• Главная
  • Method to prevent lateral epitaxial growth in semiconductor devices

Method to prevent lateral epitaxial growth in semiconductor devices

Вам могут быть интересны следующие патенты

Рисунок 1. Взаимосвязь патентов (ближайшие 20).

Method to prevent lateral epitaxial growth in semiconductor devices

Номер патента: US09590074B1. Автор: Hui Zang,BALASUBRAMANIAN Pranatharthiharan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Method to prevent lateral epitaxial growth in semiconductor devices

Номер патента: US09812368B2. Автор: Hui Zang,BALASUBRAMANIAN Pranatharthiharan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-11-07.

Method to prevent lateral epitaxial growth in semiconductor devices

Номер патента: US20170162451A1. Автор: Hui Zang,BALASUBRAMANIAN Pranatharthiharan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-08.

Structure to prevent lateral epitaxial growth in semiconductor devices

Номер патента: US09741715B2. Автор: Hui Zang,BALASUBRAMANIAN Pranatharthiharan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-22.

Method to prevent lateral epitaxial growth in semiconductor devices

Номер патента: US09425108B1. Автор: Hui Zang,BALASUBRAMANIAN Pranatharthiharan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Method to make dual material finFET on same substrate

Номер патента: US09640536B2. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-05-02.

Hardmask formation with hybrid materials in semiconductor device

Номер патента: US20240203795A1. Автор: Chung-Ting Ko,Sung-En Lin,Chi-On CHUI. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-06-20.

Semiconductor devices including increased area contacts

Номер патента: US09941277B2. Автор: Changseop YOON,Soon Cho. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2018-04-10.

Method to improve gate dielectric quality for FinFET

Номер патента: US09911832B2. Автор: YONG Li. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-03-06.

Interlayer dielectric film in semiconductor devices

Номер патента: US09634141B1. Автор: De-Wei YU,Ziwei Fang,Tsan-Chun Wang,Yi-Fan Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-04-25.

Structure and method to minimize junction capacitance in nano sheets

Номер патента: US20170170294A1. Автор: Bruce B. Doris,Xin Miao,Terence B. Hook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-15.

Structure and method to minimize junction capacitance in nano sheets

Номер патента: US09577038B1. Автор: Bruce B. Doris,Xin Miao,Terence B. Hook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-02-21.

Structure and method to minimize junction capacitance in nano sheets

Номер патента: US09515138B1. Автор: Bruce B. Doris,Xin Miao,Terence B. Hook. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-12-06.

Backside vias in semiconductor device

Номер патента: US12132092B2. Автор: Chih-Hao Wang,Cheng-Chi Chuang,Huan-Chieh Su,Li-Zhen YU,Lin-Yu HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-29.

Gate Contact And Via Structures In Semiconductor Devices

Номер патента: US20240282859A1. Автор: Chung-Liang Cheng,Sheng-Tsung Wang,Haung-Lin Chao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Contact Structures In Semiconductor Devices

Номер патента: US20240282627A1. Автор: Huang-Lin Chao,Chung-Liang Cheng,Peng-Soon Lim. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-22.

Backside Vias in Semiconductor Device

Номер патента: US20240371957A1. Автор: Chih-Hao Wang,Cheng-Chi Chuang,Huan-Chieh Su,Li-Zhen YU,Lin-Yu HUANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-11-07.

Isolated and bulk semiconductor devices formed on a same bulk substrate

Номер патента: US09978636B2. Автор: Kelin J. Kuhn,Harry Gomez,Annalisa Cappellani,Rafael Rios. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-05-22.

Isolated and bulk semiconductor devices formed on a same bulk substrate

Номер патента: US09425212B2. Автор: Kelin J. Kuhn,Harry Gomez,Annalisa Cappellani,Rafael Rios. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2016-08-23.

Stress-inducing silicon liner in semiconductor devices

Номер патента: US12113118B2. Автор: Shih-Hao Lin,Xusheng Wu,Chang-Miao Liu,Bwo-Ning Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-08.

Method to grow thin epitaxial films at low temperature

Номер патента: US09929055B2. Автор: Hua Chung,Schubert S. Chu,Yi-Chiau Huang,Xuebin Li,Abhishek Dube,Jenn-Yue Wang. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2018-03-27.

Method to grow thin epitaxial films at low temperature

Номер патента: US09530638B2. Автор: Hua Chung,Schubert S. Chu,Yi-Chiau Huang,Xuebin Li,Abhishek Dube,Jenn-Yue Wang. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2016-12-27.

Profile control of isolation structures in semiconductor devices

Номер патента: US20240274662A1. Автор: Tzu-Ging LIN. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-15.

Non-volatile memory cell in semiconductor device

Номер патента: US09425203B2. Автор: Kunihiko Iwamoto,Bungo Tanaka,Michihiko Mifuji. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2016-08-23.

Method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US09837489B2. Автор: Junichi Uehara. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2017-12-05.

Conductive contacts in semiconductor on insulator substrate

Номер патента: US09685535B1. Автор: Kangguo Cheng,Rama Divakaruni. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-06-20.

Method to make dual material finfet on same substrate

Номер патента: US20140327044A1. Автор: Effendi Leobandung. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2014-11-06.

Technologies for selective source and drain epitaxial growth

Номер патента: US20230253404A1. Автор: Mark I. Gardner,H. Jim Fulford. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2023-08-10.

Method to enhance FinFET device performance with channel stop layer depth control

Номер патента: US09882030B2. Автор: Fei Zhou. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-01-30.

Method for producing a semiconductor device

Номер патента: US09741801B2. Автор: Fujio Masuoka,Hiroki Nakamura. Владелец: Unisantis Electronics Singapore Pte Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Semiconductor device manufacturing method

Номер патента: US09892919B2. Автор: Haruo Nakazawa,Masaaki Ogino,Naoto Fujishima,Kenichi Iguchi,Tsunehiro Nakajima,Masaaki TACHIOKA. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-02-13.

Self-limiting manufacturing techniques to prevent electrical shorts in a complementary field effect transistor (CFET)

Номер патента: US12080608B2. Автор: Xi-Wei Lin,Victor Moroz. Владелец: Synopsys Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Method for inducing stress in semiconductor devices

Номер патента: US11757039B2. Автор: Gaspard Hiblot,Geert Van Der Plas. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2023-09-12.

Conductive structures in semiconductor devices

Номер патента: US10867906B2. Автор: Tien-I Bao,Tai-I Yang,Tien-Lu Lin,Yu-Chieh Liao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-12-15.

Reducing leakage current in semiconductor devices

Номер патента: US09911813B2. Автор: Bin Lu,Tomas Apostol Palacios,Elison De Nazareth Matioli. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 2018-03-06.

Structure and method to form III-V, Ge and SiGe fins on insulator

Номер патента: US09754968B2. Автор: Shogo Mochizuki,Alexander Reznicek. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20240128363A1. Автор: Yen-Teng Ho,Nai-Jung Chen. Владелец: Raynext Semiconductor Co Ltd. Дата публикации: 2024-04-18.

Contact formation in semiconductor devices

Номер патента: US20180277483A1. Автор: Oleg Gluschenkov,Shogo Mochizuki,Zuoguang Liu,Hiroaki Niimi,Jiseok Kim. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-09-27.

Method to form a cylindrical germanium nanowire device on bulk silicon substrate

Номер патента: US20160064531A1. Автор: Deyuan Xiao. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2016-03-03.

Integration methods to fabricate internal spacers for nanowire devices

Номер патента: US09893167B2. Автор: Kelin J. Kuhn,Seiyon Kim,Curtis W. Ward,Daniel A. SIMON. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2018-02-13.

Semiconductor devices and methods of manufacture thereof

Номер патента: US09576796B2. Автор: Georgios Vellianitis,Martin Christopher Holland. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-02-21.

Asymmetric source and drain structures in semiconductor devices

Номер патента: US12057503B2. Автор: PENG Wang,Yu-Lien Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-06.

Barrier Layers in Semiconductor Devices

Номер патента: US20240297233A1. Автор: Hsin Hsiang TSENG,Ming-Nung CHANG. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US09548259B2. Автор: Keiji Kuroki. Владелец: Longitude Semiconductor SARL. Дата публикации: 2017-01-17.

Contact Isolation in Semiconductor Devices

Номер патента: US20210066116A1. Автор: Zheng Tao,Boon Teik CHAN,Waikin Li. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2021-03-04.

Contact isolation in semiconductor devices

Номер патента: US11862452B2. Автор: Zheng Tao,Boon Teik CHAN,Waikin Li. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2024-01-02.

Crystalline multilayer oxide thin films structure in semiconductor device

Номер патента: US20190148482A1. Автор: Masaya Oda,Toshimi Hitora. Владелец: Flosfia Inc. Дата публикации: 2019-05-16.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US12074028B2. Автор: Chia-Ming Tsai,Chandrashekhar Prakash SAVANT,Tien-Wei YU. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-08-27.

Reducing variation by using combination epitaxy growth

Номер патента: US09425287B2. Автор: Tze-Liang Lee,Yi-Hung Lin,Yu-Hung Cheng,Chii-Horng Li. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2016-08-23.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20090134479A1. Автор: Akira Nishiyama,Masato Koyama,Yasushi Nakasaki,Yuuichi Kamimuta,Tsunehiro Ino. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-05-28.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US7646072B2. Автор: Akira Nishiyama,Masato Koyama,Yasushi Nakasaki,Yuuichi Kamimuta,Tsunehiro Ino. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2010-01-12.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US7498643B2. Автор: Akira Nishiyama,Masato Koyama,Yasushi Nakasaki,Yuuichi Kamimuta,Tsunehiro Ino. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2009-03-03.

Semiconductor device manufacturing method and storage medium

Номер патента: US20170062269A1. Автор: Peng Chang,Kenji Matsumoto,Hiroyuki Nagai. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-03-02.

Semiconductor device manufacturing method and storage medium

Номер патента: US09735046B2. Автор: Peng Chang,Kenji Matsumoto,Hiroyuki Nagai. Владелец: Tokyo Electron Ltd. Дата публикации: 2017-08-15.

Semiconductor device and method of manufacturing the same

Номер патента: US20050189590A1. Автор: Tomohiro Okamura. Владелец: Oki Electric Industry Co Ltd. Дата публикации: 2005-09-01.

Method of forming fine patterns in a semiconductor device and method of manufacturing an electronic device

Номер патента: US09805929B2. Автор: Yun Suk NAM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-31.

Method for fabricating an inter dielectric layer in semiconductor device

Номер патента: US09437423B2. Автор: Byung Soo Eun. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2016-09-06.

Method of manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US20090155971A1. Автор: Jong-wook Lee,Yong-Hoon Son. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2009-06-18.

Manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20020127832A1. Автор: Masaru Wakabayashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2002-09-12.

Method to improve reliability of replacement gate device

Номер патента: US09972697B2. Автор: Takashi Ando,Vijay Narayanan,Eduard A. Cartier,Kisik Choi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-05-15.

Method to improve reliability of replacement gate device

Номер патента: US09960252B2. Автор: Takashi Ando,Vijay Narayanan,Eduard A. Cartier,Kisik Choi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2018-05-01.

Method to improve reliability of replacement gate device

Номер патента: US09484438B2. Автор: Takashi Ando,Vijay Narayanan,Eduard A. Cartier,Kisik Choi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-11-01.

Method to improve reliability of replacement gate device

Номер патента: US09472643B2. Автор: Takashi Ando,Vijay Narayanan,Eduard A. Cartier,Kisik Choi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-10-18.

Method to improve reliability of replacement gate device

Номер патента: US09466692B2. Автор: Takashi Ando,Vijay Narayanan,Eduard A. Cartier,Kisik Choi. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2016-10-11.

