Россия, г. Королев.

eburdiyg@gmail.com

8 (903) 781-84-63

  • Главная
  • Inspection system including a self-stabilizing assembly

Inspection system including a self-stabilizing assembly

Номер патента: CA3149816A1
Опубликовано: 25-03-2021
Автор(ы): Justin BENTSEN
Принадлежит: Interactive Aerial Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Inspection system including a self-stabilizing assembly

Номер патента: GB2602399A8. Автор: Bentsen Justin. Владелец: Interactive Aerial Inc. Дата публикации: 2022-09-07.

Inspection system including a self-stabilizing assembly

Номер патента: AU2020350487A1. Автор: Justin BENTSEN. Владелец: Nexxis Tech Pty Ltd. Дата публикации: 2022-03-17.

Inspection system including a self-stabilizing assembly

Номер патента: WO2021055151A1. Автор: Justin BENTSEN. Владелец: Interactive Aerial, Inc.. Дата публикации: 2021-03-25.

Inspection system including a self-stabilizing assembly

Номер патента: ZA202201544B. Автор: Justin BENTSEN. Владелец: Interactive Aerial Inc. Дата публикации: 2022-10-26.

Inspection system including a self-stabilizing assembly

Номер патента: GB2602399B. Автор: Bentsen Justin. Владелец: Nexxis Tech Pty Ltd. Дата публикации: 2023-10-11.

INSPECTION SYSTEM INCLUDING A SELF-STABILIZING ASSEMBLY

Номер патента: US20210088632A1. Автор: Bentsen Justin. Владелец: . Дата публикации: 2021-03-25.

Portable pipe inspection systems and apparatus

Номер патента: US09924139B2. Автор: Mark S. Olsson,Michael E. Turgeon,James F. Kleyn. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Inspection system including side illumination unit and inspection method using the same

Номер патента: US20230175974A1. Автор: Junghoon Choi,Yunsong Jeong,Sangyong YU. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-06-08.

Underground utility vault inspection system and method.

Номер патента: EP2515166A2. Автор: Andrew John Phillips,Tiebin Zhao,Steven Wallace Eckroad. Владелец: Electric Power Research Institute Inc. Дата публикации: 2012-10-24.

Portable digital holographic probe for the inspection of optical fiber connectors, and inspection system and method for the same

Номер патента: US09733616B2. Автор: Normand Cyr,Bernard Ruchet. Владелец: Exfo Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Pipeline inspection device and pipeline inspection system

Номер патента: US09709532B2. Автор: Sang-Ki Park,Doo-Song GIL,Yeon-Shik AHN,Gye-Jo Jung. Владелец: Korea East West Power Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-18.

Substrate inspection system, substrate inspection method and recording medium

Номер патента: US20200386538A1. Автор: Hiroshi Nakamura,Toyohisa Tsuruda,Yasuaki Noda. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-12-10.

Scanning inspection system with angular correction

Номер патента: US09587936B2. Автор: Alexander Slobodov,Anatoly Romanovsky,Yury Yuditsky. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Self-grounding transmitting portable camera controller for use with pipe inspection system

Номер патента: US09769366B2. Автор: Mark S. Olsson,Dawn E. Shaffer. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Inspection system and inspection method

Номер патента: AU2018278940B2. Автор: Manabu Watanabe,Fumio Sato,Akihiro Matsuzaki,Fujio Terai,Hitoshi Katayama,Yuichiro Gunji. Владелец: Toshiba Energy Systems and Solutions Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Pipe inspection systems with self-grounding portable camera controllers

Номер патента: US20180249061A1. Автор: Mark S. Olsson,Dawn E. Shaffer. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2018-08-30.

Inspection method of a photomask and an inspection system

Номер патента: US20190137869A1. Автор: Cheng-Ming Lin,Hao-Ming Chang,Sheng-Chang Hsu,Tsun-Cheng Tang,Waylen Chang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Optical inspection system

Номер патента: US09885561B2. Автор: Liang-Pin Yu,Yeong-Feng Wang,Kuang-Pu Wen. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Door inspection system for vehicle and inspection method for the same

Номер патента: US09791381B2. Автор: Jin Cheol Kim,Young Soo Lim,Kang Jae JO,Bum-Hun JUN. Владелец: Dasannewtech Co Ltd. Дата публикации: 2017-10-17.

Inspection apparatus for optically inspecting an object, and object inspection system

Номер патента: US20200150050A1. Автор: Martin Berger,Alexander Thobe. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2020-05-14.

Inspection system, inspection management device, inspecting method, and program

Номер патента: US20240183792A1. Автор: Takako Onishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

A cup inspection system

Номер патента: WO2008038963A1. Автор: Hyun Uk Kim. Владелец: Hyun Uk Kim. Дата публикации: 2008-04-03.

Inspection system and method

Номер патента: EP4369124A1. Автор: Stefan Rink,Gideon May,Jonathan van der Spek,Nick JANSSEN. Владелец: Am Flow Holding BV. Дата публикации: 2024-05-15.

Measurement system, inspection system, measurement device, measurement method, inspection method, and program

Номер патента: US20240062401A1. Автор: Hiroyuki Mori,Takayuki Nishi,Shimpei FUJII,Takako Onishi,Hironori Kasahara,Yuji Karita. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-02-22.

Gear inspection system

Номер патента: US20220099434A1. Автор: Brian W. Slone. Владелец: Slone Gear International Inc. Дата публикации: 2022-03-31.

Inspection apparatus for optically inspecting an object, and object inspection system

Номер патента: US11041813B2. Автор: Martin Berger,Alexander Thobe. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2021-06-22.

Inspection system for manufactured components

Номер патента: US20230280284A1. Автор: Nathan Kujacznski,Mike Nygaard,Nadaly Marchi. Владелец: General Inspection LLC. Дата публикации: 2023-09-07.

Non-contact inspection system

Номер патента: CA2160906A1. Автор: James Lee Hanna. Владелец: Hanna, James L.. Дата публикации: 1994-10-27.

Non-contact inspection system

Номер патента: CA2160906C. Автор: James Lee Hanna. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-07-18.

Inspection system for reticle particle detection using a structural illumination with aperture apodization

Номер патента: US20240272058A1. Автор: Justin Lloyd KREUZER,Michal Emanuel Pawlowski. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-15.

Spring assemblies with variable flexibility for use with push-cables and pipe inspection systems

Номер патента: US20230266657A1. Автор: Olsson Mark S,Eric M. Chapman,James F. Kleyn. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2023-08-24.

Self-leveling inspection systems and methods

Номер патента: US20240003821A1. Автор: Ray Merewether,Michael J. Martin,Mark S. Olsson,David A. Cox,Roger B. Shaffer,Stephanie M Bench. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Self-leveling inspection systems and methods

Номер патента: US11674906B1. Автор: Ray Merewether,Michael J. Martin,Mark S. Olsson,David A. Cox,Stephanie M. Bench,Roger B. Shaffer. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2023-06-13.

Pipe inspection system with jetter push-cable

Номер патента: US09791382B2. Автор: Mark S. Olsson,Matthew J. Thompson,Eric M. Chapman,Justin W. Taylor. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Inspection system having an expanded angular coverage

Номер патента: US09989480B2. Автор: Itay Cohen,Noam Gordon. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2018-06-05.

Inspection system and method with variable-diameter traveling robot for inspection of natural gas pipeline

Номер патента: US20210278349A1. Автор: Wen He,Qin Li,NAN Ji,Zhen Chen,Chan LIU,Yixuan HE,Ai FU,Boyuan Ma. Владелец: SOUTHWEST PETROLEUM UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-09-09.

Quality inspection system and method of operation

Номер патента: US20200096328A1. Автор: Simon Raab,Rolf Heidemann,Bernd-Dietmar Becker,Oliver Zweigle,Aleksej Frank,Joao Santos,Steffen Kappes. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2020-03-26.

Direction change valve malfunction prediction system and malfunction prediction method, and direction change valve malfunction inspection system and inspection method

Номер патента: EP4435403A1. Автор: Jun Ho Lee,Young Sik WON. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Spring assemblies with variable flexibility for use with push-cables and pipe inspection systems

Номер патента: US09829783B1. Автор: Mark S. Olsson,Eric M. Chapman,James F. Kleyn. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Pipeline inspection system

Номер патента: US09599571B2. Автор: Hermann Herrlich,G. Gregory Penza,George Lohr. Владелец: ULC Robotics Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Extreme ultraviolet (euv) mask inspection system, a load-lock chamber included therein, and a method for inspecting an euv mask using the euv mask inspection system

Номер патента: US20220283519A1. Автор: Sungho Kang,Jihoon Na,Jaewhan Sung,Hak-Seok Lee,Hyunjune Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-09-08.

Inspection system for extreme ultraviolet (euv) light source

Номер патента: US20230142835A1. Автор: Heng-Hsin Liu,Shang-Chieh Chien,Li-Jui Chen,Sheng-Kang Yu,Chiao-Hua Cheng. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2023-05-11.

Active damper for semiconductor metrology and inspection systems

Номер патента: US20200370619A1. Автор: Paul A. DOYLE,Mark James Franceschi,Morgan A. Crouch,Kenneth E. James. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2020-11-26.

Active damper for semiconductor metrology and inspection systems

Номер патента: WO2020242805A1. Автор: Paul A. DOYLE,Mark James Franceschi,Morgan A. Crouch,Kenneth E. James. Владелец: Onto Innovation Inc.. Дата публикации: 2020-12-03.

Narrow gap inspection system

Номер патента: US09845914B2. Автор: Jens Meissner,Wolfgang Obierai,Alexander Riecker,Christian Röllig,Phetoury Souvannavong. Владелец: WESTINGHOUSE ELECTRIC GERMANY GMBH. Дата публикации: 2017-12-19.

Pipe inspection system camera heads

Номер патента: US9824433B2. Автор: TRAN Nguyen,Ray Merewether,Mark S. Olsson,Michael J Martin,Stephanie M Bench. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Camera module inspection system and method for operating the same

Номер патента: US12035047B2. Автор: Jae Woong Kim,Hyun Wook Shin,Kyung Sub Oh,Jung In PARK. Владелец: Pamtek Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Local purge within metrology and inspection systems

Номер патента: US20190170634A1. Автор: Paul A. DOYLE,Morgan A. Crouch,Ryan Tsai. Владелец: Nanometrics Inc. Дата публикации: 2019-06-06.

Local purge within metrology and inspection systems

Номер патента: US20200011786A1. Автор: Paul A. DOYLE,Morgan A. Crouch,Ryan Tsai. Владелец: Onto Innovation Inc. Дата публикации: 2020-01-09.

Gantry configuration for combined mobile radiation inspection system

Номер патента: US09453935B2. Автор: Qingjun Zhang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Tao Xue,Quanwei Song,Chunguang ZONG,Sheng TANG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-27.

Pipe inspection system camera heads

Номер патента: US11842474B1. Автор: TRAN Nguyen,Ray Merewether,Michael J. Martin,Mark S. Olsson,Stephanie M. Bench. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Optical system, inspection system and manufacturing method

Номер патента: US20110279805A1. Автор: Yuli Vladimirsky,Lev Ryzhikov,James H. Walsh. Владелец: Asml Holding Nv. Дата публикации: 2011-11-17.

Self-leveling inspection systems and methods

Номер патента: US10613034B2. Автор: Michael Martin,Ray Merewether,Mark S. Olsson,David A. Cox,Stephanie M. Bench,Roger B. Shaffer. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2020-04-07.

Self-leveling inspection systems and methods

Номер патента: US09927368B1. Автор: Michael Martin,Ray Merewether,Mark S. Olsson,David A. Cox,Stephanie M. Bench,Roger B. Shaffer. Владелец: Seescan Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

EUV high throughput inspection system for defect detection on patterned EUV masks, mask blanks, and wafers

Номер патента: US9377414B2. Автор: David R. Shafer,David L. Brown,Yung-ho Chuang,Bin-Ming Benjamin Tsai,Richard W. Solarz. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2016-06-28.

Drainage tile inspection system

Номер патента: US20240084947A1. Автор: Austin EHLE,David J. Hockemeyer. Владелец: Davaus LLC. Дата публикации: 2024-03-14.

Automatic photomask inspection system and apparatus

Номер патента: US4247203A. Автор: Kenneth Levy,Paul Sandland. Владелец: KLA Instruments Corp. Дата публикации: 1981-01-27.

Automatic photomask inspection system and apparatus

Номер патента: US4347001A. Автор: Kenneth Levy,Paul Sandland. Владелец: KLA Instruments Corp. Дата публикации: 1982-08-31.

Reticle inspection system

Номер патента: US4926489A. Автор: David A. Joseph,Donald L. Danielson,Mark J. Wihl. Владелец: KLA Instruments Corp. Дата публикации: 1990-05-15.

Inspection system for continuous variable valve lift device

Номер патента: US9051885B2. Автор: Jong Won Lee,Kyoung Pyo Ha. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2015-06-09.

Inspection system having an expanded angular coverage

Номер патента: US20160313258A1. Автор: Itay Cohen,Noam Gordon. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2016-10-27.

Counterflow gas nozzle for contamination mitigation in extreme ultraviolet inspection systems

Номер патента: EP4285099A1. Автор: Michael Lang,Rudy Garcia,Ravichandra Jagannath. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-12-06.

Inspection system for continuous variable valve lift device

Номер патента: US20140182530A1. Автор: Jong Won Lee,Kyoung Pyo Ha. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2014-07-03.

Extreme ultraviolet (euv) substrate inspection system with simplified optics and method of manufacturing thereof

Номер патента: WO2015095621A1. Автор: Christopher Dennis Bencher,Christopher G. Talbot,Majeed A. Foad,John Christopher Moran. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2015-06-25.

Extreme ultraviolet (EUV) substrate inspection system with simplified optics and method of manufacturing thereof

Номер патента: US09915621B2. Автор: Christopher Dennis Bencher,Christopher G. Talbot,Majeed A. Foad,John Christopher Moran. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Remote video inspection system

Номер патента: US11635165B2. Автор: Kurt Ashley McLain,Scott Andrew Briggs. Владелец: Frontier Electronic Systems Corp. Дата публикации: 2023-04-25.

Method For Inspection Of A Target Object, Control System And Inspection System

Номер патента: US20210190478A1. Автор: Andreas Frank,Jacobus Lodevicus Martinus Van Mechelen,Deran Maas. Владелец: ABB Schweiz AG. Дата публикации: 2021-06-24.

Multi-view vision inspection system

Номер патента: CA3166730A1. Автор: Huang Li,Jun Li. Владелец: Speedbot Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Multi-view vision inspection system

Номер патента: US20230004078A1. Автор: Huang Li,Jun Li. Владелец: Speedbot Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and recording medium for tire inspection

Номер патента: US20240035817A1. Автор: Hiroaki Sugimoto,Yoichi Kawashima,Masato Furukawa,Akinori Miyake,Yuki Ishijima. Владелец: Toyo Tire Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Tire inspection apparatus, tire inspection system, and recording medium for tire inspection

Номер патента: US20240034099A1. Автор: Hiroaki Sugimoto,Yoichi Kawashima,Masato Furukawa,Akinori Miyake,Yuki Ishijima. Владелец: Toyo Tire Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Modular inspection system for measuring an object

Номер патента: US20210048291A1. Автор: Michael Muller,Simon Raab,Oliver Zweigle,Mark BRENNER,Muhammad Umair Tahir,Steffen Kappes. Владелец: Faro Technologies Inc. Дата публикации: 2021-02-18.

Image acquisition system, image acquisition method, and inspection system

Номер патента: US09886764B2. Автор: Stanley E. Stokowski,Guoheng Zhao,Andrew Hill,Johan De Greeve,Karel Van Gils,Maarten Van Der Burgt. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Multi-color surface inspection system, method for inspecting a surface, and method for calibrating the multi-color surface inspection system

Номер патента: US11994476B2. Автор: Ming Li,Drew Schiltz. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2024-05-28.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US12105025B2. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2024-10-01.

Immersion inspection system for a machine and related method of operation

Номер патента: US20140250982A1. Автор: Gary Austin Lamberton,Curtis Wayne Rose. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-09-11.

Damper inspection systems and methods

Номер патента: US12031735B2. Автор: Jeffrey Scott Beneke,Ujjain Kumar Bidila,Anup Tejkumar Kole,Kent Steven Maune,Michael Anthony Coyazo,Rahul Ashokrao Tambakhe,Vihari Venkata Vidya Andukuri. Владелец: Air Distribution Technologies IP LLC. Дата публикации: 2024-07-09.

Vehicle safety inspection system and safety inspection method

Номер патента: US20240319401A1. Автор: Yuan Ma,Yu Hu,Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Yanwei Xu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Cushioning device inspection system, a sampling device for inspection of a cushioning device and a cushioning device inspection method

Номер патента: US10023896B2. Автор: David Woolfson,Duncan Bain. Владелец: Pneuma Pure Holdings Ltd. Дата публикации: 2018-07-17.

Inspection cable guide mechanism, driving device, inspection cable insertion jig, and gas turbine inspection system including these

Номер патента: US20230280582A1. Автор: Yoichi Sato,Takashi Matsuzawa,Shin Asano,Kotaro Tadano,Yasutaka Fuke,Hirone Komatsu,Koshiro Irie. Владелец: Tokyo Institute of Technology NUC. Дата публикации: 2023-09-07.

Immersion inspection system for a machine and related method of operation

Номер патента: EP2801699A3. Автор: Gary Austin Lamberton,Curtis Wayne Rose. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2015-08-05.

Rotor blade inspection system

Номер патента: US20240352938A1. Автор: Gregory S. Hagen,Zaffir A. Chaudhry,David L. LINCOLN,Paul Attridge,Janet Shaw,Scott Goyette,Jeffrey P. King. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Inspection device for hydraulic equipment, inspection system for hydraulic equipment, work vehicle, and inspection method for hydraulic equipment

Номер патента: US20220050058A1. Автор: Masaya Kato,Takatoshi Sasaki. Владелец: KOMATSU LTD. Дата публикации: 2022-02-17.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US12117483B2. Автор: Kentaro Konishi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Damper inspection systems and methods

Номер патента: US20220397300A1. Автор: Jeffrey Scott Beneke,Ujjain Kumar Bidila,Anup Tejkumar Kole,Kent Steven Maune,Michael Anthony Coyazo,Rahul Ashokrao Tambakhe,Vihari Venkata Vidya Andukuri. Владелец: Air Distribution Technologies IP LLC. Дата публикации: 2022-12-15.

Flexible tether position tracking camera inspection system for visual inspection of off line industrial gas turbines and other power generation machinery

Номер патента: US09681107B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Clifford Hatcher, JR.. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2017-06-13.

Boresonic inspection system

Номер патента: CA1293796C. Автор: Lawrence Darrell Nottingham,Thomas Elsworth Michaels,Jennifer Emmons Michaels. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1991-12-31.

Automated airfield ground lighting inspection system

Номер патента: US10891727B2. Автор: Tak Kit Lau,Kai Wun Lin,Pong Mau Ng,Kai To Wong. Владелец: D2v Ltd. Дата публикации: 2021-01-12.

Video inspection system with deformable, self-supporting deployment tether

Номер патента: US9778141B2. Автор: Forrest R. Ruhge,Robert G. Shannon,Clifford Hatcher, JR.,Joshua DeAscanis,David Letter,Alejandro Bancalari,James P. Williams. Владелец: Siemens Energy Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Cooling hole inspection system

Номер патента: US20190317025A1. Автор: Michael LEXA,Majid Nayeri,Bryon Knight. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2019-10-17.

Blade inspection system

Номер патента: US09715100B2. Автор: Eiichi Kobayashi,Fumio Hori,Yutaka Konomura. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Inspection apparatus, inspection method, and inspection system

Номер патента: EP3499211A3. Автор: Takashi Matsuyama,Ikue TAKAGI. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2019-07-31.

Ammunition inspecting system

Номер патента: US09709371B1. Автор: Dong Hee Lee. Владелец: Poongsan Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Vehicle safety inspection system and safety inspection method

Номер патента: GB2617962A. Автор: HU YU,MA Yuan,Sun Shangmin,ZONG Chunguang,XU Yanwei. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-25.

Video inspection system for hazardous environments

Номер патента: US4961111A. Автор: Nils G. Herlitz,Karl L. Iglehart,John S. Sentell. Владелец: Safe T V Inc. Дата публикации: 1990-10-02.

High speed autofocus interferometric inspection systems & methods

Номер патента: WO2010098921A3. Автор: Randolph Tyler,Ifeanyi Charles Ume. Владелец: GEORGIA TECH RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2010-12-02.

Inspection system and a method for evaluating an exit pupil of an inspection system

Номер патента: US09846128B2. Автор: Harel Ilan,Ido Kofler,Ido Dolev. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Glass container inspection system

Номер патента: EP4211449A1. Автор: Michael Leo Kress,Benjamin James Crissman,Jacob Joseph Trombetta. Владелец: Applied Vision Corp. Дата публикации: 2023-07-19.

Glass container inspection system

Номер патента: WO2022055596A1. Автор: Michael Leo Kress,Benjamin James Crissman,Jacob Joseph Trombetta. Владелец: APPLIED VISION CORPORATION. Дата публикации: 2022-03-17.

Surface inspection system and method

Номер патента: US20240272086A1. Автор: Peter Abeles. Владелец: Ninox 360 LLC. Дата публикации: 2024-08-15.

Gas well integrity inspection system

Номер патента: CA2959485C. Автор: Ertugrul Berkcan,Yuri Alexeyevich Plotnikov,Clifford Bueno,William Robert Ross,Edward James Nieters,John Scott Price,Susanne Madeline Lee. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2022-11-15.

Vehicle-mounted ct security inspection system

Номер патента: EP4187286A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Zhiqiang Chen,Jinning Liang,Qingping Huang,Mingzhi Hong. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-31.

Collection bin for an in-line product inspection system, and in-line product inspection system

Номер патента: CA3029358C. Автор: Michal Kania. Владелец: Mettler Toledo Safeline Ltd. Дата публикации: 2024-04-02.

Inspection System and a Method for Evaluating an Exit Pupil of an Inspection System

Номер патента: US20170205359A1. Автор: Harel Ilan,Ido Kofler,Ido Dolev. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-07-20.

Molding thickness inspection device, molding thickness inspection system including the same, and molding thickness inspection method

Номер патента: US20240200931A1. Автор: Chang-Beom Kim,Ji Yeon Son,Hyun Chul KANG,Yong Kwi Lee,Young Seog YOON. Владелец: Electronics and Telecommunications Research Institute ETRI. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspection system for inspection of a lateral surface of a three-dimensional test object

Номер патента: US20210190482A1. Автор: Ulf Porth,Bertram Burkhardt,Oliver Habermann. Владелец: Muehlbauer GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-24.

Inspection system, extraction device, and inspection method

Номер патента: US20230367015A1. Автор: Akira Tsuji. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Multiple surface inspection system and method

Номер патента: SG157291A1. Автор: AMANULLAH Ajharali,Han Cheng Ge,Huek Choy Tan,Hing Tim Lai. Владелец: Semiconductor Tech & Instr Inc. Дата публикации: 2009-12-29.

Multiple surface inspection system and method

Номер патента: EP2116840A3. Автор: Ajharali Amanullah,Han Cheng Ge,Huek Choy Tan,Hing Tim Lai. Владелец: Semiconductor Tech and Instruments Pte Ltd. Дата публикации: 2011-01-26.

Inspection system, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20190277775A1. Автор: Miyuki Maruta. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2019-09-12.

Inspection system and method for analyzing defects

Номер патента: US20240035983A1. Автор: Pavel Linhart. Владелец: WITRINS sro. Дата публикации: 2024-02-01.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: EP4443142A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-09.

Car body inspection device, car body inspection system, and car body inspection method

Номер патента: US20240310293A1. Автор: Teruki Kamada,Koji Masuda,Yuta Inoue,Rie Hirayama,Takahiro Kiyama. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-09-19.

Method and System for High Speed Height Control of a Substrate Surface Within a Wafer Inspection System

Номер патента: US20150055141A1. Автор: Zhongping Cai,Jingyi Xiong. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2015-02-26.

High speed vacuum cycling excitation system for optical inspection systems

Номер патента: EP4350279A3. Автор: Morteza Safai,Xiaoxi Wang. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-07-03.

Product index mechanism and product inspection system

Номер патента: US11921029B2. Автор: Rong Zhang,Roberto Francisco-Yi Lu,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-05.

Product index mechanism and product inspection system

Номер патента: US20220291115A1. Автор: Rong Zhang,Roberto Francisco-Yi Lu,Lvhai (Samuel) Hu,Dandan (Emily) Zhang,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-15.

System and method for controlling a tracking autofocus (TAF) sensor in a machine vision inspection system

Номер патента: US09444995B2. Автор: Dahai Yu,Ryan Northrup,Hirato Sonobe. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-09-13.

