Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240099059A1
Опубликовано: 21-03-2024
Автор(ы): Satoru Tomita
Принадлежит: Japan Display Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Particle imager, particle size measuring device, compound particle size measuring device, computer program, particle observation method, and compound particle measuring device

Номер патента: JP6982175B2. Автор: 哲也 森,久 秋山,武 赤松,誠 名倉. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-12-17.

Optical measurement method and device

Номер патента: US09739993B2. Автор: Louis Philippe Braitbart,Gabriel Y. Sirat. Владелец: Bioaxial SAS. Дата публикации: 2017-08-22.

Measurement method, measurement program, and measurement system

Номер патента: US20180269116A1. Автор: Manabu Takakuwa,Kenji Konomi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Inner layer measurement method and inner layer measurement device

Номер патента: US09977229B2. Автор: Hirotoshi Oikaze,Yohei Takechi,Yasuhiro Kabetani,Tomotaka Furuta. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Method for manufacturing a scale, a scale manufactured according to the method and a position measuring device

Номер патента: US7312878B2. Автор: Peter Speckbacher,Georg Flatscher. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2007-12-25.

MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT PROGRAM, AND MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20180269116A1. Автор: Takakuwa Manabu,KONOMI Kenji. Владелец: Toshiba Memory Corporation. Дата публикации: 2018-09-20.

Three-dimensional measurement method and display method, and three-dimensional measurement device

Номер патента: JP3406746B2. Автор: 正浩 堀江,一博 中井. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2003-05-12.

INNER LAYER MEASUREMENT METHOD AND INNER LAYER MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20160097921A1. Автор: Oikaze Hirotoshi,Kabetani Yasuhiro,TAKECHI YOHEI,FURUTA TOMOTAKA. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-07.

Specimen shape measurement method and specimen shape measurement device

Номер патента: WO2016185581A1. Автор: 鈴木良政,大出寿. Владелец: オリンパス株式会社. Дата публикации: 2016-11-24.

Sample shape measurement method and sample shape measurement device

Номер патента: WO2017175303A1. Автор: 鈴木良政. Владелец: オリンパス株式会社. Дата публикации: 2017-10-12.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US09995825B2. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20210396875A1. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Actuator ring characteristic measurement method

Номер патента: US09716833B2. Автор: Shoichiro Sengoku. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Semiconductor device and temperature measurement method

Номер патента: US20220244111A1. Автор: Shinichi Masuda. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-04.

Device, method and system for generating dynamic projection patterns in a camera

Номер патента: EP4372447A3. Автор: Michael Tewes. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-06-26.

Optical wavelength measuring device using absorption-type optical fiber-based multiple optical fiber filter module, optical sensor system having the same, and optical measurement method

Номер патента: US20240280412A1. Автор: Chang Won Lee,Bok Hyeon KIM. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-08-22.

Light reduction mechanism, output data correction method, and laser beam measurement device

Номер патента: US11976966B1. Автор: Kazunori Komori. Владелец: Tamron Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-07.

Light reduction mechanism, output data correction method, and laser beam measurement device

Номер патента: US20240175746A1. Автор: Kazunori Komori. Владелец: Tamron Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Spectral confocal measurement device and measurement method

Номер патента: EP4006483A1. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Spectral confocal measurement device and measurement method thereof

Номер патента: US12085501B2. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: US20220255542A1. Автор: Tatsuya Iwai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: US20220021412A1. Автор: Tatsuya Iwai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-01-20.

Measuring method, measuring system, and measuring device

Номер патента: US20240077339A1. Автор: Takayuki Hatanaka,Kimihiro Yokoyama,Ryoma KOBAYASHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Method and system for measurement-device-independent quantum key distribution network

Номер патента: US20230254130A1. Автор: Chao Wang,Ci Wen LIM,Koon Tong GOH. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2023-08-10.

Method and system for measurement-device-independent quantum key distribution network

Номер патента: EP4183067A1. Автор: Chao Wang,Ci Wen LIM,Koon Tong GOH. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2023-05-24.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20230161037A1. Автор: Tsuyoshi OGO. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Two-dimensional photoelectric autocollimation method and device based on wavefront measurement and correction

Номер патента: US12055710B2. Автор: Yang Yu,Jian Shi,Jiubin Tan. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-08-06.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US20200386537A1. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2020-12-10.

Three-dimensional measurement device, three-dimensional measurement method, and program

Номер патента: US11156451B2. Автор: Akira Nishiyama. Владелец: Sony Interactive Entertainment Inc. Дата публикации: 2021-10-26.

Measurement method and device of near-eye display

Номер патента: US20240310626A1. Автор: QIAN LI,Li Song,Jiangen PAN. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Mode-dependent loss measurement device and mode-dependent loss measuring method

Номер патента: US11754466B2. Автор: Tetsuya Hayashi,Takemi Hasegawa,Yuki Kawaguchi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2023-09-12.

Bending measurement apparatus, imaging apparatus, projection apparatus and projection imaging apparatus using the same, and bending measurement method

Номер патента: US20200141768A1. Автор: Yoshihito IGUCHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Generator for generating an anti-kerr-effect modulated light signal, interferometry measuring device comprising such a generator, and method for modulating a light signal

Номер патента: US20240159537A1. Автор: Eric Ducloux,Christophe OLLIVIER. Владелец: Exail SAS. Дата публикации: 2024-05-16.

Contact force measurement method, and contact force measurement device

Номер патента: RU2519589C1. Автор: Такамаса ФУДЗИСАВА,Мицуру ИКЕДА,Казутака МАЦУБАРА. Владелец: Рэйлвэй Текникал Рисёрч Инститьют. Дата публикации: 2014-06-20.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20170191928A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-06.

Surface property measuring method and surface property measuring device

Номер патента: US20200132429A1. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-04-30.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: US09846028B2. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-12-19.

Measurement method for non-destructive inspection, measurement device, non-destructive inspection method, information processing device of non-destructive inspection, and recording medium

Номер патента: US12044654B2. Автор: Hiroshi Morita,Yoshiyuki Hashimoto,Mitsuru Mimori,Katsunori Teshima,Motonori Takakura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement Method, Sensor Device, And Inertial Measurement Device

Номер патента: US20230243865A1. Автор: Yoshiyuki Matsuura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Optical waveform measurement device and measurement method thereof, complex refractive index measurement device and measurement method thereof, and computer program recording medium containing the program

Номер патента: EP1640709A1. Автор: Shingo NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. SAITO,Masaru NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. IIDA,Masaaki NAT. INST. OF INF. & COMM. TECH. ASHIDA. Владелец: National Institute of Information and Communications Technology. Дата публикации: 2006-03-29.

Electromagnetic noise measurement method and electromagnetic noise measurement device

Номер патента: EP4332589A1. Автор: UMBERTO Paoletti. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-06.

Light intensity measuring method and light intensity measuring device

Номер патента: EP1912060A1. Автор: Takami Shibazaki,Kaneyasu Okawa,Yuko Saida. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2008-04-16.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20190271639A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: (dc) Drinker Biddle & Reath. Дата публикации: 2019-09-05.

Surface property measuring method and surface property measuring device

Номер патента: US11193749B2. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-12-07.

Control rod drop time measurement method integrated with rod position measurement device

Номер патента: EP4258288A1. Автор: Ye Tian,Minghui Zhang,Shaohua Xu,Yiming Ma,Ning Tao,Yuan Huang,ShengFeng XU,Zihua YANG,Weijian ZHU,Bo Chao,Xinxin LIU,Qichao Wang,Zhengke CHANG,Desong LANG. Владелец: Nuclear Power Operations Research Institute Npri. Дата публикации: 2023-10-11.

Vital data measuring method and vital data measuring device

Номер патента: US20230186475A1. Автор: Masao Hamada,Ikuo Fuchigami,Takeshi Yoshihara. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

Stress luminescence measurement method and stress luminescence measurement device

Номер патента: US11704786B2. Автор: Yusuke Yokoi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-07-18.

Laminate substrate measurement method, laminate substrate and measurement apparatus

Номер патента: US20180017484A1. Автор: Kenji Kasahara,Taketsugu Yamamoto,Taiki Yamamoto. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-18.

Method for verifying the reliability of measurement data of an ultrasonic flow measurement based on the travel-time difference method and ultrasonic flow measurement device

Номер патента: US09885593B2. Автор: Frank Wandeler,Auréle Fleury. Владелец: Endress and Hauser Flowtec AG. Дата публикации: 2018-02-06.

Method and arrangement for measuring device

Номер патента: US20030066201A1. Автор: Hannu Moisio,Timo Saikanmaki. Владелец: Metso Paper Automation Oy. Дата публикации: 2003-04-10.

Method and Fill Level Measuring Device for Determining the Fill Level of a Medium by means of Continuous Wave Radar Measurement

Номер патента: US20190107428A1. Автор: Michael Vogt,Robert Storch,Gordon Notzon. Владелец: Krohne SAS. Дата публикации: 2019-04-11.

Lens power measurement device and measurement method

Номер патента: US09778136B2. Автор: Hiroaki Suzuki,Atsushi Kobayashi. Владелец: Menicon Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Charge amount measurement method and charge amount measurement system

Номер патента: US20240328984A1. Автор: Masaru Inoue,Noriaki Oyabu. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Location measurement device for measuring location of target terminal in wireless communication system and location measurement method thereof

Номер патента: US11997559B2. Автор: Hi Chan Moon. Владелец: Infoseize Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US11835389B2. Автор: Ching-Feng Lee,Ja-Son Hu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-12-05.

Microwave resonator magnetic field measuring device and magnetic field measuring method

Номер патента: US11892528B2. Автор: Eckhard Quandt,Reinhard Knoechel,Sebastian Toxvaerd,Lars Thormaehlen. Владелец: Christian Albrechts Universitaet Kiel. Дата публикации: 2024-02-06.

Measurement method, measurement apparatus and measurement system for winding gap between electrode plates

Номер патента: EP4293790A4. Автор: Binbin Xu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

LIQUID DROPLET MEASUREMENT METHOD AND LIQUID DROPLET MEASUREMENT DEVICE, AND METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING DEVICE

Номер патента: US20210231429A1. Автор: SUEMASU SATOSHI,MASUNAGA KEIJIRO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd.. Дата публикации: 2021-07-29.

LIQUID DROPLET MEASUREMENT METHOD AND LIQUID DROPLET MEASUREMENT DEVICE, AND METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURING DEVICE

Номер патента: US20180283856A1. Автор: SUEMASU SATOSHI,MASUNAGA KEIJIRO. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-04.

Laser Range Measuring Device, Laser Range Measuring Method and Laser Range Measuring Device

Номер патента: KR20230004200A. Автор: 신웅철. Владелец: 주식회사 맥파이테크. Дата публикации: 2023-01-06.

Angle width estimation device, angle width estimation method, and target angle measurement device

Номер патента: US20230314127A1. Автор: Yoshiki Takahashi,Ryuhei Takahashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

POWER AMOUNT MEASUREMENT SYSTEM, POWER AMOUNT MEASUREMENT METHOD, AND POWER AMOUNT MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20210242683A1. Автор: Kinomura Shigeki,Nakamura Toru,Kusumi Hidetoshi,KITAOKA Hironobu,Tsuchiya Yoshiyuki. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-05.

Free band measurement program, free band measurement method, and free band measurement device

Номер патента: JP6810339B2. Автор: 直樹 小口,忠翰 李. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-01-06.

THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT METHOD AND THREE-DIMENSIONAL MEASUREMENT DEVICE USING THE SAME

Номер патента: US20180041694A1. Автор: Chang Yao-Tsung. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-08.

Thermal resistance measurement method and thermal resistance measurement device

Номер патента: CN104251872B. Автор: 三柳俊之,日向裕朗,日向裕一朗. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-15.

FOUCAULT CURRENT MEASUREMENT METHOD AND FOUCAULT CURRENT MEASURING DEVICE

Номер патента: FR3053120A1. Автор: Jean-Marc Decitre,Frederic NOZAIS. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2017-12-29.

Current temperature measuring method and current temperature measuring device in electronic power circuit

Номер патента: JP4982190B2. Автор: ラインホールト，バイエラー,マルクス，トーベン. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2012-07-25.

Partial pressure measurement method and partial pressure measurement device

Номер патента: JP4909929B2. Автор: 勇夫 村岸,斉 山西,昌裕 山本,剛 小岩崎,光宏 吉永. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-04-04.

Magneto-optical measurement method and magneto-optical measurement device

Номер патента: WO2017119237A1. Автор: 佑介 橋本,英治 齊藤. Владелец: 国立大学法人東北大学. Дата публикации: 2017-07-13.

Three-dimensional measurement method and three-dimensional measurement device

Номер патента: CN107687818B. Автор: 张耀宗. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-07-10.

Three-dimensional measurement method and three-dimensional measurement device using the same

Номер патента: TW201809591A. Автор: 張耀宗. Владелец: 緯創資通股份有限公司. Дата публикации: 2018-03-16.

Electron beam position fluctuation measurement method, electron beam position fluctuation measurement device, and electron beam recording device

Номер патента: EP1755001A1. Автор: Yoshiaki c/o Sougoukenkyusho Pioneer C. KOJIMA. Владелец: Pioneer Design Corp. Дата публикации: 2007-02-21.

Height measuring method for three dimensional shape measuring device

Номер патента: CN105823438A. Автор: 郑仲基,洪德和. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2016-08-03.

Height measuring method for three dimensional shape measuring device

Номер патента: WO2013176482A1. Автор: 정중기,홍덕화. Владелец: 주식회사 고영테크놀러지. Дата публикации: 2013-11-28.

Measurement method, measurement apparatus and measurement system for winding gap between electrode plates

Номер патента: EP4293790A1. Автор: Binbin Xu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Method and system for measurement-device-independent quantum key distribution network

Номер патента: EP4183067A4. Автор: Chao Wang,Ci Wen LIM,Koon Tong GOH. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE. Дата публикации: 2024-07-31.

Nrz signal amplifying device and method, and error rate measurement device and method

Номер патента: US20150067416A1. Автор: Takeshi Wada,Kazuhiro Fujinuma,Wataru Aoba. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2015-03-05.

Angle width estimation device, angle width estimation method, and target angle measurement device

Номер патента: EP4283325A1. Автор: Yoshiki Takahashi,Ryuhei Takahashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

NRZ SIGNAL AMPLIFYING DEVICE AND METHOD, AND ERROR RATE MEASUREMENT DEVICE AND METHOD

Номер патента: US20150067416A1. Автор: Wada Takeshi,AOBA Wataru,FUJINUMA Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

PHYSICAL QUANTITY MEASURING DEVICE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND PHYSICAL QUANTITY MEASURING DEVICE

Номер патента: JPWO2018163632A1. Автор: 内藤　　孝,竜也 三宅,拓也 青柳,洋 小貫,大介 寺田,瑞紀 伊集院,成亘 小松. Владелец: HITACHI AUTOMOTIVE SYSTEMS LTD. Дата публикации: 2019-11-07.

Power system analysis support system, power system analysis support device, power system analysis support method, and power system measuring device

Номер патента: EP3107186B1. Автор: Masahiro Watanabe,Kunihiko Tsunedomi,Tsukasa OONISHI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-11-14.

Angle width estimation device, angle width estimation method, and target angle measurement device

Номер патента: EP4283325A4. Автор: Yoshiki Takahashi,Ryuhei Takahashi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-27.

METHOD AND HANDHELD DISTANCE MEASUREMENT DEVICE FOR INDIRECT DISTANCE MEASUREMENT BY MEANS OF IMAGE-ASSISTED ANGLE DETERMINATION FUNCTION

Номер патента: US20150109407A1. Автор: Giger Kurt. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-23.

METHOD AND HANDHELD DISTANCE MEASURING DEVICE FOR CREATING A SPATIAL MODEL

Номер патента: US20150309174A1. Автор: Giger Kurt. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-29.

Flow determining method and flow rate-measuring device

Номер патента: CN110234965A. Автор: 永濑正明,西野功二,池田信一,泽田洋平. Владелец: Fujikin Inc. Дата публикации: 2019-09-13.

Probe apparatus, and measurement method and measurement system of junction resistance of superconducting qubit

Номер патента: US20240329162A1. Автор: Fu Zhang,HUI Zhang,Yao Liu,Yongjie Zhao,Xiansheng JIN. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Network delay measuring system, network delay measuring method and network delay measuring device

Номер патента: US20240259285A1. Автор: Keita Nishimoto,Hiroshi O,Kota Asaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Concentration measuring method, and concentration measuring device

Номер патента: US12078590B2. Автор: Nobukazu Ikeda,Yoshihiro Deguchi,Kouji Nishino,Masaaki Nagase. Владелец: University of Tokushima NUC. Дата публикации: 2024-09-03.

Viscoelasticity measurement method and viscoelasticity measurement device

Номер патента: US12098989B2. Автор: Shinsuke Miura,Tsutomu Odagiri,Taku Nakamoto. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Human Body Composition Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20240008760A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Method and device of measuring breakdown status of equipment

Номер патента: US20170146432A1. Автор: Sen-Chia Chang,Tsung-Jung Hsieh,Yao-Chung HSU. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2017-05-25.

Impurity measuring device

Номер патента: US6190520B1. Автор: Makiko Tamaoki,Yumi Sasaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2001-02-20.

THz MEASURING AND THz MEASURING DEVICE FOR MEASURING A CORRUGATED PIPE

Номер патента: US20230194243A1. Автор: Jan Hendrik Petermann. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-06-22.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Dose measuring device for the measurement of a radiation dose and measurement method for determining the radiation dose applied during pasteurization and/or sterilization of particulate material

Номер патента: US20240004089A1. Автор: Georgios AKEPSIMAIDIS. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Tire tread radius measurement method and tread radius measurement device used in same

Номер патента: EP3109588A4. Автор: Tsuyoshi Ito,Satoshi Ito,Kiyoto Maruoka. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-11.

Quenching depth measuring method and quenching depth measuring device

Номер патента: EP2634571A4. Автор: Kazuhiro Kawasaki,Yuji Gotoh,Noriyoshi Takaoka,Yoshitaka Misaka. Владелец: Neturen Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-08.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Capacitance value measurement method and device

Номер патента: US20190064240A1. Автор: Yongqian Li,Xuehuan Feng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Tire ground contact characteristic measuring method, tire ground contact characteristic measuring device, and tire ground contact characteristic measuring system

Номер патента: EP3892978A4. Автор: Takahisa KAMIKURA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2022-09-07.

Base station antenna and measurement method and measurement device for azimuth angle thereof, medium, and base station

Номер патента: EP4386418A1. Автор: Jinye HE,Shangmin CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Measurement Device, Measurement Method, and Storage Medium

Номер патента: US20220373580A1. Автор: Hiroki Kobayashi,Shinya Takiguchi. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Body composition measurement method and apparatus

Номер патента: EP4215110A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Measuring device, measuring method, and vacuum processing apparatus

Номер патента: US20240290591A1. Автор: Atsushi Sawachi,Takuya Nishijima,Ichiro SONE,Suguru Sato. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Film thickness measurement device, film thickness measurement method and substrate polishing device

Номер патента: US20240353344A1. Автор: Keita Yagi,Masaki Kinoshita,Yoichi Shiokawa,Taro Takahashi,Yuki Watanabe. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Control rod drop time measurement method integrated with rod position measurement device

Номер патента: EP4258288A4. Автор: Ye Tian,Minghui Zhang,Shaohua Xu,Yiming Ma,Ning Tao,Yuan Huang,ShengFeng XU,Zihua YANG,Weijian ZHU,Bo Chao,Xinxin LIU,Qichao Wang,Zhengke CHANG,Desong LANG. Владелец: Nuclear Power Operations Res Institute Npri. Дата публикации: 2024-10-16.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Measuring device, measuring system, measuring method, and computer readable recording medium

Номер патента: US20170134035A1. Автор: Yasuhiro Sasaki,Shohei Kinoshita,Shigeki Shinoda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-05-11.

Measurement device, measurement method, and storage medium

Номер патента: US20230288486A1. Автор: Tadashi Kaga,Yuki Tominaga,Mao Hori. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US12041351B2. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Quality measurement method and quality measurement device for long sheet material

Номер патента: US20210223171A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-07-22.

Quality measuring method and quality measuring device for long sheet material

Номер патента: EP3805733A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-04-14.

Distance measurement device, distance measurement method, and distance measurement program

Номер патента: US20240323528A1. Автор: Hiroshi Tamayama,Tomonori Masuda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Velocity measuring method and velocity measuring device using the same

Номер патента: US20090177091A1. Автор: Naoyuki Murayama,Tetsuya Hayashi,Shinichiro Umemura,Takashi Azuma. Владелец: Hitachi Medical Corp. Дата публикации: 2009-07-09.

