• Главная
  • Ion source, and mass analysis apparatus including same

Ion source, and mass analysis apparatus including same

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Ion source assembly with multiple ionization volumes for use in a mass spectrometer

Номер патента: EP4252270A1. Автор: Michael F. Vollero. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2023-10-04.

Ion source apparatus and mass spectrometer

Номер патента: US20240213011A1. Автор: Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun,Zhi GENG. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-06-27.

Device for analyzing a sample gas comprising an ion source

Номер патента: US20160189948A1. Автор: Martin BREITENLECHNER,Armin Hansel. Владелец: UNIVERSITAET INNSBRUCK. Дата публикации: 2016-06-30.

Magnetically assisted electron impact ion source for mass spectrometry

Номер патента: US09721777B1. Автор: Felician Muntean. Владелец: Bruker Daltonics Inc. Дата публикации: 2017-08-01.

Ion source for generating ions and calibrating methods of mass spectrometer using generated ions

Номер патента: EP3703103A1. Автор: Liang Wang,Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-09-02.

Ion source for generating ions and calibrating methods of mass spectrometer using generated ions

Номер патента: US20200273685A1. Автор: Liang Wang,Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Mass spectrometry ION source

Номер патента: US12033843B2. Автор: Bruce D. Quimby,Anastasia A. ANDRIANOVA. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2024-07-09.

An ion source

Номер патента: GB2609792A. Автор: D Quimby Bruce,A Andrianova Anastasia. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2023-02-15.

Ion source

Номер патента: US20240339313A1. Автор: Bruce D. Quimby,Anastasia A. ANDRIANOVA. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2024-10-10.

Ion source for mass spectrometers

Номер патента: US09831078B2. Автор: Stuart C. Hansen,Adrian Land. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2017-11-28.

An ion source

Номер патента: WO2021194617A1. Автор: Bruce D. Quimby,Anastasia A. ANDRIANOVA. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2021-09-30.

Ion source assembly with multiple elliptical filaments

Номер патента: EP4449108A1. Автор: Jochen Wagner,Michael VOLLERO,Mario Weder. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Ion source assembly with multiple elliptical filaments

Номер патента: US20240363325A1. Автор: Jochen Wagner,Michael VOLLERO,Mario Weder. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Detectors and ion sources

Номер патента: CA2915927C. Автор: Stephen John Taylor,Alastair Clark,Robert Brian Turner,William Angus Munro. Владелец: Smiths Detection Watford Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Configuration of an atmospheric pressure ion source

Номер патента: US7601951B1. Автор: Michael Sansone,Craig M. Whitehouse,Clement Catalano. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2009-10-13.

Configuration of an atmospheric pressure ion source

Номер патента: EP1011848A1. Автор: Craig M. Whitehouse,Michael A. Sansone,Clement Catalano. Владелец: Analytica of Branford Inc. Дата публикации: 2000-06-28.

Ion guide coupled to a maldi ion source

Номер патента: GB2493602A. Автор: Jason Lee Wildgoose,Kevin Giles,Jeffery Mark Brown,Daniel James Kenny,Steven Derek Pringle,Paul Murray. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2013-02-13.

Atmospheric pressure ion source interface

Номер патента: US20210142997A1. Автор: HAMISH Stewart,Jan-Peter Hauschild,Christian Albrecht HOCK,Aivaras Venckus. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2021-05-13.

Maldi imaging and ion source

Номер патента: CA2840227A1. Автор: Jeffery Mark Brown,Daniel James Kenny,Paul Murray. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2013-01-10.

Ion source, quadrupole mass spectrometer and residual gas analyzing method

Номер патента: US09799504B2. Автор: Junya Nakai,Masanobu Nakazono,Hirotaka Yabushita,Tomoko KATSUDA. Владелец: Horiba Stec Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-24.

Magnet positioning system for ion source

Номер патента: US20230411135A1. Автор: Dustin D. HOLDEN,Nicholas A. Pedrazas. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2023-12-21.

Magnet positioning system for ion source

Номер патента: EP4248486A1. Автор: Dustin D. HOLDEN,Nicholas A. Pedrazas. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2023-09-27.

Magnet positioning system for ion source

Номер патента: WO2022109265A1. Автор: Dustin D. HOLDEN,Nicholas A. Pedrazas. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2022-05-27.

Electrodynamic mass analysis with rf biased ion source

Номер патента: US20220139691A1. Автор: Frank Sinclair,Joseph C. Olson,Alexandre Likhanskii,Peter F. Kurunczi. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2022-05-05.

Methods in mass spectrometry using collision gas as ion source

Номер патента: US20180240662A1. Автор: Johannes Schwieters,Henning WEHRS,Jamie LEWIS. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2018-08-23.

Methods in Mass Spectrometry Using Collision Gas as ION Source

Номер патента: US20200251322A1. Автор: Henning WEHRS,Jamie LEWIS,Johannes Schweiters. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2020-08-06.

Mass spectrometer and mass spectrometry

Номер патента: US20200321207A1. Автор: Kazuhiro Kawamura,Riki KITANO. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-10-08.

Laser desorption ion source

Номер патента: EP1639622A4. Автор: Ross C Willoughby,Craig M Whitehouse,Edward W Sheehan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-11-21.

Laser desorption ion source

Номер патента: EP1639622A2. Автор: Edward W. Sheehan,Ross C. Willoughby,Craig M. c/o Analytica of Branford WHITEHOUSE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-03-29.

Ion source with device for oxidising a sample

Номер патента: US8729494B2. Автор: Robert Harold Bateman. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2014-05-20.

Ion source with device for oxidising a sample

Номер патента: WO2010007368A2. Автор: Robert Harold Bateman. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2010-01-21.

Mass spectrometer with interchangeable ion sources and ion guides

Номер патента: GB2355108A. Автор: Gökhan Baykut. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2001-04-11.

Ion source with device for oxidising or halogenating a sample

Номер патента: EP2311060A2. Автор: Robert Harold Bateman. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2011-04-20.

Ion source filter

Номер патента: US20160358765A1. Автор: Graeme C. McAlister. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2016-12-08.

Ion source assembly

Номер патента: EP4406002A1. Автор: Andrew Whatley. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2024-07-31.

Impactor spray atmospheric pressure ion source with target paddle

Номер патента: US09953819B2. Автор: Stevan Bajic. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-04-24.

Ion source with controlled superposition of electrostatic and gas flow fields

Номер патента: EP1735806A2. Автор: Andreas Hieke. Владелец: Ciphergen Biosystems Inc. Дата публикации: 2006-12-27.

A mass spectrometer using a dynamic pressure ion source

Номер патента: EP1964153A2. Автор: Li Ding. Владелец: Shimadzu Research Laboratory Europe Ltd. Дата публикации: 2008-09-03.

A mass spectrometer with plural ion sources

Номер патента: GB2349270A. Автор: Yoshiaki Kato. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2000-10-25.

A mass spectrometer with plural ion sources

Номер патента: GB2358280A. Автор: Yoshiaki Kato. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2001-07-18.

Ion source for an ion mobility spectrometer

Номер патента: US20200312646A1. Автор: Gary A. Eiceman,Hermann Wollnik,Benjamin D. Gardner. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2020-10-01.

Ion source for ion mobility spectrometer

Номер патента: CA3065286A1. Автор: Gary A. Eiceman,Benjamin D. Gardner,Harmann WOLLNIK. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2020-09-25.

Ion source for an ion mobility spectrometer

Номер патента: AU2019280080A1. Автор: Gary A. Eiceman,Hermann Wollnik,Benjamin D. Gardner. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2020-10-15.

Laser desorption ion source with ion guide coupling for ion mass spectroscopy

Номер патента: EP1964156A2. Автор: Thomas R. Covey,Hassan Javaheri,Bradley B. Schneider. Владелец: MDS SCIEX Inc. Дата публикации: 2008-09-03.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: US20190341242A1. Автор: Tetsuo Sakamoto,Reiko Saito,Akio Takano,Haruko Akutsu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2019-11-07.

Impactor Spray Atmospheric Pressure Ion Source with Target Paddle

Номер патента: US20160365232A1. Автор: Stevan Bajic. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2016-12-15.

Direct sample analysis ion source

Номер патента: CA2837478A1. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas Dresch. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2012-12-06.

Method for mass spectrometry and mass spectrometer

Номер патента: US20220172938A1. Автор: Yoshihiro Ueno. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Hybrid ion source and mass spectrometric device

Номер патента: US09704699B2. Автор: Yuichiro Hashimoto,Hideki Hasegawa,Yukiko Hirabayashi,Hiroyuki Satake. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Ion source and mass spectrometer equipped therewith

Номер патента: EP4266040A1. Автор: Yasushi Terui,Kantarou MARUOKA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-10-25.

Ion source and mass spectrometer including the same

Номер патента: US20230420238A1. Автор: Yasushi Terui,Kantarou MARUOKA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Systems and methods for bubble based ion sources

Номер патента: US09812312B2. Автор: BO Yang,David P. Fries,William Abbott. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH FLORIDA. Дата публикации: 2017-11-07.

Compact laser ion source apparatus and method

Номер патента: US20240079226A1. Автор: James Johnston,Liqian Li,Ankur CHAUDHURI,Martin-lee CUSICK. Владелец: Atomic Energy of Canada Ltd AECL. Дата публикации: 2024-03-07.

Compact laser ion source apparatus and method

Номер патента: EP4264657A1. Автор: James Johnston,Liqian Li,Ankur CHAUDHURI,Martin-lee CUSICK. Владелец: Atomic Energy of Canada Ltd AECL. Дата публикации: 2023-10-25.

Ion source alignment

Номер патента: GB2542941A. Автор: MURRAY Paul,William Towers Mark. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-04-05.

Mounting Assembly for Ion Source Enclosure

Номер патента: GB2609082A9. Автор: Malpas Oliver. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2023-02-15.

Plasma ion source mass spectrometer for trace elements

Номер патента: US5049739A. Автор: Yukio Okamoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1991-09-17.

Integrated electrospray ion source

Номер патента: EP3756211A1. Автор: Thomas R. Covey,Bradley Schneider,John J. Corr,Peter Kovarik. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2020-12-30.

An electrospray ionization/atmospheric pressure chemical ionization ion source

Номер патента: GB2415290A. Автор: Robert Harold Bateman,Stevan Bajic. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2005-12-21.

Ion source

Номер патента: GB2546014A. Автор: Sinclair Ian,Majlof Lars,Ellson Richard,Stearns Richard,Derek Pringle Steven,Raymond Morris Michael. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2017-07-05.

Liquid droplet injecting apparatus and ion source

Номер патента: EP2992544A1. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-03-09.

Liquid droplet injecting apparatus and ion source

Номер патента: WO2014178418A1. Автор: Kota Iwasaki. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2014-11-06.

Surface coating on ion source

Номер патента: WO2010131004A1. Автор: David S. Douce,Gordon A. Jones,Amir Farooq. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2010-11-18.

Ion mobility analysis apparatus

Номер патента: US12111286B2. Автор: Keke WANG,Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: EP4102540A1. Автор: Yuichiro Hashimoto,Isao Furuya,Masuyuki Sugiyama,Takuma NISHIMOTO,Hiroshi Touda,Zihao ONG. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-14.

Axial atmospheric pressure photo-ionization imaging source and inlet device

Номер патента: WO2018091910A1. Автор: Jeffery Mark Brown,Steven Derek Pringle. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2018-05-24.

Pulsed voltage electrospray ion source and method for preventing analyte electrolysis

Номер патента: WO2010036636A2. Автор: Vilmos Kertesz,Gary Van Berkel. Владелец: UT-BATTELLE, LLC. Дата публикации: 2010-04-01.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: US20230056978A1. Автор: Yuichiro Hashimoto,Isao Furuya,Masuyuki Sugiyama,Takuma NISHIMOTO,Hiroshi Touda,Zihao ONG. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-02-23.

Ion source assembly for static mass spectrometer

Номер патента: US09472389B2. Автор: Michael Krummen,Johannes Schwieters,Michael Deerberg. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2016-10-18.

"Droplet pickup ion source" coupled to mobility analyzer apparatus and method

Номер патента: EP2802000A3. Автор: Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-03-04.

"droplet pickup ion source" coupled to mobility analyzer apparatus and method

Номер патента: EP2296791A1. Автор: Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-23.

"droplet pickup ion source" coupled to mobility analyzer apparatus and method

Номер патента: WO2009140227A1. Автор: Hermann Wollnik. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2009-11-19.

Ion source for mass spectrometry

Номер патента: US09870904B2. Автор: Peter Kovarik,Thomas R Covey. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2018-01-16.

Mass analysis method and inductively coupled plasma mass spectrometer

Номер патента: US09865443B2. Автор: Tadashi Taniguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Ion sources for improved robustness

Номер патента: US20240145228A1. Автор: Scott T. Quarmby,Edward Mccauley. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2024-05-02.

Ion sources for improved robustness

Номер патента: EP4362062A1. Автор: Edward Mccauley,Scott Quarmby. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2024-05-01.

Electrospray ion source

Номер патента: EP2044607A2. Автор: Paul R. Atherton,Jean Jacques Dunyach,Nigel P. Gore. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2009-04-08.

Microwave driven plasma ion source

Номер патента: EP3890449A1. Автор: Martin Tanner. Владелец: Tofwerk AG. Дата публикации: 2021-10-06.

Improvements in or relating to ion sources

Номер патента: GB1298940A. Автор: Richard Martin Elliott. Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1972-12-06.

High yield atmospheric pressure ion source for ion spectrometers in vacuum

Номер патента: GB2522801A. Автор: Jochen Franzen. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2015-08-05.

Mass analysis method and inductively coupled plasma mass spectrometer

Номер патента: US20170256388A1. Автор: Tadashi Taniguchi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-09-07.

Shield for ion source enclosure

Номер патента: WO2023170393A1. Автор: David Jones,Ian Trivett,Suloke MATHAI. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2023-09-14.

Shield for ion source enclosure

Номер патента: GB2618422A. Автор: Jones David,Trivett Ian,Mathai Suloke. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2023-11-08.

Continuously moving target for an atmospheric pressure ion source

Номер патента: US09437398B2. Автор: Michael John Tomany. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2016-09-06.

Ion source

Номер патента: GB2610091A. Автор: GORDON David,Moulds Richard,Bajic Stevan. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2023-02-22.

Ion source for mass spectrometry

Номер патента: EP3084422A1. Автор: Thomas R. Covey,Peter Kovarik. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2016-10-26.

Microspray column, mass spectrometer, and mass spectrometry

Номер патента: US20050121608A1. Автор: Yoshio Yamauchi,Toshiaki Isobe,Tohru Natsume. Владелец: Nano Solution Inc. Дата публикации: 2005-06-09.

