X-RAY ANALYZING APPARATUS
Номер патента: US20170184519A1
Опубликовано: 29-06-2017
Автор(ы): Sako Yukio
Принадлежит: RIGAKU CORPORATION
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-06-2017
Автор(ы): Sako Yukio
Принадлежит: RIGAKU CORPORATION
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
X-ray analyzer with pulse amplitude shift correction
Номер патента: DE69327609D1. Автор: Hendrik Johannes Jan Bolk,Georges Charles Petronel Zielk. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2000-02-24.