Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Electrocardiogram measurement apparatus and electrocardiogram measurement method

Electrocardiogram measurement apparatus and electrocardiogram measurement method

Номер патента: US20180289273A1
Опубликовано: 11-10-2018
Автор(ы): Ersin Altintas, Katsumi Abe, Masahiro Kubo, Takeshi Akagawa, Tetsuri Ariyama, Yuji Ohno
Принадлежит: NEC Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Contactless Electrocardiogram Measurement Device

Номер патента: US20230148935A1. Автор: Shinill Kang,Inkyu Park. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2023-05-18.

Vehicular electrocardiogram measurement device and method

Номер патента: US20200022602A1. Автор: Kwang Hee Lee,Nam Yong Park. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-01-23.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Film-type biomedical signal measuring apparatus, blood pressure measuring apparatus using the same, cardiopulmonary fitness estimating apparatus, and personal authentication apparatus

Номер патента: US20200107744A1. Автор: Hee Chan Kim,Seung Woo NOH,Chi Yul YOON. Владелец: SEOUL NATIONAL UNIVERSITY R&DB FOUNDATION. Дата публикации: 2020-04-09.

Apparatus and method of measuring bio signal

Номер патента: US12102422B2. Автор: Kak Namkoong,Myounghoon JUNG,Yeolho LEE,Youngjun Koh,Jungmok Bae,Hyeongseok JANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Biosignal measuring apparatus and method of measuring biosignal

Номер патента: US09662032B2. Автор: Byung-Hoon Ko,Tak-Hyung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-30.

Tissue component measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427505A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement method

Номер патента: EP4079219A1. Автор: Atsushi Ito,Naoya Sazuka,Tomoya Ikuta. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2022-10-26.

Electrocardiogram processing apparatus and method

Номер патента: US20230190168A1. Автор: Jong Ook Jeong,Kab Mun Cha. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Activity information measuring apparatus, and method and program for assisting prevention of forgotten attachment of the same

Номер патента: US09972192B2. Автор: Naoki Takeishi. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-05-15.

Biological information processing apparatus, and biological information processing method

Номер патента: US09615798B2. Автор: Kazuhiro Nishida,Hirokazu Kasahara,Kimitake Mizobe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Real-time simultaneous measurement system, real-time simultaneous measurement apparatus, real-time simultaneous measurement method, and storage medium in which program is stored

Номер патента: US8396525B2. Автор: Masaaki Sato,Akihiro Ishikawa,Tatsuya Okabe. Владелец: ATR Advanced Telecommunications Research Institute International. Дата публикации: 2013-03-12.

Apparatus and method for measuring electroencephalogram

Номер патента: US20030139683A1. Автор: Seung-hoon Nam,Seung-chul Shin,Chang-Su Ryu,Yoon-Seon Song. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2003-07-24.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4190233A1. Автор: Takayuki Sugahara,Shohei Odan. Владелец: JVCKenwood Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Time-division multiplexing-based multi-channel electrocardiogram measurement apparatus robust against power line interference and electrocardiogram measurement method using the same

Номер патента: US20240120938A1. Автор: Jae Yoon Sim,Kyu Jin Choi. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2024-04-11.

Cardionpulmonary function evaluating apparatus and cardionpulmonary function evaluating method

Номер патента: US09901267B2. Автор: Norihito Konno,Makoto Hajiri. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2018-02-27.

Wearable electrocardiogram measurement device and method for compressing an electrocardiogram

Номер патента: US09603571B2. Автор: Huan-Sheng Wang,Je-Hung Liu,Jui-Hung Hsieh,King-Chu Hung,Pei-Jen Chang. Владелец: National Kaohsiung First University of Science and Technology. Дата публикации: 2017-03-28.

Electrocardiogram measurement apparatus

Номер патента: US11931156B2. Автор: In-Duk Hwang. Владелец: Hexacheck Inc. Дата публикации: 2024-03-19.

Electrocardiogram measurement apparatus

Номер патента: US20240000363A1. Автор: In-Duk Hwang. Владелец: Hexacheck Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Electrocardiogram Measurement Method and System Using Wearable Device

Номер патента: GB2589990A. Автор: HWANG In-Duk. Владелец: Wellbeingsoft Inc. Дата публикации: 2021-06-16.

Electrocardiographic measurement method and electrocardiographic measurement device

Номер патента: US20190307342A1. Автор: Yoshihiro Mikami. Владелец: Simplex Quantum Inc. Дата публикации: 2019-10-10.

Apparatus and method of monitoring biosignal of cyclist and computer readable recording medium

Номер патента: US10638943B2. Автор: Youn Tae Kim,Jae Hyo JUNG,Si Ho Shin. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chosun National University. Дата публикации: 2020-05-05.

Apparatus and method of monitoring biosignal of cyclist and computer readable recording medium

Номер патента: US20190104955A1. Автор: Youn Tae Kim,Jae Hyo JUNG,Si Ho Shin. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chosun National University. Дата публикации: 2019-04-11.

Cardionpulmonary function evaluating apparatus and cardionpulmonary function evaluating method

Номер патента: US20150257656A1. Автор: Norihito Konno,Makoto Hajiri. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2015-09-17.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Blood pressure measuring apparatus and blood pressure measuring method

Номер патента: US09622667B2. Автор: Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Detection apparatus and measuring apparatus

Номер патента: US20230288320A1. Автор: Takashi Tajiri. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Apparatus and method for measuring blood glucose level

Номер патента: US20210153788A1. Автор: Kwang Soo CHO,Hoe Sung Yang,Kang Bok Lee,Kyu Won HAN. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2021-05-27.

Blood pressure measurement apparatus, method of controlling blood pressure measurement apparatus, and program

Номер патента: US11324454B2. Автор: Hirotaka Wada,Masaaki Kasai,Eriko Kan,Keiichi Obayashi,Ayako Kokubo. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2022-05-10.

Body impedance measuring apparatus and body composition analysis system including the same

Номер патента: US09895078B2. Автор: Kak Namkoong,Seongho CHO,Kunsun EOM,Yeolho LEE,Jungmok Bae. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Upper limb multi-joint impedance measurement method and apparatus using the same

Номер патента: US12127841B2. Автор: Sang Hoon KANG,Hyunah Kang,Sung Shin Kim. Владелец: UNIST Academy Industry Research Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Apparatus and method of measuring bio impedance

Номер патента: US09763595B2. Автор: Jong Pal Kim,Tak Hyung Lee,Hyoung Ho KO. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Chungnam National University. Дата публикации: 2017-09-19.

Joint motion measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2021158956A1. Автор: James L. Cook,James P. Stannard,Trent M. Guess,Jamie B. HALL. Владелец: The Curators of the University of Missouri. Дата публикации: 2021-08-12.

Bio signal measuring apparatus and user monitoring system including the same

Номер патента: US09775537B2. Автор: Tae Wook Kim,Honggul Han. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Yonsei University. Дата публикации: 2017-10-03.

Biological information measurement method and apparatus with variable cutoff frequency low pass filter

Номер патента: US09717463B2. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Biological information measurement method and apparatus with variable loop filter

Номер патента: US09717462B2. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Apparatus and method for measuring bioelectric signals

Номер патента: US09675298B2. Автор: Jong-pal Kim,Byung-Hoon Ko,Tak-Hyung Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-06-13.

Fluid measurement apparatus, fluid measurement method, and program

Номер патента: US20210041274A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Heartbeat measuring apparatus, heartbeat measuring method, and recording medium

Номер патента: US09693738B2. Автор: Takeshi Fukuda,Toru Sato,Takuya Sakamoto,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Blood oxygen saturation measurement method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: EP4079222A1. Автор: Kongqiao Wang,Guokang ZHU. Владелец: Anhui Huami Health Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-26.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20210186345A1. Автор: Atsushi Ito,Kazunari Yoshifuji. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Foot pressure measurement apparatus, method, and non-transitory tangible machine-readable medium thereof

Номер патента: US20210145315A1. Автор: Chih-Hao Hsu,yan-tong Liu. Владелец: INSTITUTE FOR INFORMATION INDUSTRY. Дата публикации: 2021-05-20.

Signal measurement apparatus and signal measurement method

Номер патента: US20230337982A1. Автор: Jongpal Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-26.

Biosignal measuring apparatus, method for detecting signal peaks in an electrocardiogram of detecting an effective peak using the complexity value around the peak in the wavelet transformed signals, and a computer program for performing the methods

Номер патента: US11986308B2. Автор: Jong Ook Jeong,Kab Mun Cha. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-21.

Biological data measurement device, biological data measurement method, and program

Номер патента: EP3949852A1. Автор: Masayoshi Takahashi. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Fluid measurement device, fluid measurement method, and program

Номер патента: EP3745097A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

Concentration-measurement device and concentration-measurement method

Номер патента: US09808189B2. Автор: Susumu Suzuki,Yasuaki Koyama,Takeo Ozaki. Владелец: St Marianna University School of Medicine. Дата публикации: 2017-11-07.

Biological measurement apparatus and biological measurement method

Номер патента: EP3127480A1. Автор: Tomo Ikebe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-02-08.

Bioelectrical impedance measuring apparatus

Номер патента: US20020027439A1. Автор: Fumie Shibata,Tamaki Shoji. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2002-03-07.

Biological measurement apparatus and a biological measurement method

Номер патента: EP2921102A1. Автор: Tomo Ikebe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-09-23.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US10010292B2. Автор: Teiji Ukawa,Haruka Morimoto. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2018-07-03.

Biomagnetism measurement apparatus, biomagnetism measurement system, biomagnetism measurement method, and recording medium

Номер патента: US20220296143A1. Автор: Jun Hashimoto,Koki Ishida,Shigenori Kawabata,Taishi WATANABE. Владелец: Tokyo Medical and Dental University NUC. Дата публикации: 2022-09-22.

Blood pressure measuring apparatus and blood pressure measuring method

Номер патента: US11903684B2. Автор: Masashi Kawamoto,Noboru Saeki,Ryuji Nakamura,Teiji Ukawa,Tsuneo TAKAYANAGI,Haruka Morimoto. Владелец: Hiroshima University NUC. Дата публикации: 2024-02-20.

Blood pressure measuring apparatus and blood pressure measuring method

Номер патента: US11896354B2. Автор: Youn Ho Kim,Yong Joo KWON,Jae Min Kang,Sang Yun PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-13.

Myopotential measurement apparatus and myopotential measurement wearable equipment

Номер патента: US20220354412A1. Автор: Hisashi Kaneda. Владелец: Shinko Electric Industries Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-10.

Mass measurement apparatus for automatic processing machines and mass measurement method

Номер патента: EP3969855A1. Автор: Marco Minardi. Владелец: IMA Industria Macchine Automatiche SpA. Дата публикации: 2022-03-23.

Methods of using information from recovery pulses in electrochemical analyte measurements as well as devices, apparatuses and systems incorporating the same

Номер патента: US09797859B2. Автор: Scott E. Carpenter. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Ophthalmic apparatus, and treatment site measuring method for the apparatus

Номер патента: US09974436B2. Автор: Ki Chan Kim,Tae Ho HA. Владелец: Lutronic Vision Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Electrocardiogram measurement system comprising patch-type electrocardiogram measurement apparatus

Номер патента: US20240099636A1. Автор: Jong Sung Kim,Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Deok Byeong Chae. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Electrocardiogram measurement system comprising patch-type electrocardiogram measurement apparatus

Номер патента: US11872048B2. Автор: Jong Sung Kim,Chang Ho Lee,Jong Ook Jeong,Deok Byeong Chae. Владелец: Atsens Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-16.

Non-invasive living body measuring apparatus and non-invasive living body measuring method

Номер патента: JP4554739B2. Автор: 成弘 沼田. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2010-09-29.

Eye accommodation function state measuring apparatus and eye accommodation function state measuring method

Номер патента: JPWO2005004707A1. Автор: 西田　哲郎,哲郎 西田,永田　龍彦,龍彦 永田,英志 相澤. Владелец: Right Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2006-10-12.

BLOOD PRESSURE MEASURING APPARATUS, MODEL SETTING DEVICE, AND BLOOD PRESSURE MEASURING METHOD

Номер патента: US20220061683A1. Автор: ADACHI Yoshihisa,EDO Yuki,OGAWA Rieko,TOMIZAWA Ryota. Владелец: . Дата публикации: 2022-03-03.

BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT APPARATUS, BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT SYSTEM, BIOLOGICAL INFORMATION MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20140155767A1. Автор: Fukuda Kunio,Hidaka Isao. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-05.

Methods of using information from recovery pulses in electrochemical analyte measurements as well as devices, apparatuses and systems incorporating the same

Номер патента: WO2014140164A1. Автор: Scott E. Carpenter. Владелец: Roche Diagnostics GmbH. Дата публикации: 2014-09-18.

Measurement apparatus for measuring power consumption of individual, measurement method and electronic device

Номер патента: WO2017211081A1. Автор: 张弓. Владелец: 加动健康运动科技（深圳）有限公司. Дата публикации: 2017-12-14.

Methods of using information from recovery pulses in electrochemical analyte measurements as well as devices, apparatuses and systems incorporating the same

Номер патента: CA2900694C. Автор: Scott E. Carpenter. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2017-10-24.

Method for configuring pin-out of nondirectional usb terminal assembly for measuring electrocardiogram and electrocardiogram measurement device and electrode device having nondirectional usb terminal with pin-out configured by the method

Номер патента: US20220079489A1. Автор: Tae-Hwan ROH,Young-Ho Choi,Ki-Seok Song. Владелец: Healthrian Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-17.

Apparatus for measuring, recording and transmitting electrocardiogram measurements

Номер патента: EP2259720A2. Автор: Günter Stelzer,Ian Warburton,Vincent Digregorio,Hans J. Zobel. Владелец: Ziehm Medical LLC. Дата публикации: 2010-12-15.

Electrocardiogram measuring device

Номер патента: US20210186402A1. Автор: Chun-Yu Chen,Ho-Chi Fu. Владелец: Intelliances Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Non-invasive apparatus and method for measuring human metabolic conditions

Номер патента: US20120209092A1. Автор: Shih-Chung Chen,Chih-Chieh Kang,Shoko Nioka,Ching-Lung Chu,Chih-Kuo Liang,Hung-Chi Yang,Jenq-Ruey Horng,Chi-Jo Wang,Juing-Shian Chiou,Lian-Jou Tsai,Tsung-Fu Jeng. Владелец: SOUTHERN TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2012-08-16.

Blood pressure measurement apparatus and methods of use thereof

Номер патента: US20240306925A1. Автор: Aditya Rajagopal,Dominic YURK,Yaser Abu-Mostafa,Alaina Ann Brinley Rajagopal. Владелец: California Institute of Technology CalTech. Дата публикации: 2024-09-19.

Vital sign detection apparatus and system and data processing method

Номер патента: US20240237905A1. Автор: BO Wang,Zhi Zheng,Yongxin Guo. Владелец: Singapore Suzhou Research Institute, National University of. Дата публикации: 2024-07-18.

Living body optical measurement apparatus, living body optical measurement method, and engagement member for mobile position sensor

Номер патента: US09883825B2. Автор: Takashi Ishizuka,Hirokazu Asaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-06.

Exercise information measurement apparatus, exercise management method, and exercise management program

Номер патента: US20180021658A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Acoustic wave measurement apparatus and operation method of acoustic wave measurement apparatus

Номер патента: US20240081680A1. Автор: Tsuyoshi Matsumoto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Acoustic wave measurement apparatus and operation method of acoustic wave measurement apparatus

Номер патента: US11864883B2. Автор: Tsuyoshi Matsumoto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

Exercise information measurement apparatus, control method for exercise information measurement apparatus, control program for exercise information measurement apparatus

Номер патента: US20170296873A1. Автор: Yumi Kitamura. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-10-19.

Physiological information measuring apparatus

Номер патента: US09788727B2. Автор: Atsushi Narusawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Biological information measuring apparatus, biological information measurement method, and recording medium

Номер патента: US11805969B2. Автор: Noriyuki Tomita,Hirofumi Morise,Kiwamu Kudo,Yoshihiro MISAKA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-07.

Urine measurement apparatus

Номер патента: RU2539534C2. Автор: Микаэль ШАРЛЕЗ,Микаэль ЛЕФГРЕН. Владелец: Обзерв Медикал Апс. Дата публикации: 2015-01-20.

Electrocardiogram measurement apparatus, electrocardiogram measurement system, and electrocardiogram measurement recording medium

Номер патента: US20240081715A1. Автор: Kentaro Mori,Takeshi Kubo. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2024-03-14.

Electrocardiogram measurement apparatus

Номер патента: US20240065606A1. Автор: In-Duk Hwang. Владелец: Hexacheck Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Electrocardiogram measurement apparatus

Номер патента: US20240099633A1. Автор: In-Duk Hwang. Владелец: Hexacheck Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic imaging apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09910140B2. Автор: Masaki Hayashi,Kenji Murakami,Kazuyuki Kano,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Wearable Blood Pressure Measurement Apparatus and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220110531A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Ear model, head model, and measuring apparatus and measuring method employing same

Номер патента: US09949670B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Biological signal measuring apparatus and biological signal measuring method

Номер патента: US09526444B2. Автор: Kazumasa Ito,Naoki Kobayashi,Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Magnetic field measuring apparatus and magnetic field measuring method

Номер патента: US12066508B2. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230305084A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: WO2013168652A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: EP2847575A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-18.

Composition for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, ultrasonic endoscope, and method for manufacturing acoustic wave probe

Номер патента: US20240327640A1. Автор: Yoshihiro Nakai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: US20240215819A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Optical measurement apparatus and method of scanning a focus

Номер патента: EP4348171A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Resin material for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, and ultrasound endoscope

Номер патента: US20190380680A1. Автор: Yuzo Nagata,Yoshihiro Nakai,Shigeki Uehira,Toshihide Yoshitani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-12-19.

Composition for acoustic wave probe, silicone resin for acoustic wave probe, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, and ultrasound endoscope

Номер патента: US12109335B2. Автор: Nobuaki Matsumoto,Yoshihiro Nakai,Shigeki Uehira,Taichi Kitagawa. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Biological measurement apparatus and biological stimulation apparatus

Номер патента: US09820910B2. Автор: Yukinori Nagatani. Владелец: Okayama Prefectural Government. Дата публикации: 2017-11-21.

Coordinate measuring apparatus and method for measuring an object

Номер патента: US09625257B2. Автор: Ralf Christoph,Wolfgang Rauh. Владелец: WERTH MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2017-04-18.

Apparatus and method for measuring presence of organic matter or life/death of living matter

Номер патента: US20180000350A1. Автор: Sang-Mo Shin. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Hanbat National University. Дата публикации: 2018-01-04.

Apparatus and method for measuring presence of organic matter or life/death of living matter

Номер патента: US10413190B2. Автор: Sang-Mo Shin. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation of Hanbat National University. Дата публикации: 2019-09-17.

Optical measurement apparatus and method of measuring an axial length

Номер патента: US20240271922A1. Автор: James Reynolds,Robin Taylor. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20150238163A1. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Biological information measurement apparatus, information processing apparatus, and biological information measurement system

Номер патента: US09757070B2. Автор: Yuichi Takano. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Apparatus and method for cleaning deposits and accretions from an end plate of a sensor body

Номер патента: US09632019B2. Автор: Thilo Kratschmer,Michael LITTMANN,Hasan-Özkan KARAGÖZ. Владелец: Endress and Hauser Conducta GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-04-25.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09585630B2. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Reconfigurable measuring apparatus and method for controlling apparatus

Номер патента: US09545212B2. Автор: Jong Pal Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-17.

