• Главная
  • Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, radiation-sensitive acid generator and compound

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, radiation-sensitive acid generator and compound

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern-forming method, acid generator and compound

Номер патента: US09523911B2. Автор: Hiroshi Tomioka,Yusuke Asano,Takakazu Kimoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-12-20.

Radiation sensitive resin composition and compound used therefor

Номер патента: JP5505175B2. Автор: 孝徳 中野,誠 杉浦,浩光 中島,光央 佐藤,一雄 中原. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-05-28.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20230341772A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-10-26.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20210124263A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20210389667A9. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-12-16.

Photoresist composition, resist pattern-forming method, acid diffusion control agent, and compound

Номер патента: US09557641B2. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Radiation-sensitive resin composition and compound

Номер патента: KR101729801B1. Автор: 미츠오 사토,가즈오 나카하라. Владелец: 제이에스알 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2017-05-11.

Radiation-sensitive resin composition, method of forming resist pattern, and compound

Номер патента: US20220091508A1. Автор: Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-03-24.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern-forming method and acid diffusion control agent

Номер патента: US20180321585A1. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming resist pattern, polymer, and compound

Номер патента: US20230393469A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Nozomi SAKANO. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-12-07.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: US20230273519A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-08-31.

Radiation sensitive resin composition, resist pattern forming method, acid generator and compound

Номер патента: JP6421449B2. Автор: 裕介 浅野,孝和 木元,寛 冨岡. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-14.

Radiation-Sensitive Resin Composition, Resist Pattern Forming Method, and Acid Diffusion Control Agent

Номер патента: JP7140100B2. Автор: 克聡 錦織,聡司 岡嵜. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-09-21.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming resist pattern, acid generating agent and compound

Номер патента: US9188858B2. Автор: Yusuke Asano. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-11-17.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, ONIUM SALT COMPOUND AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN

Номер патента: US20190285983A1. Автор: Nishikori Katsuaki. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2019-09-19.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20210124263A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-04-29.

Radiation-sensitive resin composition, display panel separator and displayer panel

Номер патента: TW200535568A. Автор: Toshihiro Nishio,Toru Kajita,Daigo Ichinohe,Tomoko Iwabuchi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2005-11-01.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD OF FORMING RESIST PATTERN

Номер патента: US20220091507A1. Автор: Nishikori Katsuaki. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2022-03-24.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN

Номер патента: US20210364918A1. Автор: SUZUKI Junya,NAKASHIMA Hiromitsu,Nishikori Katsuaki,MORI Shuto. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2021-11-25.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US11747725B2. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-09-05.

Radiation sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and compound

Номер патента: JP6421757B2. Автор: 準人 生井,仁視 大▲崎▼. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-14.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN-FORMING METHOD AND ACID DIFFUSION CONTROL AGENT

Номер патента: US20180321585A1. Автор: KINOSHITA Natsuko. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2018-11-08.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: TW202147029A. Автор: 松村裕史,金子哲朗,森秀斗,松本龍. Владелец: 日商Jsr股份有限公司. Дата публикации: 2021-12-16.

Radiation-sensitive resin composition, polymer and compound

Номер патента: US20120082934A1. Автор: Mitsuo Sato,Kazuo Nakahara,Yusuke Asano. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-04-05.

Radiation-sensitive resin composition, method of forming resist pattern, polymer, and compound

Номер патента: US20220229367A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Satoshi Okazaki,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-07-21.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and method for producing monomeric compound

Номер патента: US11709428B2. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-07-25.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20190146340A1. Автор: Hiromu Miyata,Takehiko Naruoka,Motohiro SHIRATANI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-05-16.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and method for forming resist pattern

Номер патента: US20120070783A1. Автор: Hirokazu Sakakibara,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-03-22.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and method for producing monomeric compound

Номер патента: US20230280652A1. Автор: Natsuko Kinoshita. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-09-07.

Radiation-sensitive resin composition, and method for forming pattern

Номер патента: US20220299875A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-09-22.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20230236506A2. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-07-27.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220382152A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Ken Maruyama,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-12-01.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming pattern

Номер патента: US20240004288A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-01-04.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming pattern

Номер патента: US11966160B2. Автор: Ryuichi Nemoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-04-23.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20180329298A1. Автор: Hayato Namai,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-11-15.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND COMPOUND

Номер патента: US20200102270A9. Автор: Nishikori Katsuaki,KINOSHITA Natsuko,FURUICHI Kouta. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2020-04-02.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND COMPOUND

Номер патента: US20180319740A1. Автор: Nishikori Katsuaki,KINOSHITA Natsuko,FURUICHI Kouta. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2018-11-08.