Gate structures in semiconductor devices

Номер патента: US20240313064A1. Автор: Huang-Lin Chao,Hsiang-Pi Chang,Shen-Yang LEE. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Method of forming insulating film in semiconductor device

Номер патента: US20050014389A1. Автор: Sung Hwang. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-20.

Method to form selective strained si using lateral epitaxy

Номер патента: SG143174A1. Автор: Luo Zhijiong,CHONG Yung Fu,Judson R Holt. Владелец: Chartered Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2008-06-27.

Semiconductor device having a photon absorption layer to prevent plasma damage

Номер патента: US7026662B2. Автор: Seung-Chul Song. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2006-04-11.

Method to improve finfet device performance

Номер патента: US20180122948A1. Автор: YONG Li. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2018-05-03.

Epitaxial growth methods and structures thereof

Номер патента: US11456360B2. Автор: Chan-Lon Yang,Tetsuji Ueno,Ming-Hua Yu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2022-09-27.

Epitaxial growth methods and structures thereof

Номер патента: US10658468B2. Автор: Chan-Lon Yang,Tetsuji Ueno,Ming-Hua Yu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-05-19.

Method to improve FinFET device performance

Номер патента: US10340385B2. Автор: YONG Li. Владелец: Semiconductor Manufacturing International Shanghai Corp. Дата публикации: 2019-07-02.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US20160064505A1. Автор: Hitomi Sato,Toshinari Sasaki,Yuhei Sato,Yuta Endo,Kosei Noda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2016-03-03.

Gate spacers in semiconductor devices

Номер патента: US20240297239A1. Автор: Chun-Fu Lu,Hsiang-Pi Chang,Shen-Yang LEE. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-05.

Semiconductor device and manufacturing method thereof

Номер патента: US09812544B2. Автор: Hitomi Sato,Toshinari Sasaki,Yuhei Sato,Yuta Endo,Kosei Noda. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-11-07.

Novel method to enhance channel stress in cmos processes

Номер патента: US20110312144A1. Автор: XIN Wang,Zhiqiang Wu. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-12-22.

Novel Method to Enhance Channel Stress in CMOS Processes

Номер патента: US20110300677A1. Автор: XIN Wang,Zhiqiang Wu. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2011-12-08.

Method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20190131391A1. Автор: Shunji Takenoiri,Shuhei TATEMICHI. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2019-05-02.

Method of manufacturing double diffused drains in semiconductor devices

Номер патента: US20080132024A1. Автор: Shao-Yen Ku,Hung-Lin Chen. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2008-06-05.

Method for Forming Super Contact in Semiconductor Device

Номер патента: US20100140806A1. Автор: Sang Chul Kim. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2010-06-10.

Capping structures in semiconductor devices

Номер патента: US12094951B1. Автор: Po-Chin Chang,Ming-Huan Tsai,Pinyen Lin,Li-Te Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-09-17.

Semiconductor substrate, semiconductor device, and manufacturing methods of the same

Номер патента: US20240321970A1. Автор: Mitsuru Morimoto,Takuji Maekawa. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2024-09-26.

Capping structures in semiconductor devices

Номер патента: US20240363721A1. Автор: Po-Chin Chang,Ming-Huan Tsai,Pinyen Lin,Li-Te Lin. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2024-10-31.

Semiconductor device and method of fabricating semiconductor device

Номер патента: US20050066887A1. Автор: Minoru Kubo,Katsuya Nozawa,Tohru Saitoh,Shigetaka Aoki. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-03-31.

Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20070075380A1. Автор: Juri Kato. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2007-04-05.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor device

Номер патента: US09716006B2. Автор: Kenji Hamada,Naruhisa Miura,Yosuke Nakanishi. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2017-07-25.

Method to optimize p-channel CMOS ICs using Qbd as a monitor of boron penetration

Номер патента: US5817536A. Автор: Ming-Yin Hao,Deepak Kumar Nayak,Rajat Rakkhit. Владелец: Advanced Micro Devices Inc. Дата публикации: 1998-10-06.

GALLIUM ARSENIDE EPITAXIAL GROWTH PROCESS AND GALLIUM ARSENIDE SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: FR2386904A1. Автор: . Владелец: TRW Inc. Дата публикации: 1978-11-03.

Capacitively-coupled field-plate structures for semiconductor devices

Номер патента: US09887268B2. Автор: Bin Lu,Ling Xia. Владелец: Cambridge Electronics Inc. Дата публикации: 2018-02-06.

Field-plate structures for semiconductor devices

Номер патента: US09911817B2. Автор: Bin Lu,Mohamed AZIZE,Ling Xia. Владелец: Cambridge Electronics Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Structure and method to form a FinFET device

Номер патента: US09525069B2. Автор: Effendi Leobandung,Andres Bryant,Tenko Yamashita,Jeffrey B. Johnson. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2016-12-20.

Epitaxial growth using atmospheric plasma preparation steps

Номер патента: US09909232B2. Автор: Eric Frank SCHULTE. Владелец: Ontos Equipment Systems Inc. Дата публикации: 2018-03-06.

Semiconductor device

Номер патента: US09876293B2. Автор: WAN AZHA Bin Wan Mat,Kazunaga Onishi,Rikihiro Maruyama. Владелец: Fuji Electric Co Ltd. Дата публикации: 2018-01-23.

Flexible single-crystalline semiconductor device and fabrication methods thereof

Номер патента: US09831273B2. Автор: Jae-Hyun Ryou. Владелец: UNIVERSITY OF HOUSTON SYSTEM. Дата публикации: 2017-11-28.

Semiconductor device with electrostrictive layer in semiconductor layer and method of manufacturing the same

Номер патента: US20060278903A1. Автор: Kazunari Ishimaru. Владелец: Toshiba Corp. Дата публикации: 2006-12-14.

Ladder annealing process for increasing polysilicon grain size in semiconductor device

Номер патента: US12052868B2. Автор: Lei Li,Tuo Li,Hao PU,Caiyu Wu. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-30.

Method and apparatus for providing mask in semiconductor processing

Номер патента: WO2007136515A1. Автор: Jonathan Kim,Camelia Rusu,Yoojin Kim. Владелец: LAM RESEARCH CORPORATION. Дата публикации: 2007-11-29.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20040056274A1. Автор: Toshihiro Wakabayashi,Hidekazu Sato. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2004-03-25.

Method of forming trench in semiconductor device

Номер патента: US20050009264A1. Автор: Sang Ryu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-01-13.

Manufacturing method of original plate and semiconductor device

Номер патента: US20230317515A1. Автор: Hirotaka Tsuda. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2023-10-05.

Pad structure and manufacturing method thereof in semiconductor device

Номер патента: US10840198B2. Автор: Ming-Chyi Liu,Hung-Shu Huang. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2020-11-17.

Semiconductor substrate, semiconductor device, and manufacturing methods of the same

Номер патента: US12074201B2. Автор: Mitsuru Morimoto,Takuji Maekawa. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2024-08-27.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US09590071B2. Автор: Ichiro Masumoto. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-03-07.

Method to manufacture power semiconductor device

Номер патента: RU2510099C2. Автор: Арност КОПТА,Мунаф РАХИМО. Владелец: АББ ТЕКНОЛОДЖИ АГ. Дата публикации: 2014-03-20.

Semiconductor device

Номер патента: US12142679B2. Автор: Yasutaka Nakashiba,Makoto Koshimizu. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2024-11-12.

Method for fabricating a self-aligned double-gate MOSFET by selective lateral epitaxy

Номер патента: US5646058A. Автор: Yuan Taur,Hon-Sum Philip Wong. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 1997-07-08.

Penetrating implant for forming a semiconductor device

Номер патента: US20130224926A1. Автор: Mark T. Bohr,Walid M. Hafez,Nick Lindert,Giuseppe Curello,Ian R. Post,Chai-Hong Jan. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2013-08-29.

Penetrating implant for forming a semiconductor device

Номер патента: US20090242998A1. Автор: Mark T. Bohr,Walid M. Hafez,Chia-Hong Jan,Nick Lindert,Giuseppe Curello,Ian R. Post. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2009-10-01.

Method for forming inductor in semiconductor device

Номер патента: US20050037589A1. Автор: Young Kim. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-02-17.

Semiconductor device

Номер патента: US09755069B2. Автор: Hiroki Fujii. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-09-05.

Method to protect against contact related shorts on utbb

Номер патента: US20160211171A1. Автор: Shom Ponoth,Qing Liu,Nicolas Loubet. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2016-07-21.

Method to protect against contact related shorts on UTBB

Номер патента: US09633893B2. Автор: Shom Ponoth,Qing Liu,Nicolas Loubet. Владелец: STMicroelectronics lnc USA. Дата публикации: 2017-04-25.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20110156220A1. Автор: Satoru Nakayama,Shoetsu KOGAWA,Seigo Kamata,Shigemitsu Seito. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-06-30.

Mechanical stress-decoupling in semiconductor device

Номер патента: US09991340B2. Автор: DIRK Meinhold,Steffen Bieselt. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2018-06-05.

Mechanical stress-decoupling in semiconductor device

Номер патента: US09663354B2. Автор: DIRK Meinhold,Steffen Bieselt. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2017-05-30.

Method for forming gate oxide layer in semiconductor device

Номер патента: US20050142770A1. Автор: Yong Choi. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-06-30.

Methods for normalizing strain in a semiconductor device

Номер патента: SG155836A1. Автор: Tan Chung Foong,TEO Lee Wee,Quek Kiok Boone Elgin,Alain Chan. Владелец: Chartered Semiconductor Mfg. Дата публикации: 2009-10-29.

Composite substrate and method for manufacturing the same, and semiconductor device structure

Номер патента: US20240258321A1. Автор: Kai Cheng. Владелец: Enkris Semiconductor Inc. Дата публикации: 2024-08-01.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor wafer

Номер патента: US20170186725A1. Автор: Takehiro Oura,Yuichi Ota,Kohei Yoshida,Kentaro Kita. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-06-29.

Stress mitigation for thin and thick films used in semiconductor circuitry

Номер патента: US09934983B2. Автор: Zoltan Ring,Scott Thomas Sheppard,Daniel Namishia,Donald A. Gajewski. Владелец: Cree Inc. Дата публикации: 2018-04-03.

Semiconductor device manufacturing method and semiconductor wafer

Номер патента: US09786630B2. Автор: Takehiro Oura,Yuichi Ota,Kohei Yoshida,Kentaro Kita. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-10-10.

Method of fabricating capacitor in semiconductor device and semiconductor device using the same

Номер патента: US20050287758A1. Автор: Jea Kim. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-12-29.

Method for forming interlayer insulation film in semiconductor device

Номер патента: US20050142848A1. Автор: Kang Shin,Sang Ryu. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-06-30.

Method for forming interlayer insulation film in semiconductor device

Номер патента: US7160810B2. Автор: Sang Wook Ryu,Kang Sup Shin. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2007-01-09.

Method to enhance device performance with selective stress relief

Номер патента: US20070134870A1. Автор: Haining Yang,Yong Lee,Victor Chan. Владелец: Chartered Semiconductor Manufacturing Pte Ltd. Дата публикации: 2007-06-14.

Structure and method to optimize strain in cmosfets

Номер патента: WO2006078740A3. Автор: Xiangdong Chen,Haining S Yang. Владелец: Haining S Yang. Дата публикации: 2007-11-01.

Structure and method to optimize strain in cmosfets

Номер патента: EP1842239A2. Автор: Haining S. Yang,Xiangdong Chen. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2007-10-10.

Structure and method to optimize strain in cmosfets

Номер патента: WO2006078740A2. Автор: Haining S. Yang,Xiangdong Chen. Владелец: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION. Дата публикации: 2006-07-27.

