Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

Residual stress measuring method

Номер патента: EP3748345A1
Опубликовано: 09-12-2020
Автор(ы): Hiroyuki Takamatsu, Mariko Matsuda, Tatsuhiko KABUTOMORI
Принадлежит: Kobe Steel Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method for measuring residual stress

Номер патента: US20200340933A1. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Mariko Matsuda,Tatsuhiko KABUTOMORI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2020-10-29.

Component residual stress testing platform based on neutron diffraction and experimental method thereof

Номер патента: US12146845B2. Автор: Yang Wang,Lei Zhao,Lixia Yang,Haizhou Wang,Dongling LI,Xuejing Shen,Yunhai JIA,Changwang Zhu,Lizhi Ren,Zongxin LIU,Danqi Huang. Владелец: Central Iron & Steel Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Method for computing residual stress

Номер патента: EP3786600A1. Автор: Tomokazu Nakagawa,Keisuke Okita,Mariko Matsuda. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

Residual stress detection device and detection method thereof

Номер патента: US20200191670A1. Автор: Hsiu-An Tsai,Zong-Rong LIU. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2020-06-18.

X-ray fluorescence analysis measurement method and x-ray fluorescence analysis measurement device

Номер патента: US20210164925A1. Автор: Shinji Ishimaru. Владелец: C Uyemura and Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-03.

Method and apparatus for simultaneous phase composition and residual stress measurement by x-ray diffraction

Номер патента: US5148458A. Автор: Clayton Ruud. Владелец: Clayton Ruud. Дата публикации: 1992-09-15.

Method for measuring residual stress

Номер патента: US20230304876A1. Автор: Hiroyuki Takamatsu,Mariko Matsuda,Tatsuhiko KABUTOMORI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Component residual stress testing platform based on neutron diffraction and experimental method thereof

Номер патента: US20230358693A1. Автор: Yang Wang,Lei Zhao,Lixia Yang,Haizhou Wang,Dongling LI,Xuejing Shen,Yunhai JIA,Changwang Zhu,Lizhi Ren,Zongxin LIU,Danqi Huang. Владелец: Central Iron & Steel Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Method for measuring residual stress of curved-surface bulk material

Номер патента: US20220196496A1. Автор: Hsiu-An Tsai,Zong-Rong LIU. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2022-06-23.

X-ray stress measuring apparatus

Номер патента: CA2806826A1. Автор: Shigeru Munekawa,Hideo Toraya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-02-02.

X-ray stress measuring apparatus

Номер патента: CA2806826C. Автор: Shigeru Munekawa,Hideo Toraya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-01-05.

Residual-stress measurement device and residual-stress measurement method

Номер патента: CA2962222C. Автор: Yuji Kobayashi,Akinori Matsui. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2021-06-15.

Stress measurement by x-ray diffractometry

Номер патента: CA1195786A. Автор: Crighton M. Mitchell. Владелец: Canada Minister of Energy Mines and Resources. Дата публикации: 1985-10-22.

Stress measurement by X-ray diffractometry

Номер патента: US4561062A. Автор: Crighton M. Mitchell. Владелец: Canada Minister of Energy Mines and Resources. Дата публикации: 1985-12-24.

Stress measuring method and system

Номер патента: US7342226B2. Автор: Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-03-11.

Multi-physical field measurement device for metal solidification process and housing thereof, and measurement method

Номер патента: US20230314349A1. Автор: Hui Xing,YANG Tang,Ya Zhang,Yue Wu,Qing Dong,Jiao Zhang,Baode Sun,Yanfeng HAN,Yongbing DAI,Chaopeng FU. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2023-10-05.

Immunochromatography measuring method, auxiliary agent for immunochromatography measurement, immunochromatography chip, and immunochromatography measurement kit

Номер патента: EP4145131A1. Автор: Hideya Kawasaki,Takahiko Hariyama. Владелец: Nanosuit Inc. Дата публикации: 2023-03-08.

Immunochromatography measurement method, auxiliary liquid for immunochromatography measurement, immunochromatography chip, and immunochromatography measurement kit

Номер патента: US20230258632A1. Автор: Hideya Kawasaki,Takahiko Hariyama. Владелец: Nanosuit Inc. Дата публикации: 2023-08-17.

Measurement method and apparatus for electrode sheet

Номер патента: EP4411354A1. Автор: Jingdong Zhang,Qian Wu,Weigang Chen,Liangjie YAN,Qiangjun WANG,Bingyang ZHAN,Zhihui ZHEN. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Measuring method, data processing apparatus and electron microscope using same

Номер патента: US20140246585A1. Автор: Junichi Tanaka,Tomoko Sekiguchi,Hiroki Kawada,Takeyoshi Ohashi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2014-09-04.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240085355A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Measuring method of residual stress distribution, calculating method of same, and program

Номер патента: US11898923B2. Автор: Atsushi Kawahara,Masakazu Shibahara,kazuki Ikushima,Yoshitaka Kawajiri,Yui OKIMI. Владелец: UNIVERSITY PUBLIC CORPORATION OSAKA. Дата публикации: 2024-02-13.

Measuring method of residual stress distribution, calculating method of same, and program

Номер патента: US20220018724A1. Автор: Atsushi Kawahara,Masakazu Shibahara,kazuki Ikushima,Yoshitaka Kawajiri,Yui OKIMI. Владелец: UNIVERSITY PUBLIC CORPORATION OSAKA. Дата публикации: 2022-01-20.

MEMS device residual stress temperature characteristic measuring method

Номер патента: CN105699424A. Автор: 裘安萍,施芹,夏国明. Владелец: Nanjing University of Science and Technology. Дата публикации: 2016-06-22.

Measurement method for non-destructive inspection, measurement device, non-destructive inspection method, information processing device of non-destructive inspection, and recording medium

Номер патента: US12044654B2. Автор: Hiroshi Morita,Yoshiyuki Hashimoto,Mitsuru Mimori,Katsunori Teshima,Motonori Takakura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-07-23.

Converter gas component soft measuring method based on gas heat value and flue gas components

Номер патента: MY192529A. Автор: Lin Ma,Hongming Wang,Yujie Wang,Yalan Ye,Xiang An,Yicui Wang. Владелец: Jiangsu Maritime Vocational Inst. Дата публикации: 2022-08-26.

Measuring method in real time mode of film thickness of coating not containing chrome on surface of strip steel

Номер патента: RU2498215C1. Автор: Чжичен ВАН,Чуньго ЛВ,Юнцян ЛУ. Владелец: Баошань Айрон Энд Стил Ко., Лтд.. Дата публикации: 2013-11-10.

Stress history measurement method and stress sensor

Номер патента: US09835611B2. Автор: Hide Sakaguchi,Arito Sakaguchi. Владелец: Japan Agency for Marine Earth Science and Technology. Дата публикации: 2017-12-05.

Apparatus for determining residual stress, method for determining residual stress data using it, residual stress determining method using it and recording medium thereof

Номер патента: US20030217591A1. Автор: Dongil Son,Yunhee Lee,Dongil Kwon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-11-27.

Thermal barrier coating stress measurement

Номер патента: US6072568A. Автор: Kenneth S. Murphy,David R. Clarke,Neil E. Paton. Владелец: Howmet Research Corp. Дата публикации: 2000-06-06.

Methods and systems for estimating residual stress in object

Номер патента: US20240344909A1. Автор: Hidemi Hanada,Shigeo Miyake,Shuichi NOWATARI. Владелец: IIDA CO Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Combined plate-beam unit analysis method considering residual stress effect of orthotropic plate

Номер патента: US12129610B2. Автор: Ronghui Wang,Niujing Ma,Long Piao. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2024-10-29.

Non-destructive detecting device for component residual stress gradient

Номер патента: US11226246B2. Автор: PENG Yin,Zhixiang Li,Jianfeng Song,Chunguang Xu,Wenyuan Song,Yuren Lu,Shuangyi Li,Ruili Jia. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2022-01-18.

Fixed value residual stress test block and manufacturing and preservation method thereof

Номер патента: US09989496B2. Автор: XIAO Li,LANG Xu,Chunguang Xu,Wentao SONG,Dingguo Xiao,Qinxue PAN. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2018-06-05.

Method of residual stress determining using instrumental indentation, data medium with the corresponding software and instrumental indentation device, intended for instrumental indentation implementation using data medium

Номер патента: RU2611078C1. Автор: Минджаэ ЧОИ,Ёунчэон КИМ,Кванхо КИМ. Владелец: Фронтикс, Инк.. Дата публикации: 2017-02-21.

Method for calculating residual stress

Номер патента: EP4257944A1. Автор: Fumiaki Tamashiro,Akinobu Ishiwatari. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-10-11.

Apparatus and Method to Detect Residual Stress Around Cold Expanded Holes Using Longitudinal Critically Refracted Waves

Номер патента: US20240280424A1. Автор: Xin Chen,Adam C. Cobb,Douglas R. Earnest,Clint J. Thwing,Nikolay Akimov. Владелец: Southwest Research Institute SwRI. Дата публикации: 2024-08-22.

Method of calculating residual stress

Номер патента: US20240027314A1. Автор: Fumiaki Tamashiro,Akinobu Ishiwatari. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Non-destructive detecting device for component residual stress gradient

Номер патента: US20210025769A1. Автор: PENG Yin,Zhixiang Li,Jianfeng Song,Chunguang Xu,Wenyuan Song,Yuren Lu,Shuangyi Li. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2021-01-28.

Method for determining superficial residual stress as applied to machined, mechanically or thermally processed surfaces

Номер патента: US20040267462A1. Автор: John Wyatt,John Berry. Владелец: Mississippi State University. Дата публикации: 2004-12-30.

Method for measuring residual stress in a siamese region of a cylinder block

Номер патента: US20050188772A1. Автор: Kyung Lee,Chi Kim. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2005-09-01.

Sensor device and residual stress detection system employing same

Номер патента: US09863826B2. Автор: XIAO Li,LANG Xu,Haiyang Liu,Jun Guo,Chunguang Xu,Wentao SONG,Dingguo Xiao,Qinxue PAN. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2018-01-09.

Residual stress estimation apparatus and method

Номер патента: US20240011902A1. Автор: Hye Lim JANG,Min Chul Shin,Eun Jeong Choi,Chan Ho Jeong,Keum Hyang Lee,Lae Hyong Kang,Dae Hyun HAN. Владелец: Industry Cooperation Foundation of Jeonbuk National University. Дата публикации: 2024-01-11.

Method for measuring the poisson' s ratio and the residual stress of a material

Номер патента: EP2805145A1. Автор: Marco Sebastiani,Edoardo Bemporad. Владелец: Universita degli Studi di Roma Tre. Дата публикации: 2014-11-26.

Tensile stress measurement device with attachment plates and related methods

Номер патента: US09726587B2. Автор: Bruno Murari,Alberto Pagani,Federico Giovanni Ziglioli. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2017-08-08.

In-situ stress measurement method

Номер патента: US20200149984A1. Автор: Takatoshi Ito,Kazuhiko Tezuka,Tetsuya Tamagawa. Владелец: Japan Petroleum Exploration Co., Ltd.. Дата публикации: 2020-05-14.

Stress measurement method, stress measurement device, and stress measurement system

Номер патента: US11467046B2. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Takuya NIIOKA. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-11.

Stress measurement method, stress measurement device, and stress measurement system

Номер патента: US20190353538A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Takuya NIIOKA. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-21.

Stress measurement system and stress measurement method

Номер патента: US20220412908A1. Автор: Shinichi Abe. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Fibre concentration ratio measuring method and related device for implementation thereof

Номер патента: RU2362989C2. Автор: Бенгт ОКЕРБЛОМ. Владелец: Дапрокс Аб. Дата публикации: 2009-07-27.

Oxytocin purifying method and measuring method and kit

Номер патента: US20240230684A9. Автор: Masaaki Kojima,Fumie AKUTSU. Владелец: Fujifilm Wako Pure Chemical Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Particle measuring method, sample processing method, and particle imaging apparatus

Номер патента: US20190178782A1. Автор: Yusuke Konishi,Takanori Maekawa. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Anti-8-hydroxy-2'-deoxyguanosine antibody or antibody fragment thereof, production method, kit, measuring method, and device for measurement

Номер патента: US20220372119A1. Автор: Toshiaki Maruyama,Takeshi Sakamoto,Shigeru CJ OKUMURA,Hiroko Yanagisawa. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2022-11-24.

Hardness measurement method, and fouling prevention method for hardness-measuring device

Номер патента: US10718746B2. Автор: Junichi Takahashi. Владелец: Kurita Water Industries ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Set cement mechanical properties parameter measurement method and apparatus based on image recognition technology

Номер патента: US20240288348A1. Автор: Zhao HUANG,Jianzhou Jin,Yongjin YU,Fengzhong Qi,Hongfei Ji,Xiujian Xia,Jiyun Shen,Huiting LIU,Congfeng Qu,Xueli Guo,Zhengyang Zhao,Yongqin CHENG,Pengyang JIA. Владелец: CNPC Engineering Technology R&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Hemoglobin a1c measurement method, hemoglobin analyzer, and non-transitory computer-readable recording medium

Номер патента: EP4343323A1. Автор: Yusuke Nakayama. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2024-03-27.

Groundwater level elevation measurement method, groundwater storage measurement system, and application

Номер патента: US12044610B1. Автор: XU Wang,Hongyue Sun. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-23.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US20170218423A1. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Electrochemical measuring method and electrochemical measuring device

Номер патента: US10619179B2. Автор: Hiroshi Ushio,Masahiro Yasumi,Atsushi Shunori,Kaoru Hiramoto. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-14.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US20160077073A1. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2016-03-17.

Pressure measurement method, control method, pressure measurement device, and analyzer

Номер патента: US20240167900A1. Автор: Atsushi Nakamura,Naohide Miyamoto,Eikichi SHIBATA,Kiyomi Seii. Владелец: Sony Group Corp. Дата публикации: 2024-05-23.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20140193921A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-07-10.

Test apparatus and target measurement method using the same

Номер патента: US20170350904A1. Автор: TAKAYUKI Taguchi,Sung Hwa Lee,Hye Kyung Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-12-07.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09915636B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-03-13.

Lithium measurement method

Номер патента: US09689794B2. Автор: Hiroko Suzuki,Takuya Iwabuchi,Tsugikatsu Odashima. Владелец: METALLOGENICS CO Ltd. Дата публикации: 2017-06-27.

Total organic carbon measurement method and total organic carbon measurement device

Номер патента: US20230011100A1. Автор: Masahito Yahata,Yoshiaki Nieda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-01-12.

Measuring method of liquid mixture purity and apparatus for measuring liquid mixture purity

Номер патента: US20240077392A1. Автор: Kuo-Liang Yeh,Wen-Ting Huang,Jung-Kuei Peng,Ya-Ju Chang,Sheng-Tang Chang,Min-Wen WENG. Владелец: 3s Silicon Tech Inc. Дата публикации: 2024-03-07.

Plant water content sensor and plant water content measuring method

Номер патента: US20230304952A1. Автор: Fusao Shimokawa,Fumiya INO. Владелец: Kagawa University NUC. Дата публикации: 2023-09-28.

Maturity measurement method and maturity measurement device for glass fiber reinforced concretes

Номер патента: EP4386380A1. Автор: Muhammed Marasli,Serkan Subasi,Sefa Guntepe,Mert Cevirmen,Volkan Ozdal. Владелец: Fibrobeton Yapi Elemanlari Sanayi Insaat Ve Ticaret AS. Дата публикации: 2024-06-19.

Quality measurement method and quality measurement device for long sheet material

Номер патента: US20210223171A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-07-22.

Measurement method of specimen liquid and specimen liquid sensor

Номер патента: US20180074017A1. Автор: Hiroshi Katta. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-03-15.

Quality measuring method and quality measuring device for long sheet material

Номер патента: EP3805733A1. Автор: Hisataka Shitara. Владелец: Psm International Inc. Дата публикации: 2021-04-14.

Partial pressure tool for real-time measurement and adjustment of pressure and viscosity and measurement method thereof

Номер патента: US11262283B2. Автор: Cheng Fu,Bin Huang,Xiaohui Li,Xinyu Hu,Weiwen Zhang,Chunjing Lu,Xiangdong Qi,Fajun ZHAO. Владелец: Chongqing University of Science and Technology. Дата публикации: 2022-03-01.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US20170138853A1. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-18.

Force measurement method, force measurement device, force measurement system, force measurement program, and recording medium

Номер патента: US20200333202A1. Автор: Yasushi Okada,Kumiko Hayashi. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2020-10-22.

Partial pressure tool for real-time measurement and adjustment of pressure and viscosity and measurement method thereof

Номер патента: US20210025799A1. Автор: Cheng Fu,Bin Huang,Xiaohui Li,Xinyu Hu,Weiwen Zhang,Chunjing Lu,Xiangdong Qi,Fajun ZHAO. Владелец: Northeast Petroleum University. Дата публикации: 2021-01-28.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Secondary battery internal pressure measurement method

Номер патента: US20240347780A1. Автор: Sang Jun Park. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Secondary battery internal pressure measurement method

Номер патента: US12051784B2. Автор: Sang Jun Park. Владелец: SK On Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09933404B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-04-03.

Measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09885693B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-02-06.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US09880103B2. Автор: Karsten Hiltawsky,Hans-Ullrich Hansmann,Arne TRÖLLSCH,Andreas Mohrmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2018-01-30.

Gas sensor apparatus and concentration measurement method performed through use of gas sensor

Номер патента: US09869663B2. Автор: Masao Tsuzuki,Toyohiro TSUKAHARA. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring method and measuring system of bromate ion concentration

Номер патента: US09857304B2. Автор: Natsumi KONISHI,Eri Hasegawa. Владелец: Metawater Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Sensor strip cartridge, and biometric information measuring method and apparatus using the same

Номер патента: US09739764B2. Автор: Chul-Ho Cho,Seong-Je Cho,Min-Hyoung Lee,In-Geol Baek. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Analyte in blood plasma concentration measurement method

Номер патента: RU2677703C1. Автор: Александр Давидович Левин,Антон Юрьевич Садагов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ"). Дата публикации: 2019-01-21.

Ultrasonic measurement method for plane stress on the basis of multi-wafer air-coupled transducer

Номер патента: US20240060935A1. Автор: Bo Zhao,Jiubin Tan,Bingquan WANG,Weijia SHI. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-02-22.

Method and apparatus for residual stress measurement through indentation with in-situ generated reference

Номер патента: US09921128B2. Автор: Dehua Yang,Ryan Farel. Владелец: Exponential Business And Technologies Co. Дата публикации: 2018-03-20.

Method for determination of residual stresses in weld metal welded joints of pipelines (versions)

Номер патента: RU2711082C1. Автор: Александр Федорович Гетман,Лев Абрамович Пасманик,Сергей Валерьевич Губа,Аркадий Вадимович Камышев,Виктор Донатович Ровинский. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "ИНКОТЕС" (ООО "ИНКОТЕС"). Дата публикации: 2020-01-15.

Ultrasonic method for determination of residual stresses in welded joints of pipelines

Номер патента: RU2598980C2. Автор: Василий Васильевич Мишакин,Константин Владимирович Курашкин. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем машиностроения Российской академии наук. Дата публикации: 2016-10-10.

Method for determining residual stresses in coatings

Номер патента: RU2757405C1. Автор: Михаил Александрович Попов,Виктор Николаевич Хрянин,Иван Андреевич Безбородов,Александр Владимирович Пчельников,Егор Алексеевич Волобой. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Новосибирский государственный аграрный университет". Дата публикации: 2021-10-15.

Method and system for predicting residual stress of large aluminum alloy part

Номер патента: AU2020103406A4. Автор: Jiantang Jiang. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2021-01-28.

Device of determining residual stress

Номер патента: RU2645843C1. Автор: Борис Дмитриевич Олейник,Антон Сергеевич Нуртдинов,Руслан Римович Нургалин. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Пермский национальный исследовательский политехнический университет". Дата публикации: 2018-02-28.

Method of detecting residual stresses in materials and components through the use of active thermography techniques

Номер патента: WO2024180442A1. Автор: Raffaella SESANA,Luca Santoro,Luca CORSARO,Cura' MARIA FRANCESCA. Владелец: POLITECNICO DI TORINO. Дата публикации: 2024-09-06.

Method for manufacturing reference piece for x-ray measurement of residual stress and reference piece for x-ray measurement of residual stress

Номер патента: US20230160843A1. Автор: Yuji Kobayashi,Yuta Saito,Akinori Matsui. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2023-05-25.

Laser opto-ultrasonic dual detection method and device for detecting elements, defects and residual stress simultaneously

Номер патента: US12105017B2. Автор: Weiliang Wang,Yuyang Ma,Zhenlin HU,Lianbo GUO,Xiujuan Hu. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-10-01.

Water jet peening compressive residual stress test method, test device, and test facility

Номер патента: US09739695B2. Автор: Takahiro Ota,Nobuyuki Hori,Yukio Michishita. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Method and apparatus for relieving residual stresses

Номер патента: WO1993018376A1. Автор: William H. Bagley,James R. Rosbe,Douglas G. Wilson. Владелец: Alloying Surfaces, Inc.. Дата публикации: 1993-09-16.

Yield stress measurement device and related methods

Номер патента: US09983109B2. Автор: Dale E. Jamison,Xiangnan YE. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Yield stress measurement device and related methods

Номер патента: CA2967576C. Автор: Dale E. Jamison,Xiangnan YE. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2019-09-17.

Capacitance measurement method and its application

Номер патента: RU2564516C2. Автор: Йоаким ЛАРССОН,Бо МАТТИАССОН,Мартин ХЕДСТРЕМ,Даг ЭРЛАНДССОН. Владелец: КапСензе ХБ. Дата публикации: 2015-10-10.

Management method, measuring method, measuring device, crystal oscillator sensor, and set

Номер патента: US20220326184A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-10-13.

Pretreatment method for nitrogen and oxygen isotope measurement with chemical conversion method and measurement method

Номер патента: AU2020312536A1. Автор: FANG Yang,Ning An,Wenjuan Ma,Runyu Zhang,Jianyang Guo,Fengchang Wu,Weiying FENG,Haiqing Liao,Rui CEN. Владелец: CHINESE RESEARCH ACADEMY OF ENVIRONMENTAL SCIENCES. Дата публикации: 2022-03-10.

Atmosphere optical characteristics measuring method

Номер патента: RU2674560C1. Автор: Андрей Николаевич Павлов,Евгений Сергеевич Зубко,Олег Григорьевич Константинов. Владелец: Олег Григорьевич Константинов. Дата публикации: 2018-12-11.

Colorimeter measurement method and colorimeter for implementing the method

Номер патента: US20150276584A1. Автор: LI Wang,Rui Xu,Weiwei Zhang,Xiaobo He,Jingming Wu,Honghui Zhu,Xueli Ao. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-01.

Method of manufacturing circuit pattern structure and measurement method

Номер патента: US20240170345A1. Автор: Chih-Cheng LEE,Yu-Kai Lin. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Microscopic non-destructive measurement method of microstructure linewidth based on translation difference

Номер патента: US20240265520A1. Автор: Shumin Wang,Yifeng Sun,Xiaoxin Fan,Xiao Huo,Qun Yuan,Zhishan GAO,Jianqiu MA,Jiale ZHANG. Владелец: Nanjing University of Science and Technology. Дата публикации: 2024-08-08.

Measurement method, measuring device, and measurement program

Номер патента: US12019009B2. Автор: Yuji Masuda,Konobu KIMURA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-06-25.

Semiconductor device measurement method using x-ray scattering and semiconductor device manufacturing method including the measurement method

Номер патента: US20230380783A1. Автор: Hidong Kwak,Jaeyong Lee,Minjung Shin,Chuhee LEE,Seungryeol Oh,Byunghyun HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Strain measurement method and strain measurement apparatus

Номер патента: US11204240B2. Автор: Kuo-Hua Tseng,Yu-Lin Hsu,Hung-Hsien Ko,I-Hung Chiang,Cheng-Ta Pan. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2021-12-21.

Measurement method and measurement device, and corrosion resistance test method and corrosion resistance test apparatus for coated metal material

Номер патента: US12066374B2. Автор: Tsutomu Shigenaga,Teruaki Asada,Katsunobu Sasaki. Владелец: Mazda Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Filtration membrane fouling index measuring method

Номер патента: US20150323442A1. Автор: Jung Won Kim,Yong Xun JIN,Young Gil Ju,Seung Kwan HONG. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-12.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240230505A9. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-07-11.

Ultrasonic online nondestructive measurement method for melt density during molding

Номер патента: US20240227267A1. Автор: PENG Zhao,JianFeng Zhang,Jianzhong Fu,Kaipeng Ji,Zhengyang Dong,Ruoxiang Gao. Владелец: Zhejiang University ZJU. Дата публикации: 2024-07-11.

Device, ionic current measurement apparatus, zeta potential measurement apparatus, ionic current measurement method, and zeta potential measurement method

Номер патента: US20240133790A1. Автор: Masateru Taniguchi,Makusu Tsutsui,Shohei Kishimoto. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2024-04-25.

Flare-measuring mask, flare-measuring method, and exposure method

Номер патента: US09529251B2. Автор: Masayuki Shiraishi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Measurement Method of MEMS In-plane Vibration Characteristics Based on Polarization Imaging

Номер патента: AU2021104717A4. Автор: Jie Dong,Mei SANG,Minhui Yu. Владелец: TIANJIN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-09-30.

Antibody measurement method using antigen-carrying insoluble carrier particles on which antigen is immobilized by different methods, and reagent for antibody measurement

Номер патента: AU2017321642B2. Автор: Yusuke Murakami,Yusuke Ueno,Tatsunori Kikuchi. Владелец: Eiken Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Glucose dehydrogenase having modified electron transfer properties, and glucose measurement method

Номер патента: US20180340211A1. Автор: Seiichi Hara,Yosuke MASAKARI. Владелец: Kikkoman Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Grain flake measurement system, grain flake measurement method, and grain flake collection, movement, and measurement system

Номер патента: US20240233159A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-07-11.