Measurement apparatus and method for controlling measurement apparatus

Номер патента: US20220400964A1. Автор: Hitoshi Tominaga,Shunsuke Imai,Takamasa Ando. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

Ophthalmic measurement apparatus and ophthalmic measurement program

Номер патента: US09480396B2. Автор: Michihiro Takii,Noriji Kawai. Владелец: Nidek Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-01.

Information processing apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US20230128461A1. Автор: Shunsuke Kudo. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Biosignal measurement apparatus and method

Номер патента: EP3890601A1. Автор: Teemu Myllylä,Aleksandra ZIENKIEWICZ. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-10-13.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240310279A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Biological information measurement apparatus and biological information measurement system

Номер патента: US20240306917A1. Автор: Ayae SAWADO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Acoustic-wave measuring apparatus and method

Номер патента: US20150335253A1. Автор: Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-11-26.

Measuring apparatus and measuring system

Номер патента: US20170086688A1. Автор: Yuji Masuda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-03-30.

Blood pressure measurement apparatus and control method for the same

Номер патента: US09895084B2. Автор: Toshihiko Ogura,Hironori Sato,Hiroyuki Kinoshita. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Photoacoustic measurement apparatus and probe

Номер патента: US20170360304A1. Автор: Atsushi Hashimoto,Kaku Irisawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US20180078145A1. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-22.

Apparatus and method for measuring muscle oxygen consumption

Номер патента: US20230172470A1. Автор: Hiroto Yanagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Ultrasound viscoelasticity measurement method and apparatus and storage medium

Номер патента: US20230131340A1. Автор: Shuangshuang LI,Jinyang Li. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Optical measurement apparatus and light irradiation/reception method

Номер патента: US09936874B2. Автор: Hideo Nakayama,Hideaki Ozawa,Kazutaka Takeda,Sho KIMURA,Kohei Yukawa,Kazuyuki Matsushita,Taku Kinoshita,Saori NISHIZAKI. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Acoustic wave measuring apparatus and control method of acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US09867545B2. Автор: Akira Sato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-01-16.

Information acquisition apparatus and information acquisition method

Номер патента: US09772224B2. Автор: Hideto Ishiguro,Hitoshi Tsuchiya,Tsukasa Eguchi,Megumu Ito. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Height measuring apparatus and method thereof

Номер патента: US09360303B2. Автор: Yao-Tsung Chang,Chia-Hsien Li,Pai-Yang Lin,Shun-Chi Chung. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2016-06-07.

Apparatus and methods for non-invasively measuring physiologic parameters of one or more subjects

Номер патента: US09655530B2. Автор: Matthias Bohn,Oliver Goedje,Dave ESHBAUGH. Владелец: Tensys Medical Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Magnetic field measuring apparatus and cell array

Номер патента: US09642553B2. Автор: Ryuji HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Measuring apparatus, measuring method, and parameter setting method

Номер патента: US09566005B2. Автор: Hideo Kawabe,Tatsuya Suzuki,Hirokazu Imai,Masatoshi Ueno,Kenichi Kabasawa,Yoichi Toriumi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Concentration measurement method and concentration measurement apparatus

Номер патента: US20120242979A1. Автор: Koichi Shimizu,Kazuhiko Amano,Kazuhiro Nishida. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2012-09-27.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20140193921A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-07-10.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20170350904A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-07.

Magnetic field measuring apparatus, magnetic field measuring method and recording medium with magnetic field measuring program recorded thereon

Номер патента: US11774518B2. Автор: Takenobu Nakamura,Shigeki Okatake,Makoto Kataoka,Seiichi Kato. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US12038488B2. Автор: Shigeki Okatake,Hideyuki Tsuji,Masashi Yamada. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Optical rotation measurement method and optical rotation measurement apparatus

Номер патента: US09713441B2. Автор: Akira Ikeda,Kazuhiro Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Airbag, blood pressure measurement apparatus, and blood pressure measurement method

Номер патента: US20230046240A1. Автор: Yunsheng KUANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Air bag, blood pressure measurement apparatus, and blood pressure measurement method

Номер патента: EP4066735A1. Автор: Yunsheng KUANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-05.

Biological information measuring apparatus

Номер патента: US20160066796A1. Автор: Hisahiro Matsuhashi,Ryo SHINOZAKI,Katsuaki Sakata,Makoto ANEZAKI. Владелец: UNION TOOL Co. Дата публикации: 2016-03-10.

Pressure measurement apparatus for inspecting therapeutic energy waves

Номер патента: US5357805A. Автор: Satoshi Aida,Katsuhiko Fujimoto,Nobuki Kudo,Masamichi Oyanagi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1994-10-25.

Medical measurement apparatus

Номер патента: US20240285364A1. Автор: Takahiko Shiraishi,Tatsushi CHIHARA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-29.

Composition for acoustic lens, acoustic lens, acoustic wave probe, ultrasound probe, acoustic wave measurement apparatus, ultrasound diagnostic apparatus, photoacoustic wave measurement apparatus, ultrasonic endoscope, and method for manufacturing acoustic wave probe

Номер патента: US20240279472A1. Автор: Yoshihiro Nakai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Measurement apparatuses and methods using a combined substance cooling device

Номер патента: US9681832B2. Автор: Yonatan Gerlitz,Meir SHITRIT. Владелец: GlucoVista Inc. Дата публикации: 2017-06-20.

A blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2001037727B1. Автор: Jozsef Beres,Miklos Illyes Jr. Владелец: Miklos Illyes Jr. Дата публикации: 2001-10-25.

Optical measurement device, optical measurement method, computer program, and recording medium

Номер патента: EP3686564A1. Автор: Tadashi Kondo,Mitsuru Sato,Kiyoshi Tateishi,Genki Adachi,Tomoya Murakami,Wataru Onodera,Akari Agata. Владелец: Nikkiso Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-29.

Current peak value measurement apparatus, high voltage generator, and therapeutic device for vascular calcification

Номер патента: EP4397254A1. Автор: Chuang Li,Zhihuang TANG. Владелец: Jiangsu Polylive Medtech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09788814B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Concentration measurement device and concentration measurement method

Номер патента: US09700248B2. Автор: Susumu Suzuki,Takeo Ozaki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-11.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic head unit, ultrasonic probe, and ultrasonic imaging apparatus

Номер патента: US09513263B2. Автор: Kogo Endo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Diagnostic measuring apparatus with integrated spectrometer

Номер патента: US09480423B2. Автор: Ok-Kyung Cho,Yoon Ok Kim. Владелец: INGO FLORE. Дата публикации: 2016-11-01.

Defocused optical rotation measurement apparatus, optical rotation measurement method and defocused optical fiber system

Номер патента: US20130128262A1. Автор: Hiroshi Kajioka. Владелец: Global Fiberoptics Ltd. Дата публикации: 2013-05-23.

Brain measurement apparatus and brain measurement method

Номер патента: US11914012B2. Автор: Tetsuo Kobayashi,Motohiro Suyama,Akinori Saito,Takahiro Moriya,Takenori OIDA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-02-27.

Brain measurement apparatus and brain measurement method

Номер патента: US11957472B2. Автор: Tetsuo Kobayashi,Motohiro Suyama,Akinori Saito,Takahiro Moriya,Takenori OIDA. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-16.

Blood pressure measurement apparatus

Номер патента: US20190090758A1. Автор: Kazumasa Ito,Yoshinori Ueda,Takashi Usuda. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2019-03-28.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000363A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: EP3600021A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2020-02-05.

Blood pressure measuring apparatus

Номер патента: WO2018180787A1. Автор: Yoshiharu Kikuchi. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2018-10-04.

Wide field of view eye imaging and/or measuring apparatus

Номер патента: US20220000364A1. Автор: Tyler S. Ralston. Владелец: Tesseract Health Inc. Дата публикации: 2022-01-06.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: WO2010137453A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-12-02.

Measurement apparatus

Номер патента: US20150359518A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Vibration measuring apparatus

Номер патента: WO2019243808A1. Автор: Michael James Jones. Владелец: Jones Michael James. Дата публикации: 2019-12-26.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: EP2435850A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-04-04.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic imaging apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US10849598B2. Автор: Takumi ARAGAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2020-12-01.

Surface property measurement method, surface property measurement apparatus, and recording medium

Номер патента: US20190059857A1. Автор: Yusuke Hara,Kazuto Kobayashi,Sachiko Yoshida,Yuki Ogura,Naohiro HOZUMI. Владелец: Honda Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Bio-information measuring apparatus and bio-information measuring method

Номер патента: US20220008009A1. Автор: Yong Joo KWON,Jae Min Kang,Sang Yun PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-01-13.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220366560A1. Автор: Takeshi Tanaka,Daisuke Fukui,Hiromitsu Nakagawa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-11-17.

Bio-signal measurement apparatus, docking apparatus and methods of their coupling

Номер патента: US11241181B2. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Sami Hynynen. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2022-02-08.

Bio-signal measurement apparatus, docking apparatus and methods of their coupling

Номер патента: EP3824789A1. Автор: Juha MYLLYKANGAS,Sami Hynynen. Владелец: Bittum Biosignals Oy. Дата публикации: 2021-05-26.

Mass measurement apparatus for automatic processing machines and mass measurement method

Номер патента: EP3969855C0. Автор: Marco Minardi. Владелец: IMA Industria Macchine Automatiche SpA. Дата публикации: 2023-07-05.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887B2. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2020201075A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Apparatus and method for lens surgery

Номер патента: US20240091065A1. Автор: Mario Gerlach. Владелец: CARL ZEISS MEDITEC AG. Дата публикации: 2024-03-21.

State quantity distribution measuring apparatus and method of measuring state quantity distribution of sample

Номер патента: US20130174652A1. Автор: Hisataka Nanaumi,Teruko Kawamoto,Misayo Arimura,Yukiko Bitou. Владелец: Unicharm Corp. Дата публикации: 2013-07-11.

Intraperitoneal pressure ("ipp") measurement apparatuses and systems

Номер патента: AU2021373621A9. Автор: Sukhraaj Basati,John Sterling Norman,Jorge Augusto Del Castillo,Joanna Rita Yanaga,Chris John Grivas. Владелец: Baxter International Inc. Дата публикации: 2024-09-19.

Radiotherapy apparatus control apparatus and specific site position measuring method

Номер патента: US20110087061A1. Автор: Takanobu Handa,Shuji Kaneko. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-14.

Tablet measuring apparatus and tablet measuring method

Номер патента: US20200278290A1. Автор: Masaki Takeuchi,Kiyoshi Imai,Takuya Nakamura,Shigemi Isobe,Shohei Yamada,Hayato MISONO. Владелец: Freund Corp. Дата публикации: 2020-09-03.

Digital measurement apparatus and digital measurement method

Номер патента: AU2020277081A1. Автор: In Whan Lee. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2021-08-05.

Flow measuring apparatus and inhalation apparatus comprising the same

Номер патента: CA2826516C. Автор: Thierry Poree. Владелец: Protecsom Amerique Du Nord Inc. Дата публикации: 2020-09-22.

Electrical characteristic measurement apparatus, electrical characteristic measurement system, electrical characteristic measurement method, and program for electrical characteristic measurement for causing computer to implement the method

Номер патента: US20180031503A1. Автор: Isao Hidaka. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

Railway equipment inspecting and measuring apparatus, and railway equipment inspecting and measuring method

Номер патента: US20190297750A1. Автор: Masaki Araki,Takeshi Kurokawa,Takeshi Iga,Tomoya Sasaki,Hideyasu Suzuki,Takahiro Daikoku,Noritake Shizawa,Tomohiko KAI,Tomoharu ISOZAKI,Keishin HAMAOKA. Владелец: Hitachi High Tech Fine Systems Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Railway equipment inspecting and measuring apparatus, and railway equipment inspecting and measuring method

Номер патента: US11044838B2. Автор: Masaki Araki,Takeshi Kurokawa,Takeshi Iga,Tomoya Sasaki,Hideyasu Suzuki,Takahiro Daikoku,Noritake Shizawa,Tomohiko KAI,Tomoharu ISOZAKI,Keishin HAMAOKA. Владелец: Hitachi High Tech Fine Systems Corp. Дата публикации: 2021-06-22.

Coefficient of linear expansion measuring apparatus and coefficient of linear expansion measuring method

Номер патента: US20050046869A1. Автор: Nobuo Kawasaki,Toshihide Nakajima,Masahiko Daimon,Osamu Okajima. Владелец: Ohara Inc. Дата публикации: 2005-03-03.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: US09700060B2. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Stroke information measuring apparatus and stroke information measuring method

Номер патента: EP1398060B1. Автор: Takahiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. MURAKOSHI,Yuuichi c/o Hamamatsu Photonics K.K. KIMURA,Takehiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. KURONO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-08-03.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Sensor for aerosol generation apparatus, aerosol generation apparatus and temperature measurement apparatus

Номер патента: EP4223161A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Susceptor for vapor generation apparatus, vapor generation apparatus, and temperature measurement apparatus

Номер патента: US20230363463A1. Автор: Tao Wu,Baoling LEI,Zhongli XU,Yonghai LI,Zuqiang QI,Jiamao LUO. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Dosage unit for delayed release of insecticide, measuring apparatus and device for thereof, and method of its manufacturing

Номер патента: RU2501219C2. Автор: ГУЭЛЬ Эдуард МОНСОНИС,БАРЕА Хорди КОРТЕС,АРНАЛЬ Фредерик ДАЛЬМАУ. Владелец: Эс.Си.ДЖОНСОН ЭНД САН, ИНК.. Дата публикации: 2013-12-20.

Fluid material dispensing apparatus and method

Номер патента: WO2021038247A1. Автор: David Heath,Barry Hochfield,Stephen Mcspadden,Angus BLACKFORD. Владелец: Cutitronics Ltd. Дата публикации: 2021-03-04.

Operation information measurement apparatus, function control method, and program

Номер патента: US20170128829A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2017-05-11.

Apparatus and method for measuring metabolic gases in yaks in the field

Номер патента: NL2034810A. Автор: Sun Lu,Wang Xun,LIU Shujie,Yang Deyu,Cui Zhanhong. Владелец: Qinghai Academy Of Animal Husbandry And Veterinary Sciences Qinghai Univ. Дата публикации: 2023-06-16.

Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220049981A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-17.

Measurement apparatus, measurement method, program, and information recording medium

Номер патента: US20190041424A1. Автор: Ryutaro Himeno,Shigeho Noda. Владелец: RIKEN Institute of Physical and Chemical Research. Дата публикации: 2019-02-07.

Irrigation water amount measurement apparatus, irrigation water amount measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US11937558B2. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: CA2953896C. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2018-04-10.

Measurement device, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: EP3851810A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-07-21.

Measuring apparatus for determining length of compact part of water stream from fire hydrant

Номер патента: RU2749579C1. Автор: Олег Валерьевич Амчеславский,Петр Сергеевич Крюков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Волгоградский государственный аграрный университет" (ФГБОУ ВО Волгоградский ГАУ). Дата публикации: 2021-06-15.

Ball measuring apparatus

Номер патента: US20070075891A1. Автор: Takahiro Sajima. Владелец: SRI Sports Ltd. Дата публикации: 2007-04-05.

Methods of failsafing electrochemical measurements of an analyte as well as devices, apparatuses and systems incorporating the same

Номер патента: US09594052B2. Автор: Siva Chittajallu,Scott E. Carpenter. Владелец: Roche Diabetes Care Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Measuring apparatus of full-charge capacity of battery, measuring method thereof, control apparatus of vehicle loaded with the measuring apparatus, and control method thereof

Номер патента: JP2003244805A. Автор: 誠 本野,Makoto Motono. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2003-08-29.

SHAPE MEASURING APPARATUS, STRUCTURE MANUFACTURING SYSTEM, STAGE APPARATUS, SHAPE MEASURING METHOD, STRUCTURE MANUFACTURING METHOD, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20150260507A1. Автор: Aramaki Toru. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-17.

RAILWAY EQUIPMENT INSPECTING AND MEASURING APPARATUS, AND RAILWAY EQUIPMENT INSPECTING AND MEASURING METHOD

Номер патента: US20190297750A1. Автор: SHIZAWA Noritake,SASAKI Tomoya,KUROKAWA Takeshi,DAIKOKU Takahiro,SUZUKI Hideyasu,KAI Tomohiko,ARAKI Masaki,IGA Takeshi,ISOZAKI Tomoharu,HAMAOKA Keishin. Владелец: HITACHI HIGH-TECH FINE SYSTEMS CORPORATION. Дата публикации: 2019-09-26.

Shape measuring apparatus, structure manufacturing system, stage apparatus, shape measuring method, structure manufacturing method, program, and recording medium

Номер патента: US9733070B2. Автор: Toru Aramaki. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

ALTERNATING-CURRENT ELECTRICAL QUANTITY MEASURING APPARATUS AND ALTERNATING-CURRENT ELECTRICAL QUANTITY MEASURING METHOD

Номер патента: US20130338954A1. Автор: Seki Kempei. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2013-12-19.

PRESSURE-SENSOR APPARATUS, AIR-MASS MEASURING APPARATUS, AIR-MASS MEASURING SYSTEM AND PRESSURE-MEASURING METHOD

Номер патента: US20160313164A1. Автор: Horstbrink Michael,RITTMANN Michael,Schneider Norbert. Владелец: . Дата публикации: 2016-10-27.

Polycrystalline silicon grain size measurement apparatus and polycrystalline silicon grain size measurement method

Номер патента: CN106057701A. Автор: 余宏萍. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-26.

Normal incident acoustic characteristic measuring apparatus and normal incident acoustic characteristic measuring method

Номер патента: JP6346390B1. Автор: 安藤　大介,大介 安藤,達郎 三木,塚原　啓二,啓二 塚原. Владелец: Nichias Corp. Дата публикации: 2018-06-20.

Axial symmetry aircraft attitude measurement apparatus and axial symmetry aircraft attitude measurement method

Номер патента: CN106595657A. Автор: 张红梅,陈侠,徐光延,廖培冲. Владелец: Shenyang Aerospace University. Дата публикации: 2017-04-26.

Debris flow yield stress measuring apparatus and debris flow yield stress measuring method using the same

Номер патента: KR101641870B1. Автор: 정승원,박성식,이춘오. Владелец: 한국지질자원연구원. Дата публикации: 2016-07-22.

Surface plasmon excitation fluorescence measurement apparatus and surface plasmon excitation fluorescence measurement method

Номер патента: JP5807645B2. Автор: 謙一 宮田,茂昭 栃本. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2015-11-10.

Mobile unit's position measurement apparatus and mobile unit's position measurement method

Номер патента: WO2010058266A3. Автор: Naoto Hasegawa. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-07-22.

DISTANCE MEASURING APPARATUS, IMAGING DEVICE, DISTANCE MEASURING SYSTEM, DISTANCE MEASURING METHOD, AND IMAGING METHOD

Номер патента: US20220043265A1. Автор: Nakamura Yusuke,YAMASAKI Koji. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-10.

Electrical characteristic measurement apparatus, electrical characteristic measurement system, electrical characteristic measurement method, and program for electrical characteristic measurement for causing computer to implement the method

Номер патента: US20180031503A1. Автор: Isao Hidaka. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-01.

ELECTRICAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT APPARATUS, ELECTRICAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT SYSTEM, ELECTRICAL CHARACTERISTICS MEASUREMENT METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20190072540A1. Автор: Omori Shinji,Hidaka Isao,BRUN MARCAURELE. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-07.

CURRENT MEASUREMENT APPARATUS INCLUDING CHARGE/DISCHARGE MEANS AND CURRENT MEASUREMENT METHOD USING SAME

Номер патента: US20200081039A1. Автор: KIM Byung Kyu,KIM Byeong Yun. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-12.

