1. Автор: Shuya Hagiwara,Minseok Park,Hideta Habara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-07-20.

Capacitive sensor measurement method for discrete time sampled system for in-circuit test

Номер патента: US20060076959A1. Автор: Curtis Tesdahl,Ronald Peiffer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-13.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230305046A1. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Full-path circuit delay measurement device for field-programmable gate array (FPGA) and measurement method

Номер патента: US11762015B2. Автор: Yajun Ha,Weixiong JIANG. Владелец: ShanghaiTech University. Дата публикации: 2023-09-19.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US12044716B2. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Sheet resistance measuring method

Номер патента: US09632048B2. Автор: Shi Shu,Yue Shi,Bin Zhang,Bing Sun,Zhijun LV,Kexin Lu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Measurement method of flatband voltage of power semiconductor module

Номер патента: WO2023181444A1. Автор: Nicolas Degrenne,Julio BRANDELERO. Владелец: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.. Дата публикации: 2023-09-28.

Semiconductor device and measurement method

Номер патента: US09606007B2. Автор: Yosuke IWASA. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Power supply noise measuring circuit and power supply noise measuring method

Номер патента: US20080218195A1. Автор: Mikihiro Kajita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-11.

Method and device for measuring concentration of substance in fluid

Номер патента: US09970894B2. Автор: Jie Han,Yiping Han,Lijun Shen,Ray Xie. Владелец: Sunvou Medical Electronics Co ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Water level measuring method and device

Номер патента: US20120174666A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F RUIJTENBERG HOLDING BV. Дата публикации: 2012-07-12.

Water level measuring method and device

Номер патента: WO2011016715A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F. RUIJTENBERG HOLDING B.V.. Дата публикации: 2011-02-10.

Method and device for measuring the following of a path under load

Номер патента: US20180038748A1. Автор: Sébastien GARNIER,Benoit Furet. Владелец: UNIVERSITE DE NANTES. Дата публикации: 2018-02-08.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Aircraft engine rotor assembly method and device

Номер патента: US09724791B2. Автор: Lei Wang,Bo Zhao,Jiubin Tan,Chuanzhi SUN. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2017-08-08.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: AU2019399430A1. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Measuring method, adjustment method for stage movement characteristics, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US8072579B2. Автор: Yusuke Tokuyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-06.

Method and device for measuring a vacuum pressure using a measuring cell arrangement

Номер патента: US09791339B2. Автор: Martin Wuest,Felix Mullis. Владелец: INFICON AG. Дата публикации: 2017-10-17.

Radar measurement method and device

Номер патента: EP3919936A1. Автор: Lei Wan,Yong Wu,Sha Ma,Mingxia Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Size measuring method and device

Номер патента: US20040098221A1. Автор: Shozo Katamachi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-20.

Optical measurement method and device

Номер патента: US09739993B2. Автор: Louis Philippe Braitbart,Gabriel Y. Sirat. Владелец: Bioaxial SAS. Дата публикации: 2017-08-22.

Fibre concentration ratio measuring method and related device for implementation thereof

Номер патента: RU2362989C2. Автор: Бенгт ОКЕРБЛОМ. Владелец: Дапрокс Аб. Дата публикации: 2009-07-27.

Method and device of measuring wavefront aberration, method of manufacturing optical system, and recording medium

Номер патента: US9170171B2. Автор: Yasuyuki Unno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-27.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: US12099121B2. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: EP4411410A1. Автор: YUAN Shen,Xiaoxian Li,Zhenguo DU,Bowen Wang,Xinyou Qiu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and apparatus of full-field vibration measurement via microwave sensing

Номер патента: US12117371B2. Автор: Yuyong XIONG,Zhike PENG,Guang MENG. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-10-15.

Thz measurement method and thz measurement device for surveying a measurement object, in particular a pipe

Номер патента: US20230251083A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-08-10.

Concentration measuring method, and concentration measuring device

Номер патента: US12078590B2. Автор: Nobukazu Ikeda,Yoshihiro Deguchi,Kouji Nishino,Masaaki Nagase. Владелец: University of Tokushima NUC. Дата публикации: 2024-09-03.

Body temperature measurement method and apparatus, robot and storage medium

Номер патента: EP4134210A1. Автор: Zhetao Xu. Владелец: Jingdong Technology Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: US20240319060A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2024-09-26.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09797719B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: CA3224131A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2023-01-05.

Weight measuring method and system

Номер патента: EP1241455B1. Автор: Pentti Sauli Asikainen. Владелец: Tamtron Oy. Дата публикации: 2005-08-10.

Automatic efficiency tracing method and its apparatus

Номер патента: US4761555A. Автор: Hiroaki Ishikawa. Владелец: ISHIKAWA IND CO Ltd. Дата публикации: 1988-08-02.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09719781B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Glucose dehydrogenase having modified electron transfer properties, and glucose measurement method

Номер патента: US20180340211A1. Автор: Seiichi Hara,Yosuke MASAKARI. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Thz measurement method and thz measurement device for measuring a measurement object

Номер патента: US20230288189A1. Автор: Marius Thiel,Ralph Klose. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-09-14.

