X-RAY ANALYZING APPARATUS

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

X-ray analyzer with pulse amplitude shift correction

Номер патента: DE69327609D1. Автор: Hendrik Johannes Jan Bolk,Georges Charles Petronel Zielk. Владелец: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS NV. Дата публикации: 2000-02-24.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: EP3196636A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-07-26.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: US9778214B2. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-03.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: US09633753B2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: US09335280B2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-05-10.

Fluorescent X-ray analyzer, fluorescent X-ray analysis method, and fluorescent X-ray analysis program

Номер патента: US20060215810A1. Автор: Yasuhiro Usui. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-09-28.

X-ray analyzer

Номер патента: US09658175B2. Автор: Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-05-23.

Fluorescent x-ray analyzer including detection signal correction based on position variation

Номер патента: US6324251B1. Автор: Shoji Kuwabara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2001-11-27.

X-ray analyzer

Номер патента: US20230236142A1. Автор: Keijiro Suzuki,Kanji Kobayashi,Yuji Morihisa,Kriengkamol TANTRAKARN. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP2021188961A. Автор: Kenji Sato,賢治 佐藤. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-12-13.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107209132B. Автор: 山田康治郎,原真也,松尾尚,本间寿,片冈由行. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2019-06-21.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107923859A. Автор: 山田康治郎,原真也,松尾尚,本间寿,片冈由行. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN107076687A. Автор: 山田康治郎,原真也,堂井真. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-18.

Complex x-ray analyzing apparatus

Номер патента: JP2002350373A. Автор: Masao Sato,正雄 佐藤. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-12-04.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2015121479A. Автор: Keiichi Tanaka,田中 啓一,啓一 田中,Narikazu Odawara,成計 小田原,小田原 成計. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-07-02.

X-ray analyzer

Номер патента: EP3745122B1. Автор: Shigeru Honda,Masahiro Asai,Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-05-01.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20200378909A1. Автор: Shigeru Honda,Masahiro Asai,Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-12-03.

Optical axis adjustment method for X-ray analyzer and X-ray analyzer

Номер патента: US09442084B2. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Optical axis adjustment method for x-ray analyzer and x-ray analyzer

Номер патента: US20150146859A1. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Optical axis adjustment device for x-ray analyzer

Номер патента: US20150146860A1. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-05-28.

Optical axis adjustment device for X-ray analyzer

Номер патента: US09562867B2. Автор: Kouji KAKEFUDA,Ichiro Tobita. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-02-07.

X-ray analyzing apparatus and method

Номер патента: US20150233845A1. Автор: Tomoyuki Fukuda,Akihiro Ikeshita,Kosuke Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

Analytical method and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: JP7054717B2. Автор: 元気 衣笠. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

X-Ray Analyzer and Spectrum Generation Method

Номер патента: US20190049396A1. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

X-ray analyzer and spectrum generation method

Номер патента: US10739284B2. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-08-11.

X-ray analyzer system and method of increasing response time

Номер патента: US5570406A. Автор: Shintaro Komatani. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1996-10-29.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: US20090141867A1. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2009-06-04.

X-ray fluorescence analysis method, X-ray fluorescence analysis program, and fluorescence X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2018168939A1. Автор: 由行 片岡,航介 川久. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: KR20090016455A. Автор: 요시유끼 가따오까,히사유끼 고오노,마꼬또 도이,노보루 야마시따. Владелец: 가부시키가이샤 리가쿠. Дата публикации: 2009-02-13.

Fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: CN101416047A. Автор: 堂井真,片冈由行,河野久征,山下升. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2009-04-22.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: KR20120103476A. Автор: 노리아키 사카이. Владелец: 에스아이아이 나노 테크놀로지 가부시키가이샤. Дата публикации: 2012-09-19.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5307504B2. Автор: 範昭 坂井,稔幸 高原,吉毅 的場. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN100578205C. Автор: 住居弘咨,青柳光一. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2010-01-06.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5307503B2. Автор: 吉毅 的場,寛治 長沢. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-10-02.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: US7970101B2. Автор: Toshiyuki Takahara,Noriaki Sakai,Yoshiki Matoba. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2011-06-28.

Fluorescent-x-ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS6064236A. Автор: Shigemi Komatsu,小松 繁美. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1985-04-12.

Fluorescent x-ray analyzer with quickly evacuable cover cases

Номер патента: GB9724773D0. Автор: . Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1998-01-21.

Fluorescent x-ray analyzer with quickly evacuable cover cases

Номер патента: GB2319835B. Автор: Shoji Kuwabara. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2000-07-26.

X-ray analyzer for analyzing plastic

Номер патента: JP4005547B2. Автор: 清 長谷川. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2007-11-07.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20220003691A1. Автор: Soejima Hiroyoshi. Владелец: APPLIED SCIENCE LABORATORY CO., LTD. Дата публикации: 2022-01-06.

SAMPLE HANDLING APPARATUS FOR PRESSURIZED FLUIDS AND X-RAY ANALYZER APPLICATIONS THEREOF

Номер патента: US20190056337A1. Автор: Chen Zewu,Dunham Daniel,SPINAZOLA,III Joseph J,BURDETT Jay. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-21.

MOBILE TRANSPORT AND SHIELDING APPARATUS FOR REMOVABLE X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160254068A1. Автор: Pomerantz Steven M.,Burdett John H.,Delaney Rory D.. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2016-09-01.

Fluorescent x ray analyzer

Номер патента: JPS52146688A. Автор: Keizo Kono. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1977-12-06.

Fluorescence X-ray Analyzer

Номер патента: KR101046018B1. Автор: 요시유끼 가따오까,에이이찌 후루사와,히사유끼 고오노. Владелец: 가부시키가이샤 리가쿠. Дата публикации: 2011-07-01.

X-ray analyzer

Номер патента: JPWO2013084904A1. Автор: 健太郎 西方,聡史 大橋,隆司 小松原. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-04-27.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3996821B2. Автор: 澄人 大澤. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2007-10-24.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5100063B2. Автор: 則生 笹山. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2012-12-19.

Mobile transport and shielding apparatus for removable x-ray analyzer

Номер патента: WO2013052556A2. Автор: John H. Burdett,Steven M. POMERANTZ,Rory D. Delaney. Владелец: X-RAY OPTICAL SYSTEMS, INC.. Дата публикации: 2013-04-11.

Fluorescent x-ray analyzing scale

Номер патента: JPS5619445A. Автор: Kazuo Nomura. Владелец: Matsushita Electric Works Ltd. Дата публикации: 1981-02-24.

X-ray analyzer

Номер патента: US20040136500A1. Автор: Masami Amemiya,Masato Ozeki. Владелец: Jeol Engineering Co Ltd. Дата публикации: 2004-07-15.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: US7729471B2. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2010-06-01.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2017201313A. Автор: Satoshi Ohashi,健太郎 西方,聡史 大橋,隆司 小松原,Takashi Komatsubara,Kentaro Nishikata. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-11-09.

Fluorescent x-ray analyzing device

Номер патента: JPS6073445A. Автор: Hidenobu Ishida,Noriaki Nakanishi,石田 秀信,中西 典顕. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1985-04-25.

Pre-filmed precision sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: HK1152110A1. Автор: John H Burdett,Daniel L Dunham,James B Quinn. Владелец: X Ray Optical Systemsinc. Дата публикации: 2012-02-17.

Fluorescence X-Ray Analyzer

Номер патента: SU486260A1. Автор: Крамер Лотар,Гюнтер Хельмут. Владелец: . Дата публикации: 1975-09-30.

X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis

Номер патента: US09958404B2. Автор: Jan Skov Pedersen. Владелец: Bruker AXS GmbH. Дата публикации: 2018-05-01.

Energy dispersive X-ray analyzer and method for energy dispersive X-ray analysis

Номер патента: US9349572B2. Автор: Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-05-24.

Energy Dispersive X-Ray Analyzer and Method for Energy Dispersive X-Ray Analysis

Номер патента: US20150270094A1. Автор: Yutaka Ikku. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-09-24.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170269012A1. Автор: NAGATA Atsushi,Nakayama Satoshi,TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-21.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20200378909A1. Автор: Tsukamoto Kazunori,Honda Shigeru,Asai Masahiro. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-03.

Radiation detector, X-ray analyzer using the same, and radiation detection method

Номер патента: JP6182758B2. Автор: 拓人 作村,保一 中江,正孝 前山,一之 松下. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-23.

SENSITIVITY CORRECTION COEFFICIENT CALCULATING SYSTEM AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170371047A1. Автор: MARUI Takao. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-12-28.

Optical axis adjustment method for x-ray analyzer and x-ray analyzer

Номер патента: GB201419386D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-12-17.

Non-homogeneous sample scanning apparatus, and X-ray analyzer applications thereof

Номер патента: CN105793696A. Автор: P·陆,陈泽武,G·艾伦,J·斯皮纳佐拉. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2016-07-20.

fluorescent X-ray analyzer and sample display method thereof

Номер патента: CN105388176B. Автор: 八木勇夫. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-12-06.

X-ray analyzing apparatus and method

Номер патента: US20150233845A1. Автор: Tomoyuki Fukuda,Akihiro Ikeshita,Kosuke Shimizu. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2015-08-20.

Optical axis adjustment device for x-ray analyzer

Номер патента: GB201419382D0. Автор: . Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-12-17.

X-ray analyzer with adjustable slit diaphragm.

Номер патента: DE69017857D1. Автор: Lange Roelof De. Владелец: Philips Electronics NV. Дата публикации: 1995-04-20.

X-ray analyzer with an X-ray optical semiconductor component

Номер патента: DE19852955A1. Автор: Volker Lehmann,Rainer Golenhofen. Владелец: Bruker AXS Analytical X Ray Systems GmbH. Дата публикации: 2000-05-18.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5998666B2. Автор: 健二 野村,野村 健二. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-09-28.

X-ray analyzer

Номер патента: EP3054318A1. Автор: Keiichi Tanaka,Kazuo Chinone. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-08-10.

X-ray analyzer and its optical axis adjustment method

Номер патента: JP6871629B2. Автор: 信太郎 小林,克彦 稲葉,徹 光永. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2021-05-12.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2016142729A. Автор: Keiichi Tanaka,Kazuo Kayane,田中 啓一,啓一 田中,一夫 茅根. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2016-08-08.

X-Ray Analyzer and Spectrum Generation Method

Номер патента: US20190049396A1. Автор: Takanori Murano. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2019-02-14.

X-ray generator and X-ray analyzer

Номер патента: US10278273B2. Автор: Takao Marui. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2019-04-30.

X-ray analyzer

Номер патента: US09835571B2. Автор: Takao Marui,Tetsuya Yoneda,Masashi Matsuo. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

X-ray generator and x-ray analyzer

Номер патента: US20180007768A1. Автор: Takao Marui. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2018-01-04.

OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD FOR X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150146859A1. Автор: Tobita Ichiro,KAKEFUDA Kouji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-28.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: CN105277579B. Автор: 高桥春男,八木勇夫,广濑龙介,高原稔幸. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-05-21.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20180007768A1. Автор: MARUI Takao. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-01-04.

X-RAY GENERATOR AND FLUORESCENT X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160118215A1. Автор: Takahashi Haruo,HIROSE Ryusuke. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-28.

X-ray analyzing system for x-ray scattering analysis

Номер патента: US20140270079A1. Автор: Pedersen Jan Skov. Владелец: . Дата публикации: 2014-09-18.

X-ray analyzing device

Номер патента: JPS55163444A. Автор: Mutsumi Sato. Владелец: NIPPON X SEN KK. Дата публикации: 1980-12-19.

Goniometer for x-rays analyzer

Номер патента: JPS56111447A. Автор: Eiji Watanabe. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1981-09-03.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150083909A1. Автор: Ohashi Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-26.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170097309A1. Автор: Matsuo Masashi,MARUI Takao,Yoneda Tetsuya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2017-04-06.

OPTICAL AXIS ADJUSTMENT DEVICE FOR X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150146860A1. Автор: Tobita Ichiro,KAKEFUDA Kouji. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2015-05-28.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20160231259A1. Автор: TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-11.

X-Ray Analyzer

Номер патента: US20150268179A1. Автор: SAKUTA Masahiro. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-24.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150268180A1. Автор: HIROSE Ryusuke. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-24.

Time constant control system for x-ray analyzer

Номер патента: FR1374545A. Автор: . Владелец: Compagnie Francaise Thomson Houston SA. Дата публикации: 1964-10-09.

X-ray analyzer

Номер патента: JP6589461B2. Автор: 田中 啓一,啓一 田中,永田 篤士,篤士 永田,哲 中山,中山 哲,一夫 茅根. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2019-10-16.

X-ray analyzer and computer program

Номер патента: JPWO2015125604A1. Автор: 聡史 大橋,隆司 小松原,浩行 越川. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-03-30.

Fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: CN113748333B. Автор: 片冈由行,后藤直人. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-07-12.

X-ray analyzer

Номер патента: JP7165400B2. Автор: 哲也 小澤,剛 刑部,和樹 尾本. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-11-04.

Fluorescent light x-ray analyzer

Номер патента: JP2022187637A. Автор: Yoshiyuki Kataoka,由行 片岡,Yasuyuki Yamamoto,渉 松田,恭之 山本,Wataru Matsuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Energy dispersive X-ray analyzer

Номер патента: US5903004A. Автор: Shunsuke Koshihara,Mitsugu Sato,Naomasa Suzuki. Владелец: Hitachi Instruments Engineering Co Ltd. Дата публикации: 1999-05-11.

Fluorescent x ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS51146893A. Автор: Saburo Mori,Hiromichi Mitsuda,Toshihiko Miyazawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1976-12-16.

Fluorescent x ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS51146892A. Автор: Saburo Mori,Hiromichi Mitsuda,Toshihiko Miyazawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1976-12-16.

X-ray analyzer and X-ray generator

Номер патента: JPWO2020084890A1. Автор: 朋樹 青山. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2021-09-16.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: JPS59214743A. Автор: Yoshiaki Ono,小野 芳章. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1984-12-04.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140326881A1. Автор: Ohashi Satoshi,Nishikata Kentaro,Komatsubara Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-06.

Method for measuring film thickness by using electron probe x-ray analyzer

Номер патента: JPS6416905A. Автор: Toyohiko Okumura. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1989-01-20.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5297786A. Автор: Tadao Watabe. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1977-08-16.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5397895A. Автор: Shojiro Tagata,Kiyoshi Harasawa,Jiyun Suzumi. Владелец: Nihon Denshi KK. Дата публикации: 1978-08-26.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS5326184A. Автор: Tsukasa Tanoe. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1978-03-10.

Secondary target device and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: JP4161513B2. Автор: 章二 桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2008-10-08.

X-ray analyzer using electron beam

Номер патента: US7592591B2. Автор: Satoshi Notoya. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-09-22.

X-ray analyzer

Номер патента: FR1515749A. Автор: . Владелец: Associated Electrical Industries Ltd. Дата публикации: 1968-03-01.

Analyzing apparatus and calibration method

Номер патента: US09606249B2. Автор: Yusuke Mizuno,Tomoki Aoyama. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-03-28.

Analyzing apparatus and calibration method

Номер патента: US09594037B2. Автор: Yusuke Mizuno,Tomoki Aoyama. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-03-14.

ANALYZING APPARATUS, ANALYZING METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20200209173A1. Автор: MIZUNO Yusuke,AOYAMA Tomoki,MATSUMOTO Erika. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2020-07-02.

X-ray analyzer and x-ray analysis method

Номер патента: US20220283101A1. Автор: Daisuke Harada,Yasuyuki Keyaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-09-08.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: US11808718B2. Автор: Daisuke Harada,Yasuyuki Keyaki. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Analyzing apparatus, system, analyzing method, and program

Номер патента: US20190017916A1. Автор: Yusuke Mizuno,Tomoki Aoyama,Eiichi Nagaoka,Shunsuke Murata,Kyoko KASSAI. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-01-17.

X-ray analyzer

Номер патента: US09784700B2. Автор: masahiro Sakuta. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

X-Ray Analyzer and Method for Correcting Counting Rate

Номер патента: US20200058464A1. Автор: Kazunori Tsukamoto. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

RADIATION ANALYZING APPARATUS AND RADIATION ANALYZING METHOD

Номер патента: US20170276621A1. Автор: NAGATA Atsushi,Nakayama Satoshi,TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-28.