MEASURING APPARATUS FOR ELECTROMAGNETIC PROPERTY OF MATERIAL AND MEASURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20180120388A1. Автор: Chang Tsun-Hsu,Chao Hsien-Wen,Chen Yan-Ren,Wong Wei-Syuan. Владелец: National Tsing Hua University. Дата публикации: 2018-05-03.

Thermal-infrared temperature measurement apparatus for monitoring photovoltaic solar panel and measurement method thereof

Номер патента: KR102194729B1. Автор: 한경도,석민. Владелец: (주)카탈로닉스. Дата публикации: 2020-12-23.

Alignment measuring apparatus for separated multi-axis and alignment measuring method of separated multi-axis

Номер патента: KR101804299B1. Автор: 천경호. Владелец: 한국항공우주산업 주식회사. Дата публикации: 2017-12-04.

Internal air displacement measuring apparatus using optical fiber grating sensor and measuring method using the same

Номер патента: JP5034090B2. Автор: リー、ギュム−スク. Владелец: リー、ギュム−スク. Дата публикации: 2012-09-26.

Three-dimensional shape measuring apparatus, integrated circuit, and three-dimensional shape measuring method

Номер патента: US8723928B2. Автор: Tadashi Yoshida,Takaaki Moriyama,Akira Uesaki,Yudai Ishibashi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2014-05-13.

Methods of detecting high antioxidant levels during electrochemical measurements and failsafing an analyte concentration therefrom as well as devices, apparatuses and systems incorporting the same

Номер патента: CA2900572C. Автор: Harvey Buck,Scott E. Carpenter,Zheng Zheng PAN. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2018-02-13.

Three-dimensional shape measuring apparatus, integrated circuit, and three-dimensional shape measuring method

Номер патента: US20110001793A1. Автор: Tadashi Yoshida,Takaaki Moriyama,Akira Uesaki,Yudai Ishibashi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-06.

Internal air displacement measuring apparatus using optical fiber grating sensor and measuring method using the same

Номер патента: JP2010500556A. Автор: リー、ギュム−スク. Владелец: リー、ギュム−スク. Дата публикации: 2010-01-07.

Temperature measureing apparatus by using thermoelectric device and temperature measureing method

Номер патента: KR101316615B1. Автор: 김봉학,박철웅,박승남,유용심. Владелец: 한국표준과학연구원. Дата публикации: 2013-10-15.

Current measurement apparatus including charge/discharge means and current measurement method using same

Номер патента: US11255886B2. Автор: Byung Kyu Kim,Byeong Yun KIM. Владелец: Phosphil Inc. Дата публикации: 2022-02-22.

Measuring apparatus for painting thickness of vehicle and Measuring method using the same

Номер патента: KR101172086B1. Автор: 안승호,김철한,류성무,김명한,김정구. Владелец: 현대자동차주식회사. Дата публикации: 2012-08-13.

Three-phase flow regulating means for oil, gas and water, three-phase flow measuring apparatus for oil, gas and water and measuring method thereof

Номер патента: AU2003242107A1. Автор: Ligang Zhang,Jianwen Dou,Jinsong Wan. Владелец: Haimo Technologies Inc. Дата публикации: 2004-12-03.

TOUCH DETECTION APPARATUS, TOUCH CONTROL APPARATUS, TOUCH AND DISPLAY DRIVER INTEGRATION CHIP, TOUCH CONTROL DISPLAY APPARATUS, AND TOUCH DETECTION AND RESISTANCE MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20210223935A1. Автор: ZHANG Kan. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-22.

MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS AND IRRADIATION MAGNETIC FIELD DISTRIBUTION MEASUREMENT METHOD

Номер патента: US20140253121A1. Автор: Takizawa Masahiro,ITO Kosuke. Владелец: HITACHI MEDICAL CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-11.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: CA3182555A1. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12099033B2. Автор: Yutaka Matsui,Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

Mechanical property measuring apparatus, mechanical property measuring method, substance manufacturing equipment, substance management method, and substance manufacturing method

Номер патента: US12092609B2. Автор: Yutaka Matsui,Takafumi Ozeki,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Ink droplet volume measuring apparatus and ink droplet volume measuring method using the same, and thin film layer forming apparatus using the measuring apparatus, and manufacturing method of display apparatus using the thin film layer forming apparatus

Номер патента: US20240251648A1. Автор: Jeongwon HAN. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP3845914A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Tech Solutions S L. Дата публикации: 2021-07-07.

Portable internal friction measuring apparatus and internal friction measurement method

Номер патента: EP4443128A1. Автор: Jian Yin,Wenqing Jia,Yuanfei Li,Xiangbing LIU,Chaoliang XU,Qiwei QUAN,Wangjie QIAN. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Dot position measurement method, dot position measurement apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20100079518A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

Method for producing prepared slide for fiber length measurement, method for adjusting dispersion liquid for fiber length measurement, method for measuring fiber length, prepared slide for fiber length measurement, device for measuring fiber length, and program that controls device for measuring fiber length

Номер патента: EP3693719A1. Автор: Koji Shiraki,Yuji Hotta,Atsuhiko Yamanaka,Yukitane Kimoto,Daisuke Shimamoto,Mariko Terada. Владелец: Kyowa Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Measuring apparatus for a liquid handling apparatus for measuring pipetting container, article for said measuring apparatus and corresponding measuring method

Номер патента: US12044691B2. Автор: Burkhardt Reichmuth,Markus Lapczyna,Uwe Dunker,Maik Radke. Владелец: Eppendorf SE. Дата публикации: 2024-07-23.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Vibration measurement system, vibration measurement apparatus, vibration measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20210029297A1. Автор: Kazuhito Murata,Masahiko Ohta,Gaku Nakano,Asuka ISHII. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-28.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: EP4357767A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-24.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Bending measurement apparatus, imaging apparatus, projection apparatus and projection imaging apparatus using the same, and bending measurement method

Номер патента: US20200141768A1. Автор: Yoshihito IGUCHI. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-05-07.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (VCSEL) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US11482830B2. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-25.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring apparatus and method for detecting ferromagnetic particles

Номер патента: US09575023B2. Автор: Rudolf Lueck,Peter Hoehne. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (vcsel) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US20210075185A1. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Measurement method, non-transitory computer-readable medium and measurement apparatus

Номер патента: US20200271708A1. Автор: Kazuhiko Kobayashi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US6826002B2. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-11-30.

Strain measurement apparatus and method for measuring mechanical strain

Номер патента: WO2023213647A1. Автор: Peter Fratzl,Shahrouz Amini. Владелец: MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E. V.. Дата публикации: 2023-11-09.

Particle measuring apparatus, ultrapure water production apparatus having the same, and particle measuring method

Номер патента: US20240255411A1. Автор: Hiroshi Sugawara,Fumio Sudo,Tsukasa Kondo,Fumitaka ICHIHARA. Владелец: Organo Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Measuring apparatus and measuring method for measuring performance characteristics of recording unit including circular recording medium

Номер патента: US20020135913A1. Автор: Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-09-26.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Measurement method, measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20170278233A1. Автор: Takuro Tsujikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Physical amount measurement apparatus mounted integrally with flow rate measurement apparatus, and physical amount measurement method

Номер патента: US09869573B2. Автор: Koji Tanimoto,Yuji Ariyoshi,Masahiro Kawai,Shinichiro Hidaka. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09544558B2. Автор: Hideo Takizawa,Hiroto Nozawa,Koyo TADA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Measuring apparatus, movable apparatus, robot, electronic device, fabricating apparatus, and measuring method

Номер патента: US12030243B2. Автор: Kazuhiro Yoneda,Naoki Fukuoka,Yoshihiko Miki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Film thickness measurement apparatus, polishing apparatus, and film thickness measurement method

Номер патента: US20210354262A1. Автор: Toshifumi Kimba,Masaki Kinoshita,Yu Ishii,Hirotaka SATORI. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Terahertz measuring apparatus and terahertz measurement method for measuring a test object by means of a time-of-flight measurement

Номер патента: US20190331594A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: INOEX GmbH INNOVATIONEN und AUSRUESTUNGEN fur DIE EXTRUSIONSTECHNIK. Дата публикации: 2019-10-31.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US09448121B2. Автор: Sheng-Tsai Wu,Ming-Ji Dai,Heng-Chieh Chien,Jing-Yi Huang,Huey-Lin Hsieh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-09-20.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Overlap measuring apparatus and overlap measuring method

Номер патента: US20170254638A1. Автор: Takahiro Tsukamoto. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2017-09-07.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Absolute position measurement method, absolute position measurement apparatus and scale

Номер патента: US09651403B2. Автор: Jae-Wan Kim,Tae-Bong Eom,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-05-16.

Refractive index distribution measuring method, refractive index distribution measuring apparatus, and method for manufacturing optical element

Номер патента: US09625350B2. Автор: Tomohiro Sugimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Load measurement method and apparatus, railcar provided with load measurement apparatus, and load management system

Номер патента: US09476802B2. Автор: Yoshi SATO. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-10-25.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US09625405B2. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2017-04-18.

Surface temperature measuring apparatus and surface temperature measuring method

Номер патента: US09523611B2. Автор: Chihiro Uematsu,Yutaka Wakasu,Tatsuro Honda. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US10048062B2. Автор: Hidetaka Nishida. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: US20190265264A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Jun Inagaki,Takashi Yamato,Shunsuke Saito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Measuring method of sensor using interdigitated array electrode, measuring apparatus and computer readable medium storing measuring program

Номер патента: US20170045469A1. Автор: Koji Sode,Yasuhide Kusaka,Hisashi Kaneda. Владелец: Ultizyme International Ltd. Дата публикации: 2017-02-16.

Apparatus and method for high-accuracy optical particle measuring using laser power scanning

Номер патента: US12085496B2. Автор: Sang Woo Kang,Ji Hun MUN. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2024-09-10.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20100201987A1. Автор: Takanori IWAWAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-08-12.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4097446A1. Автор: Makoto Higuchi,Tatsuya Hamada,Hironaga GENDA,Tatsuhiro ESAKI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Three dimensional measurement apparatus and three dimensional measurement method

Номер патента: US20120154540A1. Автор: Motomi Tsuyuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240296547A1. Автор: Ji Hoon Kang,Ji Yun JUNG. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Thermal conductivity measurement apparatus and thermal conductivity measurement method

Номер патента: US20180299391A1. Автор: Dai Nakajima,Haruna Tada,Yasuyuki Sanda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus and depth measurement method that calculate depth information of a target pixel using a color plane of which a correlation value is at most a threshold

Номер патента: US09928598B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09927516B2. Автор: Hirokazu SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09594023B2. Автор: Sakuya Tamada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US09448113B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Terahertz signal measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20240230528A1. Автор: Wontae Kim,Namil Koo,Younghoon Sohn,Yusin Yang,Sungyoon Ryu,Ingi KIM,Sunhong JUN,Inkeun BAEK,Ikseon Jeon,Eunhyuk Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring method, measuring apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240085327A1. Автор: Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4227737A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Kentaro Kasa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Optical interference measuring apparatus and optical interference measuring method

Номер патента: US20220228850A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20210065484A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: EP3786659A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Position measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11715660B2. Автор: Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240272560A1. Автор: Seong Yun CHOI,Hyo Sik HAM. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Raman scattering measuring apparatus and raman scattering measuring method

Номер патента: US20140253918A1. Автор: Keisuke Nose,Yasuyuki Ozeki,Kazuyoshi Itoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20220270274A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US11703592B2. Автор: Hirokazu Takenaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

3-dimensional measurement apparatus and 3-dimensional measurement method

Номер патента: EP4417936A1. Автор: Daisuke SENGA. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09736460B2. Автор: Jun Kanetake,Osafumi Nakayama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Measuring apparatus and measuring method utilizing insulating liquid

Номер патента: US09684015B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Kosuke Hatozaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09467616B2. Автор: Takashi Kawamura,Kozo Ezawa,Shunsuke Yasugi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Electrical resistance measurement apparatus and electrical resistance measurement method

Номер патента: US09372215B2. Автор: Akihide Hamano. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-21.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317056A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20200334844A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Communication quality measuring apparatus and communication quality measuring method

Номер патента: US20140135043A1. Автор: Katsuyuki Masuda,Takahiro Kawaguchi,Yutaka Hamada,Hiromitsu Kawai,Yuki Shinada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-05-15.

Frequency characteristic measurement apparatus and frequency characteristic measurement method

Номер патента: EP4425789A1. Автор: Hiroshi Fujiwara,Toru Tazawa,Yuta SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-04.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory storage medium storing optical measurement program

Номер патента: US20240319486A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20240272300A1. Автор: Shuji Uehara,Yoshinori Muramatsu,Kazuhiko Muraoka. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Outer Diameter Measurement Apparatus and Outer Diameter Measurement Method of Electrode Assembly

Номер патента: US20240302162A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Measurement apparatus and measurement method using the same

Номер патента: US20240295490A1. Автор: Jaeho Kim,Younghoon Sohn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-05.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US20170030761A1. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US09823110B2. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Radiation measurement apparatus and radiation measurement method

Номер патента: US09696433B2. Автор: Koji Yasui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US09535007B2. Автор: Toshiyuki Hattori. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Magnetic signal measuring apparatus and magnetic signal measuring method

Номер патента: US09518957B2. Автор: Keiji Enpuku,Akihiko Kandori,Takako Mizoguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-12-13.

Charged-particle trajectory measurement apparatus and charged-particle trajectory measurement method

Номер патента: US11977192B2. Автор: Masataka Suga,Yuki Nakai,Naoto Kume,Tsukasa SUGITA,Takuro Fujimaki,Haruo Miyadera,Kohei NOBE. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2024-05-07.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US11846605B2. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Snow quality measuring apparatus and snow quality measuring method

Номер патента: US20170176587A1. Автор: Yutaka Aoki,Ryuji Murata,Ryuichi Sunagawa,Jin MIKATA. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Measurement apparatus, information processing apparatus, data specifying method, and non-transitory computer-readable medium

Номер патента: US20230036969A1. Автор: Akira Tsuji,Junichi Abe,Yoshimasa Ono,Jiro Abe. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-02-02.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US10816319B2. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada,Osamu YASUHIKO,Hisayuki MATSUI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-27.

System and method for managing measurement apparatuses

Номер патента: US20040024783A1. Автор: Chih-Kuang Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US20220381738A1. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-12-01.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US20190011351A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US10788412B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-29.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US8988668B2. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd. Дата публикации: 2015-03-24.

Film thickness measurement apparatus and film thickness measurement method

Номер патента: US20140192349A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Shigetoshi Shiotani,Jun Yasui,Keiichi KENMOTSU. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2014-07-10.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20110049362A1. Автор: Jun Matsumoto,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: EP4439071A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: US20240329070A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09982993B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09945887B2. Автор: Hiroshi Imai,Keiki Matsuura,Hiroyuki Tokusaki,Yasukazu Ohno. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Particle measuring apparatus and particle measuring method

Номер патента: US09885649B2. Автор: Kenichi Otsuka,Masaki Hirano,Yuichi Kuroda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Temperature distribution measurement apparatus and temperature distribution measurement method

Номер патента: US09797782B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima,Kyoko Tadaki,Minoru Ishinabe. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Measurement apparatus and method with adaptive scan rate

Номер патента: US09645169B2. Автор: Sang-il Park,Sang Han Chung,Ju Suk Lee,Yong Sung CHO,Ah Jin Jo. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09612108B2. Автор: Toru Mikami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Wavefront aberration measuring method, wavefront aberration measuring apparatus and optical element manufacturing method

Номер патента: US09557241B2. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Image forming apparatus capable of providing location-based service and location information measuring apparatus for providing location information

Номер патента: US20190356808A1. Автор: Sung-Joon Park,Youn SEO. Владелец: Hewlett Packard Development Co LP. Дата публикации: 2019-11-21.

Apparatus and method for measuring the velocity and acceleration of a vehicle using sad algorithm

Номер патента: US20100241391A1. Автор: Do-Hyun Kim,Jae-Jun YOO,Kyung-Bok SUNG,Kyeong-tae Kim,Byung-Tae Jang,Jeong-Dan Choi,Christopher Pelczar,Jung-Sook Kim,Jeong-Ah Jang,Jae-Han Lim. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2010-09-23.

Optical sampling measurement apparatus and optical sampling measurement method

Номер патента: US20030223765A1. Автор: Masatoshi Kanzaki,Yoshiki Yanagisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Semiconductor processing apparatus and method of manufacturing semiconductor device using semiconductor processing apparatus

Номер патента: US20240282604A1. Автор: SunWoo PARK,Seungdon Lee,Hyunjin Lee,Minwoo Rhee,Kyeongbin LIM,Bumki Moon,Sujie Kang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Coordinate measuring apparatus for measuring input position of a touch and a coordinate indicating apparatus and method thereof

Номер патента: US09927938B2. Автор: Sung-soo Park,Byung-Jik Kim,Gwan-Hyung Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-03-27.

Environmental measurement apparatus and environmental measurement method

Номер патента: US09880132B2. Автор: Mitsuo Ozaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Ultrasound based measurement apparatus and method

Номер патента: US09726642B2. Автор: Su Hyun Park,Jung Ho Kim,Kyu Hong Kim,Sung Chan Park,Joo Young KANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-08.

Processing system, processing method, measurement apparatus, substrate processing apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12140878B2. Автор: Shinichi Egashira. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-12.

Image measurement apparatus and image measurement method for determining a proportion of positive cell nuclei among cell nuclei included in a pathologic examination specimen

Номер патента: US09558551B2. Автор: Hideto Motomura,Yoshikuni Sato. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Board-warping measuring apparatus and board-warping measuring method thereof

Номер патента: US09423242B2. Автор: Liang-Pin Yu,Chi-Yang Lin,Ying-Lin PAN. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Apparatus and method for measuring the heating value of gases

Номер патента: EP1585981A1. Автор: Jiri Sevcik. Владелец: RWE Transgas AS. Дата публикации: 2005-10-19.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: US20180283850A1. Автор: Yusuke Konno,Toshio Akagi,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Tomohiro KUROIWA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2018-10-04.

Housing for enclosing measuring apparatus for recording apparatus, provided with air blowing means including high efficiency particulate air filter

Номер патента: US20020089824A1. Автор: Eiji Ishimoto,Norio Nakano,Hiroshi Kaminaga. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-07-11.

Electron beam length-measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20030052270A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

System, apparatus and method for protection of a vehicle against a possible threat

Номер патента: EP2443412A1. Автор: Christer ZÄTTERQVIST. Владелец: SAAB AB. Дата публикации: 2012-04-25.

Overhead wire mutual separating situation measuring apparatus and overhead wire mutual separating situation measuring method

Номер патента: US20200378750A1. Автор: Masaki Araki,Masahisa Watanabe,Shusaku UTSUGI,Toshio EIFUKU. Владелец: Hitachi High Tech Fine Systems Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Method of adjusting plating apparatus, and measuring apparatus

Номер патента: US20180371636A1. Автор: Yuji Araki,Masashi Shimoyama,Jumpei Fujikata,Mizuki Nagai. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2018-12-27.

Substrate-floatation-type laser processing apparatus and method for measuring floating height

Номер патента: US11749545B2. Автор: Yuki Suzuki,Daisuke Hayashi,Takahiro Mikami. Владелец: JSW Aktina System Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Scale indication apparatus and flow meter having the same

Номер патента: US20020020226A1. Автор: Atsushi Hatakeyama,Masaaki Okano,Kunio Kido,Yoshiyuki Matsuoka. Владелец: Tokyo Pigeon Co Ltd. Дата публикации: 2002-02-21.