Radiation sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP5472300B2. Автор: 峰規 川上,裕介 浅野. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-04-16.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JPWO2011108665A1. Автор: 恭彦 松田,峰規 川上,友洋 柿澤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-06-27.

Low molecular weight positive radiation-sensitive resin composition and forming method of resist pattern

Номер патента: TW201131300A. Автор: Masatoshi Echigo. Владелец: Mitsubishi Gas Chemical Co. Дата публикации: 2011-09-16.

Radiation-sensitive resin composition and polymer

Номер патента: TW201136956A. Автор: Toru Kimura,Hiromitsu Nakashima,Masafumi Yoshida,Masafumi Hori,Kazuki Kasahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-11-01.

Radiation-sensitive resin composition and polymer

Номер патента: TW201142496A. Автор: Hiromitsu Nakashima,Masafumi Hori. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-12-01.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming a resist pattern, compound, and polymer

Номер патента: TW201113638A. Автор: Takanori Kawakami,Yuusuke Asano. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-04-16.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and compound

Номер патента: WO2012002470A1. Автор: 光央 佐藤. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2012-01-05.

Radiation-sensitive resin composition, onium salt compound and method for forming resist pattern

Номер патента: US20190285983A1. Автор: Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-09-19.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, compound, and method for producing compound

Номер патента: US09465291B2. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Radiation-sensitive resin composition and pattern formation method

Номер патента: US20240152048A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-05-09.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern-forming method, polymer, and method for producing compound

Номер патента: US09703195B2. Автор: Hayato Namai,Kota Nishino. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-07-11.

Radiation-sensitive resin composition and compound

Номер патента: US8697335B2. Автор: Mitsuo Sato,Kazuo Nakahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-04-15.

Radiation-sensitive resin composition, compound and producing method of compound

Номер патента: US9120726B2. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-09-01.

Radiation-sensitive resin composition, compound and producing method of compound

Номер патента: US20120258399A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-10-11.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20160363859A1. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-12-15.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US09760004B2. Автор: Masafumi Hori,Hayato Namai,Hiromu Miyata. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20220413385A1. Автор: Kazuya KIRIYAMA,Takuhiro Taniguchi,Natsuko Kinoshita,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-12-29.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20120202150A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-08-09.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20060223010A1. Автор: Takayuki Tsuji,Daisuke Shimizu,Tomoki Nagai,Kentarou Harada. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-05.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20060234153A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Isao Nishimura,Yukio Nishimura,Eiichi Kobayashi. Владелец: Individual. Дата публикации: 2006-10-19.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20090148790A1. Автор: Hiroyuki Ishii,Isao Nishimura,Yukio Nishimura,Eiichi Kobayashi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-06-11.

Radiation-sensitive resin composition and electronic device

Номер патента: US09880468B2. Автор: Takashi Tsutsumi. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US6048659A. Автор: Hiromichi Hara,Katsumi Inomata,Masaaki Inoue,Yoshiji Yumoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2000-04-11.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20120219903A1. Автор: Mitsuo Sato,Hiromitsu Nakashima,Kazuo Nakahara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-08-30.

Actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition, actinic-ray- or radiation-sensitive film and pattern forming method

Номер патента: US20150355541A1. Автор: Kaoru Iwato. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-12-10.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: IL174569A. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2010-11-30.

Positive type radiation-sensitive resin composition

Номер патента: IL174569A0. Автор: . Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-08-20.

Radiation-sensitive resin composition and method of forming resist pattern

Номер патента: US20240094634A1. Автор: Takahiro Kawai,Katsuaki NISHIKORI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2024-03-21.

Radiation sensitive resin composition

Номер патента: US7078148B2. Автор: Hiroyuki Ishii,Atsushi Nakamura,Masafumi Yamamoto,Motoyuki Shima. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-07-18.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US6342542B1. Автор: Satoshi Kobayashi,Haruhiko Itoh,Hidekazu Shioda. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2002-01-29.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and compound

Номер патента: WO2012033138A1. Автор: 浩光 中島,光央 佐藤,木村 礼子,一雄 中原. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2012-03-15.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US09939729B2. Автор: Tomoki Nagai,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-04-10.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265033B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-01-01.

Radiation sensitive composition and resist pattern forming method

Номер патента: EP3667419A1. Автор: Hisashi Nakagawa,Yusuke Asano,Shinya Minegishi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-06-17.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern formation method, and compound

Номер патента: WO2020246143A1. Автор: 克聡 錦織. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2020-12-10.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20190243244A1. Автор: Naruoka Takehiko,KANEKO Tetsurou. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2019-08-08.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20180329298A1. Автор: NAMAI Hayato,Nishikori Katsuaki. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2018-11-15.

