三维形状测定装置以及三维形状测定方法
Номер патента: CN111829456A
Опубликовано: 27-10-2020
Автор(ы): 宫田薰
Принадлежит: Mitutoyo Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 27-10-2020
Автор(ы): 宫田薰
Принадлежит: Mitutoyo Corp
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and device of inspecting three-dimensional shape defect
Номер патента: US6072899A. Автор: Hideaki Doi,Mineo Nomoto,Hiroya Koshishiba,Yoko Irie. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2000-06-06.