Distance measurement apparatus and setting method of transmission condition

Номер патента: US20240295650A1. Автор: Yukimitsu Yamada. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12111146B2. Автор: Kunikazu Taguchi,Suguru Irie. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Laser annealing apparatus and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US12109648B2. Автор: SATOSHI Tanaka,Akiyoshi Suzuki,Hideo Hoshino. Владелец: GIGAPHOTON INC. Дата публикации: 2024-10-08.

Characteristic-measuring apparatus and characteristic-measuring method for multi-core fiber

Номер патента: US20180246008A1. Автор: Katsuhiro Takenaga,Shota Saito. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-08-30.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12140523B2. Автор: Sunah PARK,Hyunjung Choi,Hyunok KIM,Juhyun Park,Jua Ryu,Deokhyeon Kwon,KiDoo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-11-12.

Method, apparatus and computer storage medium for improving performance of relative position sensor

Номер патента: US20180180445A1. Автор: Shiqian DONG,Guanjiao REN. Владелец: Ninebot Beijing Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Polarization velocity vector measuring apparatus and polarization velocity vector measuring method

Номер патента: US09677943B2. Автор: Yoshihiro Kanda. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09383726B2. Автор: Akihiro OOSHIMA,Tomohito NOUNO. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2016-07-05.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US11856304B2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Cable monitoring apparatus and method

Номер патента: EP4402341A1. Автор: Timothy Mark Overfield,Gregory James Smith. Владелец: C Kore Systems Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Image processing apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230258807A1. Автор: Hiroki Okada,Yoshiteru Takayama. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Substrate weight measurement apparatus, a substrate processing apparatus including the same, and a method of processing a substrate using the substrate processing apparatus

Номер патента: US20230384681A1. Автор: Kuntack Lee,Ji Hwan Park,Sangjine Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Apparatus and method for measuring the weight of impurities in a mixed volume of fibers and impurities

Номер патента: WO2011137553A1. Автор: Xiaoli Yang,Yazhou Liu,Zibo Xu. Владелец: Uster Technologies AG. Дата публикации: 2011-11-10.

Apparatus and method for bridge assembly

Номер патента: US09803977B2. Автор: Paul A. Fuchs. Владелец: FUCHS CONSULTING Inc. Дата публикации: 2017-10-31.

Position measuring apparatus

Номер патента: US09696152B2. Автор: Yukiharu Tomita,Ryosuke Oikawa,Kenzo Yamanouchi. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Method for data transmission between measuring apparatuses and a data processing device in a measured data recording system

Номер патента: US09693121B2. Автор: Johannes Müller,Andreas MÖBUSZ. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-06-27.

Optical distance measuring apparatus and electronic apparatus

Номер патента: US09568596B2. Автор: Hideo Wada. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Measuring apparatus, measuring method, and processing apparatus thereof that obtain displacement amount of an object using clock in synchronization with data request signal

Номер патента: US09488501B2. Автор: Yoshiyuki Okada,Takafumi Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-08.

Liquid containment and measurement apparatus and method

Номер патента: US09435677B1. Автор: David Soble,Scott Soble,Derek Grace,Brian L. Ashinger. Владелец: Diamond Shine Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-05.

Gas cluster ion beam apparatus and analyzing apparatus

Номер патента: US20200312604A1. Автор: Katsumi Watanabe,Daisuke Sakai,Mauo SOGOU,Hiromichi Yamazui. Владелец: Ulvac PHI Inc. Дата публикации: 2020-10-01.

Measuring apparatus and method and apparatus for determining a leakage of an injection valve

Номер патента: WO2012069317A1. Автор: Cristiano Mannucci. Владелец: Continental Automotive GmbH. Дата публикации: 2012-05-31.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12038329B2. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Apparatus and method for measuring position and/or motion using surface micro-structure

Номер патента: WO2011056318A2. Автор: Noah Bareket,Upendra Ummethala,Christopher Bevis. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2011-05-12.

Apparatus and method for determining a measure for the solid content of a liquid toner, and printing system including such an apparatus

Номер патента: US9671722B2. Автор: Bjorn Leynen,Kurt Gustaaf Maria Mampaey,Tomas Praet. Владелец: Xeikon Manufacturing NV. Дата публикации: 2017-06-06.

Apparatus and Method for Determining a Measure for the Solid Content of a Liquid Toner, and Printing System Including Such an Apparatus

Номер патента: US20160274498A1. Автор: Bjorn Leynen,Kurt Gustaaf Maria Mampaey,Tomas Praet. Владелец: Xeikon IP BV. Дата публикации: 2016-09-22.

Electromagnetic-wave detection apparatus and distance-measurement apparatus

Номер патента: US20230288565A1. Автор: Hiroki Okada. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Color measurement apparatus

Номер патента: US20240272003A1. Автор: Toshio Miyake,Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Light wavelength measurement apparatus and method, and light wavelength control device and light-emitting system

Номер патента: EP4414672A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-14.

Apparatus and method for droplet measurements

Номер патента: EP1568415A3. Автор: Igor Shvets,Juergen Osing,Alexander Shvets,Cecilia Franken,Serge Makarov. Владелец: Allegro Res Ltd. Дата публикации: 2007-04-04.

Inclination measurement apparatus

Номер патента: US20020092189A1. Автор: Yuval Singer,Federico Singer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

Measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20070203654A1. Автор: Toshihide Ezoe. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Load measuring apparatus, for vehicle, measuring load supported by axle, method for same, and lift axle control system equipped with load measuring apparatus

Номер патента: EP4253105A1. Автор: Seong Tae Kim,Pil Won Heo,Chang Yul Kim,Gwang Min Gu. Владелец: Autovision Corp. Дата публикации: 2023-10-04.

Vehicle detection apparatus and method

Номер патента: LU502727B1. Автор: Wenguang Zhang,wanyou Huang,Xuesong Tian,Shaobo JI,Mingjin Yu. Владелец: Shandong Xinlingzhi Testing Tech Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Current measuring apparatus, image forming apparatus, conveyance apparatus and method for measuring current

Номер патента: US09939469B2. Автор: Takeo Seki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-10.

Radio wave propagation environment measuring apparatus, radio network construction system, and method for measuring radio wave propagation environment

Номер патента: US09883407B2. Автор: Tsutomu Yamada,Yoshihito Sato,Hiromichi Endo. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-01-30.

Measuring apparatus

Номер патента: US09811896B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Apparatus and method for determining a measure for the solid content of a liquid toner, and printing system including such an apparatus

Номер патента: US09671722B2. Автор: Bjorn Leynen,Kurt Gustaaf Maria Mampaey,Tomas Praet. Владелец: Xeikon Manufacturing NV. Дата публикации: 2017-06-06.

Authentication apparatus and method

Номер патента: US09600953B2. Автор: Robert Stewart. Владелец: Innovia Films Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Optical measuring apparatus and specimen discriminating and dispensing apparatus

Номер патента: US09541489B2. Автор: Toru Takahashi,Jie Xu,Ken Tsukii. Владелец: Furukawa Electric Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-10.

Optical measuring apparatus for a vehicle, driver assistance device having such a measuring apparatus, and vehicle having a corresponding measuring apparatus

Номер патента: US09395439B2. Автор: Heiner Bayha,Jens Nicolai,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2016-07-19.

Inertial measurement apparatus and mechanical device

Номер патента: EP3816580A1. Автор: Faquan CHEN. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-05.

Measurement result management apparatus and measurement result management method

Номер патента: US20190173768A1. Автор: Yosuke Nakamura,Kazuaki Nimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-06-06.

Apparatus and method for measuring flow speed

Номер патента: FI20226018A1. Автор: Jari Hokkanen,Jari Mikkonen. Владелец: Flaektgroup Sweden Ab. Дата публикации: 2024-05-12.

Magnetic field measuring apparatus and apparatus for measuring spatial resolution of magnetic field detector

Номер патента: US6144196A. Автор: Naoya Tamaki. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-11-07.

Contact terminal for measurement, measurement apparatus, probe card set, wafer probe apparatus, and testing apparatus

Номер патента: US7474109B2. Автор: Tadao Saito,Shigeru Matsumura,Shin Sakiyama,Tetsuya Kuitani. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2009-01-06.

Measurement apparatus and method for measuring an energy quantity flow transported by means of a liquefied natural gas flow

Номер патента: US20240240999A1. Автор: Martin OBERLÄNDER,Andreas Ehrlich,Sebastian Friedrich. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-07-18.

Acoustic measurement apparatus, kit, and method of use thereof

Номер патента: US20240142299A1. Автор: Paul Charles Downey. Владелец: Pliteq Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Apparatus and method for measuring position and/or motion using surface micro-structure

Номер патента: WO2011056318A3. Автор: Noah Bareket,Upendra Ummethala,Christopher Bevis. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2011-07-14.

Color measuring apparatus

Номер патента: US12025493B2. Автор: Tatsuya Shirane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US20140025300A1. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Stock tank water level measuring apparatus and system for monitoring the apparatuses

Номер патента: US20210325229A1. Автор: David Cliff,Curt Goble. Владелец: Wellbot LLC. Дата публикации: 2021-10-21.

Apparatus and method for analyzing an element of a photolithography process with the aid of a transformation model

Номер патента: US20190354019A1. Автор: Carsten Schmidt,Thomas Scheruebl,Christoph HUSEMANN,Dirk Seidel,Alexander Freytag. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2019-11-21.

Carrier aggregation capability reporting apparatus and method, and carrier measurement apparatus and method

Номер патента: US12081296B2. Автор: Jian Zhang,Yi Guo,Xiaodong Yang,Bingzhao Li,Wei Quan,Jinhua MIAO,Zhenxing Hu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20230089647A1. Автор: Hiroshi Nakatsuka,Riyoko Miyahara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Apparatus and method for analyzing an element of a photolithography process with the aid of a transformation model

Номер патента: US20240264536A1. Автор: Carsten Schmidt,Christoph HUSEMANN,Dirk Seidel,Alexander Freytag,Thomas Scheruebi. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-08.

Differential dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on polarized vector light beam

Номер патента: US12111453B1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua,Chongliang Zou. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-08.

Differential dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on polarized vector light beam

Номер патента: US20240310613A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua,Chongliang Zou. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-09-19.

Sample measuring apparatus, information reading apparatus, and information reading method

Номер патента: EP4439381A1. Автор: Masato Hayashi,Rentaro TAKENAKA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus

Номер патента: US20140362262A1. Автор: Akinari Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-12-11.

Apparatus and method for cable phase correction for vector analyzer remote heads

Номер патента: US09841449B2. Автор: Thomas Zwick,Hassan Tanbakuchi,Kenneth H. Wong,Chen-Yu Chi,Michael Mikulka,Richard Lynn Rhymes. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2017-12-12.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09553462B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Moisture measuring apparatus and computer-readable medium

Номер патента: US09513271B2. Автор: Ryo Okumura. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Apparatus and method for examining a surface of a mask

Номер патента: US9910065B2. Автор: Pawel Szych,Klaus Edinger,Gabriel Baralia,Michael Budach,Thorsten Hofmann. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2018-03-06.

Apparatus and method for determining a measure for the solid content of a liquid toner, and printing system including such an apparatus.

Номер патента: NL2014470A. Автор: PRAET Tomas,Leynen Bjorn,Gustaaf Maria Mampaey Kurt. Владелец: Xeikon IP BV. Дата публикации: 2016-10-10.

Measurement result management apparatus and measurement result management method

Номер патента: US10812356B2. Автор: Yosuke Nakamura,Kazuaki Nimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-10-20.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240230312A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Part program generating apparatus and program for image measuring apparatus

Номер патента: US20030039334A1. Автор: Akira Takada,Koichi Komatsu,Masato Shimizu,Kozo Ariga. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2003-02-27.

Thermal energy apparatus and methodology

Номер патента: US5937369A. Автор: Bahram Zandi. Владелец: Thermal Engr Services Inc. Дата публикации: 1999-08-10.

Measuring apparatus and method for same

Номер патента: EP3080548A1. Автор: Owen PEARCEY. Владелец: HATCH ASSOCIATES PTY LTD. Дата публикации: 2016-10-19.

Measuring apparatus and method for measuring the temperature of a molten metal bath with an optical device

Номер патента: AU2022332552A1. Автор: Michel Van Vlierberghe,Gert JANSSEN,Luc Vranckx. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-03-07.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: EP1017969A1. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-12.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: WO1999015859A2. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Wusterbarth Michael A. Дата публикации: 1999-04-01.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Lithographic Apparatus and Method

Номер патента: US20120147346A1. Автор: Markus Franciscus Antonius Eurlings,Jan Bernard Plechelmus Van Schoot,Antonius Johannes Josephus Van Dijsseldonk,Igor Petrus Maria Bouchoms. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2012-06-14.

Heating resistor type fluid rate measuring apparatus and control device of internal combustion engine having the tlow measuring apparatus

Номер патента: US20060277983A1. Автор: Shinya Igarashi,Kiichi Otaka,Takeshi Morino,Yasunobu Kojima,Yasuji Nishi,Chihiro Kobaysahhi. Владелец: Hitachi Car Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-14.

Measurement apparatus, method for operating a mask-metrology measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US20240255857A1. Автор: Thomas Frank,Ulrich Matejka,Jan Reisloehner. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-08-01.

Apparatus and method for performing burst triggering in a test and measurement instrument

Номер патента: US20130221980A1. Автор: David L. Kelly,Shane A. HAZZARD,Patrick A. Smith,Que T. TRAN. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2013-08-29.

Apparatus and method for measuring micro-vibration influence of spatial orientation measuring instrument

Номер патента: US12085474B2. Автор: Li Yuan,LIN Li,LI Wang,Xiaoyan Wang,Miaomiao Wang,Ran Zheng,Yuming LI,Jun Zhong,Yanpeng Wu,Jie SUI,Huiyan CHENG. Владелец: BEIJING INSTITUTE OF CONTROL ENGINEERING. Дата публикации: 2024-09-10.

Dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on vortex dichroism

Номер патента: US20240329377A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-03.

Apparatus and method for performing burst triggering in a test and measurement instrument

Номер патента: US09934355B2. Автор: David L. Kelly,Shane A. HAZZARD,Patrick A. Smith,Que T. TRAN. Владелец: Tektronix Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Interfacial adhesion strength measuring apparatus and method of a gas diffusion layer for fuel cells

Номер патента: US09846113B2. Автор: Bo Ki Hong,Taek Soo Kim,Byeong Heon Jeong,Sanwi Kim. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2017-12-19.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09733578B2. Автор: Satoshi Maruyama,Akihito Hashimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09645201B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Measuring apparatus and measuring device for measuring a target object in a multidimensional manner

Номер патента: US09638520B2. Автор: Andreas Eisele,Bernd Schmidtke,Ulrich Kallmann. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2017-05-02.

Scintillator plate, radiation measuring apparatus, radiation imaging apparatus, and scintillator plate manufacturing method

Номер патента: US09625586B2. Автор: Junichi Kaneko,Mikio Higuchi,Kenji Izaki,Takehiro Shimaoka,Youichi Tsubota. Владелец: JAPAN ATOMIC ENERGY AGENCY. Дата публикации: 2017-04-18.

Apparatus and method for diagnosing actuators in vehicle

Номер патента: US09613471B2. Автор: Jin HO KIM,Young Seo Lee,Jae Wook Jeon,Duck Hyen LIM,Chae Hong LEE. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Quantitative texture measurement apparatus and method

Номер патента: US09541537B1. Автор: Wilfred Marcellien Bourg, Jr.,Shahmeer Ali Mirza,Scott Fagan,Ou BAI,Enrique Michel-Sanchez,Scott G. Richardson,Chen C. Shao. Владелец: Frito Lay North America Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: WO2018016782A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2018-01-25.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: US20180024037A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-25.

Measuring apparatus and method for range inspection

Номер патента: EP1761738A1. Автор: Henrik Turbell,Mats Gokstorp. Владелец: Sick IVP AB. Дата публикации: 2007-03-14.

Measuring apparatus and method for range inspection

Номер патента: CA2571296A1. Автор: Henrik Turbell,Mats Goekstorp. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-01-12.

Color-Measuring Apparatus, Print Control Apparatus, And Print Control Method

Номер патента: US20160142589A1. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-19.

Light scattering measuring apparatus and measuring jig

Номер патента: US20220155203A1. Автор: Hiroya Nagasawa,Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-19.

Measurement apparatus, control method for measurement apparatus, and measurement system

Номер патента: US20220373618A1. Автор: Yu Tanaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-11-24.

Measurement apparatus and driving apparatus

Номер патента: US20190128916A1. Автор: Takayuki Uozumi,Takefumi Ota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-05-02.

Measurement apparatus, measurement method, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160379902A1. Автор: Nobuhiro Komine,Yoshinori Hagio. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20200096333A1. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-03-26.

Measuring apparatus and method of wafer geometry

Номер патента: US12072176B2. Автор: An Andrew Zeng. Владелец: Nanjing Zhongan Semiconductor Equipment Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Apparatus and methods for measuring shape of both sides of a plate

Номер патента: US20070184356A1. Автор: Shinichi Tanaka,Yasuyuki Kita,Katsunobu Ueda,Takanobu Akiyama,Shigetaka Akiyama. Владелец: Toshiba Machine Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-09.

Apparatus and method for measuring dust

Номер патента: EP3472598A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2019-04-24.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US10935661B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Optical Wavelength Measurement Apparatus and Method, Optical Wavelength Control Device, and Light Emitting System

Номер патента: US20240295437A1. Автор: LEI Zhou. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Sequence similarity measuring apparatus and control method thereof

Номер патента: US20090287755A1. Автор: Dong Hoon Lee,Jung Hoon Kim,Jae Kwang Kim,Kwang Ho Yoon,Jee Hyong Lee,Kun Su Kim,Seung Hoo Lee,Tae Bok Yoon,Dong Moon Kim,Je Hee Jung. Владелец: Sungkyunkwan University Foundation For Corporate Collaboration. Дата публикации: 2009-11-19.

A frame loss measurement apparatus and method for multicast service traffic

Номер патента: WO2008050929A1. Автор: Jeong-Dong Ryoo,Yoo-Kyoung Lee,Kyung-Mook Lim,Tae-Sik Cheung. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute. Дата публикации: 2008-05-02.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US9764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Apparatus and method for measuring a weight load exerted by a leg of a lab animal

Номер патента: US20020143493A1. Автор: Sun Min,Young Yoon,Seung Hong,Yang Kim,Hee Han,Jeong Han,Heung Na. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-10-03.

Fringe information measuring apparatus and substrate treating system including the same

Номер патента: US12097696B2. Автор: Han Lim KANG,Won Yong JIN,Jae Duck Lee,Suk Won Jang. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Magnetostrictive path measuring apparatus and method of manufacturing a measuring probe of a magnetostrictive path measuring apparatus

Номер патента: US20180052016A1. Автор: Roland Holder,Torsten Beutler. Владелец: Balluff GmbH. Дата публикации: 2018-02-22.