Thickness measurement method, thickness measurement device, defect detection method, and defect detection device

Номер патента: US20240219175A1. Автор: Yousuke Irie,Hirotsugu Inoue,Koutaro SAKAMOTO. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Lectin-binding substance measurement method, lectin-binding substance measurement kit, and blocked labeled lectin for use in these

Номер патента: US11988666B2. Автор: Kazunori Okada,Shintaro Yagi,Naoki Ishikawa,Katsumi Aoyagi,Kumiko Iida,Tomonori Nishii. Владелец: FUJIREBIO INC. Дата публикации: 2024-05-21.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: CA3209373A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Carlos Fernando Oliveira Cabeça Neves,Renan Bonnard. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2022-09-01.

Luminescence measurement method and luminescence measurement system

Номер патента: US20100209949A1. Автор: Hirobumi Suzuki,Ryutaro Akiyoshi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2010-08-19.

Infrared absorption measurement method, infrared absorption measurement device, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20040200963A1. Автор: Isamu Namose. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2004-10-14.

Concentration measurement method and concentration measurement apparatus

Номер патента: US20120242979A1. Автор: Koichi Shimizu,Kazuhiko Amano,Kazuhiro Nishida. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2012-09-27.

SiC WAFER DEFECT MEASURING METHOD, REFERENCE SAMPLE, AND METHOD OF MANUFACTURING SiC EPITAXIAL WAFER

Номер патента: US20190331603A1. Автор: Koji Kamei. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2019-10-31.

Snapshot type overlay error measuring device and measuring method

Номер патента: US11619883B2. Автор: Shiyuan LIU,Xiuguo CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-04-04.

Scale thickness measuring method

Номер патента: US20240255268A1. Автор: Masaaki Kurokawa,Kentaro Jinno,Yuji KOHASHI,Hajime KUMATANI. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

A Real Time Measurement Method for Rheological Parameters of Drilling Fluid Based on Machine Learning

Номер патента: NL2033450A. Автор: Li Zhi,Li Zishuo,JIANG GUOSHENG,Shi Yanping,Chen Shuya,Yang Xianyu,Xue Man,Cai Jihua,Dai Zhaokai. Владелец: Univ China Geosciences Wuhan. Дата публикации: 2023-06-01.

Particle measuring method and particle measuring apparatus

Номер патента: US20080239283A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Thermophysical property measurement method and thermophysical property measurement apparatus

Номер патента: US10876983B2. Автор: Hiroyuki Fujiki,Takeshi Shimazaki,Yasutaka AMAGAI. Владелец: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST. Дата публикации: 2020-12-29.

Film thickness measurement method, film thickness measurement device, and film formation system

Номер патента: US12018928B2. Автор: Atsushi Gomi,Kanto Nakamura,Toru Kitada,Kazunaga Ono. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Scanning Probe Microscope and Measurement Method Using Same

Номер патента: US20140165237A1. Автор: Masahiro Watanabe,Toshihiko Nakata,Takehiro TACHIZAKI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-06-12.

Semiconductor device measurement method

Номер патента: US20220077004A1. Автор: Hongxiang Li. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2022-03-10.

Measurement structure, method of manufacturing same, and measuring method using same

Номер патента: US20140021353A1. Автор: Takashi Kondo,Seiji Kamba. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Lectin-binding substance measurement method, lectin-binding substance measurement kit, and capture carrier for use in these

Номер патента: US12038440B2. Автор: Kazunori Okada,Shintaro Yagi,Katsumi Aoyagi,Kumiko Iida. Владелец: FUJIREBIO INC. Дата публикации: 2024-07-16.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

A Real Time Measurement Method for Rheological Parameters of Drilling Fluid Based on Machine Learning

Номер патента: NL2033450B1. Автор: Li Zhi,Li Zishuo,JIANG GUOSHENG,Shi Yanping,Chen Shuya,Yang Xianyu,Xue Man,Cai Jihua,Dai Zhaokai. Владелец: Univ China Geosciences Wuhan. Дата публикации: 2024-01-18.

Measuring method and system for measuring particle size and shape of powdery or grain like particles

Номер патента: US20090091755A1. Автор: Niklas Sandler,Jouko Yliruusi,Osmo Antikainen. Владелец: Intelligent Pharmaceutics Ltd Oy. Дата публикации: 2009-04-09.

Measuring method of sensor using interdigitated array electrode, measuring apparatus and computer readable medium storing measuring program

Номер патента: US20170045469A1. Автор: Koji Sode,Yasuhide Kusaka,Hisashi Kaneda. Владелец: Ultizyme International Ltd. Дата публикации: 2017-02-16.

Concentration measuring method, and concentration measuring device

Номер патента: US12078590B2. Автор: Nobukazu Ikeda,Yoshihiro Deguchi,Kouji Nishino,Masaaki Nagase. Владелец: University of Tokushima NUC. Дата публикации: 2024-09-03.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20210262987A1. Автор: Tong Wu,Satoshi Nomura,Takayuki Hatanaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-08-26.

Multi-material inspection system and velocity measurement method of critically refracted longitudinal wave based on single-angle wedges

Номер патента: US20220268739A1. Автор: Li Lin,Song Zhang,Hong Wang,Zhiyuan Ma,Shijie Jin,Zhongbing Luo. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2022-08-25.

Substrate measurement method and substrate measurement control apparatus

Номер патента: US20240219297A1. Автор: Hark Ryong KIM,Dong Seop JUNG. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Quality control sample measurement method, sample analyzer, and supply device

Номер патента: US20230168262A1. Автор: Atsushi Kumagai,Noriyuki Nakanishi,Junya IKUTA,Syunsuke Yao. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Grain particle granulometry measurement system, grain collection, movement, and measurement system, and grain particle granulometry measurement method

Номер патента: US20240295537A1. Автор: Rafael Monteiro Veras,Artur Antonio Seibert,André Luís Molgaro,Flávio Gabriel Oliveira Barbosa,Renan Bonnard,Carlos Fernando Olveira Cabeça Neves. Владелец: Bunge Sa. Дата публикации: 2024-09-05.

Measuring method and system for measuring particle size and shape of powdery or grain like particles

Номер патента: WO2006117429A1. Автор: Niklas Sandler,Jouko Yliruusi,Osmo Antikainen. Владелец: Intelligent Pharmaceutics Ltd Oy. Дата публикации: 2006-11-09.

Measurement system for micro-mixing and measurement method thereof

Номер патента: US20240310289A1. Автор: ZHENG Li,Jie Chen,Chao Yang,Xin Feng,Weipeng Zhang,Yuanyuan Li,Minghui Xie,Zaisha MAO,Xiaoxia DUAN,Dingwang HUANG. Владелец: Nanjing Jiuzhang Chemical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Viscoelasticity measurement method and viscoelasticity measurement device

Номер патента: US12098989B2. Автор: Shinsuke Miura,Tsutomu Odagiri,Taku Nakamoto. Владелец: A&D Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Shear wave elasticity measurement method and shear wave elasticity imaging system

Номер патента: US20240285257A1. Автор: Shuangshuang LI. Владелец: Shenzhen Mindray Scientific Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09921051B2. Автор: Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Partial discharge measurement method, partial discharge measurement device, and method of producing insulated wire

Номер патента: US09891263B2. Автор: Hidehito Hanawa. Владелец: Hitachi Metals Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Multi-angle spectral imaging measurement method and apparatus

Номер патента: US09823130B2. Автор: Masayuki Osumi. Владелец: Office Color Science Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Measurement method for detecting damage to a turbine blade and turbine

Номер патента: US09804110B2. Автор: Sebastian Jakielski,Stefan Obermayr. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2017-10-31.

Optical measurement method and device

Номер патента: US09739993B2. Автор: Louis Philippe Braitbart,Gabriel Y. Sirat. Владелец: Bioaxial SAS. Дата публикации: 2017-08-22.

Particulate contamination measurement method and apparatus

Номер патента: US09638643B2. Автор: Jacques Cor Johan Van der Donck,Antonius Martinus Cornelis Petrus De Jong. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2017-05-02.

Measurement method of the brillouin scattering frequency shift on the optical fiber length

Номер патента: RU2624801C1. Автор: Владимир Александрович Бурдин,Михаил Викторович Дашков,Олег Геннадьевич Морозов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Поволжский государственный университет телекоммуникаций и информатики" (ФГБОУ ВО ПГУТИ). Дата публикации: 2017-07-06.

Filling capacity measurement method

Номер патента: RU2541148C1. Автор: Норио КАЦУЯМА,Хироси ЮАСА. Владелец: Джапан Тобакко Инк.. Дата публикации: 2015-02-10.

Ultrasonic-wave propagation-time measuring method and gas concentration sensor

Номер патента: EP1233266A3. Автор: Noboru C/O Ngk Spark Plug Co. Ltd. Ishida,Takafumi C/O Ngk Spark Plug Co. Ltd. Oshima,Keigo c/o NGK Spark Plug Co. Ltd. Banno,Hideki c/o NGK Spark Plug Co. Ltd. Ishikawa,Yoshikuni c/o NGK Spark Plug Co. Ltd. Sato. Владелец: NGK Spark Plug Co Ltd. Дата публикации: 2005-08-03.

Dielectric characteristic measurement method and dielectric characteristic measurement system using open resonator

Номер патента: US20240168071A1. Автор: Atsushi Hattori,Yoshiyuki Yanagimoto. Владелец: Em Labs Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

A solution for measurement of trehalase in urine and measurement method using this solution

Номер патента: EP4267966A1. Автор: Bülent BIDI,Abdullah Olgun. Владелец: ARGERON MEDIKAL ARASTIRMA SANAYI VE TICARET AS. Дата публикации: 2023-11-01.

A Solution for Measurement of Trehalase in Urine and Measurement Method Using this Solution

Номер патента: US20240102076A1. Автор: Bülent BIDI,Abdullah Olgun. Владелец: ARGERON MEDIKAL ARASTIRMA SANAYI VE TICARET AS. Дата публикации: 2024-03-28.

Automatic optical measurement method

Номер патента: EP1305602A2. Автор: Naoki Inamoto,Yoshimi Sawamura,Shinji Fujimura,Kunikazu Taguchi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2003-05-02.

Electronic Computer, Moisture Content Measurement Method, and Moisture Content Measurement System

Номер патента: US20240102925A1. Автор: Jun Tanaka,Kotaro Kitamura,Yusuke Kaga,Takuya Kambayashi,Makiko Udagawa,Shunsuke Kono,Yasuko Kobayashi,Hiroki MIYAKAWA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-03-28.

Spectroscopic measurement method, spectrometer, and spectroscopic measurement program

Номер патента: US20240241051A1. Автор: Shota Yamanaka,Tsugio Gomi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Measuring method, measuring apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240085327A1. Автор: Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Optical Rotating Power Measurement Method And Optical Rotating Power Measurement Apparatus

Номер патента: US20080204751A1. Автор: Atsushi Yamada,Yuji Fujisawa,Tomoyuki Fukazawa,Hisashi Masago,Mutsumi Senuma. Владелец: Jasco Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Optical measuring system and optical measuring method

Номер патента: EP1708612A1. Автор: Christoph Hauger,Peter Reimer. Владелец: CARL ZEISS AG. Дата публикации: 2006-10-11.

Air measurement method using gas chromatograph and gas chromatograph analysis system

Номер патента: US20240118248A1. Автор: Shinji Uchiyama. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Flow rate measuring method

Номер патента: US20210325233A1. Автор: Chi-Chuan Wang,Tran Ngoc Tan. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2021-10-21.

Air measurement method using gas chromatograph and gas chromatograph analysis system

Номер патента: EP4296663A1. Автор: Shinji Uchiyama. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-27.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200286249A1. Автор: Hiroshi Ohno,Kiminori Toya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220218225A1. Автор: Kei Honda,Shinichiro Suda. Владелец: Terumo Corp. Дата публикации: 2022-07-14.

Particle measurement device and particle measurement method

Номер патента: EP4361594A1. Автор: Kenichi Hamada,Sohichiro Nakamura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Adhesion strength measurement system for wet electrode specimen and adhesion strength measurement method for wet electrode specimen using the same

Номер патента: US20240219291A1. Автор: Sung Soo Yoon,Je Gwon Lee,Young Seok Kim,Woo Ha Kim,Joo Yong Park,Ji Hee YOON,Hye Jin Sim,Hyeon Jeong Kang. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Granular-substance component measuring method and granular-substance component measuring instrument

Номер патента: EP4246128A1. Автор: Yasuhito Haijima,Shun YAMAUCHI. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Circular dichroism measuring method and circular dichroism measuring device

Номер патента: US20170191928A1. Автор: Hiroshi Satozono. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-07-06.

Measurement method, measurement device, and nontransitory computer-readable medium

Номер патента: US20240241047A1. Автор: Shigeru Nakamura,John Kenji CLARK. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Spectral confocal measurement device and measurement method

Номер патента: EP4006483A1. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-01.

Thz measurement method and thz measurement device for surveying a measurement object, in particular a pipe

Номер патента: US20230251083A1. Автор: Roland Böhm. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-08-10.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Light Measurement Apparatus for Reaction Vessel and Light Measurement Method

Номер патента: US20150218618A1. Автор: Hideji Tajima,Tetsuya Ueda,Takaki Sugimoto,Yu Matsukubo,Shuuichi Kobayashi. Владелец: UNIVERSAL BIO RESEARCH CO LTD. Дата публикации: 2015-08-06.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: US20210344056A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-11-04.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Eddy current sensor and eddy current measurement method

Номер патента: EP2583092A1. Автор: Tatsuo Hiroshima,Naotaka Ide,Takanari Yamamoto. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2013-04-24.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Vacuum transfer for nano indenter and sample measurement method using the same

Номер патента: US12038356B2. Автор: So Hee Kim,Jihyun HONG,Inyeong KANG,Jae Pyoung AHN,Woo Suk BAEK. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2024-07-16.

Measuring method of component concentration in solution

Номер патента: US6993444B2. Автор: Junji Kojima,Takaaki Yada,Issei Yokoyama,Yoshihito Yuhara. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2006-01-31.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US12072273B2. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Turbidity measurement method and turbidimeter

Номер патента: US20200278292A1. Автор: Hikaru Shimizu,Megumi GOTO,Takeshi KUWAGATA,Saori Handa. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-09-03.

Battery cell thermal conductivity measurement device and battery cell thermal conductivity measurement method using same

Номер патента: EP3855551A1. Автор: Kwang Min Kim,Woo Young Song. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-07-28.

Eddy current sensor and eddy current measurement method

Номер патента: WO2011158098A1. Автор: Tatsuo Hiroshima,Naotaka Ide,Takanari Yamamoto. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2011-12-22.

Thz measurement method and thz measurement device for measuring a measurement object

Номер патента: US20230288189A1. Автор: Marius Thiel,Ralph Klose. Владелец: Citex Holding GmbH. Дата публикации: 2023-09-14.

Raman microscope and raman spectrometric measuring method

Номер патента: US20140132955A1. Автор: Minoru Kobayashi,Taisuke Ota,Shogo Kawano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-05-15.

Stress properties measurement method, device, and system correlated based on stress gradients on multiple regions

Номер патента: US12066343B2. Автор: Yousuke Irie. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Structure for measuring gate misalignment and measuring method thereof

Номер патента: US20060231906A1. Автор: Young-Gun Ko,Ja-hum Ku. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-10-19.

Optical property measurement method and optical property calculation apparatus

Номер патента: US12025556B2. Автор: Tomoko Sato. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Noninvasive blood sugar level measuring method

Номер патента: US20080261320A1. Автор: Nobuaki Noguchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-10-23.

Planar elongational viscosity measuring method and planar elongational viscosity measuring apparatus

Номер патента: US20100228504A1. Автор: Tsutomu Takahashi,Toshihiro Kawano,Masataka Shirakashi. Владелец: Nagaoka University of Technology NUC. Дата публикации: 2010-09-09.

Rotation extrusion processing rheometer and rheological measuring method capable of simultaneously measuring pressure/shear rheology of polymers

Номер патента: US12083730B2. Автор: LIN Pi,Qi Wang,Yijun Li,Min NIE,Shibing BAI. Владелец: Sichuan University. Дата публикации: 2024-09-10.

Measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20070203654A1. Автор: Toshihide Ezoe. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Spectral confocal measurement device and measurement method thereof

Номер патента: US12085501B2. Автор: Jing He,YUAN Luo,Jinfeng Wang,Guanzhong KOU. Владелец: Aleader Vision Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Optical measuring method, and optical measuring system

Номер патента: EP4431888A1. Автор: Kensaku SHIMODA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Single-beam photothermal measurement apparatus and measurement method for absorptive defects

Номер патента: US12099002B2. Автор: QI Lu,Weiwei Wang,Shijie Liu,Jianda SHAO,Tianzhu Xu,Kaizao Ni,Yingjia Li. Владелец: Shanghai Hengyi Optics And Fine Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Noninvasive blood sugar level measuring method

Номер патента: US7863049B2. Автор: Nobuaki Noguchi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2011-01-04.

Colorimeter and reflectivity measuring method based on multichannel spectrum

Номер патента: US12098957B2. Автор: Yang Zhang,Jian Wang,Kun YUAN. Владелец: Caipu Technology Zhejiang Co ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Desorbed gas amount testing device and measuring method

Номер патента: AU2023249688A1. Автор: Cheng Tao,Ming Fan,Wentao Zhang,Longfei LU,Yongqiang ZHAO,Lingjie YU,Zongquan HU,Qigui Jiang,Huasheng QI,Changbo ZHAI. Владелец: Sinopec Exploration and Production Research Institute. Дата публикации: 2024-10-10.

The measurement method of metro rail corrugation based on the seq2seq model and the fusion data of vibration and noise

Номер патента: US20240343277A1. Автор: Yan Xiao,Chang Xiao,Yang Wang,FENG Jin,HONG Xiao,Gang Wang,Guangming Shi,Jianjun Ma,Zhihai ZHANG,Liang Gao,Yawen ZHANG,Guangpeng Liu,Guangsheng Chen,Libin Ye,Shuwei FANG,Xiubo LIU,Yihao CHI,Shaolei WEI,Zhongxia QIAN,Yuze CAO. Владелец: Beijing Jiaotong University. Дата публикации: 2024-10-17.

Portable internal friction measuring apparatus and internal friction measurement method

Номер патента: EP4443128A1. Автор: Jian Yin,Wenqing Jia,Yuanfei Li,Xiangbing LIU,Chaoliang XU,Qiwei QUAN,Wangjie QIAN. Владелец: Suzhou Nuclear Power Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Charge amount measurement method and charge amount measurement system

Номер патента: US20240328984A1. Автор: Masaru Inoue,Noriaki Oyabu. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Fin tip position measurement method, fin tip position measurement system, and jig for measuring fin tip position

Номер патента: US12044629B2. Автор: Satoshi Kumagai,Koji Ishibashi,Shunsuke Mizumi,Masaru Sekihara,Juichi KODERA,Jose Carlos KUROKI RAMIREZ. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Dielectric constant measurement method, dielectric measurement device and dielectric measurement program

Номер патента: US12025642B2. Автор: Hiroshi Hamada,Hideyuki Nosaka,Teruo Jo. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (VCSEL) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US11482830B2. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-25.

High-accuracy contactless measurement method for measuring temperature of metal thermoforming mold

Номер патента: US11254043B2. Автор: Kun-Chi Lo,Shiang-Feng Tang,Shun-Lung Yen,Wen-Jen Lin. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2022-02-22.

Pressure sensor, measuring device, reaction carrier and measuring method

Номер патента: US09841336B2. Автор: Hans-Ullrich Hansmann,Philipp Rostalski. Владелец: Draeger Safety AG and Co KGaA. Дата публикации: 2017-12-12.

Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09835536B2. Автор: Takayoshi Hoshino. Владелец: Aohata Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12140523B2. Автор: Sunah PARK,Hyunjung Choi,Hyunok KIM,Juhyun Park,Jua Ryu,Deokhyeon Kwon,KiDoo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-11-12.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Ultrasonic measurement method and ultrasonic measurement apparatus

Номер патента: US09683838B2. Автор: Takafumi Ozeki,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Sheet resistance measuring method

Номер патента: US09632048B2. Автор: Shi Shu,Yue Shi,Bin Zhang,Bing Sun,Zhijun LV,Kexin Lu. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Biological information measurement device and biological information measurement method using same

Номер патента: US09629577B2. Автор: Eriko Yoshioka,Susumu Tatemoto. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Phase distribution measurement method and phase distribution measurement apparatus

Номер патента: US09594941B2. Автор: Hiroshi Ishiwata. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Measurement method of reflection spectrum of vertical cavity surface emitting laser diode (vcsel) and epitaxial wafer test fixture

Номер патента: US20210075185A1. Автор: Yu-Chung Chin,Chao-Hsing Huang,Van-Truong Dai. Владелец: Visual Photonics Epitaxy Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-11.

Optical measuring methods and system

Номер патента: US09417180B2. Автор: Dong-Min Seo,Jang-Ik Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-08-16.

Overlay measurement method

Номер патента: US09410902B1. Автор: En-Chiuan Liou,Yi-Jing Wang. Владелец: United Microelectronics Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Oil, gas and water in oil deposits wells flow rates measuring method

Номер патента: RU2677725C1. Автор: Асгар Маратович Валеев,Ринат Закирович Ахметгалиев,Марсель Азатович Багаутдинов,Владимир Александрович Тимин. Владелец: Валеев Мурад Давлетович. Дата публикации: 2019-01-21.

Dielectric fluid moisture content measurement method

Номер патента: RU2659569C1. Автор: Александр Сергеевич Совлуков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2018-07-03.

Formation measuring method and formation control method and apparatus for using said formation measuring method

Номер патента: CA2033096C. Автор: Koichi Ishibashi,Satoshi Suzuki,Koji Sakai,Masahiro Yakabe,Sadao Degawa,Shigeki Murayama,Ikuo Nakashima. Владелец: IHI Corp. Дата публикации: 2000-07-18.

Method for determining the geometry of a defect on the basis of non-destructive measurement methods using direct inversion

Номер патента: AU2020271967B2. Автор: Andrey Danilov,Matthias Peussner. Владелец: Rosen Ip Ag. Дата публикации: 2023-11-16.

Method for determining the geometry of an object on the basis of data from non-destructive measurement methods

Номер патента: AU2020271630A1. Автор: Andrey Danilov,Matthias Peussner. Владелец: ROSEN SWISS AG. Дата публикации: 2021-11-04.

Method and device for predicting residual stress of metal plate based on measuring of residual stress release warpage

Номер патента: CA3086808A1. Автор: Cheng Liu,Zhongyu YANG,Junqiang Wang,Hailong CAO,Guanmei NIU. Владелец: Chinalco Materials Application Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-15.

Residual stress measuring method and system

Номер патента: US20080123079A1. Автор: Atsushi Baba,Tetsuya Matsui,Shohei Numata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2008-05-29.

System for measuring residual stress in optical thin films in both transmission and reflection

Номер патента: US10697841B2. Автор: Chuen-Lin Tien. Владелец: FENG CHIA UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-06-30.

Method for measuring residual stress in thin plate

Номер патента: EP4375634A1. Автор: Wei Li,Cheng Liu,Qing Li,Mingdong Huang,Kai Li,Xiaoyu Song,Guojun Wang,Haiyun Luo,Junqiang Wang,Xueguang DONG,Hailong CAO,Dongnan HUANG,Fuguan CONG,Siping ZHANG,Yibin REN. Владелец: Chinalco Advanced Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Methods of non-destructive residual stress measurement using barkhausen noise and use of such methods

Номер патента: US20210041308A1. Автор: Michael A. Kopmanis. Владелец: Ford Motor Co. Дата публикации: 2021-02-11.

Methods of non-destructive residual stress measurement using barkhausen noise and use of such methods

Номер патента: US20200116576A1. Автор: Michael A. Kopmanis. Владелец: Ford Motor Co. Дата публикации: 2020-04-16.

Method of determining residual stress distribution along pipe wall section (embodiments)

Номер патента: RU2738997C1. Автор: Георгий Викторович Шимов. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина". Дата публикации: 2020-12-21.

Apparatus for measuring residual stress of optical fiber

Номер патента: EP2078944A3. Автор: In Hee Shin,Dong Ju Lee,Dug Young Kim. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2011-07-06.

Thermal input control and enhancement for laser based residual stress measurements using liquid temperature indicating coatings

Номер патента: US5920017A. Автор: Martin J. Pechersky. Владелец: Westinghouse Savannah River Co. Дата публикации: 1999-07-06.

Method and device for non-destructive real-time measurements of residual stresses in planar and non-planar objects

Номер патента: WO2002035180A1. Автор: Leonid Mikhailovich Lobanov,John Petter Fjeldstad,Irina Evgenievna Fjeldstad,Nikolay Georgievich Kuvshinsky,Galina Ivanovna Tkachuk,Valeriy Aleksandrovich Pavlov,Nikolay Aleksandrovich Davidenko,Vjacheslav Avtonomovich Pivtorak,Irina Vladislavovna Kijanets,Sergey Gavrilovich Andrushchenko. Владелец: Holotech As. Дата публикации: 2002-05-02.

Method and apparatus for determining residual stresses of a component

Номер патента: US09696142B2. Автор: Joachim Bamberg,Roland Hessert. Владелец: MTU Aero Engines AG. Дата публикации: 2017-07-04.

Method, system, and computer program product for calculating the residual stress equilibrium of two concentric cylinders coldworked by a loading-unloading expansion process

Номер патента: US20090024335A1. Автор: Marc Sartor,Stephane Bianco,Romain Canivenc. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2009-01-22.

Method and device for non-destructive real-time measurements of residual stresses in planar and non-planar objects

Номер патента: EP1337804A1. Автор: Leonid Mikhailovich Lobanov,Irina Evgenievna Fjeldstad,Nikolay Georgievich Kuvshinsky,Galina Ivanovna Tkachuk,Valeriy Aleksandrovich Pavlov,Nikolay Aleksandrovich Davidenko,Vjacheslav Avtonomovich Pivtorak,Irina Vladislavovna Kijanets,Sergey Gavrilovich Andrushchenko,John Petter Di Fjeldstad. Владелец: Holotech As. Дата публикации: 2003-08-27.