Three-dimensional measurement method and three-dimensional measurement device

Номер патента: US20180296131A1. Автор: Mikinori Nishimura,Ryosuke Kaji. Владелец: J Morita Manufaturing Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Measurement device, measurement method, and computer program product

Номер патента: US20230014620A1. Автор: Shigeaki Sakurazawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Measuring method and a measuring device

Номер патента: US20230032791A1. Автор: Benedikt Köhler,Simon Haag,Lukas Buschle,Jasmin Keuser. Владелец: Karl Storz SE and Co KG. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement device, detection device, and measurement method

Номер патента: EP4091540A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-23.

Anti-varicella-zoster virus antibody, immunological measurement method, and immunological measurement device

Номер патента: US11814424B2. Автор: Tetsuo Tomiyama,Hisahiko Iwamoto,Keita Suzuki. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2023-11-14.

Optical measurement device and the method using therof

Номер патента: US20170061648A1. Автор: Yi-Ou WANG,Hao-Ting Hung,Ding-Chia KAO,Kuan-Hsien LIU,You-Hung Tsai,Po Hung Huang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2017-03-02.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240085355A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240243017A1. Автор: Satoru Tomita,Noriyuki Hirata. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Flow rate measuring method, flow rate measuring device, flow rate measuring method, and flow rate measuring device

Номер патента: JP4538163B2. Автор: 栄作 小松,惠一 松島. Владелец: Surpass Industry Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-08.

Temperature measurement circuit, temperature and light intensity measurement circuit, temperature measurement method and temperature and light intensity measurement method

Номер патента: US12123788B2. Автор: Fulin Li,Haixiang Wang,Chuanlin LI. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Light source control device, light source control method, and distance measuring device

Номер патента: US20240272285A1. Автор: Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Measuring device and measuring method for noise-corrected transmitter performance measurement

Номер патента: US10256924B1. Автор: Edwin Menzel. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-04-09.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Method and apparatus for measuring device mismatches

Номер патента: US20080258752A1. Автор: Ying Liu,Sani R. Nassif,Kanak B. Agarwal,Jayakumaran Sivagnaname,Chandler T. McDowell,James F. Plusquellic. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-23.

Measurement method for solar cell module

Номер патента: EP4191867A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Measurement method for photovoltaic module

Номер патента: US20230299716A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US20150221482A1. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

ROTATION NUMBER MEASUREMENT DEVICE, ROTATION NUMBER MEASUREMENT METHOD, AND FLOW RATE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20150292924A1. Автор: Shiraishi Naoyuki. Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2015-10-15.

Optical waveform measurement device and measurement method thereof, complex refractive index measurement device and measurement method thereof, and computer program recording medium containing the program

Номер патента: WO2004113885A1. Автор: Masaru Iida,Shingo Saito,Masaaki Ashida. Владелец: National Institute of Information and Communications Technology. Дата публикации: 2004-12-29.

Optical waveform measuring device and measuring method thereof, complex refractive index measuring device and measuring method thereof, and computer program recording medium recording the program

Номер патента: JPWO2004113885A1. Автор: 勝 飯田,慎吾 齋藤,昌明 芦田,飯田　勝. Владелец: National Institute of Information and Communications Technology. Дата публикации: 2006-08-03.

Method and apparatus for determining the edge strength of plate-shaped elements made of brittle-fracture material

Номер патента: US20170167960A1. Автор: Clemens Ottermann,Kurt Nattermann,Markus Heiss-Chouquet. Владелец: SCHOTT AG. Дата публикации: 2017-06-15.

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Plasma measurement method and plasma processing apparatus

Номер патента: US20240274417A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, and terminal and network-side device

Номер патента: EP4456625A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement system and measurement method for measuring video processing quality

Номер патента: US09723302B2. Автор: Chun Guan TAY,Rajashekar DURAI. Владелец: Rohde & Schwarz Asia Pte Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Fluid drying rate measuring method, energy supply rate measuring method, and drying rate measuring device

Номер патента: JPH07117510B2. Автор: クエンティン カーマイケル リチャード. Владелец: Spirax Sarco Ltd. Дата публикации: 1995-12-18.

Error measurement and compensation methods, and apparatus

Номер патента: EP4383862A1. Автор: REN Da,Zhenyu Zhang,Xiaotao Ren,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, terminal, and network-side device

Номер патента: US20240353523A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Magnetic field measurement method and magnetic field measurement device for measuring and offsetting original magnetic field

Номер патента: US9964604B2. Автор: Kimio Nagasaka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-08.

Dimension measuring device and method

Номер патента: US20190170504A1. Автор: Choong Soo Lim,Hyeong Jun Huh,Sung Joon Kwak. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

FLOW MEASUREMENT METHOD AND A FLOW MEASUREMENT DEVICE FOR OPTICAL FLOW MEASUREMENT

Номер патента: US20200182671A1. Автор: Damaschke Nils,WILKE Bastian,Kleinwächter Andre,Schäper Martin. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

SiC WAFER DEFECT MEASURING METHOD, REFERENCE SAMPLE, AND METHOD OF MANUFACTURING SiC EPITAXIAL WAFER

Номер патента: US20190331603A1. Автор: Koji Kamei. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2019-10-31.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: US20210344056A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: EP3855551A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-07-28.

Error measurement device of linear stage and error measurement method of linear stage

Номер патента: US20210335643A1. Автор: Chien-sheng Liu,Jie-Yu ZENG. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2021-10-28.

Substrate measurement method and substrate measurement control apparatus

Номер патента: US20240219297A1. Автор: Hark Ryong KIM,Dong Seop JUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Measurement method and apparatus for semiconductor features with increased throughput

Номер патента: EP4453654A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Oliver Malki,Alex Buxbaum,Johannes Persch,Alexander Freytag,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-30.

Ear model unit, artificial head, and measurement device and method using said ear model unit and artificial head

Номер патента: US09992594B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

SAMPLE FOR USE IN ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT, ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD, AND ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20180052181A1. Автор: Hayashi Yoshihito,LEE Seungmin,BRUN MARCAURELE,KAWAGUCHI KAORI,MACHIDA KENZO. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2018-02-22.

A flow measurement method and a flow measurement device for optical flow measurement

Номер патента: KR20200069233A. Автор: 바스티안 빌케,닐스 다마쉬케,안드레 클레인바흐테르,마르틴 샤프테르. Владелец: 시카 독토어 시베르트 운트 쿤 게엠베하 운트 체오. 카게. Дата публикации: 2020-06-16.

Method and circuit for operation of capacitance micro electromechanical transducer with analog recovery

Номер патента: RU2431150C2. Автор: Гюнтер ШПАХЛИНГЕР. Владелец: Норсроп Груман Литеф Гмбх. Дата публикации: 2011-10-10.

Measuring system, measuring device, and measuring method

Номер патента: US20230375371A1. Автор: Takayuki Hatanaka,Norihiko Amikura,Kimihiro Yokoyama. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Method and system of measuring semiconductor device and method of fabricating semiconductor device using the same

Номер патента: US9991174B2. Автор: Jihye Lee,Choonshik Leem,Deokyong KIM,Soobok CHIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-06-05.

Measurement method and device of light source parameters, illumination system and terminal apparatus

Номер патента: US12058794B2. Автор: Wei Wang,Jun Wu,Yalong Liu,Zhixian ZHOU. Владелец: Suzhou Op Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

On-machine real-time measurement method and system for full-closed loop five-axis computer numerical control (cnc) machine tool

Номер патента: US20240338004A1. Автор: Hang Gao,Yuwen SUN,Xiaolong Yin,Jinting XU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-10-10.

On-machine real-time measurement method and system for full-closed loop five-axis computer numerical control (CNC) machine tool

Номер патента: US12117793B1. Автор: Hang Gao,Yuwen SUN,Xiaolong Yin,Jinting XU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-10-15.

Measurement device and purge gas flow rate measuring method

Номер патента: US09645000B2. Автор: Masanao Murata,Takashi Yamaji. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

THERMAL IMAGE SMOOTHING METHOD, SURFACE TEMPERATURE-MEASURING METHOD, AND SURFACE TEMPERATURE-MEASURING DEVICE

Номер патента: US20140016855A1. Автор: Seki Kento. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-01-16.

IMAGE MEASUREMENT METHOD, IMAGE MEASUREMENT PROGRAM, IMAGE MEASUREMENT DEVICE, AND OBJECT MANUFACTURE METHOD

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Kubota Junichi,MURAKAMI Motoi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-09.

SURFACE SHAPE MEASURING METHOD, MISALIGNMENT AMOUNT CALCULATING METHOD, AND SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20180149457A1. Автор: MASUTA Hikaru. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-31.

Physical quantity measuring device and physical quantity measuring method provided integrally with flow measuring device

Номер патента: JP5933782B1. Автор: 有吉　雄二,雄二 有吉,正浩 河合,慎一郎 樋▲高▼,考司 谷本,谷本　考司. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-06-15.

Solution density measuring method, sample cell used for the method, and solution density measuring device

Номер патента: CN1262830C. Автор: 河村达朗,龟井明仁,汤川系子. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-05.

Thermal image smoothing method, surface temperature-measuring method, and surface temperature-measuring device

Номер патента: EP2696181A1. Автор: Kento Seki. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2014-02-12.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: EP3460754B1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2023-11-29.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: US20120092671A1. Автор: Hitoshi Igarashi,Kenji Hatada,Jun USHIAMA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-04-19.

Positionining measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240288570A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Location measuring method of mobile device, location measuring device and electronic device

Номер патента: KR20200076628A. Автор: 슈아이 양. Владелец: 베이징 호라이즌 로보틱스 테크놀로지 리서치 앤드 디벨롭먼트 컴퍼니 리미티드. Дата публикации: 2020-06-29.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US12039904B2. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Positioning measurement method and apparatus

Номер патента: US20230370995A1. Автор: Yinghao JIN,Jinping HAO,Yinghao GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Noise measuring device and noise measuring method using the same

Номер патента: US20230054156A1. Автор: Tae-ho Kim,Eunsol SEO,Jun-young Ko,Yujin Sin. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-23.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11762070B2. Автор: Yuki Matsui,Franco Zappa,Federica Villa,Ken NAKAMURO,Rudi LUSSANA. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Physiological signal measurement system, physiological signal measurement method, and mobile device protective case

Номер патента: US20240115151A1. Автор: Chun Liu,Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-11.

Tool length measuring method and tool length measuring device

Номер патента: US20120085893A1. Автор: Satoshi Miyamoto,Takayuki Nishioka. Владелец: Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2012-04-12.

THERMAL RESISTANCE MEASURING METHOD AND THERMAL RESISTANCE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20150003492A1. Автор: MIYANAGI Toshiyuki,HINATA Yuichiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-01.

FLOW RATE MEASURING METHOD AND FLOW RATE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20200011720A1. Автор: Ikeda Nobukazu,Sawada Yohei,Nagase Masaaki,Nishino Kouji. Владелец: FUJIKIN INCORPORATED. Дата публикации: 2020-01-09.

INTERNAL TEMPERATURE MEASUREMENT METHOD AND INTERNAL TEMPERATURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20170016778A1. Автор: Shimizu Masao,Hamaguchi Tsuyoshi,NAKAGAWA Shinya. Владелец: Omron Corporation. Дата публикации: 2017-01-19.

FILM THICKNESS MEASURING METHOD AND FILM THICKNESS MEASURING DEVICE

Номер патента: US20190017807A1. Автор: Kondo Koji,OKADA Naoto,ARAMAKI Hirokatsu,IWAMOTO Katsuya. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-01-17.

BRILLOUIN SCATTERING MEASUREMENT METHOD AND BRILLOUIN SCATTERING MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20200041411A1. Автор: KISHIDA Kinzo,Nishiguchi Kenichi,Koyamada Yahei. Владелец: NEUBREX CO., LTD.. Дата публикации: 2020-02-06.

Optical Distance Measuring Method and Optical Distance Measuring Device

Номер патента: US20190064359A1. Автор: Yang Mengta. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-28.

SURFACE SHAPE MEASURING METHOD AND SURFACE SHAPE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20150106056A1. Автор: Umegaki Yoshiyuki,Harazono Manabu. Владелец: JFE STEEL CORPORATION. Дата публикации: 2015-04-16.

RIGIDITY CHARACTERISTIC MEASUREMENT METHOD AND RIGIDITY CHARACTERISTIC MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20220268678A1. Автор: SAEGUSA Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

MAGNETIC FIELD MEASUREMENT METHOD AND MAGNETIC FIELD MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20160131723A1. Автор: NAGASAKA Kimio. Владелец: . Дата публикации: 2016-05-12.

SURFACE PROPERTY MEASURING METHOD AND SURFACE PROPERTY MEASURING DEVICE

Номер патента: US20200132429A1. Автор: NAKAYAMA Tatsuki. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2020-04-30.

CAPACITIVE MEASURING METHOD, AND FILLING LEVEL MEASURING DEVICE

Номер патента: US20200141789A1. Автор: Kuhnen Raphael,Wernet Armin,Schneider Anna Klara. Владелец: . Дата публикации: 2020-05-07.

CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD AND CIRCULAR DICHROISM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20170191928A1. Автор: SATOZONO Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-06.

FEATURE AMOUNT MEASUREMENT METHOD AND FEATURE AMOUNT MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20210264587A1. Автор: KOBAYASHI Shinji. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-26.

CIRCULAR DICHROISM MEASURING METHOD AND CIRCULAR DICHROISM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20190271639A1. Автор: SATOZONO Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-05.

Three-dimensional measurement method and three-dimensional measurement device

Номер патента: US20180296131A1. Автор: Mikinori Nishimura,Ryosuke Kaji. Владелец: J Morita Manufaturing Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Dew point measuring method and dew point measuring device

Номер патента: US20190310213A1. Автор: Toyohiro Chikyo,Jin Kawakita. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2019-10-10.

FILM THICKNESS MEASUREMENT METHOD AND FILM THICKNESS MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20160349038A1. Автор: Ohtsuka Kenichi,Nakano Tetsuhisa. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

CARRIER LIFESPAN MEASUREMENT METHOD AND CARRIER LIFESPAN MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20200408701A1. Автор: Nakamura Tomonori. Владелец: HAMAMATSU PHOTONICS K.K.. Дата публикации: 2020-12-31.

Panel current measuring method and panel current measuring device

Номер патента: JP4838090B2. Автор: 誠 河野,誠一 水越,高一 小野村. Владелец: GLOBAL OLED TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2011-12-14.

Residual chlorine measuring method and residual chlorine measuring device

Номер патента: JP4734097B2. Автор: 浩一 松本,聡 野村,泰明 栄長,道生 村田,衛 柴田. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2011-07-27.

Residual chlorine measuring method and residual chlorine measuring device

Номер патента: JPWO2018230660A1. Автор: 泰明 栄長,剛志 渡辺,和美 赤井,紳一 長島,伴子 児玉,国元 堀田. Владелец: FUNCTIONAL WATER FOUNDATION. Дата публикации: 2020-03-26.

Fluid flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: JP3861161B2. Автор: 満 池田,巌 酒井,聡 串田,憲美 町田. Владелец: 株式会社エーティーエー. Дата публикации: 2006-12-20.

Leaked fuel measurement method and leaked fuel measurement device for internal combustion engine

Номер патента: WO2014030555A1. Автор: 寿一郎 右近. Владелец: 株式会社堀場製作所. Дата публикации: 2014-02-27.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: JP5199692B2. Автор: 文雄 大竹. Владелец: Surpass Industry Co Ltd. Дата публикации: 2013-05-15.

Paper fiber orientation measuring method and fiber orientation measuring device

Номер патента: JP2720370B2. Автор: 裕司 阿部,和彦 福岡,丈治 稲留,昭夫 畑野. Владелец: Nippon Seishi KK. Дата публикации: 1998-03-04.

Wave aberration measuring method and wave aberration measuring device

Номер патента: CN102667439A. Автор: 田中一政. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2012-09-12.

Contact force measurement method and contact force measurement device

Номер патента: KR20130028922A. Автор: 가즈타카 마츠바라,다카마사 후지사와,미츠루 이케다. Владелец: 자이단호징 테쯔도소고기쥬쓰겡뀨쇼. Дата публикации: 2013-03-20.

Surface shape measurement method and surface shape measurement device

Номер патента: CN102713504A. Автор: 福井厚司,追风宽岁. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2012-10-03.

Surface position measuring method and surface position measuring device

Номер патента: EP1845361A1. Автор: Masaru Tanaka,Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2007-10-17.

Ultrasonic distance measuring method and ultrasonic distance measuring device

Номер патента: CN109633655B. Автор: 梁文浩,梁伟培,陈代市,廖运明,叶志楠. Владелец: Zhaoqing Aodiwei Sensing Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-10-16.

Flow rate measurement method and flow rate measurement device

Номер патента: JP2022027899A. Автор: Kazuyuki Miura,紀彦 網倉,梨沙子 実吉,和幸 三浦,Norihiko Amikura,Risako Miyoshi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2022-02-14.

Acoustic impedance measuring method and acoustic impedance measuring device

Номер патента: JP4066064B2. Автор: 晋一 八木,正 守屋. Владелец: National Institute of Japan Science and Technology Agency. Дата публикации: 2008-03-26.

Surface position measuring method and surface position measuring device

Номер патента: JPWO2006073068A1. Автор: 賢 田中,洋志 徳本,孝治 岡嶋,徳本　洋志. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2008-06-12.

Dew point measurement method and dew point measurement device

Номер патента: JP6898605B2. Автор: 豊裕 知京,仁 川喜多,知京　豊裕. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2021-07-07.

Frictional force measuring method and frictional force measuring device for sliding block on horizontal linear guide rail

Номер патента: CN106441666A. Автор: 陈俊超,叶必卿,袁智敏. Владелец: Zhejiang University of Technology ZJUT. Дата публикации: 2017-02-22.

Calorific value measuring method and calorific value measuring device

Номер патента: JP7217401B2. Автор: 直也 北出,真 伊豫田. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-03.

Minute displacement measuring method and minute displacement measuring device

Номер патента: JPH0799325B2. Автор: 雅則 鈴木,篤暢 宇根,真 猪城. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 1995-10-25.

Impulse response measuring method and impulse response measuring device

Номер патента: EP2455768A1. Автор: Hiroshi Koide,Tomohiko Endo,Koichi Tsuchiya,Shokichiro Hino,Akihiko Shoji,Qiusheng Xie. Владелец: Etani Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-05-23.

Brillouin scattering measurement method and Brillouin scattering measurement device

Номер патента: US11112358B2. Автор: Kinzo Kishida,Kenichi Nishiguchi,Yahei Koyamada. Владелец: Neubrex Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-07.

Residual chlorine measuring method and residual chlorine measuring device

Номер патента: JP6840368B2. Автор: 泰明 栄長,剛志 渡辺,和美 赤井,紳一 長島,伴子 児玉,国元 堀田. Владелец: FUNCTIONAL WATER FOUNDATION. Дата публикации: 2021-03-10.

Film thickness measuring method and film thickness measuring device

Номер патента: CN108981624B. Автор: 刘公才. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-24.

Magnetic property measurement method and magnetic property measurement device

Номер патента: CN103562714A. Автор: 四辻淳一,冈田典久,西泽佑司,原园学. Владелец: NKK Corp. Дата публикации: 2014-02-05.

Thermophysical property measuring method and thermophysical property measuring device

Номер патента: JPWO2015025586A1. Автор: 淳 山本,めぐみ 阿子島,山本　淳,弘之 藤木,晋久 金子,康孝 天谷. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-03-02.

Gas content measuring method and gas content measuring device

Номер патента: JP2001525934A. Автор: ヤックラ，ペッカ,カスリネン，ウルポ,ウィルッカーラ，ラウリ,ニニマキ，ジョウコ. Владелец: ネレス・フィールド・コントロールズ・オイ. Дата публикации: 2001-12-11.

Pitch angle measuring method and pitch angle measuring device

Номер патента: CN107835930B. Автор: 松永浩司,金原和裕. Владелец: NTN Corp. Дата публикации: 2020-03-17.

Object calorie measuring method and object calorie measuring device

Номер патента: JP4104075B2. Автор: 浩之 小野,憲光 花松,克之 三浦,英夫 小田桐,隆裕 沢. Владелец: 株式会社ジョイ・ワールド・パシフィック. Дата публикации: 2008-06-18.

Loaded weight measurement method and loaded weight measurement device for dump truck

Номер патента: US20050167164A1. Автор: Shu Takeda. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2005-08-04.

Blood pressure measurement method and blood pressure measurement device

Номер патента: TWI757737B. Автор: 徐志兵,黃志斌,劉秉昊. Владелец: 大陸商疆域康健創新醫療科技成都有限公司. Дата публикации: 2022-03-11.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: EP2090869B1. Автор: Fumio Ohtake. Владелец: Surpass Industry Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-01.

Gas permeability measurement method and gas permeability measurement device

Номер патента: SG123584A1. Автор: Hideki Okumura,Noriyasu Echigo,Hiroshi Satani. Владелец: Matsushita Electric Ind Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-26.

