• Главная
  • Tire wear measuring apparatus using irregularity of tire acceleration signal and tire wear measuring method using same

Tire wear measuring apparatus using irregularity of tire acceleration signal and tire wear measuring method using same

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Tire wear estimation method

Номер патента: EP3862196A1. Автор: Kenta NISHIYAMA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2021-08-11.

System and method for estimating tire wear using acoustic footprint analysis

Номер патента: US20240053231A1. Автор: Yousof Azizi,Thomas A. SAMS. Владелец: Bridgestone Americas Tire Operations LLC. Дата публикации: 2024-02-15.

System and method for estimating tire wear using acoustic footprint analysis

Номер патента: EP4274747A1. Автор: Yousof Azizi,Thomas A. SAMS. Владелец: Bridgestone Americas Tire Operations LLC. Дата публикации: 2023-11-15.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US12098972B2. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-24.

Device for measuring tire wear

Номер патента: EP3910281A1. Автор: Akihito Yamamoto,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2021-11-17.

Wear measurement device and wear measurement method for tire

Номер патента: US20230016943A1. Автор: Akihito Yamamoto,Yoshihiro Sudo,Tokuo Nakamura,Kazushige Sejimo. Владелец: Alps Alpine Co Ltd. Дата публикации: 2023-01-19.

Indirect tire wear state prediction system and method

Номер патента: US09873293B2. Автор: Kanwar Bharat Singh,Marc Engel. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2018-01-23.

Indirect tire wear state estimation system

Номер патента: US09821611B2. Автор: Kanwar Bharat Singh. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2017-11-21.

Tire wear prediction system, tire wear prediction program, tire wear prediction method and data structure

Номер патента: US11945264B2. Автор: Naoto Okazaki,Shoji OIDA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2024-04-02.

Tire wear prediction system, tire wear prediction program, tire wear prediction method, and data structure

Номер патента: EP4242014A3. Автор: Naoto Okazaki,Shoji OIDA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2023-10-18.

Tire wear prediction system, tire wear prediction program, tire wear prediction method, and data structure

Номер патента: EP4242014A2. Автор: Naoto Okazaki,Shoji OIDA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2023-09-13.

Tire wear prediction system, tire wear prediction program, tire wear prediction method, and data structure

Номер патента: EP3779393A1. Автор: Naoto Okazaki,Shoji OIDA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2021-02-17.

Tire wear prediction system, tire wear prediction program, tire wear prediction method and data structure

Номер патента: US20240198732A1. Автор: Naoto Okazaki,Shoji OIDA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

System and method for indirect tire wear modeling and prediction from tire specification

Номер патента: WO2024091773A1. Автор: Thomas A. SAMS. Владелец: BRIDGESTONE AMERICAS TIRE OPERATIONS, LLC. Дата публикации: 2024-05-02.

Tire management apparatus, program and tire management method

Номер патента: AU2022320208A1. Автор: Hiroyuki Katsuno. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Hierarchical data structure and method for prediction of tire wear

Номер патента: US20230258535A1. Автор: Maxfield H. Thompson. Владелец: Bridgestone Americas Tire Operations LLC. Дата публикации: 2023-08-17.

Tire wear state estimation system and method employing footprint shape factor

Номер патента: US11981163B2. Автор: Kanwar Bharat Singh,Mustafa Ali Arat. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2024-05-14.

Hierarchical data structure and method for prediction of tire wear

Номер патента: US11761858B2. Автор: Maxfield H. Thompson. Владелец: Bridgestone Americas Tire Operations LLC. Дата публикации: 2023-09-19.

Method and apparatus for predicting tire wear using machine learning

Номер патента: US20220185032A1. Автор: Jae Wan Kwon,Jae Han CHOI. Владелец: Kia Corp. Дата публикации: 2022-06-16.

System and method for determining tire wear

Номер патента: US09921134B2. Автор: Anders Svensson,Peter Lindskog,Thomas Svantesson,Michael Unterreiner. Владелец: Nira Dynamics AB. Дата публикации: 2018-03-20.

Nondestructive testing of tire wear

Номер патента: US4028937A. Автор: Richard N. Crano. Владелец: General Tire and Rubber Co. Дата публикации: 1977-06-14.

Load measurement method and apparatus, railcar provided with load measurement apparatus, and load management system

Номер патента: US09476802B2. Автор: Yoshi SATO. Владелец: Kawasaki Jukogyo KK. Дата публикации: 2016-10-25.

Tire wear prediction system and tire wear prediction method

Номер патента: US20240219266A1. Автор: Geert SCHOORS,David HENSHER. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Track shoe with wear measuring device

Номер патента: RU2672321C1. Автор: Дэвид Дж. ХЕИКС,Роджер И. ЛОУСОН,Томас И. ОРТЛИ. Владелец: КЕЙТЕРПИЛЛАР ИНК.. Дата публикации: 2018-11-13.

Wear measurement system using a computer model

Номер патента: US20170234775A1. Автор: Yue Wang,Timothy J. Bennett,Nolan S. Finch,Kook In HAN,Daniel A. SMYTH. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2017-08-17.

Wear measurement system using a computer model

Номер патента: US09880075B2. Автор: Yue Wang,Timothy J. Bennett,Nolan S. Finch,Kook In HAN,Daniel A. SMYTH. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2018-01-30.

Crawler shoe having wear measurement features

Номер патента: CA2955446C. Автор: Roger E. Lawson,David J. Hakes,Thomas E. Oertley. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2022-02-15.

New adaptive trigger piv measuring apparatus and method

Номер патента: NL2035928A. Автор: Xu Yang,Wang Jinjun,Wang Hanbin,Fan Di,Guo Qinfeng. Владелец: Univ Beihang. Дата публикации: 2024-05-28.

Shock measurement apparatus and shock measurement method

Номер патента: US20020043114A1. Автор: Takane Fujino,Keishi Takahashi,Kazutaka Okasaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-04-18.

Rotor dynamic balance measurement method based on high-precision clock sampling

Номер патента: ZA202402971B. Автор: Cheng Gong,Zhuang Ma,Zhaomin Jia,Yali Xue. Владелец: Univ Tangshan. Дата публикации: 2024-05-30.

Resolution measurement apparatus and resolution measurement method using the same

Номер патента: US12072259B2. Автор: Jinwook Lee,Sanghui Park. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09866980B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-01-09.

Measuring apparatus, measuring system and measuring method

Номер патента: US09618385B2. Автор: Yoichi Hirata,Tomohiro Inagaki. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2017-04-11.

Wavefront aberration measuring method, wavefront aberration measuring apparatus and optical element manufacturing method

Номер патента: US09557241B2. Автор: Seima Kato. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-01-31.

Mode-dependent loss measurement device and mode-dependent loss measurement method

Номер патента: US20240011866A1. Автор: Takafumi OHTSUKA. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2024-01-11.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US8462351B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-06-11.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20110043809A1. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-02-24.

Characteristic-measuring apparatus and characteristic-measuring method for multi-core fiber

Номер патента: US20180246008A1. Автор: Katsuhiro Takenaga,Shota Saito. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 2018-08-30.

Polarization velocity vector measuring apparatus and polarization velocity vector measuring method

Номер патента: US09677943B2. Автор: Yoshihiro Kanda. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Measuring apparatus, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US20140036250A1. Автор: Yoshiyuki Okada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-02-06.

Tire wear detection system

Номер патента: EP1759891B1. Автор: Hiromitsu c/o Bridgestone Corporation ICHIKAWA,Hiromasa c/o Bridgestone Corporation HADA. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2010-11-03.

Physical quantity detecting device and electric power steering apparatus using same

Номер патента: US09573619B2. Автор: Shuji Endo,Yoshihiro Aosaki,Masanao Fukunaga. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2017-02-21.

Pulse width measurement method and apparatus

Номер патента: US09778305B2. Автор: William David Stewart,Giovanni De Sanctis,Stephen John Robb. Владелец: Schrader Electronics Ltd. Дата публикации: 2017-10-03.

Load measuring apparatus and load measuring method

Номер патента: US09719869B2. Автор: Hideaki Tanaka. Владелец: Ebara Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20210065484A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-04.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: EP3786659A1. Автор: Masaki Nishikawa,Katsuya Nonin. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2021-03-03.

Brake disc stack wear measurement

Номер патента: US20160281808A1. Автор: Andrew Fannon Lamkin,Christopher Montano,PerriLynne Silva. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2016-09-29.

Brake disc stack wear measurement

Номер патента: US09482301B2. Автор: Andrew Fannon Lamkin,Christopher Montano,PerriLynne Silva. Владелец: Honeywell International Inc. Дата публикации: 2016-11-01.

Automatic angle-measured apparatus and method using the same

Номер патента: US09970789B2. Автор: Chia-Ching Lin,Ming-Chun Ho,Chin-Hui Chen,Shu-Yu Lin. Владелец: Industrial Technology Research Institute ITRI. Дата публикации: 2018-05-15.

Non-contact optical tool length measuring apparatus and method

Номер патента: EP3678816A1. Автор: Alan James Holloway,Benjamin Jason Merrifield,Edward Benjamin Egglestone. Владелец: RENISHAW PLC. Дата публикации: 2020-07-15.

Scanning Probe Microscope and Measurement Method Using Same

Номер патента: US20140165237A1. Автор: Masahiro Watanabe,Toshihiko Nakata,Takehiro TACHIZAKI. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2014-06-12.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic image apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09867594B2. Автор: Masaki Hayashi,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-01-16.

Measuring apparatus, measurement method, information processing apparatus, and measurement program

Номер патента: US09747681B2. Автор: Hideki Kawabata,Akira Kijima. Владелец: Prosper Creative Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-29.

Interferometric thickness measuring apparatus using multiple light sources coupled with a selecting means

Номер патента: US10890433B2. Автор: Nobuyuki Kimura,Keiji Nomaru. Владелец: Disco Corp. Дата публикации: 2021-01-12.

Angle detection device, and electric power steering device using same

Номер патента: US12044554B2. Автор: Tatsuya Mori,Akira Furukawa. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-23.

Molecule Measuring Device and Molecule Measuring Method

Номер патента: US20080289404A1. Автор: Hiroshi Tokumoto,Takaharu Okajima. Владелец: NATIONAL UNVIERSITY Corp HOKKAIDO UNIVERSITY. Дата публикации: 2008-11-27.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09736460B2. Автор: Jun Kanetake,Osafumi Nakayama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Measurement apparatus unit

Номер патента: US20230089647A1. Автор: Hiroshi Nakatsuka,Riyoko Miyahara. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Ultrasonic Device And Ultrasonic Measurement Method

Номер патента: US20190196009A1. Автор: Kanechika Kiyose,Ryoki Watanabe. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-06-27.

Flow measurement apparatus

Номер патента: RU2760627C1. Автор: Эрик ШТАРКЕ,Кристиан ШУЛЬЦ,Маркус КЛЕММ. Владелец: ЗИК Энджиниринг ГмбХ. Дата публикации: 2021-11-29.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: WO2010137453A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2010-12-02.

Ultrasoungimaging measurement apparatus using adaptive data reduction

Номер патента: EP2435850A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-04-04.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09519053B2. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2016-12-13.

Method and system for preventing excessive tire wear on machines

Номер патента: WO2008005093A1. Автор: Stuart C. Johnson,Julie Ann Gannon,Christopher K. Hoadley. Владелец: CATERPILLAR INC.. Дата публикации: 2008-01-10.

Hematocrit measurement system and measurement method using the same

Номер патента: US09719955B2. Автор: Chu-Ming Cheng,Ching-Yuan Chu,Lee Teng Yi Wu. Владелец: Apex Biotechnology Corp. Дата публикации: 2017-08-01.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: EP4400804A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-17.

Measurement apparatus, measuring method, and manufacturing method of optical system

Номер патента: US20240240940A1. Автор: Ayumu KAMBARA. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

Signal processing apparatus, distance measuring apparatus, and distance measuring method

Номер патента: US12025748B2. Автор: Takashi Ida,Atsushi Matsumura,Kenzo Isogawa. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Measuring apparatus, measuring method, and ion-sensitive semiconductor device

Номер патента: US20230097075A1. Автор: Masao Okihara. Владелец: Lapis Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2023-03-30.

