REPLACEMENT METHOD FOR SCAN CELL OF INTEGRATED CIRCUIT, SKEWABLE SCAN CELL AND INTEGRATED CIRCUIT
Номер патента: US20160011258A1
Опубликовано: 14-01-2016
Автор(ы): LIAO Jen-Yi, Yang Jen-Hang
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 14-01-2016
Автор(ы): LIAO Jen-Yi, Yang Jen-Hang
Принадлежит:
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method for testing broadside path delay fault of digital combination integrated circuit
Номер патента: WO2014048338A1. Автор: Dong Xiang,Zhen Chen,Wenjie SUI. Владелец: TSINGHUA UNIVERSITY. Дата публикации: 2014-04-03.