• Главная
  • Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, resist film using the same and pattern forming method

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, resist film using the same and pattern forming method

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and method for forming resist pattern

Номер патента: US20120070783A1. Автор: Hirokazu Sakakibara,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-03-22.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and method for producing monomeric compound

Номер патента: US11709428B2. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20190146340A1. Автор: Hiromu Miyata,Takehiko Naruoka,Motohiro SHIRATANI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Radiation-sensitive resin composition, method of forming resist pattern, polymer, and compound

Номер патента: US20220229367A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Satoshi Okazaki,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Radiation-sensitive resin composition, and method for forming pattern

Номер патента: US20220299875A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming pattern

Номер патента: US20240004288A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and method for producing monomeric compound

Номер патента: US20230280652A1. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20230236506A2. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220382152A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Radiation sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP5472300B2. Автор: 峰規 川上,裕介 浅野. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: WO2022172736A1. Автор: 龍一 根本. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2022-08-18.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JPWO2011108665A1. Автор: 恭彦 松田,峰規 川上,友洋 柿澤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-06-27.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: TW202233570A. Автор: 根本龍一. Владелец: 日商Jsr 股份有限公司. Дата публикации: 2022-09-01.

Radiation-sensitive resin composition and polymer

Номер патента: TW201136956A. Автор: Toru Kimura,Hiromitsu Nakashima,Masafumi Yoshida,Masafumi Hori,Kazuki Kasahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-11-01.

Radiation-sensitive resin composition and polymer

Номер патента: TW201142496A. Автор: Hiromitsu Nakashima,Masafumi Hori. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-12-01.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern-forming method and acid diffusion control agent

Номер патента: US20180321585A1. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: US20230273519A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20210124263A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20210389667A9. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-12-16.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20180329298A1. Автор: Hayato Namai,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-15.

Radiation-sensitive resin composition, method of forming resist pattern, and compound

Номер патента: US20220091508A1. Автор: Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming resist pattern, polymer, and compound

Номер патента: US20230393469A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Nozomi SAKANO. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265033B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-01-01.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20190243244A1. Автор: Naruoka Takehiko,KANEKO Tetsurou. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2019-08-08.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20180329298A1. Автор: NAMAI Hayato,Nishikori Katsuaki. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2018-11-15.

Radiation-sensitive resin composition, laminate and method for producing the same, and semiconductor device

Номер патента: TW201005019A. Автор: Yukie Isogai. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2010-02-01.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern formation method, and compound

Номер патента: WO2020246143A1. Автор: 克聡 錦織. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2020-12-10.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: KR20230076124A. Автор: 겐 마루야마. Владелец: 제이에스알 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2023-05-31.

Radiation sensitive resin composition, laminate, method for producing the same, and semiconductor device

Номер патента: JP5488460B2. Автор: 幸枝 磯貝. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2014-05-14.

Radiation-sensitive resin composition, display panel separator and displayer panel

Номер патента: TW200535568A. Автор: Toshihiro Nishio,Toru Kajita,Daigo Ichinohe,Tomoko Iwabuchi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2005-11-01.

Radiation-sensitive resin composition and formation of interlayer insulation film and microlens

Номер патента: TW200734816A. Автор: Hiroshi Shiho,Kenichi Hamada,Eiji Yoneda. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2007-09-16.

Radiation-sensitive resin composition and electronic device

Номер патента: US09880468B2. Автор: Takashi Tsutsumi. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20230367212A1. Автор: Keita Kato,Tetsuya Shimizu,Satomi Takahashi,Michihiro Shirakawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Pattern forming method and method for producing electronic device

Номер патента: US20240219831A1. Автор: Satomi Takahashi,Kazuhiro Marumo,Michihiro Shirakawa,Yohei Ishiji,Akiyoshi Goto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN-FORMING METHOD AND ACID DIFFUSION CONTROL AGENT

Номер патента: US20180321585A1. Автор: KINOSHITA Natsuko. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2018-11-08.