Structure and method to optimize strain in cmosfets

Номер патента: EP1842239A4. Автор: Xiangdong Chen,Haining S Yang. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2009-07-01.

Photo pattern method to increase via etching rate

Номер патента: US20170062270A1. Автор: Kuang-Wen Liu,Cheng-Wei Lin,Zheng-Chang MU. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2017-03-02.

Photo pattern method to increase via etching rate

Номер патента: US20160372401A1. Автор: Kuang-Wen Liu,Cheng-Wei Lin,Zheng-Chang MU. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2016-12-22.

Semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US09893071B2. Автор: Jae Soo Kim,Jae Chun Cha. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2018-02-13.

Photo pattern method to increase via etching rate

Номер патента: US09741607B2. Автор: Kuang-Wen Liu,Cheng-Wei Lin,Zheng-Chang MU. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2017-08-22.

Photo pattern method to increase via etching rate

Номер патента: US09536808B1. Автор: Kuang-Wen Liu,Cheng-Wei Lin,Zheng-Chang MU. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-03.

Implantation process in semiconductor fabrication

Номер патента: WO2006117238A1. Автор: Matthias Hierlemann. Владелец: INFINEON TECHNOLOGIES AG. Дата публикации: 2006-11-09.

Manufacturing method for semiconductor device

Номер патента: US6121160A. Автор: Hideaki Sato,Kinichi Igarashi. Владелец: NEC Corp. Дата публикации: 2000-09-19.

Buffer structure for semiconductor device and methods of fabrication

Номер патента: US20100163848A1. Автор: Prashant Majhi,Jack Kavalieros,Wilman Tsai. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2010-07-01.

Method for forming isolation layer in semiconductor device

Номер патента: US20030119266A1. Автор: Cheol Park. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2003-06-26.

Integrated method for low-cost wide band gap semiconductor device manufacturing

Номер патента: US12125697B2. Автор: Bishnu Gogoi,Tirunelveli Subramaniam Ravi. Владелец: Thinsic Inc. Дата публикации: 2024-10-22.

Forming self-aligned vias and air-gaps in semiconductor fabrication

Номер патента: US20210202313A1. Автор: Lawrence A. Clevenger,John H. Zhang,Carl J. Radens. Владелец: Tessera LLC. Дата публикации: 2021-07-01.

Forming self-aligned vias and air-gaps in semiconductor fabrication

Номер патента: US10242911B2. Автор: Lawrence A. Clevenger,John H. Zhang,Carl J. Radens. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2019-03-26.

Using sacrificial solids in semiconductor processing

Номер патента: US20190333756A1. Автор: Gurtej S. Sandhu,Matthew S. Thorum. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-10-31.

Using sacrificial solids in semiconductor processing

Номер патента: US20210183643A1. Автор: Gurtej S. Sandhu,Matthew S. Thorum. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2021-06-17.

Using sacrificial solids in semiconductor processing

Номер патента: US20190189424A1. Автор: Gurtej S. Sandhu,Matthew S. Thorum. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2019-06-20.

Using sacrificial solids in semiconductor processing

Номер патента: WO2019125760A1. Автор: Gurtej S. Sandhu,Matthew S. Thorum. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2019-06-27.

Manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20130017669A1. Автор: Satoru Nakayama,Shoetsu KOGAWA,Seigo Kamata,Shigemitsu Seito. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2013-01-17.

Method to form dual tin layers as pFET work metal stack

Номер патента: US09768171B2. Автор: Ruqiang Bao,Siddarth A. Krishnan. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-09-19.

Semiconductor device and method of manufacturing same

Номер патента: US09728654B2. Автор: Syoji Higashida. Владелец: ROHM CO LTD. Дата публикации: 2017-08-08.

Semiconductor device having buried region beneath electrode and method to form the same

Номер патента: US09679996B2. Автор: Masataka Watanabe. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2017-06-13.

Semiconductor device

Номер патента: US09490246B2. Автор: Yasuki Yoshihisa,Ryoji Matsuda. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2016-11-08.

Method to improve the Selective Epitaxial Growth (SEG) Process

Номер патента: EP1936670A3. Автор: Matty Caymax,Roger Loo,Frederik Leys. Владелец: Interuniversitair Microelektronica Centrum vzw IMEC. Дата публикации: 2013-05-01.

Substate bias voltage generation circuits and methods to control leakage in semiconductor memory device

Номер патента: US09577636B1. Автор: Yun Seok Hong. Владелец: SK hynix Inc. Дата публикации: 2017-02-21.

Single wafer cleaning method to reduce particle defects on a wafer surface

Номер патента: US7341065B2. Автор: Steven Verhaverbeke,Christopher Laurent Beaudry. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2008-03-11.

Semiconductor device and method for manufacturing the same

Номер патента: US20150056730A1. Автор: Myung cheol Yoo,Sang Don Lee,Se Jong Oh,Kyu Sung Hwang,Moo Keun Park. Владелец: VERTICLE Inc. Дата публикации: 2015-02-26.

Semiconductor device structures and printed circuit boards comprising semiconductor devices

Номер патента: US20130228922A1. Автор: Mark E. Tuttle. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2013-09-05.

Methods for forming on-chip capacitor structures in semiconductor devices

Номер патента: US12108603B2. Автор: LIANG Chen. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-10-01.

Epitaxial growth apparatus and method of producing epitaxial wafer

Номер патента: US12129543B2. Автор: Kazuhiro Narahara,Haku Komori. Владелец: Sumco Corp. Дата публикации: 2024-10-29.

Semiconductor device interconnect structures formed by metal reflow process

Номер патента: US09735051B2. Автор: Chih-Chao Yang,Conal E. Murray. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-08-15.

Interconnection wires of semiconductor devices

Номер патента: US20140175650A1. Автор: Chung-Ju Lee,Hsiang-Huan Lee,Sunil Kumar Singh,Hsin-Chieh Yao. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2014-06-26.

Method for Forming Isolation Layer in Semiconductor Devices

Номер патента: US20070166949A1. Автор: In Kyu Chun. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2007-07-19.

Trench in semiconductor device and formation method thereof

Номер патента: US20040121532A1. Автор: Young-Hun Seo. Владелец: Anam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-06-24.

Method to detect photoresist residue on a semiconductor device

Номер патента: US20050250227A1. Автор: Yung-Lung Hsu,To-Yu Chen,Mei-Yen Li. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2005-11-10.

Method for fabricating isolation layer in semiconductor device

Номер патента: US20040203225A1. Автор: Seung Pyi. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2004-10-14.

Method of producing semiconductor device

Номер патента: US20020127851A1. Автор: Takaaki Miyamoto. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-09-12.

Epitaxial growth method and equipment

Номер патента: EP4350739A1. Автор: Jian Zhang,Jiangang Chen,Jianping Cao,Haifeng Shi. Владелец: WAFER WORKS EPITAXIAL CORP. Дата публикации: 2024-04-10.

Epitaxy susceptor, epitaxy growth apparatus and manufacturing method of semiconductor device

Номер патента: US20240191393A1. Автор: Gongbai Cao,Shuai Pan. Владелец: Zing Semiconductor Corp. Дата публикации: 2024-06-13.

Method for forming fine patterns in semiconductor device

Номер патента: US20030186547A1. Автор: YOON Hyun,Cha Koh. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-10-02.

Method for forming metal wires in semiconductor device

Номер патента: US20050233579A1. Автор: Ihl Cho. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-10-20.

Method of forming interconnectings in semiconductor devices

Номер патента: US20020090810A1. Автор: Mario Napolitano. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2002-07-11.

Systems and methods to passivate on-die redistribution interconnects

Номер патента: WO2008057837A1. Автор: Jun He,Kevin J. Lee,Kaustubh S. Gadre,Sabhash M. Joshi. Владелец: Intel Corporation. Дата публикации: 2008-05-15.

Through-polymer via (tpv) and method to manufacture such a via

Номер патента: EP2941785A1. Автор: Guoqi Zhang,Regnerus Hermannus POELMA,Henk VAN ZEIJL. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2015-11-11.

Systems and methods to passivate on-die redistribution interconnects

Номер патента: WO2008057837A9. Автор: Jun He,Kevin J Lee,Kaustubh S Gadre,Sabhash M Joshi. Владелец: Sabhash M Joshi. Дата публикации: 2008-07-03.

Methods of fabricating semiconductor devices

Номер патента: US09793165B2. Автор: Kyu-Ha Lee,Taeje Cho,Hogeon SONG,SeYoung JEONG. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2017-10-17.

Through polymer via (TPV) and method to manufacture such a via

Номер патента: US09576882B2. Автор: Guoqi Zhang,Regnerus Hermannus POELMA,Henk VAN ZEIJL. Владелец: Technische Universiteit Delft. Дата публикации: 2017-02-21.

Semiconductor device and method for producing same

Номер патента: US09484304B2. Автор: Shigeo Ishikawa,Hiroshi Amaike,Kazuhiro Okuda. Владелец: Longitude Semiconductor SARL. Дата публикации: 2016-11-01.

Method and system for determining overlap process windows in semiconductors by inspection techniques

Номер патента: US20140065734A1. Автор: Lothar Bauch. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2014-03-06.

Semiconductor device including fluorine diffusion barrier layer and method for manufacturing the same

Номер патента: US20080054465A1. Автор: Jong-Taek Hwang. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2008-03-06.

Method of manufacturing storage electrode in semiconductor device

Номер патента: US20010048127A1. Автор: Dong Kim,Sang Park,Seung Lee,Cha Dong. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-12-06.

Method of manufacturing storage electrode in semiconductor device

Номер патента: US20020066918A1. Автор: Dong Kim,Sang Park,Seung Lee,Cha Dong. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2002-06-06.

Semiconductor device, method of manufacturing semiconductor substrate, and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US7326603B2. Автор: Kei Kanemoto. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2008-02-05.

Method for manufacturing a semiconductor device based on epitaxial growth

Номер патента: US09293625B2. Автор: Yanting SUN,Sebastian Lourdudoss. Владелец: Tandem Sun AB. Дата публикации: 2016-03-22.

Method to prevent loss of data of a transistor-based memory unit

Номер патента: US20170092360A1. Автор: Guang-Huei Lin. Владелец: Egalax Empia Technology Inc. Дата публикации: 2017-03-30.

Method to prevent loss of data of a transistor-based memory unit

Номер патента: US09659654B2. Автор: Guang-Huei Lin. Владелец: Egalax Empia Technology Inc. Дата публикации: 2017-05-23.

Compensation of temperature effects in semiconductor device structures

Номер патента: US09837439B1. Автор: Juergen Faul. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-12-05.

Methods of making lateral junction field effect transistors using selective epitaxial growth

Номер патента: EP2277195A2. Автор: Igor Sankin,Joseph Neil Merrett. Владелец: Semisouth Laboratories Inc. Дата публикации: 2011-01-26.

Semiconductor device and communication system

Номер патента: US09384439B2. Автор: Shunpei Yamazaki,Kiyoshi Kato. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2016-07-05.

Stacked semiconductor device

Номер патента: US5128732A. Автор: TADASHI Nishimura,Yasuo Inoue,Yasuo Yamaguchi,Shigeru Kusunoki,Kazuyuki Sugahara. Владелец: Agency of Industrial Science and Technology. Дата публикации: 1992-07-07.

E-fuse for use in semiconductor device

Номер патента: US10700060B2. Автор: Jae Hong Kim,Deok-kee Kim,Honggyun Kim,Seo Woo NAM. Владелец: INDUSTRY ACADEMY COOPERATION FOUNDATION OF SEJONG UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-06-30.