Method of determining residual stresses in compressed shelves of arched steel thin-sheet cold-rolled profiled sheets

Номер патента: RU2708551C1. Автор: Сергей Александрович Макеев,Виктор Александрович Горьковенко,Ерлан Ахтамович Сеитов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный автомобильно-дорожный университет (СибАДИ)". Дата публикации: 2019-12-09.

Apparatus and method for static stress measurement in an object

Номер патента: US4798477A. Автор: David S. Mountain. Владелец: UK Secretary of State for Defence. Дата публикации: 1989-01-17.

Method for calculating regulation and control residual stress processing parameters by means of parameter inversion

Номер патента: EP3647971A1. Автор: YI Gao,Tao Wang,Kun Huang,Kun Yang,Wenyu Yang,Shuo Qiu,Guangdong CHENG. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2020-05-06.

Method for calculating processing parameters for residual stress control by parameter inversion

Номер патента: US20190228129A1. Автор: YI Gao,Tao Wang,Kun Huang,Kun Yang,Wenyu Yang,Shuo Qiu,Guangdong CHENG. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2019-07-25.

Thin film material residual stress testing structure and method

Номер патента: US20180164164A1. Автор: Lei Wang,LU Zhang,Weihua Li,Zaifa Zhou. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-06-14.

Method and device for determination of residual stresses

Номер патента: WO2004081491A1. Автор: Irina Evgenievna Fjeldstad,Valeriy Aleksandrovich Pavlov,Nikolay Alexandrovich Davidenko,Nikolay Georgievich Kuvshinskiy. Владелец: Agellis Ab. Дата публикации: 2004-09-23.

Method and device for real time non-destructive determination of residual stresses in objects by optical holographic interferometry technique

Номер патента: EP1226403A1. Автор: Leonid Mikhailovich Lobanov,John Petter Fjeldstad,Irina Evgenievna Fjeldstad,Vladimir Petrovich Kushniruk,Peter Dmitrievich Krotenko,Sergei Gavrilovich Andrushchenko,Nikolai Georgievich Kuvshinsky,Vladimir Petrovich Loginov,Valery Aleandrovich Pavlov,Vyacheslav Antonomovich Pivtorak. Владелец: Holotech As. Дата публикации: 2002-07-31.

Method and device for non-destructive real-time measurements of residual stresses in planar and non-planar objects

Номер патента: US6765677B1. Автор: Leonid Mikhailovich Lobanov,John Petter Fjeldstad,Irina Evgenievna Fjeldstad,Galina Ivanovna Tkachuk,Vjacheslav A. Pivtorak,Sergey G. Andrushchenko,Irina V. Kijanets,Valeriy A. Pavlov,Nikolay A. Davidenko,Nikolay G. Kuvshinsky. Владелец: Holotech As. Дата публикации: 2004-07-20.

Method of measuring residual stress in a carrier produced in manufacturing of a belt for continuously variable transmission

Номер патента: US4823608A. Автор: Keiji Satoh. Владелец: Fuji Jukogyo KK. Дата публикации: 1989-04-25.

Apparatus and method for measuring residual stress and photoelastic effect of optical fiber

Номер патента: US20010022873A1. Автор: Mun-Hyun Do,Un-Chul Paek,Yong-Woo Park,Dug-Young Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2001-09-20.

Stress measuring method, stress measuring member, and stress measuring set

Номер патента: US09897496B2. Автор: Takahiro Hayashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Method and apparatus for providing film stress measurements based on substrate displacement

Номер патента: US20020066310A1. Автор: Anton Jachim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-06-06.

Device and method for mechanical stress measurements

Номер патента: WO2024175701A1. Автор: Christer Johansson,Christian Jonasson,Sjoerd Haasl,Edoardo TRABALDO. Владелец: Rise Research Institutes of Sweden AB. Дата публикации: 2024-08-29.

Stress measurement method and system for optical materials

Номер патента: US20180164169A1. Автор: Wei-Chung Wang,Po-Yu Chen,Po-Chi Sung,Yu-Liang YEH,Zheng-Yong LU. Владелец: National Tsing Hua University NTHU. Дата публикации: 2018-06-14.

Mechanical stress measurement sensor

Номер патента: RU2552124C1. Автор: Сергей Александрович Гудошников,Николай Александрович Усов,Борис Яковлевич Любимов,Андрей Сергеевич Игнатов,Вадим Петрович Тарасов,Ольга Николаевна Криволапова. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС". Дата публикации: 2015-06-10.

Module and method for monitoring environmental influences on a module including multiple stress measuring cells

Номер патента: US11976987B2. Автор: Torsten Ohms,Clemens Jurgschat. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2024-05-07.

Stress composite sensor and stress measuring device using the same for structure

Номер патента: US5723792A. Автор: Nagao Miyazaki. Владелец: Japan Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 1998-03-03.

Flow sensor and flow rate measurement method

Номер патента: RU2768159C2. Автор: Марк Томас ДЖОНСОН,Дан Антон ВАН ДЕН ЭНДЕ,Корнелис Петрус ХЕНДРИКС,Арьен ВАН ДЕР ХОРСТ,Ахим ХИЛЬГЕРС,Рональд Антони ХОВЕНКАМП. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС Н.В.. Дата публикации: 2022-03-23.

Stress measuring apparatus

Номер патента: CA1117596A. Автор: Takeshi Yagisawa,Yoshikazu Takekoshi. Владелец: Shibaura Engineering Works Co Ltd. Дата публикации: 1982-02-02.

Fabrication method of conductive fabric, multi-pressure sensor for fiber type and measuring method of multi-pressure

Номер патента: US20210156752A1. Автор: Seong Jin Jang,Jae Hoon Ko,Jee Young Lim,Seung Ju LIM. Владелец: Korea Institute of Industrial Technology KITECH. Дата публикации: 2021-05-27.

Sensor calibration method, apparatus, and device, data measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: US12117356B2. Автор: Cheng Zhou,Zhengyou Zhang. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Contact force measurement method, and contact force measurement device

Номер патента: RU2519589C1. Автор: Такамаса ФУДЗИСАВА,Мицуру ИКЕДА,Казутака МАЦУБАРА. Владелец: Рэйлвэй Текникал Рисёрч Инститьют. Дата публикации: 2014-06-20.

High-temperature gas pressure measuring method

Номер патента: US09983080B2. Автор: Wen-Chueh Pan,Ming-June Lin,Jen-Chieh Li,Tsan-Tung Chen,Yih-Hsing Wang,Tien-Fu Wu. Владелец: National Chung Shan Institute of Science and Technology NCSIST. Дата публикации: 2018-05-29.

Force torque sensor, force torque sensor frame, and force torque measurement method

Номер патента: US09448128B2. Автор: Taekeun KIM,Junghoon Hwang,Bongseok KIM,Changwoo PARK,Seungyun Choi. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2016-09-20.

Axial force measurement method

Номер патента: WO2015059538A1. Автор: Yuichi Hirano,Hisanori Nakamura,Tatsuro Mori,Yusuke Matsumoto,Masahito Sakakibara,Takashi SAKUI. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2015-04-30.

Ultrasonic dual-wave high-reliability measurement method and apparatus for bolt stress

Номер патента: EP4439029A1. Автор: YANG Zhao,LONG Yang,Kun Li,Yisheng Jin,Mingming XIE,Xinzong ZHOU,Xuxiang Zhu,Yuping Shen. Владелец: SUZHOU PHASERISE TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Axial force measurement method

Номер патента: US09805459B2. Автор: Yuichi Hirano,Hisanori Nakamura,Tatsuro Mori,Yusuke Matsumoto,Masahito Sakakibara,Takashi SAKUI. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-10-31.

Load measurement method and apparatus, railcar provided with load measurement apparatus, and load management system

Номер патента: US09476802B2. Автор: Yoshi SATO. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-10-25.

Method of determining internal residual stresses and device for its implementation

Номер патента: RU2712929C1. Автор: Илья Владимирович Стрельников,Алексей Алексеевич Антонов. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Российский государственный университет нефти и газа (национальный исследовательский университет) имени И.М. Губкина". Дата публикации: 2020-02-03.

Devices and methods for measuring residual stress in a membrane region of a segmented reticle blank

Номер патента: US20020131036A1. Автор: Shin-Ich Takahashi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2002-09-19.

Apparatus and method for curvature and thin film stress measurement

Номер патента: US09551569B2. Автор: Robert Champetier,Chung-Hua Fu,Chung-Yuan Wu,Bu-Chin Chung. Владелец: Hermes Epitek Corp. Дата публикации: 2017-01-24.

Stress measuring rock support device

Номер патента: CA2200834C. Автор: William F. Bawden,Andrew J. Hyett. Владелец: CANADIAN MINING INDUSTRY RESEARCH ORGANIZATION/ORGANISATION DE RECHERCHE DE L'INDUSTRIE MINIERE CANADIENNE. Дата публикации: 2000-05-02.

Ambient air temperature measurement method

Номер патента: RU2661459C2. Автор: Рафкат Абдулхаевич Кантюков,Рашад Карибуллович Гимранов,Андрей Владимирович Воронин,Сергей Геннадьевич Тимофеев,Рашит Гимадетдинович Шарафиев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Газпром трансгаз Казань". Дата публикации: 2018-07-16.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using sthm probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US20210373046A1. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2021-12-02.

Measuring method for measuring heat distribution of specific space using SThM probe, method and device for detecting beam spot of light source

Номер патента: US12038455B2. Автор: Sang-il Park,Ahjin Jo,Byoung-Woon Ahn,Soobong Choi. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Method for measuring bearing cup gap in universal joint and method for manufacturing universal joint to which the measuring method is applied

Номер патента: US20160146261A1. Автор: Hiroaki Yamaishi. Владелец: JTEKT Corp. Дата публикации: 2016-05-26.

System frequency measurement method, synchrophasor measurement method and device thereof

Номер патента: US09658259B2. Автор: Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2017-05-23.

Measuring method of longitudinal distribution of bending loss of optical fiber, measuring method of longitudinal distribution of actual bending loss value of optical fiber, test method of optical line, manufacturing method of optical fiber cable, manufacturing method of optical fiber cord, and manufacturing method of optical fiber

Номер патента: US09562827B2. Автор: Tomoya Shimizu,Kazuhide Nakajima,Takashi Matsui,Yukihiro Goto,Shoji Tanigawa,Shoichiro Matsuo,Toshio Kurashima,Itaru ISHIDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Ultrasonic measuring device and fluid medium flow rate measuring method

Номер патента: RU2545358C2. Автор: Торальф ДИТЦ,Герри ШРЕТЕР,Андреас ГУРР. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2015-03-27.

Solar radiation characteristics measuring method by the multi-element sensor

Номер патента: RU2677075C1. Автор: Сергей Викторович Зуев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт мониторинга климатических и экологических систем Сибирского отделения Российской академии наук. Дата публикации: 2019-01-15.

Measuring method of volumetric flow rate of conducting fluids through vessel

Номер патента: RU2488779C2. Автор: Томас КЕЛЕР,Уве ЛАНГ,Колин ХЕНДЕРСОН,Штефан ХОТЕР,Стив БУКБИНДЕР. Владелец: Брита Гмбх. Дата публикации: 2013-07-27.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: US20240272318A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Surface shape measurement method, surface shape measurement device, and belt management method

Номер патента: EP4421004A1. Автор: Seiji Enoeda,Yoshiaki Nishina,Naoshi YAMAHIRA. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2024-08-28.

Measurement method, manufacturing method of device, and measurement system

Номер патента: US09972547B2. Автор: Koutarou Sho. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Measurement method of harmonic distortion of fm signal generated by the direct digital synthesis method

Номер патента: RU2614191C1. Автор: Алексей Вячеславович Зенькович,Виктор Львович Балло,Валентин Борисович Добровольский. Владелец: Открытое акционерное общество "Корпорация космических систем специального назначения "Комета". Дата публикации: 2017-03-23.

Mode field diameter measuring method and mode field diameter measuring device

Номер патента: US20240183746A1. Автор: Atsushi Nakamura,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Velocity measurement method, system, device and apparatus and storage medium, as well as velocity field measurement method and system

Номер патента: US20240221184A1. Автор: Jinjun Wang,Shaofei Wang,Chong Pan. Владелец: Ningbo Institute Of Technology Beihang University. Дата публикации: 2024-07-04.

Trailer angle measurement method and device, and vehicle

Номер патента: AU2019399430A1. Автор: NAN Wu,Yiming Li,Yuhe JIN. Владелец: Beijing Tusimple Technology Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-22.

Measuring method, adjustment method for stage movement characteristics, exposure method, and device manufacturing method

Номер патента: US8072579B2. Автор: Yusuke Tokuyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-12-06.

Measurement method for characterization of a photodetector

Номер патента: US20240247977A1. Автор: Gerd Plechinger. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-07-25.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20240280383A1. Автор: Hikaru Fujiwara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Method for determining measured values by means of at least two different measuring methods and use thereof

Номер патента: US11754398B2. Автор: Florian Ries,Frank Schuster,Martin Haueis. Владелец: Mercedes Benz Group AG. Дата публикации: 2023-09-12.

Spectrum measurement system, spectrum measurement device, optical measurement method and optical calibration method

Номер патента: US10197443B2. Автор: Chien-Hsiang Hung,Hsu-Feng Cheng,Sheng-Wang Lin. Владелец: OTO Photonics Inc. Дата публикации: 2019-02-05.

Unmanned aerial vehicle platform based vision measurement method for static rigid object

Номер патента: US20220198695A1. Автор: Lu Li,BO LIU,Xiaofeng Shi,Xiaoyan LUO,Chengxi WU. Владелец: BEIHANG UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-06-23.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, terminal, and network-side device

Номер патента: US20240353523A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Single-resistor measurement method, electric motor control method, electric motor controller, and electric motor control system

Номер патента: EP4443737A1. Автор: Hong Bin,Kai Zhang,Xiaoan Zhao,Haijin YANG. Владелец: Guangdong Welling Motor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Transmission delay measurement method, positioning method, terminal, base station and storage medium

Номер патента: EP4354986A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Positioning sensing method and apparatus, sensing measurement method and apparatus, and terminal and network-side device

Номер патента: EP4456625A1. Автор: Jian Yao,Dajie Jiang,Jianming Wu,Jianzhi Li,Shengli DING,Yannan YUAN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Optical fiber length measurement method and apparatus

Номер патента: US09945659B2. Автор: FAN He,Jian Yin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Measurement system, calibration and measurement method for bulk radiation wastes

Номер патента: US09841516B1. Автор: Ping-Ji Huang,Ming-Chen Yuan,Chin-Hsien Yeh,Wun-Jhih Huang. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2017-12-12.

Battery insulation resistance measurement methods, insulation resistance measurement methods, insulation resistance determination apparatuses, and articles of manufacture

Номер патента: US09581652B2. Автор: Aaron Klijn. Владелец: VALENCE TECHNOLOGY INC. Дата публикации: 2017-02-28.

Wavefront measurement method, shape measurement method, optical element manufacturing method, optical apparatus manufacturing method, program, and wavefront measurement apparatus

Номер патента: US09574967B2. Автор: Atsushi Maeda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Transmission delay measurement method, positioning method, terminal, base station and storage medium

Номер патента: US20240373272A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Electronic component thickness measurement method, method for manufacturing a series of electronic components using the measurement method, a series of electronic components manufactured by the manufacturing method, and electronic component inspection apparatus

Номер патента: US09404732B2. Автор: Yoshinao Nishioka,Masayoshi HARUKI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2672464C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-11-14.

Measurement method of initial missile velocity

Номер патента: RU2406959C1. Автор: Генри ФРИК. Владелец: Рейнметалл Эйр Дифенс Аг. Дата публикации: 2010-12-20.

Deformations measuring method

Номер патента: RU2723921C1. Автор: Андрей Анатольевич Паньков. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Пермский национальный исследовательский политехнический университет". Дата публикации: 2020-06-18.

Aircraft ground speed and the crab angle measuring method

Номер патента: RU2662803C1. Автор: Дмитрий Владиленович Хаблов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2018-07-31.

Electromagnetic wave in the shf devices slowing structures film local absorbers differential attenuation discrete measurement method with long-term interaction

Номер патента: RU2665357C1. Автор: Владимир Игоревич Роговин,Марина Анатольевна Носова,Дмитрий Николаевич Золотых. Владелец: Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Алмаз" (АО "НПП "Алмаз"). Дата публикации: 2018-08-29.

Temperature measurement method

Номер патента: RU2752132C1. Автор: Олег Григорьевич Бондарь,Екатерина Олеговна Брежнева,Елена Сергеевна Двойных. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования. "Юго-Западный государственный университет" (ЮЗГУ). Дата публикации: 2021-07-23.

Measurement method and device for determination of state of electric igniter of gas turbine burner, as well as ignition device for gas turbine burner

Номер патента: RU2477509C2. Автор: Йорг ГОНДЕР. Владелец: СИМЕНС АКЦИЕНГЕЗЕЛЛЬШАФТ. Дата публикации: 2013-03-10.

Distance measuring method, and device for its implementation (versions)

Номер патента: RU2481554C2. Автор: Марат Хаджи-Муратович Абдуев,Аслан Хаджимуратович Абдуев,Имангазали Юнусович Нураев. Владелец: Имангазали Юнусович Нураев. Дата публикации: 2013-05-10.

Multiphase flowmeter and fluid film measurement method

Номер патента: RU2542587C2. Автор: Эндрю Бэйкер,Александр ЛЮПО,Себастьен КАДАЛЕН,Бенуа ФУРНЬЕ. Владелец: Прэд Рисерч Энд Дивелопмент Лимитед. Дата публикации: 2015-02-20.

Device with improved light source and detector for gravimeter and measuring method

Номер патента: RU2473102C2. Автор: Рокко Дифоджио. Владелец: Бейкер Хьюз Инкорпорейтед. Дата публикации: 2013-01-20.

Accuracy measurement method of autonomous mobile vehicle, calculating device, and autonomous mobile vehicle

Номер патента: EP4372514A1. Автор: Po-Cheng Chen,Liang-Chin Wang,Kao-Pin Lin. Владелец: Axiomtek Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Accuracy measurement method of autonomous mobile vehicle, calculating device, and autonomous mobile vehicle

Номер патента: US20240168484A1. Автор: Po-Cheng Chen,Liang-Chin Wang,Kao-Pin Lin. Владелец: Axiomtek Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Oil tank measurement method and system based on laser point cloud analysis

Номер патента: NL2028854A. Автор: LI Cunjun,HAO Huadong,CHEN Xianlei,REN Feiming,SHI Haolei,WU Zenan. Владелец: Zhoushan Institute Of Calibration And Testing For Quality And Tech Supervision. Дата публикации: 2021-09-16.

Distance measurement method, apparatus, and device, and computer-readable storage medium

Номер патента: EP4235092A1. Автор: Yufeng Zheng,Zhigang Guo,Houming ZHAI,Mingsong SHAO,Qiulai GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-30.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Optical displacement measuring instrument, adjustment method and measuring method of optical displacement measuring instrument

Номер патента: US20180259319A1. Автор: Kentaro Tamura,Masaoki Yamagata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2018-09-13.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US20150221482A1. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2015-08-06.

Radar measurement method and device

Номер патента: EP3919936A1. Автор: Lei Wan,Yong Wu,Sha Ma,Mingxia Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Temperature measurement method, temperature measurement probe, and temperature measurement device

Номер патента: US20220316962A1. Автор: Peiyong Wang,Xingyou LI,Qinghuang HUANG. Владелец: Xiamen Kaiyun Information Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-10-06.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330A. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-05-23.

Measuring device and measuring method based on high-density electrical method

Номер патента: NL2030330B1. Автор: Xu Ya,LIU Yuqiang,LIU Jingcai,YAO Guangyuan,NAI Changxin. Владелец: Chinese Res Acad Env Sciences. Дата публикации: 2023-06-28.

Positionining measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240288570A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Power coupling coefficient measuring method and power coupling coefficient measuring device

Номер патента: US20230288287A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Hiroyuki Oshida,Tomokazu Oda. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Measuring method and semiconductor structure forming method

Номер патента: US11747131B2. Автор: Che-Hui Lee,Pradip Girdhar Chaudhari. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Temperature measurement method, temperature measurement device, medical device system, and laser treatment method

Номер патента: US20230392996A1. Автор: Mitsuru Namiki,Ikutoshi Fukushima. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Overlay mark forming Moire pattern, overlay measurement method using same, overlay measurement apparatus using same, and manufacturing method of semiconductor device using same

Номер патента: US12107052B2. Автор: Hyun Chul Lee,Hyun Jin Chang. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Temperature measurement method and apparatus based on passive rfid tag

Номер патента: US20240295446A1. Автор: Xu Zhang,Jia Liu,Xingyu Chen,Lijun Chen,Fuxing Wang. Владелец: Jiangsu Tooker Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Workpiece measurement method in machine tool and machine tool

Номер патента: US20240342806A1. Автор: Hideki Nagasue. Владелец: DMG Mori Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Temperature measurement circuit, temperature and light intensity measurement circuit, temperature measurement method and temperature and light intensity measurement method

Номер патента: US12123788B2. Автор: Fulin Li,Haixiang Wang,Chuanlin LI. Владелец: Shenzhen Goodix Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Measurement method for measuring an external magnetic field and manufacturing method of a magnetic field sensing module

Номер патента: US09983271B2. Автор: Fu-Te Yuan,Meng-Huang Lai,Jen-Tzong Jeng. Владелец: Isentek Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Measuring method of life activity, measuring device of life activity, transmission method of life activity detection signal, or service based on life activity information

Номер патента: US09743837B2. Автор: Hideo Ando. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-08-29.

Multi-electrode conductive probe, manufacturing method of insulating trenches and measurement method using multi-electrode conductive probe

Номер патента: US09739802B2. Автор: Bernard HaoChih LIU,Chun-Chieh TIEN,Jui-Teng Cheng,Yu-Lun Cheng. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2017-08-22.

Refractive index distribution measuring method, refractive index distribution measuring apparatus, and method for manufacturing optical element

Номер патента: US09625350B2. Автор: Tomohiro Sugimoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Magnetic field sensing module, measurement method, and manufacturing method of a magnetic field sensing module

Номер патента: US09562953B2. Автор: Fu-Te Yuan,Meng-Huang Lai,Jen-Tzong Jeng. Владелец: Isentek Inc. Дата публикации: 2017-02-07.

Wavefront aberration measuring method, wavefront aberration measuring apparatus and optical element manufacturing method

Номер патента: US09557241B2. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Method for ascertaining and monitoring fill level of a medium in a container by means of a fill-level measuring device using a travel time measuring method

Номер патента: US09442000B2. Автор: Edgar Schmitt,Klaus Feisst,Stefan Gorenflo,Alexey Malinovskiy,Dietmar Spanke. Владелец: Endress and Hauser SE and Co KG. Дата публикации: 2016-09-13.

Temperature measuring method and plasma processing system

Номер патента: US09412565B2. Автор: Takahiro Senda,Naoki Matsumoto,Yusuke Yoshida,Masayuki Kohno,Ryou Son. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Vessel speed measuring method by the doppler log

Номер патента: RU2659710C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Сергей Васильевич Жуменков,Виталий Николаевич Тимофеев,Павел Валерьевич Юхта. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2018-07-03.

Railway wheels flange wear measuring method

Номер патента: RU2666043C1. Автор: Йосиюки СИМОКАВА,Осаму КОНДО. Владелец: Ниппон Стил Энд Сумитомо Метал Корпорейшн. Дата публикации: 2018-09-05.

Hole diameter measurement method

Номер патента: RU2741755C1. Автор: Сергей Борисович Михайлов,Юрий Николаевич Доброхотов,Валерий Герасимович Лебедев,Борис Васильевич Михайлов,Михаил Васильевич Петров,Екатерина Григорьевна Гоник. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Чувашский государственный университет имени И.Н. Ульянова". Дата публикации: 2021-01-28.

Ship speed measurement method with doppler log

Номер патента: RU2702696C1. Автор: Андрей Иванович Машошин,Виталий Николаевич Тимофеев. Владелец: Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор". Дата публикации: 2019-10-09.

Image measurement method, image measurement program, image measurement device, and object manufacture method

Номер патента: US20190139247A1. Автор: Junichi Kubota,Motoi Murakami. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2019-05-09.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20060125495A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-06-15.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7009411B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-03-07.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20040256553A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US20030020015A1. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-01-30.

Measurement method of flatband voltage of power semiconductor module

Номер патента: WO2023181444A1. Автор: Nicolas Degrenne,Julio BRANDELERO. Владелец: Mitsubishi Electric R&D Centre Europe B.V.. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement method, measurement device, and measurement program

Номер патента: US20150106045A1. Автор: Masahiro Morooka,Jusuke Shimura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-04-16.

Measuring device and measuring method for wave dissipation performance of flat-plate permeable breakwater

Номер патента: LU501446B1. Автор: ZHEN Yu,Fang HOU,Xueyan LI,Zhi Cheng,Yujie Meng,Yucheng Sui. Владелец: Univ Ludong. Дата публикации: 2022-08-10.

Power transmission line dip measurement method

Номер патента: EP2194623B1. Автор: Seon Ung O,Chul Won Seo,Baek Seob Sim. Владелец: KPS Co Ltd. Дата публикации: 2011-06-22.

Iron core-annular array multi-ring magnetosensitive current sensor and current measurement method

Номер патента: EP4394397A1. Автор: Li Yao,HE Li,FENG Zhou,MIN Lei,WEI Liu,Xiong Li,Tao Xiao,Siyuan Liang,Kai Zhu,Xiaodong Yin,Kui Xiong,Jicheng YU,Changxi YUE,Dengyun LI,Chunguang LU,Zili XU. Владелец: State Grid Zhejiang Electric Power Co Marketing Service Center. Дата публикации: 2024-07-03.