Radiation analyzing apparatus and radiation analyzing method

Номер патента: US10801977B2. Автор: Keiichi Tanaka,Atsushi Nagata,Satoshi Nakayama,Kazuo Chinone. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2020-10-13.

Analyzing apparatus and calibration method

Номер патента: US20150338357A1. Автор: Yusuke Mizuno,Tomoki Aoyama. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-11-26.

ANALYZING APPARATUS AND CALIBRATION METHOD

Номер патента: US20150338534A1. Автор: MIZUNO Yusuke,AOYAMA Tomoki. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-26.

Analyzing apparatus and calibration method

Номер патента: CN105092624A. Автор: 水野裕介,青山朋树. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-11-25.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2022086669A. Автор: Yoshiyuki Kataoka,由行 片岡,衛一 古澤,Eiichi Furusawa,泰彦 名越,Yasuhiko Nagoshi. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2022-06-09.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20220283101A1. Автор: HARADA Daisuke,KEYAKI Yasuyuki. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2022-09-08.

TRANSMISSION X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20130216024A1. Автор: MATOBA Yoshiki. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2013-08-22.

MOBILE TRANSPORT AND SHIELDING APPARATUS FOR REMOVABLE X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140328468A1. Автор: Pomerantz Steven M.,Burdett John H.,Delaney Rory D.. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-06.

Sample analyzing apparatus

Номер патента: KR102037436B1. Автор: 조대근,김승곤,최엄두. Владелец: 주식회사 포스코. Дата публикации: 2019-11-26.

Meat processing device incorporating an X-ray analyzer

Номер патента: US09854817B2. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2018-01-02.

Meat processing device incorporating an x-ray analyzer

Номер патента: CA2910117C. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2018-07-10.

Transmission x-ray analyzer and transmission x-ray analysis method

Номер патента: CN102954973A. Автор: 的场吉毅. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2013-03-06.

Meat processing device incorporating an x-ray analyzer

Номер патента: US20160081360A1. Автор: Stefan Linn,Hans Larsen,Maja Kirstine ELSOEE,Allan KJAERGAARD JENSEN. Владелец: Foss Analytical AS. Дата публикации: 2016-03-24.

Analyzing apparatus by fluorescence x-ray

Номер патента: JPS57108745A. Автор: Kenjiro Hayashi. Владелец: Suwa Seikosha KK. Дата публикации: 1982-07-06.

Analyzer apparatus and method of image processing

Номер патента: EP4123299B8. Автор: Naoya Tanaka,Masaki Morita. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Sample analyzing apparatus and sample analyzing method

Номер патента: US20130248706A1. Автор: Haruko Akutsu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-09-26.

Radiation Analyzing Apparatus

Номер патента: US20180275079A1. Автор: TANAKA Keiichi,Chinone Kazuo. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2018-09-27.

Sample analyzing apparatus by charged particle beams

Номер патента: JPS5442196A. Автор: Masabumi Jinno. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1979-04-03.

X-ray detection signal processing device and x-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US20170153190A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-06-01.

X-ray detection signal processing device and X-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US09791393B2. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

X-ray detection signal processing device and x-ray analyzing apparatus using same

Номер патента: US20170153190A1. Автор: Yukio Sako. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-06-01.

RADIATION DETECTOR, RADIATION DETECTION APPARATUS, AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20140124665A1. Автор: YASUI Kengo,OKAMOTO Kazutaka,TAKADA Shuji. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2014-05-08.

X-ray analyzer

Номер патента: JP6526983B2. Автор: イエルーン、リンセマ,マルク、アレクサンドル、パルス. Владелец: マルバーン パナリティカル ビー ヴィ. Дата публикации: 2019-06-05.

X-ray optical component device and X-ray analyzer

Номер патента: US09490038B2. Автор: Tetsuya Ozawa,Kenji Wakasaya. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

X-RAY OPTICAL COMPONENT DEVICE AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20150098547A1. Автор: Ozawa Tetsuya,WAKASAYA Kenji. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-09.

X-ray generator and fluorescent X-ray analyzer

Номер патента: US9721749B2. Автор: Haruo Takahashi,Ryusuke HIROSE. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2015184039A. Автор: 昌博 佐久田,masahiro Sakuta. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2015-10-22.

Pulse processor of x-ray analyzing device

Номер патента: JPH10186041A. Автор: Yoshiro Onishi,佳郎 大西. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1998-07-14.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CN104076050A. Автор: 迫幸雄,川久航介. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2014-10-01.

X-RAY ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140284478A1. Автор: Kawakyu Kosuke,Sako Yukio. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-25.

Analyzing apparatus

Номер патента: US20150331401A1. Автор: Yusuke Yokoi. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-11-19.

Gas analyzer apparatus and method for controlling gas analyzer apparatus

Номер патента: US20220042948A1. Автор: Naoki Takahashi,Prakash Sreedhar Murthy. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2022-02-10.

Gas analyzer apparatus and method for controlling gas analyzer apparatus

Номер патента: US20220221426A1. Автор: Naoki Takahashi,Prakash Sreedhar Murthy. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2022-07-14.

Sample analyzing apparatus

Номер патента: US12111254B2. Автор: Hiroshi Uchihara,Takahito Inoue,Kyoji Shibuya. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20170227563A1. Автор: Kenichi Nishigaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-08-10.

Polarization analyzing apparatus and method for polarization analysis

Номер патента: EP1271115A3. Автор: Takeshi Nagashima,Kouichi Hiranaka,Masanori Hangyo. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2005-01-26.

Image analyzing apparatus and program

Номер патента: US9811898B2. Автор: Takeshi Nakamura,Hiromasa Suzuki,Koichi Inagaki,Hiroyuki Hishida,Takashi MICHIKAWA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2017-11-07.

Mass analysis data analyzing apparatus and program thereof

Номер патента: US20090026360A1. Автор: Kazuo Yamauchi,Yoshitake Yamamoto,Yoshikatsu Umemura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2009-01-29.

Material segregation, density, and moisture analyzing apparatus and method

Номер патента: US20020180460A1. Автор: Donald Geisel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-05.

Material segregation, density, and moisture analyzing apparatus and method

Номер патента: EP1512022A1. Автор: Donald J. Geisel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-09.

Material segregation, density, and moisture analyzing apparatus and method

Номер патента: WO2003102606A1. Автор: Donald J. Geisel. Владелец: Geisel Donald J. Дата публикации: 2003-12-11.

Gas analyzer apparatus

Номер патента: US20240266155A1. Автор: Naoki Takahashi,Prakash Sreedhar Murthy. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2024-08-08.

Gas analyzer apparatus

Номер патента: US20240255374A1. Автор: Paul Basham. Владелец: Crowcon Detection Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Image analyzing apparatus and program

Номер патента: US09811898B2. Автор: Takeshi Nakamura,Hiromasa Suzuki,Koichi Inagaki,Hiroyuki Hishida,Takashi MICHIKAWA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2017-11-07.

Analyzing apparatus control system and program for the same

Номер патента: US09759734B2. Автор: Tohru Shiohama. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Driving apparatus for analyzing apparatus

Номер патента: US09515582B2. Автор: Kenji Nakanishi,Yoshiyuki Fujii. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-06.

Fluorescence image analyzing apparatus, image processing method of fluorescence image, and computer program

Номер патента: US20200249165A1. Автор: Shohei Matsumoto,Shruti Sharma. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2020-08-06.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20240241142A1. Автор: Takashi Goto,Shozo Hashimoto,Masahiro Masubuchi,Tomohiro Sugimura,Yasuo AKIZAWA. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Gas analyzing apparatus and control method

Номер патента: US12078611B2. Автор: Naoki Takahashi. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Analyzing apparatus and method using a pore device

Номер патента: US20220365064A1. Автор: Wei-Lun Hsu,Hirofumi DAIGUJI. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2022-11-17.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20240142485A1. Автор: WEI Liu,Xinmin Wang,Hui Xie,Fei Tian,LingCun MENG. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Electroplating solution analyzing apparatus

Номер патента: US09964518B2. Автор: Naoto Nakayama. Владелец: Hioki Denki KK. Дата публикации: 2018-05-08.

Particle analyzing apparatus

Номер патента: US09857282B2. Автор: Takamasa Asano,Naoki Takeda,Kazuhiro Koizumi,Yoshiki Hasegawa. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-02.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US09720006B2. Автор: Naoki OOE. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Microparticle analyzing apparatus and data displaying method

Номер патента: US09619907B2. Автор: Yoshitsugu Sakai. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Analyzing apparatus, solid-liquid separation device and solid-liquid separation method

Номер патента: US09594089B2. Автор: Kazuya Fukuda,Kazunori Mototsu,Toshihiro Ootani. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Biological sample analyzing apparatus

Номер патента: US09568488B2. Автор: Yukie Nakazawa,Teruya Matsumoto. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2017-02-14.

Exhaust gas analyzing apparatus

Номер патента: US09568396B2. Автор: Masaru Miyai. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Analyzing apparatus

Номер патента: US09536720B2. Автор: Akira Imai,Tomoyoshi Sato. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2017-01-03.

Analyzing apparatus, analyzing method and a non-transitory storage medium

Номер патента: US09529007B2. Автор: Toru Mizumoto,Hiroo Tatsutani. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Immunological analyzing apparatus

Номер патента: US09494611B2. Автор: Yoshiyuki Tanaka,Takaaki Hagiwara,Kazunori Yamazawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-15.

Exhaust gas analyzing apparatus

Номер патента: US09468877B2. Автор: Manabu Ito,Masaru Miyai,Tomoshi Yoshimura. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2016-10-18.

Cell analyzing apparatus and cell analyzing method

Номер патента: US09448228B2. Автор: Akane Suzuki,Sunao Takeda,Yo Kato,Takahiro SHIOYAMA,Nae Hinata. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-09-20.

Cell analyzing apparatus and cell analyzing method

Номер патента: US09443127B2. Автор: Kenichi Nomura,Hirotsugu Kubo,Akane Suzuki,Sunao Takeda,Yo Kato,Takahiro SHIOYAMA,Nae Hinata. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Apparatus for charging samples to analyzing apparatus

Номер патента: US3730364A. Автор: T Nakamura,H Koide. Владелец: Mitsubishi Kasei Corp. Дата публикации: 1973-05-01.

Particle analyzing apparatus and method of moving particles in suspension through such apparatus

Номер патента: CA1247678A. Автор: Oscar Proni,Bobby D. James. Владелец: Coulter Electronics Inc. Дата публикации: 1988-12-28.

Analyzer apparatus featuring a simplified incubator

Номер патента: CA1131932A. Автор: Thomas C. Jessop. Владелец: Eastman Kodak Co. Дата публикации: 1982-09-21.

Sample analyzing apparatus

Номер патента: EP3957979A1. Автор: Hiroshi Uchihara,Takahito Inoue,Kyoji Shibuya. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2022-02-23.

Test strip analyzing apparatus having wheel ejector

Номер патента: EP2696761A2. Автор: In Hwan Choi,Jeong In Bag. Владелец: PHILOSYS CO Ltd. Дата публикации: 2014-02-19.

Liquid analyzing apparatus

Номер патента: US4239394A. Автор: Poul E. Aegidius,Miloslav Zakora,Jorgen F. Nielsen. Владелец: N Foss Electric AS. Дата публикации: 1980-12-16.

Analyzing apparatus using terahertz wave radiation

Номер патента: WO2010084765A4. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-11-18.

Automated analyzing apparatus

Номер патента: US9989550B2. Автор: Yoshihiro Suzuki,Yoichi ARUGA,Takashi Nakasawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20180267070A1. Автор: Makoto Ogasawara,Kenji Yamasaki,Takehiko Onuma,Hiroko Takayama,Reiko MARUYAMA. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

Image analyzing apparatus and program

Номер патента: US20160232653A1. Автор: Takeshi Nakamura,Hiromasa Suzuki,Koichi Inagaki,Hiroyuki Hishida,Takashi MICHIKAWA. Владелец: University of Tokyo NUC. Дата публикации: 2016-08-11.

Gas analyzer apparatus

Номер патента: US11942312B2. Автор: Naoki Takahashi,Prakash Sreedhar Murthy. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2024-03-26.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20130243657A1. Автор: Hajime Yamazaki,Keiko Yoshikawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-09-19.

Automatic analyzing apparatus, reagent container stock apparatus, and specifying method

Номер патента: US20180364267A1. Автор: Hiroo Shinohara. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2018-12-20.

Gas analyzing apparatus and method

Номер патента: US20070148510A1. Автор: Milos Milacic. Владелец: Ford Motor Co. Дата публикации: 2007-06-28.

Mass analysis data analyzing apparatus and program thereof

Номер патента: US20100228498A1. Автор: Kazuo Yamauchi,Yoshitake Yamamoto,Yoshikatsu Umemura. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2010-09-09.

Analyzing apparatus

Номер патента: EP2500711A3. Автор: Hideya Okada,Daisuke Miyawaki,Yasuhiro Yonetani. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2012-11-28.

Electrolyte analyzing apparatus and measurement data processing method of the same

Номер патента: US20090194431A1. Автор: Isao Ishibe. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2009-08-06.

Sample-analyzing apparatus

Номер патента: US20220412848A1. Автор: Shinji Yoshioka,Tsukasa Shishika,Akimasa Osaka. Владелец: Hitachi High Tech Corpo Ration. Дата публикации: 2022-12-29.

Analyzing apparatus in which liquid can be stirred and analyzing method thereof

Номер патента: US5104807A. Автор: Hiroshi Mitsumaki,Fujiya Takahata. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1992-04-14.

Reagent kit for analyzing apparatus

Номер патента: CA2771198C. Автор: Stephan Sattler,Klaus Oswald,Gottfried Senftner,Reinhold Kraemer,Georg Werner Arras,Markus Winkenbach. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2015-02-24.

Cell analyzing apparatus

Номер патента: US5488469A. Автор: Koji Yamamoto,Michio Nishimura,Masahiro Hanafusa,Fumio Onuma. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 1996-01-30.

Selective test pack feeder for biochemical analyzing apparatus

Номер патента: US4751184A. Автор: Hidechika Hayashi,Yuji Higo. Владелец: Tosoh Corp. Дата публикации: 1988-06-14.

Colorimetric chemical analyzing apparatus

Номер патента: US4484817A. Автор: Asao Hayashi,Nagahiro Gocho,Hitomi Tojiki,Koji Kambara,Toru Nobuto. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1984-11-27.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US4536369A. Автор: Hideaki Okamura,Masahiko Sakurada,Nagahiro Gocho,Sugio Manabe. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1985-08-20.

Analyzing apparatus

Номер патента: MY167162A. Автор: Kita Hiroaki,Kawakami Hiroyuki,Inoue Tatsuya. Владелец: Rigaku Denki Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-13.

Automatic analyzing apparatus and method for clinical examination

Номер патента: US5100622A. Автор: Tomonori Mimura,Takehide Satou. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1992-03-31.

Specimen analyzing apparatus

Номер патента: US9395382B2. Автор: Takaaki Nagai,Takahito MIHARA. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2016-07-19.

Gas analyzing apparatus

Номер патента: US20150185157A1. Автор: Yusuke Mizuno,Takuji Oida,Misato ARAKAWA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

Gas analyzing apparatus

Номер патента: US9448179B2. Автор: Yusuke Mizuno,Takuji Oida,Misato ARAKAWA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Analyzing Apparatus Control System And Program For The Same

Номер патента: US20140022254A1. Автор: Tohru Shiohama. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

Analyzing apparatus and method, and image capturing system

Номер патента: US11763437B2. Автор: Atsushi Goto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-19.

Electrophoresis analyzing apparatus, electrophoresis analysis method, and program

Номер патента: US20200103372A1. Автор: Minoru Asogawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2020-04-02.

Automatic analyzing apparatus and jig

Номер патента: US11971295B2. Автор: Shin Iida. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Microparticle analyzing apparatus and data displaying method

Номер патента: US20170186198A1. Автор: Yoshitsugu Sakai. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Fluorescence image analyzing apparatus, image processing method of fluorescence image, and computer program

Номер патента: US20180299381A1. Автор: Shohei Matsumoto,Shruti Sharma. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Gas analyzing apparatus and control method

Номер патента: US20240068989A1. Автор: Naoki Takahashi. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2024-02-29.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20220299540A1. Автор: Mitsuo Okamoto,Naoto Sato,Masaaki Saitou,Tamaki Honda,Reiko MARUYAMA,Atsushi Hosooka. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US11959932B2. Автор: Mitsuo Okamoto,Naoto Sato,Masaaki Saitou,Tamaki Honda,Reiko MARUYAMA,Atsushi Hosooka. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-04-16.