Atmospheric pressure ion source performance enhancement

Номер патента: CA2692317C. Автор: Craig M. Whitehouse,Thomas P. White. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

High intensity ion source

Номер патента: CA2305071C. Автор: Charles Jolliffe. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 2009-03-24.

Electrospray ion source for mass spectrometry

Номер патента: CA2074266C. Автор: Brian T. Chait,Swapan K. Chowdhury,Viswanatham Katta. Владелец: ROCKEFELLER UNIVERSITY. Дата публикации: 1999-02-02.

Laser desorption ionization ion source with charge injection

Номер патента: WO2007130678A3. Автор: Andreas Hieke. Владелец: Andreas Hieke. Дата публикации: 2008-05-08.

Laser desorption ionization ion source with charge injection

Номер патента: WO2007130678A2. Автор: Andreas Hieke. Владелец: Gemio Technology, Inc.. Дата публикации: 2007-11-15.

Laser desorption ionization ion source with charge injection

Номер патента: WO2007130678B1. Автор: Andreas Hieke. Владелец: Gemio Technology Inc. Дата публикации: 2008-07-03.

Impact ionisation ion source

Номер патента: US20210280408A1. Автор: Stevan Bajic,Jeffery Mark Brown. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2021-09-09.

Ion source

Номер патента: US20220384171A1. Автор: David Gordon,Richard Barrington MOULDS,Steve Bajic. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2022-12-01.

Impact ionisation ion source

Номер патента: WO2020012163A1. Автор: Stevan Bajic,Jeffery Mark Brown. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2020-01-16.

Atmospheric pressure ion source by interacting high velocity spray with a target

Номер патента: CA2833675A1. Автор: Stevan Bajic. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2012-10-26.

Atmospheric pressure ion source by interacting high velocity spray with a target

Номер патента: GB2499681A. Автор: Stevan Bajic. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2013-08-28.

Atmospheric pressure ion source by interacting high velocity spray with a target

Номер патента: CA2833675C. Автор: Stevan Bajic. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2019-01-15.

Microspray column, mass spectrometer, and mass spectrometry

Номер патента: US6979817B2. Автор: Yoshio Yamauchi,Toshiaki Isobe,Tohru Natsume. Владелец: Nano Solution Inc. Дата публикации: 2005-12-27.

Pulsed ion source for quadrupole mass spectrometer and method

Номер патента: WO2006014285A3. Автор: Edward B Mccauley,Scott T Quarmby,George B Guckenberger. Владелец: George B Guckenberger. Дата публикации: 2007-03-22.

Removable ion source capable of axial or cross beam ionization

Номер патента: EP4248485A2. Автор: Edward B. Mccauley,Dustin D. HOLDEN. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2023-09-27.

Dynamic electron impact ion source

Номер патента: CA3106036C. Автор: TONG Cheng,David G. Welkie. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2022-03-29.

Surface coating on ion source

Номер патента: WO2010130999A1. Автор: David S. Douce,Gordon A. Jones,Amir Farooq. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2010-11-18.

Ion source and mass spectrometer

Номер патента: US20230307222A1. Автор: Wenjian Sun,Yiming Lin,Yiming Wang,Saifei CHEN. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Hybrid ion source, mass spectrometer, and ion mobility device

Номер патента: US09852897B2. Автор: Yuichiro Hashimoto,Hideki Hasegawa,Hiroyuki Satake,Masao Suga. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-12-26.

Removable Ion Source Capable Of Axial Or Cross Beam Ionization

Номер патента: US20240021426A1. Автор: Edward B. Mccauley,Dustin Donald Holden. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2024-01-18.

Ion source vessel and methods

Номер патента: CA2714287C. Автор: Lisa Cousins,Gholamreza Javahery,Charles Jolliffe,Serguei Savtchenko. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Canada Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Ion source

Номер патента: US3766396A. Автор: W Turner,W Kruger,R Board. Владелец: Hewlett Packard Co. Дата публикации: 1973-10-16.

Radio frequency ion source

Номер патента: WO2002043100A3. Автор: Marian Lesley Langford,Stuart Neville Cairns,Andrew John Marr,Ian Blair Pleasants. Владелец: Ian Blair Pleasants. Дата публикации: 2002-08-15.

Ion source for vaporizing and ionizing solid substances

Номер патента: US3758777A. Автор: C Brunnee,L Jenckel. Владелец: Varian Mat GmbH. Дата публикации: 1973-09-11.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: US8742332B2. Автор: Kazuhiko Horikoshi,Naotoshi Akamatsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-06-03.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: US20110127420A1. Автор: Kazuhiko Horikoshi,Naotoshi Akamatsu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2011-06-02.

Ion source

Номер патента: US20140225000A1. Автор: Kazuo Hayashi,Kiyokazu Sato,Kiyoshi Hashimoto,Akiko Kakutani,Takeshi Yoshiyuki,Tsutomu Kurusu,Akihiro Osanai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-14.

Feedback Control Of High-Vaccum Cold-Ion Sources Using Rydberg Atom Spectroscopy

Номер патента: US20240304433A1. Автор: David Anderson,Georg RAITHEL,Alisher DUSPAYEV. Владелец: Rydberg Technologies Inc. Дата публикации: 2024-09-12.

Feedback control of high-vacuum cold-ion sources using rydberg atom spectroscopy

Номер патента: WO2024191907A1. Автор: David Anderson,Georg RAITHEL,Alisher DUSPAYEV. Владелец: Rydberg Technologies Inc.. Дата публикации: 2024-09-19.

Methods and apparatuses for cleaning at least one surface of an ion source

Номер патента: US09468953B2. Автор: John Allison. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2016-10-18.

Non-radioactive plasma ion source

Номер патента: US11984309B1. Автор: Erkinjon G. Nazarov,James Joseph Alberti,Zev Litvak. Владелец: Microplasma Systems LLC. Дата публикации: 2024-05-14.

Methods of ion source fabrication

Номер патента: US09418827B2. Автор: Richard K. Chun,Wai Tak Lee. Владелец: Hamilton Sundstrand Corp. Дата публикации: 2016-08-16.

Atmospheric pressure ion source performance enhancement

Номер патента: CA2641038C. Автор: Thomas White,Craig M. Whitehouse,Sheda Shen. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Front plate for an ion source

Номер патента: US20100288940A1. Автор: Christopher Burgess,Richard David Goldberg. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2010-11-18.

Ion source for a mass analyser and method of cleaning an ion source

Номер патента: WO1999008309A1. Автор: Stevan Bajic. Владелец: Masslab Limited. Дата публикации: 1999-02-18.

Ion service for a mass analyser and method of cleaning an ion source

Номер патента: GB9716666D0. Автор: . Владелец: Masslab Ltd. Дата публикации: 1997-10-15.

Automatic cleaning of maldi ion sources

Номер патента: US20090200457A1. Автор: Armin Holle,Jens Horndorf. Владелец: Bruker Daltonik GmbH. Дата публикации: 2009-08-13.

Ion source, mass spectrometer, and capillary insertion method

Номер патента: EP4269997A1. Автор: Hideki Hasegawa,Masuyuki Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Methods and apparatus for cleaning at least one surface of an ion source

Номер патента: GB2486628A. Автор: John Allison. Владелец: Kratos Analytical Ltd. Дата публикации: 2012-06-27.

Ion source having a plasma and gridlike electrode

Номер патента: US3569756A. Автор: Otto Reifenschweiler. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1971-03-09.

Ion source frequency feedback device and method

Номер патента: US20050178974A1. Автор: Hongfeng Yin,Daniel Sobek,Kevin Killeen,Jing Cai. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2005-08-18.

Ion sources with improved cleaning by ablating light

Номер патента: EP3848954A3. Автор: John Mark Allison,Diana Vladimirovna KALININA. Владелец: Ascend Diagnostics Ltd. Дата публикации: 2021-08-11.

Liquid metal ion source

Номер патента: US20200303154A1. Автор: Neil Colvin,Tseh-Jen Hsieh,Neil Bassom,Michael Ameen. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2020-09-24.

Field emission ion source having heated anode

Номер патента: US4054810A. Автор: Hans-Dieter Beckey. Владелец: Varian Mat GmbH. Дата публикации: 1977-10-18.

Multilayer flow electrospray ion source using improved sheath liquid

Номер патента: CA2068850C. Автор: Iain Charles Mylchreest,Mark Edward Hail. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 1999-03-30.

Ion source, mass spectrometer, and capillary insertion method

Номер патента: US20240055249A1. Автор: Hideki Hasegawa,Masuyuki Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-02-15.

Reflector TOF With High Resolution and Mass Accuracy for Peptides and Small Molecules

Номер патента: US20080272290A1. Автор: Marvin L. Vestal. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-11-06.

Quadrupole mass filters and mass analysers

Номер патента: WO2024126994A1. Автор: David Gordon,David J. Langridge. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2024-06-20.

Mass analysis device and mass separation device

Номер патента: US9330896B2. Автор: Yoshinori Sano. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-05-03.

Improved mass spectrometer and mass filters therefor

Номер патента: WO2003096376A1. Автор: Philip Marriott. Владелец: Thermo Electron Corporation. Дата публикации: 2003-11-20.

Duoplasmatron ion source with a partially ferromagnetic anode

Номер патента: EP4049298A1. Автор: Peter Williams. Владелец: Arizona State University ASU. Дата публикации: 2022-08-31.

Duoplasmatron ion source with a partially ferromagnetic anode

Номер патента: US20210375574A1. Автор: Peter Williams. Владелец: Arizona State University ASU. Дата публикации: 2021-12-02.

Duoplasmatron ion source with a partially ferromagnetic anode

Номер патента: WO2021081347A1. Автор: Peter Williams. Владелец: Arizona Board of Regents on behalf of Arizona State University. Дата публикации: 2021-04-29.

Ion source filter

Номер патента: US09929003B2. Автор: Graeme C. McAlister. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2018-03-27.

Collision ionization ion source

Номер патента: US09899181B1. Автор: Gregory A. Schwind,Sean Kellogg,Aurelien Philippe Jean Maclou Botman,Luigi Mele,Leon van Kouwen. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2018-02-20.

Method and system for mass analysis of samples

Номер патента: EP1721150A1. Автор: Igor Chernushevich. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 2006-11-15.

Wide range electron impact ion source for a mass spectrometer

Номер патента: US12106953B2. Автор: Norbert Mueller,Jochen Wagner,Daniel VANONI. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2024-10-01.

Ion source, ion gun, and analysis instrument

Номер патента: US20150206732A1. Автор: Daisuke Sakai,Kenzo Hiraoka,Mauo SOGOU. Владелец: Ulvac PHI Inc. Дата публикации: 2015-07-23.

Ion source device

Номер патента: EP3590126A1. Автор: David DOWSETT,Tom Wirtz,Olivier De Castro,Serge Della-Negra. Владелец: Luxembourg Institute of Science and Technology LIST. Дата публикации: 2020-01-08.

Ion source device

Номер патента: US20200066476A1. Автор: David DOWSETT,Tom Wirtz,Olivier De Castro,Serge Della-Negra. Владелец: Luxembourg Institute of Science and Technology LIST. Дата публикации: 2020-02-27.

Mass spectrometry using plasma ion source

Номер патента: US20190214239A1. Автор: Kazumi Nakano,Naoki Sugiyama,Mineko Omori. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2019-07-11.

Ion source for calutrons

Номер патента: GB843172A. Автор: . Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1960-08-04.

Wide range electron impact ion source for a mass spectrometer

Номер патента: US20240038522A1. Автор: Norbert Mueller,Jochen Wagner,Daniel VANONI. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Wide range electron impact ion source for a mass spectrometer

Номер патента: EP4314804A1. Автор: Norbert Mueller,Jochen Wagner,Daniel VANONI. Владелец: Inficon Inc. Дата публикации: 2024-02-07.

Mass analysis variable exit aperture

Номер патента: WO2012161745A2. Автор: Joseph Valinski,William HAMBY. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2012-11-29.

Dual polarity spark ion source

Номер патента: RU2673792C2. Автор: Саид БАУМСЕЛЛЕК,Дмитрий ИВАШИН. Владелец: Имплант Сайенсиз Корпорэйшн. Дата публикации: 2018-11-30.

Targeted mass analysis

Номер патента: US09812307B2. Автор: Alexander Alekseevich Makarov. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2017-11-07.

High-throughput analysis using ion mobility and mass spectroscopy

Номер патента: WO2023199273A1. Автор: Chang Liu,Bradley B. Schneider,Stephen Tate. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2023-10-19.

Method and apparatus for mass analysis by multi-pole mass filters

Номер патента: GB1350980A. Автор: . Владелец: Varian Mat GmbH. Дата публикации: 1974-04-24.

Ion source and mass spectrometer

Номер патента: US20230005730A1. Автор: Yuichiro Hashimoto,Hideki Hasegawa,Masuyuki Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-01-05.

Detachable and replaceable ion source for a mass spectrometer

Номер патента: WO2010136825A1. Автор: Ian Trivett,Kevin R. Howes,Paul Anthony Read,Richard B. Moulds. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2010-12-02.

Improvements in the performance of an ion source for use with a mass spectrometer

Номер патента: WO2010136824A1. Автор: Eliot Powell,Kevin R. Howes,Paul Read. Владелец: MICROMASS UK LIMITED. Дата публикации: 2010-12-02.

Ion mobility analysis apparatus

Номер патента: US20230417704A1. Автор: Keke WANG,Xiaoqiang Zhang,Wenjian Sun. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Mass spectrometer and mass spectrometry method

Номер патента: US11942313B2. Автор: Yuki Ishikawa,Yusuke TAGAWA. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-03-26.

Modified ion source targets for use in liquid maldi ms

Номер патента: EP1218920A2. Автор: Rainer Karl Cramer. Владелец: Ludwig Institute for Cancer Research London. Дата публикации: 2002-07-03.

Ion source for ion attachment mass spectrometry apparatus

Номер патента: US20010023922A1. Автор: Toshihiro Fujii,Yoshiro Shiokawa,Megumi Nakamura. Владелец: Anelva Corp. Дата публикации: 2001-09-27.

System for preventing backflow in an ion source

Номер патента: SG178993A1. Автор: Maurizio Splendore,Christopher Mullen,Eloy R Wouters,R Paul Atherton. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2012-04-27.

System for preventing backflow in an ion source

Номер патента: EP2480317A1. Автор: Eloy R. Wouters,Maurizio Splendore,Christopher Mullen,R. Paul Atherton. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2012-08-01.

Positioning guides and ion sources

Номер патента: US09927407B2. Автор: Timothy Neal,Keith Ferrara,Rosario Mannino,Gregory Hanlon. Владелец: PerkinElmer Health Services Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Ion source for mass spectrometry

Номер патента: US09711338B2. Автор: Thomas R. Covey,Peter Kovarik. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2017-07-18.