Resolution measurement method, resolution measurement system, and program

Номер патента: US20240121380A1. Автор: Kouichi Toda. Владелец: Leader Electronics Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Positioning measurement method and apparatus

Номер патента: US20230370995A1. Автор: Yinghao JIN,Jinping HAO,Yinghao GUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-16.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230305046A1. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-09-28.

Measuring method and device

Номер патента: EP3780276A1. Автор: Feng Li,Zhiwei Zhang,Yi Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-17.

Volume measurement method and an apparatus based on a depth camera, and a computer-readable medium

Номер патента: EP4330622A1. Автор: Shenhui Wang,Song Zhang,JIANG Yin,Chao FANG,Zhenyu Dai,Hongqing SONG,Conghan CAO,Fenping QIAN,Huanbing CHENG. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Wind field information measurement method and nacelle-based lidar

Номер патента: AU2022263477A1. Автор: Jun Zhou,Hailong Zhu,Zengli XIAO,Anqing TANG. Владелец: Nanjing Movelaser Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Radar measurement method and apparatus

Номер патента: US20220066018A1. Автор: Li Yan,Xiao Han,YAN Long,Jian Yu,Rui Du,Chenchen LIU,Meihong ZHANG,Cailian DENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-03.

Infrared thermometer and forehead temperature correction and measurement method

Номер патента: US20230061946A1. Автор: Sean R. Jackson,Shengzhou YANG. Владелец: Shenzhen Youngme Information Communication System Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Induction cooker temperature measuring method and device and readable storage medium

Номер патента: EP3693668A1. Автор: Wei Chen,Shuai Wang,Zhao Wang,Xiaohui Li,Shaohua HE. Владелец: Foshan Shunde Midea Electrical Heating Appliances Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-12.

Refractive-index distribution measuring method, refractive-index distribution measuring apparatus, method of manufacturing optical element, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20150260605A1. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-09-17.

A measuring apparatus and a measuring method of electromagnetic interference

Номер патента: EP3845914A1. Автор: Albert Miquel SANCHEZ DELGADO,Joan Ramon REGUE MORRERES,Miquel RIBÓ PAL,Francisco Javier PAJARES VEGA. Владелец: Emzer Tech Solutions S L. Дата публикации: 2021-07-07.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Temperature measurement method, apparatus, and system, storage medium, and program product

Номер патента: EP4242609A1. Автор: PING Yang,Shiliang PU,Di XIE,Chengshan Pang,Dongwei Ma. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Infrared temperature measurement method, apparatus, and device, and storage medium

Номер патента: EP4116683A1. Автор: Xiaowang CAI. Владелец: Hangzhou Hikvision Digital Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Measurement method and device of light source parameters, illumination system and terminal apparatus

Номер патента: US12058794B2. Автор: Wei Wang,Jun Wu,Yalong Liu,Zhixian ZHOU. Владелец: Suzhou Op Lighting Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220011167A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2022-01-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20190360867A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2019-11-28.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230258504A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11733103B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-22.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11169031B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2021-11-09.

Measurement method of the temperature of mechanical part of a wheel end of an automotive vehicle and corresponding device

Номер патента: US11714005B2. Автор: Damien Joucgnoux,Charlotte Vu,Kenneth C Fegely. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2023-08-01.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: US20240288313A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-08-29.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: EP3853553A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2021-07-28.

Distance measurement method using vision sensor database

Номер патента: US20170221221A1. Автор: Chang Hwan Choi,Yong Wan Park,Soo Jung HUR,Jin Seon SONG. Владелец: Industry Academic Cooperation Foundation Of Yeungnam University. Дата публикации: 2017-08-03.

Measurement method, imprint apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20240272545A1. Автор: Shinichi Shudo,Masataka Yasukawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Capacitance measurement method, system and apparatus, electronic device, and storage medium

Номер патента: US12044716B2. Автор: QIAN Xu,Xinyu Huang,BO Yang. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Ultrasound viscoelasticity measurement method and apparatus and storage medium

Номер патента: US20230131340A1. Автор: Shuangshuang LI,Jinyang Li. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Self-Adaptive Horizontal Attitude Measurement Method based on Motion State Monitoring

Номер патента: US20220326017A1. Автор: QIAN LI,Yifan Zhou,Lei Wu,Yuxin Zhao,Jiancheng Wang,Shuaiyang LI,Yueyang Ben,Guangtao Zhou,Xinle Zang,Tingxiao Wei. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2022-10-13.

Laser range finding device & distance measurement method thereof

Номер патента: US20080316464A1. Автор: Hua-Tang Liu,Yin-Long Luo,Sheng Liang,Pie-Yau Chien,Peng-Fei Song. Владелец: Asia Optical Co Inc. Дата публикации: 2008-12-25.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Speed measurement method, system, and apparatus of medium and low speed maglev train

Номер патента: US20240219417A1. Автор: Jing Shi,Jia Liu,Hui Yang,Ling Liu,Junfeng Cui,Yating FU,Zhongqi LI,Yanli Zhou,Shuaiqiang DONG. Владелец: CRSC Research and Design Institute Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Radar high-speed single-target measurement method based on double-sideband lfmcw waveform

Номер патента: LU507050B1. Автор: LI YANG,Huan ZHANG,Haiyang DONG,Jihong YAN,Jianshu ZHAI,Shunxiang WANG,Yulin Luo. Владелец: Yangtze Delta Region Institute Quzhou Univ Of Electronic Science And Technology Of China. Дата публикации: 2024-06-26.

Charge amount measurement method, shift value measurement method of charged beam, charge amount measuring device and shift value measuring device of charged beam

Номер патента: US7321232B2. Автор: Masakazu Hayashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-01-22.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: US20070120079A1. Автор: Olaf Böse,Lorenz Ring. Владелец: E>C>H> WILL GmbH. Дата публикации: 2007-05-31.

Three-dimensional optical measurement method for ropes or cables and system

Номер патента: US20220026197A1. Автор: Cristiano BONETTI. Владелец: Visiontek Engineering Srl. Дата публикации: 2022-01-27.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20240280628A1. Автор: Shigeru Nakajima,Takuma Hara,Tatsuya Ohguro,Katsura Miyashita,Yasuhisa OOMURO. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-08-22.

Plasma measurement method and plasma processing apparatus

Номер патента: US20240274417A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Noise reduction measurement method of acoustic while drilling data based on signal synchronization

Номер патента: US20240272323A1. Автор: Jian Zheng,Wenxiu ZHANG,Yuntao SUN,Fuqiang WEI. Владелец: Institute of Geology and Geophysics of CAS. Дата публикации: 2024-08-15.

Radar speed measurement method, radar, radar speed measurement device

Номер патента: US20240272296A1. Автор: Yanfeng DANG,Erxin ZHAO. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Neutron dose measurement method and apparatus

Номер патента: US20240252842A1. Автор: Chao Wang,Yuan-hao LIU. Владелец: Neuboron Therapy System Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: EP4425134A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-09-04.

Air flow compensated temperature transmitter and measuring method

Номер патента: FI20235241A1. Автор: Ilkka HYVÖNEN,Aki Ilmasti,Tommi VARILA. Владелец: Produal Oy. Дата публикации: 2024-08-29.

Three-dimensional measurement method, device, and storage medium

Номер патента: US12078475B2. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Haixiang DENG,Yizhong ZHUANG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-09-03.

Measuring device and measuring method for verifying the cut quality of a sheet

Номер патента: CA2540801A1. Автор: Olaf Boese,Lorenz Ring. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-04-14.

Measurement method and system based on interferometric synthetic aperture radar

Номер патента: WO2024175129A1. Автор: FENG Yang,WEI Liu,Weijia REN,Chaomin Chen,Shancong Zhang,Xiaoru SANG. Владелец: Beijing Palebluers Co., Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Intelligent real-time full-field measurement method and system for high-repetition-rate femtosecond pulse

Номер патента: US12095501B2. Автор: Zhongmin Yang,Xiaoming Wei,Xiaoxiao WEN,Yueyi Sun. Владелец: South China University of Technology SCUT. Дата публикации: 2024-09-17.

Non-destructive measurement method and apparatus for the turn-to-turn resistivity distribution in non-insulation superconducting coils

Номер патента: US20240302417A1. Автор: Wei Wu,Li Lu,Jianghong WAN. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2024-09-12.

Pattern shape measurement method, pattern shape measurement device, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240310167A1. Автор: Kazuki HAGIHARA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Neutron measuring system and neutron measuring method

Номер патента: EP4414750A1. Автор: Tzung-Yi Lin,Wen-Chyi Tsai. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-14.

Point cloud intensity-based tunnel brightness measurement method

Номер патента: LU505803B1. Автор: Shiyong He. Владелец: Univ Chongqing Jiaotong. Дата публикации: 2024-06-17.

Infrared thermal imaging temperature measurement method and device, storage medium and electronic apparatus

Номер патента: US20240344890A1. Автор: Zhaozao Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Position measuring method, driving control method, driving control system, and marker

Номер патента: US12125288B2. Автор: Hiroshi Nakashima,Shingo Tsukada,Toichiro GOTO. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Distance measurement method and apparatus, and distance measurement sensor and distance measurement sensing array

Номер патента: US12123978B2. Автор: Shuyu Lei. Владелец: Ningbo Abax Sensing Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Self-adaptive horizontal attitude measurement method based on motion state monitoring

Номер патента: US12061086B2. Автор: QIAN LI,Yifan Zhou,Lei Wu,Yuxin Zhao,Jiancheng Wang,Shuaiyang LI,Yueyang Ben,Guangtao Zhou,Xinle Zang,Tingxiao Wei. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2024-08-13.

Capacitance value measurement method and device

Номер патента: US20190064240A1. Автор: Yongqian Li,Xuehuan Feng. Владелец: Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2019-02-28.

Measurement method, measurement device, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20190226941A1. Автор: Fumihiko Ito,Nobuo Kuwaki,Ryo Maruyama. Владелец: Shimane University NUC. Дата публикации: 2019-07-25.

Six-degree-of-freedom displacement measurement method for exposure region on silicon wafer stage

Номер патента: US09995569B2. Автор: Feng Liu,Ming Zhang,Yu Zhu,Dengfeng Xu,Rong Cheng,Kaiming Yang,Jinchun Hu,Haihua Mu,Chuxiong Hu,Fan ZHI,Yujing SONG,Anlin CHEN. Владелец: Beijing U Precision Tech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-12.

Interferometric measurement method for angular misalignment, fiber core concentricity and end face polish angle of single fiber connectors and ferrules

Номер патента: US09983364B2. Автор: Farhad Towfiq,Anton Korniienko,Yurii Yenko. Владелец: Sumix Corp. Дата публикации: 2018-05-29.

Temperature measuring method, substrate processing system and component to be provided in substrate processing apparatus of the substrate processing system

Номер патента: US09952032B2. Автор: Chishio Koshimizu,Tatsuo Matsudo. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Torsional vibration resonance frequency measurement method for estimating stability of dental implant and novel amplitude transformer

Номер патента: US09949644B2. Автор: Dehua Li,Bing Li,Yulong Tang. Владелец: Fourth Military Medical University FMMU. Дата публикации: 2018-04-24.

Antenna attitude measurement sensor and antenna attitude measurement method

Номер патента: US09945663B2. Автор: Shijie Bi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-04-17.

Optical fiber leakage loss measurement method

Номер патента: US09933331B2. Автор: Tetsuya Hayashi,Tetsuya Nakanishi. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Biomagnetic resonance device and measuring method therefor

Номер патента: US09921280B2. Автор: Yong-Ho Lee,Kiwoong Kim,Seong-Joo Lee,Kwon-Kyu Yu. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-20.

Measuring method of low off-state current of transistor

Номер патента: US09817040B2. Автор: Atsushi Hirose,Toshihiko Takeuchi,Masashi TSUBUKU,Kazuma Furutani. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Matrix device, measurement method of characteristics thereof, and driving method thereof

Номер патента: US09797931B2. Автор: Hiroyuki Miyake,Yasuhiko Takemura. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Planar motor rotor displacement measuring device and its measuring method

Номер патента: US09766054B2. Автор: Ming Zhang,Zhao Liu,Yu Zhu,Dengfeng Xu,Kaiming Yang,Wensheng Yin,Jinchun Hu,Haihua Mu,Chuxiong Hu,Longmin Chen. Владелец: Shanghai Micro Electronics Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Real-time measurement method of laboratory space wave based on visual edge detection

Номер патента: ZA202402277B. Автор: XU Zhao,Cheng Peng,Yingqi Wang,Hanbao Chen,Songgui Chen,Huaqing ZHANG,Zhiwei Ren,Yina Wang,Chuanqi HU. Владелец: Tianjin Research Institute For Water Transp Engineering Ministry Of Transp. Дата публикации: 2024-10-30.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09719781B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Temperature measurement method for ultraviolet light transmittance member, temperature measurement device for ultraviolet light transmittance member, and light source device

Номер патента: US09671290B2. Автор: Masafumi Mizuguchi. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2017-06-06.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Distance measurement method and distance measurement apparatus

Номер патента: US12146937B2. Автор: Genming Ding,Yanong HE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Shape measuring method and shape measureing device

Номер патента: US09506748B2. Автор: Yoshitaka Ohta. Владелец: Nireco Corp. Дата публикации: 2016-11-29.

Board-warping measuring apparatus and board-warping measuring method thereof

Номер патента: US09423242B2. Автор: Liang-Pin Yu,Chi-Yang Lin,Ying-Lin PAN. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Shape measurement method, and system therefor

Номер патента: US09354049B2. Автор: Atsushi Miyamoto,Maki Tanaka,Manabu Yano,Akira Hamamatsu,Chie Shishido. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-05-31.

Ultrasonic measuring device, and ultrasonic measuring method of flow rate

Номер патента: RU2488836C2. Автор: Торальф ДИЦ,Ларс ЭМИХЕН,Джон ЛЭНСИНГ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2013-07-27.

Flow speed measuring module and respective measuring method

Номер патента: RU2321880C2. Автор: Брюс Фредерик ГРУМСТРУП,Пол Роберт АДАМС. Владелец: Фишер Контролз Интернэшнл Ллс. Дата публикации: 2008-04-10.

High-precision Measuring Device for Pre-breakdown Current of Vacuum Chamber and Measuring Method

Номер патента: NL2026660B1. Автор: Yang Wei,WU Fangfang,Li Shimin,Du Zhaoqi,Zhang Chaohai. Владелец: Zhejiang Huadian Equipment Testing Inst Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-01.

Impedance measurement method and impedance measurement device

Номер патента: US8253421B2. Автор: Ryuichi Oikawa. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2012-08-28.

Measurement method, non-transitory computer-readable medium and measurement apparatus

Номер патента: US20200271708A1. Автор: Kazuhiko Kobayashi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Online measurment method for temperature stability of production layer in oil and gas well, system and storage medium

Номер патента: US11905822B2. Автор: Yuehua Chen,Shuai GUAN,Zhihua GE,Chuntao SONG,Wuhua ZHOU. Владелец: Guoxing Huijin Shenzhen Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-20.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Measurement method and measurement device

Номер патента: US20220375066A1. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa,Yuki Maruyama. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

Gigahertz transverse electromagnetic (gtem) cell for measuring insertion loss and insertion loss measurement method using the gtem cell

Номер патента: US20180188303A1. Автор: Jong Hwa Kwon,Jung Hwan Hwang. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2018-07-05.

Color measurement method

Номер патента: US20020071120A1. Автор: Kiyomi Tamagawa. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2002-06-13.

Three-dimensional measuring system, and three-dimensional measuring method

Номер патента: US20210293519A1. Автор: Hitoshi Tamura,Yoichi Togawa,Kento Kurihara,Tomotaka Yamagata. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Optical fiber curvature measuring method

Номер патента: US9057603B2. Автор: Hiroshi Oyamada. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-16.

Measurement method, measurement device, and recording medium

Номер патента: US20200265635A1. Автор: Naofumi ENDO. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2020-08-20.

Dual-beam fmcw distance measuring method having compensation of a velocity-dependent distance measurement error

Номер патента: US20190377089A1. Автор: Marcel Rohner. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2019-12-12.

Integrating sphere photometer spectral response measurement method and system

Номер патента: US20230408330A1. Автор: QIAN LI,Yan Huang,Jiangen PAN,Zhijiang MAO. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-21.

Process Quantity Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20080105061A1. Автор: Junichi Okada,Shuichi Umezawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-05-08.

Body temperature measurement method, electronic device, and storage medium

Номер патента: US20230263399A1. Автор: Xiaofang Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-24.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20240241227A1. Автор: Takuya Yokoyama,Takahiro Kado. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement method using interferometer and non-transitory tangible medium storing its program

Номер патента: US20130204576A1. Автор: Hiroshi Okuda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-08-08.

Rotor dynamic balance measurement method based on high-precision clock sampling

Номер патента: ZA202402971B. Автор: Cheng Gong,Zhuang Ma,Zhaomin Jia,Yali Xue. Владелец: Univ Tangshan. Дата публикации: 2024-05-30.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20240200935A1. Автор: Chung-Lun Kuo,Chih-Hsiang Liu,Hsiang-Chun Wei,Chun-Wei Lo. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Temperature sensor, wearable device comprising temperature sensor, core temperature measurement method using temperature sensor

Номер патента: EP4265176A1. Автор: Sung Jun Hong,Byung Jun Park,Min Suk Lee,Seung Rag Lee,Byung Yeun KIM. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-10-25.

Temperature sensor, wearable device comprising temperature sensor, core temperature measurement method using temperature sensor

Номер патента: US20230414108A1. Автор: Sung Jun Hong,Byung Jun Park,Min Suk Lee,Seung Rag Lee,Byung Yeun KIM. Владелец: OSONG MEDICAL INNOVATION FOUNDATION. Дата публикации: 2023-12-28.

Measuring method and measuring station to determine the volume of liquid product contained in a disposable cartridge for smoking articles

Номер патента: EP3746751A1. Автор: Luca Federici,Gianpietro LAMBORGHINI. Владелец: GD SpA. Дата публикации: 2020-12-09.

Self diagnostic measurement method to detect microbridge null drift and performance

Номер патента: WO2009032593A2. Автор: Lamar F. Ricks,Paul P. Bey. Владелец: HONEYWELL INTERNATIONAL INC.. Дата публикации: 2009-03-12.

Human Body Composition Measurement Method and Apparatus

Номер патента: US20240008760A1. Автор: Bin Yang,Shanshan Ma,Huichao REN,Shuai ZHAO,Jianhua Guo,Lian WU,Jilong YE,Junjin LI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230115893A1. Автор: Kumiko Mahara. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Three-dimensional measuring method and system

Номер патента: US20020118274A1. Автор: Akira Yahashi. Владелец: Minolta Co Ltd. Дата публикации: 2002-08-29.

Temperature measurement method of honeycomb formed body, and temperature measurement device

Номер патента: US20180257289A1. Автор: Takeshi Tokunaga. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Solid sample nuclear magnetic resonance measuring method

Номер патента: EP1772741A4. Автор: Iwao Miura,Masahiro Miyake. Владелец: Otsuka Pharmaceutical Co Ltd. Дата публикации: 2008-12-31.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US11823405B1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-11-21.

Measurement Method, Sensor Device, And Inertial Measurement Device

Номер патента: US20230243865A1. Автор: Yoshiyuki Matsuura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Measurement method and non-contact displacement detection apparatus thereof

Номер патента: US20240255639A1. Автор: Shih-Ying Hsu,Min HSU. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Measurement method for solar cell module

Номер патента: EP4191867A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Measurement method for photovoltaic module

Номер патента: US20230299716A1. Автор: Masaya Takahashi,Daisuke Nishimura,Yusuke Miyamichi,Shinnosuke Ushio,Keita Kurosu,Motoki Shibahara. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Full-path circuit delay measurement device for field-programmable gate array (FPGA) and measurement method

Номер патента: US11762015B2. Автор: Yajun Ha,Weixiong JIANG. Владелец: ShanghaiTech University. Дата публикации: 2023-09-19.

Optical distance measurement device and optical distance measurement method

Номер патента: US20210396881A1. Автор: Shunji Maeda. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2021-12-23.

Power supply noise measuring circuit and power supply noise measuring method

Номер патента: US20080218195A1. Автор: Mikihiro Kajita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2008-09-11.

Measurement method, measurement device, measurement system, and measurement program

Номер патента: US11761812B2. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

Temperature measuring method using micro temperature sensing element

Номер патента: EP1640695B1. Автор: Yoshio Nat. Inst. for Materials Science BANDO,Yihua c/o Nat. Inst. for Materials Science GAO,Zongwen Nat. Inst. for Materials Science LIU,Dmitri Nat. Inst. for Materials Science GOLBERG. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2011-08-10.

Wire voltage measurement method and apparatus based on electric field sensor

Номер патента: US11774484B1. Автор: Xu Yin,Peng Li,Zhiming Wang,Bing Tian,Qiancheng Lv,Renze CHEN,Zejie Tan,Zhenheng Xu,Licheng Li,Shaoxiong Nie. Владелец: Digital Grid Research Inst China South Pwr Grid. Дата публикации: 2023-10-03.

Length measurement method for conical workpiece based on dual displacement sensors

Номер патента: US12050097B2. Автор: Lei Yan,Tian Bai,Xiaosan Wang,Yinxiao MIAO,Fengju SUN,Qigang HUANG,Ruidong HUO,Yilin DAI,Junhong TIAN. Владелец: Beijing Aerospace Institute for Metrology and Measurement Technology. Дата публикации: 2024-07-30.

Measurement method

Номер патента: US20130103346A1. Автор: Yasushi Iwasaki,Masaki Hosoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-04-25.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Microwave flowmeter and flow rate measurement method

Номер патента: US20190154478A1. Автор: Chia-Ming Hsu,Ching-Lung Yang. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2019-05-23.

Magnetostrictive liquid level meter and liquid level measurement method thereof

Номер патента: US20220128393A1. Автор: Yang Xia,Zhongying Yang,Xiushan HU. Владелец: Beijing Connetech Electronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-28.

A measuring device and measuring method with multiple display

Номер патента: US20160069932A1. Автор: Matthias Keller,Wolfgang Wendler. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-03-10.

Volume measurement method and apparatus based on time-of-flight depth camera

Номер патента: EP4141380A1. Автор: Chi Zhang,Hongfeng Zhang,Zenghui LIU,Weizhong Zhang,Cuimei Yuan. Владелец: Weihai Innovation Institute Qingdao University. Дата публикации: 2023-03-01.

Size measuring method and device

Номер патента: US20040098221A1. Автор: Shozo Katamachi. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2004-05-20.

Online measurment method for temperature stability of production layer in oil and gas well, system and storage medium

Номер патента: US20220010663A1. Автор: Yuehua Chen,Shuai GUAN,Zhihua GE,Chuntao SONG,Wuhua ZHOU. Владелец: Guoxing Huijin Shenzhen Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-13.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Self diagnostic measurement method to detect microbridge null drift and performance

Номер патента: US20090056410A1. Автор: Lamar F. Ricks,Paul P. Bey. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2009-03-05.

Self diagnostic measurement method to detect microbridge null drift and performance

Номер патента: WO2009032593A3. Автор: Paul P Bey,Lamar F Ricks. Владелец: Lamar F Ricks. Дата публикации: 2009-04-30.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

F-p sensor probe, absolute distance measurement device, and absolute distance measurement method

Номер патента: US20240264285A1. Автор: Xiangang Luo,Yanqin WANG,Chengwei ZHAO,Changtao WANG,Tiancheng GONG,Guiyuan JIA,Yanwu CHU. Владелец: Institute of Optics and Electronics of CAS. Дата публикации: 2024-08-08.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Battery controller and battery level measurement method thereof

Номер патента: US11750005B2. Автор: Chin-Ming Chen,Mu-Min LIN,Cheng-Chien Huang. Владелец: Delta Electronics Inc. Дата публикации: 2023-09-05.

Three-dimensional measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230401730A1. Автор: Jian Gao,Xin Chen,Yun Chen,Lanyu Zhang,Zhuojun Zheng,Haixiang DENG. Владелец: GUANGDONG UNIVERSITY OF TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-12-14.

Measuring method

Номер патента: US20230119864A1. Автор: Yu-Tai Li,Teng-Chun Wu,Cheng-Yu Peng,Cho-Fan Hsieh,Kao-Chi Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2023-04-20.

Contour accuracy measuring system and contour accuracy measuring method

Номер патента: US20200326185A1. Автор: Yu-Sheng Tseng,Tsung-Yu Yang,Chien-Yi Lee,Po-Hsun Wu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2020-10-15.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US10935661B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Built-in gap measuring device and gap measurement method

Номер патента: US20240102788A1. Автор: Qi Yu,CHAO Gao,Zhiwei Wang,Yuxin Li,Jie Yu,Jianshu OUYANG. Владелец: China Three Gorges Corp. Дата публикации: 2024-03-28.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product for a stereoscopic display

Номер патента: US20140160469A1. Автор: Yu-Han Chen,Kuen Lee,Kuo-Chung Huang,Ching-Chiu Liao,Wen-Hui Chang,Hoang-Yan Lin,Lang-Chin Lin,Yi-Heng Chou. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2014-06-12.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Geoid measurement method, geoid measurement apparatus, geoid estimation device, and geoid calculation data collection device

Номер патента: US20210199435A1. Автор: Atsushi Tanaka,Toshiyuki Hosoya,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2021-07-01.

Optical wavelength measuring device using absorption-type optical fiber-based multiple optical fiber filter module, optical sensor system having the same, and optical measurement method

Номер патента: US20240280412A1. Автор: Chang Won Lee,Bok Hyeon KIM. Владелец: GWANGJU INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-08-22.

Internal resistance measurement method for power supplies like batteries or supercapacitors

Номер патента: WO2017111751A1. Автор: Ramazan Nejat TUNCAY,Parviz HASANOGLU ALI ZADA,Salih Baris Ozturk,Omer Cihan KIVANC. Владелец: Okan Universitesi. Дата публикации: 2017-06-29.

Measuring method

Номер патента: US20230243639A1. Автор: Yasukuni NOMURA. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2023-08-03.

Magnetic scale device, position measuring device and position measuring method

Номер патента: EP4235107A2. Автор: Felix Grimm,Zhaoyang Ding. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-30.