Multi-angle spectral imaging measurement method and apparatus

Номер патента: US09823130B2. Автор: Masayuki Osumi. Владелец: Office Color Science Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Method and system for measuring lens distortion

Номер патента: US09810602B2. Автор: Jianjun Xu,Xingyi Chen,Xiliang Niu. Владелец: Qingdao Goertek Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US09704237B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Method and measuring device for measuring the distance of a surface, thickness and optical properties of an object

Номер патента: US09476707B2. Автор: Heimo Keranen. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2016-10-25.

Method and apparatus for in-line control of dimensions of industrial products

Номер патента: RU2768110C2. Автор: Лоран КОСНО,Оливье КОЛЛЬ. Владелец: Тиама. Дата публикации: 2022-03-23.

Particle measuring method, sample processing method, and particle imaging apparatus

Номер патента: US20190178782A1. Автор: Yusuke Konishi,Takanori Maekawa. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Luminescence measurement method and luminescence measurement system

Номер патента: US20100209949A1. Автор: Hirobumi Suzuki,Ryutaro Akiyoshi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240230684A9. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Optical property measurement method and optical property calculation apparatus

Номер патента: US12025556B2. Автор: Tomoko Sato. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Viscoelasticity measurement method and viscoelasticity measurement device

Номер патента: US12098989B2. Автор: Shinsuke Miura,Tsutomu Odagiri,Taku Nakamoto. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: EP4336167A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-03-13.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: US20240295483A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Method and system of measuring surface temperature

Номер патента: US09689746B2. Автор: Yoshiro Yamada,Juntaro Ishii. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-06-27.

Flare-measuring mask, flare-measuring method, and exposure method

Номер патента: US09529251B2. Автор: Masayuki Shiraishi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Obstacle distance measurement method and apparatus, and vehicle and medium

Номер патента: EP4397942A1. Автор: Yongguan LUO. Владелец: Huizhou Desay SV Automotive Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Method and apparatus for determining the content of a foreign gas in a process liquid

Номер патента: US12123837B2. Автор: Josef Bloder. Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2024-10-22.

Stress history measurement method and stress sensor

Номер патента: US09835611B2. Автор: Hide Sakaguchi,Arito Sakaguchi. Владелец: Japan Agency for Marine Earth Science and Technology. Дата публикации: 2017-12-05.

Human Body Composition Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20240008760A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Concentration measurement method and concentration measurement apparatus

Номер патента: US20120242979A1. Автор: Koichi Shimizu,Kazuhiko Amano,Kazuhiro Nishida. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2012-09-27.

Non-invasive temperature measurement method and apparatus

Номер патента: EP1171758A4. Автор: Yoram Palti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-02.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US20170138853A1. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Ultrasonic measurement method and ultrasonic measurement apparatus

Номер патента: US09683838B2. Автор: Takafumi Ozeki,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Process Quantity Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20080105061A1. Автор: Junichi Okada,Shuichi Umezawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-05-08.

Granular-substance component measuring method and granular-substance component measuring instrument

Номер патента: EP4246128A1. Автор: Yasuhito Haijima,Shun YAMAUCHI. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Wind field information measurement method and nacelle-based lidar

Номер патента: AU2022263477A1. Автор: Jun Zhou,Hailong Zhu,Zengli XIAO,Anqing TANG. Владелец: Nanjing Movelaser Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US10935661B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Hardness measurement method, and fouling prevention method for hardness-measuring device

Номер патента: US10718746B2. Автор: Junichi Takahashi. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Neutron dose measurement method and apparatus

Номер патента: US20240252842A1. Автор: Chao Wang,Yuan-hao LIU. Владелец: Neuboron Therapy System Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US09977129B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Measurement target measuring program, measurement target measuring method, and magnifying observation device

Номер патента: US09970745B2. Автор: Shinya Takahashi,Kazuki Natori. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Ultraviolet index measuring method and apparatus

Номер патента: US09952093B2. Автор: Dong-Hoon Lee,Seongchong Park,Dong-Joo Shin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-04-24.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US09857304B2. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Method for measuring the thickness of a layer of material, galvanizing method and related measuring device

Номер патента: US09797709B2. Автор: Jean Inard-Charvin,Geoffrey BRUNO. Владелец: ENOVASENSE. Дата публикации: 2017-10-24.

Distance measuring method and equipment using optical signal

Номер патента: US09709669B2. Автор: Tae Min Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-18.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: EP2890998A1. Автор: Yuri Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2015-07-08.

Three-dimensional measuring method and system

Номер патента: US20020118274A1. Автор: Akira Yahashi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-29.