Mass analysis device and mass analysis method

Номер патента: US9171706B1. Автор: Shinji Funatsu,Noriyuki Ojima. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-10-27.

Systems and methods for delivering liquid to an ion source

Номер патента: EP3097414A1. Автор: Peter Kovarik. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2016-11-30.

Systems and methods for delivering liquid to an ion source

Номер патента: US09941104B2. Автор: Peter Kovarik. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2018-04-10.

Curtain gas filter for high-flux ion sources

Номер патента: EP2603307A1. Автор: Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2013-06-19.

Liquid sample introduction system for ion source and analysis device

Номер патента: US20190013189A1. Автор: Daisuke Okumura,Yusuke Sakagoshi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-01-10.

Liquid sample introduction system for ion source and analysis system

Номер патента: US20190011406A1. Автор: Kazuma Maeda. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-01-10.

Positioning guides and ion sources

Номер патента: US9053913B2. Автор: Timothy Neal,Keith Ferrara,Rosario Mannino,Gregory Hanlon. Владелец: PerkinElmer Health Sciences Inc. Дата публикации: 2015-06-09.

System for preventing backflow in an ion source

Номер патента: WO2011037942A1. Автор: Eloy R. Wouters,Maurizio Splendore,Christopher Mullen,R. Paul Atherton. Владелец: Thermo Finnigan LLC. Дата публикации: 2011-03-31.

Impactor spray atmospheric pressure ion source with target paddle

Номер патента: GB2526397A. Автор: Stevan Bajic. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2015-11-25.

Time-of-flight mass-spectrometer with gasphase ion source, with high sensitivity and large dynamic range

Номер патента: AU6615394A. Автор: Thorald Dr. Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-01-12.

Ion source

Номер патента: US11749517B2. Автор: Yuichiro Hashimoto,Hideki Hasegawa,Masuyuki Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Glow discharge ion source

Номер патента: CA2730559C. Автор: Martin Raymond Green,Steven Derek Pringle,Jeffrey Mark Brown. Владелец: Micromass UK Ltd. Дата публикации: 2018-10-23.

Ion source

Номер патента: CA2245022C. Автор: Charles Jolliffe. Владелец: MDS Inc. Дата публикации: 2007-06-12.

Methods and mass spectrometry systems for acquiring mass spectral data

Номер патента: GB2621393A. Автор: Makarov Alexander,Chernyshev Denis,Thoing Christian. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-02-14.

Methods and mass spectrometry systems for acquiring mass spectral data

Номер патента: GB2621394A. Автор: Makarov Alexander,Chernyshev Denis,Thoing Christian. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-02-14.

Ion source for mass spectrometry

Номер патента: CA2809566C. Автор: Thomas R. Covey,Peter Kovarik. Владелец: DH TECHNOLOGIES DEVELOPMENT PTE LTD. Дата публикации: 2018-12-11.

Ion source device having control means for reducing filament current below its starting value

Номер патента: US3699381A. Автор: Toshio Kondo,Hifumi Tamura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1972-10-17.

Mass spectrometry method and mass spectrometer

Номер патента: US12051580B2. Автор: Hidenori Takahashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-30.

Time of flight mass analysis system

Номер патента: US20240331994A1. Автор: HAMISH Stewart,Christian Hock,Bernd Hagedorn. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-03.

Time Of Flight mass analysis system

Номер патента: GB2628558A. Автор: Hock Christian,STEWART Hamish,Hagedorn Bernd. Владелец: Thermo Fisher Scientific Bremen GmbH. Дата публикации: 2024-10-02.

Time-of-flight mass spectrometer for conducting high resolution mass analysis

Номер патента: US09613787B2. Автор: Shinichi Yamaguchi,Hideaki Izumi,Osamu Furuhashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Mass analysis

Номер патента: WO2021240238A3. Автор: Thomas R. Covey,Chang Liu. Владелец: DH Technologies Development Pte. Ltd.. Дата публикации: 2022-02-24.

Mass spectrometry method and mass spectrometer

Номер патента: US20220230861A1. Автор: Hidenori Takahashi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Mass analysis data analyzing apparatus and program thereof

Номер патента: US20090026360A1. Автор: Kazuo Yamauchi,Yoshitake Yamamoto,Yoshikatsu Umemura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2009-01-29.

Automated in-process isotope and mass spectrometry

Номер патента: WO2002060565A1. Автор: Howard M. Kingston. Владелец: Metara, Inc.. Дата публикации: 2002-08-08.

Mass analysis system

Номер патента: US20070221836A1. Автор: Kinya Kobayashi,Kiyomi Yoshinari,Atsumu Hirabayashi,Toshiyuki Yokosuka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-09-27.

Rapid authentication using surface desorption ionization and mass spectrometry

Номер патента: EP3443581A1. Автор: Gareth E. CLELAND,Kari L. ORGANTINI. Владелец: Waters Technologies Corp. Дата публикации: 2019-02-20.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: WO2004063702A2. Автор: Zheng Ouyang,Robert G. Cooks. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2004-07-29.

Gasphase ion source for time-of-flight mass-spectrometers with high mass resolution and large mass range

Номер патента: CA2127185A1. Автор: Thorald Bergmann,Eva Martina Bergmann. Владелец: Individual. Дата публикации: 1995-01-03.

Improvements in or relating to method and apparatus for particle-mass analysis

Номер патента: GB756623A. Автор: . Владелец: Beckman Instruments Inc. Дата публикации: 1956-09-05.

Rectilinear ion trap and mass analyzer system and method

Номер патента: WO2004063702A3. Автор: Zheng Ouyang,Robert G Cooks. Владелец: Robert G Cooks. Дата публикации: 2004-11-25.

Time-of-flight spectrometer with gridless ion source

Номер патента: US5065018A. Автор: Paul S. Bechtold,Matija Mihelcic,Kurt Wingerath. Владелец: FORSCHUNGSZENTRUM JUELICH GMBH. Дата публикации: 1991-11-12.

Mass spectrometer and mass spectrometric analysis method

Номер патента: RU2531369C2. Автор: Димитриос СИДЕРИС. Владелец: Димитриос СИДЕРИС. Дата публикации: 2014-10-20.

Method of bioanalytical analysis utilizing ion spectrometry, including mass analysis

Номер патента: US20240369516A1. Автор: Matthew Lewis,Nikolas Kessler. Владелец: Bruker Daltonics GmbH and Co KG. Дата публикации: 2024-11-07.

Maldi ion source and mass spectrometer

Номер патента: US20210257203A1. Автор: Hideharu SHICHI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-08-19.

Compact multi antenna based ion sources

Номер патента: WO2019051344A1. Автор: Benjamin Levitt,Brian Munroe. Владелец: Schlumberger Technology B.V.. Дата публикации: 2019-03-14.

Ion source for use in an ion implanter

Номер патента: US20060169921A1. Автор: Klaus Becker,Klaus Petry,Werner Baer. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2006-08-03.

High brightness electron impact ion source

Номер патента: US09607800B1. Автор: Peter E. Loeffler. Владелец: Nonsequitur Technologies Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Ion source and metals used in making components thereof and method of making same

Номер патента: WO2008036266A9. Автор: Maximo Frati,Nestor P Murphy,David E Rock,Hugh A Walton. Владелец: Hugh A Walton. Дата публикации: 2009-03-12.

Compact, filtered ion source

Номер патента: US09624570B2. Автор: Paul Erik SATHRUM. Владелец: Fluxion Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Ion source and coaxial inductive coupler for ion implantation system

Номер патента: EP1527473A2. Автор: Victor Benveniste,William DiVergilio. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2005-05-04.

Ion source and method

Номер патента: GB2608726A. Автор: Weichsel Tim. Владелец: Von Ardenne Asset GmbH and Co KG. Дата публикации: 2023-01-11.

Ion source and method

Номер патента: GB2597582A. Автор: Weichsel Tim. Владелец: Von Ardenne Asset GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-02-02.

Ion source and cleaning method thereof

Номер патента: US20200279720A1. Автор: Masakazu Adachi,Yuya Hirai,Tomoya Taniguchi. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-03.

Emitter structure, gas ion source and focused ion beam system

Номер патента: US09640361B2. Автор: Hiroshi Oba,Anto Yasaka,Yasuhiko Sugiyama. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Ceramic Ion Source Chamber

Номер патента: US20170309434A1. Автор: Craig R. Chaney,Neil J. Bassom. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-10-26.

Ion source having different modes of operation

Номер патента: US20230395357A1. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-07.

Ion source

Номер патента: WO2014159402A1. Автор: James Buff. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2014-10-02.

Ion source

Номер патента: US20180218876A1. Автор: James Buff. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-08-02.

Ion beam processing apparatus and method of operating ion source therefor

Номер патента: US20030030009A1. Автор: Shigeru Tanaka,Isao Hashimoto. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-02-13.

Ion source

Номер патента: US09928988B2. Автор: James Buff. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Ceramic ion source chamber

Номер патента: US09887060B2. Автор: Craig R. Chaney,Neil J. Bassom. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Ceramic ion source chamber

Номер патента: US09741522B1. Автор: Craig R. Chaney,Neil J. Bassom. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-08-22.

Ion source and ion beam device using same

Номер патента: US09640360B2. Автор: Shinichi Matsubara,Hiroyasu Shichi,Yoichi Ose,Yoshimi Kawanami,Noriaki Arai. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Maldi ion source and mass spectrometer

Номер патента: EP3806135A1. Автор: Hideharu SHICHI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-04-14.

Ion source having a shutter assembly

Номер патента: WO2014062515A1. Автор: William T. Weaver,Jeffrey Charles Blahnik. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2014-04-24.

Ion source for use in an ion implanter

Номер патента: EP1844487A2. Автор: Klaus Becker,Klaus Petry,Werner Baer. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2007-10-17.

Mass analysis magnet for a ribbon beam

Номер патента: WO2010056823A2. Автор: Victor M. Benveniste,Frank Sinclair,James S. Buff,Joseph C. Olson. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates. Дата публикации: 2010-05-20.

Ion source, ion beam irradiation apparatus, and operating method for ion source

Номер патента: US20190318904A1. Автор: Tetsuro Yamamoto. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2019-10-17.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using organoaluminium compounds and a solid target

Номер патента: US12040154B2. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Ion source device and method for providing ion source

Номер патента: US20140110598A1. Автор: Lulei Wu,Leon Shan,Chunrong Dong. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2014-04-24.

Elevated temperature rf ion source

Номер патента: US20090032727A1. Автор: William F. Divergilio. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2009-02-05.

Ion Source For Controlling Decomposition Buildup Using Chlorine Co-Gas

Номер патента: US20240249904A1. Автор: Graham Wright,Ori NOKED,Mateo Navarro Goldaraz. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

Ion source device and method for providing ion source

Номер патента: US9177750B2. Автор: Lulei Wu,Leon Shan,Chunrong Dong. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2015-11-03.

Ion source for controlling decomposition buildup using chlorine co-gas

Номер патента: WO2024155392A1. Автор: Graham Wright,Ori NOKED,Mateo Navarro Goldaraz. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-07-25.

Metallic ion source

Номер патента: US10418220B2. Автор: Masanobu Nunogaki. Владелец: Ion Lab Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-17.

Ion source

Номер патента: EP1099235A4. Автор: Wayne G Sainty. Владелец: Saintech Pty Ltd. Дата публикации: 2006-05-10.

Rf ion source with dynamic volume control

Номер патента: US20180138020A1. Автор: Bon-Woong Koo,Yong-Seok Hwang,Kyong-Jae CHUNG. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-05-17.

RF ion source with dynamic volume control

Номер патента: US09899193B1. Автор: Bon-Woong Koo,Yong-Seok Hwang,Kyong-Jae CHUNG. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2018-02-20.

Ion source for multiple charged species

Номер патента: US09818570B2. Автор: Klaus Becker,David Ackerman,Daniel Alvarado. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Reduced trace metals contamination ion source for an ion implantation system

Номер патента: US09543110B2. Автор: Neil Colvin,Tseh-Jen Hsieh. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Ion source method and apparatus

Номер патента: US5034612A. Автор: Billy W. Ward,Randall G. Percival. Владелец: Micrion Corp. Дата публикации: 1991-07-23.

Anti-breakdown ion source discharge apparatus

Номер патента: US20230207260A1. Автор: Jun Zhang,NA Li,Haiyang Liu,Yaoyao ZHANG,Song Guo,Dongdong HU,Shiran CHENG,Kaidong Xu. Владелец: Jiangsu Leuven Instruments Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Ion source

Номер патента: US20020092473A1. Автор: Wayne Sainty. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-07-18.

Hollow cathode ion source and method of extracting and accelerating ions

Номер патента: EP3390688A1. Автор: Peter Maschwitz,John Chambers. Владелец: AGC Flat Glass North America Inc. Дата публикации: 2018-10-24.

Compact multi antenna based ion sources

Номер патента: US20190080873A1. Автор: Benjamin Levitt,Brian Munroe. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2019-03-14.

Integrated extraction electrode manipulator for ion source

Номер патента: WO2016160421A1. Автор: Michael Cristoforo,Bo Vanderberg,Joseph Valinski. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2016-10-06.

Ion source and method

Номер патента: US11217426B2. Автор: Tim Weichsel. Владелец: Von Ardenne Asset GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-04.

Ion source and method

Номер патента: US20210375584A1. Автор: Tim Weichsel. Владелец: Von Ardenne Asset GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-12-02.

Dual mode ion source for ion implantation

Номер патента: EP1945832A1. Автор: Thomas Neil Horsky. Владелец: Semequip Inc. Дата публикации: 2008-07-23.

Ion source and operation method thereof

Номер патента: US20010017353A1. Автор: Takatoshi Yamashita. Владелец: Nissin Electric Co Ltd. Дата публикации: 2001-08-30.

Cesium primary ion source for secondary ion mass spectrometer

Номер патента: US09941089B2. Автор: Peter Williams,John Prince,Karen Amanda WILLIAMS,Maitrayee BOSE. Владелец: Arizona State University ASU. Дата публикации: 2018-04-10.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using a target holder and a solid target

Номер патента: US12094681B2. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Hydrogen bleed gas for an ion source housing

Номер патента: US20190348252A1. Автор: Tseh-Jen Hsieh,Neil K. Colvin. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2019-11-14.

Hydrogen bleed gas for an ion source housing

Номер патента: WO2019217953A1. Автор: Neil Colvin,Tseh-Jen Hsieh. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2019-11-14.

Ion source cleaning method and apparatus

Номер патента: WO2009155446A2. Автор: Wilhelm P. Platow,Craig R. Chaney,Bon-Woong Koo,Costel Biloiu,Eric R. Cobb. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates. Дата публикации: 2009-12-23.

