Method and apparatus for device testing using multiple processing paths
Номер патента: US9134377B2
Опубликовано: 15-09-2015
Автор(ы): Corbin Champion, John R. Pane, Mark B. Donahue
Принадлежит: Teradyne Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Опубликовано: 15-09-2015
Автор(ы): Corbin Champion, John R. Pane, Mark B. Donahue
Принадлежит: Teradyne Inc
Получить PDF файл: Открыть в новом окне
Cost estimation for device testing
Номер патента: US20050074735A1. Автор: Reid Hayhow,Andrew Hildebrant. Владелец: AGILENT TECHNOLOGIES INC. Дата публикации: 2005-04-07.