COUPLING LOAD MEASUREMENT METHOD AND COUPLING LOAD MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: BR112017011456B8. Автор: Marcucci Daniele,Gerbi Filippo,CIONCOLINI Stefano,MARRAZZO Marco. Владелец: Nuovo Pignone Tecnologie Srl. Дата публикации: 2022-07-05.

Loaded weight measurement method and loaded weight measurement device for dump truck

Номер патента: CN1641324A. Автор: 武田周. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2005-07-20.

Molecular weight measurement method and molecular weight measurement device

Номер патента: WO2016143719A1. Автор: 元起 吉川,弘太 柴. Владелец: 国立研究開発法人物質・材料研究機構. Дата публикации: 2016-09-15.

Coupling load measuring method and coupling load measuring device

Номер патента: BR112017011456B1. Автор: Daniele Marcucci,Stefano Cioncolini,Filippo Gerbi,Marco MARRAZZO. Владелец: Nuovo Pignone Srl. Дата публикации: 2022-06-07.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: JPWO2006075406A1. Автор: 厚 小倉,敏也 小林. Владелец: 東京メータ株式会社. Дата публикации: 2008-06-12.

Calorific value measuring method and calorific value measuring device

Номер патента: JPWO2019198504A1. Автор: 直也 北出,真 伊豫田. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-12.

Light intensity measuring method and light intensity measuring device

Номер патента: WO2007013551A1. Автор: Takami Shibazaki,Kaneyasu Okawa,Yuko Saida. Владелец: OLYMPUS CORPORATION. Дата публикации: 2007-02-01.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device

Номер патента: WO2006075406A1. Автор: Atsushi Ogura,Toshiya Kobayashi. Владелец: Tokyo Meter Co., Ltd.. Дата публикации: 2006-07-20.

Surface position measuring method and surface position measuring device

Номер патента: WO2006073068A1. Автор: Masaru Tanaka,Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY CORPORATION HOKKAIDO UNIVERSITY. Дата публикации: 2006-07-13.

Gravitational acceleration measuring method and gravitational acceleration measuring device

Номер патента: CN114241862A. Автор: 张昱,徐志坚,杨晗,刘文烁,陈国攀,符海西. Владелец: Wuhan Institute of Technology. Дата публикации: 2022-03-25.

Film thickness measurement method and film thickness measurement device

Номер патента: TW201530091A. Автор: Kenichi Ohtsuka,Tetsuhisa Nakano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2015-08-01.

A kind of microwave power quantum measurement method and vacuum cavity measuring device

Номер патента: CN110261671A. Автор: 张�杰,邹海洋,宋振飞,张万锋,屈继峰. Владелец: National Institute of Metrology. Дата публикации: 2019-09-20.

Laser distance measurement method and laser distance measurement device

Номер патента: SG11201501295XA. Автор: Yutaka Hisamitsu,Kouichirou Nagata. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Laser distance measurement method and laser distance measurement device

Номер патента: EP2910973A4. Автор: Yutaka Hisamitsu,Kouichirou Nagata. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2016-06-01.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US20080204721A1. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-08-28.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US7595896B2. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2009-09-29.

Thin films measurement method and system

Номер патента: US7327476B2. Автор: Moshe Finarov,Yoel Cohen,Klara Vinokur. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2008-02-05.

Overlay measurement method and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20240219845A1. Автор: Jeongjin Lee,Jinsun KIM,Seunghak Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-04.

Radar measurement method and apparatus

Номер патента: US20220066018A1. Автор: Li Yan,Xiao Han,YAN Long,Jian Yu,Rui Du,Chenchen LIU,Meihong ZHANG,Cailian DENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Film thickness measurement method, film thickness measurement device, and film formation system

Номер патента: US12018928B2. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20210262987A1. Автор: Tong Wu,Satoshi Nomura,Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-26.

Workpiece measurement method in machine tool and machine tool

Номер патента: US20240342806A1. Автор: Hideki Nagasue. Владелец: DMG Mori Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Electric field intensity distribution measurement device and electric field intensity distribution measurement method

Номер патента: US09998240B2. Автор: Hanako Noda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

MEASURING METHOD, MEASURING ARRANGEMENT AND MEASURING DEVICE

Номер патента: US20190277768A1. Автор: MÄNTYLÄ Markku. Владелец: VALMET AUTOMATION OY. Дата публикации: 2019-09-12.

Method and ultrasonic flow-measuring device for determining factor of co2 emissions by flare gas installations

Номер патента: RU2612735C1. Автор: Александер НЕРОВСКИ,Эккехард РИДЕЛЬ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2017-03-13.

Height measuring method, height measuring program, height measuring device

Номер патента: JP5397537B2. Автор: 康夫 鈴木,雅哉 山口. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

A kind of rotary laser contour measuring method, storage device and its measuring device

Номер патента: CN108007353A. Автор: 李大望,邢锋,韩宁旭,王险峰,李陶然,李龙元. Владелец: SHENZHEN UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-05-08.

Measuring method, measuring arrangement and measuring device

Номер патента: US10969343B2. Автор: Markku Mantyla. Владелец: VALMET AUTOMATION OY. Дата публикации: 2021-04-06.

Measuring method, support device and measuring device

Номер патента: WO2006097319A2. Автор: Klaus Michael Lass,Carlos Machado. Владелец: L.M.F. Fahrzeugtechnik Gmbh. Дата публикации: 2006-09-21.

Method and device for minimizing drive test logging measurement

Номер патента: US09973954B2. Автор: LEI Jin,Ying Huang,Hongzhuo Zhang,Dongmei Zhang,Johan Johansson. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Device for measuring the variation of a capacitance and associated measuring method

Номер патента: US09689907B2. Автор: Xavier Hourne. Владелец: Continental Automotive France SAS. Дата публикации: 2017-06-27.

Flatness measuring method for plate material, flatness measuring device for plate material, and method for manufacturing steel plate

Номер патента: JPWO2014185478A1. Автор: 伊勢居　良仁,良仁 伊勢居,朋也 加藤,康宏 相原. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2017-02-23.

Anti-human hemoglobin monoclonal antibody or antibody kit, insoluble carrier particle to which anti-human hemoglobin monoclonal antibody is immobilized, and measurement reagent and measurement method using same

Номер патента: AU2017275081B2. Автор: Yasuhiro Seki,Mitsuru Makinodan,Megumi Yui,Ryota Yasui,Chisa Sakanishi. Владелец: Eiken Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Pattern shape measurement method, pattern shape measurement device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240310167A1. Автор: Kazuki HAGIHARA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Coefficient-Of-Thermal-Expansion Measurement Method Of Dimension Reference Gauge, Measuring Device For Coefficient Of Thermal Expansion And Reference Gauge

Номер патента: US20170089683A1. Автор: HAGINO Takeshi,YOKOYAMA Yuichiro,KURIYAMA Yutaka. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2017-03-30.

SURFACE-PLASMON ENHANCED FLUORESCENCE MEASUREMENT METHOD, SURFACE-PLASMON ENHANCED FLUORESCENCE MEASUREMENT DEVICE, AND ANALYTICAL CHIP

Номер патента: US20170153182A1. Автор: Hirayama Hiroshi,Noda Tetsuya,MATSUO Masataka,OKUMURA Yoshihiro,HAMANO Yoshimasa. Владелец: KONICA MINOLTA, INC.. Дата публикации: 2017-06-01.

Surface-plasmon enhanced fluorescence measurement method, surface-plasmon enhanced fluorescence measurement device, and analytical chip

Номер патента: EP3153845A1. Автор: Tetsuya Noda,Yoshimasa Hamano,Masataka Matsuo,Yoshihiro Okumura,Hiroshi Hirayama. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-04-12.

Continuous measurement method TRO(Total Residual Oxidant) measuring devices

Номер патента: KR101303349B1. Автор: 이광호,박규원,김성태,이해돈,박용석,문현주. Владелец: (주) 테크로스. Дата публикации: 2013-09-03.

Control rod drop time measurement method integrated with rod position measurement device

Номер патента: WO2022116367A1. Автор: 田野,马一鸣,黄远,陶宁,许少华,杨子华,张明晖,徐胜峰,昌正科,祝伟健,晁博,刘信信,郎德嵩,王棋超. Владелец: 核电运行研究(上海)有限公司. Дата публикации: 2022-06-09.

Coefficient-of-thermal-expansion measurement method of dimension reference gauge, measuring device for coefficient of thermal expansion and reference gauge

Номер патента: US10352678B2. Автор: Yutaka Kuriyama,Takeshi Hagino,Yuichiro Yokoyama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-16.

A kind of absolute value measurement method of temperature and measuring device

Номер патента: CN105486425B. Автор: 朱军,吕亮,徐峰,汪辉,俞本立,胡姗姗. Владелец: ANHUI UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-05-01.

Electric field measuring device and electric field measuring method

Номер патента: US11828782B2. Автор: Tomohiko YANO. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-11-28.

Measuring method and semiconductor structure forming method

Номер патента: US11747131B2. Автор: Che-Hui Lee,Pradip Girdhar Chaudhari. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Ear model, artificial head, and measurement device using same, and measurement method

Номер патента: US09800974B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Measurement method, measurement device, and measurement program

Номер патента: US20150106045A1. Автор: Masahiro Morooka,Jusuke Shimura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Method and apparatus for coherence enhancement of sweep velocity locked lasers via all-electronic upconversion

Номер патента: US20190027897A1. Автор: Tao Wei,Zhen Chen,Gerald Hefferman. Владелец: Rhode Island Board of Education. Дата публикации: 2019-01-24.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Snow quality measuring apparatus and snow quality measuring method

Номер патента: US20170176587A1. Автор: Yutaka Aoki,Ryuji Murata,Ryuichi Sunagawa,Jin MIKATA. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20230417600A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: EP4332526A1. Автор: Takayuki Yanagisawa,Satoi KOBAYASHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Colour measurement device and colour measurement method

Номер патента: US09681012B2. Автор: Yasushi Goto,Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-06-13.

Bio-signal measuring device and bio-signal measuring method

Номер патента: US12029524B2. Автор: Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Bang Won Lee. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Measurement device, measurement method, program

Номер патента: US20240276104A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka,Hidehito SATO. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Temperature measurement and temperature calibration methods and temperature measurement system

Номер патента: US12007289B2. Автор: ShihChieh LIN. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

PIVKA-II MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT REAGENT, AND MEASUREMENT KIT

Номер патента: US20200088722A1. Автор: Yamaguchi Kentaro,Aoyagi Katsumi,Terao Azusa. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-19.

MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT APPARATUS, AND MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20200182784A1. Автор: Nagai Fumio,NODA Tefsuya,FUJll Hideyuki. Владелец: . Дата публикации: 2020-06-11.

PIVKA-II MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT REAGENT, AND MEASUREMENT KIT

Номер патента: US20150219638A1. Автор: Yamaguchi Kentaro,Aoyagi Katsumi,Terao Azusa. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-06.

PIVKA-II measurement method, measurement reagent, and measurement kit

Номер патента: US10539559B2. Автор: Kentaro Yamaguchi,Katsumi Aoyagi,Azusa Terao. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-21.

PIVKA-II measurement method, measurement reagent, and measurement kit

Номер патента: CN104520710A. Автор: 青柳克己,山口建太郎,寺尾梓. Владелец: Sanko Junyaku Co Ltd. Дата публикации: 2015-04-15.

Non-contact measurement method, measurement equipment and measurement system thereof

Номер патента: CN105387847A. Автор: 周彬. Владелец: 周彬. Дата публикации: 2016-03-09.

Pivka-ii measurement method, measurement reagent, and measurement kit

Номер патента: WO2014024853A1. Автор: 克己 青柳,建太郎 山口,梓 寺尾. Владелец: エーディア株式会社. Дата публикации: 2014-02-13.

Measurement method, measurement apparatus, and measurement system

Номер патента: EP3505913A4. Автор: Tetsuya Noda,Hideyuki Fujii,Fumio Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2019-07-03.

Standard enlarged drawing measuring method, measurement apparatus and measuring system

Номер патента: CN107144222A. Автор: 陈芳,樊军,黄意. Владелец: AECC South Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-08.

Measuring method, measuring apparatus, and measuring system

Номер патента: US20230087312A1. Автор: Shinya Yasuda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Fluorescent spectrum correcting method and fluorescent spectrum measuring device

Номер патента: US11726031B2. Автор: Koji Futamura,Masaya Kakuta,Yasunobu Kato,Yoshitsugu Sakai. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-08-15.

Laminate substrate measurement method, laminate substrate and measurement apparatus

Номер патента: US20180017484A1. Автор: Kenji Kasahara,Taketsugu Yamamoto,Taiki Yamamoto. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-18.

Measurement Method, Electronic Device, and Measurement System

Номер патента: US20160196415A1. Автор: YAN FEI,LIU Jianfeng,ZHANG Huanguo,Shi Xun. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-07.

MEASUREMENT METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20140354614A1. Автор: NAGASHIMA Kensuke,DEYAMA Atsuyoshi,KAWAKAMI Takafumi,YONEMITSU Junro. Владелец: EIZO Corporation. Дата публикации: 2014-12-04.

Measurement method of microroughness and measurement apparatus using thereof

Номер патента: KR101390073B1. Автор: 정상한,조아진,노한얼. Владелец: 파크시스템스 주식회사. Дата публикации: 2014-04-30.

Measurement method, sensor arrangement and measurement system

Номер патента: US8368393B2. Автор: Gerald Steiner,Thomas Bretterklieber,Hubert Zangl,Markus Brandner. Владелец: austriamicrosystems AG. Дата публикации: 2013-02-05.

Measurement method, computer program, and measurement system

Номер патента: EP2757550A4. Автор: Kensuke Nagashima,Atsuyoshi Deyama,Takafumi Kawakami,Junro Yonemitsu. Владелец: Eizo Corp. Дата публикации: 2015-01-28.

Measuring method, sensor arrangement and measuring system

Номер патента: DE102007036984A1. Автор: Hubert Dr. Zangl,Thomas Bretterklieber,Markus Brandner,Gerald Dr. Steiner. Владелец: austriamicrosystems AG. Дата публикации: 2009-01-08.

Measuring method for turbine and measuring system

Номер патента: KR102328348B1. Автор: 지에 후앙,고지 이시바시,슌스케 미즈미,šœ스케 미즈미,겐지 야시로다이. Владелец: 미츠비시 파워 가부시키가이샤. Дата публикации: 2021-11-18.

Measurement method, computer program, and measurement system

Номер патента: EP2757550C0. Автор: Kensuke Nagashima,Atsuyoshi Deyama,Takafumi Kawakami,Junro Yonemitsu. Владелец: Eizo Corp. Дата публикации: 2023-08-23.

Oscilloscope post processing system, method and measurement device

Номер патента: US20230358788A1. Автор: Wolfgang Herbordt,Christian Heidler,Friedrich Reich,Joel Woodward,Philip Diegmann,Ferdinand MAYET. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-11-09.

Solid scanning optical writing device, and light amount correction method and light amount measuring device therefor

Номер патента: US6509922B2. Автор: Atsushi Fujita. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2003-01-21.

Compensation method and device of measuring device, three-dimensional scanning system and storage medium

Номер патента: CN114088012A. Автор: 郑俊,陈尚俭,王江峰,许邦伟,许齐功. Владелец: Hangzhou Scantech Co. Дата публикации: 2022-02-25.

Scanning distance measuring device signal processing device, signal processing method, and scanning distance measuring device

Номер патента: JPWO2012127671A1. Автор: 和夫 ▲高▼井,強 細田. Владелец: Hokuyo Automatic Co Ltd. Дата публикации: 2014-07-24.

Hollow body manufacturing method, hollow body, flow rate measuring device manufacturing method, and flow rate measuring device

Номер патента: JP5447331B2. Автор: 彰之 須藤,智之 滝口. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2014-03-19.

Flow quantity measurement device setting method and flow quantity measurement device

Номер патента: EP2799819B1. Автор: Aoi Watanabe,Masato Satou,Yasuo Koba,Kouichi Takemura. Владелец: Panasonic Holdings Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

Fluorescent spectrum correcting method and fluorescent spectrum measuring device

Номер патента: US20230349819A1. Автор: Koji Futamura,Masaya Kakuta,Yasunobu Kato,Yoshitsugu Sakai. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Fluorescent spectrum correcting method and fluorescent spectrum measuring device

Номер патента: US20120123722A1. Автор: Koji Futamura,Masaya Kakuta,Yasunobu Kato,Yoshitsugu Sakai. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2012-05-17.

FLUORESCENT SPECTRUM CORRECTING METHOD AND FLUORESCENT SPECTRUM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20210123859A1. Автор: Kato Yasunobu,Sakai Yoshitsugu,Futamura Koji,KAKUTA MASAYA. Владелец: . Дата публикации: 2021-04-29.

Method and Fill Level Measuring Device for Determining the Fill Level of a Medium by means of Continuous Wave Radar Measurement

Номер патента: US20190107428A1. Автор: VOGT Michael,Notzon Gordon,Storch Robert. Владелец: . Дата публикации: 2019-04-11.

Measurement Data Management System, Measurement Data Management Method, And Optical Characteristic Measurement Device

Номер патента: US20190204156A1. Автор: Matsumoto Takuya. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-04.

FLUORESCENT SPECTRUM CORRECTING METHOD AND FLUORESCENT SPECTRUM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20200217784A9. Автор: Kato Yasunobu,Sakai Yoshitsugu,Futamura Koji,KAKUTA MASAYA. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-09.

FLUORESCENT SPECTRUM CORRECTING METHOD AND FLUORESCENT SPECTRUM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20180348120A1. Автор: Kato Yasunobu,Sakai Yoshitsugu,Futamura Koji,KAKUTA MASAYA. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-06.

Methane number calculation method and methane number measurement device

Номер патента: US20170370831A1. Автор: Kenichi Kojima,Tomoo Ishiguro. Владелец: Riken Keiki KK. Дата публикации: 2017-12-28.

FLUORESCENT SPECTRUM CORRECTING METHOD AND FLUORESCENT SPECTRUM MEASURING DEVICE

Номер патента: US20220412881A1. Автор: Kato Yasunobu,Sakai Yoshitsugu,Futamura Koji,KAKUTA MASAYA. Владелец: . Дата публикации: 2022-12-29.

High-voltage arrester defect diagnostic method and voltage distribute measuring device

Номер патента: CN109239540A. Автор: 邓维,刘卫东,张寒,毛文奇,魏绍东,雷红才. Владелец: Hunan Electric Power Co Ltd Maintenance Co. Дата публикации: 2019-01-18.

Swimmer posture adjustment method and swimmer information measurement device using same

Номер патента: EP2556862A1. Автор: Koji Wakayoshi. Владелец: Yamamoto Tomizo. Дата публикации: 2013-02-13.

Methane value calculation method and methane value measuring device

Номер патента: JP6759206B2. Автор: 謙一 小嶋,智生 石黒. Владелец: Riken Keiki KK. Дата публикации: 2020-09-23.

Methane number calculation method and methane number measurement device

Номер патента: KR102405159B1. Автор: 겐이치 고지마,도모오 이시구로. Владелец: 리켄 게이키 가부시키가이샤. Дата публикации: 2022-06-02.

Flow determining method and flow rate-measuring device

Номер патента: CN100543425C. Автор: 小林敏也,小仓厚. Владелец: TOKYO METER CO Ltd. Дата публикации: 2009-09-23.

Superposition accuracy management method and superposition accuracy measuring device used therefor

Номер патента: JP3414086B2. Автор: 篤志 染矢. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2003-06-09.

Glucose concentration determination method and glucose concentration measurement device

Номер патента: JPWO2016035881A1. Автор: 勝彦 丸尾,丸尾　勝彦. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-22.

Methane number calculation method and methane number measurement device

Номер патента: US10132746B2. Автор: Kenichi Kojima,Tomoo Ishiguro. Владелец: Riken Keiki KK. Дата публикации: 2018-11-20.

Measuring method of volumetric flow rate of conducting fluids through vessel

Номер патента: RU2488779C2. Автор: Томас КЕЛЕР,Уве ЛАНГ,Колин ХЕНДЕРСОН,Штефан ХОТЕР,Стив БУКБИНДЕР. Владелец: Брита Гмбх. Дата публикации: 2013-07-27.

Method and system for measuring electromagnetic field and antenna parameters under temperature effects on measurement object

Номер патента: RU2766055C1. Автор: Станислав Константинович Крылов,Максим Сергеевич Милосердов. Владелец: Станислав Константинович Крылов. Дата публикации: 2022-02-07.

Grain granulometry measurement system and method and calibration method for a grain granulometry measurement system

Номер патента: EP4300074A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard,Ramiro Saraiva Da Silva,Mário Alves Da Costa Junior. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20230009318A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2023-01-12.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Measuring Method and Measuring Assembly

Номер патента: US20240337572A1. Автор: Andreas Isenmann,Clemens Hengstler,Florian Burgert. Владелец: VEGA Grieshaber KG. Дата публикации: 2024-10-10.

Separation measurement method and separation measurement device

Номер патента: US09714823B2. Автор: Andreas MÜLLER,Peter POLESKY,Katrin TRITSCH,Rolf-Dieter Woitscheck. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-07-25.

