Chip testing device
Номер патента: US20210018557A1
Опубликовано: 21-01-2021
Автор(ы): Chen-Lung Tsai, Gene Rosenthal
Принадлежит: One Test Systems
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 21-01-2021
Автор(ы): Chen-Lung Tsai, Gene Rosenthal
Принадлежит: One Test Systems
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Testing device for radio frequency front end and radio frequency front end testing method
Номер патента: US09945900B1. Автор: Hung-Wei Lai,Chih-Min Wang. Владелец: Universal Scientific Industrial Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.