Radiation-sensitive composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20200166840A1. Автор: Hisashi Nakagawa,Yusuke Asano,Shinya Minegishi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-05-28.

Photosensitive resin composition for optical waveguide formation and optical waveguide

Номер патента: US7394965B2. Автор: Yuuichi Eriyama,Hideaki Takase,Tomohiro Utaka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-07-01.

Radiation-sensitive resin composition and formation of interlayer insulation film and microlens

Номер патента: TW200734816A. Автор: Hiroshi Shiho,Kenichi Hamada,Eiji Yoneda. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2007-09-16.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and method for forming resist pattern

Номер патента: TW201040225A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2010-11-16.

Radiation sensitive resin composition, rib, rib forming method and display element

Номер патента: US20030068574A1. Автор: Masayoshi Suzuki,Kazuaki Niwa,Shinji Shiraki,Hirofumi Sasaki. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2003-04-10.

Radiation sensitive resin composition

Номер патента: US5494777A. Автор: Toshiyuki Ota,Shinji Shiraki,Masaaki Inoue,Hidetoshi Miyamoto,Takao Miura,Yoshiji Yumoto. Владелец: Japan Synthetic Rubber Co Ltd. Дата публикации: 1996-02-27.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming pattern, and onium salt compound

Номер патента: US20230400765A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Nozomi SAKANO. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-12-14.

Radiation-sensitive resin composition and electronic device

Номер патента: US09798233B2. Автор: Satoshi Abe. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2017-10-24.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180217503A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20210200097A1. Автор: Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2021-07-01.

Treatment liquid and pattern forming method

Номер патента: US20180217499A1. Автор: Shuji Hirano,Hideaki Tsubaki,Kei Yamamoto,Toru Tsuchihashi,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-08-02.

Photosensitive resin composition

Номер патента: US6537719B1. Автор: Shuichi Takahashi. Владелец: Clariant Finance BVI Ltd. Дата публикации: 2003-03-25.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20230367212A1. Автор: Keita Kato,Tetsuya Shimizu,Satomi Takahashi,Michihiro Shirakawa. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-16.

Pattern forming method and method for producing electronic device

Номер патента: US20240219831A1. Автор: Satomi Takahashi,Kazuhiro Marumo,Michihiro Shirakawa,Yohei Ishiji,Akiyoshi Goto. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-07-04.

Radiation sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: WO2018230334A1. Автор: 哲朗 金子. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2018-12-20.

Radiation-sensitive resin composition and radiation-sensitive acid generating agent

Номер патента: US20130260316A1. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

Radiation sensitive resin composition, resin film and electronic component

Номер патента: CN106164773B. Автор: 新藤宽明. Владелец: Nippon Zuio Co Ltd. Дата публикации: 2019-11-01.

Radiation-sensitive resin composition, resin film, and electronic component

Номер патента: KR102401895B1. Автор: 히로아키 신도. Владелец: 니폰 제온 가부시키가이샤. Дата публикации: 2022-05-24.

Radiation sensitive resin composition for roller coating and roller coating method

Номер патента: MY133351A. Автор: Yamamoto Kenji. Владелец: Az Electronic Mat Japan K K. Дата публикации: 2007-11-30.

Radiation-sensitive resin composition and electronic component

Номер патента: US20200004145A1. Автор: Makoto Fujimura. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2020-01-02.

Resist composition with radiation sensitive acid generator

Номер патента: US5585220A. Автор: Hiroshi Ito,Richard A. Dipietro,Gregory Breyta,Donald C. Hofer. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1996-12-17.

Pattern forming method and actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition

Номер патента: EP2577397A1. Автор: Kaoru Iwato,Shuji Hirano,Sou Kamimura,Keita Kato,Hidenori Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2013-04-10.

Pattern forming method and actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US09760003B2. Автор: Kaoru Iwato,Shuji Hirano,Sou Kamimura,Keita Kato,Hidenori Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2017-09-12.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern-forming method, polymer, and method for producing compound

Номер патента: US20150323866A1. Автор: Hayato Namai,Kota Nishino. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-11-12.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP6304246B2. Автор: 準人 生井. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-04-04.

Radiation-sensitive resin composition, pattern-forming method, polymer, and compound

Номер патента: US20130260315A1. Автор: Mitsuo Sato,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-10-03.

Radiation-sensitive resin composition and compound

Номер патента: KR101863395B1. Автор: 겐 마루야마,가즈오 나까하라. Владелец: 제이에스알 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2018-05-31.