E-fuse for use in semiconductor device

Номер патента: US20190088646A1. Автор: Jae Hong Kim,Deok-kee Kim,Honggyun Kim,Seo Woo NAM. Владелец: INDUSTRY ACADEMY COOPERATION FOUNDATION OF SEJONG UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-03-21.

E-fuse for use in semiconductor device

Номер патента: US20200066717A1. Автор: Jae Hong Kim,Deok-kee Kim,Honggyun Kim,Seo Woo NAM. Владелец: INDUSTRY ACADEMY COOPERATION FOUNDATION OF SEJONG UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-02-27.

Semiconductor device

Номер патента: US20150123237A1. Автор: Shigeyuki SAKUMA. Владелец: Seiko Epson Corp. Дата публикации: 2015-05-07.

Method of fabricating memory cell in semiconductor device

Номер патента: US20050189581A1. Автор: Tae Park. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-09-01.

Semiconductor device and system

Номер патента: US20050063112A1. Автор: Kazuo Kanetani,Hiroaki Nambu,Hideto Kazama,Takemi Negishi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2005-03-24.

Semiconductor device and system

Номер патента: US20030222285A1. Автор: Kazuo Kanetani,Hiroaki Nambu,Hideto Kazama,Takemi Negishi. Владелец: HITACHI LTD. Дата публикации: 2003-12-04.

Stress incorporation in semiconductor devices

Номер патента: US11699755B2. Автор: ASHISH Pal,El Mehdi Bazizi,Benjamin Colombeau,Mehdi Saremi. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-07-11.

Stress incorporation in semiconductor devices

Номер патента: US20230299199A1. Автор: ASHISH Pal,El Mehdi Bazizi,Benjamin Colombeau,Mehdi Saremi. Владелец: Applied Materials Inc. Дата публикации: 2023-09-21.

Guard ring in semiconductor device and fabricating method thereof

Номер патента: US20080150144A1. Автор: Won-Hyo Park. Владелец: Dongbu HitekCo Ltd. Дата публикации: 2008-06-26.

Structure and method to minimize warpage of packaged semiconductor devices

Номер патента: US09978614B2. Автор: Varughese Mathew,Nishant Lakhera,Akhilesh K. Singh,James R. Guajardo. Владелец: NXP USA Inc. Дата публикации: 2018-05-22.

Method to cure mobile ion contamination in semiconductor processing

Номер патента: US6114222A. Автор: Randhir P. S. Thakur. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2000-09-05.

Method to form a fin structure on deep trenches for a semiconductor device

Номер патента: US20230317771A1. Автор: Huang Liu,Liang Li,Chunhui Low. Владелец: HeFeChip Corp Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Method to form a fin structure on deep trenches for a semiconductor device

Номер патента: US12125873B2. Автор: Huang Liu,Liang Li,Chunhui Low. Владелец: HeFeChip Corp Ltd. Дата публикации: 2024-10-22.

Method of forming gate electrode in semiconductor device

Номер патента: US20040259369A1. Автор: Cha Dong,Ho Son. Владелец: Individual. Дата публикации: 2004-12-23.

Methods to reduce stress on a metal interconnect

Номер патента: US6949475B2. Автор: Jae Suk Lee. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-09-27.

Method to improve crystalline regrowth

Номер патента: US20170287942A1. Автор: Oh-Jung Kwon,Yun Y. Wang,Stephen G. Fugardi,Sean M. Dillon. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-10-05.

Semiconductor devices to reduce stress on a metal interconnect

Номер патента: US7501706B2. Автор: Jae Suk Lee. Владелец: Dongbu Electronics Co Ltd. Дата публикации: 2009-03-10.

Method to improve crystalline regrowth

Номер патента: US9853055B2. Автор: Oh-Jung Kwon,Yun Y. Wang,Stephen G. Fugardi,Sean M. Dillon. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Method to improve crystalline regrowth

Номер патента: US09853055B2. Автор: Oh-Jung Kwon,Yun Y. Wang,Stephen G. Fugardi,Sean M. Dillon. Владелец: Globalfoundries Inc. Дата публикации: 2017-12-26.

Method for forming buried word line in semiconductor device

Номер патента: US20110027988A1. Автор: Sun-Hwan Hwang,Se-Aug Jang,Kee-Joon Oh,Soon-Young Park. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2011-02-03.

Method to form semiconductor device and semiconductor device thereof

Номер патента: US20230317526A1. Автор: Huang Liu,Liang Li,John Zhang,Sunil Singh,Chun Yu Wong,Heng Yang. Владелец: HeFeChip Corp Ltd. Дата публикации: 2023-10-05.

Semiconductor device and method to minimize stress on stack via

Номер патента: US12080600B2. Автор: Seng Guan Chow,Yaojian Lin. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2024-09-03.

Cleaning composition and method for semiconductor device fabrication

Номер патента: US09580672B2. Автор: Ching-Yu Chang,Chen-Yu Liu. Владелец: Taiwan Semiconductor Manufacturing Co TSMC Ltd. Дата публикации: 2017-02-28.

Strain control in semiconductor devices

Номер патента: EP2419936A1. Автор: David John Wallis. Владелец: Qinetiq Ltd. Дата публикации: 2012-02-22.

Strain control in semiconductor devices

Номер патента: WO2010119241A1. Автор: David John Wallis. Владелец: QINETIQ LIMITED. Дата публикации: 2010-10-21.

Thermal method to control underfill flow in semiconductor devices

Номер патента: WO2008021935A1. Автор: Vikas Gupta,Jeremias Perez Libres,Joseph Edward Grigalunas. Владелец: TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED. Дата публикации: 2008-02-21.

Thermal Method to Control Underfill Flow in Semiconductor Devices

Номер патента: US20120097095A1. Автор: Vikas Gupta,Jeremias Perez Libres,Joseph Edward Grigalunas. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2012-04-26.

Carrier Lift Locking Structure And Locking Method To Prevent Lift Deflection During Carrier Movement

Номер патента: US20240247443A1. Автор: Jong Sung Kim,Seong Moon KIM. Владелец: MPLUS CORP. Дата публикации: 2024-07-25.

Methods for making semiconductor device with sealing resin

Номер патента: US09472540B2. Автор: Junji Tanaka,Masanori Onodera,Kouichi Meguro. Владелец: VALLEY DEVICE MANAGEMENT. Дата публикации: 2016-10-18.

Electronic devices in semiconductor package cavities

Номер патента: US20240234231A1. Автор: Qiao CHEN,Christopher Daniel Manack,Patrick Francis Thompson. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2024-07-11.

Ion implantation method in semiconductor device

Номер патента: US20050176224A1. Автор: JUNG Myung Jin,Kim Dae Kyeun. Владелец: DongbuAnam Semiconductor Inc. Дата публикации: 2005-08-11.

Semiconductor device and a method of manufacturing the same

Номер патента: US20110159644A1. Автор: Yoshihiko Shimanuki. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2011-06-30.

Isolating electric paths in semiconductor device packages

Номер патента: US09899312B2. Автор: Adrian E. Ong,Dong Sik Jeong. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2018-02-20.

Semiconductor device and method of controlling warpage in semiconductor package

Номер патента: US09406579B2. Автор: Daesik Choi,Sang Mi Park,Joungin Yang,YiSu Park,Wonil Kwon. Владелец: Stats Chippac Pte Ltd. Дата публикации: 2016-08-02.

Method to package multiple MEMS sensors and actuators at different gases and cavity pressures

Номер патента: US09725304B2. Автор: Shingo Yoneoka,Wenhua Zhang. Владелец: MCube Inc. Дата публикации: 2017-08-08.

Wire ball bonding in semiconductor devices

Номер патента: WO2019136743A1. Автор: HAN Zhong,CHEN XIONG,Xi Lin Li,Zi Qi Wang,Yong Qiang Tang. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2019-07-18.

Wire ball bonding in semiconductor devices

Номер патента: US20190221537A1. Автор: HAN Zhong,CHEN XIONG,Xi Lin Li,Zi Qi Wang,Yong Qiang Tang. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2019-07-18.

Semiconductor device package and method of manufacture

Номер патента: EP2680307A3. Автор: Stephen R. Hooper,Dwight L. Daniels,Alan J. Magnus,Justin E. Poarch. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2014-12-17.

Semiconductor assembly and method to form the same

Номер патента: US09824939B2. Автор: Mitsuji Nunokawa. Владелец: Sumitomo Electric Device Innovations Inc. Дата публикации: 2017-11-21.

Method for fabricating polycide dual gate in semiconductor device

Номер патента: US20010006832A1. Автор: Jong Bae,Ji Park,Dong Sohn. Владелец: Hyundai Electronics Industries Co Ltd. Дата публикации: 2001-07-05.

High-z oxide nanoparticles embedded in semiconductor package

Номер патента: US09607952B1. Автор: Ning Li,Qing Cao,Ying He,Jeehwan Kim. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2017-03-28.

Method to connect power terminal to substrate within semiconductor package

Номер патента: EP4451315A1. Автор: Thomas Spann,Elaheh Arjmand. Владелец: Littelfuse Inc. Дата публикации: 2024-10-23.

Method to connect power terminal to substrate within semiconductor package

Номер патента: US20240355718A1. Автор: Thomas Spann,Elaheh Arjmand. Владелец: Littelfuse Inc. Дата публикации: 2024-10-24.

Semiconductor device with molten metal preventing member

Номер патента: US7834443B2. Автор: Hideo Kubo,Tsuyoshi So. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2010-11-16.

Semiconductor device package and method of manufacture

Номер патента: US20140338956A1. Автор: Stephen R. Hooper,Dwight L. Daniels,Alan J. Magnus,Justin E. Poarch. Владелец: FREESCALE SEMICONDUCTOR INC. Дата публикации: 2014-11-20.

Semiconductor device with chips on isolated mount regions

Номер патента: US8759955B2. Автор: Isao Ochiai,Hideyuki Iwamura. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2014-06-24.

Semiconductor device

Номер патента: US20130187261A1. Автор: Isao Ochiai,Hideyuki Iwamura. Владелец: Individual. Дата публикации: 2013-07-25.

Fuse part in semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20120088361A1. Автор: Byung-Duk LEE. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2012-04-12.

Fuse part in semiconductor device and method for forming the same

Номер патента: US20090243033A1. Автор: Byung-Duk LEE. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-10-01.

Fuse box and method for fabricating the same and method for repairing the same in semiconductor device

Номер патента: US20090039463A1. Автор: Jeong-Kyu KANG. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2009-02-12.

Wafer processing equipment and method of manufacturing semiconductor device

Номер патента: US20220325953A1. Автор: Youngtae Kim,Jihoon Jeong,Sangjine Park,Younghoo KIM. Владелец: SAMSUNG ELECTRONICS CO LTD. Дата публикации: 2022-10-13.

Method to produce a 3d multilayer semiconductor device and structure

Номер патента: US20240274534A1. Автор: Zvi Or-Bach,Jin-Woo Han. Владелец: Monolithic 3D Inc. Дата публикации: 2024-08-15.

Method for analyzing discrete traps in semiconductor devices

Номер патента: US09691861B2. Автор: Koon Hoo Teo,Andrei Kniazev,Qun Gao. Владелец: Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc. Дата публикации: 2017-06-27.

Semiconductor device

Номер патента: EP1907992A4. Автор: Takanori Matsuzaki,Yutaka Shionoiri. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2009-09-02.

Capacitor architectures in semiconductor devices

Номер патента: US20220140069A1. Автор: Abhishek A. Sharma,Scott B. Clendenning,Manish Chandhok,Roman CAUDILLO,Sudipto NASKAR,Cheyun LIN. Владелец: Intel Corp. Дата публикации: 2022-05-05.

