Ion source, and mass analysis apparatus including same
Номер патента: US20160225600A1
Опубликовано: 04-08-2016
Автор(ы): Chang Joon Park, Cheolsu Han, Jong Rok AHN, Sang Jung Ahn
Принадлежит: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 04-08-2016
Автор(ы): Chang Joon Park, Cheolsu Han, Jong Rok AHN, Sang Jung Ahn
Принадлежит: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Ion source, and mass analysis apparatus including same
Номер патента: US09673035B2. Автор: Sang Jung Ahn,Cheolsu Han,Jong Rok AHN,Chang Joon Park. Владелец: Korea Research Institute of Standards and Science KRISS. Дата публикации: 2017-06-06.