Radiation-sensitive resin composition and compound

Номер патента: WO2012090959A1. Автор: 研 丸山,一雄 中原. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2012-07-05.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US09874816B2. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-01-23.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20170363961A9. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-12-21.

Radiation-sensitive resin composition, polymer and compound

Номер патента: US09459532B2. Автор: Norihiko Ikeda,Shin-ichi Nakamura. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-04.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: US20220342307A1. Автор: Ryuichi Nemoto,Hajime Inami,Kota FURUICH. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-10-27.

Method for producing radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US12122883B2. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-10-22.

Production method for radiation-sensitive resin composition

Номер патента: EP3992713A1. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-05-04.

Method for producing radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20220081518A1. Автор: Kenichi Harada,Takumi Tanaka,Hiroyuki Ezoe. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-03-17.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and compound production method

Номер патента: JPWO2014148241A1. Автор: 準人 生井,晃太 西野. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-02-16.

Acrylic copolymer and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW200422309A. Автор: Hiroyuki Ishii,Hiroshi Yamaguchi,Yukio Nishimura,Kouichi Fujiwara. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2004-11-01.

Radiation-sensitive resin composition and compound

Номер патента: WO2011007780A1. Автор: 光央 佐藤,一雄 中原. Владелец: Jsr株式会社. Дата публикации: 2011-01-20.

Radiation-sensitive resin composition and compound contained therein

Номер патента: TW201131303A. Автор: Ken Maruyama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-09-16.

Radiation-sensitive resin composition and pattern forming method

Номер патента: TW201202842A. Автор: Goji Wakamatsu,Jun-Ichirou Inaba. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-01-16.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20130323653A1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-12-05.

Negative resist pattern-forming method, and composition for upper layer film formation

Номер патента: US20190004426A1. Автор: Sosuke OSAWA,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-01-03.

Negative resist pattern-forming method, and composition for upper layer film formation

Номер патента: US20160299432A1. Автор: Sosuke OSAWA,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-10-13.

Radiation-sensitive resin composition for forming resist pattern

Номер патента: EP2485090B1. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-12-23.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20200117087A1. Автор: KANEKO Tetsurou. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2020-04-16.

Resist pattern-forming method, and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: US20140295350A1. Автор: Hirokazu Sakakibara,Masafumi Hori,Reiko Kimura,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-10-02.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern-forming method

Номер патента: US20160363859A1. Автор: Hayato Namai. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-12-15.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD OF FORMING RESIST PATTERN, AND COMPOUND

Номер патента: US20220091508A1. Автор: Nishikori Katsuaki. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2022-03-24.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and method for producing resist pattern

Номер патента: IL311594A. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-05-01.

Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and resist film

Номер патента: IL228135B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-03-29.

Radiation sensitive resin composition

Номер патента: TW200401165A. Автор: Masakazu Shirakawa,Yoshiko Yako. Владелец: Sumitomo Chemical Co. Дата публикации: 2004-01-16.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201237554A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Hiromu Miyata,Taiichi Furukawa,Koji Itou. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-09-16.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW200947123A. Автор: Takashi Takeda,Norihisa Notani. Владелец: Nagase Chemtex Corp. Дата публикации: 2009-11-16.

Radiation-sensitive resin composition and method for forming resist pattern

Номер патента: JP2015111294A. Автор: Mitsuhisa Sato,光央 佐藤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-06-18.

Resist pattern formation method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201219972A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Kouji Itou,Masafumi Hori,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-05-16.

Pattern forming method and actinic ray- or radiation-sensitive resin composition

Номер патента: JP7216040B2. Автор: 敬充 冨賀,文博 吉野,憲一 原田,真一 杉山. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-01-31.

Pattern forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201229067A. Автор: Koji Ito,Hirokazu Sakakibara,Masafumi Hori,Reiko Kimura,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-07-16.

Pattern forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201232167A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Kouji Itou,Masafumi Hori,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-08-01.

Pattern-forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201211688A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Masafumi Hori,Taiichi Furukawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-03-16.

Actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition and method of forming pattern using the composition

Номер патента: US20150093691A1. Автор: Akinori Shibuya. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-04-02.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIN FILM, AND ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20170038681A1. Автор: Shindo Hiroaki. Владелец: ZEON CORPORATION. Дата публикации: 2017-02-09.

Radiation sensitive resin composition, cured resin and liquid crystal display device

Номер патента: CN1716095B. Автор: 武部和男. Владелец: Sumitomo Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2011-05-18.

Photopolymerizable radiation-sensitive resin composition and radiation-sensitive sheet material

Номер патента: US4370403A. Автор: Kiyofumi Takaki. Владелец: TAKLE BIRGER. Дата публикации: 1983-01-25.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: WO2011002102A1. Автор: Toru Fujimori,Kana Fujii. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2011-01-06.