Ion source chamber of a high energy implanter with a filtering device

Номер патента: US6130433A. Автор: Pei-Wei Tsai,Hua-Jen Tseng,Dong-Tay Tsai,Chih-Hsien Chang. Владелец: Mosel Vitelic Inc. Дата публикации: 2000-10-10.

Ion source gas injection beam shaping

Номер патента: EP4423788A1. Автор: Adam M. McLaughlin. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-09-04.

Ion source

Номер патента: US09859086B2. Автор: Kiyokazu Sato,Kiyoshi Hashimoto,Akiko Kakutani,Takeshi Yoshiyuki,Tsutomu Kurusu,Akihiro Osanai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2018-01-02.

Ribbon beam ion source of arbitrary length

Номер патента: US09711318B2. Автор: Nicholas R. White. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-18.

Method for ion source component cleaning

Номер патента: US09627180B2. Автор: Lloyd Anthony Brown,Ashwini Sinha,Serge Marius Campeau. Владелец: Praxair Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-18.

Ion source having replaceable and sputterable solid source material

Номер патента: US6583544B1. Автор: Thomas N. Horsky,Tommy D. Hollingsworth. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2003-06-24.

Ion source and polishing system using the same

Номер патента: US20070132358A1. Автор: Ga-Lane Chen. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-14.

Multi Species Ion Source

Номер патента: EP2867915A1. Автор: N. William Parker,Gregory A. Schwind. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2015-05-06.

Multi species ion source

Номер патента: US20160104599A1. Автор: N. William Parker,Gregory A. Schwind. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2016-04-14.

Liquid metal ion source

Номер патента: US5194739A. Автор: Hiroyuki Suzuki,Keiji Sato,Yoshie Kitamura. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1993-03-16.

Ion source

Номер патента: US10600608B1. Автор: Masakazu Adachi,Shigeki Sakai,Takayuki Murayama,Yuya Hirai,Tomoya Taniguchi,Weijiang Zhao. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-24.

Low-erosion internal ion source for cyclotrons

Номер патента: CA3105590A1. Автор: Rodrigo Varela Alonso. Владелец: Centro de Investigaciones Energeticas Medioambientales y Tecnologicas CIEMAT. Дата публикации: 2020-01-16.

Cathode and counter-cathode arrangement in an ion source

Номер патента: EP1580788A3. Автор: Richard David Goldberg,Adrian John Murrell. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2009-01-07.

Multi species ion source

Номер патента: US09627174B2. Автор: N. William Parker,Gregory A. Schwind. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2017-04-18.

Improved lifetime ion source

Номер патента: WO2015017635A1. Автор: Richard M. White,Bon-Woong Koo,William T. Levay,Eric R. Cobb. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2015-02-05.

Negative ion source and negative ion generation method

Номер патента: US20230256408A1. Автор: Akihiro Matsubara,Yoko KOKUBU. Владелец: JAPAN ATOMIC ENERGY AGENCY. Дата публикации: 2023-08-17.

Liquid metal ion source and focused ion beam apparatus

Номер патента: US20210090842A1. Автор: Yoshihiro Koyama,Masahiro Kiyohara,Tatsuya Asahata,Tsunghan Yang. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Liquid metal ion source and focused ion beam apparatus

Номер патента: US11749493B2. Автор: Yoshihiro Koyama,Masahiro Kiyohara,Tatsuya Asahata,Tsunghan Yang. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Extended lifetime ion source

Номер патента: WO2014179677A1. Автор: Neil J. Bassom,Jay Scheuer,Costel Biloiu,David P. SPORLEDER. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2014-11-06.

Ion source and polishing system using the same

Номер патента: US7567026B2. Автор: Ga-Lane Chen. Владелец: Hon Hai Precision Industry Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-28.

Method and device of ion source generation

Номер патента: US7687784B2. Автор: Jiong Chen,Tienyu Sheng,Cheng-Hui Shen,Nai-Yuan Cheng,Junhua Hong,Yun-Ju Yang,Linuan Chen. Владелец: Advanced Ion Beam Technology Inc. Дата публикации: 2010-03-30.

Particle-optical apparatus equipped with a gas ion source

Номер патента: US20070262263A1. Автор: Pieter Kruit,Vipin Tondare. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2007-11-15.

Apparatus for dynamic temperature control of an ion source

Номер патента: US9287079B2. Автор: Craig R. Chaney,Neil J. Bassom,William Davis Lee. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2016-03-15.

A mounting arrangement for positioning an ion source

Номер патента: GB2443853A. Автор: Alan Finlay. Владелец: Microsaic Systems PLC. Дата публикации: 2008-05-21.

Negative ion source with low temperature transverse divergence optical system

Номер патента: US4602161A. Автор: John H. Whealton,William L. Stirling. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1986-07-22.

Ion source having different modes of operation

Номер патента: WO2023239503A1. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-12-14.

Specific type ion source and plasma film forming apparatus

Номер патента: US20210305016A1. Автор: Haruhiko Himura. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Cathode having electron production and focusing grooves, ion source and related method

Номер патента: US8022371B2. Автор: Neil J. Bassom. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2011-09-20.

Cathode having electron production and focusing groves, ion source and related method

Номер патента: US20100140495A1. Автор: Neil J. Bassom. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2010-06-10.

Cathode having electron production and focusing grooves, ion source and related method

Номер патента: US20090001281A1. Автор: Neil J. Bassom. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2009-01-01.

Cathode having electron production and focusing grooves, ion source and related method

Номер патента: WO2009002692A2. Автор: Neil J. Bassom. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2008-12-31.

Processing system with dual ion sources

Номер патента: WO1999059384A1. Автор: James H. Rogers,Terry Bluck,Sean P. Mcginnis. Владелец: INTEVAC, INC.. Дата публикации: 1999-11-18.

Ion source structure of ion implanter and its operation method

Номер патента: US20240234079A9. Автор: Wen Yi Tan,Wen Shuo Cui. Владелец: United Semiconductor Xiamen Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Ion source devices and methods

Номер патента: US20160086763A1. Автор: Frank Goerbing. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2016-03-24.

Ion source having negatively biased extractor

Номер патента: WO2014158479A1. Автор: Peter Wraight,Arthur D. Liberman,Luke T. Perkins,Benjamin Levitt. Владелец: Schlumberger Holdings Limited. Дата публикации: 2014-10-02.

Adjustable support for arc chamber of ion source

Номер патента: US20240282543A1. Автор: Tai-Kun Kao,Sheng-Tai Peng,Ching-Heng YEN,Po-Tang Tseng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Liquid metal ion source device for using bismuth and alloy of bismuth

Номер патента: US20240331967A1. Автор: Myoung Choul Choi,Woo Jun Byeon,Byeong Jun Cha. Владелец: Korea Basic Science Institute KBSI. Дата публикации: 2024-10-03.

Ion source of an ion implanter

Номер патента: US09852887B2. Автор: Xiao Bai,Stephen Edward Savas,Zhimin Wan,Peter M. Kopalidis. Владелец: Advanced Ion Beam Technology Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Modular gridless ion source

Номер патента: CA2495416C. Автор: Harold R. Kaufman. Владелец: Kaufman and Robinson Inc. Дата публикации: 2010-10-12.

Control system for indirectly heated cathode ion source

Номер патента: EP1285452A1. Автор: Anthony Renau,Daniel Distaso,Joseph C. Olson. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2003-02-26.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using organoaluminium compounds and a solid target

Номер патента: WO2023219748A2. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-11-16.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using a target holder and organoaluminium compounds

Номер патента: US20230369006A1. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-11-16.

Adaptive controller for ion source

Номер патента: WO2008067563A3. Автор: Leonard J Mahoney,James D Deakins,Dennis J Hansen,Tolga Erguder,David M Burtner. Владелец: David M Burtner. Дата публикации: 2008-07-17.

Adaptive controller for ion source

Номер патента: WO2008067563A2. Автор: Leonard J. Mahoney,Tolga Erguder,James D. Deakins,Dennis J. Hansen,David M. Burtner. Владелец: VEECO INSTRUMENTS, INC.. Дата публикации: 2008-06-05.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using a target holder and organoaluminium compounds

Номер патента: WO2023219747A1. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-11-16.

Control system for indirectly heated cathode ion source

Номер патента: WO2001088947A1. Автор: Anthony Renau,Daniel Distaso,Joseph C. Olson. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2001-11-22.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using organoaluminium compounds and a solid target

Номер патента: WO2023219748A3. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-02-01.

Ion source for generating negatively charged ions

Номер патента: US7947965B2. Автор: Jens Peters,Hans-Hinrich Sahling,Ingo Hansen. Владелец: Deutsches Elektronen Synchrotron DESY. Дата публикации: 2011-05-24.

Ion source with recess in electrode

Номер патента: US7872422B2. Автор: Nestor P. Murphy. Владелец: Guardian Industries Corp. Дата публикации: 2011-01-18.

Hot filament, arc type ion source and method

Номер патента: US4103042A. Автор: Harold Franklin Winters. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1978-07-25.

Focused ion beam apparatus and liquid metal ion source

Номер патента: US7435972B2. Автор: Shigeru Izawa,Yuichi Madokoro,Kaoru Umemura,Hiroyasu Kaga. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2008-10-14.

Ion source for multiple charged species

Номер патента: WO2017069912A1. Автор: Klaus Becker,David Ackerman,Daniel Alvarado. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2017-04-27.

Long-LifeTime, Short Pulse, High Current Ion Source and Particle Accelerator

Номер патента: US20230260737A1. Автор: Paul Reynolds,Mark Derzon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-08-17.

Composite ion source based upon heterogeneous metal-metal fluoride system

Номер патента: US11887806B2. Автор: Graham Wright,Ryan C. Prager. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-01-30.

Composite ion source based upon heterogeneous metal-metal fluoride system

Номер патента: US20230326703A1. Автор: Graham Wright,Ryan C. Prager. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-10-12.

Ion source for neutron generator usable in wellbore

Номер патента: WO2023224675A1. Автор: Weijun Guo,Zilu Zhou. Владелец: Halliburton Energy Services, Inc.. Дата публикации: 2023-11-23.

Ion Source For Multiple Charged Species

Номер патента: US20170117113A1. Автор: Klaus Becker,David Ackerman,Daniel Alvarado. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2017-04-27.

Long-life time, short pulse, high current ion source and particle accelerator

Номер патента: EP4324011A2. Автор: Paul Reynolds,Mark S DERZON. Владелец: Gold Standard Radiation Detection Inc. Дата публикации: 2024-02-21.

Fault tolerant ion source power system

Номер патента: EP2630649A2. Автор: Dennis Hansen,James Deakins,Curtis Camus. Владелец: Veeco Instruments Inc. Дата публикации: 2013-08-28.

Closed drift ion source

Номер патента: WO2008118203A3. Автор: John Madocks. Владелец: Applied Process Technologies I. Дата публикации: 2009-04-16.

Laser ion source

Номер патента: US20130161530A1. Автор: Kazuo Hayashi,Kiyokazu Sato,Akiko Kakutani,Takeshi Yoshiyuki,Tsutomu Kurusu,Akihiro Osanai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-06-27.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using organoaluminium compounds and a solid target

Номер патента: US20230369007A1. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-11-16.

Ion source for neutron generator usable in wellbore

Номер патента: US20230380046A1. Автор: Weijun Guo,Zilu Zhou. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2023-11-23.

Rf ion source with dynamic volume control

Номер патента: WO2018085108A1. Автор: Bon-Woong Koo,Yong-Seok Hwang,Kyong-Jae CHUNG. Владелец: VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC.. Дата публикации: 2018-05-11.

Ion source filament

Номер патента: WO2002082489A3. Автор: Jaime M Reyes. Владелец: Varian Semiconductor Equipment. Дата публикации: 2003-03-27.

Ion source, ion beam irradiation apparatus, and operating method for ion source

Номер патента: US10763073B2. Автор: Tetsuro Yamamoto. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-01.

Long-life time, short pulse, high current ion source and particle accelerator

Номер патента: WO2023009188A3. Автор: Paul Reynolds,Mark S DERZON. Владелец: Gold Standard Radiation Detection, Inc.. Дата публикации: 2023-05-11.

Long-life time, short pulse, high current ion source and particle accelerator

Номер патента: WO2023009188A2. Автор: Paul Reynolds,Mark S DERZON. Владелец: Gold Standard Radiation Detection, Inc.. Дата публикации: 2023-02-02.

Composite ion source based upon heterogeneous metal-metal fluoride system

Номер патента: WO2023196058A1. Автор: Graham Wright,Ryan C. Prager. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-10-12.

Mass analysis magnet for a ribbon beam

Номер патента: WO2010056823A3. Автор: Victor M. Benveniste,Frank Sinclair,James S. Buff,Joseph C. Olson. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates. Дата публикации: 2010-09-02.

Ion source gas reactor

Номер патента: EP2248145A1. Автор: Richard Goldberg,Edward McIntyre. Владелец: Semequip Inc. Дата публикации: 2010-11-10.

Compact rf antenna for an inductively coupled plasma ion source

Номер патента: WO2012044977A2. Автор: Shouyin Zhang. Владелец: FEI COMPANY. Дата публикации: 2012-04-05.

Low-erosion internal ion source for cyclotrons

Номер патента: US20210274632A1. Автор: Rodrigo Varela Alonso. Владелец: Centro de Investigaciones Energeticas Medioambientales y Tecnologicas CIEMAT. Дата публикации: 2021-09-02.

Ion source sputtering

Номер патента: EP3338296A1. Автор: Victor Bellido-Gonzalez. Владелец: Gencoa Ltd. Дата публикации: 2018-06-27.

Ion source sputtering

Номер патента: US20180261428A1. Автор: Victor Bellido-Gonzalez. Владелец: Gencoa Ltd. Дата публикации: 2018-09-13.

Ion source liner having a lip for ion implantation systems

Номер патента: US09978555B2. Автор: Tseh-Jen Hsieh,Neil K. Colvin. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Ion source ( variants )

Номер патента: RU2187218C1. Автор: В.В. Алексеев,В.В. Зеленков,М.М. Криворучко,Джон Эдвард КИМ. Владелец: Джон Эдвард КИМ. Дата публикации: 2002-08-10.

Plasma discharge ion source

Номер патента: CA1102931A. Автор: Norman Williams. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1981-06-09.

Hall effect ion source at high current density

Номер патента: WO2002037521A3. Автор: Wayne L Johnson. Владелец: Wayne L Johnson. Дата публикации: 2003-03-13.

Hydrogen co-gas when using aluminum iodide as an ion source material

Номер патента: WO2018226574A1. Автор: Neil Colvin,Tseh-Jen Hsieh,Neil Basson. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2018-12-13.

Self-neutralized radio frequency plasma ion source

Номер патента: US20190108978A1. Автор: Craig A. Outten,David Konopka. Владелец: Denton Vacuum LLC. Дата публикации: 2019-04-11.