Mass measurement apparatus for automatic processing machines and mass measurement method

Номер патента: EP3969855A1. Автор: Marco Minardi. Владелец: IMA Industria Macchine Automatiche SpA. Дата публикации: 2022-03-23.

Battery measurement method and apparatus

Номер патента: US20240230770A9. Автор: Masaaki Kitagawa,Isao Ishibe,Shun MIYAUCHI. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Processing apparatus, processing system, physical quantity measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20190145818A1. Автор: Yoshihiro Kobayashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US11703592B2. Автор: Hirokazu Takenaka. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-07-18.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US09927516B2. Автор: Hirokazu SHIRAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-27.

Measurement apparatus, measurement method, and absolute encoder

Номер патента: US09423276B2. Автор: Makiko Ogasawara. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Distance measurement apparatus, distance measurement method, and camera

Номер патента: US09354056B2. Автор: Daisuke Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-05-31.

Level measurement apparatus

Номер патента: WO2021099755A1. Автор: Oliver John BECKETT,Graham Barker,Carl Tipton. Владелец: JOHNSON MATTHEY PUBLIC LIMITED COMPANY. Дата публикации: 2021-05-27.

Level measurement apparatus

Номер патента: EP4062130A1. Автор: Oliver John BECKETT,Graham Barker,Carl Tipton. Владелец: JOHNSON MATTHEY PLC. Дата публикации: 2022-09-28.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US20220299641A1. Автор: Naoki Shinoda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-09-22.

Scanning probe microscope and measuring method using same

Номер патента: US09423416B2. Автор: Tsuyoshi Yamamoto,Hideaki Koizumi,Seiji Heike,Tomihiro Hashizume,Akira Nambu. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Automatic measuring method and apparatus for measuring connecting lines

Номер патента: US20130066580A1. Автор: Chang-Yi Chen,Shih-Tung Lin,Chen-Yung Lin. Владелец: Taiwan Luxshare Precision Ltd. Дата публикации: 2013-03-14.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: US20220091301A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-24.

Method for calibrating the time axis in time - domain terahertz wave measuring apparatus

Номер патента: EP2545350A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-01-16.

Particle size measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP3722780A2. Автор: Tomonari Misawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-10-14.

Rainfall measuring apparatus using fiber bragg grating sensor

Номер патента: EP3974874A1. Автор: Geum Suk Lee,Geum Jun LEE. Владелец: FBG Korea Inc. Дата публикации: 2022-03-30.

Stepped copper-bar current measurement apparatus

Номер патента: EP4455686A1. Автор: Songsheng Xue,Mingfeng LIU,Ran Shi. Владелец: MultiDimension Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-30.

Sequential differential mobility analyzer and method of using same

Номер патента: US09638666B1. Автор: Hideya Koizumi. Владелец: ARKANSAS STATE UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-05-02.

Torque measuring apparatus using magnetic bodies

Номер патента: US20150053024A1. Автор: Tae Hun KANG,Jeon II MOON. Владелец: DAEGU GYEONGBUK INSTITUTE OF SCIENCE AND TECHNOLOGY. Дата публикации: 2015-02-26.

Measurement method, non-transitory computer-readable medium and measurement apparatus

Номер патента: US20200271708A1. Автор: Kazuhiko Kobayashi. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2020-08-27.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: EP1017969A1. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2000-07-12.

Gas flow rate measurement apparatus and method

Номер патента: WO1999015859A2. Автор: Steven Noyes,Michael A. Wusterbarth,Joe Russell Greer. Владелец: Wusterbarth Michael A. Дата публикации: 1999-04-01.

Measurement structure, method of manufacturing same, and measuring method using same

Номер патента: US20140021353A1. Автор: Takashi Kondo,Seiji Kamba. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2014-01-23.

Frequency measurement method and frequency measurement apparatus

Номер патента: US11422174B2. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2022-08-23.

Current-to-voltage converting apparatus and impedance measuring apparatus

Номер патента: US20040212374A1. Автор: Yukoh Iwasaki. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2004-10-28.

Single body quadruple cylinder tritium measuring apparatus

Номер патента: US20180335414A1. Автор: Xiaowei Zhang,Sabatino Nacson,Jiangrong WU. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-11-22.

Measuring apparatus, measuring system, and measuring method

Номер патента: US09638575B2. Автор: Yuji Yamanaka,Kensuke Masuda,Go Maruyama,Sho Nagai. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Position measuring apparatus and driving method thereof

Номер патента: US09612692B2. Автор: Sung-soo Park,Yu-Sheop Lee. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-04-04.

Voltage measuring apparatus and battery management system including the same

Номер патента: US09553462B2. Автор: Seok Heo,Moonsik SONG. Владелец: Fairchild Korea Semiconductor Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: WO2018016782A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC.. Дата публикации: 2018-01-25.

Dust measuring apparatus and mobile terminal for controlling the same

Номер патента: US20180024037A1. Автор: Yongho Cho,Sangkeun Lee,Bolam KIM,Pilwon Jeong,Seonghong PARK. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-25.

Measurement system, measurement apparatus, and measurement method

Номер патента: US20220308213A1. Автор: Koichi Tezuka,Katsushi Sakai. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2022-09-29.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: EP4357767A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-04-24.

Wave-leakage measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US5138253A. Автор: Tamio Fukui,Isao Momoji. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1992-08-11.

Electromagnetic Wave Measuring Apparatus and Electromagnetic Wave Measuring Method

Номер патента: US20150369850A1. Автор: Wen Li,Aya Ohmae. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2015-12-24.

Inertial measurement apparatus and method with improved thermal and noise performance

Номер патента: US20210080334A1. Автор: Mike Horton,Shu Wang. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-03-18.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US12072175B2. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20120032077A1. Автор: Jun Matsumoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2012-02-09.

Measurement apparatus

Номер патента: US20150359518A1. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-12-17.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US10935661B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2021-03-02.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200341033A1. Автор: Sven Barthel. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-10-29.

Dark-field confocal microscopic measurement apparatus and method based on vortex dichroism

Номер патента: US20240329377A1. Автор: Jian Liu,Chenguang Liu,Zijie Hua. Владелец: Harbin Institute of Technology. Дата публикации: 2024-10-03.

Food texture measuring apparatus and food texture measuring method

Номер патента: US20240319158A1. Автор: Joo Hee Lim,Sang-Eui CHOI. Владелец: CJ CHEILJEDANG CORP. Дата публикации: 2024-09-26.

Measurement apparatus, measurement method, lithography apparatus and article manufacturing method

Номер патента: US20240369347A1. Автор: Wataru Yamaguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-11-07.

A ranging and speed measurement method by jointing hyperbolic frequency modulation and linear frequency modulation

Номер патента: LU500118B1. Автор: Caixia Song. Владелец: Univ Qingdao Agricultural. Дата публикации: 2021-11-04.

Distance measuring method and apparatus

Номер патента: US09977129B2. Автор: Guo-Zhen Wang,Ming-Tsan Kao. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Method for measuring level of material level measuring apparatus

Номер патента: US09958309B2. Автор: I-Chu Lin,Liang-Chi CHANG,Chun-Han HUANG. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Measuring apparatus and method for detecting ferromagnetic particles

Номер патента: US09575023B2. Автор: Rudolf Lueck,Peter Hoehne. Владелец: Rolls Royce Deutschland Ltd and Co KG. Дата публикации: 2017-02-21.

Muzzle velocity measuring apparatus and method

Номер патента: US09513308B2. Автор: Sung-Min Lee,Jung-Yun Kim,Kyu-Chae JUNG,De-Rac SON,Jun-Goo SHIN. Владелец: Hanwha Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Encoder and apparatus using encoder

Номер патента: US09470557B2. Автор: Chihiro Nagura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-10-18.

Automatic signal identifying method and automatic signal skew measurement method

Номер патента: US20090192739A1. Автор: Shang-Yi Wang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2009-07-30.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20240248208A1. Автор: Takahiro Inoue,Hideki Sato,Takayuki Shimizu,Tetsuro Ikeda,Isamu Kawabe. Владелец: Sharp Semiconductor Innovation Corp. Дата публикации: 2024-07-25.

Radiometric measuring apparatus

Номер патента: US11029422B2. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2021-06-08.

Frequency measuring method and frequency measuring apparatus

Номер патента: EP3715876A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Radar measurement method and device

Номер патента: EP3919936A1. Автор: Lei Wan,Yong Wu,Sha Ma,Mingxia Xu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-12-08.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitorycomputer readable medium

Номер патента: US20230080382A1. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2023-03-16.

Radiation measurement apparatus

Номер патента: US20140231646A1. Автор: Toru Onodera,Shunichiro Makino,Naoto Kume,Yoshinori Satoh. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Particle size measurement method, particle size measurement apparatus, and particle size measurement program

Номер патента: EP3892981A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2021-10-13.

Radiometric Measuring Apparatus

Номер патента: US20200183021A1. Автор: Steffen Mueller,Ewald Freiburger,Tobias Daibenzeiher. Владелец: Berthold Technologies GmbH and Co KG. Дата публикации: 2020-06-11.

Automatic signal identifying method and automatic signal skew measurement method

Номер патента: US8170821B2. Автор: Shang-Yi Wang. Владелец: ASUSTeK Computer Inc. Дата публикации: 2012-05-01.

Process measurement apparatus and method

Номер патента: US20230350438A1. Автор: Yong Jun Seo,Sang Hyun Son,Sang Min HA,Dong Ok AHN,Hyeong Jun CHO. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-02.

Measurement apparatus

Номер патента: GB2607898A. Автор: Stracey Craig,Riding Mike. Владелец: Process Instruments UK Ltd. Дата публикации: 2022-12-21.

Capacitance measurement apparatus

Номер патента: US12092671B2. Автор: CHEN CHEN. Владелец: Chipone Technology Beijing Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Optical measurement method, optical measurement apparatus, and non-transitory computer readable medium

Номер патента: US12070329B2. Автор: Takeshi Akagawa. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09984453B2. Автор: Toru Sugiyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Acoustic wave measuring apparatus

Номер патента: US09921301B2. Автор: Jiro Tateyama. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-03-20.

Analytical device, method for manufacturing the same, and measuring apparatus using the same

Номер патента: US09835579B2. Автор: Yoshiharu Sato. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Distance measuring apparatus using laser light

Номер патента: US09753125B2. Автор: Makoto Masuda. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-09-05.

Distance measurement method and distance measurement apparatus

Номер патента: US12146937B2. Автор: Genming Ding,Yanong HE. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-11-19.

Transmission delay measurement method, positioning method, terminal, base station and storage medium

Номер патента: US20240373272A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-11-07.

Inspection apparatus using polarized lights

Номер патента: US09541493B2. Автор: Takashi Tsubota,Yoshinori Matsumoto,Akishige Ito,Toyoaki Hamaguchi. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Brake wear measurement apparatus and method

Номер патента: US20120179324A1. Автор: Tracey A. Canterbury,Joe B. Norsworthy. Владелец: Goodrich Corp. Дата публикации: 2012-07-12.

Measurement apparatus, detection apparatus, and measurement method

Номер патента: US12032049B2. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Flight parameter measuring apparatus and flight parameter measuring method

Номер патента: SG11201910034RA. Автор: Hideaki Kawamoto,Viet Manh Do,Hong Quan Luong. Владелец: Gpro Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-28.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: PH12016501789A1. Автор: NISHIDA Hidetaka. Владелец: Chugoku Electric Power. Дата публикации: 2017-01-09.

Range-finding and object-positioning systems and methods using same

Номер патента: EP4394428A2. Автор: Matthew William LOWE,Vahid DEHGHANIAN. Владелец: Zerokey Inc. Дата публикации: 2024-07-03.

Concentration measurement apparatus and concentration measurement method

Номер патента: US20230168192A1. Автор: Takenobu Nakamura,Kakeru ICHIMURA. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2023-06-01.

Surface measurement apparatus and method

Номер патента: WO2013128185A1. Автор: Daniel Ian Mansfield. Владелец: Taylor Hobson Limited. Дата публикации: 2013-09-06.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200379112A1. Автор: Shinichi Hara,Yoshimasa Suzuki,Hiroki Ujihara. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Measuring apparatus

Номер патента: US20150362549A1. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2015-12-17.