Coating Thickness Measuring Apparatus and Method

Номер патента: US20240344822A1. Автор: Seung-Heon Lee,Do-Hyun Lee. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Trusted measurement method and apparatus, computer device, and readable medium

Номер патента: EP4418115A1. Автор: Liang Wang,Jianjun Liu,Min Zhang,Jia Zhou,Hu TAN,Zhihong XUE,Qu CAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US09977129B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Grounding resistance measurement apparatus and method of operating the same

Номер патента: US09910079B2. Автор: Tsung-Yuan Wu. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Apparatus and method for overlay measurement

Номер патента: US09835956B2. Автор: Yang Liu,Qiang Wu,Liwan Yue. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Color-measuring apparatus, print control apparatus, and print control method

Номер патента: US09764575B2. Автор: Eishin Yoshikawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Method of correcting measurement error of shape measuring apparatus, and shape measuring apparatus

Номер патента: US09683839B2. Автор: Nobuhiro Ishikawa,Hideyuki Nakagawa. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Thickness measurement apparatus and method thereof

Номер патента: US09625273B2. Автор: Yoshihiro Yamashita,Hidehiko Kuroda,Akio Sumita. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Three-dimensional shape measurement apparatus and control method thereof

Номер патента: US09599462B2. Автор: Toshihiro Kobayashi,Shinji Uchiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Vehicle optical measuring apparatus having a deflection mirror arrangement, driver assistance device having such a measuring apparatus, and vehicle having a corresponding measuring apparatus

Номер патента: US09575181B2. Автор: Heiner Bayha,Jens Nicolai,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2017-02-21.

Wavefront measurement method, shape measurement method, optical element manufacturing method, optical apparatus manufacturing method, program, and wavefront measurement apparatus

Номер патента: US09574967B2. Автор: Atsushi Maeda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: EP4224204A1. Автор: Emiko Shiraishi,Yohei Morita,Kei Takeyama,Junichiro Hayakawa,Kaho Oi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-08-09.

Simulating measurement apparatus and method

Номер патента: US20100127917A1. Автор: Li-Kuang Chen,Chunn-Yenn Lin,Josephs D.S. Deng,Hsien-Kwei Ho. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2010-05-27.

Measuring apparatus and method for positioning and aligning retroreflectors in a distribution of retroreflectors of a measuring apparatus

Номер патента: US20200225026A1. Автор: Wolfgang Hoegele,Christian Hoerr. Владелец: Carl Zeiss Optotechnik GmbH. Дата публикации: 2020-07-16.

Velocity measurement method, system, device and apparatus and storage medium, as well as velocity field measurement method and system

Номер патента: US20240221184A1. Автор: Jinjun Wang,Shaofei Wang,Chong Pan. Владелец: Ningbo Institute Of Technology Beihang University. Дата публикации: 2024-07-04.

Measurement apparatus, storage medium, system and method of manufacturing article

Номер патента: US20230196605A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-06-22.

Laser distance measuring apparatus

Номер патента: US20210131791A1. Автор: Masahiro Kawai,Yoshitaka Tsuboi,Shohei Tsukamoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-05-06.

Distance measurement apparatus and biometric authentication apparatus

Номер патента: US20220309692A1. Автор: Katsuji Kimura,Youji Sakioka,Mitsuhiro Iwama. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Flow measurement apparatus and method of use

Номер патента: WO2019243789A1. Автор: Victor Gawski,Gavin MUNRO. Владелец: Gm Flow Measurement Services Limited. Дата публикации: 2019-12-26.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: EP3111198A1. Автор: Chulwoo PARK,Yeekyeong JUNG,Sunghwa Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-01-04.

Airborne microbial measurement apparatus and method

Номер патента: US20170059466A1. Автор: Chulwoo PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-03-02.

Light receiving apparatus and distance measuring apparatus

Номер патента: US12061292B2. Автор: Kenta Makimoto. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US12085413B2. Автор: Graham Richard Ferguson,Benjamin Jason Merrifield. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2024-09-10.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: EP1362217A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audio Development Informationsteknik I Malmo AB. Дата публикации: 2003-11-19.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: WO2002070986A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audiodev Aktiebolag. Дата публикации: 2002-09-12.

Apparatus and method for avoiding a degradation of an optical used surface of a mirror module, projection system, illumination system and projection exposure apparatus

Номер патента: US20240319621A1. Автор: Moritz Becker,Julian Kaller,Arnoldus Jan Storm. Владелец: NEDERLANDSE ORGANISATIE VOORTOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO. Дата публикации: 2024-09-26.

Overlay mark forming Moire pattern, overlay measurement method using same, overlay measurement apparatus using same, and manufacturing method of semiconductor device using same

Номер патента: US12107052B2. Автор: Hyun Chul Lee,Hyun Jin Chang. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Sensor calibration method, apparatus, and device, data measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: US12117356B2. Автор: Cheng Zhou,Zhengyou Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Distance measuring apparatus and light emitting device for distance measurement

Номер патента: US20240345222A1. Автор: Daisuke Iguchi. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-10-17.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, and terminal and network-side device

Номер патента: EP4456625A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Color measurement apparatus and printing apparatus

Номер патента: US09992383B2. Автор: Nozomu HIROKUBO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Optical velocity measuring apparatus and moving object

Номер патента: US09977044B2. Автор: Azusa Amino,Ryosuke Nakamura,Taishi Ueda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-05-22.

Stand-by power estimating apparatus and program

Номер патента: US09880600B2. Автор: Noriyoshi Shimizu,Takashi Nishiyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Measuring apparatus that generates positional deviation distribution of a pattern on a target object

Номер патента: US09659361B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Grain appearance measuring apparatus

Номер патента: US09607368B2. Автор: Hiroaki Takeuchi,Hideaki Matsushima,Hiroki Ishizuki. Владелец: Satake Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Muzzle velocity measuring apparatus and method

Номер патента: US09513308B2. Автор: Sung-Min Lee,Jung-Yun Kim,Kyu-Chae JUNG,De-Rac SON,Jun-Goo SHIN. Владелец: Hanwha Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Apparatus and method for two dimensional nanoindentation

Номер патента: EP3724631A1. Автор: Warren C. Oliver,John B. Pethica,Kurt Johanns,Kermit H. PARKS,P. Sudharshan PHANI. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2020-10-21.

Apparatus and method for three-dimensional modelling of a shaft

Номер патента: EP4121715A1. Автор: Koen Beyers,Bram PLANCKE. Владелец: Spacepal. Дата публикации: 2023-01-25.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20210234779A1. Автор: Toru Okugawa,Hidetaka NISHIHARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Base station antenna and measurement method and measurement device for azimuth angle thereof, medium, and base station

Номер патента: EP4386418A1. Автор: Jinye HE,Shangmin CHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Capacitance sensing apparatus and method for detecting gas-liquid transitions

Номер патента: WO2019084573A1. Автор: Akshat Sharma,Peter Charles Cornwell,Ruihua XIE. Владелец: FLOWSERVE MANAGEMENT COMPANY. Дата публикации: 2019-05-02.

Distance measurement method, apparatus, and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4235092A1. Автор: Yufeng Zheng,Zhigang Guo,Houming ZHAI,Mingsong SHAO,Qiulai GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Thermophysical property measurement method and thermophysical property measurement apparatus

Номер патента: US10876983B2. Автор: Hiroyuki Fujiki,Takeshi Shimazaki,Yasutaka AMAGAI. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-12-29.

Light Measurement Apparatus for Reaction Vessel and Light Measurement Method

Номер патента: US20150218618A1. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2015-08-06.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Apparatus and method for measuring aging environment

Номер патента: US20140081580A1. Автор: Jong-Suk Chae,Bong Wan Kim,Sungsoo Kang,Jun Wook Lee,Hyun-joong KANG. Владелец: DONGAONE CO Ltd. Дата публикации: 2014-03-20.

Irradiation strength distribution measuring apparatus and method of measuring

Номер патента: WO2008089898A1. Автор: Rolf Freimann. Владелец: Carl Zeiss Smt Ag. Дата публикации: 2008-07-31.

Measurement apparatus and exposure apparatus

Номер патента: US8184263B2. Автор: Yasunori Furukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-05-22.

Light measuring apparatus capable of measuring ambient light and flash light

Номер патента: US5589934A. Автор: Yoshihiko Azuma,Susumu Shirai,Takehiro Katoh,Kenichiro Hibi,Yoshihiro Okui,Norihisa Hosoi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 1996-12-31.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US20140061190A1. Автор: Jeong-Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Yeon A. Hwang,Tae Gyoon Noh,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Measurement apparatus, control apparatus, and control method

Номер патента: US12078478B2. Автор: Tsutomu Ichimura,Kazuhiko Hidaka,Tomoyuki Miyazaki,Naoki Mitsutani,Hideki Mishima,Yoshinori Shirakawa,Tomohiro Kiire. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Ultrasound flow rate measurement apparatus and manufacturing method for same

Номер патента: US20180156651A1. Автор: Torsten Schmidt,Jörg Schneider,Christian Schulz. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2018-06-07.

MEASUREMENT APPARATUS AND Non-PSC CONNECTION METHOD THEREFOR

Номер патента: US20240276328A1. Автор: Kazuyuki Koike,Yasuko Uda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Apparatus And Method For A Measurement Of A Spectral Response Of A Sample, Including A Quantum-Cascade-Laser-Based Light Amplification

Номер патента: US20240255421A1. Автор: Ferenc Krausz,Alexander Weigel,Ka Fai MAK,Qu SHIZHEN. Владелец: Molekularis Ujjlenyomat Kutato Kozhasznu. Дата публикации: 2024-08-01.

Electric field measuring apparatus and method of measuring electric field using the same

Номер патента: US12105132B2. Автор: Sungjin Kim,Sunghwi CHO,Sungyeol KIM,Masahiko Yamabe,Sungyong LIM,Meehyun Lim,Jinyeong Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

New adaptive trigger piv measuring apparatus and method

Номер патента: NL2035928A. Автор: Xu Yang,Wang Jinjun,Wang Hanbin,Fan Di,Guo Qinfeng. Владелец: Univ Beihang. Дата публикации: 2024-05-28.

Measuring apparatus and method for measuring the temperature of a molten metal bath with an optical device

Номер патента: US20240361190A1. Автор: Michel Van Vlierberghe,Gert JANSSEN,Luc Vranckx. Владелец: Heraeus Electro Nite International NV. Дата публикации: 2024-10-31.

Pattern-measuring apparatus and semiconductor-measuring system

Номер патента: US09990708B2. Автор: Takeshi Kato,Hiroyuki Shindo,Norio Hasegawa,Yutaka Hojo,Yasutaka Toyoda,Hitoshi SUGAHARA,Daisuke HIBINO. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Automatic angle-measured apparatus and method using the same

Номер патента: US09970789B2. Автор: Chia-Ching Lin,Ming-Chun Ho,Chin-Hui Chen,Shu-Yu Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-05-15.

Multi-antenna noise power measuring method and apparatus

Номер патента: US09967041B1. Автор: Yan-Neng Chang. Владелец: Ambit Microsystems Shanghai Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Apparatus and method for inspecting seals of items

Номер патента: US09927372B2. Автор: Heimo Keranen,Karri Niemela. Владелец: Focalspec Oy. Дата публикации: 2018-03-27.

Flow rate measurement apparatus, antigen concentration measurement apparatus, flow cell, flow rate measurement method, and antigen concentration measurement method

Номер патента: US09880101B2. Автор: Toru Miura,Tsutomu Horiuchi,Tsuneyuki Haga,Tsuyoshi Hayashi,Yuzuru Iwasaki,Michiko Seyama,Jun-ichi Takahashi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Laser heterodyne interferometric straightness measurement apparatus and method with six DOFs determination

Номер патента: US09863753B2. Автор: Bin Xu,Liping Yan,Benyong Chen,Enzheng Zhang. Владелец: Zhejiang Sci Tech University ZSTU. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus for three-dimensional profilometry and method thereof

Номер патента: US09858671B2. Автор: Liang-Chia Chen,Chung-An Hsieh,Ming-Xuan WENG. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2018-01-02.

Absolute distance measurement apparatus and method using laser interferometric wavelength leverage

Номер патента: US09835441B2. Автор: Liping Yan,Benyong Chen,Shihua Zhang. Владелец: Zhejiang Sci Tech University ZSTU. Дата публикации: 2017-12-05.

Shape measurement apparatus and method

Номер патента: US09791266B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Min-Young Kim,Seung-Jun Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-10-17.

Sensor strip cartridge, and biometric information measuring method and apparatus using the same

Номер патента: US09739764B2. Автор: Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Min-Hyoung Lee,In-Geol Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Shape measurement apparatus and method

Номер патента: US09739605B2. Автор: Joong-Ki Jeong,Min-Young Kim,Seung-Jun Lee. Владелец: KOH YOUNG TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-08-22.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Ring laser measurement apparatus and method

Номер патента: US09683831B2. Автор: John W. Palmateer. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-06-20.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09651876B2. Автор: Kenji Noda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-16.

Measurement apparatus and method of measuring signal light quality

Номер патента: US09638574B2. Автор: Shoichiro Oda,Tomohiro Yamauchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Distance measurement method and distance measurement apparatus

Номер патента: US12146937B2. Автор: Genming Ding,Yanong HE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Temperature measuring apparatus and microwave oven having the same

Номер патента: US09591699B2. Автор: Jeong Su Han,Yong Jong Park,Jun hoe Choi,Tae Gyoon Noh,Yeon A Hwang,Kee Hwan Ka. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-07.

Optical measuring apparatus and method for the analysis of samples contained in liquid drops

Номер патента: US09488579B2. Автор: Torleif Ove Bjornson,Thomas Geiges. Владелец: TECAN TRADING AG. Дата публикации: 2016-11-08.

Shape measuring apparatus and control method of shape measuring apparatus

Номер патента: US09448052B2. Автор: Takashi Noda,Hiromi Deguchi. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Press load measuring apparatus and method for press machine

Номер патента: US20200307138A1. Автор: Yasuyuki Kohno,Kazuki Honjo. Владелец: Aida Engineering Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Optical measurement apparatus and method of rapid measurement

Номер патента: US20240241041A1. Автор: James Reynolds. Владелец: Occuity Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Ultrasound measuring apparatus and method for measuring the flow rate of a fluid

Номер патента: US10260919B2. Автор: Toralf Dietz,Arnd Schlicke,Henri Kirmse. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2019-04-16.

Communication terminal measurement system, communication terminal measurement apparatus, and communication terminal test method

Номер патента: US20210243759A1. Автор: Daiki Kano,Yuki Naruse,Toru Yamasaki. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2021-08-05.

Apparatus and method for measuring a contoured surface

Номер патента: US20030074802A1. Автор: Robert Rucha,Daniel McGillis,Peter Deir. Владелец: ABB Automation Inc. Дата публикации: 2003-04-24.

Acoustic measurement apparatus, kit, and method of use thereof

Номер патента: CA3177982A1. Автор: Paul Gartenburg,Paul Charles Downey. Владелец: Pliteq Inc. Дата публикации: 2023-06-20.

Apparatus and method for multiple frequency comb generation and applications thereof

Номер патента: US12046866B2. Автор: Ferenc Krausz,Jonathan BRONS,Oleg Pronin,Ka Fai MAK,Maksim IANDULSKII. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2024-07-23.

Apparatus and method for measuring degree of cure of adhesive agent

Номер патента: US20140071454A1. Автор: Hiroyuki Tanaka,Takashi Fukuzawa. Владелец: Nippon Sheet Glass Co Ltd. Дата публикации: 2014-03-13.

Measurement apparatus and control method of measurement apparatus

Номер патента: US20210208683A1. Автор: Shigeto Hattori. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-07-08.

Apparatus and method for measuring electric power consumed in electrical heaters

Номер патента: US5545876A. Автор: Joung I. Park. Владелец: Gold Star Co Ltd. Дата публикации: 1996-08-13.

Apparatus and method for measuring aging environment

Номер патента: US9535044B2. Автор: Jong-Suk Chae,Bong Wan Kim,Sungsoo Kang,Jun Wook Lee,Hyun-joong KANG. Владелец: DONGAONE CO Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Deformation measuring apparatus and method of evaluating deformation using therof

Номер патента: US20180128758A1. Автор: Yoo Seong Yang,Young Hoon Lee,Young Suk Jung,Ga Hee KIM,Hyun Mi Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-05-10.

Fuel cell potential measuring apparatus and manufacturing method therefor

Номер патента: US20100021781A1. Автор: Masahiko Sato,Toshifumi Suzuki,Hiromichi Yoshida. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-28.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A3. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-11-10.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: EP4428506A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Current measuring apparatus

Номер патента: EP2507813A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,Dale Stubbs. Владелец: Gigle Networks Ltd. Дата публикации: 2012-10-10.

Current measuring apparatus

Номер патента: WO2011067593A2. Автор: Jonathan Ephraim David Hurwitz,William Michael James Holland,Iain Barnett. Владелец: Gigle Networks Limited. Дата публикации: 2011-06-09.

Object motion measurement apparatus, object motion measurement method, and imaging apparatus

Номер патента: US20240303829A1. Автор: Kazuya Okamoto,Kazuhiko Fukutani,Ryuichi Nanaumi. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Radiation detector, radiation measuring apparatus, and method for setting radiation detector

Номер патента: EP4421536A1. Автор: Takuto Sakumura,Yasukazu Nakaye,Yasutaka SAKUMA,Kunitoshi YANAGIHARA,Tomonao INOUE. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Color measurement apparatus and control method

Номер патента: US20240302209A1. Автор: Toru Hayashi,Masayoshi MIYAKAWA,Masahide Moriyama. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: GB2629247A. Автор: Adam Eckhardt Markus. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-10-23.

Measurement apparatus with circuitry for measuring acceleration

Номер патента: US11119247B2. Автор: Watheq AL-BASHEER,Sohaib ABDELAZEM. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2021-09-14.

Acceleration measurement apparatus

Номер патента: US10114145B1. Автор: Watheq AL-BASHEER,Sohaib ABDELAZEM. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2018-10-30.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09984453B2. Автор: Toru Sugiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Surface property measuring apparatus and method for controlling the same

Номер патента: US09921044B2. Автор: Tatsuki Nakayama. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring apparatus and support mechanism of columnar work piece

Номер патента: US09810516B2. Автор: Tomomitsu SUGAWARA,Hirotada Anzai,Monya FUJIWARA. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Measuring apparatus and method of manufacturing article

Номер патента: US09797717B2. Автор: Masaki Nakajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-10-24.

Pulse width measurement method and apparatus

Номер патента: US09778305B2. Автор: William David Stewart,Giovanni De Sanctis,Stephen John Robb. Владелец: Schrader Electronics Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Three-dimensional measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09715730B2. Автор: Hideaki Suzuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Wiring length measurement apparatus and recording media

Номер патента: US09715568B2. Автор: Katsuhiko Iwase,Shinichi Maeda. Владелец: Liquid Design Systems Inc. Дата публикации: 2017-07-25.

Temperature measurement apparatus and method

Номер патента: US09500537B2. Автор: Jun Abe,Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Curvature measurement apparatus and method

Номер патента: US09453721B2. Автор: Yasushi Iyechika,Masato Akita. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Carrier selection method for positioning measurement, positioning measurement method, positioning processing apparatus, and terminal

Номер патента: US09451534B2. Автор: Jie Cui,Dengkun Xiao,Yuanfeng Du. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Multiphase current measuring apparatus and method for multiphase current measurement

Номер патента: US20210109132A1. Автор: Claudia Glenske,Matthias Brusius. Владелец: SENSITEC GMBH. Дата публикации: 2021-04-15.

Optical signal-to-noise ratio measurement method and apparatus, and computer storage medium

Номер патента: US20240235672A1. Автор: Hu Shi,Yinqiu JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: EP3910308A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-17.

Optical triangulation measurement apparatus and method

Номер патента: EP3971518A1. Автор: Timothy Peter MONKS,Jeremy William RILEY,Michael Thomas BRIGGS. Владелец: Third Dimension Software Ltd. Дата публикации: 2022-03-23.

Dampening water quantity measuring apparatus and dampening water adjusting method

Номер патента: US20070186792A1. Автор: Shigeru Murata,Masaji Mizuta. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2007-08-16.