Radiation sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and compound

Номер патента: JP6421757B2. Автор: 準人 生井,仁視 大▲崎▼. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-14.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20210124263A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Radiation sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: WO2018230334A1. Автор: 哲朗 金子. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2018-12-20.

Photosensitive resin composition for optical waveguide formation and optical waveguide

Номер патента: US7394965B2. Автор: Yuuichi Eriyama,Hideaki Takase,Tomohiro Utaka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-07-01.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20230341772A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming pattern

Номер патента: US11966160B2. Автор: Ryuichi Nemoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-04-23.

Photosensitive resin composition

Номер патента: US6537719B1. Автор: Shuichi Takahashi. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2003-03-25.

Radiation-sensitive resin composition and pattern forming method

Номер патента: TW201202842A. Автор: Goji Wakamatsu,Jun-Ichirou Inaba. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-01-16.

Acrylic copolymer and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW200422309A. Автор: Hiroyuki Ishii,Hiroshi Yamaguchi,Yukio Nishimura,Kouichi Fujiwara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2004-11-01.

Method for producing radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US12122883B2. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Method for producing radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20220081518A1. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Production method for radiation-sensitive resin composition

Номер патента: EP3992713A1. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-05-04.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: US20240152048A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20170363961A9. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20220342307A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Hajime Inami,Kota FURUICH. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-10-27.

Actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition, actinic-ray- or radiation-sensitive film and pattern forming method

Номер патента: US20150355541A1. Автор: Kaoru Iwato. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20120202150A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-08-09.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20160363859A1. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-12-15.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20060223010A1. Автор: Takayuki Tsuji,Daisuke Shimizu,Tomoki Nagai,Kentarou Harada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-05.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20120219903A1. Автор: Mitsuo Sato,Hiromitsu Nakashima,Kazuo Nakahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US6342542B1. Автор: Satoshi Kobayashi,Haruhiko Itoh,Hidekazu Shioda. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2002-01-29.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220413385A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Natsuko Kinoshita,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20060234153A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Isao Nishimura,Yukio Nishimura,Eiichi Kobayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-19.

Radiation sensitive resin composition

Номер патента: US7078148B2. Автор: Hiroyuki Ishii,Atsushi Nakamura,Masafumi Yamamoto,Motoyuki Shima. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-07-18.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20090148790A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Isao Nishimura,Yukio Nishimura,Eiichi Kobayashi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US6048659A. Автор: Hiromichi Hara,Katsumi Inomata,Masaaki Inoue,Yoshiji Yumoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2000-04-11.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: IL174569A. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2010-11-30.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: IL174569A0. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-08-20.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20240094634A1. Автор: Takahiro Kawai,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Radiation-Sensitive Resin Composition, Resist Pattern Forming Method, and Acid Diffusion Control Agent

Номер патента: JP7140100B2. Автор: 克聡 錦織,聡司 岡嵜. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-09-21.

Radiation sensitive resin composition, resist pattern forming method, acid generator and compound

Номер патента: JP6421449B2. Автор: 裕介 浅野,孝和 木元,寛 冨岡. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-14.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: KR20220123377A. Автор: 류이치 네모토. Владелец: 제이에스알 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2022-09-06.

Radiation-sensitive resin composition and electronic component

Номер патента: US20200004145A1. Автор: Makoto Fujimura. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Radiation sensitive resin composition

Номер патента: US5494777A. Автор: Toshiyuki Ota,Shinji Shiraki,Masaaki Inoue,Hidetoshi Miyamoto,Takao Miura,Yoshiji Yumoto. Владелец: Japan Synthetic Rubber Co Ltd. Дата публикации: 1996-02-27.

Positive-type photosensitive resin composition, and insulating film and OLED formed using the same

Номер патента: US09921476B2. Автор: Se Hyung Park,Byoung Kee Kim. Владелец: KOLON INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2018-03-20.

Positive-type photosensitive resin composition, and insulating film and oled formed using the same

Номер патента: WO2013048069A9. Автор: Se Hyung Park,Byoung Kee Kim. Владелец: KOLON INDUSTRIES, INC.. Дата публикации: 2013-09-19.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180217503A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20210200097A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180217499A1. Автор: Shuji Hirano,Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: WO2011002102A1. Автор: Toru Fujimori,Kana Fujii. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2011-01-06.

