Energy Dispersive X-Ray Analyzer and Method for Energy Dispersive X-Ray Analysis.

Energy Dispersive X-Ray Analyzer and Method for Energy Dispersive X-Ray Analysis

Номер патента: US20150270094A1
Опубликовано: 24-09-2015
Автор(ы): Ikku Yutaka
Принадлежит: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Energy Dispersive X-Ray Analyzer and Method for Energy Dispersive X-Ray Analysis

Номер патента: US20150270094A1. Автор: Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-09-24.

Radiation analyzer including a support for tilting an energy-dispersive radiation detector

Номер патента: US09536701B2. Автор: Yorinobu Iwasawa. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Energy dispersive X-ray analyzer and method for energy dispersive X-ray analysis

Номер патента: US9349572B2. Автор: Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-05-24.

Improved x-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: WO2023203354A1. Автор: Santokh Bhadare,Haithem MANSOUR,Chris TYRRELL. Владелец: Oxford Instruments Nanotechnology Tools Limited. Дата публикации: 2023-10-26.

Scanning charged-particle-beam microscopy with energy-dispersive x-ray spectroscopy

Номер патента: US12094684B1. Автор: Christopher Su-Yan OWN,Matthew Francis Murfitt. Владелец: Mochii Inc. Дата публикации: 2024-09-17.

Automated decision-based energy-dispersive x-ray methodology and apparatus

Номер патента: US09696268B2. Автор: Harsh Sinha,HONG Xiao,Huina XU,Rohit Bothra,Dmitry Spivak. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Improved X-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB2619601A8. Автор: Mansour Haithem,Bhadare Santokh,Tyrrell Chris. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2024-01-10.

Improved X-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB2619601A. Автор: Mansour Haithem,Bhadare Santokh. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2023-12-13.

Multi mode system with a dispersion X-ray detector

Номер патента: US09818577B2. Автор: Alon Litman,Efim Vinnitsky. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Energy dispersive x-ray spectroscopy sensing unit

Номер патента: US20240057957A1. Автор: Martin Chauvin,Itay Asulin,Jacob Levin,Yosef Basson,Eugene Brozgol,Marat Feldman,Shmuel Nakash. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

Energy-dispersive X-ray detector

Номер патента: US5270544A. Автор: Masayuki Taira. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1993-12-14.

Multi mode system with a dispersion x-ray detector

Номер патента: US20180012728A1. Автор: Alon Litman,Efim Vinnitsky. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2018-01-11.

Multi mode system with a dispersion x-ray detector

Номер патента: US20170213697A1. Автор: Alon Litman,Efim Vinnitsky. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

X-Ray Analyzer and Method for Correcting Counting Rate

Номер патента: US20200058464A1. Автор: Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

X-ray analysis in air

Номер патента: US09704688B2. Автор: Peter STATHAM. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2017-07-11.

Electron probe microanalyzer and X-ray analysis using same

Номер патента: US5656812A. Автор: Hideyuki Takahashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1997-08-12.

Method for detecting voids in interconnects and an inspection system

Номер патента: US09805909B1. Автор: Lei Zhong,Dror Shemesh. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Line-width measurements of metallization coated with insulator on microelectronic circuits using energy dispersive x-ray analysis

Номер патента: US5414265A. Автор: Richard G. Sartore. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 1995-05-09.

Energy Dispersive X-ray method and apparatus based on automated decision-making

Номер патента: CN106796188A. Автор: H·辛哈,D·斯皮瓦克,H·旭,H·萧,R·博特罗. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-05-31.

Vacuum evacuation method for energy dispersive X-ray detector

Номер патента: JP3112530B2. Автор: 栄一渡辺. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2000-11-27.

AUTOMATED DECISION-BASED ENERGY-DISPERSIVE X-RAY METHODOLOGY AND APPARATUS

Номер патента: US20160116425A1. Автор: Xiao Hong,Bothra Rohit,SPIVAK Dmitry,Xu Huina,Sinha Harsh. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2016-04-28.

Combine apparatus of scanning electron microscope and energy dispersive x-ray spectroscopy

Номер патента: KR101240290B1. Автор: 이준희. Владелец: (주)코셈. Дата публикации: 2013-03-11.

Combine apparatus of scanning electron microscope and energy dispersive x-ray spectroscopy

Номер патента: EP2697815A4. Автор: Jun-Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2014-09-10.

Combine apparatus of scanning electron microscope and energy dispersive x-ray spectroscopy

Номер патента: EP2697815A1. Автор: Jun-Hee Lee. Владелец: COXEM CO Ltd. Дата публикации: 2014-02-19.

Combine apparatus of scanning electron microscope and energy dispersive x-ray spectroscopy

Номер патента: WO2012141396A1. Автор: Jun-Hee Lee. Владелец: Coxem Co., Ltd. Дата публикации: 2012-10-18.

Detector, device and method for the simultaneous, energy-dispersive recording of backscattered electrons and X-ray quanta

Номер патента: DE102009024928A1. Автор: Ralf Dr. Terborg. Владелец: BRUKER NANO GMBH. Дата публикации: 2010-10-14.

Detector, device, and method for the simultaneous, energy-dispersive recording of backscattered electrons and x-ray quanta

Номер патента: EP2417618A1. Автор: Ralf Terborg. Владелец: BRUCKER NANO GmbH. Дата публикации: 2012-02-15.

MULTI MODE SYSTEM WITH A DISPERSION X-RAY DETECTOR

Номер патента: US20180012728A1. Автор: Litman Alon,Vinnitsky Efim. Владелец: Applied Materials Israel Ltd.. Дата публикации: 2018-01-11.

Multi mode system with a dispersion x-ray detector

Номер патента: US20170213697A1. Автор: Alon Litman,Efim Vinnitsky. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

X-Ray Analyzer and Method for Correcting Counting Rate

Номер патента: US20200058464A1. Автор: Tsukamoto Kazunori. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-20.

Electron microscope including apparatus for x-ray analysis and method of analyzing specimens using same

Номер патента: US20040099805A1. Автор: Toshiro Kubo,Toshiei Kurosaki,Isao Ochiai,Naomasa Suzuki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2004-05-27.

X-ray analysis in air

Номер патента: EP3050072B1. Автор: Peter STATHAM. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2024-06-19.

Improved x-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB202305920D0. Автор: . Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2023-06-07.

Improved x-ray analysis for heated specimens in electron microscopes

Номер патента: GB202205827D0. Автор: . Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2022-06-08.

RADIATION DETECTOR, RADIATION DETECTION APPARATUS, AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140124665A1. Автор: YASUI Kengo,OKAMOTO Kazutaka,TAKADA Shuji. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2014-05-08.

X-RAY ANALYSIS IN AIR

Номер патента: US20160233051A1. Автор: Statham Peter. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-11.

X-RAY ANALYSIS IN AIR

Номер патента: US20170271125A1. Автор: STATHAM Peter J.. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

X-ray analysis in air

Номер патента: GB201317026D0. Автор: . Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2013-11-06.

X-ray analysis in air

Номер патента: EP3050072A1. Автор: Peter STATHAM. Владелец: OXFORD INSTRUMENTS NANOTECHNOLOGY TOOLS LTD. Дата публикации: 2016-08-03.

X-ray analysis in air

Номер патента: WO2015044665A1. Автор: Peter STATHAM. Владелец: Oxford Instruments Nanotechnology Tools Limited. Дата публикации: 2015-04-02.

Wavelength-dispersive x-ray spectrometer analyzing method and analyzer

Номер патента: EP4365580A1. Автор: Shigeru Honda,Koki Kato,Shinya Fujita,Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Electron microscope and method of adjusting same

Номер патента: US09589761B2. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Electron Microscope and Method of Adjusting Same

Номер патента: US20160071683A1. Автор: Masaki Mukai. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2016-03-10.

Collimator for high takeoff angle energy dispersive spectroscopy (eds) detectors

Номер патента: WO1998057351A1. Автор: Minoru Shinohara,Steven J. Foote. Владелец: Noran Instruments, Inc.. Дата публикации: 1998-12-17.

Particle beam apparatus and method for operating a particle beam apparatus

Номер патента: US09947504B2. Автор: Dirk Preikszas,Michel Aliman,Michael Schnell,Edgar Fichter,Christian Hendrich,Momme MOMMSEN,Klaus Hegele,Kai Schubert. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2018-04-17.

Micro-part x-ray analysis apparatus

Номер патента: JPS5227695A. Автор: Ryoji Fujii. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-03-02.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser comprising a substatially x-ray transparent member having an improved reflection geometry

Номер патента: ZA202102937B. Автор: James Richard Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2024-01-31.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry

Номер патента: SE545585C2. Автор: James Richard Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2023-10-31.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: US20240298400A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Dmitriy Malyutin. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-05.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: EP4425158A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Dmitriy Malyutin. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-04.

Sample viscosity and flow control for heavy samples, and x-ray analysis applications thereof

Номер патента: US20160033428A1. Автор: George Allen,Stuart SHAKSHOVER,Sony CHERYIAN. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-02-04.

Sample viscosity and flow control for heavy samples, and x-ray analysis applications thereof

Номер патента: US20130044858A1. Автор: George Allen,Sony Cheriyan,Stuart Shakshober. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2013-02-21.

System and method for depth-selectable x-ray analysis

Номер патента: US20200098537A1. Автор: Wenbing Yun,Janos KIRZ. Владелец: Sigray Inc. Дата публикации: 2020-03-26.

X-Ray Analyzer and Spectrum Generation Method

Номер патента: US20190049396A1. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

X-ray analyzer and spectrum generation method

Номер патента: US10739284B2. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-11.

X-ray analysis apparatus and x-ray generation unit

Номер патента: US20210389262A1. Автор: Tomoki Aoyama. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-12-16.

Method and system for virtually executing an operation of an energy dispersive x-ray spectrometry (eds) system in real-time production line

Номер патента: US20220163467A1. Автор: Gaurav Kumar,Dongwoo Lee,Taehyoung Lee,Shashank Shrikant AGASHE,Priya Ranjan SINHA,Lakshmi Narayana PEDAPUDI,Avadhut Dipakrao CHAUDHARI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-05-26.

Sample collecting device, sample collecting method, and fluorescent x-ray analysis appartus using the same

Номер патента: US20190086344A1. Автор: Seiitsu Kurita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-03-21.

Systems, articles of manufacture, apparatus and methods employing piezoelectrics for energy harvesting

Номер патента: US20200007053A1. Автор: Tosha Hays,Mary-Cathryn Kolb. Владелец: BRRR Inc. Дата публикации: 2020-01-02.

Energy dispersive X-ray analyzer

Номер патента: US5903004A. Автор: Shunsuke Koshihara,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki. Владелец: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1999-05-11.

Energy dispersive X-ray diffraction analyser with improved reflection geometry

Номер патента: CN113167747A. Автор: 詹姆斯·理查德·蒂克纳,乔尔·奥德怀尔. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2021-07-23.

An energy dispersive x-ray diffraction analyser having an improved reflection geometry

Номер патента: FI20215587A1. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2021-05-18.

Method for producing plasma display panel

Номер патента: US20130017751A1. Автор: Masanori Miura,Hideji Kawarazaki,Masashi Gotou,Takuji Tsujita,Keiji Horikawa,Chiharu Koshio,Kanako Okumura. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-01-17.

SYSTEM AND METHOD FOR DEPTH-SELECTABLE X-RAY ANALYSIS

Номер патента: US20200098537A1. Автор: Yun Wenbing,Kirz Janos. Владелец: . Дата публикации: 2020-03-26.

Total internal reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: EP4257961A4. Автор: Tsutomu Tada,Hajime Fujimura,Licai Jiang,Masahiro Nonoguchi,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Yuriy Platonov,Makoto Kambe,Toshifumi Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

X-Ray Analyzer and Spectrum Generation Method

Номер патента: US20190049396A1. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

X-RAY TUBE, X-RAY ANALYSIS APPARATUS, AND METHOD OF COOLING TARGET IN X-RAY TUBE

Номер патента: US20210249214A1. Автор: Yamakata Masaaki. Владелец: . Дата публикации: 2021-08-12.

X-ray analyzer and X-ray generator

Номер патента: JPWO2020084890A1. Автор: 朋樹青山. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-09-16.

X-ray tube, x-ray analysis apparatus, and method of cooling target in x-ray tube

Номер патента: US20210249214A1. Автор: Masaaki Yamakata. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-08-12.

Total internal reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: EP4257961A1. Автор: Tsutomu Tada,Hajime Fujimura,Licai Jiang,Masahiro Nonoguchi,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Yuriy Platonov,Makoto Kambe,Toshifumi Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-11.

X-ray detection signal processing device and x-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US20170153190A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-06-01.

X-ray detection signal processing device and X-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US09791393B2. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

X-RAY ANALYZER HAVING MULTIPLE EXCITATION ENERGY BANDS PRODUCED USING MULTI-MATERIAL X-RAY TUBE ANODES AND MONOCHROMATING OPTICS

Номер патента: US20150043713A1. Автор: Chen Zewu. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2015-02-12.

X-RAY GENERATOR AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160118215A1. Автор: Takahashi Haruo,HIROSE Ryusuke. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-28.

X-ray detection signal processing device and x-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US20170153190A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-06-01.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170236678A1. Автор: Chaki Tomohiro,NOGUCHI Manabu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-17.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170236679A1. Автор: Chaki Tomohiro,NOGUCHI Manabu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-17.

X-ray source, and fluorescent x-ray analyzing device

Номер патента: KR100974119B1. Автор: 노부타다 아오키,아키코 가쿠타니. Владелец: 도시바 덴시칸 디바이스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2010-08-04.

Complex x-ray analyzing apparatus

Номер патента: JP2002350373A. Автор: Masao Sato,正雄佐藤. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-04.

X-ray generator and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: US9721749B2. Автор: Haruo Takahashi,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

X-ray analyzer having multiple excitation energy bands produced using multi-material x-ray tube anodes and monochromating optics

Номер патента: US9449780B2. Автор: Zewu Chen. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

X-ray analyzer using electron beam

Номер патента: US7592591B2. Автор: Satoshi Notoya. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-09-22.

X-ray tube and X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CN101236876B. Автор: 的场吉毅. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2012-05-09.

X-ray generator and x-ray analyzer

Номер патента: US20170236678A1. Автор: Manabu Noguchi,Tomohiro Chaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

X-RAY GENERATION DEVICE AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20210217574A1. Автор: NONOGUCHI Masahiro,Kageyama Masashi. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-15.

X-ray Tube and X-Ray Analysis System

Номер патента: US20200258711A1. Автор: Hegeman Petronella Emerentiana,BERKHOFF Harry,VAN DORSSEN Gert. Владелец: . Дата публикации: 2020-08-13.

X-ray analysis apparatus having shield

Номер патента: KR101351810B1. Автор: 김한석,이승우,이종식,박진근. Владелец: 테크밸리 주식회사. Дата публикации: 2014-01-22.

With the X-ray analysis device using multiple activation energy band caused by more material X ray tube anodes and monochromatic optical devices

Номер патента: CN107424889A. Автор: Z·陈. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2017-12-01.

X-ray tube and X-ray analysis system

Номер патента: US11315749B2. Автор: Harry BERKHOFF,Petronella Emerentiana Hegeman,Gert VAN DORSSEN. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2022-04-26.

X-ray tube and X-ray analysis system

Номер патента: CN111564350A. Автор: 哈利·伯克霍夫,彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼,格特·范道森. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-08-21.

Procedure and spectrometric x-rays analysis device (Machine-translation by Google Translate, not legally binding)

Номер патента: ES410110A1. Автор: . Владелец: Societe Nationale des Petroles dAquitaine SA. Дата публикации: 1975-12-16.

X-ray tube and X-ray analysis apparatus

Номер патента: CN101355003A. Автор: 一宫丰,的场吉毅. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2009-01-28.

Superconducting wire and method of formation thereof

Номер патента: RU2767282C1. Автор: Сын-Хён МУН,Джудит ДРИСКОЛЛ,Ахмед КУРУСУМОВИЧ,Джон ФЕЙГАН. Владелец: Санам Ко., Лтд.. Дата публикации: 2022-03-17.

SINTERED R-Fe-B MAGNET AND METHOD FOR PRODUCTION THEREOF

Номер патента: RU2697265C2. Автор: Коити ХИРОТА,Хироаки НАГАТА,Тецуя КУМЕ,Хадзиме НАКАМУРА,Масаюки КАМАТА. Владелец: Син-Эцу Кемикал Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-08-13.

Metal magnetic particle, inductor, method for manufacturing metal magnetic particle, and method for manufacturing metal magnetic core

Номер патента: US20240191328A1. Автор: Makoto Yamamoto,Takuya Ishida,Yuya ISHIDA,Mitsuru ODAHARA,Katsutoshi UJI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Metal magnetic particle, inductor, method for manufacturing metal magnetic particle, and method for manufacturing metal magnetic core

Номер патента: US11742141B2. Автор: Makoto Yamamoto,Takuya Ishida,Yuya ISHIDA,Mitsuru ODAHARA,Katsutoshi UJI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Secondary battery with nonaqueous electrolyte and method of its manufacture

Номер патента: RU2632182C2. Автор: Тацуя ХАСИМОТО,Хироя УМЕЯМА,Наоюки ВАДА,Юсуке ФУКУМОТО,Наото ОНОДЕРА,Юдзи ЙОКОЯМА. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2017-10-04.

Method for producing noble metal nanocomposites

Номер патента: US20170298518A1. Автор: Jegan Athinarayanan,Ali A. Alshatwi,Vaiyapuri Subbarayan Periasamy. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-10-19.

Method for producing noble metal nanocomposites

Номер патента: US20180282872A1. Автор: Jegan Athinarayanan,Ali A. Alshatwi,Vaiyapuri Subbarayan Periasamy. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2018-10-04.

Method for producing noble metal nanocomposites

Номер патента: US10619249B2. Автор: Jegan Athinarayanan,Ali A. Alshatwi,Vaiyapuri Subbarayan Periasamy. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-04-14.

Method for producing noble metal nanocomposites

Номер патента: US20200115802A1. Автор: Jegan Athinarayanan,Ali A. Alshatwi,Vaiyapuri Subbarayan Periasamy. Владелец: KING SAUD UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-04-16.

SINTERED R-Fe-B MAGNET AND METHOD FOR PRODUCTION THEREOF

Номер патента: RU2697266C2. Автор: Коити ХИРОТА,Хироаки НАГАТА,Тецуя КУМЕ,Хадзиме НАКАМУРА. Владелец: Син-Эцу Кемикал Ко., Лтд.. Дата публикации: 2019-08-13.

Metal magnetic particle, inductor, method for manufacturing metal magnetic particle, and method for manufacturing metal magnetic core

Номер патента: US20210304946A1. Автор: Makoto Yamamoto,Takuya Ishida,Yuya ISHIDA,Mitsuru ODAHARA,Katsutoshi UJI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-30.

Metal magnetic particle, inductor, method for manufacturing metal magnetic particle, and method for manufacturing metal magnetic core

Номер патента: US20210313100A1. Автор: Makoto Yamamoto,Takuya Ishida,Yuya ISHIDA,Mitsuru ODAHARA,Katsutoshi UJI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-07.

Metal magnetic particle, inductor, method for manufacturing metal magnetic particle, and method for manufacturing metal magnetic core

Номер патента: US20230343512A1. Автор: Makoto Yamamoto,Takuya Ishida,Yuya ISHIDA,Mitsuru ODAHARA,Katsutoshi UJI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-26.

Metal magnetic particle, inductor, method for manufacturing metal magnetic particle, and method for manufacturing metal magnetic core

Номер патента: US11965229B2. Автор: Makoto Yamamoto,Takuya Ishida,Yuya ISHIDA,Mitsuru ODAHARA,Katsutoshi UJI. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-23.

Active material and method for producing same, electrode mixture, and battery

Номер патента: US20230335716A1. Автор: Tomoyuki Maeda,Takuya Kai,Kentaro Soma. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

Active material and method for producing same, electrode mixture, and battery

Номер патента: EP4212482A1. Автор: Tomoyuki Maeda,Takuya Kai,Kentaro Soma. Владелец: Mitsui Mining and Smelting Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-19.

Grain-oriented electrical steel sheet and method for manufacturing same

Номер патента: US09617615B2. Автор: Kunihiro Senda,Tomoyuki Okubo,Shigehiro Takajo. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Systems and methods for deposition of molybdenum for source/drain contacts

Номер патента: US20230298902A1. Автор: Dong Li,Petri Raisanen,Eric James Shero,Jiyeon Kim. Владелец: ASM IP Holding BV. Дата публикации: 2023-09-21.

COIN CELL BATTERY ANALYZED WITH IN-SITU X-RAY ANALYSIS, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF ANALYZING THE SAME USING X-RAY

Номер патента: US20160036011A1. Автор: Kim Kihong,Jung HeeChul,Jung Changhoon,JEON Woosung. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

Sample collection device, sample collection method, and fluorescent x-ray analysis device employing same

Номер патента: EP3418728A4. Автор: Seiitsu Kurita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-03-27.

Textile-type electronic component package and method, method for mounting the same on textile

Номер патента: KR101199483B1. Автор: 김지은,손용기,김배선. Владелец: 한국전자통신연구원. Дата публикации: 2012-11-09.

SYSTEMS, ARTICLES OF MANUFACTURE, APPARATUS AND METHODS EMPLOYING PIEZOELECTRICS FOR ENERGY HARVESTING

Номер патента: US20200007053A1. Автор: Hays Tosha,Kolb Mary-Cathryn. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-02.

HIGHLY ACTIVE, ROBUST AND VERSATILE MULTIFUNCTIONAL, FULLY NON-NOBLE METALS BASED ELECTRO-CATALYST COMPOSITIONS AND METHODS OF MAKING FOR ENERGY CONVERSION AND STORAGE

Номер патента: US20210184226A1. Автор: KUMTA PRASHANT N.,PATEL PRASAD P.,DATTA MONI K.,VELIKOKHATNYI OLEG,HANUMANTHA PRASHANTH J.,KURUBA RAMALINGA,GHADGE SHRINATH. Владелец: University of Pittsburgh - of the Commonwealth System of Higher Education. Дата публикации: 2021-06-17.

HIGHLY ACTIVE, ROBUST AND VERSATILE MULTIFUNCTIONAL, FULLY NON-NOBLE METALS BASED ELECTRO-CATALYST COMPOSITIONS AND METHODS OF MAKING FOR ENERGY CONVERSION AND STORAGE

Номер патента: US20180331369A1. Автор: KUMTA PRASHANT N.,PATEL PRASAD P.,DATTA MONI K.,VELIKOKHATNYI OLEG,HANUMANTHA PRASHANTH J.,KURUBA RAMALINGA,GHADGE SHRINATH. Владелец: University of Pittsburgh - of the Commonwealth System of Higher Education. Дата публикации: 2018-11-15.

Apparatus and method of diagnosis for energy storage system

Номер патента: KR101995227B1. Автор: 이성은,조성민,김수열. Владелец: 한국전력공사. Дата публикации: 2019-07-02.

Charge system for energy storage apparatus, Portable charging device applied for it and Method of charge for energy storage apparatus using the same

Номер патента: KR101510155B1. Автор: 이지은,이영환,강정수. Владелец: 주식회사 엘지화학. Дата публикации: 2015-04-08.