Surface measurement apparatus and method

Номер патента: EP2820375A1. Автор: Daniel Ian MANSFIELD;. Владелец: Taylor Hobson Ltd. Дата публикации: 2015-01-07.

Luminous body measurement apparatus and luminous body measurement method

Номер патента: US20200300693A1. Автор: Hiroyuki Sano,Yoshihiko Nishida. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-24.

Three-dimensional measurement apparatus, three-dimensional measurement method and program

Номер патента: EP3754296A1. Автор: Shinya Matsumoto,Yasuhiro Ohnishi. Владелец: Omron Tateisi Electronics Co. Дата публикации: 2020-12-23.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US20160054117A1. Автор: Takahiro Yamamoto. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-02-25.

Wind field information measurement method and nacelle-based lidar

Номер патента: AU2022263477A1. Автор: Jun Zhou,Hailong Zhu,Zengli XIAO,Anqing TANG. Владелец: Nanjing Movelaser Technology Co Ltd. Дата публикации: 2022-12-08.

Ultrasonic measurement apparatus, ultrasonic diagnostic apparatus, and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20160124088A1. Автор: Hiroyuki Masuda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2016-05-05.

Range-finding and object-positioning systems and methods using same

Номер патента: CA3011922C. Автор: Matthew William LOWE,Vahid DEHGHANIAN. Владелец: Zerokey Inc. Дата публикации: 2024-06-18.

Distance measuring apparatus using sensor cover

Номер патента: US20230034798A1. Автор: Jungwon Choi,Yongkeun JEE,Hyeonghwan CHOI. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-02-02.

Fluorescence measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US20120286171A1. Автор: Kazuteru Hoshishima. Владелец: Mitsui Engineering and Shipbuilding Co Ltd. Дата публикации: 2012-11-15.

Hardness measurement apparatus and hardness measurement method

Номер патента: US20190162686A1. Автор: Chien-Chang Chen,Yii-Der WU,Szu-Hua YANG. Владелец: METAL INDUSTRIES RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE. Дата публикации: 2019-05-30.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US20150292946A1. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-10-15.

Axle-load measuring apparatus and axle-load measuring method

Номер патента: US10982951B2. Автор: Akihiro Noda,Hiroya Kusaka,Taro Imagawa. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2021-04-20.

Wet Gas Flow Measuring Method and Apparatus

Номер патента: US20150247749A1. Автор: Jige Chen. Владелец: LANZHOU HAIMO TECHNOLOGIES Co Ltd. Дата публикации: 2015-09-03.

Diffractive optical element, distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20120050717A1. Автор: Hideaki Inoue. Владелец: Casio Computer Co Ltd. Дата публикации: 2012-03-01.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: EP4067842A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2022-10-05.

Height measurement apparatus and height measurement method

Номер патента: US20230066638A1. Автор: Tomonori Nakamura,Kunihiko Tsuchiya. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2023-03-02.

Shape measuring apparatus and shape measuring method

Номер патента: US10156435B1. Автор: Rikiya Taniguchi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-12-18.

Flow measuring apparatus

Номер патента: WO1996030724A1. Автор: Cyril Ward Nugent. Владелец: Umeco Systems Limited. Дата публикации: 1996-10-03.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US8502984B2. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2013-08-06.

Optical measurement apparatus

Номер патента: US20120019831A1. Автор: Masanori Nakano,Shuichi Yamada,Hiroyuki Kuroki,Eiji Kawata,Shuichi Akashi,Hidehiro Atagi. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-26.

Positioning measurement method, positioning measurement apparatus and storage medium

Номер патента: US20230296721A1. Автор: Mingju Li. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Parallel AC measurement method

Номер патента: US20080258741A1. Автор: Wayne C. Goeke. Владелец: Keithley Instruments LLC. Дата публикации: 2008-10-23.

Position measurement apparatus, position measurement method and program

Номер патента: US12105212B2. Автор: Seiji Yoshida. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2024-10-01.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4455722A1. Автор: Kenichiro Hosoi,Shogo Miyanabe. Владелец: Pioneer Smart Sensing Innovations Corp. Дата публикации: 2024-10-30.

Temperature measurement apparatus and temperature measurement method

Номер патента: US09952105B2. Автор: Akira Ikeda,Sakiko Shimizu. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Measurement apparatus, exposure apparatus, measurement method, and recording medium

Номер патента: US09910363B2. Автор: Takaki Hashimoto,Ai Furubayashi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Particle size distribution measuring apparatus and particle size distribution measuring method

Номер патента: US09869626B2. Автор: Tetsuji Yamaguchi,Tetsuya Mori. Владелец: Horiba Ltd. Дата публикации: 2018-01-16.

Viscosity measuring method and viscosity measuring apparatus

Номер патента: US09835536B2. Автор: Takayoshi Hoshino. Владелец: Aohata Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09766132B2. Автор: Yasuhiro Takase,Hidetoshi Nakanishi,Motohiro Kono,Kazuo Kinose. Владелец: Screen Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-19.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09740661B2. Автор: Norihiko Mikoshiba,Munehiro Kitaura. Владелец: Asahi Kasei Microdevices Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Neutron measurement apparatus, neutron calculation apparatus, and neutron measurement method

Номер патента: US09702987B2. Автор: Daijiro Ito,Shigehiro Kono. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Measuring apparatus

Номер патента: US09684027B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Takayuki SHIROTORI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Measurement apparatus, measurement method, and method of manufacturing article

Номер патента: US09664604B2. Автор: Yasushi Iwasaki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09595107B2. Автор: Satoshi Nishimura. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-03-14.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09544558B2. Автор: Hideo Takizawa,Hiroto Nozawa,Koyo TADA. Владелец: Lasertec Corp. Дата публикации: 2017-01-10.

Digital holographic method of measuring cellular activity and measuring apparatus with improved stability

Номер патента: US09514271B2. Автор: David D. Nolte. Владелец: PURDUE RESEARCH FOUNDATION. Дата публикации: 2016-12-06.

Magnetic resonance imaging device and angiography using same

Номер патента: US09500732B2. Автор: Nobuyuki Yoshizawa,Shinji Kurokawa. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-11-22.

Measurement apparatus, information obtaining apparatus, and measurement method

Номер патента: US09448113B2. Автор: Takeaki Itsuji. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-20.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US09441950B2. Автор: Daisuke Tomita,Kentaro Osawa,Masaki MUKO. Владелец: Hitachi LG Data Storage Inc. Дата публикации: 2016-09-13.

Temperature measuring method and temperature measuring apparatus using the same

Номер патента: US20100040111A1. Автор: Yen-Hung Chen,Ping-Pao Cheng. Владелец: ITE Tech Inc. Дата публикации: 2010-02-18.

Roughness measuring method and apparatus, using a filter having a plurality of cutoff values

Номер патента: US6696697B2. Автор: Masato Enomoto. Владелец: Tokyo Seimitsu Co Ltd. Дата публикации: 2004-02-24.

Concentration measurement method and concentration measurement apparatus

Номер патента: US20120242979A1. Автор: Koichi Shimizu,Kazuhiko Amano,Kazuhiro Nishida. Владелец: Hokkaido University NUC. Дата публикации: 2012-09-27.

Particle measuring method and particle measuring apparatus

Номер патента: US20080239283A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2008-10-02.

Backlash measuring method, wind turbine diagnosing method, and backlash measuring apparatus

Номер патента: EP4293221A1. Автор: Osamu Nohara,Hirofumi Komori. Владелец: Nabtesco Corp. Дата публикации: 2023-12-20.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20100228519A1. Автор: Yuki Oshima. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2010-09-09.

Frequency measuring method and frequency measuring device

Номер патента: EP3715875A1. Автор: Jinlei XING,Shanshan Luo. Владелец: Schneider Electric Industries SAS. Дата публикации: 2020-09-30.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20220011167A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2022-01-13.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20190360867A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2019-11-28.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US20230258504A1. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11733103B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2023-08-22.

Measuring device and measuring method

Номер патента: US11169031B2. Автор: Yi-Chen Liu,Chih-Wei Luo,Tien-Tien YEH. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2021-11-09.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20190391237A1. Автор: Katsuya Ikezawa. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2019-12-26.

Shape measuring device, shape measuring method, and method for manufacturing glass plate

Номер патента: US20130094714A1. Автор: Kimiaki Ohto. Владелец: Asahi Glass Co Ltd. Дата публикации: 2013-04-18.

Photometric process measurement apparatus

Номер патента: EP4242641A1. Автор: Axel Leyer,Andre NAGGIES,Oriol GILI DE VILLASANTE. Владелец: HACH LANGE GMBH. Дата публикации: 2023-09-13.

Measurement method for amount of deviation, and measurement apparatus

Номер патента: US12072180B2. Автор: Shingo Hayashi,Beiping Jin. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Method for controlling a measuring apparatus

Номер патента: US7430488B2. Автор: Takuya Otani. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2008-09-30.

Hair follicle stem cells and methods of use same

Номер патента: WO2013040248A1. Автор: Krzysztof Kobielak,Eve KANDYBA. Владелец: UNIVERSITY OF SOUTHERN CALIFORNIA. Дата публикации: 2013-03-21.

Photometric process measurement apparatus

Номер патента: WO2023170141A1. Автор: Axel Leyer,Andre NAGGIES,Oriol GILI DE VILLASANTE. Владелец: HACH LANGE GMBH. Дата публикации: 2023-09-14.

Angle measurement system based on magnetic method and measurement method therefor

Номер патента: US12085420B2. Автор: Kyoung Soo Kwon,Chae Dong GO,Je Kook Kim,Suk Jung LEE. Владелец: SNA CO Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

NMR Measurement Method

Номер патента: US20140070806A1. Автор: Yusuke Nishiyama,Michael H. Frey. Владелец: Jeol Resonance Inc. Дата публикации: 2014-03-13.

Vibration measuring apparatus using parametric speaker and two-dimensional scanning mirror

Номер патента: US09976990B2. Автор: Kenichi Komiya,Daisuke Ishikawa. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Supplying-end module of induction type power supply system and voltage measurement method thereof

Номер патента: US09960639B2. Автор: Ming-Chiu TSAI,Chi-Che Chan. Владелец: Fu Da Tong Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-01.

Infrared thermometer with sighting device and method for measuring temperature of energy zone using same

Номер патента: US09846082B2. Автор: Kaiyuan Lv,Zumao Xu. Владелец: Fluke Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Ultrasound based measurement apparatus and method

Номер патента: US09726642B2. Автор: Su Hyun Park,Jung Ho Kim,Kyu Hong Kim,Sung Chan Park,Joo Young KANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-08-08.

Board-warping measuring apparatus and board-warping measuring method thereof

Номер патента: US09423242B2. Автор: Liang-Pin Yu,Chi-Yang Lin,Ying-Lin PAN. Владелец: Test Research Inc. Дата публикации: 2016-08-23.

Shape measurement apparatus and shape measurement method

Номер патента: CA2981970C. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Tomohiro KUROIWA. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2019-08-06.

Sensor for vehicle alignment system and apparatus using same

Номер патента: US5489983A. Автор: Leigh R. Burns, Jr.,Daniel B. January,James W. Mcclenahan,Michael T. Stieff. Владелец: Hunter Engineering Co. Дата публикации: 1996-02-06.

Measuring apparatus used for testing connections between at least two subassemblies

Номер патента: US5581565A. Автор: Gerhard Meyer. Владелец: US Philips Corp. Дата публикации: 1996-12-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US20170219432A1. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-08-03.

Spectroscopic measurement apparatus, driving circuit, and spectroscopic measurement method

Номер патента: US10175108B2. Автор: Ryohei KURI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2019-01-08.

Frequency characteristic measuring method at feed axis control unit

Номер патента: US20170292980A1. Автор: Masashi Miyaji,Takashi NORIHISA. Владелец: Okuma Corp. Дата публикации: 2017-10-12.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12013229B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-06-18.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US11846605B2. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2023-12-19.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: FI130163B. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2023-03-23.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20220317056A1. Автор: Syuhei Okada. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2022-10-06.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US20100201987A1. Автор: Takanori IWAWAKI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2010-08-12.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: EP4097446A1. Автор: Makoto Higuchi,Tatsuya Hamada,Hironaga GENDA,Tatsuhiro ESAKI. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2022-12-07.

