Verfahren zur dreidimensionalen Messung und Vorrichtung zur dreidimensionalen Messung
Номер патента: DE102008041523B4
Опубликовано: 03-09-2020
Автор(ы): Hiroshi Yano, Shiro Fujieda, Yasuyuki Ikeda
Принадлежит: Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 03-09-2020
Автор(ы): Hiroshi Yano, Shiro Fujieda, Yasuyuki Ikeda
Принадлежит: Omron Corp, Omron Tateisi Electronics Co
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Three-dimensional measuring device
Номер патента: US20140333727A1. Автор: Hiroyuki Ishigaki,Takahiro Mamiya. Владелец: CKD Corp. Дата публикации: 2014-11-13.