Power chain elongation inspecting system and method

Номер патента: US09790034B2. Автор: Sang Kyu Park. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-10-17.

Multiple surface inspection system and method

Номер патента: SG178772A1. Автор: Ajharali Amanullah,Han Cheng Ge,Huek Choy Tan,Hing Tim Lai. Владелец: Semiconductor Tech & Instr Inc. Дата публикации: 2012-03-29.

Inspection system, inspection method, and storage medium

Номер патента: US10830708B2. Автор: Miyuki Maruta. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-11-10.

Warehouse inspection system

Номер патента: US11970378B2. Автор: Maximilian RICHTER,Ralf Wetegrove,Hannes Bistry. Владелец: Jungheinrich AG. Дата публикации: 2024-04-30.

Method and system for automatically generating reference height data for use in a three-dimensional inspection system

Номер патента: WO2001061275A1. Автор: Donald J. Svetkoff,Robert W. Kelley,Donald K. Rohrer,John J. Weisgerber. Владелец: Gsi Lumonics, Inc.. Дата публикации: 2001-08-23.

Method and system for high speed height control of a substrate surface within a wafer inspection system

Номер патента: WO2015027110A1. Автор: Zhongping Cai,Jingyi Xiong. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2015-02-26.

Inspection system and method using an off-axis unobscured objective lens

Номер патента: WO2016081654A1. Автор: Andrei Shchegrov,Alexander Kuznetsov,Shankar Krishnan,Barry Blasenheim,Claudio Rampoldi. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2016-05-26.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US10775316B2. Автор: Yasuyuki Inoue,Toru Kurihara,Keiichi Akazawa. Владелец: Kochi Prefectural University Corp. Дата публикации: 2020-09-15.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20200011810A1. Автор: Yasuyuki Inoue,Toru Kurihara,Keiichi Akazawa. Владелец: Kochi Prefectural PUC. Дата публикации: 2020-01-09.

Pattern inspection system

Номер патента: US4547895A. Автор: Takashi Yoshida,Kikuo Mita,Masayuki Oyama,Tadao Nakakuki,Masato Nakashima,Katsumi Fujihara. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1985-10-15.

Optical inspection system

Номер патента: CA1210472A. Автор: Truman F. Kellie,James D. Landry,Ching C. Lai. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 1986-08-26.

High speed vacuum cycling excitation system for optical inspection systems

Номер патента: EP4350279A2. Автор: Morteza Safai,Xiaoxi Wang. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-04-10.

Laser inspection system and inspection method using the same

Номер патента: US20240094135A1. Автор: Seungmin Song. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-21.

Structural wall inspection system using drones to perform nondestructive testing (ndt)

Номер патента: WO2022018557A1. Автор: Mina Samir Fekry Kamel. Владелец: Voliro AG. Дата публикации: 2022-01-27.

Inspection system and method

Номер патента: EP4369057A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Chao Ji. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240310304A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Chao Ji. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection system for apparatus for manufacturing display device and inspection method for apparatus for manufacturing display device

Номер патента: US20230230353A1. Автор: Gihyun LEE. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-20.

Optical inspection system, optical inspection method, and aircraft structure

Номер патента: US11105657B2. Автор: Toshimichi Ogisu,Hideki Soejima. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2021-08-31.

Alignment inspecting system for liquid crystal substrate

Номер патента: US09546864B2. Автор: PING Luo. Владелец: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-17.

Distributed nondestructive inspection system and method for identifying slickline cable defects and mechanical strength degradation trend

Номер патента: US09939347B2. Автор: Wei Zhang,Hua Xia,Sean Gregory THOMAS. Владелец: Halliburton Energy Services Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Automated inspection system

Номер патента: US09707656B2. Автор: Mark F. Gabriel,Frederic P. Berg. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-07-18.

Container inspection system with individual light control

Номер патента: EP4274247A2. Автор: Richard D. Diehr,Joe DORDONI. Владелец: Emhart Glass SA. Дата публикации: 2023-11-08.

Container inspection system with individual light control

Номер патента: EP4274247A3. Автор: Richard D. Diehr,Joe DORDONI. Владелец: Emhart Glass SA. Дата публикации: 2024-01-24.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and member repairing method

Номер патента: EP4160138A1. Автор: Yuji Nishizawa,Kyohei Ishida,Yuta TOKUMOTO. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2023-04-05.

Non-destructive inspection system for display panel and method, and non-destructive inspection apparatus thereof

Номер патента: US09588060B2. Автор: Jae Young Kim,Ki Wan Kim,Yeong Ri JUNG. Владелец: OZ-TEC Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-07.

Pattern inspection system

Номер патента: US4908871A. Автор: Yasuhiko Hara,Hideaki Doi,Akira Sase,Koichi Karasaki. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1990-03-13.

Control means and method for optical inspection system

Номер патента: WO1989006021A1. Автор: Roeland M. T. Hekker,Izhak M. Livny. Владелец: E.I. Du Pont De Nemours and Company. Дата публикации: 1989-06-29.

Ultrasonic Inspection System

Номер патента: US20200124412A1. Автор: Akinori Tamura,Naoyuki Kouno. Владелец: Hitachi GE Nuclear Energy Ltd. Дата публикации: 2020-04-23.

Inspection system, control unit, control method, and storage medium

Номер патента: US11852611B2. Автор: Masahiro Saito,Shin Matsumoto,Akira Ushijima,Yasunori Chiba. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-12-26.

Rapid changeover multi-diameter ultrasonic tube inspection system

Номер патента: US5088328A. Автор: Clarence D. John, Jr.,Richard S. Wengewicz. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1992-02-18.

Semiconductor manufacturing inspection system

Номер патента: US20210097670A1. Автор: Motoki Iinuma. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-01.

Inspection system and method for analyzing faults

Номер патента: US20240328961A1. Автор: Roman Wieser. Владелец: WICKON HIGHTECH GmbH. Дата публикации: 2024-10-03.

Rapid changeover multi-diameter ultrasonic tube inspection system

Номер патента: CA2047420C. Автор: Clarence Daniel John, Jr.,Richard Stanley Wengewicz. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 2003-02-11.

Semiconductor inspection system

Номер патента: US09704235B2. Автор: Yuichi Abe,Akiyuki Sugiyama. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Optical inspection system, optical inspection method, and aircraft structure

Номер патента: US20190368904A1. Автор: Toshimichi Ogisu,Hideki Soejima. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2019-12-05.

Inspection system and method for controlling inspection system

Номер патента: US20230112498A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-04-13.

Three dimensional inspection system

Номер патента: US6055054A. Автор: Elwin M. Beaty,David P. Mork. Владелец: Mork; David P.. Дата публикации: 2000-04-25.

Alignment Inspecting System for Liquid Crystal Substrate

Номер патента: US20150323314A1. Автор: PING Luo. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2015-11-12.

Solder paste inspection system

Номер патента: GB2375914A. Автор: David Fishbaine,David M Kranz,Timothy A Skunes,Eric P Rudd,Carl E Haugan. Владелец: Cyberoptics Corp. Дата публикации: 2002-11-27.

Substrate inspection system and method of manufacturing semiconductor device using substrate inspection system

Номер патента: US11823961B2. Автор: Taehyun Kim,Sangmin Lee,Sangwoo Bae,Boris Afinogenov,Maksim RIABKO,Anton MEDVEDEV,Aleksandr SHOROKHOV,Anton Sofronov,Ingi KIM,Seulgi Lee,Eunhee Jeang,Wondon Joo,Minhwan Seo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-21.

Substrate inspection system and method of manufacturing semiconductor device using substrate inspection system

Номер патента: US20240145315A1. Автор: Taehyun Kim,Sangmin Lee,Sangwoo Bae,Boris Afinogenov,Maksim RIABKO,Anton MEDVEDEV,Aleksandr SHOROKHOV,Anton Sofronov,Ingi KIM,Seulgi Lee,Eunhee Jeang,Wondon Joo,Minhwan Seo. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-05-02.

Machine vision inspection method, and inspection apparatus and inspection system therefor

Номер патента: EP4332553A1. Автор: Yinhang TU,Kunpeng CUI. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Autonomous reach envelope inspection system for amusement park rides

Номер патента: US20240230905A1. Автор: Francis Michael SIEMER,Gregory Brooks Hale,Aaron Michael Foster,Brian Foster Walters. Владелец: Disney Enterprises Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Item inspection system, inspection method, and information processing apparatus

Номер патента: US20240176964A1. Автор: Kenichi Fujii,Yuki Nakajima,Kenichi Nakao,Tomoya Uehara,Mitsuhide Murofushi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

An intermodal container inspection system

Номер патента: WO2024047154A1. Автор: Patrick VAN DEN BERG. Владелец: Apm Terminals B.V.. Дата публикации: 2024-03-07.

Inspection system

Номер патента: US20230350093A1. Автор: Hiroki Mori. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Security inspection system

Номер патента: US20240201364A1. Автор: Hiroki Mori,Honoka HAZAWA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspection system

Номер патента: EP4270057A1. Автор: Hiroki Mori. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-11-01.

Inspection system and method

Номер патента: US09981675B2. Автор: Jared Klineman Cooper,Nicholas David Nagrodsky. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-05-29.

Inspection system and method

Номер патента: US09446776B2. Автор: Jared Klineman Cooper,Nicholas David Nagrodsky. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-09-20.

Security inspection system

Номер патента: EP4386444A1. Автор: Hiroki Mori,Honoka HAZAWA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-06-19.

Unmanned aerial vehicle ginger planting patrol inspection system based on background image location

Номер патента: LU506358B1. Автор: Jialin Li,Honglei LI. Владелец: Univ Chongqing Arts & Sciences. Дата публикации: 2024-04-08.

Bar arrangement inspection system and bar arrangement inspection method

Номер патента: US20240112327A1. Автор: Takeshi Kikuchi. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-04-04.

Vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: US20240176039A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Mingzhi Hong. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-30.

Inspection system for inspecting contents of a target person, and inspection method thereof

Номер патента: US20230288560A1. Автор: Shinichi Morimoto,Masayuki Ariyoshi,Shingo Yamanouchi,Kazumine Ogura,Tatsuya SUMIYA,Masanori SEKIDO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-09-14.

Transport system, inspection system, and inspection method

Номер патента: US12013429B2. Автор: Seiichiro MOTOMURA. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-06-18.

Extensible millimeter wave security inspection system, scanning unit and security inspection method for human body

Номер патента: EP3537186A3. Автор: Yuanjing Li,Ziran Zhao,Zhimin Zheng,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Yingkang Jin,Wenguo Liu,Lingbo QIAO,Xilei Luo. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-22.

Vehicle inspection system

Номер патента: US20210272391A1. Автор: Takeshi Katamine,Kento Aono. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-02.

Security inspection system and security inspection method

Номер патента: US20240094383A1. Автор: Hiroki Mori. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Security inspection system and security inspection method

Номер патента: EP4343378A1. Автор: Hiroki Mori. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-27.

Safety inspection system for occupant evacuation elevator, and method thereof

Номер патента: US11767195B2. Автор: Heung Youl Kim,Seung Un CHAE,Bum Yeon Cho,Ki Seok KWON. Владелец: Korea Institute of Civil Engineering and Building Technology KICT. Дата публикации: 2023-09-26.

Vehicle inspection system

Номер патента: US20220057481A1. Автор: Shoji Matsuda,Yosuke Ichikawa,Kento Aono. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2022-02-24.

Inspection system and method for controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20230119179A1. Автор: Hirotaka Seki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-04-20.

Inspection system, inspection method, and storage medium

Номер патента: US20240085548A1. Автор: Akira Moriya,Hiroki Mori,Tomoya Tandai,Ryota SEKIYA,Daiki Yoda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection system, inspection method, and storage medium

Номер патента: EP4339635A1. Автор: Akira Moriya,Hiroki Mori,Tomoya Tandai,Ryota SEKIYA,Daiki Yoda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-03-20.

Core inspection device, core inspection system, and core inspection method

Номер патента: US11953425B2. Автор: Hiroki Matsuoka,Takashi Hanai. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Ultrasonic transducer and ultrasonic inspection system

Номер патента: EP4398600A1. Автор: Akira Onodera,Koji TATSUGUCHI. Владелец: Toray Engineering D Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Inspection system for concentrating photovoltaic apparatus and inspection method for light receiving part

Номер патента: US11799421B2. Автор: Takashi Iwasaki,Kenji Saito. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2023-10-24.

Security scanning and inspection system and security scanning and inspection method

Номер патента: EP3796050A1. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Yanwei Xu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-24.

Gas well integrity inspection system

Номер патента: US09746583B2. Автор: Ertugrul Berkcan,Yuri Alexeyevich Plotnikov,Clifford Bueno,William Robert Ross,Edward James Nieters,John Scott Price,Susanne Madeline Lee. Владелец: Baker Hughes Oilfield Operations LLC. Дата публикации: 2017-08-29.

Back scattering inspection system and back scattering inspection method

Номер патента: US20210364455A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Yuan Ma,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-25.

Inspection System

Номер патента: US20220341810A1. Автор: Ryo Yamashita,Kazuya Omori,Kyohei Miyamae,Naoto Okawara. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2022-10-27.

Inspection system and inspection method of bare circuit board

Номер патента: US20240310428A1. Автор: Hsin-Hung Lee,Chun-Hsien Chien,Hsuan-Yu Lai,Yu-Chung Hsieh. Владелец: Unimicron Technology Corp. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner

Номер патента: EP4242644A1. Автор: Fei Cai,Richard Calawa. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-09-13.

Multidirectional magnetic particle inspection system

Номер патента: WO2015123023A1. Автор: David S. Segletes,Erik A. Lombardo. Владелец: SIEMENS ENERGY, INC.. Дата публикации: 2015-08-20.

Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner

Номер патента: US12025565B2. Автор: Fei Cai,Richard Calawa. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-07-02.

Inspection system, inspection apparatus, and inspection method

Номер патента: US12038349B2. Автор: Hiroshi Takahashi,Kazuo Watabe,Takashi Usui,Takamitsu Sunaoshi,Atsuro OONISHI,Toshiki Takayasu. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Inspection system, control device, and control method

Номер патента: US20190212304A1. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2019-07-11.

Inspection system

Номер патента: EP4141421A1. Автор: Keiko Inoue,Shoji Yachida,Toshinori Hosoi,Azusa SAWADA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-01.

Inspection Systems and Methods Employing Directional Light For Enhanced Imaging

Номер патента: US20240163537A1. Автор: Sandeep Kumar,Andrew Crispin Graham,Vamshi Krishna Reddy Kommareddy,Byron Andrew Pritchard,Peter John Nisbet,Biswajit Medhi. Владелец: Oliver Crispin Robotics Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Inspection system for turbine rotors

Номер патента: US20180080811A1. Автор: Robert William Bergman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-03-22.

Wafer inspection system

Номер патента: US20240219447A1. Автор: Wei-Chih Chen,Yi-Yen Lin,Shen-Hao TSAI. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Dynamic color filter macroscopic inspection system and method

Номер патента: US20180306725A1. Автор: Houyi Zhu. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-25.

Optical compensation in high numerical aperture photomask inspection systems for inspecting photomasks through thick pellicles

Номер патента: WO2004021049A3. Автор: Damon F Kvamme,Ronald L Roncone. Владелец: Kla Tencor Tech Corp. Дата публикации: 2005-03-31.

Inspection system, inspection method, and inspection program

Номер патента: US12099017B2. Автор: Yatfei Chan,Yoichi Kigawa. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2024-09-24.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: US20230394643A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-12-07.

Optical compensation in high numerical aperture photomask inspection systems for inspecting photomasks through thick pellicles

Номер патента: WO2004021049A2. Автор: Damon F. Kvamme,Ronald L. Roncone. Владелец: Kla-Tencor Technologies, Corporation. Дата публикации: 2004-03-11.

Inspection system

Номер патента: US12066388B2. Автор: Masato Utsumi,Koji Kurano,Ken IDEYAMA. Владелец: WIT CO Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Optical inspection systems with pulsed light sources and pulse multiplexing

Номер патента: US20240280506A1. Автор: Ron Naftali,Haim Feldman,Boris Golberg,Keith Wells,Elad EIZNER. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Inspection system, management apparatus, inspection method, recording medium, and manufacturing method of article

Номер патента: US12118712B2. Автор: Mika SHIKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection system

Номер патента: US20240369495A1. Автор: Masato Utsumi,Koji Kurano,Ken IDEYAMA. Владелец: WIT CO Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Movable ray inspection system and ray inspection method for a container

Номер патента: US20180172604A1. Автор: LI ZHANG,Ying Li,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Quanwei Song,Yulan Li,Chunguang ZONG,Hejun Zhou. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-21.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240219325A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-04.

Article inspection system and method, electronic device, storage medium

Номер патента: US20210055267A1. Автор: Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Yaohong Liu,Qiufeng Ma,Biao CAO,Nan Bai,Honghui Xin. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-25.

Inspection system and method

Номер патента: US20240284050A1. Автор: Timothy Schroeder,Shu Wang,Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Edward T. Price, III,Anthony L. Swann,Swapnilsinh SOLANKI,Albert W. Wolfgang, III,Scott Thomas Schlegel,Yiyun Fei,Moises Gutierrez,Maxwell Wolf,Breanna Hardee. Владелец: TE Connectivity Solutions GMBH. Дата публикации: 2024-08-22.

Wafer inspection system

Номер патента: US12117485B2. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

System and method for apodization in a semiconductor device inspection system

Номер патента: US09645093B2. Автор: Gary Janik,Grace Hsiu-Ling Chen,Robert M. Danen,Jamie M. Sullivan,Wenjian Cai,Steve Cui,Dieter WILK,Steve SHORT,Mikhail Haurylau,Suwipin Martono,Shobhit VERMA,Meier BRENDER,Rex Runyon,Qiang Q. Zhang. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Multi-zone automatic magnetoscop inspection system

Номер патента: US20200300731A1. Автор: Xuan Liu,Andrew Debiccari,William J. Brindley,Zhong Ouyang. Владелец: Raytheon Technologies Corp. Дата публикации: 2020-09-24.

Feature inspection system

Номер патента: EP4396772A1. Автор: Mark Davis Haynes,Glen Paul Cork,Bharath Achyutha Rao,John Thomas Baumfalk-Lee,Matthew W. McKenna,Bruce E. Gabel,Scott Bishop,Gregorio Balandran. Владелец: Spirit AeroSystems Inc. Дата публикации: 2024-07-10.

Feature inspection system

Номер патента: EP4214496A1. Автор: Mark Davis Haynes,Glen Paul Cork,Bharath Achyutha Rao,John Thomas Baumfalk-Lee,Matthew W. McKenna,Bruce E. Gabel,Scott Bishop,Gregorio Balandran. Владелец: Spirit AeroSystems Inc. Дата публикации: 2023-07-26.

Inspection system

Номер патента: EP3805727A1. Автор: Tomohiko Ueda,Kenichiro Otsuka,Kazuya Masuda,Hitoshi Hatayama,Tetsufumi Tsuzaki,Yoshifumi Hishikawa,Tsuneari ITO. Владелец: Sumitomo Electric Optifrontier Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-14.

Flexible inspection system

Номер патента: US12072300B2. Автор: Francis Maslar,Walter Laplante,Paul Christopher Shaw,Scott Arboleda. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2024-08-27.

Flexible inspection system

Номер патента: US20210172882A1. Автор: Francis Maslar,Walter Laplante,Paul Christopher Shaw,Scott Arboleda. Владелец: FORD GLOBAL TECHNOLOGIES LLC. Дата публикации: 2021-06-10.

Inspection system and method

Номер патента: US20240319112A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection system

Номер патента: US20240230558A9. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Fastener inspection system

Номер патента: WO2005063415A1. Автор: Hock Seh Ong,Ta Seng Jeffrey Mah. Владелец: Zen Voce Manufacturing Pte Ltd. Дата публикации: 2005-07-14.

Inspection system, inspecting device and gaming chip

Номер патента: EP3893211A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Inspection system, inspecting device and gaming chip

Номер патента: US20200349807A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2020-11-05.

Inspection system, inspecting device and gaming chip

Номер патента: US12056982B2. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Battery inspection system

Номер патента: US12078681B2. Автор: Masaaki Maeda. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Inspection system

Номер патента: US09757772B2. Автор: Mark Ford,E. Michael Ackley. Владелец: Ackley Machine Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Inspection system

Номер патента: US09468948B2. Автор: Mark Ford,E. Michael Ackley. Владелец: Ackley Machine Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Particle inspection system and driving method employed therein

Номер патента: US20170122859A1. Автор: Naofumi Nakamura,Kentaro Kobayashi,Michihiko Nishigaki,Hiroshi Hamasaki,Hiroko Miki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-05-04.

Inspection system and method

Номер патента: EP4368978A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Chao Ji. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Appearance inspection system and method

Номер патента: EP4403905A1. Автор: Geun Tae Kim. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-24.

On-Axis And Diffuse Illumination For Inspection Systems

Номер патента: US20180100808A1. Автор: Dennis R. Johnson,Matthew S. Lang,Timothy J. Maday. Владелец: Hutchinson Technology Inc. Дата публикации: 2018-04-12.

Optical inspection system for detecting surface profile defects in manufactured webs

Номер патента: EP4449105A1. Автор: Steven P. Floeder,Jeffrey P. ADOLF,Katherine E. STRUTHERS,Taylor W. HOENSHEID. Владелец: 3M Innovative Properties Co. Дата публикации: 2024-10-23.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240361257A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Inspection system and method

Номер патента: US20240345005A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Health condition inspection system

Номер патента: US20210134464A1. Автор: Makoto Watanabe,Taiki KASAI. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2021-05-06.

Inspection system and method

Номер патента: US20240319114A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-26.

Foreign matter inspection system and foreign matter inspection method

Номер патента: US20210383531A1. Автор: Takuma Satou,Masamichi TAKASUGI,Tadashi KABUTOMORI. Владелец: Nipro Corp. Дата публикации: 2021-12-09.

Inspection system of semiconductor wafer and method of driving the same

Номер патента: US11754510B2. Автор: Doyoung Yoon,Jeongho Ahn,Dongryul Lee,Dongchul Ihm,Chungsam Jun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-09-12.

Method for inspecting a vehicle, and inspection system

Номер патента: US20240265711A1. Автор: Thomas Dieckmann,Janik Ricke. Владелец: ZF CV Systems Global GmbH. Дата публикации: 2024-08-08.

Inspection system of semiconductor wafer and method of driving the same

Номер патента: US20230384239A1. Автор: Doyoung Yoon,Jeongho Ahn,Dongryul Lee,Dongchul Ihm,Chungsam Jun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-11-30.

Method for inspecting a vehicle, and inspection system

Номер патента: US12094219B2. Автор: Thomas Dieckmann,Janik Ricke. Владелец: ZF CV Systems Global GmbH. Дата публикации: 2024-09-17.

Radiation inspection system and method

Номер патента: US20240312753A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Quality inspection system for entire inkjet printing manufacturing process for display device

Номер патента: US12090499B2. Автор: Qiangqiang Liu,Zhouping YIN,Jiankui CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-09-17.

Inspection system of semiconductor wafer and method of driving the same

Номер патента: US12130242B2. Автор: Doyoung Yoon,Jeongho Ahn,Dongryul Lee,Dongchul Ihm,Chungsam Jun. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-10-29.

Vehicle mounted mobile container or vehicle inspection system

Номер патента: US09823382B2. Автор: Dongyu Wang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Yinong Liu,Zhiqiang Chen,Tao Xue,Junli Li,Xuewu Wang,Quanwei Song,Jingyu Gu,Yulan Li,Weizhen Wang,Hui Gong,Chaunxiang TANG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Radiation inspection system

Номер патента: EP4206749A1. Автор: Quanwei Song,Yuan He,Junping Shi,Hui Meng,Xuping Fan. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-05.

Multi-head optical inspection systems and techniques for semiconductor manufacturing

Номер патента: US20240248046A1. Автор: Chi-Ming Tsai,Ron Naftali,Tal Kuzniz,Keith Wells,Elad EIZNER. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-07-25.

X-ray inspection system and control architecture for an x-ray inspection system

Номер патента: US20240302296A1. Автор: Jean-Michel FAUGIER,Thibaut BERTHELLIER. Владелец: Smiths Detection France SAS. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection system and method

Номер патента: US20240310305A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Chao Ji. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

X-ray inspection system

Номер патента: US09865424B2. Автор: Kazunori Yamada,Noriaki Ikeda. Владелец: System Square Inc. Дата публикации: 2018-01-09.

Welding portion inspection system and the control method of inspection system

Номер патента: US09759612B2. Автор: Jae Hun Song. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2017-09-12.

Automated nital etch inspection system

Номер патента: US09501820B2. Автор: Jeffrey P. Nissen,Edward Hohman. Владелец: BELL HELICOPTER TEXTRON INC. Дата публикации: 2016-11-22.