Flexural-rigidity measuring apparatus and method for measuring flexural rigidity

Номер патента: US20230032653A1. Автор: Masao Omori. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-02-02.

Cell measurement method, radio communication apparatus and storage medium

Номер патента: EP4250816A1. Автор: Jun Liu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-27.

Apparatus and method for measuring degree of cure of adhesive agent

Номер патента: US20120327401A1. Автор: Hiroyuki Tanaka,Takashi Fukuzawa. Владелец: Nippon Sheet Glass Co Ltd. Дата публикации: 2012-12-27.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20210356368A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2021-11-18.

Temperature measurement method, apparatus, and system, storage medium, and program product

Номер патента: EP4242609A1. Автор: PING Yang,Shiliang PU,Di XIE,Chengshan Pang,Dongwei Ma. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US12000804B2. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-06-04.

Image-capturing apparatus, distance-measuring apparatus, distance-measuring system, and distance-measuring method

Номер патента: WO2024157141A1. Автор: Yuu YAMADA,Takefumi TAKIZAWA. Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2024-08-02.

Dampening water quantity measuring apparatus and dampening water adjusting method

Номер патента: EP1818176A3. Автор: Masaji Mizuta,Shigeru c/o National Univ. Corp. Kyoto Murata. Владелец: Kyoto Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2010-12-01.

Automatic measuring apparatus and control method for the same

Номер патента: US20240263932A1. Автор: Masashi Yamaji. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Gradient measuring apparatus and system

Номер патента: US20150377619A1. Автор: John C. Miller. Владелец: Individual. Дата публикации: 2015-12-31.

Measuring apparatus and method for determining the degree of bacterial contamination of process liquids

Номер патента: US20190242793A1. Автор: Thomas Wimmer,Ulrich Berner,Michael Maus,Frank Josupeit. Владелец: Advatech Projects & CoKg GmbH. Дата публикации: 2019-08-08.

Semiconductor type differential pressure measurement apparatus and method for manufacturing the same

Номер патента: US5375473A. Автор: Tetsuya Watanabe,Hideo Tsukamoto,Kyoichi Ikeda,Satoshi Fukuhara,Takahiro Kudo,Kouji Nagai. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 1994-12-27.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: AU2007216862A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Pulse light receiving time measurement apparatus and distance measurement including the same

Номер патента: US20080068585A1. Автор: Kenichiro Yoshino,Isao Minegishi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2008-03-20.

Measuring apparatus and method for capsules

Номер патента: US20240035943A1. Автор: Danilo Albonetti. Владелец: Sacmi Imola Sc. Дата публикации: 2024-02-01.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020113956A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-22.

Measurement method, conveyance method, article manufacturing method, conveyance apparatus, and lithography apparatus

Номер патента: US20240282642A1. Автор: Koichi Tamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Photonically Multiplexed Optical Measurement Apparatus and Performing Optical Multiplexing

Номер патента: US20230360817A1. Автор: Stephen Paul Eckel,Daniel Schaeder Barker. Владелец: US Department of Commerce. Дата публикации: 2023-11-09.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4391699A1. Автор: Ting Wang,Jianglei Ma,Yongxia Lyu,Dongdong WEI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Channel measurement method and apparatus, and electronic device and computer readable storage medium

Номер патента: EP4050820A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-08-31.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Measurement method and apparatus, and terminal

Номер патента: US20240349213A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Measuring apparatus and method for determination of a measurement value on an object

Номер патента: US20240302160A1. Автор: Markus Adam ECKHARDT. Владелец: CARL MAHR HOLDING GMBH. Дата публикации: 2024-09-12.

Power measurement method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4447344A1. Автор: Dong Zhou,Liyuan ZHONG,Jiangtao Chen,Longming Zhu,Dao TIAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Feedforward control method, apparatus and control system for wind turbine

Номер патента: US12098707B2. Автор: LEI Liu,Fengjiao BIAN,Mingyuan JIANG,Shigang YAO. Владелец: Beijing Goldwind Science and Creation Windpower Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Coolant measurement apparatus and method

Номер патента: US09981637B2. Автор: James H. Monti, Jr.,Alexander Kuo. Владелец: Pacific Link LLC. Дата публикации: 2018-05-29.

Optical measurement apparatus and method of manufacturing the same

Номер патента: US09952394B2. Автор: James Reynolds,Simon Meadowcroft,Robin Taylor. Владелец: Lein Applied Diagnostics Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Microchip-type optical measuring apparatus and optical position adjusting method thereof

Номер патента: US09915935B2. Автор: Yosuke Muraki,Fumitaka OTSUKA. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Apparatus and method for measuring visual range using geometrical information of an image and an image pattern recognition technique

Номер патента: US09909859B2. Автор: Kyung Won Kim. Владелец: Gyeongju University Education and Industry Cooperation. Дата публикации: 2018-03-06.

Contour line measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09672630B2. Автор: Yuuta Namiki,Fumikazu Warashina. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Battery insulation resistance measurement methods, insulation resistance measurement methods, insulation resistance determination apparatuses, and articles of manufacture

Номер патента: US09581652B2. Автор: Aaron Klijn. Владелец: VALENCE TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-02-28.

Measurement apparatus and wood processing system with such a measurement apparatus

Номер патента: US09541569B2. Автор: Hans Hundegger. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-01-10.

Optical measuring apparatus and method of stereoscopic display device

Номер патента: US09441953B2. Автор: Jae Hong Kim,Kyong Ho Lim,Dong Gyou Lee. Владелец: LG Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Depth measurement apparatus and controlling method thereof

Номер патента: US09438887B2. Автор: Makoto Oigawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Measurement apparatus and method

Номер патента: US20210181081A1. Автор: Tatsushi Ohyama,Mariko Miyashita. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Performance measurement method, device, and system

Номер патента: EP4221129A1. Автор: Yali Wang,Tianran ZHOU,Jingrong Xie. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: EP4400804A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical Rotating Power Measurement Method And Optical Rotating Power Measurement Apparatus

Номер патента: US20080204751A1. Автор: Atsushi Yamada,Yuji Fujisawa,Tomoyuki Fukazawa,Hisashi Masago,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20170169581A1. Автор: Akihiro Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-15.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160054117A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Apparatus and method for measuring optical signals by optical sampling

Номер патента: US6815662B2. Автор: Satoshi Watanabe,Katsuya Yamashita,Norihide Yamada. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-11-09.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Measurement method and apparatus, and devices

Номер патента: EP4117249A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-01-11.

Measurement method and apparatus, and device

Номер патента: US12082005B2. Автор: Jianqin Liu,Xiaolei Tie,Zhanzhan ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Measuring method, data processing apparatus and electron microscope using same

Номер патента: US20140246585A1. Автор: Junichi Tanaka,Tomoko Sekiguchi,Hiroki Kawada,Takeyoshi Ohashi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-09-04.

Apparatus and method for measuring the current consumption and the capacitance of a semiconductor device

Номер патента: US20080204045A1. Автор: Frank C. Mielke. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2008-08-28.

Planar elongational viscosity measuring method and planar elongational viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20100228504A1. Автор: Tsutomu Takahashi,Toshihiro Kawano,Masataka Shirakashi. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2010-09-09.

Beam position measuring apparatus and method

Номер патента: US20110149301A1. Автор: Vladimir Protopopov,Oui Serg Kim,Dong Seok BAEK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-06-23.

Air impurity measurement apparatus and method

Номер патента: US20050169806A1. Автор: Kazuhiro Nishiki,Makiko Katano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-08-04.

Light measuring apparatus, light measuring system, light measurement method, display adjustment system, and adjustment method

Номер патента: US20240242653A1. Автор: Tomohiro Murata,Tomohiro Kiriyama,Tomohiro Fukamizu. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-18.

Plasma measurement method and plasma processing apparatus

Номер патента: US20240274417A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Wafer measurement apparatus and operating method thereof

Номер патента: US20240248051A1. Автор: Younghoon Sohn,Souk Kim,Joonseo Song,Jaehyung Ahn,Inseok PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-25.

Plasma Measuring Method and Plasma Processing Apparatus

Номер патента: US20240290589A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Mems driving device, electronic apparatus, and mems driving method

Номер патента: US20190285871A1. Автор: Nozomu HIROKUBO. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Multi-head measuring apparatus and measuring point automatic allocation method thereof

Номер патента: US11300401B2. Автор: Min Li,Min Qiu,Zhiwei Yu. Владелец: Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-12.

Measurement method and apparatus, and communications node

Номер патента: US09980164B2. Автор: BO Lin,Jie Shi,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Apparatus for identifying a value of a property of a fluid which is to be measured, method for operating an apparatus for identifying a value of a property of a fluid which is to be measured, and method for manufacturing an apparatus for identifying a value of a property of a fluid which is to be measured

Номер патента: US09880119B2. Автор: Dominik Geisler,Viktor Morosow. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-01-30.

Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09835536B2. Автор: Takayoshi Hoshino. Владелец: Aohata Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US09664604B2. Автор: Yasushi Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Static gel strength measurement apparatus and method

Номер патента: US09612232B2. Автор: David Hoffman,Grafton Montgomery,Guadalupe Hernandez Serafin. Владелец: OFI Testing Equipment Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Label-based measurement method, apparatus, and system

Номер патента: US09584396B2. Автор: Guoyi Chen,Lianshu Zheng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method and program

Номер патента: US09576370B2. Автор: Keiichiro Ishihara,Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Measuring apparatus and method

Номер патента: US09544211B2. Автор: Masashi Ito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Strain measurement apparatus, linear expansion coefficient measurement method, and correction coefficient measurement method for temperature distribution detector

Номер патента: US09410798B2. Автор: Osamu Maeda,Satoshi Ohya. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Apparatus and method for measuring optical signals by optical sampling

Номер патента: US20020175275A1. Автор: Satoshi Watanabe,Katsuya Yamashita,Norihide Yamada. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2002-11-28.

Partial discharge measurement apparatus, partial discharge measurement method, and partial discharge measurement system

Номер патента: US20230408570A1. Автор: Akira Fujimoto,Takashi Harakawa,Makoto Takanezawa,Hirotaka TSUBAKIHARA. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program

Номер патента: EP3754296A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-23.

X-ray ct measuring apparatus and interference prevention method thereof

Номер патента: US20190227004A1. Автор: Kozo Ariga,Masato Kon,Gyokubu Cho,Hidemitsu Asano. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-07-25.

Channel state information measurement method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240243826A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Cqi measurement method, apparatus, and wireless communications system

Номер патента: US20190097781A1. Автор: Hao Tang,Zhengwei Gong. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-28.

Surface temperature measuring apparatus, surface temperature measuring method, and optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20240280408A1. Автор: Takashi Kawasaki,Hidehiko Fujii,Hitoshi Nagasawa. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-08-22.

Position measurement method, signal adjustment apparatus, base station, terminal, and storage medium

Номер патента: US20240357540A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4455722A1. Автор: Kenichiro Hosoi,Shogo Miyanabe. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Measurement apparatus, exposure apparatus, measurement method, and recording medium

Номер патента: US09910363B2. Автор: Takaki Hashimoto,Ai Furubayashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09866980B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Gas measurement apparatus, gas measurement system, gas measurement method, and gas measurement program

Номер патента: US09863932B2. Автор: Yasuhiro Kasahara,Miyuki Kodama,Naotaka Minagawa,Ayumi Sano. Владелец: Tanita Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09618385B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Three-dimensional measuring apparatus and control method therefor

Номер патента: US09546863B2. Автор: Hiroshi Yoshikawa,Shiki Takabayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method, and program

Номер патента: US09508153B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Position measurment apparatus for measuring position of mobile object on the basis of refelected wave

Номер патента: US09488500B2. Автор: Masahiro Watanabe,Kenji Inomata,Masahiro Shikai,Wataru Tsujita. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Secondary battery, secondary battery dimension measuring device, and secondary battery dimension measuring method

Номер патента: EP3667797A1. Автор: Tae Hyun Kim,Kieun SUNG. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2020-06-17.

Measurement system and measurement method for measuring detection performance of human body safety inspection equipment

Номер патента: US20230375743A1. Автор: Caixia Liu,Fangyi Xie. Владелец: Third Research Institute of the Ministry of Public Security. Дата публикации: 2023-11-23.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Reference signal measurement method and apparatus for use in wireless communication system including plural base stations with distributed antennas

Номер патента: EP2853040A1. Автор: Hyo Jin Lee,Young Bum Kim,Youn Sun Kim,Ju Ho Lee,Hyoung Ju Ji,Joon Young Cho,Seung Hoon Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-04-01.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Strain measurement method and strain measurement apparatus

Номер патента: US11204240B2. Автор: Kuo-Hua Tseng,Yu-Lin Hsu,Hung-Hsien Ko,I-Hung Chiang,Cheng-Ta Pan. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-12-21.

Apparatus and method for measuring active electric power in an electric circuit

Номер патента: EP4242670A1. Автор: Grzegorz Molinski,Piotr Ryba,Artur Zawadzki. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2023-09-13.

Chromatic dispersion distribution measurement apparatus and method for the same

Номер патента: US20020107655A1. Автор: Akio Ichikawa,Shoichi Aoki. Владелец: Ando Electric Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-08.

Methods, apparatus and articles of manufacture to estimate local market audiences of media content

Номер патента: US20240236412A1. Автор: Peter Campbell Doe. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2024-07-11.

Positioning measurement method, communication apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4383859A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Probe apparatus, and measurement method and measurement system of junction resistance of superconducting qubit

Номер патента: US20240329162A1. Автор: Fu Zhang,HUI Zhang,Yao Liu,Yongjie Zhao,Xiansheng JIN. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Distance measuring apparatus and method

Номер патента: US09835438B2. Автор: Hiroyuki Ohsawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Three-dimensional measurement apparatus and robot system

Номер патента: US09679385B2. Автор: Hideaki Suzuki,Tadashi Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Reference signal measurement method and apparatus for use in wireless communication system including plural base stations with distributed antennas

Номер патента: US09641233B2. Автор: Younsun KIM,Hyoungju JI,Joonyoung Cho,Youngbum Kim,Seunghoon Choi,Juho Lee,Hyojin Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-05-02.

Measurement apparatus and method of measurement

Номер патента: US09588072B2. Автор: Tetsuya Takahashi,Yuki Kawamuro,Nobuhisa Handa. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2017-03-07.

Particle measuring method and particle measuring apparatus

Номер патента: US20080239283A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Refractive-index distribution measuring method, refractive-index distribution measuring apparatus, method of manufacturing optical element, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20150260605A1. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-09-17.

Physical Property Measuring Method for TFT Liquid Crystal Panel and Physical Property Measuring Apparatus for TFT Liquid Crystal Panel

Номер патента: US20120242353A1. Автор: Takashi Kurihara,Kunihiko Sasaki,Masaru Inoue,Yasuhiro Kume. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2012-09-27.

Near-Null Compensator and Figure Metrology Apparatus for Measuring Aspheric Surfaces by Subaperture Stitching and Measuring Method Thereof

Номер патента: US20140132960A1. Автор: Chao Xie,Yifan Dai,Shanyong CHEN,Shengyi Li,Xiaoqiang Peng,Yanglin Peng. Владелец: NATIONAL UNIVERSITY OF DEFENSE TECHNOLOGY. Дата публикации: 2014-05-15.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Shape measuring device, shape measuring method, and method for manufacturing glass plate

Номер патента: US20130094714A1. Автор: Kimiaki Ohto. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-18.

A multi-channel line scanner for fast large field a multi-channel line scanner for fast large field and confocal imaging and corresponding measurement methods

Номер патента: WO2020093019A3. Автор: CAI LONG. Владелец: California Institute of Technology. Дата публикации: 2020-08-13.

Measurement method, imprint apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20240272545A1. Автор: Shinichi Shudo,Masataka Yasukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Mass flow measurement methods, apparatus, and computer program products using mode selective filtering

Номер патента: US20020143481A1. Автор: David Campbell,Thomas Sharp,Timothy Cunningham. Владелец: Micro Motion Inc. Дата публикации: 2002-10-03.

Apparatus and method of measuring reliability for flash memory material through a current measurement

Номер патента: US20240159818A1. Автор: Tae Un Youn,Hea Jong Yang,Nam Cheol JEON. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-05-16.

Methods, apparatus and articles of manufacture to estimate local market audiences of media content

Номер патента: US12081832B2. Автор: Peter Campbell Doe. Владелец: Nielsen Co US LLC. Дата публикации: 2024-09-03.

Apparatus and method for measuring a gas

Номер патента: US09952188B2. Автор: Jonathan David Lowy. Владелец: Ripetime Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Apparatus and method for measuring a gas

Номер патента: US09733226B1. Автор: Jonathan David Lowy. Владелец: Ripetime Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

System force-deformation modeling apparatuses and methods

Номер патента: US09470606B2. Автор: William R. Scott,Enrique J. Bonugli,Herbert M. Guzman,Daniel J. Swartzendruber. Владелец: BIODYNAMIC RESEARCH Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20170219432A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US10175108B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12013229B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: FI130163B. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2023-03-23.

Battery measurement method and apparatus

Номер патента: US20240230770A9. Автор: Masaaki Kitagawa,Isao Ishibe,Shun MIYAUCHI. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Apparatus for measuring high frequency electromagnetic noise in printed circuit boards and measurement method therefor

Номер патента: WO2013118212A1. Автор: UMBERTO Paoletti. Владелец: Hitachi, Ltd.. Дата публикации: 2013-08-15.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: US20240241065A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method

Номер патента: US20110022341A1. Автор: Koji Asami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Brightness measurement apparatus, brightness measurement method, brightness measurement program, and camera system

Номер патента: US20240244331A1. Автор: Ikuko Komura. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Measuring apparatus, measuring method and measuring program

Номер патента: EP4006297A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Molecule Measuring Device and Molecule Measuring Method

Номер патента: US20080289404A1. Автор: Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: NATIONAL UNVIERSITY Corp HOKKAIDO UNIVERSITY. Дата публикации: 2008-11-27.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20210358147A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US8462351B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium

Номер патента: US10982949B2. Автор: Hitoshi Hara,Kazufumi Nishida,Kazuki SETSUDA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Mist flow rate measuring apparatus, ultrasonic atomization system, and mist flow rate measuring method

Номер патента: US20240102841A1. Автор: Takahiro Hiramatsu,Hiroyuki Orita. Владелец: Toshiba Mitsubishi Electric Industrial Systems Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Apparatus for Measuring High Frequency Electromagnetic Noise in Printed Circuit Boards and Measurement Method Therefor

Номер патента: US20140361787A1. Автор: UMBERTO Paoletti. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-12-11.

Measuring apparatus, measuring method, and ion-sensitive semiconductor device

Номер патента: US20230097075A1. Автор: Masao Okihara. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Surface measurement device and surface measurement method

Номер патента: EP3951315A1. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Stereo distance measuring apparatus, stereo distance measuring method, and computer readable medium

Номер патента: US20180105286A1. Автор: Akihiro Yamane,Akitoshi SAKAGUCHI,Yoichi Onomura. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2018-04-19.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12072177B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20110043809A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US20220170245A1. Автор: Hiroyuki Takahashi,Yusuke Inoue,Keita HAMAKAWA,Takazumi YAMADA. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2022-06-02.