Highly active, robust and versatile multifunctional, fully non-noble metals based electro-catalyst compositions and methods of making for energy conversion and storage

Номер патента: US20180331369A1. Автор: Prashant N. Kumta,Oleg Velikokhatnyi,Ramalinga Kuruba,Prasad P. Patel,Moni K. Datta,Prashanth J. Hanumantha,Shrinath Ghadge. Владелец: University of Pittsburgh. Дата публикации: 2018-11-15.

Highly active, robust and versatile multifunctional, fully non-noble metals based electro-catalyst compositions and methods of making for energy conversion and storage

Номер патента: US11996566B2. Автор: Prashant N. Kumta,Oleg Velikokhatnyi,Ramalinga Kuruba,Prasad P. Patel,Moni K. Datta,Prashanth J. Hanumantha,Shrinath Ghadge. Владелец: University of Pittsburgh. Дата публикации: 2024-05-28.

Portable X-ray analyzer having vibration, thermal and/or moisture isolation from exterior environment

Номер патента: US09521735B2. Автор: Rory D. Delaney,Daniel Dunham. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-12-13.

Adaptable X-ray analysis apparatus

Номер патента: US12031925B2. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-07-09.

Adaptable x-ray analysis apparatus

Номер патента: CA3172362A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-03-01.

Adaptable X-Ray Analysis Apparatus

Номер патента: US20230270394A1. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-08-31.

X-ray analysis system with laser-driven source

Номер патента: WO2024201271A1. Автор: Matthew Wormington,Alexander Krokhmal,Christoph Ollinger,Roger Durst. Владелец: Bruker Technologies Ltd.. Дата публикации: 2024-10-03.

Method for manufacturing charge dissipative surface layer

Номер патента: RU2655942C2. Автор: Клаус Циммерман,Кристел НЁМАЙР,Зелина ИСКАНДЕРОВА,Якоб КЛЯЙМАН. Владелец: Интегрити Тестинг Лэборэтори Инк.. Дата публикации: 2018-05-30.

Systems, devices, and methods for module-based cascaded energy systems

Номер патента: CA3207256A1. Автор: Mikhail SLEPCHENKOV,Leslie G. Webber,Roozbeh Naderi,Mohammad MOUSAVI,Milan Bhakta,Jaka VERBIC. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2022-07-21.

Apparatus and method for analysis using x-rays

Номер патента: US5040199A. Автор: Jay A. Stein. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 1991-08-13.

Apparatus and method for suppressing insignificant variations in measured sample composition data, including data measured from dynamically changing samples using x-ray analysis techniques

Номер патента: US20050086275A1. Автор: Ian Radley,Michael Moore,John Burdett,Stuart Shakshober. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2005-04-21.

Using x-ray analysis during reflow thermal cycle for solder joints

Номер патента: US20220111471A1. Автор: Keith Fries,Vineethkumar Nair. Владелец: LOON LLC. Дата публикации: 2022-04-14.

X-ray generator and X-ray analyzer

Номер патента: US10278273B2. Автор: Takao Marui. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-04-30.

Compact, low noise power supply for advanced electronics applications, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: US20120020463A1. Автор: Igor Ponomarev,Sony Cheriyan,Ernest Cooley,Daniel Dunham,Paul Quantock,Robert C. Tatar. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2012-01-26.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20180007768A1. Автор: MARUI Takao. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-04.

PORTABLE X-RAY ANALYZER HAVING VIBRATION, THERMAL AND/OR MOISTURE ISOLATION FROM EXTERIOR ENVIRONMENT

Номер патента: US20150036804A1. Автор: Delaney Rory D.,Dunham Daniel. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2015-02-05.

Time constant control system for x-ray analyzer

Номер патента: FR1374545A. Автор: . Владелец: Compagnie Francaise Thomson Houston SA. Дата публикации: 1964-10-09.

Superconductive X-ray detector and X-ray analyzer using the same

Номер патента: DE112006000226B4. Автор: Keiichi Tanaka,Satoshi Nakayama,Yoshiharu Matsushita,Akikazu Odawara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-06-25.

Compact, low noise power supply for advanced electronics applications, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: WO2012018601A2. Автор: Igor Ponomarev,Sony Cheriyan,Ernest Cooley,Daniel Dunham,Paul Quantock,Robert C. Tatar. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-02-09.

X-ray analyzer

Номер патента: EP3054318A1. Автор: Keiichi Tanaka,Kazuo Chinone. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-08-10.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2016142729A. Автор: Keiichi Tanaka,Kazuo Kayane,田中　啓一,啓一田中,一夫茅根. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-08-08.

Compact, low noise power supply for advanced electronics applications, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: WO2012018601A3. Автор: Igor Ponomarev,Sony Cheriyan,Ernest Cooley,Daniel Dunham,Paul Quantock,Robert C. Tatar. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-04-05.

X-ray generator and x-ray analyzer

Номер патента: US20180007768A1. Автор: Takao Marui. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-01-04.

X-ray generator and x-ray analysis device

Номер патента: US20190272929A1. Автор: Tetsuya Ozawa,Licai Jiang,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-09-05.

System and Method of RF Power Transmission, Modulation and Amplification

Номер патента: US20180013454A1. Автор: David F. Sorrells,Gregory S. Rawlins. Владелец: ParkerVision Inc. Дата публикации: 2018-01-11.

Systems and methods of RF power transmission, modulation, and amplification

Номер патента: US09608677B2. Автор: David F. Sorrells,Gregory S. Rawlins. Владелец: ParkerVision Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Enterprise smart grid and demand management platform and methods for application development and management

Номер патента: EP2452270A1. Автор: Sudhir K. Giroti. Владелец: Bridge Energy Group LLC. Дата публикации: 2012-05-16.

SUCTIONED MATERIAL DETECTOR AND METHOD, METHOD FOR DETECTING ALIGNMENT ERRORS, AND CLEANING METHOD USING THIS DETECTOR

Номер патента: DE69726575T2. Автор: Katsunobu Nerima-ku FURUTA. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-09-16.

SUCTIONED MATERIAL DETECTOR AND METHOD, METHOD FOR DETECTING ALIGNMENT ERRORS, AND CLEANING METHOD USING THIS DETECTOR

Номер патента: DE69726575D1. Автор: Katsunobu Furuta. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2004-01-15.

Agent based protocol analyzer and protocol analyzing method for LTE system

Номер патента: KR101243889B1. Автор: 이철우,피준일. Владелец: 주식회사 두두원. Дата публикации: 2013-03-20.

Systems and methods of rf power transmission, modulation, and amplification

Номер патента: US20160173144A1. Автор: David F. Sorrells,Gregory S. Rawlins. Владелец: ParkerVision Inc. Дата публикации: 2016-06-16.

Tramcar power supply system and method adopting battery for energy storage

Номер патента: CN111564836A. Автор: 刘颖,张玲,张文波,雷建明,郑睿,罗乔,陈亚琳. Владелец: Nanjing Institute of Industry Technology. Дата публикации: 2020-08-21.

Energy management system and method and repeater for energy management system

Номер патента: CN102387192A. Автор: 朴宰成,孙东民,吴正桓. Владелец: LS Industrial Systems Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-21.

Quantitative X-ray analysis—multi optical path instrument

Номер патента: US09739730B2. Автор: Petronella Emerentiana Hegeman,Gustaaf Christian BRONS,Bruno A. R. Vrebos,Charalampos Zarkadas,Waltherus Van Den Hoogenhof,Aleksandr Komelkov. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-08-22.

Electron probe microanalyzer having wavelength-dispersive x-ray spectrometer and energy-dispersive x-ray spectrometer

Номер патента: US4988872A. Автор: Koji Yoshida,Masaki Saito,Yoshitaka Nagatsuka,Kazuyasu Kawabe,Masayuki Ohtsuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1991-01-29.

Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US4016419A. Автор: Yoshinori Hosokawa,Haruo Kotani,Haruyoshi Hirata. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1977-04-05.

Energy Dispersive X-Ray I-FET SDD Detector Appliance and a Method for Pulsed Reset Neutralization of Accumulated Charges Within an Energy Dispersive X-Ray I-FET SDD Detector Appliance

Номер патента: US20080217543A1. Автор: Martin Rohde. Владелец: Bruker Axs Microanalysis Gmbh. Дата публикации: 2008-09-11.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: EP4276452A1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-11-15.

Wave dispersive x-ray fluorescence system using focusing optics for stimulation and focusing monochromator for collection

Номер патента: RU2339974C2. Автор: Зеву ЧЕН,Дэвид М. ГИБСОН. Владелец: Икс-Рэй Оптикал Системз, Инк.. Дата публикации: 2008-11-27.

X-ray analysis system and x-ray analysis method

Номер патента: EP3757557A1. Автор: Hideyuki Takahashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-30.

Apparatus and method for the analysis of atomic and molecular elements by wavelength dispersive x-ray spectrometric devices

Номер патента: US20040013227A1. Автор: Carsten Michaelsen,Rudiger Bormann,Jorg Wiesmann. Владелец: GKSS Forshungszentrum Geesthacht GmbH. Дата публикации: 2004-01-22.

Fluorescent X-ray analyzer, fluorescent X-ray analysis method, and fluorescent X-ray analysis program

Номер патента: US20060215810A1. Автор: Yasuhiro Usui. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-09-28.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: RU2523827C2. Автор: Гереон ФОГТМАЙЕР,Кристиан БОЙМЕР. Владелец: КОНИНКЛЕЙКЕ ФИЛИПС ЭЛЕКТРОНИКС Н.В.. Дата публикации: 2014-07-27.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: US11808718B2. Автор: Daisuke Harada,Yasuyuki Keyaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

X-ray analyzer and x-ray analysis method

Номер патента: US20220283101A1. Автор: Daisuke Harada,Yasuyuki Keyaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

Optical axis adjustment method for x-ray analyzer and x-ray analyzer

Номер патента: US20150146859A1. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Optical axis adjustment method for X-ray analyzer and X-ray analyzer

Номер патента: US09442084B2. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: US20230366840A1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-11-16.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: US09633753B2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: US09335280B2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-05-10.

Active, variable sample concentration method and apparatus for sub-ppb measurements and exemplary x-ray analysis applications thereof

Номер патента: EP3149461A1. Автор: George Allen,Zewu Chen,Danhong LI,Joseph SPINAZOLA,Andrew HIDER,Jon DUNPHY. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2017-04-05.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: US20090141867A1. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2009-06-04.

Method and device for performance of x-ray analysis of sample

Номер патента: RU2506570C1. Автор: Пьер-Ив НЕГРО,Рависекхар ЙЕЛЛЕПЕДДИ. Владелец: Термо Фишер Сайентифик (Экубленс) Сарл. Дата публикации: 2014-02-10.

X-ray analysis apparatus, X-ray analysis system, X-ray analysis method, and X-ray analysis program

Номер патента: US9006673B2. Автор: Kazuki Ito,Kunio Nishi,Yoshinori Ueji,Koichi Kajiyoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-04-14.

Non-homogeneous sample handling apparatus and X-ray analyzer applications thereof

Номер патента: US09360440B2. Автор: Leslie Johnson,George Allen,Zewu Chen,John H. Burdett, Jr.. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-06-07.

Device and method for performing x-ray analysis

Номер патента: US20110058648A1. Автор: Petronella Emerentiana Hegeman,Gustaaf Christian Simon Brons. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2011-03-10.

Monitoring properties of X-ray beam during X-ray analysis

Номер патента: US12078604B2. Автор: Alexander Krokhmal,Asher Peled. Владелец: Bruker Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

X-ray analysis device

Номер патента: RU2450261C2. Автор: Рависехар ЙЕЛЛЕПЕДДИ,Пьер-Ив НЕГРО,Мишель БОНЗОН,Рависехар ЙЕЛЛЕПЕДДИ (CH),Пьер-Ив НЕГРО (CH),Мишель БОНЗОН (CH). Владелец: Термо Фишер Сайентифик Инк.. Дата публикации: 2012-05-10.

A method and apparatus for obtaining high-resolution x-ray analysis data

Номер патента: WO2024110609A1. Автор: Detlef Beckers,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2024-05-30.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US09618461B2. Автор: Kunio Nishi,Takao Ohara,Tetsuya Ozawa,Kenji Wakasaya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US09547094B2. Автор: Mark Alexander Pals,Jeroen RINSEMA. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-01-17.

Non-homogeneous sample handling apparatus and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: US20140270063A1. Автор: Leslie Johnson,George Allen,Zewu Chen,John H. Burdett, Jr.. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

Non-homogeneous sample handling apparatus and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: EP2972183A1. Автор: Leslie Johnson,George Allen,Zewu Chen,Jr. John H. Burdett. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-01-20.

X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis

Номер патента: US09958404B2. Автор: Jan Skov Pedersen. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2018-05-01.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20070211852A1. Автор: Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-09-13.

Monitoring properties of X-ray beam during X-ray analysis

Номер патента: US20240077437A1. Автор: Alexander Krokhmal,Asher Peled. Владелец: Bruker Technologies Ltd. Дата публикации: 2024-03-07.

Cell for x-ray analysis and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20190145915A1. Автор: Masao Kimura,Yasuhiro Onishi,Ken'ichi Kimijima,Daiji Asahara. Владелец: Inter University Research Institute Corp High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2019-05-16.

X-ray analyzer of gold and heavy elements

Номер патента: RU2614318C1. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев,Мартин Людвиг Гаусс. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2017-03-24.

X-ray analyzing apparatus and method

Номер патента: US20150233845A1. Автор: Tomoyuki Fukuda,Akihiro Ikeshita,Kosuke Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

Parallel plate x-ray collimator having a variable acceptance angle and an x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20230296536A1. Автор: Vladimir Kogan,Detlef Beckers,Alexander Kharchenko. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-21.

A parallel plate x-ray collimator having a variable acceptance angle and an x-ray analysis apparatus

Номер патента: EP4246536A1. Автор: Vladimir Kogan,Detlef Beckers,Alexander Kharchenko. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-09-20.

Operation guide system for x-ray analysis, operation guide method therefor, and operation guide program therefor

Номер патента: US20170038315A1. Автор: Akito Sasaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-02-09.

Fluorescent x-ray analysis method and equipment

Номер патента: EP1744151B1. Автор: Hiroshi c/o Matsushita Elec. Ind. Co. Lt IWAMOTO,Yoshiyuki c/o Matsushita Elec. Ind. Co. Lt TANI,Takao c/o Matsushita Elec. Ind. Co. Lt HISAZUMI,Yukihiro c/o Matsushita Elec. Ind. Co. Lt IWATA,Etsuyoshi c/oMatsushita Elec.Ind.Co. Lt SAKAGUCHI. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2012-02-22.

A method and apparatus for obtaining high-resolution x-ray analysis data

Номер патента: EP4375650A1. Автор: Detlef Beckers,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-05-29.

Sample container with floating cover for x-ray analysis of liquids

Номер патента: EP1384065A2. Автор: Waltherus W. van den Hoogenhof. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2004-01-28.

Sample container with floating cover for x-ray analysis of liquids

Номер патента: WO2002073156A3. Автор: Den Hoogenhof Waltherus W Van. Владелец: Den Hoogenhof Waltherus W Van. Дата публикации: 2003-02-13.

Sample container with floating cover for x-ray analysis of liquids

Номер патента: WO2002073156A2. Автор: Waltherus W. van den Hoogenhof. Владелец: PANALYTICAL B.V.. Дата публикации: 2002-09-19.

X-ray analysis apparatus with an X-ray generator

Номер патента: EP1273906A3. Автор: Seiichi Hayashi,Sadayuki Takahashi,Masaru Kuribayashi,Jimpei Harada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2004-02-11.

Optical axis adjustment device for x-ray analyzer

Номер патента: US20150146860A1. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Sample holder for performing x-ray analysis on a crystalline sample, and sample holder handling system

Номер патента: EP4065968A1. Автор: Clemens Kuehn,Jan Gajewski,Djordje Musil,Carolina VON ESSEN,Anupam KHUTIA,Slawa TROUBNIAKOV. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2022-10-05.

Radiation detector, and X-ray analysis apparatus and radiation detection method using the same

Номер патента: US09945961B2. Автор: Takuto Sakumura,Yasukazu Nakaye,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Quantitative X-ray analysis—ratio correction

Номер патента: US09851313B2. Автор: Charalampos Zarkadas,Waltherus Van Den Hoogenhof. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-12-26.

X-ray analyzer

Номер патента: US09784700B2. Автор: masahiro Sakuta. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Quantitative X-ray analysis—matrix thickness correction

Номер патента: US09784699B2. Автор: Alexander Kharchenko,Milen Gateshki,Petronella Emerentiana Hegeman,Dick Kuiper,Charalampos Zarkadas,Waltherus Van Den Hoogenhof. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2017-10-10.

X-ray analyzer

Номер патента: US09658175B2. Автор: Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Optical axis adjustment device for X-ray analyzer

Номер патента: US09562867B2. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

X-ray analysis apparatus and detector reading circuit means suitable for application in such an X-ray analysis apparatus

Номер патента: US5345491A. Автор: Hendrick J. J. Bolk,Georges C. P. Zieltjens. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1994-09-06.

X-Ray analysis apparatus having an adjustable stray radiation slit

Номер патента: US4535469A. Автор: Cornelis G. Brandt. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1985-08-13.

Crystal for an X-ray analysis apparatus

Номер патента: US4780899A. Автор: Cornelis L. Adema,Cornelis L. Alting,Albert Huizing,Wilhelmus H. J. M. Gevers. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1988-10-25.

X-ray analysis instrument with adjustable aperture window

Номер патента: US20100086104A1. Автор: Carsten Michaelsen,Juergen Graf,Stefanie Belgard. Владелец: InCoaTec GmbH. Дата публикации: 2010-04-08.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20080013681A1. Автор: Takayuki Fukai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-01-17.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US7428293B2. Автор: Takayuki Fukai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-09-23.

X-ray analysis assistance device and x-ray analysis device

Номер патента: US20200191732A1. Автор: Keiichi Morikawa,Yayoi Taniguchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-06-18.

Signal processing device for x-ray analysis

Номер патента: EP4286898A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

Signal processing device for x-ray analysis

Номер патента: US20240094149A1. Автор: Yuta Saito. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Fluorescent x-ray analyzer including detection signal correction based on position variation

Номер патента: US6324251B1. Автор: Shoji Kuwabara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2001-11-27.

X-ray analyzer

Номер патента: US20230236142A1. Автор: Keijiro Suzuki,Kanji Kobayashi,Yuji Morihisa,Kriengkamol TANTRAKARN. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20200378909A1. Автор: Shigeru Honda,Masahiro Asai,Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US5132995A. Автор: Jay A. Stein. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 1992-07-21.

X-ray analysis apparatus comprising an adjustable slit diaphragm

Номер патента: US5115460A. Автор: Roelof De Lange. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1992-05-19.

Sample preprocessing system for a fluorescent X-ray analysis and X-ray fluorescence spectrometric system using the same

Номер патента: US20030053589A1. Автор: Akihiro Ikeshita,Motoyuki Yamagami. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-03-20.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP1895292A2. Автор: Toshiyuki Kato,Akito Sasaki,Kunio Nishi,Keiichi Morikawa,Takao Ohara,Yuji Tsuji,Aya Kuribayashi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2008-03-05.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US11808721B2. Автор: Takeshi Osakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Sample Holder for X-ray Analysis

Номер патента: US20180024081A1. Автор: Vladimir Kogan,Detlef Beckers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2018-01-25.

Device and method for image reconstruction at different X-ray energies, and device and method for X-ray three-dimensional measurement

Номер патента: US09928619B2. Автор: Shinya Abe,Shoichi Nakanishi,Akira Monkawa,Mikiya KONDO,Koh HARADA. Владелец: Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Instititute (TIRI). Дата публикации: 2018-03-27.

Device and method for image reconstruction at different x-ray energies, and device and method for x-ray three-dimensional measurement

Номер патента: US20170365077A1. Автор: Shinya Abe,Shoichi Nakanishi,Akira Monkawa,Mikiya KONDO,Koh HARADA. Владелец: Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Instititute (TIRI). Дата публикации: 2017-12-21.

Beam energy dispersion adjusting mechanism for superconducting proton cyclotron

Номер патента: US10390418B2. Автор: FENG Jiang,Ming Li,Yuntao Song,Yonghua Chen,Jinxing Zheng,Junsong Shen,Manfen Han,WuQuan Zhang,Bo Zhi,Xianhu Zeng. Владелец: Hefei Cas Ion Medical and Technical Devices Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-20.

Method for object edge detection in macroblock and method for deciding quantization scaling factor

Номер патента: US20060257038A1. Автор: Pai-Chu Hsieh,Chien-Yu Lin,Tzu-Hsin Wang. Владелец: Sunplus Technology Co Ltd. Дата публикации: 2006-11-16.

Systems and methods for analyzing soft errors in a design and reducing the associated failure rates thereof

Номер патента: US09991008B2. Автор: Sanjay Pillay. Владелец: Austemper Design Systems Inc. Дата публикации: 2018-06-05.

System and methods for analyzing and improving online engagement

Номер патента: US09646096B2. Автор: Rajatish Mukherjee,Josh Berk,Justin Tsai. Владелец: Go Daddy Operating Co LLC. Дата публикации: 2017-05-09.

Computerized systems and methods for analyzing and determining properties of virtual environments

Номер патента: US09607427B2. Автор: John Nicholas Jitkoff,Christian Robertson,Ariel Sachter-Zeltzer,Jon Wiley,Zachary Gibson,David Haw Yun Chiu. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2017-03-28.

System and Method for Analyzing and Reacting to Interactions Between Entities Using Electronic Communication Channels

Номер патента: US20240203405A1. Автор: Jonathan K. Barnett,Joe Moghaizel,Ryan Wall,Bridget McDermid,Brian Bellwood,Natalie Thien Huong Cornwall,Jeffery David True,Stella Pui Kwan Chan,Venetia D'Souza,Christopher Michael Arthur Caravan,Pranavan Premathas,Sahifa Habib Qazi,Mah Noor Siddiqui. Владелец: Toronto Dominion Bank. Дата публикации: 2024-06-20.

System and method for decision analysis and resolution

Номер патента: WO2004088450B1. Автор: Adam Payne,Reuben Fischman,Melissa Wills. Владелец: Melissa Wills. Дата публикации: 2005-08-11.

System and method for resource management in heterogeneous wireless networks

Номер патента: US20160037535A1. Автор: Sampath Rangarajan,Narayan Prasad,Vaibhav Singh,Mustafa Arslan. Владелец: NEC Laboratories America Inc. Дата публикации: 2016-02-04.

System and method for warranty customization based on customer need and part failure rate

Номер патента: US20240281821A1. Автор: Vaideeswaran Ganesan,Harish Babu,Praveen Lalgoudar,Rushyendra Velamuri,Pandiyan Varadharajan,Rekha MS,Sandeep Venkatesh Pai,Nikhil S,Chandrasekhar R,Nidhi Kant Arora. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-08-22.

System and method for resource management in heterogeneous wireless networks

Номер патента: US09813922B2. Автор: Sampath Rangarajan,Narayan Prasad,Vaibhav Singh. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

System and methods for monitoring and testing real-time communications between web browsers and contact centers

Номер патента: US12028487B2. Автор: Tony Dux,Geoff Willshire. Владелец: Cyara Solutions Pty Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

Systems and methods for categorizing and presenting performance assessment data

Номер патента: US20240232218A1. Автор: Kenny Kendrena,John G. Donchetz,Randall Rupert Istre. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-11.

