Method for automated flushness measurement of point cloud rivets
Номер патента: US20210180945A1
Опубликовано: 17-06-2021
Автор(ы): Dening LU, Jun Wang, Qian Xie, Yuan Zhang
Принадлежит: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 17-06-2021
Автор(ы): Dening LU, Jun Wang, Qian Xie, Yuan Zhang
Принадлежит: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for measuring a seam on aircraft skin based on large-scale point cloud
Номер патента: US11532121B2. Автор: Jun Wang,Qian Xie,Kun LONG,Dening LU. Владелец: Nanjing University of Aeronautics and Astronautics. Дата публикации: 2022-12-20.