Security inspection equipment, security inspection system and security inspection method

Номер патента: EP4459333A1. Автор: LEI Liu,Yuan Ma,Yuanjing Li,Tao Song,Shangmin Sun,Weifeng Yu,Chunguang ZONG,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-06.

Inspection Systems and Methods Employing Different Wavelength Directional Light For Enhanced Imaging

Номер патента: US20240159711A1. Автор: Andrew Crispin Graham,Vamshi Krishna Reddy Kommareddy,Biswajit Medhi. Владелец: Oliver Crispin Robotics Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Product Inspection System

Номер патента: US20230132348A1. Автор: Rong Zhang,Roberto Francisco-Yi Lu,Dandan (Emily) Zhang,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-27.

Digital radiographic weld inspection system

Номер патента: WO2000011455A9. Автор: John P Ellegood,Blaine J Wiltshire,Marion D Barker,Lee M Klynn. Владелец: Lockheed Corp. Дата публикации: 2002-08-29.

Inspection systems and methods employing directional light for enhanced imaging

Номер патента: EP4368976A1. Автор: Sandeep Kumar,Andrew Crispin Graham,Vamshi Krishna Reddy Kommareddy,Byron Andrew Pritchard,Peter John Nisbet,Biswajit Medhi. Владелец: Oliver Crispin Robotics Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Self-propelled inspection device and equipment inspection system

Номер патента: US20220397908A1. Автор: Kazuo Ono,Yuichi Igarashi,Takehito Ogata,Noriyasu HASEJIMA,Kazuya Murotani,Yuta Esaka. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-12-15.

Visual inspection systems and methods

Номер патента: US20240280499A1. Автор: Russell Glenn POST,Daniel Alonso Prieto Jurado. Владелец: Essex Furukawa Magnet Wire USA LLC. Дата публикации: 2024-08-22.

Radiation protection device and radiation inspection system

Номер патента: EP4401089A1. Автор: Feng Wang,Wei Huang,Junping Shi. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-17.

Visual inspection systems and methods

Номер патента: WO2024173726A1. Автор: Russell Glenn POST,Daniel Alonso Prieto Jurado. Владелец: Essex Furukawa Magnet Wire USA LLC. Дата публикации: 2024-08-22.

Control unit for generating timing signal for imaging unit in inspection system and method for sending out timing signal to imaging unit

Номер патента: US09760984B2. Автор: Kenichi Suematsu. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Automated fillet inspection system with closed loop feedback and methods of use

Номер патента: US09466539B2. Автор: Stephane Etienne,Alec Babiarz,Owen Yikon Sit. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Lifter assembly with bellows for optical inspection system

Номер патента: WO2024123649A1. Автор: Rajeev Patil,Chow Tian Lim,Jinson Jayan. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection system

Номер патента: US20190120771A1. Автор: Fumikazu Warashina,Yuusuke Oota. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2019-04-25.

Coiled wire ultrasonic inspection system and associated method

Номер патента: CA3177953A1. Автор: Alan LARES. Владелец: Cold Heading Co. Дата публикации: 2022-01-27.

Coiled wire ultrasonic inspection system and associated method

Номер патента: WO2022020322A1. Автор: Alan LARES. Владелец: Cold Heading Co.. Дата публикации: 2022-01-27.

Product Inspection System and Method

Номер патента: US20230021095A1. Автор: Rong Zhang,Roberto Francisco-Yi Lu,Dandan (Emily) Zhang,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Inspection system and cash register system

Номер патента: US20240161576A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Sample container input or accommodation unit and automatic sample inspection system provided with same

Номер патента: EP3647792A1. Автор: Shigeru Yano,Masashi Endo,Katsuhiro Kambara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-05-06.

Two-side multiple lamp type on-line internal qualities inspection system

Номер патента: IL148290A. Автор: . Владелец: Kabushikikaisha Kajitsuhihakai. Дата публикации: 2006-10-31.

Efficient comprehensive inspection system for automobile

Номер патента: LU504750B1. Автор: Jiawei Chen. Владелец: Qianan Fuyun Motor Vehicle Testing Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-12.

X-ray inspection system x-ray radiation shielding curtains

Номер патента: EP3100278A1. Автор: Patrick Splinter,Steven Weed. Владелец: Analogic Corp. Дата публикации: 2016-12-07.

Product inspection system and method

Номер патента: US12117404B2. Автор: Rong Zhang,Roberto Francisco-Yi Lu,Dandan (Emily) Zhang,Lei (Alex) Zhou,Qing (Carrie) Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: US20240085480A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-03-14.

Foil-stamped print inspection apparatus, foil-stamped print inspection system, method of inspecting foil-stamped print, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US20200184631A1. Автор: Koji Kita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-06-11.

Defect inspection system and semiconductor fabrication apparatus including a defect inspection apparatus using the same

Номер патента: US12073556B2. Автор: Jeong Ok PARK. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20170108443A1. Автор: Toru Kurihara,Shigeru Ando. Владелец: Kochi Prefectural PUC. Дата публикации: 2017-04-20.

Inspection system for and method of inspecting deposits printed on workpieces

Номер патента: US09791383B2. Автор: David Alexander Gaukroger. Владелец: ASM Assembly Systems Switzerland GmbH. Дата публикации: 2017-10-17.

Thermographic inspection system

Номер патента: US09518946B2. Автор: Kevin R. Smith,Kevin Ptasienski,Louis P. Steinhauser,Mohammad Nosrati,Cal Swanson. Владелец: Watlow Electric Manufacturing Co. Дата публикации: 2016-12-13.

High energy X-ray inspection system using a fan-shaped beam and collimated backscatter detectors

Номер патента: US09465135B2. Автор: Edward James Morton. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Inspection system and method for use in underground boring operations

Номер патента: US09399910B2. Автор: Michael J. Rutkowski,Josh Sooy,Jon R. Dunkin. Владелец: EMERSON ELECTRIC CO. Дата публикации: 2016-07-26.

Inspection apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US20140043051A1. Автор: Yoshinori Fujisawa,Haruo Iwatsu. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-02-13.

Visual inspection systems for containers of liquid pharmaceutical products

Номер патента: CA3242069A1. Автор: Thomas Clark PEARSON,Graham F. Milne. Владелец: AMGEN INC. Дата публикации: 2023-08-17.

Autonomous inspection system and method

Номер патента: US12045068B2. Автор: Stephen Matthew Jones. Владелец: T Mobile USA Inc. Дата публикации: 2024-07-23.

Automated optical inspection system with light trap

Номер патента: US20030116727A1. Автор: John Burnett. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-06-26.

Road inspection system, measurement vehicle, server, road inspection method, and program recording medium

Номер патента: US20240175680A1. Автор: Kosei Kobayashi,Yoko Tanaka,Yuki Tsuji,Kazuki Ogata,Kei Yanagisawa,Natsumi YOKOYAMA,Shintaro Chiku. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

A sample inspection system

Номер патента: GB2592684A. Автор: Dicken Anthony. Владелец: Halo X Ray Tech Ltd. Дата публикации: 2021-09-08.

Weld Inspection System and Method

Номер патента: US20210031309A1. Автор: James G. Schroth,Teresa J. Rinker,Ryan C. Sekol,Ronald M. Lesperance,Megan E. McGovern,Diana M. Wegner,Michael J. Bland,Sean R. Wagner. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2021-02-04.

Inspection system and inspection illumination device

Номер патента: US09638641B2. Автор: Shigeki Masumura. Владелец: CCS Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Ultrasound inspection system and method

Номер патента: US12019050B2. Автор: Gary E. Georgeson,Barry A. Fetzer,Jill P. Bingham,Samuel R. Goertz. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-06-25.

Foreign matter inspection system and foreign matter inspection method

Номер патента: EP3875946A1. Автор: Takuma Satou,Masamichi TAKASUGI,Tadashi KABUTOMORI. Владелец: Nipro Corp. Дата публикации: 2021-09-08.

Power station inspection system and power station inspection method

Номер патента: US20230260097A1. Автор: Jianqiang Wang,Yanzhong ZHANG,Song WAN,Zhenhuan SHU. Владелец: Huawei Digital Power Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-17.

Inspection system and inspection method for electronic device of vehicle

Номер патента: US9962838B2. Автор: Haseung SEONG. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2018-05-08.

Filter assembly for providing adjustable spectral capabilities in a broadband inspection system

Номер патента: WO2018191444A1. Автор: Jeremy NESBITT,Jagadeesh KUMAR,David C. ORAM. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2018-10-18.

Machine vision based automatic needle cannula inspection system and method of use

Номер патента: US12073548B2. Автор: Jibin Yang. Владелец: Jb Medical Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Capsule object inspection system and associated method

Номер патента: US09766114B2. Автор: Balager Ademe. Владелец: RJ Reynolds Tobacco Co. Дата публикации: 2017-09-19.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240377553A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Chao Ji. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-14.

Bond inspection system and method

Номер патента: US09625425B2. Автор: William J. Sweet,Kevin R. Housen,Marc Joel Piehl,Alan Frank Stewart,Douglas Allen Frisch. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-04-18.

Inspection system and inspection device

Номер патента: US20230196875A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Vision inspection system for defect detection

Номер патента: US20230237636A1. Автор: LEI Zhou,Tianyi Gao,Dandan Zhang,Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Jiankun Zhou,Angel Alberto Slistan. Владелец: Tyco Electronics Mexico SRL de CV. Дата публикации: 2023-07-27.

Back-scattering inspection system and back-scattering inspection method

Номер патента: EP3786624A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Yuan Ma,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-03.

Image capturing unit and inspection system

Номер патента: US12038386B1. Автор: Ryuichi Hirano,Masahiro Arai,Kaoru Kawakita. Владелец: Robit Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Shadowless spherical illumination system for use in an article inspection system

Номер патента: WO1993022658A1. Автор: Henry P. Squyres. Владелец: Simco/Ramic Corporation. Дата публикации: 1993-11-11.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US20170133135A1. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2017-05-11.

Active illumination-based multispectral contamination sanitation inspection system

Номер патента: EP4433808A1. Автор: Kenneth Barton,Jianwei Qin,Fartash Vasefi,Moon S. Kim,Diane E. Chan,Lyndel Meinhardt,Insuck Baek. Владелец: Safetyspect Inc. Дата публикации: 2024-09-25.

Vehicle inspection system

Номер патента: US09817149B2. Автор: Ying Li,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Tao Song,Yucheng Wu,Yulan Li. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-14.

Magnetic inspection systems for inspection of target objects

Номер патента: US09759686B2. Автор: Changting Wang,Nilesh Tralshawala,Waseem Ibrahim Faidi,Mandar Diwakar Godbole,Andrzej Michal May. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-09-12.

Fiber optic video inspection system and method

Номер патента: US09638604B2. Автор: Edward J. Forrest, Jr.. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2017-05-02.

Radiation detection device, radiation image acquiring system, radiation inspection system, and radiation detection method

Номер патента: US09594031B2. Автор: Toshihide Sasaki,Junichi Sonoda,Toshiyasu Suyama,Tadashi Maruno,Shinji Takihi. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2017-03-14.

X-ray inspection system and method

Номер патента: US09442082B2. Автор: Edward James Morton,Francis Baldwin. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Towing-type object inspection system with multiple viewing angles and usage method thereof

Номер патента: EP3112851A1. Автор: XIN Jin,Yonggang Wang,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Hua Peng,Huaping Tang,Zhuoyan Liu,Zhanfeng Qin. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-04.

Multiple surface inspection system and method

Номер патента: SG146603A1. Автор: GE Han Cheng,Ajharali Amanullah,Tan Huek Choy,Lai Hing Tim. Владелец: ASTI Holdings Ltd. Дата публикации: 2008-10-30.

Inspection system

Номер патента: US11982594B2. Автор: Ryo Yamashita,Kazuya Omori,Kyohei Miyamae,Naoto Okawara. Владелец: Daifuku Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-14.

Inspection method and inspection system for cylindrical honeycomb structure made of ceramics

Номер патента: US11761899B2. Автор: Yoshihiro Sato,Takafumi TERAHAI. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Automatic vehicle integrated inspection system

Номер патента: PH12019000451A1. Автор: Woo Young Jung,Tae Woong Choi. Владелец: Epsolute Co Ltd. Дата публикации: 2021-05-31.

Non-destructive inspection system comprising neutron radiation source and neutron radiation method

Номер патента: US11747288B2. Автор: HISASHI Tsukada,Yuichi Yoshimura,Shigenori Nagano,Yoshie OTAKE,Hideyuki Sunaga,Koji IKADO. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Smart power transmission line inspection system

Номер патента: US11764553B2. Автор: Fang Li,Peng Ge,Yangyong ZHANG,Shaochun Jia,Guangmian Fan,Jiaju Xue,Jixian Wu. Владелец: Guangdong Keystar Intelligence Robot Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-19.

Display Panel Inspection System And Inspection Method For The Same

Номер патента: US20170219856A1. Автор: Yanfeng Fu. Владелец: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-03.

Appearance inspection system and appearance inspection method

Номер патента: US20230298151A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection device for rotating electric machine and inspection system for rotating electric machine

Номер патента: EP4092886A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daisuke Mizuno,Yasuki Hattori,Naoya Kadota,Daichi GOTO. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-11-23.

Inspection method, inspection apparatus, and inspection system

Номер патента: US09922415B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Hiroteru Akiyama,Takafumi Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Optical inspection system using multi-facet imaging

Номер патента: US09857312B2. Автор: Roni Flieswasser,Michael Lev,Ehud Efrat. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2018-01-02.

Modular inspection system handset

Номер патента: US09638553B2. Автор: Clark Alexander Bendall,Kevin Andrew Coombs,Bobby Dale Hournbuckle, JR.,Joshua Lynn Scott. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-05-02.

Inspection device and inspection system for display substrate

Номер патента: US09612191B2. Автор: Yu Yang,Yaoxie Zheng,Dehua Chen,Nanren Quan,Tongju Bai. Владелец: Beijing BOE Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-04.

Inspection system and method for leads of semiconductor devices

Номер патента: US5956134A. Автор: Rajiv Roy,Michael D. Glucksman,Weerakiat Wahawisan,Paul Harris Hasten,Charles Kenneth Harris,George Charles Epp. Владелец: Semiconductor Technologies and Instruments Inc. Дата публикации: 1999-09-21.

Power supply system and controller for container inspection system located in vehicle

Номер патента: RU2721433C2. Автор: Ли ЧЖАН,Хао ЮЙ,Дунюй ВАН,Цзяньминь ЛИ,Юйлань ЛИ,Чжицян ЧЭНЬ,Юаньцзин ЛИ,Цзинюй ГУ. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2020-05-19.

Coiled tubing inspection system

Номер патента: US5914596A. Автор: Hillel Weinbaum. Владелец: Weinbaum; Hillel. Дата публикации: 1999-06-22.

Inspection system

Номер патента: US20240151665A1. Автор: Satoshi Takada,Naoko Takeda,Yohei Nakamura,Natsuki Tsuno,Heita KIMIZUKA. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Method of producing ultrasonic inspection system

Номер патента: US11460445B2. Автор: Kohei Takahashi,Kousaburou AKIBA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2022-10-04.

Method of producing ultrasonic inspection system

Номер патента: US20200158691A1. Автор: Kohei Takahashi,Kousaburou AKIBA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2020-05-21.

Inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20220099587A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

A sample inspection system

Номер патента: EP3997719A1. Автор: Paul Evans. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2022-05-18.

A sample inspection system

Номер патента: WO2021005320A1. Автор: Paul Evans. Владелец: The Nottingham Trent University. Дата публикации: 2021-01-14.

Rotational X-ray inspection system and method

Номер патента: US12061156B2. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2024-08-13.

Inspection system for a blister machine

Номер патента: EP4433988A1. Автор: STEPHAN Dietrich. Владелец: ALLTEC Angewandte Laserlicht Technologie GmbH. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection system

Номер патента: US20240344922A1. Автор: Yosuke Sakai. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2024-10-17.

Method and system for coordinating contamination removal that includes an automated inspection system that is integrated within the contamination removal process

Номер патента: WO2024187268A1. Автор: Jeffery Paul Campbell,Sadeem AL ATTAR. Владелец: JCAI Inc.. Дата публикации: 2024-09-19.

Inspection system and method for obtaining an adjusted light intensity image

Номер патента: US09706098B2. Автор: Yi-Lung Weng,Chien-Hsun Chu. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Programmable digital machine vision inspection system

Номер патента: US09626753B2. Автор: Dandan Zhang,Lvhai Hu,Roberto Francisco-Yi Lu,Yingcong Deng,Zinglong Zeng. Владелец: Shenzhen Shenli Precision Machine Technology Co Ltd. Дата публикации: 2017-04-18.

Probes for inspection system for substantially round hole

Номер патента: US09518851B2. Автор: Robert William Bergman,Thomas James Batzinger. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2016-12-13.

Inspection probe, vibration state inspection system, and method of inspecting vibration state

Номер патента: US09464961B2. Автор: Tsunetaka Akagane. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Safety inspection system and method

Номер патента: RU2720445C1. Автор: Ли ЧЖАН,Синь Цзинь,Чжицян ЧЭНЬ,Цинпин ХУАН,Минчжи ХУН,Мин ЧАН,Вэньюань БИ,Яньцай ВАН. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2020-04-29.

Method for improving ability to recognise materials in x-ray inspection system, and x-ray inspection system

Номер патента: RU2462702C2. Автор: Уве ЗИДЕНБУРГ. Владелец: Смитс Хайманн Гмбх. Дата публикации: 2012-09-27.

Building quality inspection system and inspection robot

Номер патента: US20200019167A1. Автор: Othman Alshamrani,Meqdad Hasan. Владелец: Imam Abdulrahman Bin Faisal University. Дата публикации: 2020-01-16.

Vision inspection system and method of inspecting parts

Номер патента: US11935216B2. Автор: LEI Zhou,Dandan Zhang,Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Jiankun Zhou. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-19.

Inspection system and methods for inspecting an optical surface of a laser scanner

Номер патента: US20230280279A1. Автор: Fei Cai,Richard Calawa. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-09-07.

Infrared inspection system for heaters comprised of positive temperature coefficient resistors

Номер патента: CA3151880A1. Автор: Richard Alan Schwartz,Daniel Hanson. Владелец: Rosemount Aerospace Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Optical inspection system and optical inspection method

Номер патента: US20240201098A1. Автор: Hyeongmin Ahn,Inhye Park,Hyunduck Kim,Yeong-Chang Yi. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Method of operating a radiographic inspection system with a modular conveyor chain

Номер патента: US09727961B2. Автор: Xinchi Wang,Nigel John King. Владелец: Mettler Toledo Safeline X Ray Ltd. Дата публикации: 2017-08-08.

Ct container inspection system

Номер патента: RU2733820C2. Автор: Ли ЧЖАН,Хао ЮЙ,Цзяньминь ЛИ,Юйлань ЛИ,Чуньгуан ЦЗУН,Чжицян ЧЭНЬ,Юаньцзин ЛИ,Кэцзюнь КАН,Цзяньпин ЧЭН,Лян ЛИ,Цитянь МЯО. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2020-10-07.

Multi-controller inspection system

Номер патента: WO2021226152A1. Автор: Brian Duffy,Jing Zhang,Kris Bhaskar,Mark ROULO,Ashok Mathew. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2021-11-11.

Inspection system

Номер патента: US20240044807A1. Автор: Tomoya Endo,Yuki Ishida,Kentaro Konishi,Jun Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Inspection system

Номер патента: US11686685B2. Автор: Juergen BOTT,Dirk BRAUCH. Владелец: PHARMACONTROL ELECTRONIC GMBH. Дата публикации: 2023-06-27.

Inspection system and inspection method using the same

Номер патента: US20230417681A1. Автор: Sungwoo Jung,Jaewoo Jung,Hyeonsuk Guak. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-28.

Inspection system for inner bore inspections

Номер патента: EP4276451A3. Автор: Seok Won Lee. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2024-02-14.

Inspection system for inner bore inspections

Номер патента: US20230365253A1. Автор: Seokwon Lee. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Inspection system for an article treatment machine and article treatment machine having an inspection system

Номер патента: US20230322539A1. Автор: Michele Soncini,Filippo DAZZI. Владелец: Sidel Participations SAS. Дата публикации: 2023-10-12.

Inspection system for inner bore inspections

Номер патента: EP4276451A2. Автор: Seok Won Lee. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2023-11-15.

Inspection system

Номер патента: US20200314351A1. Автор: Juergen BOTT,Dirk BRAUCH. Владелец: Mettler Toledo Pharmacontrol Electronic GmbH. Дата публикации: 2020-10-01.

Inspection system for inner bore inspections

Номер патента: CA3198193A1. Автор: Seokwon Lee. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2023-11-10.

Inspection system for turbine rotors

Номер патента: US20180306636A1. Автор: Robert William Bergman. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2018-10-25.

Inspection system for turbine rotors

Номер патента: WO2018006076A1. Автор: Robert William Bergman. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2018-01-04.

Inspection system for construction machine

Номер патента: US12028653B2. Автор: Hitoshi Sasaki,Yoichiro Yamazaki. Владелец: Kobelco Construction Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-02.

X-ray baggage and parcel inspection system with efficient third-party image processing

Номер патента: US12007341B2. Автор: Rodney Arthur Hallgren,Michael Ryan Hausler,Allen Kwame Anderson. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

Inspection apparatus, recording medium, and inspection system

Номер патента: US20240192143A1. Автор: Masaru Ohtsuka. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-06-13.

Robotic magnetic flux inspection system for bridge wire rope suspender cables

Номер патента: US20190293604A1. Автор: William SEAVEY. Владелец: Infrastructure Preservation Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Assembly joint inspection systems and methods

Номер патента: US20190145903A1. Автор: Frank Gazzano. Владелец: Merit Medical Systems Inc. Дата публикации: 2019-05-16.

Assembly joint inspection systems and methods

Номер патента: EP3707498A1. Автор: Frank Gazzano. Владелец: Merit Medical Systems Inc. Дата публикации: 2020-09-16.

X-ray backscattering safety inspection system having a distributed-type x-ray source and method using the same

Номер патента: US20160003967A1. Автор: Yuanjing Li,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Ming Ruan,Yingkang Jin,Le Tang,Guangwei Ding,Chengcong Xu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-01-07.

Post-seal inspection system and method

Номер патента: WO2001004604B1. Автор: Tay Bok Her. Владелец: Tay Bok Her. Дата публикации: 2001-02-15.

X-ray baggage and parcel inspection system with efficient third-party image processing

Номер патента: US20240280514A1. Автор: Rodney Arthur Hallgren,Michael Ryan Hausler,Allen Kwame Anderson. Владелец: Battelle Memorial Institute Inc. Дата публикации: 2024-08-22.

Method for handling product settings of operating parameters of a product inspection system, product inspection system and computer program

Номер патента: AU2023200755A1. Автор: Nick BRIDGER. Владелец: Mettler Toledo Safeline X Ray Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

An intelligent floating drainage pipeline inspection system

Номер патента: LU505923B1. Автор: Hongbin Gao. Владелец: Univ Henan Urban Construction. Дата публикации: 2024-06-28.

Apparatus and method for cleaning an inspection system

Номер патента: US20240353315A1. Автор: Andrey Nikipelov,Maarten Van Kampen,Saeedeh Farokhipoor. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-10-24.

Apparatus and method for cleaning an inspection system

Номер патента: US12055478B2. Автор: Andrey Nikipelov,Maarten Van Kampen,Saeedeh Farokhipoor. Владелец: ASML Netherlands BV. Дата публикации: 2024-08-06.

Alignment system and method for container or vehicle inspection system

Номер патента: US09910184B2. Автор: Hao Yu,Jianmin Li,Yuanjing Li,Yinong Liu,Chuanxiang Tang,Junli Li,Shangmin Sun,Quanwei Song,Jingyu Gu,Weifeng Yu,Yulan Li,Chunguang ZONG,Weizhen Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-06.

X-ray backscattering safety inspection system having a distributed-type X-ray source and method using the same

Номер патента: US09846258B2. Автор: Yuanjing Li,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Wanlong Wu,Ming Ruan,Yingkang Jin,Le Tang,Guangwei Ding,Chengcong Xu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Method for monitoring the operational state of a surface inspection system for detecting defects on the surface of semiconductor wafers

Номер патента: US09835567B2. Автор: Frank Laube. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2017-12-05.

Multiple mode inspection system and method for evaluating a substrate by a multiple mode inspection system

Номер патента: US09638644B2. Автор: Moshe Cohen-Erner. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2017-05-02.

Unmanned aerial vehicle inspection system

Номер патента: US09513635B1. Автор: HUI Li,Bernard J. Michini,Brett Michael Bethke. Владелец: Unmanned Innovation Inc. Дата публикации: 2016-12-06.

Inspection system and associated method

Номер патента: EP2400297A1. Автор: Fred D. Young,Mark A. Lee,Michael J. Duncan. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2011-12-28.

