Delay locked loop fine tune
Номер патента: US20060237473A1
Опубликовано: 26-10-2006
Автор(ы): Debra Bell
Принадлежит: Micron Technology Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 26-10-2006
Автор(ы): Debra Bell
Принадлежит: Micron Technology Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Sampling module including delay locked loop, sampling unit, memory control unit, and data sampling method thereof
Номер патента: US10297297B2. Автор: Wei-Yung Chen,Jen-Chu Wu. Владелец: Phison Electronics Corp. Дата публикации: 2019-05-21.