Optical measuring method and optical measuring apparatus

Номер патента: US12025427B2. Автор: Peter Fritz,Konrad Klein,Anders ADAMSON. Владелец: Dentsply Sirona Inc. Дата публикации: 2024-07-02.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2022-03-03.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2022200887B2. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2023-03-09.

Digital measurement apparatus and digital measurement method using the same

Номер патента: AU2020201075A1. Автор: In Whan Lee,Gi Soo Choi. Владелец: B&L Biotech Inc. Дата публикации: 2021-06-24.

Measuring method, measuring apparatus, and storage medium

Номер патента: US20240085327A1. Автор: Norishige Kakegawa,Takahiro Masumura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-03-14.

Element distribution measuring device and element distribution measuring method

Номер патента: US20240241065A1. Автор: Katsuhiro Nakamoto,Takahiro Mochizuki. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Film thickness measurement device and film thickness measurement method

Номер патента: US20240240933A1. Автор: Kenichi Ohtsuka,Kunihiko Tsuchiya,Satoshi Arano. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2024-07-18.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US20200286249A1. Автор: Hiroshi Ohno,Kiminori Toya. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2020-09-10.

Measurement apparatus, measurement method, and computer-readable recording medium

Номер патента: US20220049981A1. Автор: Kousuke Ishida. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2022-02-17.

Snow quality measuring apparatus and snow quality measuring method

Номер патента: US20170176587A1. Автор: Yutaka Aoki,Ryuji Murata,Ryuichi Sunagawa,Jin MIKATA. Владелец: TAIYO YUDEN CO LTD. Дата публикации: 2017-06-22.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US10816319B2. Автор: Toyohiko Yamauchi,Hidenao Yamada,Osamu YASUHIKO,Hisayuki MATSUI. Владелец: Hamamatsu Photonics KK. Дата публикации: 2020-10-27.

Measurement apparatus, measurement method, and computer readable medium

Номер патента: US10982949B2. Автор: Hitoshi Hara,Kazufumi Nishida,Kazuki SETSUDA. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2021-04-20.

Measuring Method and Measuring Apparatus

Номер патента: US20190056347A1. Автор: Hisashi Kaneda,Ayano Nakatani. Владелец: Arkray Inc. Дата публикации: 2019-02-21.

Optical measuring apparatus, optical measuring method, and optical measurement processing program

Номер патента: US7948642B2. Автор: Masanobu Kataoka. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2011-05-24.

Magnetic property measuring apparatus and magnetic property measuring method

Номер патента: US20220381738A1. Автор: Lei Zhang,Yuki Hirai,Masayuki Makita,Fumito KUDO,Kensuke YAMANAKA. Владелец: Showa Denko KK. Дата публикации: 2022-12-01.

Measurement method

Номер патента: US20130103346A1. Автор: Yasushi Iwasaki,Masaki Hosoda. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2013-04-25.

Current measuring method and current measuring apparatus

Номер патента: US20020041190A1. Автор: Yoshihiro Hashimoto. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2002-04-11.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US20190011351A1. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-10.

Optical measurement apparatus, and optical measurement method

Номер патента: US10788412B2. Автор: Ikuo WAKAYAMA,Yusuke Izutani. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2020-09-29.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US10048062B2. Автор: Hidetaka Nishida. Владелец: Chugoku Electric Power Co Inc. Дата публикации: 2018-08-14.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20230305084A1. Автор: Satoru NEBUYA. Владелец: Asahi Intecc Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Measuring method and measuring device

Номер патента: US20200033371A1. Автор: Kazuhiro Ichikawa. Владелец: Educational Foundation Kyushu Bunka Gakuen. Дата публикации: 2020-01-30.

Three dimensional measurement apparatus and three dimensional measurement method

Номер патента: US20120154540A1. Автор: Motomi Tsuyuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2012-06-21.

Surface measurement device and surface measurement method

Номер патента: EP3951315A1. Автор: Yusuke Konno,Atsuhiro HIBI,Nobuhiro FURUYA,Akihito NAKAZAKI. Владелец: Nippon Steel Corp. Дата публикации: 2022-02-09.

Electron beam length-measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20030052270A1. Автор: Jun Matsumoto,Takayuki Nakamura. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2003-03-20.

Fluid measurement apparatus, fluid measurement method, and program

Номер патента: US20210041274A1. Автор: Yushi NAGASAKA. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2021-02-11.

Position measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US11715660B2. Автор: Manabu Takakuwa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-01.

Optical measuring method, and optical measuring device

Номер патента: EP4414687A1. Автор: Go Yamada. Владелец: Ushio Denki KK. Дата публикации: 2024-08-14.

Current measurement circuit, current measurement method and nanopore sequencing device

Номер патента: US11768231B1. Автор: JIN Wang,Xi Hu,Qiang E. Владелец: Chengdu Qitan Technology Ltd. Дата публикации: 2023-09-26.

Measuring method and measuring apparatus

Номер патента: US12072273B2. Автор: Takeshi Higuchi,Kasumi Okabe. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: WO2013168652A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2013-11-14.

Sample measuring apparatus and sample measuring method

Номер патента: US20190265264A1. Автор: Yoshinori Nakamura,Jun Inagaki,Takashi Yamato,Shunsuke Saito. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2019-08-29.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12072177B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-08-27.

Raman scattering measuring apparatus and raman scattering measuring method

Номер патента: US20140253918A1. Автор: Keisuke Nose,Yasuyuki Ozeki,Kazuyoshi Itoh. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-09-11.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20220270274A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2022-08-25.

Three-dimensional geometry measurement apparatus and three-dimensional geometry measurement method

Номер патента: US20200334844A1. Автор: Kaoru Miyata. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Measuring apparatus, measuring method and recording medium

Номер патента: US12038488B2. Автор: Shigeki Okatake,Hideyuki Tsuji,Masashi Yamada. Владелец: Asahi Kasei Corp. Дата публикации: 2024-07-16.

Measurment apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US20190293410A1. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2019-09-26.

Measurement apparatus, circuit board, display device, and measurement method

Номер патента: US10866085B2. Автор: Hiroshi Ueda,Seiji Takaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2020-12-15.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11747427B2. Автор: Masaki Nishikawa. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Distance measuring apparatus

Номер патента: US20010002039A1. Автор: MIWA Yasuhiro,Tatsuo Saito. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-05-31.

Optical sampling measurement apparatus and optical sampling measurement method

Номер патента: US20030223765A1. Автор: Masatoshi Kanzaki,Yoshiki Yanagisawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-12-04.

Measuring apparatus, and measuring method

Номер патента: US20070203654A1. Автор: Toshihide Ezoe. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2007-08-30.

Distance measuring device, distance measuring method, and distance measuring sensor

Номер патента: US20240264307A1. Автор: Yutaka Nakada. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-08.

Reflectivity measurement apparatus and method of measuring reflectivity therefor

Номер патента: US20230333014A1. Автор: Jos Rennies,Luc BUYDENS. Владелец: MELEXIS TECHNOLOGIES NV. Дата публикации: 2023-10-19.

Radio frequency coil and magnetic resonance imaging apparatus using the same

Номер патента: US20200249291A1. Автор: Toru Shirai,Yosuke Otake,Kohjiro IWASAWA. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2020-08-06.

Three-dimensional shape measuring apparatus, three-dimensional shape measuring method, program, and storage medium

Номер патента: US12078474B2. Автор: Shizuo Sakamoto. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

3-dimensional measurement apparatus and 3-dimensional measurement method

Номер патента: EP4417936A1. Автор: Daisuke SENGA. Владелец: Juki Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240296547A1. Автор: Ji Hoon Kang,Ji Yun JUNG. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-05.

Measuring apparatus and measuring method using electromagnetic wave

Номер патента: EP2847575A1. Автор: Takayuki Koizumi,Oichi Kubota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-03-18.

Measurement system, rotary machine and measurement method for the same

Номер патента: US20200313286A1. Автор: Naoki Oyama,Kenji Iizuka,Jun Yasui. Владелец: Mitsubishi Heavy Industries Ltd. Дата публикации: 2020-10-01.

Thermal conductivity measurement apparatus and thermal conductivity measurement method

Номер патента: US20180299391A1. Автор: Dai Nakajima,Haruna Tada,Yasuyuki Sanda. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2018-10-18.

Measurement apparatus for and measurement method of measuring moisture of mineral material

Номер патента: AU2023214108A1. Автор: Pekka Jakkula,Mikko Vuolteenaho,Vesa Fisk. Владелец: SENFIT OY. Дата публикации: 2024-08-29.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20240272300A1. Автор: Shuji Uehara,Yoshinori Muramatsu,Kazuhiko Muraoka. Владелец: Sony Semiconductor Solutions Corp. Дата публикации: 2024-08-15.

Outer Diameter Measurement Apparatus and Outer Diameter Measurement Method of Electrode Assembly

Номер патента: US20240302162A1. Автор: Min Ki Kim,Hyeok Soon Jung. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Optical measurement apparatus and optical measurement method

Номер патента: US12111146B2. Автор: Kunikazu Taguchi,Suguru Irie. Владелец: Otsuka Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Measurement apparatus and measurement method using the same

Номер патента: US20240295490A1. Автор: Jaeho Kim,Younghoon Sohn,Sunhong JUN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-09-05.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: EP4439071A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-02.

Specimen measurement apparatus and specimen measurement method

Номер патента: US20240329070A1. Автор: Masashi Tada,Hironori KATSUMI,Masashi OHFUCHI. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-10-03.

Lidar measuring method and device with sub-pulses produced by birefringence in the laser resonator

Номер патента: US20240353541A1. Автор: Jens Ebbecke. Владелец: Ams Osram International GmbH. Дата публикации: 2024-10-24.

Magnetic field measuring apparatus and magnetic field measuring method

Номер патента: US12066508B2. Автор: Takashi Yasui. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Measurement apparatus, measurement method and computer readable medium

Номер патента: US12055570B2. Автор: Mitsuo Matsumoto,Shinya Sato,Masayuki Kawabata,Masakatsu Suda. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2024-08-06.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09982993B2. Автор: Tetsuji Oota. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-05-29.

Magnetic field measurement apparatus, magnetic field measurement system and magnetic field measurement method

Номер патента: US09958514B2. Автор: Ryuji HOKARI. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Measuring apparatus and measuring method

Номер патента: US09945887B2. Автор: Hiroshi Imai,Keiki Matsuura,Hiroyuki Tokusaki,Yasukazu Ohno. Владелец: Omron Corp. Дата публикации: 2018-04-17.

Three-dimensional measuring device and three-dimensional measuring method

Номер патента: US09921312B2. Автор: Haruka Takano. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-03-20.

Safe position measuring apparatus

Номер патента: US09915553B2. Автор: Guenter Reusing. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-03-13.

Particle measuring apparatus and particle measuring method

Номер патента: US09885649B2. Автор: Kenichi Otsuka,Masaki Hirano,Yuichi Kuroda. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Environmental measurement apparatus and environmental measurement method

Номер патента: US09880132B2. Автор: Mitsuo Ozaki. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Wear measurement system using computer vision

Номер патента: US09875535B2. Автор: Yue Wang,Timothy J. Bennett,Nolan S. Finch,Kook In HAN,Daniel A. SMYTH. Владелец: Caterpillar Inc. Дата публикации: 2018-01-23.

Light wavelength measurement method and light wavelength measurement apparatus

Номер патента: US09846081B2. Автор: Tsuyoshi Konishi,Tomotaka Nagashima,Takema SATOH. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-12-19.

Radar liquid level measuring apparatus and radar liquid level measuring method

Номер патента: US09823110B2. Автор: Chao-Kai Cheng,I-Chu Lin,Yi-Liang Hou,Liang-Chi CHANG,Cheng-Huang WU. Владелец: FineTek Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-21.

Radiation measurement apparatus and radiation measurement method

Номер патента: US09696433B2. Автор: Koji Yasui. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-07-04.

Measuring apparatus and measuring method utilizing insulating liquid

Номер патента: US09684015B2. Автор: Akira Okada,Takaya Noguchi,Kosuke Hatozaki. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Ultrasonic measurement method and ultrasonic measurement apparatus

Номер патента: US09683838B2. Автор: Takafumi Ozeki,Yukinori Iizuka. Владелец: JFE Steel Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Measurement apparatus and method with adaptive scan rate

Номер патента: US09645169B2. Автор: Sang-il Park,Sang Han Chung,Ju Suk Lee,Yong Sung CHO,Ah Jin Jo. Владелец: Park Systems Corp. Дата публикации: 2017-05-09.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09612108B2. Автор: Toru Mikami. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-04-04.