Method for forming semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US20230015279A1. Автор: Deyuan Xiao,GuangSu SHAO,Weiping BAI. Владелец: Beijing Superstring Academy of Memory Technology. Дата публикации: 2023-01-19.

Minority carrier semiconductor devices with improved reliabilty

Номер патента: US20020003237A1. Автор: Daniel A. Steigerwald,Changhua Chen,Stephen A. Stockman. Владелец: LUMILEDS LLC. Дата публикации: 2002-01-10.

Method to produce a multi-level semiconductor memory device and structure

Номер патента: US11978731B2. Автор: Zvi Or-Bach,Jin-Woo Han. Владелец: Monolithic 3D Inc. Дата публикации: 2024-05-07.

Method to produce a 3D multilayer semiconductor device and structure

Номер патента: US12100658B2. Автор: Zvi Or-Bach,Jin-Woo Han. Владелец: Monolithic 3D Inc. Дата публикации: 2024-09-24.

Electroless nickel and gold plating in semiconductor device

Номер патента: WO2011084415A3. Автор: Osvaldo Lopez,Juan Alejandrow Herbsommer. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2011-11-17.

Electroless nickel and gold plating in semiconductor device

Номер патента: WO2011084415A2. Автор: Osvaldo Lopez,Juan Alejandrow Herbsommer. Владелец: Texas Instruments Japan Limited. Дата публикации: 2011-07-14.

Lateral epitaxial growth by seeded solidification

Номер патента: US4670088A. Автор: John C. C. Fan,Michael W. Geis,Bor-Yeu Tsaur. Владелец: Massachusetts Institute of Technology. Дата публикации: 1987-06-02.

Materials and structures for optical and electrical iii-nitride semiconductor devices and methods

Номер патента: US20210296516A1. Автор: Robbie J. Jorgenson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-09-23.

Materials and structures for optical and electrical III-nitride semiconductor devices and methods

Номер патента: US11631775B2. Автор: Robbie J. Jorgenson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2023-04-18.

Materials, structures, and methods for optical and electrical III-nitride semiconductor devices

Номер патента: US09978894B2. Автор: Robbie J. Jorgenson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2018-05-22.

Materials, structures, and methods for optical and electrical III-nitride semiconductor devices

Номер патента: US09608145B2. Автор: Robbie J. Jorgenson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2017-03-28.

Semiconductor device and manufacturing method therefor

Номер патента: US20030129836A1. Автор: Takashi Sato. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-07-10.

Passive component integrated with semiconductor device in semiconductor package

Номер патента: US09595512B2. Автор: Martin Standing. Владелец: Infineon Technologies North America Corp. Дата публикации: 2017-03-14.

Detection and Reduction of Dielectric Breakdown in Semiconductor Devices

Номер патента: US20080211500A1. Автор: Masayasu Miyata,William A. Goddard,Jamil Tahir-Kheli. Владелец: Individual. Дата публикации: 2008-09-04.

Device for analyzing failure in semiconductor device provided with internal voltage generating circuit

Номер патента: US20040012406A1. Автор: Kensaku Naito. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2004-01-22.

Detection and reduction of dielectric breakdown in semiconductor devices

Номер патента: WO2005031850A3. Автор: William A Goddard Iii,Masayasu Miyata,Jamil Tahir-Kheli. Владелец: Jamil Tahir-Kheli. Дата публикации: 2006-01-05.

Semiconductor device and semiconductor package

Номер патента: US09768139B2. Автор: Chien-Fan Chen,Wan-Ting CHIU. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2017-09-19.

Customized smart devices and touchscreen devices and cleanspace manufacturing methods to make them

Номер патента: US20210265207A1. Автор: Frederick A. Flitsch. Владелец: Individual. Дата публикации: 2021-08-26.

Semiconductor device and semiconductor package

Номер патента: US09508671B2. Автор: Chien-Fan Chen,Wan-Ting CHIU. Владелец: Advanced Semiconductor Engineering Inc. Дата публикации: 2016-11-29.

Semiconductor device and method for setting voltage in semiconductor device

Номер патента: US20160291628A1. Автор: Makoto Suwada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2016-10-06.

Semiconductor device and method of monitoring blowing of fuse in semiconductor device

Номер патента: US8298921B2. Автор: Hiroyuki Arai. Владелец: Semiconductor Components Industries LLC. Дата публикации: 2012-10-30.

Method for detecting EPI induced buried layer shifts in semiconductor devices

Номер патента: US20060038553A1. Автор: Xiaoju Wu,Qingfeng Wang,Xinfen Chen,John Arch. Владелец: Texas Instruments Inc. Дата публикации: 2006-02-23.

Testing fuse configurations in semiconductor devices

Номер патента: US09568544B2. Автор: Adrian E. Ong,Paul Fuller,Nick Van Heel,Mark Thomann. Владелец: RAMBUS INC. Дата публикации: 2017-02-14.

Semiconductor device and method for setting voltage in semiconductor device

Номер патента: US09563221B2. Автор: Makoto Suwada. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2017-02-07.

Semiconductor device

Номер патента: US09953905B2. Автор: Takuya Kadoguchi,Takanori Kawashima. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2018-04-24.

Semiconductor device

Номер патента: US09824961B2. Автор: Takuya Kadoguchi,Takanori Kawashima. Владелец: Toyota Motor Corp. Дата публикации: 2017-11-21.

Systems and methods for determining measurement location in semiconductor wafer metrology

Номер патента: WO2022071981A1. Автор: Asaf Granot. Владелец: KLA Corporation. Дата публикации: 2022-04-07.

Systems and methods for determining measurement location in semiconductor wafer metrology

Номер патента: EP4200899A1. Автор: Asaf Granot. Владелец: KLA Corp. Дата публикации: 2023-06-28.

Surface-mount device wire bonding in semiconductor device assemblies

Номер патента: US20230207490A1. Автор: Yun Ting Hsu,Yung Sheng Zou. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2023-06-29.

Template for epitaxial growth, method for producing the same, and nitride semiconductor device

Номер патента: US09556535B2. Автор: Akira Hirano,Cyril Pernot. Владелец: Soko Kagaku Co Ltd. Дата публикации: 2017-01-31.

Semiconductor device, display device, and electronic appliance

Номер патента: US09640558B2. Автор: Hajime Kimura. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2017-05-02.

Semiconductor device including an H-bridge circuit for driving a motor

Номер патента: US09559629B2. Автор: Kenji Amada. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-01-31.

Method to create flexible connections for integrated circuits

Номер патента: US20080029889A1. Автор: Chirag Patel,Leena Buchwalter,Russell Budd. Владелец: International Business Machines Corp. Дата публикации: 2008-02-07.

E-fuse for use in semiconductor device

Номер патента: US10685913B2. Автор: Jae Hong Kim,Deok-kee Kim,Seo Woo NAM. Владелец: INDUSTRY ACADEMY COOPERATION FOUNDATION OF SEJONG UNIVERSITY. Дата публикации: 2020-06-16.

E-fuse for use in semiconductor device

Номер патента: US20190088597A1. Автор: Jae Hong Kim,Deok-kee Kim,Seo Woo NAM. Владелец: INDUSTRY ACADEMY COOPERATION FOUNDATION OF SEJONG UNIVERSITY. Дата публикации: 2019-03-21.

Use of freestanding nitride veneers in semiconductor devices

Номер патента: US09816201B2. Автор: Scott M. Zimmerman,William R. Livesay,Richard L. Ross. Владелец: Goldeneye Inc. Дата публикации: 2017-11-14.

Test structure for determining overlay accuracy in semiconductor devices using resistance measurement

Номер патента: US09564382B2. Автор: Daniel Piper. Владелец: WaferTech LLC. Дата публикации: 2017-02-07.

Method to texture silicon surfaces

Номер патента: RU2474008C2. Автор: Ингемар ОЛЕФЬЁРД,Тимоти С. ЛОММАССОН. Владелец: Норут Нарвик Ас. Дата публикации: 2013-01-27.

Control of current spreading in semiconductor laser diodes

Номер патента: US6931043B2. Автор: John C. Connolly,Louis A. Dimarco. Владелец: Trumpf Photonics Inc. Дата публикации: 2005-08-16.

Method to manufacture semiconductor device with optical grating

Номер патента: US20120094402A1. Автор: Yutaka Oonishi,Katsumi Uesaka,Kuniaki Ishihara. Владелец: Sumitomo Electric Industries Ltd. Дата публикации: 2012-04-19.

Semiconductor device

Номер патента: US09935363B2. Автор: Teruyuki Fujii,Kazuya Hanaoka. Владелец: Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd. Дата публикации: 2018-04-03.

Fabrication method to minimize ballast layer defects

Номер патента: WO2009017929A2. Автор: Steven Young,William Dauksher,Emmett Howard,Donald Weston. Владелец: MOTOROLA, INC.. Дата публикации: 2009-02-05.

Fabrication method to minimize ballast layer defects

Номер патента: WO2009017929A3. Автор: Steven Young,William Dauksher,Emmett Howard,Donald Weston. Владелец: Donald Weston. Дата публикации: 2009-04-09.

System and method to prevent audio watermark detection

Номер патента: US20110243327A1. Автор: Michael J. Strein. Владелец: Disney Enterprises Inc. Дата публикации: 2011-10-06.

Systems and methods to prevent denial of service attacks

Номер патента: EP2534787B1. Автор: Ric Romero,Lance R. Reidhead. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2013-12-25.

Systems and methods to prevent denial of service attacks

Номер патента: WO2011100007A1. Автор: Ric Romero,Lance R. Reidhead. Владелец: Raytheon Company. Дата публикации: 2011-08-18.

Systems and methods to prevent denial of service attacks

Номер патента: EP2534787A1. Автор: Ric Romero,Lance R. Reidhead. Владелец: Raytheon Co. Дата публикации: 2012-12-19.

System and method to prevent manipulation of transmitted video data

Номер патента: WO2012007263A1. Автор: Christophe Nicolas,Andre Kudelski. Владелец: Nagravision S.A.. Дата публикации: 2012-01-19.

Semiconductor device, correction method in semiconductor device, and correction method of camera module

Номер патента: US20160248977A1. Автор: Toru Kitano. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2016-08-25.

System and method to prevent manipulation of transmitted video data

Номер патента: EP2594064A1. Автор: Christophe Nicolas,Andre Kudelski. Владелец: Nagravision SA. Дата публикации: 2013-05-22.

Semiconductor device, correction method in semiconductor device, and correction method of camera module

Номер патента: US09794484B2. Автор: Toru Kitano. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-10-17.

System and method to prevent manipulation of transmitted video data

Номер патента: US09432709B2. Автор: Christophe Nicolas,Andre Kudelski. Владелец: Nagravision SA. Дата публикации: 2016-08-30.

Heat spreaders for use in semiconductor device testing, such as burn-in testing

Номер патента: US12078672B2. Автор: Xiaopeng Qu,Amy R. Griffin,Wesley J. Orme. Владелец: Micron Technology Inc. Дата публикации: 2024-09-03.

Method to mitigate fraudulent usage of qos from mobile terminals using uplink packet marking

Номер патента: WO2008084050A1. Автор: William Anderson,Haris Zisimopoulos. Владелец: IPWireless Inc. Дата публикации: 2008-07-17.

Method for manufacturing a semiconductor device

Номер патента: US6146945A. Автор: Jun Osanai. Владелец: Seiko Instruments Inc. Дата публикации: 2000-11-14.

Method to provide disaster recovery with reverse proxy across geographically distributed data lakes

Номер патента: US20240275797A1. Автор: Anay Kishore,Parmnder Singh Sethi. Владелец: Dell Products LP. Дата публикации: 2024-08-15.

