Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus and device manufacturing method.

Position measuring apparatus, position measuring method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20150219438A1
Опубликовано: 06-08-2015
Автор(ы): Arie Jeffrey Den Boef, Gerrit Johannes Nijmeijer, J. Christian Swindal, Justin Lloyd KREUZER, Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans, Richard Johannes Franciscus Van Haren, Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN
Принадлежит: Asml Holding Nv, ASML Netherlands BV
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Position measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11715660B2. Автор: Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Method to determine the usefulness of alignment marks to correct overlay, and a combination of a lithographic apparatus and an overlay measurement system

Номер патента: US09454084B2. Автор: Antoine Gaston Marie Kiers,Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Michael Kubis,Irina Lyulina,Remi Daniel Marie Edart. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-09-27.

X-Y table with a position-measuring device

Номер патента: US9921468B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Joerg Drescher,Markus Meissner,Ralph Joerger,Bernhard Musch,Thomas Kaelberer. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-03-20.

X-Y table with a position-measuring device

Номер патента: US09921468B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Joerg Drescher,Markus Meissner,Ralph Joerger,Bernhard Musch,Thomas Kaelberer. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-03-20.

Inspection method and apparatus, substrates for use therein and device manufacturing method

Номер патента: US09835954B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Erik Willem BOGAART. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-12-05.

Substrate conveyance device and substrate conveyance method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method

Номер патента: US8345216B2. Автор: Takashi Horiuchi,Atsushi Ohta. Владелец: Zao Nikon Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-01.

Contamination prevention system, lithographic apparatus, radiation source and device manufacturing method

Номер патента: KR101148959B1. Автор: 아르노우트 코르넬리스 바싱크. Владелец: 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이.. Дата публикации: 2012-05-24.

Contamination prevention system, lithographic apparatus, radiation source, and device manufacturing method

Номер патента: JP5506669B2. Автор: ブイス，エドウィン，ヨハン,ワシンク，アーノウド，コルネリス,ホーゲンダム，クリスティアーン，アレクサンダー,ストライチェン，アレクサンドロス，マティス,ビジラート，エリク，セオドロス，マリア,ブロム，ポール，ペーター，アナ，アントニウス. Владелец: エーエスエムエルネザーランズビー．ブイ．. Дата публикации: 2014-05-28.

Exposure apparatus and control method, and apparatus manufacturing method thereof

Номер патента: TW201102766A. Автор: Tetsuo Ohnuma. Владелец: Canon Kk. Дата публикации: 2011-01-16.

A lithographic apparatus, a radiation system, a device manufacturing method and a debris mitigation method

Номер патента: WO2010072429A1. Автор: Kurt Gielissen,Olav Frijns,Johannes Franken. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2010-07-01.

apparatus and method for photolithography, and manufacturing method for a thin film transistor array panel of a liquid crystal display using the same

Номер патента: KR20010091119A. Автор: 윤종수,박운용. Владелец: 윤종용. Дата публикации: 2001-10-23.

Exposure apparatus and exposure method, and component manufacturing method

Номер патента: TWI638386B. Автор: 柴崎祐一. Владелец: 尼康股份有限公司. Дата публикации: 2018-10-11.

Lithographic apparatus, Lorentz actuator, and device manufacturing method

Номер патента: US7145269B2. Автор: Henrikus Herman Marie Cox,Sven Antoin Johan Hol,Patricia Vreugdewater,Hernes Jacobs,Koen Jacobus Johannes Marie Zaal. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-12-05.

Lithographic apparatus, Lorentz actuator and device manufacturing method

Номер патента: JP4317148B2. Автор: ヘルマンマリーコックスヘンリクス,ヤコブスヨハネスマリアツァールコーエン,アントアンヨハンホルスヴェン,ジェイコブスヘルネス,フレイクデワーテルパトリシア. Владелец: エーエスエムエルネザーランズビー．ブイ．. Дата публикации: 2009-08-19.

Lithographic apparatus, lorentz actuator, and device manufacturing method

Номер патента: US20050200208A1. Автор: Patricia Vreugdewater,Hernes Jacobs,Sven Johan Hol,Henrikus Marie Cox,Koen Marie Zaal. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2005-09-15.

Lithographic apparatus, Lorentz actuator and device manufacturing method

Номер патента: EP1580602A1. Автор: Henrikus Herman Marie Cox,Sven Antoin Johan Hol,Patricia Vreugdewater,Hernes Jacobs,Koen Jacobus Johannes Maria Zaal. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2005-09-28.

Position measurement apparatus, imaging apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20080144047A1. Автор: Nozomu Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-06-19.

Movable body drive method, pattern formation method, exposure method, and device manufacturing method for maintaining position coordinate before and after switching encoder head

Номер патента: US09612539B2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Position measuring method, position measuring apparatus, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20200081357A1. Автор: Osamu Yamane,Yosuke Okamoto,Miki TOSHIMA. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-03-12.

Processing system, processing method, measurement apparatus, substrate processing apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20230359134A1. Автор: Shinichi Egashira. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-09.

Lithographic apparatus

Номер патента: US09696638B2. Автор: Engelbertus Antonius Fransiscus Van Der Pasch,Frank Staals,Lukasz Jerzy MACHT,Johannes Henricus Wilhelmus Jacobs,Joost Jeroen Ottens,Erik Willem BOGAART,Emiel Jozef Melanie Eussen,William Peter VAN DRENT. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-07-04.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09669984B2. Автор: David Ramirez,Peter C. Kochersperger,Robert Gabriel Maria Lansbergen. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2017-06-06.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09457947B2. Автор: David Ramirez,Peter C. Kochersperger,Robert Gabriel Maria Lansbergen,Xugang Xiong,George Hilary Harrold,Arindam Sinharoy. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2016-10-04.

Exposure apparatus and wiring pattern forming method

Номер патента: US20240118622A1. Автор: Masaki Kato,Yasushi Mezuno. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Fluid handling structure, immersion lithographic apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20170176867A1. Автор: Daan Daniel Johannes Antonius Van Sommeren,Bruno Jean François Frackowiak,Arend KOOLMA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-06-22.

Fluid handling structure, immersion lithographic apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: EP3172623A1. Автор: Daan Daniel Johannes Antonius Van Sommeren,Bruno Jean François Frackowiak,Arend KOOLMA. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-31.

Lithographic apparatus

Номер патента: US09946168B2. Автор: Hans Butler. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-04-17.

Sensor, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09971254B2. Автор: Yuri Johannes Gabriel Van De Vijver,Johannes Hubertus Antonius Van De Rijdt,Haico Victor Kok,Johannes Henricus Wilhelmus Jacobs,Thibault Simon Mathieu Laurent,Bastiaan Andreas Wilhelmus Hubertus KNARREN,Jan Steven Christiaan WESTERLAKEN,Allard Eelco Kooiker,Johannes Antonius Maria Van De Wal,Wilhelmina Margareta Jozef Hurkens-Mertens,Yohann Bruno Yvon Teillet,Robbert-Jan VOOGD. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-15.

Lithographic apparatus.

Номер патента: NL2008272A. Автор: Frank Staals,Lukasz Jerzy MACHT,Johannes Henricus Wilhelmus Jacobs,Joost Jeroen Ottens,Erik Willem BOGAART,Engelbertus Pasch,Emiel Eussen,William Drent. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2012-09-11.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4227737A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Kentaro Kasa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Object exchange method, exposure method, carrier system, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US09588443B2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Measuring method and measuring apparatus of pupil transmittance distribution, exposure method and exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US9389519B2. Автор: Naonori Kita. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-07-12.

Optical apparatus, method of scanning, lithographic apparatus and device manufacturing method.

Номер патента: NL2008111A. Автор: Arie Boef. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2012-08-21.

Sensor, object positioning system, lithographic apparatus and device device manufacturing method

Номер патента: EP3189377A1. Автор: Ruud Antonius Catharina Maria Beerens,Sander Christiaan Broers,Theodorus Petrus Maria Cadee,Jan Van Eijk,Johannes Antonius Gerardus AKKERMANS,Hendrikus Johannes Schellens,Adrianus Marinus Wouter Heeren,Bo LENSSEN,George Alois Leonie Leenknegt,Jeroen Johannes Theodorus Hendrikus DE BEST,Richard Henricus Adrianus Van Lieshout,Peter Van Der Krieken. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-07-12.

Sensor, object positioning system, lithographic apparatus and device device manufacturing method.

Номер патента: NL2015190A. Автор: Van Eijk Jan,LENSSEN Bo,VAN DER KRIEKEN Peter,Antonius Catharina Maria Beerens Ruud,Christiaan Broers Sander,Antonius Gerardus Akkermans Johannes,Petrus Maria Cadee Theodorus,Johannes Theodorus Hendrikus De Best Jeroen,Marinus Wouter Heeren Adrianus,Alois Leonie Leenknegt George,Johannes Schellens Hendrikus,Henricus Adrianus Van Lieshout Richard. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-07-12.

Overhang measurement method and apparatus for battery electrode plate, and device and storage medium

Номер патента: EP4379893A1. Автор: Yang Lei,QI Chen,Pengfei Duan,Ya Dai,Jianlei Wang. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Lithographic Apparatus, Alignment Method and Device Manufacturing Method

Номер патента: KR100550031B1. Автор: 베스트카이스,프리츠알렉스,콘솔리니호에,판부엘헨리쿠스빌헬무스마리아,귀쳉-쿤. Владелец: 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이.. Дата публикации: 2006-02-08.

Position measuring method, position measuring apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method, optical element

Номер патента: WO2013152878A2. Автор: Arie Den Boef,Justin Kreuzer,Simon MATHIJSSEN. Владелец: ASML Holding N.V.. Дата публикации: 2013-10-17.

Position measurement with illumination profile having two diametrically opposed off-axis radiation

Номер патента: US9970747B2. Автор: Arie Jeffrey Den Boef,Simon Gijsbert Josephus MATHIJSSEN,Justin Lloyd KREUZER. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2018-05-15.

Position measurement system, interferometer system and lithographic apparatus

Номер патента: NL2022663A. Автор: VOSS Thomas,Johannes Catharina Schoormans Carolus,Mathias Theodorus Antonius Adriaens Johannes. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2019-10-03.

Quality control method of position measurement light source, semiconductor manufacturing apparatus, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20190295902A1. Автор: Sadatoshi Murakami,Miki TOSHIMA. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Terahertz signal measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20240230528A1. Автор: Wontae Kim,Namil Koo,Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu,Ingi KIM,Sunhong JUN,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Eunhyuk Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Position measurement system, grating for a position measurement system and method

Номер патента: US09651877B2. Автор: Willem Herman Gertruda Anna Koenen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-16.

Lithographic Apparatus, Aberration Detector and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20120026477A1. Автор: Wilhelmus Jacobus Maria Rooijakkers. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2012-02-02.

Processing system, processing method, measurement apparatus, substrate processing apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12140878B2. Автор: Shinichi Egashira. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-12.

Measurement method, measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20170278233A1. Автор: Takuro Tsujikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Measuring apparatus using optical interferometry and measuring method using optical interferometry

Номер патента: JPWO2015022851A1. Автор: 誠中村,中村　誠. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-03-02.

Position recognition apparatus for printed circuit board, position recognition and processing apparatus, and printed circuit board manufacturing method

Номер патента: US10667445B2. Автор: Kenichi Mishima. Владелец: Nippon Mektron KK. Дата публикации: 2020-05-26.

Lithographic apparatus, contaminant trap, and device manufacturing method

Номер патента: US7612353B2. Автор: Vadim Yevgenyevich Banine,Josephus Jacobus Smits,Arnoud Cornelis Wassink,Paul Peter Anna Antonius Brom,Leonid Aizikovitch Sjmaenok,Lambertus Adrianus Van Den Wildenberg,Alexander Alexandrovitch Schmidt,Eric Louis Willem Verpalen,Antonius Johannes Van De Pas. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2009-11-03.

Range measurement apparatus, storage medium and range measurement method

Номер патента: US20220232166A1. Автор: Yosuke Eguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-07-21.

Gradient magnetic field coil, magnetic resonance imaging apparatus, and gradient magnetic field coil manufacturing method

Номер патента: JP5295799B2. Автор: 良知坂倉. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2013-09-18.

Position-measuring device and system having such a position-measuring device

Номер патента: US09389065B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Joerg Drescher,Markus Meissner,Ralph Joerger,Bernhard Musch,Thomas Kaelberer. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2016-07-12.

Stage apparatus, charged particle beam apparatus, and optical inspection apparatus

Номер патента: US20230343622A1. Автор: Hironori Ogawa,Motohiro Takahashi,Takanori Kato,Masaki Mizuochi. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09544558B2. Автор: Hideo Takizawa,Hiroto Nozawa,Koyo TADA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Position measuring device and substrate processing apparatus including the same

Номер патента: US20220194107A1. Автор: Bo Ram Chan Sung,Dong Yun Lee,Eon Seok Lee. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-23.

POSITION MEASUREMENT SYSTEM, CALIBRATION METHOD, LITHOGRAPHIC APPARATUS AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20190137890A1. Автор: IKKINK TEUNIS JAN. Владелец: . Дата публикации: 2019-05-09.

Position measurement system, zeroing method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20200191552A1. Автор: Maarten Jozef Jansen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-06-18.

Position measurement system, zeroing method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US10883816B2. Автор: Maarten Jozef Jansen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-01-05.

Position measurement system, calibration method, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US10359708B2. Автор: Teunis Jan Ikkink. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2019-07-23.

Position measuring unit, measuring system, and lithographic apparatus comprising the position measuring unit

Номер патента: JP4614929B2. Автор: デルパッシュ，エンゲルベルトゥスアントニウスフランシスカスヴァン,ロエロフループストラ，エリック. Владелец: エーエスエムエルネザーランズビー．ブイ．. Дата публикации: 2011-01-19.

POSITION MEASUREMENT SYSTEM, INTERFEROMETER SYSTEM AND LITHOGRAPHIC APPARATUS

Номер патента: US20200409274A1. Автор: SCHOORMANS Carolus Johannes Catharina,Adriaens Johannes Mathias Theodorus Antonius,VOSS Thomas. Владелец: AS ML NETHERLANDS B.V.. Дата публикации: 2020-12-31.

Method for detecting substrate position of charged particle beam photolithography apparatus and charged particle beam photolithography apparatus

Номер патента: US8237139B2. Автор: Yoshiro Yamanaka,Michihiro Kawaguchi,Kazuhiro Shiba,Kota Fujiwara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2012-08-07.

Method for detecting substrate position of charged particle beam photolithography apparatus and charged particle beam photolithography apparatus

Номер патента: US20100290023A1. Автор: Yoshiro Yamanaka,Michihiro Kawaguchi,Kazuhiro Shiba,Kota Fujiwara. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2010-11-18.

Positioning device in gantry type of construction having a position-measurement device for measuring the position of a carriage relative to a cross-member

Номер патента: US09979262B2. Автор: Ralph Coleman,Nadim Maamari. Владелец: Etel SA. Дата публикации: 2018-05-22.

Radiation source, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09414477B2. Автор: Erik Roelof Loopstra,Jan Bernard Plechelmus Van Schoot,Gerardus Hubertus Petrus Maria Swinkels. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-08-09.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US09448121B2. Автор: Sheng-Tsai Wu,Ming-Ji Dai,Heng-Chieh Chien,Jing-Yi Huang,Huey-Lin Hsieh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-09-20.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Position measurement system, grating for a position measurement system and method

Номер патента: US20150316856A1. Автор: Willem Herman Gertruda Anna Koenen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2015-11-05.

MEASUREMENT METHOD, INSPECTION APPARATUS, PATTERNING DEVICE, LITHOGRAPHIC SYSTEM AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20190171114A1. Автор: Staals Frank,Brouwer Eric Jos Anton,LUIJTEN Carlo Cornelis Maria,Vaessen Jean-Pierre Agnes Henricus Marie. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2019-06-06.

ELECTRONIC APPARATUS AND PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20190163137A1. Автор: Furusawa Masahiro,NAGANO DAISUKE,TERASHIMA Maho. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2019-05-30.

Heat transport device, electronic apparatus, and heat transport device manufacturing method

Номер патента: US20100254088A1. Автор: Mitsuo Hashimoto,Yuichi Ishida,Kazuaki Yazawa,Hiroyuki Ryoson,Tatsuhiko Shigemoto. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2010-10-07.

Lithographic apparatus and integrated circuit device manufacturing method

Номер патента: TWI261149B. Автор: Boeij Wilhelmus Petrus De,De Kerhof Marcus Adrianus Van,Marcel Maurice Hemerik. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-09-01.

Method for measuring focusing performance of lithographic apparatus, patterning device and apparatus, device manufacturing method

Номер патента: CN116157743A. Автор: 刘飞,廉晋,弗兰克·斯塔尔斯,L·C·德温特,黄壮雄. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2023-05-23.

Euv mask inspection apparatus and method, and euv mask manufacturing method including euv mask inspection method

Номер патента: US20200003685A1. Автор: Byeong-Hwan Jeon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-01-02.

Projection optical system inspecting method and inspection apparatus, and a projection optical system manufacturing method

Номер патента: US7843550B2. Автор: Yutaka Ichihara,Takashi Gemma,Mikihiko Ishii. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-11-30.

Projection optical system inspecting method and inspection apparatus, and a projection optical system manufacturing method

Номер патента: US7868997B2. Автор: Yutaka Ichihara,Takashi Gemma,Mikihiko Ishii. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2011-01-11.

Projection optical system inspecting method and inspection apparatus, and a projection optical system manufacturing method

Номер патента: US20070076181A1. Автор: Yutaka Ichihara,Takashi Gemma,Mikihiko Ishii. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2007-04-05.

Position measurement device, clamping apparatus, and rolling system

Номер патента: EP4382855A1. Автор: Hao Cai. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Distance measurement method, apparatus, and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4235092A1. Автор: Yufeng Zheng,Zhigang Guo,Houming ZHAI,Mingsong SHAO,Qiulai GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Outer Diameter Measurement Apparatus and Outer Diameter Measurement Method of Electrode Assembly

Номер патента: US20240302162A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Apparatus and method for low overhead frequency-averaged beam pattern feedback in millimeter wave positioning systems

Номер патента: WO2022103533A3. Автор: Juergen Cezanne,Vasanthan Raghavan,Sony Akkarakaran. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2022-08-04.

Apparatus and method for low overhead frequency-averaged beam pattern feedback in millimeter wave positioning systems

Номер патента: EP4244643A2. Автор: Juergen Cezanne,Vasanthan Raghavan,Sony Akkarakaran. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-09-20.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (VCSEL) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US11482830B2. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-25.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (vcsel) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US20210075185A1. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09467616B2. Автор: Takashi Kawamura,Kozo Ezawa,Shunsuke Yasugi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Apparatus and method for low overhead frequency-averaged beam pattern feedback in millimeter wave positioning systems

Номер патента: US20220200681A1. Автор: Juergen Cezanne,Vasanthan Raghavan,Sony Akkarakaran. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-06-23.

Electronic device, camera, camera system, position measurement operation control program, and position measurement operation control method

Номер патента: CN102472951A. Автор: 西村知贵. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2012-05-23.

Electronic device, camera, camera system, position measurement operation control program, and position measurement operation control method

Номер патента: WO2011001970A1. Автор: 知貴西村. Владелец: 株式会社ニコン. Дата публикации: 2011-01-06.

Vapor deposition apparatus and thin film device manufacturing method

Номер патента: JP4503701B2. Автор: 一郎塩野,友松姜,博光本多,尊則村田. Владелец: Shincron Co Ltd. Дата публикации: 2010-07-14.

Manufacturing apparatus and method of fuel cell, manufacturing method of fuel cell using the fuel cell manufacturing apparatus, electronic machine and vehicle having fuel cell manufactured by the manufacturing method

Номер патента: TW200425571A. Автор: Shuhei Yamada,Hirotsuna Miura,Mitsuru Kuribayashi,Yoshiharu Ajiki. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2004-11-16.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: EP4300194A3. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: EP4300194A2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-01-03.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US20240134294A1. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Measurement device, lithography system and exposure apparatus, and control method, overlay measurement method and device manufacturing method

Номер патента: US12007702B2. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-06-11.

Lithographic apparatus and method for measuring a position

Номер патента: US09746312B2. Автор: Hans Butler,Engelbertus Antonius Franciscus Van Der Pasch. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-08-29.

Positioning apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09523569B2. Автор: Masanori Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Method for calibrating a position-measuring system and position-measuring system

Номер патента: US09528825B2. Автор: Alexander Huebel,Carola Blaesing-Bangert. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2016-12-27.

Measuring method, adjustment method for stage movement characteristics, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US8072579B2. Автор: Yusuke Tokuyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-06.

Position-measuring device

Номер патента: US09677874B2. Автор: Peter Speckbacher,Josef Weidmann,Andrew Graham,Daniela BAYER,Tobias Gruendl. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-06-13.

Inspection apparatus, inspection method, lithographic apparatus and manufacturing method

Номер патента: NL2017123A. Автор: Staals Frank,Christiaan Hinnen Paul,Cornelis Maria Luijten Carlo,Bernhard Van Oosten Anton. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-01-24.

Electrophotographic photosensitive member, manufacturing method of electrophotographic photosensitive member, process cartridge and electrophotographic apparatus, and a solid solution and manufacturing method of a solid solution

Номер патента: US09459545B2. Автор: Masato Tanaka,Tsutomu Nishida,Masataka Kawahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-10-04.

X-ray position measuring apparatus, position measuring method of X-ray position measuring apparatus and position measuring program of X-ray position measuring apparatus

Номер патента: TW201229455A. Автор: Taku Asuka,Tsuneo Kashimura. Владелец: Seiko Precision Kk. Дата публикации: 2012-07-16.

Position measurement system, work machine, and position measurement method

Номер патента: WO2018147340A1. Автор: 博義山口,大樹菅原,保雄金光,彰吾厚見. Владелец: 株式会社小松製作所. Дата публикации: 2018-08-16.

Package measuring apparatus, package accepting system, package measuring method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US11836941B2. Автор: Youhei Nishi. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2023-12-05.

Position and orientation measurement apparatus, position and orientation measurement method, and storage medium

Номер патента: WO2012011608A1. Автор: Shinji Uchiyama,Daisuke Kotake. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-26.

Gas supply module, fluid handling system, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: WO2024170178A1. Автор: Marc Léon VAN DER GAAG,Maarten HOLTRUST,Seyed Amin RAZAVIEH,Leonarda Hendrika VAN DEN HEUVEL. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-22.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09977341B2. Автор: Henrikus Herman Marie Cox. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-22.

Position measurement method, lithographic apparatus, lithographic cell and device manufacturing method

Номер патента: KR102128523B1. Автор: 시몬 기스버트 요세푸스 마티센,랄프 브린크호프,마이켈 로버트 구센,바실리 데메르기스,바르톨로메우스 페트루스 리페르스. Владелец: 에이에스엠엘 홀딩 엔.브이.. Дата публикации: 2020-07-01.

