• Главная
  • Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, resist film, and pattern-forming method using the same

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, resist film, and pattern-forming method using the same

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Pattern forming method, kit, and resist composition

Номер патента: US20230350290A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

Chemical liquid, chemical liquid storage body, pattern forming method, and kit

Номер патента: US11747727B2. Автор: Tetsuya Kamimura,Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Pattern forming method

Номер патента: US20170076940A1. Автор: Hideki Kanai,Yusuke KASAHARA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-16.

Pattern forming method

Номер патента: US20170178896A1. Автор: Shinichi Ito,Ryoichi Suzuki,Seiji Morita,Kazuto Matsuki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-22.

Pattern forming method

Номер патента: US10018915B2. Автор: Shinichi Ito,Ryoichi Suzuki,Seiji Morita,Kazuto Matsuki. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-07-10.

Gap filling composition and pattern forming method using composition containing polymer

Номер патента: US20200319556A1. Автор: Tatsuro Nagahara,Xiaowei Wang. Владелец: AZ Electronic Materials SARL. Дата публикации: 2020-10-08.

Chemical liquid, chemical liquid storage body, and pattern forming method

Номер патента: US20190346764A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-11-14.

Resist pattern-forming method and substrate-treating method

Номер патента: US20200218161A1. Автор: Ryuichi Serizawa,Tomoaki Seko,Nozomi SATOU,Yuusuke OOTSUBO,Tomoya TAJI,Souta NISHIMURA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-07-09.

Chemical liquid, pattern forming method, and kit

Номер патента: US20190258165A1. Автор: Takashi Nakamura,Tetsuya Kamimura,Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Pattern forming method

Номер патента: US10366888B2. Автор: Kazuki Yamada,Takehiro Seshimo,Masatoshi Yamato,Hidetami Yaegashi,Yoshitaka Komuro,Katsumi Ohmori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-07-30.

Pattern forming method and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US09897918B2. Автор: Shinichi Ito,Hirokazu Kato,Tomoyuki Takeishi. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-02-20.

Pattern forming method by imparting hydrogen atoms and selectively depositing metal film

Номер патента: US5861233A. Автор: Yasuhiro Sekine,Hiroshi Yuzurihara,Genzo Momma. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 1999-01-19.

Pattern-forming method

Номер патента: US20170184960A1. Автор: Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka,Tomohisa Fujisawa,Motohiro SHIRATANI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Pattern-forming method

Номер патента: US20180017864A9. Автор: Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka,Tomohisa Fujisawa,Motohiro SHIRATANI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-01-18.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180217503A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20210200097A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180217499A1. Автор: Shuji Hirano,Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Pattern forming method and actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition

Номер патента: EP2577397A1. Автор: Kaoru Iwato,Shuji Hirano,Sou Kamimura,Keita Kato,Hidenori Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-04-10.

Pattern forming method

Номер патента: US20170068162A1. Автор: Yusuke KASAHARA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-03-09.

Pattern-forming method

Номер патента: US09847232B1. Автор: Kristin Schmidt,Chi-chun Liu,Hitoshi Osaki. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-12-19.

Pattern forming method and developer

Номер патента: US20200401043A1. Автор: Makoto Shimizu,Ryo Kawajiri,Noboru Ootsuka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-12-24.

Pattern forming method

Номер патента: US9437477B1. Автор: Makoto Aida. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-09-06.

Pattern forming method

Номер патента: US20170184958A1. Автор: Koji Matsuo,Daisuke Kawamura,Masanobu Baba,Taishi ISHIKURA,Tatsuro SHINOZAKI. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Pattern forming method

Номер патента: US09880464B2. Автор: Koji Matsuo,Daisuke Kawamura,Masanobu Baba,Taishi ISHIKURA,Tatsuro SHINOZAKI. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Pattern forming method

Номер патента: US20160071740A1. Автор: Yoshihiro Naka,Katsuyoshi Kodera. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-10.

Chemical liquid supply method and pattern forming method

Номер патента: US20230229078A1. Автор: Masahiro Yoshidome. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-07-20.

Pattern forming method, imprint apparatus, and article manufacturing method

Номер патента: US11840010B2. Автор: Ryohei Suzuki. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2023-12-12.

Pattern forming method

Номер патента: US9412618B2. Автор: Eiichi Nishimura,Fumiko Yamashita,Shinya Morikita. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-08-09.

Pattern forming method

Номер патента: US20160042970A1. Автор: Eiichi Nishimura,Fumiko Yamashita,Shinya Morikita. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2016-02-11.

Actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition and method of forming pattern using the same

Номер патента: TW201207557A. Автор: Akinori Shibuya. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-02-16.

Radiation sensitive resin composition for roller coating and roller coating method

Номер патента: MY133351A. Автор: Yamamoto Kenji. Владелец: Az Electronic Mat Japan K K. Дата публикации: 2007-11-30.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150050600A9. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-19.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20170322492A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-11-09.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20140134544A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-05-15.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160320705A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-11-03.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160097978A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150160556A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-06-11.

Pattern forming method

Номер патента: US20100021850A1. Автор: Hiroko Nakamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-01-28.

Pattern forming method, semiconductor device manufacturing method, and pattern forming apparatus

Номер патента: US20230298888A1. Автор: Satoshi MITSUGI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-09-21.