Inspection system for industrial parts

Номер патента: GB2358467A. Автор: Joseph P Gochar. Владелец: Logical Systems Inc. Дата публикации: 2001-07-25.

Inspection system, management apparatus, inspection method, recording medium, and manufacturing method of article

Номер патента: US20220164938A1. Автор: Mika SHIKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-05-26.

Radiation inspection system

Номер патента: US20240085349A1. Автор: Zheng Ji,LEI Liu,Yuan Ma,Yu Hu,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Chunguang ZONG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Inspection system

Номер патента: EP3988926A1. Автор: Masato Utsumi,Koji Kurano,Ken IDEYAMA. Владелец: WIT CO Ltd. Дата публикации: 2022-04-27.

Real-Time Fault Detection and Infrared Inspection System

Номер патента: US20240069087A1. Автор: Darryl Mendivil. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection system for construction machine

Номер патента: US20230043651A1. Автор: Hitoshi Sasaki,Yoichiro Yamazaki. Владелец: Kobelco Construction Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-09.

Automatic two-component type resin inspection device, automatic two-component type resin inspection system comprising same, and automatic two-component type resin inspection method

Номер патента: EP4224150A1. Автор: Hyoung Bae Park. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2023-08-09.

Inspection system for construction machine

Номер патента: EP4057624A1. Автор: Hitoshi Sasaki,Yoichiro Yamazaki. Владелец: Kobelco Construction Machinery Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-14.

Diagnostic inspection system for inspecting railway components

Номер патента: EP4182201A1. Автор: Silvestro DI GIOIA,Gianluca Fumarola. Владелец: TESMEC SPA. Дата публикации: 2023-05-24.

Wafer inspection system, wafer inspection apparatus and prober

Номер патента: US20170234924A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: NIPPO PRECISION CO Ltd. Дата публикации: 2017-08-17.

Wafer inspection system, wafer inspection apparatus and prober

Номер патента: US20200064400A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-02-27.

Enhanced segmented magnetostrictive guided wave pipe inspection system

Номер патента: US20210096100A1. Автор: Steven E. Owens,Cody J. Borigo. Владелец: FBS Inc. Дата публикации: 2021-04-01.

Inspection systems and methods employing different wavelength directional light for enhanced imaging

Номер патента: EP4368973A1. Автор: Andrew Crispin Graham,Vamshi Krishna Reddy Kommareddy,Biswajit Medhi. Владелец: Oliver Crispin Robotics Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Coupling mirror of an optical inspection system

Номер патента: US20240255436A1. Автор: Menachem Lapid,Mariano Abramson,Uzi BARAZANI. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Inspection system for container

Номер патента: US09989668B2. Автор: Liwei Song,Shangmin Sun,Weifeng Yu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-05.

Multi-level image focus using a tunable lens in a machine vision inspection system

Номер патента: US09830694B2. Автор: Robert Kamil Bryll. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-11-28.

Inspection system with wireless data transmission

Номер патента: US09473231B2. Автор: Fabian Zahnd,Gerhard Kennerknecht,Peter Henn. Владелец: iPEK International GmbH. Дата публикации: 2016-10-18.

Auatomatic inspection system for IC lead frames and visual inspection method thereof

Номер патента: US4851902A. Автор: Takaaki Kishi,Yasuto Murata,Junichi Tezuka. Владелец: Electroplating Engineers of Japan Ltd. Дата публикации: 1989-07-25.

Crane inspection system, inspection system, non-transitory computer readable medium storing route setting program, and information terminal

Номер патента: US20240012417A1. Автор: Hironori Matsuura,Minoru Toida,Yu Ikeda,Katsuaki Kamashima. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Construction Crane Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Visual inspection system for annular product

Номер патента: US20230298153A1. Автор: Koji Matsui,Koichi Sasaki. Владелец: Daiichi Jitsugyo Viswill Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection system and method for fast changes of focus

Номер патента: US20130342893A1. Автор: Haim Feldman,Boris Morgenstein,Adam Baer,Roman Naidis. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2013-12-26.

Inspection system and method for fast changes of focus

Номер патента: US20120086937A1. Автор: Haim Feldman,Boris Morgenstein,Adam Baer,Roman Naidis. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2012-04-12.

Wafer inspection system

Номер патента: US20240019487A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Diagnostic inspection system for inspecting railway components

Номер патента: CA3185053A1. Автор: Silvestro DI GIOIA,Gianluca Fumarola. Владелец: TESMEC SPA. Дата публикации: 2022-01-20.

Diagnostic inspection system for inspecting railway components

Номер патента: WO2022013690A1. Автор: Silvestro DI GIOIA,Gianluca Fumarola. Владелец: TESMEC S.P.A.. Дата публикации: 2022-01-20.

Pipe inspection system

Номер патента: EP4382880A1. Автор: Hiroyuki Okuhira. Владелец: SMC Corp. Дата публикации: 2024-06-12.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240118219A1. Автор: Yoshitaka Kuwada,Kiyofumi Aikawa,Kaito TASAKI. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-04-11.

Wafer inspection system

Номер патента: US20210190861A1. Автор: Shigekazu Komatsu,Naoki Muramatsu,Kunihiro Furuya,Junichi Hagihara,Tadayoshi Hosaka. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2021-06-24.

Inspection system for yarn bobbins and method for inspecting yarn bobbins

Номер патента: WO2023143740A1. Автор: Hakan Konukoglu,Gökhan Aydin. Владелец: Sanko Tekstil Isletmeleri Sanayi Ve Ticaret Anonim Sirketi Baspinar Subesi. Дата публикации: 2023-08-03.

Cosmetic inspection system

Номер патента: US20220092763A1. Автор: CHEN CHEN,Yan Zhou,George Huang,Jisheng Li. Владелец: Future Dial Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20190056370A1. Автор: Shinichi Kobori,Hirohide YAMASAKI. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2019-02-21.

Inspection system, control device, control method and recording medium

Номер патента: CA3022518C. Автор: Hideo Adachi,Toshiaki Yamashita,Michitaro SHOZAWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2021-07-20.

Darkfield inspection system having a programmable light selection array

Номер патента: US20060082767A1. Автор: Paul Sullivan,George Kren,Christopher Bevis,David Shortt. Владелец: KLA Tencor Technologies Corp. Дата публикации: 2006-04-20.

Inspection system and inspection method

Номер патента: AU2022244737A1. Автор: Shotaro Maeda,Takashi Namikawa,Naomi Yoshimura,Shogo Kawai,Aoi GOTO,Wakana TAKANO,Ryuichiro OTO,Mirei KANETAKE,Shiho WATANABE. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Dual head x-ray inspection system

Номер патента: EP4435421A1. Автор: Kiyoshi Ogata,Doron REINIS,Avishai Shklar,Ofek Oiknine. Владелец: Xwinsys Technology Development Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Inspection system for inspecting in-service piping or tubing

Номер патента: US09638670B2. Автор: Benjamin D Fisher. Владелец: BWXT Intech Inc. Дата публикации: 2017-05-02.

Surface property inspection apparatus, surface property inspection system, and surface property inspection method

Номер патента: US09638668B2. Автор: Hideaki Kaga,Yoshiyasu Makino. Владелец: Sintokogio Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Laser probe for use in an inspection system

Номер патента: US09581556B1. Автор: Stephen Barrett Segall. Владелец: Industrial Optical Measurement Systems LLC. Дата публикации: 2017-02-28.

System and method for controlling light scattered from a workpiece surface in a surface inspection system

Номер патента: WO2006066206A3. Автор: Richard Earl Bills,James Peter McNiven. Владелец: ADE Corp. Дата публикации: 2009-04-09.

Ultraviolet remote visual inspection system

Номер патента: US5115136A. Автор: Michael D. Tomasch. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 1992-05-19.

Optical inspection system, processing system for processing of a material on a flexible substrate, and methods of inspecting a flexible substrate

Номер патента: EP3403076A1. Автор: Florian Ries,Fabio Pieralisi. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-11-21.

Inspection system

Номер патента: US20230175975A1. Автор: Keiko Inoue,Shoji Yachida,Toshinori Hosoi,Azusa SAWADA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-06-08.

Optical inspection system, processing system for processing of a material on a flexible substrate, and methods of inspecting a flexible substrate

Номер патента: US20180372650A1. Автор: Florian Ries,Fabio Pieralisi. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-12-27.

Inspection system

Номер патента: US20240131559A1. Автор: Mark Ford,E. Michael Ackley. Владелец: Ackley Machine Corp. Дата публикации: 2024-04-25.

Cylindrical object surface inspection system

Номер патента: EP1151283A4. Автор: Jonathan Ludlow. Владелец: Acuity Imaging LLC. Дата публикации: 2002-04-10.

Inspection system and method

Номер патента: EP4368980A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Cylindrical object surface inspection system

Номер патента: EP1151283A1. Автор: Jonathan Ludlow. Владелец: Acuity Imaging LLC. Дата публикации: 2001-11-07.

Tapping inspection system and tapping inspection method

Номер патента: US20240125740A1. Автор: Hideki Soejima. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-04-18.

Article inspection system

Номер патента: US20240114913A1. Автор: Toshiaki Kikuchi,Eiji Tsujimura,Eiji Asai. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-04-11.

Battery inspection system

Номер патента: US20230140040A1. Автор: Masaaki Maeda. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2023-05-04.

Inspection system and method

Номер патента: EP4369061A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Surface inspection system for foil article

Номер патента: US20230168208A1. Автор: Feng-Tso Sun,Yi-Ting Yeh,Feng-Yu Sun,Hui-Pu CHANG,Jyun-Tang Huang,Po-Han Chou,yun-yi Chen,Shiang-En Hong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-06-01.

Steel bridge coating inspection system using image processing and the processing method for the same

Номер патента: US20110150326A1. Автор: Jong-Min Lee,Chan-Young Lee,Whoi-Yul Kim,Ki-Hong Park,Haimoon Jeong. Владелец: Korea Expressway Corp. Дата публикации: 2011-06-23.

Medical device inspection system

Номер патента: WO2024092063A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

Atmospheric variable compensation for an automated inspection system

Номер патента: WO1988001911A1. Автор: Kenneth L. Blanchard,B. Shawn Buckley,James A. Pinvan. Владелец: Cochlea Corporation. Дата публикации: 1988-03-24.

Darkfield inspection system having a programmable light selection array

Номер патента: WO2005017952A3. Автор: Christopher F Bevis,Paul J Sullivan,David W Shortt,George J Kren. Владелец: George J Kren. Дата публикации: 2005-09-09.

Darkfield inspection system having a programmable light selection array

Номер патента: WO2005017952A2. Автор: Christopher F. Bevis,David W. Shortt,George J. Kren,Paul J. Sullivan. Владелец: KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2005-02-24.

High-speed surface inspection system for reticle pod and high-speed surface inspection method for reticle pod

Номер патента: US20240295504A1. Автор: Lin-Hsin Tu,Ming-Mo Lo,Yin-Feng Chan. Владелец: Gudeng Equipment Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Inspection method, inspection system, and method of fabricating semiconductor package using the same

Номер патента: US20180101940A1. Автор: Younghoon Sohn,Yusin Yang,Ilsoo Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-12.

Security inspection system and security inspection method

Номер патента: AU2022387834A1. Автор: Peter Klatt. Владелец: Hoermann Klatt Conveyors GmbH. Дата публикации: 2024-06-20.

Laser bond inspection system and method

Номер патента: US12092581B2. Автор: Marc J. Piehl,Steven K. Brady. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2024-09-17.

Under-keel inspection system

Номер патента: EP2643211A1. Автор: Bernard Garnier,Fivos Andritsos. Владелец: European Union represented by European Commission. Дата публикации: 2013-10-02.

Inspection system and method for inspecting a sample by using a plurality of spaced apart beams

Номер патента: US20170307539A1. Автор: Ron Naftali,Boris Golberg. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-10-26.

Surface inspection system for foil article

Номер патента: US12111268B2. Автор: Feng-Tso Sun,Yi-Ting Yeh,Feng-Yu Sun,Hui-Pu CHANG,Jyun-Tang Huang,Po-Han Chou,yun-yi Chen,Shiang-En Hong. Владелец: Kapito Inc. Дата публикации: 2024-10-08.

Unmanned aerial vehicle rooftop inspection system

Номер патента: US09881213B2. Автор: HUI Li,Bernard J. Michini,Brett Michael Bethke. Владелец: Unmanned Innovation Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Unmanned aerial vehicle rooftop inspection system

Номер патента: US09613538B1. Автор: Bernard J. Michini,Mark Patrick Bauer,Alan Jay Poole,Volkan GUREL,Justin Eugene Kuehn. Владелец: Unmanned Innovation Inc. Дата публикации: 2017-04-04.

Vehicular radiation inspection system

Номер патента: US09448188B2. Автор: Jianmin Li,Yinong Liu,Weifeng Yu,Qingping Huang,Yulan Li,Chunguang ZONG,Hui Gong. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-20.

Inspection system, inspecting device and gaming chip

Номер патента: PH12017000332A1. Автор: SHIGETA Yasushi. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-24.

Light source module for sheet inspection system

Номер патента: CA1319661C. Автор: Paul Williams,Gary Neil Burk,Thomas Owen Mccanney. Владелец: Process Automation Business Inc. Дата публикации: 1993-06-29.

Inspection system for inspecting a structure and associated method

Номер патента: GB2444222A. Автор: Carl B Gifford,Jeffrey R Kollgaard. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2008-05-28.

Inspection system, inspecting device, and gaming chip

Номер патента: US11915553B2. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-27.

Inspection system and method for inspecting light-emitting diodes

Номер патента: US20240110968A1. Автор: Yan-Rung Lin,Chung-Lun Kuo,Chia-Liang YEH. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-04.

Inspection system

Номер патента: US11897001B2. Автор: Mark Ford,E. Michael Ackley. Владелец: Ackley Machine Corp. Дата публикации: 2024-02-13.

Terahertz wave security inspection system and method

Номер патента: EP3845886A1. Автор: Yuanjing Li,Ziran Zhao,Xing Liu,Zhimin Zheng,Zhiqiang Chen,Yingkang Jin,Lingbo QIAO,Yan YOU,Xiaojing BAI. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-07-07.

Inspection system, inspecting device and gaming chip

Номер патента: US20180144579A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-24.

Inspection system, inspecting device and gaming chip

Номер патента: AU2023200176A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Inspection system, inspecting device and gaming chip

Номер патента: PH12017000331A1. Автор: SHIGETA Yasushi. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-06.

Inspection system, inspecting device and gaming chip

Номер патента: MY181985A. Автор: SHIGETA Yasushi. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2021-01-18.

Inspection method and inspection system for pillar-shaped honeycomb structure made of ceramic

Номер патента: US20240020820A1. Автор: Yoshihiro Sato,Takafumi TERAHAI,Ryota KURAHASHI. Владелец: NGK Insulators Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Label Inspection System

Номер патента: US20190300222A1. Автор: Robert L. Iadonisi. Владелец: Multi Color Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Integrating extended reality with inspection systems

Номер патента: US11783464B2. Автор: Lionel Keene. Владелец: Lawrence Livermore National Security LLC. Дата публикации: 2023-10-10.

Flexible display inspection system

Номер патента: US11815466B2. Автор: Changli WU,Jinbo Jiang,Qi Lang. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute ASTRI. Дата публикации: 2023-11-14.

Rail Inspection System

Номер патента: US20190302057A1. Автор: Kenji Yamamoto,Hiroshi Suzuki,Ryuzo KAWABATA,Akihiko Kandori. Владелец: Hitachi High Tech Fine Systems Corp. Дата публикации: 2019-10-03.

Printed-matter inspection system, program, and printed-matter inspection method

Номер патента: EP4360885A1. Автор: Shogo Ishikawa,Yoshie Ohira,Takashi Kikumoto. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-01.

Inspection system, inspecting device, and gaming chip

Номер патента: US20240161575A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-16.

Wafer inspection system and annular seat thereof

Номер патента: US20230251303A1. Автор: Yi-Hsuan Cheng,Hung-I Lin,Po-Han Peng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-08-10.

Printed-matter inspection system and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20240094138A1. Автор: Shogo Ishikawa,Yoshie Ohira,Takashi Kikumoto. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-03-21.

Inspection system

Номер патента: US20240133828A1. Автор: Toyoshi Kondo. Владелец: Tatsumi Ryoki Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-25.

Inspection system and method

Номер патента: EP4365641A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-08.

Foreign matter inspection system and foreign matter inspection method

Номер патента: US11971363B2. Автор: Takuma Satou,Masamichi TAKASUGI,Tadashi KABUTOMORI. Владелец: Nipro Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection system, storage medium storing inspection program, and inspection method

Номер патента: US11609719B2. Автор: Takashi Yamashita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-03-21.

Signal inspection apparatus, signal inspection system, signal inspection method, and non-transitory computer-readable medium encoded with signal inspection program

Номер патента: US20170242060A1. Автор: Shouhei MIYASHITA. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2017-08-24.

Optical inspection method and optical inspection system

Номер патента: US20110075139A1. Автор: Masayuki Ochi,Hideki Soeda. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2011-03-31.

Unmanned aerial vehicle rooftop inspection system

Номер патента: US12039875B2. Автор: HUI Li,Bernard J. Michini,Brian Richman,Mark Patrick Bauer,Alan Jay Poole,Brett Michael Bethke,Jonathan Anders Lovegren. Владелец: Skydio Inc. Дата публикации: 2024-07-16.

Radiation inspection system and radiation inspection method

Номер патента: US20200025968A1. Автор: LI ZHANG,Hao Yu,Dongyu Wang,Jianmin Li,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Ming Zeng,Quanwei Song,Yigang Yang,Yulan Li,Chunguang ZONG,Qinjian Zhang,Weizhen Wang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

High-resolution large-field scanning inspection system for extruded ceramic honeycomb structures

Номер патента: WO2011060012A1. Автор: Leon R. Zoeller, Iii. Владелец: CORNING INCORPORATED. Дата публикации: 2011-05-19.

Inspection system for floppy disk drive unit control circuit of electronic appliance.

Номер патента: MY104383A. Автор: OHASHI Mitsuo. Владелец: Nippon Denki Home Electronics. Дата публикации: 1994-03-31.

Visual inspection system and visual inspection method, namely for inspection of the external surface of nuclear components

Номер патента: EP4038640A1. Автор: Pierre Guillermier. Владелец: Framatome SA. Дата публикации: 2022-08-10.

Unmanned aerial vehicle rooftop inspection system

Номер патента: US09915946B2. Автор: Bernard J. Michini,Mark Patrick Bauer,Alan Jay Poole,Volkan GUREL,Justin Eugene Kuehn. Владелец: Unmanned Innovation Inc. Дата публикации: 2018-03-13.

Unmanned aerial vehicle rooftop inspection system

Номер патента: US09618940B1. Автор: HUI Li,Bernard J. Michini,Brett Michael Bethke. Владелец: Unmanned Innovation Inc. Дата публикации: 2017-04-11.

Mobile ultrasonic rail inspection system and method

Номер патента: RU2677124C2. Автор: Питер БЕСТЕБРЁРТЬЕ. Владелец: Сонимекс Б.В.. Дата публикации: 2019-01-15.

Thermal inspection systems

Номер патента: CA2720603C. Автор: Robert William Tait,Jason Randolph Allen,Andrew Frank Ferro,Michael Orlando Cimini,Jared Michael Crosby,Christopher Joseph Uhl,Bianca Mary Mccartt,James Walter Caddell,Jared Reece Reynolds. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2017-11-07.

Sample inspection system

Номер патента: US11703466B2. Автор: Anthony DICKEN. Владелец: Halo X Ray Technologies Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Thermal inspection systems

Номер патента: CA2720603A1. Автор: Robert William Tait,Jason Randolph Allen,Andrew Frank Ferro,Michael Orlando Cimini,Jared Michael Crosby,Christopher Joseph Uhl,Bianca Mary Mccartt,James Walter Caddell,Jared Reece Reynolds. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2011-05-25.

Physical body inspection system and display control method

Номер патента: US20230262341A1. Автор: Haruki Kabashima. Владелец: Toyota Production Engineering Corp. Дата публикации: 2023-08-17.

Solid state illumination source and inspection system

Номер патента: WO2014043112A1. Автор: J. Joseph Armstrong. Владелец: KLA-TENCOR CORPORATION. Дата публикации: 2014-03-20.

Data fusion enhanced multi-modality wellbore integrity inspection system

Номер патента: US11782181B2. Автор: William Robert Ross,Frederick Wheeler,Ansas Matthias Kasten,John Scott Price,Yuri Plotnikov,Sarah Lillian Katz,Sudeep Mandal. Владелец: GE Energy Oilfield Technology Inc. Дата публикации: 2023-10-10.

Inspection system

Номер патента: US20230296680A1. Автор: Hiroshi Abe,Meiko UEYAMA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: US20240161287A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A2. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

Medical device inspection system with external inspection device

Номер патента: WO2024092065A3. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-06-06.

Inspection system, storage medium storing inspection program, and inspection method

Номер патента: US20200401355A1. Автор: Takashi Yamashita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-12-24.

Vehicle cabin inspection system and method

Номер патента: EP3365709A2. Автор: Guillaume Jegou,Agathe BRABANT. Владелец: Smiths Heimann SAS. Дата публикации: 2018-08-29.

Leaded integrated circuit inspection system

Номер патента: EP1139090A3. Автор: Peng-Seng Toh,Ying-Jian Wang. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-04-21.

Remote inspection system and communication method thereof

Номер патента: US20140049403A1. Автор: Yong Woo Kim. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-20.

Inspecting method and inspection system

Номер патента: EP3686578A1. Автор: Toshiki Ohara,Akihiro Murata,Hideko Tanaka,Kaori Sakuma,Shigeru Takezawa,Yoshihisa Hidaka,Gen Matsuno. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2020-07-29.

Inspection system

Номер патента: US20120261572A1. Автор: Roland Schmidt. Владелец: SIEMENS AG. Дата публикации: 2012-10-18.

A probe card manufacturing method including sensing probe and the probe card, probe card inspection system

Номер патента: SG144939A1. Автор: Han-Moo Lee. Владелец: Phicom Corp. Дата публикации: 2008-08-28.

Non-destructive inspection systems and methods that incorporate interchangeable probes

Номер патента: US20130305849A1. Автор: James C. Kennedy,Dennis P. Sarr. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2013-11-21.

Dual source X-ray inspection system and method

Номер патента: US12050187B1. Автор: Avishai Shklar,Ofek Oiknine,Yeroslav Berezin. Владелец: Xwinsys Technology Developments Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Method for handling product settings of operating parameters of a product inspection system, product inspection system and computer program

Номер патента: EP4242887A1. Автор: Nick BRIDGER. Владелец: Mettler Toledo Safeline X Ray Ltd. Дата публикации: 2023-09-13.

Non-destructive inspection device and non-destructive inspection system

Номер патента: US20240272102A1. Автор: Satoshi Yanobe,Akira Yajima,Shigenori Nagano,Yasuo Wakabayashi,Yoshie OTAKE,Satoru Ishiguro,Masato Takamura,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Fluorescence microscopy inspection systems, apparatus and methods with darkfield channel

Номер патента: US20230296872A1. Автор: John B. PUTMAN,Matthew C. PUTMAN,Vadim Pinskiy,Denis Sharoukhov. Владелец: Nanotronics Imaging Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Connector inspection system

Номер патента: WO2012011603A1. Автор: Kousuke Kida. Владелец: Yazaki Corporation. Дата публикации: 2012-01-26.

Sensitivity inspection system and sensitivity inspection method

Номер патента: US20150301076A1. Автор: Satoru Nakamura,Minoru Kakinuma. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2015-10-22.

Inspection system for inspecting a lighting device during an assembly process of the lighting device and a method thereof

Номер патента: US12072301B2. Автор: Philip Steven Newton,Marc Andre De Samber. Владелец: Signify Holding BV. Дата публикации: 2024-08-27.

Method for handling product settings of operating parameters of a product inspection system, product inspection system and computer program

Номер патента: CA3191096A1. Автор: Nick BRIDGER. Владелец: Mettler Toledo Safeline X Ray Ltd. Дата публикации: 2023-09-08.

Security inspection system, and security inspection method

Номер патента: AU2022386700A1. Автор: Peter Klatt. Владелец: Hoermann Klatt Conveyors GmbH. Дата публикации: 2024-06-27.

Cleanliness inspection system for inspection of an inner space of mobile transport tanks

Номер патента: NL2032654B1. Автор: Ziet Af Van Tenaamstelling Uitvinder. Владелец: Scantank B V. Дата публикации: 2024-02-06.

Cleanliness inspection system for inspection of an inner space of mobile transport tanks

Номер патента: WO2024028329A1. Автор: Abel NOORDANUS. Владелец: Scantank B.V.. Дата публикации: 2024-02-08.