Phase distribution measurement method and phase distribution measurement apparatus

Номер патента: US09594941B2. Автор: Hiroshi Ishiwata. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US09594023B2. Автор: Sakuya Tamada. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Measuring apparatus and fluorescence measuring method

Номер патента: US09535007B2. Автор: Toshiyuki Hattori. Владелец: Olympus Corp. Дата публикации: 2017-01-03.

Magnetic signal measuring apparatus and magnetic signal measuring method

Номер патента: US09518957B2. Автор: Keiji Enpuku,Akihiko Kandori,Takako Mizoguchi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2016-12-13.

Distance measurement apparatus and distance measurement method

Номер патента: US09467616B2. Автор: Takashi Kawamura,Kozo Ezawa,Shunsuke Yasugi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-11.

Methods and apparatuses using optics with aperture for passing optical signals between input and output stages

Номер патента: US09417121B1. Автор: James E. Spencer. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-08-16.

Physical quantity measuring apparatus and physical quantity measuring method

Номер патента: US09383726B2. Автор: Akihiro OOSHIMA,Tomohito NOUNO. Владелец: Yokogawa Electric Corp. Дата публикации: 2016-07-05.

Electrical resistance measurement apparatus and electrical resistance measurement method

Номер патента: US09372215B2. Автор: Akihide Hamano. Владелец: Furukawa Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-21.

Battery measurement apparatus using x-rays

Номер патента: EP3805743A1. Автор: So Young Kim,Japil KOO. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2021-04-14.

Distance measuring apparatus and distance measuring method

Номер патента: US20150276924A1. Автор: Yu-Zheng ZHENG. Владелец: Joy Technology(shen Zhen)co Ltd. Дата публикации: 2015-10-01.

Range finding apparatus and measurement apparatus

Номер патента: US20240053481A1. Автор: Kohei Okamoto,Koichi Fukuda,Shunichi Wakashima,Takashi Hanasaka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2024-02-15.

High precision photonic distance meter circuit and distance measuring method

Номер патента: US20230400576A1. Автор: Wen-Hao HO. Владелец: PixArt Imaging Inc. Дата публикации: 2023-12-14.

Distance measuring device, distance measuring method, and speed measuring device

Номер патента: US12025705B2. Автор: Hiroshi Kubota,Nobu Matsumoto. Владелец: Toshiba Electronic Devices and Storage Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Angle measuring device, angle measuring method, and in-vehicle device

Номер патента: US12032053B2. Автор: Kei Suwa,Satoshi KAGEME,Yu Shimizu. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-07-09.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: EP4182671A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2023-05-24.

Viscosity measuring apparatus

Номер патента: WO2022013578A1. Автор: Charles Bernard Benson. Владелец: Benson Viscometers Ltd. Дата публикации: 2022-01-20.

Linearity compensation circuit and sensing apparatus using the same

Номер патента: US10914792B2. Автор: Bin Liu,Leyue Jiang,Alexander Dribinsky,Weize Xu. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-09.

Measurement apparatus, movable apparatus, and vehicle

Номер патента: US11856304B2. Автор: Shoh Tsuritani. Владелец: Ricoh Co Ltd. Дата публикации: 2023-12-26.

Linearity Compensation Circuit And Sensing Apparatus Using The Same

Номер патента: US20180306871A1. Автор: Bin Liu,Leyue Jiang,Alexander Dribinsky,Weize Xu. Владелец: Aceinna Transducer Systems Co Ltd. Дата публикации: 2018-10-25.

Distance measurement device and distance measurement method

Номер патента: US20240241254A1. Автор: Yusuke YATA. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-18.

OCT measuring device and oct measuring method

Номер патента: US11408722B2. Автор: Jun Yokoyama,Yohei Takechi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-09.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4246178A2. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-20.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US20230296773A1. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: EP4246178A3. Автор: Yutaka Ota,Satoshi Kondo,Toshiki Sugimoto,Akihide Sai,Tuan Thanh Ta,Hisaaki Katagiri. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2024-01-24.

Position measuring device and position measuring method

Номер патента: US20150226852A1. Автор: Toshihisa Takai,Masahito Miyazaki. Владелец: Mitutoyo Corp. Дата публикации: 2015-08-13.

Stable reference for sensor apparatus using two reference electrodes

Номер патента: WO2024079562A1. Автор: Luling Wang,Mohsen Askarinya,Anna M. Belle,Omid Mahdavi. Владелец: Medtronic, Inc.. Дата публикации: 2024-04-18.

Measuring device and measuring method for noise-corrected transmitter performance measurement

Номер патента: US10256924B1. Автор: Edwin Menzel. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2019-04-09.

Stock tank water level measuring apparatus and system for monitoring the apparatuses

Номер патента: US20210325229A1. Автор: David Cliff,Curt Goble. Владелец: Wellbot LLC. Дата публикации: 2021-10-21.

System and method for processing a foot acceleration signal

Номер патента: US20180188069A1. Автор: Erik P. N. Damen. Владелец: Embedded Sensor Solutions BV. Дата публикации: 2018-07-05.

Distance measuring device and distance measuring method

Номер патента: US11719791B2. Автор: Yutaka Shimizu,Ichiro Seto,Katsuya Nonin,Shoji Ootaka. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2023-08-08.

Flow cytometer and sample measurement method

Номер патента: US20240241029A1. Автор: Masatsugu Ozasa,Motoi Kinishi,Clare WEIR. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Distance measurement system and distance measurement method

Номер патента: CA3146353A1. Автор: Masahiro Watanabe,Atsushi Taniguchi,Kenji Maruno,Tatsuo Hariyama. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2021-02-11.

Flow cytometer and sample measurement method

Номер патента: EP4400826A1. Автор: Masatsugu Ozasa,Motoi Kinishi,Clare WEIR. Владелец: Sysmex Corp. Дата публикации: 2024-07-17.

Measuring device and measuring method

Номер патента: EP4435409A1. Автор: Norikazu Mizuochi,Yoshiharu Yoshii,Yuki Takemura. Владелец: Kyoto University NUC. Дата публикации: 2024-09-25.

Electric field intensity distribution measurement device and electric field intensity distribution measurement method

Номер патента: US09998240B2. Автор: Hanako Noda. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2018-06-12.

Measuring device and measuring method for direction finding and direction uncertainty determination

Номер патента: US09958525B2. Автор: Hendrik Bartko. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2018-05-01.

Particle measuring device and particle measuring method

Номер патента: US20200371050A1. Автор: Tomihiro Hashizume,Masatoshi Yasutake,Tsunenori Nomaguchi,Takafumi Miwa. Владелец: Hitachi High Tech Corp. Дата публикации: 2020-11-26.

Measuring apparatus

Номер патента: US09811896B2. Автор: Nobutaka Kikuiri,Ikunao Isomura. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-11-07.

Distance measurement methods and apparatus

Номер патента: US09689970B2. Автор: Auguste D'aligny. Владелец: TRIMBLE AB. Дата публикации: 2017-06-27.

Distance measuring methods

Номер патента: US09605955B2. Автор: Richard Day,Auguste D'aligny,Yuri P. Gusev. Владелец: Trimble 3D Scanning. Дата публикации: 2017-03-28.

Tire wear prediction system and tire wear prediction method

Номер патента: EP4361908A1. Автор: Geert SCHOORS,David HENSHER. Владелец: Bridgestone Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Method of tire state estimation through wheel speed signal feature extraction

Номер патента: US9610810B1. Автор: Kanwar Bharat Singh. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2017-04-04.

Home port and substrate processing apparatus using same

Номер патента: US20230195030A1. Автор: Tae Hoon Lee,Do Yeon Kim,Young Jun SON,Hyun Yoon. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2023-06-22.

Auto-location of tire sensor by vehicle wheel position

Номер патента: US20240190187A1. Автор: Brian Richard Morris. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2024-06-13.

Auto-location of tire sensor by vehicle wheel position

Номер патента: EP4385766A1. Автор: Brian Richard Morris. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2024-06-19.

Home port and substrate processing apparatus using same

Номер патента: US11960236B2. Автор: Tae Hoon Lee,Do Yeon Kim,Young Jun SON,Hyun Yoon. Владелец: Semes Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-16.

Planographic printing plate precursor, method of producing same, and printing method using same

Номер патента: US20170197400A1. Автор: Koji Wariishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-07-13.

Control apparatus and method for laser apparatus, and laser measuring apparatus

Номер патента: AU2021407466A1. Автор: Xin Shi,Chao Zhu,David Xing. Владелец: Northwest Instrument Inc. Дата публикации: 2023-07-06.

Control apparatus and method for laser apparatus, and laser measuring apparatus

Номер патента: AU2021407466A9. Автор: Xin Shi,Chao Zhu,David Xing. Владелец: Northwest Instrument Inc. Дата публикации: 2024-10-10.

Clock recovery circuit, error rate measurement apparatus, and error rate measurement method

Номер патента: US20240176387A1. Автор: Kazuhiro Yamane. Владелец: Anritsu Corp. Дата публикации: 2024-05-30.

Semiconductor laser apparatus and optical pickup apparatus using same

Номер патента: US20030174748A1. Автор: Kazunori Matsubara,Ayumi Yagi. Владелец: Sharp Corp. Дата публикации: 2003-09-18.

Power supply device, and vehicle-mounted apparatus and vehicle using same

Номер патента: US20130334877A1. Автор: Yuhei Yamaguchi. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2013-12-19.

Light emitting element drive apparatus and portable apparatus using same

Номер патента: US09717124B2. Автор: Junji Saito,Kazuo Sudo,Kazuhito Tsuchida. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Measurement apparatus, measurement method, exposure apparatus, and device manufacturing method

Номер патента: US20090274963A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-11-05.

Camera module using small reflector, and optical device for augmented reality using same

Номер патента: US12055693B2. Автор: Jeong Hun Ha. Владелец: LetinAR Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Transmissive disk, manufacturing method thereof, and levitation measurement apparatus using transmissive disk

Номер патента: US20080130011A1. Автор: Daisuke Kimura. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2008-06-05.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: EP1362217A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audio Development Informationsteknik I Malmo AB. Дата публикации: 2003-11-19.

A local track pitch measuring apparatus and method

Номер патента: WO2002070986A1. Автор: Ulf Wilhelmson. Владелец: Audiodev Aktiebolag. Дата публикации: 2002-09-12.

Trusted measurement method and apparatus, computer device, and readable medium

Номер патента: EP4418115A1. Автор: Liang Wang,Jianjun Liu,Min Zhang,Jia Zhou,Hu TAN,Zhihong XUE,Qu CAI. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-08-21.

Power measurement apparatus and power measurement method

Номер патента: US09753829B2. Автор: Haruhiko Ueno,Mari Masuda,Atsushi Takami. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-09-05.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US09665018B2. Автор: Masatoshi Endo,Takanori Morooka. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-05-30.

Measuring apparatus, measuring method, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US09606461B2. Автор: Tadaki MIYAZAKI. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Overlay measuring method and overlay measuring apparatus using the same

Номер патента: US20070280557A1. Автор: Jin-Jun Park,Gyo-Hyung Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-12-06.

Image forming apparatus using technique for controlling power supply

Номер патента: US20150181066A1. Автор: Shigeo Miura. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2015-06-25.

Information input apparatus using ultrasonic waves and position recognition method thereof

Номер патента: WO2006126759A1. Автор: Jong-Bum Seo. Владелец: Jong-Bum Seo. Дата публикации: 2006-11-30.

Method for inspecting labeling on bounding box by using deep learning model and apparatus using same

Номер патента: US20220366677A1. Автор: Se Yeob Kim. Владелец: Select Star Inc. Дата публикации: 2022-11-17.

Artificial intelligence apparatus using sound signal classification and method for the same

Номер патента: US20200042823A1. Автор: Hangil JEONG,Jaehong Kim. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-02-06.

Information input apparatus using ultrasonic waves and position recognition method thereof

Номер патента: EP1891505A1. Автор: Jong-Bum Seo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-02-27.