Position measurement system, position measurement method, position measurement instruction method, recording medium with position measurement instruction program recorded, and vehicle control apparatus

Номер патента: US11762101B2. Автор: Satoshi Hasegawa,Fumiaki Yamaguchi,Katsuyasu Yamane,Seonghun LEE. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Signal transmission method and device

Номер патента: US12095698B2. Автор: REN Da,Bin Ren,Deshan Miao. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Determination of a positioning measurement for positioning calculation

Номер патента: WO2024211337A1. Автор: Tao Deng,Paul Marinier,Fumihiro Hasegawa,Moon-Il Lee,Tuong Duc HOANG. Владелец: INTERDIGITAL PATENT HOLDINGS, INC.. Дата публикации: 2024-10-10.

Alignment apparatus, control method therefor, exposure apparatus, device manufacturing method, semiconductor manufacturing factory, and exposure apparatus maintenance method

Номер патента: US7016049B2. Автор: Hiroshi Kurosawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2006-03-21.

Position measurement system, exposure apparatus, position measuring method, exposure method and device manufacturing method, and tool and measuring method

Номер патента: US8243257B2. Автор: Yuho Kanaya. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2012-08-14.

Position measuring system, exposure apparatus, position measuring method, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: EP2187430B1. Автор: Yuho Kanaya. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-10-03.

Positioning method, apparatus, and device

Номер патента: US11914060B2. Автор: Yi Wang,Jun Zhu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

POSITION MEASUREMENT SYSTEM, EXPOSURE APPARATUS, POSITION MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE METHOD, DEVICE MANUFACTURING METHOD, TOOL AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: JP5489068B2. Автор: 有歩金谷. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

POSITION MEASUREMENT SYSTEM, EXPOSURE APPARATUS, POSITION MEASUREMENT METHOD, EXPOSURE METHOD, DEVICE MANUFACTURING METHOD, TOOL AND MEASUREMENT METHOD

Номер патента: JPWO2009013905A1. Автор: 有歩金谷,金谷　有歩. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2010-09-30.

Positioning method and device

Номер патента: US11997638B2. Автор: Yi Wang,Zhenyu Shi,Yingjie Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

Configuring positioning measurements and reports

Номер патента: US20230345408A1. Автор: Robin Thomas,Ankit BHAMRI,Alexander Johann Maria Golitschek Edler Von Elbwart. Владелец: Lenovo Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Reporting positioning measurements

Номер патента: US20230204705A1. Автор: Vijay Nangia,Hyejung Jung,Ravi Kuchibhotla,Robin Thomas,Ankit BHAMRI,Karthikeyan Ganesan,Hossein Bagheri. Владелец: Lenovo Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Overlay management method and apparatus, processing apparatus, measurement apparatus and exposure apparatus, device manufacturing system and device manufacturing method, and program and information recording medium

Номер патента: US20080286667A1. Автор: Shinichi Okita. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-11-20.

Positioning measurement and interruption events

Номер патента: EP4392800A1. Автор: Yujie Zhang,Basuki PRIYANTO. Владелец: Sony Europe BV. Дата публикации: 2024-07-03.

Shape measuring method, shape measuring apparatus, tilt measuring method, stage apparatus, exposure apparatus, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: JPWO2004051184A1. Автор: 三郎神谷,豊金究,神谷　三郎. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2006-04-06.

Measurement method and encoder device, and exposure method and device

Номер патента: US20180259368A1. Автор: Zhigiang Liu. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-09-13.

Measurement method and encoder device, and exposure method and device

Номер патента: US20190063959A1. Автор: Zhigiang Liu. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-02-28.

Measurement method and encoder device, and exposure method and device

Номер патента: US09983028B2. Автор: Zhigiang Liu. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Shape measurement method, shape measurement device, tilt measurement method, stage device, exposure device, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: WO2004051184A1. Автор: Saburo Kamiya,Yutaka Kanakutsu. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2004-06-17.

Substrate transport apparatus and substrate transport method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing apparatus and device manufacturing method

Номер патента: JP4319188B2. Автор: 篤太田,貴史堀内. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-08-26.

Method for manufacturing damper device, lithographic apparatus, projection system, and device manufacturing method

Номер патента: US11835106B2. Автор: Derk TEN HOOPEN,Francois-Xavier DEBIESME,Eric Pierre-Yves VENNAT. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2023-12-05.

Check equipment, inspection method, lithographic equipment, patterning apparatus and manufacture method

Номер патента: CN107710073A. Автор: A·B·范奥斯滕,P·C·欣南,R·C·M·德克鲁夫,R·J·索查. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-02-16.

Measurement method, inspection apparatus, patterning device, lithographic system and device manufacturing method

Номер патента: EP3492984A1. Автор: Frank Staals,Eric Jos Anton Brouwer,Carlo Cornelis Maria LUIJTEN. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2019-06-05.

Method for Manufacturing Damper Device, Lithographic Apparatus, Projection System, and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20210079971A1. Автор: TEN HOOPEN Derk,DEBIESME Francois-Xavier,VENNAT Eric Pierre-Yves. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-03-18.

Method for manufacturing damper device, lithographic apparatus, projection system, and device manufacturing method

Номер патента: WO2019115134A1. Автор: Derk TEN HOOPEN,Francois-Xavier DEBIESME,Eric Pierre-Yves VENNAT. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2019-06-20.

OPTICAL DISTORTION MEASURING APPARATUS AND OPTICAL DISTORTION MEASURING METHOD, IMAGE PROCESSING SYSTEM, ELECTRONIC APPARATUS AND DISPLAY APPARATUS

Номер патента: US20210247320A1. Автор: Liu Yali,Zhang Shuo,CHEN Lili,Sun Jiankang,XUE Hongzhen,Ma Fuqiang. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-12.

Setpoint Generator, Lithographic Apparatus, Lithographic Apparatus Operating Method, and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20200174381A1. Автор: Pieterse Gerben,Van Bokhoven Laurentius Johannes Adrianus,VAN GILS Petrus Franciscus,VAN DAMME Jean-Philippe Xavier. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2020-06-04.

CONTROL APPARATUS AND CONTROL METHOD, EXPOSURE APPARATUS AND EXPOSURE METHOD, DEVICE MANUFACTURING METHOD, DATA GENERATING METHOD AND PROGRAM

Номер патента: US20200257205A1. Автор: YASHIKI Satoshi. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2020-08-13.

A stage system, stage system operating method, inspection tool, lithographic apparatus, calibration method and device manufacturing method

Номер патента: WO2021155990A1. Автор: Yang-Shan Huang,Raimond Visser. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2021-08-12.

Lithographic apparatus, control system and device manufacturing method

Номер патента: US8045134B2. Автор: Marcus Adrianus Van De Kerkhof,Johannes Henricus Wilhelmus Jacobs,Tammo Uitterdijk,Nicolas Alban Lallemant. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-10-25.

Lithographic apparatus, control system and device manufacturing method

Номер патента: US9482967B2. Автор: Marcus Adrianus Van De Kerkhof,Johannes Henricus Wilhelmus Jacobs,Tammo Uitterdijk,Nicolas Alban Lallemant. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-11-01.

Lithographic apparatus, control system and device manufacturing method

Номер патента: KR100714468B1. Автор: 한스 버틀러. Владелец: 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이.. Дата публикации: 2007-05-04.

Lithographic apparatus, lens interferometer and device manufacturing method

Номер патента: CN101055430B. Автор: M·A·范德科克霍夫. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-02-09.

Lithographic apparatus, radiation system and device manufacturing method

Номер патента: US20070001126A1. Автор: Vladimir Ivanov,Vadim Banine,Konstantin Koshelev,Givi Zukavishvili,Robert Gayazov,Evgenii Korob,Yurii Sidelnikov. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2007-01-04.

Setpoint generator, lithographic apparatus operating method, and device manufacturing method

Номер патента: CN110663003A. Автор: G·彼得斯,让-菲利普·泽维尔·范达默,L·J·A·凡鲍克霍文,P·F·范吉欧斯. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-01-07.

Lithographic apparatus, excimer laser and device manufacturing method

Номер патента: US7817247B2. Автор: Richard Joseph Bruls,Erik Petrus Buurman,Robertus Cornelis Martinus De Kruif,Johannes Wilhelmus Maria Cornelis Teeuwsen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2010-10-19.

Lithographic apparatus, control system and device manufacturing method

Номер патента: KR100861076B1. Автор: 마르쿠스 아드리아누스 반 데 케르크호프,탐모 우이터디예크,요한네스 헨리쿠스 빌헬무스 야콥스,니콜라스 알반 랄망. Владелец: 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이.. Дата публикации: 2008-09-30.

Lithographic apparatus, excimer laser and device manufacturing method

Номер патента: US9316924B2. Автор: Richard Joseph Bruls,Erik Petrus Buurman,Robertus Cornelis Martinus De Kruif,Johannes Wilhelmus Maria Cornelis Teeuwsen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-04-19.

Stage system, stage system operating method, inspection tool, lithographic apparatus, calibration method and device manufacturing method

Номер патента: CN115023654A. Автор: 黄仰山,R·维色. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2022-09-06.

Lithographic apparatus, excimer laser, and device manufacturing method

Номер патента: JP4580338B2. Автор: コーネリスマルティヌスデクルイフロベルトゥス,ジョゼフブルスリカルト,ヴィルヘルムスマリアコーネリステーヴセンヨハネス,ペトルスブールマンエリック. Владелец: エーエスエムエルネザーランズビー．ブイ．. Дата публикации: 2010-11-10.

Lithographic apparatus, contaminant trap, and device manufacturing method

Номер патента: CN1892441B. Автор: V·Y·巴尼内,L·A·斯杰梅诺克,J·J·史米特斯,L·A·范登维尔登波格,A·A·施米特,A·C·瓦辛克,P·P·A·A·布罗姆,E·L·W·弗帕兰,A·J·范德帕斯. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-04-06.

Lithographic apparatus, excimer laser and device manufacturing method

Номер патента: US20060146310A1. Автор: Thomas Castenmiller,Erik Buurman,Richard Bruls,Robertus De Kruif,Johannes De Klerk. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-07-06.

Substrate conveyance device and substrate conveyance method, exposure apparatus and exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method

Номер патента: US20110261330A1. Автор: Takashi Horiuchi,Atsushi Ohta. Владелец: Zao Nikon Co Ltd. Дата публикации: 2011-10-27.

Lithographic apparatus, control system and device manufacturing method

Номер патента: US20070211233A1. Автор: Johannes Jacobs,Tammo Uitterdijk,Marcus Van De Kerkhof,Nicolas Lallemant. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2007-09-13.

Control apparatus and control method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method, data generating method and program

Номер патента: US11537051B2. Автор: Satoshi Yashiki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2022-12-27.

Control apparatus and control method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method, data generating method and program

Номер патента: US20200257205A1. Автор: Satoshi Yashiki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

SUBSTRATE CONVEYANCE DEVICE AND SUBSTRATE CONVEYANCE METHOD, EXPOSURE APPARATUS AND EXPOSURE METHOD, DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20130094006A1. Автор: OHTA Atsushi,HORIUCHI Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-18.

Substrate conveyance device and substrate conveyance method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method

Номер патента: US7995186B2. Автор: Takashi Horiuchi,Atsushi Ohta. Владелец: Zao Nikon Co Ltd. Дата публикации: 2011-08-09.

Substrate conveyance device and substrate conveyance method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method

Номер патента: US8107055B2. Автор: Takashi Horiuchi,Atsushi Ohta. Владелец: Zao Nikon Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-31.

Substrate conveyance device and substrate conveyance method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method

Номер патента: US9110381B2. Автор: Takashi Horiuchi,Atsushi Ohta. Владелец: Miyagi Nikon Precision Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-18.

Substrate conveyance device and substrate conveyance method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method

Номер патента: US9097986B2. Автор: Takashi Horiuchi,Atsushi Ohta. Владелец: Miyagi Nikon Precision Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-04.

Substrate conveyance device and substrate conveyance method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method

Номер патента: US20070296940A1. Автор: Takashi Horiuchi,Atsushi Ohta. Владелец: Zao Nikon Co Ltd. Дата публикации: 2007-12-27.

Substrate conveyance device and substrate conveyance method, exposure apparatus and exposure method, device manufacturing method

Номер патента: US20070110916A1. Автор: Takashi Horiuchi,Atsushi Ohta. Владелец: Zao Nikon Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-17.

MEASUREMENT METHOD AND ENCODER DEVICE, AND EXPOSURE METHOD AND DEVICE

Номер патента: US20190063959A1. Автор: LIU Zhigiang. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-28.

MEASUREMENT METHOD AND ENCODER DEVICE, AND EXPOSURE METHOD AND DEVICE

Номер патента: US20150160044A1. Автор: LIU Zhigiang. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2015-06-11.

MEASUREMENT METHOD AND ENCODER DEVICE, AND EXPOSURE METHOD AND DEVICE

Номер патента: US20180259368A1. Автор: LIU Zhigiang. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2018-09-13.

Lithographic projection apparatus and integrated circuit device manufacturing method

Номер патента: TW573234B. Автор: Josephus Johannes Maria Braat,Florian Bociort,Matthieu Frederic Bal. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2004-01-21.

Heating temperature measurement circuit and temperature measurement method therefor, and cooking apparatus and storage medium

Номер патента: EP4043847A1. Автор: Liang Zheng,Jun LEI,Shufeng Huang,Yunfeng Wang,Deyong JIANG,Zhihai MA. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-17.

Projection optical apparatus, exposure method and apparatus, photomask, and device and photomask manufacturing method

Номер патента: US20080165334A1. Автор: Hitoshi Hatada,Masato Kumazawa. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-07-10.

Lithographic apparatus, radiation system, contaminant trap, device manufacturing method, and method for trapping contaminants in a contaminant trap

Номер патента: US7307263B2. Автор: Vadim Yevgenyevich Banine,Frank Jeroen Pieter Schuurmans,Levinus Pieter Bakker,Cornelis Petrus Andreas Maria Luijkx. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2007-12-11.

A lithographic apparatus, a radiation system, a device manufacturing method and a radiation generating method.

Номер патента: NL2003610A. Автор: Kurt Gielissen,Olav Frijns,Johannes Franken. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2010-06-23.

Lithographic apparatus, a system and a device manufacturing method

Номер патента: EP1672431A1. Автор: Kars Zeger Troost,Karel Diederick VAN DER Mast. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-06-21.

Lithographic Apparatus, a Radiation System, a Device Manufacturing Method and a Radiation Generating Method

Номер патента: US20110242516A1. Автор: Johannes Christiaan Leonardus Franken,Olav Waldemar Vladimir Frijns,Kurt Gielissen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-10-06.

Optical mask for focus monitor, monitoring method and device, and its manufacturing method

Номер патента: CN1412620A. Автор: 中尾修治,宫本由纪,玉田尚久,前岛伸六. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2003-04-23.

Polarized light irradiation apparatus and photosensitive film-coated substrate manufacturing method

Номер патента: US10571808B2. Автор: Kohshiroh Taniike. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2020-02-25.

Polarized light irradiation apparatus and photosensitive film-coated substrate manufacturing method

Номер патента: US20190171112A1. Автор: Kohshiroh Taniike. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2019-06-06.

POLARIZED LIGHT IRRADIATION APPARATUS AND PHOTOSENSITIVE FILM-COATED SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20190171112A1. Автор: TANIIKE Kohshiroh. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-06.

Flying object position measuring apparatus, flying object position measuring method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US11061049B2. Автор: Akihiro Yamane,Takashi Nagayama,Takeshi Kibayashi,Yoichi Onomura. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-07-13.

Flying object position measuring apparatus, flying object position measuring method, and non-transitory storage medium

Номер патента: US20180203031A1. Автор: Akihiro Yamane,Takashi Nagayama,Takeshi Kibayashi,Yoichi Onomura. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2018-07-19.

Host vehicle position measuring device and host vehicle position measuring method

Номер патента: US20240077623A1. Автор: Takefumi Hasegawa,Kyosuke KONISHI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

Flow rate measurement apparatus, antigen concentration measurement apparatus, flow cell, flow rate measurement method, and antigen concentration measurement method

Номер патента: US09880101B2. Автор: Toru Miura,Tsutomu Horiuchi,Tsuneyuki Haga,Tsuyoshi Hayashi,Yuzuru Iwasaki,Michiko Seyama,Jun-ichi Takahashi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Light measuring apparatus, light measuring system, light measurement method, display adjustment system, and adjustment method

Номер патента: US20240242653A1. Автор: Tomohiro Murata,Tomohiro Kiriyama,Tomohiro Fukamizu. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-18.

Gas measurement apparatus, gas measurement system, gas measurement method, and gas measurement program

Номер патента: US09863932B2. Автор: Yasuhiro Kasahara,Miyuki Kodama,Naotaka Minagawa,Ayumi Sano. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20170219432A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US10175108B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Electrification quantity measurement apparatus, electrification quantity measurement method, static electricity discharge detection apparatus, and static electricity discharge detection method

Номер патента: US20020186016A1. Автор: Noriyuki Kodama. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Magnetic flux measuring device and magnetic flux measuring method for stationary induction electrical apparatus, and synchronous switching controlgear for circuit breaker

Номер патента: CA2666733C. Автор: Minoru Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-07-29.

Electrode sheet manufacturing apparatus and power storage device manufacturing method

Номер патента: US20240189948A1. Автор: Takahiro Sakurai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

All-solid-state battery manufacturing apparatus and all-solid-state battery manufacturing method

Номер патента: US20220013805A1. Автор: Kazumasa Inata,Masato Ono,Takuya Sakamoto,Tomoya Hioki,Yuki NISHIBU,Yosuke KOIDE. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2022-01-13.

Position-measuring device and method for testing a clock signal

Номер патента: US09869547B2. Автор: Michael Walter,Bernhard Beaury,Markus Mooshammer,Stephan Kreuzer,Peter Spindler,Alexander Kobler. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-01-16.

Ink droplet volume measuring apparatus and ink droplet volume measuring method using the same, and thin film layer forming apparatus using the measuring apparatus, and manufacturing method of display apparatus using the thin film layer forming apparatus

Номер патента: US20240251648A1. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Position measuring device for a rotary electric machine stator unit

Номер патента: US20230194316A1. Автор: Rachid Hamdi. Владелец: Valeo Equipements Electriques Moteur SAS. Дата публикации: 2023-06-22.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Measuring method and device for measuring deflections at stator end windings

Номер патента: AU2016201822A1. Автор: Peter Ullrich Arend. Владелец: General Electric Technology GmbH. Дата публикации: 2016-10-13.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Overlap measuring apparatus and overlap measuring method

Номер патента: US20170254638A1. Автор: Takahiro Tsukamoto. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-09-07.

Hybrid angular position measurement sensor

Номер патента: RU2727345C1. Автор: Виктор Федорович Заец,Владимир Сергеевич Кулабухов,Николай Алексеевич Туктарев,Александр Алексеевич Цацин. Владелец: Акционерное общество Московский научно-производственный комплекс "Авионика" имени О.В. Успенского (АО МНПК "Авионика"). Дата публикации: 2020-07-21.

Improvements in or relating to Digital Position Measuring Devices

Номер патента: GB1183604A. Автор: . Владелец: Olivetti SpA. Дата публикации: 1970-03-11.

Three dimensional measurement apparatus and three dimensional measurement method

Номер патента: US20120154540A1. Автор: Motomi Tsuyuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Optical position-measuring device

Номер патента: US11828630B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Christoph Lingk,Daniel Frese. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2023-11-28.

Position measuring device, position measuring method, and recording medium

Номер патента: US11783497B2. Автор: Masaaki Kikuchi. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-10.

Biomagnetism measurement apparatus, biomagnetism measurement system, biomagnetism measurement method, and recording medium

Номер патента: US20220296143A1. Автор: Jun Hashimoto,Koki Ishida,Shigenori Kawabata,Taishi WATANABE. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2022-09-22.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Substrate positioning system, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09470988B2. Автор: Engelbertus Antonius Fransiscus Van Der Pasch,Willem Herman Gertruda Anna Koenen,Frank Auer,Andre Bernardus Jeunink,Peterjan BROOMANS,Sebastiaan SMIT,Joris Wilhelmus Henricus VERMUNT,Johannes Mathias Theodorus Antonius Adriaens,Albert Johannes Maria Jansen,Suzanne Johanna Antonetta Geertruda COSIJNS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-10-18.

POSITION MEASUREMENT SYSTEM, WORK MACHINE, AND POSITION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210209799A1. Автор: Yamaguchi Hiroyoshi,Sugawara Taiki,Kanemitsu Yasuo,Atsumi Shogo. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-08.

Lithographic apparatus, alignment method and device manufacturing method

Номер патента: EP1338924A3. Автор: Henricus Wilhelmus Maria Van Buel,Cheng-Qun Gui,Keith Best,Alex Friz,Joe Consolini. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2004-12-22.

Positioning method and apparatus, and terminal and device

Номер патента: EP4240027A1. Автор: REN Da,HUI Li,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-06.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

An Alignment tool, A Lithographic Apparatus, An Alignment Method, A Device Manufacturing Method and Device Manufactured thereby

Номер патента: KR100549780B1. Автор: 요에리 로프,프란시스쿠스 고데프리두스 카스퍼 비요넨,부엘 헨리쿠스 빌헬무스 마리아 판,쳉-쿤 귀. Владелец: 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이.. Дата публикации: 2006-02-06.

An alignment tool, a lithographic apparatus, an alignment method, a device manufacturing method and device manufactured thereby

Номер патента: TWI249653B. Автор: Joeri Lof,Cheng-Qun Gui,Fransiscus Godefridus C Bijnen,Buel Henricus Wilhelmus Ma Van. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-02-21.

Alignment tool, a lithographic apparatus, an alignment method, a device manufacturing method and device manufactured thereby

Номер патента: US20040108466A1. Автор: Joeri Lof,Cheng-Qun Gui,Fransiscus Bijnen,Henricus Van Buel. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2004-06-10.

Stretchable display panel and device and manufacturing method of the same

Номер патента: US12033544B2. Автор: Hyunju Jung,Eunah Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

A position measurement system, a positioning system, a lithographic apparatus, and a device manufacturing method

Номер патента: US20240361706A1. Автор: Marcus Adrianus Van De Kerkhof. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-31.

Lithographic apparatus, device manufacturing method and associated data processing apparatus and computer program product

Номер патента: US09983485B2. Автор: Erik Willem BOGAART. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-05-29.

Lithographic apparatus, alignment system, and device manufacturing method

Номер патента: US20060061743A1. Автор: Arie Den Boef,Irwan Setija,Andre Jeunink,Henricus Maria Pellemans,Cas Johannes Petrus Van Nuenen,Stefan Carolus Jacobus Keij. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-03-23.

Lithographic apparatus, alignment system, and device manufacturing method

Номер патента: US20060215161A1. Автор: Arie Den Boef,Henricus Pellemans,Irwan Setija,Andre Jeunink,Cas Johannes Van Nuenen,Stefan Carolus Keij. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-09-28.