Radiation-sensitive resin composition and radiation-sensitive acid generator

Номер патента: KR101839640B1. Автор: 겐 마루야마. Владелец: 제이에스알 가부시끼가이샤. Дата публикации: 2018-03-16.

Radiation sensitive resin composition and radiation sensitive acid generator

Номер патента: JPWO2012096264A1. Автор: 研 丸山. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-06-09.

Chemically amplified resist material and resist pattern-forming method

Номер патента: US09989849B2. Автор: Tomoki Nagai,Hisashi Nakagawa,Takehiko Naruoka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-06-05.

Pattern forming method, actinic-ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, and resist film

Номер патента: US8940476B2. Автор: Shuhei Yamaguchi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2015-01-27.

Negative radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW200428134A. Автор: Yukio Nishimura,Eiichi Kobayashi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2004-12-16.

Negative type radiation sensitive resin composition

Номер патента: TWI301560B. Автор: Toshiyuki Kai,Daigo Ichinohe. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-10-01.

Acid generators, sulfonic acids, sulfonyl halides, and radiation-sensitive resin compositions

Номер патента: EP1600437A4. Автор: Yong Wang,Isao Nishimura,Satoshi Ebata. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-07-26.

Acid generators, sulfonic acids, sulfonyl halides, and radiation-sensitive resin compositions

Номер патента: WO2004078703A1. Автор: Yong Wang,Isao Nishimura,Satoshi Ebata. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2004-09-16.

Acid generators, sulfonic acids, sulfonyl halides, and radiation-sensitive resin compositions

Номер патента: CN1780813B. Автор: 王勇,江幡敏,西村功. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2010-09-22.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RADIATION-SENSITIVE ACID GENERATING AGENT

Номер патента: US20130295505A1. Автор: MARUYAMA Ken. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RADIATION-SENSITIVE ACID GENERATING AGENT

Номер патента: US20140154625A9. Автор: MARUYAMA Ken. Владелец: . Дата публикации: 2014-06-05.

Pattern forming method, kit, and resist composition

Номер патента: US20230350290A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Satomi Takahashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-11-02.

RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20130224666A1. Автор: SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi,KIMURA Reiko. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-08-29.

RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20130230803A1. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-09-05.

RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20130295506A1. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi,MIYATA Hiromu. Владелец: . Дата публикации: 2013-11-07.

RESIST PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20140363766A9. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi,MIYATA Hiromu. Владелец: . Дата публикации: 2014-12-11.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP5581726B2. Автор: 晃雅 征矢野,芳史 大泉. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-09-03.

Resist pattern forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: JP5263453B2. Автор: 雅史 堀,泰一 古川,亘史 伊藤,宏和 榊原. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-08-14.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming resist pattern, polymer and compound

Номер патента: US20120028189A1. Автор: Mitsuo Sato,Yusuke Asano. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-02-02.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201009499A. Автор: Kaori Sakai,Akimasa Soyano,Takuma Ebata,Tsutomu Shimokawa,Noboru Otsuka,Yoshifumi Oizumi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2010-03-01.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TWI247966B. Автор: Masafumi Yamamoto,Eiichi Kobayashi,Mikio Yamachika,Jun Numata. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-01-21.

Radiation-sensitive resin composition, interlayer insulating film and microlens

Номер патента: TW200516347A. Автор: Eiji Takamoto,Michinori Nishikawa,Kimiyasu Sano,Takaki Minowa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2005-05-16.

Actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition and method of forming pattern using the same

Номер патента: TW201207557A. Автор: Akinori Shibuya. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-02-16.

Radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TWI246634B. Автор: Yukio Nishimura,Tsutomu Shimokawa,Toru Kajita,Katsuji Douki. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2006-01-01.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20130216948A1. Автор: HORI Masafumi,NAKASHIMA Hiromitsu,YOSHIDA Masafumi,Kasahara Kazuki. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-08-22.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, POLYMER AND COMPOUND

Номер патента: US20130216951A1. Автор: IKEDA Norihiko,NAKAMURA Shin-ichi. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-08-22.

PATTERN-FORMING METHOD, AND RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20130224661A1. Автор: Ito Koji,SAKAKIBARA Hirokazu,HORI Masafumi,FURUKAWA Taiichi,KIMURA Reiko. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-08-29.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND COMPOUND

Номер патента: US20130288179A1. Автор: Nakahara Kazuo,MARUYAMA Ken. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-31.