Measurement method, measurement apparatus, lithography apparatus, and method of manufacturing article

Номер патента: US20170278233A1. Автор: Takuro Tsujikawa. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-09-28.

Method and apparatus using a medical imaging head for fluorescent imaging

Номер патента: AU2018231580B2. Автор: Richard Johannes Cornelis Meester. Владелец: Quest Photonic Devices BV. Дата публикации: 2023-08-03.

Information Input Apparatus Using Ultrasonic Waves and Position Recognition Method Thereof

Номер патента: US20090103396A1. Автор: Jong-Bum Seo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-04-23.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US9779493B2. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US20170046828A1. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-02-16.

Positioning apparatus and PLC system using same

Номер патента: US09880525B2. Автор: Myoung Chol Cho. Владелец: LSIS Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-30.

Method of detecting unique portion and method of setting address point of measuring apparatus using the same

Номер патента: US09779493B2. Автор: HyungJoon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-03.

System and method for voice control of measurement apparatus

Номер патента: US09770174B2. Автор: Mohammed N. Islam. Владелец: Omni Medsci Inc. Дата публикации: 2017-09-26.

Input buffer and method with ac positive feedback, and a memory device and computer system using same

Номер патента: US20090262585A1. Автор: Greg Blodgett. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2009-10-22.

Lens module and electronic device using same

Номер патента: US20210041686A1. Автор: Chun-Yao Huang,Cheng-An Lin. Владелец: Triple Win Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-11.

Signal decomposition method and electronic apparatus using the same

Номер патента: US20160269064A1. Автор: Chia-Chi Chang,Hung-Yi Hsu,Tzu-Chien Hsiao. Владелец: National Chiao Tung University NCTU. Дата публикации: 2016-09-15.

Measurement apparatus, system, measurement method, determination method, and non-transitory computer-readable storage medium

Номер патента: US20170169581A1. Автор: Akihiro Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-06-15.

Optical disk apparatus using tilt and aberration correction control system

Номер патента: US20030189883A1. Автор: Takeshi Nakajima,Shinichi Konishi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-10-09.

Electronic device including flexible display, and display method using same

Номер патента: US20230236697A1. Автор: Mooyoung KIM,Youngho Cho,Dahee Lim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2023-07-27.

Display apparatus using semiconductor light-emitting device

Номер патента: US20230253386A1. Автор: Yonghan Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-08-10.

Power-off control circuit and electronic device using same

Номер патента: US20170054435A1. Автор: Jin-Shan Ma. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-23.

Light intensity distribution measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus

Номер патента: US20090180094A1. Автор: Akinori Ohkubo. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-07-16.

Display apparatus using semiconductor light-emitting device

Номер патента: US12119333B2. Автор: Yonghan Lee. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-10-15.

Breast thickness measuring apparatus, breast thickness measuring method, and radiographic image capturing system

Номер патента: US09883844B2. Автор: Takao Kuwabara. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-02-06.

Power off control circuit and electronic device using same

Номер патента: US09836105B2. Автор: Jin-Shan Ma. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2017-12-05.

Image pickup apparatus using edge detection and distance for focus assist

Номер патента: US09762790B2. Автор: Atsushi Yamaguchi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2017-09-12.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method and program

Номер патента: US09576370B2. Автор: Keiichiro Ishihara,Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Gesture recognition method and gesture recognition apparatus using the same

Номер патента: US09576193B2. Автор: Meng-Chao Kao,Tzu-Chiang Shen,Hui-Chen Lin,Jie-Ci Yang. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Light source unit and projection display system using same

Номер патента: US09551917B2. Автор: Mitsuru Nagasawa,Satoshi Ouchi,Tomoto Kawamura,Kunikazu Ohnishi. Владелец: Hitachi Consumer Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-24.

Power supply device, and vehicle-mounted apparatus and vehicle using same

Номер патента: US09541928B2. Автор: Yuhei Yamaguchi. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2017-01-10.

Distance measurement apparatus, imaging apparatus, distance measurement method, and program

Номер патента: US09508153B2. Автор: Satoru Komatsu. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Driving circuit and display device of using same

Номер патента: US09478194B2. Автор: Wen-Chiang Huang,Hung-Chi Wang,Chun-fan Chung,Meng-Ju WU,Rung-Yuan Chang. Владелец: AU OPTRONICS CORP. Дата публикации: 2016-10-25.

Signal decomposition method and electronic apparatus using the same

Номер патента: US09467182B2. Автор: Chia-Chi Chang,Hung-Yi Hsu,Tzu-Chien Hsiao. Владелец: National Yang Ming Chiao Tung University NYCU. Дата публикации: 2016-10-11.

Semiconductor circuit capable of swapping signal paths and semiconductor apparatus using the same

Номер патента: US20240223188A1. Автор: Min Chang Kim,Hyun Wook HAN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Offline setup recording device and method and electronic apparatus using the same

Номер патента: US8412924B2. Автор: Chun-I Sun. Владелец: Kinpo Electronics Inc. Дата публикации: 2013-04-02.

Offline setup recording device and method and electronic apparatus using the same

Номер патента: US20120166830A1. Автор: Chun-I Sun. Владелец: Kinpo Electronics Inc. Дата публикации: 2012-06-28.

Semiconductor circuit capable of swapping signal paths and semiconductor apparatus using the same

Номер патента: US20240223189A1. Автор: Min Chang Kim,Hyun Wook HAN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-04.

Shift register circuit and display panel using same

Номер патента: US20180322840A1. Автор: Yu-Jen Chen. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-08.

Heating device and mouse using same

Номер патента: US20130342461A1. Автор: xiao-lian He,Ten-Chen Ho. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-26.

Light-measuring method and structure for cameras

Номер патента: US3810202A. Автор: N Uno,T Sakazaki. Владелец: Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1974-05-07.

Semiconductor circuit capable of swapping signal paths and semiconductor apparatus using the same

Номер патента: US20230039697A1. Автор: Min Chang Kim,Hyun Wook HAN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2023-02-09.

Buffer circuit and duty cycle correction method using same

Номер патента: US8358162B2. Автор: Kyoung Tae KANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2013-01-22.

Buffer circuit and duty cycle correction method using same

Номер патента: US20110227622A1. Автор: Kyoung Tae KANG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-09-22.

Shift register circuit and display panel using same

Номер патента: US20180342221A1. Автор: Mingliang Wang. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2018-11-29.

Mutual capacitance touch sensing device and its sine wave measuring method

Номер патента: US09766759B2. Автор: Chin-Fu Chang. Владелец: Egalax Empia Technology Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Position measuring method, misplacement map generating method, and inspection system

Номер патента: US09645488B2. Автор: Hiromu Inoue. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Clock delay detecting circuit and semiconductor apparatus using the same

Номер патента: US09602112B2. Автор: Young Suk SEO. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-03-21.

Stereo decoding method and apparatus using group delay and group phase parameters

Номер патента: US09584944B2. Автор: Qi Zhang,LEI Miao,Yue Lang,Wenhai Wu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Method of providing 3D image and 3D display apparatus using the same

Номер патента: US09438894B2. Автор: Jae-Sung Park,Tae-Hyeun Ha,Do-Sung Jung,Tae-Don Hwang. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2016-09-06.

Toner, method for manufacturing same, and imaging apparatus using same

Номер патента: CA2115238C. Автор: Hiroshi Sasaki,Kishiro Iwasaki,Kenji Murao. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 1999-09-28.

Semiconductor circuit capable of swapping signal paths and semiconductor apparatus using the same

Номер патента: US20240235549A1. Автор: Min Chang Kim,Hyun Wook HAN. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Power control method and electronic apparatus using the same

Номер патента: US20200183480A1. Автор: Sai Zhang,Zxl Zhang. Владелец: Wistron Corp. Дата публикации: 2020-06-11.

Transfer function measuring method and active noise reduction device

Номер патента: US11830470B2. Автор: Yoshiyuki Hayashi,Taiki KODATSU. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2023-11-28.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: EP4227737A1. Автор: SATOSHI Tanaka,Soichi Inoue,Hiroyuki Tanizaki,Kentaro Kasa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-08-16.

Overlay measurement apparatus and overlay measurement method

Номер патента: US20240272560A1. Автор: Seong Yun CHOI,Hyo Sik HAM. Владелец: Auros Technology Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Pattern measuring apparatus and pattern measuring method

Номер патента: US20110049362A1. Автор: Jun Matsumoto,Yoshiaki Ogiso. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-03-03.

Duty detection circuit, a duty correction circuit, and a semiconductor apparatus using the duty correction circuit

Номер патента: US12074602B2. Автор: Young Suk SEO,Gyu Tae Park. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-27.

Common well bias design for a driving circuit and method of using same

Номер патента: US20150097597A1. Автор: Yu-Ren Chen,Chia-Hui Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2015-04-09.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US20150238163A1. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-08-27.

Bitline senseamplifier and semiconductor memory apparatus using the same

Номер патента: US09830962B2. Автор: Hee Sang Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-11-28.

Bitline senseamplifier and semiconductor memory apparatus using the same

Номер патента: US09646659B2. Автор: Hee Sang Kim. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Sense amplifier and memory apparatus using the same

Номер патента: US09646658B1. Автор: Kang Woo Park. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-05-09.

Ultrasonic measurement apparatus and ultrasonic measurement method

Номер патента: US09585630B2. Автор: Takashi Hyuga. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Repair circuit, memory apparatus using the same and operating method thereof

Номер патента: US09583161B1. Автор: Ji Hyae Bae,Min Chul Shin,Jun Gi Choi,Yong Seop KIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-02-28.

Strobe signal generation circuit and semiconductor apparatus using the same

Номер патента: US09571081B2. Автор: Jin Hwan Kim,Young Jun KU. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-02-14.

Signal compensation circuit and semiconductor apparatus using the same

Номер патента: US09564191B1. Автор: Jung Hwan Ji,Ki Chon PARK. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-02-07.

Method for reconstructing series of slice images and apparatus using same

Номер патента: US11816833B2. Автор: Kyuhwan JUNG. Владелец: Vuno Inc. Дата публикации: 2023-11-14.

Array substrate and display apparatus using same

Номер патента: US20200083255A1. Автор: Zeyao Li. Владелец: Chongqing HKC Optoelectronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2020-03-12.

Detection method for golf club and sensing apparatus using the same

Номер патента: CA3149314A1. Автор: Hyun Jin Park. Владелец: Golfzon Co Ltd. Дата публикации: 2021-02-04.

X-ray collimator and x-ray imaging apparatus using same

Номер патента: US20190029614A1. Автор: Sung Il Choi. Владелец: Vatech Ewoo Holdings Co Ltd. Дата публикации: 2019-01-31.

Detection method for golf club and sensing apparatus using the same

Номер патента: CA3149314C. Автор: Hyun Jin Park. Владелец: Golfzon Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-28.

System and method for managing measurement apparatuses

Номер патента: US20040024783A1. Автор: Chih-Kuang Chang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-02-05.

Sport court target training aid, method for training using same, and method for advertising using same

Номер патента: US20090163303A1. Автор: Donnie Travis Prince. Владелец: Individual. Дата публикации: 2009-06-25.

Exercise information measurement apparatus, exercise management method, and exercise management program

Номер патента: US20180021658A1. Автор: Mitsuru Samejima. Владелец: OMRON HEALTHCARE CO LTD. Дата публикации: 2018-01-25.

Scalp type diagnostic system on basis of scalp state information, and scalp improving method using same

Номер патента: US20240203589A1. Автор: Dong Soon Park,Jeong Il JEONG. Владелец: Aram Huvis Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Scalp type diagnostic system on basis of scalp state information, and scalp improving method using same

Номер патента: EP4427665A1. Автор: Dongsoon PARK,Jeongil JEONG. Владелец: Aramhuvis Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Image sensor and method of driving image sensor, and image capturing apparatus using the same

Номер патента: US09762829B2. Автор: Jaehyuk Choi,Jungsoon SHIN. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-09-12.

Torsional mode tire wear state estimation system and method

Номер патента: US20150040656A1. Автор: Kanwar Bharat Singh,Anthony William Parsons,Yiu Wah Luk. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2015-02-12.

