Measurement method and device
Номер патента: US11933828B2
Опубликовано: 19-03-2024
Автор(ы): Feng Li, Yi Tang, Zhiwei Zhang
Принадлежит: Huawei Technologies Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-03-2024
Автор(ы): Feng Li, Yi Tang, Zhiwei Zhang
Принадлежит: Huawei Technologies Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Measuring method and device
Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.