Radiation-sensitive resin composition, resin film, and electronic component

Номер патента: KR102341367B1. Автор: 히로아키 신도. Владелец: 제온 코포레이션. Дата публикации: 2021-12-17.

Radiation-sensitive resin composition, spacer, and forming method thereof

Номер патента: TW200801742A. Автор: Hiroshi Shiho,Hitoshi Hamaguchi,Kentarou Matsuda,Ryuuji Sugi,Shunpei Kuma. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-01-01.

Radiation sensitive resin composition, alternation compound and forming method thereof

Номер патента: CN101078879B. Автор: 志保浩司,松田健太朗,浜口仁,杉龙司,久间俊平. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-03-21.

Photosensitive resin composition, photosensitive dry film, and pattern forming process

Номер патента: EP3640289A1. Автор: Hitoshi Maruyama. Владелец: Shin Etsu Chemical Co Ltd. Дата публикации: 2020-04-22.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20240295822A1. Автор: Tetsuya Kamimura,Satoru Murayama,Tetsuya Shimizu. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2024-09-05.

Radiation sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and compound

Номер патента: JPWO2011125684A1. Автор: 浩光 中島,祐亮 庵野,光央 佐藤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-07-08.

Pattern forming method, method for producing electronic device, and kit

Номер патента: US20230333478A1. Автор: Tetsuya Kamimura. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2023-10-19.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265647A. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2019-05-30.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and resist pattern-forming method

Номер патента: US20130203000A1. Автор: Yasuhiko Matsuda,Norihiko Sugie,Tomohiro Kakizawa,Takakazu Kimoto. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-08-08.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20190146340A1. Автор: Naruoka Takehiko,MIYATA Hiromu,SHIRATANI Motohiro. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2019-05-16.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20170363961A9. Автор: NAMAI Hayato. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2017-12-21.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP5673670B2. Автор: 恭彦 松田,峰規 川上. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-18.

Radiation-sensitive resin composition, polymer, and resist pattern forming method

Номер патента: JPWO2012036250A1. Автор: 紀彦 杉江,恭彦 松田,友洋 柿澤,孝和 木元. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-02-03.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern formation method, and polymer

Номер патента: TW201128315A. Автор: Mitsuo Satou,Tomohiro Kakizawa. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-08-16.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, pattern forming method, and method of manufacturing electronic device

Номер патента: IL265647B. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2022-03-01.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, and resist film and pattern forming method using the same

Номер патента: IL217702A0. Автор: . Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2012-03-29.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern formation method

Номер патента: TW201136880A. Автор: Yasuhiko Matsuda,Takanori Kawakami. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-11-01.

Radiation-sensitive resin composition, polymer and method for forming resist pattern

Номер патента: TW201106103A. Автор: Yasuhiko Matsuda,Takanori Kawakami,Tomohisa Fujisawa,Yukari Hama. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-02-16.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20160202608A1. Автор: NAMAI Hayato. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2016-07-14.

Pattern formation method, and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TW201202850A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Takeshi Ishii,Masafumi Hori. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-01-16.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, POLYMER AND COMPOUND

Номер патента: US20130189621A1. Автор: Nakahara Kazuo,NAKASHIMA Hiromitsu,KIMURA Reiko,SATO Mitsuo. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-07-25.

Pattern forming method and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: JPWO2011158687A1. Автор: 雅史 堀,泰一 古川,宏和 榊原,岳史 石井. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2013-08-19.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150050600A9. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-19.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20170322492A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2017-11-09.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20140134544A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-05-15.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160320705A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-11-03.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20160097978A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2016-04-07.

Resist pattern-forming method

Номер патента: US20150160556A1. Автор: Hiromitsu Tanaka,Hirokazu Sakakibara,Takashi Mori,Kazunori Takanashi,Yusuke Anno,Taiichi Furukawa,Shin-ya MINEGISHI. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-06-11.

Radiation-sensitive resin composition, resin film, and electronic component

Номер патента: TW201512774A. Автор: Hiroaki Shindo. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2015-04-01.

Radiation-sensitive resin composition, resin film, and electronic component

Номер патента: WO2015029930A1. Автор: 寛明 新藤. Владелец: 日本ゼオン株式会社. Дата публикации: 2015-03-05.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RESIST PATTERN-FORMING METHOD

Номер патента: US20150093703A1. Автор: NAMAI Hayato,HORI Masafumi,MIYATA Hiromu. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2015-04-02.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST-PATTERNING METHOD, AND BLOCK COPOLYMER

Номер патента: US20150093704A1. Автор: Osaki Hitoshi. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2015-04-02.