Ion source cathode shield

Номер патента: US09941087B2. Автор: Tseh-Jen Hsieh,Neil K. Colvin,Paul b. Silverstein. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Ion source with tailored extraction aperture

Номер патента: WO2020123061A1. Автор: Patrick HERES,Denis Robitaille. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2020-06-18.

Endcap for indirectly heated cathode of ion source

Номер патента: CA2222369C. Автор: Thomas N. Horsky,William E. Reynolds,Richard M. Cloutier. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2002-10-22.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using a target holder and a solid target

Номер патента: US20230369008A1. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-11-16.

Hybrid ion source for aluminum ion generation using a target holder and a solid target

Номер патента: WO2023219750A1. Автор: Shardul S. Patel,Graham Wright. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-11-16.

Sputter ions source

Номер патента: US6929725B2. Автор: Horst Tyrroff,Manfred Friedrich. Владелец: Forschungszentrum Dresden Rossendorf eV. Дата публикации: 2005-08-16.

Cesium primary ion source for secondary ion mass spectrometer

Номер патента: US20170309433A1. Автор: Peter Williams,John Prince,Karen Amanda WILLIAMS,Maitrayee BOSE. Владелец: Arizona State University ASU. Дата публикации: 2017-10-26.

Cesium primary ion source for secondary ion mass spectrometer

Номер патента: EP3207636A1. Автор: Peter Williams,John Prince,Karen Amanda WILLIAMS,Maitrayee BOSE. Владелец: Arizona State University ASU. Дата публикации: 2017-08-23.

Dual mode gas field ion source

Номер патента: EP2182542A1. Автор: Dieter Winkler,Juergen Frosien. Владелец: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft fuer Halbleiterprueftechnik mbH. Дата публикации: 2010-05-05.

Double chamber ion source

Номер патента: CA1039860A. Автор: James R. Winnard,Harold F. Winters,Myron F. Uman. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1978-10-03.

Method for extending lifetime of an ion source

Номер патента: SG188998A1. Автор: Ashwini Sinha,Lioyd A Brown. Владелец: Praxair Technology Inc. Дата публикации: 2013-05-31.

Negative ion source

Номер патента: US4661710A. Автор: Marthe B. Verney,Henri J. Doucet. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 1987-04-28.

Indirectly heated button cathode for an ion source

Номер патента: US20040061068A1. Автор: Peter Rose,Marvin Farley,Shu Satoh,Takao Sakase,Geoffrey Ryding,Christos Christou. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2004-04-01.

An ion source

Номер патента: GB835118A. Автор: . Владелец: Siemens Schuckertwerke AG. Дата публикации: 1960-05-18.

Distributed Ion Source Acceleration Column

Номер патента: US20110210264A1. Автор: Jabez J. Mcclelland,Brenton J. Knuffman,Adam V. Steele,Jonathan H. Orloff. Владелец: Standard. Дата публикации: 2011-09-01.

Nanotip ion sources and methods

Номер патента: US20230298878A1. Автор: Derek M. Stein,Mathilde Lepoitevin,Nicholas Drachman. Владелец: BROWN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-09-21.

Shielded gas inlet for an ion source

Номер патента: WO2023076575A3. Автор: Neil Colvin,Neil Bassom,Joshua Abeshaus. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2023-06-08.

Decaborane ion source

Номер патента: EP1093149A3. Автор: Thomas Neil Horsky,Alexander Stuart Perel,William Keith Loizides. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2003-01-02.

Linearized energetic radio-frequency plasma ion source

Номер патента: EP3711078A1. Автор: Craig A. Outten. Владелец: Denton Vacuum LLC. Дата публикации: 2020-09-23.

Nanotip ion sources and methods

Номер патента: EP4139687A1. Автор: Derek M. Stein,Mathilde Lepoitevin,Nicholas Drachman. Владелец: BROWN UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-03-01.

Nanotip ion sources and methods

Номер патента: WO2021217076A1. Автор: Derek M. Stein,Mathilde Lepoitevin,Nicholas Drachman. Владелец: BROWN UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-10-28.

Ion source providing ribbon beam with controllable density profile

Номер патента: EP1502278A1. Автор: Victor Benveniste. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2005-02-02.

Method for ion source component cleaning

Номер патента: EP2483906A1. Автор: Lloyd Anthony Brown,Ashwini Sinha,Serge Marius Campeau. Владелец: Praxair Technology Inc. Дата публикации: 2012-08-08.

Molten liquid transport for tunable vaporization in ion sources

Номер патента: WO2023239512A1. Автор: Craig R. Chaney,Graham Wright. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-12-14.

Shield for filament in an ion source

Номер патента: US12046443B2. Автор: Thomas Stewart,Klaus Becker,Luigi G. AMATO,Elvis GOMEZ,David BURGDORF,Victor THERIAULT. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Electron cyclotron resonance ion source device

Номер патента: US20130327954A1. Автор: Olivier Delferriere,Francis Harrault. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2013-12-12.

Ion source with multi-piece outer cathode

Номер патента: EP1894221A1. Автор: Hugh A. Walton. Владелец: Guardian Industries Corp. Дата публикации: 2008-03-05.

Ion source with multi-piece outer cathode

Номер патента: CA2606590A1. Автор: Hugh A. Walton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-11-16.

Actively Cooled Gas Line For Ion Source

Номер патента: US20240331972A1. Автор: Adam M. McLaughlin,Graham Wright,Mateo Navarro Goldaraz. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-03.

Actively cooled gas line for ion source

Номер патента: WO2024205841A1. Автор: Adam M. McLaughlin,Graham Wright,Mateo Navarro Goldaraz. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2024-10-03.

Ion source with substantially planar design

Номер патента: CA2585176C. Автор: Henry A. Luten,Vijayen S. Veerasamy. Владелец: Guardian Industries Corp. Дата публикации: 2010-08-10.

Method for in-process cleaning of an ion source

Номер патента: US6135128A. Автор: Victor M. Benveniste,Michael A. Graf. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 2000-10-24.

Radio frequency ion source

Номер патента: CA2208305C. Автор: Marian Lesley Langford,John Francis James Todd. Владелец: UK Secretary of State for Defence. Дата публикации: 2006-02-21.

Electron cyclotron resonance ion source

Номер патента: CA1321229C. Автор: Masaru Shimada,Iwao Watanabe,Yasuhiro Torii,James G. Hipple,Gerry Dionne. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 1993-08-10.

Ion source having wide output current operating range

Номер патента: US6060718A. Автор: Masateru Sato,Adam A. Brailove. Владелец: Eaton Corp. Дата публикации: 2000-05-09.

Multi-beam, multi-aperture ion sources of the beam-plasma type

Номер патента: US4087720A. Автор: Toshinori Takagi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 1978-05-02.

Hydrogen co-gas when using chlorine-based ion source materials

Номер патента: KR20230035057A. Автор: 네일 콜빈,네일 바솜,샹양 우. Владелец: 액셀리스 테크놀러지스, 인크.. Дата публикации: 2023-03-10.

Ion source and operation method

Номер патента: GB2360390A. Автор: Takatoshi Yamashita. Владелец: Nissin Electric Co Ltd. Дата публикации: 2001-09-19.

Alloys for liquid metal ion sources

Номер патента: CA1225229A. Автор: Shinji Takayama,Hifumi Tamura,Toshiyuki Aida,Tohru Ishitani. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1987-08-11.

Ion source gas injection beam shaping

Номер патента: US11769648B2. Автор: Adam M. McLaughlin. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-09-26.

Isothermal ion source with auxiliary heaters

Номер патента: US20240047165A1. Автор: Daniel Martin,Sarko Cherekdjian,Joseph Sherman. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2024-02-08.

Sputter ions source

Номер патента: US20040182699A1. Автор: Horst Tyrroff,Manfred Friedrich. Владелец: Forschungszentrum Dresden Rossendorf eV. Дата публикации: 2004-09-23.

Solenoid and monocusp ion source

Номер патента: US5675606A. Автор: John Paul Brainard,Erskine John Thomas Burns,Charles Hadley Draper. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1997-10-07.

Beam-plasma type ion source

Номер патента: US3999072A. Автор: Toshinori Takagi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 1976-12-21.

Liquid metal ion source

Номер патента: US20230369003A1. Автор: Ivanhoe Vasiljevich. Владелец: ENPULSION GmbH. Дата публикации: 2023-11-16.

Liquid metal ion source

Номер патента: EP4276307A1. Автор: Ivanhoe Vasiljevich. Владелец: ENPULSION GmbH. Дата публикации: 2023-11-15.

Isothermal ion source with auxiliary heaters

Номер патента: EP4260360A1. Автор: Daniel Martin,Sarko Cherekdjian,Joseph Sherman. Владелец: Shine Technologies LLC. Дата публикации: 2023-10-18.

Gas delivery system for an ion source

Номер патента: US20090289197A1. Автор: Chris Campbell,Robert Lindberg,John Slocum,Kevin M. KEEN,Stefan CASEY. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2009-11-26.

Ion source

Номер патента: CA1306074C. Автор: Tsutomu Ueno,Akio Okamoto,Soichi Ogawa,Shigeo Fukui. Владелец: Cryovac Corp. Дата публикации: 1992-08-04.

Methods for determining the virtual source location of a liquid metal ion source

Номер патента: AU2023203204A1. Автор: Mostafa Maazouz,James B. McGinn,Sean M. KELLOGG. Владелец: FEI Co. Дата публикации: 2024-01-18.

Ion source

Номер патента: US4900974A. Автор: Hifumi Tamura,Hideo Todokoro,Tohru Ishitani. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1990-02-13.

Ion source and operating method thereof

Номер патента: US20240038499A1. Автор: Yuya Hirai,Yuta Iwanami,Weijiang Zhao,Suguru ITOI. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Crucible design for liquid metal in an ion source

Номер патента: US11854760B2. Автор: Graham Wright,Daniel Alvarado,Robert C. Lindberg,Eric Donald WILSON,Jacob Mullin. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-26.

Plasma ion source and charged particle beam apparatus

Номер патента: US20160240354A1. Автор: Hiroshi Oba,Yasuhiko Sugiyama,Mamoru Okabe. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-08-18.

Ion source structure of ion implanter and its operation method

Номер патента: US20240136144A1. Автор: Wen Yi Tan,Wen Shuo Cui. Владелец: United Semiconductor Xiamen Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Miniature ion source

Номер патента: WO2023059494A1. Автор: David Lowndes WILLIAMS. Владелец: Adelphi Technology, Inc.. Дата публикации: 2023-04-13.

Gaseous ion source feed for oxygen ion implantation

Номер патента: US20020166975A1. Автор: Jaime Reyes. Владелец: Varian Semiconductor Equipment Associates Inc. Дата публикации: 2002-11-14.

System and method for introducing aluminum to an ion source

Номер патента: US11996281B1. Автор: Craig R. Chaney,Adam M. McLaughlin,Graham Wright,Ori NOKED. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-05-28.

Vaporizer, ion source and method for generating aluminum-containing vapor

Номер патента: US20240098869A1. Автор: Sami K. Hahto,George Sacco,Michael CROVO. Владелец: Nissin Ion Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Shaped repeller for an indirectly heated cathode ion source

Номер патента: EP4377989A1. Автор: Adam M. McLaughlin,Alexander S. Perel,Graham Wright,Jay S. JOHNSON,Suren Madunts. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-05.

Crucible design for liquid metal in an ion source

Номер патента: EP4360115A1. Автор: Graham Wright,Daniel Alvarado,Robert C. Lindberg,Eric Donald WILSON,Jacob Mullin. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-05-01.

Beam Current Controller for Laser Ion Source

Номер патента: US20120211668A1. Автор: Masahiro Okamura. Владелец: BROOKHAVEN SCIENCE ASSOCIATES LLC. Дата публикации: 2012-08-23.

Adjustable support for arc chamber of ion source

Номер патента: US12002647B2. Автор: Tai-Kun Kao,Sheng-Tai Peng,Ching-Heng YEN,Po-Tang Tseng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-04.

Electron-bombardment ion sources

Номер патента: US3956666A. Автор: Harold R. Kaufman,Paul D. Reader. Владелец: ION Tech Inc. Дата публикации: 1976-05-11.

Electron beam excited ion source

Номер патента: US5083061A. Автор: Akira Koshiishi,Kohei Kawamura. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 1992-01-21.

Ion sources, systems and methods

Номер патента: US7511280B2. Автор: Billy W. Ward,Randall G. Percival,Raymond Hill,Louis S. Farkas, Iii,John A. Notte, IV. Владелец: Alis Corp. Дата публикации: 2009-03-31.

Ion sources, systems and methods

Номер патента: US7554096B2. Автор: Billy W. Ward,Randall G. Percival,Raymond Hill,Louis S. Farkas, Iii,John A. Notte, IV. Владелец: Alis Corp. Дата публикации: 2009-06-30.

Ion sources, systems and methods

Номер патента: US7521693B2. Автор: Billy W. Ward,Randall G. Percival,Shawn Mcvey,Raymond Hill,Johannes Bihr,Louis S. Farkas, Iii,John A. Notte, IV. Владелец: Alis Corp. Дата публикации: 2009-04-21.

Ion sources, systems and methods

Номер патента: US20070138388A1. Автор: Billy Ward,Louis Farkas,John Notte,Randall Percival,Raymond Hill. Владелец: Alis Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

Dual filament ion source

Номер патента: US4412153A. Автор: Norman L. Turner,Charles R. Kalbfus. Владелец: Varian Associates Inc. Дата публикации: 1983-10-25.

Ion source having improved cathode

Номер патента: US4288716A. Автор: Georg Kraus,Holger Hinkel. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1981-09-08.

Liquid metal ion source

Номер патента: US5936251A. Автор: Jacques Gierak,Gerard Jacques Ben Assayag. Владелец: CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE CNRS. Дата публикации: 1999-08-10.

Ion source

Номер патента: GB892344A. Автор: Dennis Gabor. Владелец: National Research Development Corp UK. Дата публикации: 1962-03-28.

Microwave ion source

Номер патента: US4797597A. Автор: Norman A. Bostrom. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-01-10.

End-hall ion source with enhanced radiation cooling

Номер патента: CA2920813C. Автор: Harold R. Kaufman,James R. Kahn,Richard E. Nethery. Владелец: Kaufman and Robinson Inc. Дата публикации: 2020-02-18.

Field-emission ion source with spiral shaped filament heater

Номер патента: US4551650A. Автор: Hifumi Tamura,Hiroshi Okano,Tamotsu Noda. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1985-11-05.

Extended lifetime dual indirectly-heated cathode ion source

Номер патента: US11798775B2. Автор: Jonathan DAVID,Neil Bassom,Wilhelm Platow. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-24.