Disease or health state inspection method and inspection system

Номер патента: EP4443154A1. Автор: Takashi Goto,Akira Matsubara,Junichiro Arai,Moriaki Kusakabe,Christopher PSUTKA,Yuma Kuwamura,Tohru Mikoshiba. Владелец: Faimstech Japan Inc. Дата публикации: 2024-10-09.

Optical inspection system for printed circuit board or the like

Номер патента: US09952162B2. Автор: Robert Scott Simmons. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-04-24.

Inspection system and method for controlling the same

Номер патента: US09791387B2. Автор: Chia-Ho YEN,Yu-Che Cheng,Shih-Liang Chen,Chih-Pin CHIU. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

Filtered smoking article inspection system, and associated method

Номер патента: US09788570B2. Автор: Timothy Frederick Thomas,Balager Ademe,Franklin Forrest Brantley,Eddie Lee Nuckols,Darrell Thomas Dixon,Calvin Wayne Henderson. Владелец: RJ Reynolds Tobacco Co. Дата публикации: 2017-10-17.

Glass-sheet optical inspection systems and methods with illumination and exposure control

Номер патента: US09389187B2. Автор: William John Furnas. Владелец: Corning Inc. Дата публикации: 2016-07-12.

Inspection system, inspection method, and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20050168235A1. Автор: Yasuyuki Arai,Mai Akiba,Yuko Tachimura. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2005-08-04.

Surface inspection system

Номер патента: US20230419471A1. Автор: Christian Schleith,Stefan Dieball,Béla PONTAI. Владелец: CARL ZEISS INDUSTRIELLE MESSTECHNIK GMBH. Дата публикации: 2023-12-28.

Inspection system and inspection method for semiconductor device

Номер патента: US20230333027A1. Автор: Wookjin Lee,Ghilgeun OH. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-10-19.

Inspection system and method

Номер патента: EP4369053A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Inspection system and method

Номер патента: EP4368977A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Dynamic three-dimensional vision inspection system

Номер патента: WO1999004245A1. Автор: Brian H. Jones,Dennis D. Phillips. Владелец: Vistech Corporation. Дата публикации: 1999-01-28.

An x-ray inspection system, an x-ray imaging accessory, a sample support, a kit, and a method of using an x-ray inspection system

Номер патента: US20230304946A1. Автор: David Sutton,Bill Walker. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

An x-ray inspection system, an x-ray imaging accessory, a sample support, a kit, and a method of using an x-ray inspection system

Номер патента: EP4162260A1. Автор: David Sutton,Bill Walker. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2023-04-12.

Inspection system for edge and bevel inspection of semiconductor structures

Номер патента: US20240355083A1. Автор: Shimon Koren,Gil Perlberg,Carmel Yehuda Drillman,Mordi Dahan,Moshe Edri,Ohad Shimon. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2024-10-24.

Wire rope inspection system and positioning method for wire rope inspection system

Номер патента: US12111287B2. Автор: Yoshio Takami,Hajime Takemoto. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Automatic display pixel inspection system and method

Номер патента: US12112469B2. Автор: Inbum YANG,Bongwoon CHOI,Seunghwan SEOK,Hyohyung LEE. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-10-08.

Safety inspection detector and goods safety inspection system comprising sealing material filled between an opening on a housing and the end portion of a detection module

Номер патента: US09983321B2. Автор: Qingjun Zhang,Yuanjing Li,Yinong Liu,Ziran Zhao,Zhiqiang Chen,Shuwei Li,Yaohong Liu,Huishao He,Xiang Zou,Jianping Chang,Wenjian Zhang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-29.

Systems and methods for run-time alignment of a spot scanning wafer inspection system

Номер патента: US09864173B2. Автор: Kai Cao,Jamie M. Sullivan,Wenjian Cai. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Structure electron beam inspection system for inspecting extreme ultraviolet mask and structure for discharging extreme ultraviolet mask

Номер патента: US09572237B2. Автор: You-Jin Wang,Chiyan Kuan,Chung-Shih Pan. Владелец: Hermes Microvision Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Winder registration and inspection system

Номер патента: US09540202B2. Автор: Matthew Robert Wilson,Brett Schoenberg,Mark Gary Dollevoet,Jeffrey George Skarda,Kevin B. Sartain,Gregory Michael Bixler,Daniel Mark Heinz,Vivek Moreshwar Karandikar. Владелец: Kimberly Clark Worldwide Inc. Дата публикации: 2017-01-10.

Feeding device for an ultrasound inspection system

Номер патента: US20140190262A1. Автор: Stephan Schmitz,Damian Meinert. Владелец: GE Sensing and Inspection Technologies GmbH. Дата публикации: 2014-07-10.

Feeding device for an ultrasound inspection system

Номер патента: WO2012010487A1. Автор: Stephan Schmitz,Damian Meinert. Владелец: GE SENSING & INSPECTION TECHNOLOGIES GMBH. Дата публикации: 2012-01-26.

Feeding device for an ultrasound inspection system

Номер патента: EP2596345A1. Автор: Stephan Schmitz,Damian Meinert. Владелец: GE Sensing and Inspection Technologies GmbH. Дата публикации: 2013-05-29.

Inspection system

Номер патента: RU2747378C2. Автор: Шанминь СУНЬ,Цюаньвэй СУН,Чжицян ЧЭНЬ,Сюйпин ФАНЬ. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2021-05-04.

Inspection system for original with pellicle

Номер патента: US5652657A. Автор: Minoru Yoshii,Toshihiko Tsuji,Seiji Takeuchi,Kyoichi Miyazaki,Michio Kohno,Seiya Miura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1997-07-29.

Inspecting system for welding apparatus

Номер патента: CA2231893C. Автор: Toshio Ozaki. Владелец: Honda Motor Co Ltd. Дата публикации: 2001-12-25.

An inspection system for remotely inspecting internal locations of a structure

Номер патента: CA2976960C. Автор: James Murray Andrew Waldie. Владелец: BAE Systems Australia Ltd. Дата публикации: 2023-06-13.

Remote control fleet safety inspection system

Номер патента: US6154035A. Автор: Francisco Aguirre,Rubin Aguirre. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-11-28.

Microchip Inspection System and Program Employed for the Same

Номер патента: US20080115598A1. Автор: Akihisa Nakajima,Yasuhiro Sando,Kusunoki Higashino,Youichi Aoki. Владелец: Konica Minolta Medical and Graphic Inc. Дата публикации: 2008-05-22.

Inspection system and inspection method

Номер патента: EP4317404A1. Автор: Shotaro Maeda,Takashi Namikawa,Naomi Yoshimura,Shogo Kawai,Aoi GOTO,Wakana TAKANO,Ryuichiro OTO,Mirei KANETAKE,Shiho WATANABE. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Quality inspection system for entire inkjet printing manufacturing process for display device

Номер патента: US20230415185A1. Автор: Qiangqiang Liu,Zhouping YIN,Jiankui CHEN. Владелец: HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2023-12-28.

Light field illumination container inspection system

Номер патента: EP3568977A1. Автор: Michael Leo Kress,Bryan Murdoch. Владелец: Applied Vision Corp. Дата публикации: 2019-11-20.

Radiation inspection system and method

Номер патента: EP4369052A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240169749A1. Автор: Shotaro Maeda,Takashi Namikawa,Naomi Yoshimura,Shogo Kawai,Aoi GOTO,Wakana TAKANO,Ryuichiro OTO,Mirei KANETAKE,Shiho WATANABE. Владелец: Daikin Industries Ltd. Дата публикации: 2024-05-23.

Engine bearing inspection system

Номер патента: WO2002016787A2. Автор: Tzyy-Shuh Chang. Владелец: OG TECHNOLOGIES, INC.. Дата публикации: 2002-02-28.

Slave BMS inspection system and method

Номер патента: US12040458B2. Автор: Seong Yeol Yang,Chan Ha Park,Yean Sik Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-07-16.

Container inspection system and port facility

Номер патента: US20180059282A1. Автор: Wei Li,Yuan Ma,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Qiangqiang WANG,Long Du. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-01.

Method for handling product settings of operating parameters of a product inspection system, product inspection system and computer program

Номер патента: US20230288919A1. Автор: Nick BRIDGER. Владелец: Mettler Toledo Safeline X Ray Ltd. Дата публикации: 2023-09-14.

Slave BMS Inspection System and Method

Номер патента: US20240332648A1. Автор: Seong Yeol Yang,Chan Ha Park,Yean Sik Choi. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-10-03.

INSPECTION SYSTEM INCLUDING REFERENCE SPECIMEN AND METHOD OF FORMING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20230008686A1. Автор: Sungyoon Ryu,Sungil Choi,Yeeun Park,Kyungbeom Kim,Jinwoo Ahn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-01-12.

Inspection system including reference specimen and method of forming semiconductor device

Номер патента: US20230008686A1. Автор: Sungyoon Ryu,Sungil Choi,Yeeun Park,Kyungbeom Kim,Jinwoo Ahn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-01-12.

Inspection system including reference specimen and method of forming semiconductor device

Номер патента: US11921270B2. Автор: Sungyoon Ryu,Sungil Choi,Yeeun Park,Kyungbeom Kim,Jinwoo Ahn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-03-05.

Substrate inspection system and method of use thereof

Номер патента: US11901202B2. Автор: Youngjin Choi. Владелец: JNK Tech. Дата публикации: 2024-02-13.

Substrate inspection system and a method of use thereof

Номер патента: US11840762B2. Автор: Youngjin Choi. Владелец: JNK Tech. Дата публикации: 2023-12-12.

Target x-ray inspection system and method

Номер патента: WO2023164477A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corporation. Дата публикации: 2023-08-31.

Robotic magnetic flux leakage inspection system for cable stays and related methods

Номер патента: US11796506B2. Автор: William SEAVEY. Владелец: Ipc Tfic LLC. Дата публикации: 2023-10-24.

Glass and wafer inspection system and a method of use thereof

Номер патента: US11987884B2. Автор: Youngjin Choi. Владелец: JNK Tech. Дата публикации: 2024-05-21.

Substrate inspection system and a method of use thereof

Номер патента: US20240102169A1. Автор: Youngjin Choi. Владелец: JNK Tech. Дата публикации: 2024-03-28.

Substrate inspection system and method of use thereof

Номер патента: US20240178020A1. Автор: Youngjin Choi. Владелец: JNK Tech. Дата публикации: 2024-05-30.

Wafer inspection system

Номер патента: US11656271B2. Автор: Yi-Hsuan Cheng,Hung-I Lin,Po-Han Peng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2023-05-23.

X-ray inspection system, x-ray inspection device, and x-ray inspection method

Номер патента: EP4027135A1. Автор: Kazuyuki Sugimoto,Daisuke Kudo. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Wafer inspection system

Номер патента: US20220299564A1. Автор: Yi-Hsuan Cheng,Hung-I Lin,Po-Han Peng. Владелец: MPI Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Inspection system, inspection method, and inspection program

Номер патента: US20220375054A1. Автор: Akihiro Tanaka,Tatsuya Kimura,Akira Kono,Yusuke YAMASHINA,Takahiro TACHIBANA,Yoshiyuki Otsubo. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2022-11-24.

X-ray dosage mitigation for semiconductors and material inspection systems

Номер патента: US20200393389A1. Автор: Mark Northrup,Kevin G. Mohr,Michael T. Booher,James T. Hampton, JR.. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2020-12-17.

Yarn inspection system and screening method

Номер патента: US20230267597A1. Автор: Shinichiro Tanaka,Yoshinobu Fujimura,Hiroshi Tsukumo,Fuminori Murai. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2023-08-24.

Sample inspection system

Номер патента: US11624717B2. Автор: Paul Evans,Keith Rogers. Владелец: NOTTINGHAM TRENT UNIVERSITY. Дата публикации: 2023-04-11.

Method of inspecting quality of organic light-emitting diode and inspecting system for performing the method

Номер патента: US20160103170A1. Автор: Gyu-Tae KIM,Won-Jun Song,Jung-Jin Yang,Tae-Woong Yoon,Mun-Chae Yoon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2016-04-14.

Area array detector, detection method and corresponding container/vehicle inspection system

Номер патента: EP4187287A2. Автор: Hao Yu,Xiang Zou,Junxiao Wang,Weibin Zhu,Linxia Tan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-31.

Multi-material inspection system and velocity measurement method of critically refracted longitudinal wave based on single-angle wedges

Номер патента: US20220268739A1. Автор: Li Lin,Song Zhang,Hong Wang,Zhiyuan Ma,Shijie Jin,Zhongbing Luo. Владелец: Dalian University of Technology. Дата публикации: 2022-08-25.

Inspection system and method

Номер патента: US20240302299A1. Автор: Shangmin Sun,Chunguang ZONG,Weizhen Wang,Bicheng Liu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Portable security inspection system

Номер патента: US09791590B2. Автор: Edward James Morton. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2017-10-17.

183NM laser and inspection system

Номер патента: US09748729B2. Автор: Jidong ZHANG,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden,J. Joseph Armstrong,Vladimir Dribinski,Yujun Deng. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Inspection system for evaluating electrical parts for unwanted partial discharge

Номер патента: US09482710B2. Автор: John S. Agapiou,Thomas A. Perry,Jon Matthew Radlick. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2016-11-01.

Inspection system with temperature measurement device

Номер патента: US09482582B2. Автор: Alexander KREUTZER. Владелец: iPEK International GmbH. Дата публикации: 2016-11-01.

Machine vision inspection systems and methods and aperture covers for use therewith

Номер патента: US09467609B2. Автор: Timothy P. White. Владелец: Mettler Toledo LLC. Дата публикации: 2016-10-11.

Automated wafer defect inspection system and a process of performing such inspection

Номер патента: US09464992B2. Автор: Cory Watkins,Mark Harless,Thomas Verburgt,Jeffrey L. O'Dell. Владелец: Rudolph Technologies Inc. Дата публикации: 2016-10-11.

Mobile scanning inspection system

Номер патента: US10690803B2. Автор: Tao Jiang,Ke Li,Yu Hu,Shangmin Sun,Xuejing Yang,Weifeng Yu,Youai Yu,Yanwei Xu,Defang MENG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-23.

Appearance inspection system, setting device, image processing device, inspection method, and program

Номер патента: EP3539732A1. Автор: Yutaka Kato. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2019-09-18.

Inspection systems and methods for extending the detection range of an inspection system by forcing the photodetector into the non-linear range

Номер патента: WO2008144318A1. Автор: Zhongping Cai,Alexander Slobodov,Anatoly Romanovsky,Christian H. Wolters. Владелец: KLA-TENCOR TECHNOLOGIES CORPORATION. Дата публикации: 2008-11-27.

Road inspection system, road inspection method and program recording medium

Номер патента: US20240035239A1. Автор: Kosei Kobayashi,Yoko Tanaka,Yuki Tsuji,Kazuki Ogata,Kei Yanagisawa,Natsumi YOKOYAMA,Shintaro Chiku. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-02-01.

Conveyor inspection system, substrate rotator, and test system having the same

Номер патента: US20210096169A1. Автор: Asaf Schlezinger,Markus J. STOPPER. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2021-04-01.

Equipment inspection system, equipment inspection method, and program

Номер патента: US20200217751A1. Автор: Shun Sato. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Inspection system and method

Номер патента: EP4345509A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Liming YAO. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-03.

Inspection system for a plurality of separable inspection objects

Номер патента: US20230144348A1. Автор: Christoph Kaiser,Hamid Reza Shojaei MAHLLATI. Владелец: Law Ndt Mess und Pruefsysteme GmbH. Дата публикации: 2023-05-11.

Unmanned aerial vehicle airport, unmanned aerial vehicle system, tour inspection system and unmanned aerial vehicle cruise system

Номер патента: US12091194B2. Автор: Zhao Wang,Chengbin Liu. Владелец: Beijing Jingdong Qianshi Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Web material inspection system

Номер патента: US4951223A. Автор: R. Langdon Wales,H. W. Crowley. Владелец: Crowley H W. Дата публикации: 1990-08-21.

Automated fillet inspection system with closed loop feedback and methods of use

Номер патента: US20150357253A1. Автор: Stephane Etienne,Alec Babiarz,Owen Yikon Sit. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

Machine vision based automatic needle cannula inspection system and method of use

Номер патента: US20210133950A1. Автор: Jibin Yang. Владелец: Jb Medical Inc. Дата публикации: 2021-05-06.

Inspection system

Номер патента: US11971366B2. Автор: Daichi Hasegawa,Kenya Yamaura. Владелец: Nagano Automation Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-30.

Inspection machine, inspecting method and inspecting system

Номер патента: US20120140059A1. Автор: Wen-Ti Lin,Hsiang-Cheng Hsieh,Hsiao-Liang Hsieh. Владелец: Lextar Electronics Corp. Дата публикации: 2012-06-07.

Post-seal inspection system and method

Номер патента: US20010028453A1. Автор: Tay Her. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-10-11.

Metrology qualification of non-destructive inspection systems

Номер патента: US20210208112A1. Автор: David Michael Gayle. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2021-07-08.

Post-seal inspection system and method

Номер патента: US20020105637A1. Автор: Tay Her. Владелец: Semiconductor Technologies and Instruments Inc. Дата публикации: 2002-08-08.

Battery inspection system

Номер патента: EP4112500A1. Автор: Masaaki Maeda. Владелец: Murata Machinery Ltd. Дата публикации: 2023-01-04.

Land monitoring system and method, land maintenance system and method, land inspection system and method

Номер патента: EP4223093A2. Автор: Enrico Benetti,Fabio Banin,Michele Scapin,Sean Robinson,Nicola Lever,Varna Vallone. Владелец: Stiga SpA . Дата публикации: 2023-08-09.

Surface inspection system

Номер патента: US20030029220A1. Автор: Hisashi Isozaki,Masanori Matsuda. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2003-02-13.

Inspection systems performing two-dimensional imaging with line light spot

Номер патента: EP1177428A1. Автор: Gilad Almogy,Silviu Reinhron. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2002-02-06.

Pattern inspecting system and pattern inspecting method

Номер патента: US20010009461A1. Автор: Mari Nozoe,Haruo Yoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-07-26.

Object inspection system and method for inspecting an object

Номер патента: US20240214528A1. Автор: Jacob Nathaniel Allen,Zhipeng Liang,Brandon David See,Frank Damacio Luna. Владелец: Inovision Software Solutions Inc. Дата публикации: 2024-06-27.

Tank Inspection Systems and Methods

Номер патента: US20230236135A1. Автор: Jared Brian Douglas. Владелец: Ustanx LLC. Дата публикации: 2023-07-27.

Current sensor inspection system and current sensor inspection method

Номер патента: US09638721B2. Автор: Hisashi Nishimura,Toshikazu Suzuki. Владелец: Japan Aviation Electronics Industry Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

X-ray inspection system and method

Номер патента: GB2501661A. Автор: Edward James Morton,Francis Baldwin. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2013-10-30.

Capsule object inspection system and associated method

Номер патента: WO2017035324A1. Автор: Balager Ademe. Владелец: R. J. REYNOLDS TOBACCO COMPANY. Дата публикации: 2017-03-02.

Tapping inspection system and tapping inspection method

Номер патента: EP4354132A1. Автор: Hideki Soejima. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-04-17.

Crane inspection system, inspection system, route setting program, and information terminal

Номер патента: EP4317044A1. Автор: Hironori Matsuura,Minoru Toida,Yu Ikeda,Katsuaki Kamashima. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Construction Crane Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-07.

Capsule object inspection system and associated method

Номер патента: US20170059391A1. Автор: Balager Ademe. Владелец: RJ Reynolds Tobacco Co. Дата публикации: 2017-03-02.

Capsule object inspection system and associated method

Номер патента: EP3341713A1. Автор: Balager Ademe. Владелец: RJ Reynolds Tobacco Co. Дата публикации: 2018-07-04.

Belt inspection system, belt inspection method, and recording medium for belt inspection program

Номер патента: US20200408697A1. Автор: Akira Nishizawa. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2020-12-31.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: EP4350343A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-04-10.

Inspection system, inspecting device, and gaming chip

Номер патента: MY191288A. Автор: SHIGETA Yasushi. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-14.

Foil-stamped print inspection apparatus, foil-stamped print inspection system, method of inspecting foil-stamped print, and non-transitory computer-readable storage medium storing program

Номер патента: US11238578B2. Автор: Koji Kita. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-02-01.

Inspection device for rotary electric machine, inspection system for rotary electric machine, inspection method for rotary electric machine, and rotary electric machine to be inspected using inspection device

Номер патента: CA3207889A1. Автор: Yoshihiro Morimoto,Daichi GOTO,Naotaka Tsujimura. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Lifter assembly with bellows for optical inspection system

Номер патента: US20240183790A1. Автор: Lim Chow Tian,Rajeev Patil,Jinson Jayan. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2024-06-06.

Electron-bombarded charge-coupled device and inspection systems using ebccd detectors

Номер патента: EP2791961A1. Автор: David L. Brown,Xuefeng Liu,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2014-10-22.

Laser-based Non-destructive Spike Defect Inspection System

Номер патента: US20240248047A1. Автор: YU Qian. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTH CAROLINA. Дата публикации: 2024-07-25.

Vehicle inspection system, and method and system for identifying part of vehicle

Номер патента: MY191004A. Автор: Li Qiang,HU YU,Gao Chuan,GU Jianping,Hu Zheng,MA Yuan,Sun Shangmin,Yu Weifeng,XU Yanwei,WANG Yongming. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-27.

Railway inspection system

Номер патента: US09981671B2. Автор: Paul Sanders Underwood,Randy Scott Fraser,Patrick Michael Graham. Владелец: Nordco LLC. Дата публикации: 2018-05-29.

Vehicle pulling device, system for passing vehicle in two modes, and inspection system thereof

Номер патента: US09381963B2. Автор: Yucheng Wu,Yuan He,Zhansen Ran. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-05.

An x-ray inspection system, an x-ray imaging accessory, a sample support, a kit, and a method of using an x-ray inspection system

Номер патента: GB2596061A. Автор: Sutton David,WALKER BILL. Владелец: Nordson Corp. Дата публикации: 2021-12-22.

Automatic machine vision microscope slide inspection system and method

Номер патента: US6005964A. Автор: John O'brien,John F. Reid. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 1999-12-21.

Inspection system for detecting defects in regular patterns

Номер патента: US4349880A. Автор: Peter D. Southgate,John P. Beltz. Владелец: RCA Corp. Дата публикации: 1982-09-14.

X-ray tomography inspection systems and methods

Номер патента: CA3059061A1. Автор: Edward James Morton. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2018-10-25.

Improved inspection systems and methods

Номер патента: CA2896459A1. Автор: Thomas Charles Ward,Kevin Andrew Coombs,Michael Christopher Domke. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2014-07-03.

Web inspection system

Номер патента: CA2437778A1. Автор: Sujoy D. Guha,Chris M. Kiraly,Robin D. Becker. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-22.

Surface inspection system for hot radiant material

Номер патента: US4319270A. Автор: Nobuo Kimura,Yoshiro Nishimoto,Yasuhide Nakai. Владелец: Kobe Steel Ltd. Дата публикации: 1982-03-09.

Web inspection system

Номер патента: WO2002065107A2. Автор: Sujoy D. Guha,Chris M. Kiraly,Robin D. Becker. Владелец: Wintriss Engineering Corporation. Дата публикации: 2002-08-22.

Pipe inspection system and method

Номер патента: US4213345A. Автор: Martin J. Dufour. Владелец: W C LAMB. Дата публикации: 1980-07-22.

Inspection system

Номер патента: CA1182556A. Автор: John L. Lockett. Владелец: Rockwell International Corp. Дата публикации: 1985-02-12.

Inspection system for manufactured components

Номер патента: US20220034788A1. Автор: Greg Nygaard,Nathan Kujacznski,Dikshant Sharma. Владелец: GII Acquisition LLC. Дата публикации: 2022-02-03.

Structure inspection method and structure inspection system

Номер патента: US20230111766A1. Автор: Tadashi Kasamatsu,Naoko Yoshida. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-04-13.

Product substance inspection system and product substance inspection method

Номер патента: US20220082507A1. Автор: Chia-hung Lin,Chen-Chung Lee,Yu-Ting Tseng,Yao-Kun LEE. Владелец: QUANTA COMPUTER INC. Дата публикации: 2022-03-17.

Non-contact non-destructive inspection system, signal processing device, and non-contact non-destructive inspection method

Номер патента: US11879815B2. Автор: Kazuo Watabe,Hiroshi Ohno,Takashi Usui. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-23.

Index selection device, information processing device, information processing system, inspection device, inspection system, index selection method, and index selection program

Номер патента: US20240005477A1. Автор: Koki TACHI. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-01-04.