Radiation-sensitive resin composition, active matrix substrate and method for producing the same

Номер патента: TW200905391A. Автор: Makoto Fujimura,Takeyoshi Kato,Azusa Wada,Yumi Osaku. Владелец: Zeon Corp. Дата публикации: 2009-02-01.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIN FILM, AND ELECTRONIC DEVICE

Номер патента: US20160209744A1. Автор: Shindo Hiroaki. Владелец: ZEON CORPORATION. Дата публикации: 2016-07-21.

Pattern forming method and method for manufacturing electronic device

Номер патента: US20180321589A1. Автор: Tomotaka Tsuchimura,Akihiro Kaneko,Wataru Nihashi. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2018-11-08.

Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: TW201120564A. Автор: Toru Fujimori,Kana Fujii. Владелец: Fujifilm Corp. Дата публикации: 2011-06-16.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND RADIATION-SENSITIVE ACID GENERATING AGENT

Номер патента: US20130260316A1. Автор: MARUYAMA Ken. Владелец: . Дата публикации: 2013-10-03.

Radiation-sensitive resin composition, cured film and forming method thereof and display element

Номер патента: CN102269932B. Автор: 米田英司,西信弘,儿玉诚一郎,猪俣克巳. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-03-25.

Radiation sensitive resin composition, spacer and protective film of liquid crystal display, and forming methods thereof

Номер патента: TWI442176B. Автор: Hitoshi Hamaguchi. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-06-21.

Radiation sensitive resin composition and compound

Номер патента: JPWO2010134477A1. Автор: 研 丸山,晃太 西野,宏和 榊原,一樹 笠原. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2012-11-12.

Radiation-sensitive resin composition and compound

Номер патента: TW201100958A. Автор: Hirokazu Sakakibara,Ken Maruyama,Kazuki Kasahara,Kota Nishino. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-01-01.

Method of ion implantation and radiation-sensitive resin composition for use therein

Номер патента: TW200819914A. Автор: Takanori Kawakami,Tooru Takamiya,Tomohiro Utaka. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-05-01.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM USING THE SAME AND PATTERN FORMING METHOD

Номер патента: US20120003586A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120003590A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Radiation sensitive resin composition and color filter

Номер патента: SG141403A1. Автор: Tatsuyoshi Kawamoto,Kazuhiro Kobayashi,Masashi Arai,Ryu Matsumoto,Isamu Makihira. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-04-28.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, and radiation-sensitive acid generator

Номер патента: JP7192589B2. Автор: 龍一 根本. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2022-12-20.

Radiation-sensitive resin composition, method for forming resist pattern, radiation-sensitive acid generator and compound

Номер патента: JP6721839B2. Автор: 準人 生井. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2020-07-15.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method and compound

Номер патента: JP6926406B2. Автор: 準人 生井,晃太 西野. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-08-25.

Radiation-sensitive resin composition, resist pattern forming method, polymer and compound

Номер патента: JP6825249B2. Автор: 準人 生井,泰一 古川,奈津子 木下. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2021-02-03.

Radiation sensitive acid generator and radiation sensitive resin composition

Номер патента: JP4110319B2. Автор: 英司 米田,勇 王,敏 江幡,智樹 永井,達也 舎人. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-07-02.

Onium salt, radiation-sensitive acid generator and positive radiation-sensitive resin composition using the same

Номер патента: JP4810862B2. Автор: 英司 米田. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-11-09.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, ACID GENERATING AGENT AND COMPOUND

Номер патента: US20130078579A1. Автор: Asano Yusuke. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-03-28.

Radiation sensitive resin composition and radiation sensitive acid generator used therefor

Номер патента: JP4650175B2. Автор: 智樹 永井,大輔 清水,光一郎 吉田,裕臣 水野. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-03-16.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST PATTERN FORMATION METHOD, AND POLYMER

Номер патента: US20120171612A1. Автор: KAKIZAWA Tomohiro,Satou Mitsuo. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-07-05.

Radiation-sensitive resin composition and resist pattern forming method

Номер патента: JP6451427B2. Автор: 仁視 大▲崎▼. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-01-16.

Polymer, radiation-sensitive resin composition, and resist pattern forming method

Номер патента: JP6264144B2. Автор: 準人 生井,仁視 大▲崎▼. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2018-01-24.

Polymer, radiation-sensitive resin composition, and resist pattern forming method

Номер патента: JP4848843B2. Автор: 幸生 西村,峰規 川上,賢二 星子. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-12-28.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN, POLYMER AND COMPOUND

Номер патента: US20130022912A1. Автор: ANNO Yusuke,NAKASHIMA Hiromitsu,SATO Mitsuo. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-01-24.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, MONOMER, POLYMER, AND PRODUCTION METHOD OF RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION

Номер патента: US20120237876A1. Автор: MARUYAMA Ken. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-09-20.

