Electric field sensor, system, and method for programming electronic devices on a wafer
Номер патента: US9784787B2
Опубликовано: 10-10-2017
Автор(ы): Babak A Taheri, David Joseph Monk, Lianjun Liu, Philippe Bernard Roland Lance
Принадлежит: NXP USA Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 10-10-2017
Автор(ы): Babak A Taheri, David Joseph Monk, Lianjun Liu, Philippe Bernard Roland Lance
Принадлежит: NXP USA Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Aging test system and aging test method for thermal interface material and electronic device testing apparatus having the system
Номер патента: US20230375615A1. Автор: I-Shih Tseng,Xin-Yi Wu,Chin-Yi Ouyang. Владелец: Chroma ATE Inc. Дата публикации: 2023-11-23.