X-RAY ANALYZER.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150268180A1
Опубликовано: 24-09-2015
Автор(ы): HIROSE Ryusuke
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Non-homogeneous sample handling apparatus and X-ray analyzer applications thereof

Номер патента: US09360440B2. Автор: Leslie Johnson,George Allen,Zewu Chen,John H. Burdett, Jr.. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-06-07.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: US09633753B2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: US09335280B2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-05-10.

Fluorescent X-ray analyzer, fluorescent X-ray analysis method, and fluorescent X-ray analysis program

Номер патента: US20060215810A1. Автор: Yasuhiro Usui. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-09-28.

X-ray analyzer

Номер патента: US09658175B2. Автор: Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Portable X-ray analyzer having vibration, thermal and/or moisture isolation from exterior environment

Номер патента: US09521735B2. Автор: Rory D. Delaney,Daniel Dunham. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-12-13.

X-ray analyzer of gold and heavy elements

Номер патента: RU2614318C1. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев,Мартин Людвиг Гаусс. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2017-03-24.

Non-homogeneous sample handling apparatus and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: EP2972183A1. Автор: Leslie Johnson,George Allen,Zewu Chen,Jr. John H. Burdett. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-01-20.

Fluorescent x-ray analyzer including detection signal correction based on position variation

Номер патента: US6324251B1. Автор: Shoji Kuwabara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2001-11-27.

X-ray analyzer

Номер патента: US20230236142A1. Автор: Keijiro Suzuki,Kanji Kobayashi,Yuji Morihisa,Kriengkamol TANTRAKARN. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Energy dispersive X-ray analyzer and method for energy dispersive X-ray analysis

Номер патента: US9349572B2. Автор: Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-05-24.

Non-homogeneous sample handling apparatus and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: US20140270063A1. Автор: Leslie Johnson,George Allen,Zewu Chen,John H. Burdett, Jr.. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2014-09-18.

Energy Dispersive X-Ray Analyzer and Method for Energy Dispersive X-Ray Analysis

Номер патента: US20150270094A1. Автор: Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-09-24.

X-ray analyzing apparatus and method

Номер патента: US20150233845A1. Автор: Tomoyuki Fukuda,Akihiro Ikeshita,Kosuke Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

X-Ray Analyzer and Spectrum Generation Method

Номер патента: US20190049396A1. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

X-ray analyzer and spectrum generation method

Номер патента: US10739284B2. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-11.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20200378909A1. Автор: Shigeru Honda,Masahiro Asai,Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

X-ray analyzer system and method of increasing response time

Номер патента: US5570406A. Автор: Shintaro Komatani. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1996-10-29.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: US20090141867A1. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2009-06-04.

X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2018168939A1. Автор: 由行片岡,航介川久. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Multielement simultaneous type fluorescent x-ray analyzer and multielement while fluorescent x-ray analysis method

Номер патента: CN108713138B. Автор: 藤村圣史,青木悠. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-09-06.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: KR20090016455A. Автор: 요시유끼 가따오까,히사유끼 고오노,마꼬또 도이,노보루 야마시따. Владелец: 가부시키가이샤 리가쿠. Дата публикации: 2009-02-13.

Fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: CN101416047A. Автор: 堂井真,片冈由行,河野久征,山下升. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-04-22.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN105277579B. Автор: 高桥春男,八木勇夫,广濑龙介,高原稔幸. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-05-21.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN100578205C. Автор: 住居弘咨,青柳光一. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-06.

Non-homogeneous sample scanning apparatus, and X-ray analyzer applications thereof

Номер патента: CN105793696A. Автор: P·陆,陈泽武,G·艾伦,J·斯皮纳佐拉. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-07-20.

X-RAY GENERATOR AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160118215A1. Автор: Takahashi Haruo,HIROSE Ryusuke. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-28.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5307504B2. Автор: 範昭坂井,稔幸高原,吉毅的場. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5307503B2. Автор: 吉毅的場,寛治長沢. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP2021188961A. Автор: Kenji Sato,賢治佐藤. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-12-13.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: US7970101B2. Автор: Toshiyuki Takahara,Noriaki Sakai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-06-28.

fluorescent X-ray analyzer and sample display method thereof

Номер патента: CN105388176B. Автор: 八木勇夫. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-12-06.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107209132B. Автор: 山田康治郎,原真也,松尾尚,本间寿,片冈由行. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-21.

Fluorescent x-ray analyzer with quickly evacuable cover cases

Номер патента: GB9724773D0. Автор: . Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-01-21.

X-ray analyzer

Номер патента: RU2611713C1. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2017-02-28.

Fluorescent x-ray analyzer with quickly evacuable cover cases

Номер патента: GB2319835B. Автор: Shoji Kuwabara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2000-07-26.

