System and method for defect classification and localization with self-supervised pretraining
Номер патента: WO2024164361A1
Опубликовано: 15-08-2024
Автор(ы): Hon Chung LEE, Jiayu SHU
Принадлежит: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 15-08-2024
Автор(ы): Hon Chung LEE, Jiayu SHU
Принадлежит: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
System and method for defect classification and localization with self-supervised pretraining
Номер патента: US20240273374A1. Автор: Hon Chung LEE,Jiayu SHU. Владелец: Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute ASTRI. Дата публикации: 2024-08-15.