Three-dimensional measuring method and surveying system

Номер патента: US09958268B2. Автор: Fumio Ohtomo,Kazuki Osaragi,Kaoru Kumagai,Hitoshi Otani. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20240219175A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Oil tank measurement method and system based on laser point cloud analysis

Номер патента: NL2028854A. Автор: LI Cunjun,HAO Huadong,CHEN Xianlei,REN Feiming,SHI Haolei,WU Zenan. Владелец: Zhoushan Institute Of Calibration And Testing For Quality And Tech Supervision. Дата публикации: 2021-09-16.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Mode field diameter measuring method and mode field diameter measuring device

Номер патента: US20240183746A1. Автор: Atsushi Nakamura,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method, and flotation device and flotation method using froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method

Номер патента: AU2020284965A1. Автор: Jun Sugihara. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2021-12-16.

Froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method, and flotation device and flotation method using froth moving speed measuring device and froth moving speed measuring method

Номер патента: CA3141290A1. Автор: Jun Sugihara. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2020-12-03.

Power coupling coefficient measuring method and power coupling coefficient measuring device

Номер патента: US20230288287A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tomokazu Oda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: EP4336167A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-03-13.

Method and system for measuring fine bubble dispersion liquid

Номер патента: US20240295483A1. Автор: Takeshi Ohdaira. Владелец: Ohdaira Laboratory Co. Дата публикации: 2024-09-05.

Shape measuring method and device

Номер патента: US09733066B2. Автор: Masahiro Watanabe,Hiroaki Kasai,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Water level measuring method and device

Номер патента: WO2011016715A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F. RUIJTENBERG HOLDING B.V.. Дата публикации: 2011-02-10.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US20170218423A1. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US10619179B2. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

Water level measuring method and device

Номер патента: US20120174666A1. Автор: Rutger Robert Godfried Gast. Владелец: F RUIJTENBERG HOLDING BV. Дата публикации: 2012-07-12.

Distance measuring device, distance measuring method, and speed measuring device

Номер патента: US12025705B2. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Aircraft engine rotor assembly method and device

Номер патента: US09724791B2. Автор: Lei Wang,Bo Zhao,Jiubin Tan,Chuanzhi SUN. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2017-08-08.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US09704237B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US12066374B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Battery power measuring method, measuring device and battery-powered equipment

Номер патента: US09645200B2. Автор: Feng Yu,Xiaodong Huang,Hejinsheng Cao. Владелец: Hangzhou Silergy Semiconductor Technology LTD. Дата публикации: 2017-05-09.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4130652A1. Автор: Yosuke Muraki. Владелец: XTIA Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Thz measurement method and thz measurement device for surveying a measurement object, in particular a pipe

Номер патента: US20230251083A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-08-10.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20240280628A1. Автор: Shigeru Nakajima,Takuma Hara,Tatsuya Ohguro,Katsura Miyashita,Yasuhisa OOMURO. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Ultrasonic measuring device and fluid medium flow rate measuring method

Номер патента: RU2545358C2. Автор: Торальф ДИТЦ,Герри ШРЕТЕР,Андреас ГУРР. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2015-03-27.

Distance measuring device, distance measuring system, distance measuring method, and program

Номер патента: US12013459B2. Автор: Shigeru Saitou,Motonori Ishii,Shinzo Koyama,Masato Takemoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Particle size distribution measurement device, particle size distribution measurement method, and program for particle size distribution measurement device

Номер патента: US20240310264A1. Автор: Tetsuji Yamaguchi. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measuring device and method for measuring multi-grade portable articles for tobacco industry

Номер патента: RU2684388C2. Автор: Роберт СТАНИКОВСКИЙ. Владелец: Интернэшнл Тобакко Машинери Поланд Сп. з о.о.. Дата публикации: 2019-04-08.

Hardness measurement method, and fouling prevention method for hardness-measuring device

Номер патента: US10718746B2. Автор: Junichi Takahashi. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Three-dimensional measuring method and system

Номер патента: US20020118274A1. Автор: Akira Yahashi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-29.

Temperature measurement device, temperature measurement method, and temperature attenuation measurement method

Номер патента: US20230296447A1. Автор: Takashi Nonaka,Takahiro Okabe,Shigenao Maruyama,Toshinori Nakajima,Masaya Higashi,Yasushi Hosokawa,Manabu Orito,Yuya Iseki,Takuma Kogawa,Yutaro Tabata,Tadashi Matsudate. Владелец: Semitec Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Electrical characteristic measurement apparatus, electrical characteristic measurement system, electrical characteristic measurement method, and program for electrical characteristic measurement for causing computer to implement the method

Номер патента: US20180031503A1. Автор: Isao Hidaka. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Thz measurement method and thz measurement device for measuring a measurement object

Номер патента: US20230288189A1. Автор: Marius Thiel,Ralph Klose. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-09-14.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US20190163200A1. Автор: Masahiro Kato. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Pulse measurement device, biological information estimation device, pulse measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240277273A1. Автор: Hiroyuki Endoh,Kazuki Ihara. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Distance measuring device, distance measuring method, and distance measuring sensor

Номер патента: US20240264307A1. Автор: Yutaka Nakada. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20220375066A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Maturity measurement method and maturity measurement device for glass fiber reinforced concretes

Номер патента: EP4386380A1. Автор: Muhammed Marasli,Serkan Subasi,Sefa Guntepe,Mert Cevirmen,Volkan Ozdal. Владелец: Fibrobeton Yapi Elemanlari Sanayi Insaat Ve Ticaret AS. Дата публикации: 2024-06-19.

Threaded shaft measuring device, threaded shaft measuring method, and adjustment jig

Номер патента: US20190049229A1. Автор: Yoshiyuki Omori. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-02-14.

Angle measuring device, angle measuring method, and in-vehicle device

Номер патента: US12032053B2. Автор: Kei Suwa,Satoshi KAGEME,Yu Shimizu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Dimension measurement device, dimension measurement method, and program

Номер патента: EP4403872A1. Автор: Toru Matsunobu,Masaki Fukuda. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US20200103234A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP3637054A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Magnetic field measurement device, magnetic field measurement method, and recording medium having magnetic field measurement program recorded thereon

Номер патента: US12082915B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake,Makoto Kataoka. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Method for measuring the thickness of a layer of material, galvanizing method and related measuring device

Номер патента: US09797709B2. Автор: Jean Inard-Charvin,Geoffrey BRUNO. Владелец: ENOVASENSE. Дата публикации: 2017-10-24.

Total organic carbon measurement method and total organic carbon measurement device

Номер патента: US20230011100A1. Автор: Masahito Yahata,Yoshiaki Nieda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Brake dust measurement device, brake dust measurement method, and brake dust measurement program instructions

Номер патента: US20240035934A1. Автор: Yoshinori Otsuki,Joel Danzer,Dmytro Lugovyy. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: US12044778B2. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Rolling resistance measurement device, rolling resistance measurement method, and program

Номер патента: US20230184631A1. Автор: Makoto Tachibana,Tatsuya Ueda. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Machinery Systems Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-15.

Measurement device, measurement method, and computer-readable medium

Номер патента: US20230017166A1. Автор: Shigeaki Sakurazawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Gas concentration measuring device, gas concentration measuring method, and program

Номер патента: EP4446717A1. Автор: Motohiro Asano. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-16.

Fibre concentration ratio measuring method and related device for implementation thereof

Номер патента: RU2362989C2. Автор: Бенгт ОКЕРБЛОМ. Владелец: Дапрокс Аб. Дата публикации: 2009-07-27.

Quick-acting gas flow temperature measurement device

Номер патента: RU2604573C1. Автор: Владимир Дмитриевич Ковшов,Виль Файзулович Галиакбаров,Эмилия Вильевна Галиакбарова,Артур Игоревич Гулин,Жанна Артуровна Сухинец,Марат Сабирович Каримов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный нефтяной технический университет". Дата публикации: 2016-12-10.

Capacitance measurement method and its application

Номер патента: RU2564516C2. Автор: Йоаким ЛАРССОН,Бо МАТТИАССОН,Мартин ХЕДСТРЕМ,Даг ЭРЛАНДССОН. Владелец: КапСензе ХБ. Дата публикации: 2015-10-10.

Multiphase flowmeter and fluid film measurement method

Номер патента: RU2542587C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Александр ЛЮПО,Себастьен КАДАЛЕН,Бенуа ФУРНЬЕ. Владелец: Прэд Рисерч Энд Дивелопмент Лимитед. Дата публикации: 2015-02-20.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Agricultural grain granulometer, system and method for collecting, moving and measuring grain granulometry

Номер патента: EP4300075A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-01-03.

Distance measuring method, and device for its implementation (versions)

Номер патента: RU2481554C2. Автор: Марат Хаджи-Муратович Абдуев,Аслан Хаджимуратович Абдуев,Имангазали Юнусович Нураев. Владелец: Имангазали Юнусович Нураев. Дата публикации: 2013-05-10.

Measuring device, measuring method, and program

Номер патента: EP4394355A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka,Hidehito SATO. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330B1. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-06-28.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Measuring device, measuring method, and measuring program

Номер патента: EP4446706A1. Автор: Yoshihiro Kumagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Atmosphere optical characteristics measuring method

Номер патента: RU2674560C1. Автор: Андрей Николаевич Павлов,Евгений Сергеевич Зубко,Олег Григорьевич Константинов. Владелец: Олег Григорьевич Константинов. Дата публикации: 2018-12-11.

Method and system of distance measurement based on surface excitation using earthed well and auxiliary earthing device

Номер патента: RU2677732C1. Автор: Сюй-сян У,КАЛАТЕХ АХМАД Акрам АХМАДИ. Владелец: ХЭЛЛИБЕРТОН ЭНЕРДЖИ СЕРВИСИЗ, ИНК.. Дата публикации: 2019-01-21.

Measuring device, measurement station, production line and measuring method for measuring the distance projected in a preferred direction between a measurement plane and a measurement area

Номер патента: US20030061724A1. Автор: Lothar Mueller,Manfred Bodenmueller. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2003-04-03.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using sthm probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US20210373046A1. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Robustness measurement device, robustness measurement method, and storage medium

Номер патента: US20240185585A1. Автор: Tomoya Tsuruyama,Hidetaka Ohira. Владелец: Toshiba Digital Solutions Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Measurement device, measurement method and program

Номер патента: EP3637053A1. Автор: Masahiro Kato,Tomoaki Iwai,Kazufumi FUJIYA. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2020-04-15.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4403876A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Measuring device, measuring method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20240337560A1. Автор: Yoshihiro Kumagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09915636B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Terahertz wave measuring device, measuring method, and measuring rig

Номер патента: US09784610B2. Автор: Hirohisa Uchida. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2017-10-10.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using SThM probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US12038455B2. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Method for determining measured values by means of at least two different measuring methods and use thereof

Номер патента: US11754398B2. Автор: Florian Ries,Frank Schuster,Martin Haueis. Владелец: Mercedes Benz Group AG. Дата публикации: 2023-09-12.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Measurement device, measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240248114A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Method and apparatus for ultrasonic measurement of temperature field inside cable

Номер патента: ZA202401820B. Автор: Rui Liu,Qian Wang,Tao Wang,Jiawei Zhang,Huan LIAN,Sichen Qin,Junwei Zha. Владелец: Xian Univ Of Technology. Дата публикации: 2024-09-25.

System frequency measurement method, synchrophasor measurement method and device thereof

Номер патента: US09658259B2. Автор: Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2017-05-23.

Methods and systems for calibration and use of camera for determination of analyte in sample

Номер патента: RU2754208C1. Автор: Бернд ЛИМБУРГ,Макс БЕРГ,Фредрик ХАЙЛЕР. Владелец: Ф. Хоффманн-Ля Рош Аг. Дата публикации: 2021-08-30.

Device with improved light source and detector for gravimeter and measuring method

Номер патента: RU2473102C2. Автор: Рокко Дифоджио. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2013-01-20.

Measurement device, measurement method, and transitory computer readable medium

Номер патента: US20190313921A1. Автор: Toshihiko Ogura,Hideo Utsuno,Yukiya Sawanoi,Shigeo Ichihashi,Kimihiko KICHIKAWA,Miki Imamura,Shinichi Iwakoshi. Владелец: Nara Medical University PUC. Дата публикации: 2019-10-17.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: US20240271992A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka,Noribumi Shibayama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160077073A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-17.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4403878A1. Автор: Naoya Matsumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Method and device for measuring concentration of substance in fluid

Номер патента: US09970894B2. Автор: Jie Han,Yiping Han,Lijun Shen,Ray Xie. Владелец: Sunvou Medical Electronics Co ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2672464C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-11-14.

Particle size measurement device

Номер патента: RU2554310C2. Автор: Мартин ХАЙНЕ,Стефан МАНЦ. Владелец: Бюлер АГ. Дата публикации: 2015-06-27.

Measurement method, measuring device, and measurement program

Номер патента: US12019009B2. Автор: Yuji Masuda,Konobu KIMURA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Velocity measurement method, system, device and apparatus and storage medium, as well as velocity field measurement method and system

Номер патента: US20240221184A1. Автор: Jinjun Wang,Shaofei Wang,Chong Pan. Владелец: Ningbo Institute Of Technology Beihang University. Дата публикации: 2024-07-04.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Temperature measurement method of honeycomb formed body, and temperature measurement device

Номер патента: US20180257289A1. Автор: Takeshi Tokunaga. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Full-path circuit delay measurement device for field-programmable gate array (FPGA) and measurement method

Номер патента: US11762015B2. Автор: Yajun Ha,Weixiong JIANG. Владелец: ShanghaiTech University. Дата публикации: 2023-09-19.

Strain measurement method and strain measurement apparatus

Номер патента: US11204240B2. Автор: Kuo-Hua Tseng,Yu-Lin Hsu,Hung-Hsien Ko,I-Hung Chiang,Cheng-Ta Pan. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-12-21.

Fluid mechanical property measurement method and measurement device

Номер патента: US9518908B2. Автор: Keiji Sakai,Tomoki Ishiwata. Владелец: Foundation for the Promotion of Industrial Science. Дата публикации: 2016-12-13.

Temperature measurement method, temperature measurement probe, and temperature measurement device

Номер патента: US20220316962A1. Автор: Peiyong Wang,Xingyou LI,Qinghuang HUANG. Владелец: Xiamen Kaiyun Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Distance-measuring device and distance-measuring method

Номер патента: EP3998449A1. Автор: Toshiya Nishiguchi. Владелец: NIPPON SHOKUBAI CO LTD. Дата публикации: 2022-05-18.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Measuring device and method for verifying the cut quality of a sheet using image scanning

Номер патента: US7473920B2. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: ECH Will GmbH and Co. Дата публикации: 2009-01-06.

Distance measurement method and apparatus

Номер патента: EP4411410A1. Автор: YUAN Shen,Xiaoxian Li,Zhenguo DU,Bowen Wang,Xinyou Qiu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Method and apparatus of full-field vibration measurement via microwave sensing

Номер патента: US12117371B2. Автор: Yuyong XIONG,Zhike PENG,Guang MENG. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-10-15.

Method for measuring outflow rate of water molecules across cell membranes, uses of outflow rate of water molecules across cell membranes, and method and system for measuring glioma magnetic resonance imaging markers

Номер патента: EP4455654A1. Автор: Yingchao LIU,Ruiliang Bai,Guangxu Han,Yinhang Jia. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement method and device, for determining degree of engine oil dilution by FAME

Номер патента: US09829476B2. Автор: Kay Kian Hee,Kamaruddin Kudumpor,Beverly Kah Waynee,Siti Norbaria Sally Bt. Pick Thall Tan,Aaron Willinton William. Владелец: Yanmar Malaysia. Дата публикации: 2017-11-28.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09629577B2. Автор: Eriko Yoshioka,Susumu Tatemoto. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Colorimeter measurement method and colorimeter for implementing the method

Номер патента: US20150276584A1. Автор: LI Wang,Rui Xu,Weiwei Zhang,Xiaobo He,Jingming Wu,Honghui Zhu,Xueli Ao. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-01.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7009411B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-03-07.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20040256553A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20030020015A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-30.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: AU2022418482A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: CA3238222A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Gas flow measuring device and gas flow measuring method

Номер патента: US20050092099A1. Автор: Hiroshi Okuda,Akiko Kuse. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-05-05.

Body temperature measurement method and apparatus, robot and storage medium

Номер патента: EP4134210A1. Автор: Zhetao Xu. Владелец: Jingdong Technology Information Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Visible cephalometric measurement method, system and computer processing device

Номер патента: US20190073771A1. Автор: Jing Lei,Minfeng CHEN. Владелец: Fussen Technology Co ltd. Дата публикации: 2019-03-07.

Measuring device, measuring system, measuring method, and program

Номер патента: US20240272036A1. Автор: Yosuke Takeuchi,Yosuke Okamura,Hisatoshi KASAHARA,Junichiro Tamamatsu. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: US20240319060A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2024-09-26.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09797719B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Spectral sensitivity measurement device and spectral sensitivity measurement method

Номер патента: EP4398591A1. Автор: Junichi Miyashita,Soichi Kuwahara,Ryouji TANIGUCHI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Impedance measurement method and impedance measurement device

Номер патента: US8253421B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-08-28.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20060125495A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-15.

Integrated impedance measurement device and impedance measurement method thereof

Номер патента: US12038463B2. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Shunji Maeda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Spectral sensitivity measuring device and spectral sensitivity measuring method

Номер патента: US20240255350A1. Автор: Junichi Miyashita,Soichi Kuwahara,Ryouji TANIGUCHI. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Weight measuring method and system

Номер патента: EP1241455B1. Автор: Pentti Sauli Asikainen. Владелец: Tamtron Oy. Дата публикации: 2005-08-10.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7321232B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-01-22.

Radar speed measurement method, radar, radar speed measurement device

Номер патента: US20240272296A1. Автор: Yanfeng DANG,Erxin ZHAO. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Crankshaft phase measuring device, crankshaft phase measuring method, internal combustion engine control method, crankshaft, and internal combustion engine

Номер патента: EP4411338A1. Автор: Tsutomu Morimoto,Kaname ARAKI,Mariko Matsuda,Takashi Takishita,Tsukasa Shirafuji,Shohei UEMURA,Yuma Obayashi. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Integrated Impedance Measurement Device and Impedance Measurement Method Thereof

Номер патента: US20240345146A1. Автор: Tze-Chiang HUANG,Haohua Zhou,Mei Hsu Wong. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Method and assembly for measuring solid precipitation in drilling fluids

Номер патента: CA3224131A1. Автор: Gursat ALTUN,Muhammed Kemal OZEL. Владелец: Istanbul Teknik Universitesi ITU. Дата публикации: 2023-01-05.

Thermophysical property measurement method and thermophysical property measurement apparatus

Номер патента: US10876983B2. Автор: Hiroyuki Fujiki,Takeshi Shimazaki,Yasutaka AMAGAI. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-12-29.

Measuring method, adjustment method for stage movement characteristics, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US8072579B2. Автор: Yusuke Tokuyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-06.

Measurement device for living tissue, suction device, measurement method for living tissue, and program

Номер патента: US12023125B2. Автор: Hiroyuki Kubota,Hirotaka Naito,Yuta Yoshimura. Владелец: Japan Tobacco Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Measuring system, calibration device and measuring method with uncertainty analysis

Номер патента: US09903932B2. Автор: Martin LEIBFRITZ. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-02-27.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Method and device for contactless determination of molten metal temperature

Номер патента: RU2499983C2. Автор: Маркус АБЕЛЬ,Александр МЮЛЛЕР,Доменико НАРДАККЬОНЕ. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-11-27.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4394354A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

Infrared absorption measurement method, infrared absorption measurement device, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20040200963A1. Автор: Isamu Namose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2004-10-14.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Method and apparatus for measuring synthetic reception pattern of adaptive array antenna

Номер патента: US9658340B2. Автор: Dong Hoon Shin,Inho Hwang,Jinchun Wang,Dae Heon LEE,Woong Hee KIM,Hae Yong Yang,Chun Soo Kim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-05-23.

Neutron measuring method and neutron measuring device

Номер патента: US20240255654A1. Автор: Chun-Kai Huang. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: CA2540801A1. Автор: Olaf Boese,Lorenz Ring. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-14.

Fetal head direction measuring device and method

Номер патента: EP3928711A1. Автор: Kai Wang,Youping WANG,Xiaoxing Lu. Владелец: Guangzhou Lian Med Technology Co ltd. Дата публикации: 2021-12-29.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: US20240353386A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Ship speed measurement method with doppler log

Номер патента: RU2702696C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Виталий Николаевич Тимофеев. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2019-10-09.