System and method to prevent misuse of aircraft messages

Номер патента: US09544047B2. Автор: Radhakrishna G SAMPIGETHAYA. Владелец: Boeing Co. Дата публикации: 2017-01-10.

Systems and methods to minimize startup transients in class-d amplifiers

Номер патента: US20100284547A1. Автор: Michael A. Kost. Владелец: D2Audio LLC. Дата публикации: 2010-11-11.

Systems and methods to switch radio frequency signals for greater isolation

Номер патента: US09674006B2. Автор: Dylan Charles BARTLE,Yu Zhu,Oleksiy Klimashov. Владелец: Skyworks Solutions Inc. Дата публикации: 2017-06-06.

System and method to dynamically analyze metadata

Номер патента: US12028228B1. Автор: Sakshi Bakshi,Rajesh Kancharla,Himanshi Sharma,Keerthivasan Kulasekaran. Владелец: Bank of America Corp. Дата публикации: 2024-07-02.

Semiconductor drive device, semiconductor device, and power conversion device

Номер патента: US12081115B2. Автор: Yasutaka Imamura,Junichi Nakashima,Yohei MITSUI. Владелец: Mitsubishi Electric Corp. Дата публикации: 2024-09-03.

Managing data transfers in semiconductor devices

Номер патента: US20240305298A1. Автор: Su-Chueh Lo,Yi-Fan Chang,Jeng-Kuan Lin. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-12.

Managing data transfers in semiconductor devices

Номер патента: EP4428698A1. Автор: Su-Chueh Lo,Jeng-Kuan Lin,Yi-Fang Chang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-11.

Managing signal transfers in semiconductor devices

Номер патента: EP4369602A1. Автор: Su-Chueh Lo,Wei-Yi Cheng. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-05-15.

Method to create given level of vacuum in milking system and computer program product

Номер патента: RU2461186C2. Автор: Хенрик ИДЕНШЕ. Владелец: ДЕЛАВАЛЬ ХОЛДИНГ АБ. Дата публикации: 2012-09-20.

Method to ameliorate osteolysis and metastasis

Номер патента: US5626845A. Автор: Gregory R. Mundy,Toshiyuki Yoneda. Владелец: Xenotech Inc. Дата публикации: 1997-05-06.

Elevator belt end joint and method to protect and control elevator belt end joint

Номер патента: RU2383487C2. Автор: Эрнст АХ. Владелец: Инвенцио Аг. Дата публикации: 2010-03-10.

Systems and methods to prevent gas explosion in a coal mine

Номер патента: RU2583964C2. Автор: Хунгуан ЛЮ. Владелец: Хунгуан ЛЮ. Дата публикации: 2016-05-10.

Method to prevent collision of two elevator cabins and elevator

Номер патента: RU2464217C2. Автор: Ханс КОХЕР. Владелец: Инвенцио Аг. Дата публикации: 2012-10-20.

Methods to prevent disulfide scrambling for ms-based proteomics

Номер патента: EP4427048A1. Автор: Ning Li,Yuan Mao,Andrew Kleinberg. Владелец: Regeneron Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2024-09-11.

Methods to prevent therapy resistance in melanoma via blocking genomic instability

Номер патента: WO2023158911A3. Автор: Roger S. Lo. Владелец: The Regents of the University of California. Дата публикации: 2023-09-21.

Methods to prevent disulfide scrambling for ms-based proteomics

Номер патента: CA3236059A1. Автор: Ning Li,Yuan Mao,Andrew Kleinberg. Владелец: Regeneron Pharmaceuticals Inc. Дата публикации: 2023-05-04.

Device and method to avert anal fecal leakage

Номер патента: US09387129B2. Автор: Jorge Bravo. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-07-12.

Method to reduce soft error rate in semiconductor memory

Номер патента: US20060036913A1. Автор: Keith Krasnansky. Владелец: Telogy Networks Inc. Дата публикации: 2006-02-16.

Managing data reliability in semiconductor devices

Номер патента: US12067267B2. Автор: Shih-Chou Juan,Wei-Yan Jang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-08-20.

Safety mechanism and methods to prevent rotating imaging device from exiting a catheter

Номер патента: US20010020149A1. Автор: Thomas Moore,Ronald Jabba,Larry Wasicek. Владелец: Individual. Дата публикации: 2001-09-06.

Positive feed tool with a slip clutch and a method, to prevent jamming

Номер патента: US09604334B2. Автор: Jeremy WATFORD,Kevin Myhill. Владелец: Apex Brands Inc. Дата публикации: 2017-03-28.

Systems and methods to prevent citrus greening

Номер патента: US20230264243A1. Автор: Matthew J. Olson,Sascha J. Welz,Andrew D. Ayers,Dane N. Hague. Владелец: Myland Company Inc. Дата публикации: 2023-08-24.

Device and method to prevent leakage

Номер патента: US20240074758A1. Автор: Scott T. Kelley,Jill Kelley. Владелец: Individual. Дата публикации: 2024-03-07.

Method to prevent toxic gas emission

Номер патента: US3705474A. Автор: Donald E Smith. Владелец: US Department of Army. Дата публикации: 1972-12-12.

Electronic device and method to prevent falling of the electronic device

Номер патента: US8258972B2. Автор: Chien-Hao Wu. Владелец: Chi Mei Communication Systems Inc. Дата публикации: 2012-09-04.

Systems and methods to prevent citrus greening

Номер патента: WO2023164013A1. Автор: Matthew J. Olson,Sascha J. Welz,Andrew D. Ayers,Dane N. Hague. Владелец: MyLand Company, LLC. Дата публикации: 2023-08-31.

Compositions and Methods to Prevent Cancer with Cupredoxins

Номер патента: US20100087377A1. Автор: Ananda Chakrabarty,Tapas Das Gupta. Владелец: Individual. Дата публикации: 2010-04-08.

Compositions and methods to prevent cancer with cupredoxins

Номер патента: US20120302509A1. Автор: Ananda Chakrabarty,Tapas Das Gupta. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2012-11-29.

Compositions and methods to prevent cancer with cupredoxins

Номер патента: US20150374780A1. Автор: Ananda Chakrabarty,Tapas Das Gupta. Владелец: University of Illinois. Дата публикации: 2015-12-31.

System and method to secure a computer system by selective control of write access to a data storage medium

Номер патента: US09600661B2. Автор: John Safa. Владелец: DRIVE SENTRY Ltd. Дата публикации: 2017-03-21.

Methods to prevent wheel slip in an autonomous floor cleaner

Номер патента: EP1899779A2. Автор: Jeffrey L. Harwig,Thomas Jaworski,Seakee Chen,Fukyuen Cheng. Владелец: SC Johnson and Son Inc. Дата публикации: 2008-03-19.

Methods to prevent wheel slip in an autonomous floor cleaner

Номер патента: WO2007002699A2. Автор: Jeffrey L. Harwig,Thomas Jaworski,Seakee Chen,Fukyuen Cheng. Владелец: S. C. Johnson & Son, Inc.. Дата публикации: 2007-01-04.

Compositions and methods to prevent and treat biofilms

Номер патента: US20170312345A1. Автор: Dennis W. Davis,Brad W. ARENZ,Thomas K. CONNELLAN,Svetlana A. Ivanova. Владелец: ZIOLASE LLC. Дата публикации: 2017-11-02.

Compositions and methods to prevent and treat biofilms

Номер патента: US10758596B2. Автор: Dennis W. Davis,Brad W. ARENZ,Thomas K. CONNELLAN,Svetlana A. Ivanova. Владелец: ZIOLASE LLC. Дата публикации: 2020-09-01.

Method to detect bacteria

Номер патента: AU1182697A. Автор: Stuart Mark Wilson. Владелец: Biotec Laboratories Ltd. Дата публикации: 1997-07-14.

Radiation protection for a semiconductor device

Номер патента: WO1983000253A1. Автор: Inc. Motorola,Terry S. Hulseweh. Владелец: Motorola Inc. Дата публикации: 1983-01-20.

Method to Reduce Hepatoxicity of Fas-Mediated Apoptosis-Inducing Agents

Номер патента: US20080003226A1. Автор: Stéphane DEMOTZ,Marc Dupuis,Rene Goedkoop. Владелец: Apoxis SA. Дата публикации: 2008-01-03.

Method to Bond Materials using Surface Bonds with UV Catalysis and Composite Optical- and Electro-Optical Devices

Номер патента: US20110155294A1. Автор: Kevin Cyrus Robinson. Владелец: Individual. Дата публикации: 2011-06-30.

Method to reduce hepatotoxicity of fas-mediated apoptosis-inducing agents

Номер патента: CA2566975A1. Автор: Stéphane DEMOTZ,Marc Dupuis,Rene Goedkoop. Владелец: Individual. Дата публикации: 2005-12-15.

Method to reduce hepatotoxicity of fas-mediated apoptosis-inducing agents

Номер патента: EP1750763A1. Автор: Stéphane DEMOTZ,Marc Dupuis,Rene Goedkoop. Владелец: Apoxis SA. Дата публикации: 2007-02-14.

Vehicle control system and method to provide desired wheel slip

Номер патента: US09475395B2. Автор: Michael Blyth,Paul Beever. Владелец: Jaguar Land Rover Ltd. Дата публикации: 2016-10-25.

Semiconductor memory device and semiconductor device

Номер патента: US20070214444A1. Автор: Nobuyuki Nakai,Yuji Yamasaki. Владелец: Matsushita Electric Industrial Co Ltd. Дата публикации: 2007-09-13.

Systems and Methods to Safeguard Well Integrity From Hydraulic Fracturing

Номер патента: US20210324728A1. Автор: Khaqan Khan,Waheed Syed Arshad. Владелец: Saudi Arabian Oil Co. Дата публикации: 2021-10-21.

Register shielding in semiconductor devices

Номер патента: US20230055842A1. Автор: Giuseppe Guarnaccia,Salvatore Marco Rosselli. Владелец: STMICROELECTRONICS SRL. Дата публикации: 2023-02-23.

Method for preparing test samples for semiconductor devices

Номер патента: US20210348989A1. Автор: SHENG Chen,Qiang Chen,Jinde Gao. Владелец: Shanghai Huali Integrated Circuit Corp. Дата публикации: 2021-11-11.

Systems and methods to safeguard well integrity from hydraulic fracturing

Номер патента: WO2021216502A1. Автор: Khaqan Khan,Waheed ARSHAD. Владелец: Aramco Services Company. Дата публикации: 2021-10-28.

Method to shrinkproof wool by plasma polymerization

Номер патента: WO2011064562A8. Автор: Stephen Coulson,Christopher Carr,Akbar Khoddami. Владелец: P2i Ltd. Дата публикации: 2011-11-10.

Apparatus and method to obtain bone fixation

Номер патента: WO2007051151A9. Автор: Thomas Wright,Pierre Flurin,Joseph Zuckerman,Christopher Roche. Владелец: Christopher Roche. Дата публикации: 2007-06-21.

Adjustment method of signal level in semiconductor device and semiconductor device

Номер патента: US09548090B2. Автор: Tomoyuki Yamada,Morimi Arita,Tomoya Tsuruta. Владелец: Socionext Inc. Дата публикации: 2017-01-17.

Gun detection system and method to prevent school and business shootings

Номер патента: US09506709B2. Автор: David Wayne Esposito,Lawrence E. Rode. Владелец: Individual. Дата публикации: 2016-11-29.

Systems and methods to occlude a valvular commissure or cleft

Номер патента: US20240197473A1. Автор: Mark Chau. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2024-06-20.