System and method for measuring a surface in contoured glass sheets

Номер патента: AU2019310451B2. Автор: Jason C. Addington,Michael J. Vild,Benjamin L. Moran. Владелец: Glasstech Inc. Дата публикации: 2024-06-06.

System and methods for monitoring and testing real-time communications between web browsers and contact centers

Номер патента: US11743383B2. Автор: Tony Dux,Geoff Willshire. Владелец: Cyara Solutions Pty Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Systems and methods for categorizing and presenting performance assessment data

Номер патента: US20230222139A1. Автор: Kenny Kendrena,John G. Donchetz,Randall Rupert Istre. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-07-13.

Systems and methods for improved cellular quality of experience

Номер патента: EP3213592A1. Автор: Kevin Lau. Владелец: T Mobile USA Inc. Дата публикации: 2017-09-06.

System and method for measuring a surface in contoured glass sheets

Номер патента: US12079980B2. Автор: Jason C. Addington,Michael J. Vild,Benjamin L. Moran. Владелец: Glasstech Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

System and method for providing personalized disaster information

Номер патента: US11546747B2. Автор: Seung Hee Oh. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2023-01-03.

Systems and methods for simulating web traffic associated with an unlaunched web feature

Номер патента: US20240364614A1. Автор: Devang Shah,Javier Fernandez-Ivern,Jose Raul FERNANDEZ,Shyam Bharat Gala,Edward Henry Barker,Henry Joseph Jacobs, IV,Anup Rokkam Pratap,Tejas C. Shikhare. Владелец: Netflix Inc. Дата публикации: 2024-10-31.

System and method for network data characterization

Номер патента: US09832216B2. Автор: Michael P. Boyle,Peter E. KALOROUMAKIS,Christopher C. VALENTINO. Владелец: BluVector Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

System and method for resource management in heterogeneous wireless networks

Номер патента: US09722725B2. Автор: Sampath Rangarajan,Narayan Prasad,Vaibhav Singh,Mustafa Arslan. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

System and method for detecting interpersonal touch using electrical properties of skin

Номер патента: US09703395B2. Автор: Seungchul Lee,Youngki Lee,Inseok Hwang,Junehwa Song,Yuhwan Kim,Miri Moon,Hyunho Ro. Владелец: Korea Advanced Institute of Science and Technology KAIST. Дата публикации: 2017-07-11.

Systems and methods for improved cellular quality of experience

Номер патента: US09585030B2. Автор: Kevin Lau. Владелец: T Mobile USA Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Systems and methods for categorizing and presenting performance assessment data

Номер патента: US09378251B2. Автор: Kenny Kendrena,Randall Rupert Istre,John G Donchetz. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-06-28.

Systems and methods for calibration of a 360 degree camera system

Номер патента: US20140300754A1. Автор: Hasan Gadjali,Jeff Hsieh,Tawei Ho. Владелец: Omnivision Technologies Inc. Дата публикации: 2014-10-09.

System and method for analyzing and classifying calls without transcription

Номер патента: US9614962B2. Автор: Jason Flaks,Govindaraj Ramanathan,Matthew Berk,Ziad Ismail,Chris Kolbegger,Bryan Rieger,Tim Graber,Darren Spehr. Владелец: Marchex Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Apparatus and method for performing header lookup based on sequential lookup

Номер патента: US7433357B2. Автор: Ki Young Kim,Sung Won Sohn,Jintae Oh,Seung Won Shin,Jong Soo Jang. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2008-10-07.

System, device, and method for detecting, analyzing, and mitigating orchestrated cyber-attacks and cyber-campaigns

Номер патента: WO2019215714A1. Автор: Eran Reshef,Roni RESHEF. Владелец: Morpheus Cyber Security Ltd.. Дата публикации: 2019-11-14.

Computerized system and method for automatically generating high-quality digital content thumbnails from digital video

Номер патента: US09972360B2. Автор: Yale Song,Miriam Redi,Alejandro Jaimes,Jordi Vallmitjana. Владелец: Oath Inc. Дата публикации: 2018-05-15.

Synergistic energy-dispersive and wavelength-dispersive x-ray spectrometry

Номер патента: WO2010017112A1. Автор: Patrick Paul Camus,David B. Rohde,Gregory S. Fritz. Владелец: Thermo Electron Scientific Instruments LLC. Дата публикации: 2010-02-11.

Polarized, energy dispersive x-ray fluorescence system and method

Номер патента: WO2024026158A1. Автор: Zewu Chen,Fuzhong Wei,Joseph J. SPINAZOLA,Zhifan GAO,Yaobiao XIA. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2024-02-01.

Polarized, energy dispersive x-ray fluorescence system and method

Номер патента: US20240035990A1. Автор: Zewu Chen,Fuzhong Wei,Zhifan GAO,Yaobiao XIA,Joseph J. SPINAZOLA, III. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Tomographic energy dispersive x-ray diffraction apparatus comprising an array of detectors and associated collimators

Номер патента: EP1629267A1. Автор: Robert Cernik. Владелец: Council for the Central Laboratory of the Research Councils. Дата публикации: 2006-03-01.

System and method of use for energy efficient applications driven by multiple context clocks for personal energy footprint management

Номер патента: US09915991B2. Автор: Guann Pyng Li,Jieping Guo,Zachary DAVIS,Yang Arthur Zhang,Christopher Hurst. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2018-03-13.

Automated analyzer and reagent storage method for automated analyzer

Номер патента: EP4270011A1. Автор: Hidetsugu Tanoue,Akihiro Yasui,Hiroya UMEKI. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Antiviral substrate, antiviral composition, method for manufacturing antiviral substrate, antimicrobial substrate, antimicrobial composition and method for manufacturing antimicrobial substrate

Номер патента: US20240251799A1. Автор: Kazuhiro Ito,Kiyotaka Tsukada,Kozo Takada,Kohei OTSUKA,Katsutoshi Horino. Владелец: Ibiden Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Compositions and methods for preparing copper-containing paper and uses thereof

Номер патента: US09611153B2. Автор: Theresa A. Dankovich. Владелец: UNIVERSITY OF VIRGINIA PATENT FOUNDATION. Дата публикации: 2017-04-04.

Method for pre-welding treatment of coated steel sheets

Номер патента: RU2755485C1. Автор: Геральд БРУГГЕР. Владелец: Фёстальпине Аутомотив Компонентс Линц Гмбх. Дата публикации: 2021-09-16.

Method for classifying unknown particles on a surface of a semi-conductor wafer

Номер патента: US20230417644A1. Автор: Rudolf Rupp,Sebastian ANDRES,Robert HINTERLEUTHNER. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2023-12-28.

Mother-of-pearl pigment based on monolithic-formed substrates, method for production and application thereof

Номер патента: RU2685659C1. Автор: Адальберт ХУБЕР,Фабиан ПИХ,Кайман ШИМИЦУ. Владелец: Шленк Металлик Пигментс Гмбх. Дата публикации: 2019-04-22.

Method for determination of equilibrium wettability of interface between void and solid phase of rock sample

Номер патента: RU2670716C9. Автор: Олег Юрьевич Динариев,Евгений Николаевич Дышлюк,Николай Вячеславович Евсеев,Иван Викторович Якимчук. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2018-11-29.

Method for determination of equilibrium wettability of interface between void and solid phase of rock sample

Номер патента: RU2670716C1. Автор: Олег Юрьевич Динариев,Евгений Николаевич Дышлюк,Николай Вячеславович Евсеев,Иван Викторович Якимчук. Владелец: Шлюмберже Текнолоджи Б.В.. Дата публикации: 2018-10-24.

Cross calibaration of two energy dispersive x-ray baggage screening systems including transformation of the reference database

Номер патента: WO2011086366A3. Автор: Ian Radley,David Edward Joyce,Timothy Simon Wright. Владелец: Kromek Limited. Дата публикации: 2011-10-06.

Method for transforming solid plastic waste into hydrocarbons

Номер патента: GB2617204A. Автор: Celedonio Reyes Salinas Marlo,Palma Gómez Olatz,Kravetz Miranda Humberto,ANGELES MONTEALEGRE AGUADO Mª. Владелец: Graphene Synthetic Feedstock Sl. Дата публикации: 2023-10-04.

An online energy dispersive x-ray diffraction analyser

Номер патента: CA2701670C. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2018-01-16.

Porous composite metal oxide, catalyst using the same, and methods for producing the porous composite metal oxide and the catalyst

Номер патента: US09556023B2. Автор: Akira Morikawa,Kimitoshi Sato,Kae Yamamura,Akihiko Suda. Владелец: Toyota Central R&D Labs Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Sliding member, disk for false twisting machines, and method for producing sliding member

Номер патента: EP4397796A1. Автор: Hirotaka Kawabata. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2024-07-10.

Set-up and method for spatially resolved measurement with a wavelength-dispersive x-ray spectrometer

Номер патента: US20190187076A1. Автор: Uwe Metka,Frank Filsinger. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2019-06-20.

Activated carbon/aluminum oxide/polyethylenimine composites and methods thereof

Номер патента: US09687813B2. Автор: Tawfik A. Saleh. Владелец: KING FAHD UNIVERSITY OF PETROLEUM AND MINERALS. Дата публикации: 2017-06-27.

Energy dispersive x-ray spectroscopy sensing unit background

Номер патента: US20240060912A1. Автор: Martin Chauvin,Itay Asulin,Eitam Vinegrad. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-02-22.

A method for refinery foulant deposit characterization

Номер патента: WO2006020061A3. Автор: Thomas Bruno,Glen Barry Brons,Himanshu Joshi,Leo Dale Brown,Thomas M Rudy,Raymond John Kennedy. Владелец: Raymond John Kennedy. Дата публикации: 2006-12-28.

A method for refinery foulant deposit characterization

Номер патента: CA2573620A1. Автор: Thomas Bruno,Glen Barry Brons,Himanshu Joshi,Leo Dale Brown,Thomas M. Rudy,Raymond John Kennedy. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-23.

A method for refinery foulant deposit characterization

Номер патента: SG154446A1. Автор: Thomas Bruno,Glen Barry Brons,Himanshu Joshi,Leo Dale Brown,Thomas M Rudy,Raymond John Kennedy. Владелец: Exxonmobil Res & Eng Co. Дата публикации: 2009-08-28.

A method for refinery foulant deposit characterization

Номер патента: WO2006020061A2. Автор: Thomas Bruno,Glen Barry Brons,Himanshu Joshi,Leo Dale Brown,Thomas M. Rudy,Raymond John Kennedy. Владелец: EXXONMOBIL RESEARCH AND ENGINEERING COMPANY. Дата публикации: 2006-02-23.

A method for refinery foulant deposit characterization

Номер патента: EP1769236A2. Автор: Thomas Bruno,Glen Barry Brons,Himanshu Joshi,Leo Dale Brown,Thomas M. Rudy,Raymond John Kennedy. Владелец: ExxonMobil Research and Engineering Co. Дата публикации: 2007-04-04.

Method for making quantitative analysis of nickel

Номер патента: US20030123607A1. Автор: Binn Kim,Kyu Park,Hyun Kwon. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2003-07-03.

Method for making quantitative analysis of nickel

Номер патента: US6829328B2. Автор: Binn Kim,Kyu Ho Park,Hyun Ja Kwon. Владелец: LG Philips LCD Co Ltd. Дата публикации: 2004-12-07.

Methods for detecting zerovalent nanoparticle-mediated oxidative stress in cyanobacteria

Номер патента: US20230392181A1. Автор: Viji SITTHER,Samson Gichuki. Владелец: MORGAN STATE UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-12-07.

A rubber composite and a method for making the rubber composite

Номер патента: WO2024187381A1. Автор: Degui XIA,Baoxing WANG,Hans Vandeputte. Владелец: Bekaert (China) Technology Research And Development Co. Ltd.. Дата публикации: 2024-09-19.

A rubber composite and a method for making the rubber composite

Номер патента: WO2024188594A1. Автор: Degui XIA,Baoxing WANG,Hans Vandeputte. Владелец: NV BEKAERT SA. Дата публикации: 2024-09-19.

Method for the extraction and the determination of microplastics in samples with organic and inorganic matrices

Номер патента: US11860151B2. Автор: Margherita Anna Letizia FERRANTE,Gea Marzia Stefania OLIVERI CONTI,Pietro ZUCCARELLO. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-02.

Method for the extraction and the determination of microplastics in samples with organic and inorganic matrices

Номер патента: CA3093197A1. Автор: Margherita Anna Letizia FERRANTE,Gea Marzia Stefania OLIVERI CONTI,Pietro ZUCCARELLO. Владелец: Individual. Дата публикации: 2019-09-12.

Method for detection of corrosion attack in metal surfaces

Номер патента: WO1992007246A1. Автор: Dag Brune. Владелец: Dag Brune. Дата публикации: 1992-04-30.

Method for the extraction and the determination of microplastics in samples with organic and inorganic matrices

Номер патента: EP3788344A1. Автор: Margherita Anna Letizia FERRANTE,Pietro ZUCCARELLO,Gea Marzia Stefania OIVERI CONTI. Владелец: Universita degli Studi di Catania. Дата публикации: 2021-03-10.

Method for improving cold flow properties and increasing yield of middle distillate feedstock through liquid full hydrotreating and dewaxing

Номер патента: RU2649389C2. Автор: Хасан ДИНДИ,Алан Говард ПУЛЛИ,Луис Эдуардо МУРИЛЬО,Сандип ПАЛИТ,Тхань Зя ТА,Брайан БОУГЕР. Владелец: Е.И.Дюпон де Немур энд Компани. Дата публикации: 2018-04-03.

ELECTRONIC PROBE MICROANALYST HAVING WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETER AND X-RAY ENERGY DISPERSIVE SPECTROMETER

Номер патента: FR2634889A1. Автор: Koji Yoshida,Masaki Saito,Yoshitaka Nagatsuka,Kazuyasu Kawabe,Masayuki Ohtsuki. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1990-02-02.

Method for processing energy-dispersive x-ray analysis data generated by electron microscopy

Номер патента: EP3786626A1. Автор: Julien Sorel,Zineb Saghi. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2021-03-03.

Porous composite metal oxide, catalyst using the same, and methods for producing the porous composite metal oxide and the catalyst

Номер патента: US20120142523A1. Автор: Akira Morikawa,Kimitoshi Sato,Kae Yamamura,Akihiko Suda. Владелец: Toyota Central R&D Labs Inc. Дата публикации: 2012-06-07.

Method of energy dispersing X-ray spectra, particle beam system and computer program product

Номер патента: CN113203762A. Автор: M.伯泽. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2021-08-03.

Cross calibaration of two energy dispersive x-ray baggage screening systems including transformation of the reference database

Номер патента: EP2524208B1. Автор: Ian Radley,David Edward Joyce,Timothy Simon Wright. Владелец: Kromek Ltd. Дата публикации: 2021-09-29.

Cross calibaration of two energy dispersive x-ray baggage screening systems including transformation of the reference database

Номер патента: EP2524208A2. Автор: Ian Radley,David Edward Joyce,Timothy Simon Wright. Владелец: Kromek Ltd. Дата публикации: 2012-11-21.

Combined method of secondary ion mass spectroscopy and energy dispersive x-ray for quantitative chemical analysis of various solid materials and thin films.

Номер патента: MX2011009486A. Автор: Jose Pablo Rene Asomoza Y Palacio,Iouri Koudriavtsev. Владелец: CT INVESTIG Y ESTUDIOS DEL IPN. Дата публикации: 2013-03-15.

Device and method for identifying a foreign material

Номер патента: WO2023245218A1. Автор: YANG Hu,Manfred Riedler,Gavin Gao,Anna Wei,Tiny XIE,Szabolcs VERESS. Владелец: AT & S Austria Technologie & Systemtechnik Aktiengesellschaft. Дата публикации: 2023-12-28.

Hydrocarbon synthesis catalyst, method for manufacturing same, and method for synthesizing hydrocarbons

Номер патента: GB2621664A. Автор: TSUBAKI Noritatsu,Yang Guohui,Mizubayashi Mai,Tomono Naoki,Katayama Yuka,Cao Jingdi. Владелец: University of Toyama NUC. Дата публикации: 2024-02-21.

Hydrocarbon Synthesis Catalyst, Method for Manufacturing Same, and Method for Synthesizing Hydrocarbons

Номер патента: US20230381754A1. Автор: Naoki Tomono,Noritatsu Tsubaki,Mai Mizubayashi,Yuka Katayama,Jingdi Cao,Guohui Yang. Владелец: University of Toyama NUC. Дата публикации: 2023-11-30.

Ti-Mo ALLOY AND METHOD FOR PRODUCING THE SAME

Номер патента: US20140014242A1. Автор: Koichi Tsuchiya,Satoshi Emura. Владелец: NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE. Дата публикации: 2014-01-16.

Apparatus and method for improved energy dispersive x-ray spectrometer

Номер патента: WO1999009401B1. Автор: David B O'hara. Владелец: Hara David B O. Дата публикации: 1999-04-01.

Apparatus and method for improved energy dispersive X-ray spectrometer

Номер патента: US6442231B1. Автор: David B. O'Hara. Владелец: O'hara David B.. Дата публикации: 2002-08-27.

Cell-collagen-silica composites and methods of making and using the same

Номер патента: WO2016172365A1. Автор: Jenna Leigh Rickus,Sherry L. HARBIN,Jennifer L. KAHN. Владелец: Purdue Research Foundation Office of Technology Commercialization. Дата публикации: 2016-10-27.

Cell-collagen-silica composites and methods of making and using the same

Номер патента: US11919941B2. Автор: Jenna Leigh Rickus,Sherry L. Voytik-Harbin,Jennifer L. K. Rich. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2024-03-05.

Frame accumulation scanning method for energy dispersive x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: KR20140059688A. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2014-05-16.

Bone Cement Mixture and X-ray Contrast Medium As Well as Method for Their Preparation

Номер патента: AU2003204330A1. Автор: Klaus-Dieter Kühn. Владелец: HERAEUS KULZER GMBH. Дата публикации: 2003-12-18.

AN ENERGY DISPERSIVE X-RAY DIFFRACTION ANALYSER HAVING AN IMPROVED REFLECTION GEOMETRY

Номер патента: US20220057343A1. Автор: TICKNER James Richard,"ODWYER Joel". Владелец: . Дата публикации: 2022-02-24.

ENERGY DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENT SPECTROMETER, EVALUATION METHOD, AND EVALUATION PROGRAM

Номер патента: US20220268717A1. Автор: KIKUTA Shinya. Владелец: . Дата публикации: 2022-08-25.

Process for identifying substances unidentifiable by spectral line analysis uses energy dispersion X-ray fluorescence spectroscopy

Номер патента: DE19921317A1. Автор: Peter Hoffmann,Hanshelmut Itzel,Alexander Henrich,Hugo Ortner. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2000-07-27.

Energy dispersive X-ray fluorescence analyzer, evaluation method and evaluation program

Номер патента: JP6917668B1. Автор: 真也菊田. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-08-11.

An online energy dispersive x-ray diffraction analyser

Номер патента: ZA201002520B. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commw Scient Ind Res Org. Дата публикации: 2012-09-26.

Energy dispersive x-ray fluorescent analysis device, evaluation method, and evaluation program

Номер патента: WO2021124859A1. Автор: 真也菊田. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2021-06-24.

Online energy dispersive X-ray diffraction analyser

Номер патента: US8311183B2. Автор: James Tickner,Joel O'dwyer. Владелец: Commonwealth Scientific and Industrial Research Organization CSIRO. Дата публикации: 2012-11-13.

Energy dispersion x-ray fluorescence analysis of chemical substances

Номер патента: WO2000043761A2. Автор: Peter Hoffmann,Alexander Henrich,Hugo Ortner,Hans-Helmut Itzel. Владелец: Merck Patent GmBH. Дата публикации: 2000-07-27.

Combinatorial contraband detection using energy dispersive x-ray diffraction

Номер патента: WO2003065077A2. Автор: William E. Mayo. Владелец: Rutgers, the State University. Дата публикации: 2003-08-07.

Method of analysis by energy dispersive X-ray spectroscopy of at least one chemical species in a molten pool or a solidified bead produced by an additive manufacturing process or by welding a metal alloy

Номер патента: FR3114398A1. Автор: Jean-Paul Garandet,Florian Le Bourdais,Adrien Stolidi,Marius COSTIN. Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique et aux Energies Alternatives CEA. Дата публикации: 2022-03-25.

Automatic energy dispersive x-ray fluorescence analysing apparatus

Номер патента: DE2966430D1. Автор: Robert Carey,John Christian Russ. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1983-12-29.

System and method for manufacturing calcined gypsum with in-line calcination control device

Номер патента: EP4402110A1. Автор: Blair Walker. Владелец: United States Gypsum Co. Дата публикации: 2024-07-24.

X-ray apparatus and method for analysing a sample

Номер патента: US20240302303A1. Автор: Detlef Beckers,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-12.

X ray apparatus and method for analysing a sample

Номер патента: EP4428531A1. Автор: Detlef Beckers,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-09-11.

Hydrotreating catalyst containing polar additive, method for its manufacture and application

Номер патента: RU2753526C2. Автор: Томас ВЕБЕР,Карл Марвин КРЮГЕР. Владелец: Шелл Интернэшнл Рисерч Маатсхаппий Б.В.. Дата публикации: 2021-08-17.

Method of quantitative analysis of hexavalent chromium in chromate coating and method for controlling hazardous element in encapsulating resin of resin encapsulation semiconductor device

Номер патента: US20120264225A1. Автор: Miyuki Takenaka,Mitsuhiro Oki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-10-18.

Organic kitchen hood and method for reducing thermal energy dispersal

Номер патента: DK2151632T3. Автор: Mario Cipriani,Stefano Socci. Владелец: Faber SpA. Дата публикации: 2016-01-11.

X-ray collimator, wavelength dispersion X-ray spectrometer, and method for detecting X-rays emitted from a sample specimen

Номер патента: JP4289584B2. Автор: ジョンジェイマッカシー,ジェームズヴィーハワード. Владелец: サーモエレクトロンサイエンティフィックインスツルメンツエルエルシー．. Дата публикации: 2009-07-01.

System and method for determining mass fractions in a test sample with wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: EP4276452B1. Автор: Dominique PORTA,Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2024-07-03.

Honeycomb filter and method for manufacturing the same

Номер патента: US20090324455A1. Автор: Takashi Mizutani. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2009-12-31.

Graphene-based electro-microfluidic devices and methods for protein structural analysis

Номер патента: US20190383764A1. Автор: Sarah L. Perry,Shou Sui. Владелец: University of Massachusetts UMass. Дата публикации: 2019-12-19.

X=ray analysis apparatus e.g. for integrated circuit wafer sample, uses x=ray sensitive CCD array as energy-dispersive detector

Номер патента: DE10063451A1. Автор: Waltherus Wilhelmus Hoogenhof,Johannes Cornelis Jans,Marinus Willem Dirken. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2001-07-05.

Wavelength dispersive x-ray spectrometer

Номер патента: CN112424591A. Автор: 云文兵,雅诺什·科瑞,本杰明·唐纳德·斯特普. Владелец: Sigray Inc. Дата публикации: 2021-02-26.

Method for energy chromatic dispersion X-ray fluorescence spectrum detection of sulfur trioxide in cement

Номер патента: CN106053508A. Автор: 王兵,梁峙,吴海娟,姜振军,黄臻,毛敏明,王金砖,夏前峰. Владелец: Nanjing Product Quality Supervision and Inspection Institute. Дата публикации: 2016-10-26.