Dielectric characteristic measurement method and dielectric characteristic measurement system using open resonator

Номер патента: US20240168071A1. Автор: Atsushi Hattori,Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: Em Labs Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Glucose dehydrogenase having modified electron transfer properties, and glucose measurement method

Номер патента: US20180340211A1. Автор: Seiichi Hara,Yosuke MASAKARI. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Measurement device, measurement method, recording medium, and phonograph record

Номер патента: US20230109304A1. Автор: Tadayoshi Okuda. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-06.

Management method, measuring method, measuring device, crystal oscillator sensor, and set

Номер патента: US20220326184A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-10-13.

Automatic efficiency tracing method and its apparatus

Номер патента: US4761555A. Автор: Hiroaki Ishikawa. Владелец: ISHIKAWA IND CO Ltd. Дата публикации: 1988-08-02.

Gas measurement method for batch fermentation and in-vitro analysis platforms

Номер патента: EP3458816A1. Автор: Jing Liu. Владелец: Bioprocess Control Sweden AB. Дата публикации: 2019-03-27.

Volume measurement method and an apparatus based on a depth camera, and a computer-readable medium

Номер патента: EP4330622A1. Автор: Shenhui Wang,Song Zhang,JIANG Yin,Chao FANG,Zhenyu Dai,Hongqing SONG,Conghan CAO,Fenping QIAN,Huanbing CHENG. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Ultrasonic time measurement device, and ultrasonic time measurement method

Номер патента: US20240264195A1. Автор: Hideo Kanai,Yasuyuki Masunaga,Akira Morita,Kazuhiro Koizumi,Masami Kishiro,Hojun YAMAUCHI,Shiori YAMASHITA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Probe for three-dimensional coordinate measuring device, three-dimensional coordinate measuring device, three-dimensional coordinate measuring system, and three-dimensional coordinate measuring method

Номер патента: US12061076B2. Автор: Yuji Miyaki,Shuji Shimonaka. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Pretreatment method for nitrogen and oxygen isotope measurement with chemical conversion method and measurement method

Номер патента: AU2020312536A1. Автор: FANG Yang,Ning An,Wenjuan Ma,Runyu Zhang,Jianyang Guo,Fengchang Wu,Weiying FENG,Haiqing Liao,Rui CEN. Владелец: CHINESE RESEARCH ACADEMY OF ENVIRONMENTAL SCIENCES. Дата публикации: 2022-03-10.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

Device for measuring the angular positions of a rotorcraft blade element relative to a rotor hub, an associated rotor, and a corresponding measurement method

Номер патента: US09784572B2. Автор: Julien HOCQUETTE. Владелец: Airbus Helicopters SAS. Дата публикации: 2017-10-10.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09719781B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Method and device for pipe internal dimensions optical measurement

Номер патента: RU2606901C2. Автор: Манфред КОЛЬБЕ,Йохен ФОХЗЕН,Александер Шульце,Манфред ТОПЮТ,Михаэль КРАУХАУЗЕН,Хайнрих ОБЕРВЕЛЛАНД,Рюдигер НОЙГЕБАУЭР,Норберт ПЕШ. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2017-01-10.

High-precision Measuring Device for Pre-breakdown Current of Vacuum Chamber and Measuring Method

Номер патента: NL2026660B1. Автор: Yang Wei,WU Fangfang,Li Shimin,Du Zhaoqi,Zhang Chaohai. Владелец: Zhejiang Huadian Equipment Testing Inst Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-01.

Measurement method

Номер патента: EP4111131A1. Автор: John Charles Ould,Rose Crossland. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2023-01-04.

Luminescence measurement method and luminescence measurement system

Номер патента: US20100209949A1. Автор: Hirobumi Suzuki,Ryutaro Akiyoshi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Model afm probe for oxidized mineral collector, preparation method and application thereof

Номер патента: AU2020100499A4. Автор: Jian Cao,Wei Sun,Zhiyong Gao,Haisheng HAN,Yuehua Hu,Mengjie TIAN. Владелец: CENTRAL SOUTH UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-05-14.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240230684A9. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring method and measuring station to determine the volume of liquid product contained in a disposable cartridge for smoking articles

Номер патента: EP3746751A1. Автор: Luca Federici,Gianpietro LAMBORGHINI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2020-12-09.

Anti-8-hydroxy-2'-deoxyguanosine antibody or antibody fragment thereof, production method, kit, measuring method, and device for measurement

Номер патента: US20220372119A1. Автор: Toshiaki Maruyama,Takeshi Sakamoto,Shigeru CJ OKUMURA,Hiroko Yanagisawa. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Optical displacement measuring instrument, adjustment method and measuring method of optical displacement measuring instrument

Номер патента: US20180259319A1. Автор: Kentaro Tamura,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-09-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220011167A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2022-01-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20190360867A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2019-11-28.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230258504A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11733103B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-22.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11169031B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2021-11-09.

Measuring apparatus for a liquid handling apparatus for measuring pipetting container, article for said measuring apparatus and corresponding measuring method

Номер патента: US12044691B2. Автор: Burkhardt Reichmuth,Markus Lapczyna,Uwe Dunker,Maik Radke. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2024-07-23.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20210207943A1. Автор: Hikaru Fujiwara,Ken HATSUDA,Shota TEZUKA,Miyu UEDA,Takuya Yasunaga. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-08.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP3859268A1. Автор: Hikaru Fujiwara,Ken HATSUDA,Shota TEZUKA,Miyu UEDA,Takuya Yasunaga. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

Measurement device, method of adjusting measurement device, and measurement method

Номер патента: US20240230382A9. Автор: Yosuke Tanaka,Daiki Saito. Владелец: Tokyo University of Agriculture and Technology NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Blood sugar level measuring device and blood sugar level measuring method

Номер патента: US20150216482A1. Автор: Hideto Ishiguro,Hirokazu Kasahara,Kimitake Mizobe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Overlay correction method and semiconductor device manufacturing method comprising the overlay correction method

Номер патента: US20240310720A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-19.

Particle size distribution measuring device, particle size distribution measuring method, program for particle size distribution measuring device, and kit for particle size distribution measuring device

Номер патента: EP4459259A1. Автор: Yasuhiro Tatewaki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09880103B2. Автор: Karsten Hiltawsky,Hans-Ullrich Hansmann,Arne TRÖLLSCH,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-01-30.

Multi-angle spectral imaging measurement method and apparatus

Номер патента: US09823130B2. Автор: Masayuki Osumi. Владелец: Office Color Science Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Method and system for measuring lens distortion

Номер патента: US09810602B2. Автор: Jianjun Xu,Xingyi Chen,Xiliang Niu. Владелец: Qingdao Goertek Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Three-dimensional space measurement device and method for operating same

Номер патента: US09798005B2. Автор: Jeonguk LEE,Sungjin CHO,Hyunseok Shin,Hyerim KIM,Jejong LEE,Gyeongeon Lee,Sunghoon Cha,Soowhan JEOUNG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-10-24.

Method and device for measuring a vacuum pressure using a measuring cell arrangement

Номер патента: US09791339B2. Автор: Martin Wuest,Felix Mullis. Владелец: INFICON AG. Дата публикации: 2017-10-17.

Planar motor rotor displacement measuring device and its measuring method

Номер патента: US09766054B2. Автор: Ming Zhang,Zhao Liu,Yu Zhu,Dengfeng Xu,Kaiming Yang,Wensheng Yin,Jinchun Hu,Haihua Mu,Chuxiong Hu,Longmin Chen. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Measuring device and measuring method for registering an ambient temperature of a medical machine, and device and method for medical insufflation

Номер патента: US09752939B2. Автор: Manfred Schmidt,Otmar Stillhard,Walter Hauser. Владелец: Storz Endoskop Produktions GmbH Germany. Дата публикации: 2017-09-05.

Method and apparatus for in-line control of dimensions of industrial products

Номер патента: RU2768110C2. Автор: Лоран КОСНО,Оливье КОЛЛЬ. Владелец: Тиама. Дата публикации: 2022-03-23.

Hole diameter measurement method

Номер патента: RU2741755C1. Автор: Сергей Борисович Михайлов,Юрий Николаевич Доброхотов,Валерий Герасимович Лебедев,Борис Васильевич Михайлов,Михаил Васильевич Петров,Екатерина Григорьевна Гоник. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова". Дата публикации: 2021-01-28.

Tunnel excavator, measurement method, and measurement system

Номер патента: EP3951135A1. Автор: Shinichi Terada,Rui Fukui,Eiichi MORIOKA,Yudai YAMADA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-02-09.

Tunnel boring machine, measurement method, and measurement system

Номер патента: US20220220849A1. Автор: Shinichi Terada,Rui Fukui,Eiichi MORIOKA,Yudai YAMADA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-07-14.

Tunnel boring machine, measurement method, and measurement system

Номер патента: AU2020282990A1. Автор: Shinichi Terada,Rui Fukui,Eiichi MORIOKA,Yudai YAMADA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2021-11-25.

Particle measuring method, sample processing method, and particle imaging apparatus

Номер патента: US20190178782A1. Автор: Yusuke Konishi,Takanori Maekawa. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Distance measurement device, distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: US20180100917A1. Автор: Jun Kawai,Takeshi Morikawa,Koichi Tezuka,Koichi Iida. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-04-12.

Measuring method and system for structured light 3d scanning

Номер патента: LU503375B1. Автор: QIN Qin,Long CAO,Wenchen Li,Zimei Tu. Владелец: Univ Shanghai Polytech. Дата публикации: 2023-07-19.

Tunnel boring machine, measurement method, and measurement system

Номер патента: US12037906B2. Автор: Shinichi Terada,Rui Fukui,Eiichi MORIOKA,Yudai YAMADA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2024-07-16.

Radar measurement method and device

Номер патента: EP3919936A1. Автор: Lei Wan,Yong Wu,Sha Ma,Mingxia Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Air bubble measurement device and air bubble measurement method

Номер патента: CA3093896C. Автор: Shintaro Ishikawa. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2023-08-22.

Optical property measurement method and optical property calculation apparatus

Номер патента: US12025556B2. Автор: Tomoko Sato. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Method and Apparatus For Measuring Dimension Of Circuit Pattern Formed On Substrate By Using Scanning Electron Microscope

Номер патента: US20110127429A1. Автор: Atsushi Miyamoto,Tomofumi Nishiura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-02.

Measuring device of internal dimensions of wheel rims for mounting disk brake callipers, kit for measuring and relative measuring method

Номер патента: WO2009040835A1. Автор: Alessandro Zanini,Andrea Matti. Владелец: FRENI BREMBO, S.p.A.. Дата публикации: 2009-04-02.

Measurement method and system based on image electroencephalogram sensitivity data for built environment dominant color

Номер патента: US20240335156A1. Автор: Zheng Zhou,Ying Gao,Xiao Han,Zhe Li,Jie Li,Liya Wang,Futian YUAN,Tongyi ZHU,Ruoxuan HUANG,Yinyin CAO,Hengyi ZHAO. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-10-10.

THz measuring device and method for measuring a measuring object

Номер патента: US12105021B2. Автор: Ralph Klose,Arno Neumeister. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2024-10-01.

Method and system for measuring lesion features of hypertensive retinopathy

Номер патента: EP4420598A1. Автор: Bin Xia,Juan Wang,Xiaoming Duan,Jianghuai Xiang,Suping Chen. Владелец: Shenzhen Sibionics Intelligent Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Set cement mechanical properties parameter measurement method and apparatus based on image recognition technology

Номер патента: US20240288348A1. Автор: Zhao HUANG,Jianzhou Jin,Yongjin YU,Fengzhong Qi,Hongfei Ji,Xiujian Xia,Jiyun Shen,Huiting LIU,Congfeng Qu,Xueli Guo,Zhengyang Zhao,Yongqin CHENG,Pengyang JIA. Владелец: CNPC Engineering Technology R&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Method and apparatus for determining the content of a foreign gas in a process liquid

Номер патента: US12123837B2. Автор: Josef Bloder. Владелец: ANTON PAAR GMBH. Дата публикации: 2024-10-22.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B1. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-01-25.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292A. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2023-06-29.

Measuring system and measuring method for measuring an effective rainfall coefficient on farmland

Номер патента: NL2031292B9. Автор: Chen Zhen,Liu Xiaofei,LIU Zugui,ZHANG Jiyang,Duan Aiwang,Wang Jinglei. Владелец: Farmland Irrigation Res Inst Caas. Дата публикации: 2024-02-23.

Stress history measurement method and stress sensor

Номер патента: US09835611B2. Автор: Hide Sakaguchi,Arito Sakaguchi. Владелец: Japan Agency for Marine Earth Science and Technology. Дата публикации: 2017-12-05.

Biological information measurement device, and biological information measurement method using same

Номер патента: US09804115B2. Автор: Teppei Shinno,Shouko Hironaka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Method and system of measuring surface temperature

Номер патента: US09689746B2. Автор: Yoshiro Yamada,Juntaro Ishii. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2017-06-27.

Ophthalmological measuring device and measurement method

Номер патента: US20110304822A1. Автор: Christian Rathjen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-12-15.

Antibody measurement method using antigen-carrying insoluble carrier particles on which antigen is immobilized by different methods, and reagent for antibody measurement

Номер патента: AU2017321642B2. Автор: Yusuke Murakami,Yusuke Ueno,Tatsunori Kikuchi. Владелец: Eiken Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Shape Measuring System and Shape Measuring Method

Номер патента: US20220178680A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Akio Yazaki,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-06-09.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20240231244A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Manabu Takakuwa,Kentaro Kasa,Hiroaki Shirakawa,Kiminori Yoshino,Kaori FUMITA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Non-invasive temperature measurement method and apparatus

Номер патента: EP1171758A4. Автор: Yoram Palti. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-05-02.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: AU2019399430A1. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Wire voltage measurement method and apparatus based on electric field sensor

Номер патента: US11774484B1. Автор: Xu Yin,Peng Li,Zhiming Wang,Bing Tian,Qiancheng Lv,Renze CHEN,Zejie Tan,Zhenheng Xu,Licheng Li,Shaoxiong Nie. Владелец: Digital Grid Research Inst China South Pwr Grid. Дата публикации: 2023-10-03.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Target measurement apparatus and target measurement method

Номер патента: EP3875988A1. Автор: Masanori Ito. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Measuring device, measuring system, and measuring method

Номер патента: EP4417983A1. Автор: Hideyuki Nagai. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Sheet-like material unevenness measuring device, and sheet-like material unevenness measuring method

Номер патента: EP4411317A1. Автор: Shohei Hayashi,Hiroki Sugihara,Kyoya TAKEMOTO,Shota Oishi. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2024-08-07.

Ultrasound viscoelasticity measurement method and apparatus and storage medium

Номер патента: US20230131340A1. Автор: Shuangshuang LI,Jinyang Li. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Six-degrees-of-freedom displacement measurement method and apparatus

Номер патента: EP4411316A1. Автор: Lili Shi,Mingli Dong,Sijin WU,Weixian Li. Владелец: Beijing Information Science and Technology University. Дата публикации: 2024-08-07.

Trusted measurement method and apparatus, computer device, and readable medium

Номер патента: EP4418115A1. Автор: Liang Wang,Jianjun Liu,Min Zhang,Jia Zhou,Hu TAN,Zhihong XUE,Qu CAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Electromagnetic measuring device for measuring one or more extensive properties of a product and measuring method thereof

Номер патента: EP4435388A1. Автор: Marco FRASSON,Eura Trivisonno,Marco Dionigi. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2024-09-25.

Ultrasonic measurement method and ultrasonic measurement apparatus

Номер патента: US09683838B2. Автор: Takafumi Ozeki,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Temperature measurement method for ultraviolet light transmittance member, temperature measurement device for ultraviolet light transmittance member, and light source device

Номер патента: US09671290B2. Автор: Masafumi Mizuguchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Color measurement device and color measurement method

Номер патента: US09671289B2. Автор: Yoshiroh Nagai. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2017-06-06.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Profile gauge, measuring device equipped with the profile gauge, and measurement method

Номер патента: US09575483B2. Автор: Edgar WEPPELMANN,Juergen Kreschel. Владелец: Gleason Pfauter Maschinenfabrik GmbH. Дата публикации: 2017-02-21.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2659710C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-07-03.

Method of synchrophasor measurement for phasor measuring device (pmu) p-class

Номер патента: RU2615216C2. Автор: Хао Лю,Тяншу БИ. Владелец: Норс Чайна Электрик Пауэр Юниверсити. Дата публикации: 2017-04-04.

Flow rate measurement device and flow rate measurement method

Номер патента: US20200025604A1. Автор: Takeshi Okamoto,Koji Kawakami,Shigeki Uebayashi. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2020-01-23.

Concentration measurement method and concentration measurement apparatus

Номер патента: US20120242979A1. Автор: Koichi Shimizu,Kazuhiko Amano,Kazuhiro Nishida. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2012-09-27.

Wind field information measurement method and nacelle-based lidar

Номер патента: AU2022263477A1. Автор: Jun Zhou,Hailong Zhu,Zengli XIAO,Anqing TANG. Владелец: Nanjing Movelaser Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Multi-physical field measurement device for metal solidification process and housing thereof, and measurement method

Номер патента: US20230314349A1. Автор: Hui Xing,YANG Tang,Ya Zhang,Yue Wu,Qing Dong,Jiao Zhang,Baode Sun,Yanfeng HAN,Yongbing DAI,Chaopeng FU. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2023-10-05.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US20170138853A1. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US10935661B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Measurement method, shaping device, simulator, measurement device, and storage medium

Номер патента: US20240262021A1. Автор: Yoshihiro Shiode. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Pressure measurement method, control method, pressure measurement device, and analyzer

Номер патента: US20240167900A1. Автор: Atsushi Nakamura,Naohide Miyamoto,Eikichi SHIBATA,Kiyomi Seii. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Measuring device and method for dynamic characteristics of pressure sensitive paint

Номер патента: US20240118159A1. Автор: Lei Wang,Ning Ge,Bo Ouyang,Limin Gao,Xiangfu Lei. Владелец: Northwestern Polytechnical University. Дата публикации: 2024-04-11.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP4431953A1. Автор: Tomohiro Yokoyama,Kazuaki Haneda. Владелец: Hioki EE Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Volume measurement method and an apparatus based on a depth camera, and a computer-readable medium

Номер патента: US20240362812A1. Автор: Shenhui Wang,Song Zhang,JIANG Yin,Chao FANG,Zhenyu Dai,Hongqing SONG,Conghan CAO,Fenping QIAN,Huanbing CHENG. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US09977129B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Measurement target measuring program, measurement target measuring method, and magnifying observation device

Номер патента: US09970745B2. Автор: Shinya Takahashi,Kazuki Natori. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Ultraviolet index measuring method and apparatus

Номер патента: US09952093B2. Автор: Dong-Hoon Lee,Seongchong Park,Dong-Joo Shin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-04-24.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US09857304B2. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US09664604B2. Автор: Yasushi Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Physiological signal measuring method and system thereof

Номер патента: US20240164649A1. Автор: Chuan-Yu Chang,Yen-Qun GAO. Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2024-05-23.

Process Quantity Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20080105061A1. Автор: Junichi Okada,Shuichi Umezawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-05-08.

Optical Rotating Power Measurement Method And Optical Rotating Power Measurement Apparatus

Номер патента: US20080204751A1. Автор: Atsushi Yamada,Yuji Fujisawa,Tomoyuki Fukazawa,Hisashi Masago,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Granular-substance component measuring method and granular-substance component measuring instrument

Номер патента: EP4246128A1. Автор: Yasuhito Haijima,Shun YAMAUCHI. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Photoacoustic physical property measuring device and measuring method

Номер патента: EP4368986A1. Автор: Hideaki Doi,Makoto Katagishi,Goichi Ono,Nobuhiro Shiramizu,Naohiro Kohmu. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-15.

Grayscale measurement method and apparatus

Номер патента: GB2614973A. Автор: ZHANG Yue,Yang Cheng,CONG Hongchun. Владелец: Xian Novastar Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Temperature measurement device and temperature measurement method

Номер патента: US20140036956A1. Автор: Kenji Goto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Measuring method and system for measuring particle size and shape of powdery or grain like particles

Номер патента: US20090091755A1. Автор: Niklas Sandler,Jouko Yliruusi,Osmo Antikainen. Владелец: Intelligent Pharmaceutics Ltd Oy. Дата публикации: 2009-04-09.

Neutron dose measurement method and apparatus

Номер патента: US20240252842A1. Автор: Chao Wang,Yuan-hao LIU. Владелец: Neuboron Therapy System Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Time-of-flight ranging method and related system

Номер патента: EP3958018A1. Автор: Chung-Te Li,Meng-Ta Yang,Hao-Jen Wang. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-23.

Measuring method and system for measuring particle size and shape of powdery or grain like particles

Номер патента: WO2006117429A1. Автор: Niklas Sandler,Jouko Yliruusi,Osmo Antikainen. Владелец: Intelligent Pharmaceutics Ltd Oy. Дата публикации: 2006-11-09.

