Vorrichtung zum Testen von Halbleiterchips und ein Testsockel dafür
Номер патента: DE102016112962B4
Опубликовано: 20-06-2024
Автор(ы): Angelika Hilsenbeck, Horst Gröninger
Принадлежит: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 20-06-2024
Автор(ы): Angelika Hilsenbeck, Horst Gröninger
Принадлежит: INFINEON TECHNOLOGIES AG
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Vorrichtung zum Testen von Halbleiterchips und ein Testsockel dafür
Номер патента: DE102016112962A1. Автор: Horst Gröninger,Angelika Hilsenbeck. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-01-18.