Optical axis adjustment method for x-ray analyzer and x-ray analyzer

Номер патента: GB201419386D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-12-17.

Method for manufacturing dispersing x- ray screens

Номер патента: BG36315A1. Автор: Schueler,Mehliss,Walendy. Владелец: Zeiss Jena Veb Carl. Дата публикации: 1984-10-15.

WAVE-LENGTH DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETER WITH X-RAY COLLIMATOROPY FOR INCREASED SENSITIVITY OVER A WIDE ENERGY RANGE

Номер патента: DE69940100D1. Автор: Jon J Mccarthy,James V Howard. Владелец: Noran Instruments Inc. Дата публикации: 2009-01-29.

A kind of Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Analysis instrument

Номер патента: CN108627530A. Автор: 林晓燕,李玉德,王兴艺. Владелец: Beijing Normal University. Дата публикации: 2018-10-09.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER AND X-RAY FLUORESCENCE ANALYZING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20190072504A1. Автор: Kato Shuichi,Yamada Takashi,Kataoka Yoshiyuki,FUJIMURA Hajime. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-03-07.

Method for measuring thermoplastic ash content by wavelength dispersion X-ray fluorescence spectrometry

Номер патента: CN110596170A. Автор: 秦超,郭凡,王学智,陈方园,张坤龙,柳盛,王行连. Владелец: Coal Yulin Derived Energy Chemical Co Ltd During Shaanxi Extends. Дата публикации: 2019-12-20.

Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analyzing method using the same

Номер патента: WO2018061608A8. Автор: 一藤村,秀一加藤,片岡　由行,山田　隆. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2018-07-26.

Wavelength-dispersive x-ray fluorescence spectrometer and x-ray fluorescence analysing method using the same

Номер патента: EP3521814B1. Автор: Takashi Yamada,Shuichi Kato,Hajime Fujimura,Yoshiyuki Kataoka. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-08-03.

High-tensile steel with excellent weldability and toughness and with tensile strength of 550 mpa class or more and method of production of the same

Номер патента: US20110129381A1. Автор: Yasushi Hasegawa,Youichi Tanaka,Naoki Saitoh. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2011-06-02.

SET-UP AND METHOD FOR SPATIALLY RESOLVED MEASUREMENT WITH A WAVELENGTH-DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETER

Номер патента: US20190187076A1. Автор: FILSINGER Frank,METKA Uwe. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-20.

System and method for manufacturing calcined gypsum with in-line calcination control device

Номер патента: CA3231612A1. Автор: Blair Walker. Владелец: United States Gypsum Co. Дата публикации: 2023-03-23.

System and method for improved measurement of peak intensities in pulse height spectra obtained by wave-length dispersive x-ray fluorescence spectrometers

Номер патента: EP4220143B1. Автор: Fabian Nitsche. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2023-12-27.

Ecological kitchen hood and method for reducing thermal energy dispersion

Номер патента: EP2151632B1. Автор: Mario Cipriani,Stefano Socci. Владелец: Faber SpA. Дата публикации: 2015-11-11.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20220283101A1. Автор: HARADA Daisuke,KEYAKI Yasuyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-08.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5307504B2. Автор: 範昭坂井,稔幸高原,吉毅的場. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

Method for nondestructive inspection of thermo-deformation treatment of semi-finished products from two-phase titanium alloys for overheating by x-ray analysis

Номер патента: RU2614023C1. Автор: Сергей Леонидович Демаков,Дмитрий Вадимович Гадеев,Ирина Вячеславовна Нарыгина. Владелец: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Уральский федеральный университет имени первого Президента России Б.Н. Ельцина". Дата публикации: 2017-03-22.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5307503B2. Автор: 吉毅的場,寛治長沢. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP2021188961A. Автор: Kenji Sato,賢治佐藤. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-12-13.

Method for aligning for spectrum module of wavelength dispersive x-ray fluorescence analyzer

Номер патента: KR101769709B1. Автор: 박정권. Владелец: 주식회사 아이에스피. Дата публикации: 2017-08-18.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: US7970101B2. Автор: Toshiyuki Takahara,Noriaki Sakai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-06-28.

Wavelength-dispersive x-ray fluorescence analysis device

Номер патента: CN103415766B. Автор: 片冈由行,川久航介,井上央. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2015-07-22.

Transmission x-ray analyzer and transmission x-ray analysis method

Номер патента: CN102954973A. Автор: 的场吉毅. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2013-03-06.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5998666B2. Автор: 健二野村,野村　健二. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-28.

Multielement simultaneous type fluorescent x-ray analyzer and multielement while fluorescent x-ray analysis method

Номер патента: CN108713138B. Автор: 藤村圣史,青木悠. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-06.

Material analysis and separation system for the determination of their chemical composition and material analysis and separation method for the determination of their chemical composition

Номер патента: ZA202301749B. Автор: Kolacz Jacek. Владелец: Comex Polska Sp Z O O. Дата публикации: 2024-03-27.

Neural network system and methods for analysis of organic materials and structures using spectral data

Номер патента: US5218529A. Автор: Bernd J. Meyer,Jeffrey P. Sellers,Jan U. Thomsen. Владелец: University of Georgia Research Foundation Inc UGARF. Дата публикации: 1993-06-08.

Method for determining ore-formational type of placer gold source and its location

Номер патента: RU2683816C1. Автор: Николай Андреевич Бакшеев. Владелец: Акционерное общество "Сибирский научно-исследовательский институт геологии, геофизики и минерального сырья". Дата публикации: 2019-04-02.

Information processing apparatus, information processing method, non-transitory computer readable media storing program, and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20230184699A1. Автор: Akihiro Himeda,Takumi Ohta. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-06-15.

Peak identification analysis program, and fluorescent x-ray analysis device

Номер патента: EP4425160A1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-04.

Automatic analyzer and sample dispensing method for the automatic analyzer

Номер патента: US09921235B2. Автор: Takayuki Mizutani,Kiyotaka Kubota. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Moveable transparent barrier for x-ray analysis of a pressurized sample

Номер патента: EP1644723A1. Автор: Brian Gallagher. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2006-04-12.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20130294577A1. Автор: Kataoka Yoshiyuki,Inoue Hisashi,Kawakyu Kosuke. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2013-11-07.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER

Номер патента: US20190227008A1. Автор: Kato Shuichi,Yamada Takashi,Kataoka Yoshiyuki. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2019-07-25.

WAVELENGTH DISPERSIVE X-RAY SPECTROMETER

Номер патента: US20190369271A1. Автор: Yun Wenbing,Kirz Janos,Stripe Benjamin Donald. Владелец: . Дата публикации: 2019-12-05.

Wavelength dispersive x-ray fluorescence spectrometer

Номер патента: WO2018061607A8. Автор: 秀一加藤,片岡　由行,山田　隆. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2019-04-04.

Wavelength dispersive X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: JP5076012B1. Автор: 由行片岡,央井上,航介川久. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-11-21.

Signal processing device for X-ray analysis and method for adjusting signal processing device for X-ray analysis

Номер патента: CN110088605B. Автор: 迫幸雄,多田勉. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-03-02.

Method for calibrating a collimator and apparatus for x-ray analysis configured to carry out the method

Номер патента: EP3510931B1. Автор: Sara Vecchio,Paolo Vignoli,Valerio SALOMONI. Владелец: Ims Giotto SpA. Дата публикации: 2023-01-04.

OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150146859A1. Автор: Tobita Ichiro,KAKEFUDA Kouji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-28.

Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and fluorescence x-ray analysis device

Номер патента: EP4105649B1. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Yasushi Kusakabe. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-25.

Systems, devices, and methods for module-based cascaded energy systems

Номер патента: US12139024B2. Автор: Mikhail SLEPCHENKOV,Leslie G. Webber,Roozbeh Naderi,Mohammad MOUSAVI,Milan Bhakta,Jaka VERBIC. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2024-11-12.

Sample analyzer, and control method for sample analyzer

Номер патента: EP4365577A1. Автор: Qi Yu,Yong Dai,Yueping CHEN. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Automatic analyzer and optical measurement method for obtaining measurement signals from liquid media

Номер патента: US12097491B2. Автор: Herfried Huemer,Arnold Bartel,Reinhard MARIK,Patrick KRAUS-FÜREDER,Robert SCHOLZ-MAREICH,Wolfgang Sprengers,Michael Bergbaur. Владелец: Meon Medical Solutions and Co KG GmbH. Дата публикации: 2024-09-24.

Driving analyzer and driving analyzing method for haulage vehicles

Номер патента: US09734641B2. Автор: Yasuko Yamamoto,Kazuomi MITO. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2017-08-15.

Photonic spectrometry device and method, method for calibrating the device, and use of the device

Номер патента: US09400336B2. Автор: Eric Berruyer. Владелец: AREVA NP SAS. Дата публикации: 2016-07-26.

X-RAY ANALYSIS APPARATUS, X-RAY ANALYSIS SYSTEM, X-RAY ANALYSIS METHOD, AND X-RAY ANALYSIS PROGRAM

Номер патента: US20140021364A1. Автор: Ueji Yoshinori,ITO Kazuki,NISHI Kunio,KAJIYOSHI Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2014-01-23.

SIGNAL PROCESSING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS AND ADJUSTMENT METHOD FOR A SIGNAL PROCESSING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS

Номер патента: US20200209408A1. Автор: Sako Yukio,TADA Tsutomu. Владелец: . Дата публикации: 2020-07-02.

Method for imaging inclusions and/or alpha case in articles

Номер патента: CA2411509C. Автор: Mehrdad Yasrebi,Mark E. Springgate,James R. Barrett,Douglas G. Nikolas,David H. Sturgis. Владелец: PCC Structurals Inc. Дата публикации: 2007-07-31.

Method for imaging inclusions in investment castings

Номер патента: AU1918599A. Автор: David Howard Sturgis,Mehrdad Yasrebi,Mark E. Springgate,James R. Barrett,Douglas G. Nikolas. Владелец: PCC Structurals Inc. Дата публикации: 1999-07-05.

Method for imaging inclusions and/or alpha case in articles

Номер патента: CA2411509A1. Автор: Mehrdad Yasrebi,Mark E. Springgate,James R. Barrett,Douglas G. Nikolas,David H. Sturgis. Владелец: David H. Sturgis. Дата публикации: 2002-01-03.

Method for identifying molecular structure

Номер патента: US11815475B2. Автор: Makoto Fujita,Hiroki Takezawa,Daishi Fujita,Yuya Domoto. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2023-11-14.

Peak identification analysis program, and fluorescent x-ray analysis device

Номер патента: EP4425160A4. Автор: Yoshiyuki Kataoka,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Meat processing device incorporating an X-ray analyzer

Номер патента: US09854817B2. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2018-01-02.

X-RAY ANALYSIS APPARATUS AND METHOD OF X-RAY ANALYSIS

Номер патента: US20130336454A1. Автор: Nomura Kenji. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2013-12-19.

Quantitative analysis method, quantitative analysis program, and fluorescence x-ray analysis device

Номер патента: EP4033231A1. Автор: Shin Tanaka. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-07-27.

X-ray analysis apparatus and method of X-ray analysis

Номер патента: US9063064B2. Автор: Kenji Nomura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2015-06-23.

Fluorescent X-ray analysis apparatus for specimen analysis, consists of sub-computers connected to main computer through network, by which offline specimen analysis operation is performed

Номер патента: DE10051878A1. Автор: Hiroaki Kita. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2002-05-08.

X-ray beam shaping apparatus and method

Номер патента: US12007343B2. Автор: Detlef Beckers,Alexander Kharchenko,Milen Gateshki,Nicholas NORBERG. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-06-11.

X-ray analysis apparatus with single crystal X-ray aperture and method for manufacturing a single crystal X-ray aperture

Номер патента: US20130315375A1. Автор: Kleine Andreas,Kreith Josef,Hertlein Frank. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-28.

X-ray analysis device and method for optical axis alignment thereof

Номер патента: US20200003708A1. Автор: Katsuhiko Inaba,Shintaro Kobayashi,Toru Mitsunaga. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

APPARATUS AND METHOD FOR X-RAY ANALYSIS WITH HYBRID CONTROL OF BEAM DIVERGENCE

Номер патента: US20190317031A1. Автор: Beckers Detlef,Gateshki Milen. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-17.

X-ray analyzer for analyzing plastic

Номер патента: JP4005547B2. Автор: 清長谷川. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-11-07.

X-ray analysis device and method for optical axis alignment thereof

Номер патента: EP3588068A3. Автор: Katsuhiko Inaba,Shintaro Kobayashi,Toru Mitsunaga. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-01-15.

Meat processing device incorporating an x-ray analyzer

Номер патента: CA2910117C. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2018-07-10.

X-ray analysis device and method for optical axis alignment thereof

Номер патента: US10837923B2. Автор: Katsuhiko Inaba,Shintaro Kobayashi,Toru Mitsunaga. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2020-11-17.

Apparatus and method for X-ray analysis with hybrid control of beam divergence

Номер патента: US10782252B2. Автор: Detlef Beckers,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-09-22.

Apparatus and method for x-ray analysis

Номер патента: EP1445604A1. Автор: Masataka Sakata. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2004-08-11.

Device and method for performing X-ray analysis

Номер патента: US20080037706A1. Автор: Petronella Emerentiana Hegeman,Gustaaf Christian Simon Brons. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2008-02-14.

CELL FOR X-RAY ANALYSIS AND X-RAY ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20190145915A1. Автор: Onishi Yasuhiro,Kimura Masao,"Kimijima Kenichi",Asahara Daiji. Владелец: Inter-University Research Institute Corporation High Energy Accelerator Research Organization. Дата публикации: 2019-05-16.

X-RAY ANALYSIS ASSISTANCE DEVICE AND X-RAY ANALYSIS DEVICE

Номер патента: US20200191732A1. Автор: MORIKAWA Keiichi,TANIGUCHI YAYOI. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2020-06-18.

X-Ray Analysis System and X-Ray Analysis Method

Номер патента: US20200393393A1. Автор: Hideyuki Takahashi. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-17.

X-RAY ANALYSIS SYSTEM, X-RAY ANALYSIS DEVICE, AND VAPOR PHASE DECOMPOSITION DEVICE

Номер патента: US20200408706A1. Автор: MURAKAMI Satoshi,Kono Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-31.

Fluorenscent X-ray analysis device using Pile-up signal removing and Analysis method using thereof

Номер патента: KR101443710B1. Автор: 박정권,박철암,정진균. Владелец: 전북대학교산학협력단. Дата публикации: 2014-10-01.

Fluorescent x-ray analysis method and fluorescent x-ray analysis apparatus

Номер патента: CN1993614A. Автор: 谷美幸,岩本洋,久角隆雄,岩田进裕,坂口悦美. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-04.

Fluorescent X-ray analysis device and fluorescent X-ray analysis method

Номер патента: CN112105919A. Автор: 斋藤佑多. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2020-12-18.

Quantitative analysis method of concentration of element in x-ray analysis

Номер патента: JPS6186640A. Автор: Junichi Shimomura,拓一今中,Takuichi Imanaka,下村　順一. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1986-05-02.

Sample holder for fluorescent X-ray analysis and fluorescent X-ray analysis method and apparatus using the same

Номер патента: JPWO2005012889A1. Автор: 孝男森山,未知子井上. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2006-09-21.

Fluorescent X-ray analysis method and fluorescent X-ray analysis device

Номер патента: CN1947003A. Автор: 谷美幸,岩本洋,久角隆雄,岩田进裕,坂口悦美. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-04-11.

Total-reflection fluorescent x-ray analysis device, and total-reflection fluorescent x-ray analysis method

Номер патента: WO2010026750A1. Автор: 河合潤,国村伸祐. Владелец: 国立大学法人京都大学. Дата публикации: 2010-03-11.

Fluorescent X-ray analysis method and fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20060029182A1. Автор: Yoshiyuki Tani,Hiroshi Iwamoto,Takao Hisazumi,Yukihiro Iwata,Etsuyoshi Sakaguchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-02-09.

Sample holder for fluorescent X-ray analysis and fluorescent X-ray analysis method and apparatus using the same

Номер патента: JP3793829B2. Автор: 孝男森山,未知子井上. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2006-07-05.

Fluorescent x-ray analysis method and fluorescent x-ray analysis device

Номер патента: EP1757925B1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Yoshiyuki Tani,Hiroshi Iwamoto,Takao Hisazumi,Yukihiro Iwata,Etsuyoshi Sakaguchi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2014-05-07.

X-ray analysis system, X-ray analysis apparatus and vapor phase decomposition apparatus

Номер патента: JP6618059B1. Автор: 河野　　浩,智村上,浩河野. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-12-11.

X-ray analyzer system and method of increasing response time

Номер патента: US5570406A. Автор: Shintaro Komatani. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1996-10-29.

X-ray analysis system, x-ray analysis device, and vapor phase decomposition device

Номер патента: EP3822622B1. Автор: Satoshi Murakami,Hiroshi Kono. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-01-04.

X-ray analysis apparatus and x-ray analysis method

Номер патента: US20110051894A1. Автор: Toshiyuki Takahara. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-03-03.

Fluorescent x-ray analysis method and fluorescent x-ray analysis device

Номер патента: EP1757925A1. Автор: Yoshiyuki c/o Matsushita EIC Ltd. IPROC TANI,Hiroshi c/o Matsushita EIC Ltd. IPROC IWAMOTO,Takao c/o Matsushita EIC Ltd. IPROC HISAZUMI,Yukihiro c/o Matsushita EIC Ltd. IPROC IWATA,Etsuyoshi c/o Matsushita EIC Ltd. IPROC SAKAGUCHI. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-02-28.

X-ray analysis apparatus and x-ray analysis method

Номер патента: US20080212739A1. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Takayuki Fukai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-09-04.

X-ray fluorescence analysis is with the sample retainer tool and adopt its fluorescent x-ray analysis method and device

Номер патента: CN100552443C. Автор: 森山孝男,井上未知子. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2009-10-21.

Multi-layer film spectroscopic element for boron fluorescence x-ray analysis

Номер патента: EP1318393B1. Автор: Kazuaki c/o Rigaku Corporation SHIMIZU. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-10-20.

Microfluidic devices and methods of manufacture and use thereof

Номер патента: US20180214863A1. Автор: Christos Dimitrakopoulos,Yuxi Wang,Shuo Sui,Sarah L. Perry. Владелец: University of Massachusetts UMass. Дата публикации: 2018-08-02.

X-ray analyzing apparatus and method

Номер патента: US20150233845A1. Автор: Tomoyuki Fukuda,Akihiro Ikeshita,Kosuke Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

METHOD FOR CALIBRATING A COLLIMATOR AND APPARATUS FOR X-RAY ANALYSIS CONFIGURED TO CARRY OUT THE METHOD

Номер патента: US20190219714A1. Автор: VIGNOLI Paolo,VECCHIO Sara,SALOMONI Valerio. Владелец: . Дата публикации: 2019-07-18.

Method for measuring film thickness by using electron probe x-ray analyzer

Номер патента: JPS6416905A. Автор: Toyohiko Okumura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-01-20.

Coating method for sample for x-ray analysis

Номер патента: JPS5299885A. Автор: Momoko Anno,Hiroaki Watake. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1977-08-22.

Grazing incidence fluorescence x-ray analysis equipment and method

Номер патента: CN107110798B. Автор: 表和彦,山田隆. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-08-16.

Method for ge-xrf x-ray analysis of materials, and apparatus for carrying out the method

Номер патента: WO1996023211A1. Автор: Pieter Klaas De Bokx. Владелец: Philips Norden Ab. Дата публикации: 1996-08-01.

Fluorescent x-ray analysis device and method

Номер патента: KR101277379B1. Автор: 히로시 고바야시,히로아키 기타. Владелец: 가부시키가이샤 리가쿠. Дата публикации: 2013-06-20.

X-ray analysis method for compensating for the matrix absorption effect

Номер патента: US3496353A. Автор: John R Rhodes. Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1970-02-17.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: EP3553508A2. Автор: Jaap Boksem,Detlef Beckers,Milen Gateshki. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2019-10-16.

Method for producing monocrystalline metallic wire

Номер патента: EP1445340A4. Автор: Gennadij A Markov. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-07-23.

Fluorescent x ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS51146893A. Автор: Saburo Mori,Hiromichi Mitsuda,Toshihiko Miyazawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1976-12-16.

X-ray Analysis Apparatus and Method

Номер патента: US20190317030A1. Автор: Beckers Detlef,Gateshki Milen,BOKSEM Jaap. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-17.

X-ray analyzer

Номер патента: RU2611713C1. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2017-02-28.

X-ray analysis device and method

Номер патента: CN110389142A. Автор: D·贝克尔斯,米伦·加特什基,亚普·博克塞姆. Владелец: Marvin Panna C Co. Дата публикации: 2019-10-29.

fluorescent X-ray analyzer and sample display method thereof

Номер патента: CN105388176B. Автор: 八木勇夫. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-12-06.

X-ray analyzer and computer program

Номер патента: JPWO2015125604A1. Автор: 聡史大橋,隆司小松原,浩行越川. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-03-30.

Fluorescent X-ray analysis method for contaminants in silicon substrate surface, involves estimating amount of measured object based on ratio of intensity of X-rays irradiated to sample at given angle

Номер патента: DE10208403A1. Автор: Motoyuki Yamagami. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2003-09-11.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: JP4884553B1. Автор: 昭弘池下,康裕清水,智行福田. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2012-02-29.

X-ray analysis apparatus and method

Номер патента: JP5956730B2. Автор: 吉毅的場,林太郎中谷,恒郎佐藤. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-07-27.

X-ray analyzer and its optical axis adjustment method

Номер патента: JP6871629B2. Автор: 信太郎小林,克彦稲葉,徹光永. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Method for performing x-ray analysis

Номер патента: EP1750118B1. Автор: Petronella Emerentiana Hegeman,Gustaaf Christian Simon Brons. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2013-03-27.

Sample holder for an x-ray analysis apparatus

Номер патента: EP4111183A1. Автор: Detlef Beckers,Milen Gateshki,Jan Vugteveen. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-01-04.

Mercury-free concentration standard for x-ray analysis

Номер патента: US10871583B2. Автор: Harry James Whitlow. Владелец: University of Louisiana at Lafayette. Дата публикации: 2020-12-22.

Fluorescent x-ray analyzer with quickly evacuable cover cases

Номер патента: GB9724773D0. Автор: . Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-01-21.

Fluorescent x-ray analyzer with quickly evacuable cover cases

Номер патента: GB2319835B. Автор: Shoji Kuwabara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2000-07-26.

X-ray analyzing device

Номер патента: JPS55163444A. Автор: Mutsumi Sato. Владелец: NIPPON X SEN KK. Дата публикации: 1980-12-19.

Mercury-free concentration standard for x-ray analysis

Номер патента: US20190324164A1. Автор: Harry James Whitlow. Владелец: University of Louisiana at Lafayette. Дата публикации: 2019-10-24.

Apparatus for x-ray analysis in grazing exit conditions

Номер патента: EP1049928A2. Автор: Sander G. Den Hartog,Pieter K. De Bokx. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2000-11-08.

Monitoring properties of X-ray beam during X-ray analysis

Номер патента: IL303934A. Автор: Krokhmal Alexander,PELED Asher. Владелец: Bruker Tech Ltd. Дата публикации: 2024-04-01.

