Apparatus and method for measuring in-situ crosslink density and crosslinked product and method of forming the same
Номер патента: US20210223209A1
Опубликовано: 22-07-2021
Автор(ы): Bok Soon Kwon, Don-Wook Lee, Joo Young Kim, Suk Gyu HAHM, Young Suk Jung
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 22-07-2021
Автор(ы): Bok Soon Kwon, Don-Wook Lee, Joo Young Kim, Suk Gyu HAHM, Young Suk Jung
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Apparatus and method for measuring in-situ crosslink density and crosslinked product and method of forming the same
Номер патента: EP3855157A1. Автор: Joo Young Kim,Young Suk Jung,Bok Soon Kwon,Don-Wook Lee,Suk Gyu HAHM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-07-28.