Liquid crystal device, electronic apparatus, and liquid crystal device manufacturing method

Номер патента: JP6169482B2. Автор: 裕紀杉山,健夫小糸. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2017-07-26.

Method of controlling a lithographic processing cell, device manufacturing method, lithographic apparatus, track unit, lithographic processing cell, and computer program

Номер патента: US20060197929A1. Автор: Johannes Onvlee,Roel Boumen,Norbertus Van Den Nieuwelaar. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-09-07.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Stretchable display panel and device and manufacturing method of the same

Номер патента: US20200111390A1. Автор: Hyunju Jung,Eunah Kim. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-09.

Method and device for user equipment positioning

Номер патента: US12041572B2. Автор: Nathan Edward Tenny,Philippe Reininger. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Beam position measuring apparatus and method

Номер патента: US20110149301A1. Автор: Vladimir Protopopov,Oui Serg Kim,Dong Seok BAEK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-06-23.

Communication method and device for positioning measurement

Номер патента: US12096262B2. Автор: Mao Yan,Huang Huang,Lei Chen,Peng Guan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Method and device for determining proximity of electronic device

Номер патента: EP4132018A1. Автор: Mykola ALIEKSIEIEV,Roman Gush,Stanislav PEDAN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-08.

Positioning method, apparatus, and system

Номер патента: US09801088B2. Автор: Hong Li,Jie Cui,Dengkun Xiao,Jiangbo ZHU,Mir YASIR. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Positioning method and apparatus based on downlink (dl) channel information, and device

Номер патента: US20240064687A1. Автор: REN Da,HUI Li,Xiaotao Ren,Qiubin Gao,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Lithographic apparatus and method to calibrate a position measurement system of a lithographic apparatus

Номер патента: WO2024165259A1. Автор: Tom Van Zutphen. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-15.

Positioning method and device

Номер патента: EP4152774A1. Автор: REN Da,Gang Li,Zhenyu Zhang,Shaohui Sun,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-22.

Positioning measurement reporting

Номер патента: EP4409984A1. Автор: Tao Tao,Ryan Keating,Hyun-Su Cha. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-08-07.

Positioning measurement method and apparatus

Номер патента: US20230370995A1. Автор: Yinghao JIN,Jinping HAO,Yinghao GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Terminal position determination method and device, and storage medium

Номер патента: EP3886510A1. Автор: Gang Zeng,Lihong PU,Gongcai Zhou. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2021-09-29.

Positioning method and apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4436276A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Variable magnification optical system, optical apparatus, and variable magnification optical system manufacturing method

Номер патента: JPWO2016017724A1. Автор: 幸介町田. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-04-27.

Photomask, exposure apparatus, and liquid crystal display panel manufacturing method

Номер патента: JPWO2011111479A1. Автор: 貴浩平子. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2013-06-27.

Position measurement apparatus, overlay inspection apparatus, position measurement method, imprint apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20210263432A1. Автор: Toshiki Iwai,Takamitsu Komaki,Tomokazu Taki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-08-26.

Resource configuration method and apparatus, and resource determination method and apparatus

Номер патента: EP4280736A1. Автор: Xiaolong Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-22.

Methods, apparatuses and systems directed to idle/inactive mode positioning in nr

Номер патента: EP4398666A2. Автор: Alpaslan Demir,Janet Stern-Berkowitz,Arnab Roy,Mihaela Beluri,Sanjay Goyal,Muhammad Fazili,Kevin T Wanuga. Владелец: InterDigital Patent Holdings Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Positionining measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240288570A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Methods, apparatuses and systems directed to idle/inactive mode positioning in nr

Номер патента: EP4398666A3. Автор: Alpaslan Demir,Janet Stern-Berkowitz,Arnab Roy,Mihaela Beluri,Sanjay Goyal,Muhammad Fazili,Kevin T Wanuga. Владелец: InterDigital Patent Holdings Inc. Дата публикации: 2024-10-02.

Communication apparatus and associated estimation method

Номер патента: US9157947B2. Автор: Liang-Wei Huang,Hsuan-Ting Ho,Sheng-Fu Chuang,Su-liang Liao. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2015-10-13.

Position determining method and apparatus, and communication device and storage medium

Номер патента: EP4192040A1. Автор: Wei Hong. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-07.

Methods and devices for dual-direction positioning of a device

Номер патента: US12058640B2. Автор: Basuki PRIYANTO,Anders Berggren,Peter Karlsson. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Techniques for enabling backscatter-based positioning measurements

Номер патента: US20240255634A1. Автор: Junyi Li,Xiaoxia Zhang,Xiaojie Wang,Jing Sun. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Positioning measurement method and apparatus therefor

Номер патента: US20240314729A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Techniques for enabling backscatter-based positioning measurements

Номер патента: WO2024163122A1. Автор: Junyi Li,Xiaoxia Zhang,Xiaojie Wang,Jing Sun. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2024-08-08.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: NL2017120A. Автор: Godefridus Casper Bijnen Franciscus,Maria Hulsebos Edo. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-01-17.

Movable body drive method and movable body drive system, pattern formation method and apparatus, exposure method and apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090040488A1. Автор: Yuichi Shibazaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2009-02-12.

Positioning processing method, apparatus, and system

Номер патента: US09699760B2. Автор: Jie Cui,Zhuo Chen,Dengkun Xiao. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Lithographic apparatus and exposure method

Номер патента: US20090073402A1. Автор: Dirk-Jan Bijvoet,Anton Adriaan Bijnagte. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2009-03-19.

Configuration of position measurement reports

Номер патента: US20240236916A1. Автор: Oana-Elena Barbu,Diomidis Michalopoulos. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-07-11.

Telecommunications apparatus and methods

Номер патента: US11722842B2. Автор: Shinichiro Tsuda,Vivek Sharma,Hideji Wakabayashi,Yuxin Wei,Anders Berggren. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Enhancements on satellite positioning measurement

Номер патента: US20240255651A1. Автор: PING Yuan,Jing Yuan Sun. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-08-01.

Enhanced positioning measurement report and enhanced measurement period

Номер патента: EP4211483A1. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Krishna Kiran Mukkavilli,Alexandros Manolakos,Weimin Duan. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-07-19.

Configuration of a joint sensing and positioning measurement

Номер патента: WO2024171166A1. Автор: Genadi Velev,Ali Ramadan ALI,Robin Rajan THOMAS,Seyedomid TAGHIZADEH MOTLAGH. Владелец: Lenovo (Singapore) Pte. Ltd.. Дата публикации: 2024-08-22.

Positioning measurement configuration based on positioning discovery results

Номер патента: EP4402502A1. Автор: Srinivas YERRAMALLI,Mukesh Kumar,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-07-24.

Positioning measurement procedure under rrc state transition

Номер патента: EP4420443A1. Автор: Muhammad Ali Kazmi,Santhan THANGARASA,Ritesh SHREEVASTAV,Venkatarao Gonuguntla,Dominik Frank. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2024-08-28.

Aggregated positioning measurements and reporting

Номер патента: WO2024228176A1. Автор: Karthikeyan Ganesan,Robin Rajan THOMAS. Владелец: Lenovo (Singapore) Pte. Ltd.. Дата публикации: 2024-11-07.

Detecting multipath and determining positioning measurement uncertainty

Номер патента: US09467803B2. Автор: Yang Zhang,Iana Siomina. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2016-10-11.

Lithographic apparatus, device manufacturing method and associated data processing apparatus and computer program product.

Номер патента: NL2013668A. Автор: Daan Maurits SLOTBOOM,Wim Tjibbo Tel,Hakki Ergün Cekli,xing lan Liu,Stefan Cornelis Theodorus Sanden,Richard Johannes Franciscus Haren. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2015-07-13.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US10866529B2. Автор: Michael Johannes Vervoordeldonk,Hans Butler,Maurice Willem Jozef Etiënne Wijckmans. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2020-12-15.

A position measurement system, a positioning system, a lithographic apparatus, and a device manufacturing method

Номер патента: EP4367557A1. Автор: Marcus Adrianus Van De Kerkhof. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-05-15.

Reporting positioning measurements

Номер патента: EP4158791A1. Автор: Vijay Nangia,Hyejung Jung,Ravi Kuchibhotla,Robin Thomas,Ankit BHAMRI,Karthikeyan Ganesan,Hossein Bagheri. Владелец: Lenovo Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Reporting the number of samples and positioning reference signal (prs) instances associated with a positioning measurement

Номер патента: US20240244567A1. Автор: Srinivas YERRAMALLI,Mukesh Kumar,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Reducing positioning measurement latency in wireless networks

Номер патента: US12047810B2. Автор: AKASH Kumar,Stephen William Edge. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Neural network functions for positioning measurement data processing at a user equipment

Номер патента: WO2022031659A1. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Pavan Kumar Vitthaladevuni,Taesang Yoo,June Namgoong. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2022-02-10.

Apparatus and method for mask metrology

Номер патента: WO2008071269A8. Автор: Stefan Xalter,Yim-Bun-Patrick Kwan. Владелец: Zeiss Carl Sms Gmbh. Дата публикации: 2008-09-12.

Reducing positioning measurement latency in wireless networks

Номер патента: EP4409314A1. Автор: AKASH Kumar,Stephen William Edge. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

New radio (nr) positioning measurement with reduced latency

Номер патента: US20240284386A1. Автор: Hua Li,Rui Huang,Meng Zhang,Ilya BOLOTIN,Andrey Chervyakov. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2024-08-22.

Selective triggering of neural network functions for positioning measurement feature processing at a user equipment

Номер патента: US12120580B2. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Pavan Kumar Vitthaladevuni,Taesang Yoo,June Namgoong. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Lithographic apparatus and device manufacturing method.

Номер патента: NL2016156A. Автор: BUTLER Hans,Alexander Hoogendam Christiaan,Antonius Fransiscus Van Der Pasch Engelbertus,Willem Jozef Etiënne Wijckmans Maurice,Antonius Johannes Luttikhuis Bernardus. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2016-09-30.

Method And Device For Detecting Potential Pinches

Номер патента: US20240133224A1. Автор: Mateusz ROMASZKO,Grzegorz WYSZYNSKI,Pawel Wojtasinski. Владелец: Aptiv Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Methods and apparatus for reception point positioning measurements

Номер патента: US12019148B2. Автор: Srinivas YERRAMALLI,Xiaoxia Zhang,Mostafa KHOSHNEVISAN,Marwen Zorgui. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Methods and apparatus for reception point positioning measurements

Номер патента: US20230087450A1. Автор: Srinivas YERRAMALLI,Xiaoxia Zhang,Mostafa KHOSHNEVISAN,Marwen Zorgui. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-03-23.

Reception point positioning measurements

Номер патента: EP4402501A1. Автор: Srinivas YERRAMALLI,Xiaoxia Zhang,Mostafa KHOSHNEVISAN,Marwen Zorgui. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-07-24.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20060066833A1. Автор: Raimond Visser,Jan Kuit,Johannes Maquine,Dirk Bijvoet,Jan Hoogkamp,Hubert Segers. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2006-03-30.

Metrology method and apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US09535342B2. Автор: Patrick Warnaar,Hendrik Jan Hidde SMILDE. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-01-03.

Method and device for measurements of positioning in transmission systems with multiple antennas

Номер патента: RU2556241C2. Автор: Яна СИОМИНА,Ингве СЕЛЕН. Владелец: ТЕЛЕФОНАКТИЕБОЛАГЕТ Л М ЭРИКССОН (ПАБЛ). Дата публикации: 2015-07-10.

Method, system and device for implementing positioning measurement

Номер патента: US20130040664A1. Автор: Dajun Zhang,Jiayi Fang,Haiyang Quan. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2013-02-14.

Positioning method and device

Номер патента: US20230180172A1. Автор: REN Da,Gang Li,Zhenyu Zhang,Shaohui Sun,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Measurement gaps for positioning measurements outside bandwidth part

Номер патента: EP4022962A1. Автор: Sven Fischer,Sony Akkarakaran,Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-07-06.

Fluid handling structure, lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: SG172638A1. Автор: Koen Steffens,Daniel Jozef Maria Direcks,Danny Maria Hubertus Philips,Den Dungen Clemens Johannes Gerardus Van,Putten Arnold Jan Van. Владелец: Asml Netherlands B V Nl. Дата публикации: 2011-07-28.

An absolute position measuring device and a method of performing an absolute position measurement

Номер патента: EP2923178A1. Автор: Paul Louis Maria Joseph van Neer,Michiel Peter Oderwald,Maurits Sebastiaan van der Heiden. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2015-09-30.

Methods for Signaling Positioning Measurements Between Nodes

Номер патента: US20240284384A1. Автор: Ritesh SHREEVASTAV,Gino Luca Masini,Yazid LYAZIDI. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2024-08-22.

Methods for signaling positioning measurements between nodes

Номер патента: WO2023022640A1. Автор: Ritesh SHREEVASTAV,Gino Luca Masini,Yazid LYAZIDI. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2023-02-23.

Positioning measurement request including number of paths

Номер патента: EP4454365A1. Автор: Florent Munier,Mohammed Yazid LYAZIDI. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2024-10-30.

Terminal positioning method and device

Номер патента: US20230309056A1. Автор: REN Da,HUI Li,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement method and apparatus for positioning, and storage medium

Номер патента: US20230362867A1. Автор: REN Da,HUI Li,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Terminal positioning method and device

Номер патента: EP4161107A1. Автор: REN Da,HUI Li,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-05.

Reference signal transmission method and apparatus, and device and readable storage medium

Номер патента: EP4231770A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Measurement gaps for positioning measurements outside bandwidth part

Номер патента: WO2021040945A1. Автор: Sven Fischer,Sony Akkarakaran,Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-03-04.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Positioning measurement information reporting method, terminal, and network device

Номер патента: EP3952411A1. Автор: YE Si,Peng Sun,Huaming Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20110273679A1. Автор: Youri Johannes Laurentius Maria Van Dommelen,Paulus Martinus Maria Liebregts,Gert-Jan Gerardus Johannes Thomas Brands,Johannes Henricus Wilhelmus Jacobs,Marco Koert Stavenga,Jan Cornelis Van Der Hoeven,Richard Joseph Bruls,Rudy Jan Maria Pellens,Vijay Kumar Badam,Casper Roderik De Groot,Coen Cornelis Wilhelmus Verspaget,David Lucien Anstotz,Thijs Egidius Johannes Knaapen,Marcus Johannes VAN DER ZANDEN,Martijn Hendrik Kamphuis,Rudolf Adrianus Joannes Maas. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2011-11-10.

Lithographic apparatus and device manufacturing method.

Номер патента: NL2003914A. Автор: Marco Stavenga,Gert-Jan Brands,Johannes Jacobs,Paulus Liebregts,Rudolf Maas,Richard Bruls,Rudy Pellens,Vijay BADAM,Casper Groot,Thijs Knaapen,Jan Hoeven,David Anstotz,Marcus Zanden,Youri Dommelen,Martijn Kamphuis,Coen Verspaget. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2010-06-09.

Methods for enhancing positioning measurements with multi-antenna transmission schemes

Номер патента: US09894634B2. Автор: Iana Siomina,Muhammad Kazmi. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2018-02-13.

Lithographic apparatus and device manufacturing method utilizing data filtering

Номер патента: US09846368B2. Автор: Johannes Jacobus Matheus Baselmans,Patricius Aloysius Jacobus Tinnemans. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-12-19.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Positioning measurement method and apparatus

Номер патента: EP4266771A1. Автор: Yinghao JIN,Jinping HAO,Yinghao GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Method, apparatus and computer program

Номер патента: GB2624027A. Автор: Feki Afef,Prasad Athul,Ikram ASHRAF Muhammad,Shue Chen Chung. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-05-08.

Measurement method, non-transitory computer-readable medium and measurement apparatus

Номер патента: US20200271708A1. Автор: Kazuhiko Kobayashi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Frame Assembly, Lithographic Apparatus and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20210240090A1. Автор: Hans Butler,Joep Sander DE BEER,Cornelius Adrianus Lambertus De Hoon,Jeroen Pieter STARREVELD,Martinus Van Duijnhoven,Maurice Willem Jozef Etiënn WIJCKMANS. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2021-08-05.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09939740B2. Автор: Jeroen Gerard Gosen,Koen Cuypers,Günes NAKIBOGLU,Laurentius Johannes Adrianus Van Bokhoven,Frank Johannes Jacobus Van Boxtel,Martijn Van Baren. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-04-10.

Methods, apparatuses and systems directed to idle/inactive mode positioning in NR

Номер патента: US11902929B2. Автор: Alpaslan Demir,Janet Stern-Berkowitz,Arnab Roy,Mihaela Beluri,Sanjay Goyal,Muhammad Fazili,Kevin T. WANUGA. Владелец: InterDigital Patent Holdings Inc. Дата публикации: 2024-02-13.

Positioning measurement method and apparatus, device and readable storage medium

Номер патента: EP4266708A1. Автор: YE Si,Huaming Wu,Zixun ZHUANG,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Positioning measurement method and apparatus, device and readable storage medium

Номер патента: US20230328684A1. Автор: YE Si,Huaming Wu,Zixun ZHUANG,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Methods, apparatuses and systems directed to idle/inactive mode positioning in nr

Номер патента: US20240137897A1. Автор: Alpaslan Demir,Janet Stern-Berkowitz,Arnab Roy,Mihaela Beluri,Sanjay Goyal,Muhammad Fazili,Kevin T. WANUGA. Владелец: InterDigital Patent Holdings Inc. Дата публикации: 2024-04-25.

Vehicle positioning method and device, positioned vehicle, vehicle to be positioned, and storage medium

Номер патента: US20230061410A1. Автор: REN Da,HUI Li,Rui Zhao,Xiaotao Ren,Bin Ren,Deshan Miao. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Vehicle positioning method and device, positioned vehicle, vehicle to be positioned, and storage medium

Номер патента: EP4087280A1. Автор: REN Da,HUI Li,Rui Zhao,Xiaotao Ren,Bin Ren,Deshan Miao. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-09.

Positioning measurement method, terminal device, network device

Номер патента: EP4277377A1. Автор: Rongyi HU. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-11-15.

Positioning measurement method and apparatus therefor

Номер патента: EP4382966A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US20050151096A1. Автор: Gert-Jan Heerens,Hendrik Neerhof. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2005-07-14.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Methods for signaling information for aggregated reference signals for positioning measurement

Номер патента: WO2024209445A1. Автор: Siva Muruganathan,Florent Munier. Владелец: Telefonaktiebolaget lM Ericsson (publ). Дата публикации: 2024-10-10.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09507277B2. Автор: Ruud Antonius Catharina Maria Beerens,Rick Scholte,Ines Lopez Arteaga,Wilhelmus Henricus Theodorus Maria AANGENENT,Johannes Petrus Martinus Bernardus Vermeulen. Владелец: SORAMA HOLDING BV. Дата публикации: 2016-11-29.

Apparatuses and method for positioning in secondary cell (scell) dormancy state

Номер патента: WO2023033910A1. Автор: Srinivas YERRAMALLI,Xiaoxia Zhang. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2023-03-09.

Position measuring mechanism and measuring method of linear motion system

Номер патента: US11774521B2. Автор: Sergey Volkov,Mikhail Tiapkin,Gennady Tyapkin,Aleksandr Balkovoi,Oleg Tolstykh. Владелец: Hiwin Mikrosystem Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Positioning method and apparatus, and readable storage medium

Номер патента: EP4319339A1. Автор: REN Da,Gang Li,HUI Li,Zhenyu Zhang,Xiaotao Ren,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Configuring positioning measurements and reports

Номер патента: AU2021341897A1. Автор: Robin Thomas,Ankit BHAMRI,Alexander Johann Maria Golitschek Edler Von Elbwart. Владелец: Lenovo Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2023-03-16.

Positioning method and apparatus, and readable storage medium

Номер патента: US20240179670A1. Автор: REN Da,Gang Li,HUI Li,Zhenyu Zhang,Xiaotao Ren,Bin Ren,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Reference signal transmission method, apparatus and device, and readable storage medium

Номер патента: US20230388960A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Apparatuses and method for positioning in secondary cell (scell) dormancy state

Номер патента: EP4397082A1. Автор: Srinivas YERRAMALLI,Xiaoxia Zhang. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Using physical channels as positioning measurement signals

Номер патента: EP4307629A3. Автор: Tao Luo,Junyi Li,Joseph Binamira Soriaga,Sven Fischer,Sony Akkarakaran,Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-04-03.

Lithographic apparatus, method for positioning an object in a lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09910367B2. Автор: Sander Christiaan Broers. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2018-03-06.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09811005B2. Автор: Yang-Shan Huang,Theodorus Petrus Maria Cadee. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-11-07.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Method for enhancing positioning measurement and communications apparatus utilizing the same

Номер патента: US09513362B2. Автор: Yuan-Wen Ting,Tsung-Yu CHIOU. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2016-12-06.

Scanning unit with a printed circuit for an optical position-measuring apparatus

Номер патента: US6043482A. Автор: Wolfgang Holzapfel,Hermann Hofbauer,Volker Höfer,Herbert Pronold,Rainer Hagl. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2000-03-28.

Enhancing positioning measurement accuracy with carrier aggregation

Номер патента: WO2024068207A1. Автор: Ryan Keating,Daejung YOON,Hyun-Su Cha,Muhammad Ikram ASHRAF,Satya Krishna JOSHI. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-04-04.

Method and system for improved positioning measurement

Номер патента: EP4278623A1. Автор: Li Guo. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-11-22.

Methods and apparatus for using interlaced physical resource blocks for positioning measurements

Номер патента: US20210360572A1. Автор: Wanshi Chen,Jay Kumar Sundararajan,Krishna Kiran Mukkavilli,Hwan Joon Kwon,Alexandros Manolakos,Weimin Duan,Gokul SRIDHARAN. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-11-18.

Methods and apparatus for using interlaced physical resource blocks for positioning measurements

Номер патента: EP4150986A1. Автор: Wanshi Chen,Jay Kumar Sundararajan,Krishna Kiran Mukkavilli,Hwan Joon Kwon,Alexandros Manolakos,Weimin Duan,Gokul SRIDHARAN. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-03-22.

Configuring positioning measurements and reports

Номер патента: US20240027563A1. Автор: Robin Thomas,Ankit BHAMRI,Alexander Johann Maria Golitschek Edler Von Elbwart. Владелец: Lenovo Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2024-01-25.

Communication apparatus and associated estimation method

Номер патента: US20140118006A1. Автор: Liang-Wei Huang,Hsuan-Ting Ho,Sheng-Fu Chuang,Su-liang Liao. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2014-05-01.

Methods and apparatus for using interlaced physical resource blocks for positioning measurements

Номер патента: WO2021231154A1. Автор: Wanshi Chen,Jay Kumar Sundararajan,Krishna Kiran Mukkavilli,Hwan Joon Kwon,Alexandros Manolakos,Weimin Duan,Gokul SRIDHARAN. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-11-18.

