Imaging system and method for specimen detection
Номер патента: US20210231589A1
Опубликовано: 29-07-2021
Автор(ы): Shuai Li, Wei He
Принадлежит: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-07-2021
Автор(ы): Shuai Li, Wei He
Принадлежит: Focus eBeam Technology Beijing Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Calculation method for a dual-energy X-ray imaging system
Номер патента: US11693146B2. Автор: Chia-Hao Chang,Yu-Ching Ni,Sheng-Pin Tseng. Владелец: Institute of Nuclear Energy Research. Дата публикации: 2023-07-04.