NMR measurement method and apparatus for same

Номер патента: US20060158186A1. Автор: Shuya Hagiwara,Minseok Park,Hideta Habara. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2006-07-20.

Capacitance measurement method employing floating gate of semiconductor device

Номер патента: US20080059090A1. Автор: Jong Min Kim. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2008-03-06.

Error measurement device of linear stage and error measurement method of linear stage

Номер патента: US20210335643A1. Автор: Chien-sheng Liu,Jie-Yu ZENG. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2021-10-28.

Micro-displacement measurement system having picometer scale resolution and measurement method

Номер патента: US20240151558A1. Автор: XIN Ran,Wei Zhou,Fangfang Liu,Xinyang Liu,Hongli Li,Haojie Xia. Владелец: Hefei University of Technology. Дата публикации: 2024-05-09.

Package structure and measurement method for the package structure

Номер патента: US20240263938A1. Автор: Kuei-Sung CHANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-08.

Neutron measuring method and neutron measuring device

Номер патента: US20240255654A1. Автор: Chun-Kai Huang. Владелец: Heron Neutron Medical Corp. Дата публикации: 2024-08-01.

Dose measuring device for the measurement of a radiation dose and measurement method for determining the radiation dose applied during pasteurization and/or sterilization of particulate material

Номер патента: US20240004089A1. Автор: Georgios AKEPSIMAIDIS. Владелец: BUEHLER AG. Дата публикации: 2024-01-04.

Optical fiber measurement system, optical fiber measurement method, control arithmetic device, and program

Номер патента: US20230332980A1. Автор: Atsushi Nakamura,Daisuke Iida,Tomokazu Oda,Yusuke Koshikiya,Nazuki HONDA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Vertical-height gauge and measuring method

Номер патента: US20240302154A1. Автор: Chun Li,Xiaoyu Wang,Xiaole Wang. Владелец: Anhui Agricultural University AHAU. Дата публикации: 2024-09-12.

Positioning measurement method and apparatus therefor

Номер патента: US20240314729A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Measuring device of internal dimensions of wheel rims for mounting disk brake callipers, kit for measuring and relative measuring method

Номер патента: WO2009040835A1. Автор: Alessandro Zanini,Andrea Matti. Владелец: FRENI BREMBO, S.p.A.. Дата публикации: 2009-04-02.

Distance measuring method based on moving coordinate positioning and portable terminal device

Номер патента: US12092481B2. Автор: Yu Tang,Xuan Rao,Haotian NIU. Владелец: Guangdong Coros Sports Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Geoid measurement method, geoid measurement apparatus, geoid estimation device, and geoid calculation data collection device

Номер патента: EP3786579A1. Автор: Atsushi Tanaka,Toshiyuki Hosoya,Ryotaro INOUE,Mikio KOZUMA. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2021-03-03.

Six-degrees-of-freedom displacement measurement method and apparatus

Номер патента: EP4411316A1. Автор: Lili Shi,Mingli Dong,Sijin WU,Weixian Li. Владелец: Beijing Information Science and Technology University. Дата публикации: 2024-08-07.

Microfluidic chip, temperature measurement method using the same, and analysis device using the same

Номер патента: US20240293810A1. Автор: LI YANG,Yue Li,Le Gu,Bolin FAN,Qiuxu WEI. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Measurement method and apparatus for global navigation satellite system (gnss)

Номер патента: EP4451015A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Wearable electronic apparatus, body temperature measurement method, and wearable electronic device

Номер патента: US20240315569A1. Автор: Yi Liu,Chenlong Li,Chao Yao,Lipeng QI. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Measuring system and measuring method of antenna pattern based on near field to far field transformation

Номер патента: US20240329108A1. Автор: Chang-Fa Yang,Wen-Jiao Liao,Chang-Lun Liao,yuan-chang Hou,Bo-Cheng YOU,You-Hua Lin,Jiahn-Wei Lin,De-Xian Song,Tswen-Jiann Huang. Владелец: Chunghwa Telecom Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

Probe apparatus, and measurement method and measurement system of junction resistance of superconducting qubit

Номер патента: US20240329162A1. Автор: Fu Zhang,HUI Zhang,Yao Liu,Yongjie Zhao,Xiansheng JIN. Владелец: Origin Quantum Computing Technology Hefei Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

New energy vehicle, vehicle-mounted charging device, temperature measurement circuit, and temperature measurement method

Номер патента: EP4443121A1. Автор: Chao Wang. Владелец: Changchun Jetty Automotive Parts Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Volume measurement method and an apparatus based on a depth camera, and a computer-readable medium

Номер патента: US20240362812A1. Автор: Shenhui Wang,Song Zhang,JIANG Yin,Chao FANG,Zhenyu Dai,Hongqing SONG,Conghan CAO,Fenping QIAN,Huanbing CHENG. Владелец: Mettler Toledo Changzhou Precision Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Self-moving device and distance measuring method thereof

Номер патента: US12105516B2. Автор: Jiajia Sun. Владелец: Dreame Innovation Technology Suzhou Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Micro Focal-Length Collimation Based Micro-Cavity Measuring Method And Detecting Equipment Thereof

Номер патента: US20120019839A1. Автор: Fei Wang,Jiubin Tan,Jiwen Cui. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2012-01-26.

Lidar measuring method and device with sub-pulses produced by birefringence in the laser resonator

Номер патента: US20240353541A1. Автор: Jens Ebbecke. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-10-24.

Sea surface temperature measurement method

Номер патента: AU2021106031A4. Автор: Bin Tian,Wenbo BO,Hao CHA,Dongli DENG,Mengda CUI. Владелец: Pla Naval Engineering Univ. Дата публикации: 2021-10-28.

Measurement method using synchronization signal block, terminal device, and base station

Номер патента: US12069599B2. Автор: Lei Chen,Hong Wang,Bin Xu,Zonghui XIE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Strapdown inertial navigation heave measurement method using multiple low-pass filter units

Номер патента: US12061087B2. Автор: QIAN LI,Lei Wu,Yuxin Zhao,Qianqian GAO,Shuaiyang LI,Xiaofeng Wei,Yueyang Ben,Guangtao Zhou,Tingxiao Wei. Владелец: Harbin Engineering University. Дата публикации: 2024-08-13.

Quantum receiver using square of homodyne detection for target detection of quantum radar and measurement method therefor

Номер патента: US12050263B2. Автор: SuYong LEE,Sangkyung Lee,Yonggi JO,Yongsup IHN,Zaeill KIM. Владелец: Agency for Defence Development. Дата публикации: 2024-07-30.

Inner layer measurement method and inner layer measurement device

Номер патента: US09977229B2. Автор: Hirotoshi Oikaze,Yohei Takechi,Yasuhiro Kabetani,Tomotaka Furuta. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US09977129B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Ultrasonic measurement system and measurement method thereof

Номер патента: US09976885B2. Автор: Shuguang Zhang,Jinhui Huang,Xiongbing Kang. Владелец: AUDIOWELL ELECTRONICS (GUANGDONG) Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

TFT device for measuring contact resistance and measurement method for contact resistance

Номер патента: US09970978B1. Автор: Bo Sun,Xiaoling Zou. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Measurement target measuring program, measurement target measuring method, and magnifying observation device

Номер патента: US09970745B2. Автор: Shinya Takahashi,Kazuki Natori. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Single-camera system for measuring a vehicle distance and measurement method thereof

Номер патента: US09964406B2. Автор: Songwei Lin,Gang LONG. Владелец: Protruly Vision Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Supplying-end module of induction type power supply system and voltage measurement method thereof

Номер патента: US09960639B2. Автор: Ming-Chiu TSAI,Chi-Che Chan. Владелец: Fu Da Tong Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Noninvasive measuring method for rapid temperature variation under DC excitation magnetic field

Номер патента: US09958342B2. Автор: Pu Zhang,Wenbiao XU,Wenzhong Liu,Chuliang RUAN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2018-05-01.

Ultraviolet index measuring method and apparatus

Номер патента: US09952093B2. Автор: Dong-Hoon Lee,Seongchong Park,Dong-Joo Shin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-04-24.

Probe system, mixed primary reference probe for an aircraft, associated aircraft and measuring method

Номер патента: US09927456B2. Автор: Jean-Pierre Schlotterbeck,Jacques Mandle,Bernard Ledain,Gilles Genevrier. Владелец: Thales SA. Дата публикации: 2018-03-27.

Thickness measuring apparatus and thickness measuring method

Номер патента: US09927224B2. Автор: Jae-Yong Lee,Jae-Wan Kim,Jong-ahn Kim,Jae-Heun Woo. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2018-03-27.

Interferometric measurement method for end face surface angle of multi-fiber ferrules and connectors

Номер патента: US09915525B2. Автор: Farhad Towfiq. Владелец: Sumix Corp. Дата публикации: 2018-03-13.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic imaging apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09910140B2. Автор: Masaki Hayashi,Kenji Murakami,Kazuyuki Kano,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Curved battery cell thickness measuring device including low measuring pressure calipers and curved battery cell thickness measuring method using same

Номер патента: EP4450915A1. Автор: Min Jung Kim,Dong Hun SONG. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Interferometric measurement method for guide holes and fiber holes parallelism and position in multi-fiber ferrules

Номер патента: US09829409B2. Автор: Farhad Towfiq. Владелец: Sumix Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Measuring method and measuring instrument

Номер патента: US09797719B2. Автор: Nobuyuki Nishita. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Device for measuring the angular positions of a rotorcraft blade element relative to a rotor hub, an associated rotor, and a corresponding measurement method

Номер патента: US09784572B2. Автор: Julien HOCQUETTE. Владелец: Airbus Helicopters SAS. Дата публикации: 2017-10-10.

Lens power measurement device and measurement method

Номер патента: US09778136B2. Автор: Hiroaki Suzuki,Atsushi Kobayashi. Владелец: Menicon Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Cross-sectional profile measuring method

Номер патента: US09739607B2. Автор: Hirokazu Michiwaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Multi-beam current quantity measuring method, multi-charged particle drawing control device, and multi-charged particle beam drawing device

Номер патента: US09734984B2. Автор: Hideyuki Iwata. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Neutron monitor device and neutron measurement method

Номер патента: US09733369B2. Автор: Toshiharu Takahashi,Isao Murata,Shuhei Kuri,Sachiko Doi,Hiroshi Horiike,Eiji Hoashi. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Mechatronics Systems Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Distance measuring method and equipment using optical signal

Номер патента: US09709669B2. Автор: Tae Min Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-18.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US09704237B2. Автор: Eiji Takahashi,Kaname ARAKI. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 2017-07-11.

Contour measurement apparatus and contour measurement method for measuring contour of poultry carcass, and deboning device for poultry carcass

Номер патента: US09700060B2. Автор: Noriyuki Inoue,Noriyuki Takahashi,Shinji HANE,Kenichi Oka,Koji TAKANASHI,Naoki Toyoda,Hiroyuki SAKURAYAMA. Владелец: Mayekawa Manufacturing Co. Дата публикации: 2017-07-11.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: US09689970B2. Автор: Auguste D'aligny. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2017-06-27.

Interferometric distance measuring method for measuring surfaces, and such a measuring arrangement

Номер патента: US09677870B2. Автор: Thomas Jensen. Владелец: HEXAGON TECHNOLOGY CENTER GMBH. Дата публикации: 2017-06-13.

Absolute position measurement method, absolute position measurement apparatus and scale

Номер патента: US09651403B2. Автор: Jae-Wan Kim,Tae-Bong Eom,Jong-ahn Kim,Chu-Shik Kang,Jong-Han Jin. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-05-16.

Magnetic field probe, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09606198B2. Автор: Yien-Tien CHOU,Hsin-Chia Lu. Владелец: National Taiwan University NTU. Дата публикации: 2017-03-28.

Semiconductor device and measurement method

Номер патента: US09606007B2. Автор: Yosuke IWASA. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Distance measuring methods

Номер патента: US09605955B2. Автор: Richard Day,Auguste D'aligny,Yuri P. Gusev. Владелец: Trimble 3D Scanning. Дата публикации: 2017-03-28.

Error measuring method of gear

Номер патента: US09588014B2. Автор: Ming-Hung Chang,Yi-Cheng Chen. Владелец: National Central University. Дата публикации: 2017-03-07.

Gonio-spectroradiometer and measuring method thereof

Номер патента: US09587984B2. Автор: Dong-Hoon Lee,Seongchong Park,Chul-Woung Park,Seung-Nam PARK. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-03-07.

Profile gauge, measuring device equipped with the profile gauge, and measurement method

Номер патента: US09575483B2. Автор: Edgar WEPPELMANN,Juergen Kreschel. Владелец: Gleason Pfauter Maschinenfabrik GmbH. Дата публикации: 2017-02-21.

Spatiotemporally resolved far-field pulse contrast measuring method and device

Номер патента: US09574946B2. Автор: Peng Yuan,Jing Wang,Guoqiang Xie,Dianyuan Fan,Jingui Ma,Yongzhi Wang,Liejia Qian. Владелец: Shanghai Jiaotong University. Дата публикации: 2017-02-21.

Measurement device and measurement method for measuring the thickness of a panel-shaped object

Номер патента: US09528811B2. Автор: Alfred Haselboeck,Thomas Denkmeier,Michael Auzinger. Владелец: Trumpf Maschinen Austria GmbH and Co KG. Дата публикации: 2016-12-27.

Surface temperature measuring apparatus and surface temperature measuring method

Номер патента: US09523611B2. Автор: Chihiro Uematsu,Yutaka Wakasu,Tatsuro Honda. Владелец: Nippon Steel and Sumitomo Metal Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Brillouin optoelectronic measurement method

Номер патента: US09500560B2. Автор: SANGHOON Chin. Владелец: OMNISENS SA. Дата публикации: 2016-11-22.

Tank liquid depth measurement method using a pressure sensor

Номер патента: US09494457B2. Автор: Ming-Hong Lin,Yu-Tao YU. Владелец: Cub Elecparts Inc. Дата публикации: 2016-11-15.

Measurement method, measurement apparatus, and computer program product

Номер патента: US09448121B2. Автор: Sheng-Tsai Wu,Ming-Ji Dai,Heng-Chieh Chien,Jing-Yi Huang,Huey-Lin Hsieh. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2016-09-20.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09383726B2. Автор: Akihiro OOSHIMA,Tomohito NOUNO. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2016-07-05.

Standard light source having restriction portion for diffuse reflection and measurement method

Номер патента: US09377352B2. Автор: Kazuaki Ohkubo. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-28.

Liquid mass measuring method by the chamber liquid mass meter and its measurement chamber

Номер патента: RU2656279C1. Автор: Виктор Иванович Чудин,Петр Владимирович Ушков,Олег Валентинович Жиляев. Владелец: Научно-производственное общество с ограниченной ответственностью "Новые технологии эксплуатации скважин" (ООО НПО "НТЭС"). Дата публикации: 2018-06-04.

Ultrasonic flow rate measurement method for liquids and gases

Номер патента: RU2583127C1. Автор: Алексей Андреевич Калмыков,Михаил Владимирович Ронкин. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Акунар". Дата публикации: 2016-05-10.

Method of calculating the three-dimensional coordinates of the aircraft by the range-measurement method with the location of stations with known coordinates on non-mountainous terrain

Номер патента: RU2686847C1. Автор: Виктор Григорьевич Маркин,Владимир Андреевич Шуваев,Евгений Михайлович Красов. Владелец: Акционерное общество научно-внедренческое предприятие "ПРОТЕК". Дата публикации: 2019-05-06.

Measurement method of transmitting function of radio engineering linear stationary system

Номер патента: RU2645913C1. Автор: Николай Викторович Ильин,Виталий Викторович Хахинов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт солнечно-земной физики Сибирского отделения Российской академии наук (ИСЗФ СО РАН). Дата публикации: 2018-02-28.

Located at big elevation angles radar targets elevation angle measuring method

Номер патента: RU2674007C1. Автор: Андрей Викторович Быков. Владелец: Андрей Викторович Быков. Дата публикации: 2018-12-04.

Extended precision electric field strength measurement method

Номер патента: RU2733100C1. Автор: Сергей Владимирович Бирюков,Евгений Григорьевич Глуховеря. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Омский государственный технический университет" (ОмГТУ). Дата публикации: 2020-09-29.

Railway wheel profile measurement method and device for implementation thereof

Номер патента: RU2740539C1. Автор: Сергей Алексеевич Бехер,Артем Антонович Попков,Антон Сергеевич Кочетков,Татьяна Викторовна Игумнова,Анатолий Анатольевич Больчанов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Сибирский государственный университет путей сообщения" (СГУПС). Дата публикации: 2021-01-15.

Optical film thickness measurement method, film formation method, and semiconductor laser fabrication method

Номер патента: US5724145A. Автор: Takeo Kaneko,Katsumi Mori,Takayuki Kondo. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1998-03-03.

Plant planting data measuring method, working route planning method, device and system

Номер патента: AU2019238712A1. Автор: Shuangliang DAI. Владелец: Guangzhou Xaircraft Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Fiber-optic current transformer based on nitrogen-vacancy (NV) centers in diamond, and measurement method

Номер патента: US11747370B2. Автор: Bowen Zhao,Shaochun Zhang. Владелец: Anhui Guosheng Quantum Technology Co ltd. Дата публикации: 2023-09-05.

Inverse-contour machining to eliminate residual stress distortion

Номер патента: EP2984596A1. Автор: Robert T. SIMON,Kris E. GREGORY,Thomas HORSTMAN. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2016-02-17.

Copper residual stress relaxation reduction means for hard disk drive slider gimbals

Номер патента: US20120229934A1. Автор: Visit Thaveeprungsriporn,Martin John Mccaslin,Alex Enriquez Cayaban,Jason Aquinde Gomez. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2012-09-13.

Method of constructing high-frequency vibratory stress relief device for eliminating residual stress of small work-piece

Номер патента: US12128504B2. Автор: PING Wang,Siqi Wang,Xiong HU,Zhipeng HUO,Jiayi Zhuang,Zhongshan WANG,Haoran Wu,Bangping Gu. Владелец: Shanghai Maritime University. Дата публикации: 2024-10-29.

Quick analysis of residual stress and distortion in cast aluminum components

Номер патента: US20150356402A1. Автор: Zhiqiang Gao,Qigui Wang,Yucong Wang,Zhibin Quan. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2015-12-10.

Inverse-contour machining to eliminate residual stress distortion

Номер патента: US09996075B2. Автор: Robert T. SIMON,Kris E. GREGORY,Thomas HORSTMAN. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2018-06-12.

Quick analysis of residual stress and distortion in cast aluminum components

Номер патента: US09489620B2. Автор: Zhiqiang Gao,Qigui Wang,Yucong Wang,Zhibin Quan. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2016-11-08.

Electro-vibration Coupled Stress Relief System and Method for Eliminating Residual Stress Using the Same

Номер патента: US20240279765A1. Автор: Yongli Hu,Xiong HU,Zilin Zhang,Zidi Jin,Bangping Gu,Liqiang GAO,Jingshu Zhuo,Chuanxiao Yang,Junshuo Wang. Владелец: Shanghai Maritime University. Дата публикации: 2024-08-22.

Method for estimating a residual stress field in a workpiece during machining and machining process using said method

Номер патента: US20240111277A1. Автор: Guénaël GERMAIN,Mathieu RITOU,Hugo CHABEAUTI,Frédéric Ortmans,Bruno Lavisse. Владелец: AIRBUS OPERATIONS SAS. Дата публикации: 2024-04-04.

Residual stress improvement method and residual stress improvement apparatus

Номер патента: US20230207147A1. Автор: Jun Okada,Masanori Goto,Donghui Ma. Владелец: Hitachi Zosen Corp. Дата публикации: 2023-06-29.

Simulation techniques for determining deformation profiles and residual stresses in molded parts having composite materials

Номер патента: EP3879424A1. Автор: Purushottham Gautham BASAVARSU,Amit Gangadhar Salvi,Yagnik Pravinchandra KALARIYA. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2021-09-15.

Modeling thermal and mechanical cancellation of residual stress from hybrid additive manufacturing by laser peening

Номер патента: US20240169115A1. Автор: Mehrdad Negahban,Michael Patrick Sealy,Guru Charan Reddy Madireddy. Владелец: NuTech Ventures Inc. Дата публикации: 2024-05-23.

Simulation techniques for determining deformation profiles and residual stresses in molded parts having composite materials

Номер патента: US20210294937A1. Автор: Purushottham Gautham BASAVARSU,Amit Gangadhar Salvi,Yagnik Pravinchandra KALARIYA. Владелец: Tata Consultancy Services Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

Image processing apparatus, stress measuring method and non-transitory recording medium

Номер патента: US10602949B2. Автор: Ichiro Bessho. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-03-31.

Microstructured optical fibre with selectively enlarged spaces of reduced refraction index, especially for the generation of nonlinear effects and stress measurements

Номер патента: EP3105623A1. Автор: Marek Napierala,Lukasz Szostkiewicz,Tomasz Nasilowski,Tadeusz Tenderenda,Michał MURAWSKI,Łukasz OSTROWSKI,Michał SZYMAŃSKI,Zbigniew Holdynski,Katarzyna Joanna Pawlik,Mateusz Slowikowski,Karol Stepien. Владелец: Polskie Centrum Fotoniki I Swiatlowodow. Дата публикации: 2016-12-21.

Microstructured optical fibre with selectively enlarged spaces of reduced refraction index, especially for the generation of nonlinear effects and stress measurements

Номер патента: US20160327736A1. Автор: Marek Napierala,Lukasz Szostkiewicz,Tomasz Nasilowski,Tadeusz Tenderenda,Michał MURAWSKI,Łukasz OSTROWSKI,Michał SZYMAŃSKI,Zbigniew Holdynski,Katarzyna Joanna Pawlik,Mateusz Slowikowski,Anna Katarzyna Ziolowicz. Владелец: Polskie Centrum Fotoniki I Swiatlowodow. Дата публикации: 2016-11-10.

Sensor device for reading information on a golf throw and a measurement method using a system

Номер патента: RU2736259C1. Автор: Джи Хван КВОН,Донг Джин ХУР. Владелец: Голфзон Ко., Лтд.. Дата публикации: 2020-11-12.

Measurement method and apparatus for semiconductor features with increased throughput

Номер патента: EP4453654A1. Автор: Thomas Korb,Jens Timo NEUMANN,Eugen Foca,Oliver Malki,Alex Buxbaum,Johannes Persch,Alexander Freytag,Dmitry Klochkov,Amir Avishai. Владелец: CARL ZEISS SMT GMBH. Дата публикации: 2024-10-30.

Overlay measurement method, semiconductor device manufacturing method using the same, and overlay measurement apparatus

Номер патента: US20230074537A1. Автор: Jaeil LEE,Kyoungcho Na. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-03-09.

Method for training binding affinity measurement model, and binding affinity measurement method

Номер патента: EP4401008A1. Автор: Shaoyong XU. Владелец: Tencent Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement method, conveyance method, article manufacturing method, conveyance apparatus, and lithography apparatus

Номер патента: US20240282642A1. Автор: Koichi Tamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Optic measuring system, and measuring method of critical size of nanostructures on flat surface

Номер патента: RU2481555C1. Автор: Михаил Николаевич Рычагов,Максим Владимирович Рябко,Сергей Николаевич Коптяев. Владелец: Корпорация "САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС Ко., Лтд.". Дата публикации: 2013-05-10.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: AU2022418482A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-23.

Precision three-dimensional pavement faulting measurement method and apparatus

Номер патента: CA3238222A1. Автор: Hong Lin,HUI Li,Yi Lu,Min Cao,Xinlin Wang,Xuan QU,Xiuwen HU. Владелец: Wuhan Optics Valley Zoyon Science And Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Measurement method and device of near-eye display

Номер патента: US20240310626A1. Автор: QIAN LI,Li Song,Jiangen PAN. Владелец: Hangzhou Everfine Photo E Info Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Dimensional measurement method based on deep learning

Номер патента: US20230061004A1. Автор: Kedao Wang. Владелец: Unitx Inc. Дата публикации: 2023-03-02.

Measuring method and system for body-shaped data

Номер патента: US20240202931A1. Автор: Ming-Yen Chen,Yu-Chi LU,Cheng-Hsuan Cheng,Po Hsuan HSIAO,Chang Hong LIN,Hsin-Yeh Yang. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Overlay measurement method and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US20240219845A1. Автор: Jeongjin Lee,Jinsun KIM,Seunghak Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-04.

Measuring method and system for structured light 3d scanning

Номер патента: LU503375B1. Автор: QIN Qin,Long CAO,Wenchen Li,Zimei Tu. Владелец: Univ Shanghai Polytech. Дата публикации: 2023-07-19.

Resonance-frequency measuring method determining a resonance frequency by counting the number of off-track occurrences

Номер патента: US20040196053A1. Автор: Tatsuhiko Kosugi,Shuichi Hashimoto,Yoshiyuki Kagami,Ryuki Kubohara,Takeyori Hara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2004-10-07.

Physical Property Measuring Method for TFT Liquid Crystal Panel and Physical Property Measuring Apparatus for TFT Liquid Crystal Panel

Номер патента: US20120242353A1. Автор: Takashi Kurihara,Kunihiko Sasaki,Masaru Inoue,Yasuhiro Kume. Владелец: Toyo Corp. Дата публикации: 2012-09-27.

Grayscale measurement method and apparatus

Номер патента: GB2614973A. Автор: ZHANG Yue,Yang Cheng,CONG Hongchun. Владелец: Xian Novastar Electronic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-26.

Pattern Measuring Method, Pattern Measuring Tool and Computer Readable Medium

Номер патента: US20190378679A1. Автор: Makoto Suzuki,Shunsuke Mizutani,Uki Ikeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2019-12-12.

Three dimension measurement method, three dimension measurement program and robot device

Номер патента: EP2795577A1. Автор: Hiroshi Kitajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-10-29.

Resonance-frequency measuring method determining a resonance frequency by counting the number of off-track occurrences

Номер патента: US20030057935A1. Автор: Susumu Yoshida,Tatsuhiko Kosugi,Shuichi Hashimoto,Yoshiyuki Kagami,Ryuki Kubohara,Takeyori Hara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2003-03-27.