Inspection system and management system

Номер патента: AU2023251519A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-09.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method of semiconductor devices, and manufacturing method of inspected semiconductor devices

Номер патента: US20150123694A1. Автор: Takashi Ushijima,Yosuke Osanai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method of semiconductor devices, and manufacturing method of inspected semiconductor devices

Номер патента: US9379029B2. Автор: Takashi Ushijima,Yosuke Osanai. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2016-06-28.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US20240142658A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Chao Ji. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-02.

Inspection jig for display panel, inspection system using the same, and method for inspecting the display panel using the same

Номер патента: US20100033191A1. Автор: Sung-Kyu Lee,Ki-Seob Lee,Sang-Rock Yoon. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-02-11.

Defect inspection system for specimen and defect inspection method for specimen

Номер патента: US20200151862A1. Автор: Seong-Keun HA. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2020-05-14.

Inspection system

Номер патента: US20200009696A1. Автор: Jun Matsuoka,Aki Awata,Anders Rudin. Владелец: Atlas Copco KK. Дата публикации: 2020-01-09.

Inspection system and method

Номер патента: EP4369058A1. Автор: YONG ZHOU,LI ZHANG,XIN Jin,Hui Ding,Zhiqiang Chen,Qingping Huang,Chao Ji. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Inspection jig for display panel, inspection system using the same, and method for inspecting the display panel using the same

Номер патента: US8570048B2. Автор: Sung-Kyu Lee,Ki-Seob Lee,Sang-Rock Yoon. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2013-10-29.

Inspection system and inspection method for secondary battery

Номер патента: US20230068999A1. Автор: Kazuyoshi Ueda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Inspection system and inspection method for secondary battery

Номер патента: US20230064836A1. Автор: Kazuyoshi Ueda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-03-02.

Support mechanism for inspection systems

Номер патента: MY165984A. Автор: Tsai Ron,Lee Steven,S K Kuo Cooper. Владелец: S K Kuo Cooper. Дата публикации: 2018-05-21.

Artificial lyophilized product samples for automated visual inspection systems

Номер патента: AU2023237770A1. Автор: Thomas Clark PEARSON. Владелец: AMGEN INC. Дата публикации: 2024-08-15.

Apparatus and method for cleaning an inspection system

Номер патента: WO2022144179A1. Автор: Andrey Nikipelov,Maarten Van Kampen,Saeedeh Farokhipoor. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2022-07-07.

Inspection system for roll-to-roll equipment

Номер патента: US20240284054A1. Автор: Young Jun Park,Sung Yong Kang,Seok Joon JANG,Sun Hwan Kim,Changhyun KWON,Daekab KWON,Hoyeol KIM. Владелец: Intekplus Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Cracking image inspection system and method

Номер патента: US20240223878A1. Автор: Yuichi Akage,Soichi Oka,Yurina Tanaka. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Excitation device, inspection system, and excitation method

Номер патента: EP4411336A1. Автор: Toshiyuki Kitamura,Masaharu NISHIKINO. Владелец: NATIONAL INSTITUTES FOR QUANTUM SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2024-08-07.

Inspection system for roll-to-roll apparatus

Номер патента: EP4421480A1. Автор: Young Jun Park,Sung Yong Kang,Seok Joon JANG,Sun Hwan Kim,Changhyun KWON,Daekab KWON,Hoyeol KIM. Владелец: Intekplus Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Methods and systems for performing on-the-fly automatic calibration adjustments of x-ray inspection systems

Номер патента: WO2024026152A9. Автор: Dan-Cristian Dinca. Владелец: Rapiscan Holdings, Inc.. Дата публикации: 2024-10-24.

System and method for reducing radiation-induced false counts in an inspection system

Номер патента: US09841512B2. Автор: Christian Wolters,Anatoly Romanovsky,Stephen Biellak,Ximan Jiang,Mous Tatarkhanov. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-12-12.

Electromagnetic ultrasonic transducer and on-line inspection system comprising same

Номер патента: US09804131B2. Автор: Zhiheng Tian. Владелец: ZHIHENG TIAN LI TIAN LU TIAN. Дата публикации: 2017-10-31.

Low-rate inexpensive digital γ-ray imaging/inspection system

Номер патента: US09753150B2. Автор: Einar Nygard. Владелец: Sharpxview AS. Дата публикации: 2017-09-05.

Mounted on vehicle backscatter inspection system

Номер патента: RU2710518C1. Автор: Ли ЧЖАН,Хао ЮЙ,Ин ЛИ,Вэйчжэнь ВАН,Цюаньвэй СУН,Дунюй ВАН,Хаоцзе ЧИ,Цзяньминь ЛИ,Юйлань ЛИ,Чуньгуан ЦЗУН,Чжицян ЧЭНЬ,Юаньцзин ЛИ. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2019-12-26.

Linear accelerator of electrons on standing wave and container/vehicle inspecting system

Номер патента: RU2628101C2. Автор: Цзиньнин ЛЯН,Шанминь СУНЬ,Чуньгуан ЦЗУН,Вэйфэн ЮЙ,Чжаньфэн ЦИНЬ,Шэн ЯО,Ливэй СУН. Владелец: Нактех Компани Лимитед. Дата публикации: 2017-08-15.

Vehicle inspection system

Номер патента: AU2018202836B2. Автор: Paul Gerard Nistler,Glenn Shaffer,David Joseph Schroeck,Michael P. Altonji. Владелец: Westinghouse Air Brake Technologies Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

X-ray pipe inspection system

Номер патента: EP4237835A1. Автор: Peter J. Rothschild. Владелец: Viken Detection Corp. Дата публикации: 2023-09-06.

Nondestructive inspecting system, and nondestructive inspecting method

Номер патента: US20220003690A1. Автор: Yuichi Yoshimura,Shigenori Nagano,Yoshie OTAKE,Hideyuki Sunaga,Hanako AIKOH. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2022-01-06.

Inspection system and methods of fabricating and inspecting semiconductor device using the same

Номер патента: US20150355108A1. Автор: Bong Seok Kim,Kyung Hoon Lee,Woo-Young Choi,Jang Ik PARK,Jung Hoon BYUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2015-12-10.

Inspection system of semiconductor device and related inspection method

Номер патента: US20210172879A1. Автор: Guangdian Chen,Jin Xing Chen. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-06-10.

Laser-based ultrasound inspection system

Номер патента: WO2024105437A1. Автор: Romain FLEURY,Janez RUS. Владелец: ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE (EPFL). Дата публикации: 2024-05-23.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: US20240151661A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-09.

CT inspection system

Номер патента: DK202070814A1. Автор: He Yuan,Zhang Li,Chen Zhiqiang,Li Yuanjing,Zhou Hejun,LI Yulan,ZONG Chunguang,SHI Junping,SONG Quanwei,Meng Hui,Han Wenxue,GAO Kejin,Li Jainmin. Владелец: Univ Tsinghua. Дата публикации: 2020-12-15.

Radiographic inspection apparatus and vehicle-mounted security inspection system

Номер патента: US20240192151A1. Автор: LI ZHANG,YI Cheng,Lei Zheng,Zhiqiang Chen,Yao Zhang,Qingping Huang,Mingzhi Hong,Minghua Qiu,Jianxue Yang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-13.

Inspection apparatus and inspection system for inspecting access-restricted spaces and areas

Номер патента: US9934896B2. Автор: Peter Linde,Matthias Hegenbart,Detlev Konigorski. Владелец: AIRBUS OPERATIONS GMBH. Дата публикации: 2018-04-03.

Smoking article package inspection system and associated method

Номер патента: US10063814B2. Автор: Chris Campbell,Hugh Gates,Hung Phan,Gary Lee Wood,Jim Belk,Zach Francis,Reginald Thomas,Luke Hutchens. Владелец: RJ Reynolds Tobacco Co. Дата публикации: 2018-08-28.

Article inspection system for analyzing end and adjacent sides

Номер патента: US4914289A. Автор: Cap V. Nguyen,Tyce Fitzmorris,Eric Espenhahn,Dale W. Kline,Roger Chang. Владелец: Inex Vistech Technologies Inc. Дата публикации: 1990-04-03.

Electronic assembly video inspection system

Номер патента: US20010055417A1. Автор: Joseph Vilella. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-12-27.

Opthalmic lens inspection system

Номер патента: US5818573A. Автор: W. Michael Lafferty,Charles S. Slemon,W. James Frandsen. Владелец: PBH Inc. Дата публикации: 1998-10-06.

Ultrasonic inspection system for laminated stiffeners

Номер патента: US5585564A. Автор: Fred D. Young,Troy W. Brunty. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 1996-12-17.

Inspection system for a blister machine

Номер патента: WO2023118119A1. Автор: STEPHAN Dietrich. Владелец: Laetus Gmbh. Дата публикации: 2023-06-29.

Inspection System

Номер патента: US20240029994A1. Автор: Makoto Suzuki,Satoshi Takada,Yasuhiro Shirasaki,Yohei Nakamura,Minami Shouji,Natsuki Tsuno,Daisuke Bizen. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2024-01-25.

Automated inspection system

Номер патента: US11836674B2. Автор: Brandon JOHNSEN,Terry OSBON,Riley TURBEN,Joshua BOHLING,Craig TRUDO. Владелец: Walmart Apollo LLC. Дата публикации: 2023-12-05.

Fiber optic video inspection system and method

Номер патента: EP3126887A1. Автор: Jr Edward J. FORREST. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC. Дата публикации: 2017-02-08.

Automated inspection system

Номер патента: US20240062153A1. Автор: Brandon JOHNSEN,Terry OSBON,Riley TURBEN,Joshua BOHLING,Craig TRUDO. Владелец: Walmart Apollo LLC. Дата публикации: 2024-02-22.

Airframe maintenance-inspection system

Номер патента: US11734874B2. Автор: Takayuki Asai. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2023-08-22.

Conveying device for vehicle inspection system and vehicle inspection system

Номер патента: EP3660495A1. Автор: Yuan Ma,Quanwei Song,Yuan He,Qiangqiang WANG,Junping Shi,Hui Meng,Jiaming He. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-06-03.

Area array detector, detection method, and corresponding container/vehicle inspection system

Номер патента: US20230168397A1. Автор: Hao Yu,Xiang Zou,Junxiao Wang,Weibin Zhu,Linxia Tan. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-01.

Fiber optic video inspection system and method

Номер патента: WO2015153735A1. Автор: Jr Edward J. FORREST. Владелец: ILLINOIS TOOL WORKS INC.. Дата публикации: 2015-10-08.

Visual inspection systems for containers of liquid pharmaceutical products

Номер патента: AU2023218255A1. Автор: Thomas Clark PEARSON,Graham F. Milne. Владелец: AMGEN INC. Дата публикации: 2024-06-13.

Method and detector for inspection system

Номер патента: US20200132878A1. Автор: Guillaume Jegou,Jean-Michel FAUGIER. Владелец: Smiths Heimann SAS. Дата публикации: 2020-04-30.

Capsule inspection system and method

Номер патента: AU2021291644A1. Автор: Ju-Su Kim. Владелец: Changsung Softgel Co Ltd. Дата публикации: 2023-02-16.

Glass inspection systems and methods for using same

Номер патента: WO2006108137A3. Автор: Leon R Zoeller Iii. Владелец: Leon R Zoeller Iii. Дата публикации: 2006-11-16.

Package inspection system

Номер патента: US20160033404A1. Автор: Atsushi Suzuki,Noriaki Ikeda. Владелец: System Square Inc. Дата публикации: 2016-02-04.

Capsule inspection system and method

Номер патента: US12070777B2. Автор: Ju-Su Kim. Владелец: Changsung Softgel Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Connector disengagement apparatus and inspection system for liquid crystal display module

Номер патента: US09933641B2. Автор: Tao Wang,Lei Zhao,Moyu Zhu. Владелец: BOE Hebei Mobile Display Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Vehicle-mounted inspection system

Номер патента: US09897716B2. Автор: Dongyu Wang,Jianmin Li,Kejun Kang,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Jingyu Gu,Yulan Li. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-20.

Method for detecting voids in interconnects and an inspection system

Номер патента: US09805909B1. Автор: Lei Zhong,Dror Shemesh. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-10-31.

Autonomous aerial cable inspection system

Номер патента: US09753461B1. Автор: Martin Brandt Freund,David Wesley Johnson. Владелец: Google LLC. Дата публикации: 2017-09-05.

Tire transport method, tire transport and fastening apparatus, and tire inspection system

Номер патента: US09746396B2. Автор: Jiro Agawa,Yasutaka Seimoto,Morihiro IMAMURA. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Machinery Technology Corp. Дата публикации: 2017-08-29.

Package inspection system

Номер патента: US09733384B2. Автор: Atsushi Suzuki,Noriaki Ikeda. Владелец: System Square Inc. Дата публикации: 2017-08-15.

Inspection system with specimen preview

Номер патента: WO1999004243A1. Автор: Norman J. Pressman,Richard A. Domanik. Владелец: Accumed International, Inc.. Дата публикации: 1999-01-28.

Specimen preview and inspection system

Номер патента: US6148096A. Автор: Norman J. Pressman,Richard A. Domanik. Владелец: Accumed International Inc. Дата публикации: 2000-11-14.

Control unit and control method for radiation source and radiation inspection system and method thereof

Номер патента: MY161628A. Автор: Peng Hua,Zhang Li,LIU Yinong,Chen Zhiqiang,Li Yuanjing,Yang Guang,Zhang Qingjun,Liu Yaohong,LI Junli,Jia Wei,ZHANG Jinyu,Ruan Ming,LIANG Siyuan,DENG Yanli,Xie Yali,Shangmin. Владелец: Univ Tsinghua. Дата публикации: 2017-04-28.

Medicinal agent inspection system, winding device, feed device, and holder

Номер патента: EP2905010A1. Автор: Hirokazu Amano,Hiromichi Tsuda,Yasuyuki Yoshikawa,Dai SHIMIZUBE,Hirokazu Chihara. Владелец: Yuyama Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2015-08-12.

Electronic assembly video inspection system

Номер патента: CA2307031C. Автор: Joseph L. Vilella. Владелец: Vectron Inc. Дата публикации: 2007-03-27.

Inspection system, and inspection device

Номер патента: AU2023200444A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-02.

Computerized method for configuring an inspection system, computer program product and an inspection system

Номер патента: US20180284031A1. Автор: Amir Shoham,Ido Dolev,Yariv Simovitch. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2018-10-04.

Drill hole inspection method, drill hole inspection system and inspection device

Номер патента: US11847774B2. Автор: Tai-Been Chen,Chen-Te Yu,Chia-Chien Pan. Владелец: Der Lih Fuh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Inspection system, inspection method, program, and storage medium

Номер патента: US20230334644A1. Автор: Hideto Motomura,Takanobu Ojima,Jeffry NAINGGOLAN. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-19.

Inspection system and inspection method of member for fuel cell separator

Номер патента: US20210072172A1. Автор: Kazutaka Tachibana,Noritoshi Nakagawa,Takuya ITAKURA,Hitoshi TERASHI. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-03-11.

Inspection system, inspecting device, and gaming chip

Номер патента: US20230326290A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2023-10-12.

Essential inspection system for machines

Номер патента: WO2019048947A1. Автор: Alberto Escobar,Carlos Porras. Владелец: Carlos Porras. Дата публикации: 2019-03-14.

Active illumination-based multispectral contamination sanitation inspection system

Номер патента: WO2023091373A1. Автор: Kenneth Barton,Jianwei Qin,Fartash Vasefi,Moon S. Kim,Diane E. Chan,Lyndel Meinhardt,Insuck Baek. Владелец: SafetySpect Inc.. Дата публикации: 2023-05-25.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method, and carrier means

Номер патента: EP3974816A1. Автор: Makoto Hino,Hidenobu Kishi. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-30.

Deep learning-based mlcc stacked alignment inspection system and method

Номер патента: US20240103076A1. Автор: Hyun Jae Kim,Heung-Seon OH,Sung Bin SON,Jun Uk JUNG. Владелец: Industry University Cooperation Foundation of Korea University of Technology and Education. Дата публикации: 2024-03-28.

Surface damage inspection system for workpiece

Номер патента: US20200182802A1. Автор: Yasushi OKAJIMA. Владелец: FANUC Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Unmanned aerial vehicle inspection system

Номер патента: US12007761B2. Автор: HUI Li,Bernard J. Michini,Brett Michael Bethke. Владелец: Skydio Inc. Дата публикации: 2024-06-11.

X-ray inspection apparatus, x-ray inspection system, and x-ray inspection method

Номер патента: US20230175984A1. Автор: Keisuke Yoshida,Futoshi Yurugi. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-08.

Method For Monitoring The Operational State Of A Surface Inspection System For Detecting Defects On The Surface Of Semiconductor Wafers

Номер патента: US20160041107A1. Автор: Frank Laube. Владелец: SILTRONIC AG. Дата публикации: 2016-02-11.

Semiconductor manufacturing-and-inspection system, and semiconductor device

Номер патента: US20020067182A1. Автор: Osamu Hashimoto. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2002-06-06.

Battery management apparatus and battery inspection system including same

Номер патента: EP4386401A1. Автор: Jung Hoon Lee. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-06-19.

Flaw annunciator with a controllable display means for an automatic inspection system

Номер патента: US5006722A. Автор: Alexander Adelson. Владелец: Intec Corp. Дата публикации: 1991-04-09.

Ultrasonic tube inspection station for a rapid changeover multidiameter tube inspection system

Номер патента: US5161412A. Автор: Clarence D. John, Jr.,Richard S. Wengewicz. Владелец: Westinghouse Electric Corp. Дата публикации: 1992-11-10.

Inspection system for array of microcircuit dies having redundant circuit patterns

Номер патента: US4806774A. Автор: Lawrence H. Lin,Robert B. Howe,Daniel L. Cavan. Владелец: Insystems Inc. Дата публикации: 1989-02-21.

Laser-ultrasonic non-destructive, non-contacting inspection system

Номер патента: US5585921A. Автор: Gilmore J. Dunning,David M. Pepper,Thomas R. O'Meara,Phillip V. Mitchell,Marvin B. Klein. Владелец: Hughes Aircraft Co. Дата публикации: 1996-12-17.

Power generation for mobile inspection system

Номер патента: GB2516291A. Автор: Guillaume Douarre,St Ve Parneix. Владелец: Smiths Heimann SAS. Дата публикации: 2015-01-21.

Inspection system for array of microcircuit dies having redundant circuit patterns

Номер патента: USRE33956E. Автор: Lawrence H. Lin,Robert B. Howe,Daniel L. Cavan. Владелец: Insystems Inc. Дата публикации: 1992-06-09.

Ultrasonic pipeline inspection system and method

Номер патента: CA3080826A1. Автор: Andy Bain,Ibrahim Abu-Aisha. Владелец: NDT Global Corporate Ltd. Дата публикации: 2019-05-09.

Flexible magnetostrictive guided wave pipe inspection system with integrated magnets

Номер патента: US11815494B2. Автор: Steven E. Owens,Cody J. Borigo. Владелец: FBS Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Inspection method and inspection system

Номер патента: US20240044778A1. Автор: Yoshinori Matsui,Hideto Motomura,Rina AKAHO,Takanobu Ojima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-08.

Semiconductor inspection system and semiconductor inspection apparatus

Номер патента: US20200256808A1. Автор: Ikuo Motonaga. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2020-08-13.

Inspection method and inspection system

Номер патента: US11846583B2. Автор: Yoshinori Matsui,Hideto Motomura,Rina AKAHO,Takanobu Ojima. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-19.

Machine vision based automatic needle cannula inspection system and methods of use

Номер патента: US11037285B2. Автор: Jibin Yang. Владелец: Jb Medical Inc. Дата публикации: 2021-06-15.

Ultrasonic pipeline inspection system and method

Номер патента: US20210003532A1. Автор: Andy Bain,Ibrahim Abu-Aisha. Владелец: NDT Global Corporate Ltd. Дата публикации: 2021-01-07.

Systems, circuits and methods for reducing thermal damage and extending the detection range of an inspection system by avoiding detector and circuit saturation

Номер патента: WO2007011630A3. Автор: Alexander Slobodov,Anatoly Romanovsky,Christian H Wolters. Владелец: Christian H Wolters. Дата публикации: 2007-04-05.

Sample inspection system and operating method for management server thereof

Номер патента: EP2237044A3. Автор: Takashi Noguchi,Tatsuya Tokunaga,Masaki Takano,Naomi Ishii,Yayoi Shitara. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2018-04-04.

Glass container inspection system

Номер патента: US20240098353A1. Автор: Richard A. Sones,Benjamin James Crissman,Andrew James Cantrell. Владелец: Applied Vision Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Inspection System and Method for Obtaining an Adjusted Light Intensity Image

Номер патента: US20160165110A1. Автор: Yi-Lung Weng,Chien-Hsun Chu. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2016-06-09.

Inspection system and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240259502A1. Автор: Riko MIURA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Lithographic apparatus, inspection system, and method of implementing parallel sensor-heads with a common radiation source

Номер патента: WO2024175303A1. Автор: Henricus Petrus Maria Pellemans,Arjan Johannes Anton BEUKMAN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-08-29.

Printed material inspection system, printed material inspection method, and program

Номер патента: EP4245547A1. Автор: Shogo Ishikawa,Yoshie Ohira,Takashi Kikumoto. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-09-20.

Image inspection apparatus, image inspection method of image inspection apparatus, and image inspection system

Номер патента: EP4175271A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-05-03.

Image-based jig inspection system and method

Номер патента: US12073553B2. Автор: Daewon Lee,Myunghwan JEONG,Ki Hoon Park,Byoungik Kim,Hyuk-Ju Kwon,Soo Young Ha. Владелец: AUTOIT. Дата публикации: 2024-08-27.

Image inspection system

Номер патента: US20240144463A1. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-05-02.

Image inspection apparatus, image inspection method of image inspection apparatus, and image inspection system

Номер патента: US20230132446A1. Автор: Kazuomi Sakatani. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-05-04.

Wellbore inspection system and method for ultra-deep vertical shaft

Номер патента: SE545250C2. Автор: Fan Jiang,Wei Li,Gang Zhang,Hongwei TANG,Gongbo Zhou,Zhencai Zhu,Chaoquan TANG,Zhenzhi HE. Владелец: Univ China Mining. Дата публикации: 2023-06-07.

Inspection system and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: EP4411483A1. Автор: Riko MIURA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-07.

A lithographic apparatus, an inspection system, and a detector having a square-core fiber

Номер патента: WO2023198466A1. Автор: Krishanu SHOME,Mahesh Upendra AJGAONKAR,Aniruddha Ramakrishna SONDE. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-10-19.

Photomask inspection system and method

Номер патента: US20230138028A1. Автор: Xueyu LIANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Photomask inspection system and method

Номер патента: US11922262B2. Автор: Xueyu LIANG. Владелец: Changxin Memory Technologies Inc. Дата публикации: 2024-03-05.

Printed material inspection system, printed material inspection method, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20230297297A1. Автор: Shogo Ishikawa,Yoshie Ohira,Takashi Kikumoto. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2023-09-21.

Inspection system, control method of inspection system, and computer program

Номер патента: EP4250085A1. Автор: Erika AZUMA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-09-27.

Tunnel-inspection image acquisition device, tunnel-inspection system, and tunnel-inspection method

Номер патента: US12045966B2. Автор: Tianle YU,Jun KUANG,Jidong YAO. Владелец: Shanghai Oriental Maritime Engineering Technology Co ltd. Дата публикации: 2024-07-23.

Integrated optical system for scalable and accurate inspection systems

Номер патента: WO2023242012A1. Автор: Justin Lloyd KREUZER,Stephen Roux,Roxana REZVANI NARAGHI,Saman Jahani,Jorn Paul VAN ENGELEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2023-12-21.

Feeding device, image forming system, and conveyed medium inspection system

Номер патента: US20170210579A1. Автор: Takeshi Watanabe,Isao Matsushima,Kiyoshi Hata,Kyosuke Nakada,Mamoru Yorimoto,Yuichiro Maeyama,Kahei Nakamura. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-07-27.

Printed material inspection system and control method thereof

Номер патента: US20130321517A1. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-12-05.

Printed material inspection system and control method thereof

Номер патента: US9193148B2. Автор: Tsutomu Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-11-24.

Multi-Stage/Multi-Chamber Electron-Beam Inspection System

Номер патента: US20170301508A1. Автор: Weimin Ma,Weiqiang SUN. Владелец: Dongfang Jingyuan Electron Ltd. Дата публикации: 2017-10-19.

Inspection apparatus, control method for inspection apparatus, inspection system, control method for inspection system and storage medium

Номер патента: US20240179247A1. Автор: Jun Miyajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-05-30.

Inspection apparatus, control method for inspection apparatus, inspection system, control method for inspection system and computer program

Номер патента: EP4379473A1. Автор: Jun Miyajima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-06-05.

Inspection systems using metasurface and integrated optical systems for lithography

Номер патента: WO2024078818A1. Автор: Irwan Dani Setija,Roxana REZVANI NARAGHI,Saman Jahani,Jorn Paul VAN ENGELEN. Владелец: ASML Netherlands B.V.. Дата публикации: 2024-04-18.