Goniometer for x-rays analyzer

Номер патента: JPS56111447A. Автор: Eiji Watanabe. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1981-09-03.

Optical axis adjustment device for x-ray analyzer

Номер патента: GB201419382D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-12-17.

Kinematic x-ray analysis apparatus

Номер патента: DE3471525D1. Автор: Peter Brinkgreve,Diederik Christi Koningsberger. Владелец: Eindhoven Technical University. Дата публикации: 1988-06-30.

Multilayered spectroscopic device for fluorescent X-ray analysis of boron

Номер патента: TW583394B. Автор: Kazuaki Shimizu. Владелец: Rigaku Ind Corp. Дата публикации: 2004-04-11.

Fluorescent X-ray analysis device and measurement position adjustment method thereof

Номер патента: TWI655425B. Автор: 八木勇夫. Владелец: 日商日立高新技術科學股份有限公司. Дата публикации: 2019-04-01.

Fluorescent x-ray analysis method and equipment

Номер патента: EP1744151A4. Автор: Yoshiyuki Tani,Hiroshi Iwamoto,Takao Hisazumi,Yukihiro Iwata,Etsuyoshi Sakaguchi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2008-12-17.

Apparatus for fluorescence x-ray analysis

Номер патента: JPS57166549A. Автор: Tadahiro Abe,Mitsuo Tokushima,Kazuyuki Nishikubo. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1982-10-14.

Fluorescent x ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS51146892A. Автор: Saburo Mori,Hiromichi Mitsuda,Toshihiko Miyazawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1976-12-16.

X-ray analysis device and wave height value prediction program

Номер патента: EP4394365A4. Автор: Tsutomu Tada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-09-18.

Apparatus for fluorescent x-ray analysis

Номер патента: JPS57172237A. Автор: Tadahiro Abe,Mitsuo Tokushima,Kazuyuki Nishikubo. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1982-10-23.

Luminescent X-Ray Analysis Device

Номер патента: IL279576B2. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-01.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US2432913A. Автор: John C Luley. Владелец: Western Electric Co Inc. Дата публикации: 1947-12-16.

X-ray analyzer

Номер патента: US09835571B2. Автор: Takao Marui,Tetsuya Yoneda,Masashi Matsuo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

X-ray optical component device and X-ray analyzer

Номер патента: US09490038B2. Автор: Tetsuya Ozawa,Kenji Wakasaya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Sample holding device for x-ray analysis

Номер патента: EP3779417B1. Автор: Koichiro Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

TRANSMISSION X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20130216024A1. Автор: MATOBA Yoshiki. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-08-22.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20220003691A1. Автор: Soejima Hiroyoshi. Владелец: APPLIED SCIENCE LABORATORY CO., LTD. Дата публикации: 2022-01-06.

SAMPLE HANDLING APPARATUS FOR PRESSURIZED FLUIDS AND X-RAY ANALYZER APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20190056337A1. Автор: Chen Zewu,Dunham Daniel,SPINAZOLA,III Joseph J,BURDETT Jay. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-21.

Meat processing device incorporating an x-ray analyzer

Номер патента: US20160081360A1. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2016-03-24.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150083909A1. Автор: Ohashi Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

X-RAY OPTICAL COMPONENT DEVICE AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150098547A1. Автор: Ozawa Tetsuya,WAKASAYA Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-09.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170097309A1. Автор: Matsuo Masashi,MARUI Takao,Yoneda Tetsuya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-04-06.

OPTICAL AXIS ADJUSTMENT DEVICE FOR X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150146860A1. Автор: Tobita Ichiro,KAKEFUDA Kouji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-28.

NON-HOMOGENEOUS SAMPLE HANDLING APPARATUS AND X-RAY ANALYZER APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20140270063A1. Автор: Allen George,JR. John H.,Chen Zewu,BURDETT,JOHNSON Leslie. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2014-09-18.

X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis

Номер патента: US20140270079A1. Автор: Pedersen Jan Skov. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

X-RAY ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170184519A1. Автор: Sako Yukio. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-06-29.

X-RAY ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140284478A1. Автор: Kawakyu Kosuke,Sako Yukio. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-25.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160231259A1. Автор: TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-11.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140326881A1. Автор: Ohashi Satoshi,Nishikata Kentaro,Komatsubara Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-06.

MOBILE TRANSPORT AND SHIELDING APPARATUS FOR REMOVABLE X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140328468A1. Автор: Pomerantz Steven M.,Burdett John H.,Delaney Rory D.. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-06.

MOBILE TRANSPORT AND SHIELDING APPARATUS FOR REMOVABLE X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160254068A1. Автор: Pomerantz Steven M.,Burdett John H.,Delaney Rory D.. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2016-09-01.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20150268179A1. Автор: SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-24.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150268180A1. Автор: HIROSE Ryusuke. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-24.

NON-HOMOGENEOUS SAMPLE SCANNING APPARATUS, AND X-RAY ANALYZER APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20160274042A1. Автор: Allen George,LU Peng,Chen Zewu,SPINAZOLA Joseph. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2016-09-22.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170269012A1. Автор: NAGATA Atsushi,Nakayama Satoshi,TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

SENSITIVITY CORRECTION COEFFICIENT CALCULATING SYSTEM AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170371047A1. Автор: MARUI Takao. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-12-28.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20200378909A1. Автор: Tsukamoto Kazunori,Honda Shigeru,Asai Masahiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-03.

Fluorescent x ray analyzer

Номер патента: JPS52146688A. Автор: Keizo Kono. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1977-12-06.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107076687A. Автор: 山田康治郎,原真也,堂井真. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-18.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107209132B. Автор: 山田康治郎,原真也,松尾尚,本间寿,片冈由行. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-21.

Fluorescence X-ray Analyzer

Номер патента: KR101046018B1. Автор: 요시유끼 가따오까,에이이찌 후루사와,히사유끼 고오노. Владелец: 가부시키가이샤 리가쿠. Дата публикации: 2011-07-01.

X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2013084904A1. Автор: 健太郎西方,聡史大橋,隆司小松原. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-04-27.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2015184039A. Автор: 昌博佐久田,masahiro Sakuta. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-10-22.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107923859A. Автор: 山田康治郎,原真也,松尾尚,本间寿,片冈由行. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5297786A. Автор: Tadao Watabe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-08-16.

Fluorescent-x-ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS6064236A. Автор: Shigemi Komatsu,小松　繁美. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1985-04-12.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: KR20090016455A. Автор: 요시유끼 가따오까,히사유끼 고오노,마꼬또 도이,노보루 야마시따. Владелец: 가부시키가이샤 리가쿠. Дата публикации: 2009-02-13.

Fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: CN101416047A. Автор: 堂井真,片冈由行,河野久征,山下升. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-04-22.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3996821B2. Автор: 澄人大澤. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2007-10-24.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN100578205C. Автор: 住居弘咨,青柳光一. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-06.

Radiation detector, X-ray analyzer using the same, and radiation detection method

Номер патента: JP6182758B2. Автор: 拓人作村,保一中江,正孝前山,一之松下. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-23.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5100063B2. Автор: 則生笹山. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-12-19.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: WO2013052556A2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2013-04-11.

Fluorescent x-ray analyzing scale

Номер патента: JPS5619445A. Автор: Kazuo Nomura. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 1981-02-24.

X-ray analyzer

Номер патента: DE69403129T2. Автор: Kunio Nakajima,Shuzo Sudo. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1997-08-28.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5397895A. Автор: Shojiro Tagata,Kiyoshi Harasawa,Jiyun Suzumi. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1978-08-26.

X-ray analyzer

Номер патента: JP6589461B2. Автор: 田中　啓一,啓一田中,永田　篤士,篤士永田,哲中山,中山　哲,一夫茅根. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-10-16.

Fluorescence X-ray analyzer particularly path changing device has sample base, X-ray source, monochromator, two detectors, two drive mechanisms, three spindles and a control device for controlling the drive mechanisms

Номер патента: DE19962503A1. Автор: . Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2000-08-03.

X-ray analyzer with pulse amplitude shift correction

Номер патента: DE69327609D1. Автор: Hendrik Johannes Jan Bolk,Georges Charles Petronel Zielk. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2000-02-24.

Optical positioner design in X-ray analyzer for coaxial micro-viewing and analysis

Номер патента: US7972062B2. Автор: Joseph A. Nicolosi,Sun Park,Robert Westerdale,Bruce Elliott Scruggs. Владелец: Edax Inc. Дата публикации: 2011-07-05.

Pulse processor of x-ray analyzing device

Номер патента: JPH10186041A. Автор: Yoshiro Onishi,佳郎大西. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1998-07-14.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CN104076050A. Автор: 迫幸雄,川久航介. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-01.

Multichannel x-ray analyzer

Номер патента: RU2615711C1. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2017-04-07.

Analytical method and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: JP7054717B2. Автор: 元気衣笠. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Meat processing device, containing x-ray analyzer

Номер патента: RU2628400C1. Автор: Ханс ЛАРСЕН,Майя Кирстине ЭЛЬСОЙИ,Стефан ЛИНН,ЙЕНСЕН Аллан КЬЕРГАРД. Владелец: ФОСС АНАЛИТИКАЛ А/С. Дата публикации: 2017-08-16.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: EP3196636A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-07-26.

Non-homogeneous sample scanning apparatus, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: WO2015073399A1. Автор: Peng Lu,George Allen,Zewu Chen,Joseph SPINAZOLA. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2015-05-21.

Fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: CN113748333B. Автор: 片冈由行,后藤直人. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-07-12.

X-ray analyzer with an X-ray optical semiconductor component

Номер патента: DE19852955A1. Автор: Volker Lehmann,Rainer Golenhofen. Владелец: Bruker AXS Analytical X Ray Systems GmbH. Дата публикации: 2000-05-18.

X-ray analyzer.

Номер патента: FR1508461A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1968-01-05.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: KR20120103476A. Автор: 노리아키 사카이. Владелец: 에스아이아이 나노 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-09-19.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN105277579B. Автор: 高桥春男,八木勇夫,广濑龙介,高原稔幸. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-05-21.

Non-homogeneous sample scanning apparatus, and X-ray analyzer applications thereof

Номер патента: CN105793696A. Автор: P·陆,陈泽武,G·艾伦,J·斯皮纳佐拉. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-07-20.

X-ray analyzer

Номер патента: US20040136500A1. Автор: Masami Amemiya,Masato Ozeki. Владелец: Jeol Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2004-07-15.

X-ray analyzer

Номер патента: JP7165400B2. Автор: 哲也小澤,剛刑部,和樹尾本. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-11-04.

Pre-filmed precision sample cell for X-ray analyzer

Номер патента: JP5451630B2. Автор: エイチ．バーデットジョン,エル．ダナムダニエル,ビー．クインジェイムズ. Владелец: エックス−レイオプティカルシステムズインコーポレーテッド. Дата публикации: 2014-03-26.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: US7729471B2. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2010-06-01.

X-ray analyzer

Номер патента: JP6526983B2. Автор: イエルーン、リンセマ,マルク、アレクサンドル、パルス. Владелец: マルバーンパナリティカルビーヴィ. Дата публикации: 2019-06-05.

Fluorescence X-ray Analyzer

Номер патента: KR101063106B1. Автор: 마사노리 다카하시,요시키 마토바,다카유키 후카이,유타카 이크쿠. Владелец: 에스아이아이 나노 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-09-07.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2017201313A. Автор: Satoshi Ohashi,健太郎西方,聡史大橋,隆司小松原,Takashi Komatsubara,Kentaro Nishikata. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-11-09.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5326184A. Автор: Tsukasa Tanoe. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1978-03-10.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS59214743A. Автор: Yoshiaki Ono,小野　芳章. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1984-12-04.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: US9778214B2. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2015121479A. Автор: Keiichi Tanaka,田中　啓一,啓一田中,Narikazu Odawara,成計小田原,小田原　成計. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-07-02.

Fluorescent x-ray analyzing device

Номер патента: JPS6073445A. Автор: Hidenobu Ishida,Noriaki Nakanishi,石田　秀信,中西　典顕. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1985-04-25.

Secondary target device and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: JP4161513B2. Автор: 章二桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2008-10-08.

Fluorescent light x-ray analyzer

Номер патента: JP2022187637A. Автор: Yoshiyuki Kataoka,由行片岡,Yasuyuki Yamamoto,渉松田,恭之山本,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: HK1152110A1. Автор: John H Burdett,Daniel L Dunham,James B Quinn. Владелец: X Ray Optical Systemsinc. Дата публикации: 2012-02-17.

X-ray analyzer crystal made of a phthalate

Номер патента: DE2924779C2. Автор: Roland Mahwah N.J. Jenkins. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1984-11-15.

X-ray analyzer with adjustable slit diaphragm.

Номер патента: DE69017857D1. Автор: Lange Roelof De. Владелец: Philips Electronics NV. Дата публикации: 1995-04-20.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2022086669A. Автор: Yoshiyuki Kataoka,由行片岡,衛一古澤,Eiichi Furusawa,泰彦名越,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-06-09.

Fluorescence X-Ray Analyzer

Номер патента: SU486260A1. Автор: Крамер Лотар,Гюнтер Хельмут. Владелец: . Дата публикации: 1975-09-30.

X-ray analyzer

Номер патента: FR1515749A. Автор: . Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1968-03-01.

X-ray spectroscopy element and fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2003255089A. Автор: Takashi Yamada,隆山田,真堂井,Makoto Doui. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2003-09-10.

X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2018168939A1. Автор: 由行片岡,航介川久. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Non-homogeneous sample handling apparatus and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: EP2972183A4. Автор: Leslie Johnson,George Allen,Zewu Chen,Jr John H Burdett. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-28.

X-ray analyzer

Номер патента: EP3745122B1. Автор: Shigeru Honda,Masahiro Asai,Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US20130138382A1. Автор: Katsuhiko Inaba,Keiichi Morikawa,Toru Mitsunaga. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-05-30.

Sample Plate for X-Ray Analysis and X-Ray Fluorescent Analyzer

Номер патента: US20160011129A1. Автор: SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-14.

X-RAY ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20140105368A1. Автор: Ozawa Tetsuya,NISHI Kunio,OHARA Takao,WAKASAYA Kenji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-04-17.

Sample Holder for X-ray Analysis

Номер патента: US20180024081A1. Автор: Vladimir Kogan,Detlef Beckers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2018-01-25.

SAMPLE VISCOSITY AND FLOW CONTROL FOR HEAVY SAMPLES, AND X-RAY ANALYSIS APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20160033428A1. Автор: Allen George,SHAKSHOVER Stuart,CHERYIAN Sony. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2016-02-04.

OPERATION GUIDE SYSTEM FOR X-RAY ANALYSIS, OPERATION GUIDE METHOD THEREFOR, AND OPERATION GUIDE PROGRAM THEREFOR

Номер патента: US20170038315A1. Автор: SASAKI Akito. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-09.

SAMPLE HOLDING DEVICE FOR X-RAY ANALYSIS

Номер патента: US20210048398A1. Автор: Ito Koichiro. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2021-02-18.

X-RAY ANALYSIS DEVICE

Номер патента: US20170062088A1. Автор: NAGATA Atsushi,Nakayama Satoshi,TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-02.

SAMPLE COLLECTING DEVICE, SAMPLE COLLECTING METHOD, AND FLUORESCENT X-RAY ANALYSIS APPARTUS USING THE SAME

Номер патента: US20190086344A1. Автор: KURITA Seiitsu. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-21.

ACTIVE, VARIABLE SAMPLE CONCENTRATION METHOD AND APPARATUS FOR SUB-PPB MEASUREMENTS AND EXEMPLARY X-RAY ANALYSIS APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20170097311A1. Автор: Allen George,Chen Zewu,Li Danhong,SPINAZOLA Joseph,HIDER Andrew,DUNPHY Jon. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2017-04-06.

SUPPORT STRUCTURE AND HIGHLY ALIGNED MONOCHROMATIC X-RAY OPTICS FOR X-RAY ANALYSIS ENGINES AND ANALYZERS

Номер патента: US20170110212A1. Автор: Xin Kai,Chen Zewu,Burdett John H.,Delaney Rory D.. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2017-04-20.

Radiation detector, and x-ray analysis apparatus and radiation detection method using the same

Номер патента: US20150212213A1. Автор: Takuto Sakumura,Yasukazu Nakaye,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-07-30.

Support structure and highly aligned monochromating x-ray optics for x-ray analysis engines and analyzers

Номер патента: US20140294157A1. Автор: John H. Burdett,Zewu Chen,Kai Xin,Rory D. Delaney. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2014-10-02.

Sample Holder for X-Ray Analysis and Jig for Sample Installation

Номер патента: US20150226686A1. Автор: TAKEUCHI Toshitada. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2015-08-13.

X-ray Analysis Apparatus

Номер патента: US20150234060A1. Автор: RINSEMA Jeroen,PALS Marc Alexander. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

Quantitative X-ray Analysis - Ratio correction

Номер патента: US20160258889A1. Автор: Zarkadas Charalampos,Van Den Hoogenhof Waltherus. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-08.

Quantitative X-ray Analysis - Matrix thickness correction

Номер патента: US20160258890A1. Автор: Hegeman Petronella Emerentiana,Gateshki Milen,Zarkadas Charalampos,Van Den Hoogenhof Waltherus,Kharchenko Alexander,KUIPER Dick. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-08.

Quantitative X-ray Analysis - Multi optical path instrument

Номер патента: US20160258892A1. Автор: Petronella Emerentiana Hegeman,Gustaaf Christian BRONS,Charalampos Zarkadas,Waltherus Van Den Hoogenhof,Aleksandr Komelkov,Bruno A.R. Vrebos. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2016-09-08.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYSIS DEVICE

Номер патента: US20190272929A1. Автор: Ozawa Tetsuya,OMOTE Kazuhiko,Verman Boris,OSAKABE Takeshi,JIANG Licai. Владелец: . Дата публикации: 2019-09-05.

X-RAY ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20180284039A1. Автор: OGAWA Rie. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-10-04.

X-RAY ANALYSIS DEVICE

Номер патента: US20160320322A1. Автор: SUZUKI Keijiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2016-11-03.

X-RAY ANALYSIS APPARATUS

Номер патента: US20200300789A1. Автор: Ozawa Tetsuya,OSAKABE Takeshi,Omoto Kazuki. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-24.

X-ray Analysis Apparatus

Номер патента: US20190317029A1. Автор: Beckers Detlef,Gateshki Milen,BOKSEM Jaap,MASIELLO Fabio. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-17.

OPERATION GUIDE SYSTEM FOR X-RAY ANALYSIS,OPERATION GUIDE METHOD THEREFOR, AND OPERATION GUIDE PROGRAM THEREFOR

Номер патента: US20170336333A1. Автор: HIMEDA Akihiro. Владелец: . Дата публикации: 2017-11-23.

MERCURY-FREE CONCENTRATION STANDARD FOR X-RAY ANALYSIS

Номер патента: US20190324164A1. Автор: Whitlow Harry James. Владелец: . Дата публикации: 2019-10-24.

X-Ray Analysis of Drilling Fluid

Номер патента: US20170343495A1. Автор: Mark Alexander Pals. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2017-11-30.

Radiation detector, and x-ray analysis apparatus and radiation detection method using the same

Номер патента: US20170371044A1. Автор: Takuto Sakumura,Yasukazu Nakaye,Kazuyuki Matsushita,Masataka Maeyama. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-12-28.

Method of determining indications for x-ray analysis at diagnostics of calcaneal-navicular coalitions

Номер патента: RU2606336C1. Автор: Владимир Маркович Кенис,Андрей Викторович Сапоговский. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Научно-исследовательский детский ортопедический институт имени Г.И. Турнера" Минздрава России. Дата публикации: 2017-01-10.

Fluorescent x-ray analysis method of micro-chlorine ion using paper disc method

Номер патента: KR0158562B1. Автор: 김정호,소재춘. Владелец: 재단법인산업과학기술연구소. Дата публикации: 1999-03-30.

X-ray analysis apparatus having confirm means for location of object

Номер патента: KR101213050B1. Автор: 김한석,박진근,진영덕,윤명훈. Владелец: 테크밸리 주식회사. Дата публикации: 2012-12-18.

Variable slit apparatus for x-ray analysis device

Номер патента: KR101211647B1. Автор: 김한석,김경수,박진근,진영덕,윤명훈. Владелец: 테크밸리 주식회사. Дата публикации: 2012-12-12.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: AU8438591A. Автор: Jay A. Stein. Владелец: Hologic Inc. Дата публикации: 1992-03-02.

X-ray analysis device

Номер патента: JPS5240190A. Автор: Ryoji Fujii. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-03-28.

Multiple-level X-ray analysis for determining fat percentage

Номер патента: US4168431A. Автор: Inge B. Henriksen. Владелец: Kartridg Pak Co. Дата публикации: 1979-09-18.

X-ray detection device and x-ray analysis device with it

Номер патента: JPH01134292A. Автор: Jean-Pierre Steiner,ピエールスタイナージャン,ビーニャンピエール,Pierre Bignens. Владелец: Bobst SA. Дата публикации: 1989-05-26.

COMPACT X-RAY ANALYSIS SYSTEM

Номер патента: FR2955391B1. Автор: Peter Hoghoj,Pierre Panine. Владелец: XENOCS. Дата публикации: 2012-03-16.

Device for taking up and depositing solns - esp for x-ray analysis

Номер патента: FR2123593A5. Автор: . Владелец: Commissariat a lEnergie Atomique CEA. Дата публикации: 1972-09-15.

X-ray analysis device

Номер патента: FR1515748A. Автор: . Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1968-03-01.

Method and apparatus for x-ray analysis with compensation for an interfering element

Номер патента: US3467824A. Автор: Ian Stanley Boyce,Thelma Grace Ahier. Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1969-09-16.

X-ray analysis equipment

Номер патента: CN108693202A. Автор: 小川理绘. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-10-23.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: US7471763B2. Автор: Norio Sasayama. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2008-12-30.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: CN104849295A. Автор: J·瑞萨玛,M·A·帕尔斯. Владелец: Panalytical BV. Дата публикации: 2015-08-19.

Method and device for X-ray analysis

Номер патента: DE102014109671B3. Автор: Anatoliy Slobodskky,Taras Slobodskky,Wolfgang Hansen. Владелец: UNIVERSITAET HAMBURG. Дата публикации: 2015-11-05.

Sample cell for fluorescent X-ray analysis and sample cell assembly instrument

Номер патента: CN102042991A. Автор: 有本公彦,岸田真由子,驹谷慎太郎,大泽澄人,黑住拓司,后藤智,金马崇. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2011-05-04.

Highly aligned x-ray optic and source assembly for precision x-ray analysis applications

Номер патента: US20090225948A1. Автор: Adam Bailey,Zewu Chen,Kai Xin,John H. Burdett, Jr.,R. Scott SEMKEN. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2009-09-10.

Support structure and highly aligned monochromating x-ray optics for x-ray analysis engines and analyzers

Номер патента: CN103765201A. Автор: 辛凯,陈泽武,R·D·德莱尼,J·H·伯德特. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2014-04-30.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: GB201316060D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-10-23.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP1517137A2. Автор: Takeyoshi c/o Rigaku Corporation Taguchi,Takeo c/o Rigaku Corporation Tajima. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-03-23.

Preparation of specimen for fluorescent x-ray analysis

Номер патента: JPS60129651A. Автор: Keiji Saito,Kesaki Yokoyama,斎藤　啓二,横山　畩己. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1985-07-10.