A method to increase blood flow and metabolic rate of eye ground

Номер патента: AU2020233703A1. Автор: Mingguang HE,Zhaoyun CAO,Zhuoting ZHU. Владелец: Suzhou Xuanjia Optics And Electronics Tech Co Ltd. Дата публикации: 2020-12-24.

Systems and methods to occlude a valvular commissure or cleft

Номер патента: EP4404873A1. Автор: Mark Chau. Владелец: Edwards Lifesciences Corp. Дата публикации: 2024-07-31.

A method to increase blood flow and metabolic rate of eye ground

Номер патента: AU2020233703C1. Автор: Mingguang HE,Zhaoyun CAO,Zhuoting ZHU. Владелец: Suzhou Xuanjia Optics And Electronics Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-04.

A method to increase blood flow and metabolic rate of eye ground

Номер патента: AU2020233703B2. Автор: Mingguang HE,Zhaoyun CAO,Zhuoting ZHU. Владелец: Suzhou Xuanjia Optics And Electronics Tech Co Ltd. Дата публикации: 2022-04-21.

Semiconductor device testing method and testing equipment

Номер патента: US20060061379A1. Автор: Kazuhiro Tashiro,Hitoshi Izuru. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-03-23.

Managing secure writes in semiconductor devices

Номер патента: US12086457B2. Автор: Chun-Hsiung Hung,Ken-Hui Chen,Chia-Jung Chen,Chin-Hung Chang. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-10.

Motor control method to improve cold response time in a motor pump hydraulic system

Номер патента: US20200278024A1. Автор: Matthew R. Busdiecker,Robert J. Kanda. Владелец: Eaton Intelligent Power Ltd. Дата публикации: 2020-09-03.

Managing Read Timing in Semiconductor Devices

Номер патента: US20240311014A1. Автор: Chun-Hsiung Hung,Ken-Hui Chen,Wu-Chin Peng. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-19.

Managing read timing in semiconductor devices

Номер патента: EP4432287A1. Автор: Chun-Hsiung Hung,Ken-Hui Chen,Wu-Chin Peng. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2024-09-18.

Methods to protect against and treat multiple sclerosis

Номер патента: US09758573B2. Автор: Vincent A. Fischetti,Timothy Vartanian,Kareem Rashid Rumah. Владелец: ROCKEFELLER UNIVERSITY. Дата публикации: 2017-09-12.

Powered drivers, intraosseous devices and methods to access bone marrow

Номер патента: US09451968B2. Автор: Robert W. Titkemeyer,Larry J. Miller,David S. Bolleter. Владелец: VIDACARE LLC. Дата публикации: 2016-09-27.

Gene therapy methods to control organ function

Номер патента: US20210301306A1. Автор: Michael G. Kaplitt,Roberta Marongiu. Владелец: CORNELL UNIVERSITY. Дата публикации: 2021-09-30.

Methods and compositions to prevent and treat inflammation and allergic reactions

Номер патента: US20230081146A1. Автор: Richard L. Gallo,Tatsuya Dokoshi. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2023-03-16.

Methods and compositions to prevent and treat inflammation and allergic reactions

Номер патента: US20200188420A1. Автор: Richard L. Gallo,Tatsuya Dokoshi. Владелец: UNIVERSITY OF CALIFORNIA. Дата публикации: 2020-06-18.

Methods to improve health and wellbeing in ruminants

Номер патента: AU2019306282B2. Автор: John Henry Doelman,Javier MARTÍN-TERESO LÓPEZ. Владелец: Nutreco Ip Assets Bv. Дата публикации: 2024-09-19.

Apparatus and method to electromagnetically shield portable consumer devices

Номер патента: US09704087B2. Автор: Ayman Hammad,Phil Dixon. Владелец: Visa USA Inc. Дата публикации: 2017-07-11.

Apparatus for producing a semiconductor device utlizing successive liquid growth

Номер патента: US4359012A. Автор: Jun-ichi Nishizawa. Владелец: Individual. Дата публикации: 1982-11-16.

Lighting assembly and method to install it

Номер патента: EP3904755A1. Автор: Nicola Vendrame. Владелец: Linea Light Srl. Дата публикации: 2021-11-03.

Intraosseous access device and method to access bone marrow

Номер патента: CA3210512A1. Автор: Morgan Tierney,Alex FOMINAS. Владелец: Teleflex Life Sciences Ltd. Дата публикации: 2019-11-14.

Intraosseous access device and method to access bone marrow

Номер патента: AU2019264954A1. Автор: Morgan Tierney,Alex FOMINAS. Владелец: Teleflex Life Sciences Ltd. Дата публикации: 2020-11-26.

Intraosseous access device and method to access bone marrow

Номер патента: EP3809993A1. Автор: Morgan Tierney,Alex FOMINAS. Владелец: Teleflex Medical Devices SARL. Дата публикации: 2021-04-28.

Method to prevent vision loss

Номер патента: US20020183302A1. Автор: Mohammad Ali,H. Strong,Troy Reaves. Владелец: Individual. Дата публикации: 2002-12-05.

Safety apparatus and method to trace, control and monitor the administration of medical substances

Номер патента: EP3497598A1. Автор: Francesco FANTONI GUERCI. Владелец: ID-Solutions SRL. Дата публикации: 2019-06-19.

Intraosseous access device and method to access bone marrow

Номер патента: AU2024203824A1. Автор: Morgan Tierney,Alex FOMINAS. Владелец: Teleflex Life Sciences Ii LLC. Дата публикации: 2024-06-27.

System and method to auto-pressurize prior to dispense in a circulation dispense system

Номер патента: US12122068B2. Автор: Christopher R. Blackson. Владелец: GRACO MINNESOTA INC. Дата публикации: 2024-10-22.

Microfluidic based methods to study intercellular communications

Номер патента: US20240226881A9. Автор: Remi Veneziano,Ramin M. Hakami,Hunter Mason. Владелец: George Mason University. Дата публикации: 2024-07-11.

Apparatus and method to restore paper stack integrity

Номер патента: US20210269265A1. Автор: Michael W. Lawrence,William M. Connors,Gary L. Noe,Zineeddine HAMOUDI. Владелец: Toshiba TEC Corp. Дата публикации: 2021-09-02.

Method to neutralize hydrogen chloride in superheated geothermal steam without destroying superheat

Номер патента: US09498749B2. Автор: Oleh Weres. Владелец: ChemTreat Inc. Дата публикации: 2016-11-22.

Method to provide fire-inert medium and fire-extinguishing device

Номер патента: RU2317835C1. Автор: Эрнст-Вернер ВАГНЕР. Владелец: Амрона Аг. Дата публикации: 2008-02-27.

Compositions and methods to prevent microbial contamination of plant tissue culture media

Номер патента: AU5970196A. Автор: Assaf Z Guri,Kishor N. Patel. Владелец: Plant Cell Technology Inc. Дата публикации: 1996-12-18.

Compositions and methods to prevent microbial contamination of plant tissue culture media

Номер патента: WO1996038542A1. Автор: Kishor N. Patel,Assaf Z. Guri. Владелец: Plant Cell Technology, Inc.. Дата публикации: 1996-12-05.

Compositions and methods to prevent microbial contamination of plant tissue culture media

Номер патента: AU698103B2. Автор: Assaf Z Guri,Kishor N. Patel. Владелец: Plant Cell Technology Inc. Дата публикации: 1998-10-22.

New method to improve nk cells cytotoxicity

Номер патента: US20240228659A1. Автор: Jean-Marc LE DOUSSAL,Stéphane BIRKLE,Sophie FOUGERAY,Meriem BAHRI,Emilie MADURA. Владелец: OGD2 PHARMA. Дата публикации: 2024-07-11.

Broadband tunable thz wave manipulator and the method to form the same

Номер патента: US20190025613A1. Автор: Lu Ding,Jinghua Teng. Владелец: Agency for Science Technology and Research Singapore. Дата публикации: 2019-01-24.

Method to support high reliability multiple times program non-volatile configuration setting

Номер патента: US20220244883A1. Автор: Shuo-Nan Hung. Владелец: Macronix International Co Ltd. Дата публикации: 2022-08-04.

Testing of analogue circuits in semiconductor devices

Номер патента: WO1990006521A1. Автор: David Leonard Waller. Владелец: Lsi Logic Europe Plc. Дата публикации: 1990-06-14.

Semiconductor device and method for designing the same

Номер патента: US20060236137A1. Автор: Kenichi Ushiyama. Владелец: Fujitsu Ltd. Дата публикации: 2006-10-19.

Anti-theft locking bolt assembly and a method to prevent unauthorized removal of an article

Номер патента: SE545526C2. Автор: Lars Ivarsson,Marcus Ekström. Владелец: Rimgard Sweden AB. Дата публикации: 2023-10-10.

Method and apparatus for power saving in semiconductor devices

Номер патента: US20240233781A1. Автор: Jian Luo,Zhuqin DUAN. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co Ltd. Дата публикации: 2024-07-11.

Method and apparatus for power saving in semiconductor devices

Номер патента: WO2022246636A1. Автор: Jian Luo,Zhuqin DUAN. Владелец: Yangtze Memory Technologies Co., Ltd.. Дата публикации: 2022-12-01.

Method for testing memory cell in semiconductor device

Номер патента: US6556493B2. Автор: Tae-Kyu Kim,Yoon-Soo Jang,Young-Seon You,Mun-Hwa Lee. Владелец: Hynix Semiconductor Inc. Дата публикации: 2003-04-29.

Apparatus and Method for Testing Electromigration in Semiconductor Devices

Номер патента: US20120136468A1. Автор: Yun Wang,Chi-I Lang,Tony P. Chiang. Владелец: Intermolecular Inc. Дата публикации: 2012-05-31.

Semiconductor device

Номер патента: US09710174B2. Автор: Tetsuichiro Ichiguchi,Shinya Izumi,Yukiko Take. Владелец: Renesas Electronics Corp. Дата публикации: 2017-07-18.

Adhesive tape and method to manufacture adhesive tape

Номер патента: RU2553866C2. Автор: Альдо ЛАНФРАНКОНИ. Владелец: ИЛЛИНОЙС ТУЛ ВОРКС ИНК.. Дата публикации: 2015-06-20.

Method to ameliorate osteolysis and metastasis

Номер патента: US5993817A. Автор: Gregory R. Mundy,Toshiyuki Yoneda,Theresa A. Guise. Владелец: Xenotech. Дата публикации: 1999-11-30.

Method to train players and sportsmen

Номер патента: RU2444392C1. Автор: Владимир Евгеньевич Афоньшин. Владелец: Владимир Евгеньевич Афоньшин. Дата публикации: 2012-03-10.

Device and method to improve vehicle performance

Номер патента: RU2539239C2. Автор: Ларс ЭРИКССОН,Кристиан КЮНКЕЛЬ. Владелец: Сканиа Св Аб. Дата публикации: 2015-01-20.

Method to prevent specks or hairline cracks in, and premature failure of, airplane cylinder barrels

Номер патента: US20030031810A1. Автор: Yoon Kim. Владелец: Individual. Дата публикации: 2003-02-13.

Method to prevent specks or hairline cracks in, and premature failure of, airplane cylinder barrels

Номер патента: WO2002090617A1. Автор: Yoon Kim. Владелец: TEXTRON LYCOMING. Дата публикации: 2002-11-14.

Methods to provide a feature on a needle

Номер патента: EP2456489A1. Автор: S. Ray Isaacson,Austin Jason Mckinnon,Bart D. Peterson,Iii Edward G. Henderson. Владелец: Becton Dickinson and Co. Дата публикации: 2012-05-30.

Methods to provide a feature on a needle

Номер патента: WO2011011258A1. Автор: S. Ray Isaacson,Austin Jason Mckinnon,Bart D. Peterson,Iii Edward G. Henderson. Владелец: BECTON, DICKINSON AND COMPANY. Дата публикации: 2011-01-27.