X-ray analyzer for analyzing plastic

Номер патента: JP4005547B2. Автор: 清長谷川. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-11-07.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107923859A. Автор: 山田康治郎,原真也,松尾尚,本间寿,片冈由行. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: KR20120103476A. Автор: 노리아키 사카이. Владелец: 에스아이아이 나노 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-09-19.

PORTABLE X-RAY ANALYZER HAVING VIBRATION, THERMAL AND/OR MOISTURE ISOLATION FROM EXTERIOR ENVIRONMENT

Номер патента: US20150036804A1. Автор: Delaney Rory D.,Dunham Daniel. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2015-02-05.

SAMPLE HANDLING APPARATUS FOR PRESSURIZED FLUIDS AND X-RAY ANALYZER APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20190056337A1. Автор: Chen Zewu,Dunham Daniel,SPINAZOLA,III Joseph J,BURDETT Jay. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-21.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150083909A1. Автор: Ohashi Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

NON-HOMOGENEOUS SAMPLE HANDLING APPARATUS AND X-RAY ANALYZER APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20140270063A1. Автор: Allen George,JR. John H.,Chen Zewu,BURDETT,JOHNSON Leslie. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2014-09-18.

X-RAY ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170184519A1. Автор: Sako Yukio. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-06-29.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160231259A1. Автор: TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-11.

MOBILE TRANSPORT AND SHIELDING APPARATUS FOR REMOVABLE X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160254068A1. Автор: Pomerantz Steven M.,Burdett John H.,Delaney Rory D.. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2016-09-01.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20150268179A1. Автор: SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-24.

NON-HOMOGENEOUS SAMPLE SCANNING APPARATUS, AND X-RAY ANALYZER APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20160274042A1. Автор: Allen George,LU Peng,Chen Zewu,SPINAZOLA Joseph. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2016-09-22.

Fluorescent x ray analyzer

Номер патента: JPS52146688A. Автор: Keizo Kono. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1977-12-06.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107076687A. Автор: 山田康治郎,原真也,堂井真. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-18.

Fluorescence X-ray Analyzer

Номер патента: KR101046018B1. Автор: 요시유끼 가따오까,에이이찌 후루사와,히사유끼 고오노. Владелец: 가부시키가이샤 리가쿠. Дата публикации: 2011-07-01.

X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2013084904A1. Автор: 健太郎西方,聡史大橋,隆司小松原. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-04-27.

Fluorescent-x-ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS6064236A. Автор: Shigemi Komatsu,小松　繁美. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1985-04-12.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3996821B2. Автор: 澄人大澤. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2007-10-24.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5100063B2. Автор: 則生笹山. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-12-19.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: WO2013052556A2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2013-04-11.

Fluorescent x-ray analyzing scale

Номер патента: JPS5619445A. Автор: Kazuo Nomura. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 1981-02-24.

X-ray analyzer

Номер патента: JP6589461B2. Автор: 田中　啓一,啓一田中,永田　篤士,篤士永田,哲中山,中山　哲,一夫茅根. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-10-16.

X-ray analyzer with pulse amplitude shift correction

Номер патента: DE69327609D1. Автор: Hendrik Johannes Jan Bolk,Georges Charles Petronel Zielk. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2000-02-24.

Optical positioner design in X-ray analyzer for coaxial micro-viewing and analysis

Номер патента: US7972062B2. Автор: Joseph A. Nicolosi,Sun Park,Robert Westerdale,Bruce Elliott Scruggs. Владелец: Edax Inc. Дата публикации: 2011-07-05.

X-ray analyzer and computer program

Номер патента: JPWO2015125604A1. Автор: 聡史大橋,隆司小松原,浩行越川. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-03-30.

Complex x-ray analyzing apparatus

Номер патента: JP2002350373A. Автор: Masao Sato,正雄佐藤. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-04.

Multichannel x-ray analyzer

Номер патента: RU2615711C1. Автор: Батоболот Жалсараевич Жалсараев. Владелец: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Геологический институт Сибирского отделения Российской академии наук (ГИН СО РАН). Дата публикации: 2017-04-07.

Analytical method and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: JP7054717B2. Автор: 元気衣笠. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: EP3196636A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-07-26.

Non-homogeneous sample scanning apparatus, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: WO2015073399A1. Автор: Peng Lu,George Allen,Zewu Chen,Joseph SPINAZOLA. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2015-05-21.

Fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: CN113748333B. Автор: 片冈由行,后藤直人. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-07-12.

X-ray analyzer

Номер патента: US20040136500A1. Автор: Masami Amemiya,Masato Ozeki. Владелец: Jeol Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2004-07-15.