Measurment apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US20190293410A1. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Measurement apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US10866085B2. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-15.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12078474B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Distance Measuring Apparatus, Distance Measuring Method, Distance Measurement Program And Computer Readable Recording Medium

Номер патента: US20120257219A1. Автор: Michisato Toyoda,Toshio Tashima. Владелец: MSI Tokyo Inc. Дата публикации: 2012-10-11.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: AU2023214108A1. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement apparatus, measurement method and computer readable medium

Номер патента: US12055570B2. Автор: Mitsuo Matsumoto,Shinya Sato,Masayuki Kawabata,Masakatsu Suda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Biological information measurement apparatus, biological information measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US09978144B2. Автор: Munenori Fukunishi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Magnetic field measurement apparatus, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09958514B2. Автор: Ryuji HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Gas sensor apparatus and concentration measurement method performed through use of gas sensor

Номер патента: US09869663B2. Автор: Masao Tsuzuki,Toyohiro TSUKAHARA. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Transmit power measurement apparatus having programmable filter device that is set at least based on frequency response of transmit power detection path and related transmit power measurement method thereof

Номер патента: US09712169B2. Автор: Bing Xu,Chi-Hsueh Wang,Hsiang-Hui Chang,Li-Shin Lai. Владелец: Mediatek Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Oven wall shape measuring apparatus, oven wall shape measuring system, and oven wall shape measuring method

Номер патента: US09638516B2. Автор: Toshifumi Kodama,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Radio measurement method and radio measurement apparatus using multi-antenna channel multiplex

Номер патента: US09548806B2. Автор: Yong-Seok Choi,Sang Tae Kim,Haeng Sook Ro,Gwangmoon PARK,Mi-Kyung SUK,Seong Yun LEE. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2017-01-17.

Pattern measuring apparatus, pattern measuring method, and computer-readable recording medium on which a pattern measuring program is recorded

Номер патента: US09521372B2. Автор: Yuji Takagi,Koichi Hamada,Hideyuki Kazumi,Yoshinori Momonoi,Michio Hatano. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-12-13.

Measurement apparatus, program, and measurement method

Номер патента: US09449388B2. Автор: Shin Hasegawa,Hiroaki Morikawa,Eiichi Tanaka,Eriko Matsui,Suguru Dowaki,Tomohiro Hayakawa,Tatsuya Minakawa,Hirokazu Tatsuta,Masanobu Tamai. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Measurement apparatus, measurement method, and absolute encoder

Номер патента: US09423276B2. Автор: Makiko Ogasawara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Image measurement apparatus, image measurement method and image measurement system

Номер патента: US09418414B2. Автор: Hideto Motomura,Yoshikuni Sato. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-16.

Atmospheric environment measuring apparatus, atmospheric environment measuring method and atmospheric environment measuring system

Номер патента: US09395334B2. Автор: Ryozo Takasu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-07-19.

Distance measurement apparatus, distance measurement method, and camera

Номер патента: US09354056B2. Автор: Daisuke Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-31.

Detection apparatus, optical path length measuring apparatus, device for measurement, method for evaluating optical member, and method for detecting change in temperature

Номер патента: CA2511960C. Автор: Kensuke Ogawa. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2009-11-17.

Thickness measuring apparatus, thickness measuring method, and wet etching apparatus and wet etching method utilizing them

Номер патента: EP1258916A1. Автор: Hidenori Takahashi,Teruo c/o Hamamatsu Photonics K.K. TAKAHASHI,Motoyuki C/O Hamamatsu Photonics K.K. Watanabe. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2002-11-20.

Lateral and continuous measurement method for soil parameters in soft soil field

Номер патента: US11332904B2. Автор: Long Yu,QING Yang,Yunrui HAN. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2022-05-17.

Electronic Computer, Moisture Content Measurement Method, and Moisture Content Measurement System

Номер патента: US20240102925A1. Автор: Jun Tanaka,Kotaro Kitamura,Yusuke Kaga,Takuya Kambayashi,Makiko Udagawa,Shunsuke Kono,Yasuko Kobayashi,Hiroki MIYAKAWA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Method, Apparatus, and Program for Measuring Wavelength Dispersion of Optical Waveguide

Номер патента: US20090231591A1. Автор: Fumihiko Ito,Keiji Okamoto. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2009-09-17.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200286249A1. Автор: Hiroshi Ohno,Kiminori Toya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Communication-quality measuring apparatus, communications terminal device, communication-quality measuring method, and computer program

Номер патента: US20090185504A1. Автор: Masanobu Morinaga,Noriyuki Fukuyama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-07-23.

Measurement method

Номер патента: US20130103346A1. Автор: Yasushi Iwasaki,Masaki Hosoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-04-25.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US12072273B2. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Throughput measuring method, computer readable medium, and apparatus

Номер патента: US20160261479A1. Автор: Yuji Nomura,Sumiyo Okada,Naoyoshi OHKAWA,Fumiyuki lizuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-08.

Geoid measurement method, geoid measurement apparatus, geoid estimation device, and geoid calculation data collection device

Номер патента: EP3786579A1. Автор: Atsushi Tanaka,Toshiyuki Hosoya,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2021-03-03.

Shape measurement device, structure production system, shape measurement method, structure production method, and shape measurement program

Номер патента: US09952038B2. Автор: Kenta Kanto. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Phase distribution measurement method and phase distribution measurement apparatus

Номер патента: US09594941B2. Автор: Hiroshi Ishiwata. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: CA2982101C. Автор: Hironao Yamaji,Jun Umemura. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-09-24.

Atmospheric pressure measuring apparatus and method of measuring atmospheric pressure

Номер патента: US20090288491A1. Автор: Yoshitaka Suzuki,Takahiro Imamura,Shinji Koganezawa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-11-26.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Gain profile measuring method and system and gain profile controlling method and system

Номер патента: US7009693B2. Автор: Koji Goto,Toshio Kawazawa,Kiyoaki Takashina. Владелец: KDDI Submarine Cable Systems Inc. Дата публикации: 2006-03-07.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Geoid measurement method, geoid measurement apparatus, geoid estimation device, and geoid calculation data collection device

Номер патента: US20210199435A1. Автор: Atsushi Tanaka,Toshiyuki Hosoya,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2021-07-01.

Apparatus and a method for measuring distance using a laser beam

Номер патента: US20080218729A1. Автор: Teiji Kase. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-11.

Optical transmission system, optical receiving apparatus, and delay measurement method

Номер патента: US20240305370A1. Автор: Keita Nishimoto,Kota Asaka,Yukio TOYOSHIMA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Ultrasonic measurement method and ultrasonic measurement apparatus

Номер патента: US09683838B2. Автор: Takafumi Ozeki,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Airborne microbial measurement apparatus and measurement method thereof

Номер патента: EP3111196A1. Автор: Akira Mizuno,Hachiro Yasuda,Kazunori Takashima,Chulwoo PARK,Sunghwa Lee,Hirofumi Kurita. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2017-01-04.

Airborne microbial measurement apparatus and measurement method thereof

Номер патента: US20170016811A1. Автор: Akira Mizuno,Hachiro Yasuda,Kazunori Takashima,Chulwoo PARK,Sunghwa Lee,Hirofumi Kurita. Владелец: Toyohashi University of Technology NUC. Дата публикации: 2017-01-19.

Apparatus and method of measuring uniformity based on pupil image and method of manufacturing mask by using the method

Номер патента: US20230142328A1. Автор: Minho Kim,Jiyoung Kim,Hakseung Han,Jinback Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-05-11.

Plastic optical fiber core diameter measuring method, plastic optical fiber core diameter measuring apparatus used therefor, plastic optical fiber defect detecting method, and plastic optical fiber defect detecting apparatus used therefor

Номер патента: US12025529B2. Автор: Masaru Sakamoto,Ichiro Suehiro. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Method of calibrating and using a measuring apparatus that performs measurements using a spectrum of light

Номер патента: US09897486B2. Автор: Young-Joo Lee,Chang-Hoon Choi,Tae-Yong Jo,Jong-Jeong KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-02-20.

Current transmission device for a force measuring apparatus, in particular a weighing apparatus

Номер патента: US20240369400A1. Автор: Alexander Schulzki,Jan Gottfriedsen,Tobias Stellwagen,Bernd Zinke. Владелец: Wipotec GmbH. Дата публикации: 2024-11-07.

Measuring method and measuring apparatus of pupil transmittance distribution, exposure method and exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US9389519B2. Автор: Naonori Kita. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-07-12.

Measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: US20230027767A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Technological Solutions SL. Дата публикации: 2023-01-26.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20150276924A1. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2015-10-01.

Wavefront measuring apparatus, wavefront measuring method, and object measuring apparatus

Номер патента: WO2012160936A1. Автор: Toshihiko Ouchi,Takeaki Itsuji,Kousuke Kajiki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-11-29.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP4085263A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Technological Solutions SL. Дата публикации: 2022-11-09.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: WO2021136792A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Technological Solutions, S.L.. Дата публикации: 2021-07-08.

Wafer type measuring apparatus and magnetic flux density measuring method using the same

Номер патента: US20240151767A1. Автор: Youngsik Bang,Dongok AHN,Sanghyun SON,Sangmin HA,Yongjun SEO,Sujin CHAE,Jeongmo HWANG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Computing apparatus and margin measurement method

Номер патента: US20230198573A1. Автор: Masao Ogihara,Ryota Higashi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-06-22.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: EP4182671A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-05-24.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: WO2022013578A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Network node apparatus for use in a stimulus-response sensing measurement, network containing such an apparatus and measurement method using such a network

Номер патента: WO2010041935A1. Автор: Arno Willem Frederik Volker,Zoltan Papp,Arjan Mast,Martin Willem Nelisse. Владелец: Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2010-04-15.

User equipment and measurement method

Номер патента: US12075274B2. Автор: Takuma TAKADA,Naoki Fujimura. Владелец: NTT DOCOMO INC. Дата публикации: 2024-08-27.

Single body quadruple cylinder tritium measuring apparatus

Номер патента: US20180335414A1. Автор: Xiaowei Zhang,Sabatino Nacson,Jiangrong WU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-22.

Position measuring method, position measuring apparatus, lithographic apparatus and device manufacturing method, optical element

Номер патента: WO2013152878A2. Автор: Arie Den Boef,Justin Kreuzer,Simon MATHIJSSEN. Владелец: ASML Holding N.V.. Дата публикации: 2013-10-17.

Optical Property Measurement Apparatus and Optical Property Measurement Method, Exposure Apparatus and Exposure Method, and Device Manufacturing Method

Номер патента: US20080043236A1. Автор: Toru Fujii,Yasushi Mizuno,Koji Kaise. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2008-02-21.

Distance measurement method and apparatus, and relative position measurement apparatus

Номер патента: CA2030851A1. Автор: Tomoaki Ueda,Koei Obata. Владелец: Koei Obata. Дата публикации: 1991-05-25.

Mechanical property measurement device, mechanical property measurement method, material manufacturing facility, material managing method, and material manufacturing method

Номер патента: EP4166251A1. Автор: Kenji Adachi,Takafumi Ozeki,Junji Shimamura,Daichi Izumi,Kazuki TERADA,Hiroki IMANAKA,Yutaka MATSU. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-19.

Film thickness measuring apparatus and film thickness measuring method, and film forming system and film forming method

Номер патента: US11939665B2. Автор: Naoyuki Suzuki,Einstein Noel Abarra,Masato Shinada,Tamaki Takeyama,Hiroaki Chihaya,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-03-26.

Inter-terminal capacitance measurement method for three-terminal device and apparatus for the same

Номер патента: US20150309109A1. Автор: Yoshimi Nagai,Koji Tokuno. Владелец: Keysight Technologies Inc. Дата публикации: 2015-10-29.

Thin film measuring apparatus and thin film measuring method

Номер патента: US20180135959A1. Автор: Cheng-Chi Tai,Chien-Chang Chen. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2018-05-17.

Spectral measurement apparatus and measurement method thereof

Номер патента: EP4361585A1. Автор: Zhenwei Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Position measurement apparatus, overlay inspection apparatus, position measurement method, imprint apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20210263432A1. Автор: Toshiki Iwai,Takamitsu Komaki,Tomokazu Taki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-08-26.

Vortex beam-excited precision grating displacement measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US11874475B2. Автор: TAO Yuan,HUI Wang,Tong Wang,Yalin Zhang,Guoyong Ye,Shaobo Jin,Xuling Liu. Владелец: Zhengzhou University of Light Industry. Дата публикации: 2024-01-16.

Stereoscopic distance measuring apparatus, stereoscopic distance measuring method, and computer readable medium

Номер патента: US20180077403A1. Автор: Yoichi Onomura. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2018-03-15.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20150116688A1. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-04-30.

Traffic measuring apparatus and method

Номер патента: US5949862A. Автор: Masami Ohta,Koji Kawase,Kazuya Nishimura,Yohji Fukuzawa,Koji Kuriki,Yasushi Shigesada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1999-09-07.

Vortex beam-excited precision grating displacement measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230359049A1. Автор: TAO Yuan,HUI Wang,Tong Wang,Yalin Zhang,Guoyong Ye,Shaobo Jin,Xuling Liu. Владелец: Zhengzhou University of Light Industry. Дата публикации: 2023-11-09.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US20220206134A1. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2022-06-30.

Network node apparatus for use in a stimulus-response sensing measurement, network containing such an apparatus and measurement method using such a network

Номер патента: EP2342901A1. Автор: Arno Willem Frederik Volker,Zoltan Papp,Arjan Mast,Martin Willem Nelisse. Владелец: Nederlandse Organisatie voor Toegepast Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO. Дата публикации: 2011-07-13.

Measurement apparatus applicable to two-dimensional reconstruction of gas in combustion flow field

Номер патента: US20180245988A1. Автор: Guangyu Wang,Wei Rao,Yanji HONG,Junling SONG. Владелец: Space Engineering University. Дата публикации: 2018-08-30.

Wall profile measurement apparatus

Номер патента: US12085633B2. Автор: Naotsugu Shimizu. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Grain measurement apparatus

Номер патента: US09671273B2. Автор: Steven L. Harris,Matthew T. Emerick. Владелец: Juniper Systems Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Wheel alignment angle measuring apparatus and wheel alignment angle measuring method

Номер патента: US7415770B2. Автор: Yutaka Naruse. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2008-08-26.

Pattern measuring method, pattern measuring apparatus, photo mask manufacturing method, semiconductor device manufacturing method, and computer program product

Номер патента: US20060039596A1. Автор: Takahiro Ikeda,SATOSHI Tanaka,Takeshi Ito,Hiroshi Motoki,Shigeki Nojima. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-23.

Spectral measurement apparatus and measurement method utilizing Brillouin scattering

Номер патента: EP1959247A3. Автор: Yoshinori Yamamoto. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2009-04-29.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4266001A1. Автор: Martin Maurer,Michael Specker,Roland KURSCHATKE. Владелец: Bbs Automation Blaichach GmbH. Дата публикации: 2023-10-25.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US11867809B2. Автор: Shinichi Hara,Masayuki Nara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara,Tomotaka Takahashi,Shinji Komatsuzaki,Ryusuke Kato. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-01-09.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200041251A1. Автор: Hideo Takizawa,Teruaki Yamazaki,Ko GONDAIRA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Photo-thermo-acoustic mechanism-based power measurement apparatus and measurement method for terahertz wave at room temperature

Номер патента: US20230144262A1. Автор: Nan Zhang,Weiwei Liu,Lanjun GUO,Tingyuan WANG. Владелец: Nankai University. Дата публикации: 2023-05-11.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: EP4332570A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-03-06.

Measuring apparatus and measuring method of train wheel wear

Номер патента: US20130158894A1. Автор: Yong Gee CHO,Woo Seok Lee. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2013-06-20.

Measuring apparatus and measuring method of train wheel wear

Номер патента: US9243982B2. Автор: Yong Gee CHO,Woo Seok Lee. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-26.

Measurement method, measurement apparatus and measurement system for winding gap between electrode plates

Номер патента: EP4293790A1. Автор: Binbin Xu. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-20.

Superconductive Level Indicator for Liquid Hydrogen and Liquid Neon, and Measuring Method for Liquid Level Measurement

Номер патента: US20080148844A1. Автор: Christoph Haberstroh. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-06-26.

Thz measuring apparatus and thz measuring method for detecting impurities in measured objects

Номер патента: CA3111034A1. Автор: Ralph Klose. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2020-03-26.

Thz measuring apparatus and thz measuring method for detecting impurities in measured objects

Номер патента: CA3111034C. Автор: Ralph Klose. Владелец: Inoex GmbH. Дата публикации: 2024-04-16.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: AU2022401334A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2023-12-14.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: WO2014118625A1. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-08-07.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240118418A1. Автор: Kazuki CHIDA. Владелец: Nikon Vision Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Fluorescence measurement device and fluorescence measurement method

Номер патента: US20200333250A1. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-22.

Overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230324811A1. Автор: Jin Woo Park,Hyeon Gi Shin,Bo Kyung RYU,Jung Sun KO. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Light interference measurement device and light interference measurement method

Номер патента: EP3978865A1. Автор: Yoshiaki Sasaki,Tetsuya Yuasa,Chiko Otani,Homare Momiyama,Isao Yoshimine. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-04-06.

Optical complex amplitude measurement device and optical complex amplitude measurement method

Номер патента: US20230288182A1. Автор: Kaoru Arai,Ryuta Sugiyama,Katsuya Oguri,Hiroki SAKUMA,Tomoya Akatsuka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Measurement device, distance measurement device, and measurement method

Номер патента: EP3904909A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-11-03.

Measuring apparatus for figures

Номер патента: US5708592A. Автор: Katsumi Kaji. Владелец: Ushikata Mfg Co Ltd. Дата публикации: 1998-01-13.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20230288306A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Ultrasonic vibration unit for sediment removal in small-scale irrigation channel flow measuring apparatus

Номер патента: AU2020101456A4. Автор: Xin Zhang,Nan Ye,Hanwen Zhang,Xueqi Ding,Miaoyuan Liang,Xiaoxing YU. Владелец: Nanjing Jinma Intelligence Technology Co ltd. Дата публикации: 2020-08-27.

Measurement device and measurement method

Номер патента: EP4428525A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-11.

Fastening assembly for fastening a test device holder to a force-measuring apparatus, force-measuring apparatus having a fastening assembly of this type, test device holder, and slide part for a force-measuring apparatus

Номер патента: US12061175B2. Автор: Michael Wolff. Владелец: Vetter Pharma Fertigung GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-08-13.

Voltage measuring apparatus with temperature abnormality detection function and power conversion apparatus

Номер патента: US09651510B2. Автор: Ryouji Hironaka. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-05-16.

Flow measurement apparatus

Номер патента: RU2760627C1. Автор: Эрик ШТАРКЕ,Кристиан ШУЛЬЦ,Маркус КЛЕММ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2021-11-29.

System providing testing and verification of a weight measurement apparatus, method for testing and verification of a weight measurement apparatus

Номер патента: RU2763123C1. Автор: Михаил Александрович Малыгин,Сергей Викторович Медведевских,Денис Сергеевич Замятин. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие «Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д.И.Менделеева». Дата публикации: 2021-12-27.

Heating device for spectrometry measurement apparatus

Номер патента: RU2658126C2. Автор: Гийом НЕЗА,Грегори ДЮБУА,Этьенн ФЛЕШ,Лионель ПАФЮМИ,Жан-Пьер ТЬЕРРИ. Владелец: Олит. Дата публикации: 2018-06-19.

A weapons counter measure method and apparatus

Номер патента: WO2016162680A1. Автор: Nicholas Giacomo Robert Colosimo,Paul Michael Blanchard. Владелец: BAE SYSTEMS plc. Дата публикации: 2016-10-13.

Measuring device, measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20090162879A1. Автор: Takahiro Nakaminami,Jin Muraoka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2009-06-25.

Connector for measuring electrical resistance, and apparatus and method for measuring electrical resistance of circuit board

Номер патента: EP1903341A1. Автор: Kiyoshi Kimura,Fujio Hara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-03-26.