Multifunctional X-ray analysis system

Номер патента: JP5031215B2. Автор: ヨクヒンボリス,クロクーマルアレキサンダー,ラファエリトザチ,マゾルイサク,ギヴァートズマンアモス. Владелец: ジョルダンバレーアプライドラディエイションリミテッド. Дата публикации: 2012-09-19.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: US11215571B2. Автор: Tetsuya Ozawa,Takeshi Osakabe,Kazuki Omoto. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-01-04.

X-ray analysis instrument

Номер патента: GB2447252B. Автор: Ravisekhar Yellepeddi,Pierre-Yves Negro,Michel Bonzon. Владелец: Thermo Fisher Scientific Inc. Дата публикации: 2012-03-14.

X-ray analysis apparatus having shutter device

Номер патента: KR101209516B1. Автор: 김한석,박진근,진영덕,윤명훈. Владелец: 테크밸리 주식회사. Дата публикации: 2012-12-07.

Compact X-Ray Analysis System

Номер патента: CN102792156A. Автор: P·帕尼宁,P·霍格霍伊. Владелец: XENOCS. Дата публикации: 2012-11-21.

X-ray analysis apparatus including a rotatable primary collimator

Номер патента: EP0815437A1. Автор: Dirk Kornelis Gerhardus De Boer,Paul Van Der Sluis,Waltherus Wilhelmus Van Den Hoogenhof,Roelof De Lange. Владелец: Philips Electronics NV. Дата публикации: 1998-01-07.

Fluorescent x-ray analysis apparatus

Номер патента: CN101093201A. Автор: 笹山则生. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2007-12-26.

X-ray analysis apparatus with an X-ray detector in the form of a CCD array

Номер патента: US6393093B2. Автор: Waltherus Wilhelmus Van Den Hoogenhof,Johannes Cornelis Jans,Marinus Willem Dirken. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2002-05-21.

Simplified spectometer for x-ray analysis

Номер патента: FR1368789A. Автор: . Владелец: CIE D APPLIC MECANIQUES A L EL. Дата публикации: 1964-08-07.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: CN110389143B. Автор: D·贝克尔斯,米伦·加特什基,亚普·博克塞姆,法比奥·马谢洛. Владелец: Malvern Panalytical Ltd. Дата публикации: 2022-11-22.

X-ray optical component device and X-ray analysis apparatus

Номер патента: GB2524600A. Автор: Tetsuya Ozawa,Kenji Wakasaya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-09-30.

Preparation of glass bead for fluorescent x-ray analysis

Номер патента: JPS5653451A. Автор: Naoyuki Kikuchi. Владелец: NIPPON I T S KK. Дата публикации: 1981-05-13.

X-ray analysis device

Номер патента: WO2013084905A1. Автор: 聡史大橋. Владелец: 株式会社堀場製作所. Дата публикации: 2013-06-13.

Sample module with sample stream supported and spaced from window, for x-ray analysis system

Номер патента: WO2011100222A3. Автор: Zewu Chen,Kai Xin,Sony Cheriyan,Jay Burdett. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2011-11-10.

Method and apparatus for performing x-ray analysis of a sample

Номер патента: EP2513641B1. Автор: Ravisekhar Yellepeddi,Pierre-Yves Negro. Владелец: Thermo Fisher Scientific Ecublens SARL. Дата публикации: 2019-04-10.

X-RAY ANALYSIS DEVICE.

Номер патента: DE3869311D1. Автор: Tol Maurits Willem Van,Johannes Henricus Anton Bueter. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1992-04-23.

X-ray analysis device for e.g. sorting seeds in food industry, has x-ray radiation source for emitting radiations that penetrate through partial area of drop path, and time delay and integration camera for detecting penetrated radiations

Номер патента: DE102009051641A1. Автор: Elias Delipetkos. Владелец: Delipetkos Elias Dipl-Inform (fh). Дата публикации: 2011-05-05.

X-ray analysis device

Номер патента: DE102016115826A1. Автор: Keiichi Tanaka,Atsushi Nagata,Satoshi Nakayama,Kazuo Chinone. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-03-02.

Compact x-ray analysis system

Номер патента: EP2526412A1. Автор: Peter Hoghoj,Pierre Panine. Владелец: XENOCS. Дата публикации: 2012-11-28.

X-ray analysis device and x-ray irradiation angle setting method

Номер патента: JPH10185846A. Автор: Shinichi Terada,慎一寺田,Motohisa Masaki,幹久正木. Владелец: TECHNOS KENKYUSHO KK. Дата публикации: 1998-07-14.

Preparation of sample for x-ray analysis

Номер патента: JPS5690247A. Автор: Ryuichi Nakamura,Seiji Yoshikawa. Владелец: Central Glass Co Ltd. Дата публикации: 1981-07-22.

Highly aligned x-ray optic and source assembly for precision x-ray analysis applications

Номер патента: US7738630B2. Автор: Adam Bailey,Zewu Chen,Kai Xin,John H. Burdett, Jr.,R. Scott SEMKEN. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2010-06-15.

Sample holder for X-ray analysis and jig for sample installation

Номер патента: US9683951B2. Автор: Toshitada Takeuchi. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

X-ray analysis of drilling fluids

Номер патента: CN107436310B. Автор: M·A·帕尔斯. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2021-05-11.

Quantitative x-ray analysis

Номер патента: EP3064931B1. Автор: Milen Gateshki,Petronella Emerentiana Hegeman,Dick Kuiper,Charalampos Zarkadas,Alexander KARCHENKO,Waltherus Van Den Hoogenhof. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2021-05-05.

Fluorescence X-ray analysis device

Номер патента: KR102274965B1. Автор: 다카시 마츠오,신야 하라,야스지로 야마다. Владелец: 가부시키가이샤 리가쿠. Дата публикации: 2021-07-07.

Doped lithium fluoride monochromator for x-ray analysis

Номер патента: EP1708965B1. Автор: Guillaume Gautier,Philippe Derouineau. Владелец: Saint Gobain Cristaux and Detecteurs SAS. Дата публикации: 2018-08-15.

Apparatus for fluorescent X-ray analysis of a solution

Номер патента: EP0774659A1. Автор: Thierry Davin,Dominique Pouyat,Gilbert Benony. Владелец: Compagnie Generale des Matieres Nucleaires SA. Дата публикации: 1997-05-21.

Sample holding device for X-ray analysis

Номер патента: US11525790B2. Автор: Koichiro Ito. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-12-13.

X-ray analysis device

Номер патента: EP2790016A4. Автор: Satoshi Ohashi. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-08-05.

Doped lithium fluoride monochromator for x-ray analysis

Номер патента: EP1708965A2. Автор: Guillaume Gautier,Philippe Derouineau. Владелец: Saint Gobain Cristaux and Detecteurs SAS. Дата публикации: 2006-10-11.

X-ray analysis device and optical axis adjustment method thereof

Номер патента: CN110726742B. Автор: 小林信太郎,稻叶克彦,光永徹. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-05-12.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP3790025A4. Автор: Hiroyoshi Soejima. Владелец: Applied Science Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

Method and apparatus for performing x-ray analysis of a sample

Номер патента: WO2011073148A1. Автор: Ravisekhar Yellepeddi,Pierre-Yves Negro. Владелец: THERMO FISHER SCIENTIFIC (ECUBLENS) SARL. Дата публикации: 2011-06-23.

Fluorescent X-ray analysis system

Номер патента: CN112074728B. Автор: 喜多广明,栗田清逸. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-09-28.

Crystal for an x-ray analysis apparatus

Номер патента: EP0200261A3. Автор: Cornelis Lucas Adema,Albert Huizing,Cornelis Leendert Alting,Wilhelmus Hendrikus Johannus Maria Gevers. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1989-01-11.

Method and apparatus for performing X-ray analysis of a sample

Номер патента: CN102770753A. Автор: R·耶勒佩迪,P-Y·内格罗. Владелец: Thermo Fisher Scientific Ecublens SARL. Дата публикации: 2012-11-07.

LIF DOPE MONOCHROMATOR FOR X-RAY ANALYSIS

Номер патента: FR2865469B1. Автор: Guillaume Gautier,Philippe Derouineau. Владелец: Saint Gobain Cristaux and Detecteurs SAS. Дата публикации: 2007-10-12.

Method of manufacturing an x-ray optical element for an x-ray analysis apparatus

Номер патента: WO1996034274A2. Автор: Jan Haisma,Cornelis Lucas Adema,Johannes Franciscus Martinus D'ACHARD VAN ENSCHUT,Jan Cornelis Gijsbers,Pieter Klass De Bokx. Владелец: Philips Norden Ab. Дата публикации: 1996-10-31.

Doped lithium fluoride monochromator for X-ray analysis

Номер патента: US7889842B2. Автор: Guillaume Gautier,Philippe Derouineau. Владелец: Saint Gobain Cristaux and Detecteurs SAS. Дата публикации: 2011-02-15.

Preparation of sample for fluorescence x-ray analysis

Номер патента: JPS5651649A. Автор: Yuzuru Komiyama,Yutaka Hiratsuka,Masaaki Harazono. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1981-05-09.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP0527536B1. Автор: Stefan Leonard Alfred Van Vlijmen. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 1998-06-10.

X-ray analysis apparatus comprising a fixed detector means and plural interchangeable analyzing crystals

Номер патента: US3160747A. Автор: Vries Johan Louis De. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1964-12-08.

An integrated operation system for the search system that can measure the weight, area, and direction of luggage, and data collected information through X-ray analysis and AI

Номер патента: KR102505045B1. Автор: 박종원,정우석,류영철,나진호,추교산. Владелец: (주)엠이피. Дата публикации: 2023-03-02.

Fluorescent X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP1865309B1. Автор: Norio SII NanoTechnology Inc. Sasayama. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2010-05-05.

X-ray analysis instrument with mobile aperture window

Номер патента: EP2175456A2. Автор: Jürgen Graf,Carsten Michaelsen,Stefanie Belgard. Владелец: InCoaTec GmbH. Дата публикации: 2010-04-14.

Conditioning of sample for fluorescent x ray analysis

Номер патента: JPS5754846A. Автор: Hiroo Osaki,Naomichi Ohori,Junji Yuasa,Shigeru Kurokawa,Sakusaburou Donozuka. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1982-04-01.

Quantitative X-ray analysis-multi-light path instrument

Номер патента: CN105938113B. Автор: 彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼,古斯塔夫·克里斯蒂安·布龙斯,亚历山大·科美尔科夫,布鲁诺·A·R·佛博斯,瓦尔瑟如斯·凡丹霍根霍夫,查拉兰波斯·扎尔卡达斯. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2020-03-27.

Radiation detector and X-ray analysis apparatus and radiation detection method using the same

Номер патента: DE102014223175A1. Автор: c/o RIGAKU CORPORATION Sakumura Takuto,c/o RIGAKU CORPORATION Nakaye Yasukazu,c/o RIGAKU CORPORATION Maeyama Masataka,c/o RIGAKU CORPORATION Matsushita Kazuyuki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-05-21.

SPECTROMETER FOR X-RAY ANALYSIS

Номер патента: DE2363221A1. Автор: Pierre Boissel,Jacques Guernet. Владелец: Cameca SAS. Дата публикации: 1974-07-04.

Fluorescent X-ray analysis device

Номер патента: TWI665446B. Автор: 八木勇夫,高原稔幸,高橋春男,廣瀬龍介. Владелец: 日商日立高新技術科學股份有限公司. Дата публикации: 2019-07-11.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP0527536A2. Автор: Stefan Leonard Alfred Van Vlijmen. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1993-02-17.

Fluorescent x-ray analysis device

Номер патента: WO2022091598A1. Автор: 康治郎山田,真也原,真堂井,憲治児玉. Владелец: 株式会社リガク. Дата публикации: 2022-05-05.

Quantitative X-ray analysis and matrix thickness correction method

Номер патента: JP6861469B2. Автор: チャラランポスザーカーダス,アレクサンデルカーチェンコ,ペトロネラエメレンティアナハーヘマン,ペトロネラエメレンティアナハーヘマン,ミレンヘテシュキ,デンホーヘンホフヴェルザラスファン,デンホーヘンホフヴェルザラスファン,ディックカウペル. Владелец: マルバーンパナリティカルビーヴィ. Дата публикации: 2021-04-21.

Total reflection fluorescent x-ray analysis device and inference method

Номер патента: EP4209780A4. Автор: Makoto Doi,Shinya KIKUTA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-01-24.

Sample holder for an x-ray analysis apparatus

Номер патента: EP3273229B1. Автор: Vladimir Kogan,Detlef Beckers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-05-31.

Total reflection fluorescent x-ray analysis device and inference method

Номер патента: EP4209780A1. Автор: Makoto Doi,Shinya KIKUTA. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-07-12.

X-ray analysis apparatus

Номер патента: EP4177600A4. Автор: Keijiro Suzuki,Kanji Kobayashi,Yuji Morihisa,Kriengkamol TANTRAKARN. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-03-06.

Luminescent X-Ray Analysis Device

Номер патента: IL279576B1. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Sample holder for an x-ray analysis apparatus

Номер патента: WO2022043440A1. Автор: Detlef Beckers,Milen Gateshki,Jan VUGTEVEN. Владелец: Malvern Panalytical B.V.. Дата публикации: 2022-03-03.

Total reflection fluorescent x-ray analysis device and inference method

Номер патента: IL301033A. Автор: . Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-01.

An X-ray analysis apparatus with detector window protection feature

Номер патента: EP2549266B1. Автор: Michael Drummy. Владелец: Olympus NDT Inc. Дата публикации: 2017-06-14.

Sample mounting system for an X-ray analysis apparatus

Номер патента: US11927550B2. Автор: Jaap Boksem,Detlef Beckers. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2024-03-12.

Sample holder for an x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20230258584A1. Автор: Detlef Beckers,Milen Gateshki,Jan Vugteveen. Владелец: Malvern Panalytical BV. Дата публикации: 2023-08-17.

Information processing apparatus, information processing method, nontransitory computer readable media storing program, and x-ray analysis apparatus

Номер патента: US20230194443A1. Автор: Akihiro Himeda,Takumi Ohta. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-06-22.

X-ray analysis device and wave height value prediction program

Номер патента: EP4394365A1. Автор: Tsutomu Tada. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2024-07-03.

Systems, devices, and methods for module-based cascaded energy systems

Номер патента: EP4255765A1. Автор: Mikhail SLEPCHENKOV,Leslie G. Webber,Roozbeh Naderi,Mohammad MOUSAVI,Milan Bhakta,Jaka VERBIC. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2023-10-11.

Systems, devices, and methods for module-based cascaded energy systems

Номер патента: AU2022207104A1. Автор: Mikhail SLEPCHENKOV,Leslie G. Webber,Roozbeh Naderi,Mohammad MOUSAVI,Milan Bhakta,Jaka VERBIC. Владелец: TAE Technologies Inc. Дата публикации: 2023-07-20.

SYSTEMS AND METHODS METHOD FOR PROVIDING AN INTERACTIVE HELP FILE FOR HOST SOFTWARE USER INTERFACES

Номер патента: US20170235582A1. Автор: Ramirez Vincent. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-17.

DATA PROCESSING APPARATUS AND METHOD, METHOD FOR COMPILING AN APPLICATION FOR RUNNING BY A DATA PROCESSOR, AND, COMPUTER-READABLE STORAGE MEANS

Номер патента: BR112013019824B1. Автор: Alastair David Reid. Владелец: ARM LIMITED. Дата публикации: 2021-06-15.

High-level synthesis apparatus and method, method for producing logic circuit using the high-level synthesis method, and recording medium

Номер патента: EP1267287A2. Автор: Mitsuhisa Ohnishi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2002-12-18.

PHOTONIC SPECTROMETRY DEVICE AND METHOD, METHOD FOR CALIBRATING THE DEVICE, AND USE OF THE DEVICE

Номер патента: US20140003579A1. Автор: Berruyer Eric. Владелец: AREVA NP. Дата публикации: 2014-01-02.

Photonic spectrometry device and method, method for calibrating the device, and use of the device

Номер патента: KR101894959B1. Автор: 에릭 베뤼예. Владелец: 아레바 엔피. Дата публикации: 2018-09-04.

HAIR COMPOSITION, HAIR TREATMENT SYSTEM AND METHOD, METHODS FOR CHANGING HAIR COLOR AND HAIR SHAPE, AND, MULTICOMPARTMENT KITS

Номер патента: BR112018010344B1. Автор: Anthony Potin,Michael DeGeorge,Gerard Provot,Kimberly Christine DREHER,Dariusz DANIELSKI,Fabien Pascal BOULINEAU,Caroline Rahmouna Françoise GOGET,Allison Chin,Mara APPLEBAUM,Mary Abraam SOLIMAN,Ashley Ann FIGATNER,Megan PAUKER,Emmanuel Appiah- Amponsah. Владелец: L'oreal. Дата публикации: 2021-08-10.

Head unit assembling device and method, method for making other devices therewith

Номер патента: CN1274496C. Автор: 中村真一,山田善昭. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2006-09-13.

AUTOMATIC ANALYZER AND OPTICAL MEASUREMENT METHOD FOR OBTAINING MEASUREMENT SIGNALS FROM LIQUID MEDIA

Номер патента: US20210197188A1. Автор: Bartel Arnold,Huemer Herfried,Marik Reinhard,Kraus-Füreder Patrick,Scholz-Mareich Robert,Sprengers Wolfgang,Bergbaur Michael. Владелец: . Дата публикации: 2021-07-01.

AUTOMATIC ANALYZER AND SAMPLE DISPENSING METHOD FOR THE AUTOMATIC ANALYZER

Номер патента: US20150226761A1. Автор: Mizutani Takayuki,Kubota Kiyotaka. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-13.

Driving Analyzer and Driving Analyzing Method for Haulage Vehicles

Номер патента: US20160253853A1. Автор: YAMAMOTO Yasuko,Mito Kazuomi. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-01.

Absorbance analyzer and data processing method for chromatograph

Номер патента: CA2071762A1. Автор: Hiroshi Ota. Владелец: Hiroshi Ota. Дата публикации: 1992-12-31.

Driving analyzer and driving analyzing method for haulage vehicles

Номер патента: CA2892988A1. Автор: Yasuko Yamamoto,Kazuomi MITO. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2015-09-12.

Online analyzer and online analysis method for ammonia-salt ratio

Номер патента: CN114910604A. Автор: 于文杰,成庆. Владелец: Jiangsu Yimai Technology Co ltd. Дата публикации: 2022-08-16.

Absorbance analyzer and data processing method for chromatograph

Номер патента: EP0521358A3. Автор: Hiroshi Ohta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1993-06-16.

System and Method of Use for Energy Efficient Applications Driven by Multiple Context Clocks for Personal Energy Footprint Management

Номер патента: US20160011636A1. Автор: Li Guann Pyng,Zhang Yang Arthur,Davis Zachary,Hurst Christopher,Guo Jieping. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-14.

Heat storage system and method and device for energy conversion

Номер патента: DE3635047A1. Автор: Des Erfinders Auf Nennung Verzicht. Владелец: Laufenberg Josef. Дата публикации: 1988-04-21.

Cylinder arrangement and method of use for energy recovery with seawater desalination

Номер патента: WO2016113606A1. Автор: Netanel Benichou,Yaacov Mansdorf,Oded Elish. Владелец: Renergy Technologies Ltd.. Дата публикации: 2016-07-21.

Method for obtaining personal care composition with introduction of rheology modifier at late stage

Номер патента: RU2671814C2. Автор: Марк Льюис АГЕРТОН,Стивен Роберт АЛЕКСАНДЕР,Джина Линн БЛЮМ,Марко КАГГИОНИ,Сьюзан Мари ДАУЭС,Дэвид Майкл ФАРРЕН,Джастин Томас Лайдон ХЕДИН,Чарльз Филлип МИЛЛЕР,Криста Мари НОВИЦКИ,Мелисса Чери ПЭЙН,Молли Роуз СКОТТЕЛКОТТЕ,Джон Кристофер ВЕСНЕР,Рандалл Ли ВУД,Джеймс Альберт БЕРТА. Владелец: Дзе Проктер Энд Гэмбл Компани. Дата публикации: 2018-11-07.

Systems and methods for the remote detection of greenhouse atmospheric gas

Номер патента: US20180180483A1. Автор: Scott Nowicki,Keith Nowicki. Владелец: Quantum Spatial Inc. Дата публикации: 2018-06-28.

Method and system for armored energy-dispersion objects

Номер патента: US09835419B2. Автор: Mark D. Andrews,Ron J. Hanna. Владелец: Great Lakes Armor Systems Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Method for production of tantalum alloys

Номер патента: RU2770845C2. Автор: IV Джон У. ФОЛЦ,Арнел М. ФЭДЖАРДО. Владелец: ЭйТиАй ПРОПЕРТИЗ ЭлЭлСи. Дата публикации: 2022-04-22.

Method for determination of metals in rocks and fluids of fracture zones

Номер патента: RU2659109C1. Автор: Николай Николаевич Лаптев,Ирина Ральфовна МАКАРОВА,Семен Алексеевич Горобец,Наталья Сергеевна Сиваш,Фархат Фагимович Валиев,Адиль Маликович Яфясов,Михаил Андреевич Соколов,Андрей Иванович Зиппа,Виктор Олегович СЕРГЕЕВ,Никита Алексеевич Суханов,Дмитрий Константинович Макаров,Владимир Юрьевич Михайловский. Владелец: Семен Алексеевич Горобец. Дата публикации: 2018-06-28.

Method for automated analysis of text and selection of relevant recommendations to improve readability thereof

Номер патента: RU2769427C1. Автор: Анатолий Владимирович Буров,Максим Олегович Ильяхов. Владелец: Максим Олегович Ильяхов. Дата публикации: 2022-03-31.

Apparatus and methods for high-throughput semen collection

Номер патента: RU2727679C2. Автор: Джонатан Чарльз ШАРП,Крис БУЧАНАН,Неманя СЕДОГЛАВИЧ,Блэр МОРАД,Дональд Фрэнсиз младший ПЕРРО,Эрин КОКСАЛ. Владелец: Ингуран, Ллк. Дата публикации: 2020-07-22.

Methods for production of tantalum alloys and niobium alloys

Номер патента: RU2697122C1. Автор: Джон У. ФОЛЦ,Арнел М. ФЭДЖАРДО. Владелец: ЭйТиАй ПРОПЕРТИЗ ЭлЭлСи. Дата публикации: 2019-08-12.

Energy dispersion device

Номер патента: US8885161B2. Автор: Alexander Scheeline,Thu Anh Bui. Владелец: SPECTROCLICK Inc. Дата публикации: 2014-11-11.

Systems and methods of encoding biosensor calibration

Номер патента: RU2688222C2. Автор: Игорь ГОФМАН. Владелец: Асцензия Диабетс Кэар Холдингс АГ. Дата публикации: 2019-05-21.

Dry mixture of reagents for polymerase chain reaction and method for carrying out pcr-analysis

Номер патента: RU2259401C1. Автор: Г.О. Шайхаев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Лаборатория Изоген". Дата публикации: 2005-08-27.

System and method for simulation and planning of fracture network using pulse reservoir fracturing

Номер патента: RU2663847C2. Автор: Цзянь ХУАН,Овунк МУТЛУ,Мохаммадреза САФАРФОРШАНИ,Сунил ЛАКШМИНАРАЯНАН. Владелец: Везерфорд Текнолоджи Холдингз, ЛЛК. Дата публикации: 2018-08-10.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: US20240068966A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2024-02-29.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: CA3181654A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2021-12-16.

