Eine Methode zur Messeaustellung
Номер патента: DE102008007708A1
Опубликовано: 04-09-2008
Автор(ы): Hung-Chieh Shenzhen Chuo, Mei Nah Shenzhen Chang, Teng-Hue Shenzhen Chuo
Принадлежит: Individual
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 04-09-2008
Автор(ы): Hung-Chieh Shenzhen Chuo, Mei Nah Shenzhen Chang, Teng-Hue Shenzhen Chuo
Принадлежит: Individual
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Methode zur Auswahl der Befragten für die Abfrage in einem Befragten- Abfragesystem
Номер патента: DE102020116495A1. Автор: Adam VOTAVA,Per-Erik Lagerstrom,Kathryn Anne Forgan. Владелец: SQN Innovation Hub AG. Дата публикации: 2021-03-04.