Inter-terminal capacitance measurement method for three-terminal device and apparatus for the same
Номер патента: US20150309109A1
Опубликовано: 29-10-2015
Автор(ы): Koji Tokuno, Yoshimi Nagai
Принадлежит: Keysight Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-10-2015
Автор(ы): Koji Tokuno, Yoshimi Nagai
Принадлежит: Keysight Technologies Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for monitoring probe condition, test system, computer device, and storage medium
Номер патента: US20230296712A1. Автор: Xinyu Huang,Yongjun XING. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-21.