Measurement reporting method, positioning measurement device, and location management function

Номер патента: US20230262646A1. Автор: REN Da,Gang Li,HUI Li,Xiaotao Ren,Bin Ren,Jianxiang LI,Haiyang Quan,Rongyi FANG. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Positioning measurement method, terminal device, network device

Номер патента: US20230350003A1. Автор: Rongyi HU. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-11-02.

Method for positioning measurement reporting, apparatus and system

Номер патента: US20240085512A1. Автор: Li Guo. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2024-03-14.

Detecting multipath and determining positioning measurement uncertainty

Номер патента: EP2901737A1. Автор: Yang Zhang,Iana Siomina. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2015-08-05.

Inter-radio access technology positioning measurements in new radio systems

Номер патента: US10798672B2. Автор: Yi Guo,YANG Tang,Jie Cui. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2020-10-06.

Inter-radio access technology positioning measurements in new radio systems

Номер патента: US20190373572A1. Автор: Yi Guo,YANG Tang,Jie Cui. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2019-12-05.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Multi-sensor position measurement system

Номер патента: US12085422B2. Автор: Mikhail Tiapkin,Gennady Tyapkin,Aleksandr Balkovoi,Oleg Tolstykh. Владелец: Hiwin Mikrosystem Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Inter-radio access technology positioning measurements in new radio systems

Номер патента: US20210084608A1. Автор: Yi Guo,YANG Tang,Jie Cui. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2021-03-18.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09823590B2. Автор: Carlo Cornelis Maria LUIJTEN,Franciscus Johannes Joseph Janssen,Manish Ranjan,Maksym Chernyshov. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-11-21.

Neural network functions for positioning measurement data processing at a user equipment

Номер патента: US11889458B2. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Pavan Kumar Vitthaladevuni,Taesang Yoo,June Namgoong. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Neural network functions for positioning measurement data processing at a user equipment

Номер патента: EP4193164A1. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Pavan Kumar Vitthaladevuni,Taesang Yoo,June Namgoong. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-06-14.

Position measurement system for mobile terminal

Номер патента: US11985570B2. Автор: Hi Chan Moon. Владелец: Infoseize Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Sidelink positioning measurement procedures

Номер патента: WO2023148638A1. Автор: Colin Frank,Ankit BHAMRI,Karthikeyan Ganesan,Ali Ramadan ALI,Abir BEN HADJ FREDJ,Robin Rajan THOMAS. Владелец: Lenovo (Singapore) Pte. Ltd.. Дата публикации: 2023-08-10.

Reducing positioning measurement latency in wireless networks

Номер патента: WO2023055503A1. Автор: AKASH Kumar,Stephen William Edge. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2023-04-06.

Reporting the number of samples and positioning reference signal (prs) instances associated with a positioning measurement

Номер патента: EP4374624A1. Автор: Srinivas YERRAMALLI,Mukesh Kumar,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-05-29.

Configurable quality metric for positioning measurements

Номер патента: WO2021029960A8. Автор: Tao Luo,Peter Gaal,Sony Akkarakaran,Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug,Arash Mirbagheri. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-08-05.

Configurable quality metric for positioning measurements

Номер патента: EP4014609A1. Автор: Tao Luo,Peter Gaal,Sony Akkarakaran,Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug,Arash Mirbagheri. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-06-22.

Configurable quality metric for positioning measurements

Номер патента: WO2021029960A1. Автор: Tao Luo,Peter Gaal,Sony Akkarakaran,Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug,Arash Mirbagheri. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-02-18.

Configurable quality metric for positioning measurements

Номер патента: US20210051623A1. Автор: Tao Luo,Peter Gaal,Sony Akkarakaran,Alexandros Manolakos,Guttorm Ringstad Opshaug,Arash Mirbagheri. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-02-18.

Selective triggering of neural network functions for positioning measurement feature processing at a user equipment

Номер патента: US20240048945A1. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Pavan Kumar Vitthaladevuni,Taesang Yoo,June Namgoong. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Reporting positioning measurements

Номер патента: WO2021240477A1. Автор: Vijay Nangia,Hyejung Jung,Ravi Kuchibhotla,Robin Thomas,Ankit BHAMRI,Karthikeyan Ganesan,Hossein Bagheri. Владелец: Lenovo (Singapore) Pte. Ltd.. Дата публикации: 2021-12-02.

Lithographic apparatus, aberration correction device and device manufacturing method

Номер патента: SG139650A1. Автор: Tammo Uitterdijk,Laurentius Catrinus Jorritsma. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2008-02-29.

Alignment method and associated alignment and lithographic apparatuses

Номер патента: US12032305B2. Автор: Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Edo Maria Hulsebos. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-07-09.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240272560A1. Автор: Seong Yun CHOI,Hyo Sik HAM. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Network-inferred synchronization for positioning measurements

Номер патента: US11647361B2. Автор: Lorenzo Ferrari,Srinivas YERRAMALLI,Rajat Prakash,Xiaoxia Zhang,Stephen William Edge,Sven Fischer,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-05-09.

Selective triggering of neural network functions for positioning measurement feature processing at a user equipment

Номер патента: US11812338B2. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Pavan Kumar Vitthaladevuni,Taesang Yoo,June Namgoong. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-11-07.

Selective triggering of neural network functions for positioning measurement feature processing at a user equipment

Номер патента: WO2022031673A1. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Pavan Kumar Vitthaladevuni,Taesang Yoo,June Namgoong. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2022-02-10.

Carrier phase positioning measurement configuration enhancements for integer ambiguity resolution

Номер патента: WO2024110950A1. Автор: Alexander Golitschek Edler Von Elbwart,Abir BEN HADJ FREDJ,Robin Rajan THOMAS. Владелец: Lenovo (Singapore) Pte. Ltd.. Дата публикации: 2024-05-30.

Network-inferred synchronization for positioning measurements

Номер патента: EP4136901A1. Автор: Lorenzo Ferrari,Srinivas YERRAMALLI,Rajat Prakash,Xiaoxia Zhang,Stephen William Edge,Sven Fischer,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-02-22.

Network-inferred synchronization for positioning measurements

Номер патента: WO2021211321A1. Автор: Lorenzo Ferrari,Srinivas YERRAMALLI,Rajat Prakash,Xiaoxia Zhang,Stephen William Edge,Sven Fischer,Alexandros Manolakos. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-10-21.

Selective triggering of neural network functions for positioning measurement feature processing at a user equipment

Номер патента: EP4193165A1. Автор: Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Pavan Kumar Vitthaladevuni,Taesang Yoo,June Namgoong. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-06-14.

Network-inferred synchronization for positioning measurements

Номер патента: US20210329414A1. Автор: Lorenzo Ferrari,Srinivas YERRAMALLI,Rajat Prakash,Xiaoxia Zhang,Stephen William Edge,Sven Fischer,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-10-21.

Network-inferred synchronization for positioning measurements

Номер патента: US20220312154A1. Автор: Lorenzo Ferrari,Srinivas YERRAMALLI,Rajat Prakash,Xiaoxia Zhang,Stephen William Edge,Sven Fischer,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2022-09-29.

Exposure mask, method of designing and manufacturing the same, exposure method and apparatus, pattern forming method, and device manufacturing method

Номер патента: EP1642171A1. Автор: Takako Yamaguchi,Yasuhisa Inao. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2006-04-05.

Lithographic apparatus and device manufacturing method

Номер патента: WO2005064412A2. Автор: Michael Cornelis Van Beek,Mark Kroon,Ralph Kurt,Peter Dirksen,Cassandra May Owen. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2005-07-14.

Lithographic Apparatus and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20120188528A1. Автор: Niels Johannes Maria BOSCH,Marcus Joseph Elisabeth Godfried Breukers,Marcel François Heertjes. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2012-07-26.

Stage system and lithographic apparatus

Номер патента: US20220137517A1. Автор: Frank Auer,Maarten Jozef Jansen. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2022-05-05.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09736460B2. Автор: Jun Kanetake,Osafumi Nakayama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Lithographic apparatus, drying device, metrology apparatus and device manufacturing method

Номер патента: US09606429B2. Автор: Michel Riepen,Koen Steffens,Nicolaas Rudolf Kemper,Nicolaas Ten Kate,Joost Jeroen Ottens,Marcel Beckers,Anthonie Kuijper,Marco Polizzi,Adrianes Johannes Baeten,Anca Mihaela Antonevici. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-03-28.

Positioning measurement derivation based on a decoded physical downlink channel and corresponding measurement latency

Номер патента: EP4158832A1. Автор: Wanshi Chen,Jay Kumar Sundararajan,Naga Bhushan,Krishna Kiran Mukkavilli,Hwan Joon Kwon,Alexandros Manolakos,Weimin Duan,Gokul SRIDHARAN. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2023-04-05.

Using channel state information (csi) report framework to support positioning measurements

Номер патента: US20210127288A1. Автор: Junyi Li,Joseph Binamira Soriaga,Juergen Cezanne,Bilal SADIQ,Muhammad Nazmul ISLAM,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-04-29.

Using channel state information (csi) report framework to support positioning measurements

Номер патента: WO2019236262A1. Автор: Junyi Li,Joseph Binamira Soriaga,Juergen Cezanne,Bilal SADIQ,Muhammad Nazmul ISLAM,Alexandros Manolakos. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2019-12-12.

Using channel state information (csi) report framework to support positioning measurements

Номер патента: EP3803435A1. Автор: Junyi Li,Joseph Binamira Soriaga,Juergen Cezanne,Bilal SADIQ,Muhammad Nazmul ISLAM,Alexandros Manolakos. Владелец: Qualcomm Inc. Дата публикации: 2021-04-14.

Variable power optical system, optical apparatus, and variable power optical system manufacturing method

Номер патента: US20180217363A1. Автор: Hiroshi Yamamoto,Kensuke Uchida,Akihiko Obama,Norikazu Yokoi,Taku Matsuo. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTOSENSITIVE MEMBER, MANUFACTURING METHOD OF ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTOSENSITIVE MEMBER, PROCESS CARTRIDGE AND ELECTROPHOTOGRAPHIC APPARATUS, AND A SOLID SOLUTION AND MANUFACTURING METHOD OF A SOLID SOLUTION

Номер патента: US20150370181A1. Автор: Tanaka Masato,Nishida Tsutomu,Kawahara Masataka. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180136444A1. Автор: Harada Hiroki. Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2018-05-17.

VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180157015A1. Автор: SHIBAYAMA Atsushi. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-07.

VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180217363A1. Автор: Yamamoto Hiroshi,MATSUO Taku,YOKOI Norikazu,OBAMA Akihiko,UCHIDA Kensuke. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-02.

Method for making a member of a position measuring transducer

Номер патента: US4138253A. Автор: Clair L. Farrand. Владелец: Farrand Industries Inc. Дата публикации: 1979-02-06.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

Elevator position measurement system

Номер патента: US20230278827A1. Автор: Ergün Alkan. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2023-09-07.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A3. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-10-18.

Position measuring system, processing device for position measurement, and processing method for position measurement

Номер патента: CN101929839A. Автор: 谷田和敏,堀田宏之,佐口泰之. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-29.

Position measuring system, processing device for position measurement, processing method for position measurement, and computer readable medium

Номер патента: US20100328451A1. Автор: Hiroyuki Hotta,Kazutoshi Yatsuda,Yasuyuki Saguchi. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-30.

Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method

Номер патента: US20110022341A1. Автор: Koji Asami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Light spot position measuring device and light spot position measuring method

Номер патента: JP3288523B2. Автор: 保二小川. Владелец: Wacom Co Ltd. Дата публикации: 2002-06-04.

An absolute position measuring equipment using two absolute encoders and measurement method it using the same

Номер патента: KR101841821B1. Автор: 김병기. Владелец: 김병기. Дата публикации: 2018-03-26.

Positional measurement system and lens for positional measurement

Номер патента: KR100681778B1. Автор: 세코야스지. Владелец: 후지제롯쿠스 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2007-02-12.

Positional measurement system and lens for positional measurement

Номер патента: US20050185195A1. Автор: Yasuji Seko. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2005-08-25.

Amorphous motor, manufacturing method thereof and device for implementing manufacturing method

Номер патента: LU504355B1. Автор: Yunzhang Fang. Владелец: Univ Zhejiang Normal. Дата публикации: 2023-12-04.

Impact dot measurement method, impact dot measurement apparatus, and liquid drop discharge apparatus, manufacturing method of electro-optical apparatus, the electro-optical apparatus and electronic device

Номер патента: JP2008209218A. Автор: 寛文酒井,Hirobumi Sakai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-09-11.

MEASURING APPARATUS, ROBOT APPARATUS, ROBOT SYSTEM, MEASURING METHOD, CONTROL METHOD, AND ARTICLE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20170328706A1. Автор: Yamada Akihiro,Kitamura Tsuyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-16.

The gap measuring apparatus of burner and gap measuring method

Номер патента: CN104508381B. Автор: 谷口健太,德永有吾. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2016-08-24.

Measuring apparatus for retain wall and measuring method using the same

Номер патента: KR102159222B1. Автор: 이경수,이근호. Владелец: 이근호. Дата публикации: 2020-09-23.

OPTICAL MEASURING SYSTEM FOR MAGNIFYING DISPLACEMENT, OPTICAL MEASURING APPARATUS FOR MAGNIFYING DISPLACEMENT AND MEASURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20190025046A1. Автор: Wu Shih-Chieh,LIN Chen-Tai,CHUANG Shih-Chang,LIN Dian-Ying. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-24.

Angle measurement apparatus, electronic device, and angle measurement method

Номер патента: WO2020151568A1. Автор: 杨鑫. Владелец: Oppo广东移动通信有限公司. Дата публикации: 2020-07-30.

Position and orientation measurement apparatus, position and orientation measurement method, and storage medium

Номер патента: WO2012023593A1. Автор: Shinji Uchiyama,Masakazu Fujiki,Yusuke Nakazato. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-02-23.

Method for judging wafer thinning, device structure and device and its manufacture method

Номер патента: CN101339893B. Автор: 邱文智,余振华,吴文进,张宏宾,杨固峰. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2010-11-17.

Distance measurement method and apparatus, and relative position measurement apparatus

Номер патента: CA2030851A1. Автор: Tomoaki Ueda,Koei Obata. Владелец: Koei Obata. Дата публикации: 1991-05-25.

Method and device for positioning utilizing beam information

Номер патента: US11782121B2. Автор: Basuki PRIYANTO,Anders Berggren,Peter Karlsson. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2023-10-10.

Optoelectronic position measurement device and position measurement method

Номер патента: CA2747075C. Автор: Werner Amann. Владелец: LEICA GEOSYSTEMS AG. Дата публикации: 2013-12-24.

Terminal with position-measuring functions

Номер патента: US7152015B2. Автор: Yoshihisa Manzen. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2006-12-19.

Terminal with position-measuring functions

Номер патента: EP1491911A3. Автор: Yoshihisa c/o NEC Corporation Manzen. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2006-05-24.

FLYING OBJECT POSITION MEASURING APPARATUS, FLYING OBJECT POSITION MEASURING METHOD, AND NON-TRANSITORY STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20180203031A1. Автор: YAMANE Akihiro,ONOMURA Yoichi,Kibayashi Takeshi,NAGAYAMA Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-19.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing apparatus

Номер патента: US8101507B2. Автор: Shigeru Tahara,Ryuichi Asako,Gousuke Shiraishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2012-01-24.

Monitoring of substitution of high quality position measurements with upgraded low quality position measurements

Номер патента: US6957143B1. Автор: Vivek Bhalchandra Nadkarni. Владелец: TRIMBLE NAVIGATION LTD. Дата публикации: 2005-10-18.

Adhesive film for use in semiconductor device manufacture, manufacturing method of said adhesive film, semiconductor device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: SG11202002552PA. Автор: Keisuke Ohkubo,Masanori Natsukawa. Владелец: Hitachi Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-29.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device manufacturing apparatus

Номер патента: US20100099256A1. Автор: Shigeru Tahara,Ryuichi Asako,Gousuke Shiraishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2010-04-22.

Flow measuring apparatus and inhalation apparatus comprising the same

Номер патента: CA2826516C. Автор: Thierry Poree. Владелец: Protecsom Amerique Du Nord Inc. Дата публикации: 2020-09-22.

Plasma processing apparatus, data analysis apparatus, and semiconductor device manufacturing system

Номер патента: US20240203712A1. Автор: Akira Kagoshima,Daisuke Shiraishi,Shunta NOSAKA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

FLOW RATE MEASUREMENT APPARATUS, ANTIGEN CONCENTRATION MEASUREMENT APPARATUS, FLOW CELL, FLOW RATE MEASUREMENT METHOD, AND ANTIGEN CONCENTRATION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20130224886A1. Автор: Miura Toru,HAYASHI Tsuyoshi,Iwasaki Yuzuru,Horiuchi Tsutomu,Seyama Michiko,Haga Tsuneyuki,Takahashi Jun-ichi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corporation. Дата публикации: 2013-08-29.

Measurement method, measurement device, and measurement apparatus for creatinine concentration and measurement method, measurement device, and measurement apparatus for amount of salinity using the same

Номер патента: EP2228645A4. Автор: Atsushi Fukunaga,Takahiro Nakaminami,Kouji Kashiwada. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-26.

MEASURING HEAD FOR MAGNETIC FIELD GRADIENT VECTOR MEASURING APPARATUS, MEASURING APPARATUS COMPRISING SUCH HEAD AND MEASURING METHOD

Номер патента: FR2548787A1. Автор: Joel Martin,Pierre Hartemann,Gerard Doriath. Владелец: Thomson CSF SA. Дата публикации: 1985-01-11.

Reflection characteristic measurement apparatus, machining system, reflection characteristic measurement method, object machining method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20190128806A1. Автор: Shigeki Kato,Takayuki Uozumi,Yusuke Kasai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Stirring method, cell, measuring apparatus using the same, and measuring method

Номер патента: CN1918474A. Автор: 中山浩,北胁文久,河村达朗,龟井明仁,重藤修行. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-02-21.

PEDALING MEASUREMENT APPARATUS, PEDALING MEASUREMENT SYSTEM, PEDALING MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20170050080A1. Автор: MIZUOCHI Shunichi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2017-02-23.

SPECTROSCOPIC MEASUREMENT APPARATUS, DRIVING CIRCUIT, AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20170219432A1. Автор: KURI Ryohei. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-03.

Light-emitting device, electronic apparatus, and light-emitting device manufacturing method

Номер патента: US20090218583A1. Автор: Norikazu Nakayama,Yuichi Ishida,Kazuaki Yazawa. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2009-09-03.

Crystal orientation measurement apparatus for flat sample and measurment method thereof

Номер патента: KR20070002726A. Автор: 장기복,정호식. Владелец: 주식회사 에이엘티. Дата публикации: 2007-01-05.

Optical measuring apparatus, flow cytometer, and optical measuring method

Номер патента: US9063089B2. Автор: Yosuke Muraki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-06-23.

Measuring apparatus for cell stimulating and measuring method of cell stimulating using the same

Номер патента: KR20170133612A. Автор: 최건호,이정현,정웅규,조남현,장재명. Владелец: 울산과학기술원. Дата публикации: 2017-12-06.

Optical fiber temperature distribution measuring apparatus, optical fiber temperature distribution measuring method and optical fiber temperature distribution measuring system

Номер патента: CA2626405A1. Автор: Kazuaki Negishi,Yasushi Koyano,Fumiyoshi Ohkubo,Hidehiko Komeda,Tsuyoshi Igi. Владелец: Tsuyoshi Igi. Дата публикации: 2008-03-27.

Solid state imaging apparatus, imaging apparatus and solid state imaging apparatus manufacturing method

Номер патента: US20080173902A1. Автор: Jiro Matsuda,Shu Takahashi,Masanori Nagase. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-07-24.

GAS MEASUREMENT APPARATUS, GAS MEASUREMENT SYSTEM, GAS MEASUREMENT METHOD, AND GAS MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20160097761A1. Автор: KASAHARA Yasuhiro,Kodama Miyuki,Sano Ayumi,MINAGAWA Naotaka. Владелец: TANITA CORPORATION. Дата публикации: 2016-04-07.

Flow cell, flow nanoparticle measurement apparatus including the same, and measurement method

Номер патента: CN114441395A. Автор: 金永勋,吴受莲,崔政珉,韩盛弼. Владелец: Dongwoo Fine Chem Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-06.

Flow rate measurement apparatus, program thereof, flow rate measurement method, and fluid supply system

Номер патента: US20100138167A1. Автор: Hajime Miyata,Daisuke Bessyo,Youichi Itou. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-03.

Optical fiber temperature distribution measuring apparatus, optical fiber temperature distribution measuring method and optical fiber temperature distribution measuring system

Номер патента: CN101427117A. Автор: 米田英彦,伊木刚,小谷野裕史,大久保文义,根岸司明. Владелец: Japan Electric Wire & Cable Co Ltd. Дата публикации: 2009-05-06.

Impulse Measuring Apparatus For Passenser and Impulse Measuring Method Using The Same

Номер патента: KR102070118B1. Автор: 김진오,임성구. Владелец: 숭실대학교산학협력단. Дата публикации: 2020-01-28.

Electro-mechanical transducer element, liquid droplet ejecting head, image forming apparatus, and electro-mechanical transducer element manufacturing method

Номер патента: US09533502B2. Автор: Atsushi Takeuchi,Osamu Machida,Akira Shimofuku,Ryo Tashiro. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

MEASURING METHOD USING THERMAL COMPENSATION OF A THERMOPILE AND DEVICE FOR ITS IMPLEMENTATION

Номер патента: FR2818375B1. Автор: Tan Duc Huynh. Владелец: Valeo Climatisation SA. Дата публикации: 2003-03-21.

Magnetic flux measuring device and magnetic flux measuring method for stationary induction electrical apparatus, and synchronous switching control gear for circuit breaker

Номер патента: US8344557B2. Автор: Minoru Saito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-01-01.

It is integrated with enhanced and device and its manufacturing method of depletion type VDMOS

Номер патента: CN108550623A. Автор: 田甜,康剑,魏国栋,张曌. Владелец: SHENZHEN SI SEMICONDUCTORS CO Ltd. Дата публикации: 2018-09-18.

Double curvature X ray collective optics, double curvature X ray beam splitter and device and the manufacture method of the element with it

Номер патента: CN107408417A. Автор: 河原直树. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Thin film active element group, thin film active element array, organic light emitting device, display apparatus, and thin film active element manufacturing method

Номер патента: US20100258803A1. Автор: Tomonori Matsumuro. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2010-10-14.

Image data processing apparatus and method for defect inspection, defect inspecting apparatus and method using the image data processing apparatus and method, board-like body manufacturing method using the defect inspecting apparatus and method, and recording medium

Номер патента: KR101609007B1. Автор: 마꼬또 구루미사와. Владелец: 아사히 가라스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2016-04-04.

Image data processing apparatus and method for defect inspection, defect inspecting apparatus and method using the image data processing apparatus and method, board-like body manufacturing method using the defect inspecting apparatus and method, and storage medium

Номер патента: CN102099672A. Автор: 楜泽信. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-15.