Pre-filmed precision sample cell for X-ray analyzer

Номер патента: JP5451630B2. Автор: エイチ．バーデットジョン,エル．ダナムダニエル,ビー．クインジェイムズ. Владелец: エックス−レイオプティカルシステムズインコーポレーテッド. Дата публикации: 2014-03-26.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: US7729471B2. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2010-06-01.

Fluorescence X-ray Analyzer

Номер патента: KR101063106B1. Автор: 마사노리 다카하시,요시키 마토바,다카유키 후카이,유타카 이크쿠. Владелец: 에스아이아이 나노 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2011-09-07.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2017201313A. Автор: Satoshi Ohashi,健太郎西方,聡史大橋,隆司小松原,Takashi Komatsubara,Kentaro Nishikata. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-11-09.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: US9778214B2. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2015121479A. Автор: Keiichi Tanaka,田中　啓一,啓一田中,Narikazu Odawara,成計小田原,小田原　成計. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-07-02.

Fluorescent x-ray analyzing device

Номер патента: JPS6073445A. Автор: Hidenobu Ishida,Noriaki Nakanishi,石田　秀信,中西　典顕. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1985-04-25.

Fluorescent light x-ray analyzer

Номер патента: JP2022187637A. Автор: Yoshiyuki Kataoka,由行片岡,Yasuyuki Yamamoto,渉松田,恭之山本,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: HK1152110A1. Автор: John H Burdett,Daniel L Dunham,James B Quinn. Владелец: X Ray Optical Systemsinc. Дата публикации: 2012-02-17.

Fluorescence X-Ray Analyzer

Номер патента: SU486260A1. Автор: Крамер Лотар,Гюнтер Хельмут. Владелец: . Дата публикации: 1975-09-30.

Non-homogeneous sample handling apparatus and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: EP2972183A4. Автор: Leslie Johnson,George Allen,Zewu Chen,Jr John H Burdett. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-28.

Optical axis adjustment method for X-ray analyzer and X-ray analyzer

Номер патента: US09442084B2. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Optical axis adjustment method for x-ray analyzer and x-ray analyzer

Номер патента: US20150146859A1. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis

Номер патента: US09958404B2. Автор: Jan Skov Pedersen. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2018-05-01.

Optical axis adjustment device for x-ray analyzer

Номер патента: US20150146860A1. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Optical axis adjustment device for X-ray analyzer

Номер патента: US09562867B2. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

Total internal reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: EP4257961A1. Автор: Tsutomu Tada,Hajime Fujimura,Licai Jiang,Masahiro Nonoguchi,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Yuriy Platonov,Makoto Kambe,Toshifumi Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-10-11.

X-ray source, and fluorescent x-ray analyzing device

Номер патента: KR100974119B1. Автор: 노부타다 아오키,아키코 가쿠타니. Владелец: 도시바 덴시칸 디바이스 가부시키가이샤. Дата публикации: 2010-08-04.

X-ray analyzer and X-ray generator

Номер патента: JPWO2020084890A1. Автор: 朋樹青山. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-09-16.

Total internal reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: EP4257961A4. Автор: Tsutomu Tada,Hajime Fujimura,Licai Jiang,Masahiro Nonoguchi,Boris Verman,Kazuhiko Omote,Yuriy Platonov,Makoto Kambe,Toshifumi Higuchi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

X-Ray Analyzer and Spectrum Generation Method

Номер патента: US20190049396A1. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

X-ray analyzing apparatus and method

Номер патента: US20150233845A1. Автор: Tomoyuki Fukuda,Akihiro Ikeshita,Kosuke Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140326881A1. Автор: Ohashi Satoshi,Nishikata Kentaro,Komatsubara Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-06.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170269012A1. Автор: NAGATA Atsushi,Nakayama Satoshi,TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20200378909A1. Автор: Tsukamoto Kazunori,Honda Shigeru,Asai Masahiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-03.

Method for measuring film thickness by using electron probe x-ray analyzer

Номер патента: JPS6416905A. Автор: Toyohiko Okumura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-01-20.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5297786A. Автор: Tadao Watabe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-08-16.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5397895A. Автор: Shojiro Tagata,Kiyoshi Harasawa,Jiyun Suzumi. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1978-08-26.

X-ray analyzer

Номер патента: EP3054318A1. Автор: Keiichi Tanaka,Kazuo Chinone. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-08-10.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS59214743A. Автор: Yoshiaki Ono,小野　芳章. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1984-12-04.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2016142729A. Автор: Keiichi Tanaka,Kazuo Kayane,田中　啓一,啓一田中,一夫茅根. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-08-08.