Tire and tire wear indicating structure thereof

Номер патента: US20240227458A1. Автор: En-Yu Chang,Man-Chen Hu. Владелец: Cheng Shin Rubber Ind Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Tire wear state estimation system utilizing cornering stiffness and method

Номер патента: US09428013B2. Автор: Kanwar Bharat Singh. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2016-08-30.

Vehicle Tire Wear Extraction Filtration System

Номер патента: US20220379667A1. Автор: Joseph Gelb. Владелец: Individual. Дата публикации: 2022-12-01.

Model based tire wear estimation system and method

Номер патента: US20230294459A1. Автор: Kanwar Bharat Singh. Владелец: Goodyear Tire and Rubber Co. Дата публикации: 2023-09-21.

System and method for determining tire wear and defects

Номер патента: US11912073B1. Автор: Jess W. Gingrich,Charles Lee Oakes, III. Владелец: United Services Automobile Association USAA. Дата публикации: 2024-02-27.

Tire wear prediction

Номер патента: US20230311581A1. Автор: Dan Haronian. Владелец: Enervibe Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Vehicle tire localization system and method using temperature rise data

Номер патента: EP4208357A1. Автор: Terence E. Wei,Thomas A. SAMS. Владелец: Bridgestone Americas Tire Operations LLC. Дата публикации: 2023-07-12.

Laser apparatus using optical fibers for stable laser welding, and laser welding method using same

Номер патента: US20230264300A1. Автор: Swook Hann. Владелец: Korea Photonics Technology Institute. Дата публикации: 2023-08-24.

Circuit board damping mechanism and vehicle-mounted apparatus using same

Номер патента: EP4368854A1. Автор: Bingkai FU. Владелец: Shanghai Yuxing Electronics Technology Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Dot position measurement method, dot position measurement apparatus, and computer readable medium

Номер патента: US20100079518A1. Автор: Yoshirou Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2010-04-01.

Ion-exchange resin module and deionization apparatus using same

Номер патента: US11970407B2. Автор: Chang Woo Han,Seung Boong JEONG. Владелец: Hyosung Heavy Industries Corp. Дата публикации: 2024-04-30.

Jamming detection method and sheet laminating apparatus using same

Номер патента: US20110011512A1. Автор: Yen-Te Lee. Владелец: Primax Electronics Ltd. Дата публикации: 2011-01-20.

Multi-phase motor control apparatus and electric power steering apparatus using the same

Номер патента: US09667179B2. Автор: Hiroyasu KUMAGAI,Takayoshi Sugawara,Yousuke Imamura. Владелец: NSK LTD. Дата публикации: 2017-05-30.

Caption presentation method and apparatus using same

Номер патента: US20110106535A1. Автор: Sung-min Jeon,Cheul Hee Ham. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2011-05-05.

Electronic braking system with brake wear measurement and running clearance adjustment

Номер патента: US6003640A. Автор: Mihai Ralea. Владелец: BF Goodrich Corp. Дата публикации: 1999-12-21.

Piezoelectric single-crystal element, mems device using same, and method for manufacturing same

Номер патента: US20230120240A1. Автор: Sang Goo Lee. Владелец: Ibule Photonics Co Ltd. Дата публикации: 2023-04-20.

Water-soluble ink composition and ink jet recording apparatus using same

Номер патента: CA2324125C. Автор: Kenichi Kato,Hiroshi Mukai. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-12-18.

Ink-jet printing head and ink-jet printing apparatus using same

Номер патента: US5984459A. Автор: Yoshinao Miyata,Shiro Yazaki,Tetsushi Takahashi. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 1999-11-16.

Lifting device and electrode sheet transport device using same

Номер патента: EP4340087A1. Автор: Jong-Cheon Kim,Jeong-Ho Yoon. Владелец: LG Energy Solution Ltd. Дата публикации: 2024-03-20.

Structure of evaporation field, and seawater-concentrating method using same

Номер патента: GB2624500A. Автор: Sik Park Guy. Владелец: Syzoa Ltd. Дата публикации: 2024-05-22.

Method for encoding real number M-ary signal and encoding apparatus using same

Номер патента: US10277434B2. Автор: Han Chung,Hae Chung. Владелец: IDAC Holdings Inc. Дата публикации: 2019-04-30.

Position measurement method, signal adjustment apparatus, base station, terminal, and storage medium

Номер патента: US20240357540A1. Автор: Jie Li,Xiaojiang Guo. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-24.

Biological information measurement method and apparatus with variable loop filter

Номер патента: US09717462B2. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-01.

Measurement apparatus, program, recording medium, and measurement method

Номер патента: US20110022341A1. Автор: Koji Asami. Владелец: Advantest Corp. Дата публикации: 2011-01-27.

Optical 90-degree hybrid circuit and optical receiver using same

Номер патента: US09800349B2. Автор: Toshio Kataoka,Yuji Hayami. Владелец: SUMITOMO OSAKA CEMENT CO LTD. Дата публикации: 2017-10-24.

Wearable blood pressure measuring device and blood pressure measuring method

Номер патента: EP3960076A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-03-02.

Reinforcing thermal radiation coating and application, and radiant heat exchange apparatus using same

Номер патента: US20230357581A1. Автор: Jiguang Yan. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-11-09.

Method of interpolating HRTF and audio output apparatus using same

Номер патента: US09980077B2. Автор: LING Li,Jongyeul Suh,Tung Chin LEE. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-05-22.

Image encoding and decoding method supporting plurality of layers and apparatus using same

Номер патента: US09894369B2. Автор: Bae Keun Lee,Joo Young Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Optical transmission system, optical transmission apparatus and wavelength spacing measurement apparatus

Номер патента: US09698905B2. Автор: Taku Saito,Kosuke Komaki,Taketo Endo. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-07-04.

Measurement device, measurement method, and program

Номер патента: EP4190233A1. Автор: Takayuki Sugahara,Shohei Odan. Владелец: JVCKenwood Corp. Дата публикации: 2023-06-07.

Tissue composition measurement method and apparatus, and wearable device

Номер патента: AU2021427656A1. Автор: Kexin Xu,Di SUN,Xueyu Liu,Tongshuai Han. Владелец: Sunrise Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Long term monitoring of acceleration signals for optimization of pacing therapy

Номер патента: EP1049403B1. Автор: V.A. Kadhiresan. Владелец: Cardiac Pacemakers Inc. Дата публикации: 2012-04-11.

Positive electrode, and electrochemical device using same, and electronic device

Номер патента: EP4421904A1. Автор: Xue ZHANG. Владелец: Ningde Amperex Technology Ltd. Дата публикации: 2024-08-28.

Induction heating coil and single crystal production device using same

Номер патента: EP4450683A1. Автор: Koichi Shimomura,Ryosuke Ueda,Yoshinori Sugita. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-10-23.

Video encoding method, video decoding method, and apparatus using same

Номер патента: US12075055B2. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon,Sangoh Jeong. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-08-27.

Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus

Номер патента: US20140362262A1. Автор: Akinari Takagi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2014-12-11.

Image encoding and decoding method supporting plurality of layers and apparatus using same

Номер патента: US09894357B2. Автор: Bae Keun Lee,Joo Young Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US09769487B2. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-09-19.

Image encoding and decoding method supporting plurality of layers and apparatus using same

Номер патента: US09762910B2. Автор: Bae Keun Lee,Joo Young Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Image encoding and decoding method supporting plurality of layers and apparatus using same

Номер патента: US09762909B2. Автор: Bae Keun Lee,Joo Young Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Video encoding method, video decoding method, and apparatus using same

Номер патента: US09736482B2. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon,Sangoh Jeong. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-08-15.

Gas injection apparatus and substrate processing apparatus using same

Номер патента: US09732424B2. Автор: Jung-Hwan Lee,Woo-young Park,Tae-Ho Hahm. Владелец: Wonik Ips Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US09621909B2. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-04-11.

Operation method of node in wireless communication system and apparatus using same method

Номер патента: EP3648529A1. Автор: Yunjung Yi,Soonki JO,Huayue SONG. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-05-06.

Biological information measurement apparatus

Номер патента: US20160199005A1. Автор: Yasushi Sato,Takanori Hayashi. Владелец: Murata Manufacturing Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-14.

Method for signal estimation and compensation and apparatus using the same

Номер патента: US20140355722A1. Автор: Terng-Yin Hsu,Wei-Chi Lai. Владелец: Acer Inc. Дата публикации: 2014-12-04.

Measurement apparatus, measurement method, and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20160379902A1. Автор: Nobuhiro Komine,Yoshinori Hagio. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-12-29.

Deskewing method and apparatus, and data reception apparatus using the deskewing method and apparatus

Номер патента: US20100260299A1. Автор: Young-don Choi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-10-14.

Method and apparatus used in node for wireless communication

Номер патента: EP4398500A1. Автор: Zheng Liu,Zhongzhi YANG. Владелец: Quectel Wireless Solutions Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-10.

Measurement apparatus and measurement method

Номер патента: US20200127776A1. Автор: Hidetoshi Suzuki,Lilei Wang,Shotaro MAKI. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2020-04-23.

Reconfigurable measuring apparatus and method for controlling apparatus

Номер патента: US09545212B2. Автор: Jong Pal Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-01-17.

Measurement system and measurement method

Номер патента: US20210234779A1. Автор: Toru Okugawa,Hidetaka NISHIHARA. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2021-07-29.

Wearable Blood Pressure Measurement Apparatus and Blood Pressure Measurement Method

Номер патента: US20220110531A1. Автор: Zhenlong Huang. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-14.

Measurement method and measurement apparatus

Номер патента: US12075273B2. Автор: Qian Zhang,Shulan Feng,Meng Deng,Daoming Liu. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Channel measurement method and communication device

Номер патента: EP4027531A1. Автор: Li Fan,Yong Liu,Xiaoyan Bi,Shibin GE,Huangping JIN,Zhimeng ZHONG. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-13.

Wafer notch dimension measuring apparatus

Номер патента: US5684599A. Автор: Shigetoshi Shimoyama,Kaneyoshi Aramaki. Владелец: Shin Etsu Handotai Co Ltd. Дата публикации: 1997-11-04.

Beam measurement method and apparatus, user equipment, network device and storage medium

Номер патента: EP4436070A1. Автор: Liangang Chi. Владелец: Beijing Xiaomi Mobile Software Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-25.

Channel measurement method and apparatus

Номер патента: EP4391699A1. Автор: Ting Wang,Jianglei Ma,Yongxia Lyu,Dongdong WEI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-26.

Measurement method and measurement unit for delta-sigma type data converter

Номер патента: US09705528B2. Автор: Mitsutoshi Sugawara. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-07-11.

Bubble apparatus and inflatable recreation apparatus using same

Номер патента: AU2021351742B2. Автор: Jian Sheng XIAO. Владелец: Swiftech Co ltd. Дата публикации: 2023-09-21.

Reference signal measurement method and terminal devices

Номер патента: EP3883275A1. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2021-09-22.

Audio adjustment circuit and electronic device using same

Номер патента: US20150055806A1. Автор: Chun-Lung Hung,Lu-Qing Meng. Владелец: Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2015-02-26.

Signal receiving device and electronic apparatus using the same

Номер патента: US20130321186A1. Автор: Chia-Hsin Chen,Tsung-Ping Wei. Владелец: Beyond Innovation Technology Co Ltd. Дата публикации: 2013-12-05.

Active load generation circuit and filter using same

Номер патента: US20190149146A1. Автор: Wei-Cheng Tang,Kuohsi Wu. Владелец: Realtek Semiconductor Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Method for determining sampling timing and image reading apparatus using the same

Номер патента: US20070125858A1. Автор: Hirofumi Ishii. Владелец: Fuji Xerox Co Ltd. Дата публикации: 2007-06-07.

Bio-signal measuring apparatus and bio-signal measuring method

Номер патента: US20190167144A1. Автор: Kak Namkoong,Myoung Hoon Jung,Yeol Ho Lee,Won Jong Jung. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2019-06-06.

Antenna module and wireless communication device using same

Номер патента: US20170093020A1. Автор: Yen-Hui Lin,Geng-Hong Liou. Владелец: Chiun Mai Communication Systems Inc. Дата публикации: 2017-03-30.

Power supply circuit having two filter members and liquid crystal display using same

Номер патента: US20080158925A1. Автор: TONG Zhou,Jia-Hui Tu. Владелец: Innocom Technology Shenzhen Co Ltd. Дата публикации: 2008-07-03.