X-ray diffraction method for the analysis of amorphous and semi-crystalline materials

Номер патента: EP4162261A1. Автор: Henning Friis Poulsen,Ulrik Lund Olsen. Владелец: Danmarks Tekniskie Universitet. Дата публикации: 2023-04-12.

Systems and methods for generating responses to natural language queries

Номер патента: US09589060B1. Автор: Ian MACGILLIVRAY,Engin Cinar Sahin,Emma Sarah Persky,Max Bogue,Angela Ni-Hwey Chang,Konrad Piotr Delong. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2017-03-07.

Method for coating solid base surface with layer containing ceramic compound, and base with coating obtained by this method

Номер патента: RU2761397C2. Автор: Орельен ЖУЛИА,Андре МАЛИ,Бенжамен БЕРНАР,Орели КЕ,Эмманюэль ЭРВ,Люк БЬЯНШИ. Владелец: Коммиссариат А Л`Энержи Атомик Э О Энержи Альтернатив. Дата публикации: 2021-12-08.

Systems and methods for displaying digital content and advertisements over electronic networks

Номер патента: WO2013112678A1. Автор: LI YANG,Robert Alden Luenberger,Niklas Karlsson,Jianlong Zhang,Scott Robert STRICKLAND,Yih-Shin Cindy HUANG,Seyed Mohammad ZIAEMOHSENI,Hans W. UHLIG. Владелец: AOL Advertising Inc.. Дата публикации: 2013-08-01.

Systems and methods for displaying digital content and advertisements over electronic networks

Номер патента: EP2807617A1. Автор: LI YANG,Robert Alden Luenberger,Niklas Karlsson,Jianlong Zhang,Scott Robert STRICKLAND,Yih-Shin Cindy HUANG,Seyed Mohammad ZIAEMOHSENI,Hans W. UHLIG. Владелец: AOL Advertising Inc. Дата публикации: 2014-12-03.

Audio content processing systems and methods

Номер патента: US20200105274A1. Автор: Mari Joller,Ottokar Tilk,Aleksandr Tkatsenko,Johnathan Joseph Groat,Mark Fisel,Kaur Karus. Владелец: Snackable Inc. Дата публикации: 2020-04-02.

Systems and methods for displaying digital content and advertisements over electronic networks

Номер патента: US09569787B2. Автор: LI YANG,Robert Alden Luenberger,Niklas Karlsson,Jianlong Zhang,Scott Robert STRICKLAND,Yih-Shin Cindy HUANG,Seyed Mohammad ZIAEMOHSENI,Hans W. UHLIG. Владелец: AOL Advertising Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Pileup rejection in an energy-dispersive radiation spectrometry system

Номер патента: CA2732522C. Автор: Richard B. Mott. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-25.

Pileup rejection in an energy-dispersive radiation spectrometry system

Номер патента: EP2318859A1. Автор: Richard B. Mott. Владелец: Pulsetor LLC. Дата публикации: 2011-05-11.

System and method for monitoring, analyzing and controlling emissions in a plant

Номер патента: CA3131637A1. Автор: Daniel Martin Burt,Thomas Christopher Laskowski,Michael Allen Dewitt. Владелец: Suncor Energy Inc. Дата публикации: 2023-03-22.

System and method for object oriented interface checking and method dispatching

Номер патента: US7478409B2. Автор: David P. Yach,Anthony F. Scian. Владелец: Research in Motion Ltd. Дата публикации: 2009-01-13.

Systems and methods for querying and performing operations on data using predicate logic extended to include quotation

Номер патента: US12079216B2. Автор: John Cabral. Владелец: Structured Knowledge Applications Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Systems and methods for discovering and quantifying principal driving factors or dominant paths in interconnected journey data

Номер патента: US20190279234A1. Автор: Michael Herman,Adam Rubin,Pedro Quinones,Jason Hodges,William Robert Bagley,Kyle Rattet,Joshua Templeton,David Holiday,Christopher Andrew Clarke,Andrew McGouirk,Jon B. Wisda,Philip Cunnell,Stefanie Tuder. Владелец: Clickfox Inc. Дата публикации: 2019-09-12.

Systems, devices and methods for analysis

Номер патента: US20240287585A1. Автор: Mark Fiandaca,John C. Voyta,Anastasia SEVOSTIYANOVA,Arjun Ganesan,Lisa LEIER. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-08-29.

Integrated pharmacy error tracking and reporting system and method

Номер патента: US20140136231A1. Автор: Charles Goodall,Michael William Suwalski,Sam Libo,Christopher Shogun Moy,Amanda Eileen White. Владелец: Walgreen Co. Дата публикации: 2014-05-15.

Systems and methods for discovering and quantifying principal factors or dominant paths in interconnected journey data

Номер патента: US12062058B2. Автор: Michael Herman,Adam Rubin,Pedro Quinones,Jason Hodges,William Robert Bagley,Kyle Rattet,Joshua Templeton,David Holiday,Christopher Andrew Clarke,Andrew McGouirk,Jon B. Wisda,Philip Cunnell,Stefanie Tuder. Владелец: Ignite Enterprise Software Solutions LLC. Дата публикации: 2024-08-13.

Computerized systems and methods for layering content in a user interface

Номер патента: US09990763B2. Автор: John Nicholas Jitkoff,Christian Robertson,Ariel Sachter-Zeltzer,Jon Wiley,Zachary Gibson,David Haw Yun Chiu. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2018-06-05.

Systems and methods for use in characterizing agricultural products

Номер патента: US09842252B2. Автор: Michael D. Edgerton,Pradip K. Das,Troy W. Hobbs. Владелец: MONSANTO TECHNOLOGY LLC. Дата публикации: 2017-12-12.

Method for generating a hierarchical structured pattern based descriptor and method and device for recognizing object using the same

Номер патента: US09619733B2. Автор: In Su Kim,Dai Jin Kim. Владелец: Academy Industry Foundation of POSTECH. Дата публикации: 2017-04-11.

Examination method for judging treatment for cancer, reagent for the examination and method of screening remedy relating to cancer

Номер патента: EP1384788A4. Автор: Kyoji Ogoshi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-04-26.

Encoded graphical modeling system and method for matching patients or members needing a particular medical procedure or other health intervention with healthcare facilities or providers

Номер патента: US20240145084A1. Автор: Peyman Yousefian,Rajiv Kumar Gumpina,Yongjia Song,Sravya Etlapur,Nataley Savanah Kennedy,Brandi Sambola,Rohan Vohra. Владелец: Humana Inc. Дата публикации: 2024-05-02.

System and method for conducting transactions using a machine account activated using a machine's credential

Номер патента: EP4092595A3. Автор: Khalid El-Awady,Sterling PRATZ,Orang Ryan Tabibian,George William Melvin. Владелец: Car Iq Inc. Дата публикации: 2023-02-15.

Systems and methods for analyzing and displaying item recommendations

Номер патента: US20240257210A1. Автор: Kannan Achan,Evren Korpeoglu,Sinduja Subramaniam,Yijie Cao,Rahul Sridhar,Shiqin Cai. Владелец: Walmart Apollo LLC. Дата публикации: 2024-08-01.

Systems and methods for eliminating electromigration and self-heat violations in a mask layout block

Номер патента: US11763062B2. Автор: Danny Rittman,Mo Jacob. Владелец: GBT Tokenize Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

System and method for aggregating data for analyzing and designing an architectural structure

Номер патента: WO2012074712A2. Автор: Peter Leonard Krebs. Владелец: Sefaira, Inc.. Дата публикации: 2012-06-07.

System and method for feature based load shedding in classification

Номер патента: US20080133438A1. Автор: Charu C. Aggarwal,Haixun Wang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-06-05.

System and method for protecting data

Номер патента: WO2004003747A1. Автор: Sheng-Wei Chen,Ronald Steven Niles. Владелец: Falconstor Software, Incorporated. Дата публикации: 2004-01-08.

System and Method for Mapping and Routing for Robotic Last-Mile Delivery Infrastructure

Номер патента: US20240219200A1. Автор: Pedro Gonzalez,Andrés Felipe Chavez Cortes,John Alberto Betancourt Gonzalez,Alejandro Naranjo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-04.

Apparatus and method for monitoring liquid and gas flow through a flow meter

Номер патента: EP3903071A1. Автор: Daniel White Sexton,Alex Cheimets. Владелец: Vata Verks Inc. Дата публикации: 2021-11-03.

Quantitive analyte assay device and method

Номер патента: US20170199182A1. Автор: Jin Po Lee. Владелец: ASSURANCE LLC. Дата публикации: 2017-07-13.

System and method for analyzing and validating oil and gas well production data

Номер патента: US09990586B2. Автор: James W. Crafton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-06-05.

Apparatus and method for acquiring, managing, sharing, monitoring, analyzing and publishing web-based time series data

Номер патента: US09984125B1. Автор: James Kemp Smith,Steven Nelson Clark,Kirsten Michelle Lockhart. Владелец: Leading Market Technologies Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

System and method for analyzing and validating oil and gas well production data

Номер патента: US09569521B2. Автор: James W. Crafton. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-02-14.

System and method for managing raw materials of industrial importance

Номер патента: US20240198388A1. Автор: Hagit SADE,Michal FIRSTENBERG,Nataly TAL,Mor KAPLINSKY,Haggai ALON,Ron DAFNI,Chen NACHMIAS,Nadav YORAN,Michal BURCK ZALTZMAN,Gal SHMUELI,Tehila NACHUM,Yonatan MUSNIKOW,Yekaterina ZELDICH. Владелец: Security Matters Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Methods and systems for analyzing and providing data for business services

Номер патента: US20240233052A9. Автор: Glenn Alan DILDY. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-07-11.

Devices, systems, and methods for adherence monitoring and patient interaction

Номер патента: EP4400921A2. Автор: Yechiel Engelhard,Mark Maalouf,Michael Chiu. Владелец: Gecko Health Innovations Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

System and method for blood and saliva optimized food consumption and delivery

Номер патента: US12039585B2. Автор: Erik M Simpson,Gavin Simpson. Владелец: Circlesx LLC. Дата публикации: 2024-07-16.

Point-of-care testing system, analyzer and method

Номер патента: US12000824B2. Автор: Michael Licht,James Samsoondar. Владелец: InviDx Corp. Дата публикации: 2024-06-04.

Kit and Method for Detecting Duck HAV by Double TaqMan Fluorescence Quantitative RT-PCR

Номер патента: AU2020102679A4. Автор: Qiao Yang,Ying Wu,Shun Chen,Qin Hu,Anchun CHENG,Mingshu Wang,Dekang Zhu,Renyong Jia,Mafeng Liu. Владелец: Sichuan Agricultural University. Дата публикации: 2020-12-03.

System and method for detection of residual cancerous tissue

Номер патента: CA3174914A1. Автор: Ofer Braun,Dov Cohen,Ilan Avital Zorman. Владелец: Nutek OIDO Ltd. Дата публикации: 2021-09-23.

System and method for identifying and enforcing the use of safe cleaning products and chemical for cleaning of a building

Номер патента: US20240220885A1. Автор: Bita Safari. Владелец: Gigo Clean Technology Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Systems and methods for analyzing and adjusting road conditions

Номер патента: EP3455841A1. Автор: Dong Lu,Jiali Li. Владелец: Beijing Didi Infinity Technology and Development Co Ltd. Дата публикации: 2019-03-20.

Systems and methods for analyzing and displaying products

Номер патента: US20240257211A1. Автор: Kannan Achan,Evren Korpeoglu,Sinduja Subramaniam,Rahul Sridhar,Sonal Bathe. Владелец: Walmart Apollo LLC. Дата публикации: 2024-08-01.

Systems and methods for managing and protecting data in computing networks

Номер патента: WO2024157087A1. Автор: Devi Selva Kumar Vijayanarayanan. Владелец: Vijayanarayanan Devi Selva Kumar. Дата публикации: 2024-08-02.

Techniques for analyzing and mapping geographic areas using uas

Номер патента: US20240257524A1. Автор: Haiyang Chao,Saket Gowravaram Navalur,Zhenghao Lin. Владелец: University of Kansas. Дата публикации: 2024-08-01.

Systems, Devices, and Methods for Generating a Model of a Vascular Network, and for Analyzing and/or Treatment Planning Related to Thereof

Номер патента: US20210041853A1. Автор: Vahid Serpooshan,Holly Bauser-Heaton,Martin L. Tomov. Владелец: Childrens Healthcare of Atlanta Inc. Дата публикации: 2021-02-11.

Devices and methods for analyzing and filtering light scattering data from a sample potentially containing a non-target compound

Номер патента: US20210270712A1. Автор: Sandor Balog. Владелец: Adolphe Merkle Institute University of Fribourg. Дата публикации: 2021-09-02.

System and method for in-line monitoring of airborne contamination and process health

Номер патента: SG11201809349SA. Автор: Li-Peng Wang,Pei-Wen Chung,Tsung- Kuan A Chou. Владелец: TricornTech Taiwan. Дата публикации: 2018-11-29.

Systems and methods for monitoring and evaluating body movement

Номер патента: US20190362506A1. Автор: Jeremie Leroyer,Cyril Porteret. Владелец: Prove Labs Inc. Дата публикации: 2019-11-28.

System and method for energy analysis and predictive modeling of components of a cooling system

Номер патента: EP2787296A3. Автор: Tyler VOIGT. Владелец: Liebert Corp. Дата публикации: 2015-07-08.

Devices, systems, and methods for adherence monitoring and patient interaction

Номер патента: US20240285878A1. Автор: Yechiel Engelhard,Mark Maalouf,Michael Chiu. Владелец: Gecko Health Innovations Inc. Дата публикации: 2024-08-29.

System and method for automated link analysis

Номер патента: WO2005057411A1. Автор: Michael Shultz,Charles Moon,Michael Zrubek. Владелец: Infoglide Software Corporation. Дата публикации: 2005-06-23.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US20170363679A1. Автор: Michel D Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2017-12-21.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US20180328983A1. Автор: Michel D Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2018-11-15.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US20210148967A1. Автор: Michel D. Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2021-05-20.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US20190302177A1. Автор: Michel D. Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2019-10-03.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US20180080980A1. Автор: Michel D. Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2018-03-22.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US10928443B2. Автор: Michel D Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2021-02-23.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US10345374B2. Автор: Michel D Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2019-07-09.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US10048313B2. Автор: Michel D Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US9857415B1. Автор: Michel D Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

System and method for distributed individual experience collection, analysis, and continual single-participant experience trials and burnout risk detection and mitigation

Номер патента: US20240020712A1. Автор: Kelton Isaac Shockey. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-01-18.

System and method for automated link analysis

Номер патента: CA2546098A1. Автор: Michael Shultz,Charles Moon,Michael Zrubek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-06-23.

System and method for automated link analysis

Номер патента: EP1683004A1. Автор: Michael Shultz,Charles Moon,Michael Zrubek. Владелец: Infoglide Software Corp. Дата публикации: 2006-07-26.

Methods and systems for analyzing and providing data for business services

Номер патента: US09870594B2. Автор: Glenn Alan DILDY. Владелец: Glenn Alan DILDY. Дата публикации: 2018-01-16.

System and method for industrial project cost estimation risk analysis

Номер патента: US09870546B1. Автор: Sean P. Reynolds. Владелец: Turner Industries Group LLC. Дата публикации: 2018-01-16.

Systems and methods for biological analysis and computation

Номер патента: EP3080300A1. Автор: Seth Stern,Saurabh Paliwal,Hesaam Esfandyarpour,Meysam R. Barmi,Kosar B. Parizi,Amirhossein SAMAKAR. Владелец: Genapsys Inc. Дата публикации: 2016-10-19.

System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects

Номер патента: US09857415B1. Автор: Michel D Sika. Владелец: Lucid Circuit Inc. Дата публикации: 2018-01-02.

Systems and methods for dynamically replacing code objects for code pushdown

Номер патента: US09811325B2. Автор: Albrecht Gass,Nikolaos Faradouris,Oliver Flach,Stefan Hetges. Владелец: SmartShift Technologies Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

System and method for distributed text-to-speech synthesis and intelligibility

Номер патента: US09761219B2. Автор: Jun Xu,Teck Chee Lee. Владелец: CREATIVE TECHNOLOGY LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Systems and methods for real-time tracking of photoacoustic sensing

Номер патента: US09723995B2. Автор: JIN Kang,Emad Boctor,Xiaoyu Guo,Hyun-Jae Kang,Behnoosh TAVAKOLI. Владелец: JOHNS HOPKINS UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-08-08.

Systems and methods for generating and applying operating system live updates

Номер патента: US09696989B1. Автор: Kirill Korotaev. Владелец: Cloud Linux Zug GmbH. Дата публикации: 2017-07-04.

Method and apparatus for proving an authentication of an original item and method and apparatus for determining an authentication status of a suspect item

Номер патента: US09552543B2. Автор: Sergej Toedtli,Sascha TOEDTLI,Yohan Thibault. Владелец: Hicof Inc. Дата публикации: 2017-01-24.

Method for obtaining and processing surface analysis data

Номер патента: US20080029698A1. Автор: Masumi Katagami,Miyuki Kaneyama. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2008-02-07.

System and method for implementing containers which extract and apply semantic page knowledge

Номер патента: AU2022206714B2. Автор: Roni BEN-AHARON. Владелец: Wix com Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Democratic neurotechnology apparatus and method

Номер патента: US20150088023A1. Автор: J. Dwidjaja Setiabudi,Setiawan Yusran,Kho Sasih Adisusanto,Max Arif Pramono,Robin Wijaya,Damar Suryawan,Eko Sulistiyono,PKA Budi Widianarko,Aloysius Lukas Soenarjo Soesilo,Njoman Agung,Soenawan Tanoedjaja,Budi Hartanto,Eva Christin. Владелец: INDONESIAN SCIENTIFIC SOLUTION CENTRE FOUNDATION (IS2C). Дата публикации: 2015-03-26.

Systems and methods for acquiring and inspecting lens images of ophthalmic lenses

Номер патента: US12051191B2. Автор: Kirsty MCCULLOCH,Alexandra-Florentina YOSHIDA. Владелец: CooperVision International Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Systems and methods for automatic segment selection for multi-dimensional biomedical signals

Номер патента: EP2807625A1. Автор: Majid Sarrafzadeh,Mars Lan. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2014-12-03.

System and method for computer-aided graph-based dependency analysis

Номер патента: WO2001046798A3. Автор: Brendan O'reilly,Christopher Chedgey. Владелец: Headway Res Ltd. Дата публикации: 2002-09-12.

Systems and methods for analyzing and connecting automation sequences

Номер патента: US11763228B2. Автор: Yuval SHACHAF,Eran ROSEBERG,Yaron Moshe BIALY. Владелец: Nice Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Measurement tool and methods for euv lithography masks

Номер патента: EP4405754A1. Автор: Yoshihiro Tezuka,Charles Holzwarth,Marieke Ordway. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

System and method for comparative analysis of textual documents

Номер патента: WO2005076161A3. Автор: Kas Kasravi,Walter B Novinger. Владелец: Walter B Novinger. Дата публикации: 2006-06-01.

Device and method for testing effective diffusion coefficient of helium in helium-bearing natural gas

Номер патента: US11841304B1. Автор: YU GAO,Pengpeng Li,Quanyou LIU. Владелец: PEKING UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-12-12.

A systems and methods for obtaining, storing, processing and utilizing immunologic information of an individual or population

Номер патента: EP1817708A2. Автор: David Coleman,Francis Michon,Suraj Shetty,Samuel L. Moore,Samuel J. Wohlstadter,Kamini Joshi,Peter C. Fusco,Charles Q. Davis. Владелец: BioVeris Corp. Дата публикации: 2007-08-15.

System and method for obtaining, storing, and processing immunologic information of individuals and populations

Номер патента: WO2006045004A9. Автор: David Coleman,Francis Michon,Suraj Shetty,Samuel L Moore,Peter C Fusco,Samuel J Wohlstadter,Kamini Joshi,Charles Q Davis. Владелец: Charles Q Davis. Дата публикации: 2006-08-24.

A monitoring system and method for determining the maximum rainfall infiltration depth of soil slopes

Номер патента: LU102527B1. Автор: Ke Sun,Aizhao Zhou,Haoqing Xu,Yuying Wang,Liyan Wang,Shunqing Liu,Heying Hou. Владелец: Univ Jiangsu Science & Tech. Дата публикации: 2021-08-16.

Systems and Methods for Analyzing Natural Gas Flow in Subterranean Reservoirs

Номер патента: US20220026337A1. Автор: Hui-hai LIU,Huangye Chen. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2022-01-27.

System and method for analyzing and reporting extensible data from multiple sources in multiple formats

Номер патента: US20130185248A1. Автор: Nat Wyatt,Joseph E. Rozenfeld. Владелец: Skytide Inc. Дата публикации: 2013-07-18.

Methane combustion catalyst and method for manufacturing same, and method for purifying combustion exhaust gas

Номер патента: EP4151310A1. Автор: Kazutaka Takeda,Syunsuke Kato,Shunji Kikuhara,Kanako Kurahashi,Masahiro Shiraki,Tatsushi Minami. Владелец: Tanaka Kikinzoku Kogyo KK. Дата публикации: 2023-03-22.

Devices and methods for analyzing layers of samples

Номер патента: US9453764B2. Автор: Rudolf J. Hofmeister,Donald A. Ice,Scott W. Tandy. Владелец: H2optx Inc. Дата публикации: 2016-09-27.

Materials and methods for diagnosis, prevention and/or treatment of stress disorders and conditions associated with a-beta peptide aggregation

Номер патента: US20190167653A1. Автор: Valentina Echeverria Moran. Владелец: US Department of Veterans Affairs VA. Дата публикации: 2019-06-06.

System and method for computer-aided graph-based dependency analysis

Номер патента: WO2001046798A8. Автор: Brendan O'reilly,Christopher Chedgey. Владелец: Headway Res Ltd. Дата публикации: 2004-04-22.

System and method for comparative analysis of textual documents

Номер патента: EP1709557A2. Автор: Kas Kasravi,Walter B. Novinger. Владелец: Electronic Data Systems LLC. Дата публикации: 2006-10-11.

System and method for comparative analysis of textual documents

Номер патента: WO2005076161A2. Автор: Kas Kasravi,Walter B. Novinger. Владелец: Electronic Data Systems Corporation. Дата публикации: 2005-08-18.

System and Method for Authentication of Rareness of a Digital Asset

Номер патента: US20240256741A1. Автор: Jeffrey Emanuel. Владелец: Pastel Growth Fund LLC. Дата публикации: 2024-08-01.

System and method for evaluating the performance and usage of a question answering cognitive computing tool

Номер патента: US20230169303A1. Автор: Sunitha Garapati,Matt Floyd,Darcy Bogle,Oscar Rebollo Martinez,Shawn Perrone,Adam Hellman. Владелец: State Farm Mutual Automobile Insurance Co. Дата публикации: 2023-06-01.

Monitoring system and method for wellsite equipment

Номер патента: US12084946B2. Автор: Liang Li,Jun Zhang,Shouzhe LI,Zhuqing Mao,Kaishen LIU,Pengyuan Zhang. Владелец: Yantai Jereh Petroleum Equipment and Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

System and method for measuring pressure inside pipelines or pressure vessels

Номер патента: US12085464B1. Автор: Naveen Kumar,Satya Mokamati,Michael Roxas,Mallina Venkata Timmaraju. Владелец: Vanmok Inc. Дата публикации: 2024-09-10.