Ion Source Having Increased Electron Path Length

Номер патента: US20140166870A1. Автор: Kenneth E. Stephenson,Jani Reijonen,Irina Molodetsky. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2014-06-19.

System And Method For Improved Beam Current From An Ion Source

Номер патента: US20210066017A1. Автор: Frank Sinclair,Shengwu Chang,Michael St. Peter. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-03-04.

System and method for improved beam current from an ion source

Номер патента: WO2021045874A1. Автор: Frank Sinclair,Shengwu Chang,Michael St. Peter. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2021-03-11.

System and method for improved beam current from an ion source

Номер патента: WO2021045873A1. Автор: Frank Sinclair,Shengwu Chang,Michael St. Peter. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2021-03-11.

Distributed ground single antenna ion source

Номер патента: US11810763B2. Автор: Benjamin Levitt,Brian Munroe. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

System And Method For Improved Beam Current From An Ion Source

Номер патента: US20210066019A1. Автор: Frank Sinclair,Shengwu Chang,Michael St. Peter. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-03-04.

Ion Source Employing Secondary Electron Generation

Номер патента: US20140166872A1. Автор: Kenneth E. Stephenson,Jani Reijonen,Irina Molodetsky. Владелец: Schlumberger Technology Corp. Дата публикации: 2014-06-19.

Plasma processing system utilizing combined anode/ion source

Номер патента: AU6589398A. Автор: Barry W. Manley. Владелец: Sierra Applied Sciences Inc. Дата публикации: 1998-11-13.

Molten liquid transport for tunable vaporization in ion sources

Номер патента: US20230402247A1. Автор: Craig R. Chaney,Graham Wright. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Ion source repeller

Номер патента: US20220319796A1. Автор: Neil Colvin,Paul Silverstein,Steven T. Drummond. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2022-10-06.

Extended lifetime dual indirectly-heated cathode ion source

Номер патента: WO2023055451A1. Автор: Jonathan DAVID,Neil Bassom,Wilhelm Platow. Владелец: AXCELIS TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2023-04-06.

Ion source with multiple bias electrodes

Номер патента: US20220367138A1. Автор: Marvin Farley,Paul Silverstein,Neil Bassom,Wilhelm Platow,David Sporleder. Владелец: Axcelis Technologies Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Shield for filament in an ion source

Номер патента: WO2023091267A1. Автор: Thomas Stewart,Klaus Becker,Luigi G. AMATO,Elvis GOMEZ,David BURGDORF,Victor THERIAULT. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2023-05-25.

Distributed ground single antenna ion source

Номер патента: WO2022159325A9. Автор: Benjamin Levitt,Brian Munroe. Владелец: Schlumberger Technology B.V.. Дата публикации: 2022-09-15.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: US20240298400A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Dmitriy Malyutin. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-05.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: EP4425158A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Dmitriy Malyutin. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-04.

Plasma processing apparatus, analysis apparatus, plasma processing method, analysis method, and storage medium

Номер патента: US20240371603A1. Автор: Kazushi Kaneko. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Microwave plasma source and plasma processing apparatus

Номер патента: US20160358757A1. Автор: Taro Ikeda,Tomohito Komatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-12-08.

X-ray analysis apparatus and x-ray generation unit

Номер патента: US20210389262A1. Автор: Tomoki Aoyama. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

High throughput Vacuum Deposition Sources and System

Номер патента: US20210164099A1. Автор: George Xinsheng Guo. Владелец: Ascentool Inc. Дата публикации: 2021-06-03.

Wound-type accumulator having simplified arrangement of a lithium ion source

Номер патента: US09496584B2. Автор: Nobuo Ando,Makoto Taguchi,Chisato Marumo,Yuu Watanabe,Naoshi Yasuda. Владелец: JM Energy Corp. Дата публикации: 2016-11-15.

Storage device and storage unit with ion source layer and resistance change layer

Номер патента: US09761796B2. Автор: Kazuhiro Ohba,Hiroaki Sei. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Radiation detector and radiation inspection apparatus including same

Номер патента: US20240230933A9. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Biometric sensing device and display apparatus including same

Номер патента: US11657641B2. Автор: Te-Yu Lee,Yu-Tsung Liu. Владелец: Innolux Corp. Дата публикации: 2023-05-23.

Antenna board assembly and antenna apparatus including same

Номер патента: US20240363993A1. Автор: Yong Won Seo,Seong Man Kang,Oh Seog Choi,Hyoung Seok Yang,Sung Hwan So. Владелец: KMW Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

Noise reduction device and detection apparatus including same

Номер патента: US09733431B2. Автор: Michio Ishikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Object distribution analysis apparatus and object distribution analysis method

Номер патента: US20150354952A1. Автор: Takahiro Ikeda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

Sub-contact unit and direct current relay including same

Номер патента: EP4439618A1. Автор: Jin Hee Park,Ha Su KIM. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Sub-contact unit and direct current relay including same

Номер патента: US20240363297A1. Автор: Jin Hee Park,Ha Su KIM. Владелец: LS Electric Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Electrochemical apparatus and electronic apparatus including same

Номер патента: US20230207885A1. Автор: Jian Liu,Wenqiang Li,Chao Tang. Владелец: Ningde Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2023-06-29.

Electrochemical apparatus and electric device including same

Номер патента: US20230261206A1. Автор: Yibo Zhang,Hongmei Wei. Владелец: Ningde Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Mass transfer method and mass transfer device thereof for micro led device

Номер патента: US12033876B2. Автор: Bo Zhou,Yanming Liu,Bohua Chu. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

LED package set and LED bulb including same

Номер патента: US12034031B2. Автор: Seong Jin Lee,Jong Kook Lee. Владелец: Seoul Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Antenna and electronic apparatus including same

Номер патента: US12041191B2. Автор: Yongyoun KIM,Hojin JUNG,Myeongsu OH,Duho CHU,Jaesung SHIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-16.

Electrochemical apparatus and electronic apparatus including same

Номер патента: US20240274796A1. Автор: Molin ZHOU. Владелец: Ningde Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US09638729B2. Автор: Makoto Yonezawa,Yoshihiro Nishimura,Takumi Hirakawa,Seiji Morishita,Hiroyuki Maekawa,Hisahiro YAMAOKA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Semiconductor apparatus including dummy patterns

Номер патента: US20150155274A1. Автор: Yun Suk Choi,Jae Hong Jeong. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2015-06-04.

Light source unit, and display and lighting device each including same

Номер патента: US20200048546A1. Автор: Yuichiro Iguchi,Masaaki Umehara,Tatsuya Kanzaki. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2020-02-13.

Connector with light source and electronic apparatus using the same

Номер патента: US20130029528A1. Автор: An-Gang Liang. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2013-01-31.

Wafer support plate and semiconductor manufacturing apparatus including same

Номер патента: US20240068100A1. Автор: Satoshi Inagaki. Владелец: United Semiconductor Japan Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Radiation detector and radiation inspection device including same

Номер патента: EP4357819A1. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-04-24.

Radiation detector and radiation inspection apparatus including same

Номер патента: US20240134072A1. Автор: Nam Won Kim,Hyeong Sik KIM,Beom Jin Moon,Yong Cheol GIL. Владелец: Drtech Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Crystal analysis apparatus and crystal analysis method

Номер патента: US20190005635A1. Автор: Masako Kodera. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Apparatus for picking and placing battery cell elements and high speed stacking apparatus including same

Номер патента: US20230420720A1. Автор: Gi Bong CHO. Владелец: Hana Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Apparatus for picking and placing battery cell elements and high-speed stacking apparatus including same

Номер патента: EP4300643A1. Автор: Gi Bong CHO. Владелец: Hana Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-03.

Circular accelerator, particle therapy system, and ion source

Номер патента: US20240216717A1. Автор: Takayoshi Seki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-07-04.

Circular accelerator, particle beam radiotherapy system, and ion source

Номер патента: EP4408128A1. Автор: Takayoshi Seki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-07-31.

Nano-emitter ion source neutron generator

Номер патента: US20160295678A1. Автор: Weijun Guo,Juan Navarro-Sorroche. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2016-10-06.

Nano-emitter ion source neutron generator

Номер патента: EP2932508A1. Автор: Weijun Guo,Juan Navarro-Sorroche. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2015-10-21.

Nano-emitter ion source neutron generator

Номер патента: US09756714B2. Автор: Weijun Guo,Juan Navarro-Sorroche. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2017-09-05.

A twin internal ion source for particle beam production with a cyclotron

Номер патента: WO2009150072A1. Автор: Willem Kleeven,Michel Abs,Michel Ghyoot. Владелец: Ion Beam Applications S.A.. Дата публикации: 2009-12-17.

Method for the production of atomic ion species from plasma ion sources

Номер патента: US5789744A. Автор: David Spence,Keith Lykke. Владелец: US Department of Energy. Дата публикации: 1998-08-04.

A twin internal ion source for particle beam production with a cyclotron

Номер патента: EP2196073B1. Автор: Willem Kleeven,Michel Abs,Michel Ghyoot. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2011-04-27.

A twin internal ion source for particle beam production with a cyclotron

Номер патента: EP2196073A1. Автор: Willem Kleeven,Michel Abs,Michel Ghyoot. Владелец: Ion Beam Applications SA. Дата публикации: 2010-06-16.

Failure detection method, failure detection system, and electrospray ion source

Номер патента: US20240182291A1. Автор: Hideki Hasegawa,Shun KUMANO,Masuyuki Suguyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-06-06.

Optical communication system, failure analysis apparatus, and failure analysis methodof optical communication system

Номер патента: US20230101899A1. Автор: Shingo KUBOKI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-30.

Prism module, camera including same, and image display device

Номер патента: US12078920B2. Автор: Hyungjoo Kang,Youngman KWON,Jayong LEE,Dongryeol LEE,Jongwoo JEONG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-09-03.

Signal processing device and image display apparatus including same

Номер патента: US20230269417A1. Автор: Kibeom Kim,Yongjoo Kim,Junghyun Son,Jaeyoun Jung,Jeongil SON,Hwajeong LEE. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-08-24.

Projection apparatus including light sources and heat radiating members

Номер патента: US20150160541A1. Автор: Toshifume KASE. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2015-06-11.

Communication analysis apparatus and communication analysis method

Номер патента: US20130329568A1. Автор: Takeru Kuroiwa,Masanori Nakata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-12-12.

Lens driving device, camera device, and optical apparatus including same

Номер патента: US20240155775A1. Автор: Sang Ok Park,Do Yun Kim,Eun Mi Kim,Seong Min Lee. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

Packet analysis apparatus, packet analysis method, and computer readable storage medium

Номер патента: US20170257299A1. Автор: Fumiyuki Iizuka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-07.

Hydrocarbon resource heating apparatus including upper and lower wellbore RF radiators and related methods

Номер патента: US09963959B2. Автор: Francis Eugene PARSCHE. Владелец: HARRIS CORP. Дата публикации: 2018-05-08.

Projection apparatus including light sources and heat radiating members

Номер патента: US09488900B2. Автор: Toshifume KASE. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Camera actuator and camera apparatus including same

Номер патента: US20240259659A1. Автор: Dong Young Park. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Package for storing consumable product, induction heating apparatus for heating package and system including same

Номер патента: US09967924B2. Автор: James Heczko. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-08.

Video analysis apparatus, person retrieval system, and person retrieval method

Номер патента: US20210264636A1. Автор: Naoto Akira,Atsushi Hiroike,Tsutomu Imada,Hiromu NAKAMAE. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-08-26.

3d data analysis apparatus and 3d data analysis method

Номер патента: US20130251242A1. Автор: Shunsuke Suzuki,Atsuo Fujimaki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2013-09-26.

Thin film deposition apparatus including deposition blade

Номер патента: US09593408B2. Автор: Jung-Min Lee,Choong-ho Lee. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

Signal processing apparatus and image display apparatus including same

Номер патента: US11961262B2. Автор: Jongchan Kim,Kwangyeon RHEE,Dongkyu CHOI. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-04-16.

Color mixing light source and color control data system

Номер патента: EP2132942A1. Автор: Gang Chen,Michael J. Schabel,Ronen Rapaport. Владелец: Lucent Technologies Inc. Дата публикации: 2009-12-16.

LED driving apparatus and lighting apparatus including same

Номер патента: US09860955B2. Автор: Hyun Jung Kim,Bong Jin Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-01-02.

Image reading device and image forming apparatus including the same

Номер патента: US09444958B2. Автор: Yoshiyuki Asakawa,Shunsuke Yamasaki. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Portable data transfer and mass storage device for removable memory modules

Номер патента: CA2278069C. Автор: Michael S. Battaglia,Offie Lee Drennan. Владелец: SMDK Corp. Дата публикации: 2010-04-27.

Signal processing device and vehicle display apparatus including same

Номер патента: US20240211197A1. Автор: Junyoung Jung,Chulhee Lee,Eunjin Kim,Dongkyu LEE,Eunkoo Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-06-27.

Stand and display device including same

Номер патента: EP3686471A1. Автор: Dae Su CHOI,Hyun Jun Jung,Min Sik Kim,Hyun Yong Choi,Dae Sik YOON. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2020-07-29.

Analysis apparatus, analysis method, and program

Номер патента: US12034614B2. Автор: Itaru Ueda. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Information analysis apparatus and computer readable medium

Номер патента: US7792060B2. Автор: Hiroshi Okamoto,Xiaojun Ma,Yukihiro Tsuboshita. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2010-09-07.

Traffic analysis apparatus, system, method, and program

Номер патента: US11509539B2. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-11-22.

Traffic analysis apparatus, method, and program

Номер патента: US20210014144A1. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE,Sweety SUMAN. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-14.

Imaging system and optical device including same

Номер патента: US20230262356A1. Автор: Jun-Ping Qin,Yuan-Hsing Chen. Владелец: Century Technology Shenzhen Corp Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US12120142B2. Автор: Masaki INOKUCHI. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-15.

Clock distribution device, and signal processing device and image display apparatus including same

Номер патента: US20240007088A1. Автор: Mikko LAPINLAHTI,Klaus JOKINEN. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-01-04.

Apparatus and methods for detecting massive particles, locating their sources and harvesting their energy.

Номер патента: US20230148176A1. Автор: Igor Ostrovskii. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-05-11.

A security system for mass transit and mass transportation

Номер патента: EP1932338A2. Автор: Andrew Chinigo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-06-18.

Apparatus and methods for detecting massive particles, locating their sources and harvesting their energy

Номер патента: US11927705B2. Автор: Igor Ostrovskii. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-12.

Battery pack, electronic apparatus including the same, and method of controlling charge

Номер патента: US09455583B2. Автор: Hyung-wook Choi,In-Sung Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-27.

Ion source and method for operating the same

Номер патента: EP4361437A1. Автор: Nembo Buldrini. Владелец: Fotec Forschungs Und Technologietransfer Gmbh. Дата публикации: 2024-05-01.