Spectroscopic analyzing apparatus

Номер патента: US20060279733A1. Автор: Hisaki Kato. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2006-12-14.

Electrical characteristic analyzing apparatus for substance on which metal-containing paint is coated

Номер патента: US20090306916A1. Автор: Kenji Nagase. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-12-10.

Analyzing apparatus, analysis method, and computer-readable medium

Номер патента: US20220334171A1. Автор: Shoji Yamada,Masahiro Sasaki,Yuichi Onozawa,Norihiro Komiyama. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-20.

Non-invasive impedance analyzing apparatus and method

Номер патента: US20170168099A1. Автор: Ray-Lee Lin,Wei-Ru Chen. Владелец: National Cheng Kung University NCKU. Дата публикации: 2017-06-15.

Method of calibrating output levels of a waveform analyzing apparatus

Номер патента: US5138267A. Автор: Masahisa Hirai,Shigemi Komagata. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 1992-08-11.

Network analyzing apparatus and test method

Номер патента: US7298158B2. Автор: Yasuaki Komatsu. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2007-11-20.

Torque analyzing apparatus

Номер патента: US3999426A. Автор: John Robert Sonderegger. Владелец: Dresser Industries Inc. Дата публикации: 1976-12-28.

Analyzing apparatus

Номер патента: US11826203B2. Автор: Masaki Watanabe,Tetsuya Kawagishi,Yasunori Honjo. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-11-28.

Analyzing apparatus

Номер патента: US20170156700A1. Автор: Masaki Watanabe,Tetsuya Kawagishi,Yasunori Honjo. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2017-06-08.

Analyzing apparatus

Номер патента: US20240041434A1. Автор: Masaki Watanabe,Tetsuya Kawagishi,Yasunori Honjo. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-02-08.

Wind noise analyzing apparatus and method for analyzing wind noise

Номер патента: US20190354647A1. Автор: PHAN Vinh Long. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2019-11-21.

Analyzing apparatus and method for analysis of liquid samples

Номер патента: AU6849090A. Автор: David L. Davidson,Roland W. Gubisch,Harold Hauer,George B. Parrent Jr.. Владелец: HERCULES LLC. Дата публикации: 1991-03-14.

Plasma processing apparatus and analyzing apparatus

Номер патента: US09464936B2. Автор: Kenji Tamaki,Akira Kagoshima,Daisuke Shiraishi,Ryoji ASAKURA. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Gas analyzer apparatus

Номер патента: GB2626728A. Автор: Basham Paul. Владелец: Crowcon Detection Instruments Ltd. Дата публикации: 2024-08-07.

Gas-analyzing apparatus and process.

Номер патента: US1057767A. Автор: HENRY C PARKER. Владелец: Individual. Дата публикации: 1913-04-01.

Rope tester, wire rope analyzing apparatus and control program thereof

Номер патента: EP3726204B1. Автор: HIROAKI Itoi,Ippei Furukawa,Youta HASHIME,Youhei NAKAMOTO. Владелец: Tokyo Rope Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Rope tester, wire rope analyzing apparatus and control program thereof

Номер патента: EP3726204C0. Автор: HIROAKI Itoi,Ippei Furukawa,Youta HASHIME,Youhei NAKAMOTO. Владелец: Tokyo Rope Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-29.

Analyzing apparatus, analyzing method and analyzing program

Номер патента: EP2037279B1. Автор: Kaoru Odachi. Владелец: Beckman Coulter Inc. Дата публикации: 2018-09-26.

Automatic gas-analyzing apparatus.

Номер патента: US944274A. Автор: Ernest H Peabody. Владелец: Individual. Дата публикации: 1909-12-28.

Defect analyzing method and defect analyzing apparatus

Номер патента: US8965551B2. Автор: Yoshiyuki Shioyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-02-24.

"Droplet pickup ion source" coupled to mobility analyzer apparatus and method

Номер патента: EP2802000A3. Автор: Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2015-03-04.

Material segregation density, and moisture analyzing apparatus and method

Номер патента: ZA200410045B. Автор: Donald J Geisel. Владелец: Donald J Geisel. Дата публикации: 2006-06-28.

Polarization analyzing apparatus and method for polarization analysis

Номер патента: EP1271115B1. Автор: Takeshi Nagashima,Kouichi Hiranaka,Masanori Hangyo. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-05-23.

Polarization analyzing apparatus and method for polarization analysis

Номер патента: TW557359B. Автор: Takeshi Nagashima,Kouichi Hiranaka,Masanori Hangyo. Владелец: Matsushita Electric Ind Co Ltd. Дата публикации: 2003-10-11.

Material testing machine and particle analyzing apparatus

Номер патента: US20220366907A1. Автор: Mitsuhiro MOURI. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2022-11-17.

Defect analyzing method and defect analyzing apparatus

Номер патента: US20120046778A1. Автор: Yoshiyuki Shioyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-02-23.

"droplet pickup ion source" coupled to mobility analyzer apparatus and method

Номер патента: EP2296791A1. Автор: Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-23.

"droplet pickup ion source" coupled to mobility analyzer apparatus and method

Номер патента: WO2009140227A1. Автор: Hermann Wollnik. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2009-11-19.

"droplet pickup ion source" coupled to mobility analyzer apparatus and method

Номер патента: EP2296791A4. Автор: Hermann Wollnik. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2014-01-08.

Reagent storage and automatic analyzing apparatus

Номер патента: US12064770B2. Автор: Shin Iida. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-08-20.

Particle pulse analyzing apparatus employing linear amplification and logarithmic conversion

Номер патента: AU462873B2. Автор: . Владелец: Individual. Дата публикации: 1975-07-10.

Material segregation, density, and moisture analyzing apparatus and method

Номер патента: AU2003234124A1. Автор: Donald J. Geisel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-19.

Material segregation, density, and moisture analyzing apparatus and method

Номер патента: EP1512022A4. Автор: Donald J Geisel. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-01-16.

Electrochemical membrane-type sensor and analyzing apparatus including the same

Номер патента: EP4009044A1. Автор: Hisanori Kuramoto,Kumi Naito. Владелец: Horiba Advanced Techno Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-08.

Cell analyzing apparatus and cell analyzing method

Номер патента: EP2857828B1. Автор: Kenichi Nomura,Hirotsugu Kubo,Akane Suzuki,Sunao Takeda,Yo Kato,Takahiro SHIOYAMA,Nae Hinata. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2023-03-29.

Anisotropy analyzing method and an anisotropy analyzing apparatus

Номер патента: US20020048024A1. Автор: Tomiichi Hasegawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-25.

Sample Analyzing Apparatus and Method of Creating Pyrolysis Product Library

Номер патента: US20240321409A1. Автор: Ayumi Kubo,Masaaki Ubukata,Kenji Nagatomo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Gas-analyzing apparatus

Номер патента: US1380160A. Автор: Rodhe Olof. Владелец: SVENSKA MONO AB. Дата публикации: 1921-05-31.

Particle pulse analyzing apparatus employing linear amplification and logarithmic conversion

Номер патента: AU3653771A. Автор: Robert Harold Berg,Lynn Emory Ellison. Владелец: Berg R H. Дата публикации: 1973-06-14.

Analyzing apparatus

Номер патента: EP1526371B1. Автор: Tsugio Wakita. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2013-01-23.

Particle analyzing apparatus having means for observing a scanning aperture

Номер патента: US3389334A. Автор: Wallace H Coulter,Walter R Hogg. Владелец: Coulter Electronics Inc. Дата публикации: 1968-06-18.

Sample analyzing apparatus and method of creating pyrolysis product library

Номер патента: EP4435793A2. Автор: Ayumi Kubo,Masaaki Ubukata,Kenji Nagatomo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Gas-analyzing apparatus.

Номер патента: US1281729A. Автор: Nils Hararld Wener. Владелец: SVENSKA MONO AB. Дата публикации: 1918-10-15.

Sample analyzing apparatus and method of creating pyrolysis product library

Номер патента: EP4435793A3. Автор: Ayumi Kubo,Masaaki Ubukata,Kenji Nagatomo. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2024-10-02.

Air quality analyzing apparatus

Номер патента: US09772281B2. Автор: Gregory Bertaux. Владелец: Isle Management Co. Дата публикации: 2017-09-26.

Automatic coagulation analyzing apparatus and analyzing method

Номер патента: US09581609B2. Автор: Sakuichiro Adachi,Akihisa Makino,Chie Yabutani. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-02-28.

Microchip and particle analyzing apparatus

Номер патента: US09459182B2. Автор: Yuji Akiyama,Takeshi Yamasaki,Shoji Akiyama. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Analyzing apparatus and method for analysis of liquid samples

Номер патента: CA1306300C. Автор: David L. Davidson,George B. Parrent, Jr.,Roland W. Gubisch,Harold Hauer. Владелец: HERCULES LLC. Дата публикации: 1992-08-11.

GAS ANALYZER APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING GAS ANALYZER APPARATUS

Номер патента: US20220042948A1. Автор: Murthy Prakash Sreedhar,TAKAHASHI Naoki. Владелец: . Дата публикации: 2022-02-10.

Driving apparatus for analyzing apparatus

Номер патента: US20140354193A1. Автор: Kenji Nakanishi,Yoshiyuki Fujii. Владелец: Panasonic Healthcare Co Ltd. Дата публикации: 2014-12-04.

DRIVING APPARATUS FOR ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140356232A1. Автор: Tada Junji,NAKANISHI Kenji,OKADA Kenji,SHIRAISHI Masahito. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS, AND METHOD FOR DETECTING FLOW PATH CLOGGING OF THE AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20200278373A1. Автор: Mori Takamichi,FUKUSHI Yudai. Владелец: . Дата публикации: 2020-09-03.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS, REAGENT CONTAINER STOCK APPARATUS, AND SPECIFYING METHOD

Номер патента: US20180364267A1. Автор: SHINOHARA Hiroo. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2018-12-20.

Automatic chemical analyzing apparatus

Номер патента: US4808380A. Автор: Tomiharu Minekane. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1989-02-28.

Collating apparatus for pairs of electrical pulses produced by particle analyzing apparatus

Номер патента: US3502973A. Автор: Wallace H Coulter,Walter R Hogg. Владелец: Coulter Electronics Inc. Дата публикации: 1970-03-24.

Probe apparatus, exhaust gas analyzing apparatus, and correction method

Номер патента: CN108931610B. Автор: 日下竹史,纳谷裕,森本刚文,竹康宏. Владелец: Energy Support Corp. Дата публикации: 2022-06-21.

Cooling apparatus for analyzing apparatus with spectrometer

Номер патента: KR101168826B1. Автор: 송경진. Владелец: 송경진. Дата публикации: 2012-07-25.

GAS ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20130161544A1. Автор: OHNISHI TOSHIKAZU,TSUJIMOTO TOSHIYUKI. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2013-06-27.

OPTICAL SYSTEM FOR FLUORESCENCE DETECTION AND FINE PARTICLE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20130200272A1. Автор: Okamoto Yoshiki. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2013-08-08.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20130243657A1. Автор: Yamazaki Hajime,YOSHIKAWA Keiko. Владелец: . Дата публикации: 2013-09-19.

Cell analyzing apparatus and cell analyzing method

Номер патента: US20130337501A1. Автор: Akane Suzuki,Sunao Takeda,Yo Kato,Takahiro SHIOYAMA,Nae Hinata. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2013-12-19.

SPECIMEN ANALYZING METHOD AND SPECIMEN ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140004612A1. Автор: Yamato Takashi,YAMAMOTO Norimasa,Iguchi Satoshi,MATSUO Naohiko. Владелец: SYSMEX CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-02.

Analyzing Apparatus Control System And Program For The Same

Номер патента: US20140022254A1. Автор: Tohru Shiohama. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2014-01-23.

TEST STRIP ANALYZING APPARATUS HAVING WHEEL EJECTOR

Номер патента: US20140027466A1. Автор: Choi In Hwan,Bag Jeong In. Владелец: PHILOSYS CO., LTD.. Дата публикации: 2014-01-30.

FINE PARTICLE ANALYZING APPARATUS, FINE PARTICLE ANALYZING METHOD, PROGRAM, AND FINE PARTICLE ANALYZING SYSTEM

Номер патента: US20160011095A1. Автор: Muraki Yosuke. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2016-01-14.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20160011222A1. Автор: Asuka Uchikawa,Shoichi Kanayama. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2016-01-14.

PARTICLE ANALYZING APPARATUS, PARTICLE SEPARATING DEVICE, PARTICLE ANALYSIS METHOD, AND PARTICLE SEPARATING METHOD

Номер патента: US20200011781A1. Автор: KAWANO Makoto. Владелец: . Дата публикации: 2020-01-09.

RAMAN SPECTROSCOPIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150015878A1. Автор: MORIYA Naoji. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

ANALYZING APPARATUS, SYSTEM, ANALYZING METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20190017916A1. Автор: NAGAOKA Eiichi,MIZUNO Yusuke,AOYAMA Tomoki,MURATA Shunsuke,KASSAI Kyoko. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2019-01-17.

CHIP DEVICE AND A PARTICLE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170028398A1. Автор: Akiyama Shoji,AKIYAMA Yuji,Yamasaki Takeshi. Владелец: . Дата публикации: 2017-02-02.

ANALYZER APPARATUS AND CONTROL METHOD

Номер патента: US20210035791A1. Автор: Murthy Prakash Sreedhar,Sato Takeshi,HEGDE Anoop R.. Владелец: ATONARP INC.. Дата публикации: 2021-02-04.

MASS SPECTROMETORIC DATA ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD

Номер патента: US20150066380A1. Автор: YAO Jingwen. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2015-03-05.

Analyzing Apparatus and Analyzing Method

Номер патента: US20190064091A1. Автор: Umemoto Takeshi,Nishimura Shinya,ITO Susumu,Okubo Nobuaki. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2019-02-28.

FINE PARTICLE ANALYZING APPARATUS, FINE PARTICLE ANALYZING METHOD, PROGRAM, AND FINE PARTICLE ANALYZING SYSTEM

Номер патента: US20180067035A1. Автор: Muraki Yosuke. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2018-03-08.

MICROPARTICLE COMPOSITION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170069476A1. Автор: TAKEDA Naoki,KOIZUMI Kazuhiro,ASANO Takamasa,HASEGAWA Yoshiki. Владелец: . Дата публикации: 2017-03-09.

INFLUENCE ANALYZING APPARATUS FOR ANALYZING INFLUENCE OF COMBUSTIBLES

Номер патента: US20180073724A1. Автор: KIM Seongjoon,JUNG Byungil. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-15.

SAMPLE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170074894A1. Автор: Yamamoto Shinya,MINEGISHI Tamotsu,GODO Takamitsu,HORI Kazutaka. Владелец: Takano Co.,Ltd.. Дата публикации: 2017-03-16.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180080950A1. Автор: Goto Takashi,Iwasaki Masaaki,Matsumoto Satoshi,Sugimura Tomohiro,Kato Arika. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2018-03-22.

REAGENT STORAGE AND AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20220097070A1. Автор: IIDA Shin. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2022-03-31.

MICROPARTICLE ANALYZING APPARATUS AND DATA DISPLAYING METHOD

Номер патента: US20190080492A1. Автор: Sakai Yoshitsugu. Владелец: . Дата публикации: 2019-03-14.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS AND JIG

Номер патента: US20220099482A1. Автор: IIDA Shin. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2022-03-31.

Particle analyzing apparatus

Номер патента: US20190086318A1. Автор: Katsutoshi Ogumo. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-03-21.

MICROCHIP AND PARTICLE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140174206A1. Автор: Akiyama Shoji,AKIYAMA Yuji,Yamasaki Takeshi. Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2014-06-26.

MEASURING UNIT AND GAS ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140183380A1. Автор: IDO TAKUYA,OHNISHI TOSHIKAZU,TSUJIMOTO TOSHIYUKI,Ukon Juichiro. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2014-07-03.

TEST PIECE ANALYZING APPARATUS AND TEST PIECE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20170103543A1. Автор: KUSUHARA Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-13.

Analyzing system and analyzing apparatus

Номер патента: US20160109353A1. Автор: Yutaka Nagai. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-04-21.

MEMBRANE-TYPE SENSOR AND ANALYZING APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20220170881A1. Автор: KURAMOTO Hisanori,NAITO Kumi. Владелец: HORIBA Advanced Techno, Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-06-02.

