Method and apparatus for tracing the contour of a pattern
Номер патента: US3717847A
Опубликовано: 20-02-1973
Автор(ы): K Kakuta
Принадлежит: Iwatsu Electric Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 20-02-1973
Автор(ы): K Kakuta
Принадлежит: Iwatsu Electric Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method and image processing apparatus for image-based object feature description
Номер патента: US09996755B2. Автор: Chi-Yi Tsai,Hsien-Chen Liao. Владелец: Tamkang University. Дата публикации: 2018-06-12.