Ion source and method for operating the same

Номер патента: WO2024088617A1. Автор: Nembo Buldrini. Владелец: Fotec Forschungs- Und Technologietransfer Gmbh. Дата публикации: 2024-05-02.

Biocidal compositions with hydronium ion sources for biofilm control

Номер патента: AU2024205673A1. Автор: Junzhong Li,Richard Staub,John Paul KOEHL,Joshua Luedtke,Jesse David HINES. Владелец: ECOLAB USA INC. Дата публикации: 2024-08-29.

Spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: US20210190686A1. Автор: Akira Sato,Shoichi Kaneko,Chikashi Ota. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2021-06-24.

Static eliminator performing static elimination with light and image forming apparatus including same

Номер патента: US20170341412A1. Автор: Hironobu OI. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2017-11-30.

Alkali metal ion source with moderate rate of ion release and methods of forming

Номер патента: CA2911246A1. Автор: Antoine Allanore,Taisiya Skorina. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2014-11-13.

Alkali metal ion source with moderate rate of ion release and methods of forming

Номер патента: CA2911246C. Автор: Antoine Allanore,Taisiya Skorina. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2023-01-03.

Ion source

Номер патента: EP4276306A1. Автор: David Krejci,Ivanhoe Vasiljevich,Quirin KOCH. Владелец: ENPULSION GmbH. Дата публикации: 2023-11-15.

Ion source

Номер патента: WO2023217449A1. Автор: David Krejci,Ivanhoe Vasiljevich,Quirin KOCH. Владелец: ENPULSION GmbH. Дата публикации: 2023-11-16.

Optical writer and image forming apparatus including same

Номер патента: US20120300008A1. Автор: Kazunori Watanabe,Keiichi Serizawa,Hiroshi Johno. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-29.

Drive unit, image forming apparatus including same, and driving method therefor

Номер патента: US20110280626A1. Автор: Kunihiko Nishioka,Tatsuo Fukushima,Mizuna Tanaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-17.

Oral care compositions comprising guanidine and stannous ion source and methods

Номер патента: CA3231143A1. Автор: Carlo DAEP,Carl MYERS,Divino RAJAH,Gokul GOVINDARAJU. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2023-03-30.

Oral care compositions comprising guanidine and stannous ion source and methods

Номер патента: AU2022349445A1. Автор: Carlo DAEP,Carl MYERS,Divino RAJAH,Gokul GOVINDARAJU. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2024-03-21.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20190101491A1. Автор: Katsumi Nishimura,Toshio Ohta,Kyoji Shibuya,Kensuke FUKUSHIRO. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-04-04.

Fixing device and image forming apparatus including same

Номер патента: US09575444B2. Автор: Akira Suzuki,Kensuke Yamaji,Takuya Seshita,Takahiro Imada,Hajime Gotoh. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Electrospray ion source with reduced neutral noise and method

Номер патента: CA2068849C. Автор: Iain Charles Mylchreest,Mark Edward Hail. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 1999-02-02.

Electrospray ion source with reduced neutral noise and method

Номер патента: US5171990A. Автор: Ian C. Mylchreest,Mark E. Hail. Владелец: Finnigan Corp. Дата публикации: 1992-12-15.

Oral Care Compositions Containing Stannous Ion Source

Номер патента: US20240180799A1. Автор: Viktor DUBOVOY,Long Pan,Zhigang Hao,Chi-Yuan Cheng,Tatiana BRINZARI,Cristina CASTRO. Владелец: Colgate Palmolive Co. Дата публикации: 2024-06-06.

Oral care compositions comprising stannous ion source, neutral amino acid, and polyphosphate

Номер патента: WO2021062621A1. Автор: Ross Strand,Yunming Shi. Владелец: The Procter & Gamble Company. Дата публикации: 2021-04-08.

Oral care compositions comprising stannous ion source, neutral amino acid, and polyphosphate

Номер патента: AU2019468502B2. Автор: Ross Strand,Yunming Shi. Владелец: Procter and Gamble Co. Дата публикации: 2024-02-01.

Sample analysis apparatus

Номер патента: US20130033708A1. Автор: Tae Soo Kim,In Duk Hwang,Chul Ho Yun,Yong Koo Lee,Seock Woo JANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-02-07.

Spring arm for laser treatment apparatus and laser treatment apparatus including same

Номер патента: US20200100861A1. Автор: Hee Chul Lee,Hyun Woong Yoon,Jong Oe BAE. Владелец: Lutronic Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Polarizing plate and display device including same

Номер патента: US20220252773A1. Автор: Dong Yoon Shin,Jun Mo Koo,Bong Choon KIM,Jung Hun YOU,Sang Hum LEE. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Gas analysis apparatus

Номер патента: US20180188172A1. Автор: Alfons Dehe,Christoph Glacer,David Tumpold. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-07-05.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20240175070A1. Автор: Takeshi Yamamoto,Keigo Mizusawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Thermal mass-flow meter and mass-flow control device using same

Номер патента: US09970801B2. Автор: Mamoru Ishii. Владелец: Hitachi Metals Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Liquid delivery device and chemical analysis apparatus using liquid delivery device

Номер патента: US09797870B2. Автор: Yoshihiro Nagaoka,Nobuhiro Tsukada. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-10-24.

Laser light source device and parking indicator light system including same

Номер патента: US10705328B2. Автор: Sa Hyun MIN. Владелец: Seongwon Tps Inc. Дата публикации: 2020-07-07.

Acoustic-assisted heat and mass transfer device

Номер патента: EP3172515A1. Автор: Jason Lye,Zinovy Z. Plavnik. Владелец: Heat Tech Inc. Дата публикации: 2017-05-31.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20070211852A1. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-09-13.

Acoustic-assisted heat and mass transfer device

Номер патента: US09671166B2. Автор: Jason Lye,Zinovy Zalman Plavnik. Владелец: HEAT TECHNOLOGIES Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

Touch sensing apparatus and touchscreen apparatus including the same

Номер патента: US09606688B2. Автор: Tah Joon Park,Byeong Hak Jo,Yong Il Kwon,Moon Suk Jeong. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Edge detecting device and image forming apparatus including the same

Номер патента: US20120237226A1. Автор: Keisuke Saka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-20.

Sample analysis apparatus and sample analysis method using the same

Номер патента: US20240077507A1. Автор: Jiyun Lim,Sangyoon Shin,Seonhwa Go,Younghye Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-07.

Program analysis apparatus, program analysis method, and non-transitory computer readable medium storing program

Номер патента: US20240037010A1. Автор: Norio Yamagaki,Yusuke Shimada. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Bearing elements, bearing apparatuses including same, and related methods

Номер патента: US20170097044A1. Автор: Craig H. Cooley,Timothy N. Sexton. Владелец: US Synthetic Corp. Дата публикации: 2017-04-06.

Information analysis apparatus, information analysis method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20240311401A1. Автор: Masaru Kawakita. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Microparticle analysis apparatus to improve analytical precision based on detection of forward-scattered light

Номер патента: US09891159B2. Автор: Katsutoshi Tahara. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Fault analysis apparatus, fault analysis method, and recording medium

Номер патента: US09612898B2. Автор: Ryosuke Togawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Bearing elements, bearing apparatuses including same, and related methods

Номер патента: US09562561B2. Автор: Craig H. Cooley,Timothy N. Sexton. Владелец: US Synthetic Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

High-speed density metre and mass flowmetre

Номер патента: RU2393433C2. Автор: Стенли В. СТЕФЕНСОН. Владелец: ХЭЛЛИБЕРТОН ЭНЕРДЖИ СЕРВИСИЗ, ИНК.. Дата публикации: 2010-06-27.

Disease analysis apparatus, disease analysis method, and computer readable medium

Номер патента: US20150332014A1. Автор: Norihito Konno,Makoto Hajiri. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2015-11-19.

Body information analysis apparatus and lip-makeup analysis method thereof

Номер патента: US20190065831A1. Автор: Shyh-Yong Shen,Min-Chang Chi,Eric Budiman GOSNO. Владелец: Cal Comp Big Data Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

Evaporation source and deposition apparatus including the same

Номер патента: US20210180178A1. Автор: Jingul KIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-17.

Radiation Detection Apparatus and Sample Analysis Apparatus

Номер патента: US20230112252A1. Автор: Ryuichi Isobe,Genki Kinugasa,Kouji Miyatake,Kota Yanagihara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-04-13.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium having recorded thereon analysis program

Номер патента: US20210199713A1. Автор: Yuji Sakai,Hajime Sugimura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Passive heat and mass transfer system

Номер патента: US20240003631A1. Автор: Roshan Jachuck. Владелец: Advanced Technology Management Group LLC. Дата публикации: 2024-01-04.

Subtitle information analysis apparatus and subtitle information analysis method

Номер патента: US20100310235A1. Автор: Akihito Masumura. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2010-12-09.

Purchase data analysis apparatus, method and storage medium

Номер патента: US20240296467A1. Автор: Yoshiaki Mizuoka,Kouta Nakata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Radiation detection apparatus and sample analysis apparatus

Номер патента: US12105229B2. Автор: Ryuichi Isobe,Genki Kinugasa,Kouji Miyatake,Kota Yanagihara. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Magnetization analysis apparatus, magnetization analysis method, and recording medium

Номер патента: US09824168B2. Автор: Koichi Shimizu,Atsushi Furuya,Tadashi Ataka. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Chopper and external weld bead removal system including same

Номер патента: US09713831B2. Автор: Gheorghe Mihailescu,Marian Martin Balta. Владелец: Quartz Matrix LLC. Дата публикации: 2017-07-25.

Analysis apparatus, analysis program, and analysis system

Номер патента: US09678325B2. Автор: Eriko Matsui,Shiori OSHIMA,Suguru Dowaki. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Motion analysis apparatus and motion analysis method

Номер патента: US09599635B2. Автор: Kazuo Nomura. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-21.

Hydrocarbon resource heating apparatus including ferromagnetic transmission line and related methods

Номер патента: US09422798B2. Автор: Francis Eugene PARSCHE. Владелец: HARRIS CORP. Дата публикации: 2016-08-23.

Optical scanner and image forming apparatus including same

Номер патента: US20130251407A1. Автор: Kazunori Watanabe,Keiichi Serizawa,Takeshi Yamakawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2013-09-26.

Belt device and image forming apparatus including same

Номер патента: US20150314976A1. Автор: Yasufumi Takahashi,Naomi Sugimoto,Masaharu Furuya,Naoki Iwaya,Yoshiki Hozumi,Kazuchika Saeki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-05.

Head mounted display apparatus including eye-tracking sensor and operating method thereof

Номер патента: US20240220008A1. Автор: Bonkon KOO,Jongchul Choi,Sanghyun Yi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-07-04.

Blood flow dynamic analysis apparatus and method, and magnetic resonance imaging system

Номер патента: US20100113914A1. Автор: Hiroyuki Kabasawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-05-06.

Queue analysis apparatus using a video analysis

Номер патента: US20220165137A1. Автор: Takashi Oya. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-05-26.

Analysis apparatus using learned model and method therefor

Номер патента: US20200065441A1. Автор: Sangjin Lee,Jaehyeon Park,Hyunsik Kim,Jeehun Park. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Water treatment apparatus filter and water treatment apparatus including same

Номер патента: US20210130198A1. Автор: Sangduck Lee,Yuseung Choi,Suchang CHO. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2021-05-06.

Game board and game apparatus including same

Номер патента: US20220016514A1. Автор: Thomas Sutherland Auchterlonie. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-01-20.

Thin film analysis apparatus and method for a curved surface

Номер патента: US20190183332A1. Автор: Aizhong Zhang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-06-20.

State determination apparatus and image analysis apparatus

Номер патента: US12086210B2. Автор: Nao Mishima,Toshiaki Nakasu,Quoc Viet Pham,Shojun Nakayama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-09-10.

Spectroscopic analysis apparatus and method of calibrating spectroscopic analysis apparatus

Номер патента: US09970817B2. Автор: Hirokazu Kasahara,Kazunori Sakurai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Sheet conveying apparatus and image forming apparatus including same

Номер патента: US09885988B2. Автор: Masanori Maeda,Daisuke Aoki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Belt device and image forming apparatus including same

Номер патента: US09708143B2. Автор: Yasufumi Takahashi,Naomi Sugimoto,Masaharu Furuya,Naoki Iwaya,Yoshiki Hozumi,Kazuchika Saeki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Polarization analysis apparatus

Номер патента: US09488568B2. Автор: Yusuke Yamazaki,Kazuhiro Sugita,Haruka OTSUKA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-08.

Static eliminator performing static elimination with light and image forming apparatus including same

Номер патента: US9944088B2. Автор: Hironobu OI. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2018-04-17.

Optical encoder and apparatus including the same

Номер патента: US20130126718A1. Автор: Hitoshi Nakamura,Chihiro Nagura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-05-23.

Auxiliary cylinder apparatus, working machine including same, and use of auxiliary cylinder

Номер патента: US20210380377A1. Автор: Dairo Matsui. Владелец: Kobelco Construction Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Heat and mass exchanger fin inserts

Номер патента: US12018898B2. Автор: Matthew Graham,Daniel A. BETTS,Matthew Tilghman. Владелец: Blue Frontier Inc. Дата публикации: 2024-06-25.

Heat and mass exchanger fin inserts

Номер патента: US20220390189A1. Автор: Matthew Graham,Daniel A. BETTS,Matthew Tilghman. Владелец: Blue Frontier Inc. Дата публикации: 2022-12-08.

Sludge treatment apparatus and excreta treatment apparatus including same

Номер патента: US20240262733A1. Автор: Hyunsuk Shin,Ginam Kim,Yongkwon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-08.

Binding apparatus and image forming system including same

Номер патента: US20200391472A1. Автор: Nobuyoshi Suzuki. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-17.

X-ray apparatus including a filter provided with filter elements having an adjustable absorption

Номер патента: EP1169715A1. Автор: Menno W. J. Prins. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2002-01-09.

Power switch structure and image forming apparatus including same

Номер патента: US20110280608A1. Автор: Hiroshi Ishii,Kanae Amemiya,Toshihiro Shimada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-17.

X-ray apparatus including a filter provided with filter elements having an adjustable absorption

Номер патента: US20010043670A1. Автор: Menno Prins. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 2001-11-22.

Ion generating device and image forming apparatus including same

Номер патента: US20080246828A1. Автор: Masashi Hirai,Kuniaki Nakano,Kazuaki Ishikawa. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2008-10-09.

Sludge treatment apparatus and excreta treatment apparatus including same

Номер патента: EP4431467A1. Автор: Hyunsuk Shin,Ginam Kim,Yongkwon Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-18.