Resonance-frequency measuring method determining a resonance frequency by counting the number of off-track occurrences

Номер патента: US6774615B2. Автор: Susumu Yoshida,Tatsuhiko Kosugi,Shuichi Hashimoto,Yoshiyuki Kagami,Ryuki Kubohara,Takeyori Hara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2004-08-10.

Resonance-frequency measuring method determining a resonance frequency by counting the number of off-track occurrences

Номер патента: US7164261B2. Автор: Tatsuhiko Kosugi,Shuichi Hashimoto,Yoshiyuki Kagami,Ryuki Kubohara,Takeyori Hara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2007-01-16.

Measurement method, measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20170278233A1. Автор: Takuro Tsujikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US20170039702A1. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-09.

Measurement method and system based on image electroencephalogram sensitivity data for built environment dominant color

Номер патента: US20240335156A1. Автор: Zheng Zhou,Ying Gao,Xiao Han,Zhe Li,Jie Li,Liya Wang,Futian YUAN,Tongyi ZHU,Ruoxuan HUANG,Yinyin CAO,Hengyi ZHAO. Владелец: SOUTHEAST UNIVERSITY. Дата публикации: 2024-10-10.

Blood pressure measuring method and system

Номер патента: US09922420B2. Автор: XIN Wang,Xiaoli Jin,Xuelin Han. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Blood pressure measurement method, apparatus, device and readable storage medium

Номер патента: US20240366099A1. Автор: Yongjie Gao. Владелец: Shenzhen AOJ Medical Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Vehicle speed measurement method and system

Номер патента: RU2543947C2. Автор: Алан КЛУКАС,Брайан Дэвид Винсент СМИТ. Владелец: ЗМ ИННОВЭЙТИВ ПРОПЕРТИЗ КОМПАНИ. Дата публикации: 2015-03-10.

Physical properties measuring method and apparatus

Номер патента: US20110304724A1. Автор: Takashi Yamazaki,Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-12-15.

Physical properties measuring method and apparatus

Номер патента: US8780193B2. Автор: Takashi Yamazaki,Takeshi Soeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-07-15.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240099059A1. Автор: Satoru Tomita. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-03-21.

Transfer function measuring method and active noise reduction device

Номер патента: US11830470B2. Автор: Yoshiyuki Hayashi,Taiki KODATSU. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Physiological signal measuring method and system thereof

Номер патента: US20240164649A1. Автор: Chuan-Yu Chang,Yen-Qun GAO. Владелец: National Yunlin University of Science and Technology. Дата публикации: 2024-05-23.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20240243017A1. Автор: Satoru Tomita,Noriyuki Hirata. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Stroke information measuring apparatus and stroke information measuring method

Номер патента: EP1398060B1. Автор: Takahiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. MURAKOSHI,Yuuichi c/o Hamamatsu Photonics K.K. KIMURA,Takehiro c/o Hamamatsu Photonics K.K. KURONO. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2011-08-03.

Self-attention-based speech quality measuring method and system for real-time air traffic control

Номер патента: US12051440B1. Автор: Xuan Wang,Jian Zhang,Weijun Pan,Yidi Wang,Zixuan Wang,Tian LUAN,Qinghai Zuo,Rundong Wang,Peiyuan Jiang,Qianlan Jiang. Владелец: Civil Aviation Flight University of China. Дата публикации: 2024-07-30.

Display driver and threshold voltage measurement method

Номер патента: US20100321367A1. Автор: Yoshihiro Shona. Владелец: Oki Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2010-12-23.

Nonlinearity measuring method, nonlinearity measuring unit, magnetic recording/regenerating unit and LSI for magnetic recording/regenerating

Номер патента: US20050190471A1. Автор: Hiroaki Ueno. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2005-09-01.

Measurement method, shaping device, simulator, measurement device, and storage medium

Номер патента: US20240262021A1. Автор: Yoshihiro Shiode. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Image based overlay mark and image based overlay measuring method using the same

Номер патента: US20240142884A1. Автор: Joon Seuk LEE. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

Physiological signal measurement system, physiological signal measurement method, and mobile device protective case

Номер патента: US20240115151A1. Автор: Chun Liu,Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-11.

Dynamic carbon sink measurement method for afforestation carbon sink and forest management carbon sink projects

Номер патента: US20240303671A1. Автор: FANG Song,Fei Gao,Nana Li,Yongjun WANG,Yingze Tian,Changhong Lai. Владелец: Sichuan Forestry Survey Design And Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring method of measuring substrate by capturing images of marks thereon

Номер патента: US20240288787A1. Автор: Takashi Kurihara,Wataru Yamaguchi,Shinichiro Hirai. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory storage medium storing optical measurement program

Номер патента: US20240319486A1. Автор: Hiroshi Ohno,Hideaki Okano,Hiroya Kano,Kenta Takanashi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

User feature value measurement method and apparatus, storage medium and electronic device

Номер патента: US20240298973A1. Автор: Xun Zhang,Xiaoran SUN. Владелец: BOE Technology Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Measuring method for measuring overlay shift and non-transient computer readable storage medium

Номер патента: US20240319616A1. Автор: Tsu-Wen HUANG,Chun Yen WEI. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Dynamic carbon sink measurement method for afforestation carbon sink and forest management carbon sink projects

Номер патента: US12118572B2. Автор: FANG Song,Fei Gao,Nana Li,Yongjun WANG,Yingze Tian,Changhong Lai. Владелец: Sichuan Forestry Survey Design And Research Institute Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

On-machine real-time measurement method and system for full-closed loop five-axis computer numerical control (cnc) machine tool

Номер патента: US20240338004A1. Автор: Hang Gao,Yuwen SUN,Xiaolong Yin,Jinting XU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-10-10.

On-machine real-time measurement method and system for full-closed loop five-axis computer numerical control (CNC) machine tool

Номер патента: US12117793B1. Автор: Hang Gao,Yuwen SUN,Xiaolong Yin,Jinting XU. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2024-10-15.

Trusted measurement method and apparatus, computer device, and readable medium

Номер патента: EP4418115A1. Автор: Liang Wang,Jianjun Liu,Min Zhang,Jia Zhou,Hu TAN,Zhihong XUE,Qu CAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Ophthalmic apparatus, and treatment site measuring method for the apparatus

Номер патента: US09974436B2. Автор: Ki Chan Kim,Tae Ho HA. Владелец: Lutronic Vision Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Mutual capacitance touch sensing device and its sine wave measuring method

Номер патента: US09766759B2. Автор: Chin-Fu Chang. Владелец: Egalax Empia Technology Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Measuring system and measuring method for analyzing knee joint motion trajectory during cycling

Номер патента: US09592423B2. Автор: Yu-Shin Chang,Po-Shin Li,Keh-Tao Liu,Sai-Wei Yang. Владелец: Global Action Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method and program

Номер патента: US09576370B2. Автор: Keiichiro Ishihara,Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Measuring method based on structuring light

Номер патента: RU2560996C2. Автор: Кларк Александер БЕНДАЛЛ. Владелец: Дженерал Электрик Компани. Дата публикации: 2015-08-20.

Human tissue quasi-elastic coefficient and elasticity measurement methods and device

Номер патента: EP3698721A2. Автор: Xiliang Nie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2020-08-26.

Method and Apparatus for Calibrating Exposure Surface of Optical System, Calibration Measurement Method and Apparatus, and Computer Device and Storage Medium

Номер патента: AU2022314858A1. Автор: PENG Ding,Bin Xu,Jun Hu,Xin Wan,Hongqing ZENG. Владелец: Guangzhou Heygears Imc Inc. Дата публикации: 2024-01-18.

Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: US20220255542A1. Автор: Tatsuya Iwai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-08-11.

Spread spectrum clock generator and spread spectrum clock generation method, pulse pattern generator and pulse pattern generation method, and error rate measuring device and error rate measuring method

Номер патента: US20220021412A1. Автор: Tatsuya Iwai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2022-01-20.

Cutting tool with a TiAlN coating having rake and relief surfaces with different residual stresses

Номер патента: US12109628B2. Автор: Anton Nikitin,Marcel Elkouby,Tomer WEINBERGER. Владелец: Iscar Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Method for bending metal sheet and device for regulating residual stress

Номер патента: US09610624B2. Автор: Junichi Koyama,Yingjun Jin,Hitoshi Omata,Takahiro Shibata. Владелец: Amada Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Method of forming compressive residual stress bead-blasting treatment of parts

Номер патента: RU2704341C1. Автор: Герман Леонидович Колмогоров,Александр Сергеевич Высотин,Максим Анатольевич Корионов. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Пермский национальный исследовательский политехнический университет". Дата публикации: 2019-10-28.

An ultrasonic vibration stress relief system and a method for eliminating residual stress using the same

Номер патента: GB2617650A. Автор: Zhang Heng,Xue Wenzhe,Gu Bangping,Jin Zidi. Владелец: Shanghai Maritime University. Дата публикации: 2023-10-18.

Semiconductor packages having residual stress layers and methods of fabricating the same

Номер патента: US9741668B2. Автор: Youngbae Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Semiconductor packages having residual stress layers and methods of fabricating the same

Номер патента: US09530741B2. Автор: Youngbae Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-12-27.

Semiconductor packages having residual stress layers and methods of fabricating the same

Номер патента: US20160005698A1. Автор: Youngbae Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-01-07.

Semiconductor packages having residual stress layers and methods of fabricating the same

Номер патента: US09741668B2. Автор: Youngbae Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-22.

Turbine component having a low residual stress ferromagnetic damping coating

Номер патента: US09458727B2. Автор: Mo-How Herman Shen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-10-04.

Method of residual stress relaxation

Номер патента: RU2650383C2. Автор: Альберт Викторович Королев,Андрей Альбертович Королев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.). Дата публикации: 2018-04-11.

CUTTING TOOL WITH A TiAlN COATING HAVING RAKE AND RELIEF SURFACES WITH DIFFERENT RESIDUAL STRESSES

Номер патента: US20240051033A1. Автор: Anton Nikitin,Marcel Elkouby,Tomer WEINBERGER. Владелец: Iscar Ltd. Дата публикации: 2024-02-15.

Fuel injector having residually stressed solenoid housing for improved pressure capapility

Номер патента: US20200173408A1. Автор: Cory Brown,Sridhar Thangaswamy,Hoisan Kim,Victor Iskander YACOUB,Robert Joseph Smith. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2020-06-04.

Method of stabilisation of residual stresses in surface layer of precision parts

Номер патента: RU2375464C1. Автор: Ирина Олеговна Кудашева. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Саратовский государственный технический университет. Дата публикации: 2009-12-10.

Photoelastic characterization of residual stresses and stress distributions in injection molded performs and stretch blow-molded bottles

Номер патента: EP3368286A1. Автор: Ronald D. Moffitt,Yu Shi. Владелец: Coca Cola Co. Дата публикации: 2018-09-05.

Method of eliminating stretching residual stresses on metal product surface

Номер патента: RU2458155C1. Автор: Денис Анатольевич Иванов,Отто Николаевич Засухин. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Балтийский государственный технический университет "ВОЕНМЕХ" им. Д.Ф. Устинова (БГТУ "ВОЕНМЕХ"). Дата публикации: 2012-08-10.

Manufacturing method of metal member with residual stress

Номер патента: US11885001B2. Автор: Yuta Saito. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-01-30.

Method of removal of residual stresses in welded joints of circulating pipe lines of atomic and thermal power stations

Номер патента: RU2268312C1. Автор: Адольф Иванович Трофимов,Сергей Иванович Минин. Владелец: Обнинский Технический Университет Атомной Энергетики. Дата публикации: 2006-01-20.

Method for improving residual stress in pipe and method for construction management

Номер патента: US20110247729A1. Автор: Satoshi Kanno,Naohiko Oritani,Masaki Tsuruki,Satoru Aoike,Yuka Fukuda,Shinobu Okido. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2011-10-13.

Wire and welding member for gas-shielded arc welding having excellent fatigue resistance characteristics and resistance against deformation due to residual stress of welding zone, and manufacturing method therefor

Номер патента: EP4403295A1. Автор: Gyu-Yeol BAE. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Method to reduce residual stress in an integrally-stiffened co-bonded structure

Номер патента: US09713901B2. Автор: Geoffrey A. Butler,Robert Courdji. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-07-25.

Semiconductor packages having residual stress layers and methods of fabricating the same

Номер патента: US20170069579A1. Автор: Youngbae Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-03-09.

Turbine component having a low residual stress ferromagnetic damping coating

Номер патента: US20140186653A1. Автор: Mo-How Herman Shen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-07-03.

Method for applying a low residual stress damping coating

Номер патента: WO2013002973A2. Автор: Mo-How Herman Shen. Владелец: SHEN Mo-How Herman. Дата публикации: 2013-01-03.

Method and apparatus for providing a residual stress distribution in the surface of a part

Номер патента: CA2406848C. Автор: Paul S. Prevey, III. Владелец: Surface Technology Holdings Ltd. Дата публикации: 2010-05-11.

Local heat treatment method for controlling residual stress with primary and auxiliary heating

Номер патента: US20210324494A1. Автор: Wenbin Gu,Wenchun JIANG,Shandong Tu,Qiang Jin,Xiancheng Zhang. Владелец: China University of Petroleum East China. Дата публикации: 2021-10-21.

Residual stresses releasing method for welded metallic joints

Номер патента: RU2280547C2. Автор: Адольф Иванович Трофимов,Сергей Иванович Минин,Владимир Николаевич Дементьев. Владелец: Обнинский Государственный Технический Университет Атомной Энергетики (ОИАТЭ). Дата публикации: 2006-07-27.

Generating residual stress in hollow body during cure to deflect composite body on relaxation

Номер патента: GB2485183A. Автор: Alison Jane Mcmillan. Владелец: Rolls Royce PLC. Дата публикации: 2012-05-09.

Method for reducing propellant curing residual stress by high-energy acoustic beam

Номер патента: US11814331B2. Автор: PENG Yin,Jianfeng Song,Chunguang Xu,Yuren Lu,Ruili Jia. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2023-11-14.

Method for improving residual stress of structure member

Номер патента: CA2638730A1. Автор: Osamu Saitou,Satoru Aoike,Fuminori Iwamatsu,Yuka Fukuda. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2009-02-28.

Photoelastic characterization of residual stresses and stress distributions in injection molded preforms and stretch blow-molded bottle

Номер патента: US20180311883A1. Автор: Ronald D. Moffitt,Yu Shi. Владелец: Coca Cola Co. Дата публикации: 2018-11-01.

Methods and systems for reducing tensile residual stresses in compressed tubing and metal tubing products produced from same

Номер патента: WO2008028059A1. Автор: John Dickson,Dan Gadbery,Duane Bendzinski. Владелец: ALCOA INC.. Дата публикации: 2008-03-06.

Acoustic devices with residual stress compensation and feedback control of acoustic resistance

Номер патента: GB2609299A. Автор: Dmitrievich Barsukou Siarhei. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2023-02-01.

Sliding camshaft with improved compressive residual stress

Номер патента: US20160348780A1. Автор: Glenn E. Clever,Jason J. Wiedyk. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2016-12-01.

Indirct laser induced residual stress in a fuel system component and fuel system using same

Номер патента: WO2010129090A2. Автор: Stephen R. Lewis,Alan R. Stockner,Dennis H. Gibson,Marion B. Grant,Avinash R. Manubolu. Владелец: CATERPILLAR INC.. Дата публикации: 2010-11-11.

Acoustic devices with residual stress compensation and feedback control of acoustic resistance

Номер патента: GB2618713A. Автор: Dmitrievich Barsukou Siarhei. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2023-11-15.

Shot peening method with which high compressive residual stress is obtained

Номер патента: US09440329B2. Автор: Toshiyuki Sawada. Владелец: Sanyo Special Steel Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-13.

Method and apparatus for relieving tensile residual stress in welded pipe joints

Номер патента: CA2548877C. Автор: Satoru Aoike,Masakazu Hisatsune. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2010-09-07.

Gas-shielded arc welding wire and welding member having excellent fatigue resistance characteristics and resistance to deformation due to residual stress in weld zone, and method for manufacturing same

Номер патента: US20230390873A1. Автор: Gyu-Yeol BAE. Владелец: Posco Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Methods for residual stress reduction in additive manufacturing processes

Номер патента: US20180147670A1. Автор: Robbie Joseph Adams,Jimmy Wiggins. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2018-05-31.

Method for improving residual stress of structure member

Номер патента: CA2638730C. Автор: Osamu Saitou,Satoru Aoike,Fuminori Iwamatsu,Yuka Fukuda. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2011-09-20.

Control device and control method for reducing and homogenizing welding residual stress by acoustic wave

Номер патента: US11919040B2. Автор: PENG Yin,Chunguang Xu,Wenyuan Song,Yuren Lu,Shuangyi Li. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2024-03-05.

Method of removing residual stresses in annular weld joints of metals in hidden arc welding and device to this end

Номер патента: RU2477202C1. Автор: Риф Гарифович Ризванов,Ильдус Гамирович Ибрагимов,Айрат Миннуллович Файрушин,Денис Владимирович Каретников,Ким Сергеевич Колохов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный нефтяной технический университет". Дата публикации: 2013-03-10.

Device and method of manufacturing aiii-bv-crystals and substrate wafers manufactured thereof free of residual stress and dislocations

Номер патента: WO2020245215A1. Автор: Stefan Eichler,Michael Rosch,Dmitry SUPTEL,Ulrich Kretzer,Berndt Weinert. Владелец: FREIBERGER COMPOUND MATERIALS GMBH. Дата публикации: 2020-12-10.

Apparatus for producing compressive residual stress in balls

Номер патента: EP3162494A1. Автор: John Roth,Bryan A Mccoy,Nathan HIPWELL,Ronald RADOVICH. Владелец: SKF AB. Дата публикации: 2017-05-03.

Device and method of manufacturing AIII-BV-crystals and substrate wafers manufactured thereof free of residual stress and dislocations

Номер патента: US11965266B2. Автор: Stefan Eichler,Michael Rosch,Dmitry SUPTEL,Ulrich Kretzer,Berndt Weinert. Владелец: FREIBERGER COMPOUND MATERIALS GMBH. Дата публикации: 2024-04-23.

Shot Peening Method with Which High Compressive Residual Stress is Obtained

Номер патента: US20160107292A1. Автор: Toshiyuki Sawada. Владелец: Sanyo Special Steel Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-21.

Heat treatment to anneal residual stresses during additive manufacturing

Номер патента: EP3408051A1. Автор: James A. DEMUTH,Andrew BAYRAMIAN,Bassem S. EL-DASHER,Kevin J. Kramer,Joseph C. Farmer,Alexander Rubenchik. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2018-12-05.

Sandblasting surface treatment method for change in surface morphology and improvement in residual stress of three types of dental zirconia

Номер патента: US20230211461A1. Автор: Hee-Kyung Kim. Владелец: Ajou University Industry Academic Cooperation Foundation. Дата публикации: 2023-07-06.

Method and apparatus for relieving residual stress in welded pipe joints

Номер патента: CA2706360C. Автор: Satoru Aoike,Masakazu Hisatsune. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2012-12-04.

Device for reducing and homogenizing residual stress of a metal frame

Номер патента: US11814714B2. Автор: PENG Yin,Chunguang Xu,Wenyuan Song,Peilu LI,Yuren Lu,Shuangyi Li. Владелец: Beijing Institute of Technology BIT. Дата публикации: 2023-11-14.

Stress-measuring device and method

Номер патента: US09962104B2. Автор: Martin Ouwerkerk,Jan Johannes Gerardus DE VRIES. Владелец: Koninklijke Philips NV. Дата публикации: 2018-05-08.

Tubular stress measurement system and method

Номер патента: WO2015099973A2. Автор: Douglas Greening,Marinel Mihai,Brian DEWALD,Piew Soe Saw. Владелец: Tesco Corporation. Дата публикации: 2015-07-02.

Tubular stress measurement system and method

Номер патента: US09765579B2. Автор: Douglas Greening,Marinel Mihai,Brian DEWALD,Piew Soe Saw. Владелец: Tesco Corp Canada. Дата публикации: 2017-09-19.

Apparatus for Dynamic Stress Measurement

Номер патента: US20170055836A1. Автор: Jack Anthony Martin,Darryl Gerard Thelen,Matt S. Allen,Daniel Joseph Segalman,Laura Ann Slane. Владелец: WISCONSIN ALUMNI RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2017-03-02.

Measurement method and device, information interchange method and device, and residence method and device

Номер патента: US09967765B2. Автор: BO Lin,Hao Bi,Jie Shi,Yajuan LI,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Measurement method of subcell photocurrents and their matching degree of a multi-junction photovoltaic cell

Номер патента: US20220311381A1. Автор: Jianrong Dong,Yurun SUN,Shuzhen YU,Ancheng WANG,Jiajing YIN. Владелец: Suzhou Institute of Nano Tech and Nano Bionics of CAS. Дата публикации: 2022-09-29.

Measurement configuration method, measurement method, network device and terminal

Номер патента: EP4231694A1. Автор: REN Da,Bin Ren. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-23.

Reference signal measurement method and terminal devices

Номер патента: EP3883275A1. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-22.

Measurement method and apparatus, measurement configuration method and apparatus, terminal, and network side device

Номер патента: EP4404621A1. Автор: Xiaodong Yang,Yangyang Wang,Wei Bao,Xuanbing Liu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

Measuring method, network device, and terminal device

Номер патента: EP3726910A1. Автор: Cong Shi. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2020-10-21.

Beam measurement method, measurement configuration method, and apparatus, terminal and network device

Номер патента: EP4412098A1. Автор: HUI Li,Qiubin Gao,Yajuan Luo. Владелец: Datang Mobile Communications Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Interference measurement method and apparatus thereof

Номер патента: US20240292256A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Measurement method, measurement configuration method, terminal, and base station

Номер патента: EP4422263A2. Автор: Li Chen,Xueming PAN,YU Ding,Kai Wu,Xiaodong Shen,Dajie Jiang,Fei Qin. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Sensing measurement method, sensing measurement indication method, terminal, and network side device

Номер патента: US20240314735A1. Автор: HAO LIU,Jian Yao,Dajie Jiang,Pucong WANG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Perception measurement method, perception measurement indication method, terminal, and network side device

Номер патента: EP4436242A1. Автор: HAO LIU,Jian Yao,Dajie Jiang,Pucong WANG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Breakdown voltage measuring method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09799506B2. Автор: Mitsuhiko Sakai. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Interference measurement indication method, interference measurement method, related device, and communication system

Номер патента: US09735941B2. Автор: Jingyuan Sun,Yongxing Zhou,Liang Xia,Mingyu Zhou,Xiaotao Ren. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Measurement method, measurement configuration method, terminal, and base station

Номер патента: EP4422263A3. Автор: Li Chen,Xueming PAN,YU Ding,Kai Wu,Xiaodong Shen,Dajie Jiang,Fei Qin. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-13.

Carrier selection method for positioning measurement, positioning measurement method, positioning processing apparatus, and terminal

Номер патента: US09451534B2. Автор: Jie Cui,Dengkun Xiao,Yuanfeng Du. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Method of measurement, method of cell measurement, communication device and communication node

Номер патента: RU2669795C1. Автор: Бо ЛИНЬ,Цзе ШИ,Ли ЧАЙ. Владелец: Хуавей Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-10-16.

Indirect rotation angles measurement method in operator's joints

Номер патента: RU2700118C1. Автор: Вячеслав Иванович Петренко,Фариза Биляловна Тебуева,Андрей Сергеевич Павлов,Михаил Михайлович Гурчинский,Владимир Олегович Антонов,Сергей Сергеевич Рябцев. Владелец: федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Северо-Кавказский федеральный университет". Дата публикации: 2019-09-12.

Measurement method to determine level of river pollution with sewage water

Номер патента: RU2269775C2. Автор: Петр Матвеевич Мазуркин,Татьяна Петровна Иванова,Тать на Петровна Иванова,Людмила Георгиевна Андреева,Екатерина Владимировна Абрамова,Аклима Мингазовна Сибагатуллина,Жанна Аркадьевна Гончарова,Тать на Александровна Моисеева,Татьяна Александровна Моисеева. Владелец: Марийский государственный технический университет. Дата публикации: 2006-02-10.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Radio resource measurement method, radio resource selection method, and apparatus

Номер патента: US12003993B2. Автор: Qinghai Zeng,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: US20240259118A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: CA3230606A1. Автор: Han Zhang,Fengyong QIAN,Changqing GENG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-03-09.

Pcr measuring method and measurement device

Номер патента: US20190352699A1. Автор: Yoshinobu Kohara,Masao Kamahori,Takahide Yokoi,Junko Tanaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-11-21.

Mobility measurement method and apparatus

Номер патента: EP4187958A1. Автор: Tingting GENG,Yedan WU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-31.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US20180184316A1. Автор: Lili Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-28.

Cell measurement method and related apparatus

Номер патента: US20230300701A1. Автор: Quan Zhou,Yanchun Wang,Guojun Yue. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Network traffic marking and measurement methods and node

Номер патента: US11252266B2. Автор: Zhe Chen,Chuang WANG,Delei Yu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-15.

Epidermal electric potential measuring device, epidermal electric potential measuring method, cosmetic method, and probe

Номер патента: US20190090805A1. Автор: Matsuhiko Nishizawa,Kuniaki Nagamine,Kenshi Yamasaki,Yuina ABE. Владелец: Tohoku University NUC. Дата публикации: 2019-03-28.

Radio resource measurement method and apparatus

Номер патента: US20240244463A1. Автор: LI ZHANG,Weidong He,Pan Liu,Bo HAO,Yubo Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Self-reference point setting type blood component measuring method and apparatus

Номер патента: US12082925B2. Автор: Sung Chul Lee,Won Ki Park,Cheol Koo HAHN. Владелец: KOREA ELECTRONICS TECHNOLOGY INSTITUTE. Дата публикации: 2024-09-10.