ELECTROPHORESIS ANALYZING APPARATUS, ELECTROPHORESIS ANALYSIS METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20200103372A1. Автор: ASOGAWA Minoru. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2020-04-02.

AIR QUALITY ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160116404A1. Автор: Bertaux Gregory. Владелец: . Дата публикации: 2016-04-28.

GAS ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170115219A1. Автор: IDO TAKUYA. Владелец: . Дата публикации: 2017-04-27.

SYSTEM FOR OPTICALLY MONITORING OPERATING CONDITIONS IN A SAMPLE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180128676A1. Автор: Katzlinger Michael,Kronberger Georg,Schinwald Bernhard. Владелец: . Дата публикации: 2018-05-10.

COMPONENT ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150138538A1. Автор: SAKURAI Kazunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-21.

ELECTROPLATING SOLUTION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160146757A1. Автор: Nakayama Naoto. Владелец: HIOKI DENKI KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2016-05-26.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS AND AUTOMATIC ANALYZING METHOD

Номер патента: US20220291249A1. Автор: MURATA Tatsuya. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2022-09-15.

SPECIMEN ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140242706A1. Автор: Nagai Takaaki,MIHARA Takahito. Владелец: SYSMEX CORPORATION. Дата публикации: 2014-08-28.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20220299540A1. Автор: Sato Naoto,OKAMOTO Mitsuo,MARUYAMA Reiko,SAITOU Masaaki,HOSOOKA Atsushi,HONDA Tamaki. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2022-09-22.

Dispersoid particle analyzing method and analyzing apparatus

Номер патента: US20180164249A1. Автор: Makoto Kawano. Владелец: Kawano Lab Inc. Дата публикации: 2018-06-14.

CALIBRATION DEVICE AND GAS COMPONENT ANALYZING APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20180172653A1. Автор: CHOI Yong-sahm. Владелец: iSenLab CO., LTD.. Дата публикации: 2018-06-21.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170176484A1. Автор: Nakamura Kazuhiro,Mori Takamichi,MURAMATSU Yoshiki. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-22.

Gas analyzing apparatus

Номер патента: US20150185157A1. Автор: Yusuke Mizuno,Takuji Oida,Misato ARAKAWA. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-07-02.

MICROPARTICLE ANALYZING APPARATUS AND DATA DISPLAYING METHOD

Номер патента: US20170186198A1. Автор: Sakai Yoshitsugu. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-29.

SPECIMEN ANALYZING METHOD AND SPECIMEN ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160195560A1. Автор: Yamato Takashi,YAMAMOTO Norimasa,Iguchi Satoshi,MATSUO Naohiko. Владелец: SYSMEX CORPORATION. Дата публикации: 2016-07-07.

ANALYZING APPARATUS, SOLID-LIQUID SEPARATION DEVICE AND SOLID-LIQUID SEPARATION METHOD

Номер патента: US20150198621A1. Автор: FUKUDA Kazuya,Ootani Toshihiro,Mototsu Kazunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-16.

DISPERSOID PARTICLE ANALYZING METHOD AND ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180196004A1. Автор: KAWANO Makoto. Владелец: KAWANO Lab. Inc.. Дата публикации: 2018-07-12.

Specimen analyzing method and specimen analyzing apparatus

Номер патента: US20150211995A1. Автор: Norimasa Yamamoto,Satoshi Iguchi,Takashi Yamato,Naohiko Matsuo. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2015-07-30.

IMMUNOLOGICAL ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150212102A1. Автор: TANAKA Yoshiyuki,HAGIWARA Takaaki,Yamazawa Kazunori. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-30.

System for Optically Monitoring Operating Conditions in a Sample Analyzing Apparatus

Номер патента: US20190195684A1. Автор: Katzlinger Michael,Kronberger Georg,Schinwald Bernhard. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-27.

GAS ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20190195784A1. Автор: KOIZUMI Kazuhiro,TANIGUCHI Yu,YAMAUCHI Hojun. Владелец: . Дата публикации: 2019-06-27.

ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD

Номер патента: US20170205336A1. Автор: IDO TAKUYA. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2017-07-20.

PARTICLE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170212030A1. Автор: TAKEDA Naoki,KOIZUMI Kazuhiro,ASANO Takamasa,HASEGAWA Yoshiki. Владелец: . Дата публикации: 2017-07-27.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170219617A1. Автор: Nakamura Kazuhiro,HIRAMI Kenichi. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-03.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180221880A1. Автор: SAIKI Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2018-08-09.

TURBOMACHINE LUBRICATING OIL ANALYZER APPARATUS

Номер патента: US20140318223A1. Автор: "ODonnell Keegan Saunders",Fitzpatrick Matthew Paul,Lisowski Joseph Thomas. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2014-10-30.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170227563A1. Автор: Nishigaki Kenichi. Владелец: . Дата публикации: 2017-08-10.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20210263060A1. Автор: Sugita Satoru,Tahara Hirotoshi. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2021-08-26.

Analyzer apparatus and control method

Номер патента: US20210265149A1. Автор: Takeshi Sato,Anoop R. Hegde,Prakash Sreedhar Murthy. Владелец: Atonarp Inc. Дата публикации: 2021-08-26.

IMAGE ANALYZING APPARATUS AND PROGRAM

Номер патента: US20160247271A1. Автор: Nakamura Takeshi,Inagaki Koichi,HISHIDA Hiroyuki,Ohtake Yutaka,YAMAUCHI Yuta,SUZUKI Hiroshima,MICHIKAWA Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-25.

ANALYZING APPARATUS FOR LABORATORY TEST

Номер патента: US20140348704A1. Автор: Kobayashi Masaaki,Takahashi Toshihiko. Владелец: . Дата публикации: 2014-11-27.

ANALYZER APPARATUS AND CONTROL METHOD

Номер патента: US20200251320A1. Автор: Murthy Prakash Sreedhar,Sato Takeshi,HEGDE Anoop R.. Владелец: ATONARP INC.. Дата публикации: 2020-08-06.

SIGNAL PROCESSING DEVICE OF ANALYZING BIO-SIGNAL AND BIO-SIGNAL ANALYZING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20190257759A1. Автор: HAN Sung Ho,NO Keun Sik,HONG Hee Sun. Владелец: . Дата публикации: 2019-08-22.

Raman probe and bio-component analyzing apparatus using the same

Номер патента: US20190257761A1. Автор: Woochang Lee,Ho Jun CHANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-08-22.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20180267070A1. Автор: Makoto Ogasawara,Kenji Yamasaki,Takehiko Onuma,Hiroko Takayama,Reiko MARUYAMA. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2018-09-20.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20210341501A1. Автор: IIDA Shin. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2021-11-04.

AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD

Номер патента: US20160291046A1. Автор: Makino Akihisa,Adachi Sakuichiro,YABUTANI Chie. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2016-10-06.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20190293599A1. Автор: KOUSAI Shouhei,Akimoto Yosuke,IMAI Kaita. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2019-09-26.

FLUORESCENCE IMAGE ANALYZING APPARATUS, IMAGE PROCESSING METHOD OF FLUORESCENCE IMAGE, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20180299381A1. Автор: MATSUMOTO Shohei,SHARMA Shruti. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-18.

FLUORESCENCE IMAGE ANALYZING APPARATUS, METHOD OF ANALYZING FLUORESCENCE IMAGE, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20180299382A1. Автор: Yamada Kazuhiro,KONISHI Yusuke,MATSUMOTO Shohei. Владелец: . Дата публикации: 2018-10-18.

FREQUENCY DOMAIN-BASED MULTI-WAVELENGTH BIO-SIGNAL ANALYZING APPARATUS AND METHOD THEREOF

Номер патента: US20200305776A1. Автор: HAN Sung Ho,NO Keun Sik,HONG Hee Sun. Владелец: . Дата публикации: 2020-10-01.

EXHAUST GAS ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150330868A1. Автор: Ohta Toshio,FUKAMI Shun,AOKI Shintaro. Владелец: . Дата публикации: 2015-11-19.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160341725A1. Автор: Hamada Kazuyuki,Akiba Takeshi,TAKEUCHI Toshifumi,OHYAMA Chikara,YONEYAMA Tohru,Tobisawa Yuki. Владелец: . Дата публикации: 2016-11-24.

Automated analyzing apparatus

Номер патента: US20150369833A1. Автор: Yoshihiro Suzuki,Yoichi ARUGA,Takashi Nakasawa. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-12-24.

ANALYZING METHOD AND ANALYZING APPARATUS FOR UREA

Номер патента: US20200355586A1. Автор: Sugawara Hiroshi,TAKAHASHI Kazushige,SUDO Fumio,SHIMADA Katsuhisa. Владелец: ORGANO CORPORATION. Дата публикации: 2020-11-12.

Automatic Analyzing Apparatus

Номер патента: US20180369769A1. Автор: Yaginuma Takashi. Владелец: . Дата публикации: 2018-12-27.

ION MOBILITY ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20190376931A1. Автор: IMAZU Akiko,ARITA Yoshinori,YASUNO Motohide. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2019-12-12.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US5397539A. Автор: Mutsumi Hayashi,Tatsuo Ogasawara,Yayoi Mizutani,Nobuyuki Kuriyama. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 1995-03-14.

Analyzing apparatus using disposable reaction vessels

Номер патента: US5772962A. Автор: Takashi Sato,Hiroyasu Uchida,Kenichi Itoh. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1998-06-30.

MATERIAL TESTING MACHINE AND PARTICLE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20220366907A1. Автор: MOURI Mitsuhiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2022-11-17.

Microfluidic chip and real-time analyzing apparatus using the same

Номер патента: KR101562318B1. Автор: 김성우,김덕중,변재영. Владелец: 나노바이오시스 주식회사. Дата публикации: 2015-10-22.

Portable analyzing apparatus based on PCR

Номер патента: KR100945556B1. Автор: 이영기,김성우,이동훈,서상원,이민수. Владелец: 충청북도. Дата публикации: 2010-03-08.

Analyzing apparatus and analyzing method

Номер патента: KR101553736B1. Автор: 시게키 마츠모토. Владелец: 우시오덴키 가부시키가이샤. Дата публикации: 2015-09-16.

BALL CONDITIONING DEVICE FOR REACTION CELLS FOR AN ANALYZING APPARATUS

Номер патента: FR3065532B1. Автор: Matthieu BROSSARD. Владелец: Diagnostica Stago SAS. Дата публикации: 2020-07-17.

Blood sample analyzing apparatus

Номер патента: EP2214011B1. Автор: Tokihiro Kosaka,Koichi Okubo. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-01-02.

Reagent kit for analyzing apparatus

Номер патента: EP2287621A1. Автор: designation of the inventor has not yet been filed The. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2011-02-23.

Sample image analyzing apparatus and sample analyzing system

Номер патента: CN115248212A. Автор: 姜斌,邢圆. Владелец: Shenzhen Mindray Bio Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-28.

Fluorescence analyzing apparatus based portable micro-optical component

Номер патента: KR102102773B1. Автор: 문동준,유성근,서승완. Владелец: 재단법인 오송첨단의료산업진흥재단. Дата публикации: 2020-04-21.

Blood analyzing apparatus equipped with blood suction collection device maintaining regular collection volume

Номер патента: KR100900655B1. Автор: 신은정. Владелец: 신은정. Дата публикации: 2009-06-01.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US2879141A. Автор: Leonard T Skeggs. Владелец: Technicon Instruments Corp. Дата публикации: 1959-03-24.

Dna analyzing apparatus, dna sensor, and analyzing method

Номер патента: KR100700126B1. Автор: 준 오구라,아키히토 이와다테. Владелец: 가시오게산키 가부시키가이샤. Дата публикации: 2007-03-28.

Light irradiation method, light irradiation device, and fine particle analyzing apparatus

Номер патента: KR101507041B1. Автор: 마사타카 시노다. Владелец: 소니 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2015-03-30.

Analyzing apparatus

Номер патента: EP2241894B1. Автор: Takuya Suzuki,Masatake Hyoudou. Владелец: PHC Holdings Corp. Дата публикации: 2018-11-21.

An automatic chemical analyzing apparatus

Номер патента: EP0160458A2. Автор: Takeshi C/O Patent Division Sakamaki,Fumio C/O Patent Division Watanabe. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 1985-11-06.

Analyzing apparatus of blood

Номер патента: JPS5822939A. Автор: Atsuo Tomioka,Masayoshi Hayashi,Takashi Yumita,富岡 敦男,正好 林,弓田 俊. Владелец: Tao Medical Electronics Co Ltd. Дата публикации: 1983-02-10.

Aspiration method for hematology analyzing apparatus

Номер патента: CA2076051A1. Автор: Roberto Del Valle,Santos E. Vargas,Stuart D. Wills. Владелец: Individual. Дата публикации: 1992-06-14.

LIQUID ANALYZER APPARATUS

Номер патента: FR2475729B1. Автор: . Владелец: List Hans. Дата публикации: 1985-07-19.

OPTICAL BLOOD ANALYSIS DEVICE, ANALYZING APPARATUS EQUIPPED WITH SUCH A DEVICE

Номер патента: FR2883971B1. Автор: Serge Champseix,Laurent Damonneville,Olivier Magnin. Владелец: C2 Diagnostics SA. Дата публикации: 2007-11-16.

A kind of gas analyzing apparatus

Номер патента: CN106841517A. Автор: 张威,孔慧,郭振,姚佳,周连群,李传宇,张芷齐. Владелец: Suzhou Sasens Co ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Electromagnetic wave detector, electromagnetic wave detector array, and gas analyzing apparatus

Номер патента: WO2016167052A1. Автор: 新平 小川,大介 藤澤. Владелец: 三菱電機株式会社. Дата публикации: 2016-10-20.

Portable fluorescent and spectroscopic analyzing apparatus

Номер патента: KR101064775B1. Автор: 강병훈,강창욱,박호경,강창성. Владелец: 한국산업기술대학교산학협력단. Дата публикации: 2011-09-14.

Portable analyzing apparatus based on pcr

Номер патента: WO2009054647A2. Автор: Dong-Hoon Lee,Young-Ki Lee,Min-Su Lee,Sang-Won Seo. Владелец: Seed Biochips Co., Ltd.. Дата публикации: 2009-04-30.

Transfer unit and automatic analyzing apparatus having such transfer unit

Номер патента: US20030049170A1. Автор: Tomoaki Tamura,Takayuki Mizutani. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 2003-03-13.

Gas analyzing apparatus

Номер патента: CN107421952A. Автор: 大西敏和,辻本敏行. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2017-12-01.

Optical device for blood analysis, analyzing apparatus equipped with same

Номер патента: CN101189503A. Автор: L·达蒙尼维尔,O·马格宁,S·钱普赛克斯. Владелец: C2 Diagnostics SA. Дата публикации: 2008-05-28.

Microchip and analyzing apparatus

Номер патента: WO2010010904A1. Автор: 道男 仲,松本 大輔,裕章 白木. Владелец: アークレイ株式会社. Дата публикации: 2010-01-28.

Vessel for blood analyzing optical device, analyzing apparatus equipped with same

Номер патента: EP1866624A1. Автор: Serge Champseix,Henri Champseix,Olivier Magnin. Владелец: C2 Diagnostics SA. Дата публикации: 2007-12-19.

Chemical analyzing apparatus

Номер патента: US4540549A. Автор: Sugio Manabe. Владелец: Olympus Optical Co Ltd. Дата публикации: 1985-09-10.

Gas analyzing apparatus

Номер патента: US5543113A. Автор: Kenji Takeda,Hideki Koike. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1996-08-06.

Gas analyzing apparatus for rechargeable battery

Номер патента: KR20180047359A. Автор: 안정애,김성용. Владелец: 주식회사 엘지화학. Дата публикации: 2018-05-10.

Calibration device and gas component analyzing apparatus including the same

Номер патента: US10794884B2. Автор: Yong-sahm CHOI. Владелец: Isenlab Inc. Дата публикации: 2020-10-06.

Exhaust gas analyzing apparatus, exhaust gas analyzing system and method of operating the same

Номер патента: EP2667170A3. Автор: Koji Watanabe,Hiroyoshi Nakagawa. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-03.

Automatic water analyzing apparatus

Номер патента: JPS601545A. Автор: Moriyuki Kurita,栗田 守之. Владелец: JOHO SHIYORI GIJUTSU KENKYUSHO KK. Дата публикации: 1985-01-07.