Systems and methods for analyzing natural gas flow in subterranean reservoirs

Номер патента: US20240319065A1. Автор: Hui-hai LIU,Huangye Chen. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2024-09-26.

System and method for evaluating the performance and usage of a question answering cognitive computing tool

Номер патента: US12093799B2. Автор: Sunitha Garapati,Matt Floyd,Darcy Bogle,Oscar Rebollo Martinez,Shawn Perrone,Adam Hellman. Владелец: State Farm Mutual Automobile Insurance Co. Дата публикации: 2024-09-17.

System and method for analyzing and reporting extensible data from multiple sources in multiple formats

Номер патента: EP1875335A2. Автор: Joseph Rozenfeld,Nat Wyatt. Владелец: Skytide Inc. Дата публикации: 2008-01-09.

Breath analyzer, ventilator, and method for breath analysis

Номер патента: US12082921B2. Автор: Jan Verhoeven,Matthias Schwaibold,Benno DOEMER. Владелец: Loewenstein Medical Technology SA. Дата публикации: 2024-09-10.

System and method for authentication of rareness of a digital asset

Номер патента: WO2024159109A1. Автор: Jeffrey Emanuel. Владелец: Pastel Growth Fund LLC. Дата публикации: 2024-08-02.

Systems and methods for providing a cyber investigative pipeline

Номер патента: US12105796B2. Автор: Timothy Weng Lup YIP. Владелец: JPMorgan Chase Bank NA. Дата публикации: 2024-10-01.

System and method for automated generated software from tests

Номер патента: US20240354069A1. Автор: Richard Polton. Владелец: JPMorgan Chase Bank NA. Дата публикации: 2024-10-24.

Arrangement and method of balancing ventilation system

Номер патента: FI131012B1. Автор: Karin Paavilainen. Владелец: Tpi Control Oy. Дата публикации: 2024-07-30.

Systems and methods for visualizing and managing telepresence devices in healthcare networks

Номер патента: US12014817B2. Автор: Michael Chan,Scott Ross,Charles S. Jordan,Timothy C. Wright,Jonathan Southard,Kelton Temby,Dan Habecker,Joshua A. Bouganim. Владелец: Teladoc Health Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

System and method for analyzing progress of labor and preterm labor

Номер патента: US09974474B2. Автор: Jose C. Principe,Tammy Y. Euliano,II Neil Russell Euliano,Dorothee Maroserro. Владелец: CONVERGENT ENGINEERING Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters

Номер патента: RU2584066C1. Автор: Борис Дмитриевич Калинин,Роберт Исаакович Плотников,Адиль Абдул Меликович Яфясов. Владелец: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ). Дата публикации: 2016-05-20.

Handheld x-ray analyzer

Номер патента: CA147095S. Автор: . Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2013-03-26.

Fluorescent x-ray analyzing method of solution specimen and specimen sampler used for the method

Номер патента: CA1232982A. Автор: Hideo Maruyama,Tadahiro Abe,Noriko Yasui,Shigetoshi Kurozumi. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1988-02-16.

Nanostructured Mn-Al Permanent Magnets And Methods of Producing Same

Номер патента: US20120003114A1. Автор: Zeng Qi,Baker Ian. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR MAKING HETEROGENOUS CATALYSTS

Номер патента: US20120004468A1. Автор: "Trejo-OReilly Jose Antonio",Tate James. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

CERAMIC/STRUCTURAL PROTEIN COMPOSITES AND METHOD OF PREPARATION THEREOF

Номер патента: US20120003280A1. Автор: Wei Mei,Qu Haibo. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR MANUFACTURING SCANDIUM ALUMINUM NITRIDE FILM

Номер патента: US20120000766A1. Автор: Kano Kazuhiko,Nishikubo Keiko,TESHIGAHARA Akihiko,AKIYAMA Morito,Tabaru Tatsuo. Владелец: Denso Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

X-ray analyzer with energy dispersive x-ray spectrometer

Номер патента: JP2009250867A. Автор: Yasunori Ota,Kazuyoshi Shibuya,谷和好渋,田康則太. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-10-29.

Energy-dispersive polarisation x-ray spectrometer

Номер патента: RU2494382C1. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев,Жаргал Ширабжалсановна Ринчинова,Сэсэг Борисовна Цыренжапова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2013-09-27.

Method for detecting contents of chlorine, phosphorus and potassium in compound fertilizer product by energy dispersion X-ray fluorescence spectrum

Номер патента: CN107589140B. Автор: 朱洁,梁峙,张玉洁,吴海娟,赵越,毛敏明,苏晓濛,王金砖. Владелец: Nanjing Product Quality Supervision and Inspection Institute. Дата публикации: 2020-03-17.

Energy dispersion X-ray fluorescence spectrophotometer

Номер патента: CN202041288U. Автор: 杨剑,杨振,柳春生. Владелец: Suzhou 3v Prevision Instrument Co Ltd. Дата публикации: 2011-11-16.

Coal gangue phase analysis method based on energy dispersion X-ray spectrum

Номер патента: CN105181717A. Автор: 袁勇,王培铭,吴丹琳,刘贤萍. Владелец: TONGJI UNIVERSITY. Дата публикации: 2015-12-23.

Method for stabilizing energy dispersion x-ray fluorescence analyzer parameters

Номер патента: RU2237885C2. Автор: нченко Е.М. Лукь,Е.М. Лукьянченко. Владелец: Открытое Акционерное Общество "Научно-Производственное Предприятие "Буревестник". Дата публикации: 2004-10-10.

METHOD FOR STABILIZING PARAMETERS OF AN ENERGY-DISPERSION X-RAY FLUORESCENT ANALYZER

Номер патента: RU2002110021A. Автор: Евгений Матвеевич Лукьянченко,нченко Евгений Матвеевич Лукь. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное предпри тие "Буревестник". Дата публикации: 2004-01-20.

Cross Calibration of Two Energy Dispersive X-Ray Baggage Screening Systems Including Transformation of the Reference Database

Номер патента: US20130013242A1. Автор: Joyce David Edward,Wright Timothy Simon,Radley Ian. Владелец: . Дата публикации: 2013-01-10.

COMBINE APPARATUS OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ENERGY DISPERSIVE X-RAY SPECTROSCOPY

Номер патента: US20130070900A1. Автор: LEE JUN-HEE. Владелец: COXEM CO., LTD.. Дата публикации: 2013-03-21.

Method of energy-dispersion x-ray fluorescent analysis

Номер патента: SU750352A1. Автор: Николай Яковлевич Константинов. Владелец: Коммунарский горно-металлургический институт. Дата публикации: 1980-07-23.

Energy dispersive X-ray detector

Номер патента: JP2568536B2. Автор: 修石山. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1997-01-08.

Method for x-ray fluorescence determination of trace elements with preliminary concentration thereof from ultra-small samples of water and aqueous solutions

Номер патента: RU2484452C1. Автор: Мурадин Абубекирович Кумахов,Руслан Хажсетович Хамизов,Александра Николаевна Груздева,Андзор Адалгериевич Болотоков. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Ордена Ленина и Ордена Октябрьской революции Институт геохимии и аналитической химии им. В.И. Вернадского Российской академии наук. Дата публикации: 2013-06-10.

METHOD FOR PRODUCING PROPYLENE

Номер патента: US20120004490A1. Автор: Takamatsu Yoshikazu,Miyazaki Ryusuke. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Energy dispersion type fluorescent X-ray analysis device

Номер патента: CN103969275A. Автор: 荒川智,熊泽克巳. Владелец: DKK TOA Corp. Дата публикации: 2014-08-06.

A kind of sequential Wavelength Dispersive-X-Ray fluorescence spectrum intelligent analysis method

Номер патента: CN109829513A. Автор: 高晶,李元香. Владелец: Wuhan University WHU. Дата публикации: 2019-05-31.

Method for measuring content of sulfur in coal by utilizing energy chromatic dispersion X-ray fluorescence analysis

Номер патента: CN104215651B. Автор: 黄丹,马跃,刘宏军,邓玉福,项亚威,谷珊. Владелец: Shenyang Normal University. Дата публикации: 2017-02-01.

TRANSMISSION X-RAY ANALYZER AND TRANSMISSION X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130032728A1. Автор: MATOBA Yoshiki. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130034204A1. Автор: MATOBA Yoshiki,SATO Tsuneo,Nakatani Rintaro. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5102549B2. Автор: 幸一辻,晃典松田,薫堤本. Владелец: National Institute of Japan Science and Technology Agency. Дата публикации: 2012-12-19.

X-ray analysis method and X-ray analyzer

Номер патента: JP6795010B2. Автор: 裕二田中,田中　裕二,紗未奥村. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

X-ray analysis method and X-ray analyzer

Номер патента: JP6915374B2. Автор: 健二野村,野村　健二. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

Wavelength dispersive X-ray fluorescence analysis method and apparatus

Номер патента: JP3394936B2. Автор: 隆西村,由行片岡,悦久山本. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2003-04-07.

Sample holder for X-ray analyzer, attachment for X-ray analyzer, and X-ray analyzer

Номер патента: JP6075873B2. Автор: 貴之紺谷,弘諮住居,住居　弘諮,豪志小沢,真理大川,由紀子生天目. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-02-08.

Sample holder for x-ray analyzer, attachment for x-ray analyzer and x-ray analyzer

Номер патента: JP2014062888A. Автор: Takayuki Konya,Takeshi Ozawa,貴之紺谷,弘諮住居,Hiroshi Sumii,豪志小沢,真理大川,由紀子生天目,Mari Okawa,Yukiko Namatame. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-04-10.

Method for producing monocrystal wafers

Номер патента: RU2284073C1. Автор: Владимир Иванович Куликов,Владислав Елисеевич Хан,Михаил Викторович Варакин,Александр Алексеевич Погудин. Владелец: Александр Алексеевич Погудин. Дата публикации: 2006-09-20.

Total reflection fluorescent x-ray analyzing method and total reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2006292558A. Автор: Yoshifumi Hata,良文畑. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-10-26.

Method for assessing inducing action of cytomegalovirus infection on hemoglobin oxygenation in third trimester of gestation with underlying hemoglobin and 2,3-bisphosphoglycerate measurement in peripheral red blood cells

Номер патента: RU2504775C1. Автор: Михаил Тимофеевич Луценко,Ирина Анатольевна Андриевская,Ольга Леонидовна Кутепова. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Дальневосточный научный центр физиологии и патологии дыхания" Сибирского отделения РАМН. Дата публикации: 2014-01-20.

Fluorescence x-ray analysis device, fluorescence x-ray analysis method and computer program

Номер патента: JP2017049098A. Автор: 朋樹青山,Tomoki Aoyama,俊行道北,Toshiyuki Michikita. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-03-09.

Fluorescent X-ray Analysis System and Fluorescent X-ray Analysis Method

Номер патента: JP7135795B2. Автор: 桂次郎鈴木. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-09-13.

Sample pretreatment apparatus for fluorescent X-ray analysis and fluorescent X-ray analysis system provided with the same

Номер патента: JP3629535B2. Автор: 昭弘池下,基行山上. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-03-16.

X-ray fluorescence analysis sample mask, sample holder, and slag fluorescence X-ray analysis method

Номер патента: JP3628516B2. Автор: 規子槇石,公山本,秀雄圓山. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2005-03-16.

Film analysis method and apparatus by fluorescent X-ray analysis

Номер патента: JP5043387B2. Автор: 関雅人小,笠元気衣. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2012-10-10.

Method for adjusting slag sample for fluorescent X-ray analysis and sampler

Номер патента: JP3900713B2. Автор: 山本　　公,規子槙石,亘谷本. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2007-04-04.

Method for measuring peripheral blood histidine used to determine degree of haemoglobin oxygenation

Номер патента: RU2533237C1. Автор: Михаил Тимофеевич Луценко,Ирина Анатольевна Андриевская. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение "Дальневосточный научный центр физиологии и патологии дыхания" Сибирского отделения РАМН. Дата публикации: 2014-11-20.

Method for fluorescence x-ray analysis

Номер патента: SU552544A1. Автор: Владимир Ильич Яковлев,Владислав Петрович Варварица,Сергей Вартанович Мамиконян,Валерий Иванович Филатов,Лель Владимирович Мельтцер,Сергей Михайлович Бродский,Анатолий Викторович Евтушенко. Владелец: Предприятие П/Я А-3430. Дата публикации: 1977-03-30.

X-ray analyzer and analysis method thereof

Номер патента: JP3950866B2. Автор: 立行前川,晋内藤,幹雄泉,昭雄河合,総一郎森本. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-08-01.

Time constant control system for x-ray analyzers and gages

Номер патента: CA734068A. Автор: J. Culbertson Robert. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1966-05-10.

Apparatus for x-ray analysis of matter

Номер патента: CA620156A. Автор: W. B. Schumacher Wilhelm. Владелец: Ortech Corp. Дата публикации: 1961-05-16.

Sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: USD628709S1. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2010-12-07.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CA693534A. Автор: E. Bigelow John. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1964-09-01.

Fluorescent x-ray analyzing method of solution specimen and specimen sampler used for the method

Номер патента: ZA846957B. Автор: Hideo Maruyama,Tadahiro Abe,Noriko Yasui,Shigetoshi Kurozumi. Владелец: Kawasaki Steel Co. Дата публикации: 1985-04-24.

X-ray analysis

Номер патента: CA794906A. Автор: S. Boyce Ian,G. Ahier Thelma. Владелец: UK Atomic Energy Authority. Дата публикации: 1968-09-17.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20120230468A1. Автор: SAKAI Noriaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-13.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3197104B2. Автор: 修三須藤,邦雄中島. Владелец: セイコーインスツルメンツ株式会社. Дата публикации: 2001-08-13.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: SU409121A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1973-11-30.

Multi-element x-ray analyzer of substance composition

Номер патента: RU2207551C2. Автор: Е.М. Рабинович,В.И. Филатов,О.Д. Дружков,А.В. Панарин,С.М. Бродский,В.П. Варварица,А.Ю. Горбатенко. Владелец: Государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации". Дата публикации: 2003-06-27.

Fluorescent x-ray analyzer with x-ray probe

Номер патента: SU894503A1. Автор: Станислав Алексеевич Иванов,Валерий Павлович Ефанов,Всеволод Григорьевич Лютцау,Николай Иванович Комяк,Дмитрий Алексеевич Гоганов,Владимир Петрович Гиманов. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1981-12-30.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPS6441850A. Автор: Kenji Kishibe,Masanori Obata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-02-14.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3521425B2. Автор: 章二桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2004-04-19.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPH1114570A. Автор: Shoji Kuwabara,章二桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1999-01-22.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPH1019809A. Автор: Akira Kobayashi,明小林,Kazuji Yokoyama,和司横山. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 1998-01-23.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS6480842A. Автор: Hidenobu Ishida,Takehiko Nakatani. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1989-03-27.

X-ray analyzer

Номер патента: JPH01132943A. Автор: Tatsuya Matsuzaki,龍哉松崎. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-05-25.

X-ray analyzer

Номер патента: SU1753380A1. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Александр Вольфович Поленур,Евгений Иосифович Берсудский,Роман Романович Карпов. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1992-08-07.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3711410B2. Автор: 忠宇高. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-11-02.

Goniometer for x-ray analyzing device

Номер патента: JPS63115040A. Автор: Takao Komatsubara,小松原　岳雄. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1988-05-19.

X-ray analyzer

Номер патента: JP4788512B2. Автор: 暁大越,広司林. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-10-05.

Vessel for liquid sample of fluorescence x-ray analyzer

Номер патента: JPS6483140A. Автор: Koichi Kono,Yasuhiro Ayukawa,Mieko Kawami. Владелец: Toa Nenryo Kogyyo KK. Дата публикации: 1989-03-28.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPH1164253A. Автор: Yoshiyuki Kataoka,由行片岡,Ayako Oishi,綾子大石. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1999-03-05.

Multi-element simultaneous type fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2007155651A. Автор: Tomoya Arai,智也新井. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5959057B2. Автор: 恵一森川,克彦稲葉,徹光永. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Combined device of optical microscope and X-ray analyzer

Номер патента: JP4650330B2. Автор: 岳直藤井. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-16.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2569500B2. Автор: 武彦中谷. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1997-01-08.

Automatic x-ray analyzer

Номер патента: RU2034279C1. Автор: Ф.Э. Герценштейн,В.М. Нелюбов,М.Б. Русинов,И.В. Томский,В.О. Чубинский,Р.Г. Шагивалеева,А.П. Ширяев. Владелец: Межотраслевое научно-техническое предприятие измерений. Дата публикации: 1995-04-30.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2685726B2. Автор: 浩平閑歳,久征河野,淳二藤森. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1997-12-03.

Cylindrical crystal type spectrometer and x-ray analyzer thereof

Номер патента: JPH11337696A. Автор: Makoto Hirai,誠平井,Yukio Sako,幸雄迫,弘諮住居,Hiroshi Sumii,Koji Futazawa,宏司二澤. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1999-12-10.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5589578B2. Автор: 直樹淡路. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-17.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5589555B2. Автор: 朋晃川村. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2014-09-17.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS62154542A. Автор: Seiichi Suzuki,清一鈴木. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1987-07-09.

X-ray analyzer

Номер патента: SU550565A1. Автор: Борис Исаакович Верховский,Виктор Алексеевич Сотников,Николай Михайлович Пронин,Раиса Никитична Рутовская,Леонид Наумович Баскин,Сарра Хоновна Барон. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт "Цветметавтоматика". Дата публикации: 1977-03-15.

X-ray analyzing device

Номер патента: JPS62265556A. Автор: Takehiko Nakatani,武彦中谷. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1987-11-18.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2014222191A. Автор: Hideaki Takahashi,秀明 ▲高▼橋,Hiroshi Kono,Satoshi Fujimura,河野　　浩,浩河野,聖史藤村. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-11-27.

Method of working piece surface structure x-ray analyzing

Номер патента: RU1793343C. Автор: Вячеслав Евгеньевич Кошелев,Людмила Владимировна Посысаева. Владелец: Научно-исследовательский институт авиационной технологии и организации производства. Дата публикации: 1993-02-07.

X-ray analyzer

Номер патента: JPH10232285A. Автор: Hiroshi Okubo,Ichinaga Oono,正彦桑田,Toshiyoshi Watanabe,壱永大野,Masahiko Kuwata,Yukiro Hashizume,幸郎橋詰,俊善渡辺,弘大久保. Владелец: NIPPON DENSHI ENG. Дата публикации: 1998-09-02.

X-ray analyzer interlock mechanism

Номер патента: JP2540543Y2. Автор: 慎太郎駒谷,雅夫水田. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1997-07-09.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3411705B2. Автор: 寛小林,久征河野,正次倉岡. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2003-06-03.

X-ray analyzer

Номер патента: JP4073276B2. Автор: 澄人大澤. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2008-04-09.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3654568B2. Автор: 慎太郎駒谷,澄人大澤. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2005-06-02.

Total reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2010256259A. Автор: 智行福田,Satoyuki Fukuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

Tray for liquid x-ray analysis

Номер патента: SU913116A1. Автор: Valerij V Krotov,Anatolij I Rusanov,Semen L Shajovich,Yakov L Shajovich. Владелец: Le G Uni Im A A Schdanova. Дата публикации: 1982-03-15.

Chamber for x-ray analysis of polycrystals

Номер патента: SU1223105A1. Автор: Олег Константинович Колеров,Валентин Григорьевич Скрябин,Валентин Дмитриевич Юшин,Анатолий Николаевич Логвинов. Владелец: Куйбышевский Ордена Трудового Красного Знамени Авиационный Институт Им.Акад.С.П.Королева. Дата публикации: 1986-04-07.

Номер патента: SU446816A1. Автор: Владимир Константинович Олейник,Валентин Иванович Бабенко,Константин Александрович Рахманов. Владелец: Украинский научно-исследовательский институт специальных сталей, сплавов и ферросплавов. Дата публикации: 1974-10-15.

Номер патента: SU1659808A1. Автор: Сергей Иванович Осечкин,Богдан Николаевич Копко,Василий Иванович Балук,Леонид Орестович Василечко,Андрей Степанович Нога,Николай Анатольевич Кокоулин. Владелец: Предприятие П/Я В-8525. Дата публикации: 1991-06-30.

Номер патента: SU1315880A1. Автор: Николай Васильевич Мартынов,Рахматулло Фазылович Фазылов,Анатолий Анатольевич Чуриков,Михаил Герасимович Зайцев,Геннадий Семенович Данилов. Владелец: Среднеазиатский Научно-Исследовательский И Проектный Институт Цветной Металлургии. Дата публикации: 1987-06-07.

Номер патента: SU1673935A1. Автор: Елена Владимировна Савина,Татьяна Павловна Блащук,Владимир Георгиевич Костин,Татьяна Павловна Мамулова. Владелец: Государственный научно-исследовательский институт цветных металлов "Гинцветмет". Дата публикации: 1991-08-30.

X-ray analysis method and apparatus having optical axis adjustment function

Номер патента: JP4439984B2. Автор: 繁生鎌田,直樹河原. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-03-24.

Ditch for X-ray analysis of liquid mixtures in the stream

Номер патента: SU494646A1. Автор: Леонид Зельманович Таткин,Роберт Исаакович Плотников,Александр Владимирович Мейер,Анатолий Николаевич Межевич,Геннадий Андреевич Пшеничный,Анатолий Павлович Розуванов. Владелец: Предприятие П/Я М-5659. Дата публикации: 1975-12-05.

Номер патента: SU1221558A1. Автор: Олег Константинович Колеров,Валентин Григорьевич Скрябин,Валентин Дмитриевич Юшин,Анатолий Николаевич Логвинов. Владелец: Куйбышевский Ордена Трудового Красного Знамени Авиационный Институт Им.Акад.С.П.Королева. Дата публикации: 1986-03-30.

Device and method for preparing variable-parameter coded signal before its recording on data medium; sequential-signal device and method; method for reproducing patterns from data medium

Номер патента: RU2161377C2. Автор: ФУДЗИНАМИ Ясуси,Велтман Марк. Владелец: Сони Корпорейшн. Дата публикации: 2000-12-27.

Advertisement display system and method, method for selling advertisement display wall surface, and method for reselling advertisement display wall surface

Номер патента: JP2003263124A. Автор: 大和田　　巌,Kenji Kawahata,賢治河畑,Iwao Owada. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2003-09-19.

Compositions and Methods of Using Living and Non-Living Bioactive Devices with Components Derived from Self-Renewing Colony Forming Cells Cultured and Expanded In Vitro

Номер патента: US20120003188A1. Автор: KOPEN Gene,RAGAGLIA Vanessa,BRAYFIELD Candace. Владелец: Garnet Biotherapeutics, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

Номер патента: US20120003705A1. Автор: MORRIS Jeffrey M.,Jin Song,Fallgren Paul,Bland Alan E.,Newcomer Jesse D.,Colberg Patricia,Richards Patick. Владелец: The University of Wyoming Research Corporation d/b/a Western Research Institute. Дата публикации: 2012-01-05.

Polymerase Enhancing Factor (PEF) Extracts PEF Protein Complexes Isolated PEF Proteins and Methods for Purifying and Identifying

Номер патента: US20120003713A1. Автор: . Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

Energy Dispersive X-Ray Analyzer and Method for Energy Dispersive X-Ray Analysis

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты