AUTOMATIC ANALYZER AND METHOD FOR DETECTING MEASUREMENT VALUE ABNORMALITIES
Номер патента: US20140356964A1
Опубликовано: 04-12-2014
Автор(ы): IIJIMA Masahiko, Makino Akihisa, Watanabe Akiko
Принадлежит: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 04-12-2014
Автор(ы): IIJIMA Masahiko, Makino Akihisa, Watanabe Akiko
Принадлежит: HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Automatic analyzer and method for detecting measurement value abnormalities
Номер патента: US09506942B2. Автор: Akiko Watanabe,Masahiko Iijima,Akihisa Makino. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2016-11-29.