X-ray analyzer using electron beam

Номер патента: US7592591B2. Автор: Satoshi Notoya. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-09-22.

X-ray analyzer

Номер патента: EP3745122B1. Автор: Shigeru Honda,Masahiro Asai,Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

Radiation detector, X-ray analyzer using the same, and radiation detection method

Номер патента: JP6182758B2. Автор: 拓人作村,保一中江,正孝前山,一之松下. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-23.

X-ray analyzer and x-ray analysis method

Номер патента: US20220283101A1. Автор: Daisuke Harada,Yasuyuki Keyaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: US11808718B2. Автор: Daisuke Harada,Yasuyuki Keyaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

X-ray generator and X-ray analyzer

Номер патента: US10278273B2. Автор: Takao Marui. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-04-30.

X-ray analyzer

Номер патента: US09835571B2. Автор: Takao Marui,Tetsuya Yoneda,Masashi Matsuo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Optical axis adjustment method for x-ray analyzer and x-ray analyzer

Номер патента: GB201419386D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-12-17.

Energy dispersive X-ray analyzer

Номер патента: US5903004A. Автор: Shunsuke Koshihara,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki. Владелец: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1999-05-11.

X-ray generator and x-ray analyzer

Номер патента: US20180007768A1. Автор: Takao Marui. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-01-04.

OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150146859A1. Автор: Tobita Ichiro,KAKEFUDA Kouji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-28.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20180007768A1. Автор: MARUI Takao. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-04.

X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis

Номер патента: US20140270079A1. Автор: Pedersen Jan Skov. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

Fluorescence X-ray analyzer particularly path changing device has sample base, X-ray source, monochromator, two detectors, two drive mechanisms, three spindles and a control device for controlling the drive mechanisms

Номер патента: DE19962503A1. Автор: . Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2000-08-03.

X-ray analyzer with an X-ray optical semiconductor component

Номер патента: DE19852955A1. Автор: Volker Lehmann,Rainer Golenhofen. Владелец: Bruker AXS Analytical X Ray Systems GmbH. Дата публикации: 2000-05-18.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5998666B2. Автор: 健二野村,野村　健二. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-28.

Goniometer for x-rays analyzer

Номер патента: JPS56111447A. Автор: Eiji Watanabe. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1981-09-03.

Optical axis adjustment device for x-ray analyzer

Номер патента: GB201419382D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-12-17.

Fluorescent x ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS51146893A. Автор: Saburo Mori,Hiromichi Mitsuda,Toshihiko Miyazawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1976-12-16.

X-ray analyzing device

Номер патента: JPS55163444A. Автор: Mutsumi Sato. Владелец: NIPPON X SEN KK. Дата публикации: 1980-12-19.

Fluorescent x ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS51146892A. Автор: Saburo Mori,Hiromichi Mitsuda,Toshihiko Miyazawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1976-12-16.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20220003691A1. Автор: Soejima Hiroyoshi. Владелец: APPLIED SCIENCE LABORATORY CO., LTD. Дата публикации: 2022-01-06.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170097309A1. Автор: Matsuo Masashi,MARUI Takao,Yoneda Tetsuya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-04-06.

OPTICAL AXIS ADJUSTMENT DEVICE FOR X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150146860A1. Автор: Tobita Ichiro,KAKEFUDA Kouji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-28.

SENSITIVITY CORRECTION COEFFICIENT CALCULATING SYSTEM AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170371047A1. Автор: MARUI Takao. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-12-28.

Time constant control system for x-ray analyzer

Номер патента: FR1374545A. Автор: . Владелец: Compagnie Francaise Thomson Houston SA. Дата публикации: 1964-10-09.

X-ray analyzer

Номер патента: JP7165400B2. Автор: 哲也小澤,剛刑部,和樹尾本. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-11-04.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5326184A. Автор: Tsukasa Tanoe. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1978-03-10.

X-ray analyzer and its optical axis adjustment method

Номер патента: JP6871629B2. Автор: 信太郎小林,克彦稲葉,徹光永. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

Secondary target device and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: JP4161513B2. Автор: 章二桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2008-10-08.

X-ray analyzer with adjustable slit diaphragm.

Номер патента: DE69017857D1. Автор: Lange Roelof De. Владелец: Philips Electronics NV. Дата публикации: 1995-04-20.

X-ray analyzer

Номер патента: FR1515749A. Автор: . Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1968-03-01.

X-ray analyzer

Номер патента: US09784700B2. Автор: masahiro Sakuta. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Enhanced Security Threat Detection

Номер патента: US20240077638A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2024-03-07.

