Package map data outputting circuit of semiconductor memory device and method for outputting package map data
Номер патента: US20050117417A1
Опубликовано: 02-06-2005
Автор(ы): Kwang-Jin Lee, Yong-Dae Park
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 02-06-2005
Автор(ы): Kwang-Jin Lee, Yong-Dae Park
Принадлежит: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Test circuit, nonvolatile semiconductor memory appratus using the same, and test method
Номер патента: US20110128805A1. Автор: Jung Hyuk YOON,Yoon Jae Shin. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-06-02.