ELECTRO-MECHANICAL TRANSDUCER ELEMENT, LIQUID DROPLET EJECTING HEAD, IMAGE FORMING APPARATUS, AND ELECTRO-MECHANICAL TRANSDUCER ELEMENT MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20140049582A1. Автор: Shimofuku Akira,Machida Osamu,TAKEUCHI Atsushi,Tashiro Ryo. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2014-02-20.

EUV MASK INSPECTION APPARATUS AND METHOD, AND EUV MASK MANUFACTURING METHOD INCLUDING EUV MASK INSPECTION METHOD

Номер патента: US20200003685A1. Автор: JEON Byeong-Hwan. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2020-01-02.

Dye-sensitized solar cell manufacturing apparatus and dye-sensitized solar cell manufacturing method

Номер патента: JP5469741B2. Автор: 修二早瀬,博昭林,竜一白土,末廣大久保,泰一牟禮,康裕宍田. Владелец: Kyushu Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2014-04-16.

Silicon carbide epitaxial growth apparatus and silicon carbide epitaxial wafer manufacturing method

Номер патента: JP7176489B2. Автор: 和雄小林,泰成日野,雅酒井,真一郎香月. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-22.

Film forming apparatus and film forming method and manufacturing method of solar cell

Номер патента: KR101992074B1. Автор: 히로히사 다카하시,준스케 마츠자키. Владелец: 가부시키가이샤 알박. Дата публикации: 2019-06-21.

X-ray CT apparatus and X-ray CT apparatus manufacturing method

Номер патента: JP4718949B2. Автор: 茂佐久田. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2011-07-06.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Coating apparatus, imprint apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160161868A1. Автор: Kunihiko Asada,Tomohiro Harayama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-06-09.

Position measurement apparatus and exposure apparatus which measure position of object using reference mark, and method of manufacturing device

Номер патента: US20130120733A1. Автор: Noritoshi Sakamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-05-16.

Device and method for generating a trigger signal in a position-measuring device and corresponding position-measuring device

Номер патента: US09823646B2. Автор: Michael Walter,Bernhard Beaury,Markus Mooshammer,Stephan Kreuzer,Alexander Kobler. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-11-21.

Apparatus for adjusting displayed picture, display apparatus and display method

Номер патента: US09451242B2. Автор: Yanbing WU,Youmei Dong,Yanshun CHEN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Image search apparatus, electronic still camera apparatus, and image search method

Номер патента: EP1003322A3. Автор: Noboru Patent Dept. Hamura R & D Center Yumoto. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2003-05-28.

Method and device for serial data transmission over a bidirectional data channel

Номер патента: US09614663B2. Автор: Michael Walter,Thomas Fleischmann,Bernhard Beaury,Markus Mooshammer,Stephan Kreuzer,Daniel Schenzinger. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-04-04.

Position measurement mehtod, exposure method, exposure device, and manufacturing method of device

Номер патента: US20050062967A1. Автор: Mitsuru Kobayashi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2005-03-24.

Input position measuring instrument and entertainment system

Номер патента: CA2299521A1. Автор: Nobuo Sasaki,Akio Ohba. Владелец: Individual. Дата публикации: 1999-12-09.

Electrode sheet manufacturing apparatus and power storage device manufacturing method

Номер патента: US11945050B2. Автор: Takahiro Sakurai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-04-02.

ELECTRODE SHEET MANUFACTURING APPARATUS AND POWER STORAGE DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20190160596A1. Автор: Sakurai Takahiro. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-05-30.

Film formation apparatus and film-formed workpiece manufacturing method

Номер патента: US10422032B2. Автор: Yotaro FUKUOKA,Sosuke YAGI. Владелец: Shibaura Mechatronics Corp. Дата публикации: 2019-09-24.

ALL-SOLID-STATE BATTERY MANUFACTURING APPARATUS AND ALL-SOLID-STATE BATTERY MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20220013805A1. Автор: Sakamoto Takuya,Inata Kazumasa,ONO Masato,NISHIBU Yuki,HIOKI Tomoya,KOIDE Yosuke. Владелец: . Дата публикации: 2022-01-13.

Ring-type magnet molded body manufacturing apparatus and ring-type sintered magnet manufacturing method

Номер патента: JP4279757B2. Автор: 裕治中原,泰造石見,義一鵜飼. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2009-06-17.

Method and device for transmitting signals from a position measuring arrangement to an evaluation unit

Номер патента: US20090015423A1. Автор: Johannes Wagner,Elmar Mayer. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2009-01-15.

Position measuring apparatus

Номер патента: US09696152B2. Автор: Yukiharu Tomita,Ryosuke Oikawa,Kenzo Yamanouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: US20240215819A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: EP4348171A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Calculation method, article manufacturing method, recording medium, information processing apparatus, and system

Номер патента: US20200273203A1. Автор: Hideaki Kitamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-08-27.

Fin tip position measurement method, fin tip position measurement system, and jig for measuring fin tip position

Номер патента: US12044629B2. Автор: Satoshi Kumagai,Koji Ishibashi,Shunsuke Mizumi,Masaru Sekihara,Juichi KODERA,Jose Carlos KUROKI RAMIREZ. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Position measurement system and position measurement method

Номер патента: US12025422B2. Автор: Haruki Mori,Junpei Yamaguchi,Masanobu TSUTSUI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Position measurement apparatus for capacitive touch panel system

Номер патента: US4853498A. Автор: Robert D. Meadows,Roger J. McCoy. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 1989-08-01.

Position measuring method, driving control method, driving control system, and marker

Номер патента: US12125288B2. Автор: Hiroshi Nakashima,Shingo Tsukada,Toichiro GOTO. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20190390947A1. Автор: Takeshi Kawabata,Kazuhiko Hidaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Measuring apparatus and measuring method of train wheel wear

Номер патента: US20130158894A1. Автор: Yong Gee CHO,Woo Seok Lee. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-20.

Measuring apparatus and measuring method of train wheel wear

Номер патента: US9243982B2. Автор: Yong Gee CHO,Woo Seok Lee. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-26.

Position measuring apparatus and working apparatus using the same

Номер патента: US20020123858A1. Автор: Masakazu Matsumoto,Katsuyuki Ogura,Kozo Sugita. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2002-09-05.

Position measuring apparatus and working apparatus using the same

Номер патента: EP1239263A3. Автор: Katsuyuki c/o Mitutoyo Corporation Ogura,Masakazu c/o Mitutoyo Corporation Matsumoto,Kozo c/o Mitutoyo Corporation Sugita. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2003-07-23.

Inspection apparatus and inspection method for coke oven construction, and coke oven construction method

Номер патента: US12106467B2. Автор: Junichi Yotsuji,Taku Watanabe,Yuki TAKAKI. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Vehicle wheel assembly position measurement method and apparatus thereof

Номер патента: US11953315B2. Автор: Akira Fukunaga,Yoko Doi,Taiga INOUE. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Position measurement system

Номер патента: US20240249427A1. Автор: Tsuyoshi Kitamura,So SASATANI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-07-25.

Apparatus and method for stretch measurements of tissue webs

Номер патента: US09816906B2. Автор: Antti Paavola,Markku Kellomaki. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Position measurement system and respective method of measurement for determination of marked position of linear mobile guiding element

Номер патента: RU2553718C2. Автор: Маркус РЕЙМАНН. Владелец: Арефа Гмбх. Дата публикации: 2015-06-20.

Interferometer movable mirror position measurement apparatus and fourier transform infrared spectroscopy

Номер патента: US11860037B2. Автор: Takashi Muramatsu. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-01-02.

Method and device for measuring vehicle wheel position

Номер патента: EP4040105A1. Автор: Akira Fukunaga,Yoko Doi,Taiga INOUE. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2022-08-10.

Inductive position-measuring device for absolute position determination

Номер патента: US9958296B2. Автор: Alexander Frank,Marc Oliver TIEMANN,Martin Heumann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-05-01.

Inductive position-measuring device for absolute position determination

Номер патента: US09958296B2. Автор: Alexander Frank,Marc Oliver TIEMANN,Martin Heumann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-05-01.

Measurement device for a laser processing system and a method for performing position measurements by means of a measurement beam on a workpiece

Номер патента: US09784562B2. Автор: Christian Truckenbrodt,Konstantin Werner,Eckhard Lessmueller. Владелец: Lessmueller Lasertechnik GmbH. Дата публикации: 2017-10-10.

Position measuring device and position measuring method

Номер патента: US20150226852A1. Автор: Toshihisa Takai,Masahito Miyazaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Position-Measuring Device and Method for Operating the Position-Measuring Device

Номер патента: US20130301059A1. Автор: Daniel Frese,Elmar Mayer. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2013-11-14.

Thickness measuring apparatus using light from slit

Номер патента: US6111649A. Автор: Tamotsu Tominaga,Masaru Nogami,Satoshi Hirokawa. Владелец: Hitachi Denshi KK. Дата публикации: 2000-08-29.

Method for localising patterns in a signal of a position sensor, and position sensor or position measuring device using the method

Номер патента: US20240133721A1. Автор: Zoltán Kántor,Attila Szabo,Tobias KÖNIG. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2024-04-25.

Position-measuring device

Номер патента: US09835430B2. Автор: Peter Fischer. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-12-05.

Optical position measuring instrument

Номер патента: US09389100B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Joerg Drescher,Markus Meissner,Ralph Joerger,Bernhard Musch,Thomas Kaelberer. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2016-07-12.

Elevator position measurement system

Номер патента: EP4238917A1. Автор: Ergün Alkan. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2023-09-06.

Build plane measurement system and related additive manufacturing method

Номер патента: EP3839422A1. Автор: Mackenzie Ryan REDDING,Fabian Zeulner,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2021-06-23.

Magnetic orientation and position measurement device

Номер патента: EP3644018A1. Автор: Yoshinobu Honkura,Shinpei HONKURA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-29.

Optical position-measuring device

Номер патента: US09733069B2. Автор: Wolfgang Holzapfel. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-08-15.

POSITION MEASURING APPARATUS, PEN AND POSITION MEASURING METHOD

Номер патента: US20150160782A1. Автор: KIM Gwan-Hyung,Park Sung-Soo. Владелец: . Дата публикации: 2015-06-11.

Position measurement system having material measure, transmitter winding arrangement, and receiver coils, and calibration method thereof

Номер патента: US09921086B2. Автор: Johannes Muehlfeld. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-03-20.

Interferential position-measuring device and method for operating an interferential position-measuring device

Номер патента: US09664502B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Joerg Drescher,Markus Meissner. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-05-30.

Position measuring device

Номер патента: US09562761B2. Автор: Toshihisa Takai. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Position measuring system, position measuring device, and position measuring method

Номер патента: US20230161039A1. Автор: Kazutaka Hara,Tomohiro Taniguchi,Atsuko Kawakita. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-05-25.

Method for producing prepared slide for fiber length measurement, method for adjusting dispersion liquid for fiber length measurement, method for measuring fiber length, prepared slide for fiber length measurement, device for measuring fiber length, and program that controls device for measuring fiber length

Номер патента: EP3693719A1. Автор: Koji Shiraki,Yuji Hotta,Atsuhiko Yamanaka,Yukitane Kimoto,Daisuke Shimamoto,Mariko Terada. Владелец: Kyowa Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Optical position-measuring device having incremental detector and absolute detector disposed in a common detection plane at a defined perpendicular distance from a scanning grating

Номер патента: US09863791B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Christoph Lingk,Johannes Trautner. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-01-09.

Optical position measuring device

Номер патента: US09733068B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Jörg DRESCHER,Erwin Spanner,Markus Meissner,Ralph Joerger,Bernhard Musch,Thomas Kälberer. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-08-15.

Position measuring apparatus and method of use thereof

Номер патента: US5206704A. Автор: Walter Huber,Erwin Spanner. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 1993-04-27.

Position measurement apparatus and method of using same with sonic pulse propagation delay interval

Номер патента: US5729131A. Автор: John D. Begin. Владелец: Patriot Sensors and Controls Corp. Дата публикации: 1998-03-17.

Position measurement device and position measurement method

Номер патента: EP4354079A1. Автор: Shinji Sato. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Optical position-measuring device

Номер патента: US20160202041A1. Автор: Walter Huber. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2016-07-14.

Optical position-measuring device

Номер патента: US20200025591A1. Автор: Michael Hermann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2020-01-23.

Absolute position measurement using single magnet strip

Номер патента: US20240318948A1. Автор: Armin Satz,Dirk Hammerschmidt,Gernot Binder,Christoph Oswald,Joo Il Park. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2024-09-26.

Position-measuring system, having scanning units multiplexed to light sources and detectors, for optically scanning a measuring standard and method for operating such a position-measuring system

Номер патента: US09874434B2. Автор: Wolfgang Holzapfel. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-01-23.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: US09700060B2. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Optical position-measuring device

Номер патента: US09638514B2. Автор: Walter Huber. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-05-02.

Optical position-measuring device

Номер патента: US09482517B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Jörg DRESCHER,Markus Meissner. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2016-11-01.

Measuring graduation and photoelectric position measuring device having the same

Номер патента: US09453744B2. Автор: Peter Speckbacher,Josef Weidmann,Andrew Graham. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2016-09-27.

Measuring device, measuring method, and programs therefor

Номер патента: US10240976B2. Автор: Akira Oide,Atsushi Shoji,Hiroki Nagashima. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2019-03-26.

Measuring device, measuring method, and programs therefor

Номер патента: US20170097260A1. Автор: Akira Oide,Atsushi Shoji,Hiroki Nagashima. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-04-06.

Position measuring method and position measuring device

Номер патента: US20230280443A1. Автор: Hideyuki Tsuboi,Takeshi Onizawa,Kazuto Goto,Naoki Kita,Hideki TOSHINAGA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Optical position-measuring device

Номер патента: US11656105B2. Автор: Tarek Nutzinger,Ulrich Benner,Johannes Haunreiter,Daniel Krempke. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2023-05-23.

Bending measurement apparatus, imaging apparatus, projection apparatus and projection imaging apparatus using the same, and bending measurement method

Номер патента: US20200141768A1. Автор: Yoshihito IGUCHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Optical position-measuring device

Номер патента: US20220163354A1. Автор: Tarek Nutzinger,Ulrich Benner,Johannes Haunreiter,Daniel Krempke. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2022-05-26.

Ergonomic, interference signal-reducing position measurement probe for mutual alignment of bodies

Номер патента: US20010020335A1. Автор: Dieter Busch. Владелец: PRUEFTECHNIK DIETER BUSCH AG. Дата публикации: 2001-09-13.

Seine net position measurement system and method of determining seine net position

Номер патента: US20240324563A1. Автор: David O'Neill,Carles Castro Muniain,John Wescott Carroll,Cooper Van Vranken. Владелец: Caledonia Nets Llc. Дата публикации: 2024-10-03.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Induction type position measuring apparatus

Номер патента: US20150219434A1. Автор: Fujio Maeda,Shozaburo Tsuji. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2015-08-06.

Induction type position measuring apparatus

Номер патента: US9568300B2. Автор: Fujio Maeda,Shozaburo Tsuji. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Measuring apparatus, movable apparatus, robot, electronic device, fabricating apparatus, and measuring method

Номер патента: US12030243B2. Автор: Kazuhiro Yoneda,Naoki Fukuoka,Yoshihiko Miki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Terahertz measuring apparatus and terahertz measurement method for measuring a test object by means of a time-of-flight measurement

Номер патента: US20190331594A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: INOEX GmbH INNOVATIONEN und AUSRUESTUNGEN fur DIE EXTRUSIONSTECHNIK. Дата публикации: 2019-10-31.

Relative position measuring device, relative position measuring method, and relative position measuring program

Номер патента: EP4027102A1. Автор: Hiroyuki Toda,Hiraku Nakamura,Tatsuya SONOBE,Kazuki Tsujimoto. Владелец: Furuno Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Position measurement apparatus

Номер патента: GB2319615A. Автор: Valadimir Alexandrovi Ostafiev,Vladimir Ivanovich Skitsiouk. Владелец: UNITED NEW TECHNOLOGY Ltd. Дата публикации: 1998-05-27.

Position measuring apparatus

Номер патента: US8472701B2. Автор: Toshio Endoh,Hironori Yokoi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-06-25.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US10048062B2. Автор: Hidetaka Nishida. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Scale element for an inductive position measuring device

Номер патента: US20240288258A1. Автор: Martin Heumann,Christoph Heinemann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2024-08-29.

Position-measuring device and method for operating the same

Номер патента: US09927234B2. Автор: Victor Vasiloiu,Costica CABA,Andreas Pommer,Paul Andrei TUTZU. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-03-27.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Position measuring method, driving control method, driving control system, and marker

Номер патента: US20220215669A1. Автор: Hiroshi Nakashima,Shingo Tsukada,Toichiro GOTO. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-07-07.

Position-measuring device

Номер патента: US11796313B2. Автор: Ingo Joachimsthaler,Rudolf Mittmann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2023-10-24.

Position measuring device and method for operating a position measuring device

Номер патента: US20190376816A1. Автор: Ingo Joachimsthaler,Johannes Soier. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2019-12-12.

Operation method of position measuring device

Номер патента: US20180340763A1. Автор: Shinsaku ABE. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Sensor, magnetic field position measuring system and method for determining position

Номер патента: US20230184852A1. Автор: Ulrich Ritter,Matthias Niethammer,Christoph Boeckenhoff. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2023-06-15.

Obstacle distance measurement method and apparatus, and vehicle and medium

Номер патента: EP4397942A1. Автор: Yongguan LUO. Владелец: Huizhou Desay SV Automotive Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Optical interference measuring apparatus and optical interference measuring method

Номер патента: US20220228850A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20220270274A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240296547A1. Автор: Ji Hoon Kang,Ji Yun JUNG. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus and depth measurement method that calculate depth information of a target pixel using a color plane of which a correlation value is at most a threshold

Номер патента: US09928598B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09927516B2. Автор: Hirokazu SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Optical position-measuring device

Номер патента: US20180172433A1. Автор: Gotthard Lepperdinger. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2018-06-21.

Build plane measurement system and related additive manufacturing method

Номер патента: EP4275900A2. Автор: Zeulner Fabian,Mackenzie Ryan REDDING,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2023-11-15.

Build plane measurement system and related additive manufacturing method

Номер патента: EP4275900A3. Автор: Zeulner Fabian,Mackenzie Ryan REDDING,Rachel Wyn Levine. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2023-12-20.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20200334844A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

3-dimensional measurement apparatus and 3-dimensional measurement method

Номер патента: EP4417936A1. Автор: Daisuke SENGA. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20240272300A1. Автор: Shuji Uehara,Yoshinori Muramatsu,Kazuhiko Muraoka. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Liquid crystal device manufacturing apparatus and liquid crystal device manufacturing method

Номер патента: JP4329738B2. Автор: 武宮下,英男中田. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2009-09-09.

Variable power optical system, optical apparatus, and variable power optical system manufacturing method

Номер патента: US20180143413A1. Автор: Hiroshi Yamamoto,Kensuke Uchida,Akihiko Obama,Taku Matsuo. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-05-24.

DEPTH MEASUREMENT APPARATUS, IMAGE PICKUP APPARATUS, DEPTH MEASUREMENT METHOD, AND DEPTH MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20130300860A1. Автор: Komatsu Satoru. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT APPARATUS, POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20130114886A1. Автор: Kotake Daisuke,Uchiyama Shinji. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-05-09.

POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT APPARATUS,POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20130121592A1. Автор: Uchiyama Shinji,Fujiki Masakazu,Nakazato Yusuke. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-05-16.

POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT APPARATUS, POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20140205152A1. Автор: Uchiyama Shinji,Fujiki Masakazu. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-07-24.

Position and orientation measurement apparatus, position and orientation measurement method, and program

Номер патента: US9430837B2. Автор: Shinji Uchiyama,Masakazu Fujiki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-08-30.

Measurement method of intima-media thickness of artery and device therefore

Номер патента: KR20220075142A. Автор: 오지연,송태경,이건규,강정규,이미란,류승호,장유수,윤남경. Владелец: (의) 삼성의료재단. Дата публикации: 2022-06-07.

Visual behavior measurement method and determination method, progressive refractive power lens design method and manufacturing method, visual behavior measurement system, and progressive refractive power lens design system

Номер патента: JP2022056820A. Автор: Eiichiro Yamaguchi,英一郎山口,歩伊藤,Toshiaki SONEHARA,寿明曽根原,Ayumi Ito. Владелец: Hoya Lens Thailand Ltd. Дата публикации: 2022-04-11.

VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180052311A1. Автор: MACHIDA Kosuke. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-22.

VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180129026A1. Автор: Yamamoto Hiroshi,MATSUO Taku,OBAMA Akihiko,UCHIDA Kensuke. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180143413A1. Автор: Yamamoto Hiroshi,MATSUO Taku,OBAMA Akihiko,UCHIDA Kensuke. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-24.

VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180180858A1. Автор: Harada Hiroki. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-28.

VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE POWER OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20180196241A1. Автор: SHIBAYAMA Atsushi. Владелец: . Дата публикации: 2018-07-12.

VARIABLE MAGNIFICATION OPTICAL SYSTEM, OPTICAL APPARATUS, AND VARIABLE MAGNIFICATION OPTICAL SYSTEM MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20200363615A1. Автор: MACHIDA Kosuke. Владелец: . Дата публикации: 2020-11-19.

Optical transmitting/reception module using a ferrule, optical transmission/reception module connection apparatus, and optical transmission/reception module manufacturing method

Номер патента: US20050036740A1. Автор: Masaki Kobayashi,Nobutaka Itabashi,Nobuyuki Akiya,Hitomaro Tougou. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-17.

Variable magnification optical system, optical apparatus, and variable magnification optical system manufacturing method

Номер патента: JPWO2017094665A1. Автор: 幸介町田. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Absolute position measurement method, absolute position measurement apparatus and scale

Номер патента: US09651403B2. Автор: Jae-Wan Kim,Tae-Bong Eom,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-05-16.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Position measurment apparatus for measuring position of mobile object on the basis of refelected wave

Номер патента: US09488500B2. Автор: Masahiro Watanabe,Kenji Inomata,Masahiro Shikai,Wataru Tsujita. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Position measurement apparatus

Номер патента: US09983310B2. Автор: Yutaka Miki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Disruption detection of a positioning measurement differential correction message of a satellite geolocation device

Номер патента: US09977130B2. Автор: Stephane Corazza,Stephane Rollet,Bruno Montagne,Laurent Papin,Audrey Guilloton. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2018-05-22.

Apparatus and method for measuring the elasticity of skin

Номер патента: RU2760377C2. Автор: Виллем Ауке ВЕСТЕРХОФ,Маттхейс ПЛАТЬЕ. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2021-11-24.

Method and device for determining position

Номер патента: US7020575B2. Автор: Rainer Hagl. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2006-03-28.

GPS receiver and GPS position measurement method

Номер патента: EP1130415A3. Автор: Koji c/o Sony Corporation Hasegawa. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2003-06-18.