N-sulfonyloxyimide compound and radiation-sensitive resin composition using the same

Номер патента: IL139513A0. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2001-11-25.

Radiation sensitive resin composition for roller coating and roller coating method

Номер патента: MY133351A. Автор: Yamamoto Kenji. Владелец: Az Electronic Mat Japan K K. Дата публикации: 2007-11-30.

Pattern forming method and actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition

Номер патента: EP2577397A1. Автор: Kaoru Iwato,Shuji Hirano,Sou Kamimura,Keita Kato,Hidenori Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-04-10.

Photopolymerizable radiation-sensitive resin composition and radiation-sensitive sheet material

Номер патента: US4370403A. Автор: Kiyofumi Takaki. Владелец: TAKLE BIRGER. Дата публикации: 1983-01-25.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and onium salt compound

Номер патента: US20230400765A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Nozomi SAKANO. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Radiation-sensitive resin composition and radiation-sensitive acid generating agent

Номер патента: US20130260316A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

Mask blank with resist film and method for manufacturing the same and method for manufacturing transfer mask

Номер патента: US20170168382A1. Автор: Toru Fukui. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2017-06-15.

Photosensitive resin composition and manufacturing method of semiconductor device using the same

Номер патента: US7368216B2. Автор: Kenichiro Sato,Tsukasa Yamanaka. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-05-06.

Radiation-sensitive resin composition, onium salt compound and method for forming resist pattern

Номер патента: US20190285983A1. Автор: Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Radiation-sensitive resin composition and compound

Номер патента: US8697335B2. Автор: Mitsuo Sato,Kazuo Nakahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Radiation-sensitive resin composition, compound and producing method of compound

Номер патента: US9120726B2. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-09-01.

Radiation-sensitive resin composition, compound and producing method of compound

Номер патента: US20120258399A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-10-11.

Photo-curable resin composition and photo-curable dry film using the same

Номер патента: US09971242B2. Автор: Kyoko Soga,Satoshi Asai,Hideto Kato. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-05-15.

Positive photosensitive resin composition and method for forming patterns by using the same

Номер патента: US20120287393A1. Автор: Chi-Ming Liu,Chun-An Shih. Владелец: Chi Mei Corp. Дата публикации: 2012-11-15.

Pattern forming method, method for producing electronic device, and kit

Номер патента: US20230333478A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265647A. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, and resist film and pattern forming method using the same

Номер патента: IL217702A0. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265647B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND COMPOUND

Номер патента: US20200102270A9. Автор: Nishikori Katsuaki,KINOSHITA Natsuko,FURUICHI Kouta. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2020-04-02.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern-forming method, polymer, and method for producing compound

Номер патента: US20150323866A1. Автор: Hayato Namai,Kota Nishino. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-11-12.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND COMPOUND

Номер патента: US20180319740A1. Автор: Nishikori Katsuaki,KINOSHITA Natsuko,FURUICHI Kouta. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2018-11-08.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and compound production method

Номер патента: JPWO2014148241A1. Автор: 準人 生井,晃太 西野. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-02-16.

Radiation sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and compound

Номер патента: JPWO2011125684A1. Автор: 浩光 中島,祐亮 庵野,光央 佐藤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-07-08.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and resist pattern-forming method

Номер патента: US20130203000A1. Автор: Yasuhiko Matsuda,Norihiko Sugie,Tomohiro Kakizawa,Takakazu Kimoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-08-08.

Radiation-sensitive resin composition, pattern-forming method, polymer, and compound

Номер патента: US20130260315A1. Автор: Mitsuo Sato,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20190146340A1. Автор: Naruoka Takehiko,MIYATA Hiromu,SHIRATANI Motohiro. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2019-05-16.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20170363961A9. Автор: NAMAI Hayato. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2017-12-21.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and resist pattern forming method

Номер патента: JPWO2012036250A1. Автор: 紀彦 杉江,恭彦 松田,友洋 柿澤,孝和 木元. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-02-03.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP6304246B2. Автор: 準人 生井. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-04-04.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern formation method, and polymer

Номер патента: TW201128315A. Автор: Mitsuo Satou,Tomohiro Kakizawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-08-16.

Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and resist film

Номер патента: IL228135B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20130323653A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and method for producing resist pattern

Номер патента: IL311594A. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Negative resist pattern-forming method, and composition for upper layer film formation

Номер патента: US20190004426A1. Автор: Sosuke OSAWA,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Negative resist pattern-forming method, and composition for upper layer film formation

Номер патента: US20160299432A1. Автор: Sosuke OSAWA,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-13.

Pattern forming method and actinic ray- or radiation-sensitive resin composition

Номер патента: JP7216040B2. Автор: 敬充 冨賀,文博 吉野,憲一 原田,真一 杉山. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-01-31.

Actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition and method of forming pattern using the composition

Номер патента: US20150093691A1. Автор: Akinori Shibuya. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20200117087A1. Автор: KANEKO Tetsurou. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2020-04-16.

Resist pattern-forming method, and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20140295350A1. Автор: Hirokazu Sakakibara,Masafumi Hori,Reiko Kimura,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-10-02.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20160363859A1. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-12-15.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: WO2023095561A1. Автор: 正之 三宅,龍一 根本,奈津美 北野. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2023-06-01.

Pattern forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201229067A. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Masafumi Hori,Reiko Kimura,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-07-16.

Pattern forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201232167A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Kouji Itou,Masafumi Hori,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-08-01.

Pattern-forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201211688A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Masafumi Hori,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-03-16.

Radiation sensitive resin composition

Номер патента: TW200401165A. Автор: Masakazu Shirakawa,Yoshiko Yako. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2004-01-16.

Radiation-sensitive resin composition for forming resist pattern

Номер патента: EP2485090B1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-12-23.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW200947123A. Автор: Takashi Takeda,Norihisa Notani. Владелец: Nagase Chemtex Corp. Дата публикации: 2009-11-16.

Method for forming resist film and charged particle beam writing method

Номер патента: US9633820B2. Автор: Takayuki Ohnishi,Hirohito Anze. Владелец: Nuflare Technology Inc. Дата публикации: 2017-04-25.

Pattern forming method, actinic-ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, and resist film

Номер патента: US8940476B2. Автор: Shuhei Yamaguchi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-01-27.

Negative type radiation sensitive resin composition

Номер патента: TWI301560B. Автор: Toshiyuki Kai,Daigo Ichinohe. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-10-01.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20180321589A1. Автор: Tomotaka Tsuchimura,Akihiro Kaneko,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Pattern forming method, kit, and resist composition

Номер патента: US20230350290A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: TW201120564A. Автор: Toru Fujimori,Kana Fujii. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition and method of forming pattern using the same

Номер патента: TW201207557A. Автор: Akinori Shibuya. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-02-16.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20130216948A1. Автор: HORI Masafumi,NAKASHIMA Hiromitsu,YOSHIDA Masafumi,Kasahara Kazuki. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-08-22.

ACTINIC-RAY-OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERN THEREWITH

Номер патента: US20130130178A1. Автор: Shibuya Akinori,Iizuka Yusuke. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2013-05-23.

PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20130224661A1. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi,KIMURA Reiko. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-08-29.

RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20130224666A1. Автор: SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi,KIMURA Reiko. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-08-29.

RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20130230803A1. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-09-05.

RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20130295506A1. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi,MIYATA Hiromu. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20140363766A9. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi,MIYATA Hiromu. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

Negative-type radiation-sensitive resin composition and pattern production method

Номер патента: JP3650985B2. Автор: 昌之 遠藤,功 西村. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2005-05-25.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP5581726B2. Автор: 晃雅 征矢野,芳史 大泉. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-09-03.

Resist pattern forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: JP5263453B2. Автор: 雅史 堀,泰一 古川,亘史 伊藤,宏和 榊原. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-08-14.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: WO2022190599A1. Автор: 研 丸山. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2022-09-15.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: WO2023153294A1. Автор: 剛 古川,甫 稲見,泰一 古川,龍一 根本,冬輝 柄川. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2023-08-17.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201009499A. Автор: Kaori Sakai,Akimasa Soyano,Takuma Ebata,Tsutomu Shimokawa,Noboru Otsuka,Yoshifumi Oizumi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2010-03-01.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TWI247966B. Автор: Masafumi Yamamoto,Eiichi Kobayashi,Mikio Yamachika,Jun Numata. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-01-21.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TWI246634B. Автор: Yukio Nishimura,Tsutomu Shimokawa,Toru Kajita,Katsuji Douki. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-01-01.

Photosensitive resin composition for color filter and application of the same

Номер патента: US09939568B2. Автор: Jung-Pin Hsu,Bo-Hsuan Lin. Владелец: Chi Mei Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180101100A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20240295822A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Satoru Murayama,Tetsuya Shimizu. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Rinsing liquid and pattern forming method

Номер патента: US20230132693A1. Автор: Satomi Takahashi,Toru Tsuchihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-05-04.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP5673670B2. Автор: 恭彦 松田,峰規 川上. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-18.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20160202608A1. Автор: NAMAI Hayato. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2016-07-14.

Pattern forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: JPWO2011158687A1. Автор: 雅史 堀,泰一 古川,宏和 榊原,岳史 石井. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-08-19.

Pattern formation method, and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201202850A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Takeshi Ishii,Masafumi Hori. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-01-16.

Positive photosensitive resin composition and method for forming patterns by using the same

Номер патента: US20140065526A1. Автор: kai-min Chen,Chun-An Shih. Владелец: Chi Mei Corp. Дата публикации: 2014-03-06.

Resin composition and display device including adhesive layer formed from the same

Номер патента: US20220204672A1. Автор: Keisuke Morita. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-06-30.

Photocurable resin composition and fabrication method of window member using the same

Номер патента: US20190177459A1. Автор: Daehwan Kim,Dongho Kim,Soyeon LEE,Jungho Ahn. Владелец: KCC Corp. Дата публикации: 2019-06-13.

Resin composition and display device including adhesive layer formed from the same

Номер патента: US20220213353A1. Автор: Keisuke Morita. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2022-07-07.

Resin composition and display device including adhesive layer formed from the same

Номер патента: US11739236B2. Автор: Keisuke Morita. Владелец: Samsung Display Co Ltd. Дата публикации: 2023-08-29.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150050600A9. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-19.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20170322492A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-11-09.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20140134544A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-05-15.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160320705A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-11-03.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160097978A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150160556A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-06-11.

Radiation-sensitive resin composition, active matrix substrate and method for producing the same

Номер патента: TW200905391A. Автор: Makoto Fujimura,Takeyoshi Kato,Azusa Wada,Yumi Osaku. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2009-02-01.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20150093703A1. Автор: NAMAI Hayato,HORI Masafumi,MIYATA Hiromu. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2015-04-02.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST-PATTERNING METHOD, AND BLOCK COPOLYMER

Номер патента: US20150093704A1. Автор: Osaki Hitoshi. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2015-04-02.

Radiation-sensitive resin composition, cured film, method for forming the same, and display element

Номер патента: JP6665528B2. Автор: 洋助 今野,徹 石部. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-03-13.

Epoxy resin composition for semiconductor encapsulation and semiconductor device using the same

Номер патента: US20110272828A1. Автор: Hironori Kobayashi. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2011-11-10.

Epoxy resin composition for semiconductor encapsulation and semiconductor device using the same

Номер патента: US8421249B2. Автор: Hironori Kobayashi. Владелец: Nitto Denko Corp. Дата публикации: 2013-04-16.

Thermoplastic resin composition and method of manufacturing molded article using the same

Номер патента: US12122892B2. Автор: Young Joo Kim,Myong Jo Ham,Gi Dae Choi,Oh Min Kwon. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Resin composition for automotive cable material and cable using the same

Номер патента: US10366807B2. Автор: Seung Woo Choi,Jae Ik JUNG,Dae Young Hwang. Владелец: Kyungshin Cable Co Ltd. Дата публикации: 2019-07-30.

Polyolefin-based resin composition and combination of resin molded articles using the same

Номер патента: MY143817A. Автор: Shigeru Murakami. Владелец: Prime Polymer Co Ltd. Дата публикации: 2011-07-15.

Polycarbonate resin composition for sliding use and molded article using the resin composition

Номер патента: EP2311911A1. Автор: Yasuhiro Ishikawa,Eiji Tamura. Владелец: Idemitsu Kosan Co Ltd. Дата публикации: 2011-04-20.

Polylactide resin composition excellent in crystallinity degree, and method for preparing the same

Номер патента: CA3221739A1. Автор: Jeong Hun Cho,Yujin An,Wan Kyu Oh,Minchang SUNG. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2023-09-28.

Polylactide resin composition excellent in crystallinity degree, and method for preparing the same

Номер патента: CA3220818A1. Автор: Jeong Hun Cho,Yujin An,Wan Kyu Oh,Minchang SUNG. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-09-28.

Polyamide Resin Compositions for Hydrogen Tank Liner and Product Prepared by the Same

Номер патента: US20240059893A1. Автор: Jae Min Kim,Heonkyu JEONG,Ki Bong CHUNG. Владелец: Kolon Plastics Inc. Дата публикации: 2024-02-22.

Resin composition for paint and coating film using the same

Номер патента: US9234114B2. Автор: Namjin Kim,Woo Chul Jung. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2016-01-12.

Resin composition for paint and coating film using the same

Номер патента: US20150166817A1. Автор: Namjin Kim,Woo Chul Jung. Владелец: Kia Motors Corp. Дата публикации: 2015-06-18.

Curable resin composition, and fuel cell and sealing method using the same

Номер патента: US20200321634A1. Автор: Masayuki Fukumoto,Tetsunori SOGA. Владелец: ThreeBond Co Ltd. Дата публикации: 2020-10-08.

Epoxy resin composition, and prepreg and printed circuit board using the same

Номер патента: US20110253433A1. Автор: Hsien-Te Chen. Владелец: Taiwan Union Technology Corp. Дата публикации: 2011-10-20.

Heat-developable light-sensitive material and image-forming method using the same

Номер патента: US20020110763A1. Автор: Toshio Kawagishi,Kazuhiko Matsumoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-08-15.

Nonvolatile semiconductor memory device using a variable resistance film and method of manufacturing the same

Номер патента: US8222075B2. Автор: Eiji Ito. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2012-07-17.

Epoxy resin composition for encapsulating semiconductor and semiconductor device using the same

Номер патента: TW201141937A. Автор: Junichi Tabei. Владелец: Sumitomo Bakelite Co. Дата публикации: 2011-12-01.

Thermoplastic resin composition and automobile interior part manufactured therefrom

Номер патента: EP4375330A1. Автор: Hyun Seok Lee,Gun KO,Sun Mo Son,Seonho KONG. Владелец: LG Chem Ltd. Дата публикации: 2024-05-29.

Method for producing encapsulated structure and epoxy resin composition

Номер патента: US20240182705A1. Автор: Makoto Matsuo,Hidetoshi Seki. Владелец: Sumitomo Bakelite Co Ltd. Дата публикации: 2024-06-06.

Red photosensitive resin composition for color filter and application of the same

Номер патента: US20140343185A1. Автор: Wei-Kai Ho. Владелец: Chi Mei Corp. Дата публикации: 2014-11-20.

Metal pattern forming method

Номер патента: US20070218695A1. Автор: Shinya Momose,Kazushige Hakeda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-09-20.

Pattern-formed substrate, pattern-forming method, and die

Номер патента: US20080233361A1. Автор: Shingo Imanishi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2008-09-25.