Measurement method and apparatus, and communications node

Номер патента: US09980164B2. Автор: BO Lin,Jie Shi,Li Chai. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-22.

Ear model, head model, and measuring apparatus and measuring method employing same

Номер патента: US09949670B2. Автор: Tomoyoshi Ikeda. Владелец: Kyocera Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Antenna module and wireless communication device using same

Номер патента: US09905909B2. Автор: Yen-Hui Lin,Geng-Hong Liou. Владелец: Chiun Mai Communication Systems Inc. Дата публикации: 2018-02-27.

Galvanic isolation interface for high-speed data link for spacecraft electronics, and method of using same

Номер патента: US09385891B2. Автор: Garry H. Boggan. Владелец: Aerospace Corp. Дата публикации: 2016-07-05.

Peptide compositions that downregulate tlr-4 signaling pathway and methods of producing and using same

Номер патента: US20120115797A1. Автор: Shanjana Awasthi. Владелец: University of Oklahoma . Дата публикации: 2012-05-10.

Reference signal measurement method and terminal device

Номер патента: US12035344B2. Автор: Pu YUAN. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-09.

Radio communication apparatus used in CDMA communication system and power consumption control method therefor

Номер патента: EP1067703B1. Автор: Motoyasu Taguchi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2005-03-30.

Blood pressure measurement method and apparatus, and electronic device and storage medium

Номер патента: EP4179965A1. Автор: Kongqiao Wang. Владелец: Anhui Huami Health Technology Co Ltd. Дата публикации: 2023-05-17.

Sound signal processing apparatus and imaging device using same

Номер патента: US20180175815A1. Автор: Yoshio Ohtsuka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2018-06-21.

Delay time measuring method, delay time adjusting method, and variable delay circuit

Номер патента: US20090302910A1. Автор: Masazumi Maeda. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2009-12-10.

Rake combiner apparatus using charge transfer element

Номер патента: US6473454B1. Автор: Yasuo Nagazumi. Владелец: G D S Co Ltd. Дата публикации: 2002-10-29.

Measurement method and measurement system

Номер патента: US20220029718A1. Автор: Florian Ramian,Florian GERBL. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2022-01-27.

Respiratory Measurement Method, Respiratory Measurement Device, and Respiratory Measurement System

Номер патента: US20240237914A1. Автор: Shinji Imai,Koichi Murata,Masafumi Furuta. Владелец: Shimadzu Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

Information Sending Method, Receive Power Measurement Method, Device, and System

Номер патента: US20200059872A1. Автор: Qiming Li,Zhe Chen,Zhe Jin,Hengjin LIU. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2020-02-20.

Evm measurement method, transmitter and computer-readable storage medium

Номер патента: US20240364444A1. Автор: Kun Niu. Владелец: ZTE Corp. Дата публикации: 2024-10-31.

Image sensor and image capture apparatus using the same with memory holding pixel signal

Номер патента: US09955092B2. Автор: Nobuhiro Takeda,Makiko Saito. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Photoelectric type pulse signal measuring method and apparatus

Номер патента: US09949695B2. Автор: Song Liu,Bo Li,Shasha Lou. Владелец: Goertek Inc. Дата публикации: 2018-04-24.

Linearizer and radio frequency power amplifier using same

Номер патента: US09843296B2. Автор: Jung Hyun Kim,Young Kwon,Un Ha Kim. Владелец: Avago Technologies General IP Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-12-12.

Antenna assembly and mobile terminal using same

Номер патента: US09509040B2. Автор: Chao Wang,Yongli Chen. Владелец: AAC Technologies Pte Ltd. Дата публикации: 2016-11-29.

Sterilization electrode, method for manufacturing same, and sterilization apparatus using same

Номер патента: EP3862325A1. Автор: Yeanju LEE. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-08-11.

Sterilization electrode, method for manufacturing same, and sterilization apparatus using same

Номер патента: AU2019384588A1. Автор: Yeanju LEE. Владелец: Apa Science Inc. Дата публикации: 2021-05-27.

Method of interpolating hrtf and audio output apparatus using same

Номер патента: US20180048979A1. Автор: LING Li,Jongyeul Suh,Tung Chin LEE. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-02-15.

Brightness measurement apparatus, brightness measurement method, brightness measurement program, and camera system

Номер патента: US20240244331A1. Автор: Ikuko Komura. Владелец: Denso Corp. Дата публикации: 2024-07-18.

United afec and method thereof, and tdd radio repeater apparatus using the same

Номер патента: WO2009014284A1. Автор: Byung-Yang Ahn. Владелец: Airpoint. Дата публикации: 2009-01-29.

Method of setting scanner-controlling input signal and display apparatus applied with the same

Номер патента: US20090073506A1. Автор: Kyu-Bum Han. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-19.

Front end module and wireless communications apparatus using the same

Номер патента: US20160277061A1. Автор: Hyun Jeong SONG,Hyo Sun CHOI. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-22.

Latch and phase synchronization circuit using same

Номер патента: EP1580920A1. Автор: Noriyuki Suzuki. Владелец: Leader Electronics Corp. Дата публикации: 2005-09-28.

Clock generation circuit and semiconductor apparatus using the clock generation circuit

Номер патента: US12057847B2. Автор: Young Suk SEO,Sung Hyun SONG. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2024-08-06.

Deskewing method and apparatus, and data reception apparatus using the deskewing method and apparatus

Номер патента: US8116417B2. Автор: Young-don Choi. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-02-14.

Device and measuring method for ascertaining the internal delay time of a can bus connection unit

Номер патента: US09917705B2. Автор: Florian Hartwich. Владелец: ROBERT BOSCH GMBH. Дата публикации: 2018-03-13.

Methods of data allocation in subcarriers and related apparatuses using the same

Номер патента: US09838171B2. Автор: You-Hsien Lin,Hsuan-Li Lin,Tsung-Yu Tsai,Terng-Yin Hsu. Владелец: Acer Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Optical rotation measurement method and optical rotation measurement apparatus

Номер патента: US09713441B2. Автор: Akira Ikeda,Kazuhiro Nishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Heartbeat measuring apparatus, heartbeat measuring method, and recording medium

Номер патента: US09693738B2. Автор: Takeshi Fukuda,Toru Sato,Takuya Sakamoto,Mototaka Yoshioka. Владелец: Panasonic Corp. Дата публикации: 2017-07-04.

Blood pressure measuring apparatus and blood pressure measuring method

Номер патента: US09622667B2. Автор: Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2017-04-18.

Image forming apparatus using sync signals for duplex scanning

Номер патента: US09578194B2. Автор: Shinichi Kawaguchi. Владелец: Kyocera Document Solutions Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Biological signal measuring apparatus and biological signal measuring method

Номер патента: US09526444B2. Автор: Kazumasa Ito,Naoki Kobayashi,Hideaki Hirahara. Владелец: Nihon Kohden Corp. Дата публикации: 2016-12-27.

Heat pipe having a turbine built therein and apparatus using same

Номер патента: CA1283549C. Автор: Masahiko Ito,Masataka Mochizuki,Tsuneaki Motai,Michio Takaoka,Kouichi Mashiko. Владелец: Fujikura Ltd. Дата публикации: 1991-04-30.

Method for cell selection for narrowband terminal and apparatus using same

Номер патента: US9380521B2. Автор: Joonkui Ahn,Yunjung Yi. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2016-06-28.

Component holding head, component mounting apparatus using same, and component mounting method

Номер патента: US20020124399A1. Автор: Shinichi Ogimoto. Владелец: Shibaura Mechatronics Corp. Дата публикации: 2002-09-12.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US20150208080A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2015-07-23.

Video encoding method, video decoding method, and apparatus using same

Номер патента: US20230353741A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon,Sangoh Jeong. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-11-02.

Image encoding and decoding method supporting plurality of layers and apparatus using same

Номер патента: US20160191928A1. Автор: Bae Keun Lee,Joo Young Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2016-06-30.

Stage apparatus, and charged particle beam apparatus using same

Номер патента: US20150053857A1. Автор: Akira Nishioka,Hiroshi Tsuji,Shuichi Nakagawa,Masaki Mizuochi. Владелец: Hitachi High Technologies Corp. Дата публикации: 2015-02-26.

Light-emitting module and display device using same

Номер патента: EP4379827A1. Автор: Nam Goo CHA,Seong Chan Park. Владелец: Seoul Viosys Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-05.

Image encoding and decoding method supporting plurality of layers and apparatus using same

Номер патента: US20180146203A1. Автор: Bae Keun Lee,Joo Young Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2018-05-24.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US20220132155A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2022-04-28.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US20180007377A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-01-04.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US20180352242A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2018-12-06.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US20230262245A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2023-08-17.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US20210112265A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2021-04-15.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US20170195684A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2017-07-06.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US20200068212A1. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2020-02-27.

Method for decoding image and apparatus using same

Номер патента: US11973965B2. Автор: Hendry Hendry,Jungsun Kim,Joonyoung Park,Chulkeun Kim,Byeongmoon Jeon. Владелец: LG ELECTRONICS INC. Дата публикации: 2024-04-30.

Engineered tcr complex and methods of using same

Номер патента: EP4380966A2. Автор: Muhammad YASSIN,Muneer SAWAIED. Владелец: Genicity Ltd. Дата публикации: 2024-06-12.

Method for deinterleaving ofdm signals and apparatus using the same

Номер патента: US20090213952A1. Автор: Shih Yi Yeh,Jia Ching Lee. Владелец: Ralink Technology Corp Taiwan. Дата публикации: 2009-08-27.

Mobile station and reception quality measurement method

Номер патента: US12132527B2. Автор: Seigo Nakao,Masayuki Hoshino,Ayako Horiuchi. Владелец: Panasonic Intellectual Property Corp of America. Дата публикации: 2024-10-29.

Method for inducing a merge candidate block and device using same

Номер патента: US09930359B2. Автор: Bae Keun Lee,Jae Cheol Kwon,Joo Young Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2018-03-27.

Measuring device and a measuring method for testing mobile-radio relay stations

Номер патента: US09642025B2. Автор: Christina Gessner,Juergen Schlienz. Владелец: Rohde and Schwarz GmbH and Co KG. Дата публикации: 2017-05-02.

Method for inducing a merge candidate block and device using same

Номер патента: US09578348B2. Автор: Bae Keun Lee,Jae Cheol Kwon,Joo Young Kim. Владелец: KT Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Non-contact temperature measurement method and device using same

Номер патента: CN102680128B. Автор: 武炜,林卫文,彭霭钳,叶小舟,刘劲旋. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-10-15.

OPTICAL MULTILAYER BODY, POLARIZATION PLATE USING SAME, AND IMAGE DISPLAY

Номер патента: US20120002397A1. Автор: . Владелец: Dai Nippon Printing Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

OPTICAL MEASURING APPARATUS AND SPECIMEN DISCRIMINATING AND DISPENSING APPARATUS

Номер патента: US20120004864A1. Автор: Takahashi Toru,Tsukii Ken,Xu Jie. Владелец: FURUKAWA ELECTRIC CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method and Apparatus Using Volume Holographic Wavelength Blockers

Номер патента: US20120002197A1. Автор: MOSER Christophe,HAVERMEYER Frank. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

TEST SIGNAL GENERATING DEVICE, SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS USING THE SAME AND MULTI-BIT TEST METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002491A1. Автор: . Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

LIGHT MODULE AND DISPLAY APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20120001895A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

IRRADIATING COIL AND MAGNETIC RESONANCE IMAGING APPARATUS USING THE SAME

Номер патента: US20120004532A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

DIVIDING WALL DISTILLATION COLUMNS FOR PRODUCTION OF HIGH-PURITY 2-ETHYLHEXANOL AND FRACTIONATION METHOD USING SAME

Номер патента: US20120004473A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

FLOW RATE MEASURING APPARATUS

Номер патента: US20120000280A1. Автор: KISHIKAWA Naoyuki,URAMACHI Hiroyuki,HIDAKA Shinichiro,Ariyoshi Yuji,TANIMOTO Koji,KAWAI Masahiro. Владелец: Mitsubishi Electric Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

POWER TRANSMISSION APPARATUS USING A PLANETARY GEAR

Номер патента: US20120004071A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.