高低温环境下细长件端面相对位姿关系测量装置和方法
Номер патента: CN110967206A
Опубликовано: 07-04-2020
Автор(ы): 唐小军, 回天力, 杨凤龙, 谷振杰, 邓泉
Принадлежит: Beijing Satellite Manufacturing Factory Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 07-04-2020
Автор(ы): 唐小军, 回天力, 杨凤龙, 谷振杰, 邓泉
Принадлежит: Beijing Satellite Manufacturing Factory Co Ltd
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Inspection device for substrate deformation at high temperatures and inspection method for substrate deformation at high temperatures using the same
Номер патента: US20140152980A1. Автор: Dong Yong Kim,Tae Yoon Kim,Suk Jin Ham,Mi Yang KIM,Gyu Seok KIM,Hee Suk CHUNG,Yong Choon PARK. Владелец: Samsung Electro Mechanics Co Ltd. Дата публикации: 2014-06-05.