Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium
Номер патента: US12072177B2
Опубликовано: 27-08-2024
Автор(ы): Shizuo Sakamoto
Принадлежит: NEC Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 27-08-2024
Автор(ы): Shizuo Sakamoto
Принадлежит: NEC Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium
Номер патента: US12013229B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-18.