Metal oxy-nitride resistance films and methods of making the same

Номер патента: US5367285A. Автор: Philip R. Swinehart,S. Scott Courts,D. Scott Holmes. Владелец: Lake Shore Cryotronics Inc. Дата публикации: 1994-11-22.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM USING THE SAME AND PATTERN FORMING METHOD

Номер патента: US20120003586A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Radiation sensitive resin composition and color filter

Номер патента: SG141403A1. Автор: Tatsuyoshi Kawamoto,Kazuhiro Kobayashi,Masashi Arai,Ryu Matsumoto,Isamu Makihira. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-04-28.

ACTINIC-RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120164573A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-06-28.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120015302A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-19.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120094237A1. Автор: Fujimori Toru,FUJII Kana. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-04-19.

PATTERN FORMING METHOD, ACTINIC-RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM

Номер патента: US20120264054A1. Автор: Yamaguchi Shuhei. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-10-18.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive composition and pattern formation method using the composition

Номер патента: JP5292216B2. Автор: 孝之 伊藤. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-09-18.

IMAGE FORMING APPARATUS AND IMAGE FORMING METHOD

Номер патента: US20120002990A1. Автор: TAKEUCHI Toshifumi. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Epoxy resin composition, curing agent, and curing accelerator

Номер патента: US20120004349A1. Автор: Ono Kazuo,KANEKO Masami,AMANOKURA Natsuki,Kamegaya Naoyuki. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Radiation sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP5673038B2. Автор: 岳彦 成岡,光央 佐藤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-18.

ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM THEREFROM AND METHOD OF FORMING PATTERN THEREWITH

Номер патента: US20120034559A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-02-09.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method and compound

Номер патента: JP6926406B2. Автор: 準人 生井,晃太 西野. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-08-25.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and compound

Номер патента: JP6825249B2. Автор: 準人 生井,泰一 古川,奈津子 木下. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-02-03.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, and radiation-sensitive acid generator

Номер патента: JP7192589B2. Автор: 龍一 根本. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Radiation-sensitive resin composition for liquid immersion exposure and pattern forming method

Номер патента: JP2011095623A. Автор: 裕介 浅野,Yusuke Asano. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-05-12.

ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERN USING THE COMPOSITION

Номер патента: US20120094235A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-04-19.

ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERN USING THE COMPOSITION

Номер патента: US20120156618A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-06-21.

Polymer resin and radiation-sensitive resin composition using the same

Номер патента: JP5014873B2. Автор: 大樹 小林,均 真塩,克浩 丸山. Владелец: Gun Ei Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-29.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN FORMATION METHOD, AND POLYMER

Номер патента: US20120171612A1. Автор: KAKIZAWA Tomohiro,Satou Mitsuo. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-07-05.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP6451427B2. Автор: 仁視 大▲崎▼. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-01-16.

Polymer, radiation-sensitive resin composition, and resist pattern forming method

Номер патента: JP6264144B2. Автор: 準人 生井,仁視 大▲崎▼. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-01-24.

Polymer, radiation-sensitive resin composition, and resist pattern forming method

Номер патента: JP4848843B2. Автор: 幸生 西村,峰規 川上,賢二 星子. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-12-28.

Onium salt, radiation-sensitive acid generator and positive radiation-sensitive resin composition using the same

Номер патента: JP4810862B2. Автор: 英司 米田. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-11-09.

Resin composition, resin material, optical laminated film using the same, and optical device

Номер патента: JP4810793B2. Автор: 浩 内山,和彦 守澤,富夫 小林,正毅 香川. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2011-11-09.

Radiation-sensitive resin composition, insulating film, method for producing the same, and organic EL device

Номер патента: JP6447242B2. Автор: 博幸 安田,安田 博幸. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-01-09.

THERMOPLASTIC RESIN COMPOSITION, ADHESIVE FILM AND WIRING FILM USING THE SAME

Номер патента: US20120037410A1. Автор: AKUTSU Nobuhito,ABE Tomiya,AMOU Satoru,KUWABARA Kosuke. Владелец: . Дата публикации: 2012-02-16.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, MONOMER, POLYMER, AND PRODUCTION METHOD OF RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20120237876A1. Автор: MARUYAMA Ken. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-09-20.