Radiation-sensitive resin composition and polymer for radiation-sensitive resin composition

Номер патента: JP4752794B2. Автор: 幸生 西村,香織 酒井,信司 松村,賢二 星子. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-08-17.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120015302A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-01-19.

ACTINIC RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120094237A1. Автор: Fujimori Toru,FUJII Kana. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-04-19.

ACTINIC-RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME

Номер патента: US20120164573A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-06-28.

PATTERN FORMING METHOD, ACTINIC-RAY-SENSITIVE OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, AND RESIST FILM

Номер патента: US20120264054A1. Автор: Yamaguchi Shuhei. Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-10-18.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN AND POLYMER

Номер патента: US20120034560A1. Автор: . Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-02-09.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, POLYMER, AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN

Номер патента: US20120070783A1. Автор: Naruoka Takehiko,SAKAKIBARA Hirokazu. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-03-22.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR FORMING A RESIST PATTERN, COMPOUND, AND POLYMER

Номер патента: US20120156612A1. Автор: ASANO Yuusuke,KAWAKAMI Takanori. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-06-21.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, METHOD FOR FORMING A RESIST PATTERN AND SULFONIUM COMPOUND

Номер патента: US20130045446A1. Автор: Nakahara Kazuo,SATO Mitsuo. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2013-02-21.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN

Номер патента: JP7268770B2. Автор: 研 丸山. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2023-05-08.

Method for forming resist pattern and radiation sensitive resin composition

Номер патента: JP6515658B2. Автор: 準人 生井. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2019-05-22.

ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, RESIST FILM THEREFROM AND METHOD OF FORMING PATTERN THEREWITH

Номер патента: US20120034559A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-02-09.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND COMPOUND

Номер патента: US20120045719A1. Автор: . Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-02-23.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION, POLYMER, AND COMPOUND

Номер патента: US20120065291A1. Автор: . Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-03-15.

RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND COMPOUND

Номер патента: US20120148952A1. Автор: Nakahara Kazuo,SATO Mitsuo. Владелец: JSR Corporation. Дата публикации: 2012-06-14.

Acid generator and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: JP4389485B2. Автор: 勇 王,敏 江幡,智樹 永井. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2009-12-24.

Radiation sensitive resin composition, polymer and compound

Номер патента: JP5617339B2. Автор: 浩光 中島,礼子 木村,木村 礼子,一樹 笠原,一雄 中原. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-11-05.

Radiation sensitive resin composition, polymer and compound

Номер патента: JP5569402B2. Автор: 裕介 浅野. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2014-08-13.

Radiation sensitive resin composition and pattern forming method using the same

Номер патента: JP5673038B2. Автор: 岳彦 成岡,光央 佐藤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2015-02-18.

Acid generator and radiation-sensitive resin composition

Номер патента: TWI304060B. Автор: Nagai Tomoki,Yoneda Eiji,Toneri Tatsuya,Yukio Nishimura,Satoshi Ebata,Iwasawa Haruo. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-12-11.

Radiation-sensitive resin composition for liquid immersion exposure and pattern forming method

Номер патента: JP2011095623A. Автор: 裕介 浅野,Yusuke Asano. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2011-05-12.

Polymer resin and radiation-sensitive resin composition using the same

Номер патента: JP5014873B2. Автор: 大樹 小林,均 真塩,克浩 丸山. Владелец: Gun Ei Chemical Industry Co Ltd. Дата публикации: 2012-08-29.

Lactone copolymer resin and radiation sensitive resin composition

Номер патента: JP4051963B2. Автор: 幸生 西村,寛之 石井,隆 宮松,明夫 斉藤. Владелец: JSR Corp. Дата публикации: 2008-02-27.

ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERN USING THE COMPOSITION

Номер патента: US20120094235A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-04-19.

ACTINIC-RAY- OR RADIATION-SENSITIVE RESIN COMPOSITION AND METHOD OF FORMING PATTERN USING THE COMPOSITION

Номер патента: US20120156618A1. Автор: . Владелец: FUJIFILM Corporation. Дата публикации: 2012-06-21.

Radiation-sensitive resin composition and silicon oxide film forming method

Номер патента: JP3633987B2. Автор: 美和 坂田. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-03-30.

Radiation sensitive resin material and radiation sensitive coating composition

Номер патента: JPH10282668A. Автор: Manabu Kawa,学 加和,Takaaki Niimi,高明 新実. Владелец: Mitsubishi Chemical Corp. Дата публикации: 1998-10-23.