Analyzing apparatus and method

Номер патента: JPS57161647A. Автор: David S Bauman,Paul A Barstad. Владелец: Individual. Дата публикации: 1982-10-05.

Automatic Analyzing Apparatus for Fluorescence

Номер патента: KR20150022179A. Автор: 이중환,김창수,박종필,노진석,방우석. Владелец: 케이맥(주). Дата публикации: 2015-03-04.

Particle analyzing apparatus and method for determining nuclear shift index

Номер патента: EP0361504B1. Автор: Tokihiro Kosaka. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 1994-07-27.

Multi-sample automatic analyzing apparatus

Номер патента: KR101854704B1. Автор: 이경균,김병일,김용태,이석재,배남호,이문근,이태재,윤석오,임진주. Владелец: 티엔에스(주). Дата публикации: 2018-05-04.

Rack for analyzer apparatus and analyzer comprising such a rack

Номер патента: CA2525359A1. Автор: Siegfried Mueller,Thomas Meyer,Reto Schorno,Thomas Schlaubitz. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2006-05-04.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: CA2094550A1. Автор: Mutsumi Hayashi,Tatsuo Ogasawara,Yayoi Mizutani,Nobuyuki Kuriyama. Владелец: Nobuyuki Kuriyama. Дата публикации: 1993-10-24.

Multiple wavelength multi-absorptiometric analyzing apparatus

Номер патента: JPS57106843A. Автор: Masayoshi Hirabayashi. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1982-07-02.

Particle analyzing apparatus and method utilizing multiple apertures

Номер патента: ES333840A1. Автор: . Владелец: Coulter Electronics Ltd. Дата публикации: 1968-03-16.

Electromagnetic wave detector, electromagnetic wave detector array and gas analyzing apparatus

Номер патента: CN107430028B. Автор: 小川新平,藤泽大介. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-05-10.

Analyzing apparatus

Номер патента: US8232526B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-07-31.

Gas analyzing apparatus

Номер патента: CN106980027B. Автор: 于甄,解金库,高建聪. Владелец: Zhangjiagang Kangdexin Optronics Material Co Ltd. Дата публикации: 2018-12-07.

Device for analysis, and analyzing apparatus and analyzing method using the device

Номер патента: WO2009016811A1. Автор: Hiroshi Saiki. Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2009-02-05.

Automatic analyzing apparatus and quality control method for analysis supporting liquid in the same

Номер патента: US20090087914A1. Автор: Akihisa KURODA. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: EP3392659A1. Автор: Takashi Yaginuma. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2018-10-24.

Microchip and particle analyzing apparatus

Номер патента: CN103717308B. Автор: 山崎刚,秋山昭次,秋山雄治. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2015-07-08.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: JPS59122954A. Автор: Norihiro Sato,Jugoro Suzuki,鈴木 十五郎,佐藤 教博. Владелец: Shimazu Seisakusho KK. Дата публикации: 1984-07-16.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: EP2755038A1. Автор: Kenichi Takahashi,Isao Yamazaki. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2014-07-16.

Analyzing apparatus

Номер патента: CN1950705B. Автор: 高木康光,杉江久和,大槻俊之,西田宪正,本乡义清. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2012-06-06.

Influence analyzing apparatus for analyzing influence of combustibles

Номер патента: US10753602B2. Автор: Seongjoon KIM,Byungil JUNG. Владелец: Doosan Heavy Industries and Construction Co Ltd. Дата публикации: 2020-08-25.

Analyzing apparatus using rotatable microfluidic disk

Номер патента: US20090308746A1. Автор: Jeonggun Lee,Induk HWANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-12-17.

Gas analyzing apparatus

Номер патента: KR100659011B1. Автор: 기미지마데츠야,기쿠치츠토무,니시나아키라. Владелец: 다이요 닛산 가부시키가이샤. Дата публикации: 2006-12-21.

Analyzing apparatus

Номер патента: JP2010078510A. Автор: 和典 元津,Kazunori Mototsu,teruyuki Kamikawa,輝之 上川. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2010-04-08.

Reagent kit for analyzing apparatus

Номер патента: WO2011020885A1. Автор: Stephan Sattler,Klaus Oswald,Gottfried Senftner,Reinhold Kraemer,Georg Werner Arras,Markus Winkenbach. Владелец: Roche Diagnostics GmbH. Дата публикации: 2011-02-24.

Analyzing apparatus for liquid sample

Номер патента: JPS5887462A. Автор: Tetsuaki Abe,Takehide Sato,Katsuaki Takahashi,克明 高橋,阿部 哲昭,左藤 猛英. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1983-05-25.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: US20090196793A1. Автор: Shoichi Kanayama,Naoko Omuro. Владелец: Toshiba Medical Systems Corp. Дата публикации: 2009-08-06.

Sample analyzing apparatus

Номер патента: CN102308199A. Автор: 横山一成. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2012-01-04.

Gas analyzing apparatus, gas sampling device and analysis method for gases

Номер патента: CN108226268A. Автор: 茂原治久,日下竹史. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-06-29.

Feature analyzing apparatus for a surface of an object

Номер патента: US8700498B2. Автор: Yoshinori Hayashi,Hideki Mori,Yoko Ono,Hiroshi Wakaba,Koichi Miyazono. Владелец: Shibaura Mechatronics Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Particle analyzing apparatus

Номер патента: GB2082779A. Автор: . Владелец: Coulter Electronics Inc. Дата публикации: 1982-03-10.

Analyzing apparatus

Номер патента: EP2233928A4. Автор: Junji Tada,Kenji Okada,Kenji Nakanishi,Yoshiyuki Fujii,Masahito Shiraishi,Tsugio Wakita. Владелец: Panasonic Healthcare Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-30.

Reagent kit for analyzing apparatus

Номер патента: CA2771198A1. Автор: Stephan Sattler,Klaus Oswald,Gottfried Senftner,Reinhold Kraemer,Georg Werner Arras,Markus Winkenbach. Владелец: F Hoffmann La Roche AG. Дата публикации: 2011-02-24.

Liquid characteristic analyzing apparatus

Номер патента: CN102667468B. Автор: 江原克信,樽井克泰. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2015-01-14.

Analyzing apparatus

Номер патента: US20210270788A1. Автор: Takeshi Iharada. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Gas analyzer apparatus and method of analyzing gases

Номер патента: EP2012119A2. Автор: Ulrich Bonne,Patrick G. Hogan,Leslie T. Ivie,Richard A. Gorny. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2009-01-07.

Gas analyzer apparatus

Номер патента: KR101185902B1. Автор: 나카시마 토모히사,츠카모토 나오키,이토 모토키,이토 유키치카. Владелец: 에너지 서포트 코포레이션. Дата публикации: 2012-09-25.

X-ray tube and X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CN101236876B. Автор: 的场吉毅. Владелец: SEIKO NANOTECHNOLOGY Inc. Дата публикации: 2012-05-09.

X-ray spectroscopy element and fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2003255089A. Автор: Takashi Yamada,隆 山田,真 堂井,Makoto Doui. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2003-09-10.

Radiation analyzing apparatus

Номер патента: US09678227B2. Автор: Keiichi Tanaka,Satoshi Nakayama. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

Radiation analyzing apparatus

Номер патента: US09678218B2. Автор: Keiichi Tanaka,Atsushi Nagata. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2017-06-13.

X-ray analyzer

Номер патента: DE69403129T2. Автор: Kunio Nakajima,Shuzo Sudo. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1997-08-28.

X-ray analyzer.

Номер патента: FR1508461A. Автор: . Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1968-01-05.

X-ray analyzer crystal made of a phthalate

Номер патента: DE2924779C2. Автор: Roland Mahwah N.J. Jenkins. Владелец: North American Philips Corp. Дата публикации: 1984-11-15.

RADIATION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160231436A1. Автор: NAGATA Atsushi,TANAKA Keiichi. Владелец: . Дата публикации: 2016-08-11.

Analyzing apparatus

Номер патента: LU501688B1. Автор: Benjamin DEMARET,Alexandre Quenon,Anthonin Demarbaix. Владелец: Univ Mons. Дата публикации: 2023-09-20.

RADIATION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160209525A1. Автор: Nakayama Satoshi,TANAKA Keiichi. Владелец: . Дата публикации: 2016-07-21.

Programmable on-chip logic analyzer apparatus, systems, and methods

Номер патента: US20110215833A1. Автор: Jeffrey J. Rooney,Kirsten S. Lunzer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-09-08.

Transmission delay analyzing apparatus, program and method

Номер патента: EP2128636B1. Автор: Kazuhiko Tokuda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-08-17.

Color analyzing apparatus

Номер патента: US2101741A. Автор: Ketcham Howard. Владелец: Individual. Дата публикации: 1937-12-07.

Surface analyzing apparatus

Номер патента: US6388249B2. Автор: Naohiko Fujino,Shigeru Wakiyama. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2002-05-14.

Failure analyzing apparatus and failure analyzing method

Номер патента: US20190285686A1. Автор: Yukinobu Hayashida. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

SEMICONDUCTOR ETCHING APPARATUS AND ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140262029A1. Автор: TAMAKI Kenji,SHIRAISHI Daisuke,ASAKURA Ryoji,KAGOSHIMA Akira. Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2014-09-18.

Analyzing apparatus

Номер патента: LU501011A1. Автор: Benjamin DEMARET,Alexandre Quenon,Anthonin Demarbaix. Владелец: Univ Mons. Дата публикации: 2022-06-14.

Motion analyzing apparatus

Номер патента: US20120128203A1. Автор: Yasushi Nakaoka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-05-24.

EXHAUST GAS ANALYZING APPARATUS, EXHAUST GAS ANALYZING SYSTEM AND METHOD OF OPERATING THE SAME

Номер патента: US20130312486A1. Автор: WATANABE Koji,NAKAGAWA Hiroyoshi. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-28.

MOTION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140019083A1. Автор: NAKAOKA Yasushi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-16.

MULTIPLEXED NONINVASIVE ANALYZER APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20150041656A1. Автор: George Thomas,Novotny Vlad,Gulati Sandeep,Ruchti Timothy,Abul-Haj Alan,Hazen Kevin H.. Владелец: . Дата публикации: 2015-02-12.

RAMAN PROBE AND BIOLOGICAL COMPONENT ANALYZING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20200041338A1. Автор: CHANG Ho Jun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD.. Дата публикации: 2020-02-06.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160069948A1. Автор: IKARASHI Satoshi. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-10.

MOTION ANALYZING METHOD AND MOTION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150142374A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-05-21.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170156700A1. Автор: WATANABE Masaki,Kawagishi Tetsuya,HONJO Yasunori. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2017-06-08.

EXHAUST GAS ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140250976A1. Автор: MIYAI Masaru. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2014-09-11.

NON-INVASIVE IMPEDANCE ANALYZING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20170168099A1. Автор: Lin Ray-Lee,Chen Wei-Ru. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-15.

VIBRATION ANALYZING SYSTEM, VIBRATION ANALYZING APPARATUS, AND VIBRATION ANALYZING METHOD

Номер патента: US20170184741A1. Автор: OTO Masayuki. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-29.

MOTION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150198629A1. Автор: NAKAOKA Yasushi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2015-07-16.

EXHAUST GAS FLOW RATE MEASURING UNIT AND EXHAUST GAS ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180202845A1. Автор: KONDO Yosuke,AOKI Shintaro. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2018-07-19.

SENSOR, COMPUTING DEVICE, AND MOTION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150285834A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,NISHIJIMA Kyoko. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-08.

FAILURE ANALYZING APPARATUS AND FAILURE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20190285686A1. Автор: Hayashida Yukinobu. Владелец: Toshiba Memory Corporation. Дата публикации: 2019-09-19.

ANALYZING APPARATUS AND EXHAUST GAS TREATING SYSTEM

Номер патента: US20160348561A1. Автор: KOIZUMI Kazuhiro,Tabaru Masaya,OKADA Michiyasu,AKAO Kozo,HIGASHI Ryoichi. Владелец: . Дата публикации: 2016-12-01.

MASS ANALYSIS DATA ANALYZING APPARATUS AND MASS ANALYSIS DATA ANALYZING PROGRAM

Номер патента: US20180340827A1. Автор: TAMURA Hiroto,KATO Teruyo,YAMADA Yosihiro. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2018-11-29.

Integrated analyzing apparatus for water disaster using algorithm module combination

Номер патента: KR102057697B1. Автор: 이종혁,김민욱,신대규,계창우. Владелец: (주)에스이랩. Дата публикации: 2019-12-19.

the improved noise analyzing apparatus

Номер патента: KR20230000406A. Автор: 김하근,성요한. Владелец: 한국환경설계(주). Дата публикации: 2023-01-02.

Cable installed state analyzing method and cable installed state analyzing apparatus

Номер патента: US8310661B2. Автор: Fumio Takei,Kazushi Uno,Takeo Kasajima. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-11-13.

Exhaust gas flow rate measuring unit and exhaust gas analyzing apparatus

Номер патента: US10514283B2. Автор: Yosuke Kondo,Shintaro Aoki. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-12-24.

Accuracy analyzing apparatus for machine tool

Номер патента: EP1329688A3. Автор: Makoto Fujishima. Владелец: Intelligent Manufacturing Systems International Inc. Дата публикации: 2005-12-14.

Photoelectric color measuring and analyzing apparatus

Номер патента: US2152645A. Автор: Alfred L Holven,Thomas R Gillett. Владелец: Individual. Дата публикации: 1939-04-04.

Vibration Analyzing Apparatus using vibration sensor and smartphone

Номер патента: KR20200042209A. Автор: 서종철. Владелец: 모루기술 주식회사. Дата публикации: 2020-04-23.

Vibration analyzing system, vibration analyzing apparatus, and vibration analyzing method

Номер патента: US10215867B2. Автор: Masayuki Oto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-02-26.

Method for modifying the compatibility of an audio precision analyzing apparatus with an application program

Номер патента: US20070019814A1. Автор: Ai-Min Chen. Владелец: Individual. Дата публикации: 2007-01-25.

Analyzing apparatus validating system and program for the system

Номер патента: US20140041059A1. Автор: Kanya Tsujii. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Fluid analyzing apparatus, fluid analyzing method, and fluid analyzing program

Номер патента: US20050165562A1. Автор: Yoshihiro Yamaguchi,Toshiyuki Arima. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2005-07-28.

Fluid analyzing apparatus, fluid analyzing method, and fluid analyzing program

Номер патента: US7103483B2. Автор: Yoshihiro Yamaguchi,Toshiyuki Arima. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2006-09-05.

Data analyzing apparatus, method and storage medium

Номер патента: US20220292299A1. Автор: Kouta Nakata. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2022-09-15.

Document analyzing apparatus

Номер патента: US20130103388A1. Автор: CHI Chen. Владелец: IPXNASE TECHNOLOGY Ltd. Дата публикации: 2013-04-25.

Swing analyzing apparatus

Номер патента: US20160001128A1. Автор: Kazuo Nomura,Yasushi Nakaoka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-01-07.

Image analyzing apparatus determining representation form of code image using distances of code elements

Номер патента: US20170155779A1. Автор: Ryohei OZAWA. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2017-06-01.

Layout designing/characteristic analyzing apparatus for a wiring board

Номер патента: US20050289497A1. Автор: Takehide Matsumoto. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2005-12-29.

Three-dimensional model analyzing apparatus

Номер патента: US20020000987A1. Автор: Kouichi Shimamura. Владелец: Fujitsu Nagano Systems Engineering Ltd. Дата публикации: 2002-01-03.

Analyzing apparatus and analyzing method

Номер патента: US12089989B2. Автор: Masaki Watanabe,Tetsuya Kawagishi,Yasunori Honjo. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-09-17.

Swing analyzing apparatus

Номер патента: US09731165B2. Автор: Kazuo Nomura,Yasushi Nakaoka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Motion analyzing apparatus and motion analyzing program

Номер патента: US09717969B2. Автор: Masafumi Sato. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Monitoring data analyzing apparatus, monitoring data analyzing method, and monitoring data analyzing program

Номер патента: US09465713B2. Автор: Toshio Tonouchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Golf swing analyzing apparatus and method of analyzing golf swing

Номер патента: US09403077B2. Автор: Ken Ota,Kazuhiro Shibuya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Swing analyzing apparatus

Номер патента: US09387361B2. Автор: Kazuo Nomura,Yasushi Nakaoka. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-07-12.

Electromagnetic noise analyzing apparatus, controlling apparatus and controlling method

Номер патента: US20180029606A1. Автор: Hiroki Funato,Keisuke Fukumasu,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-01.