Drive mechanism for OPTO-mechanical inspection system

Номер патента: US09746057B2. Автор: Zongqiang Yu,Yuhai Mu. Владелец: Dongfang Jingyuan Electron Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Unmanned aerial vehicle wind turbine inspection systems and methods

Номер патента: US12116979B2. Автор: Fabien Blanc-Paques,Bernard J. Michini. Владелец: Skydio Inc. Дата публикации: 2024-10-15.

Fixed state inspection apparatus, fixed state inspection system, fixed state inspection method, and a non-transitory computer readable medium

Номер патента: US11954911B2. Автор: Rina YAKUWA. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-04-09.

Method of operating a self-stabilizing discharge lamp

Номер патента: CA1071293A. Автор: Johannes A. J. M. Van Vliet,Jacobus M. M. Claassens,Louis B. Beijer,Mijndert Koedam. Владелец: Philips Gloeilampenfabrieken NV. Дата публикации: 1980-02-05.

Method of operating a self-stabilizing discharge lamp

Номер патента: US4039880A. Автор: Mijndert Koedam,Louis Benjamin Beijer,Jacobus Marinus Maria Claassens,Johannes Adrianus Josephus Maria Van Vliet. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1977-08-02.

Multi-component coating composition comprising an anhydride containing polymer, a glycidyl component and a self-stabilized dispersion resin

Номер патента: US4908397A. Автор: Robert J. Barsotti,Patrick H. Corcoran. Владелец: EI Du Pont de Nemours and Co. Дата публикации: 1990-03-13.

Automated part inspection system

Номер патента: US20240257334A1. Автор: LEI Zhou,Roberto Francisco-Yi Lu,Sonny O. Osunkwo,Swapnilsinh SOLANKI,Peter Vercampt. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Image processing system for use with inspection systems

Номер патента: EP1297493A2. Автор: Chukka Srinivas,Pamela R. Lipson,Pawan Sinha,Aparna Ratan. Владелец: Teradyne Inc. Дата публикации: 2003-04-02.

Stencil programming and inspection using solder paste inspection system

Номер патента: US09743527B2. Автор: Paul R. Haugen,Brendan R. Hinnenkamp. Владелец: Cyberoptics Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Inspection system

Номер патента: US20240345781A1. Автор: Takeshi Kinoshita. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Pellet defect inspection system using multi color tone control and method for controlling the same

Номер патента: US12121935B2. Автор: Hyun Tae Kim,Worl Yong Kim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Inspection system

Номер патента: US20240296538A1. Автор: Takeyuki Suda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

High accuracy robotic plasma cutting and inspection system

Номер патента: US20240083034A1. Автор: James W. Wells,Chris A. Ihrke,John P. Spicer,Miguel Arturo Saez. Владелец: GM GLOBAL TECHNOLOGY OPERATIONS LLC. Дата публикации: 2024-03-14.

Five axis optical inspection system

Номер патента: US09939624B2. Автор: Daniel Freifeld,John Burnett,Minh Chau Ngo. Владелец: Electro Scienctific Industries Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Pallet inspection system and associated methods

Номер патента: AU2022366938A1. Автор: Khurram Soomro,Christopher J. Gerou,Sergio Conejo. Владелец: Chep Technology Pty Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Pallet inspection system and associated methods

Номер патента: WO2023064786A1. Автор: Khurram Soomro,Christopher J. Gerou,Sergio Conejo. Владелец: CHEP TECHNOLOGY PTY LIMITED. Дата публикации: 2023-04-20.

Intrinsically Safe Video Inspection System

Номер патента: US20180146174A1. Автор: Leonard Pool. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-24.

Intrinsically safe video inspection system

Номер патента: WO2010147660A3. Автор: Leonard Pool. Владелец: Leonard Pool. Дата публикации: 2011-02-24.

Intrinsically Safe Video Inspection System

Номер патента: US20160234466A1. Автор: Leonard Pool. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-08-11.

Pallet inspection system and associated methods

Номер патента: EP4416457A1. Автор: Khurram Soomro,Christopher J. Gerou,Sergio Conejo. Владелец: Chep Technology Pty Ltd. Дата публикации: 2024-08-21.

Crane inspection system and crane

Номер патента: US12134545B2. Автор: Minoru Toida,Kohei Honjo,Katuaki Kamashima. Владелец: Sumitomo Heavy Industries Construction Crane Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-05.

Intrinsically safe video inspection system

Номер патента: US09866803B2. Автор: Leonard Pool. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-01-09.

Tire inspection system for vehicle fleets

Номер патента: EP3640059A1. Автор: Johnny Lee Mcintosh,Jamie Lynn Wofford-Redmond,Michele Lee Root,Joshua Kenneth Wright. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2020-04-22.

Inspection system

Номер патента: EP4425905A1. Автор: Takeyuki Suda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-04.

Image inspection system, image inspection method, and recording medium storing image inspection program

Номер патента: US9342898B2. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2016-05-17.

Remote nondestructive inspection systems and methods

Номер патента: WO2008057385A1. Автор: Gary E. Georgeson,Richard H. Bossi,Jeffrey R. Kollgaard,Blake A. Bertrand. Владелец: The Boeing Company. Дата публикации: 2008-05-15.

Inspection system, design apparatus, and inspection method that generate correct answer data with design apparatus for production printing

Номер патента: US11470205B1. Автор: Taku Matsuo. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2022-10-11.

Inspection system, inspection management device, inspection program creating method, and program

Номер патента: US20240224485A1. Автор: Takako Onishi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Image inspection system

Номер патента: US20240146854A1. Автор: Shoichi Nomura. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2024-05-02.

Vision inspection system based on deep learning and vision inspecting method thereof

Номер патента: US20230005131A1. Автор: Jong Min Park. Владелец: Hyundai Mobis Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-05.

Tire inspection system for vehicle fleets

Номер патента: US20200126330A1. Автор: Johnny Lee Mcintosh,Jamie Lynn Wofford-Redmond,Michele Lee Root,Joshua Kenneth Wright. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2020-04-23.

Inspection system for inspecting display device, display device for compensating for defective pixel and defective pixel compensation method

Номер патента: US20240362766A1. Автор: Seungho Park,Mingyu Kim,Seyun KIM,Hyungwoo YIM. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Method and apparatus for spot-checking visual inspection system

Номер патента: US12067710B2. Автор: Jiwei Chen,Qian Wu,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Image inspection system

Номер патента: US20240331232A1. Автор: Hiroyuki Fujita,Yamato Uehara,Yosuke Shiota. Владелец: Keyence Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Label inspection system and method

Номер патента: US09569837B2. Автор: Denis O'Sullivan,Michael Duffy,Lisa Higgins,Frank MADDEN,Eddie CASSIDY,Donal HARRINGTON,Neil KINGSTON. Владелец: CREST SOLUTIONS Ltd. Дата публикации: 2017-02-14.

Vision inspection system and method of inspecting parts

Номер патента: US20210319545A1. Автор: Du Wen,LEI Zhou,Roberto Francisco-Yi Lu,Tim Darr. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-14.

Electronic assembly video inspection system

Номер патента: US20060188142A1. Автор: Joseph Vilella. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-08-24.

Mobile robot and unmanned inspection system and method including the same

Номер патента: US20240281946A1. Автор: Soon Wook Hwang,Kwang-Jun Kim,Sang Kyeong Han,In Mo JANG,Hee Jae Park. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-08-22.

Machine vision inspection system and method for obtaining an image with an extended depth of field

Номер патента: US09726876B2. Автор: Robert Kamil Bryll. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2017-08-08.

Aircraft inspection systems and methods

Номер патента: US11718419B2. Автор: Branko Sarh,Gary Georgeson,James J. Troy,Alireza Shapoury. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2023-08-08.

Inspection system for three-dimensional printer and methods thereof

Номер патента: US20240173972A1. Автор: Paul J. McConville,Chu-heng Liu,Joseph C. Sheflin,Palghat S. Ramesh,Peter Knausdorf,Collin Alexander LADD,Sakib ZARGAR. Владелец: Xerox Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Inspection systems and methods including image retrieval module

Номер патента: US20220067083A1. Автор: Feng Xue,Bernard Patrick Bewlay,Masako Yamada,Yan Liu,Mark Richard Gilder,Xiao Bian,Byron Andrew Pritchard,Shaopeng LIU,Peihong ZHU,Walter Vincent Dixon, Iii,Colin James Parris. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2022-03-03.

Security inspection system and security inspection method

Номер патента: AU2022388776A1. Автор: Peter Klatt. Владелец: Hoermann Klatt Conveyors GmbH. Дата публикации: 2024-06-20.

Part manufacture machine having vision inspection system

Номер патента: US11816755B2. Автор: LEI Zhou,Sonny O. Osunkwo. Владелец: Tyco Electronics Shanghai Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-14.

Inspection system, terminal device, inspection method, and non-transitory computer readable storage medium

Номер патента: US12111643B2. Автор: Masaru Adachi,Ryo MASUMURA. Владелец: Yaskawa Electric Corp. Дата публикации: 2024-10-08.

Semiconductor structure, inspection method and inspection system

Номер патента: US20240304411A1. Автор: Yen-Chiao CHEN. Владелец: Winbond Electronics Corp. Дата публикации: 2024-09-12.

Inspection system, printer, and print-position notification method

Номер патента: US09823884B2. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Automatic inspection system and method for controlling automatic inspection system

Номер патента: US11238673B2. Автор: Yuichi Igarashi,Hiroshige Kashiwabara,Jumpei Honda,Takuma Nishimura,Ryo Nakano,Hidemasa NAKAI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2022-02-01.

Image inspection apparatus, image inspection system and image inspection method

Номер патента: US09767546B2. Автор: Hitomi Kaneko,Keiji Kojima,Hiroyoshi Ishizaki,Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Asset tracking system with medical device inspection system

Номер патента: US20240161918A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical LLC. Дата публикации: 2024-05-16.

Asset tracking system with medical device inspection system

Номер патента: WO2024092066A1. Автор: Scott Allen Sundet,Kristin Sundet PAVEK,Andrew R. SUNDET. Владелец: Clarus Medical, Llc. Дата публикации: 2024-05-02.

Image processing system for use with inspection systems

Номер патента: WO2002001504A2. Автор: Chukka Srinivas,Pamela R. Lipson,Pawan Sinha,Aparna Ratan. Владелец: Teradyne, Inc.. Дата публикации: 2002-01-03.

Method for automatically selecting test parameters of an image inspection system and image inspection system for implementing the method

Номер патента: US09641700B2. Автор: Winfried Berg,Frank Schumann. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2017-05-02.

Pipe inspection system with wireless data transmission

Номер патента: US09444541B2. Автор: Fabian Zahnd,Peter Henn. Владелец: iPEK International GmbH. Дата публикации: 2016-09-13.

Pellet Defect Inspection System Using Multi Color Tone Control And Method For Controlling The Same

Номер патента: US20240017295A1. Автор: Hyun Tae Kim,Worl Yong Kim. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-01-18.

Edge inspection system for inspection of optical devices

Номер патента: US12003841B2. Автор: Jinxin FU,Michael David-Scott Kemp. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-06-04.

Vehicle abnormality inspection system

Номер патента: US20210122382A1. Автор: Ryosuke OYA,Keiji Kishida. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Inspection systems and methods including image classification module

Номер патента: US20210133511A1. Автор: Peng Chu,Bernard Patrick Bewlay,Masako Yamada,Xiao Bian,Shaopeng LIU,Colin James Parris. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2021-05-06.

Inspection system with wireless data transmission

Номер патента: RU2711177C1. Автор: Александр Абдулмянович Хайрулин,Александр Сергеевич Крюков,Сергей Александрович Хайрулин,Павел Александрович Хайрулин. Владелец: Закрытое акционерное общество "Сфинкс". Дата публикации: 2020-01-15.

Wafer inspection system

Номер патента: US20230334647A1. Автор: Chia-Lin Tsai,Hung-Ru Li,Wun-Ye Ku. Владелец: Nanya Technology Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Inspection system and method for controlling inspection system

Номер патента: US20240037730A1. Автор: Aya Kasahara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-01.

Integrated security inspection system

Номер патента: EP3405937A1. Автор: Edward James Morton. Владелец: Rapiscan Systems Inc. Дата публикации: 2018-11-28.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US12052394B2. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-30.

Inspection system, inspection method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US20230281795A1. Автор: Takashi Soma,Takuji Kamada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-07.

Magnetic head inspection system, magnetic head inspection method and magnetic disk drive manufacturing method

Номер патента: US7929255B2. Автор: Hiroshi Umezaki,Shinichi Iwasa. Владелец: Hitachi Global Storage Technologies Netherlands BV. Дата публикации: 2011-04-19.

Inspection system, inspection method, and non-transitory recording medium

Номер патента: US12125195B2. Автор: Takashi Soma,Takuji Kamada. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Method for the automatic parameterization of the error detection of an image inspection system

Номер патента: US09762750B2. Автор: Werner Huber,Thomas Roos. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2017-09-12.

Direction correcting apparatus, method thereof and movable radiation inspecting system

Номер патента: US20080197293A1. Автор: Guang Yang,Hua Peng,Haifeng Hu,Shangmin Sun,Zhongrong Yang,Zhijun Li,Xining Xu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2008-08-21.

Asset maintenance or inspection system and method

Номер патента: EP1657610A3. Автор: Yoshiaki Advanced Tech. Research Center Sonoda,Hidetaka Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Ono,Toyofumi Ryomei Engineering Co. Ltd. Shimada,Edward P. Maddox Jr.. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2010-10-13.

Inspection apparatus, inspection system, inspection method and storage medium

Номер патента: US20240320819A1. Автор: Shun Nakamura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Robotic visual tactile surface inspection system

Номер патента: WO2024181994A1. Автор: Justinian Rosca,Eugen Solowjow,Chengtao Wen,Gokul Narayanan SATHYA NARAYANAN,Jose Luis SUSA RINCON,Abhiroop AJITH. Владелец: Siemens Corporation. Дата публикации: 2024-09-06.

Project inspection systems and methods

Номер патента: US20240346448A1. Автор: Luis A. Uriarte. Владелец: Miview Integrated Solutions LLC. Дата публикации: 2024-10-17.

Inspection System and Related Methods

Номер патента: US20200219213A1. Автор: James Howe,Norman Aleman. Владелец: Bert Howe & Associates. Дата публикации: 2020-07-09.

Input device of inspection system for flat panel display

Номер патента: US20090178498A1. Автор: Sang-Hun Park. Владелец: Samsung Mobile Display Co Ltd. Дата публикации: 2009-07-16.

Underwater robotic venting and inspection system

Номер патента: US20120318187A1. Автор: Jamie Hogan,Steve Everett,Nicholas HARTMAN,Cyril Poissonnet,Jeff Condit,Dylan Mora,Brad Lafferty,Kyle Knight. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-12-20.

Method for checking an image inspection system

Номер патента: US09953435B2. Автор: Immanuel Fergen,Frank Schumann,Frank Soltwedel. Владелец: HEIDELBERGER DRUCKMASCHINEN AG. Дата публикации: 2018-04-24.

Printed material inspection system and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US20240163376A1. Автор: Shogo Ishikawa,Yoshie Ohira,Takashi Kikumoto. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-16.

Printed material inspection system and program

Номер патента: EP4369696A1. Автор: Shogo Ishikawa,Yoshie Ohira,Takashi Kikumoto. Владелец: FUJIFILM BUSINESS INNOVATION CORP. Дата публикации: 2024-05-15.

Inspecting system for security supports

Номер патента: EP1540600A1. Автор: Maurizio Ripamonti,Renzo Lisei,Roberto Salgari,Giovanni De Toni. Владелец: Parvis System and Services Srl. Дата публикации: 2005-06-15.

Optical inspection system with a variation system consisting of five lens groups for imaging an object into infinity

Номер патента: US20130308201A1. Автор: Rolf Wartmann,Joerg Sprenger,Kerstin Winkler. Владелец: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH. Дата публикации: 2013-11-21.

Inspection system, information processing apparatus, and control method for controlling the same

Номер патента: US20240244148A1. Автор: Aya Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Inspecting system for security supports

Номер патента: AU2002339737A1. Автор: Maurizio Ripamonti,Renzo Lisei,Roberto Salgari,Giovanni De Toni. Владелец: O R M A G SpA. Дата публикации: 2004-04-08.

Microscope inspection system

Номер патента: EP1290484A2. Автор: Yigal Katzir,Demitry Gorlik. Владелец: Orbotech Ltd. Дата публикации: 2003-03-12.

Inspection system and inspection method

Номер патента: US12055717B2. Автор: Shinichi Morimoto,Naoya Nakayama,Masayuki Ariyoshi,Toshinori Takemura,Masanori SEKIDO. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Inspection system, information processing apparatus, and control method thereof

Номер патента: US20210398262A1. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2021-12-23.

Inspection system, information processing apparatus, and control method thereof

Номер патента: US11830181B2. Автор: Shunsuke Iwano. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-11-28.

Systems and method for robotic industrial inspection system

Номер патента: CA3081552A1. Автор: LI ZHANG,Huan Tan,Charles Burton Theurer,Romano Patrick,John Michael Lizzi, JR.,Viktor Holovashchenko. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2019-05-09.

Systems and method for robotic industrial inspection system

Номер патента: WO2019089208A1. Автор: LI ZHANG,Huan Tan,Charles Burton Theurer,Romano Patrick,John Michael Lizzi, JR.,Viktor Holovashchenko. Владелец: GENERAL ELECTRIC COMPANY. Дата публикации: 2019-05-09.

Signal inspection system for rotation control device and method thereof

Номер патента: US8102272B2. Автор: Li-Yan MA. Владелец: Inventec Appliances Corp. Дата публикации: 2012-01-24.

Automated document inspection system

Номер патента: WO2000060480A9. Автор: James R Reda. Владелец: Videk Llc. Дата публикации: 2001-05-17.

Inspection system

Номер патента: CA3211791A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2022-09-15.

Endoscopic inspection system and method thereof

Номер патента: US20220148147A1. Автор: Cheng-Che Chen. Владелец: AetherAI Co Ltd. Дата публикации: 2022-05-12.

Inspection system, information processing apparatus, and control method for controlling the same

Номер патента: US20220303415A1. Автор: Aya Ito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2022-09-22.

Data inspection system for inspecting operating situations of multiple iot devices in a plurality of target iot systems

Номер патента: US20220103454A1. Автор: Tze Yi CHENG,Yu Sheng HO,Yuan Yu CHEN. Владелец: Acom Networks Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Systems and method for robotic industrial inspection system

Номер патента: EP3707571A1. Автор: LI ZHANG,Huan Tan,Charles Burton Theurer,Romano Patrick,John Michael Lizzi, JR.,Viktor Holovashchenko. Владелец: General Electric Co. Дата публикации: 2020-09-16.

Canning and inspection system for nuclear reactor fuel and reflector elements

Номер патента: US4207723A. Автор: Basil C. Hawke,Lewis A. Goldman. Владелец: General Atomics Corp. Дата публикации: 1980-06-17.

Optical inspection systems and methods for moving objects

Номер патента: US20230080491A1. Автор: Saumitra Buragohain. Владелец: Borde Inc. Дата публикации: 2023-03-16.

Product inspection system and method

Номер патента: WO2021133801A1. Автор: Brian TURNQUIST,Iesha LATTY,Elise COURTEMANCHE,Rodney DOCKTER. Владелец: Boon Logic Inc.. Дата публикации: 2021-07-01.

Method of inspecting the quality of blanks, in particular of blanks to be processed into packaging material, and quality inspection system

Номер патента: US20190147576A1. Автор: Jeronimo Alonso,Claude Toma,Olivier Porret,Mario Bellino. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2019-05-16.

A method of inspecting the quality of blanks, in particular of blanks to be processed into packaging material, and quality inspection system

Номер патента: EP3455826A1. Автор: Jeronimo Alonso,Claude Toma,Olivier Porret,Mario Bellino. Владелец: BOBST MEX SA. Дата публикации: 2019-03-20.

Automated optical inspection method, automated optical inspection system and storage medium

Номер патента: US12118705B2. Автор: Chia-Yeh Lee,Shang-Chi WANG,Cheng-Wei Gu. Владелец: GlobalWafers Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-15.

High volume vehicle inspection system and methods

Номер патента: US09539866B2. Автор: Jacques Mouchet. Владелец: Ateq Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Commodity information inspection system and control method for computer

Номер патента: US20200302502A1. Автор: Yuji Nakagawa,Shun Sato. Владелец: Ishida Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Automatic bio-specimen inspection system and inspection method thereof

Номер патента: US11967063B2. Автор: Shu Huang,Shang-Kun Li. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2024-04-23.

Inspection system and method

Номер патента: US20200334800A1. Автор: Sheng-Wen Huang,Yu-Ting Wang,Tien-Wen Wang,In-Tsang Lin,Chung-Pin CHOU,Jun-Xiu Liu,Hsin-Hui Chou,Jui-Kuo LAI. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-10-22.

User interface for automated optical inspection systems

Номер патента: EP1203350A1. Автор: John W. Grace,Scott A. Dunn,Michael A. Ellison,Mark R. DeYong,Thomas C. Eskridge,Jeff E. Newberry,Wesley K. Huffstutter,Marc A. Lumeyer,John R. Zoch. Владелец: Intelligent Reasoning Systems Inc. Дата публикации: 2002-05-08.

Inspection system using scanning electron microscope

Номер патента: US8890067B2. Автор: Young-Gil Park,Won-Bong Baek,Ki-Won Oh. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2014-11-18.

Downhole reeled tubing inspection system with fiberoptic cable

Номер патента: US5275038A. Автор: Donald H. Perkins,Phillip S. Sizer,Robert A. Rademaker. Владелец: Otis Engineering Corp. Дата публикации: 1994-01-04.

Method and apparatus for spot-checking visual inspection system

Номер патента: US20240070849A1. Автор: Jiwei Chen,Qian Wu,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-29.

Inspection system and related methods

Номер патента: US10991058B2. Автор: James Howe,Norman Aleman. Владелец: Bert L Howe & Associates Inc. Дата публикации: 2021-04-27.

Surgical kit inspection systems and methods for inspecting surgical kits having parts of different types

Номер патента: US11908125B2. Автор: Perry J. Simson,Graeme A. Field,Patrick M. Caldwell. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-02-20.

Method for randomly accessing stored imagery and a field inspection system employing the same

Номер патента: AU706776B2. Автор: Jeffrey A. Van Den Bosch. Владелец: GMI LLC. Дата публикации: 1999-06-24.

Surgical kit inspection systems and methods for inspecting surgical kits having parts of different types

Номер патента: US20230117419A1. Автор: Perry J. Simson,Graeme A. Field,Patrick M. Caldwell. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2023-04-20.

Method for randomly accessing stored imagery and a field inspection system employing the same

Номер патента: AU6959496A. Автор: Jeffrey A. Van Den Bosch. Владелец: Peninsular Technologies Llc. Дата публикации: 1997-03-19.

Inspection system and related methods

Номер патента: US20160055602A1. Автор: James Howe,Norman Aleman. Владелец: Bert L Howe & Associates Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Inspection system and related methods

Номер патента: US20190026846A1. Автор: James Howe,Norman Aleman. Владелец: Bert L Howe & Associates Inc. Дата публикации: 2019-01-24.

Surgical Kit Inspection Systems And Methods For Inspecting Surgical Kits Having Parts Of Different Types

Номер патента: US20240144466A1. Автор: Perry J. Simson,Graeme A. Field,Patrick M. Caldwell. Владелец: Howmedica Osteonics Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Image inspection system, image inspection method, and recording medium storing image inspection program

Номер патента: US20150063654A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2015-03-05.

Gimbal control method, controller, unmanned aerial vehicle and unmanned aerial vehicle inspection system

Номер патента: US20240255964A1. Автор: Weiheng Li. Владелец: Autel Robotics Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-01.

Automatic optical inspection system to verify the outer packaging conformity specifications of palletized packages, according to customer requirements

Номер патента: EP4420076A1. Автор: Luís GONZAGA MENDES MAGALHÃES,Toni Daniel NETO MACHADO,Paul RODRIGUES VIEIRA,António José DE FREITAS MAIO,Edgar Emanuel LEITÃO TAVEIRA,João Eduardo QUINTELA ALVES DE SOUSA VARAJÃO,Miguel FREIXO GONÇALVES,Gustavo FRAGA DE CARVALHO NOGUEIRA ROSA,André Filipe ALVES FREITAS,Samuel COELHO MACHADO,Alexandra Filipa ARAÚJO GOMES. Владелец: Bosch Car Multimedia Portugal SA. Дата публикации: 2024-08-28.