X-Ray Analyzer and Method for Correcting Counting Rate

Номер патента: US20200058464A1. Автор: Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Superconductive X-ray detector and X-ray analyzer using the same

Номер патента: DE112006000226B4. Автор: Keiichi Tanaka,Satoshi Nakayama,Yoshiharu Matsushita,Akikazu Odawara. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-06-25.

X-ray analyzer having multiple excitation energy bands produced using multi-material x-ray tube anodes and monochromating optics

Номер патента: US9449780B2. Автор: Zewu Chen. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20220283101A1. Автор: HARADA Daisuke,KEYAKI Yasuyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-08.

TRANSMISSION X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20130216024A1. Автор: MATOBA Yoshiki. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-08-22.

MOBILE TRANSPORT AND SHIELDING APPARATUS FOR REMOVABLE X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140328468A1. Автор: Pomerantz Steven M.,Burdett John H.,Delaney Rory D.. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-06.

Meat processing device incorporating an X-ray analyzer

Номер патента: US09854817B2. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2018-01-02.

X-ray optical component device and X-ray analyzer

Номер патента: US09490038B2. Автор: Tetsuya Ozawa,Kenji Wakasaya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Meat processing device incorporating an x-ray analyzer

Номер патента: CA2910117C. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2018-07-10.

X-ray detection signal processing device and x-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US20170153190A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-06-01.

X-ray detection signal processing device and X-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US09791393B2. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

Transmission x-ray analyzer and transmission x-ray analysis method

Номер патента: CN102954973A. Автор: 的场吉毅. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2013-03-06.

X-RAY ANALYZER HAVING MULTIPLE EXCITATION ENERGY BANDS PRODUCED USING MULTI-MATERIAL X-RAY TUBE ANODES AND MONOCHROMATING OPTICS

Номер патента: US20150043713A1. Автор: Chen Zewu. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2015-02-12.

X-RAY OPTICAL COMPONENT DEVICE AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150098547A1. Автор: Ozawa Tetsuya,WAKASAYA Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-09.

X-ray generator and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: US9721749B2. Автор: Haruo Takahashi,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

X-ray detection signal processing device and x-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US20170153190A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-06-01.

RADIATION DETECTOR, RADIATION DETECTION APPARATUS, AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140124665A1. Автор: YASUI Kengo,OKAMOTO Kazutaka,TAKADA Shuji. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2014-05-08.

Meat processing device incorporating an x-ray analyzer

Номер патента: US20160081360A1. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2016-03-24.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2015184039A. Автор: 昌博佐久田,masahiro Sakuta. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-10-22.

Meat processing device, containing x-ray analyzer

Номер патента: RU2628400C1. Автор: Ханс ЛАРСЕН,Майя Кирстине ЭЛЬСОЙИ,Стефан ЛИНН,ЙЕНСЕН Аллан КЬЕРГАРД. Владелец: ФОСС АНАЛИТИКАЛ А/С. Дата публикации: 2017-08-16.

X-ray analyzer

Номер патента: JP6526983B2. Автор: イエルーン、リンセマ,マルク、アレクサンドル、パルス. Владелец: マルバーンパナリティカルビーヴィ. Дата публикации: 2019-06-05.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2022086669A. Автор: Yoshiyuki Kataoka,由行片岡,衛一古澤,Eiichi Furusawa,泰彦名越,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-06-09.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CN104076050A. Автор: 迫幸雄,川久航介. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-01.

X-RAY ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140284478A1. Автор: Kawakyu Kosuke,Sako Yukio. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-25.

Pulse processor of x-ray analyzing device

Номер патента: JPH10186041A. Автор: Yoshiro Onishi,佳郎大西. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1998-07-14.

Enhanced security threat detection

Номер патента: US11966004B2. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2024-04-23.

Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer

Номер патента: US4016419A. Автор: Yoshinori Hosokawa,Haruo Kotani,Haruyoshi Hirata. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1977-04-05.

Active, variable sample concentration method and apparatus for sub-ppb measurements and exemplary x-ray analysis applications thereof

Номер патента: EP3149461A1. Автор: George Allen,Zewu Chen,Danhong LI,Joseph SPINAZOLA,Andrew HIDER,Jon DUNPHY. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2017-04-05.

X-ray instrument with ambient temperature detector

Номер патента: US11719654B2. Автор: Peter Hardman. Владелец: Evident Scientific Inc. Дата публикации: 2023-08-08.

X-ray instrument with ambient temperature detector

Номер патента: WO2021207175A1. Автор: Peter Hardman. Владелец: Olympus Scientific Solutions Americas Corp.. Дата публикации: 2021-10-14.

X-ray instrument with ambient temperature detector

Номер патента: CA3179712A1. Автор: Peter Hardman. Владелец: Evident Scientific Inc. Дата публикации: 2021-10-14.