Particle measuring method and particle measuring apparatus

Номер патента: US20080239283A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Distance Measurement Methods and Apparatus

Номер патента: US20140063482A1. Автор: Yuri P. Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2014-03-06.

Turbidity measurement method and turbidimeter

Номер патента: US20200278292A1. Автор: Hikaru Shimizu,Megumi GOTO,Takeshi KUWAGATA,Saori Handa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-09-03.

Time-of-flight ranging method and related system

Номер патента: EP3958018A1. Автор: Chung-Te Li,Meng-Ta Yang,Hao-Jen Wang. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-23.

Temperature measurement method and apparatus based on passive rfid tag

Номер патента: US20240295446A1. Автор: Xu Zhang,Jia Liu,Xingyu Chen,Lijun Chen,Fuxing Wang. Владелец: Jiangsu Tooker Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Optical phase measurement method and system

Номер патента: US09897553B2. Автор: Gilad Barak,Dror Shafir,Shahar Gov,Yanir HAINICK. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Optical measurement method and apparatus for fuel cell components

Номер патента: US09618458B2. Автор: Stephen Couse,Tulin Akin. Владелец: Bloom Energy Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Shape measuring method and shape measureing device

Номер патента: US09506748B2. Автор: Yoshitaka Ohta. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20170191928A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-06.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US11823405B1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-21.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230401730A1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-12-14.

Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09835536B2. Автор: Takayoshi Hoshino. Владелец: Aohata Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20220375066A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Load measurement method and apparatus, railcar provided with load measurement apparatus, and load management system

Номер патента: US09476802B2. Автор: Yoshi SATO. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-10-25.

Flow rate measurement method and apparatus

Номер патента: US20150112614A1. Автор: Yoshiki Yoshida,Shusuke Hori,Hiroki Kannan,Hideaki Nanri,Masaharu Uchiumi. Владелец: Japan Aerospace Exploration Agency JAXA. Дата публикации: 2015-04-23.

Measurement method and apparatus for global navigation satellite system (gnss)

Номер патента: EP4451015A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Phase distribution measurement method and phase distribution measurement apparatus

Номер патента: US09594941B2. Автор: Hiroshi Ishiwata. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Measurement method and non-contact displacement detection apparatus thereof

Номер патента: US20240255639A1. Автор: Shih-Ying Hsu,Min HSU. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Total organic carbon measurement method and total organic carbon measurement device

Номер патента: US20230011100A1. Автор: Masahito Yahata,Yoshiaki Nieda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200286249A1. Автор: Hiroshi Ohno,Kiminori Toya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Distance measurement method and distance measurement system

Номер патента: US11768072B2. Автор: Xin Shi,David Xing. Владелец: Northwest Instrument Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Method and apparatus for measuring distance

Номер патента: US20190049569A1. Автор: Donghan Kim,Sungdo Choi,Jong-sok KIM,Jaesup Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-02-14.

Point cloud intensity-based tunnel brightness measurement method

Номер патента: LU505803B1. Автор: Shiyong He. Владелец: Univ Chongqing Jiaotong. Дата публикации: 2024-06-17.

Method and apparatus for measuring coaxial relation between two mechanical parts

Номер патента: US20050053272A1. Автор: Kazunori Mizutori,Tatsuya Nakagi. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2005-03-10.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: WO2009136149A1. Автор: Wayne Rudd,Laurie Linnett. Владелец: Laurie Linnett. Дата публикации: 2009-11-12.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US12072273B2. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: EP2283381A1. Автор: Wayne Rudd,Laurie Linnett. Владелец: RUDD Wayne. Дата публикации: 2011-02-16.

Optical measuring method, and optical measuring system

Номер патента: EP4431888A1. Автор: Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: US09689970B2. Автор: Auguste D'aligny. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2017-06-27.

Level measurement method and apparatus

Номер патента: US09891091B2. Автор: Kenneth James,Stephen John Roe,Edgar Ramon SANCHEZ GALICIA. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2018-02-13.

Fast 3d height measurement method and system

Номер патента: WO2004046645B1. Автор: Michel Cantin,Alexandre Nikitine,Benoit Quirion. Владелец: Solvision. Дата публикации: 2004-11-11.

Fast 3d height measurement method and system

Номер патента: WO2004046645A3. Автор: Michel Cantin,Alexandre Nikitine,Benoit Quirion. Владелец: Solvision. Дата публикации: 2004-09-02.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Neutron measuring method and neutron measuring device

Номер патента: US20240255654A1. Автор: Chun-Kai Huang. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Shear wave elasticity measurement method and shear wave elasticity imaging system

Номер патента: US20240285257A1. Автор: Shuangshuang LI. Владелец: Shenzhen Mindray Scientific Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement method, measuring device, and measurement program

Номер патента: US12019009B2. Автор: Yuji Masuda,Konobu KIMURA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Measurement method, imprint apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20240272545A1. Автор: Shinichi Shudo,Masataka Yasukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Optical measuring methods and system

Номер патента: US09417180B2. Автор: Dong-Min Seo,Jang-Ik Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-16.

Unmanned aerial vehicle platform based vision measurement method for static rigid object

Номер патента: US20220198695A1. Автор: Lu Li,BO LIU,Xiaofeng Shi,Xiaoyan LUO,Chengxi WU. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-06-23.

Board-warping measuring apparatus and board-warping measuring method thereof

Номер патента: US09423242B2. Автор: Liang-Pin Yu,Chi-Yang Lin,Ying-Lin PAN. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Spin measurement method and apparatus

Номер патента: CA2589745A1. Автор: Brian Francis Mooney. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-15.

Radar speed measurement method, radar, radar speed measurement device

Номер патента: US20240272296A1. Автор: Yanfeng DANG,Erxin ZHAO. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Spin measurement method and apparatus

Номер патента: EP1828784A1. Автор: Brian Francis Mooney. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-09-05.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09915636B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Wavefront aberration measuring method, wavefront aberration measuring apparatus and optical element manufacturing method

Номер патента: US09557241B2. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Measurement structure, method of manufacturing same, and measuring method using same

Номер патента: US20140021353A1. Автор: Takashi Kondo,Seiji Kamba. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Filtration membrane fouling index measuring method

Номер патента: US20150323442A1. Автор: Jung Won Kim,Yong Xun JIN,Young Gil Ju,Seung Kwan HONG. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-12.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160077073A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-17.

Measurement method of initial missile velocity

Номер патента: RU2406959C1. Автор: Генри ФРИК. Владелец: Рейнметалл Эйр Дифенс Аг. Дата публикации: 2010-12-20.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Method and arrangement for recording molecular binding phenomena

Номер патента: CA2917270C. Автор: Yixin Zhang,Robert Wieduwild,Francesco Reddavide,Weilin LIN,Jana Herrmann,Luca MANNOCCI. Владелец: DYNABIND GMBH. Дата публикации: 2022-05-24.

Management method, measuring method, measuring device, crystal oscillator sensor, and set

Номер патента: US20220326184A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-10-13.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Measurement method for characterization of a photodetector

Номер патента: US20240247977A1. Автор: Gerd Plechinger. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-07-25.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: US20240288313A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-08-29.

Noninvasive blood sugar level measuring method

Номер патента: US20080261320A1. Автор: Nobuaki Noguchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-23.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: EP4425134A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-09-04.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: FI20235241A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-08-29.

Noninvasive blood sugar level measuring method

Номер патента: US7863049B2. Автор: Nobuaki Noguchi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-04.

Ultrasonic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US09976885B2. Автор: Shuguang Zhang,Jinhui Huang,Xiongbing Kang. Владелец: AUDIOWELL ELECTRONICS (GUANGDONG) Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Measuring method, measuring apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240085327A1. Автор: Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Shunji Maeda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Groundwater level elevation measurement method, groundwater storage measurement system, and application

Номер патента: US12044610B1. Автор: XU Wang,Hongyue Sun. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement method

Номер патента: US20130103346A1. Автор: Yasushi Iwasaki,Masaki Hosoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-04-25.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: US20240272318A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20140193921A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-07-10.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20170350904A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-07.

Antenna attitude measurement sensor and antenna attitude measurement method

Номер патента: US09945663B2. Автор: Shijie Bi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-04-17.

Optical fiber leakage loss measurement method

Номер патента: US09933331B2. Автор: Tetsuya Hayashi,Tetsuya Nakanishi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Spectral confocal measurement device and measurement method

Номер патента: EP4006483A1. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220011167A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2022-01-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20190360867A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2019-11-28.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230258504A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11733103B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-22.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11169031B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2021-11-09.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Quality control sample measurement method, sample analyzer, and supply device

Номер патента: US20230168262A1. Автор: Atsushi Kumagai,Noriyuki Nakanishi,Junya IKUTA,Syunsuke Yao. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Spectral confocal measurement device and measurement method thereof

Номер патента: US12085501B2. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Measurement method, measurement device, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20190226941A1. Автор: Fumihiko Ito,Nobuo Kuwaki,Ryo Maruyama. Владелец: Shimane University NUC. Дата публикации: 2019-07-25.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Lens power measurement device and measurement method

Номер патента: US09778136B2. Автор: Hiroaki Suzuki,Atsushi Kobayashi. Владелец: Menicon Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Interferometric distance measuring method for measuring surfaces, and such a measuring arrangement

Номер патента: US09677870B2. Автор: Thomas Jensen. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-06-13.

Filling capacity measurement method

Номер патента: RU2541148C1. Автор: Норио КАЦУЯМА,Хироси ЮАСА. Владелец: Джапан Тобакко Инк.. Дата публикации: 2015-02-10.

Body temperature measurement method, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230263399A1. Автор: Xiaofang Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Temperature measurement method of honeycomb formed body, and temperature measurement device

Номер патента: US20180257289A1. Автор: Takeshi Tokunaga. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Measurement Method, Sensor Device, And Inertial Measurement Device

Номер патента: US20230243865A1. Автор: Yoshiyuki Matsuura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: US20220026197A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2022-01-27.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: CA2540801A1. Автор: Olaf Boese,Lorenz Ring. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-14.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: EP4414750A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Stress measuring method, stress measuring member, and stress measuring set

Номер патента: US09897496B2. Автор: Takahiro Hayashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Cross-sectional profile measuring method

Номер патента: US09739607B2. Автор: Hirokazu Michiwaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Measurement method, measurement device, and recording medium

Номер патента: US20200265635A1. Автор: Naofumi ENDO. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-08-20.

Optical measuring system and optical measuring method

Номер патента: EP1708612A1. Автор: Christoph Hauger,Peter Reimer. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-10-11.

Scale thickness measuring method

Номер патента: US20240255268A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno,Yuji KOHASHI,Hajime KUMATANI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: EP3853553A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2021-07-28.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20070203654A1. Автор: Toshihide Ezoe. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09880103B2. Автор: Karsten Hiltawsky,Hans-Ullrich Hansmann,Arne TRÖLLSCH,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-01-30.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Method and device for measuring trailer included angle, and vehicle

Номер патента: AU2019382367A1. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-08.

Measurement method, measurement device, and nontransitory computer-readable medium

Номер патента: US20240241047A1. Автор: Shigeru Nakamura,John Kenji CLARK. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761812B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Flow measuring method and device

Номер патента: CA2511748C. Автор: Nils Arne Braaten. Владелец: Roxar AS. Дата публикации: 2014-01-28.

Measurement method and device for thread parameters

Номер патента: CA2746712C. Автор: Nicolas Hernan Bonadeo,Sebastian Berra,Javier Ignacio Etcheverry. Владелец: Tenaris Connections Ltd. Дата публикации: 2014-10-14.

Tissue elasticity measurement method and device

Номер патента: CA3152565C. Автор: Jinhua Shao,Jin Sun,Houli Duan,Qiong HE. Владелец: Wuxi Hisky Medical Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Issue elasticity measurement method and device

Номер патента: AU2020354000A1. Автор: Jinhua Shao,Jin Sun,Houli Duan,Qiong HE. Владелец: Wuxi Hisky Medical Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Photoeletric type measuring method and device

Номер патента: US4778271A. Автор: Hiroyoshi Hamada,Yoshiharu Kuwabara,Masayuki Kuwata. Владелец: Mitutoyo Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 1988-10-18.

Measurement method and device for multiphase flow mixed transportation

Номер патента: EP4273510A1. Автор: Tianri GUAN. Владелец: G & F Pump Pte Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Measurement method and device of near-eye display

Номер патента: US20240310626A1. Автор: QIAN LI,Li Song,Jiangen PAN. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and device for repairing an aircraft and/or gas turbine component

Номер патента: US09902024B2. Автор: Michael Ernst,Thiemo Ullrich. Владелец: Lufthansa Technik AG. Дата публикации: 2018-02-27.

Visible cephalometric measurement method, system and computer processing device

Номер патента: US20190073771A1. Автор: Jing Lei,Minfeng CHEN. Владелец: Fussen Technology Co ltd. Дата публикации: 2019-03-07.

Dimensional measurement method based on deep learning

Номер патента: US20230061004A1. Автор: Kedao Wang. Владелец: Unitx Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Measuring method and system for structured light 3d scanning

Номер патента: LU503375B1. Автор: QIN Qin,Long CAO,Wenchen Li,Zimei Tu. Владелец: Univ Shanghai Polytech. Дата публикации: 2023-07-19.

Trusted measurement method and apparatus, computer device, and readable medium

Номер патента: EP4418115A1. Автор: Liang Wang,Jianjun Liu,Min Zhang,Jia Zhou,Hu TAN,Zhihong XUE,Qu CAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Physiological signal measuring method and system thereof

Номер патента: US20240164649A1. Автор: Chuan-Yu Chang,Yen-Qun GAO. Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2024-05-23.

Grayscale measurement method and apparatus

Номер патента: GB2614973A. Автор: ZHANG Yue,Yang Cheng,CONG Hongchun. Владелец: Xian Novastar Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

User feature value measurement method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240298973A1. Автор: Xun Zhang,Xiaoran SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Method and system for measuring non-verbal behavior of teacher

Номер патента: ZA202311033B. Автор: Wei Zhang,Shengming Wang,Zhicheng DAI,Zengzhao CHEN,Xiuling HE,Baolin YI. Владелец: Univ Central China Normal. Дата публикации: 2024-07-31.

Method and apparatus for precision measurements on a touch screen

Номер патента: US09928570B2. Автор: Kenneth Todd Reed,Jonathan Neil Draper. Владелец: Calgary Scientific Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US20170039702A1. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-09.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US09922420B2. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method and program

Номер патента: US09576370B2. Автор: Keiichiro Ishihara,Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Lithographic method and apparatus

Номер патента: US09989864B2. Автор: Johannes Jacobus Matheus Baselmans,Wilhelmus Petrus De Boeij. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-06-05.

Light-measuring method and structure for cameras

Номер патента: US3810202A. Автор: N Uno,T Sakazaki. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1974-05-07.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A3. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: David Scheiner. Дата публикации: 2004-03-18.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A8. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: David Scheiner. Дата публикации: 2005-02-17.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: EP1576422A2. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2005-09-21.

Method and system for overlay measurement

Номер патента: WO2003075099A2. Автор: Moshe Finarov,David Scheiner. Владелец: NOVA MEASURING INSTRUMENTS LTD.. Дата публикации: 2003-09-12.

Transfer function measuring method and active noise reduction device

Номер патента: US11830470B2. Автор: Yoshiyuki Hayashi,Taiki KODATSU. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Measuring method for measuring overlay shift and non-transient computer readable storage medium

Номер патента: US20240319616A1. Автор: Tsu-Wen HUANG,Chun Yen WEI. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Method for training binding affinity measurement model, and binding affinity measurement method

Номер патента: EP4401008A1. Автор: Shaoyong XU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Method and System of Recording Data from Borescopic Inspection

Номер патента: US20190172277A1. Автор: LIN Cheng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-06.

Human tissue quasi-elastic coefficient and elasticity measurement methods and device

Номер патента: CA3076160A1. Автор: Xiliang Nie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-03-21.

Blood pressure measurement method, apparatus, device and readable storage medium

Номер патента: US20240366099A1. Автор: Yongjie Gao. Владелец: Shenzhen AOJ Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Human tissue quasi-elastic coefficient and elasticity measurement methods and device

Номер патента: EP3698721A2. Автор: Xiliang Nie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-26.

Measurement method, shaping device, simulator, measurement device, and storage medium

Номер патента: US20240262021A1. Автор: Yoshihiro Shiode. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Method and device for state switching

Номер патента: RU2649971C1. Автор: Вэй Сунь,Чжэньфэй ЛЭЙ,Сяндун ВАН. Владелец: Сяоми Инк.. Дата публикации: 2018-04-06.

Method and device for interrelation between piloting bodies, piloting unit and aircraft

Номер патента: RU2693516C2. Автор: Седрик АНТРЕЖЮ. Владелец: Ратье Фижак. Дата публикации: 2019-07-03.

Blood pressure measurement method, electronic device, and medium

Номер патента: US20240335126A1. Автор: ZHENG Jia,Jie Zhou,Yan Zeng,Hongbao LI,Jiabing YAN,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Pcr measuring method and measurement device

Номер патента: US20190352699A1. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

Measuring method and device

Номер патента: US20240324945A1. Автор: Robert Ellis,Peter John Kelly. Владелец: Koneksa Health Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Movement measuring method and device

Номер патента: EP4447802A1. Автор: Robert Ellis,Peter John Kelly. Владелец: Koneksa Health Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Blood pressure measurement method, and electronic device and medium thereof

Номер патента: EP4431012A1. Автор: ZHENG Jia,Jie Zhou,Yan Zeng,Hongbao LI,Jiabing YAN,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Tissue component measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427505A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Shear wave parameter measurement method and ultrasonic wave device

Номер патента: EP4437969A1. Автор: Sung Bae Park,Sun Yeob CHANG,Chul Hee Yun. Владелец: Alpinion Medical Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Method and apparatus for measuring biosignal

Номер патента: US09877685B2. Автор: Ui Kun Kwon,Jong Wook Lee,Sang Joon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-30.

Fetus electrocardiogram signal measuring method and its device

Номер патента: US20100076330A1. Автор: Yoshitaka Kimura,Takuya Ito,Mitsuyuki Nakao,Kazunari Ohwada. Владелец: Tohoku Techno Arch Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-25.

Remaining printing material measurement method and additive manufacturing apparatus

Номер патента: US20240308140A1. Автор: xinqiao Deng. Владелец: Shenzhen Anycubic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Photoelectric type pulse signal measuring method and apparatus

Номер патента: US09949695B2. Автор: Song Liu,Bo Li,Shasha Lou. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Blood pressure measurement method and apparatus, and electronic device and storage medium

Номер патента: EP4179965A1. Автор: Kongqiao Wang. Владелец: Anhui Huami Health Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Optical rotation measurement method and optical rotation measurement apparatus

Номер патента: US09713441B2. Автор: Akira Ikeda,Kazuhiro Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Pulse wave velocity measurement method

Номер патента: US09854976B2. Автор: Akira Tanaka,Tetsuya Takamori,Makoto Abe,Makoto Yoshizawa,Noriyasu Homma,Norihiro Sugita. Владелец: Fukushima University NUC. Дата публикации: 2018-01-02.

A transpulmonary pressure measuring method and system

Номер патента: WO2024158337A1. Автор: Anatoliy SERGIYENKO,Rafael SAIFULIN. Владелец: Bark Technology Pte. Ltd.. Дата публикации: 2024-08-02.

Method and apparatus for contactless mixing of liquids

Номер патента: US09987604B2. Автор: Philipp Baaske,Stefan Duhr. Владелец: NanoTemper Technologies GmbH. Дата публикации: 2018-06-05.

Method and apparatus for measuring perfusion of biological tissue by blood

Номер патента: WO2000015107A9. Автор: Richard J Cohen,Robert H Rubin,Derin A Sherman. Владелец: Massachusetts Inst Technology. Дата публикации: 2000-08-17.

Distance-measuring method and endoscopic system

Номер патента: US12023204B2. Автор: Kazunori Tokiwa,Katsuhiko Yoshimura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Radiotherapy apparatus control apparatus and specific site position measuring method

Номер патента: US20110087061A1. Автор: Takanobu Handa,Shuji Kaneko. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-14.

Micro biosensor and measuring method thereof

Номер патента: US12097025B2. Автор: Chien-Chung Chen,Chun-Mu Huang,Chieh-Hsing Chen,Heng-Chia Chang,Chi-Hao Chen. Владелец: Bionime Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Thickness measuring method and device

Номер патента: EP4344614A1. Автор: Jae Seung Oh,Seon Hwan Choi. Владелец: Huvitz Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Animal urinary function measuring device and animal urinary function measuring method

Номер патента: US09877460B2. Автор: Hiroaki Fukuda,Ryoji Mizumachi. Владелец: LSI Medience Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Dot position measurement method, dot position measurement apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20100079518A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

Measurement method of nozzle overlapping width, and inkjet recording apparatus

Номер патента: US20220212465A1. Автор: Masaaki Nishihara. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2022-07-07.

Measurement method of nozzle overlapping width, and inkjet recording apparatus

Номер патента: US11673386B2. Автор: Masaaki Nishihara. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2023-06-13.

Bio information measurement device and bio information measurement method

Номер патента: US20210228091A1. Автор: Seung Wan Kang,Dae Keung KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-29.

Method and device for eliminating electrode drift

Номер патента: US5766432A. Автор: Raymond M. Dunn,Robert Harrington,Robert Peura,Stevan Kun. Владелец: University of Massachusetts UMass. Дата публикации: 1998-06-16.

Improved oxidation methods and reactor

Номер патента: RU2577839C2. Автор: Фрэнк Р. ФИТЧ,Нареш САЧЕК,Чжисюн ТА. Владелец: Линде Акциенгезелльшафт. Дата публикации: 2016-03-20.

Method and device for drying and milling wet material

Номер патента: RU2680240C2. Автор: Жан-Марк МАРШАЛЬ. Владелец: Бруайёр Пуатемиль Енженьери. Дата публикации: 2019-02-18.

Methods and devices for treatment of skin lesions

Номер патента: RU2368347C2. Автор: Роберт КОНРАД,Чарльз КОНРАД. Владелец: Тирелл, Инк.. Дата публикации: 2009-09-27.

Heart rate measurement method and device, and wearable apparatus

Номер патента: WO2018036474A1. Автор: Sen Lin,Quanzhong Wang. Владелец: Beijing Boe Multimedia Technology Co., Ltd.. Дата публикации: 2018-03-01.

Heart rate measurement method and device, and wearable apparatus

Номер патента: EP3503796A1. Автор: Sen Lin,Quanzhong Wang. Владелец: Beijing BOE Multimedia Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-03.

ABERRATION MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120206701A1. Автор: MAEDA Hironori. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-08-16.

Current-energization measuring method by probe and device thereof

Номер патента: JPH1130648A. Автор: Koichi Sasaki,浩一 佐々木. Владелец: NEC Ibaraki Ltd. Дата публикации: 1999-02-02.

The cable strain measuring method of elevator and device

Номер патента: CN103359565B. Автор: 田利军,平田智之,新井晋治,金子元树,户川宽太. Владелец: Fujitec Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-06.

HARD PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, AND DEVICE THEREFOR

Номер патента: US20120001619A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Measuring method of systematic errors of angular encoders

Номер патента: RU2558000C1. Автор: Юрий Ефимович Дукаревич. Владелец: Юрий Ефимович Дукаревич. Дата публикации: 2015-07-27.

Measurement method of voltages on earthing device

Номер патента: RU2452968C1. Автор: Юрий Михайлович Силаев. Владелец: Юрий Михайлович Силаев. Дата публикации: 2012-06-10.

