APPARATUS AND METHOD FOR SIMULTANEOUSLY MEASURING CHARACTERISTICS OF MOLECULAR JUNCTIONS AND REFRACTIVE INDEX OF BUFFER SOLUTION
Номер патента: US20150253243A1
Опубликовано: 10-09-2015
Автор(ы): CHEGAL Won, Cho Hyun Mo, Cho Yong Jai
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 10-09-2015
Автор(ы): CHEGAL Won, Cho Hyun Mo, Cho Yong Jai
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Measuring apparatus and a measuring method for investigating test specimen properties
Номер патента: CZ271092A3. Автор: Martin Ing Ponticelli,Karl Ing Simburger. Владелец: Avl Verbrennungskraft Messtech. Дата публикации: 1993-04-14.