System and method for automated test-pattern-free projection calibration
Номер патента: US09915857B2
Опубликовано: 13-03-2018
Автор(ы): Thushyanthan Jegatheswaran, Zorawar S. Bassi
Принадлежит: Geo Semiconductor Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 13-03-2018
Автор(ы): Thushyanthan Jegatheswaran, Zorawar S. Bassi
Принадлежит: Geo Semiconductor Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
System and method for automated test-pattern-free projection calibration
Номер патента: US10901309B2. Автор: Zorawar S. Bassi,Thushyanthan Jegatheswaran. Владелец: Geo Semiconductor Inc. Дата публикации: 2021-01-26.