Linear displacement measurement method and apparatus

Номер патента: CA2584531A1. Автор: Clark E. Robison. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-07-21.

Method and device for providing blood constituents

Номер патента: US20120000299A1. Автор: . Владелец: ROCHE DIAGNOSTICS OPERATIONS, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS FOR TRIGGERING AN ALARM

Номер патента: US20120001756A1. Автор: Eckert Lee H.,MERCIER MICHAEL,SHAFER Gary Mark. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus for Implementing a Multiple Display Mode

Номер патента: US20120001829A1. Автор: JUNG Younghee,Anttila Akseli,Tanaka Yumiko. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR PACKAGING A SUBSTRATE

Номер патента: US20120002266A1. Автор: . Владелец: QUALCOMM MEMS Technologies, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR PROGRESSIVELY DELETING MEDIA OBJECTS FROM STORAGE

Номер патента: US20120002951A1. Автор: REISMAN Richard R.. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR DATA SESSION ESTABLISHMENT

Номер патента: US20120003958A1. Автор: Hossain Asif,Lu Lan,CHAN Kwong Hang Kevin,Ma David P.. Владелец: RESEARCH IN MOTION LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND SYSTEMS FOR TREATMENT OF TISSUE IN A BODY LUMEN

Номер патента: US20120004656A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Device for Controlling Vibrations of a Metallurgical Vessel

Номер патента: US20120000315A1. Автор: Fleischanderl Alexander,Hiebler Martin,Staudinger Guenther,Wimmer Peter. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR ACTIVELY SUPPRESSING PRESSURE OSCILLATIONS IN A HYDRAULIC SYSTEM

Номер патента: US20120000543A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TUNABLE WHITE COLOR METHODS AND USES THEREOF

Номер патента: US20120001555A1. Автор: Leung Wa-Hing,Tu Qifei. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR FORMING SURFACE PROCESSED DATA

Номер патента: US20120001908A1. Автор: Takahashi Kenji,Kikuta Mamoru,Miura Kenjiro,Uzuyama Daijiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND APPARATUS FOR SEPARATING AND COMPOSING SEISMIC WAVES

Номер патента: US20120002505A1. Автор: . Владелец: Institue of Geology and Geophysics, Chinese Academy of Sciences. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND SYSTEM FOR AVOIDING INTERFERENCE CAUSED BY NON-SYNCHRONIZATION IN RELAY TDD SYSTEM

Номер патента: US20120002576A1. Автор: Zhang Xiaobo,You Mingli. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Device for Image Zooming

Номер патента: US20120002901A1. Автор: ZHANG Wei,Si Bingyu,Lee Chi-Tien. Владелец: INFOVISION OPTOELECTRONICS (KUNSHAN) CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR CONNECTING TUBES MADE OUT OF THERMOPLASTIC MATERIAL

Номер патента: US20120003411A1. Автор: Strübin Pierre,Chuat René,Grosjean Yoland. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND DEVICES FOR THE SELECTIVE DETECTION OF MICROORGANISMS

Номер патента: US20120003661A1. Автор: . Владелец: C3 JIAN, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

GUIDEWIRE INSERTION METHODS AND DEVICES

Номер патента: US20120004665A1. Автор: . Владелец: DePuy Spine, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS AND APPARATUS FOR TREATING ANAPHYLAXIS USING ELECTRICAL MODULATION

Номер патента: US20120004701A1. Автор: Errico Joseph P.,Mendez Steven. Владелец: ElectroCore, LLC. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR OPERATING AN INTERNAL COMBUSTION ENGINE

Номер патента: US20120004803A1. Автор: Eser Gerhard,Azadeh Reza,MOSER Wolfgang. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR MONITORING A PHOTOVOLTAIC UNIT

Номер патента: US20120004870A1. Автор: Ney Jörg-Werner. Владелец: SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR DRYING A FIBROUS WEB

Номер патента: US20120000089A1. Автор: Boechat Joao V.,Scherb Thomas. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Device for Manufacturing a Three-Layer Cord of the Type Rubberized in Situ

Номер патента: US20120000174A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND PROGRAMMING TOOL FOR CREATING A USER PROGRAM FOR A SAFETY CONTROLLER

Номер патента: US20120004744A1. Автор: REUSCH Matthias,Bauer Ralf,Woehrle Stefan,Holzaepfel Matthias,Gilmore Maurice. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and System for Excursion Monitoring in Optical Lithography Processes in Micro Device Fabrication

Номер патента: US20120004758A1. Автор: . Владелец: GLOBALFOUNDRIES INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD AND DEVICE FOR CALIBRATING AN ARRAY ANTENNA

Номер патента: US20120001810A1. Автор: Soualle Francis,Wolf Helmut. Владелец: Astrium GmbH. Дата публикации: 2012-01-05.