User feature value measurement method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240298973A1. Автор: Xun Zhang,Xiaoran SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Current measurement device and current measurement method

Номер патента: US20240329094A1. Автор: Yusuke Shindo. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Temperature measurement method and apparatus based on passive rfid tag

Номер патента: US20240295446A1. Автор: Xu Zhang,Jia Liu,Xingyu Chen,Lijun Chen,Fuxing Wang. Владелец: Jiangsu Tooker Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Reticle transmittance measurement method, and projection exposure method using the same

Номер патента: US09733567B2. Автор: Michihiro Murata,Yutaka Gomi. Владелец: Ablic Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Distance measuring method and equipment using optical signal

Номер патента: US09709669B2. Автор: Tae Min Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-18.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: EP2890998A1. Автор: Yuri Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2015-07-08.

Dielectric spectroscopy measuring device and dielectric spectroscopy measuring method

Номер патента: US20240102943A1. Автор: Takuro Tajima,Masahito Nakamura,Michiko Seyama. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: EP4130738A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Method and apparatus for measuring the temperature of a semiconductor substrate by means of a resonant circuit

Номер патента: WO2001065224A1. Автор: Chishio Koshimizu. Владелец: TOKYO ELECTRON LIMITED. Дата публикации: 2001-09-07.

Particle measuring method and particle measuring apparatus

Номер патента: US20080239283A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

OCT measuring device and oct measuring method

Номер патента: US11408722B2. Автор: Jun Yokoyama,Yohei Takechi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-09.

Thermal diffusion coefficient measuring device, and deep-body thermometer, deep-body temperature measuring device, and deep-body temperature measuring method using same

Номер патента: US11744469B2. Автор: Masahiko Ishida,Eiji Saitoh,Koichi Terashima,Akihiro Kirihara,Ryohto SAWADA,Ryo Iguchi,Yasuyuki Oikawa,Yuki SHIOMI. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2023-09-05.

Measurement method and apparatus for electrode sheet

Номер патента: EP4411354A1. Автор: Jingdong Zhang,Qian Wu,Weigang Chen,Liangjie YAN,Qiangjun WANG,Bingyang ZHAN,Zhihui ZHEN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Track displacement measurement device, track displacement measurement system, and track displacement measurement method

Номер патента: US11745774B2. Автор: Ryoji Negi,Masayuki Mitsue,Teruhisa Nakaoka,Shingo Kuwashiro. Владелец: Kawasaki Railcar Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Distance Measurement Methods and Apparatus

Номер патента: US20140063482A1. Автор: Yuri P. Gusev. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2014-03-06.

F-p sensor probe, absolute distance measurement device, and absolute distance measurement method

Номер патента: US20240264285A1. Автор: Xiangang Luo,Yanqin WANG,Chengwei ZHAO,Changtao WANG,Tiancheng GONG,Guiyuan JIA,Yanwu CHU. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2024-08-08.

Turbidity measurement method and turbidimeter

Номер патента: US20200278292A1. Автор: Hikaru Shimizu,Megumi GOTO,Takeshi KUWAGATA,Saori Handa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-09-03.

Method and device for measuring the following of a path under load

Номер патента: US20180038748A1. Автор: Sébastien GARNIER,Benoit Furet. Владелец: UNIVERSITE DE NANTES. Дата публикации: 2018-02-08.

Measurement method and device, in particular for the high-frequency measurement of electric components

Номер патента: US20030173948A1. Автор: Georg Sillner. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-09-18.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US20170023517A1. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

Fluid flow measuring device, valve device and measuring method

Номер патента: US20110314930A1. Автор: Hartmut Sauter,Hartmut Sohla,Moritz Kramer,Holger Christian Schönekess. Владелец: MAHLE International GmbH. Дата публикации: 2011-12-29.

Spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: US20240268719A1. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2024-08-15.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20240268681A1. Автор: Tokurin Shou. Владелец: Japan Precision Instruments Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Measurement method and system based on interferometric synthetic aperture radar

Номер патента: WO2024175129A1. Автор: FENG Yang,WEI Liu,Weijia REN,Chaomin Chen,Shancong Zhang,Xiaoru SANG. Владелец: Beijing Palebluers Co., Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Spectral measurement device and spectral measurement method

Номер патента: US12102430B2. Автор: Ichiro Ishimaru. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2024-10-01.

Trajectory measuring device, numerical control device, and trajectory measuring method

Номер патента: US09921568B2. Автор: Masahiro Ozawa,Kotaro Nagaoka,Tomoya Fujita. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Optical phase measurement method and system

Номер патента: US09897553B2. Автор: Gilad Barak,Dror Shafir,Shahar Gov,Yanir HAINICK. Владелец: Nova Measuring Instruments Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240230899A9. Автор: Tomonari Yoshida. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and device for measuring sulfur compound and/or ammonia based on a sensory unit coated with at least one novel peptide

Номер патента: US7267989B2. Автор: Yuh-Jiuan Lin,Wen-Hsun Kuo,Pei-Shin Jiang,Pei-Ching Shih. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2007-09-11.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US11823405B1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-21.

Light Measurement Apparatus for Reaction Vessel and Light Measurement Method

Номер патента: US20150218618A1. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2015-08-06.

Method and device of measuring wavefront aberration, method of manufacturing optical system, and recording medium

Номер патента: US9170171B2. Автор: Yasuyuki Unno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-27.

Elevator shaft dimensions measurement device and elevator shaft dimensions measurement method

Номер патента: US20180155155A1. Автор: Yuichi Taguchi,Hiroyuki Tsutada,Jay Thornton,Ryosuke Kawanishi,Keisuke SAMBONGI,yu Enomoto. Владелец: Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc. Дата публикации: 2018-06-07.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP3904826A1. Автор: Kenichi TAYU. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-11-03.

Stitching-measurement device and stitching-measurement method

Номер патента: US20210278201A1. Автор: Xin JIA,Fuchao Xu,Tingwen Xing,Dachun GAN. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2021-09-09.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11719791B2. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US20150153301A1. Автор: Eriko Yoshioka. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-04.

Planar elongational viscosity measuring method and planar elongational viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20100228504A1. Автор: Tsutomu Takahashi,Toshihiro Kawano,Masataka Shirakashi. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2010-09-09.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Micro Focal-Length Collimation Based Micro-Cavity Measuring Method And Detecting Equipment Thereof

Номер патента: US20120019839A1. Автор: Fei Wang,Jiubin Tan,Jiwen Cui. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2012-01-26.

Ultrasonic dual-wave high-reliability measurement method and apparatus for bolt stress

Номер патента: EP4439029A1. Автор: YANG Zhao,LONG Yang,Kun Li,Yisheng Jin,Mingming XIE,Xinzong ZHOU,Xuxiang Zhu,Yuping Shen. Владелец: SUZHOU PHASERISE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Strain distribution measurement system and strain distribution measurement method that measure strain distribution based on distribution of reflectance or polarization characteristic

Номер патента: US12055382B2. Автор: Norio Hirayama,Yukimitsu Iwanaga,Tomotaka Nagashima. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Method and system for measuring non-verbal behavior of teacher

Номер патента: ZA202311033B. Автор: Wei Zhang,Shengming Wang,Zhicheng DAI,Zengzhao CHEN,Xiuling HE,Baolin YI. Владелец: Univ Central China Normal. Дата публикации: 2024-07-31.

Measurement method, measurement device, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20190226941A1. Автор: Fumihiko Ito,Nobuo Kuwaki,Ryo Maruyama. Владелец: Shimane University NUC. Дата публикации: 2019-07-25.

Pressure measuring device and pressure measuring method

Номер патента: US09970838B2. Автор: Tomohide Minami. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Torsional vibration resonance frequency measurement method for estimating stability of dental implant and novel amplitude transformer

Номер патента: US09949644B2. Автор: Dehua Li,Bing Li,Yulong Tang. Владелец: Fourth Military Medical University FMMU. Дата публикации: 2018-04-24.

Method for measuring temperature of biological sample, measuring device, and biosensor system

Номер патента: US09874537B2. Автор: Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Method for measuring temperature of biological sample, measuring device, and biosensor system

Номер патента: US09664639B2. Автор: Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring device and measurement method

Номер патента: US09618336B2. Автор: Kouichirou Kasama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-04-11.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20200088853A1. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Molecular concentration measurement device and molecular concentration measurement method

Номер патента: US20140031649A1. Автор: Isamu Nakao. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2014-01-30.

Thickness measurement device and thickness measurement method

Номер патента: US20230273017A1. Автор: Masahiro Hato,Seiichi OHMORI,Tomohiko Shiota. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US20180127795A1. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2018-05-10.

Fetal head direction measuring device and method

Номер патента: US12059290B2. Автор: Kai Wang,Youping WANG,Xiaoxing Lu. Владелец: Guangzhou Lian Med Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Distance measuring device, imaging device, and distance measuring method

Номер патента: US20240295646A1. Автор: Yuichi Sueyoshi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230401730A1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-12-14.

Brain function measurement device and brain function measurement method

Номер патента: US20190380634A1. Автор: Toru Yamada. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2019-12-19.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11747427B2. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20240302150A1. Автор: Hirokazu Kobayashi,Shunsuke Tanaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Volume measurement device, volume measurement system, and volume measurement method

Номер патента: US20240302196A1. Автор: Toshiki Saito,Tsuyoshi Kumagai,Yosuke Kakuno,Ryuuta ABE,Takuno NAKAJIMA,Kyoko MAGOME. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Distance measuring device, imaging device, and distance measuring method

Номер патента: EP4450922A1. Автор: Yuichi Sueyoshi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: US12099121B2. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Specimen measurement system and specimen measurement method

Номер патента: EP4455678A2. Автор: Takaaki Nagai,Tomohiro Tsuji,Hideki Hirayama,Hiroo Tatsutani. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US12098972B2. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Method and apparatus for precision measurements on a touch screen

Номер патента: US09928570B2. Автор: Kenneth Todd Reed,Jonathan Neil Draper. Владелец: Calgary Scientific Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09835536B2. Автор: Takayoshi Hoshino. Владелец: Aohata Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Eddy current mold level measuring device and mold level measuring method

Номер патента: US09816851B2. Автор: Fumio Koyama. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Blood component measurement device and blood component measurement method

Номер патента: US09738916B2. Автор: Tomohiro Yamamoto,Masaki Fujiwara. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Surface potential distribution measuring device and surface potential distribution measuring method

Номер патента: US09702915B2. Автор: Shinichiro Yamada,Hisatoshi Ikeda,Kunihiko Hidaka,Tetsuo YOSHIMITSU,Yuichi Tsuboi,Akiko Kumada. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Measuring method and system for body-shaped data

Номер патента: US20240202931A1. Автор: Ming-Yen Chen,Yu-Chi LU,Cheng-Hsuan Cheng,Po Hsuan HSIAO,Chang Hong LIN,Hsin-Yeh Yang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Characteristics measurement device for object to be measured and characteristics measurement method for object to be measured

Номер патента: US20240210458A1. Автор: Nobuo Niimi,Kazuma Ito,Kenji Ikushima. Владелец: JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY. Дата публикации: 2024-06-27.

Dual-beam fmcw distance measuring method having compensation of a velocity-dependent distance measurement error

Номер патента: US20190377089A1. Автор: Marcel Rohner. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2019-12-12.

Optical measurement device and optical measurement method

Номер патента: US20230136517A1. Автор: Motoki Morita,Keigo Kohno,Fusanori KONDO,Daichi SUSUKI. Владелец: Sekisui Medical Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Distance measurement device having external light illuminance measurement function and external light illuminance measurement method

Номер патента: US11754717B2. Автор: ATSUSHI Watanabe,Minoru Nakamura,Yuuki Takahashi. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2023-09-12.

Non-destructive measurement method and apparatus for the turn-to-turn resistivity distribution in non-insulation superconducting coils

Номер патента: US20240302417A1. Автор: Wei Wu,Li Lu,Jianghong WAN. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-09-12.

Automatic analyzer and optical measurement method for obtaining measurement signals from liquid media

Номер патента: US12097491B2. Автор: Herfried Huemer,Arnold Bartel,Reinhard MARIK,Patrick KRAUS-FÜREDER,Robert SCHOLZ-MAREICH,Wolfgang Sprengers,Michael Bergbaur. Владелец: Meon Medical Solutions and Co KG GmbH. Дата публикации: 2024-09-24.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US09709502B2. Автор: Tomohiro Endo,Kazuyuki Oguri,Takeshi Muranaka,Yasushi Kondo,Hidenobu Kawada. Владелец: FUJIREBIO INC. Дата публикации: 2017-07-18.

Online measuring assembly of the rheological properties of a drilling fluid and associated measuring method

Номер патента: US09638618B2. Автор: Eric Villard,Namic Klioua. Владелец: Geoservices Equipements SAS. Дата публикации: 2017-05-02.

Electrophysiology measurement and training and remote databased and data analysis measurement method and system

Номер патента: US09629568B2. Автор: David W Hagedorn,James W. G. Thompson. Владелец: Evoke Neuroscience Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Vehicle speed measurement method and system

Номер патента: RU2543947C2. Автор: Алан КЛУКАС,Брайан Дэвид Винсент СМИТ. Владелец: ЗМ ИННОВЭЙТИВ ПРОПЕРТИЗ КОМПАНИ. Дата публикации: 2015-03-10.

Electronic Computer, Moisture Content Measurement Method, and Moisture Content Measurement System

Номер патента: US20240102925A1. Автор: Jun Tanaka,Kotaro Kitamura,Yusuke Kaga,Takuya Kambayashi,Makiko Udagawa,Shunsuke Kono,Yasuko Kobayashi,Hiroki MIYAKAWA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230296991A1. Автор: Masakazu HAMASAKI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Residual gas volume measuring device and residual gas volume measuring method

Номер патента: US20230358590A1. Автор: Shuji Nakai,Nobuaki Watanabe,Takashi Matsuki. Владелец: Kyoto Electronics Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Optical measuring device, optical measuring method, data processing device, and program

Номер патента: US20230033014A1. Автор: Satoshi Masuda. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-02-02.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240241254A1. Автор: Yusuke YATA. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Wavefront measurement device and wavefront measurement method

Номер патента: EP4400818A1. Автор: Yoshinori Kato,Takashi Sekine,Satoru Kobayashi,Yuki Ikeya,Takaaki Morita,Takuto IGUCHI,Kazuki Kawai. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-17.

Shape Measuring Device for Hose Connector Fitting, Shape Measuring Method for Hose Connector Fitting and Shape Measuring Program for Hose Connector Fitting

Номер патента: US20200271440A1. Автор: Takayuki Saito. Владелец: Yokohama Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Flow rate measurement method and apparatus

Номер патента: US20150112614A1. Автор: Yoshiki Yoshida,Shusuke Hori,Hiroki Kannan,Hideaki Nanri,Masaharu Uchiumi. Владелец: Japan Aerospace Exploration Agency JAXA. Дата публикации: 2015-04-23.

Eddy current multi-parameter measurement device and corresponding measurement method

Номер патента: EP4446692A1. Автор: Luigi Ferrigno,Marco Laracca,Alessandro Sardellitti,Antonello Tamburrino,Salvatore Ventre,Filippo Milano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-16.

Measurement method and apparatus for global navigation satellite system (gnss)

Номер патента: EP4451015A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Measurement device and measurement method with advanced trigger

Номер патента: US12135339B2. Автор: Armin Horn. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-11-05.

Dielectric constant measurement method, dielectric measurement device and dielectric measurement program

Номер патента: US12025642B2. Автор: Hiroshi Hamada,Hideyuki Nosaka,Teruo Jo. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Volume measuring device and volume measuring method

Номер патента: US09976892B2. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Thickness measuring device and thickness measuring method

Номер патента: US09746322B2. Автор: Dorian Cretin. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Measurement method and device for determination of state of electric igniter of gas turbine burner, as well as ignition device for gas turbine burner

Номер патента: RU2477509C2. Автор: Йорг ГОНДЕР. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-03-10.

Radiation measuring method, apparatus and device

Номер патента: US20240230927A1. Автор: Damien Prieels. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring device, measurement method, program

Номер патента: US20240221203A1. Автор: Hiroki Tetsukawa,Susumu Takatsuka,Noribumi Shibayama,Hidehito SATO. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Measurement method, measurement device, and recording medium

Номер патента: US20200265635A1. Автор: Naofumi ENDO. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-08-20.

Gas measurement device, gas measurement system, and gas measurement method

Номер патента: EP4365588A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada,Manase Mizutani. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2024-05-08.

Gas measurement device, gas measurement system, and gas measurement method

Номер патента: US20240151693A1. Автор: Yoshihisa Suzuki,Toshihiko Noda,Kazuaki Sawada,Manase Mizutani. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2024-05-09.

Measurement method and non-contact displacement detection apparatus thereof

Номер патента: US20240255639A1. Автор: Shih-Ying Hsu,Min HSU. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

A radiation measuring method, apparatus and device

Номер патента: EP4398001A1. Автор: Damien Prieels. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2024-07-10.

Size measuring method and device

Номер патента: US20040098221A1. Автор: Shozo Katamachi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-20.

Temperature measuring device and temperature measuring method

Номер патента: US20150003491A1. Автор: Hidenori Matsumoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-01-01.

Sample measurement device and sample measurement method

Номер патента: US12078648B2. Автор: Masaki Shiba,Hiroki Kotake,Akihito Kato. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Rayleigh intensity pattern measurement device and rayleigh intensity pattern measurement method

Номер патента: EP4414666A1. Автор: Kinzo Kishida,Kenichi Nishiguchi,Che-Hsien Li,Yahei Koyamada,Daiji AZUMA. Владелец: Neubrex Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Optical fiber characteristic measurement device and optical fiber characteristic measurement method

Номер патента: EP4443113A1. Автор: Satoshi Matsuura,Shin-Ichirou Tezuka,Masayoshi Honma. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-09.

Rayleigh intensity pattern measurement device and rayleigh intensity pattern measurement method

Номер патента: US20240361159A1. Автор: Kinzo Kishida,Kenichi Nishiguchi,Che-Hsien Li,Yahei Koyamada,Daiji AZUMA. Владелец: Neubrex Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US09922420B2. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Method and device for repairing an aircraft and/or gas turbine component

Номер патента: US09902024B2. Автор: Michael Ernst,Thiemo Ullrich. Владелец: Lufthansa Technik AG. Дата публикации: 2018-02-27.

Sensor strip cartridge, and biometric information measuring method and apparatus using the same

Номер патента: US09739764B2. Автор: Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Min-Hyoung Lee,In-Geol Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Backlash measurement device and backlash measurement method

Номер патента: US09651451B2. Автор: Hideo Suzuki,Susumu Tanaka,Seiichiro Naka,Kazunari Inamori,Yuji Sezaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-16.

Flow sensor and flow rate measurement method

Номер патента: RU2768159C2. Автор: Марк Томас ДЖОНСОН,Дан Антон ВАН ДЕН ЭНДЕ,Корнелис Петрус ХЕНДРИКС,Арьен ВАН ДЕР ХОРСТ,Ахим ХИЛЬГЕРС,Рональд Антони ХОВЕНКАМП. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2022-03-23.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US09941984B2. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2018-04-10.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US20170180064A1. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2017-06-22.

Beam measurement method and beam measurement device

Номер патента: EP4075849A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-19.

Pilot frequency sending method, pilot frequency measurement method and pilot frequency measurement device in MIMO system

Номер патента: CN105322989A. Автор: 陈润华,高秋彬. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2016-02-10.

Collection device, measurement terminal, collection system, collection method, measurement method, collection program, and measurement program

Номер патента: US11792600B2. Автор: Hiroshi Konishi,Naoto Abe,Hitoshi Seshimo. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-17.

Pop noise reduction tool, microphone equipped therewith, pop noise measurement method, and pop noise measurement device

Номер патента: US20170026731A1. Автор: Takayuki Sano,Fukushi Kawakami,Noriaki Shime. Владелец: Tomoegawa Paper Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-26.

DELAY MEASUREMENT SYSTEM AND DELAY MEASUREMENT METHOD, AS WELL AS DELAY MEASUREMENT DEVICE AND DELAY MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20130170390A1. Автор: Takagi Kazuo,Umayabashi Masaki,Cui Zhenlong. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2013-07-04.

POP NOISE REDUCTION TOOL, MICROPHONE EQUIPPED THEREWITH, POP NOISE MEASUREMENT METHOD, AND POP NOISE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20170026731A1. Автор: SANO Takayuki,Kawakami Fukushi,Shime Noriaki. Владелец: . Дата публикации: 2017-01-26.

High potential pulse current dose measuring method and accumulated charge measuring device

Номер патента: KR100306526B1. Автор: 테리티에뉴솅,3세 챨스버레이쿠퍼,수잔벤자민펠치,찰스이.밴와그너. Владелец: 배리언 어소시에이츠 인코포레이티드. Дата публикации: 2001-11-30.

Packet transmission quality measurement method and packet reception measurement device

Номер патента: JP4798285B2. Автор: 祐士 野村,英明 宮崎,浩之 中原. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-10-19.

PERFORMANCE MEASUREMENT METHOD, STORAGE MEDIUM, AND PERFORMANCE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20150012644A1. Автор: Kubota Atsushi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2015-01-08.