Single-resistor measurement method, motor control method, controller, and control system

Номер патента: US20240322715A1. Автор: Hong Bin,Kai Zhang,Xiaoan Zhao,Haijin YANG. Владелец: Guangdong Welling Motor Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Radio resource measurement method and apparatus

Номер патента: EP4401457A1. Автор: LI ZHANG,Weidong He,Pan Liu,Bo HAO,Yubo Yang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Beam measurement method and apparatus, user equipment, network device and storage medium

Номер патента: EP4436070A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Remaining printing material measurement method and additive manufacturing apparatus

Номер патента: US20240308140A1. Автор: xinqiao Deng. Владелец: Shenzhen Anycubic Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Bio-electrode, production method for bio-electrode, and measurement method for bio-signal

Номер патента: US20240293064A1. Автор: Osamu Watanabe,Jun Hatakeyama,Koji Hasegawa,Motoaki Iwabuchi,Shiori Nonaka,Joe Ikeda. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Sensing measurement method and related apparatus

Номер патента: EP4412296A1. Автор: Xun Yang,Chenchen LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Measurement method and apparatus, and terminal

Номер патента: US20240349213A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Multi-antenna noise power measuring method and apparatus

Номер патента: US09967041B1. Автор: Yan-Neng Chang. Владелец: Ambit Microsystems Shanghai Ltd. Дата публикации: 2018-05-08.

Channel state information measurement method and device, and signal transmission method and device

Номер патента: US09941984B2. Автор: Xin Su,Chuanjun Li. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2018-04-10.

Measurement method and measurement unit for delta-sigma type data converter

Номер патента: US09705528B2. Автор: Mitsutoshi Sugawara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Cell measurement method, user equipment and base station

Номер патента: US09648553B2. Автор: Yuhua Chen,Wei Quan,Lixia Xue,Pengyu JI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-09.

Quality measurement method, user equipment, and network-side device

Номер патента: US09531486B2. Автор: Peng Zhang,Zongjie Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-27.

Interference measurement method and apparatus for use in distributed antenna system

Номер патента: US09510225B2. Автор: Younsun KIM,Hyoungju JI,Joonyoung Cho,Youngbum Kim,Hyojin Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-11-29.

In-situ stress measurements in hydrocarbon bearing shales

Номер патента: CA2750374A1. Автор: Hariharan Ramakrishnan,Doug Bentley,George Waters,Edward C. Boratko,Ahmad Latifzai. Владелец: Schlumberger Canada Ltd. Дата публикации: 2010-07-22.

Measurement method of nuclear reactor reactivity

Номер патента: RU2475873C1. Автор: Сергей Павлович Дашук,Валерий Фёдорович Борисов. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский технологический институт имени А.П. Александрова". Дата публикации: 2013-02-20.

Interference measurement method and apparatus for use in distributed antenna system

Номер патента: RU2660935C2. Автор: Янсун КИМ,Хиодзин ЛИ,Хиоунгдзу ДЗИ,Дзоонянг ЧО,Янгбум КИМ. Владелец: САМСУНГ ЭЛЕКТРОНИКС КО., ЛТД.. Дата публикации: 2018-07-11.

RSSI Measurement Method, Network Device, and Terminal Device

Номер патента: US20190081714A1. Автор: Lei Huang,Jin Liu,Jun Luo,Zhengzheng XIANG,Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-14.

Measurement method and apparatus

Номер патента: US12028728B2. Автор: Rui Wang,Qinghai Zeng,Hongping Zhang,Tingting GENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement method, terminal device, and network side device

Номер патента: EP4132071A1. Автор: Yumin Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-08.

Packet measurement method, device, and system

Номер патента: US12021741B2. Автор: WEI Xue,JinMing Huang,Weidong SHAO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: CA3182422A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Non-public network measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20230199892A1. Автор: Zhuang Liu,Dapeng Li,Yin Gao,Jiajun Chen. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

Phototherapy progress measuring method, processor, and phototherapy system

Номер патента: US20240033535A1. Автор: Susumu Yamashita. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Timing measurement method and related device

Номер патента: US12015470B2. Автор: Yuzhou Wang,Fan Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Tissue component measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427505A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Optical signal-to-noise ratio measurement method and apparatus, and computer storage medium

Номер патента: US20240235672A1. Автор: Hu Shi,Yinqiu JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Performance measurement method, device, and system

Номер патента: EP4221129A1. Автор: Yali Wang,Tianran ZHOU,Jingrong Xie. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-02.

Measurement method, device, and storage medium

Номер патента: EP4266735A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2023-10-25.

Measurement method, device and storage medium

Номер патента: US20240056860A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-02-15.

Reference signal measurement method and terminal device

Номер патента: US12035344B2. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Measurement methods based on state switching, electronic device, and storage medium

Номер патента: EP4106384A1. Автор: Haitao Li. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2022-12-21.

Channel measurement method and device

Номер патента: US12021776B2. Автор: LI SHEN,FENG Qian,Jian Wang,Xiaocui Li,Yifan Xue. Владелец: Honor Device Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-25.

Server, communication system, and performance measurement method

Номер патента: US20200169944A1. Автор: I-Hung Lin,Amit Kumar Sharma. Владелец: Groundhog Inc. Дата публикации: 2020-05-28.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20200037889A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2020-02-06.

Measurement method and apparatus using multiple frequency partial band in wireless communication system

Номер патента: US12028721B2. Автор: ANIL Agiwal,Jaehyuk JANG,Byounghoon JUNG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-02.

Measurement method and device

Номер патента: EP3840457A1. Автор: Dajie Jiang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-23.

Cell measurement method, radio communication apparatus and storage medium

Номер патента: EP4250816A1. Автор: Jun Liu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-27.

Quality of service measurement method and device, and user plane function

Номер патента: EP4050933A1. Автор: Peng Chen,SONG Zhao,Qi Bi. Владелец: China Telecom Corp Ltd. Дата публикации: 2022-08-31.

Channel measurement method, base station, and ue

Номер патента: EP3654717A1. Автор: Qiang Wu,Kunpeng Liu,Leiming Zhang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-20.

Beam measurement method, network-side device, terminal device, and storage medium

Номер патента: US12052190B2. Автор: Yu Yang,Xueming PAN,Peng Sun. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Braking force measuring method

Номер патента: US20240240612A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4135385A1. Автор: Bo Dai,Li Niu,Xiubin Sha. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2023-02-15.

Radiotherapy apparatus control apparatus and specific site position measuring method

Номер патента: US20110087061A1. Автор: Takanobu Handa,Shuji Kaneko. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-04-14.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: US20230308924A1. Автор: Jiangsheng FAN. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-09-28.

Measurement method, measurement configuration method, and related communication apparatus

Номер патента: EP4408070A1. Автор: Hong Li,LI ZHANG,Jing HAN,Zhongyi SHEN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Measurement method for ue, terminal device and network device

Номер патента: US20230088518A1. Автор: Rongyi HU. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-03-23.

Measuring method, terminal and network side device

Номер патента: AU2019247007B2. Автор: Qian Zheng,Xiaodong Yang. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-01-06.

Channel state information measurement method and apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240243826A1. Автор: Qin MU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-18.

Cqi measurement method, apparatus, and wireless communications system

Номер патента: US20190097781A1. Автор: Hao Tang,Zhengwei Gong. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-28.

Cell measurement method and apparatus

Номер патента: US12058550B2. Автор: Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Xingxing HU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

A transpulmonary pressure measuring method and system

Номер патента: WO2024158337A1. Автор: Anatoliy SERGIYENKO,Rafael SAIFULIN. Владелец: Bark Technology Pte. Ltd.. Дата публикации: 2024-08-02.

Cell measurement method, cell measurement configuration method and apparatus, device, and medium

Номер патента: US20240292295A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Measuring method for amplicon length

Номер патента: US20190112642A1. Автор: YU Chang,Chung-Fan Chiou,Cheng-Wey Wei,Chang-Wei Huang. Владелец: Quark Biosciences Inc. Дата публикации: 2019-04-18.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: US20220167370A1. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-26.

Channel state information csi measurement method, terminal, and network-side device

Номер патента: US20240275551A1. Автор: Rakesh Tamrakar,Qianyao REN,Jiangwei YUAN,Kaili ZHENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Signal resource measurement method and terminal

Номер патента: US12063557B2. Автор: Li Chen,Xueming PAN,Kai Wu,Xiaodong Shen,Dajie Jiang,Qianyao REN. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-13.

Blood Pressure Measurement Device and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220117497A1. Автор: I-Chih Huang,Jui-Yang Huang. Владелец: Avita Corp. Дата публикации: 2022-04-21.

Inter-cell interference measurement method and device in flexible duplex system

Номер патента: US20180184315A1. Автор: Youn-Sun Kim,Sang-Won Park,Chung-Yong Lee,Hyoung-Ju JI,Sang-Geun Lee. Владелец: University Industry Foundation UIF of Yonsei University. Дата публикации: 2018-06-28.

Measurement method and device

Номер патента: US12069499B2. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement method, terminal device, and network side device

Номер патента: US20230019838A1. Автор: Yumin Wu. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Congestion measurement method and network node

Номер патента: EP3975483A1. Автор: LIANG Cheng,Dongfeng Li,Hongliang Gao,Xiaogang LU,Juanna Dang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-30.

Coupled physiological signal measurement method, coupled physiological signal measurement system and graphic user interface

Номер патента: US20230082564A1. Автор: Heng-Yin Chen,Yun-Yi Huang,Min-Hsuan Lee,Yu-Chiao TSAI. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2023-03-16.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20220060266A1. Автор: Bo Gao,Zhaohua Lu,Chuangxin JIANG,Shujuan Zhang,Huahua Xiao. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-02-24.

Braking force measuring method

Номер патента: EP4400714A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Interference measurement method, interference processing method, and apparatuses therefor

Номер патента: US20240259845A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Channel Measurement Method and User Equipment

Номер патента: US20190268795A1. Автор: YE Wu,Xiaobo Chen,Xiaoyan Bi,Huangping JIN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-29.

Measurement method and apparatus, and devices

Номер патента: EP4117249A1. Автор: Zhe Fu. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-01-11.

Measurement method and apparatus, and device

Номер патента: US12082005B2. Автор: Jianqin Liu,Xiaolei Tie,Zhanzhan ZHANG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Channel measurement method and communication device

Номер патента: EP4027531A1. Автор: Li Fan,Yong Liu,Xiaoyan Bi,Shibin GE,Huangping JIN,Zhimeng ZHONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Measurement method, terminal device, and network device

Номер патента: EP4236429A1. Автор: Jiangsheng FAN. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-08-30.

Channel measurement method and apparatus, electronic device and computer-readable storage medium

Номер патента: US20220393912A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-12-08.

Refractive test card and measurement method therefor

Номер патента: US20240081635A1. Автор: Chun Ho Lau,Chun Put Lau. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-14.

Channel state information (csi) measurement method, terminal, and network side device

Номер патента: EP4422249A1. Автор: Rakesh Tamrakar,Qianyao REN,Jiangwei YUAN,Kaili ZHENG. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Measurement method, user equipment, and network side device

Номер патента: US12101654B2. Автор: Li Chen. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Information measurement method and apparatus

Номер патента: EP4436124A1. Автор: Xiangyang Zhu,Jinghai YU,Yufang HAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4391699A1. Автор: Ting Wang,Jianglei Ma,Yongxia Lyu,Dongdong WEI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US20240323741A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Micro biosensor and measuring method thereof

Номер патента: US12097025B2. Автор: Chien-Chung Chen,Chun-Mu Huang,Chieh-Hsing Chen,Heng-Chia Chang,Chi-Hao Chen. Владелец: Bionime Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Plasma Measuring Method and Plasma Processing Apparatus

Номер патента: US20240290589A1. Автор: Mitsutoshi ASHIDA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-08-29.

Channel measurement method and apparatus, and electronic device and computer readable storage medium

Номер патента: EP4050820A1. Автор: Ning Wei,Bo Sun,Nan Li,Zhiqiang Han,Qichen JIA. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2022-08-31.

Positioning measurement method, communication apparatus, and storage medium

Номер патента: EP4383859A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Performance measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: US12120008B2. Автор: Zheng Zhang,Min Xiao,Jun Guo,Quan XIONG. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Power measurement method and apparatus, and storage medium and program product

Номер патента: EP4447344A1. Автор: Dong Zhou,Liyuan ZHONG,Jiangtao Chen,Longming Zhu,Dao TIAN. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-16.

Measurement method and device, user equipment, network side equipment, and storage medium

Номер патента: EP4451730A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Measurement method and apparatus, related device and storage medium

Номер патента: AU2023219456A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-08-08.

Position measurement method, signal adjustment apparatus, base station, terminal, and storage medium

Номер патента: US20240357540A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Blood pressure measurement method, and electronic device and medium thereof

Номер патента: EP4431012A1. Автор: ZHENG Jia,Jie Zhou,Yan Zeng,Hongbao LI,Jiabing YAN,Jiahui PENG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Interference measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4451580A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-23.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: AU2021283545B2. Автор: Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Measurement method and apparatus, device, and storage medium

Номер патента: EP4447530A1. Автор: Peng Sun,Ang Yang,Yuanyuan Wang,Chenglu Jia. Владелец: Vivo Mobile Communication Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-16.

Intra-frequency intra-system measurement method and apparatus, storage medium, and electronic device

Номер патента: US20240323792A1. Автор: Xiaoxin HU. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Shear wave parameter measurement method and ultrasonic wave device

Номер патента: EP4437969A1. Автор: Sung Bae Park,Sun Yeob CHANG,Chul Hee Yun. Владелец: Alpinion Medical Systems Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Measurement method and apparatus, device, and readable storage medium

Номер патента: EP4456599A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Evm measurement method, transmitter and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240364444A1. Автор: Kun Niu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

SSB measurement method and apparatus

Номер патента: US12120559B2. Автор: Jia Liu,Qinghai Zeng,Lili Zheng,Hongping Zhang,Jingxin Wei. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Measurement method and apparatus, related device and storage medium

Номер патента: EP4456600A1. Автор: Jingjing Chen. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-10-30.

Channel quality measurement method and apparatus

Номер патента: US12058729B2. Автор: Jun Li,Zhe Jin,Zhihu LUO. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Measurement method and apparatus, and communications node

Номер патента: US09980164B2. Автор: BO Lin,Jie Shi,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Channel measurement method for large-scale antennas, and user terminal

Номер патента: US09954695B2. Автор: Lei Wang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Chromatic dispersion measurement method and device and digital coherent receiver

Номер патента: US09929801B2. Автор: Yi Cai,Zhensheng JIA,Yangzhong Yao,Yunpeng Li,Weiqin Zhou. Владелец: Sanechips Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Interference measurement method, network-side device and terminal device for improving the interference measurement effect and thus the demodulation performance of data and control channels

Номер патента: US09923649B2. Автор: Junfeng Zhang,Yunfeng Sun,Yuhong Gong. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Measurement method, base station, and user equipment

Номер патента: US09900900B2. Автор: Juan Zheng,Sha Ma,Zhiyu Yan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Prioritized cell identification and measurement method

Номер патента: US09843956B2. Автор: Rui Huang,YANG Tang,Candy YIU. Владелец: Intel IP Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Nucleic acid sequence measuring method, nucleic acid sequence measuring device, manufacturing method for nucleic acid sequence measuring device, and nucleic acid sequence measuring apparatus

Номер патента: US09797003B2. Автор: Takeo Tanaami,Tomoyuki Taguchi,Takashi TADENUMA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Interference measurement method, base station and user equipment

Номер патента: US09774432B2. Автор: Jingyuan Sun,Yongxing Zhou,Liang Xia,David Jean-Marie Mazzarese. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-26.

Measurement method, user equipment, base station, and wireless communications system

Номер патента: US09756521B2. Автор: Jing HAN,Dengkun Xiao,Anjian Li. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Label-based measurement method, apparatus, and system

Номер патента: US09584396B2. Автор: Guoyi Chen,Lianshu Zheng. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Rotation angle measuring method of multi-charged particle beam image, rotation angle adjustment method of multi-charged particle beam image, and multi-charged particle beam writing apparatus

Номер патента: US09466461B2. Автор: Osamu Iizuka,Kenji Ohtoshi. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Overlay measuring method and system, and method of manufacturing semiconductor device using the same

Номер патента: US09455206B2. Автор: Yu-Sin Yang,Chung-Sam Jun,Woo-Seok Ko,Sang-Kil Lee,Seong-Jin Yun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-27.

Coupling device for shaft hoist ropes and measuring method implemented by means of said device

Номер патента: RU2523302C2. Автор: Чжэньцай ЧЖУ,Гохуа ЦАО,Гоань ЧЭНЬ,Цзяньцун ЦИНЬ,Хунцяо КАН,Чунцю ВАН,Жэньюань У,Юнгуан ЦАО,Цзюньхуэй У,Илэй ЛИ. Владелец: Дуннань Элевейтор Ко, Лтд. Дата публикации: 2014-07-20.

Dot position measurement method, dot position measurement apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20100079518A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: US20230421273A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Biological information measurement device, biological information measurement method, and biological information measurement program

Номер патента: US20220175288A1. Автор: Takuro Matsuda,Yoshinari Uehara,Yukiya TANOUE. Владелец: Fukuoka University. Дата публикации: 2022-06-09.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Signal measurement method and apparatus, communication device, and storage medium

Номер патента: EP4319244A1. Автор: Ziquan HU. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Reach-measurement method for power transmission lines

Номер патента: WO2000029861A1. Автор: Yi Hu,David G. Hart,Damir Novosel,Bernhard Bachmann,Murari M. Saha. Владелец: Abb Power T & D Company Inc.. Дата публикации: 2000-05-25.

Raman gain measuring method and apparatus

Номер патента: US20040207909A1. Автор: Yasuyuki Nagao,Takayuki Miyakawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-10-21.

Measurement method of nozzle overlapping width, and inkjet recording apparatus

Номер патента: US20220212465A1. Автор: Masaaki Nishihara. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2022-07-07.

Measurement method of nozzle overlapping width, and inkjet recording apparatus

Номер патента: US11673386B2. Автор: Masaaki Nishihara. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2023-06-13.

Device for measuring shaft voltage of generator, measuring method and application

Номер патента: NL2031482B1. Автор: Wang Yang,XU Mingxing,LEI Huan,He Yuling. Владелец: North China Electric Power Univ Baoding. Дата публикации: 2023-03-23.

Measurement method and apparatus, terminal device and network device

Номер патента: US20230080009A1. Автор: Shukun Wang. Владелец: GUANGDONG OPPO MOBILE TELECOMMUNICATIONS CORP LTD. Дата публикации: 2023-03-16.

Measurement device and measurement method

Номер патента: US20190175034A1. Автор: Asao Hirano. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Communication-quality measuring apparatus, communications terminal device, communication-quality measuring method, and computer program

Номер патента: US20090185504A1. Автор: Masanobu Morinaga,Noriyuki Fukuyama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-07-23.

Cell measurement method and apparatus, devices, and medium

Номер патента: US20240251269A1. Автор: Yi Xiong. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-25.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4287691A1. Автор: Lei Chen,Xi Zhang,Fengwei Liu,Shitong YUAN,Bo Fan. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-06.

Catheter, catheter set, medical device, and ultrasonic measurement method

Номер патента: EP3988030A1. Автор: Satoshi Namima,Fumiyoshi OSHIMA,Yuta Kubo. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-27.

Time slot-free measurement method and apparatus

Номер патента: EP4117337A1. Автор: Le Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-11.

Gap-free measurement method and apparatus

Номер патента: US20230247460A1. Автор: Le Jin. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-03.

Hydrogen consumption measuring method for fuel cell system

Номер патента: US20170301931A1. Автор: Se Kwon Jung,Hyung Ki Kim,Ji Hyun Shim,Ho June Bae. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-10-19.

Throughput measuring method, computer readable medium, and apparatus

Номер патента: US20160261479A1. Автор: Yuji Nomura,Sumiyo Okada,Naoyoshi OHKAWA,Fumiyuki lizuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-08.

Fetus electrocardiogram signal measuring method and its device

Номер патента: US20100076330A1. Автор: Yoshitaka Kimura,Takuya Ito,Mitsuyuki Nakao,Kazunari Ohwada. Владелец: Tohoku Techno Arch Co Ltd. Дата публикации: 2010-03-25.

Photoemission electron microscopy and measuring method using the microscopy

Номер патента: US20050067566A1. Автор: Masami Taguchi,Takashi Ikuta,Takanori Koshikawa,Tsuneo Yasue,Ibuki Tanaka. Владелец: Ulvac PHI Inc. Дата публикации: 2005-03-31.

Non-invasive blood component measuring device, non-invasive blood component measuring method, and a computer program product

Номер патента: US20090203976A1. Автор: Toshiyuki Ozawa,Yasuhito Ohnishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2009-08-13.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

Respiratory Measurement Method, Respiratory Measurement Device, and Respiratory Measurement System

Номер патента: US20240237914A1. Автор: Shinji Imai,Koichi Murata,Masafumi Furuta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Ultrasound elasticity measuring devices and elasticity comparative measuring methods

Номер патента: US12089994B2. Автор: Shuangshuang LI. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Goods extraction device, depth measurement method, warehouse robot, and warehouse system

Номер патента: AU2021304124C1. Автор: Ying Zhao,Huixiang Li. Владелец: Hai Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Aerosol generation system, measurement method, atomization device, and power supply device

Номер патента: US12114708B2. Автор: Zhongli XU,Yonghai LI,Junjie Li. Владелец: Shenzhen FirstUnion Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Measurement method for steam valve and measurement device for steam valve

Номер патента: US20240344631A1. Автор: Kazuo Hirota,Fumiyuki Suzuki,Shingo Nishida,Masaki Hata. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Interference Measurement Method and Device

Номер патента: US20240333407A1. Автор: HAO LIU,Jin Liu,Dajie Jiang,Pu YUAN,Bule SUN,Sihao Shi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-10-03.

Bio information measurement device and bio information measurement method

Номер патента: US20210228091A1. Автор: Seung Wan Kang,Dae Keung KIM. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-07-29.

Positioning measurement method, communication device, and storage medium

Номер патента: US20240349224A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Radio resource management measurement method and apparatus

Номер патента: US20240356593A1. Автор: Yanhua Li,Rao SHI. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-24.

Electronic apparatus in wireless communication system, and mobility measurement method

Номер патента: US12058756B2. Автор: Zhongbin Qin. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Distance-measuring method and endoscopic system

Номер патента: US12023204B2. Автор: Kazunori Tokiwa,Katsuhiko Yoshimura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Upper limb multi-joint impedance measurement method and apparatus using the same

Номер патента: US12127841B2. Автор: Sang Hoon KANG,Hyunah Kang,Sung Shin Kim. Владелец: UNIST Academy Industry Research Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Photoelectric type pulse signal measuring method and apparatus

Номер патента: US09949695B2. Автор: Song Liu,Bo Li,Shasha Lou. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Animal urinary function measuring device and animal urinary function measuring method

Номер патента: US09877460B2. Автор: Hiroaki Fukuda,Ryoji Mizumachi. Владелец: LSI Medience Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Measuring device for property of photovoltaic device and measuring method using the same

Номер патента: US09866171B2. Автор: Teng-Chun Wu,Yean-San Long,Min-An TSAI,Shu-Tsung Hsu. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-01-09.

Pulse wave velocity measurement method

Номер патента: US09854976B2. Автор: Akira Tanaka,Tetsuya Takamori,Makoto Abe,Makoto Yoshizawa,Noriyasu Homma,Norihiro Sugita. Владелец: Fukushima University NUC. Дата публикации: 2018-01-02.

Interference measurement method and apparatus

Номер патента: US12143839B2. Автор: FENG Ye,Fengwei Liu,Xiaoyong Tang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-12.

Neurogenic baroreflex sensitivity measurement device, neurogenic baroreflex sensitivity measurement program and neurogenic baroreflex sensitivity measurement method

Номер патента: US09826909B2. Автор: Yuichi Kato. Владелец: SAPPORO MEDICAL UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-11-28.

Optical rotation measurement method and optical rotation measurement apparatus

Номер патента: US09713441B2. Автор: Akira Ikeda,Kazuhiro Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Breast thickness measurement device and breast thickness measurement method

Номер патента: US09675277B2. Автор: Tomoki Inoue,Takahisa Arai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Channel state information reference resource indication and measurement method and device

Номер патента: US09655109B2. Автор: Ying Peng,Qiubin Gao,Hao Ni. Владелец: China Academy of Telecommunications Technology CATT. Дата публикации: 2017-05-16.

Measuring method, pedestal and measuring system for determining biometric data of human feet

Номер патента: US09603552B2. Автор: Burghard Hoffmann,Ales Jurca,Alejandro Arrieta Alfaro,Udo Bürgel. Владелец: Vitronic Dr Ing Stein Bildverarbeitungssysteme GmbH. Дата публикации: 2017-03-28.

Dynamic point-the-bit rotary steerable drilling tool and measuring method thereof

Номер патента: US09587440B2. Автор: Weiliang Wang,Yanfeng GENG,Zhidan Yan. Владелец: China University of Petroleum CUP. Дата публикации: 2017-03-07.

Piece of apparatus for measuring the topography and thickness of the cornea and a measuring method employed to this end

Номер патента: US09504382B2. Автор: Juan Jose Marcos Munoz. Владелец: Davalor Consultoria Estrategica y Tecnologica SL. Дата публикации: 2016-11-29.

Moisture content measuring method

Номер патента: RU2689227C2. Автор: Гопичандра СУРНИЛЛА,Ричард Е. СОЛТИС,Моханнад ХАКИМ,Дэниэл А. МАКЛЕД,Майкл МАККУИЛЛЕН,Лит АЛОБИЕДАТ. Владелец: ФОРД ГЛОБАЛ ТЕКНОЛОДЖИЗ, ЛЛК. Дата публикации: 2019-05-24.

Method of determining the temperature coefficient of resistance of thin conducting films using a four-probe measurement method

Номер патента: RU2703720C1. Автор: Иван Александрович Корж. Владелец: Акционерное общество "Омский научно-исследовательский институт приборостроения" (АО "ОНИИП"). Дата публикации: 2019-10-22.