Arrangement of analyzer measuring window

Номер патента: CA2761392C. Автор: Kari Mann,Christian Von Alfthan. Владелец: OUTOTEC OYJ. Дата публикации: 2017-06-20.

Glass recovery method

Номер патента: US7450684B2. Автор: Yoshiyuki Tani,Takao Hisazumi. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2008-11-11.

X-ray tube and X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CN101236876B. Автор: 的场吉毅. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2012-05-09.

X-ray spectroscopy element and fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2003255089A. Автор: Takashi Yamada,隆山田,真堂井,Makoto Doui. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2003-09-10.

Compact, low noise power supply for advanced electronics applications, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: US20120020463A1. Автор: Igor Ponomarev,Sony Cheriyan,Ernest Cooley,Daniel Dunham,Paul Quantock,Robert C. Tatar. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2012-01-26.

X-ray analyzer

Номер патента: DE69403129T2. Автор: Kunio Nakajima,Shuzo Sudo. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1997-08-28.

Compact, low noise power supply for advanced electronics applications, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: WO2012018601A2. Автор: Igor Ponomarev,Sony Cheriyan,Ernest Cooley,Daniel Dunham,Paul Quantock,Robert C. Tatar. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-02-09.

X-ray analyzer.

Номер патента: FR1508461A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1968-01-05.

X-ray analyzer crystal made of a phthalate

Номер патента: DE2924779C2. Автор: Roland Mahwah N.J. Jenkins. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1984-11-15.

Compact, low noise power supply for advanced electronics applications, and x-ray analyzer applications thereof

Номер патента: WO2012018601A3. Автор: Igor Ponomarev,Sony Cheriyan,Ernest Cooley,Daniel Dunham,Paul Quantock,Robert C. Tatar. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2012-04-05.

X-ray generator and x-ray analyzer

Номер патента: US20170236678A1. Автор: Manabu Noguchi,Tomohiro Chaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170236678A1. Автор: Chaki Tomohiro,NOGUCHI Manabu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-17.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170236679A1. Автор: Chaki Tomohiro,NOGUCHI Manabu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-17.

Energy Dispersive X-Ray Analyzer and Method for Energy Dispersive X-Ray Analysis

Номер патента: US20150270094A1. Автор: Ikku Yutaka. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-24.

X-Ray Analyzer and Method for Correcting Counting Rate

Номер патента: US20200058464A1. Автор: Tsukamoto Kazunori. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-20.

Test apparatus for semiconductor package

Номер патента: US20140062496A1. Автор: Jun-young Ko,Jae-Ho Choi,Chan-Sik KWON,Seok-Won JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2014-03-06.

Spectroscopic element and charged particle beam device using the same

Номер патента: US09601308B2. Автор: Masanari Koguchi,Yoshihiro Anan. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2017-03-21.

Spectroscopic element and charged particle beam device using the same

Номер патента: US20150318144A1. Автор: Masanari Koguchi,Yoshihiro Anan. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-11-05.

Method of quantitative analysis of hexavalent chromium in chromate coating and method for controlling hazardous element in encapsulating resin of resin encapsulation semiconductor device

Номер патента: US20120264225A1. Автор: Miyuki Takenaka,Mitsuhiro Oki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-10-18.

Determining a position of a treatment instrument to perform a treatment on an object

Номер патента: US20240210169A1. Автор: Alois Regensburger,Daniel Ploss. Владелец: Siemens Healthineers AG. Дата публикации: 2024-06-27.

Removal of Masking Structures in Images for the Detection of Anomalies

Номер патента: US20190228257A1. Автор: Homayoun KARIMABADI. Владелец: Curemetrix Inc. Дата публикации: 2019-07-25.

Interferometer for x-ray phase contrast imaging

Номер патента: US11813102B2. Автор: Houxun Miao. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-11-14.

Acid phthalate crystal

Номер патента: CA1134069A. Автор: Ronald Jenkins. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1982-10-19.

Acid phthalate crystal

Номер патента: US4229499A. Автор: Ronald Jenkins. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1980-10-21.

Toner for electrostatic latent image development and image forming method

Номер патента: US20070009294A1. Автор: Koji Kuramashi. Владелец: Kyocera Mita Corp. Дата публикации: 2007-01-11.

Toner, toner container, two-component developer and image forming method and apparatus using the toner

Номер патента: EP1505452A2. Автор: Keiko Shiraishi,Mitsuo Aoki,Toyoshi Sawada,Masashi Nagayama,Kumi Hasegawa,Bing Shu. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2005-02-09.

System and method for manufacturing calcined gypsum with in-line calcination control device

Номер патента: EP4402110A1. Автор: Blair Walker. Владелец: United States Gypsum Co. Дата публикации: 2024-07-24.