GPS receiver and GPS position measurement method

Номер патента: US20010020913A1. Автор: Koji Hasegawa. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2001-09-13.

Apparatus, method and program for spatial position measurement

Номер патента: US20170363710A1. Автор: Yohei INADA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Apparatus, method and program for spatial position measurement

Номер патента: US09817104B2. Автор: Yohei INADA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Method and device for detecting and locating irregularities in a dielectric

Номер патента: AU6637198A. Автор: Dirk Marinus Van Aartrijk. Владелец: Kema NV. Дата публикации: 1998-09-09.

Apparatus and method for providing road guidance information for a vehicle

Номер патента: US09805600B2. Автор: Dong Gyu Noh,Dae Sung Hwang,Jong Rok Park,Cho Rong Ryu,Hahk Rel Noh,Su Lynn Sung. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-10-31.

Position measurement systems using position sensitive detectors

Номер патента: US09746544B2. Автор: Shrenik Deliwala. Владелец: Analog Devices Inc. Дата публикации: 2017-08-29.

Method for performing a function test of a position measuring system and position measuring system for executing the method

Номер патента: US20060136159A1. Автор: Erich Strasser. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2006-06-22.

Improving the spatial accuracy of positions measured by global navigation satellite system receivers placed in a spatial configuration

Номер патента: EP3295213A1. Автор: Eric Johannus Hendricus Cornelis Maria Nieuwlands. Владелец: Philips Lighting Holding BV. Дата публикации: 2018-03-21.

Apparatus and method for processing position information

Номер патента: US09599718B2. Автор: Jong Bok Lee. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-03-21.

Absolute position-measuring device

Номер патента: US20150088451A1. Автор: Daniel Auer,Erwin Bratzdrum,Ernst Thielicke. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2015-03-26.

Position measuring laser apparatus

Номер патента: US20010024281A1. Автор: Yasushi Kubota,Toshihiko Kurebayashi,Makoto Nawa. Владелец: Koito Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2001-09-27.

Method for operating a magnetostrictive position measuring device

Номер патента: US20190017851A1. Автор: Achim Zern,Sándor Páli,Tobias Rupp. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2019-01-17.

Method for operating a magnetostrictive position measuring device

Номер патента: US10697808B2. Автор: Achim Zern,Sándor Páli,Tobias Rupp. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2020-06-30.

Position-measuring device

Номер патента: US20070075233A1. Автор: Erich Strasser. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2007-04-05.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Absolute position-measuring device

Номер патента: US09733109B2. Автор: Daniel Auer,Erwin Bratzdrum,Ernst Thielicke. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-08-15.

Method and device for measuring a property of a moving fibre web

Номер патента: EP3702526A1. Автор: Johnny ÅNERUD,Tommy Kallerdahl. Владелец: Valmet Technologies Oy. Дата публикации: 2020-09-02.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: CA3182555A1. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Position measuring device

Номер патента: US20090322318A1. Автор: Josef Siraky. Владелец: SICK STEGMANN GMBH. Дата публикации: 2009-12-31.

Positional information transmitter, positional information receiver, and position measuring system

Номер патента: US20110260915A1. Автор: Takamasa Kawaguchi,Tomoichi Ebata,Takayoshi Fujioka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-10-27.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12099033B2. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Sensor calibration method, apparatus, and device, data measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: US12117356B2. Автор: Cheng Zhou,Zhengyou Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Capacitance sensation unit of plane position measurement device

Номер патента: US09829347B2. Автор: Mikhail Tiapkin,Gennady Tyapkin,Aleksandr Balkovoi,Galina Slivinskaya,Victor Cacenkin. Владелец: Hiwin Mikrosystem Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

GPS receiving apparatus and computer readable-storage medium

Номер патента: US09671498B2. Автор: Ryuji Shingyoji. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-06.

Position measuring system and method for assembly

Номер патента: US20120000269A1. Автор: Wolfgang Pucher,Markus Kühler. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2012-01-05.

Position measuring apparatus with reflection

Номер патента: US5079418A. Автор: Erwin Spanner,Dieter Michel. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 1992-01-07.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP3845914A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Tech Solutions S L. Дата публикации: 2021-07-07.

Position-measuring device and method for determining absolute position

Номер патента: US20090161121A1. Автор: Johann Oberhauser,Thomas Schuermann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2009-06-25.

Position measurement system having receiver coils which are differentially interconnectable via switching means

Номер патента: US9921082B2. Автор: Johannes Muehlfeld,Guenter Reusing. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-03-20.

Position Measurement System Having Receiver Coils Which Are Differentially Interconnectable Via Switching Means

Номер патента: US20160047676A1. Автор: Johannes Muehlfeld,Guenter Reusing. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2016-02-18.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12092609B2. Автор: Yutaka Matsui,Takafumi Ozeki,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Method and apparatus for position measuring of portable electronic device

Номер патента: US09939531B2. Автор: Jeong-Min Park,Do-Hyoung Chung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-10.

Position measurement system having receiver coils which are differentially interconnectable via switching means

Номер патента: US09921082B2. Автор: Johannes Muehlfeld,Guenter Reusing. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Position measurement method, position measurement systems and marking

Номер патента: US20230400579A1. Автор: Nitish Kumar,Sascha Korl,Peer Schmidt,Kristian Morin,Michael HELMBERGER. Владелец: Hilti AG. Дата публикации: 2023-12-14.

Methods and Apparatuses to Account for Timing Errors of a User Equipment in Positioning Measurements

Номер патента: US20230184871A1. Автор: Iana Siomina,Erik Stare,Ritesh SHREEVASTAV,Siva Muruganathan,Per Ernström,Florent Munier,Magnus Sandgren,Deep SHRESTHA. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2023-06-15.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Optical position measuring instrument

Номер патента: US20110286004A1. Автор: Wolfgang Holzapfel,Michael Hermann,Karsten Sändig. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2011-11-24.

Measuring apparatus for a liquid handling apparatus for measuring pipetting container, article for said measuring apparatus and corresponding measuring method

Номер патента: US12044691B2. Автор: Burkhardt Reichmuth,Markus Lapczyna,Uwe Dunker,Maik Radke. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2024-07-23.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Portable internal friction measuring apparatus and internal friction measurement method

Номер патента: EP4443128A1. Автор: Jian Yin,Wenqing Jia,Yuanfei Li,Xiangbing LIU,Chaoliang XU,Qiwei QUAN,Wangjie QIAN. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Position measurement device

Номер патента: US09494684B2. Автор: Masayuki Honda. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-15.

Formation resistivity measurement method that eliminates effects of lateral tool motion

Номер патента: CA2367179C. Автор: Martin Paulk,Teruhiko Hagiwara,Samuel M. Haugland. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2006-05-23.

Position measurement device, speed measurement device, and position measurement method

Номер патента: EP4155780A1. Автор: Hiroyuki Kobayashi,Yusuke Takahashi,Noriyasu Kato,Yohei Hattori,Naoto Seto,Tatsuya Oodake,Yoshiaki YAMASAKI. Владелец: Toshiba Infrastructure Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-03-29.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: EP4357767A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-24.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Vital sign detection apparatus and system and data processing method

Номер патента: US20240237905A1. Автор: BO Wang,Zhi Zheng,Yongxin Guo. Владелец: Singapore Suzhou Research Institute, National University of. Дата публикации: 2024-07-18.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic imaging apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09910140B2. Автор: Masaki Hayashi,Kenji Murakami,Kazuyuki Kano,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Optoelectronic position measuring device including a code carrier, a radiation source, and a detection element

Номер патента: US09816842B2. Автор: Werner Amann,Urs Vokinger. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-11-14.

Method and device for attaching a scale element

Номер патента: US20040101341A1. Автор: Ludwig BÖGE,Reiner Burgschat,Wolfgang Sachse. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2004-05-27.

Level position measuring method and device

Номер патента: US5459933A. Автор: Takeshi Izumitani. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-10-24.

Measuring device, measuring method, and programs therefor

Номер патента: US20170115161A1. Автор: Hiroki Nagashima,Hajime Shinozaki. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-04-27.

Peak position measurement offset in a two-dimensional optical spectrum

Номер патента: AU2022423102A1. Автор: Cheng Wang,Shenghai WU,Antonella Guzzonato. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-06-27.

Particle measuring apparatus, ultrapure water production apparatus having the same, and particle measuring method

Номер патента: US20240255411A1. Автор: Hiroshi Sugawara,Fumio Sudo,Tsukasa Kondo,Fumitaka ICHIHARA. Владелец: Organo Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Position measuring system

Номер патента: US20040227066A1. Автор: Wolfgang Holzapfel,Walter Huber,Udo Linnemann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2004-11-18.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Peak position measurement offset in a two-dimensional optical spectrum

Номер патента: EP4453523A1. Автор: Cheng Wang,Shenghai WU,Antonella Guzzonato. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-30.

Physical amount measurement apparatus mounted integrally with flow rate measurement apparatus, and physical amount measurement method

Номер патента: US09869573B2. Автор: Koji Tanimoto,Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Monitoring unit and method for monitoring position signals of incremental position-measuring devices

Номер патента: US09766097B2. Автор: Thomas Mueller,Ingo Joachimsthaler,Thomas Schuermann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-09-19.

Measuring apparatus and method for detecting ferromagnetic particles

Номер патента: US09575023B2. Автор: Rudolf Lueck,Peter Hoehne. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Strain measurement apparatus and method for measuring mechanical strain

Номер патента: WO2023213647A1. Автор: Peter Fratzl,Shahrouz Amini. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E. V.. Дата публикации: 2023-11-09.

Device and Method for Transmitting Data Between a Position-Measuring Device and Sequential Electronics

Номер патента: US20110213586A1. Автор: Takeshi Yamamoto,Michael Walter,Alexander Kobler,Heik H. Hellmich,Terukiyo Hayashi,Ruedi Schoppmann. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2011-09-01.

Method and device to measure multiphase flow

Номер патента: US12050118B2. Автор: Gerald Morrison,Abhay R. Patil,Joshua A. Vandervort. Владелец: TEXAS A&M UNIVERSITY SYSTEM. Дата публикации: 2024-07-30.

Scanning unit for a position measuring system for the optical scanning of a scale and position measuring system utilizing such a scanning unit

Номер патента: US20060227341A1. Автор: Ulrich Benner. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2006-10-12.

Scanning unit for a position measuring system for the optical scanning of a scale and position measuring system utilizing such a scanning unit

Номер патента: US7423768B2. Автор: Ulrich Benner. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2008-09-09.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Position measuring instrument

Номер патента: US09810554B2. Автор: Johann Oberhauser,Heinz Tovar. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-11-07.

Position measuring/plotting apparatus

Номер патента: US5361217A. Автор: Shigeru Kojima,Kazuo Makimura,Haruo Kakizawa. Владелец: Fuji Photo Optical Co Ltd. Дата публикации: 1994-11-01.

Optical-fiber-characteristic measuring device and optical-fiber-characteristic measuring method

Номер патента: US7948614B2. Автор: Kazuo Hotate,Zuyuan He,Kwang Yong Song. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2011-05-24.

Relative position measurement system using satellites

Номер патента: CA2585060C. Автор: Takashi Fujita,Keiji Ito,Yukihiro Terada,Takenori Abe. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2012-09-11.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Method for compensating drift in a position measuring device

Номер патента: EP2104834A1. Автор: Sven-Ake Eriksson. Владелец: C2SAT COMMUNICATIONS AB. Дата публикации: 2009-09-30.

Method for compensating drift in a position measuring device

Номер патента: WO2008085100A1. Автор: Sven-Ake Eriksson. Владелец: C2SAT COMMUNICATIONS AB. Дата публикации: 2008-07-17.

Method for compensating drift in a position measuring device

Номер патента: US8321168B2. Автор: Sven-Ake Eriksson. Владелец: C2SAT COMMUNICATIONS AB. Дата публикации: 2012-11-27.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US09625405B2. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2017-04-18.

Refractive index distribution measuring method, refractive index distribution measuring apparatus, and method for manufacturing optical element

Номер патента: US09625350B2. Автор: Tomohiro Sugimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Position-measuring device

Номер патента: US09618368B2. Автор: Ludwig Schlichtner. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2017-04-11.

Surface temperature measuring apparatus and surface temperature measuring method

Номер патента: US09523611B2. Автор: Chihiro Uematsu,Yutaka Wakasu,Tatsuro Honda. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Load measurement method and apparatus, railcar provided with load measurement apparatus, and load management system

Номер патента: US09476802B2. Автор: Yoshi SATO. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-10-25.

Position measuring instrument

Номер патента: US5386642A. Автор: Alfons Spies,Gerald Metz. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 1995-02-07.

Apparatus and process for measuring changes in effect of tidal forces

Номер патента: US4882929A. Автор: Robert L. Brown. Владелец: Total Environmental Services Technologies Inc. Дата публикации: 1989-11-28.

GPS receiver and GPS position measurement method

Номер патента: US6480145B2. Автор: Koji Hasegawa. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2002-11-12.

Method for detecting a position of a signal generator in a position measuring system, and position measuring system

Номер патента: US20230104100A1. Автор: Nikolai Hlubek. Владелец: Buerkert Werke GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-04-06.

Method for initializing a position-measuring system

Номер патента: US7426790B2. Автор: Wolfgang Holzapfel,Kai Rascher. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2008-09-23.

Method for initializing a position-measuring system

Номер патента: US20070227019A1. Автор: Wolfgang Holzapfel,Kai Rascher. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2007-10-04.

Position-measuring device, position-measuring system, and measuring device

Номер патента: EP4354245A1. Автор: Shinji Sato. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Present-position measurement system, present-position measurement device, present-position measurement program, magnetic-field generation device, and magnetic-field generation program

Номер патента: US20230176144A1. Автор: Katsunori Suetsugu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-08.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Different-voltage device manufactured by a cmos compatible process and high-voltage device used in the different-voltage device

Номер патента: US20070178648A1. Автор: Jenn-Yu Lin,Ta-Yung Yang,Chih-Feng Huang,Tuo-Hsin Chien. Владелец: System General Corp Taiwan. Дата публикации: 2007-08-02.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: US20190265264A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Jun Inagaki,Takashi Yamato,Shunsuke Saito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Measuring method of sensor using interdigitated array electrode, measuring apparatus and computer readable medium storing measuring program

Номер патента: US20170045469A1. Автор: Koji Sode,Yasuhide Kusaka,Hisashi Kaneda. Владелец: Ultizyme International Ltd. Дата публикации: 2017-02-16.

Apparatus and method for high-accuracy optical particle measuring using laser power scanning

Номер патента: US12085496B2. Автор: Sang Woo Kang,Ji Hun MUN. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2024-09-10.

Thermal conductivity measurement apparatus and thermal conductivity measurement method

Номер патента: US20180299391A1. Автор: Dai Nakajima,Haruna Tada,Yasuyuki Sanda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Method for processing three-dimensional (3d) silicon-based transfer structure based on photosensitive composite, and device manufactured thereby

Номер патента: US20240321588A1. Автор: Liang Zhou,Ziqi Zhang,Chengrui Zhang,Junfa MAO. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-09-26.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Method of identifying position measurements and determining location of aerial objects in a multi-position radio navigation system using multibeam radio transmitters

Номер патента: RU2703987C1. Автор: Виктор Григорьевич Маркин,Владимир Андреевич Шуваев,Евгений Михайлович Красов,Александр Викторович Журавлев. Владелец: Акционерное общество научно-внедренческое предприятие "ПРОТЕК". Дата публикации: 2019-10-23.

GPS Position Measuring Device

Номер патента: US20080158053A1. Автор: Takayuki Watanabe. Владелец: Alpine Electronics Inc. Дата публикации: 2008-07-03.

Method and device for positional tracking

Номер патента: GB2621547A. Автор: John Nowell Andrew,Andrew Philip Apsey Jake,Emmanuel Milton Storke Matthew. Владелец: Pitpatpet Ltd. Дата публикации: 2024-02-21.

Devices and methods for reduction of positioning measurements in communication systems

Номер патента: WO2024074190A1. Автор: Olav Tirkkonen,Xinze Li,Salah Eddine HAJRI,Hanan Hassan AL-TOUS. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-04-11.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20210190587A1. Автор: Takashi Toya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20100201987A1. Автор: Takanori IWAWAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-08-12.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4097446A1. Автор: Makoto Higuchi,Tatsuya Hamada,Hironaga GENDA,Tatsuhiro ESAKI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Measuring method, measuring apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240085327A1. Автор: Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Device manufacturing apparatus and manufacturing method of magnetic device using structure to pass ion beam

Номер патента: US9799482B2. Автор: Junichi Ito,Yuichi Ohsawa,Akio Ui,Chikayoshi Kamata,Saori Kashiwada,Megumi Yakabe. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Method and device to determine adsorption capacity for air entraining agents

Номер патента: US09651497B2. Автор: Rafic Y. Minkara,Crystal A. Dixon,Jennifer M. Kelley,Richard J. Nordman,Michael J. Ponstingl. Владелец: Headwaters Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09594023B2. Автор: Sakuya Tamada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US09448113B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Position-measuring system

Номер патента: US3609320A. Автор: Robert W Tripp. Владелец: Inductosyn Corp. Дата публикации: 1971-09-28.

Position measuring system of working machine

Номер патента: EP1548402A1. Автор: Hideto c/o Hitachi Construction Machi ISHIBASHI,Kazuo c/o Hitachi Construction Machine FUJISHIMA. Владелец: HITACHI CONSTRUCTION MACHINERY CO LTD. Дата публикации: 2005-06-29.

Apparatus and method for collecting and auto-labelling measurement data in traffic scenario

Номер патента: WO2021109033A1. Автор: Mustapha Amara,Xueming PENG,Sami Mekki,Songyu YUAN,Yutong ZHU,Zhixuan WEI. Владелец: Huawei Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2021-06-10.

Position measuring system

Номер патента: US4631404A. Автор: Alfons Ernst,Holmer Dangschat,Horst Burkhardt,Horst Wogatzke. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 1986-12-23.

Optical Position-Measuring Device

Номер патента: US20120162646A1. Автор: Wolfgang Holzapfel. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2012-06-28.

Position measuring apparatus

Номер патента: US8049492B2. Автор: Mike Heurich,Tino Wiggers,Timo Gerlach. Владелец: WABCO GmbH. Дата публикации: 2011-11-01.

Three-dimensional position-measuring apparatus

Номер патента: US20080243429A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Kaoru Kumagai. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-10-02.

Position measuring apparatus

Номер патента: US20090256554A1. Автор: Mike Heurich,Tino Wiggers,Timo Gerlach. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-10-15.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317056A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20210065484A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: EP3786659A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Raman scattering measuring apparatus and raman scattering measuring method

Номер патента: US20140253918A1. Автор: Keisuke Nose,Yasuyuki Ozeki,Kazuyoshi Itoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Display device manufacturing apparatus and method

Номер патента: US20190341277A1. Автор: Juhee Lee,Myungsoo Huh,TaeJong Kim,Haeyoung YOO,Jaekyu Park,Hyunwoo Joo. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-07.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US11703592B2. Автор: Hirokazu Takenaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Measurement apparatus and measurement method using the same

Номер патента: US20240295490A1. Автор: Jaeho Kim,Younghoon Sohn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-05.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US20170030761A1. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US09823110B2. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Radiation measurement apparatus and radiation measurement method

Номер патента: US09696433B2. Автор: Koji Yasui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Measuring apparatus and measuring method utilizing insulating liquid

Номер патента: US09684015B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Kosuke Hatozaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Measurement apparatus and method with adaptive scan rate

Номер патента: US09645169B2. Автор: Sang-il Park,Sang Han Chung,Ju Suk Lee,Yong Sung CHO,Ah Jin Jo. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US09535007B2. Автор: Toshiyuki Hattori. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Magnetic signal measuring apparatus and magnetic signal measuring method

Номер патента: US09518957B2. Автор: Keiji Enpuku,Akihiko Kandori,Takako Mizoguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-12-13.

Electrical resistance measurement apparatus and electrical resistance measurement method

Номер патента: US09372215B2. Автор: Akihide Hamano. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-21.

Method of primary identification of position measurements and location of targets in a ground-based spatially distributed radio navigation system in conditions of multi-purpose environment

Номер патента: RU2692702C1. Автор: Владислав Викторович Кирюшкин,Виктор Григорьевич Маркин,Владимир Андреевич Шуваев,Евгений Михайлович Красов,Александр Викторович Журавлев,Александр Федорович Иванов. Владелец: Акционерное общество научно-внедренческое предприятие "ПРОТЕК". Дата публикации: 2019-06-26.

Method of identifying position measurements and determining the location of aerial targets in a spatially distributed radio navigation system in a multi-target environment

Номер патента: RU2689770C1. Автор: Владислав Викторович Кирюшкин,Виктор Григорьевич Маркин,Владимир Андреевич Шуваев,Евгений Михайлович Красов,Александр Викторович Журавлев,Александр Федорович Иванов. Владелец: Акционерное общество научно-внедренческое предприятие "ПРОТЕК". Дата публикации: 2019-05-29.

Surveying instrument with receiver for satellite position-measuring system and method of operation

Номер патента: US5077557A. Автор: Hilmar Ingensand. Владелец: Wild Leitz AG. Дата публикации: 1991-12-31.

Encased position measuring instrument

Номер патента: US4777361A. Автор: Alfred Affa. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 1988-10-11.

Magnetostrictive position measuring method and system with a start and stop impulse

Номер патента: US20030146747A1. Автор: Ernst Ehling. Владелец: Horst Siedle GmbH and Co KG. Дата публикации: 2003-08-07.

Position measuring device

Номер патента: US11913814B2. Автор: Sebastian Gruber,Alois BARTLECHNER,Pascal Haible. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2024-02-27.

Apparatus and method for manufacturing spark plug

Номер патента: US9748742B2. Автор: Hajime Kawano,Kyosuke Handa,Takashi UKIMORI. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Demagnification measurement method for charged particle beam exposure apparatus, stage phase measurement method for charged particle beam exposure apparatus, control method for charged particle beam exposure apparatus, and charged particle beam exposure apparatus

Номер патента: US20040183036A1. Автор: Shinsuke Nishimura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-09-23.

Multi charged particle beam evaluation method, multi charged particle beam writing method, inspection method for aperture array substrate for multi charged particle beam irradiation apparatus, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20230402253A1. Автор: HIROFUMI Morita,Yoshikuni GOSHIMA. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Sensorless position measurement method for solenoid-based actuation devices using inductance variation

Номер патента: WO2007081308A2. Автор: Evgeni Ganev. Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2007-07-19.

Sensorless position measurement method for solenoid-based actuation devices using inductance variation

Номер патента: EP1911049A2. Автор: Evgeni Ganev. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2008-04-16.