Measurements method and device

Номер патента: RU2663183C1. Автор: Чжэньсин ХУ,Вэй ЦЮАНЬ,Цзянь Чжан,Сяодун Ян,Бинчжао ЛИ,Цзиньхуа МЯО. Владелец: Хуавей Текнолоджиз Ко., Лтд.. Дата публикации: 2018-08-02.

Measurement method, information acquisition method, information sending method, terminal, and network-side device

Номер патента: AU2021323257B2. Автор: Jingjing Chen,Xiaoran ZHANG. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2024-04-04.

Measurement method, information acquisition method, information sending method, terminal and network-side equipment

Номер патента: US20230284061A1. Автор: Jingjing Chen,Xiaoran ZHANG. Владелец: China Mobile Communications Ltd Research Institute. Дата публикации: 2023-09-07.

Frequency difference measuring method

Номер патента: EP1494386A3. Автор: Young Jae Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2008-06-11.

Cell measurement method, cell measurement configuration method and apparatus, device, and medium

Номер патента: EP4362536A1. Автор: Xuhua TAO. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Interference measurement method, interference processing method, and apparatuses therefor

Номер патента: EP4351206A1. Автор: Yajun Zhu. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-10.

Strain variation based milling residual stress unbalancing value measuring method

Номер патента: CN104198093A. Автор: 张秀丽,袁铁军,孟龙晖. Владелец: Yangcheng Institute of Technology. Дата публикации: 2014-12-10.

Measuring method of residual stresses in rims of all-rolled railway wheels

Номер патента: RU2497108C1. Автор: Григорий Яковлевич Дымкин,Александр Владимирович Шевелев,Станислав Андреевич Краснобрыжий. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-исследовательский институт мостов и дефектоскопии Федерального агентства железнодорожного транспорта". Дата публикации: 2013-10-27.

Residual stress measuring method

Номер патента: RU2032162C1. Автор: А.А. Власов,А.В. Бякова,В.Г. Горбач,Я.Л. Грушевский. Владелец: Бякова Александра Викторовна. Дата публикации: 1995-03-27.

Method to determine residual stresses and energy characteristics of gas thermal coatings

Номер патента: RU2499244C1. Автор: Айнар Равилевич Ибрагимов,Татьяна Александровна Ильинкова,Инсаф Рашатович Бакиров,Татьяна Николаевна Мельникова. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Мотор 24-IX". Дата публикации: 2013-11-20.

Sample for determining residual stress in hollow blade of turbine blade

Номер патента: RU2600367C1. Автор: Борис Дмитриевич Олейник,Антон Сергеевич Нуртдинов,Анна Вячеславовна Бачева. Владелец: Открытое акционерное общество "Авиадвигатель". Дата публикации: 2016-10-20.

Method of determining residual stress

Номер патента: RU2354952C1. Автор: Григорий Максимович Рыбаков,Наталия Владимировна Дроздова,Михаил Александрович Розанов,Екатерина Михаиловна Куликова. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Московское машиностроительное производственное предприятие "САЛЮТ" (ФГУП "ММПП "САЛЮТ"). Дата публикации: 2009-05-10.

Method of determining residual stress in articles made from monocrystalline materials usng x-ray technique

Номер патента: RU2427826C1. Автор: Александр Анатольевич Алексеев,Игорь Александрович Тренинков. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт авиационных материалов" (ФГУП "ВИАМ"). Дата публикации: 2011-08-27.

Method for detection of residual stresses

Номер патента: RU2366912C1. Автор: Герман Леонидович Колмогоров,Елена Владимировна Кузнецова. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пермский государственный технический университет". Дата публикации: 2009-09-10.

Method of determining residual stresses in rods and wires

Номер патента: RU2415390C1. Автор: Герман Леонидович Колмогоров,Елена Владимировна Кузнецова. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пермский государственный технический университет". Дата публикации: 2011-03-27.

Method for determining residual stress state in articles manufactured from ferromagnetic materials

Номер патента: RU2298772C1. Автор: Евгений Григорьевич Гордиенко,Валерий Евгеньевич Гордиенко,Николай Владимирович Овчинников. Владелец: ГОУ ВПО "Санкт-Петербугский государственный архитектурно-строительный университет". Дата публикации: 2007-05-10.

Method to determine surface residual stresses

Номер патента: RU2572670C1. Автор: Андрей Геннадьевич Игнатьев,Андрей Алексеевич Третьяков. Владелец: Андрей Алексеевич Третьяков. Дата публикации: 2016-01-20.

Method of determination of surface residual stresses

Номер патента: RU2155952C2. Автор: А.И. Гневко,Д.В. Лазарев,Н.А. Казаков,В.И. Султановский,О.Е. Зубов. Владелец: Военная академия Ракетных войск стратегического назначения им. Петра Великого. Дата публикации: 2000-09-10.

Procedure for determination of residual stresses by characteristics of material hardness

Номер патента: RU2435155C2. Автор: Игорь Моисеевич Рафалович. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения" (ОАО "НПО "ЦНИИТМАШ"). Дата публикации: 2011-11-27.

Method of residual stress relaxation

Номер патента: RU2457100C2. Автор: Альберт Викторович Королев,Андрей Альбертович Королев,Александр Альбертович Королев. Владелец: Александр Альбертович Королев. Дата публикации: 2012-07-27.

Method determining residual stresses

Номер патента: RU2125252C1. Автор: Т.Е. Мельникова,Г.Л. Колмогоров,Н.А. Курапова,А.В. Коноплев,С.А. Каменев. Владелец: Пермский государственный технический университет. Дата публикации: 1999-01-20.

Method of determining asymmetry of residual stress

Номер патента: RU2290616C1. Автор: Герман Леонидович Колмогоров,Елена Владимировна Кузнецова,Тать на Евгеньевна Мельникова,Татьяна Евгеньевна Мельникова. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пермский государственный технический университет". Дата публикации: 2006-12-27.

Method of determining residual stress

Номер патента: RU2455622C1. Автор: Сергей Александрович Макеев,Дмитрий Андреевич Кузьмин,Николай Андреевич Гришаев. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирская государственная автомобильно-дорожная академия (СибАДИ)". Дата публикации: 2012-07-10.

Method of measuring residual stresses in surface layer of article

Номер патента: RU2010150C1. Автор: С.П. Косырев. Владелец: Производственное объединение "Волгодизельмаш". Дата публикации: 1994-03-30.

Method of measuring residual stress in articles made of ferromagnetic materials

Номер патента: RU2308009C1. Автор: Евгений Григорьевич Гордиенко,Валерий Евгеньевич Гордиенко. Владелец: ГОУ ВПО "Санкт-Петербургский государственный архитектурно-строительный университет". Дата публикации: 2007-10-10.

Non-destructive method determining deforming capability of technological residual stresses

Номер патента: RU2113691C1. Автор: Сергей Юрьевич Иванов,Дмитрий Витальевич Васильков,Александр Сергеевич Кондрашов,Вячеслав Алексеевич Валетов. Владелец: Вячеслав Алексеевич Валетов. Дата публикации: 1998-06-20.

Method of residual stress relaxation

Номер патента: RU2478031C2. Автор: Альберт Викторович Королев,Андрей Альбертович Королев,Александр Альбертович Королев. Владелец: Александр Альбертович Королев. Дата публикации: 2013-03-27.

Method determining residual stresses

Номер патента: RU2121666C1. Автор: Ю.И. Замащиков. Владелец: Иркутский государственный технический университет. Дата публикации: 1998-11-10.

Gear determining residual stresses

Номер патента: RU2115901C1. Автор: М.И. Дмитрук,Н.Н. Семашко. Владелец: Российский научный центр "Курчатовский институт". Дата публикации: 1998-07-20.

Method of stress measurement in hollow product and thickness of its walls by polarisation optical method and device for its implementation

Номер патента: RU2373504C2. Автор: Лев Евсеевич Гуревич,Светлана Игоревна Пархоменко,Борис Алексеевич Николаичев. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Исток" (ФГУП НПП "Исток"). Дата публикации: 2009-11-20.

Non-destructive method of stress measurement in object surface layer and stress gauge

Номер патента: RU2534565C1. Автор: Геннадий Алексеевич Копылов,Наталья Григорьевна Фёдорова. Владелец: Наталья Григорьевна Фёдорова. Дата публикации: 2014-11-27.

RADIO WAVE STATE MEASUREMENT SYSTEM, RADIO WAVE STATE MEASUREMENT METHOD, AND STORAGE MEDIUM STORING RADIO WAVE STATE MEASUREMENT PROGRAM

Номер патента: US20120003979A1. Автор: Sugahara Hiroto. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Resonant measuring method of rotation frequency of object and device implementing this method

Номер патента: RU2562149C2. Автор: Борис Михайлович Петров. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южный федеральный университет" (Южный федеральный университет). Дата публикации: 2015-09-10.

Measurement method of life cycle of minor charge carriers in silicon

Номер патента: RU2484551C1. Автор: Виктор Иванович Попов,Алексей Валентинович Алексеев,Виктор Сергеевич Белоусов,Андрей Геннадьевич Каминский,Вера Евгеньевна Каминская,Ирина Владимировна Грибова,Сергей Александрович Климов. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "ТЕЛЕКОМ-СТВ". Дата публикации: 2013-06-10.

Measuring method of pressure difference with sensor with frequency-modulated output signal and sensor for method's implementation

Номер патента: RU2548582C1. Автор: Николай Павлович Меткин,Антон Владимирович Бардин,Олег Михайлович Филонов,Павел Александрович Окин. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения". Дата публикации: 2015-04-20.

Welding current measurement method

Номер патента: RU2424096C1. Автор: Алексей Сергеевич Климов,Виталий Сергеевич Климов,Алексей Николаевич Анциборов,Андрей Константинович Кудинов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тольяттинский государственный университет". Дата публикации: 2011-07-20.

Density and viscosity measurement method and related device

Номер патента: RU2349897C2. Автор: Андрей Юрьевич Мишин,Иван Владимирович Хавронин,Александр Михайлович Павельев,Юрий Константинович Исаев. Владелец: Закрытое акционерное общество "АВИАТЕХ" (ЗАО "АВИАТЕХ"). Дата публикации: 2009-03-20.

Measurement method of influence of sun exposure angle on productivity of lawn grass

Номер патента: RU2535753C1. Автор: Петр Матвеевич Мазуркин,Светлана Ивановна Михайлова,Любовь Анатольевна Россыгина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Поволжский государственный технологический университет". Дата публикации: 2014-12-20.

Insulation resistance measurement method and device therefor

Номер патента: RU2585965C1. Автор: Вячеслав Иванович Лачин,Кирилл Юрьевич Соломенцев,Куок Уи Нгуен,Игорь Геннадиевич Балабан. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Южно-Российский государственный политехнический университет (НПИ) имени М.И. Платова". Дата публикации: 2016-06-10.

Method for determining rhenium in ores and ore concentrates by inverse volt-ampere measurements method

Номер патента: RU2247369C1. Автор: Н.А. Колпакова,Л.Г. Гольц,О.В. Августинович. Владелец: Томский политехнический университет. Дата публикации: 2005-02-27.

Measurement method for detecting a mechanical force acting on an object, and measuring device having a fibre-optic sensor unit

Номер патента: AU2023264255A1. Автор: Kai SCHICKER,Rainer Klemm,Thomas Grob. Владелец: Hitachi Rail Gts Deutschland GmbH. Дата публикации: 2024-11-14.

Vortex measurement method of flowing substance volume

Номер патента: RU2478916C2. Автор: Евгений Александрович Дерденков,Валерий Александрович Чернышев,Юрий Борисович Горбаткин,Сергей Львович Михайлов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение измерительной техники". Дата публикации: 2013-04-10.

Measuring method of refraction index of gaseous media

Номер патента: RU2495387C2. Автор: Александр Капитонович Дмитриев,Николай Николаевич Головин,Камил Абдуллович Бикмухаметов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Новосибирский государственный технический университет". Дата публикации: 2013-10-10.

Measuring method of liquid or gaseous measured medium

Номер патента: RU2495382C2. Автор: Василий Радионович Рассомагин,Юрий Федорович Рубцов,Денис Юрьевич Рубцов. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Рубин". Дата публикации: 2013-10-10.

Super high frequency aerial measurement method

Номер патента: RU2284535C2. Автор: Павел Васильевич Миляев,Анатолий Павлович Миляев,Всеволод Леонидович Морев,Юрий Николаевич Калинин,ев Павел Васильевич Мил,ев Анатолий Павлович Мил. Владелец: Ооо Нпп "Трим". Дата публикации: 2006-09-27.

Drilling pressure measurement method

Номер патента: RU2271447C2. Автор: Василий Прокопьевич Чупров,Альберт Амирзянович Шакиров,Альберт Амирз нович Шакиров. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственная фирма "ВНИИГИС-Забойные телеметрические системы" (ООО НПФ "ВНИИГИС-ЗТС"). Дата публикации: 2006-03-10.

Measuring method of refrigerating capacity of refrigerating system

Номер патента: RU2467267C1. Автор: Владимир Александрович Мельников,Борис Алексеевич Оболенский,Владимир Валерьевич Пальцев. Владелец: Общество С Ограниченной Ответственностью "Тепломер". Дата публикации: 2012-11-20.

Measuring method of systematic errors of angular encoders

Номер патента: RU2558000C1. Автор: Юрий Ефимович Дукаревич. Владелец: Юрий Ефимович Дукаревич. Дата публикации: 2015-07-27.

Water flow velocity measurement method and device

Номер патента: RU2533751C1. Автор: Игорь Евгеньевич Зайцев,Александр Александрович Гришин,Руслан Витальевич Стороженко. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Метеоприбор". Дата публикации: 2014-11-20.

Measuring method of very low flight altitude of plane, mainly hydroplane above water surface and sea disturbance parameters

Номер патента: RU2557999C1. Автор: Виктор Сергеевич Аносов,Владимир Васильевич Чернявец,Николай Николаевич Жильцов,Антон Владимирович Чернявец,Нина Владимировна Червякова,Анатолий Петрович Ванаев,Сергей Петрович Мелюшенок. Владелец: Сергей Петрович Мелюшенок. Дата публикации: 2015-07-27.

Measuring method of magnetic and charge components of signal at measurements of magnetic component of internal electromagnetic pulse

Номер патента: RU2495439C1. Автор: Андрей Иванович Потапенко,Игорь Константинович Пашкович,Евгений Александрович Фесик. Владелец: Федеральное бюджетное учреждение "12 Центральный научно-исследовательский институт Министерства обороны Российской Федерации". Дата публикации: 2013-10-10.

Measuring method of time interval between two aperiodic pulses of irregular shape

Номер патента: RU2461856C1. Автор: Борис Владимирович Скворцов,Дмитрий Игоревич Блинов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Самарский государственный аэрокосмический университет имени академика С.П. Королева (национальный исследовательский университет)" (СГАУ). Дата публикации: 2012-09-20.

Measuring method of thermal fields of electric radio items

Номер патента: RU2564053C2. Автор: Сергей Борисович Сунцов,Валерий Александрович Деревянко,Егор Александрович Морозов,Александр Васильевич Макуха,Екатерина Федоровна Смолякова. Владелец: Открытое акционерное общество "Информационные спутниковые системы" имени академика М.Ф. Решетнёва". Дата публикации: 2015-09-27.

Borehole depth measurement method

Номер патента: RU2272130C1. Автор: Владимир Алексеевич Чесноков,Виктор Алексеевич Напольский. Владелец: Акционерное открытое общество НПФ "Геофизика". Дата публикации: 2006-03-20.

Bearing measurement method and apparatus for realising said method

Номер патента: RU2520074C1. Автор: Виктор Сергеевич Щербаков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "ПРИМА". Дата публикации: 2014-06-20.

Aircraft altitude and vertical speed measurement method

Номер патента: RU2563607C1. Автор: Валерий Григорьевич Вильнер,Артем Сергеевич Рябокуль,Александр Иванович Ларюшин. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт "Полюс" им. М.Ф. Стельмаха". Дата публикации: 2015-09-20.

Thermoanemometric measurement method

Номер патента: RU2427843C2. Автор: Николай Иванович Дудкин,Михаил Николаевич Дудкин,Игорь Станиславович Адаев,Николай Иванович Дудкин (RU),Михаил Николаевич Дудкин (RU),Игорь Станиславович Адаев (RU). Владелец: Общество с ограниченной ответственностью Научно-производственное отделение "ЭКО-ИНТЕХ". Дата публикации: 2011-08-27.

Volt-ampere measuring method for numeric determination of nibentane

Номер патента: RU2247368C1. Автор: С.В. Терентьева,Е.А. Ивановская,Е.В. Автунич,С.В. Терентьева (RU),Е.В. Автунич (RU),Е.А. Ивановска (RU). Владелец: Научно-исследовательский институт кардиологии Томского научного центра СО РАМН. Дата публикации: 2005-02-27.

Measuring method of geometrical parameters of non-spherical particles in liquid as per depolarised dynamic light scattering and device for its implementation

Номер патента: RU2556285C1. Автор: Александр Давидович Левин,Екатерина Александровна Шмыткова. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ" (ФГУП "ВНИИОФИ"). Дата публикации: 2015-07-10.

A weight measurement method utilizing image processing for an automated electronic sow-feeding system

Номер патента: PH22019000394U1. Автор: John Vincent R Alladin,Christian Dominic F Allurin,James Theodor E Iglesias,Miguel Antonio G Valdellon. Владелец: Tech Institute Of The Philippines Quezon City. Дата публикации: 2022-02-23.

Measuring device of ice thickness and measuring method thereof

Номер патента: AU2021100702A4. Автор: WEI Liu,Wenting Wang,Mingxin Wang,Di Liu,Junfeng Xue,Zhifu Zhang,Tenglin DENG. Владелец: Inst Of Water Resources For Pastoral Area. Дата публикации: 2021-04-22.

Phase shift measurement method and device for its realization

Номер патента: RU2099721C1. Автор: В.Н. Авсиевич,А.В. Гребенников,М.К. Чмых,В.Б. Новиков. Владелец: Красноярский государственный технический университет. Дата публикации: 1997-12-20.

Measurement method for flatness deviation

Номер патента: RU2362119C1. Автор: Анатолий Гаврилович Астафьев,Сергей Николаевич Пидгурский,Владимир Николаевич Зюзиков. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственная корпорация "Иркут" (ОАО "Корпорация "Иркут"). Дата публикации: 2009-07-20.

Medium movement velocity measurement method and device for its implementation

Номер патента: RU2420745C1. Автор: Асим Мустафаевич Касимов,Александр Иванович Попов,Леонид Тимофеевич Чернявский. Владелец: Учреждение Российской академии наук Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН. Дата публикации: 2011-06-10.

Measurement method of pulse pressure, and device for its implementation

Номер патента: RU2484436C1. Автор: Александр Михайлович Петренко. Владелец: Государственное Научное Учреждение "Институт Физики Имени Б.И. Степанова Национальной Академии Наук Беларуси". Дата публикации: 2013-06-10.

Welding contact resistance measurement method

Номер патента: RU2457497C1. Автор: Алексей Сергеевич Климов,Александр Викторович Комиренко,Виталий Сергеевич Климов,Алексей Николаевич Анциборов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тольяттинский государственный университет". Дата публикации: 2012-07-27.

Measurement method of position of road building machine

Номер патента: RU2521972C1. Автор: Валерий Георгиевич Бондарев,Татьяна Михайловна Бондарева,Евгений Михайлович Сербин. Владелец: Евгений Михайлович Сербин. Дата публикации: 2014-07-10.

Measuring method of parameters of physical fields

Номер патента: RU2495380C2. Автор: Олег Александрович Степущенко,Олег Геннадьевич Морозов,Тагир Султанович Садеев,Дмитрий Львович Айбатов,Марат Ринатович Нургазизов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Поволжский государственный университет телекоммуникаций и информатики" (ГОУВПО ПГУТИ). Дата публикации: 2013-10-10.

Measurement method of voltages on earthing device

Номер патента: RU2452968C1. Автор: Юрий Михайлович Силаев. Владелец: Юрий Михайлович Силаев. Дата публикации: 2012-06-10.

Beam deflection measurement method

Номер патента: RU2533343C1. Автор: Владимир Сергеевич Уткин,Андрей Николаевич Булычев. Владелец: федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Вологодский государственный университет" (ВоГУ). Дата публикации: 2014-11-20.

Measuring method of direct losses of ferrite circulator at high power level

Номер патента: RU2544782C1. Автор: Валентин Александрович Крылов. Владелец: Открытое акционерное общество "Государственный Рязанский приборный завод". Дата публикации: 2015-03-20.

Angular velocity measurement method

Номер патента: RU2392626C1. Автор: Дмитрий Павлович Лукьянов,Юрий Владимирович Филатов,Михаил Михайлович Шевелько,Сергей Юрьевич Шевченко,Александр Николаевич Перегудов. Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ". Дата публикации: 2010-06-20.

Electrophysical measurement method for nanoscale metal film on semiconductor or dielectric substrate structure

Номер патента: RU2349904C1. Автор: Дмитрий Александрович Усанов,Мердан Казимагомедович Мерданов,Александр Владимирович Скрипаль,Владимир Сергеевич Скворцов,Антон Валерьевич Абрамов,Антон Сергеевич Боголюбов,Дмитрий Александрович Усанов (RU),Александр Владимирович Скрипаль (RU),Антон Валерьевич Абрамов (RU),Антон Сергеевич Боголюбов (RU),Владимир Сергеевич Скворцов (RU),Мердан Казимагомедович Мерданов (RU). Владелец: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского". Дата публикации: 2009-03-20.

Measuring method of magnetisation current of asynchronous motor with phase rotor, which operates under load

Номер патента: RU2566394C2. Автор: Дмитрий Васильевич Гуков,Андрей Константинович Васильев,Иван Владимирович Колесник,Антон Валентинович Вендт. Владелец: федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военная академия материально-технического обеспечения имени генерала армии А.В. Хрулева" Министерства обороны Российской Федерации. Дата публикации: 2015-10-27.

Measurement method for parameters of groove on shaft end face

Номер патента: RU2496097C1. Автор: Анатолий Павлович Архаров,Кирилл Сергеевич Любимов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тверской государственный технический университет". Дата публикации: 2013-10-20.

Vibrations measurement method

Номер патента: RU2535522C1. Автор: Сергей Владимирович Кузнецов,Алексей Львович Држевецкий,Николай Кондратьевич Юрков,Алексей Валерьевич Григорьев,Александр Валентинович Затылкин,Игорь Иванович Кочегаров,Юрий Алексеевич Држевецкий,Валерий Александрович Деркач. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Пензенский государственный университет". Дата публикации: 2014-12-10.

Measuring method of component-by-component flow rate of gas-liquid mixture

Номер патента: RU2521721C1. Автор: Асим Мустафаевич Касимов,Александр Иванович Попов,Атлас Валиевич Ахметзянов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова Российской академии наук. Дата публикации: 2014-07-10.

Stem base generatrix measuring method

Номер патента: RU2535751C2. Автор: Петр Матвеевич Мазуркин,Анна Евгеньевна Кудрявцева. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Поволжский государственный технологический университет". Дата публикации: 2014-12-20.

Plasma potential measurement method

Номер патента: RU2556298C2. Автор: Александр Владимирович Абрамов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный архитектурно-строительный университет". Дата публикации: 2015-07-10.

Measurement method of thermal and physical properties of solid materials by method of instantaneous flat heat source

Номер патента: RU2534429C1. Автор: Александр Георгиевич Дивин,Сергей Васильевич Пономарев,Андрей Викторович Гуров,Галина Викторовна Шишкина. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Тамбовский государственный технический университет" ФГБОУ ВПО "ТГТУ". Дата публикации: 2014-11-27.

Measuring method of contact difference of potentials

Номер патента: RU2532590C1. Автор: Степан Степанович Волков,Сергей Васильевич Николин,Михаил Юрьевич Тимашев,Дмитрий Владимирович Суворов,Геннадий Владимирович Гололобов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Рязанский государственный радиотехнический университет". Дата публикации: 2014-11-10.

Temperature measuring method of structural surface with resistance sensitive element, device for its implementation and manufacturing method of described device

Номер патента: RU2476835C1. Автор: Вячеслав Васильевич Шевчук,Евгений Георгиевич Зубов. Владелец: Российская Федерация, от имени которой выступает Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России). Дата публикации: 2013-02-27.

Measurement method of thickness of non-ferromagnetic electrically conducting coating of steel

Номер патента: RU2532858C2. Автор: Владимир Александрович Сясько,Антон Евгеньевич Ивкин,Павел Валентинович Соломенчук,Алексей Владимирович СЯСЬКО. Владелец: Закрытое Акционерное Общество "КОНСТАНТА". Дата публикации: 2014-11-10.

Bearing measurement method and apparatus therefor

Номер патента: RU2565067C1. Автор: Виктор Сергеевич Щербаков. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Научно-производственное предприятие "АВИАКОМ". Дата публикации: 2015-10-20.

Pressure measurement method, calibration method and pressure sensor based on nano- and microelectromechanical system

Номер патента: RU2484435C1. Автор: Валерий Анатольевич Васильев,Евгений Михайлович Белозубов,Павел Сергеевич Чернов. Владелец: Павел Сергеевич Чернов. Дата публикации: 2013-06-10.

Measuring method for rotation speed of pneumatic vane-type motor, and motor implementing this method

Номер патента: RU2403397C1. Автор: Виталий Валентинович Устинов. Владелец: ЗАКРЫТОЕ АКЦИОНЕРНОЕ ОБЩЕСТВО "ИНГЕРСОЛЛ-РЭНД СиАйЭс". Дата публикации: 2010-11-10.

Electrostatic field sensor and measuring method of electrostatic field

Номер патента: RU2414717C1. Автор: Александр Михайлович Шилов,Игорь Владимирович Щепихин,Юрий Михайлович Прокопьев,Виталий Юрьевич Прокопьев. Владелец: Федеральное агентство по образованию Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Новосибирский государственный университет (НГУ). Дата публикации: 2011-03-20.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.