Pattern forming method, combined processing apparatus, and recording medium

Номер патента: US20230089980A1. Автор: Noriko Sakurai,Kosuke TAKAI. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-03-23.

Pattern-forming method

Номер патента: US20190259606A1. Автор: Shinichi Ito,Ryuichi Saito,Ryoichi Suzuki,Seiji Morita,Soichi Inoue,Ryosuke Yamamoto,Takeharu Motokawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Pattern-forming method

Номер патента: US10811252B2. Автор: Shinichi Ito,Ryuichi Saito,Ryoichi Suzuki,Seiji Morita,Soichi Inoue,Ryosuke Yamamoto,Takeharu Motokawa. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-10-20.

Pattern forming method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11798806B2. Автор: Yusuke KASAHARA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-24.

Pattern forming method, template manufacturing method, and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20230420291A1. Автор: Masatoshi Terayama. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-28.

Pattern forming method, manufacturing method of semiconductor device, and semiconductor device

Номер патента: US20240096644A1. Автор: Katsuyoshi Kodera,Koki Ueha. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Pattern-forming method

Номер патента: US20170003592A1. Автор: Junya Suzuki,Hiromitsu Tanaka,Masayoshi Ishikawa,Yoshio Takimoto,Tomoaki Seko,Tomoharu KAWAZU. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-01-05.

Pattern-forming method and composition

Номер патента: US20170351174A1. Автор: Hitoshi Osaki. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-12-07.

Pattern-forming method and composition for resist pattern-refinement

Номер патента: US20160291462A1. Автор: Ken Maruyama,Yusuke Anno,Kanako MEYA,Shuto MORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-06.

Pattern forming method and pattern structural body

Номер патента: US20170168388A1. Автор: Masahiko Akiyama. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-06-15.

Pattern forming method, semiconductor device manufacturing method, and template

Номер патента: US20230408935A1. Автор: Anupam Mitra. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-12-21.

Pattern forming method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20160079076A1. Автор: Hiroshi Yamamoto,Mitsuhiro Omura,Tsubasa IMAMURA. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-17.

Lithography apparatus, pattern forming method, and method for manufacturing product

Номер патента: US20170075229A1. Автор: Masanori Yamada. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2017-03-16.

Pattern forming method capable of minimizing deviation of an inversion pattern

Номер патента: US09887099B2. Автор: Hiroyuki Nagai. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2018-02-06.

Pattern forming method

Номер патента: US20170125262A1. Автор: Hiroyuki Nagai. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-05-04.

Pattern forming method

Номер патента: EP2413194A2. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinichi Kanna. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-02-01.

Pattern forming method and pattern forming apparatus

Номер патента: US20140300018A1. Автор: Ikuo Yoneda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-10-09.

Pattern forming method and pattern forming apparatus

Номер патента: US20160318234A1. Автор: Ikuo Yoneda. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-11-03.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180101100A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-04-12.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20240295822A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Satoru Murayama,Tetsuya Shimizu. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Pattern forming method

Номер патента: US09891526B2. Автор: Toru Kimura,Yoshio Takimoto,Kazunori Takanashi,Shunsuke Kurita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US09874816B2. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Radiation-sensitive resin composition and compound

Номер патента: US8697335B2. Автор: Mitsuo Sato,Kazuo Nakahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20220342307A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Hajime Inami,Kota FURUICH. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-10-27.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20170363961A9. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Radiation-sensitive resin composition, compound and producing method of compound

Номер патента: US9120726B2. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-09-01.

Radiation-sensitive resin composition, compound and producing method of compound

Номер патента: US20120258399A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-10-11.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20220179312A1. Автор: Toru Tsuchihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-09.

Pattern forming method and resist laminate for organic solvent development

Номер патента: US20210200098A1. Автор: Michihiro Shirakawa,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Graft pattern forming method and conductive pattern forming method

Номер патента: MY142216A. Автор: Koichi Kawamura,Yasuaki Matsushita. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2010-11-15.

Graft pattern forming method and conductive pattern forming method

Номер патента: WO2006123834A3. Автор: Koichi Kawamura,Yasuaki Matsushita. Владелец: Yasuaki Matsushita. Дата публикации: 2007-04-19.

Rinsing liquid for lithography and pattern forming method using same

Номер патента: US20160109805A1. Автор: Go Noya,Yuriko Matsuura,Sara TSUYUKI. Владелец: AZ Electronic Materials Luxembourg SARL. Дата публикации: 2016-04-21.

Chemical liquid and pattern forming method

Номер патента: US20240231236A1. Автор: Tetsuya Shimizu,Satomi Takahashi,Michihiro Shirakawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-11.

Exposure apparatus and wiring pattern forming method

Номер патента: US20230400773A1. Автор: Masaki Kato,Yasushi Mizuno. Владелец: Nikon Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20130323653A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition, actinic-ray- or radiation-sensitive film and pattern forming method

Номер патента: US20150355541A1. Автор: Kaoru Iwato. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20120202150A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-08-09.

Negative resist pattern-forming method, and composition for upper layer film formation

Номер патента: US20190004426A1. Автор: Sosuke OSAWA,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Negative resist pattern-forming method, and composition for upper layer film formation

Номер патента: US20160299432A1. Автор: Sosuke OSAWA,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-13.

Photosensitive resin composition, pattern forming method, cured film, laminate, and device

Номер патента: US12078929B2. Автор: Toshihide Aoshima,Kenta Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20160363859A1. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-12-15.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and method for forming resist pattern

Номер патента: US20120070783A1. Автор: Hirokazu Sakakibara,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-03-22.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and method for producing monomeric compound

Номер патента: US11709428B2. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220413385A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Natsuko Kinoshita,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Radiation-sensitive resin composition, method of forming resist pattern, polymer, and compound

Номер патента: US20220229367A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Satoshi Okazaki,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Resist pattern-forming method, and radiation-sensitive composition and production method thereof

Номер патента: US20200333707A1. Автор: Ken Maruyama,Miki TAMADA,Sousuke OOSAWA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-10-22.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US09939729B2. Автор: Tomoki Nagai,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Radiation-sensitive resin composition, and method for forming pattern

Номер патента: US20220299875A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20230341772A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device using same

Номер патента: US20170146908A1. Автор: Keita Kato,Michihiro Shirakawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-05-25.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming pattern

Номер патента: US20240004288A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and method for producing monomeric compound

Номер патента: US20230280652A1. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20190146340A1. Автор: Hiromu Miyata,Takehiko Naruoka,Motohiro SHIRATANI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Photosensitive resin composition, pattern forming method, cured film, laminate, and device

Номер патента: US20210302835A1. Автор: Toshihide Aoshima,Kenta Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-09-30.

Photosensitive resin composition, pattern forming method, cured film, multilayer body and device

Номер патента: EP3893053A1. Автор: Toshihide Aoshima,Kenta Yamazaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-10-13.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming pattern

Номер патента: US11966160B2. Автор: Ryuichi Nemoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-04-23.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US10534264B2. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-14.

Resist composition and resist pattern forming method

Номер патента: US20180224742A1. Автор: Tsuyoshi Nakamura,Kazuishi Tanno,Junyeob Lee. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2018-08-09.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20230236506A2. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20240094634A1. Автор: Takahiro Kawai,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220382152A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Pattern-forming method

Номер патента: WO2013061601A1. Автор: Hiroki Nakagawa,Kentaro Harada,Hayato Namai,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-05-02.

Pre-wet liquid, resist film forming method, pattern forming method, and kit

Номер патента: US20220197137A1. Автор: Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-06-23.

Pattern-forming method

Номер патента: US20140255854A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-09-11.

Radiation sensitive composition and resist pattern forming method

Номер патента: EP3667419A1. Автор: Hisashi Nakagawa,Yusuke Asano,Shinya Minegishi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-06-17.

Pattern forming method

Номер патента: US4824766A. Автор: Kazufumi Ogawa. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1989-04-25.

Pattern-forming method and radiation-sensitive composition

Номер патента: US20210181627A1. Автор: Christopher K. Ober,Emmanuel P. Giannelis,Kazunori Sakai,Vasiliki Kosma. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-06-17.

Pattern-forming method

Номер патента: US20170184961A1. Автор: Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka,Motohiro SHIRATANI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Pattern forming methods and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20140038318A1. Автор: Hironobu Sato. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-02-06.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20170329228A1. Автор: Hiromitsu Nakashima,Tomohiko Sakurai,Sousuke OOSAWA,Kousuke TERAYAMA. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-11-16.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20230367212A1. Автор: Keita Kato,Tetsuya Shimizu,Satomi Takahashi,Michihiro Shirakawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Pattern forming method and method for producing electronic device

Номер патента: US20240219831A1. Автор: Satomi Takahashi,Kazuhiro Marumo,Michihiro Shirakawa,Yohei Ishiji,Akiyoshi Goto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Composition for pattern formation, and pattern-forming method

Номер патента: US20150253671A1. Автор: Yuji Namie,Tomoki Nagai,Hiroyuki Komatsu,Shinya Minegishi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-09-10.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern-forming method and acid diffusion control agent

Номер патента: US20180321585A1. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Radiation-sensitive resin composition, method of forming resist pattern, and compound

Номер патента: US20220091508A1. Автор: Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: US20230273519A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming resist pattern, polymer, and compound

Номер патента: US20230393469A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Nozomi SAKANO. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20180329298A1. Автор: Hayato Namai,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-15.

Pattern forming method and template manufacturing method

Номер патента: US11809082B2. Автор: Mitsuru Kondo. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-11-07.

Pattern forming method, method for producing electronic device, and kit

Номер патента: US20230333478A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Rinsing liquid and pattern forming method

Номер патента: US20230132693A1. Автор: Satomi Takahashi,Toru Tsuchihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-05-04.

Shrink material and pattern forming process

Номер патента: EP3032333A3. Автор: Jun Hatakeyama,Satoshi Watanabe,Daisuke Domon,Kentaro Kumaki. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-09-07.

Shrink material and pattern forming process

Номер патента: US09904172B2. Автор: Kenji Yamada,Satoshi Watanabe,Koji Hasegawa,Daisuke Domon,Kentaro Kumaki. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-27.

Pattern forming method

Номер патента: US20170184972A1. Автор: Hidetami Yaegashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-06-29.

Pattern forming method

Номер патента: US10539876B2. Автор: Hidetami Yaegashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2020-01-21.

Onium salt, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US20200102271A1. Автор: Masaki Ohashi,Yuki Suka,Kazuya HONDA,Yuki Kera. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-02.

Photosensitive resin composition and pattern forming process

Номер патента: US20200026189A1. Автор: Hitoshi Maruyama,Tamotsu Oowada. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-01-23.

Patterns forming method

Номер патента: US09929019B2. Автор: Kuo-Yao Chou. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Pattern forming method for forming a pattern

Номер патента: US10317797B2. Автор: Takehiro Seshimo,Kenichi Oyama,Hidetami Yaegashi,Yoshitaka Komuro,Katsumi Ohmori. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2019-06-11.

Exposure pattern forming method and exposure pattern

Номер патента: US20050174557A1. Автор: Kazuhisa Ogawa,Hidetoshi Ohnuma. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-08-11.

Patterns forming method

Номер патента: US20170294317A1. Автор: Kuo-Yao Chou. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2017-10-12.

Exposure pattern forming method and exposure pattern

Номер патента: US20050204330A1. Автор: Kazuhisa Ogawa,Hidetoshi Ohnuma. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2005-09-15.

Fine pattern forming method

Номер патента: US20060204899A1. Автор: Akitaka Shimizu,Masato Kushibiki. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2006-09-14.

Pattern forming method and pattern forming apparatus

Номер патента: US20160243753A1. Автор: Yoshihisa Kawamura,Masayuki Hatano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-25.

Pattern forming method and pattern forming device

Номер патента: US20120049396A1. Автор: Osamu Ikenaga,Tomohiro Tsutsui,Ryoichi Inanami. Владелец: Individual. Дата публикации: 2012-03-01.

Fine pattern forming method and stamper

Номер патента: US20090017266A1. Автор: Kyosuke Deguchi. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2009-01-15.

Imprint pattern forming method

Номер патента: US8444889B2. Автор: Ikuo Yoneda,Ryoichi Inanami,Hiroshi Tokue. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-05-21.

Pattern forming method

Номер патента: US20100237045A1. Автор: Ikuo Yoneda,Takeshi Koshiba,Tetsuro Nakasugi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-09-23.

Pattern forming method

Номер патента: US9046763B2. Автор: Ikuo Yoneda,Takeshi Koshiba,Tetsuro Nakasugi. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-06-02.

Onium salt, resist composition, and pattern forming process

Номер патента: US20240361688A1. Автор: Masahiro Fukushima. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Monomers, photoresist resins, photoresist resin compositions, and pattern forming method

Номер патента: US20200089115A1. Автор: Kazuhiro Uehara,Takashi Maruyama,Akira Eguchi. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2020-03-19.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US7338744B2. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinji Tarutani. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-03-04.

Organic anti-reflective coating composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US20050014094A1. Автор: Sam Kim,Geun Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-01-20.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US20060194148A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinji Tarutani. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-08-31.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20060223010A1. Автор: Takayuki Tsuji,Daisuke Shimizu,Tomoki Nagai,Kentarou Harada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-05.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20120219903A1. Автор: Mitsuo Sato,Hiromitsu Nakashima,Kazuo Nakahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US6342542B1. Автор: Satoshi Kobayashi,Haruhiko Itoh,Hidekazu Shioda. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2002-01-29.

Resin composition for forming replica mold, replica mold and pattern forming method using said replica mold

Номер патента: US20190329457A1. Автор: Hiroto Miyake,Kiyoharu Tsutsumi. Владелец: Daicel Corp. Дата публикации: 2019-10-31.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20060234153A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Isao Nishimura,Yukio Nishimura,Eiichi Kobayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-19.

Radiation sensitive resin composition

Номер патента: US7078148B2. Автор: Hiroyuki Ishii,Atsushi Nakamura,Masafumi Yamamoto,Motoyuki Shima. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-07-18.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20090148790A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Isao Nishimura,Yukio Nishimura,Eiichi Kobayashi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US6048659A. Автор: Hiromichi Hara,Katsumi Inomata,Masaaki Inoue,Yoshiji Yumoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2000-04-11.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: IL174569A. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2010-11-30.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: IL174569A0. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-08-20.

Radiation sensitive resin composition

Номер патента: US5494777A. Автор: Toshiyuki Ota,Shinji Shiraki,Masaaki Inoue,Hidetoshi Miyamoto,Takao Miura,Yoshiji Yumoto. Владелец: Japan Synthetic Rubber Co Ltd. Дата публикации: 1996-02-27.

Photocurable composition for imprints, pattern forming method, and method for manufacturing device

Номер патента: US20170285468A1. Автор: Hirotaka Kitagawa,Yuichiro Goto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-10-05.

Curable composition, pattern forming method, pattern, and method for manufacturing device

Номер патента: US20170190820A1. Автор: Hirotaka Kitagawa,Yuichiro Goto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-07-06.

Image forming methods, pattern forming methods, pattern forming material and planographic printing plate

Номер патента: EP1475230A3. Автор: Koichi Kawamura,Takeyoshi Kano. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-03-25.

Semiconductor device manufacturing method and resist pattern forming method

Номер патента: US9437637B2. Автор: MASAHIKO KONDO,Nobutaka Ukigaya,Koji Hara,Satoshi Yoshizaki,Atsushi Kanome. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, and resist film and pattern forming method using the same

Номер патента: IL217702A0. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Resin composition, and resist film and pattern forming method using the composition

Номер патента: TW201205197A. Автор: Hideaki Tsubaki,Tomotaka Tsuchimura,Toshiya Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-02-01.

Positive resist composition and pattern forming method using the resist composition

Номер патента: EP1693705B1. Автор: Yasutomo Kawanishi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2014-01-22.

Pattern forming method and template manufacturing method

Номер патента: US20210088906A1. Автор: Hideaki Sakurai,Noriko Sakurai,Takeharu Motokawa,Ryu Komatsu. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Radiation-sensitive resin composition and electronic device

Номер патента: US09880468B2. Автор: Takashi Tsutsumi. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20210124263A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20210389667A9. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-12-16.

Pattern forming method, template manufacturing method, and photomask manufacturing method

Номер патента: US20220091499A1. Автор: Yoshinori Kagawa. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Pattern forming method

Номер патента: US20140231380A1. Автор: Yuriko Seino,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-08-21.

Pattern-forming method

Номер патента: US09971247B2. Автор: Tomoki Nagai,Akihiro Oshima,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka,Seiji Nagahara,Seiichi Tagawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2018-05-15.

Pattern-forming method and composition

Номер патента: US09921474B2. Автор: Kanako FUKAMI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-03-20.

Pattern-forming method

Номер патента: US20170052450A1. Автор: Tomoki Nagai,Akihiro Oshima,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka,Seiji Nagahara,Seiichi Tagawa. Владелец: Osaka University NUC. Дата публикации: 2017-02-23.

Pattern forming method

Номер патента: US20160060410A1. Автор: Hitoshi Kubota,Katsutoshi Kobayashi,Yusuke KASAHARA,Ayako KAWANISHI,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-03-03.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: WO2011002102A1. Автор: Toru Fujimori,Kana Fujii. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2011-01-06.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20180321589A1. Автор: Tomotaka Tsuchimura,Akihiro Kaneko,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20190258168A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Michihiro Shirakawa,Tadashi OOMATSU. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-08-22.

Lithography pattern forming method using self-organizing block copolymer

Номер патента: US09816004B2. Автор: Yusuke KASAHARA,Ayako KAWANISHI,Hiroki YONEMITSU. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2017-11-14.

Pattern forming method

Номер патента: US20040265745A1. Автор: Hirokazu Kato,Yasunobu Onishi,Tsuyoshi Shibata,Daisuke Kawamura,Koutaro Sho. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-30.

Pattern-forming method, and composition

Номер патента: US20200357633A1. Автор: Masafumi Hori,Tomoki Nagai,Hiroyuki Komatsu,Tomohiro Oda,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-11-12.

Pattern-forming method and composition

Номер патента: US20190235386A1. Автор: Masafumi Hori,Hiroyuki Komatsu,Tomohiro Oda,Takehiko Naruoka,Hitoshi Osaki. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-08-01.

Pattern-forming method, and composition

Номер патента: US20180342387A1. Автор: Masafumi Hori,Tomoki Nagai,Hiroyuki Komatsu,Tomohiro Oda,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-29.

Pattern forming method, manufacturing method of circuit board, and laminate

Номер патента: US20230305403A1. Автор: Morimasa Sato,Soji Ishizaka,Akio Katayama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-09-28.

Resist composition and pattern forming process

Номер патента: US20240310725A1. Автор: Jun Hatakeyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Fine pattern forming method

Номер патента: US5476753A. Автор: Kazuhiko Hashimoto,Masayuki Endo. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1995-12-19.

Method of designing an exposure mask, exposure method, pattern forming method and device manufacturing method

Номер патента: EP1642171B1. Автор: Takako Yamaguchi,Yasuhisa Inao. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-15.

Pattern forming method, droplet ejecting device, and electro-optic device

Номер патента: US20080170092A1. Автор: Kohei Ishida. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-07-17.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265033B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-01-01.

Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and resist film

Номер патента: IL228135B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and method for producing resist pattern

Номер патента: IL311594A. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Protective film-forming composition for immersion exposure and pattern-forming method using the same

Номер патента: TWI372945B. Автор: Hiromi Kanda. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-09-21.

RESIN COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20150118623A1. Автор: IWATO Kaoru,Tsuchimura Tomotaka,TSURUTA Takuya. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2015-04-30.

Resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: WO2014017268A1. Автор: Kaoru Iwato,Tomotaka Tsuchimura,Takuya TSURUTA. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2014-01-30.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: US20240152048A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Pattern forming method using contrast enhanced material

Номер патента: US4849323A. Автор: Kazufumi Ogawa,Masayuki Endo,Masaru Sasago. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 1989-07-18.

Pattern forming method and method of manufacturing liquid crystal display device

Номер патента: US5795686A. Автор: Hideaki Takizawa,Shougo Hayashi. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 1998-08-18.

Rinse solution for pattern formation and pattern forming process

Номер патента: US20160154312A1. Автор: Tsutomu Ogihara,Jun Hatakeyama,Daisuke Kori. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2016-06-02.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265647A. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Pattern forming method, actinic-ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, and resist film

Номер патента: US8940476B2. Автор: Shuhei Yamaguchi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-01-27.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265647B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

Photocurable resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP4770354B2. Автор: 賢 沢辺,雅彦 荻野,誠 鍛治,華子 頼. Владелец: Resonac Corp. Дата публикации: 2011-09-14.

Titanocene based compound, photosensitive composition, photosensitive transfer sheet and pattern forming method

Номер патента: US20070212642A1. Автор: Takekatsu Sugiyama. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2007-09-13.

Positive resist compostion and pattern forming method using the same

Номер патента: EP1975717A2. Автор: Kazuyoshi Mizutani,Shuji Hirano. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-10-01.

Pattern forming method and substance adherence pattern

Номер патента: EP1431821B1. Автор: Koichi Kawamura,Takeyoshi Kano. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2007-02-14.

Photosensitive resin composition, laminate, and pattern forming process

Номер патента: US12055853B2. Автор: Michihiro Sugo,Kumiko Hayashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Laser-decomposable resin composition and pattern-forming material using the same

Номер патента: US20080268371A1. Автор: Yoshinori Taguchi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-10-30.

Photosensitive resin composition, laminate, and pattern forming process

Номер патента: US20200209751A1. Автор: Michihiro Sugo,Kumiko Hayashi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-07-02.

Positive resist composition for electron beam, x-ray or euv and pattern forming method using the same

Номер патента: US20090246685A1. Автор: Katsuhiro Yamashita. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Positive resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: TW200643628A. Автор: Hideaki Tsubaki,Shinji Tarutani. Владелец: Fuji Photo Film Co Ltd. Дата публикации: 2006-12-16.

Resist composition and pattern forming method using the same

Номер патента: US20080081282A1. Автор: Kenji Wada,Sou Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2008-04-03.

Method for producing radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US12122883B2. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Radiation-sensitive resin composition, onium salt compound and method for forming resist pattern

Номер патента: US20190285983A1. Автор: Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Method for producing radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20220081518A1. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Production method for radiation-sensitive resin composition

Номер патента: EP3992713A1. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-05-04.

Pattern forming method, photomask substrate creation method, photomask creation method, and photomask

Номер патента: US20210341830A1. Автор: Shoji Mimotogi,Yukio Oppata. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-11-04.

Pattern forming method and system, and method of manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US20080276216A1. Автор: Toshiya Kotani,Ayako Nakano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2008-11-06.

Photosensitive insulating resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JPWO2010001779A1. Автор: 勝美 前田,前田 勝美. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2011-12-22.

Pattern forming method

Номер патента: US20150079794A1. Автор: Hiroki Tanaka,Naoko Kihara,Ryosuke Yamamoto. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-03-19.

Pattern forming method, under coating agent, and laminate

Номер патента: US20200048491A1. Автор: Kimiko Hattori,Kazuyo MORITA. Владелец: Oji Holdings Corp. Дата публикации: 2020-02-13.

Photopolymerizable radiation-sensitive resin composition and radiation-sensitive sheet material

Номер патента: US4370403A. Автор: Kiyofumi Takaki. Владелец: TAKLE BIRGER. Дата публикации: 1983-01-25.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: TW201120564A. Автор: Toru Fujimori,Kana Fujii. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

Etching pattern forming method in semiconductor manufacturing process

Номер патента: US12094719B2. Автор: Seung Hyun Lee,Su Jin Lee,Seung Hun Lee,Gi Hong Kim. Владелец: Youngchang Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Patterning material, patterning composition, and pattern forming method

Номер патента: US20240034930A1. Автор: Yu Zhang,Lei Zhang,Di Wang,Xiaofeng YI. Владелец: Huawei Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-02-01.

Pattern forming method

Номер патента: EP4332677A1. Автор: Seiichiro Tachibana,Takeru Watanabe,Daisuke Kori,Takashi Sawamura. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-06.

Pattern Forming Method

Номер патента: US20240103365A1. Автор: Seiichiro Tachibana,Takeru Watanabe,Daisuke Kori,Takashi Sawamura. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-03-28.

Pattern forming method, mold and data processing method

Номер патента: US8722535B2. Автор: Masafumi Asano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2014-05-13.

Pattern forming method, mold and data processing method

Номер патента: US20130323925A1. Автор: Masafumi Asano. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Photomask, method of producing it and pattern forming method using the photomask

Номер патента: US20040121244A1. Автор: Akio Misaka. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-06-24.

Mask and pattern forming method

Номер патента: US20130137015A1. Автор: Tomotaka Higaki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-05-30.

Pattern forming method and phase shift mask manufacturing method

Номер патента: US20070187361A1. Автор: Hideki Suda. Владелец: Hoya Corp. Дата публикации: 2007-08-16.

Fine resist pattern-forming composition and pattern forming method using same

Номер патента: IL240745B. Автор: . Владелец: Az Electronic Mat Luxembourg Sarl. Дата публикации: 2018-05-31.

Near field exposure mask, method of forming resist pattern using the mask, and method of producing device

Номер патента: US7968256B2. Автор: Toshiki Ito,Natsuhiko Mizutani,Akira Terao. Владелец: Canon Inc. Дата публикации: 2011-06-28.

Radiation-sensitive resin composition and electronic component

Номер патента: US20200004145A1. Автор: Makoto Fujimura. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and onium salt compound

Номер патента: US20230400765A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Nozomi SAKANO. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Radiation-sensitive resin composition and radiation-sensitive acid generating agent

Номер патента: US20130260316A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

Composition for nanoimprint and nanoimprint pattern forming method

Номер патента: US20160306276A1. Автор: Kenri KONNO. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2016-10-20.

Conjugate polymer pattern forming composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP3984586B2. Автор: 相均 李,基鎔 宋. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2007-10-03.

Pattern forming method

Номер патента: US20130157437A1. Автор: Seiro Miyoshi,Koichi Matsuno,Yoshihiro Yanai. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2013-06-20.

Photosensitive resin composition, photosensitive dry film, and pattern forming process

Номер патента: EP3640289A1. Автор: Hitoshi Maruyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-22.

Negative photosensitive insulating resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JPWO2010087232A1. Автор: 勝美 前田,前田 勝美. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2012-08-02.

Photomask and pattern forming method using photomask

Номер патента: US9507252B2. Автор: Akio Misaka. Владелец: Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd. Дата публикации: 2016-11-29.

Disc streak pattern forming method and apparatus

Номер патента: US5800253A. Автор: Kiyoshi Ikemoto. Владелец: SpeedFam Co Ltd. Дата публикации: 1998-09-01.

Pattern forming method

Номер патента: US20140094034A1. Автор: Kenichi Oyama,Hidetami Yaegashi. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2014-04-03.

Servo pattern forming method of hard disk drive

Номер патента: US20100297364A1. Автор: Cheol-soon Kim,Ha Yong Kim,Yoon Chul CHO. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2010-11-25.

Pattern forming method and manufacturing method of magnetic recording medium

Номер патента: US9412405B2. Автор: Akira Watanabe,Akira Fujimoto,Kaori Kimura. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2016-08-09.

Pattern forming method

Номер патента: US20120148959A1. Автор: Sang-Hee Lee,Jin Choi,Byung-gook Kim,Hee-Bom Kim. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2012-06-14.

Concave/convex pattern forming method and information recording medium manufacturing method

Номер патента: US20070199920A1. Автор: Minoru Fujita,Mitsuru Takai,Akimasa Kaizu. Владелец: TDK Corp. Дата публикации: 2007-08-30.

Pattern forming method and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11024510B2. Автор: Tsubasa IMAMURA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-06-01.

Pattern forming method, semiconductor device manufacturing apparatus and storage medium

Номер патента: US20090176374A1. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2009-07-09.

Pattern forming method and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20210090893A1. Автор: Tsubasa IMAMURA. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-03-25.

Pattern forming method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20220084833A1. Автор: Hironobu Sato,Yoshihiro Naka. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Hole pattern forming method and semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US20090093120A1. Автор: Toshiyuki Hirota. Владелец: Elpida Memory Inc. Дата публикации: 2009-04-09.

Pattern forming method

Номер патента: US20140199852A1. Автор: Masahiro Kimura,Tomonori Umezaki,Akiou Kikuchi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2014-07-17.

Pattern forming method, semiconductor device manufacturing apparatus and storage medium

Номер патента: US8008211B2. Автор: Teruyuki Hayashi,Akitake Tamura,Kaoru Fujihara. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2011-08-30.

Pattern forming method

Номер патента: EP1143506A3. Автор: Hiromu Ishii,Katsuyuki Machida,Kunio Saito,Tadao Nagatsuma,Shouji Yagi,Hakaru Kyuragi. Владелец: Nippon Telegraph and Telephone Corp. Дата публикации: 2004-02-25.

Pattern forming method

Номер патента: US11776817B2. Автор: Shota ISHIBASHI. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-10-03.

Pattern forming method and method for manufacturing semiconductor device

Номер патента: US11996295B2. Автор: Hironobu Sato,Yoshihiro Naka. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2024-05-28.

Pattern forming method

Номер патента: US20200294796A1. Автор: Tsukasa Azuma. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2020-09-17.

Pattern forming method and manufacturing method of solar battery

Номер патента: US20130309807A1. Автор: Shiro Sekino,Yoshinobu Hirokado. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2013-11-21.

Pattern forming method

Номер патента: US10950439B2. Автор: Tsukasa Azuma. Владелец: Toshiba Memory Corp. Дата публикации: 2021-03-16.

Pattern forming method

Номер патента: US20120249664A1. Автор: Yuya Haneda,Ryoichi Nozawa. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2012-10-04.

Metal pattern forming method

Номер патента: US20070218695A1. Автор: Shinya Momose,Kazushige Hakeda. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-09-20.

Pattern forming method and semiconductor device manufacturing method using the same

Номер патента: US09941285B2. Автор: Jae-Houb CHUN,Jeong-Sub LIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-04-10.

Pattern-formed substrate, pattern-forming method, and die

Номер патента: US20080233361A1. Автор: Shingo Imanishi. Владелец: Sony Corp. Дата публикации: 2008-09-25.

Pattern forming method and semiconductor device manufacturing method using the same

Номер патента: US9780095B2. Автор: Jae-Houb CHUN,Jeong-Sub LIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-10-03.

Pattern forming method and semiconductor device manufacturing method using the same

Номер патента: US20170352667A1. Автор: Jae-Houb CHUN,Jeong-Sub LIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-12-07.

Pattern forming method and semiconductor device manufacturing method using the same

Номер патента: US20170243871A1. Автор: Jae-Houb CHUN,Jeong-Sub LIM. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-08-24.

Pattern forming method and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20150031198A1. Автор: Seiro Miyoshi,Kentaro Matsunaga,Maki Miyazaki. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2015-01-29.

Pattern forming method

Номер патента: US20130078813A1. Автор: Yusuke Kawano,Tsuyoshi Chiba,Yuki Aritsuka. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2013-03-28.

Metal pattern forming method

Номер патента: US20230028779A1. Автор: Kenji Ichikawa,Eijiro Iwase. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-01-26.

Metal pattern forming method

Номер патента: US20090087570A1. Автор: Seiichi Inoue,Yasuhiko Maeda,Ken Kawata. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2009-04-02.

Pattern forming method, film structure, electro-optical apparatus, and electronic device

Номер патента: US20050106775A1. Автор: Hironori Hasei. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2005-05-19.

Pattern forming method

Номер патента: US11800648B2. Автор: Hideki Hoshino,Masayoshi Yamauchi,Hidenobu Ohya,Masayuki Ushiku,Ryo AOYAMA,Takenori Omata,Naoto NIIZUMA,Kazuho URAYAMA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2023-10-24.

Pattern forming method

Номер патента: EP3758456A1. Автор: Hideki Hoshino,Masayoshi Yamauchi,Hidenobu Ohya,Masayuki Ushiku,Ryo AOYAMA,Takenori Omata,Naoto NIIZUMA,Kazuho URAYAMA. Владелец: KONICA MINOLTA INC. Дата публикации: 2020-12-30.

Pattern-bearing sheet for use in simultaneous injection-molding and pattern-forming method

Номер патента: US5843555A. Автор: Kazuhisa Kobayashi,Hiroyuki Atake. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 1998-12-01.

Surface pattern forming method for aluminium product

Номер патента: US11913122B2. Автор: Jinju Kim,Kyunghwan Lee,Jiyoung Song,Kwangjoo KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2024-02-27.

Surface pattern forming method for aluminium product

Номер патента: US20210164111A1. Автор: Jinju Kim,Kyunghwan Lee,Jiyoung Song,Kwangjoo KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2021-06-03.

Curable resin composition for bonding film, bonding film, and printed-wiring board

Номер патента: US20240117120A1. Автор: Yoshihiro Tsutsumi,Hiroyuki Iguchi. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-11.

Conductive pattern forming method and conductive pattern forming system

Номер патента: US20130129916A1. Автор: Manabu Katsumura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-05-23.

Pattern forming device and pattern forming method

Номер патента: US20240141278A1. Автор: Takahiro Oba,Yusuke Kasai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-02.

Pattern forming device and pattern forming method

Номер патента: EP4365276A1. Автор: Takahiro Oba,Yusuke Kasai. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-08.

Curable organopolysiloxane composition having excellent cold resistance, and a pattern forming method

Номер патента: US12122915B2. Автор: Manabu Sutoh,Nohno TODA. Владелец: Dow Toray Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Sealant resin composition for use in retort film and sealant film

Номер патента: US6110549A. Автор: Naoshi Hamada,Shigeo Ozaki,Sadamu Hirakawa. Владелец: Mitsui Chemicals Inc. Дата публикации: 2000-08-29.

Curable resin composition for decoration film, decoration film and molded decoration film article

Номер патента: US20240158558A1. Автор: Tsun-Sheng Tao. Владелец: BenQ Materials Corp. Дата публикации: 2024-05-16.

Photosensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JPH10153854A. Автор: Hiroshi Komano,博司 駒野,Hideo Haneda,英夫 羽田. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 1998-06-09.

Laser-decomposable resin composition and pattern-forming material using the same

Номер патента: EP1887423B1. Автор: Atsushi Sugasaki. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2016-01-27.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM USING THE SAME AND PATTERN FORMING METHOD

Номер патента: US20120003586A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Radiation sensitive resin composition and color filter

Номер патента: SG141403A1. Автор: Tatsuyoshi Kawamoto,Kazuhiro Kobayashi,Masashi Arai,Ryu Matsumoto,Isamu Makihira. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-04-28.

ACTINIC-RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120164573A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-06-28.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120015302A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-19.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120094237A1. Автор: Fujimori Toru,FUJII Kana. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-04-19.

PATTERN FORMING METHOD, ACTINIC-RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM

Номер патента: US20120264054A1. Автор: Yamaguchi Shuhei. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-10-18.

POLYAMIDE RESIN COMPOSITION, FILM COMPRISING THE SAME AND POLYAMIDE-BASED LAMINATE FILM

Номер патента: US20120003361A1. Автор: . Владелец: UBE INDUSTRIES, LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive composition and pattern formation method using the composition

Номер патента: JP5292216B2. Автор: 孝之 伊藤. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-09-18.

Radiation sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP5673038B2. Автор: 岳彦 成岡,光央 佐藤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-18.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001255A1. Автор: PARK JIN WON. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM THEREFROM AND METHOD OF FORMING PATTERN THEREWITH

Номер патента: US20120034559A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-02-09.

Mask and pattern forming method by using the same

Номер патента: TW200709255A. Автор: Yu-Lin Yen. Владелец: Macronix Int Co Ltd. Дата публикации: 2007-03-01.

Photosensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP3870471B2. Автор: 昌也 浅野,有香 山舗. Владелец: TORAY INDUSTRIES INC. Дата публикации: 2007-01-17.

Positive photosensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP4341797B2. Автор: 勝哉 坂寄,雅之 安藤,圭 池上. Владелец: DAI NIPPON PRINTING CO LTD. Дата публикации: 2009-10-07.

Photosensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP4851359B2. Автор: 尊博 先崎,浩一 三隅,宏二 斎藤,篤史 山之内. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2012-01-11.

Photosensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP5020646B2. Автор: 尊博 先崎,浩一 三隅,宏二 斎藤,篤史 山之内. Владелец: Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd. Дата публикации: 2012-09-05.