Method for measuring assertion density in a system of verifying integrated circuit design
Номер патента: US20140250414A1
Опубликовано: 04-09-2014
Автор(ы): Nitin Mhaske, Yong Liu, Yuan Lu
Принадлежит: Atrenta Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 04-09-2014
Автор(ы): Nitin Mhaske, Yong Liu, Yuan Lu
Принадлежит: Atrenta Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Method of semiconductor integrated circuit, circuit design system, and non-transitory computer-readable medium
Номер патента: US20210019462A1. Автор: Shintaro Fujiwara. Владелец: Kioxia Corp. Дата публикации: 2021-01-21.