Method for Generating Data Set for Training and Electronic Device Supporting the Same
Номер патента: US20240070851A1
Опубликовано: 29-02-2024
Автор(ы): Yeonghyeon PARK
Принадлежит: SK Planet Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 29-02-2024
Автор(ы): Yeonghyeon PARK
Принадлежит: SK Planet Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
System and method for generating training data sets for specimen defect detection
Номер патента: US11727672B1. Автор: John B. PUTMAN,Jonathan Lee,Anuj Doshi. Владелец: Nanotronics Imaging Inc. Дата публикации: 2023-08-15.