Electromagnetic noise analyzing apparatus, controlling apparatus and controlling method

Номер патента: US10099704B2. Автор: Hiroki Funato,Keisuke Fukumasu,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-10-16.

Analyzing apparatus, control method, and storage medium

Номер патента: US20240070590A1. Автор: Ryutaro SEO,Kazuto OHISHI,Yuki KOMIYAMA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-29.

Program analyzing apparatus, program analyzing method, and trace processing addition apparatus

Номер патента: US20240143300A1. Автор: Yasufumi Suzuki,Masumi Kawakami,Hiroto Kaga. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2024-05-02.

Recording medium storing analysis program, analyzing method, and analyzing apparatus

Номер патента: US20110307602A1. Автор: Yasuhiko Kanemasa. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-12-15.

Leakage current analyzing apparatus, leakage current analyzing method, and computer product

Номер патента: US20090222773A1. Автор: Katsumi Homma. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-09-03.

Magnetization analyzing apparatus, magnetization analyzing method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20160048618A1. Автор: Koichi Shimizu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-02-18.

Cell-image analyzing apparatus

Номер патента: US20110019897A1. Автор: Kosuke Takagi,Genta Amakawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Queue information analyzing method and related image analyzing apparatus

Номер патента: US11216967B2. Автор: Cheng-Chieh Liu,Chih-Yen Lin. Владелец: Vivotek Inc. Дата публикации: 2022-01-04.

Static IR (voltage) drop Analyzing Apparatus and Associated Method

Номер патента: US20110153303A1. Автор: Chen-Hsing Lo,Chien-Pang Lu. Владелец: MStar Semiconductor Inc Taiwan. Дата публикации: 2011-06-23.

Cell-image analyzing apparatus

Номер патента: US8824767B2. Автор: Kosuke Takagi,Genta Amakawa. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2014-09-02.

Queue information analyzing method and related image analyzing apparatus

Номер патента: US20200051270A1. Автор: Cheng-Chieh Liu,Chih-Yen Lin. Владелец: Vivotek Inc. Дата публикации: 2020-02-13.

Waveguide line spread function analyzing apparatus

Номер патента: US4259579A. Автор: Joseph M. Geary. Владелец: US Air Force. Дата публикации: 1981-03-31.

Analyzing apparatus and analyzing program

Номер патента: EP3639752A1. Автор: Masaki Watanabe,Tetsuya Kawagishi,Yasunori Honjo. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2020-04-22.

Intelligent gait analyzing apparatus

Номер патента: US20230355135A1. Автор: Chin-Chi Kuo,Zhi-Ren Tsai,Jing-Pha Tsai. Владелец: Asia University. Дата публикации: 2023-11-09.

Analyzing apparatus and analyzing method using distribution information

Номер патента: US11844651B2. Автор: Masaki Watanabe,Yu Igarashi,Tetsuya Kawagishi,Yasunori Honjo. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Analyzing apparatus and analyzing method

Номер патента: US20240050062A1. Автор: Masaki Watanabe,Tetsuya Kawagishi,Yasunori Honjo. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2024-02-15.

Analyzing apparatus, analysis method and analysis program

Номер патента: US11568213B2. Автор: Mayumi Suzuki,Takuma Shibahara,Yasuho YAMASHITA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2023-01-31.

Alert analyzing apparatus, method and program

Номер патента: US8896445B2. Автор: Toshiyuki Omiya. Владелец: P&W Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-25.

Analyzing apparatus and analyzing method

Номер патента: US20100031207A1. Автор: Takashi Ohba. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2010-02-04.

Magnetic property analyzing apparatus and method

Номер патента: US20130166229A1. Автор: Koichi Shimizu. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2013-06-27.

Analyzing apparatus for shape of part of structural body

Номер патента: US9798836B2. Автор: Takanobu Saito. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Analyzing apparatus for shape of part of structural body

Номер патента: US20150154319A1. Автор: Takanobu Saito. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2015-06-04.

Monitoring data analyzing apparatus, monitoring data analyzing method, and monitoring data analyzing program

Номер патента: US20130185236A1. Автор: Toshio Tonouchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2013-07-18.

Information analyzing apparatus, information analyzing method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20230066454A1. Автор: Keisuke HASHIDA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Analyzing apparatus and analyzing method

Номер патента: US8332785B2. Автор: Takashi Ohba. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2012-12-11.

X-ray generator and x-ray analyzer

Номер патента: US20170236678A1. Автор: Manabu Noguchi,Tomohiro Chaki. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2017-08-17.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170236678A1. Автор: Chaki Tomohiro,NOGUCHI Manabu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-17.

X-RAY GENERATOR AND X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20170236679A1. Автор: Chaki Tomohiro,NOGUCHI Manabu. Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2017-08-17.

Energy Dispersive X-Ray Analyzer and Method for Energy Dispersive X-Ray Analysis

Номер патента: US20150270094A1. Автор: Ikku Yutaka. Владелец: HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION. Дата публикации: 2015-09-24.

X-Ray Analyzer and Method for Correcting Counting Rate

Номер патента: US20200058464A1. Автор: Tsukamoto Kazunori. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-20.

Gas cluster ion beam apparatus and analyzing apparatus

Номер патента: US20200312604A1. Автор: Katsumi Watanabe,Daisuke Sakai,Mauo SOGOU,Hiromichi Yamazui. Владелец: Ulvac PHI Inc. Дата публикации: 2020-10-01.

Digital-photo analyzing apparatus and computer-readable medium storing digital-photo analyzing program

Номер патента: US09413949B2. Автор: Sukeichi Miki,Manabu Miki. Владелец: VISIONARIST CO Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

High voltage amplifier circuit and analyzer apparatus

Номер патента: EP4178109A1. Автор: Masahiro Arimitsu. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2023-05-10.

Mass analyzing apparatus, analyzing method and calibration sample

Номер патента: US20130277542A1. Автор: Terumi Tamura,Makoto Nogami,Shinya Ito,Midori Sasaki. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2013-10-24.

Traffic analyzer apparatus

Номер патента: CA1187178A. Автор: Paul E. Lepore. Владелец: Delta Elevator Equipment Corp. Дата публикации: 1985-05-14.

Medical pulse analyzing apparatus

Номер патента: US3556084A. Автор: Carl A Budde. Владелец: Individual. Дата публикации: 1971-01-19.

Organization information recording apparatus, and organization information analyzing apparatus

Номер патента: US20040117391A1. Автор: Ikuo Koumaru. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2004-06-17.

Imaging apparatus and analyzing apparatus

Номер патента: US09661193B2. Автор: Kenji Narumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-23.

Data analyzing apparatus, method, and program

Номер патента: US20220327395A1. Автор: Shozo Azuma,Tomoki Watanabe,Tae Sato,Akihiro Chiba,Takuya Indo. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2022-10-13.

Parameter analyzing apparatus and method

Номер патента: US20130051751A1. Автор: Bing Zhou,Dong-Yan Li. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2013-02-28.

Timing analyzer apparatus and timing analysis program recording medium

Номер патента: US7523427B2. Автор: Tsuyoshi Sakata. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2009-04-21.

Signal analyzing apparatus, signal analyzing method and program

Номер патента: US20240050018A1. Автор: Shingo Tsukada. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-15.

Ratio analyzing apparatus and method

Номер патента: US3358919A. Автор: Jr Louis B Williams. Владелец: Monsanto Co. Дата публикации: 1967-12-19.

Resonance calculation program and analyzing apparatus

Номер патента: US20120215444A1. Автор: Hideki Matsumoto,Hiroki Koike,Daisuke Sato,Kazuya Yamaji,Shinobu Tsubota. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2012-08-23.

Record analyzing apparatus

Номер патента: US3128372A. Автор: Karl J Braun. Владелец: A Kimball Co. Дата публикации: 1964-04-07.

Response analyzing apparatus

Номер патента: GB1455305A. Автор: . Владелец: Pentel Co Ltd. Дата публикации: 1976-11-10.

Electromagnetic noise analyzing apparatus, controlling apparatus and controlling method

Номер патента: US20180029606A1. Автор: Hiroki Funato,Keisuke Fukumasu,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2018-02-01.

Imaging apparatus and analyzing apparatus

Номер патента: US20160037021A1. Автор: Kenji Narumi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-02-04.

IMAGE ANALYZING APPARATUS AND NON-TRANSITORY STORAGE MEDIUM STORING INSTRUCTIONS EXECUTABLE BY THE IMAGE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180068420A1. Автор: OZAWA Ryohei,Mori Kosuke. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-08.

IMAGE ANALYZING APPARATUS AND NON-TRANSITORY STORAGE MEDIUM STORING INSTRUCTIONS EXECUTABLE BY THE IMAGE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180068421A1. Автор: OZAWA Ryohei,Mori Kosuke. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-08.

Resonance calculation program and analyzing apparatus

Номер патента: US20120215444A1. Автор: Hideki Matsumoto,Hiroki Koike,Daisuke Sato,Kazuya Yamaji,Shinobu Tsubota. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2012-08-23.

MONITORING DATA ANALYZING APPARATUS, MONITORING DATA ANALYZING METHOD, AND MONITORING DATA ANALYZING PROGRAM

Номер патента: US20130185236A1. Автор: Tonouchi Toshio. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2013-07-18.

MONITORING DATA ANALYZING APPARATUS, MONITORING DATA ANALYZING METHOD, AND MONITORING DATA ANALYZING PROGRAM

Номер патента: US20130191107A1. Автор: Tonouchi Toshio. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2013-07-25.

POWER CONTROL CIRCUIT AND LOOP ANALYZING APPARATUS COMPRISING SAME

Номер патента: US20130241506A1. Автор: CHEN PENG,TONG SONG-LIN,YANG FU-SEN. Владелец: . Дата публикации: 2013-09-19.

ANALYZING APPARATUS CONTROL SYSTEM AND PROGRAM FOR THE SAME

Номер патента: US20140039647A1. Автор: Fukushima Nobumitsu. Владелец: . Дата публикации: 2014-02-06.

ANALYZING APPARATUS VALIDATING SYSTEM AND PROGRAM FOR THE SYSTEM

Номер патента: US20140041059A1. Автор: Tsujii Kanya. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2014-02-06.

Communication traffic analyzing apparatus, communication traffic analyzing method, program, and recording medium

Номер патента: US20210021495A1. Автор: Takanori Iwai,Anan SAWABE. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-01-21.

ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD

Номер патента: US20180025492A1. Автор: WATANABE Masaki,IGARASHI Yu,HONJO Yasunori. Владелец: Toshiba Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2018-01-25.

IMAGE ANALYZING APPARATUS, IMAGE ANALYZING METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20180039856A1. Автор: Hara Takayuki. Владелец: . Дата публикации: 2018-02-08.

MAGNETIZATION ANALYZING APPARATUS, MAGNETIZATION ANALYZING METHOD, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20160048618A1. Автор: Shimizu Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-18.

IMAGE ANALYZING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20150055874A1. Автор: Taguchi Yasunori,Yamamoto Takuma,Kaneko Toshimitsu. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2015-02-26.

BIOLOGICAL SOUND ANALYZING APPARATUS, BIOLOGICAL SOUND ANALYZING METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20190051315A1. Автор: Kametani Ryushin. Владелец: . Дата публикации: 2019-02-14.

QUEUE INFORMATION ANALYZING METHOD AND RELATED IMAGE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20200051270A1. Автор: LIU Cheng-Chieh,Lin Chih-Yen. Владелец: . Дата публикации: 2020-02-13.

Image Analyzing Apparatus that Corrects Isolated Pixels in Target Image Data

Номер патента: US20180061061A1. Автор: OZAWA Ryohei. Владелец: . Дата публикации: 2018-03-01.

ANALYZING APPARATUS, ANALYZING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM

Номер патента: US20150066441A1. Автор: Suzuki Noriyuki,NIWA Toshiyuki,Hiwatashi Shunji,Toyokawa Shin. Владелец: . Дата публикации: 2015-03-05.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180064320A1. Автор: Chiba Toru. Владелец: HOYA CORPORATION. Дата публикации: 2018-03-08.

ANALYZING APPARATUS, ANALYZING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT

Номер патента: US20210073253A1. Автор: Fujimura Hiroshi,KOBAYASHI Yuka,IWATA Kenji,Yoshida Takami. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2021-03-11.

ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD

Номер патента: US20200111559A1. Автор: WATANABE Masaki,Kawagishi Tetsuya,HONJO Yasunori. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2020-04-09.

Analyzing apparatus, analysis method and analysis program

Номер патента: US20200134430A1. Автор: Mayumi Suzuki,Takuma Shibahara,Yasuho YAMASHITA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-04-30.

DATA ANALYZING APPARATUS, METHOD AND STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20220292299A1. Автор: Nakata Kouta. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2022-09-15.

Image analyzing apparatus determining representation form of code image using distances of code elements

Номер патента: US20170155779A1. Автор: Ryohei OZAWA. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2017-06-01.

MOTION ANALYZING APPARATUS, MOTION ANALYZING METHOD, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20180169473A1. Автор: Nagasaka Tomoaki. Владелец: CASIO COMPUTER CO., LTD.. Дата публикации: 2018-06-21.

TIME-SERIES DATA ANALYZING APPARATUS AND TIME-SERIES DATA ANALYZING METHOD

Номер патента: US20140280135A1. Автор: TSUBOUCHI Kota. Владелец: Yahoo Japan Corporation. Дата публикации: 2014-09-18.

DATA ANALYZING APPARATUS AND PROGRAM

Номер патента: US20150199364A1. Автор: IWASAKI Hideki,MATSUMOTO Shigeru,SAKURAI Shigeaki,ISOBE Shozo,Nishi Kazuyoshi,MAKINO Kyoko,HAYAKAWA Rumi,EGAWA Seiji. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-16.

MOTION ANALYZING APPARATUS, MOTION ANALYZING SYSTEM, AND MOTION ANALYZING METHOD

Номер патента: US20180200575A1. Автор: SUGIMOTO Takuya,NAGAISHI Michihiro. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2018-07-19.

ANALYTIC METHOD AND ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170220450A1. Автор: Yoshida Hiroaki,Tokumoto Susumu. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2017-08-03.

STABILITY ANALYZING APPARATUS AND STABILITY ANALYZING METHOD

Номер патента: US20140312692A1. Автор: Lin Ray-Lee,Chen Wei-Ru. Владелец: . Дата публикации: 2014-10-23.

BRAIN TOMOGRAPHIC DYNAMIC IMAGE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150235358A1. Автор: SATO Tomohiko,Saito Daisuke,Soma Tsutomu,Takahashi Miwako,OGAKI Keisuke,Momose Toshimitsu. Владелец: . Дата публикации: 2015-08-20.

Motion analyzing apparatus and motion analyzing program

Номер патента: US20160236057A1. Автор: Masafumi Sato. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-08-18.

ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD

Номер патента: US20190244352A1. Автор: WATANABE Masaki,IGARASHI Yu,HONJO Yasunori. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2019-08-08.

IMAGING DEVICE AND ANALYZING APPARATUS USING THE IMAGING DEVICE

Номер патента: US20150281535A1. Автор: Korenaga Tsuguhiro,Imamura Norihiro,Matsuzaki Keiichi,Ochi Kazuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2015-10-01.

Image analyzing apparatus and image analyzing method

Номер патента: US20160292525A1. Автор: Takahiro Aoki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-10-06.

IMAGE ANALYZING APPARATUS THAT IDENTIFIES BARCODE IMAGE IN TARGET IMAGE

Номер патента: US20170286737A1. Автор: OZAWA Ryohei. Владелец: . Дата публикации: 2017-10-05.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150331401A1. Автор: YOKOI Yusuke. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2015-11-19.

ANALYZING APPARATUS, CONTROL METHOD, AND PROGRAM

Номер патента: US20200311401A1. Автор: Nonaka Tetsushi. Владелец: NEC Corporation. Дата публикации: 2020-10-01.

WIND NOISE ANALYZING APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING WIND NOISE

Номер патента: US20190354647A1. Автор: LONG Phan Vinh. Владелец: TOYOTA JIDOSHA KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2019-11-21.

VIDEO ANALYZING APPARATUS, CONTROL METHOD THEREOF, AND NON-TRANSITORY COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20200388040A1. Автор: Otake Ritsuko. Владелец: . Дата публикации: 2020-12-10.

Swing analyzing apparatus, swing analysis system and swing analysis method

Номер патента: CN104888441B. Автор: 高杉利康. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Image analyzing apparatus and image analyzing method

Номер патента: CN106020436A. Автор: 青木隆浩. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-10-12.

Clock gating analyzing apparatus, clock gating analyzing method, and computer product

Номер патента: US8069026B2. Автор: Hiroyuki Higuchi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2011-11-29.

Golf swing analyzing apparatus and method of analyzing golf swing

Номер патента: EP2717241A2. Автор: Ken Ota,Kazuhiro Shibuya. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2014-04-09.

Work analyzing apparatus in cooperating system of a plurality of sewing machines

Номер патента: EP2436817A1. Автор: Satomi Hara,Masahiko Ueta. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2012-04-04.

Time-series data analyzing apparatus, time-series data analyzing method, and computer program product

Номер патента: US20090292662A1. Автор: Ken Ueno,Ryohei Orihara. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-11-26.

Image analyzing apparatus that corrects isolated pixels in target image data

Номер патента: US10424066B2. Автор: Ryohei OZAWA. Владелец: Brother Industries Ltd. Дата публикации: 2019-09-24.

Program analyzing method, program analyzing apparatus and program analyzing program

Номер патента: US20090007087A1. Автор: Hideo Miyake,Makiko Ito,Atsuhiro Suga. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-01-01.

Manufacture data analysis method and manufacture data analyzer apparatus

Номер патента: US7584162B2. Автор: Hidetaka Tsuda,Hidehiro Shirai. Владелец: Fujitsu Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2009-09-01.

Analyzer apparatus and methods for lung disease

Номер патента: US8812249B2. Автор: Monica Silverstone Spiteri. Владелец: University Hospital of North Staffordshire NHS Trust. Дата публикации: 2014-08-19.

Logical structure analyzing apparatus, method, and computer product

Номер патента: US20090112797A1. Автор: Yusaku Fujii,Akihiro Minagawa,Yoshinobu Hotta,Katsuhito Fujimoto. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-04-30.

Dynamic communication line analyzer apparatus and method

Номер патента: WO1997035396A1. Автор: Kenneth T. Myers,Bryan J. Zwan. Владелец: Digital Lightwave, Inc.. Дата публикации: 1997-09-25.

Signal analyzing apparatus, signal analyzing method and program

Номер патента: US20240057924A1. Автор: Shingo Tsukada. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Signal analyzing apparatus, signal analyzing method and program

Номер патента: US20240016433A1. Автор: Shingo Tsukada. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-01-18.

Ignition analyzing apparatus

Номер патента: GB1041260A. Автор: James Andrew Umbarger. Владелец: Fox Valley Instrument Co. Дата публикации: 1966-09-01.

Ultrasound diagnosis apparatus and analyzing apparatus

Номер патента: US11759165B2. Автор: Masaki Watanabe,Yuko Takada. Владелец: Canon Medical Systems Corp. Дата публикации: 2023-09-19.

SAMPLE PROCESSING APPARATUS AND AUTOMATIC ANALYZING APPARATUS INCLUDING THE SAME

Номер патента: US20150209789A1. Автор: KIM HyunChul,Kho Byung Hoon,Moon Dae Kyung. Владелец: INFOPIA CO., LTD.. Дата публикации: 2015-07-30.

DRIVING APPARATUS FOR ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20140354192A1. Автор: NAKANISHI Kenji,SHIRAISHI Masahito,WAKITA Tsugio. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-04.

GAS CLUSTER ION BEAM APPARATUS AND ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20200312604A1. Автор: SAKAI Daisuke,WATANABE Katsumi,Yamazui Hiromichi,SOGOU Mauo. Владелец: ULVAC-PHI, INC. Дата публикации: 2020-10-01.

Image encoding apparatus, image analyzing apparatus, image encoding method, and image analyzing method

Номер патента: US20150358626A1. Автор: Katsuhiro KUSANO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

ULTRASOUND DIAGNOSIS APPARATUS AND ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20200337671A1. Автор: WATANABE Masaki,TAKADA Yuko. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2020-10-29.

Liquid feed apparatus and automatic analyzing apparatus

Номер патента: US7204961B2. Автор: Akira Koide,Ryo Miyake,Takao Terayama,Hiroshi Mitsumaki,Tomonari Morioka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2007-04-17.

Wafer defect analyzing apparatus, ion abstraction apparatus for same, and wafer defect analyzing method using same

Номер патента: SG173728A1. Автор: Ho Han. Владелец: Hansmachine Inc. Дата публикации: 2011-09-29.

An analyzing apparatus and method

Номер патента: AU2332295A. Автор: Richard Fiddian-Green. Владелец: Mountpelier Investments. Дата публикации: 1995-09-14.

Fluid sample collecting and analyzing apparatus and method

Номер патента: US20130017623A1. Автор: John Wu,Waiping Ng. Владелец: Ameditech Inc. Дата публикации: 2013-01-17.

MASS ANALYZING APPARATUS, ANALYZING METHOD AND CALIBRATION SAMPLE

Номер патента: US20130277542A1. Автор: Ito Shinya,Nogami Makoto,Tamura Terumi,Sasaki Midori. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-24.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20130299694A1. Автор: Imai Akira,Sato Tomoyoshi. Владелец: ATONARP INC.. Дата публикации: 2013-11-14.

EXHAUST GAS ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20130312615A1. Автор: Ito Manabu,MIYAI Masaru,YOSHIMURA Tomoshi. Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2013-11-28.

GOLF SWING ANALYZING APPARATUS AND METHOD OF ANALYZING GOLF SWING

Номер патента: US20140100048A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,OTA Ken. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-10.

GOLF SWING ANALYZING APPARATUS AND METHOD OF ANALYZING GOLF SWING

Номер патента: US20140100049A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,OTA Ken. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-10.

GOLF SWING ANALYZING APPARATUS AND METHOD OF ANALYZING GOLF SWING

Номер патента: US20140100050A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,OTA Ken. Владелец: . Дата публикации: 2014-04-10.

SWING ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160001128A1. Автор: NOMURA Kazuo,NAKAOKA Yasushi. Владелец: . Дата публикации: 2016-01-07.

MULTIPLEXED PATHLENGTH RESOLVED NONINVASIVE ANALYZER APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20150011848A1. Автор: Ruchti Timothy,Abul-Haj Alan,Hazen Kevin. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

MULTIPLEXED PATHLENGTH RESOLVED NONINVASIVE ANALYZER APPARATUS WITH STACKED FILTERS AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20150011849A1. Автор: Ruchti Timothy,Abul-Haj Alan,Hazen Kevin. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-08.

TISSUE PATHLENGTH RESOLVED NONINVASIVE ANALYZER APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20150018642A1. Автор: George Thomas,Gulati Sandeep,Ruchti Timothy,Abul-Haj Alan,Hazen Kevin H.. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

DYNAMIC SAMPLE MAPPING NONINVASIVE ANALYZER APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20150018646A1. Автор: George Thomas,Gulati Sandeep,Ruchti Timothy,Abul-Haj Alan,Hazen Kevin H.. Владелец: . Дата публикации: 2015-01-15.

GAS ANALYZER APPARATUS

Номер патента: US20220044919A1. Автор: Murthy Prakash Sreedhar,TAKAHASHI Naoki. Владелец: ATONARP INC.. Дата публикации: 2022-02-10.

BIOLOGICAL SOUND ANALYZING APPARATUS, BIOLOGICAL SOUND ANALYZING METHOD, COMPUTER PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM

Номер патента: US20190029562A1. Автор: Kametani Ryushin. Владелец: . Дата публикации: 2019-01-31.

ION TRAP MASS ANALYZER APPARATUS, METHODS, AND SYSTEMS UTILIZING ONE OR MORE MULTIPLE POTENTIAL ION GUIDE (MPIG) ELECTRODES

Номер патента: US20160035555A1. Автор: HANSON CURTISS DWIGHT. Владелец: . Дата публикации: 2016-02-04.

MULTIPLEXED PATHLENGTH RESOLVED NONINVASIVE ANALYZER APPARATUS WITH STACKED FILTERS AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20160058340A1. Автор: Ruchti Timothy,Abul-Haj Alan,Hazen Kevin. Владелец: . Дата публикации: 2016-03-03.

MOTION ANALYZING APPARATUS AND MOTION ANALYZING PROGRAM

Номер патента: US20150119158A1. Автор: Sato Masafumi. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

MOTION ANALYZING APPARATUS, MOTION ANALYZING METHOD, AND MOTION ANALYZING PROGRAM

Номер патента: US20150119159A1. Автор: SHIBUYA Kazuhiro,Sato Masafumi,NOMURA Kazuo,KODAIRA Kenya. Владелец: . Дата публикации: 2015-04-30.

TRAP REPLACEMENT MECHANISM AND MICROPARTICLE COMPOSITION ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170154762A1. Автор: TAKEDA Naoki,KOIZUMI Kazuhiro,ASANO Takamasa,HASEGAWA Yoshiki. Владелец: . Дата публикации: 2017-06-01.

BLOOD COMPONENT ANALYZING METHOD AND BLOOD COMPONENT ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150182150A1. Автор: Ikeda Akira. Владелец: . Дата публикации: 2015-07-02.

URINE COLLECTING AND ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150250456A1. Автор: Olgun Abdullah. Владелец: ARGERON MEDIKAL ARASTIRMA SANAYI VE TICARET ANONIM SIRKETI. Дата публикации: 2015-09-10.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20150251183A1. Автор: SAIKI Hiroshi. Владелец: . Дата публикации: 2015-09-10.

SAMPLE OPTICAL PATHLENGTH CONTROL USING A NONINVASIVE ANALYZER APPARATUS AND METHOD OF USE THEREOF

Номер патента: US20160249836A1. Автор: Gulati Sandeep,Ruchti Timothy,Hazen Kevin H.. Владелец: . Дата публикации: 2016-09-01.

IMAGE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20210338207A1. Автор: WATANABE Masaki,IGARASHI Yu,HONJO Yasunori,TAKADA Yuko. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2021-11-04.

PULSE WAVE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20170273582A1. Автор: TAKAYANAGI Tsuneo,UKAWA Teiji,MORIMOTO Haruka,KAWAMOTO Masashi,Nakamura Ryuji,Saeki Noboru. Владелец: . Дата публикации: 2017-09-28.

ENDOSCOPE SYSTEM AND ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20180279865A1. Автор: OBARA Yoshimi. Владелец: HOYA CORPORATION. Дата публикации: 2018-10-04.

ORGANISM ANALYZING APPARATUS AND ORGANISM ANALYZING METHOD

Номер патента: US20190313951A1. Автор: Takeuchi Jun. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2019-10-17.

BODILY-FLUID-COMPONENT ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20160345884A1. Автор: Tanaka Shinya. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO., LTD.. Дата публикации: 2016-12-01.

Digital-Photo Analyzing Apparatus and Computer-Readable Medium Storing Digital-Photo Analyzing Program

Номер патента: US20150373259A1. Автор: MIKI Sukeichi,MIKI Manabu. Владелец: . Дата публикации: 2015-12-24.

ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD

Номер патента: US20190374204A1. Автор: WATANABE Masaki,IGARASHI Yu,Kawagishi Tetsuya,HONJO Yasunori. Владелец: Canon Medical Systems Corporation. Дата публикации: 2019-12-12.

A kind of gas analyzing apparatus gapless stainless steel tube production technology

Номер патента: CN107385185A. Автор: 朱则军. Владелец: Zhejiang Special Steel Tube Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-24.

Fluid sample collecting and analyzing apparatus

Номер патента: US20090143699A1. Автор: John Wu,Waiping Ng. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-06-04.

signal analyzing apparatus and method for WCDMA

Номер патента: KR101796439B1. Автор: 이주형,김태범,정진섭,임용훈. Владелец: 주식회사 이노와이어리스. Дата публикации: 2017-11-10.

SEMICONDUCTOR IMAGE ANALYZER APPARATUS

Номер патента: FR2505589A1. Автор: Takashi Noguchi,Mitsuo Soneda,Takaji Ohtsu. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 1982-11-12.

COLOR IMAGE ANALYZER APPARATUS

Номер патента: FR2541542A1. Автор: Shintaro Nakagaki,Hiroshi Ichimura,Ichiro Negishi,Itsuo Takanashi,Takashi Kuriyama. Владелец: Victor Company of Japan Ltd. Дата публикации: 1984-08-24.

Plasma ion source mass analyzing apparatus

Номер патента: US5559337A. Автор: Yoshitomo Nakagawa,Tetsumasa Ito. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 1996-09-24.

Temperature-programmed desorbed gas analyzing apparatus

Номер патента: US20050086997A1. Автор: Shuichi Matsuo,Tadashi Arii,Yoshihiro Takata. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2005-04-28.

Fluid sample collecting and analyzing apparatus

Номер патента: WO2009073155A3. Автор: John Wu,Waiping Ng. Владелец: AMEDITECH, INC.. Дата публикации: 2009-09-17.

Secondary electron energy analyzing apparatus

Номер патента: US3609352A. Автор: Lawrence A Harris. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1971-09-28.

Fluid sample collecting and analyzing apparatus and method

Номер патента: US8540938B2. Автор: John Wu,Waiping Ng. Владелец: Ameditech Inc. Дата публикации: 2013-09-24.

Washing equipment of biochemical automatic analyzing apparatus

Номер патента: JPS5845566A. Автор: Emiko Tamura,田村 恵美子. Владелец: Tokyo Shibaura Electric Co Ltd. Дата публикации: 1983-03-16.

COLOR IMAGE ANALYZER APPARATUS

Номер патента: FR2541542B1. Автор: Shintaro Nakagaki,Hiroshi Ichimura,Ichiro Negishi,Itsuo Takanashi,Takashi Kuriyama. Владелец: Victor Company of Japan Ltd. Дата публикации: 1988-11-25.

The electromagnetic radiation chamber of the bio-effect analyzing apparatus

Номер патента: KR102012602B1. Автор: 송영배. Владелец: 주식회사 담스테크. Дата публикации: 2019-08-20.

Handheld x-ray analyzer

Номер патента: CA147095S. Автор: . Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2013-03-26.

X-ray analyzing apparatus

Номер патента: CA693534A. Автор: E. Bigelow John. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1964-09-01.

TRANSMISSION X-RAY ANALYZER AND TRANSMISSION X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130032728A1. Автор: MATOBA Yoshiki. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

X-RAY ANALYZER AND X-RAY ANALYSIS METHOD

Номер патента: US20130034204A1. Автор: MATOBA Yoshiki,SATO Tsuneo,Nakatani Rintaro. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-07.

X-ray analysis method and X-ray analyzer

Номер патента: JP6795010B2. Автор: 裕二 田中,田中 裕二,紗未 奥村. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2020-12-02.

X-ray analysis method and X-ray analyzer

Номер патента: JP6915374B2. Автор: 健二 野村,野村 健二. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2021-08-04.

X-ray analyzer with energy dispersive x-ray spectrometer

Номер патента: JP2009250867A. Автор: Yasunori Ota,Kazuyoshi Shibuya,谷 和 好 渋,田 康 則 太. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2009-10-29.

X-ray analyzer and X-ray analysis method

Номер патента: JP5102549B2. Автор: 幸一 辻,晃典 松田,薫 堤本. Владелец: National Institute of Japan Science and Technology Agency. Дата публикации: 2012-12-19.

X-ray detector and fluorescence x-ray analyzer using it

Номер патента: JP2005121400A. Автор: Takashi Shoji,孝 庄司,Yukio Sako,幸雄 迫,彰 荒毛,Akira Arake. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2005-05-12.

X-ray condensing element and X-ray analyzer

Номер патента: JP2561600B2. Автор: 智也 新井. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1996-12-11.

Sample cell for x-ray analyzer

Номер патента: USD628709S1. Автор: John H. Burdett, Jr.,Daniel L. DUNHAM,James B. Quinn. Владелец: X Ray Optical Systems Inc. Дата публикации: 2010-12-07.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: US20120230468A1. Автор: SAKAI Noriaki. Владелец: . Дата публикации: 2012-09-13.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3197104B2. Автор: 修三 須藤,邦雄 中島. Владелец: セイコーインスツルメンツ株式会社. Дата публикации: 2001-08-13.