A label inspection system and method

Номер патента: EP2943931A2. Автор: Denis O'Sullivan,Michael Duffy,Lisa Higgins,Frank MADDEN,Eddie CASSIDY,Donal HARRINGTON,Neil KINGSTON. Владелец: CREST SOLUTIONS Ltd. Дата публикации: 2015-11-18.

Inspection system for print medium, control method, and storage medium

Номер патента: US20240119583A1. Автор: Yuki Daiku. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-04-11.

Game token money, method of manufacturing game token money, and inspection system

Номер патента: US20190034771A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Playing Cards Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-31.

Radiation image inspection system and method based on B/S architecture

Номер патента: US09947067B2. Автор: Min Li,LI ZHANG,Ying Li,Ziran Zhao,Limin Liu,Zhiqiang Chen,Xianghao WU,Xiaoming SONG,Xinfang HUANG. Владелец: Nectech Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-17.

Driver IC, display device, and inspection system

Номер патента: US09875674B2. Автор: Yoshihiro Kotani,Chunhan ZHANG. Владелец: Japan Display Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Camera based cable inspection system

Номер патента: US09665932B2. Автор: Jason Michael Lauffer,Nicholas Joseph Roefaro,Jason Alexander Kanczes,Kevin Frederick Garben. Владелец: Thales Transport and Security Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Inspection system, printer, and print-position notification method

Номер патента: US20170031636A1. Автор: Tadashi Kitai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-02.

Inspection managing apparatus, inspection system, and inspection method for integrated multimedia of vehicle

Номер патента: US9478078B2. Автор: Joon Kwon CHO. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2016-10-25.

Inspection managing apparatus, inspection system, and inspection method for integrated multimedia of vehicle

Номер патента: US20150348338A1. Автор: Joon Kwon CHO. Владелец: Hyundai Motor Co. Дата публикации: 2015-12-03.

Automatic inspection system for information systems of electric power enterprises

Номер патента: NL2033336A. Автор: Xu Fan,Pei Gang,QI Bin,Ruan Zhaowen,Dai Zhong. Владелец: State Grid Anhui Electric Power Company Maanshan Power Supply Company. Дата публикации: 2023-05-15.

Inspection apparatus and inspection system

Номер патента: US20240046450A1. Автор: Makoto Anno. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-08.

Automatic inspection system for information systems of electric power enterprises

Номер патента: NL2033336B1. Автор: Xu Fan,Pei Gang,QI Bin,Ruan Zhaowen,Dai Zhong. Владелец: State Grid Anhui Electric Power Company Maanshan Power Supply Company. Дата публикации: 2024-03-01.

Maintenance and inspection system and method

Номер патента: US20040260594A1. Автор: Edward Maddox. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2004-12-23.

Smart security inspection system and method

Номер патента: CA2978161A1. Автор: Jia Xu,Ying Fan,Qingping Huang,Hu Tang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-30.

Smart security inspection system and method

Номер патента: CA2978161C. Автор: Jia Xu,Ying Fan,Qingping Huang,Hu Tang. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-16.

Weld quality inspection system

Номер патента: EP4288233A1. Автор: Sreevidhya KARIAT. Владелец: Magna International Inc. Дата публикации: 2023-12-13.

Automatic inspection system and automatic inspection method

Номер патента: US20190279498A1. Автор: Hiroshige Kashiwabara,Yoshimi Fujimata,Jumpei Honda,Takuma Nishimura. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2019-09-12.

Method for randomly accessing stored imagery and a field inspection system employing the same

Номер патента: WO1997008633A1. Автор: Jeffrey A. Van Den Bosch. Владелец: Gmi, Llc. Дата публикации: 1997-03-06.

Product delivery inspection system, order-receiving-side handy terminal, ordering-side handy terminal, and container

Номер патента: US20150081480A1. Автор: Satoru Narita. Владелец: Nec Infrontia Corp. Дата публикации: 2015-03-19.

Product delivery inspection system, order-receiving-side handy terminal, ordering-side handy terminal, and container

Номер патента: US9846852B2. Автор: Satoru Narita. Владелец: NEC Platforms Ltd. Дата публикации: 2017-12-19.

Weld quality inspection system

Номер патента: US20240082963A1. Автор: Sreevidhya KARIAT. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-14.

Breakwater inspection system based on distributed optical fiber and unmanned aerial vehicles

Номер патента: LU506194B1. Автор: Hongbiao Liu. Владелец: Tianjin Research Inst Water Transp Engineering Mot. Дата публикации: 2024-07-23.

Collimator and inspecting system using the same

Номер патента: US09420981B2. Автор: Chang Woo Lee,Jong Duk Baek. Владелец: UNIVERSITY-INDUSTRY FOUNDATION (UIF). Дата публикации: 2016-08-23.

Inspection system and game token

Номер патента: US20240087403A1. Автор: Yasushi Shigeta. Владелец: Angel Group Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-14.

Unmanned aerial vehicle inspection system

Номер патента: US11794890B2. Автор: Bernard J. Michini,Mark Patrick Bauer,Brett Michael Bethke. Владелец: Skydio Inc. Дата публикации: 2023-10-24.

Implantable inspecting device, inspecting system, and inspecting method

Номер патента: US20220248991A1. Автор: Chi-Heng Chang,Mei-Ching WANG. Владелец: GIMER MEDICAL CO Ltd. Дата публикации: 2022-08-11.

Object inspection system

Номер патента: US4318081A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1982-03-02.

Mobile vehicle having an AOI dynamic inspection system with multi-angle visual quality

Номер патента: US11731264B2. Автор: Chung-Jen Shih. Владелец: IMMENSE DIGITIZE ENGINEERING Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-22.

Product inspection system and production inspection method

Номер патента: US20210089014A1. Автор: Hiroki Ohashi,Ryohei Matsui,Hiroyuki Yoshimoto,Toshinari ISHII,Naoko USHIO,Daiji Iwasa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-03-25.

Image forming apparatus, inspection apparatus, inspection system, and inspection method

Номер патента: US20240004591A1. Автор: Katsuyuki Murakami. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-01-04.

Point inspection method and device for visual inspection system

Номер патента: EP4358030A1. Автор: Jiwei Chen,Qian Wu,Guannan JIANG. Владелец: Contemporary Amperex Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-24.

Inspection system, inspection apparatus and method of controlling the same, and storage medium

Номер патента: US20240106935A1. Автор: Masaaki MURAISHI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-28.

Product quality inspection system

Номер патента: WO2022152703A1. Автор: Anton Berg,Antonia PEHRSON,Martin ENTHED. Владелец: Inter IKEA Systems B.V.. Дата публикации: 2022-07-21.

Product quality inspection system, method, and device

Номер патента: US11989765B2. Автор: Anton Berg,Antonia PEHRSON,Martin ENTHED. Владелец: Inter Ikea Systems BV. Дата публикации: 2024-05-21.

Product quality inspection system

Номер патента: US20220222723A1. Автор: Anton Berg,Antonia PEHRSON,Martin ENTHED. Владелец: Inter Ikea Systems BV. Дата публикации: 2022-07-14.

Hand Operated Food Cutting Apparatus Having a Self-Stabilizing Pusher-Arm Mechanism and a Food-Stabilizing Pusher-Arm Mechanism for a Food Cutting Apparatus

Номер патента: US20180169880A1. Автор: Whitney Ryan S.. Владелец: . Дата публикации: 2018-06-21.

Hand Operated Food Cutting Apparatus Having a Self-Stabilizing Pusher-Arm Mechanism and a Food-Stabilizing Pusher-Arm Mechanism for a Food Cutting Apparatus

Номер патента: US20150224662A1. Автор: Ryan S. Whitney. Владелец: Edlund Co LLC. Дата публикации: 2015-08-13.

A self-stabilizing support assembly for an item furniture

Номер патента: CN100508826C. Автор: R·布鲁克. Владелец: SHIRANOR INVEST Ltd. Дата публикации: 2009-07-08.

Aqueous Coating Composition of a Self-Stabilized Crosslinked Latex

Номер патента: KR100529686B1. Автор: 마이클 프리드,데이비드 씨. 케이. 창. Владелец: 이 아이 듀폰 디 네모아 앤드 캄파니. Дата публикации: 2005-11-21.

A self-stabilizing support assembly for an item of furniture

Номер патента: EP1696765A1. Автор: Rory Brooke. Владелец: SHIRANOR INVESTMENTS Ltd. Дата публикации: 2006-09-06.

A self-stabilizing support assembly for an item of furniture

Номер патента: AU2010209307A1. Автор: Rory Brooke. Владелец: HEDERA AB. Дата публикации: 2011-09-01.

A self-stabilizing support assembly for an item of furniture

Номер патента: EP2398352A1. Автор: Rory Brooke. Владелец: HEDERA AB. Дата публикации: 2011-12-28.

A self-stabilizing support assembly for an item of furniture

Номер патента: ZA201106329B. Автор: Rory Brooke. Владелец: HEDERA AB. Дата публикации: 2012-05-30.

A self-stabilizing support assembly for an item of furniture

Номер патента: WO2010086812A1. Автор: Rory Brooke. Владелец: HEDERA AB. Дата публикации: 2010-08-05.

A self-stabilizing support assembly for an item of furniture

Номер патента: EP2398351A1. Автор: Rory Brooke. Владелец: HEDERA AB. Дата публикации: 2011-12-28.

A self-stabilizing support assembly for an item of furniture

Номер патента: MY153526A. Автор: Brooke Rory. Владелец: HEDERA AB. Дата публикации: 2015-02-27.

Internal pipe inspection system

Номер патента: IE911630A1. Автор: . Владелец: Niagara Mohawk Power Corp. Дата публикации: 1991-11-20.

Electron Beam Inspection System

Номер патента: US20220406560A1. Автор: Noriyuki Kobayashi,Ryuichi Kusakabe. Владелец: Jeol Ltd. Дата публикации: 2022-12-22.

An inspection system, a clamping structure and an inspection method in association with the inspection system

Номер патента: CA3187838A1. Автор: Muzdalifah ZAKARIA,Ahmad Kamil MAHMOOD,Lukman AB RAHIM,Izzatdin ABDUL AZIZ,Jafreezal JAAFAR,Mohd Fadzil HASSAN,Mohd Hilmi HASAN,M Nazmi M ALI,M Hisham ABU BAKAR,Ahmad Sirwan M TUSELIM. Владелец: Petroliam Nasional Bhd Petronas. Дата публикации: 2022-01-06.

An inspection system, a clamping structure and an inspection method in association with the inspection system

Номер патента: AU2021303236A1. Автор: Muzdalifah ZAKARIA,Ahmad Kamil MAHMOOD,Lukman AB RAHIM,Izzatdin ABDUL AZIZ,Jafreezal JAAFAR,Mohd Fadzil HASSAN,Mohd Hilmi HASAN,Ahmad Sirwan M TUSELIM,M. Hisham ABU BAKAR,M. Nazmi M ALI. Владелец: Petroliam Nasional Bhd Petronas. Дата публикации: 2023-02-02.

Rotor blade inspection system

Номер патента: US12055053B1. Автор: Gregory S. Hagen,Zaffir A. Chaudhry,David L. LINCOLN,Janet Shaw,Scott Goyette,Jeffrey P. King. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Rotor blade inspection system

Номер патента: US12055055B1. Автор: Gregory S. Hagen,Zaffir A. Chaudhry,David L. LINCOLN,Janet Shaw,Scott Goyette,Jeffrey P. King. Владелец: RTX Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Auto-gauge ammunition inspection system

Номер патента: US12007214B1. Автор: James Aubuchon. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-06-11.

Cylinder failure prediction system and method, and cylinder failure inspection system and method

Номер патента: US20240011514A1. Автор: Young Sik WON. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Inspection system

Номер патента: US20240322276A1. Автор: Hiroshi Abe,Meiko UEYAMA. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2024-09-26.

Position inspection system, component assembly system, and position inspection device

Номер патента: US20240286291A1. Автор: Fuminori Saito,Akihiro Kimura,Reoto Uetake,Hiroshi Bito. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2024-08-29.

Inspection system

Номер патента: WO2021202029A1. Автор: Asaf Schlezinger,Markus J. STOPPER. Владелец: Applied Materials, Inc.. Дата публикации: 2021-10-07.

Inspection system

Номер патента: US12131930B2. Автор: Asaf Schlezinger,Markus J. STOPPER. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2024-10-29.

Integrated sheet metal forming, assembly and inspection system

Номер патента: US20070222014A1. Автор: James B. Toeniskoetter. Владелец: Hirotec America Inc. Дата публикации: 2007-09-27.

Automated track inspection system

Номер патента: US09950716B2. Автор: Paul Sandin,Blair Morad,Brendan English,Shawn Dooley,Craig Thrall. Владелец: Rail Pod Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Inspection system, inspection method, and inspection program

Номер патента: US11503171B2. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-11-15.

Inspection system, inspection method, and inspection program

Номер патента: US11277530B2. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-03-15.

Photovoltaic inspection system and photovoltaic inspection method

Номер патента: US09831827B2. Автор: Toru Kono,Minoru Kaneko,Yoshihito Narita,Kentarou Oonishi,Daisuke KATSUMATA. Владелец: Hitachi Systems Ltd. Дата публикации: 2017-11-28.

Information management apparatus and capsule endoscope inspection system

Номер патента: US09750395B2. Автор: Katsuyoshi Taniguchi. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Image inspection device, image inspection system, and image inspection method

Номер патента: US20190132454A1. Автор: Takahiro FUKASE. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Inspection device, packet processing device, and inspection system

Номер патента: US20220103441A1. Автор: Masaaki Noro. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-03-31.

Robot inspection system

Номер патента: US20240198534A1. Автор: Tatsuya Kubo,Hiroyuki Shindo,Shota URUMA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

Inspection apparatus, analysis display apparatus, inspection system and inspection method

Номер патента: US7729692B2. Автор: Hitoshi Oka,Yojiro Hiranuma,Taiji Katsube,Yukinori Amao. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2010-06-01.

Photomultiplier tube, image sensor, and an inspection system using a PMT or image sensor

Номер патента: US09620341B2. Автор: David L. Brown,Yung-Ho Alex Chuang,John Fielden. Владелец: KLA Tencor Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Semiconductor inspection system and methods of inspecting a semiconductor device using the same

Номер патента: US09455121B2. Автор: Hyunwoo Kim,Jung Hwan Kim,Yusin Yang,Chungsam Jun,Minkook KIM,Sangkil Lee,Wooseok Ko. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-27.

Robot inspection system

Номер патента: EP4385684A1. Автор: Tatsuya Kubo,Hiroyuki Shindo,Shota URUMA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2024-06-19.

Elevator component inspection systems

Номер патента: US11932514B2. Автор: Sandeep Sudi,Daniel M. Tripp. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2024-03-19.

Millimeter wave module inspection system, millimeter wave module inspection device, and millimeter wave module inspection method

Номер патента: US20240007202A1. Автор: Namjun Cho,Sanghun Sim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-01-04.

Pest inspection system and method of conducting an inspection

Номер патента: US20050016055A1. Автор: Mark Moyle. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-27.

Robotic die sorter with optical inspection system

Номер патента: WO2008008411A3. Автор: John D Moore,Miroslaw Sokol,Lawrence F Roberts. Владелец: Lawrence F Roberts. Дата публикации: 2008-06-12.

Inspection system, inspection method, and inspection program

Номер патента: US20220141346A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-05-05.

Inspection system, inspection method, and inspection program

Номер патента: US20220014637A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2022-01-13.

Inspection system, inspection method, and inspection program

Номер патента: US20230045620A1. Автор: Takao Kurohata. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-02-09.

Robotic die sorter with optical inspection system

Номер патента: WO2008008411A2. Автор: John D. Moore,Miroslaw Sokol,Lawrence F. Roberts. Владелец: Laurier, Inc.. Дата публикации: 2008-01-17.

Inspection system for inspecting image formed on sheet, and image forming apparatus

Номер патента: US20240323291A1. Автор: Shinya Ikeda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-09-26.

Inspection system

Номер патента: US11535083B2. Автор: Mototsugu Suzuki. Владелец: Subaru Corp. Дата публикации: 2022-12-27.

Train identification system and method, and train safety inspection system and method

Номер патента: US11952027B2. Автор: Yu Hu,Shangmin Sun,Weifeng Yu,Yanwei Xu. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-09.

Automatic elevator inspection systems and methods

Номер патента: AU2018203294B2. Автор: Frank Higgins,Sandeep Sudi,Sally Day Mahoney. Владелец: Otis Elevator Co. Дата публикации: 2023-09-21.

Solar cell array inspection system, power conditioner, and solar cell array inspection method

Номер патента: US20190190444A1. Автор: Akihiko Sano,Makoto Ohashi,Tsuyoshi Takeuchi,Yoshihiko Yamaguchi. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2019-06-20.

Inspection system for inspecting the quality of printed sheets

Номер патента: CA2979930C. Автор: Johannes Georg Schaede,Johann Emil Eitel,Axel Siemer. Владелец: KBA Notasys SA. Дата публикации: 2018-11-27.

Substrate inspecting apparatus, substrate inspecting system having the same apparatus and substrate inspecting method

Номер патента: US6038018A. Автор: Motosuke Miyoshi,Yuichiro Yamazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2000-03-14.

Inspection system for inspecting the quality of printed sheets

Номер патента: CA2728544C. Автор: Johannes Georg Schaede,Johann Emil Eitel,Axel Siemer. Владелец: KBA Notasys SA. Дата публикации: 2018-05-22.

Inspection system for inspecting the quality of printed sheets

Номер патента: CA2979930A1. Автор: Johannes Georg Schaede,Johann Emil Eitel,Axel Siemer. Владелец: KBA Notasys SA. Дата публикации: 2009-12-30.

Inspection system for inspecting the quality of printed sheets

Номер патента: EP2383213A1. Автор: Johannes Georg Schaede,Johann Emil Eitel,Axel Siemer. Владелец: KBA Notasys SA. Дата публикации: 2011-11-02.

Rotorcraft inspection systems and methods

Номер патента: US20190100336A1. Автор: James C. Kennedy. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2019-04-04.

Machine posture inspection method and machine posture inspection system

Номер патента: US20240342910A1. Автор: Ting-Jen Yeh,Ting-yun FANG. Владелец: Point Robotics Medtech Inc. Дата публикации: 2024-10-17.

Machine posture inspection method and machine posture inspection system

Номер патента: EP4446066A1. Автор: Ting-Jen Yeh,Ting-yun FANG. Владелец: Point Robotics Medtech Inc. Дата публикации: 2024-10-16.

Inspection system for in-line inspection of printed material produced on an intaglio printing press

Номер патента: CA2802326C. Автор: Johannes Georg Schaede,Thomas TÜRKE,Volkmar Rolf Schwitzky. Владелец: KBA Notasys SA. Дата публикации: 2019-03-05.

Roof inspection systems and methods of use

Номер патента: US8651206B2. Автор: Michael D. Slawinski,Dennis L. Guthrie. Владелец: Tobor Tech LLC. Дата публикации: 2014-02-18.

Detection module, inspection system and a method for obtaining multiple sensing results

Номер патента: US09852880B2. Автор: Tal Kuzniz. Владелец: Applied Materials Israel Ltd. Дата публикации: 2017-12-26.

Ophthalmological device and ophthalmological inspection system

Номер патента: US20190008378A1. Автор: Takefumi HAYASHI,Kouta Fujii. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2019-01-10.

Ophthalmological device and ophthalmological inspection system

Номер патента: US10791922B2. Автор: Takefumi HAYASHI,Kouta Fujii. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-10-06.

Ophthalmological device and ophthalmological inspection system

Номер патента: US20200077888A1. Автор: Takefumi HAYASHI,Kouta Fujii. Владелец: Topcon Corp. Дата публикации: 2020-03-12.

Tdi image sensor capable of adjusting exposure time and inspection system comprising the same

Номер патента: US20210385396A1. Автор: Young Ho Kim,Young Young Sim. Владелец: Vieworks Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-09.

Integrated circuit marking and inspecting system

Номер патента: US5226361A. Автор: Refugio C. Morales,William R. Grant,William C. Layer,Deanna K. Wirz. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 1993-07-13.

Filling machine with inspection system and packaging apparatus comprising such filling machine

Номер патента: EP4253309A1. Автор: Jean-Claude Waeldin,Stan HUME. Владелец: Sidel Participations SAS. Дата публикации: 2023-10-04.

On-loom fabric inspection system and method

Номер патента: US09499926B2. Автор: Shmuel Cohen. Владелец: Elbit Vision Systems Ltd. Дата публикации: 2016-11-22.

Focus height repeatability improvement in a machine vision inspection system

Номер патента: US09456120B2. Автор: Mark Lawrence Delaney. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2016-09-27.

Ramp-platform device and car mobile inspection system

Номер патента: RU2375297C2. Автор: Нань ЦЗЯН,Шанминь СУНЬ,Чжунжун ЯН,Хой МЫН. Владелец: Ньюктек Компани Лимитед. Дата публикации: 2009-12-10.

Modular downhole inspection system for coiled tubing

Номер патента: US5485745A. Автор: John J. Goiffon,Robert A. Rademaker,Michael L. Connell,Walter K. Olszewski. Владелец: Halliburton Co. Дата публикации: 1996-01-23.

Vehicle inspection system, method and smart garage

Номер патента: US10718128B2. Автор: Yuan Ma,Jianmin Li,Yu Hu,Yuanjing Li,Zhiqiang Chen,Shangmin Sun,Qiangqiang WANG. Владелец: Nuctech Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-21.

Imaging and inspection system for a dispenser and method for same

Номер патента: WO2005107355A9. Автор: Thomas C Prentice,David P Prince. Владелец: David P Prince. Дата публикации: 2005-12-29.

Object inspection system

Номер патента: CA1126853A. Автор: Hajime Yoshida. Владелец: Hajime Industries Ltd. Дата публикации: 1982-06-29.

Image inspection system and image inspection method

Номер патента: US20140036290A1. Автор: Tadashi Kitai,Hiromitsu MIYAGAWA. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2014-02-06.

NONDESTRUCTIVE INSPECTION SYSTEM USING NUCLEAR RESONANCE FLUORESCENCE

Номер патента: US20120002783A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Efficient comprehensive inspection system for automobile

Номер патента: ZA202307725B. Автор: Jiawei Chen. Владелец: Qianan Fuyun Motor Vehicle Testing Co Ltd. Дата публикации: 2024-01-31.

Wellbore inspection system and method for ultra-deep vertical shaft

Номер патента: CA3096226A1. Автор: Fan Jiang,Wei Li,Gang Zhang,Hongwei TANG,Gongbo Zhou,Zhencai Zhu,Chaoquan TANG,Zhenzhi HE. Владелец: China University of Mining and Technology CUMT. Дата публикации: 2021-01-15.

Sensor carrier of a pipeline inspection system

Номер патента: CA181498S. Автор: . Владелец: PII Pipetronix GmbH. Дата публикации: 2019-10-03.

Modular pickup for rail automated magnetic inspection systems

Номер патента: RU2315991C1. Автор: Виталий Иванович Горделий. Владелец: Виталий Иванович Горделий. Дата публикации: 2008-01-27.

Introscopic scanning system of inspection system and method implemented in said system

Номер патента: RU2566468C1. Автор: Михаил Анатольевич Арлычев,Андрей Вячеславович Белых,Александр Валерьевич Наливаев,Виктор Львович Новиков,Сергей Анатольевич Огородников,Игорь Евгеньевич Шевелев. Владелец: Общество с ограниченной ответственностью "Лаборатория Скантроник". Дата публикации: 2015-10-27.

Inspection system for edge and bevel inspection of semiconductor structures

Номер патента: WO2024224393A1. Автор: Shimon Koren,Gil Perlberg,Carmel Yehuda Drillman,Mordi Dahan,Moshe Edri,Ohad Shimon. Владелец: CAMTEK LTD. Дата публикации: 2024-10-31.

Measurement/inspection system for radio monitoring vhf and uhf ranges "marten"

Номер патента: RU2340914C1. Автор: Юрий Алексеевич Табунщиков. Владелец: Федеральное государственное унитарное предприятие "Радиочастотный центр Дальневосточного федерального округа" (ФГУП "РЧЦ ДФО"). Дата публикации: 2008-12-10.

X-ray inspection system

Номер патента: RU2497104C1. Автор: Владимир Федорович Вербов,Сергей Владимирович Мартыненко,Сираджеддин Нагметуллаевич Гамидуллаев. Владелец: Государственное казенное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Российская таможенная академия". Дата публикации: 2013-10-27.

Thermal inspection system

Номер патента: CA2593109C. Автор: Brian Heath,Fred T. Y. Ko,Gurcharn Lotey. Владелец: Intelligent Imaging Systems Inc. Дата публикации: 2016-01-12.

Бесплатный поиск патентной информации. Построение патентных ландшафтов и отчетов.

Главная
Проекты и услуги
Контакты

© 2021-2022 - All Rights Reserved - разработано Ecoruspace.me.