Barrier film and laminate

Номер патента: US20240123715A1. Автор: Miki Fukugami. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2024-04-18.

Barrier film and laminate

Номер патента: EP4272953A1. Автор: Miki Fukugami. Владелец: Toppan Inc. Дата публикации: 2023-11-08.

System and method for manufacturing calcined gypsum with in-line calcination control device

Номер патента: CA3231612A1. Автор: Blair Walker. Владелец: United States Gypsum Co. Дата публикации: 2023-03-23.

Antiviral substrate, antiviral composition, method for manufacturing antiviral substrate, antimicrobial substrate, antimicrobial composition and method for manufacturing antimicrobial substrate

Номер патента: US20240251799A1. Автор: Kazuhiro Ito,Kiyotaka Tsukada,Kozo Takada,Kohei OTSUKA,Katsutoshi Horino. Владелец: Ibiden Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Cubic boron nitride sintered material and cutting tool including same

Номер патента: US11752559B2. Автор: Satoru Kukino,Akihiko Ueda,Yuichiro Watanabe,Hisaya Hama,Katsumi Okamura,Akito Ishii,Yoshiki ASAKAWA. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC HARDMETAL CORP. Дата публикации: 2023-09-12.

Cubic boron nitride sintered compact, and cutting tool containing same

Номер патента: EP4190469A1. Автор: Satoru Kukino,Akihiko Ueda,Yuichiro Watanabe,Hisaya Hama,Katsumi Okamura,Akito Ishii,Yoshiki ASAKAWA. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC HARDMETAL CORP. Дата публикации: 2023-06-07.

Cubic boron nitride sintered material and cutting tool including same

Номер патента: US20230211422A1. Автор: Satoru Kukino,Akihiko Ueda,Yuichiro Watanabe,Hisaya Hama,Katsumi Okamura,Akito Ishii,Yoshiki ASAKAWA. Владелец: SUMITOMO ELECTRIC HARDMETAL CORP. Дата публикации: 2023-07-06.

Production of notchless wafer

Номер патента: US5993292A. Автор: Hiroshi Oishi,Keiichiro Asakawa. Владелец: Super Silicon Crystal Research Institute Corp. Дата публикации: 1999-11-30.

Handheld x-ray analyzer

Номер патента: CA147095S. Автор: . Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2013-03-26.

Fluorescent x-ray analyzing method of solution specimen and specimen sampler used for the method

Номер патента: CA1232982A. Автор: Hideo Maruyama,Tadahiro Abe,Noriko Yasui,Shigetoshi Kurozumi. Владелец: Kawasaki Steel Corp. Дата публикации: 1988-02-16.

Sample holder for X-ray analyzer, attachment for X-ray analyzer, and X-ray analyzer

Номер патента: JP6075873B2. Автор: 貴之紺谷,弘諮住居,住居　弘諮,豪志小沢,真理大川,由紀子生天目. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-02-08.

Sample holder for x-ray analyzer, attachment for x-ray analyzer and x-ray analyzer

Номер патента: JP2014062888A. Автор: Takayuki Konya,Takeshi Ozawa,貴之紺谷,弘諮住居,Hiroshi Sumii,豪志小沢,真理大川,由紀子生天目,Mari Okawa,Yukiko Namatame. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-04-10.

Total reflection fluorescent x-ray analyzing method and total reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2006292558A. Автор: Yoshifumi Hata,良文畑. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2006-10-26.

TRANSMISSION X-RAY ANALYZER AND TRANSMISSION X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130032728A1. Автор: MATOBA Yoshiki. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

X-ray analysis method and X-ray analyzer

Номер патента: JP6795010B2. Автор: 裕二田中,田中　裕二,紗未奥村. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

X-ray analysis method and X-ray analyzer

Номер патента: JP6915374B2. Автор: 健二野村,野村　健二. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

X-ray detector and fluorescence x-ray analyzer using it

Номер патента: JP2005121400A. Автор: Takashi Shoji,孝庄司,Yukio Sako,幸雄迫,彰荒毛,Akira Arake. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2005-05-12.

X-ray condensing element and X-ray analyzer

Номер патента: JP2561600B2. Автор: 智也新井. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1996-12-11.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130034204A1. Автор: MATOBA Yoshiki,SATO Tsuneo,Nakatani Rintaro. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

Fluorescent x-ray analyzer with x-ray probe

Номер патента: SU894503A1. Автор: Станислав Алексеевич Иванов,Валерий Павлович Ефанов,Всеволод Григорьевич Лютцау,Николай Иванович Комяк,Дмитрий Алексеевич Гоганов,Владимир Петрович Гиманов. Владелец: Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник". Дата публикации: 1981-12-30.