X-RAY ANALYZER

Номер патента: SU409121A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 1973-11-30.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPS6441850A. Автор: Kenji Kishibe,Masanori Obata. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 1989-02-14.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3521425B2. Автор: 章二 桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2004-04-19.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPH1114570A. Автор: Shoji Kuwabara,章二 桑原. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1999-01-22.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPH1019809A. Автор: Akira Kobayashi,明 小林,Kazuji Yokoyama,和司 横山. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 1998-01-23.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS6480842A. Автор: Hidenobu Ishida,Takehiko Nakatani. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1989-03-27.

X-ray analyzer and analysis method thereof

Номер патента: JP3950866B2. Автор: 立行 前川,晋 内藤,幹雄 泉,昭雄 河合,総一郎 森本. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2007-08-01.

X-ray analyzer

Номер патента: JPH01132943A. Автор: Tatsuya Matsuzaki,龍哉 松崎. Владелец: Individual. Дата публикации: 1989-05-25.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3711410B2. Автор: 忠 宇高. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2005-11-02.

Goniometer for x-ray analyzing device

Номер патента: JPS63115040A. Автор: Takao Komatsubara,小松原 岳雄. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1988-05-19.

X-ray analyzer

Номер патента: JP4788512B2. Автор: 暁 大越,広司 林. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-10-05.

Vessel for liquid sample of fluorescence x-ray analyzer

Номер патента: JPS6483140A. Автор: Koichi Kono,Yasuhiro Ayukawa,Mieko Kawami. Владелец: Toa Nenryo Kogyyo KK. Дата публикации: 1989-03-28.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPH1164253A. Автор: Yoshiyuki Kataoka,由行 片岡,Ayako Oishi,綾子 大石. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1999-03-05.

Multi-element simultaneous type fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2007155651A. Автор: Tomoya Arai,智也 新井. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 2007-06-21.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5959057B2. Автор: 恵一 森川,克彦 稲葉,徹 光永. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2016-08-02.

Combined device of optical microscope and X-ray analyzer

Номер патента: JP4650330B2. Автор: 岳直 藤井. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2011-03-16.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2569500B2. Автор: 武彦 中谷. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1997-01-08.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2685726B2. Автор: 浩平 閑歳,久征 河野,淳二 藤森. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 1997-12-03.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5589578B2. Автор: 直樹 淡路. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2014-09-17.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5589555B2. Автор: 朋晃 川村. Владелец: Nichia Corp. Дата публикации: 2014-09-17.

X-ray analyzer

Номер патента: JPS62154542A. Автор: Seiichi Suzuki,清一 鈴木. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 1987-07-09.

X-ray analyzing device

Номер патента: JPS62265556A. Автор: Takehiko Nakatani,武彦 中谷. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1987-11-18.

Fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2014222191A. Автор: Hideaki Takahashi,秀明 ▲高▼橋,Hiroshi Kono,Satoshi Fujimura,河野  浩,浩 河野,聖史 藤村. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2014-11-27.

X-ray analyzer interlock mechanism

Номер патента: JP2540543Y2. Автор: 慎太郎 駒谷,雅夫 水田. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1997-07-09.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3411705B2. Автор: 寛 小林,久征 河野,正次 倉岡. Владелец: 理学電機工業株式会社. Дата публикации: 2003-06-03.

X-ray analyzer

Номер патента: JP4073276B2. Автор: 澄人 大澤. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2008-04-09.

X-ray analyzer

Номер патента: JP3654568B2. Автор: 慎太郎 駒谷,澄人 大澤. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2005-06-02.

Total reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JP2010256259A. Автор: 智行 福田,Satoyuki Fukuda. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2010-11-11.

X-ray analyzer

Номер патента: JPH07104292B2. Автор: 武彦 中谷,秀信 石田. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1995-11-13.

Fluorescent x-ray analyzing instrument

Номер патента: JPS6332360A. Автор: Takayuki Shimamune,孝之 島宗,Tamotsu Hayashi,保 林,節郎 尾形,Setsuo Ogata. Владелец: Permelec Electrode Ltd. Дата публикации: 1988-02-12.

X-ray analyzers

Номер патента: CA840509A. Автор: K. De Jongh Wilhelmus. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1970-04-28.

Total reflection fluorescent x-ray analyzer

Номер патента: JPS6378056A. Автор: Yoshiji Tada,多田 芳史. Владелец: Rigaku Industrial Corp. Дата публикации: 1988-04-08.

X-ray analyzer

Номер патента: JP2013137297A. Автор: Katsuhiko Inaba,Keiichi Morikawa,恵一 森川,克彦 稲葉,徹 光永,Toru Mitsunaga. Владелец: Rigaku Corp. Дата публикации: 2013-07-11.

Fluorescence x-ray analyzer

Номер патента: JP2010078592A. Автор: Kiyoshi Hasegawa,Tetsuo Ozawa,清 長谷川,哲郎 小澤. Владелец: SII NanoTechnology Inc. Дата публикации: 2010-04-08.

Interlocking mechanism of x-ray analyzer

Номер патента: JPH10104173A. Автор: Masao Mizuta,雅夫 水田. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 1998-04-24.

X-ray analyzer having region division support function in composition distribution

Номер патента: JP2003240739A. Автор: Seiji Higuchi,Yoshimichi Sato,誠司 樋口,義通 佐藤. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2003-08-27.

X-ray analyzer

Номер патента: JP5181389B2. Автор: 啓一 田中,哲 中山,澄男 飯島,成計 小田原,俊治 坂東. Владелец: Hitachi High Tech Science Corp. Дата публикации: 2013-04-10.

Fluorescent x rays analyzer

Номер патента: JPS62119447A. Автор: Seiji Hashimoto,誠司 橋本. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 1987-05-30.

Electron probe x-ray analyzer

Номер патента: CA670712A. Автор: B. Wittry David. Владелец: APPLIED RESEARCH LABORATORIES. Дата публикации: 1963-09-17.

Time constant control system for x-ray analyzers and gages

Номер патента: CA734068A. Автор: J. Culbertson Robert. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1966-05-10.

SAMPLE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20120004742A1. Автор: Wakamiya Yuji,Okuzaki Tomohiro,Takehara Hisato. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Stroboscopic engine analyzing apparatus

Номер патента: CA871323A. Автор: A. Marino Joseph,S. Maccrea Richard. Владелец: Marquette Corp. Дата публикации: 1971-05-18.

Electrical circuit analyzing apparatus

Номер патента: AU144431B2. Автор: . Владелец: Bendix Aviation Corp. Дата публикации: 1947-11-06.

Particle analyzing apparatus and method of utilizing multiple apertures

Номер патента: AU1443866A. Автор: HENRY COULTER and WALTER ROBERT HOGG WALLACE. Владелец: Individual. Дата публикации: 1968-05-30.

Particle analyzing apparatus and method of utilizing multiple apertures

Номер патента: AU408182B2. Автор: HENRY COULTER and WALTER ROBERT HOGG WALLACE. Владелец: Individual. Дата публикации: 1968-05-30.

Multiple aperture fittings for particle analyzing apparatus

Номер патента: AU408183B2. Автор: HENRY COULTER and WALTER ROBERT HOGG WALLACE. Владелец: Individual. Дата публикации: 1970-06-17.

Electrical circuit analyzing apparatus

Номер патента: AU2315648A. Автор: . Владелец: Bendix Aviation Corp. Дата публикации: 1948-10-21.

Electrical circuit analyzing apparatus

Номер патента: AU146345B2. Автор: . Владелец: Bendix Aviation Corp. Дата публикации: 1948-10-21.

Electrical circuit analyzing apparatus

Номер патента: AU1559947A. Автор: . Владелец: Bendix Aviation Corp. Дата публикации: 1947-11-06.

Multiple aperture fittings for particle analyzing apparatus

Номер патента: CA796419A. Автор: H. Coulter Wallace,R. Hogg Walter. Владелец: Individual. Дата публикации: 1968-10-08.

Analyzing apparatus

Номер патента: CA650456A. Автор: Witt Walter. Владелец: Minneapolis Honeywell Regulator Co. Дата публикации: 1962-10-16.

Particle pulse analyzing apparatus employing linear amplification and logarithmic conversion

Номер патента: CA938124A. Автор: E. Ellison Lynn,H. Berg Robert. Владелец: Individual. Дата публикации: 1973-12-11.

PRETREATMENT APPARATUS AND MASS ANALYZING APPARATUS EQUIPPED WITH THE SAME

Номер патента: US20120079875A1. Автор: Nogami Makoto,Kanda Katsuhiro,Waki Izumi. Владелец: . Дата публикации: 2012-04-05.

FLUORESCENCE ANALYZING APPARATUS AND FLUORESCENCE DETECTING APPARATUS

Номер патента: US20120097864A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-04-26.

LIQUID SAMPLE ANALYZING APPARATUS AND LIQUID SAMPLE INTRODUCING APPARATUS

Номер патента: US20120216632A1. Автор: . Владелец: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2012-08-30.

Biochemical reaction analyzing apparatus

Номер патента: CA1313113C. Автор: Hidechika Hayashi. Владелец: Tosoh Corp. Дата публикации: 1993-01-26.

ELECTRONIC COMPONENT ANALYZING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20120017679A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-01-26.

CABLE INSTALLED STATE ANALYZING METHOD AND CABLE INSTALLED STATE ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20120033206A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-02-09.

COMMUNICATION SYSTEM, INFORMATION ANALYZING APPARATUS AND INFORMATION ANALYZING METHOD

Номер патента: US20120040649A1. Автор: . Владелец: NTT DOCOMO, INC.. Дата публикации: 2012-02-16.

DEFECT ANALYZING METHOD AND DEFECT ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20120046778A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-02-23.

COMMUNICATION SYSTEM, INFORMATION ANALYZING APPARATUS, AND INFORMATION ANALYZING METHOD

Номер патента: US20120064914A1. Автор: . Владелец: NTT DOCOMO, INC.. Дата публикации: 2012-03-15.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20120075623A1. Автор: Matsumoto Daisuke,Shiraki Yasunori. Владелец: ARKRAY, INC.. Дата публикации: 2012-03-29.

ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20120093299A1. Автор: . Владелец: RIGAKU CORPORATION. Дата публикации: 2012-04-19.

SWING ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20120157241A1. Автор: NOMURA Kazuo,NAKAOKA Yasushi. Владелец: SEIKO EPSON CORPORATION. Дата публикации: 2012-06-21.

MESH NUMBER PREDICTION METHOD, ANALYZING APPARATUS AND COMPUTER-READABLE STORAGE MEDIUM

Номер патента: US20120239359A1. Автор: . Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-09-20.

COMPUTER PRODUCT, DATA ANALYZING METHOD, AND DATA ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20120239599A1. Автор: Matsumoto Kazuhiro. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-09-20.

ANALYZING APPARATUS, METHOD, SYSTEM, AND RECORDING MEDIUM OF PROGRAM

Номер патента: US20120246300A1. Автор: Yokoyama Ken,HIGUCHI Junichi,Iwakura Hirokazu,Kubota Atsushi. Владелец: FUJITSU LIMITED. Дата публикации: 2012-09-27.

FINE PARTICLE ANALYZING APPARATUS AND FINE PARTICLE ANALYZING METHOD

Номер патента: US20120250018A1. Автор: . Владелец: SONY CORPORATION. Дата публикации: 2012-10-04.

LIQUID CHARACTERISTIC ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20120255347A1. Автор: . Владелец: HORIBA, LTD.. Дата публикации: 2012-10-11.

ANALYZING APPARATUS AND ANALYZING METHOD

Номер патента: US20120329170A1. Автор: Matsumoto Shigeki. Владелец: USHIO INC.. Дата публикации: 2012-12-27.

LIVING BODY COMPONENT ANALYZING METHOD AND LIVING BODY COMPONENT ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20130006080A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2013-01-03.

PARAMETER ANALYZING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20130051751A1. Автор: Zhou Bing,LI DONG-YAN. Владелец: . Дата публикации: 2013-02-28.

Alert Analyzing Apparatus, Method and Program

Номер патента: US20130057402A1. Автор: Omiya Toshiyuki. Владелец: P&W Solutions Co., Ltd.. Дата публикации: 2013-03-07.

NETWORK PROTOCOL ANALYZER APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20130094376A1. Автор: Reeves Randall E.. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-18.

DOCUMENT ANALYZING APPARATUS

Номер патента: US20130103388A1. Автор: Chen Chi. Владелец: . Дата публикации: 2013-04-25.

MAGNETIC PROPERTY ANALYZING APPARATUS AND METHOD

Номер патента: US20130166229A1. Автор: Shimizu Koichi. Владелец: . Дата публикации: 2013-06-27.

Analyzing Apparatus Control System And Program For The Same

Номер патента: US20140020455A1. Автор: Shiohama Tohru. Владелец: SHIMADZU CORPORATION. Дата публикации: 2014-01-23.

Magnetic body analyzing apparatus and magnetic body analyzing method

Номер патента: JP4805631B2. Автор: 朋浩 森下,裕二郎 山本. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2011-11-02.

Traffic information analyzing apparatus

Номер патента: KR200285457Y1. Автор: 이재형,이상만,심광호,류승기,최도혁,최우민,최대순,윤여환. Владелец: 건아정보기술 주식회사. Дата публикации: 2002-08-13.

Lubricating oil property analyzing method and analyzing apparatus

Номер патента: JP6177615B2. Автор: 浩二 斉藤,啓義 副島,斉藤 浩二,海道 昌孝,昌孝 海道. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2017-08-09.

Viewing information analyzing program, viewing information analyzing apparatus, and viewing information analyzing method

Номер патента: JP4481767B2. Автор: 厚雅 水野. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2010-06-16.

Failure analyzing apparatus for electric rolling stock

Номер патента: JPS5641701A. Автор: Shigeru Kuriyama,Minoru Kaminaga. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1981-04-18.

Detecting and analyzing apparatus for power efficiency of electric fork truck

Номер патента: CN101650240B. Автор: 郭勇,何清华,邓宇,刘均益. Владелец: Hunan Sunward Intelligent Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-20.

Gas analyzing apparatus

Номер патента: CA608583A. Автор: Cherrier Claude-Michel. Владелец: Compagnie de Saint Gobain SA. Дата публикации: 1960-11-15.

Analysis arrangement for chemical analyzing apparatus

Номер патента: CA923802A. Автор: Maxon Theodore,A. Kleiman Lowell. Владелец: Scientific Industries Inc. Дата публикации: 1973-04-03.

Color analyzing apparatus with polarized light source

Номер патента: CA2388286C. Автор: Gottfried Rohner,Harald Kerschbaumer,Walter Pokorny,Graham Pye. Владелец: IVOCLAR VIVADENT AG. Дата публикации: 2010-05-11.

Magnetic property analyzing apparatus, magnetic property analyzing method, and computer program

Номер патента: JP6610346B2. Автор: 潔 和嶋,輝幸 玉木. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-11-27.

Urine data analyzing apparatus

Номер патента: JPS6453158A. Автор: Takao Ikenaga,Toshibumi Shigematsu,Masatoshi Tanida,Shigeru Makita,Hitoshi Kitaura. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 1989-03-01.

Testing instrument for use in diagnosis automatic analyzing apparatus

Номер патента: JPH11326339A. Автор: Kenji Iwata,Tadashi Hamanaka,憲二 岩田,忠 浜中. Владелец: Wako Pure Chemical Industries Ltd. Дата публикации: 1999-11-26.

Sample cartridge, sample analyzing apparatus, and method

Номер патента: JP2003254896A. Автор: Kenji Nakauchi,健二 中内. Владелец: Kokusai Gijutsu Kaihatsu Co Ltd. Дата публикации: 2003-09-10.

Automatic analyzing apparatus

Номер патента: JP2016211879A. Автор: Yasuhiro Fukumoto,泰弘 福本. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2016-12-15.

A kind of ship smoke ultraviolet differential gas analyzing apparatus

Номер патента: CN206057171U. Автор: 李国斌,杨勃,李兆涛. Владелец: QINGDAO OUSEN SYSTEM TECHNOLOGY Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-29.

Analyzing apparatus

Номер патента: CA745707A. Автор: H. S. Fraser Ian. Владелец: Union Carbide Corp. Дата публикации: 1966-11-01.

Inclination analyzing apparatus, method and program

Номер патента: JP2009301510A. Автор: Takuya Sakai,拓也 酒井,博文 近津,Hirobumi Chikatsu. Владелец: Aero Asahi Corp. Дата публикации: 2009-12-24.

Liquid stream analyzing apparatus

Номер патента: CA722149A. Автор: W. Luther Martin. Владелец: Sun Oil Co. Дата публикации: 1965-11-23.