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: EP4290240A1. Автор: Masato Hayashi,Shuhei Kaneko. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-12-13.

Ultrasonic Measurement Apparatus and Ultrasonic Measurement Method

Номер патента: US20190368869A1. Автор: Mutsumi Suzuki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-12-05.

Particle measuring apparatus and measuring method using the same

Номер патента: US20120185211A1. Автор: Tae Soo Kim,Jong Gun Lee,In Duk Hwang,Chul Ho Yun,Yong Koo Lee,Seock Woo JANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-07-19.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20190390947A1. Автор: Takeshi Kawabata,Kazuhiko Hidaka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Phase frequency detector-based high-precision feedback frequency measurement apparatus and method

Номер патента: US11965919B2. Автор: Lingyun YE,Xinglin Sun,Haojie Wu,Xinyue Tan. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-04-23.

Measurement apparatus, environment measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US10724936B2. Автор: Ryozo Takasu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2020-07-28.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: GB2587099A. Автор: OZAKI Keita,Sakoda Naokazu. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2021-03-17.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20210356591A1. Автор: Tomotaka Takahashi,Ryusuke Kato. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-11-18.

Electrification quantity measurement apparatus, electrification quantity measurement method, static electricity discharge detection apparatus, and static electricity discharge detection method

Номер патента: US20020186016A1. Автор: Noriyuki Kodama. Владелец: NEC Electronics Corp. Дата публикации: 2002-12-12.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US11885879B2. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2024-01-30.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: US20210310929A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-07.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: US11598713B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-07.

Measurement apparatus, environment measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20190234855A1. Автор: Ryozo Takasu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2019-08-01.

Beam measurement method, beam measurement apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4297465A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-27.

Measurement method, measurement apparatus, and method of manufacturing optical system

Номер патента: US8101895B2. Автор: EIJI Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-01-24.

Casing deformation amount measuring apparatus and casing deformation amount measuring method

Номер патента: US11840934B2. Автор: Hiroshi Igawa. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-12-12.

Subject motion measuring apparatus, subject motion measuring method, medical image diagnostic apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20230074624A1. Автор: Kazuhiko Fukutani,Toru Sasaki,Ryuichi Nanaumi,Hiromi Kinebuchi. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-03-09.

Casing deformation amount measuring apparatus and casing deformation amount measuring method

Номер патента: US20230052054A1. Автор: Hiroshi Igawa. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Optical Characteristic Measuring Apparatus and Optical Characteristics Measuring Method

Номер патента: US20090213374A1. Автор: Yukitoshi Otani,Toshitaka Wakayama. Владелец: Tokyo University of Agriculture and Technology NUC. Дата публикации: 2009-08-27.

Strain measurement apparatus and method for measuring mechanical strain

Номер патента: EP4273533A1. Автор: Peter Fratzl,Shahrouz Amini. Владелец: Max Planck Gesellschaft zur Foerderung der Wissenschaften eV. Дата публикации: 2023-11-08.

Deformation measuring apparatus and deformation measuring method

Номер патента: US8797515B2. Автор: Takashi Sugimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-08-05.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US20190078865A1. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Method for controlling shape measuring apparatus

Номер патента: US10859365B2. Автор: Takashi Noda. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12044572B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Access area measurement apparatus

Номер патента: US5212890A. Автор: Glen W. White,R. Mark Mathews. Владелец: Individual. Дата публикации: 1993-05-25.

Measurement Apparatus Having Display Device

Номер патента: US20090165316A1. Автор: Kee-Weng Lai,Shan-Nan Chen. Владелец: Grenergy Opto Inc. Дата публикации: 2009-07-02.

Measurement apparatus

Номер патента: US10656086B2. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2020-05-19.

Gas concentration measuring apparatus with failure monitor

Номер патента: EP1582726A3. Автор: Tomoo Kawase,Eiichi Kurokawa. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2011-08-17.

Force measuring apparatus

Номер патента: US20080190216A1. Автор: Hideo Morimoto. Владелец: Nitta Corp. Дата публикации: 2008-08-14.

Wafer carrier measuring apparatus

Номер патента: US20240186163A1. Автор: Kuo-Hua Lee,Ming-Chien Chiu,Chia-Ho CHUANG,En-Nien Shen,Jyun-Ming Lyu,Xin-Yuan Huang. Владелец: Gudeng Precision Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Specific gravity measuring apparatus

Номер патента: US20130086984A1. Автор: Sadanori Kondo. Владелец: Alfa Mirage Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-11.

Method for Operating a Surface Measurement Apparatus

Номер патента: US20200200519A1. Автор: Adelbert Leber. Владелец: JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH. Дата публикации: 2020-06-25.

Optical characteristic measuring apparatus

Номер патента: US20090079984A1. Автор: Shinji Shimizu,Yoshiyuki Nagashima,Katsutoshi Tsurutani,Tomohiro Fukamizu. Владелец: Konica Minolta Opto Inc. Дата публикации: 2009-03-26.

Measurement apparatus

Номер патента: US20190369018A1. Автор: Takayuki Uozumi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-12-05.

Displacement measuring apparatus

Номер патента: US6128083A. Автор: Asahiko Nogami. Владелец: Sony Precision Technology Inc. Дата публикации: 2000-10-03.

Color measurement apparatus

Номер патента: US12085449B2. Автор: Kenichi Furuya,Haruki Miyasaka,Hisayuki Akahane. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Flow measurement apparatus

Номер патента: US20240302194A1. Автор: Andreas Ehrlich,Mario Künzelmann,Gerry Schroeter. Владелец: SICK Engineering GmbH. Дата публикации: 2024-09-12.

Stepped copper-bar current measurement apparatus

Номер патента: EP4455686A1. Автор: Songsheng Xue,Mingfeng LIU,Ran Shi. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Deflection mirror arrangement for optical measurement apparatus having drive unit between parallel transmitting mirrors and corresponding optical measurement apparatus

Номер патента: US09964758B2. Автор: Heiner Bayha,Thomas Schuler,Peter Horvath. Владелец: VALEO SCHALTER UND SENSOREN GMBH. Дата публикации: 2018-05-08.

Measuring apparatus for the filling level of a container

Номер патента: US09885598B2. Автор: Petr Tesar,Jan Nekula,Martin Kalas. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-02-06.

Distance measuring apparatus, vehicle and method of calibration in distance measuring apparatus

Номер патента: US09866819B2. Автор: Shuichi Suzuki,Mitsuru Nakajima,Motoyasu Murai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Tool length measurement apparatus

Номер патента: US09863765B2. Автор: Akira Kimura,Ken Onoe. Владелец: DMG Mori Seiki Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-09.

Fuel-level measuring apparatus

Номер патента: US09551605B2. Автор: Takeshi Watanabe,Akihiro Taguchi,Kotaro Tanaka,Naoki Ogiwara,Masaki Wakao. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

XRF measurement apparatus for detecting contaminations on the bevel of a wafer

Номер патента: US09541511B2. Автор: Assunta Vigliante. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2017-01-10.

Apparatus and method for measuring the wear condition of elements of plain bearings or guiding elements

Номер патента: RU2770308C1. Автор: Торстен МЮЛЛЕР,Томас ХАШКЕ,Йоханнес АЛЬКЕН,Маттиас КИППИНГ,Торстен ХУГЕ. Владелец: Смс Груп Гмбх. Дата публикации: 2022-04-15.

Movable body spectrum measuring apparatus and movable body spectrum measuring method

Номер патента: US9121818B2. Автор: Jun Sato,Kenji Sasaki,Ryuji Funayama. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-09-01.

Particle size measuring method and apparatus

Номер патента: US4387993A. Автор: Ronald J. Adrian. Владелец: TSI Inc. Дата публикации: 1983-06-14.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US9451213B2. Автор: Shinya Kawamata,Ryuji Funayama,Shin Satori,Yoshihide Aoyanagi,Tadayoshi Komatsuda. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Rigidity measurement apparatus and rigidity measurement method

Номер патента: US11009436B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-18.

Laser diffraction-type particle size distribution measuring method and apparatus

Номер патента: US5428443A. Автор: Yoshiaki Togawa,Hiroyuki Kitamura,Juichiro Ukon. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1995-06-27.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20070210823A1. Автор: Seiji Amanuma. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2007-09-13.

Three-dimensional measurement apparatus and three-dimensional measurement method

Номер патента: US11930600B2. Автор: Tsuyoshi Ohyama,Norihiko Sakaida,Takayuki Shinyama. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2024-03-12.

Measurement apparatus

Номер патента: US11874103B2. Автор: Franciscus Godefridus Casper Bijnen,Stefan Carolus Jacobus Antonius Keij,Petrus Franciscus VAN GILS,Thomas Augustus Mattaar,Junichi Kanehara. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-01-16.

Pressure change measurement device, altitude measurement device, and pressure change measurement method

Номер патента: US20170276563A1. Автор: Manabu Oumi,Takeshi Uchiyama,Masayuki Suda,Yoko Shinohara,Ayako Nobe,Yoshiyuki Kaiho. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Displacement measuring apparatus and displacement measuring method

Номер патента: US20190265020A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

Optical measurement apparatuses for use with a cutting apparatus

Номер патента: WO2023214147A1. Автор: Wei Guan,Lucy Margaret COLLINSON,Martin Leonard JONES. Владелец: The Francis Crick Institute Limited. Дата публикации: 2023-11-09.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US20190242693A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-08.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317037A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Terahertz spectroscopy apparatus and measurement method

Номер патента: EP4067874A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-05.

Deformation measuring apparatus and deformation measuring method

Номер патента: US20110299064A1. Автор: Takashi Sugimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-08.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20240085377A1. Автор: Rai ITOU. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Target assembly, x-ray apparatus, structure measurement apparatus, structure measurement method, and method of modifying a target assembly

Номер патента: EP4186087A2. Автор: Ian George Haig. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2023-05-31.

Measurement apparatus, measurement method, optical element fabrication apparatus, and optical element

Номер патента: US20150362403A1. Автор: Yoshiki Maeda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20210063573A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Measuring method, measuring apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20230408249A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-21.

Optical image measurement apparatus and optical image measurement method

Номер патента: US10746528B2. Автор: Kentaro Osawa. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2020-08-18.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220342019A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Ultrasonic Measurement Method, Ultrasonic Measurement Apparatus, and Ultrasonic Sensor

Номер патента: US20110126625A1. Автор: Atsushi Baba,Naoyuki Kono,Hirohisa Mizota. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2011-06-02.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US6593855B2. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2003-07-15.

Meniscus measuring apparatus and method, substrate processing apparatus

Номер патента: US20230063647A1. Автор: Han Lim KANG,Won Yong JIN,Jae Duck Lee,Suk Won Jang. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4339605A1. Автор: Rai ITOU. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-20.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US20170227437A1. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-08-10.

Spectrum measurement apparatus and spectrum measurement method

Номер патента: US20240151638A1. Автор: Zhenwei Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200041545A1. Автор: Friedrich Reich,Gerd Bresser. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-02-06.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: US8310536B2. Автор: Hidehisa Hashizume,Masaru Akamatsu,Yasuhide Nakai. Владелец: Kobelco Research Institute Inc. Дата публикации: 2012-11-13.

Ozone water concentration measurement apparatus and ozone water concentration measurement method

Номер патента: US20150330929A1. Автор: Shigeo Sekiguchi,Kazutaka Murata,Yasuaki Einaga,Yuya Ishii,Ivandini TRIBIDASARIANGGRANINGRUM. Владелец: Nikka Micron Co Ltd . Дата публикации: 2015-11-19.

Target assembly, x-ray apparatus, structure measurement apparatus, structure measurement method, and method of modifying a target assembly

Номер патента: US20230282437A1. Автор: Ian George Haig. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2023-09-07.

Target assembly, x-ray apparatus, structure measurement apparatus, structure measurement method, and method of modifying a target assembly

Номер патента: WO2022018265A3. Автор: Ian George Haig. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2022-03-10.

Target assembly, x-ray apparatus, structure measurement apparatus, structure measurement method, and method of modifying a target assembly

Номер патента: WO2022018265A2. Автор: Ian George Haig. Владелец: NIKON METROLOGY NV. Дата публикации: 2022-01-27.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124082A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Pressure measuring apparatus

Номер патента: RU2330252C2. Автор: Томас ФЕССЕЛЕ,Ханс-Мартин ХОХЕНБЕРГЕР,Винфрид КУНТ,Томас ФЕССЕЛЕ (DE),Ханс-Мартин ХОХЕНБЕРГЕР (DE),Винфрид КУНТ (DE). Владелец: Роберт Бош Гмбх. Дата публикации: 2008-07-27.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11486703B2. Автор: Miyuki Murakami. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2022-11-01.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: CA2981970C. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Tomohiro KUROIWA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-08-06.

Capacitance measurement method and its application

Номер патента: RU2564516C2. Автор: Йоаким ЛАРССОН,Бо МАТТИАССОН,Мартин ХЕДСТРЕМ,Даг ЭРЛАНДССОН. Владелец: КапСензе ХБ. Дата публикации: 2015-10-10.

Optical characteristic measuring apparatus and optical characteristic measuring method

Номер патента: US8582124B2. Автор: Yusuke Yamazaki,Sota Okamoto. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-11-12.

Optical image measuring apparatus and optical image measuring method

Номер патента: US20060077395A1. Автор: HISASHI Tsukada,Hiroyuki Otsuka,Yasufumi Fukuma,Kazuhiko Yumikake,Masahiro Akiba,Kinpui Chan. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2006-04-13.

Three-dimensional measuring apparatus and three-dimensional measuring method

Номер патента: US5841539A. Автор: Yoichiro Ueda,Kazuhiro Ikurumi,Masaharu Tsujimura. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1998-11-24.

Current measurement apparatus, molecular entity sensing apparatus, method of measuring a current, method of sensing a molecular entity

Номер патента: GB2580988A. Автор: Veenstra Hugo,Fish David,Totey Emil. Владелец: Oxford Nanopore Technologies PLC. Дата публикации: 2020-08-05.

Method and apparatus for determining the light transit time over a measurement path arranged between a measuring apparatus and a reflecting object

Номер патента: US5805468A. Автор: Frank Blöhbaum. Владелец: Erwin Sick GmbH Optik Elektronik. Дата публикации: 1998-09-08.

Sound field measuring apparatus and sound field measuring method

Номер патента: US8306236B2. Автор: Kohei Asada,Tetsunori Itabashi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2012-11-06.

Misalignment measuring apparatus and misalignment measuring method

Номер патента: US11776112B2. Автор: Kazuhiro Nojima,Yuki Watanabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-03.

Time response measurement apparatus and time response measurement method

Номер патента: US20230304926A1. Автор: Takashi Inoue,Koyo Watanabe,Hiroshi Satozono,Hisanari TAKAHASHI,Kyohei Shigematsu. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US11933726B2. Автор: Hiroaki Tanaka,Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-19.

Volume measuring apparatus and volume measuring method for box

Номер патента: US11270454B2. Автор: Shu-Ying Huang,Kuo-Chun WANG. Владелец: Champtek Inc. Дата публикации: 2022-03-08.

Position measurement apparatus, imaging apparatus, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20080144047A1. Автор: Nozomu Hayashi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2008-06-19.

Laser sheet forming apparatus, particle measuring apparatus, laser sheet forming method and particle measuring method for particle image flow velocity apparatus

Номер патента: JP4474509B2. Автор: 護 店橋,翔平 高,哲 平山. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2010-06-09.

ALTERNATING-CURRENT ELECTRIC QUANTITY MEASURING APPARATUS AND ALTERNATING-CURRENT ELECTRIC QUANTITY MEASURING METHOD

Номер патента: US20130030731A1. Автор: Seki Kempei. Владелец: Mitsbbishi Electric Corporation. Дата публикации: 2013-01-31.

Electronic component characteristic measuring apparatus and electronic component characteristic value measuring method

Номер патента: JP5019097B2. Автор: 秀治 田中,志伸 早戸. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-05.

Micro-object electrical characteristic measuring apparatus and micro-object electrical characteristic measuring method

Номер патента: JP6531975B2. Автор: 大地 山口,秀介 染野. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-19.

Tire contact surface behavior measuring apparatus and tire contact surface behavior measuring method

Номер патента: JP6386304B2. Автор: 裕子 村田,昭 小栗. Владелец: Toyo Tire and Rubber Co Ltd. Дата публикации: 2018-09-05.

Synchrotron radiation intensity distribution measuring apparatus and synchrotron radiation intensity distribution measuring method

Номер патента: JP4102009B2. Автор: 信夫 小熊. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2008-06-18.

Linear regulator output voltage measuring apparatus and linear regulator output voltage measuring method

Номер патента: JP4301184B2. Автор: 明 一岡. Владелец: Fuji Electric Device Technology Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-22.

Acoustic diagnosis / measurement apparatus using pulsed electromagnetic force and diagnosis / measurement method thereof

Номер патента: JP4074959B2. Автор: 光男 橋本,雅則 高鍋. Владелец: 株式会社アミック. Дата публикации: 2008-04-16.

A kind of gathering pipe field measurement apparatus based on laser ranging technique and measuring method

Номер патента: CN105222711A. Автор: 高飞,杨骏,黄晓龙,许祥平,邹家生,严铿,叶友利,施志强. Владелец: JIANGSU YANGMING SHIP-EQUIPMENT MANUFACTURING TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-06.

Bluetooth service estimating apparatus and bluetooth service estimating and measuring method thereof

Номер патента: CN103581930B. Автор: 罗振兴,李宜霖,陈奕铮,洪佳君. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2016-12-28.

Method for Generating a Trigger Signal by an EKG Signal as Well as an EKG Measuring Apparatus and a Magnetic Resonance Device

Номер патента: US20120004569A1. Автор: Frank Michael,Rößler Jürgen. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

BODY CONDITION EVALUATION APPARATUS, CONDITION ESTIMATION APPARATUS, STRIDE ESTIMATION APPARATUS, AND HEALTH MANAGEMENT SYSTEM

Номер патента: US20120000300A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

HOLOGRAM RECORDING MEDIUM AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, HOLOGRAM REPRODUCTION APPARATUS, AND HOLOGRAM REPRODUCTION METHOD

Номер патента: US20120002257A1. Автор: Shirakura Akira,Baba Shigeyuki,Arai Toshiyuki,Higashihara Teruaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Bearing measurement method and apparatus for realising said method

Номер патента: RU2520074C1. Автор: Виктор Сергеевич Щербаков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "ПРИМА". Дата публикации: 2014-06-20.

MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS AND MAGNETIC RESONANCE IMAGING METHOD

Номер патента: US20120001635A1. Автор: Ookawa Masashi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTROPHOTOGRAPHIC PHOTOCONDUCTOR, IMAGE FORMING METHOD, IMAGE FORMING APPARATUS AND PROCESS CARTRIDGE

Номер патента: US20120003007A1. Автор: . Владелец: RICOH COMPANY, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Improvements in or relating to Combined Electric Regulating and Measuring Apparatus.

Номер патента: GB190413483A. Автор: Emile Fauvin,Eugene Amiot,Edoaurd Cheneaux. Владелец: Individual. Дата публикации: 1905-02-02.

FLOW RATE MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20120000280A1. Автор: KISHIKAWA Naoyuki,URAMACHI Hiroyuki,HIDAKA Shinichiro,Ariyoshi Yuji,TANIMOTO Koji,KAWAI Masahiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

General-purpose measuring apparatus for animals

Номер патента: RU2307622C1. Автор: Александр Иванович Суров,Василий Васильевич Абонеев. Владелец: Государственное научное учреждение Ставропольский научно-исследовательский институт животноводства и кормопроизводства. Дата публикации: 2007-10-10.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.