Carrier selection method for positioning measurement, positioning measurement method, positioning processing apparatus, and terminal

Номер патента: US09451534B2. Автор: Jie Cui,Dengkun Xiao,Yuanfeng Du. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Positioning measurement result sending method and apparatus, positioning measurement result receiving method and apparatus, and communication device

Номер патента: US20240323894A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Positioning measurement with low latency

Номер патента: US20240267873A1. Автор: Yujie Zhang,Basuki PRIYANTO,Anders Berggren. Владелец: Sony Europe BV. Дата публикации: 2024-08-08.

Position measurement reference sheet, image forming apparatus, and image position measurement method

Номер патента: US20160277610A1. Автор: Satoshi Nakayama,Takahiro Konishi,Noritaka Masuda,Makoto Hino,Yumiko Kishi,Satoshi Mohri,Hideyo Makino,Tomoaki Suga,Yoshiaki Morita. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-22.

Method and apparatus for transmitting positioning measurement report

Номер патента: US11902931B2. Автор: Tao Tao,YAN Meng,Jianguo Liu,Zhe Luo,Zhilan XIONG. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-02-13.

A method and apparatus for transmitting positioning measurement report

Номер патента: EP3878202A1. Автор: Tao Tao,YAN Meng,Jianguo Liu,Zhe Luo,Zhilan XIONG. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2021-09-15.

Positioning measurement with low latency

Номер патента: EP4381772A1. Автор: Yujie Zhang,Basuki PRIYANTO,Anders Berggren. Владелец: Sony Europe BV. Дата публикации: 2024-06-12.

SENSORLESS POSITION MEASUREMENT SYSTEM FOR PERMANENT MAGNET MACHINE AND MEASURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20200313589A1. Автор: LEE Cheng-Lung,CHEN Guan-Ren,YANG Hsiang-Yi. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

Measurement apparatus, communication apparatus, relay apparatus, measurement method, and measurement program

Номер патента: WO2015045080A1. Автор: 哲明鶴岡. Владелец: 富士通株式会社. Дата публикации: 2015-04-02.

High frequency communication apparatus and waterproof structure thereof and manufacturing method for waterproof structure

Номер патента: US20090168389A1. Автор: Tung Yi Ko,Hsiang Hao Sung. Владелец: Microelectronics Technology Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

Electric drive apparatus, electric power steering apparatus, and electronic control device manufacturing method

Номер патента: EP4096073A4. Автор: Masakazu Morimoto. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2023-11-15.

Channel quality measurement method in multiple antenna wireless communication system and device for same

Номер патента: US20170111098A1. Автор: Kijun KIM,Jonghyun Park,Bonghoe Kim,Youngtae Kim,Kunil YUM,Hanjun PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-04-20.

Channel quality measurement method in multiple antenna wireless communication system and device for same

Номер патента: WO2015183035A1. Автор: 김봉회,김기준,김영태,박종현,박한준,염건일. Владелец: 엘지전자 주식회사. Дата публикации: 2015-12-03.

Mobility measurement method in rrc idle or inactive state and device

Номер патента: EP4017130A4. Автор: Li Chen,Xusheng Wei,Yanliang SUN,Sanjun FENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

CHANNEL MEASUREMENT METHOD, CELL HANDOVER METHOD, RELATED APPARATUS, AND SYSTEM

Номер патента: US20160309376A1. Автор: Zhou Yongxing,LIU Kunpeng,Liu Jianghua,LIU Jianqin. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-20.

A kind of channel measuring method, cell switching method, relevant apparatus and system

Номер патента: CN105874849B. Автор: 刘江华,刘建琴,周永行,刘鹍鹏. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-25.

DELAY MEASUREMENT METHOD OF NETWORK NODE DEVICE, APPARATUS, AND NETWORK NODE DEVICE

Номер патента: US20190288930A1. Автор: ZHANG Xiquan,WEI Jiahong,Song Jianmin. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-19.

Apparatus and method for calibrating a reflecting mirror

Номер патента: US20060279198A1. Автор: SANG YUN,Seung An. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-14.

Computer-readable recording medium storing position measuring program, information processing device, and position measuring method

Номер патента: US20240177334A1. Автор: Daisuke Ishii,Kento Ikkaku. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Position measuring program, information processing device, and position measuring method

Номер патента: EP4375930A1. Автор: Daisuke Ishii,Kento Ikkaku. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Vehicle driving assistance control method and apparatus, and vehicle and storage medium

Номер патента: EP4462405A1. Автор: Qi Zhang,Zhixiang Zhao,Guoshan ZHU,Xiongfei DU,Yuqi LUO. Владелец: Great Wall Motor Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-13.

Method for transferring data between a position-measuring device and an associated processing unit and position-measuring device therefor

Номер патента: US20140344479A1. Автор: Michael Walter,Bernhard Beaury,Markus Mooshammer,Stephan Kreuzer,Alexander Kobler. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2014-11-20.

Referencing pose manipulation system for marker based tracking of position measurement system

Номер патента: US12115652B2. Автор: Rolf Heidemann,Matthias Wolke,Steffen Kappes. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Stroke information measuring apparatus and stroke information measuring method

Номер патента: EP1398060B1. Автор: Takahiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. MURAKOSHI,Yuuichi c/o Hamamatsu Photonics K.K. KIMURA,Takehiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. KURONO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-08-03.

Carry measuring device, hit-ball-direction measuring device, carry measuring system, carry measuring method, hit-ball determining device, hit-ball determining system, hit-ball determining method, and recording medium

Номер патента: US20160175651A1. Автор: Hisao Tanaka,Shoichi Nakajo,Yoichi NATORI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-06-23.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US6826002B2. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-11-30.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US20020135913A1. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-09-26.

Robot installation position measurement device, installation position measurement method, robot controller, teaching system, and simulator

Номер патента: US20240091940A1. Автор: Kunihiko Harada. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Method and device for monitoring ophthalmic lens manufacturing conditions

Номер патента: US09897824B2. Автор: Randall B. Pugh. Владелец: Johnson and Johnson Vision Care Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Method for serial transmission between a position measuring device and a processing unit

Номер патента: US7349442B2. Автор: Erwin Bratzdrum. Владелец: Dr Johannes Heidenhain GmbH. Дата публикации: 2008-03-25.

Control rod drop time measurement method integrated with rod position measurement device

Номер патента: EP4258288A1. Автор: Ye Tian,Minghui Zhang,Shaohua Xu,Yiming Ma,Ning Tao,Yuan Huang,ShengFeng XU,Zihua YANG,Weijian ZHU,Bo Chao,Xinxin LIU,Qichao Wang,Zhengke CHANG,Desong LANG. Владелец: Nuclear Power Operations Research Institute Npri. Дата публикации: 2023-10-11.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory storage medium storing optical measurement program

Номер патента: US20240319486A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Positioning measurement method, communication apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4383859A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Position measurement method, signal adjustment apparatus, base station, terminal, and storage medium

Номер патента: US20240357540A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Method and device for positioning user equipment in handover process

Номер патента: US20140135013A1. Автор: Tong Wu,Jie Cui,Dengkun Xiao. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

Method and device for positioning user equipment in handover process

Номер патента: US09432894B2. Автор: Tong Wu,Jie Cui,Dengkun Xiao. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-30.

Terminal capability report method and device and storage medium

Номер патента: EP4391632A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Information transmission method and device

Номер патента: US20210084452A1. Автор: Li Chen,Yan Wang,Yinghui Yu,Chenwan LI,Jiantao XUE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Information transmission method and device

Номер патента: US10880693B2. Автор: Li Chen,Yan Wang,Yinghui Yu,Chenwan LI,Jiantao XUE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-29.

Apparatus and wireless communication method of positioning measurement

Номер патента: WO2024169754A1. Автор: Li Guo. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP., LTD.. Дата публикации: 2024-08-22.

Devices, methods, apparatuses, and computer readable media for non-terrestrial networks

Номер патента: WO2024174230A1. Автор: PING Yuan,Mads LAURIDSEN,Rafhael MEDEIROS DE AMORIM,Jing Yuan Sun. Владелец: Nokia Shanghai Bell Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-08-29.

Positioning measurement method, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240349224A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Method for sending line-of-sight or non-line-of-sight indication information, method for receiving line-of-sight or non-line-of-sight indication information, and device

Номер патента: EP4412330A1. Автор: Xiaotao Ren,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Skipping report of positioning measurements

Номер патента: EP4409960A1. Автор: Tao Tao,YAN Meng,Ryan Keating. Владелец: NOKIA TECHNOLOGIES OY. Дата публикации: 2024-08-07.

Positioning measurement method and positioning configuration method and apparatuses, and communication device

Номер патента: EP4366365A1. Автор: Qian Yang,YE Si,Xusheng Wei,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Methods and apparatus for measurement gap activation and deactivation for positioning measurements

Номер патента: EP4133816A1. Автор: Hong He,YANG Tang,Yuchul Kim,Dawei Zhang,Jie Cui,Fangli XU,Murtaza A. Shikari,Zhibin Wu. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2023-02-15.

Methods and apparatus for measurement gap activation and deactivation for positioning measurements

Номер патента: US12069523B2. Автор: Hong He,YANG Tang,Yuchul Kim,Dawei Zhang,Jie Cui,Fangli XU,Murtaza A. Shikari,Zhibin Wu. Владелец: Apple Inc. Дата публикации: 2024-08-20.

Wireless communications devices and related methods for performing positioning measurements in a service network

Номер патента: US09801023B2. Автор: Yuan-Wen Ting,Tsung-Yu CHIOU. Владелец: MediaTek Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Positioning measurement method, positioning configuration method, apparatus, and communication device

Номер патента: US20240129893A1. Автор: Qian Yang,YE Si,Xusheng Wei,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Stator position measuring method and measuring device

Номер патента: US20070130753A1. Автор: Takao Taniguchi,Yoshihisa Yamada,Shingo Hashimoto,Takeshi Tomita,Shigeharu Ikeda. Владелец: Aisin AW Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-14.

Terminal for performing position measurement and operating method thereof

Номер патента: US09924307B2. Автор: Jin Ho Jeon. Владелец: SK Planet Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Methods and arrangements for enabling continuation of ongoing positioning measurements at handover

Номер патента: US09894575B2. Автор: Iana Siomina,Gino Luca Masini,Martin Israelsson,Elena Myhre. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2018-02-13.

Methods and arrangements for enabling continuation of ongoing positioning measurements at handover

Номер патента: EP2995120A1. Автор: Iana Siomina,Gino Luca Masini,Martin Israelsson,Elena Myhre. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2016-03-16.

Time-division multiplexing-based multi-channel electrocardiogram measurement apparatus robust against power line interference and electrocardiogram measurement method using the same

Номер патента: US20240120938A1. Автор: Jae Yoon Sim,Kyu Jin Choi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2024-04-11.

A method and device for determining acoustical transfer impedance

Номер патента: EP1614323A2. Автор: Klaus Geiger,Rolf Helber,Christian Glandier. Владелец: Bruel and Kjaer Sound and Vibration Measurement AS. Дата публикации: 2006-01-11.

Measurement method and apparatus, and devices

Номер патента: EP4117249A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-01-11.

Method and device for wireless communication

Номер патента: US20230413099A1. Автор: Zheng Zhao,Zhongzhi YANG,Ling LYU. Владелец: Quectel Wireless Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

User equipment positioning measurement procedures under active bandwidth part switching, corresponding devices and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: EP4133818A1. Автор: Iana Siomina,Christopher Callender,Muhammad Ali Kazmi. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2023-02-15.

Managing parallel measurement gap patterns for radio resource management and positioning measurements

Номер патента: EP3759959A1. Автор: Iana Siomina,Muhammad Kazmi,Santhan THANGARASA. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2021-01-06.

Methods and apparatuses for sidelink positioning measurement and reporting

Номер патента: WO2023141787A1. Автор: Haiming Wang,Jie Hu,Jing HAN,Lianhai WU,Xiaodong Yu. Владелец: LENOVO (BEIJING) LIMITED. Дата публикации: 2023-08-03.

Positioning measurement method and apparatus and communication device

Номер патента: US20230262649A1. Автор: YE Si,Huaming Wu,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

User equipment positioning measurement procedures under active bandwidth part switching, corresponding devices and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20230180173A1. Автор: Iana Siomina,Christopher Callender,Muhammad Ali Kazmi. Владелец: Telefonaktiebolaget LM Ericsson AB. Дата публикации: 2023-06-08.

Transmission-reception point (trp) association for positioning measurements performed on physical downlink channels

Номер патента: WO2021236419A1. Автор: Tingfang JI,Krishna Kiran Mukkavilli,Alexandros Manolakos. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2021-11-25.

Bandwidth aggregation positioning measurements in wireless systems

Номер патента: WO2024173031A1. Автор: Hua Li,Rui Huang,Yi Guo,Meng Zhang,Andrey Chervyakov. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2024-08-22.

Mitigation of positioning measurement impact on rlf procedure

Номер патента: WO2024164304A1. Автор: PING Yuan,Mads LAURIDSEN,Jing Yuan Sun. Владелец: Nokia Shanghai Bell Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-08-15.

Measurement method and apparatus, and device

Номер патента: US12082005B2. Автор: Jianqin Liu,Xiaolei Tie,Zhanzhan ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Methods and apparatus for new radio (nr) position measurement in a radio resource control inactive state

Номер патента: US20240298292A1. Автор: Hua Li,Rui Huang,Yi Guo,Meng Zhang,Andrey Chervyakov. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Acoustic position measurement

Номер патента: US09794720B1. Автор: Romi Kadri. Владелец: Sonos Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US4654636A. Автор: Stanley J. Rusk. Владелец: Lockheed Missiles and Space Co Inc. Дата публикации: 1987-03-31.

Positioning method and apparatus based on downlink (dl) channel information, and device

Номер патента: EP4307783A1. Автор: REN Da,HUI Li,Xiaotao Ren,Qiubin Gao,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-17.

Beam management methods and apparatuses for positioning measurements in a communications network

Номер патента: US20230276257A1. Автор: Norbert Franke,Mohammad Alawieh,Markus Landmann,Marcus GROSSMAN. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2023-08-31.

Inter-frequency positioning measurements

Номер патента: RU2554078C2. Автор: Мухаммад КАЗМИ,Яна СИОМИНА. Владелец: Леново Груп Лимитед. Дата публикации: 2015-06-27.

Enhancements on satellite positioning measurement

Номер патента: WO2024007222A1. Автор: Jingyuan Sun,Jeroen Wigard,Srinivasan Selvaganapathy,Mads LAURIDSEN,Gilsoo LEE. Владелец: Nokia Shanghai Bell Co., Ltd.. Дата публикации: 2024-01-11.

Ear model, head model, and measuring apparatus and measuring method employing same

Номер патента: US09949670B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Context-based pairing apparatus, and method thereof

Номер патента: US20220210654A1. Автор: Younghyun Kim,Suman Banerjee,Kyuin LEE,Neil Klingensmith. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-06-30.

Context-based pairing apparatus, and method thereof

Номер патента: US20230093780A9. Автор: Younghyun Kim,Suman Banerjee,Kyuin LEE,Neil Klingensmith. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-23.

Methods for sidelink positioning measurements

Номер патента: WO2024031626A1. Автор: Hong He,Wei Zeng,Dawei Zhang,Chunxuan Ye,Weidong Yang,Sigen Ye,Chunhai Yao,Seyed Ali Akbar Fakoorian,Oghenekome Oteri. Владелец: Chunhai Yao. Дата публикации: 2024-02-15.

Positioning measurement based secret key sharing between network entities

Номер патента: WO2023229730A1. Автор: Alexandros Manolakos,Ahmed Elshafie. Владелец: QUALCOMM INCORPORATED. Дата публикации: 2023-11-30.

Positioning measurement window indication method, terminal, and network side device

Номер патента: EP4239929A1. Автор: YE Si,Huaming Wu,Zixun ZHUANG,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-06.

Positioning measurement window indication method, terminal, and network side device

Номер патента: US20230319771A1. Автор: YE Si,Huaming Wu,Zixun ZHUANG,Yuanyuan Wang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Apparatus and method for securing available frequency

Номер патента: US20150245170A1. Автор: Byung Jang Jeong,Sang In Cho,Sung Jin Yoo. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2015-08-27.

Sensor for aerosol generation apparatus, aerosol generation apparatus and temperature measurement apparatus

Номер патента: EP4223161A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Communication quality measuring apparatus and communication quality measuring method

Номер патента: US20140135043A1. Автор: Katsuyuki Masuda,Takahiro Kawaguchi,Yutaka Hamada,Hiromitsu Kawai,Yuki Shinada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

Frequency characteristic measurement apparatus and frequency characteristic measurement method

Номер патента: EP4425789A1. Автор: Hiroshi Fujiwara,Toru Tazawa,Yuta SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Method and device in nodes used for wireless communication

Номер патента: US20240349255A1. Автор: QI JIANG,Xiaobo Zhang. Владелец: Shanghai Langbo Communication Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Mechanical assembly calibrating method, involves calculating corrected position of movable unit based on position measured by movable unit's position measurement sensor and correction function sensor

Номер патента: FR2909578A1. Автор: Bruno Lucien Bizet,Baptiste Levasseur,Jean Marc Robert Andre Meunier. Владелец: Briot International SA. Дата публикации: 2008-06-13.

Apparatus and methods for non-invasively measuring physiologic parameters of one or more subjects

Номер патента: US09655530B2. Автор: Matthias Bohn,Oliver Goedje,Dave ESHBAUGH. Владелец: Tensys Medical Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Measuring Apparatus for Skin Sensitivity and Measuring Method Using the Same and Measuring Apparatus for Skin Elasticity and Measuring Method Using the Same

Номер патента: KR102074169B1. Автор: 김정훈,최영진,오동훈. Владелец: 한양대학교에리카산학협력단. Дата публикации: 2020-02-06.

Power storage device manufacturing apparatus and power storage device manufacturing method

Номер патента: JP6183245B2. Автор: 晃嵩山田. Владелец: Toyota Industries Corp. Дата публикации: 2017-08-23.

Electro-oculography measuring apparatus, imaging apparatus, electro-oculography measuring method, program, and integrated circuit

Номер патента: US20090292223A1. Автор: Daisuke Sato,Toshiyasu Sugio. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-11-26.

Spinning pack for manufacturing high strength yarn, and yarn manufacturing apparatus and method

Номер патента: EP3741884A1. Автор: Sung Ho Park,Il Chung,Ki Sub Lim. Владелец: KOLON INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2020-11-25.

PULSEBEAT MEASUREMENT APPARATUS, WEARABLE DEVICE AND PULSEBEAT MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20180116531A1. Автор: Suzuki Masahiro,Ueda Tomoaki. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-03.

Droplet ejection apparatus control method, droplet ejection apparatus, and electro-optic device manufacturing method

Номер патента: JP4434032B2. Автор: 和巳有賀,秀範臼田. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-03-17.

AUDITORY EVENT-RELATED POTENTIAL MEASUREMENT SYSTEM, AUDITORY EVENT-RELATED POTENTIAL MEASUREMENT APPARATUS, AUDITORY EVENT-RELATED POTENTIAL MEASUREMENT METHOD, AND COMPUTER PROGRAM THEREOF

Номер патента: US20130324880A1. Автор: OZAWA Jun,ADACHI Shinobu. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2013-12-05.

BIOMAGNETISM MEASUREMENT APPARATUS, BIOMAGNETISM MEASUREMENT SYSTEM, BIOMAGNETISM MEASUREMENT METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20220296143A1. Автор: Hashimoto Jun,WATANABE Taishi,Kawabata Shigenori,ISHIDA Koki. Владелец: . Дата публикации: 2022-09-22.

Method for verifying an initial value determined using at least one measurement, method for treating a diesel particulate filter and device for verifying a differential pressure value

Номер патента: EP2423480A3. Автор: Andreas Ruhnke. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2016-11-09.

Method for verifying an initial value determined using at least one measurement, method for treating a diesel particulate filter and device for verifying a differential pressure value

Номер патента: EP2423480A2. Автор: Andreas Ruhnke. Владелец: VOLKSWAGEN AG. Дата публикации: 2012-02-29.

Shrinkage pressure measuring apparatus for ruminant stomach and measuring method thereof

Номер патента: KR102275131B1. Автор: 김희진. Владелец: 주식회사 유라이크코리아. Дата публикации: 2021-07-09.

Tactile sensor for position and forse sensing of tooth, apparatus and system having the same, manufacturing method, obtaining method and recording medium thereof

Номер патента: KR101221415B1. Автор: 김영운,김종호. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2013-01-11.

Liquid droplet ejection apparatus and inspection apparatus for its inspecting drawing accuracy, workpiece and inspection apparatus for inspecting processing accuracy of its processing apparatus, and electro-optic device, and manufacturing method thereof

Номер патента: TWI256344B. Автор: Yuji Iwata. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2006-06-11.

A wire electric discharge machining apparatus and a wire electric discharge machining method, a semiconductor wafer manufacturing apparatus and a semiconductor wafer manufacturing method, and a solar cell wafer manufacturing apparatus and a solar cell wafer manufacturing method

Номер патента: DE112009001483T5. Автор: Tatsushi Sato,Hidetaka Miyake. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2011-04-21.

Multi-stage helical gear manufacturing apparatus and multi-stage helical gear manufacturing method

Номер патента: US20240149512A1. Автор: Yuta Sakaguchi,Yuki Wakimoto,Rikiya SUENAGA. Владелец: Toyota Boshoku Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

PRINTING LIQUID CONTAINER, PRINTING LIQUID FILLED CONTAINER, IMAGE FORMING APPARATUS AND PRINTING LIQUID FILLED CONTAINER MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20130271536A1. Автор: Kondou Masahiko,YOSHIDA Tomohisa. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-17.

IMPRINT APPARATUS AND IMPRINT METHOD, AND ARTICLE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20150042012A1. Автор: EMOTO Keiji,Nakagawa Kazuki. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

Mold press apparatus and mold press molded product manufacturing method

Номер патента: JP4667931B2. Автор: 忠幸藤本,賢治山中. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2011-04-13.

Three-dimensional layered product manufacturing apparatus and three-dimensional layered product manufacturing method

Номер патента: JPWO2019088101A1. Автор: 雅人山田,山田　雅人,雅志毛利,祐輝小末. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2020-07-27.

METAL OXIDE SINGLE CRYSTAL MANUFACTURING APPARATUS AND METAL OXIDE SINGLE CRYSTAL MANUFACTURING METHOD

Номер патента: DE102023101328A1. Автор: Takumi Kobayashi,Keigo Hoshikawa,Toshinori Taishi. Владелец: Shinshu University NUC. Дата публикации: 2023-07-27.

Cooling device, hot-rolled steel plate manufacturing apparatus, and hot-rolled steel plate manufacturing method

Номер патента: JPWO2013012060A1. Автор: 健治堀井,堀井　健治,洋一原口,知史寶諸,原口　洋一,裕二池本,桂輔松田,一暁小林. Владелец: Mitsubishi Hitachi Metals Machinery Inc. Дата публикации: 2015-02-23.

Dot position measurement method, dot position measurement apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20100079518A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

Living body optical measurement apparatus, living body optical measurement method, and engagement member for mobile position sensor

Номер патента: US09883825B2. Автор: Takashi Ishizuka,Hirokazu Asaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-06.

