Nonvolatile memory device and method of detecting defective memory cell block of nonvolatile memory device
Номер патента: US11763901B2
Опубликовано: 19-09-2023
Автор(ы): Daehan Kim, Myungnam Lee, Wontaeck Jung
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 19-09-2023
Автор(ы): Daehan Kim, Myungnam Lee, Wontaeck Jung
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Memory device and an operating method of a memory device
Номер патента: US20210050066A1. Автор: Jun Hyuk Lee,Yong Han. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2021-02-18.