Light-emitting apparatus and lighting apparatus including the same

Номер патента: US09869461B2. Автор: Kang Yeol PARK,Chang Gyun Son,Ki Cheol Kim. Владелец: LG Innotek Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Computed-tomography apparatus including detectors with different sensitivities

Номер патента: US09770219B2. Автор: Daniel Gagnon,Yuexing Zhang,Miesher L. Rodrigues. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2017-09-26.

Flush operating apparatus and toilet apparatus including same

Номер патента: US09695581B2. Автор: Koki SHINOHARA,Hideki TANIMOTO,Yukinori Kubozono. Владелец: TOTO LTD. Дата публикации: 2017-07-04.

Sheet post-processing apparatus and image forming system including same

Номер патента: US09656826B2. Автор: Masuo Kawamoto,Yoshiyuki Asakawa,Masahiko Miyazaki. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Three-dimensional flow velocity vector, energy and mass gauge

Номер патента: US09568489B2. Автор: Xiaofeng Song,Guanglin Du,Guoping DU,Jiajia DU. Владелец: Nanjing Emperodam Co ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US09547094B2. Автор: Mark Alexander Pals,Jeroen RINSEMA. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-01-17.

Replaceable light source and radiation generating device including the same

Номер патента: US09463075B2. Автор: Clark Bowlsbey,Edward Q. Castle, JR.,Kyle Bowlsbey. Владелец: Southern Linac LLC. Дата публикации: 2016-10-11.

Transfer unit and image forming apparatus including same

Номер патента: US09341990B2. Автор: Ryo Hasegawa. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-17.

Ultrasonic probe and ultrasonic imaging device including same

Номер патента: EP3949864A1. Автор: Won-Soon Hwang,Won Seok Jang,Min Seon Seo. Владелец: Samsung Medison Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-09.

Recording medium storing system analysis program, system analysis apparatus and system analysis method

Номер патента: US8156087B2. Автор: Toshihiro Shimizu,Hirokazu Iwakura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-04-10.

Polarizing plate and display device including same

Номер патента: US11880055B2. Автор: Dong Yoon Shin,Jun Mo Koo,Bong Choon KIM,Jung Hun YOU,Sang Hum LEE. Владелец: Samsung SDI Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-23.

Optical Scanner And Image Forming Apparatus Including Same

Номер патента: US20120200655A1. Автор: Kazunori Watanabe,Keiichi Serizawa,Hiroshi Johno. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-09.

Data analysis apparatus, method, and computer readable method

Номер патента: US20220043888A1. Автор: Florian BEYE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-10.

Backlight unit and display device including same

Номер патента: US20220035092A1. Автор: Dae Young Kim,Gong Hee LEE,Soon Jung KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-02-03.

Humidification module and electronic apparatus including same

Номер патента: US20230266022A1. Автор: Jongchan Kwon,Hyejin LIM,Youngchang SEO,Youngmok PARK. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-08-24.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20130208274A1. Автор: Yuji Ikeda. Владелец: Imagineering Inc. Дата публикации: 2013-08-15.

Light module for plant cultivation and plant cultivation apparatus including the same

Номер патента: US20230354753A1. Автор: Hyun Su Song. Владелец: Seoul Viosys Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Illumination apparatus and optical inspection apparatus including the same

Номер патента: US20220333761A1. Автор: Jungmin Lee,Dongwoo Kim,Boyoung Kim. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Sample ingredient analysis apparatus and sample ingredient analysis method using the same

Номер патента: US20240219306A1. Автор: Seong Ho Cho. Владелец: Answeray Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Analysis apparatus, analysis system, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20230376607A1. Автор: Junpei Kamimura,Kazuhiko Isoyama,Yoshiakai SHKAE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-23.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US20230386616A1. Автор: Yoshio Kondo,Kazunari Yamada. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-11-30.

Biochemical analysis apparatus and biochemical analysis method

Номер патента: US20210181224A1. Автор: Kiyohiro Sugiyama,Takanori ONOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Biochemical analysis apparatus and biochemical analysis method

Номер патента: US20240118302A1. Автор: Kiyohiro Sugiyama,Takanori ONOKI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: US20220167902A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-06-02.

Electromagnetic signal analysis apparatus and electromagnetic signal analysis program

Номер патента: US11680896B2. Автор: Akira Watanabe,Tadashi Okuno,Takeji Ueda. Владелец: Femto Deployments Inc. Дата публикации: 2023-06-20.

Electromagnetic signal analysis apparatus and electromagnetic signal analysis program

Номер патента: US20220128463A1. Автор: Akira Watanabe,Tadashi Okuno,Takeji Ueda. Владелец: Femto Deployments Inc. Дата публикации: 2022-04-28.

Analysis apparatus

Номер патента: US20190101742A1. Автор: Yukio Watanabe,Shinya Nakajima,Kenji Nakanishi,Shigeki Masuda. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-04-04.

Radionuclide analysis apparatus, radionuclide analysis method, and radionuclide analysis program

Номер патента: US20230288585A1. Автор: Takahisa Hanada. Владелец: Nihon Medi Physics Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Analysis apparatus, analysis method, and computer-readable medium

Номер патента: US20220309431A1. Автор: Nobuaki Ema,Tatenobu SEKI,Takahiro KAMBE,Masato Annen. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-09-29.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: EP3923791A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2021-12-22.

Electrocardiogram waveform analysis apparatus

Номер патента: WO2020166413A1. Автор: Tomoyoshi Natsui. Владелец: Nihon Kohden Corporation. Дата публикации: 2020-08-20.

Analysis apparatus

Номер патента: US20050078870A1. Автор: Hisanaga Iwase. Владелец: Pioneer Corp. Дата публикации: 2005-04-14.

Automatic analysis apparatus, automatic analysis method, and storage medium

Номер патента: US10859483B2. Автор: Hirotoshi Tahara,Satoru Sugita,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2020-12-08.

Food analysis apparatus

Номер патента: US20240102920A1. Автор: Hyun Ki Jung. Владелец: Beyond Honeycomb Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Analysis apparatus, analysis method, and analysis program

Номер патента: US20240319121A1. Автор: Yoshiyasu Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Dynamic image analysis apparatus, recording medium, and dynamic image analysis method

Номер патента: US20240331153A1. Автор: Noritsugu Matsutani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-03.

Radiographic image analysis apparatus and recording medium

Номер патента: US20240362776A1. Автор: Satoshi Noma,Akinori Tsunomori,Masakuni UEYAMA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-10-31.

Analysis apparatus, communication system, non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12131423B2. Автор: Masaya Fujiwaka. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Digital micromirror device (DMD) headlamp with optimized component placement and moving body including same

Номер патента: US12055281B2. Автор: Myeong Je Kim. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Analysis apparatus, analysis method, and recording medium having recorded thereon analysis program

Номер патента: US12146896B2. Автор: Yuji Sakai,Hajime Sugimura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-11-19.

Cell analysis apparatus and cell analysis method

Номер патента: US09733186B2. Автор: Masakazu Fukuda,Masaki Ishisaka,Kazuki Kishi. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Analysis apparatus and analysis method

Номер патента: US09638709B2. Автор: Takaaki Nagai,Yuichi Hamada,Masaharu Shibata. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Crystal analysis apparatus, composite charged particle beam device, and crystal analysis method

Номер патента: US09470642B2. Автор: Toshiaki Fujii,Xin Man. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Illumination device and liquid crystal display apparatus including same

Номер патента: CA2165405C. Автор: Toshiyuki Kanda,Hiroshi Takabayashi,Yoshihiro Onitsuka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2000-05-16.

Mass velocity and area weighted averaging fluid composition sampler and mass flow meter

Номер патента: CA2610250C. Автор: Jerome L. Kurz. Владелец: LOS ROBLES ADVERTISING Inc. Дата публикации: 2012-11-20.

Ultrasonic probe and photoacoustic apparatus including same

Номер патента: US20190064349A1. Автор: Koichi Suzuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2019-02-28.

Apparatus for and method of mass analysis

Номер патента: US10969319B2. Автор: Noriaki Sakai,Hideyuki Akiyama,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2021-04-06.

Chemical analysis apparatus, pretreatment apparatus, and chemical analysis method

Номер патента: US10408826B2. Автор: Shinichi Taniguchi,Takahiro Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-09-10.

Heating apparatus and cooking apparatus including same

Номер патента: US11832752B2. Автор: Sungho Choi,Jeonghyun LEE. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-12-05.

Chemical analysis apparatus, pretreatment apparatus, and chemical analysis method

Номер патента: US20180080930A1. Автор: Shinichi Taniguchi,Takahiro Ando. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-03-22.

Blood analysis apparatus and setting method of measurement position in blood analysis apparatus

Номер патента: US8248586B2. Автор: Mamoru Tomita. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2012-08-21.

Aggregate drying system with improved aggregate dryer and mass flow apparatus

Номер патента: CA1307521C. Автор: Paul E. Bracegirdle. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-09-15.

Method for improving heat and mass transfers toward and/or through a wall

Номер патента: US5540277A. Автор: Jean-Paul Gourlia,Isidore Jacubowiez. Владелец: Societe National Elf Aquitaine. Дата публикации: 1996-07-30.

Illumination Device and Liquid Crystal Display Apparatus Including Same

Номер патента: CA2165406A1. Автор: Toshiyuki Kanda,Hiroshi Takabayashi,Yoshihiro Onitsuka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1996-06-17.

Pcr thermal block with pattern heaters repeatedly arranged and pcr apparatus including same

Номер патента: CA2907654C. Автор: Sung-Woo Kim,Jung-Hwan Lee,Duck-Joong Kim. Владелец: Nanobiosys Inc. Дата публикации: 2022-07-12.

Method and apparatus for continuous, gravimetric metering and mass flow determination of flowable materials

Номер патента: CA2206666A1. Автор: Hans Wilhelm HÄFNER. Владелец: Pfister GmbH. Дата публикации: 1996-06-13.

Method and apparatus for simultaneous heat and mass transfer utilizing a plurality of gas streams

Номер патента: US5020588A. Автор: James R. Beckman,Walter F. Albers. Владелец: Individual. Дата публикации: 1991-06-04.

Method and apparatus for monochannel simultaneous heat and mass transfer

Номер патента: CA2095027A1. Автор: James R. Beckman. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-05-01.

Fuel transfer apparatus and boiler facility including same

Номер патента: US11815263B2. Автор: Gyeong Mo Nam. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Light emitting apparatus, and display apparatus and electronic device including same

Номер патента: EP4312204A2. Автор: Kentaro Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-31.

Picture generation apparatus and head-up display including same

Номер патента: EP4312074A1. Автор: Yoo Na Kim,Ki Hyuk Song. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-31.

Light emitting apparatus, and display apparatus and electronic device including same

Номер патента: US20240013719A1. Автор: Kentaro Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-11.

Analysys system, analysis apparatus, electronic device, analysis method, and program

Номер патента: US20140062681A1. Автор: Akira Takakura,Keisuke Tsubata,Yuji OHGI. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2014-03-06.

Ion source abnormality detector and mass spectrometer using the same

Номер патента: JP7198166B2. Автор: 徹 宮坂,隆之 神田,正純 堀江,亨 柴田. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2022-12-28.

Organic matter ion source

Номер патента: RU2293973C2. Автор: Владимир Иванович Капустин. Владелец: Владимир Иванович Капустин. Дата публикации: 2007-02-20.

STROBO THIN FILM CHEMICAL ANALYSIS APPARATUS AND ASSAY METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003659A1. Автор: Yoo Jae Chern. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method of treating objects with an ion source

Номер патента: RU2071992C1. Автор: . Владелец: Научно-производственное предприятие "Новатех". Дата публикации: 1997-01-20.

Ion source

Номер патента: RU2034356C1. Автор: Б.Н. Маков. Владелец: Российский научный центр "Курчатовский институт". Дата публикации: 1995-04-30.

Ion source

Номер патента: RU2205467C2. Автор: Е.Д. Донец,Д.Е. Донец,Е.Е. Донец. Владелец: Донец Евгений Евгеньевич. Дата публикации: 2003-05-27.

Ion source

Номер патента: RU2008738C1. Автор: Борис Николаевич Маков. Владелец: Борис Николаевич Маков. Дата публикации: 1994-02-28.

Ion source

Номер патента: RU2248064C1. Автор: М.А. Парфененок,А.П. Телегин. Владелец: Парфененок Михаил Антонович. Дата публикации: 2005-03-10.

Electron-and-ion source

Номер патента: RU2209483C2. Автор: С.И. Белюк,В.Г. Дураков. Владелец: Российский материаловедческий центр. Дата публикации: 2003-07-27.

Ion source

Номер патента: CA1295428C. Автор: Harold R. Kaufman,Raymond S. Robinson. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1992-02-04.

ARRAY SUBSTRATE, METHOD OF MANUFACTURING THE ARRAY SUBSTRATE, AND DISPLAY APPARATUS INCLUDING THE ARRAY SUBSTRATE

Номер патента: US20120001191A1. Автор: . Владелец: Samsung Mobile Display Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Heat-and-mass exchanger

Номер патента: RU2495699C1. Автор: Геннадий Владимирович Сироткин. Владелец: Геннадий Владимирович Сироткин. Дата публикации: 2013-10-20.

Heat-and-mass exchanger

Номер патента: RU2095125C1. Автор: Борис Алексеевич Зимин. Владелец: Борис Алексеевич Зимин. Дата публикации: 1997-11-10.

Heat and mass exchange apparatus

Номер патента: RU2275224C2. Автор: Владимир Иванович Бердников. Владелец: Владимир Иванович Бердников. Дата публикации: 2006-04-27.

Method for monitoring dryness, enthalpy, thermal and mass flux of wet steam

Номер патента: RU2459198C1. Автор: . Владелец: Коваленко Александр Васильевич. Дата публикации: 2012-08-20.

Heat- and mass-transfer apparatus

Номер патента: RU2081659C1. Автор: Борис Евсеевич Сельский. Владелец: Борис Евсеевич Сельский. Дата публикации: 1997-06-20.

Procedure measuring level and mass of liquid media in tanks

Номер патента: RU2194953C2. Автор: Э.А. Артемьев,В.И. Камнев. Владелец: Камнев Василий Иванович. Дата публикации: 2002-12-20.

Heat and mass exchanger

Номер патента: RU2146227C1. Автор: Б.А. Зимин,О.М. Кувшинов. Владелец: Кувшинов Олег Михайлович. Дата публикации: 2000-03-10.

Heat-and-mass transfer apparatus

Номер патента: RU2046627C1. Автор: Борис Евсеевич Сельский. Владелец: Борис Евсеевич Сельский. Дата публикации: 1995-10-27.

Heat-and-mass transfer apparatus

Номер патента: RU2046626C1. Автор: Борис Евсеевич Сельский. Владелец: Борис Евсеевич Сельский. Дата публикации: 1995-10-27.