Radiotherapy apparatus control apparatus and specific site position measuring method

Номер патента: US20110087061A1. Автор: Takanobu Handa,Shuji Kaneko. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-14.

Fat mass measurement apparatus

Номер патента: US09408553B2. Автор: Takehiro Hamaguchi,Hiromichi Karo,Yasuaki Murakawa,Kazuhisa Tanabe. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2016-08-09.

Method of and device for remote control of lift

Номер патента: RU2321533C2. Автор: Джон МЕАРНС,Тапио ТЮНИ,Пекка ПЕРАЛА,Нильс-Роберт РОСШИЕР. Владелец: Коне Корпорейшн. Дата публикации: 2008-04-10.

Method and device for the reduction of influence of the multipath effect on the own position measurement of a beam guided object and the rf beam guided object control system using it

Номер патента: EP1678459A1. Автор: Herman THALES INTELL. PROPERTY Benthem de Grave. Владелец: Thales Nederland BV. Дата публикации: 2006-07-12.

Method and device for the reduction of influence of the multipath effect on the own position measurement of a beam guided object and the rf beam guided object control system using it

Номер патента: EP1678459B1. Автор: Herman THALES INTELL. PROPERTY Benthem de Grave. Владелец: Thales Nederland BV. Дата публикации: 2011-10-12.

Method and device for cleaning an optical position measurement system for substrates in a coating installation

Номер патента: US20110290181A1. Автор: Thomas Bock,Michael Hentschel,Hubertus Von Der Waydbrink,Marco Kenne,Reinhard Jaeger,Reinhardt BAUER,Steffen Lessmann,Damir MUCHAMEDJAROW. Владелец: VON ARDENNE ANLAGENTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2011-12-01.

Electrocardiogram measurement apparatus and electrocardiogram measurement method

Номер патента: US20180289273A1. Автор: Masahiro Kubo,Katsumi Abe,Takeshi Akagawa,Ersin Altintas,Yuji Ohno,Tetsuri Ariyama. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2018-10-11.

Dosage unit for delayed release of insecticide, measuring apparatus and device for thereof, and method of its manufacturing

Номер патента: RU2501219C2. Автор: ГУЭЛЬ Эдуард МОНСОНИС,БАРЕА Хорди КОРТЕС,АРНАЛЬ Фредерик ДАЛЬМАУ. Владелец: Эс.Си.ДЖОНСОН ЭНД САН, ИНК.. Дата публикации: 2013-12-20.

Calibration and compensation of errors in position measurement

Номер патента: RU2531968C2. Автор: Дэниэл ОСАДЧИЙ,Бар-Тал МЭЙР. Владелец: Байосенс Уэбстер, Инк.. Дата публикации: 2014-10-27.

Driving system for turned and/or displaced doors or for entrance/exit device with improved position measurement

Номер патента: RU2429334C1. Автор: Дирк МЮЛЛЕР,Альфонс ХАРДИНГ,Клаус МЕЙЕРРОЗЕ. Владелец: Гебр. Боде Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2011-09-20.

Bending machine, in particular a press brake, with a position measuring system

Номер патента: EP4392189A1. Автор: Lars WOIDASKY. Владелец: BYSTRONIC LASER AG. Дата публикации: 2024-07-03.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Bending machine, in particular a press brake, with a position measuring system

Номер патента: US20240261837A1. Автор: Lars WOIDASKY. Владелец: BYSTRONIC LASER AG. Дата публикации: 2024-08-08.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Position measurement apparatus

Номер патента: CA1044810A. Автор: Arthur M. Lewis,Charles L. Winkler. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1978-12-19.

Scapulae position measuring device and method

Номер патента: US20150289784A1. Автор: Hiroyuki Tatsumi,Tomoko Maekawa. Владелец: Maido Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-15.

Loop mold for wearable device manufacturing

Номер патента: US20240227260A1. Автор: Antti Kalevi Lämsä. Владелец: OURA HEALTH OY. Дата публикации: 2024-07-11.

Position measuring device and position measuring method in semiconductor single crystal manufacturing device

Номер патента: US8115908B2. Автор: Toshio Hayashida,Ayumi Kihara,Naoji Mitani. Владелец: Sumco Techxiv Corp. Дата публикации: 2012-02-14.

Method and device for the reduction of influence of the multipath effect on the own position measurement of a beam guided object and the rf beam guided object control system using it

Номер патента: WO2005038386A1. Автор: Herman Benthem De Grave. Владелец: Thales Nederland B.V.. Дата публикации: 2005-04-28.

Bonding apparatus, bonding method and article manufacturing method

Номер патента: US20240227316A9. Автор: Kenichiro Mori,Kai Takahashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Seine net position measurement system and method of determining seine net position

Номер патента: WO2024107722A1. Автор: David O'Neill,Muniain Carles CASTRO,Carroll John WESCOTT,Vranken Cooper VAN. Владелец: Caledonia Nets Llc. Дата публикации: 2024-05-23.

Surgical table position measurement device

Номер патента: RU2412680C2. Автор: Маркус БЮРСТНЕР,Томас БИЛЬ. Владелец: Маквет Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2011-02-27.

Welding target position measurement device

Номер патента: US20130098971A1. Автор: Kazuo Aoyama,Yoshinori Satoh,Tetsuro Aikawa,Tatsuya OHDAKE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-04-25.

Wearable Blood Pressure Measurement Apparatus and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220110531A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Precision quenching apparatus and method with induction heating

Номер патента: CA2228808C. Автор: Yoshimasa Tanaka,Hisashi Tabuchi,Yasuharu Ogawa,Daiji Itoh. Владелец: Neturen Co Ltd. Дата публикации: 2001-11-27.

Method and device for cleaning an optical position measurement system for substrates in a coating installation

Номер патента: US8605292B2. Автор: Thomas Bock,Michael Hentschel,Hubertus Von Der Waydbrink,Marco Kenne,Reinhard Jaeger,Reinhardt BAUER,Damir MUCHAMEDJAROW,Steffen Leβmann. Владелец: VON ARDENNE ANLAGENTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2013-12-10.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Track maintenance machine having a track position measuring system

Номер патента: US11802380B2. Автор: Samuel WOLLANEK,Leopold Fruehwirt. Владелец: Plasser und Theurer Export Von Bahnbaumaschinen GmbH. Дата публикации: 2023-10-31.

Biological signal measuring apparatus and biological signal measuring method

Номер патента: US09526444B2. Автор: Kazumasa Ito,Naoki Kobayashi,Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Method and device for forming a continuous fibrous tape from a transportable band

Номер патента: RU2653052C2. Автор: Владимир Семенович Николаев,Иван Александрович Прошин,Игорь Александрович Булаев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Пензенский государственный технологический университет". Дата публикации: 2018-05-04.

Method and device for continuous monitoring of process channel pipe bend

Номер патента: RU2545521C2. Автор: Владимир Аминович Подгорнов,Семён Владимирович Подгорнов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Российский Федеральный Ядерный Центр-Всероссийский Научно-Исследовательский Институт Технической Физики имени академика Е.И. Забабахина" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИТФ им. академ. Е.И. Забабахина"). Дата публикации: 2015-04-10.

Screw apparatus and manual screw system

Номер патента: RU2743181C1. Автор: Томас ЛАНГХОРСТ. Владелец: Йоханнес Любберинг Гмбх. Дата публикации: 2021-02-15.

Method and device for determining properties of crushed material

Номер патента: RU2592557C2. Автор: Бенгт Олоф ЧЕЛЬ,Кристиан ОТТЕРГРЕН. Владелец: САНДВИК ИНТЕЛЛЕКЧУАЛ ПРОПЕРТИ АБ. Дата публикации: 2016-07-27.

Distance measuring method, distance measuring receiving station apparatus and position measuring system

Номер патента: JP5305324B2. Автор: 宏達橋爪,雅則杉本. Владелец: Inter University Research Institute Corp Research Organization of Information and Systems. Дата публикации: 2013-10-02.

Electron gun position measuring device and electron gun position measuring method

Номер патента: JPH1083763A. Автор: Yukio Ito,幸雄伊東. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1998-03-31.

Object position measurement RFID system and object position measurement method thereof

Номер патента: CN103455778A. Автор: 刘丙午,王玉泉,霍灵瑜. Владелец: Beijing Wuzi University. Дата публикации: 2013-12-18.

ELECTRONIC DEVICE, CAMERA, CAMERA SYSTEM, POSITION MEASUREMENT OPERATION CONTROL PROGRAM AND POSITION MEASUREMENT OPERATION CONTROL METHOD

Номер патента: US20120050553A1. Автор: . Владелец: NIKON CORPORATION. Дата публикации: 2012-03-01.

The measurement method of sampling barrel drink under pressure and device therefor

Номер патента: SK542012U1. Автор: Jan Fedak,Augustin Sipikal. Владелец: Augustin Sipikal. Дата публикации: 2012-10-02.

Substrate holding method and holding apparatus, and electro-optical device manufacturing method and manufacturing apparatus

Номер патента: JP4066694B2. Автор: 武士柿澤,要次郎岡倉. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-03-26.

Group III nitride semiconductor device manufacturing apparatus and method, and semiconductor wafer manufacturing method

Номер патента: JP6562350B2. Автор: 勝堀,修小田,小田　　修. Владелец: Tokai National Higher Education and Research System NUC. Дата публикации: 2019-08-21.

RANGE IMAGE GENERATION APPARATUS, POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT APPARATUS, RANGE IMAGE PROCESSING APPARATUS, METHOD OF CONTROLLING RANGE IMAGE GENERATION APPARATUS, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120155706A1. Автор: Matsugu Masakazu,Honjo Tomoya,WATANABE Ikuo. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-06-21.

Piezoelectric vibration device manufacturing apparatus and piezoelectric vibration device manufacturing method

Номер патента: JP3436233B2. Автор: 有村　　博之,一郎奥田. Владелец: Daishinku Corp. Дата публикации: 2003-08-11.

Evaporation mask device manufacturing apparatus and deposition mask device manufacturing method

Номер патента: JP7240623B2. Автор: 大吾青木,英介岡本,吾郎石川. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2023-03-16.

Electro-optical device manufacturing apparatus and electro-optical device manufacturing method

Номер патента: JP3804385B2. Автор: 幸久小林. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2006-08-02.

Thin film device manufacturing apparatus and thin film device manufacturing method

Номер патента: JP4054234B2. Автор: 弘志林,哲哉川上. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2008-02-27.

LITHOGRAPHIC APPARATUS, CONTROL SYSTEM AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120008113A1. Автор: VAN DE KERKHOF Marcus Adrianus,UITTERDIJK Tammo,LALLEMANT Nicolas Alban,JACOBS Johnnes Henricus Wilhelmus. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2012-01-12.

Lithographic Apparatus, Aberration Detector and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20120026477A1. Автор: Rooijakkers Wilhelmus Jacobus Maria. Владелец: ASML Neitherlands B.V.. Дата публикации: 2012-02-02.

LITHOGRAPHIC APPARATUS, EXCIMER LASER AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20120057144A1. Автор: DE KRUIF Robertus Cornelis Martinus,Bruls Richard Joseph,Teeuwsen Johannes Wihelmus Maria Cornelis,Buurman Erik Petrus. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2012-03-08.

LITHOGRAPHIC APPARATUS, SUBSTRATE TABLE AND DEVICE MANUFACTURING METHOD

Номер патента: US20130050674A1. Автор: PROSYENTSOV Vitaliy,Van Benten Johannes Maria. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2013-02-28.

Measuring apparatus of magnetic head and measuring method used in the apparatus

Номер патента: JP2003248911A. Автор: Masayuki Abe,真之阿部. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2003-09-05.

Lithographic apparatus, substrate table and device manufacturing method.

Номер патента: NL2008318A. Автор: Vitaliy Prosyentsov,Jon Benten. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2012-04-02.

Vibration measuring apparatus for rotating machine, vibration measuring method and program for rotating machine

Номер патента: JP6594240B2. Автор: 隆丸山,和浩田村. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2019-10-23.

Image pickup device, image pickup apparatus, and image pickup device manufacturing method

Номер патента: JP4798270B2. Автор: 智鈴木. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2011-10-19.

Gap material spraying apparatus and liquid crystal device manufacturing method

Номер патента: JP3108780B2. Автор: 文雄小幡,幸三行田,徹遠峰. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2000-11-13.

Tunnel convergence displacement and the measurement apparatus of Vault settlement and measuring method

Номер патента: CN103335596B. Автор: 夏才初,张平阳,曾格华. Владелец: SHANGHAI TONGJIAN BUILDING TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-10.

Droplet ejection apparatus and electro-optic device manufacturing method

Номер патента: JP4320635B2. Автор: 俊正森. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2009-08-26.

Drawing method using liquid droplet ejection apparatus, liquid droplet ejection apparatus, and electro-optical device manufacturing method

Номер патента: JP4293043B2. Автор: 剛加藤,善昭山田. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2009-07-08.

Drawing control method for liquid droplet ejection apparatus, liquid droplet ejection apparatus, and electro-optical device manufacturing method

Номер патента: JP4631355B2. Автор: 賢治坂本. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-02-16.

Drawing method for liquid droplet ejection apparatus, liquid droplet ejection apparatus, and electro-optical device manufacturing method

Номер патента: JP4631448B2. Автор: 剛加藤. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2011-02-16.

Porosity measuring apparatus for porous dielectrics and measuring method thereof

Номер патента: TW200943446A. Автор: Dong-Qing Peng,Ding-Wen Qiu,Ji-Sheng Zeng,Shuo-Wen Cai,Xuan-Kai Wang,jia-lin Xu. Владелец: Univ Nat Cheng Kung. Дата публикации: 2009-10-16.

POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT APPARATUS, POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120033071A1. Автор: Kobayashi Kazuhiko,Uchiyama Shinji. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-02-09.

SHAPE MEASURING APPARATUS, ROBOT SYSTEM, AND SHAPE MEASURING METHOD

Номер патента: US20120098961A1. Автор: HANDA HIROYUKI,Arie Ken. Владелец: KABUSHIKI KAISHA YASKAWA DENKI. Дата публикации: 2012-04-26.

POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT APPARATUS, POSITION AND ORIENTATION MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20120275654A1. Автор: Uchiyama Shinji,Fujiki Masakazu. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-11-01.

OPTICAL MEASURING APPARATUS, FLOW CYTOMETER, AND OPTICAL MEASURING METHOD

Номер патента: US20130056656A1. Автор: Muraki Yosuke. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2013-03-07.

ELECTRICAL PROPERTY MEASURING APPARATUS FOR PRESSURE SENSOR AND MEASURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20130167651A1. Автор: Ciou Jyun-Kai,Lin Yan-Rung,Liou Chang-Ho. Владелец: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE. Дата публикации: 2013-07-04.

Measurement method for electrical prospecting with alternating current and device for performing this method

Номер патента: SU124563A1. Автор: Л.В. Лебедкин,С.М. Шейнман. Владелец: С.М. Шейнман. Дата публикации: 1959-11-30.

Voltage-measuring apparatus, storage device, and voltage measurement method

Номер патента: JP2010014651A. Автор: 靖則伊戸,Yasunori Ido. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2010-01-21.

The Absorption and emission spectra measurement apparatus of nanoseconds resolution and measuring method

Номер патента: CN104062269B. Автор: 杨阳,徐大力,王艳秋,刘建勇,刘本康,韩克利. Владелец: Dalian Institute of Chemical Physics of CAS. Дата публикации: 2016-08-10.

Brillouin frequency shift distribution measurement system, Brillouin frequency shift distribution measurement apparatus, Brillouin frequency shift distribution measurement method, and Brillouin frequency shift distribution measurement program

Номер патента: JP6539931B2. Автор: 文彦伊藤,央高橋,飯田　大輔,大輔飯田,邦弘戸毛,哲也真鍋,伊藤　文彦,真鍋　哲也. Владелец: National University Corp Shimane University. Дата публикации: 2019-07-10.

Measuring method for thickness of tape-like body and device

Номер патента: JPH1183446A. Автор: Ichiro Tsuchiya,一郎土屋,Kaoru Okuno,薫奥野,宏平小林,Kohei Kobayashi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 1999-03-26.

Self-adaptive differential absorption spectrum measuring method of concentration of flue gas pollutants and device

Номер патента: CN101694460B. Автор: 许传龙,宋飞虎,王式民,姚其兵,汤光华. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2011-02-09.

Luminous power measurement method of parameters based on crystal resonator and device

Номер патента: CN104215326B. Автор: 黄伟,吴勇,王平,丁彬,斯阳,冯刚,陈绍武,刘福华,杨鹏翎,陶蒙蒙. Владелец: Northwest Institute of Nuclear Technology. Дата публикации: 2016-08-17.

The centering measurement method of axial injection line of cyclotron and device

Номер патента: CN103712558B. Автор: 宋国芳,姚红娟,郑侠,邢建升. Владелец: China Institute of Atomic of Energy. Дата публикации: 2016-05-04.

Fabry-Perot interference absolute distance measurement method based on femtosecond optical frequency comb and device thereof

Номер патента: CN102508231A. Автор: 李岩,吴学健,张丽琼,朱敏昊. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2012-06-20.

Device mounting apparatus and device mounting substrate manufacturing method

Номер патента: JP7154074B2. Автор: 洋介清水. Владелец: Shibaura Mechatronics Corp . Дата публикации: 2022-10-17.

Bridge type flow measuring method for flow measurement of conductive fluid and device thereof

Номер патента: CN102435238B. Автор: 刘铁军,陈寅佳. Владелец: China Jiliang University. Дата публикации: 2012-12-19.

Measuring method for magnetic characteristics of permanent magnet and device therefor

Номер патента: JPS55101873A. Автор: Isogo Konno,Hisato Noda. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1980-08-04.

Displacement Measurement Method and Apparatus Thereof, Stage Apparatus, and Probe Microscope

Номер патента: US20120327429A1. Автор: Watanabe Masahiro,Nakata Toshihiko,Baba Shuichi,Nomoto Mineo. Владелец: . Дата публикации: 2012-12-27.

Electrophotographic photoreceptor and manufacturing method thereof, process cartridge and electrophotographic apparatus, and hydroxygallium phthalocyanine crystal and manufacturing method thereof

Номер патента: JP6465694B2. Автор: 正人田中,純平久野,田中　正人,正隆川原,孟西田,川原　正隆,要渡口. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-02-06.

Plasma CVD film forming apparatus and gas barrier plastic container manufacturing method

Номер патента: JP4722674B2. Автор: 雄一坂本,鹿毛　　剛,正樹中谷,圭秀竹本,晶久老川,重和多田,丈晴川邉. Владелец: Kirin Brewery Co Ltd. Дата публикации: 2011-07-13.

Silicon carbide single crystal manufacturing apparatus and silicon carbide single crystal manufacturing method

Номер патента: JP5087489B2. Автор: 大輔近藤,由則小林. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2012-12-05.

Silicon carbide single crystal manufacturing apparatus and silicon carbide single crystal manufacturing method using the same

Номер патента: JP5206694B2. Автор: 英美牧野. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2013-06-12.

Electro-optical device substrate, electro-optical device, electronic apparatus, and electro-optical device substrate manufacturing method

Номер патента: JP4114412B2. Автор: 俊裕大竹,睦松尾. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-07-09.

Silicon carbide single crystal manufacturing apparatus and silicon carbide single crystal manufacturing method using the same

Номер патента: JP5263145B2. Автор: 英美牧野. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2013-08-14.

Method and device for validation of setting scale parallel installation in horizontal plane with regard to axis of bottom front roller of cleaving machine

Номер патента: RU2341368C1. Автор: Михаил Владимирович Боярский,Ольга Германовна Тарасова,рский Михаил Владимирович Бо. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2008-12-20.

Номер патента: RU2269795C1. Автор: Александр Юрьевич Козирацкий,Юрий Леонтьевич Козирацкий,Руслан В чеславович Перевозов,Руслан Вячеславович Перевозов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Военный институт радиоэлектроники. Дата публикации: 2006-02-10.

APPARATUS AND METHOD FOR OPTIMIZING MAINTENANCE AND OTHER OPERATIONS OF FIELD DEVICES IN A PROCESS CONTROL SYSTEM USING USER-DEFINED DEVICE CONFIGURATIONS

Номер патента: US20120004743A1. Автор: . Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

STRUCTURE PROVIDED WITH ZEOLITE SEPARATION MEMBRANE, METHOD FOR PRODUCING SAME, METHOD FOR SEPARATING MIXED FLUIDS AND DEVICE FOR SEPARATING MIXED FLUIDS

Номер патента: US20120000358A1. Автор: MORI Nobuhiko,KAWAI Masaaki,SATOH Aya,TOMITA Toshihiro. Владелец: NGK Insulators, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Номер патента: RU2581997C2. Автор: Георгий Иванович Закаменных,Владимир Ефимович Слуцкий,Геннадий Дмитриевич Радзинский,Наиль Шамильевич Маликов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России). Дата публикации: 2016-04-20.

Номер патента: RU2419106C1. Автор: Павел Леонидович Смирнов,Александр Михайлович Шепилов,Александр Сергеевич Наумов,Олег Владимирович Царик,Алексей Васильевич Терентьев,Виталий Никитович Саяпин,Александр Иванович Соломатин,Юрий Валентинович Иванов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военная академия связи имени С.М. Буденного" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2011-05-20.

Measuring method and apparatus

Номер патента: CA1143552A. Автор: Frederick S. Schiler. Владелец: Individual. Дата публикации: 1983-03-29.

INK FOR ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE, ORGANIC DISPLAY PANEL, ORGANIC DISPLAY APPARATUS, ORGANIC ELECTROLUMINESCENT APPARATUS, INK , FORMING METHOD OF FUNCTIONAL LAYER, AND ORGANIC ELECTROLUMINESCENT DEVICE

Номер патента: US20120001124A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

PROJECTION OPTICAL SYSTEM, EXPOSURE APPARATUS, AND EXPOSURE METHOD

Номер патента: US20120002186A1. Автор: Omura Yasuhiro,Okada Takaya,Nagasaka Hiroyuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method and device for determining coordinates of radio-frequency source

Номер патента: RU2536609C1. Автор: Александр Геннадьевич Митянин,Павел Леонидович Смирнов,Александр Михайлович Шепилов,Александр Сергеевич Наумов,Олег Владимирович Царик. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Специальный Технологический Центр". Дата публикации: 2014-12-27.

BODY CONDITION EVALUATION APPARATUS, CONDITION ESTIMATION APPARATUS, STRIDE ESTIMATION APPARATUS, AND HEALTH MANAGEMENT SYSTEM

Номер патента: US20120000300A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HOLOGRAM RECORDING MEDIUM AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, HOLOGRAM REPRODUCTION APPARATUS, AND HOLOGRAM REPRODUCTION METHOD

Номер патента: US20120002257A1. Автор: Shirakura Akira,Baba Shigeyuki,Arai Toshiyuki,Higashihara Teruaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.