Collection device, measurement terminal, collection system, collection method, measurement method, collection program, and measurement program

Номер патента: US20220360937A1. Автор: Hiroshi Konishi,Naoto Abe,Hitoshi Seshimo. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-11-10.

MEASUREMENT METHOD, MEASUREMENT APPARATUS AND MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20150318866A1. Автор: Sugawara Mitsutoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-05.

Measuring method, measuring apparatus and measuring program

Номер патента: JP6095955B2. Автор: 勇喜 毛利,光俊 菅原,範和 石原. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-03-15.

INTER-RAT MEASUREMENT METHOD, RELATED APPARATUS, AND MEASUREMENT SYSTEM

Номер патента: US20180027439A1. Автор: Wu Xiaobo. Владелец: . Дата публикации: 2018-01-25.

Inter-system measurement method, related device and measurement system

Номер патента: EP3267717A1. Автор: Xiaobo Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-10.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and body composition measurement device

Номер патента: US20120004570A1. Автор: Yasuo Fujita,Naoto Mukai,Satoe SHIMIZU. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and apparatus for taking biomechanical measurements

Номер патента: US20050197598A1. Автор: Peter Von Rogov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-09-08.

Endoscope system, processor device, operation method, and distance measurement device

Номер патента: US10463240B2. Автор: Yasushi Shiraishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-05.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190290142A1. Автор: ISHIHARA Daisuke,KAWABATA Yasuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-26.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190307336A1. Автор: Fujii Kenji,Matsumoto Naoki,Mori Kentaro. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-10.

PULSE WAVE MEASUREMENT DEVICE, PULSE WAVE MEASUREMENT METHOD, AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20190313924A1. Автор: Fujii Kenji,Matsumoto Naoki,Mori Kentaro,KAWABATA Yasuhiro,MATSUMURA Naomi. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-17.

Biological information measuring device, biological information measuring method, and body composition measuring device

Номер патента: JPWO2010095709A1. Автор: 里恵 清水,直人 向井,安生 藤田. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2012-08-30.

Bioinformation measurement device, bioinformation measurement method, and body composition measurement device

Номер патента: CN102355855B. Автор: 藤田安生,清水里惠,向井直人. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2014-09-10.

HEART RATE MEASUREMENT METHOD AND HEART RATE MEASUREMENT DEVICE APPLYING THE SAME

Номер патента: US20170164849A1. Автор: Lee James. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-15.

PHYSIOLOGICAL SIGNAL MEASURING METHOD AND PHYSIOLOGICAL SIGNAL MEASURING DEVICE

Номер патента: US20180168474A1. Автор: Jean Ren-Der,Pan Hsin-Hung,LI Szu-Ju,Wang Jung-Hao,CHUANG Chun-Te,Chen I-Cherng,YIN Meng-Song,WU Pai-Hao. Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2018-06-21.

ELECTROCARDIOGRAPHY MEASUREMENT METHOD AND AN ELECTROCARDIOGRAPHY MEASUREMENT DEVICE APPLYING THE SAME

Номер патента: US20150190069A1. Автор: Shih Wen-Hui,TAO Yi-Wei. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-09.

BLOOD PRESSURE MEASUREMENT METHOD AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE APPLYING THE SAME

Номер патента: US20180199822A1. Автор: Lee James. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-19.

Body composition measuring method and body composition measuring device

Номер патента: JP4124649B2. Автор: 一彦 吉田,善久 増尾. Владелец: Physion Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-23.

Mixing rate measuring method and mixing rate measuring device

Номер патента: JP5387735B1. Автор: 淳一 四辻,友彦 伊藤. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2014-01-15.

Body composition measuring method and body composition measuring device

Номер патента: JPWO2002043586A1. Автор: 吉田　一彦,増尾　善久. Владелец: 株式会社アートヘブンナイン. Дата публикации: 2004-04-02.

Ground resistivity measuring method and ground resistivity measuring device

Номер патента: JP6754196B2. Автор: 斉郁 藤原. Владелец: Taisei Corp. Дата публикации: 2020-09-09.

Blood sugar measurement method and blood sugar measurement device using multiple biological signals

Номер патента: EP3138493A4. Автор: Yeong Joon Gil. Владелец: Huinno Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-16.

Container position measuring method and container position measuring device

Номер патента: KR101638644B1. Автор: 다다시 가토,쇼이치 가토. Владелец: 가부시키가이샤 리퍼테크노. Дата публикации: 2016-07-11.

Sunshine duration measuring method and sunshine duration measuring device

Номер патента: CN102176074B. Автор: 张卫平,黄冠琅,肖钰斐,罗庭军. Владелец: GUANGXI UNIVERSITY. Дата публикации: 2013-10-09.

Cell group motility characteristic measurement method and cell group measurement device

Номер патента: WO2023042859A1. Автор: 紀之 河原,謙介 加藤,良和 長垣. Владелец: 株式会社幹細胞＆デバイス研究所. Дата публикации: 2023-03-23.

Blood pressure measuring method and blood pressure measuring device

Номер патента: CN107960998A. Автор: 余文翰. Владелец: Guangdong Transtek Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-27.

Blood pressure measuring method, device and blood pressure measurement device

Номер патента: CN108836292A. Автор: 孙勋悦. Владелец: Guangdong Transtek Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-20.

BLOOD PRESSURE ESTIMATION METHOD AND BLOOD PRESSURE MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20170135591A1. Автор: Ishizawa Hiroaki,KOYAMA Shouhei. Владелец: . Дата публикации: 2017-05-18.

COMPOSITE PROFILE EVALUATING METHOD AND COMPOSITE PROFILE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20170268390A1. Автор: Sato Fumio,Daimon Yuta. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

Sensor module, sensor module manufacturing method, and blood pressure measuring device

Номер патента: JP7091832B2. Автор: 剛 ▲濱▼口,雄樹 中川,隆 淵本. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2022-06-28.

Body parameter estimation method and body parameter measuring device

Номер патента: CN1537511A. Автор: ,竹原克. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2004-10-20.

Body parameter estimation method and body parameter measuring device

Номер патента: CN1294874C. Автор: 竹原克. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2007-01-17.

Communication status measurement device, communication status measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20150263924A1. Автор: Roshan Thapliya. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-17.

Communication status measurement device, communication status measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US09847923B2. Автор: Roshan Thapliya. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Method and measuring system for the measurement and testing of a mobile-telephone device

Номер патента: US09629001B2. Автор: Adrian Schumacher,Andreas Michl. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-18.

Band measurement device, band measurement method and computer program

Номер патента: EP1838046A3. Автор: Yasuhiro Mizukoshi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2009-09-16.

Measurement method and device, information interchange method and device, and residence method and device

Номер патента: US09967765B2. Автор: BO Lin,Hao Bi,Jie Shi,Yajuan LI,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Measurement method and apparatus, measurement configuration method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4404621A1. Автор: Xiaodong Yang,Yangyang Wang,Wei Bao,Xuanbing Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Beam measurement method, measurement configuration method, and apparatus, terminal and network device

Номер патента: EP4412098A1. Автор: HUI Li,Qiubin Gao,Yajuan Luo. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Measuring device, measurement method, and transmission system

Номер патента: US09647793B2. Автор: Takehiro Fujita. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Minimization of drive test (mdt) configuration method and device, and mdt measurement method and device

Номер патента: EP3716676A1. Автор: Xiaodong Yang,Boubacar KIMBA DIT ADAMOU. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-30.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Reference signal measurement method and terminal devices

Номер патента: EP3883275A1. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-22.

Quality of service measurement method and device, and user plane function

Номер патента: EP4050933A1. Автор: Peng Chen,SONG Zhao,Qi Bi. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Measurement method, measurement configuration method, and related communication apparatus

Номер патента: EP4408070A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US20180184316A1. Автор: Lili Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Beam measurement method and apparatus, user equipment, network device and storage medium

Номер патента: EP4436070A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Measurement method and apparatus, device, and readable storage medium

Номер патента: EP4456599A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Measuring device for property of photovoltaic device and measuring method using the same

Номер патента: US09866171B2. Автор: Teng-Chun Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Shu-Tsung Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-01-09.

Optical signal-to-noise ratio measurement method and apparatus, and computer storage medium

Номер патента: US20240235672A1. Автор: Hu Shi,Yinqiu JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measurement method and apparatus, and device

Номер патента: US12082005B2. Автор: Jianqin Liu,Xiaolei Tie,Zhanzhan ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: US20240292256A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Sensing measurement method and related apparatus

Номер патента: EP4412296A1. Автор: Xun Yang,Chenchen LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: AU2021283545B2. Автор: Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Measurement method and apparatus, and communications node

Номер патента: US09980164B2. Автор: BO Lin,Jie Shi,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Multi-antenna noise power measuring method and apparatus

Номер патента: US09967041B1. Автор: Yan-Neng Chang. Владелец: Ambit Microsystems Shanghai Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Method and node for interference measurement via inter-cell cooperation

Номер патента: US09838189B2. Автор: Yong Zheng,Yu Ngok Li,Yunfeng Sun. Владелец: Xian Zhongxing New Software Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Interference measurement method and apparatus for use in distributed antenna system

Номер патента: RU2660935C2. Автор: Янсун КИМ,Хиодзин ЛИ,Хиоунгдзу ДЗИ,Дзоонянг ЧО,Янгбум КИМ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2018-07-11.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: CA3182422A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20230199892A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Channel state information measurement method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240243826A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Information measurement method and apparatus

Номер патента: EP4436124A1. Автор: Xiangyang Zhu,Jinghai YU,Yufang HAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20240323741A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Plasma Measuring Method and Plasma Processing Apparatus

Номер патента: US20240290589A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Channel measurement method and apparatus, and electronic device and computer readable storage medium

Номер патента: EP4050820A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-08-31.

Measurement method and device, user equipment, network side equipment, and storage medium

Номер патента: EP4451730A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Method and apparatus for measuring sidelink

Номер патента: US12052738B2. Автор: XING Yang. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Measurement method and measurement unit for delta-sigma type data converter

Номер патента: US09705528B2. Автор: Mitsutoshi Sugawara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Measurement method and device

Номер патента: EP3840457A1. Автор: Dajie Jiang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Measurement method and apparatus, terminal device and network device

Номер патента: US20230080009A1. Автор: Shukun Wang. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-03-16.

Mobility measurement method and apparatus

Номер патента: EP4187958A1. Автор: Tingting GENG,Yedan WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-31.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20220060266A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Shujuan Zhang,Huahua Xiao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Channel measurement method and apparatus, electronic device and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220393912A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Measurement method and apparatus, and terminal

Номер патента: US20240349213A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Power measurement method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4447344A1. Автор: Dong Zhou,Liyuan ZHONG,Jiangtao Chen,Longming Zhu,Dao TIAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Interference measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4451580A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4447530A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Breakdown voltage measuring method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09799506B2. Автор: Mitsuhiko Sakai. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Measuring device and measuring method retroactively checking preconditions

Номер патента: US09763125B2. Автор: Jonas Baehr. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-09-12.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US12028728B2. Автор: Rui Wang,Qinghai Zeng,Hongping Zhang,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement method and apparatus using multiple frequency partial band in wireless communication system

Номер патента: US12028721B2. Автор: ANIL Agiwal,Jaehyuk JANG,Byounghoon JUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-02.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: US20240259118A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: CA3230606A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-09.

Network traffic marking and measurement methods and node

Номер патента: US11252266B2. Автор: Zhe Chen,Chuang WANG,Delei Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Measurement method and apparatus, and devices

Номер патента: EP4117249A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-01-11.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20230421273A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4287691A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4391699A1. Автор: Ting Wang,Jianglei Ma,Yongxia Lyu,Dongdong WEI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Sidelink positioning signal scheduling method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4456644A1. Автор: YE Si,Huaming Wu,Zixun ZHUANG,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

SSB measurement method and apparatus

Номер патента: US12120559B2. Автор: Jia Liu,Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Jingxin Wei. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Reference signal measurement method and terminal device

Номер патента: US12035344B2. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4135385A1. Автор: Bo Dai,Li Niu,Xiubin Sha. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-02-15.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190175034A1. Автор: Asao Hirano. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Cell measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230300701A1. Автор: Quan Zhou,Yanchun Wang,Guojun Yue. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Measurement method and device

Номер патента: US12069499B2. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

Intra-frequency intra-system measurement method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240323792A1. Автор: Xiaoxin HU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Test-software-supported measuring system and measuring method

Номер патента: US09843493B2. Автор: Ingo Gruber,Uwe Baeder,Holger Jauch. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-12-12.

Measurement method, measurement configuration method, and related communication apparatus

Номер патента: US20240267798A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Cell measurement method, cell measurement configuration method and apparatus, device, and medium

Номер патента: US20240292295A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Signal resource measurement method and terminal

Номер патента: US12063557B2. Автор: Li Chen,Xueming PAN,Kai Wu,Xiaodong Shen,Dajie Jiang,Qianyao REN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Channel measurement method and communication device

Номер патента: EP4027531A1. Автор: Li Fan,Yong Liu,Xiaoyan Bi,Shibin GE,Huangping JIN,Zhimeng ZHONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Positioning measurement method, communication apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4383859A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Performance measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US12120008B2. Автор: Zheng Zhang,Min Xiao,Jun Guo,Quan XIONG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Measurement method and apparatus, related device and storage medium

Номер патента: AU2023219456A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-08-08.

Device for measuring shaft voltage of generator, measuring method and application

Номер патента: NL2031482B1. Автор: Wang Yang,XU Mingxing,LEI Huan,He Yuling. Владелец: North China Electric Power Univ Baoding. Дата публикации: 2023-03-23.

Time slot-free measurement method and apparatus

Номер патента: EP4117337A1. Автор: Le Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Radio resource measurement method and apparatus

Номер патента: EP4401457A1. Автор: LI ZHANG,Weidong He,Pan Liu,Bo HAO,Yubo Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Method and system for measuring interference signal in carrier signal

Номер патента: US09693245B2. Автор: Lei Cao,Ye Zhao,Xiaodong Chen,Shangkun Xiong,Henghua Lin. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Channel state information reference resource indication and measurement method and device

Номер патента: US09655109B2. Автор: Ying Peng,Qiubin Gao,Hao Ni. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2017-05-16.

Radio resource measurement method, radio resource selection method, and apparatus

Номер патента: US12003993B2. Автор: Qinghai Zeng,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Communication-quality measuring apparatus, communications terminal device, communication-quality measuring method, and computer program

Номер патента: US20090185504A1. Автор: Masanobu Morinaga,Noriyuki Fukuyama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-07-23.

Inter-cell interference measurement method and device in flexible duplex system

Номер патента: US20180184315A1. Автор: Youn-Sun Kim,Sang-Won Park,Chung-Yong Lee,Hyoung-Ju JI,Sang-Geun Lee. Владелец: University Industry Foundation UIF of Yonsei University. Дата публикации: 2018-06-28.

Method and device in nodes used for wireless communication

Номер патента: US20240298342A1. Автор: QI JIANG,Xiaobo Zhang. Владелец: Shanghai Langbo Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Interference Measurement Method and Device

Номер патента: US20240333407A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-03.

Measurement method and apparatus, related device and storage medium

Номер патента: EP4456600A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-10-30.

Radio resource measurement method and apparatus

Номер патента: US20240244463A1. Автор: LI ZHANG,Weidong He,Pan Liu,Bo HAO,Yubo Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Method and apparatus for efficiently controlling inter-cell interference power in a wireless communication system

Номер патента: US09730054B2. Автор: Gert Jan Van Lieshout,Soeng Hun Kim,Kyeong In Jeong,Sang Bum Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-08.

Measuring device and a measuring method for testing mobile-radio relay stations

Номер патента: US09642025B2. Автор: Christina Gessner,Juergen Schlienz. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-02.

Performance measurement method, device, and system

Номер патента: EP4221129A1. Автор: Yali Wang,Tianran ZHOU,Jingrong Xie. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Radio resource management measurement method and apparatus

Номер патента: US20240356593A1. Автор: Yanhua Li,Rao SHI. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Measuring method and apparatus in wireless communication system

Номер патента: US20140313925A1. Автор: Hanbyul Seo,Hakseong Kim,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2014-10-23.

Gap-free measurement method and apparatus

Номер патента: US20230247460A1. Автор: Le Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Measuring method and apparatus in wireless communication system

Номер патента: US09781002B2. Автор: Hanbyul Seo,Hakseong Kim,Inkwon Seo. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-10-03.

Cell measurement method and apparatus, devices, and medium

Номер патента: US20240251269A1. Автор: Yi Xiong. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Measuring device and measuring method for high resolution time synchronization in ofdm systems

Номер патента: WO2014139554A1. Автор: Stefan Schmidt. Владелец: Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG. Дата публикации: 2014-09-18.

Interference measurement method, interference processing method, and apparatuses therefor

Номер патента: US20240259845A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Timing measurement method and related device

Номер патента: US12015470B2. Автор: Yuzhou Wang,Fan Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Channel Measurement Method and User Equipment

Номер патента: US20190268795A1. Автор: YE Wu,Xiaobo Chen,Xiaoyan Bi,Huangping JIN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

Epidermal electric potential measuring device, epidermal electric potential measuring method, cosmetic method, and probe

Номер патента: US20190090805A1. Автор: Matsuhiko Nishizawa,Kuniaki Nagamine,Kenshi Yamasaki,Yuina ABE. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2019-03-28.

Calf Stretcher and Measuring Device

Номер патента: US20230240930A1. Автор: Roger Stroh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-03.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement program

Номер патента: US20220175288A1. Автор: Takuro Matsuda,Yoshinari Uehara,Yukiya TANOUE. Владелец: Fukuoka University. Дата публикации: 2022-06-09.

Body composition measurement device, body composition measurement method, and correction method in body composition measurement

Номер патента: US09795317B2. Автор: Tatsuya Takahashi,Hiroaki Fukuda,Kazuhiro Ochi,Jakusei Kiyosaki. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Fetus electrocardiogram signal measuring method and its device

Номер патента: US20100076330A1. Автор: Yoshitaka Kimura,Takuya Ito,Mitsuyuki Nakao,Kazunari Ohwada. Владелец: Tohoku Techno Arch Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-25.

Measurement device, measurement method, and recording medium storing a measurement program

Номер патента: US20140257117A1. Автор: Toshihiko Ogura,Hironori Sato,Hideo Utsuno,Keisuke Yamada,Hiroshi Matsuhisa. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2014-09-11.

Non-invasive blood component measuring device, non-invasive blood component measuring method, and a computer program product

Номер патента: US20090203976A1. Автор: Toshiyuki Ozawa,Yasuhito Ohnishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2009-08-13.

Pcr measuring method and measurement device

Номер патента: US20190352699A1. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

Measurement device, measurement method, and recording medium storing a measurement program

Номер патента: US10085650B2. Автор: Toshihiko Ogura,Hironori Sato,Hideo Utsuno,Keisuke Yamada,Hiroshi Matsuhisa. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-10-02.

Substance concentration measuring device, substance concentration measuring method and human condition monitoring system

Номер патента: US20230218207A1. Автор: Chih-Hao Wang,Chien-Yi Kao,Hsin-Yi Lin,Shih-Jen Lu,Yang-Ming Chou. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2023-07-13.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20240090798A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Step width measurement device, measurement system, step width measurement method, and program

Номер патента: US20220240813A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-08-04.

Gait measurement device, estimation system, gait measurement method, and recording medium

Номер патента: US20240245320A1. Автор: Hiroshi Kajitani. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Biological measurement device, biological measurement method, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: US20230301536A1. Автор: Hitoshi Tominaga,Hiroto Yanagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement system

Номер патента: US20240206753A1. Автор: Hiroki Kobayashi,Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Photoelectric type pulse signal measuring method and apparatus

Номер патента: US09949695B2. Автор: Song Liu,Bo Li,Shasha Lou. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Method and device for positioning coal charger servicing units on charging holes of coke furnace

Номер патента: RU2484120C2. Автор: Ральф КНОХ,Франц-Йозеф ШЮКЕР. Владелец: Тиссенкрупп Уде Гмбх. Дата публикации: 2013-06-10.

Method and device for determining properties of crushed material

Номер патента: RU2592557C2. Автор: Бенгт Олоф ЧЕЛЬ,Кристиан ОТТЕРГРЕН. Владелец: САНДВИК ИНТЕЛЛЕКЧУАЛ ПРОПЕРТИ АБ. Дата публикации: 2016-07-27.

Blood pressure measurement method, and electronic device and medium thereof

Номер патента: EP4431012A1. Автор: ZHENG Jia,Jie Zhou,Yan Zeng,Hongbao LI,Jiabing YAN,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Method and device for continuous monitoring of process channel pipe bend

Номер патента: RU2545521C2. Автор: Владимир Аминович Подгорнов,Семён Владимирович Подгорнов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный Ядерный Центр-Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Технической Физики имени академика Е.И. Забабахина" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИТФ им. академ. Е.И. Забабахина"). Дата публикации: 2015-04-10.