X-ray analyzer with energy dispersive x-ray spectrometer

Номер патента: JP2009250867A. Автор: Yasunori Ota,Kazuyoshi Shibuya,谷和好渋,田康則太. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-10-29.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5102549B2. Автор: 幸一辻,晃典松田,薫堤本. Владелец: National Institute of Japan Science and Technology Agency. Дата публикации: 2012-12-19.

Sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: USD628709S1. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2010-12-07.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CA693534A. Автор: E. Bigelow John. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1964-09-01.

Fluorescent x-ray analyzing method of solution specimen and specimen sampler used for the method

Номер патента: ZA846957B. Автор: Hideo Maruyama,Tadahiro Abe,Noriko Yasui,Shigetoshi Kurozumi. Владелец: Kawasaki Steel Co. Дата публикации: 1985-04-24.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20120230468A1. Автор: SAKAI Noriaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-13.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3197104B2. Автор: 修三須藤,邦雄中島. Владелец: セイコーインスツルメンツ株式会社. Дата публикации: 2001-08-13.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: SU409121A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1973-11-30.

Multi-element x-ray analyzer of substance composition

Номер патента: RU2207551C2. Автор: Е.М. Рабинович,В.И. Филатов,О.Д. Дружков,А.В. Панарин,С.М. Бродский,В.П. Варварица,А.Ю. Горбатенко. Владелец: Государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации". Дата публикации: 2003-06-27.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPS6441850A. Автор: Kenji Kishibe,Masanori Obata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-02-14.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3521425B2. Автор: 章二桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2004-04-19.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPH1114570A. Автор: Shoji Kuwabara,章二桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1999-01-22.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPH1019809A. Автор: Akira Kobayashi,明小林,Kazuji Yokoyama,和司横山. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 1998-01-23.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS6480842A. Автор: Hidenobu Ishida,Takehiko Nakatani. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1989-03-27.

X-ray analyzer and analysis method thereof

Номер патента: JP3950866B2. Автор: 立行前川,晋内藤,幹雄泉,昭雄河合,総一郎森本. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-08-01.

X-ray analyzer

Номер патента: JPH01132943A. Автор: Tatsuya Matsuzaki,龍哉松崎. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-05-25.

X-ray analyzer

Номер патента: SU1753380A1. Автор: Валерий Васильевич Петьков,Александр Вольфович Поленур,Евгений Иосифович Берсудский,Роман Романович Карпов. Владелец: Опытное Конструкторско-Технологическое Бюро С Опытным Производством Института Металлофизики Ан Усср. Дата публикации: 1992-08-07.

Номер патента: SU550565A1. Автор: Борис Исаакович Верховский,Виктор Алексеевич Сотников,Николай Михайлович Пронин,Раиса Никитична Рутовская,Леонид Наумович Баскин,Сарра Хоновна Барон. Владелец: Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт "Цветметавтоматика". Дата публикации: 1977-03-15.

Номер патента: SU545906A1. Автор: Николай Иванович Комяк,Александр Андреевич Евграфов,Дмитрий Алексеевич Гоганов,Гарольд Дмитриевич Дмитриев,Григорий Михайлович Талалай,Даниил Моисеевич Хейкер. Владелец: Предприятие П/Я М-5659. Дата публикации: 1977-02-05.

Номер патента: RU2427650C2. Автор: Александр Николаевич Ромашкин,Владимир Семенович Дуб,Алексей Владимирович Дуб,Анатолий Павлович Куликов,Антон Николаевич Мальгинов,Иван Александрович Щепкин,Сергей Юрьевич Афанасьев,Эдуард Юльевич Колпишон,Елена Владимировна Макарычева,Ольга Александровна Комолова. Владелец: Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России). Дата публикации: 2011-08-27.

Method of steel out-furnace treatment

Номер патента: RU2362811C1. Автор: Сергей Иванович Марков,Александр Николаевич Ромашкин,Владимир Семенович Дуб,Андрей Борисович Лятин,Алексей Владимирович Дуб,Сергей Борисович Ерошкин,Людмила Георгиевна Ригина,Иван Васильевич Зинковский,Виталий Георгиевич Волков,Юрий Витальевич Гордеев,Геннадий Геннадьевич Швецов,Татьяна Васильевна Морозова,Александр Васильевич Зиборов. Владелец: Открытое акционерное общество "Научно-производственное объединение "Центральный научно-исследовательский институт технологии машиностроения" ОАО НПО "ЦНИИТМАШ". Дата публикации: 2009-07-27.

X-RAY ANALYZER

Вам могут быть интересны следующие патенты

Главная

Проекты и услуги

Контакты