Method to treat osteoporotic vertebral body

Номер патента: US20200376161A1. Автор: Jiin-Huey Chern Lin,Chien-Ping Ju. Владелец: Joy Medical Devices Corp. Дата публикации: 2020-12-03.

Method to manufacture device containing gel layer

Номер патента: RU2420220C2. Автор: Маттео МАЗОН,Массимо ЛОЗИО. Владелец: Текноджел Италия С.Р.Л.. Дата публикации: 2011-06-10.

Method to define packed product storage life and device to this effect

Номер патента: RU2348033C2. Автор: . Владелец: Рудольф Вильд Гмбх Унд Ко. Кг. Дата публикации: 2009-02-27.

Device and method to activate transport facility system

Номер патента: RU2428328C1. Автор: Норитаке МИЦУТАНИ. Владелец: Тойота Дзидося Кабусики Кайся. Дата публикации: 2011-09-10.

Method to detect reservoir filling level

Номер патента: RU2578022C2. Автор: Фабиан ВЕНГЕР. Владелец: Роузмаунт Танк Радар Аб. Дата публикации: 2016-03-20.

Method to compensate frequency drift in interferometer

Номер патента: RU2569052C1. Автор: Хенрик Вильструп ЙУХЛЬ. Владелец: ФОСС АНАЛИТИКАЛ А/С. Дата публикации: 2015-11-20.

Method to manufacture drawbar from composite material

Номер патента: RU2484319C1. Автор: Ришар МАССОН,Патрик ДЁНЛАВИ. Владелец: Мессье-Бюгатти-Довти. Дата публикации: 2013-06-10.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003801A1. Автор: . Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD TO CONTROL SOURCE/DRAIN STRESSOR PROFILES FOR STRESS ENGINEERING

Номер патента: US20120001228A1. Автор: Luo Zhijiong,CHONG Yung Fu,HOLT Judson Robert. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND SOLID-STATE IMAGE SENSOR

Номер патента: US20120001291A1. Автор: Kokumai Kazuo. Владелец: CANON KABUSHIKI KAISHA. Дата публикации: 2012-01-05.

Method to Protect Compound Semiconductor from Electrostatic Discharge Damage

Номер патента: US20120003762A1. Автор: CHANG LIANN-BE,Lin Cheng-Chen. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001168A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

APPARATUSES AND METHODS TO REDUCE POWER CONSUMPTION IN DIGITAL CIRCUITS

Номер патента: US20120001682A1. Автор: VENKATA HARISH N.. Владелец: MICRON TECHNOLOGY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

TEST MODE CONTROL CIRCUIT IN SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND TEST MODE ENTERING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120002494A1. Автор: Jo Jun-Ho,PARK Kyu-Min,KIM BYOUNGSUL,LEE Hakyong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ELECTRODE STRUCTURE, METHOD OF FABRICATING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR DEVICE INCLUDING THE ELECTRODE STRUCTURE

Номер патента: US20120001267A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURE METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001344A1. Автор: IDANI Naoki,TAKESAKO Satoshi. Владелец: FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003841A1. Автор: . Владелец: ULVAC, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120000484A1. Автор: . Владелец: Denso Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001332A1. Автор: TANAKA Tetsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Methods of manufacturing semiconductor devices with Si and SiGe epitaxial layers

Номер патента: US20120003799A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Multi-gate semiconductor devices

Номер патента: US20120001230A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Compositions and Methods to Treat Bone Related Disorders

Номер патента: US20120003219A1. Автор: LU Chris,HU Shou-Ih,KNEISSEL Michaela,HALLEUX Christine. Владелец: NOVARTIS AG. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING OF SAME

Номер патента: US20120001321A1. Автор: IMAMURA Tomomi,Natsuda Tetsuo,Nishijo Yoshinosuke. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS TO IMPROVE ADHESION OF POLYMER COATINGS OVER STENTS

Номер патента: US20120003379A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

RESIN COMPOSITION FOR ENCAPSULATING SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001350A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHODS TO TREAT CANCER

Номер патента: US20120004235A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

Method to provide for stability of high ledges

Номер патента: RU2392434C1. Автор: Георгий Михайлович Ерёмин. Владелец: Георгий Михайлович Ерёмин. Дата публикации: 2010-06-20.

SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH A PLURALITY OF MEMORY BANKS AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120002464A1. Автор: MAE Kenji. Владелец: ELPIDA MEMORY, INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF REDUCING EROSION OF A METAL CAP LAYER DURING VIA PATTERNING IN SEMICONDUCTOR DEVICES

Номер патента: US20120003832A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATION REGION, SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHODS FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001198A1. Автор: Zhu Huilong,Yin Haizhou,Luo Zhijiong. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

ISOLATION METHOD IN SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003809A1. Автор: KIM Young Deuk. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001170A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001318A1. Автор: . Владелец: Denso Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Manufacturing Method Thereof

Номер патента: US20120001335A1. Автор: ENDO Yuta,TANAKA Tetsuhiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001342A1. Автор: . Владелец: RENESAS ELECTRONICS CORPORATION. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME

Номер патента: US20120003805A1. Автор: Lee Tae-Jung,PARK MYOUNG-KYU,Bang Kee-In. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001275A1. Автор: . Владелец: Panasonic Corporation. Дата публикации: 2012-01-05.

Semiconductor Device and Method for Manufacturing the Same

Номер патента: US20120001180A1. Автор: Yoshizumi Kensuke,YOKOI Tomokazu. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE CAPABLE OF SUPPRESSING A COUPLING EFFECT OF A TEST-DISABLE TRANSMISSION LINE

Номер патента: US20120001175A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003795A1. Автор: . Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method to control converter of voltage source and device of voltage conversion

Номер патента: RU2435289C1. Автор: Гуннар АСПЛУНД. Владелец: АББ ТЕКНОЛОДЖИ АГ. Дата публикации: 2011-11-27.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001226A1. Автор: . Владелец: Sanken Electric Co., Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR FORMING THE SAME

Номер патента: US20120001255A1. Автор: PARK JIN WON. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

ETCHANTS AND METHODS OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICES USING THE SAME

Номер патента: US20120001264A1. Автор: YANG Jun-Kyu,Kim Hong-Suk,Hwang Ki-Hyun,Ahn Jae-Young,Lim Hun-Hyeong,KIM Jin-Gyun. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001315A1. Автор: Kikuchi Hiroshi,MOCHIZUKI Chihiro,SHIMA Yasuo,KOBAYASHI Yoichiro. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING SAME

Номер патента: US20120001331A1. Автор: . Владелец: KABUSHI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME

Номер патента: US20120001333A1. Автор: HWANG Chang Youn. Владелец: HYNIX SEMICONDUCTOR INC.. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003829A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

Номер патента: US20120001169A1. Автор: Yamazaki Shunpei. Владелец: SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.. Дата публикации: 2012-01-05.

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF FABRICATING THE SAME, AND SEMICONDUCTOR MODULE AND ELECTRONIC SYSTEM INCLUDING THE SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001272A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE AND FABRICATION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003761A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE WHICH A PLURALITY OF TYPES OF TRANSISTORS ARE MOUNTED

Номер патента: US20120001265A1. Автор: . Владелец: FUJITSU SEMICONDUCTOR LIMITED. Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120001300A1. Автор: Ito Takayuki,ISHIDA Tatsuya,Yoshino Kenichi,Naito Tatsuya. Владелец: KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA. Дата публикации: 2012-01-05.

An Improved Device to Prevent Side-slip of Road Vehicles.

Номер патента: GB190526702A. Автор: Samuel Harris. Владелец: Individual. Дата публикации: 1906-08-23.

CONNECTING MATERIAL, METHOD FOR MANUFACTURING CONNECTING MATERIAL AND SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120000965A1. Автор: . Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD TO TRANSMIT MULTIPLE DATA-STREAMS OF VARYING CAPACITY DATA USING VIRTUAL CONCATENATION

Номер патента: US20120002682A1. Автор: . Владелец: Tejas Networks Limited. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD TO ANALYZE CALLS TO ADVERTISED TELEPHONE NUMBERS

Номер патента: US20120002795A1. Автор: . Владелец: Marchex, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEM AND METHOD TO DIRECT TELEPHONE CALLS TO ADVERTISERS

Номер патента: US20120002799A1. Автор: . Владелец: Marchex, Inc.. Дата публикации: 2012-01-05.

TRACED CHEMICALS AND METHOD TO VERIFY AND CONTROL FORMULATION COMPOSITION

Номер патента: US20120004776A1. Автор: Abad Carlos. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

SYSTEMS AND METHODS TO OVERLAY REMOTE AND LOCAL VIDEO FEEDS

Номер патента: US20120002061A1. Автор: Gay Michael F.,Bailey Anthony. Владелец: . Дата публикации: 2012-01-05.

METHOD FOR FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE

Номер патента: US20120003821A1. Автор: . Владелец: Sumitomo Electric Industries, Ltd.. Дата публикации: 2012-01-05.

Method to prevent hydraulic structure dam failure

Номер патента: RU2263178C2. Автор: Н.А. Седых. Владелец: Военный инженерно-технический университет. Дата публикации: 2005-10-27.

Method to make non-smoking product from rustic tobacco

Номер патента: RU2432094C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2011-10-27.

Method to produce preserves "borsch poltavskiy"

Номер патента: RU2565928C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2015-10-20.

Method to produce arabinogalactane

Номер патента: RU2413432C2. Автор: . Владелец: Угренинов Андрей Анатольевич. Дата публикации: 2011-03-10.

Method to produce non-smoking product from low-grade tobacco

Номер патента: RU2429739C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2011-09-27.

Method to produce preserves "tartussky soup"

Номер патента: RU2566000C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2015-10-20.

Method to produce preserves "stewed vegetables with meat"

Номер патента: RU2565964C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2015-10-20.

Method to produce preserves "ukranian rolls"

Номер патента: RU2565896C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2015-10-20.

Method to manufacture decorative composite material

Номер патента: RU2495611C2. Автор: Юлия Алексеевна Щепочкина. Владелец: Юлия Алексеевна Щепочкина. Дата публикации: 2013-10-20.

Method to produce preserves "soup from vegetables"

Номер патента: RU2565889C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2015-10-20.

Method to grow vegetables and leaf vegetables

Номер патента: RU2454075C2. Автор: Олег Дмитриевич Сидоренко. Владелец: Поздняков Виктор Борисович. Дата публикации: 2012-06-27.

Method to produce non-smoking product from low-grade tobacco

Номер патента: RU2430641C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2011-10-10.

Method to detect falsification of natural honey

Номер патента: RU2470295C1. Автор: Юлия Валерьевна Данильчук. Владелец: Юлия Валерьевна Данильчук. Дата публикации: 2012-12-20.

Method to produce non-smoking product from low-grade tobacco

Номер патента: RU2430663C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2011-10-10.

Method to produce preserves "partridge stewed with cabbage"

Номер патента: RU2565979C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2015-10-20.

System and method to provide instant prize in gambling device

Номер патента: RU2335804C2. Автор: Дуэйн НЕЛЬСОН,Дэвид Б. ХААГ,Стивен ЛЕМЕЙ. Владелец: Ай Джи Ти. Дата публикации: 2008-10-10.

Method to produce preserves "borsch with fish and beans"

Номер патента: RU2565941C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2015-10-20.

Method to produce non-smoking product from low-grade tobacco

Номер патента: RU2430661C1. Автор: Олег Иванович Квасенков. Владелец: Олег Иванович Квасенков. Дата публикации: 2011-10-10.