Self-reference point setting type blood component measuring method and apparatus

Номер патента: US12082925B2. Автор: Sung Chul Lee,Won Ki Park,Cheol Koo HAHN. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2024-09-10.

Physiological information measurement device, physiological information measurement method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20240335125A1. Автор: Shogo TOTSUKA. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2024-10-10.

Neurogenic baroreflex sensitivity measurement device, neurogenic baroreflex sensitivity measurement program and neurogenic baroreflex sensitivity measurement method

Номер патента: US09826909B2. Автор: Yuichi Kato. Владелец: SAPPORO MEDICAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-11-28.

Method for measuring inside dimensions of shoes and measuring tool therefor

Номер патента: US09700104B2. Автор: Xin Dong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Blood pressure measurement method, electronic device, and medium

Номер патента: US20240335126A1. Автор: ZHENG Jia,Jie Zhou,Yan Zeng,Hongbao LI,Jiabing YAN,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-10.

Method and hollow core forming apparatus for casting concrete products

Номер патента: RU2663853C2. Автор: Тармо САХАЛА,Ласси ЯРВИНЕН,Леена РАУКОЛА. Владелец: Элематик Ойй. Дата публикации: 2018-08-10.

Tissue component measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427505A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Bio information measurement device and bio information measurement method

Номер патента: US20210228091A1. Автор: Seung Wan Kang,Dae Keung KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-29.

Animal urinary function measuring device and animal urinary function measuring method

Номер патента: US09877460B2. Автор: Hiroaki Fukuda,Ryoji Mizumachi. Владелец: LSI Medience Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Measuring device and glucose concentration measurement method of the measuring device

Номер патента: US20140107438A1. Автор: Hyun Woo Song. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2014-04-17.

Measuring device and measuring method for threshold of flicker

Номер патента: US20110157261A1. Автор: Nobuyoshi Harada,Sunao Iwaki. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2011-06-30.

Shear wave parameter measurement method and ultrasonic wave device

Номер патента: EP4437969A1. Автор: Sung Bae Park,Sun Yeob CHANG,Chul Hee Yun. Владелец: Alpinion Medical Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Living body optical measurement apparatus, living body optical measurement method, and engagement member for mobile position sensor

Номер патента: US09883825B2. Автор: Takashi Ishizuka,Hirokazu Asaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-06.

Method and apparatus for measuring biosignal

Номер патента: US09877685B2. Автор: Ui Kun Kwon,Jong Wook Lee,Sang Joon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-30.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Remaining printing material measurement method and additive manufacturing apparatus

Номер патента: US20240308140A1. Автор: xinqiao Deng. Владелец: Shenzhen Anycubic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measurement device, measurement method, program and recording medium

Номер патента: US09867559B2. Автор: Hideo Sato. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Biological information measurement device and biological information measurement method

Номер патента: US20240081709A1. Автор: Kazuhiro Yoshida. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Blood pressure measurement method and apparatus, and electronic device and storage medium

Номер патента: EP4179965A1. Автор: Kongqiao Wang. Владелец: Anhui Huami Health Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Blood pressure measuring device and blood pressure measuring method using the same

Номер патента: US20180070887A1. Автор: Kwangjin Lee,Jongin Kim,Boreom LEE,Dongrae CHO. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-03-15.

Blood glucose measurement apparatus and blood glucose measurement method thereof

Номер патента: EP3294132A1. Автор: Kwang-Bok Kim,Sun-Tae Jung,Hyoung-Seon Choi,Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Seung-Min Lee,Jae-Geol Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-21.

Upper limb multi-joint impedance measurement method and apparatus using the same

Номер патента: US12127841B2. Автор: Sang Hoon KANG,Hyunah Kang,Sung Shin Kim. Владелец: UNIST Academy Industry Research Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Blood pressure measurement device, electronic device, and blood pressure measurement method

Номер патента: US09737218B2. Автор: Kazuhiro Nishida,Sumio Utsunomiya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: US09675277B2. Автор: Tomoki Inoue,Takahisa Arai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Wrist-wearable body composition measuring device and body composition measuring method using the same

Номер патента: US20190231216A1. Автор: Kak Namkoong,Seongho CHO,Myounghoon JUNG,Kunsun EOM,Yeolho LEE. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-08-01.

Method and apparatus for measuring blood pressure using radar

Номер патента: US20230389809A1. Автор: Byung Jang Jeong,Hyung Ju Kim,Sung Jin Yoo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-12-07.

Solid materials' electrical charge measuring method and electrical charge measuring device

Номер патента: CS245157B1. Автор: Pavel Sluka. Владелец: Pavel Sluka. Дата публикации: 1986-08-14.

Area-specific-resistance measuring method of metal and measuring device thereof

Номер патента: TW200905209A. Автор: Wei-Jia Xiong. Владелец: Atomic Energy Council. Дата публикации: 2009-02-01.

Displacement or distortion measuring method and device, speed measuring method, elastic modulus/viscoelastic modulus measuring device, and ultrasonic diagnostic apparatus

Номер патента: JP2007152074A. Автор: 親良 炭,Chikayoshi Sumi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-06-21.

Moisture content detection device / moisture content measurement method and moisture content measurement device

Номер патента: JP3423518B2. Автор: 博 半沢. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-07.

Solar ray angle measuring device of photovoltaic tracking system and measuring method of solar ray angle measuring device

Номер патента: CN102607507B. Автор: 杨鹏,陈国林,徐爱斌,史旺旺. Владелец: YANGZHOU BELLSTONE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-14.

Traffic flow measuring method and traffic flow measuring device by laser beam cutting method

Номер патента: JP2898356B2. Автор: 禎雄 高羽,平 魏. Владелец: Koito Industries Ltd. Дата публикации: 1999-05-31.

Blood pressure estimation parameter calibration method, blood pressure measurement method, and blood pressure measurement device

Номер патента: JP5900129B2. Автор: 博光 水上. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-04-06.

IMPULSE RESPONSE MEASURING METHOD AND IMPULSE RESPONSE MEASURING DEVICE

Номер патента: US20120166123A1. Автор: Hino Shokichiro,Koide Hiroshi,Shoji Akihiro,Tsuchiya Koichi,Endo Tomohiko,Xie Qlusheng. Владелец: . Дата публикации: 2012-06-28.

Chromatic dispersion measuring method and chromatic dispersion measuring device

Номер патента: JP3384322B2. Автор: 憲文 小林. Владелец: Hitachi Cable Ltd. Дата публикации: 2003-03-10.

Moving amount measuring method and moving amount measuring device

Номер патента: JP2675317B2. Автор: 雅則 鈴木,篤▲のぶ▼ 宇根. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 1997-11-12.

Measuring method and filter performance measuring device of filter use of clean room

Номер патента: KR101514300B1. Автор: 이영준. Владелец: (주) 크린필텍. Дата публикации: 2015-04-22.

Spatial distance measuring method and spatial distance measuring device

Номер патента: JP3328111B2. Автор: 誠 内田,久男 寺脇,力貴男 角井,恵光 松田,克明 竹内,宏 増山. Владелец: West Japan Railway Co. Дата публикации: 2002-09-24.

Electric resistance measuring method and electric resistance measuring device

Номер патента: JP3130209B2. Автор: 秀昭 菊地,正任 荒木,孝軒 車. Владелец: 旭電機株式会社. Дата публикации: 2001-01-31.

Cornea elasticity measurement method and cornea elasticity measurement device

Номер патента: CN105167805A. Автор: 王立科. Владелец: Shenzhen Yiling Science & Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-12-23.

Pulley load measuring method and pulley load measuring device

Номер патента: JP3674755B2. Автор: 一寿 梶原. Владелец: Koyo Seiko Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-20.

Blood oxygen measuring method and blood oxygen measuring device

Номер патента: CN104887246B. Автор: 黄安麒. Владелец: Guangzhou Shiyuan Electronics Thecnology Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-15.

Optical specific affinity measuring method and specific affinity measuring device used therein

Номер патента: JP3353978B2. Автор: 正人 木村,隆 山田. Владелец: Olympus Optic Co Ltd. Дата публикации: 2002-12-09.

Tread shape measuring method and tread shape measuring device

Номер патента: JP6988434B2. Автор: 貴規 住谷. Владелец: Sumitomo Rubber Industries Ltd. Дата публикации: 2022-01-05.

Pattern image measurement method and pattern image measurement device using it

Номер патента: JP2006029891A. Автор: Yuichi Fukushima,祐一 福島,勲 米倉,晋二 国谷,Isao Yonekura,Shinji Kuniya. Владелец: Toppan Printing Co Ltd. Дата публикации: 2006-02-02.

Surface tension measuring method and surface tension measuring device

Номер патента: JP3015888B1. Автор: 秀明 磯貝. Владелец: 工業技術院長. Дата публикации: 2000-03-06.

Extinction ratio measurement method and extinction ratio measurement device

Номер патента: JP3021338B2. Автор: 圭介 福地,デバラジ バラシガマニ. Владелец: 株式会社生体光情報研究所. Дата публикации: 2000-03-15.

Standard refractory measuring method and fixed refractory measuring device

Номер патента: JP6304182B2. Автор: 石田　匡平,匡平 石田,成治 榎枝,和誉 石山,榎枝　成治. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2018-04-04.

Water level measurement method and water level measurement device

Номер патента: JP2021143977A. Автор: Kenichi Watanabe,Yasushi Ueda,健一 渡辺,潤 西浦,Jun Nishiura,隆仁 及川,Takahito Oikawa,秀彰 野原,Hideaki Nohara,靖 上田. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2021-09-24.

Surface roughness measuring method and surface roughness measuring device

Номер патента: JP6642392B2. Автор: 中 市川. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Insulation degradation measurement method and insulation degradation measurement device

Номер патента: JP6511998B2. Автор: 淳起 藤井. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2019-05-15.

Flow rate measuring method and flow rate measuring device using temperature sensor

Номер патента: JP4796283B2. Автор: 克彦 柴田,圭一 石塚,直樹 相澤,宏 松永,衛 友田. Владелец: Takasago Thermal Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-19.

Bactericidal power measuring method and bactericidal power measuring device

Номер патента: JP6872896B2. Автор: 喜智 大野,大樹 川越. Владелец: Daiwa House Industry Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-19.

Micro time measurement method and micro time measurement device

Номер патента: JP3196254B2. Автор: 直見 沢田,匡志 中村. Владелец: Suzuki Motor Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-06.

Water quality measurement method and water quality measurement device

Номер патента: JP3335776B2. Автор: 聡 西方,芳朗 小野,功 宗宮. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-21.

Air resistance measuring method and air resistance measuring device

Номер патента: JP2008076225A. Автор: Masumi Odagiri,真純 小田切. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2008-04-03.

Iron loss measuring method and iron loss measuring device

Номер патента: JP2021025799A. Автор: Yasushi Takano,Toshihisa Shimizu,敏久 清水,耕至 高野,智志 旭,Tomoshi Asahi. Владелец: Tokyo Metropolitan Public University Corp. Дата публикации: 2021-02-22.

Moisture content measuring method and moisture content measuring device

Номер патента: JP5262612B2. Автор: 吉幸 浅川,寛人 渡邉,栄三郎 神田. Владелец: SUMITOMO METAL MINING CO LTD. Дата публикации: 2013-08-14.

Position coordinate measuring method and position coordinate measuring device

Номер патента: JP3298300B2. Автор: 直人 弓木,弘典 本庄. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2002-07-02.

Time-domain measurement method and time-domain measurement device for soil moisture on basis of wireless underground sensor network

Номер патента: CN102749338B. Автор: 林涛,蔡坤,岳学军,徐兴,刘永鑫,洪添胜,黄双萍,王叶夫. Владелец: SOUTH CHINA AGRICULTURAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-01-14.

Rotational accuracy measuring method and rotational accuracy measuring device

Номер патента: JP4096766B2. Автор: 繁一 奥村. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2008-06-04.

Obstacle position measuring method and obstacle position measuring device

Номер патента: JP3744352B2. Автор: 倫子 下村. Владелец: Nissan Motor Co Ltd. Дата публикации: 2006-02-08.

Gas permeation cell, gas permeability measuring method, and gas permeability measuring device

Номер патента: JP7293022B2. Автор: 寿 高萩,史郎 行嶋. Владелец: Sumika Chemical Analysis Service Ltd. Дата публикации: 2023-06-19.

Pantograph contact force measuring method and contact force measuring device

Номер патента: JP4012108B2. Автор: 充 池田. Владелец: RAILWAY TECHNICAL RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2007-11-21.

Surface shape measurement method and surface shape measurement device

Номер патента: JP2017015653A. Автор: Shigeru Takasu,茂 高須. Владелец: Minebea Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-19.

Chlorophyll fluorescence measuring method and chlorophyll fluorescence measuring device

Номер патента: JP2006284335A. Автор: Takashi Kimoto,英志 紀本,岳志 紀本,崇彦 鈴江,Hideshi Kimoto,Toshiro Saino,敏郎 才野,Takahiko Suzue. Владелец: Kimoto Electric Co Ltd. Дата публикации: 2006-10-19.

Optical cable laying environment measuring method, optical cable laying environment measuring device, and optical cable laying environment measuring system

Номер патента: JP5298043B2. Автор: 裕司 東,則幸 荒木,奈月 本田,雅晶 井上. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2013-09-25.

Measurement method of motor rotational inertia, measurement device of motor rotational inertia and motor control system

Номер патента: CN104980078A. Автор: 张国柱,陈毅东. Владелец: Guangdong Midea Refrigeration Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-14.

Measurement method for interference and measurement device of interference

Номер патента: JPH11218411A. Автор: Hidenori Yamada,秀則 山田. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 1999-08-10.

Measurement method, measurement program, and measurement system equipped with measurement program

Номер патента: JP2018021858A. Автор: Akira Oishi,彰 大石. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-02-08.

Measurement method, measurement system and measurement module for heat conducting paste thickness

Номер патента: CN101063606A. Автор: 林哲熙,罗登男. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2007-10-31.

Measuring method, measuring apparatus and measuring program for specific heat resistance of soil

Номер патента: JP5698467B2. Автор: 浩一 鈴木,鈴木　浩一,健二 窪田,秀志 海江田,佳則 谷村. Владелец: Kansai Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2015-04-08.

Calibration method and device for measuring angle based on bridge magnetosensitive sensor

Номер патента: RU2589755C1. Автор: Виктор Владимирович Моршнев,Георгий Всеволодович Прокофьев. Владелец: Акционерное общество "Зеленоградский нанотехнологический центр". Дата публикации: 2016-07-10.

Scanning distance measuring device signal processing device, signal processing method, and scanning distance measuring device

Номер патента: JP5900722B2. Автор: 浩彦 川田. Владелец: Hokuyo Automatic Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-06.

Ultra-micro step driving method of N-phase stepping motor, N-phase stepping motor driven by the same driving method, and ultra-precision measuring device and ultra-precision machining device equipped with the stepping motor

Номер патента: JP4688040B2. Автор: 直樹 山口,高史 中出. Владелец: 株式会社メレック. Дата публикации: 2011-05-25.

STYLUS ABRASION DETECTION METHOD AND SURFACE PROPERTY MEASUREMENT DEVICE

Номер патента: US20120010826A1. Автор: KUROKI Shingo,Mishima Hideki. Владелец: MITUTOYO CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-12.

Gas concentration calculation method and gas concentration measuring device using colorimetric gas detection paper

Номер патента: JP4809819B2. Автор: 二朗 中村,巧 山田,容子 丸尾,貴志 三輪,晴三 阪田,守 水沼,聡 杉山. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2011-11-09.

Judgment of performance / quality of foundation piles, design method, and ground performance measurement device

Номер патента: JP2548980B2. Автор: 貞男 薮内,金吾 浅山,義隆 細川,仁志 小椋,出 大黒. Владелец: JIOTOTSUPU KK. Дата публикации: 1996-10-30.

Caulking method and workpiece dimension measuring device

Номер патента: JP3793414B2. Автор: 忍 小林,靖夫 渡辺. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2006-07-05.

Gas analyzer calibration method and gas concentration measuring device

Номер патента: JPH087171B2. Автор: 雄一 佐々木,孝治 加藤,元衛 太田. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 1996-01-29.

Reading display system, reading display method and reading value measuring device

Номер патента: JP2019091301A. Автор: Hiroshi Wakabayashi,宏誌 若林,Daiji Uehara,大司 上原,Hideki Muramatsu,秀樹 村松,上原　大司. Владелец: Nagano Keiki Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-13.

Measurement Device and Method Utilizing the Same

Номер патента: US20120000796A1. Автор: . Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2012-01-05.

Medium movement velocity measurement method and device for its implementation

Номер патента: RU2420745C1. Автор: Асим Мустафаевич Касимов,Александр Иванович Попов,Леонид Тимофеевич Чернявский. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН. Дата публикации: 2011-06-10.

HARD PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, PARTICLE CONCENTRATION DETECTING METHOD, AND DEVICE THEREFOR

Номер патента: US20120001619A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

CUFF FOR BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE AND BLOOD PRESSURE INFORMATION MEASUREMENT DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME

Номер патента: US20120004560A1. Автор: KAWANO Atsushi,SANO Yoshihiko,FUJITA Reiji,Nishioka Takanori,Tanaka Takahide. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Resonant measuring method of rotation frequency of object and device implementing this method

Номер патента: RU2562149C2. Автор: Борис Михайлович Петров. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южный федеральный университет" (Южный федеральный университет). Дата публикации: 2015-09-10.

Measuring device of scattering parameters of four-pole at ultra-high frequency

Номер патента: RU2494408C1. Автор: Александр Карпович Балыко,Александр Николаевич Королев,Виталий Юрьевич Мякиньков,Елена Олеговна Сафонова,Елена Васильевна Бувайлик. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Исток" (ФГУП НПП "Исток"). Дата публикации: 2013-09-27.

Insulation resistance measurement method and device therefor

Номер патента: RU2585965C1. Автор: Вячеслав Иванович Лачин,Кирилл Юрьевич Соломенцев,Куок Уи Нгуен,Игорь Геннадиевич Балабан. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М.И. Платова". Дата публикации: 2016-06-10.

Screening method, composition containing substance selected by the screening method, and binding substance

Номер патента: US20120003673A1. Автор: Yodoi Junji,Horibe Tomohisa,KATO Noriko,Kondo Norihiko,Son Aoi,Hara Tomijiro. Владелец: REDOX BIOSCIENCE, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and apparatus for measuring transient thermal characteristics of light-emitting diodes

Номер патента: RU2523731C1. Автор: Алексей Аркадьевич Черторийский,Вячеслав Андреевич Сергеев,Алексей Валентинович Беринцев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук. Дата публикации: 2014-07-20.

Water flow velocity measurement method and device

Номер патента: RU2533751C1. Автор: Игорь Евгеньевич Зайцев,Александр Александрович Гришин,Руслан Витальевич Стороженко. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Метеоприбор". Дата публикации: 2014-11-20.

Density and viscosity measurement method and related device

Номер патента: RU2349897C2. Автор: Андрей Юрьевич Мишин,Иван Владимирович Хавронин,Александр Михайлович Павельев,Юрий Константинович Исаев. Владелец: Закрытое акционерное общество "АВИАТЕХ" (ЗАО "АВИАТЕХ"). Дата публикации: 2009-03-20.

Method and device for carrying out humerus osteosynthesis

Номер патента: RU2163090C1. Автор: А.В. Калинин,Б.Б. Бохов,Е.Ю. Гущина. Владелец: Гущина Елена Юрьевна. Дата публикации: 2001-02-20.

Bearing measurement method and apparatus for realising said method

Номер патента: RU2520074C1. Автор: Виктор Сергеевич Щербаков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "ПРИМА". Дата публикации: 2014-06-20.

Measurement method for detecting a mechanical force acting on an object, and measuring device having a fibre-optic sensor unit

Номер патента: AU2023264255A1. Автор: Kai SCHICKER,Rainer Klemm,Thomas Grob. Владелец: Hitachi Rail Gts Deutschland GmbH. Дата публикации: 2024-11-14.

Phase shift measurement method and device for its realization

Номер патента: RU2099721C1. Автор: В.Н. Авсиевич,А.В. Гребенников,М.К. Чмых,В.Б. Новиков. Владелец: Красноярский государственный технический университет. Дата публикации: 1997-12-20.

Measuring device of ice thickness and measuring method thereof

Номер патента: AU2021100702A4. Автор: WEI Liu,Wenting Wang,Mingxin Wang,Di Liu,Junfeng Xue,Zhifu Zhang,Tenglin DENG. Владелец: Inst Of Water Resources For Pastoral Area. Дата публикации: 2021-04-22.

Method and apparatus for atomic emission spectral analysis of nano-objects

Номер патента: RU2573717C2. Автор: Владимир Владимирович Чесноков,Дмитрий Владимирович Чесноков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет геосистем и технологий" (ФГБОУ ВО "СГУГИТ"). Дата публикации: 2016-01-27.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.