METHOD AND DEVICE FOR MEASURING r-VALUE OF TUBE IN CIRCUMFERENTIAL DIRECTION
Номер патента: US20240068793A1
Опубликовано: 29-02-2024
Автор(ы): Shijian YUAN, Xiaolei Cui
Принадлежит: Harbin Institute of Technology
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-02-2024
Автор(ы): Shijian YUAN, Xiaolei Cui
Принадлежит: Harbin Institute of Technology
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Devices and methods for measuring residual stress in a membrane region of a segmented reticle blank
Номер патента: US20020131036A1. Автор: Shin-Ich Takahashi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2002-09-19.