High electron mobility transistors having improved drain current drift and/or leakage current performance
Номер патента: US20200219987A1
Опубликовано: 09-07-2020
Автор(ы): Fabian Radulescu, Kyoung-Keun Lee, Scott Sheppard
Принадлежит: Cree Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 09-07-2020
Автор(ы): Fabian Radulescu, Kyoung-Keun Lee, Scott Sheppard
Принадлежит: Cree Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
High electron mobility transistors having improved drain current drift and/or leakage current performance
Номер патента: WO2020142345A2. Автор: Scott Sheppard,Fabian Radulescu,Kyoung-Keun Lee. Владелец: CREE, INC.. Дата публикации: 2020-07-09.